KR20050000426A - 배치 디바이스에 의해 기판 홀더 상에서 원하는 위치에구성부품을 배치하는 방법 및 상기 방법을 실행하는데적합한 디바이스 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 배치 디바이스(1)에 의해 기판(3) 상의 요구되는 위치에서 구성부품(2)의 배치를 위해 설계된 방법 및 디바이스에 관한 것이다. 구성부품은 요구되는 위치 위의 중간 위치로 이송되고, 구성부품이 중간 위치와 요구되는 위치 사이의 위치 차가 카메라(12)와 프로세서에 의해 결정된다. 그후 구성부품은 상기 위치 차를 사용하여 기판 상의 요구되는 위치로 이송된다. 기판을 마주보는 구성부품 측과 대향하는 구성부품 측에 배열되어 있는 카메라는, 적어도 요구되는 위치를 포함하는 기판의 일부뿐만 아니라 배치 디바이스의 이미지(1; 5, 6, 7)를 촬영한다.
Description
국제 특허 출원 WO 97/02708에서 알려져 있는, 이러한 방법 및 디바이스에 있어서, 구성부품은 배치 디바이스를 사용하여 구성부품 공급 디바이스로부터 취해진다. 기판은 기판 홀더에 의해 미리결정된 위치로 놓여진다. 구성부품과 함께 배치 디바이스는 기판 상의 원하는 위치 위의 중간 위치로 이동된다. 후속적으로, 적어도 하나의 카메라, 광학계 및 조명 디바이스들을 구비하는 정렬 디바이스가 배치 디바이스와 기판 사이에 배치된다. 구성부품의 위치와 이 구성부품이 배치되어야 할 기판 상의 지점의 위치가 정렬 디바이스와 이 정렬 디바이스에 연결되어 있는 프로세서에 의해 결정된다. 후속적으로, 구성부품이 기판 상의 원하는 위치에 정확하게 놓여져 있는지 여부 또는 중간 위치와 원하는 위치 사이에 어긋남이 존재하는지 여부가 프로세서에 의해 결정된다.
후속적으로, 정렬 디바이스는 배치 디바이스와 기판 사이의 영역에서 제거되며, 그후 배치 디바이스는 중간 위치와 원하는 위치 사이에서 주어진 어긋남을 참조하여 이동되어, 구성부품이 기판 상의 원하는 위치에서 배치되도록 한다.
비록 이러한 방법 및 디바이스에 의해 기판 상에 구성부품을 정확하게 배치하는 것이 보장되기는 하지만, 배치 디바이스와 기판 사이에 정렬 디바이스를 제공하고 다시 이를 제거하는 것은 상대적으로 시간이 걸리는 작업이다. 더우기, 배치 디바이스와 기판 사이에 정렬 디바이스를 배치하기 위한 충분한 공간을 제공하기 위해서, 배치 디바이스는 기판 위에서 상대적으로 먼 거리를 가지고 놓여져야만 한다. 이러한 상대적으로 먼 거리는 배치 동안에 오류를 발생시킬 수 있다. 더 나아가, 이러한 거리를 횡단하는데는 상대적으로 긴 시간이 걸린다.
본 발명은 배치 디바이스에 의해 기판 상에서 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법에 관한 것으로서, 여기서 상기 구성부품은 배치 디바이스에 의해 기판 상의 원하는 위치 위의 중간 위치로 이동되고, 그후 기판 상에서 구성부품의 중간 위치와 구성 부품의 원하는 위치 사이의 차가 적어도 하나의 카메라 및 프로세서에 의해 결정되며, 그후 구성부품은 배치 디바이스에 의해 상기 기판에 대한 중간 위치와 원하는 위치 사이의 차에 기초하여 이동되어 기판 상의 원하는 위치에 배치된다.
또한 본 발명은 상기 방법을 실행하는데 적합한 디바이스에 관한 것이다.
