KR20040042467A - Liquid Crystal Display Device And method for fabricating Liquid Crystal Display Device by using the same - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A liquid crystal display manufacturing apparatus and a method for fabricating a liquid crystal display using the apparatus are provided to reduce etch processing time by using various etchants. CONSTITUTION: A liquid crystal display manufacturing apparatus includes the first etch bath(60), the first etchant removal bath(71), the first etchant rinse baths(72,73), the first etchant dry bath(74), the second etchant bath(80), the second etchant rinse bath(90) and the second etchant dry bath(100). The first etchant bath etches the third conductive layer formed of Cr on a panel using the first etchant. The first etchant removal bath, the first etchant rinse baths, and the first etchant dry bath completely remove the first etchant left on the panel. The second etchant rinse bath removes the first etchant left even after the rinsing process through the first etchant rinse baths. The second etch bath etches the first and second conductive layers respectively formed of Mo and AlNd using the second etchant.

Description

액정표시장치 및 이를 이용한 액정표시소자의 제조방법{Liquid Crystal Display Device And method for fabricating Liquid Crystal Display Device by using the same}Liquid Crystal Display Device and method for fabricating Liquid Crystal Display Device by using the same}

본 발명은 액정표시장치에 대한 것으로, 특히 데이터라인과 소오스/드레인전극을 3중 배선으로 형성할 때 단일 장비로 진행하여 공정을 단순화시킬 수 있는 액정표시장치 및 이를 이용한 액정표시소자의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device and a method of manufacturing a liquid crystal display device using the same, in which the data line and the source / drain electrodes are formed in a triple wiring to proceed as a single device to simplify the process. It is about.

정보화 사회가 발전함에 따라 표시장치에 대한 요구도 다양한 형태로 점증하고 있으며, 이에 부응하여 근래에는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), ELD(Electro Luminescent Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display) 등 여러 가지 평판 표시 장치가 연구되어 왔고, 일부는 이미 여러 장비에서 표시장치로 활용되고 있다.As the information society develops, the demand for display devices is increasing in various forms.In recent years, liquid crystal display (LCD), plasma display panel (PDP), electro luminescent display (ELD), and vacuum fluorescent display (VFD) have been developed. Various flat panel display devices have been studied, and some are already used as display devices in various devices.

그 중에, 현재 화질이 우수하고 경량, 박형, 저소비 전력의 장점으로 인하여 이동형 화상 표시장치의 용도로 CRT(Cathode Ray Tube)를 대체하면서 LCD가 가장 많이 사용되고 있으며, 노트북 컴퓨터의 모니터와 같은 이동형의 용도 이외에도 방송신호를 수신하여 디스플레이하는 텔레비전, 및 컴퓨터의 모니터 등으로 다양하게 개발되고 있다.Among them, LCD is the most widely used as a substitute for CRT (Cathode Ray Tube) for the use of mobile image display device because of the excellent image quality, light weight, thinness, and low power consumption, and mobile type such as monitor of notebook computer. In addition, it is being developed in various ways, such as a television for receiving and displaying broadcast signals, and a monitor of a computer.

이와 같이 액정표시장치가 여러 분야에서 화면 표시장치로서의 역할을 하기 위해 여러 가지 기술적인 발전이 이루어 졌음에도 불구하고 화면 표시장치로서 화상의 품질을 높이는 작업은 상기 장점과 배치되는 면이 많이 있다.As described above, although various technical advances have been made in order for the liquid crystal display device to serve as a screen display device in various fields, the task of improving the image quality as the screen display device has many advantages and disadvantages.

따라서, 액정표시장치가 일반적인 화면 표시장치로서 다양한 부분에 사용되기 위해서는 경량, 박형, 저 소비전력의 특징을 유지하면서도 고정세, 고휘도, 대면적 등 고 품위 화상을 얼마나 구현할 수 있는가에 발전의 관건이 걸려 있다고 할 수 있다.Therefore, in order to use a liquid crystal display device in various parts as a general screen display device, the key to development is how much high definition images such as high definition, high brightness, and large area can be realized while maintaining the characteristics of light weight, thinness, and low power consumption. It can be said.

이와 같은 액정표시장치는 화상을 표시하는 액정패널과 상기 액정패널에 구동신호를 인가하기 위한 구동부로 크게 구분될 수 있으며, 상기 액정패널은 일정 공간을 갖고 합착된 상, 하부기판과, 상기 상, 하부기판 사이에 형성된 액정층으로 구성된다.Such a liquid crystal display may be largely divided into a liquid crystal panel displaying an image and a driving unit for applying a driving signal to the liquid crystal panel. The liquid crystal panel has a predetermined space, and includes an upper substrate, a lower substrate, and the upper and lower substrates. It is composed of a liquid crystal layer formed between the lower substrate.