도 1a 내지 도 1c는 기판 상에서 구성부품을 배치하는 서로 다른 스테이지들 동안 본 발명에 따른 디바이스를 보여주는 개략도.
도 2는 도 1에 도시되는 디바이스를 이용하여 생성되는 이미지를 보여주는 개략도.
도 3은 본 발명에 따른 디바이스의 제 2 실시예를 보여주는 개략도.
도 4는 본 발명에 따른 디바이스의 제 3 실시예를 보여주는 개략도.
본 발명의 목적은, 구성부품이 상대적으로 정확하고 신속한 방식으로 기판 상의 원하는 위치에 배치될 수 있는 방법을 제공하고자 하는 것이다.
본 발명에 따른 방법에서, 상기 목적은, 구성부품을 지지하는 배치 디바이스와 원하는 위치를 포함하는 기판의 적어도 일부의 이미지가 기판에서 먼 구성부품측의 카메라에 의해 생성되는 것으로 성취된다.
기판에서 먼 구성부품측에서 이미지를 생성하는 것에 의해, 카메라는 배치 디바이스와 기판 사이의 공간에 수용될 필요가 없다. 결과적으로, 배치 디바이스는 이미지가 생성되기 전에 기판에 더 가까이 배열될 수 있다. 배치 디바이스와 기판이 이미지 상에서 보여지므로, 배치 디바이스와 기판 사이의 상대적인 상호 위치는 직접적으로 결정될 수 있다.
앞에서 인용한 국제 특허 출원 WO 97/02708에 기술되어 있는 방법에서는, 2개의 이미지가 생성되거나, 또는 2개의 이미지가 하나의 광학계에 의해 한 이미지가 다른 이미지 위에 이미징된다. 후자의 경우, 광학계는 2개의 중첩된 이미지를 정확하게 투영시키는 것을 보장하기 위하여 상대적으로 정밀하여야만 한다.
본 발명에 따른 방법에서, 배치 디바이스와 기판 둘 모두에 대한 하나의 이미지가 직접 생성된다.
이미지가 생성되고 있을 때, 배치 디바이스는, 구성부품의 중간 위치와 기판 상의 구성부품의 원하는 위치 사이의 가능한 편차가 이미지를 참조하여 상대적으로 정밀한 방식으로 결정될 수 있도록, 기판 위에서 상대적으로 짧은 거리에 놓여질 수 있다. 이어서, 구성부품은 기판 상에 상대적으로 신속하게 배치될 수 있는데, 이는 중간 위치와 원하는 위치 사이에서 횡단될 거리가 상대적으로 작기 때문이다.
본 발명에 따른 방법의 일 실시예는, 기판 상에서 구성부품의 원하는 위치에 대한 배치 디바이스의 상대 위치가 이미지로부터 결정되는 것을 특징으로 한다.
이미지를 참조하여 기판 상에서 구성부품의 원하는 위치에 대한 배치 디바이스의 상대 위치를 결정함으로써, 배치 디바이스는 상대적으로 신속하게 원하는 위치를 포함하는 기판 부분으로 상대적으로 작은 정밀도를 가지고 배치될 수 있으며, 그후 배치 디바이스는 기판에 대한 배치 디바이스의 상대 위치가 결정된 후에 정확하게 위치지정될 수 있다.
본 발명에 따른 방법의 다른 실시예는, 배치 디바이스를 원하는 위치 위에 놓여지는 중간 위치로 이동시키기 전에, 배치 디바이스에 대한 구성부품의 상대 위치가 결정되고, 그후 기판에 대한 배치 디바이스의 상대 위치가 이미지를 참조하여 결정되며, 이어서 기판에 대한 구성부품의 상대 위치가 배치 디바이스에 대한 구성부품의 상대 위치 및 기판 상에서의 원하는 위치에 대한 배치 디바이스의 상대 위치를 참조하여 결정되는 것을 특징으로 한다.
이것은, 구성부품 및 기판에 대한 배치 디바이스의 상대 위치를 참조하여 기판에 대한 구성부품의 상호 위치를 정밀하게 결정하는 가능성을 제공한다.
본 발명에 따른 방법의 다른 실시예는, 구성부품도 역시 기판의 적어도 일부의 이미지 상에서 보여지며, 여기서 기판에 대한 구성부품의 상대 위치는 이미지를 참조하여 직접 결정되는 것을 특징으로 한다.
만약 구성부품도 역시 이미지 상에서 보여지는 경우, 기판에 대한 구성부품의 상대 위치를 직접 결정하는 것이 가능하며, 따라서 구성부품 또는 기판에 대한 배치 디바이스의 상대 위치를 결정하는 것은 더 이상 필요하지 않게 된다.
본 발명은 또한, 기판 캐리어와, 상기 기판 캐리어에 대해 이동가능한 배치디바이스, 적어도 하나의 카메라, 프로세서, 및 상기 카메라와 상기 배치 디바이스 사이에 배열된 광학계를 구비하는 디바이스에 관한 것이다.
본 발명에 따른 디바이스는, 배치 디바이스의 적어도 일부와 동작시 기판 캐리어에 의해 지지되는 기판의 적어도 일부가 광학계를 통해 카메라로 촬상될 수 있는 것을 특징으로 한다.
배치 디바이스와 기판 둘 모두가 동시에 카메라로 촬상될 수 있기 때문에, 기판에 대한 배치 디바이스의 상대 위치 또는 기판에 대한, 배치 디바이스에 의해 지지되는, 구성부품의 상대 위치는 상대적으로 단순한 방식으로 결정될 수 있다.
본 발명에 따른 디바이스의 일 실시예는, 배치 디바이스는 또한 적어도 하나의 표식이 구비되는 것을 특징으로 한다.
상기 표식은 배치 디바이스의 만족스러운 검출가능성을 보장한다.
이들 및 다른 본 발명의 국면들은 이후에 기술되는 실시예를 참조하여 명확하게 분명해질 것이다.
도 1a 내지 도 1c는 기판(3) 상에서 구성부품(2)을 배치하는 서로 다른 스테이지들 동안 본 발명에 따른 디바이스(1)를 보여준다.
배치 디바이스(1)는 중앙선(4)을 따라 연장하는 관(5)를 가지며, 이 관은 그 하부측에 노즐(6)를 가진다. 대기압-이하 압력이 구성부품을 집어 올리도록 관(5)과 노즐(6) 내에서 제공될 수 있다. 관(5)은 외주 상에 규칙적으로 분포된 복수의 표식(7)을 가진다. 표식(7)을 마주보는 노즐(6) 측에는 미러(8)가 구비된다. 관(5)은 중앙선(4)에 대해 45°의 각도에서 배열된 미러(9)를 통과하여 노즐(6)로부터 먼 측 상에서 연장한다. 이 미러(9)에 평행하게 연장하는 제 2 미러(10)는 미러(9)와 간격을 가지고 떨어져 있다. 렌즈계(11)는 미러(10)와 간격을 가지고 떨어져 있다. 카메라(12)는 미러(10)에서 먼 렌즈계(11) 측 상에 배열된다. 미러(9, 10), 렌즈계(11), 및 카메라(12)와 함께, 배치 디바이스(1)는 화살표 X1, Y1, 및 Z1에 의해 표시된 방향으로 및 그 반대 방향으로 이동될 수 있다. 이동은 알려져 있는 이동 디바이스(미도시됨)에 의해 실행된다. 노즐(6)과 함께, 배치 디바이스(1)의 관(5)은, 미러(9)에 근접하게 배열된 액추에이터(13)를 통해, 화살표 X2, Y2, 및 Z2에 의해 표시된 방향으로 및 그 반대 방향으로 카메라(12)에 대해 상대적으로 작은 거리를 통과하여 이동가능하며, 화살표에 의해 표시된 방향으로 및 그 반대 방향으로 중앙선(4) 주위로 회전가능하다.
도 1a에서 더 볼 수 있는 바와 같이, 제 2 카메라(14) 및 노즐(6)과 카메라(14) 사이에 놓여진 광학계(15)는 카메라(12)에서 먼 노즐(6) 측에 배열된다.
본 발명에 따른 디바이스의 동작은 이제 도 1a 내지 도 1c를 참조하여 설명될 것이다.
카메라(12)와 함께, 배치 디바이스(1)는 구성부품(2)이 노즐(6)을 통해 진공으로 집혀 올려지는 구성부품 공급 디바이스(미도시됨)로 이동된다. 이어서, 구성부품(2)은, 구성부품(2)이 카메라(14) 위에 놓여질 때까지, 배치 디바이스(1)를 통해 X1, Y1, 및 Z1으로 표시된 방향으로 이동된다. 이어서, 노즐(6)에 대한 따라서 배치 디바이스(1)에 대한 구성부품(2)의 위치가, 카메라(14)와 이에 연결된 프로세서(미도시됨)를 통해 결정된다(도 1a).
배치 디바이스(1)에 대한 구성부품(2)의 위치가 결정된 후, 배치 디바이스(1)는, 구성부품(2)이 기판(3) 상의 원하는 위치에 근접하는 기판(3) 위의 도 1b에 도시된 중간 위치에 놓여질 때까지, X1, Y1, 및 Z1방향으로 카메라(12)와 함께 이동된다. 이제 구성부품(3)이 위치지정될 기판(3) 부분의 이미지가 카메라(12)를 통해 생성된다. 광경로(16) 내에 놓여진 관(5), 이 관 위의 표식(7), 및 노즐(6)도 역시 이 이미지 상에서 보여질 것이다. 이미지가 카메라(12)에 의해 생성되는 순간에, 표식(7)과 미러(8) 사이의 거리는 바람직하게 미러(8)와 기판(3) 사이의 거리와 동일하며, 따라서, 광학적으로 표식(7)의 미러 이미지(7')는 말하자면 기판(3) 상에 놓여지게 된다. 따라서 카메라(12)의 상대적으로 작은 초점 깊이를 통해서도, 정밀한 이미지가 여전히 생성될 수 있다. 이어서, 기판(3)의 배향 및 특히 구성부품이 위치지정될 부분은 프로세서를 통해 카메라(12)에서 얻어진 이미지를 참조하여 표식(7')에 대해 그리고 따라서 배치 디바이스(1)에 대해 결정된다.
이어서, 기판(3)에 대한 구성부품(2)의 상대 위치는, 이전에 결정된 배치 디바이스(1)에 대한 구성부품(2)의 배향 및 이제 계산된 기판(3)에 대한 표식(7')의 배향 그리고 이에 따른 배치 디바이스(1)의 배향을 참조하여 프로세서에 의해 계산된다.
도 1b에 도시된 상황에 있어서, 구성부품(2)은 기판(3) 상의 원하는 위치의 X 방향으로 거리 △ 에서의 중간 위치에 놓여져 있다.
구성부품(2)의 상대 위치가 기판(3)에 대해 계산된 후, 관(5)은 카메라(12)에 대해 아래 방향 Z2로 이동되며, 또한 그 동안에 X2방향으로의 △ 이동 및, 원하는 경우, Y2방향으로의 필요한 정정이 액추에이터(13)에 의해 수행된다. 관(5)은, 구성부품(2)이 기판(3) 상에 위치지정될 때까지 Z2방향으로 이동된다. 이어서, 구성부품(2)는 노즐(6)에 의해 방출되고, 관(5)은 배치 디바이스(1) 내의 그 원래 위치로 재위치된다.
아래 방향으로의 관(5)의 이동 동안에, 카메라(12)를 통해 계속 이미지들을 생성시키는 것이 가능하므로, 이러한 관(5)의 아래 방향으로의 이동 동안 X2또는 Y2방향에서의 보완적인 정정을 계산하고 액추에이터(13)로 이 정정을 실행하는 것도 역시 가능하다.
도 2는 카메라(12)에 의해 생성된 이미지(20)를 보여주는데, 상기 이미지에서 기판(3)의 일부뿐만 아니라 관(5), 노즐(6) 및 표식(7)의 미러 이미지(7')가 보여지고 있다. 기판(3)에는 복수의 전기 와이어(21)가 구비되는데, 배치될 구성부품(2)은 상기 와이어에 대해 정렬되어야만 한다. 기판 상의 원하는 위치에 대해 도 1b에 도시된 상황에서 구성부품(2)의 중간 위치는 이미지(20)를 참조하여 결정될 수 있다.
도 3은 본 발명에 따른 제 2 실시예의 디바이스(30)를 도시하며, 상기 디바이스에는 미러(9, 10)와 광학계(11) 대신에 복수의 유리 섬유(31)가 구비되며, 상기 유리 섬유의 제 1 단부는 카메라(32)에 연결되고 카메라(32)에서 먼 단부는 기판(3)를 마주보고 있다. 이러한 카메라(32)도 또한 기판(3)에 대한 배치 디바이스(30)의 관(5)의 상대 위치를 결정하는 가능성을 제공한다.
도 4는 본 발명에 따른 제 3 실시예의 디바이스(40)를 보여주며, 여기서 기판(3)에 대한 배치 디바이스(40)의 관(5)의 상대 위치는, 구성부품(2)이 기판(3) 상에 위치지정되기 전에 복수의 카메라(41)에 의해 결정된다.
만약 구성부품(2)이 상대적으로 크다면, 즉 만약 구성부품이 노즐(6)보다 더 크다면, 대안적으로 카메라(12, 32, 41)에 의해, 배치 디바이스의 일부, 즉 구성부품 및 기판(3)의 일부 둘 모두가 보여질 수 있는 이미지를 직접 얻는 것이 가능하다. 그후 기판(3)에 대한 구성부품(2)의 상대 위치는 이 이미지를 참조하여 직접 결정될 수 있다.
노즐(6)에 대한 구성부품의 위치를 결정할 때, 고정된 표식용 플레이트가 사용될 수 있고, 표식용 플레이트와 이 플레이트 위에 위치하고 있는 구성부품에 대한 이미지가 카메라(14)에 의해 동시에 생성되며, 한편 표식용 플레이트와 표식(7)에 대한 이미지는 카메라(12)의 의해 생성된다. 이어서 표식에 대한 구성부품이 위치가 두 이미지 모두로부터 결정된다.
대안적으로, 발광 다이오드(LED) 또는 광 전도 섬유를 표식(7)으로서 사용하는 것도 가능하다.
구성부품들은 본 발명에 따른 디바이스와 방법에 의해 상대적으로 신속하게 배치될 수 있다. 더 나아가, 원하는 정밀도가 실제 배치 동안에 구현될 수 있다는 것을 조건으로, 전체 디바이스는 상대적으로 덜 정밀할 수 있다.
본 발명은 배치 디바이스에 의해 기판 홀더 상에서 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법과 상기 방법을 실행하는데 적합한 디바이스 등에 이용가능하다.
Claims (10)
- 배치 디바이스를 통해 기판 상의 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법으로서, 상기 구성부품은 상기 기판의 상기 원하는 위치 위의 중간 위치로 상기 배치 디바이스에 의해 이동되며, 그후 상기 구성부품의 상기 중간 위치와 상기 기판 상의 상기 구성부품의 상기 원하는 위치 사이의 차가 적어도 하나의 카메라와 프로세서에 의해 결정되며, 그후 상기 구성부품은 상기 기판에 대해 상기 중간 위치와 상기 원하는 위치 사이의 차에 기초하여 상기 배치 디바이스에 의해 이동되어 상기 기판 상의 상기 원하는 위치에 위치지정되는, 방법에 있어서,상기 원하는 위치를 포함하는 상기 기판의 적어도 일부와 상기 구성부품을 지지하는 상기 배치 디바이스의 이미지가 상기 기판에서 먼 구성부분 측으로부터 상기 카메라에 의해 생성되는것을 특징으로 하는, 배치 디바이스를 통해 기판 상의 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법.
- 제 1 항에 있어서, 상기 기판 상의 상기 구성부품의 원하는 위치에 대한 상기 배치 디바이스의 상대 위치는 상기 이미지로부터 결정되는 것을 특징으로 하는, 배치 디바이스를 통해 기판 상의 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법.
- 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 배치 디바이스를 상기 원하는 위치 위에 위치한 상기 중간 위치로 이동시키기 전에, 상기 배치 디바이스에 대한 상기 구성부품의 상대 위치가 결정되고, 그후 상기 기판에 대한 상기 배치 디바이스의 상대 위치가 상기 이미지를 참조하여 결정되며, 이어서 상기 기판에 대한 상기 구성부품의 상대 위치가 상기 배치 디바이스에 대한 상기 구성부품의 상대 위치 및 상기 기판 상의 원하는 위치에 대한 상기 배치 디바이스의 상대 위치를 참조하여 결정되는 것을 특징으로 하는, 배치 디바이스를 통해 기판 상의 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법.
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 구성부품 및 상기 배치 디바이스의 이미지가 상기 배치 디바이스로부터 먼 상기 구성부품 측으로부터의 추가 카메라에 의해 생성되고, 상기 배치 디바이스에 대한 상기 구성부품의 상대 위치는 상기 이미지를 참조하여 결정되는 것을 특징으로 하는, 배치 디바이스를 통해 기판 상의 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법.
- 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 구성부품도 역시 상기 기판의 적어도 일부에 대한 상기 이미지 상에서 보여지며, 상기 기판에 대한 상기 구성부품의 상대 위치는 상기 이미지를 참조하여 직접 결정되는 것을 특징으로 하는, 배치 디바이스를 통해 기판 상의 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법.
- 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 기재된 방법을 수행하기에 적합한 디바이스로서, 기판 캐리어와, 상기 기판 캐리어에 대해 이동가능한 배치 디바이스, 적어도 하나의 카메라, 프로세서, 및 상기 카메라와 상기 배치 디바이스 사이에 배열된 광학계를 구비하는 디바이스에 있어서,상기 배치 디바이스의 적어도 일부와 동작시 상기 기판 캐리어에 의해 지지되는 상기 기판의 적어도 일부가 상기 광학계를 통해 상기 카메라로 촬상될 수 있는 것을 특징으로 하는, 배치 디바이스를 통해 기판 상의 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법을 수행하기에 적합한 디바이스.
- 제 6 항에 있어서, 상기 배치 디바이스는 적어도 하나의 표식이 구비되는 것을 특징으로 하는, 배치 디바이스를 통해 기판 상의 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법을 수행하기에 적합한 디바이스.
- 제 7 항에 있어서, 상기 배치 디바이스는 상기 표식과 상기 기판 캐리어 사이에 배열된 미러가 구비되는 것을 특징으로 하는, 배치 디바이스를 통해 기판 상의 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법을 수행하기에 적합한 디바이스.
- 제 8 항에 있어서, 상기 미러와 동작시 상기 기판 캐리어에 의해 지지되는 상기 기판 사이의 거리는 상기 카메라에서 기판을 촬상하는 동안에 상기 미러와 상기 표식 사이의 거리와 대체로 동일한 것을 특징으로 하는, 배치 디바이스를 통해기판 상의 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법을 수행하기에 적합한 디바이스.
- 제 6 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 배치 디바이스는 상기 배치 디바이스에 대해 이동가능한 진공 관(vacuum tube)이 구비되는 것을 특징으로 하는, 배치 디바이스를 통해 기판 상의 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법을 수행하기에 적합한 디바이스.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP02077002 | 2002-05-22 | ||
EP02077002.0 | 2002-05-22 | ||
PCT/IB2003/002139 WO2003098990A1 (en) | 2002-05-22 | 2003-05-20 | Method of placing a component by means of a placement device at a desired position on a substrate holder, and device suitable for performing such a method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20050000426A true KR20050000426A (ko) | 2005-01-03 |
KR101002992B1 KR101002992B1 (ko) | 2010-12-22 |
Family
ID=29433172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020047018631A KR101002992B1 (ko) | 2002-05-22 | 2003-05-20 | 배치 디바이스에 의해 기판 홀더 상에서 원하는 위치에 구성부품을 배치하는 방법 및 상기 방법을 실행하는데 적합한 디바이스 |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8094187B2 (ko) |
EP (1) | EP1510116B1 (ko) |
JP (1) | JP4296352B2 (ko) |
KR (1) | KR101002992B1 (ko) |
CN (1) | CN1656867A (ko) |
AT (1) | ATE481862T1 (ko) |
AU (1) | AU2003228039A1 (ko) |
DE (1) | DE60334209D1 (ko) |
TW (1) | TW200404485A (ko) |
WO (1) | WO2003098990A1 (ko) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011104225B4 (de) * | 2011-06-15 | 2017-08-24 | Mühlbauer Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zum Positionieren eines elektronischen Bauteils und / oder eines Trägers relativ zu einer Ausstoßeinrichtung |
WO2016092651A1 (ja) * | 2014-12-10 | 2016-06-16 | 富士機械製造株式会社 | 部品実装機 |
CN107409489B (zh) * | 2015-02-26 | 2020-02-28 | 株式会社富士 | 元件安装机 |
DE102015016763B3 (de) * | 2015-12-23 | 2017-03-30 | Mühlbauer Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung und Verfahren zum Positionieren und Übertragen auf einem Substrat bereitgestellter elektronischer Bauteile |
Family Cites Families (20)
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-
2003
- 2003-05-19 TW TW092113467A patent/TW200404485A/zh unknown
- 2003-05-20 JP JP2004506331A patent/JP4296352B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2003-05-20 EP EP03725508A patent/EP1510116B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-05-20 US US10/515,125 patent/US8094187B2/en active Active
- 2003-05-20 KR KR1020047018631A patent/KR101002992B1/ko active IP Right Grant
- 2003-05-20 DE DE60334209T patent/DE60334209D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-05-20 AT AT03725508T patent/ATE481862T1/de not_active IP Right Cessation
- 2003-05-20 WO PCT/IB2003/002139 patent/WO2003098990A1/en active Application Filing
- 2003-05-20 CN CNA038116278A patent/CN1656867A/zh active Pending
- 2003-05-20 AU AU2003228039A patent/AU2003228039A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005526405A (ja) | 2005-09-02 |
DE60334209D1 (de) | 2010-10-28 |
EP1510116A1 (en) | 2005-03-02 |
WO2003098990A1 (en) | 2003-11-27 |
EP1510116B1 (en) | 2010-09-15 |
US20050225631A1 (en) | 2005-10-13 |
CN1656867A (zh) | 2005-08-17 |
US8094187B2 (en) | 2012-01-10 |
TW200404485A (en) | 2004-03-16 |
JP4296352B2 (ja) | 2009-07-15 |
KR101002992B1 (ko) | 2010-12-22 |
AU2003228039A1 (en) | 2003-12-02 |
ATE481862T1 (de) | 2010-10-15 |
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A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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|
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|
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Payment date: 20181127 Year of fee payment: 9 |