여기서, 상기 하부기판(TFT 어레이 기판)에는, 일정 간격을 갖고 일방향으로 배열되는 복수개의 게이트배선과, 상기 각 게이트배선과 수직한 방향으로 일정한 간격으로 배열되는 복수개의 데이터배선과, 상기 각 게이트배선과 데이터배선이 교차되어 정의된 각 화소영역에 매트릭스 형태로 형성되는 복수개의 화소전극과, 상기 게이트배선의 신호에 의해 스위칭되어 상기 데이터배선의 신호를 상기 각 화소전극에 전달하는 복수개의 박막트랜지스터가 형성된다.Here, the lower substrate (TFT array substrate) includes a plurality of gate wirings arranged in one direction at a predetermined interval, a plurality of data wirings arranged at regular intervals in a direction perpendicular to the respective gate wirings, and the respective gate wirings. A plurality of pixel electrodes formed in a matrix form in each pixel region defined by intersections of the data lines and a plurality of thin film transistors which are switched by signals of the gate lines to transfer the signals of the data lines to the pixel electrodes. Is formed.

그리고 상부기판(칼라필터 기판)에는, 상기 화소영역을 제외한 부분의 빛을 차단하기 위한 블랙매트릭스층과, 칼라 색상을 표현하기 위한 R,G,B 칼라필터층과 화상을 구현하기 위한 공통전극이 형성된다.In the upper substrate (color filter substrate), a black matrix layer for blocking light except for the pixel region, an R, G, and B color filter layer for expressing color colors, and a common electrode for implementing an image are formed. do.

또한, 이와 같이 형성된 상부기판과 하부기판은 셀 갭을 유지하기 위한 스페이서(spacer)에 의해 일정 공간을 갖고, 씨일재(sealant)에 의해 합착된다. 그리고 씨일재 내부의 공간에 액정이 형성된다.In addition, the upper substrate and the lower substrate thus formed have a predetermined space by a spacer for maintaining a cell gap, and are bonded by a sealant. And liquid crystal is formed in the space inside a seal material.

이와 같은 구조를 갖는 액정표시장치를 제조할 때 하나의 기판에 하나의 액정 패널을 형성하는 것이 아니라, 기판의 크기 및 액정패널의 사이즈에 따라 하나의 대형 기판에 복수개의 액정 패널을 동시에 형성한다.When manufacturing a liquid crystal display device having such a structure, instead of forming one liquid crystal panel on one substrate, a plurality of liquid crystal panels are simultaneously formed on one large substrate according to the size of the substrate and the size of the liquid crystal panel.

상기의 구성을 갖는 일반적인 액정표시장치를 평면도를 참조하여 좀더 자세하게 설명하면 다음과 같다.A general liquid crystal display device having the above configuration will be described in more detail with reference to a plan view.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 단위 화소를 나타낸 확대 평면도이다.1 is an enlarged plan view illustrating a unit pixel of a general liquid crystal display device.

일반적인 액정표시장치는 도 1에 도시한 바와 같이 투명한 하부기판 상에 일정 간격을 갖고 일방향으로 평행하게 게이트라인(11)이 배열되어 있고, 상기 게이트라인(11)에서 일방향으로 게이트전극(11a)이 돌출 형성되고, 전단 게이트라인의 스토리지 커패시터 위치에 스토리지 하부전극이 게이트라인(11)과 일체형으로 형성되어 있다.In a typical liquid crystal display device, as shown in FIG. 1, the gate lines 11 are arranged in parallel in one direction at a predetermined interval on a transparent lower substrate, and the gate electrodes 11a are disposed in one direction in the gate line 11. The storage lower electrode is integrally formed with the gate line 11 at the storage capacitor position of the front gate line.

또한 도면에는 도시되지 않았지만, 게이트라인(11)의 끝단에는 게이트패드가 형성되어 있고, 데이터라인(14)의 끝단에는 소오스패드가 형성되어 있다.Although not shown in the drawing, a gate pad is formed at the end of the gate line 11, and a source pad is formed at the end of the data line 14.

그리고 게이트라인(11)과 게이트전극(11a) 및 스토리지 하부전극을 포함한 기판상에 상부층과 전기적으로 절연시키기 위한 게이트절연막(미도시)이 형성되어 있고, 상기 게이트전극(11a) 상부의 게이트절연막상에 액티브층(13)이 형성되어 있다.A gate insulating film (not shown) is formed on the substrate including the gate line 11, the gate electrode 11a, and the storage lower electrode to electrically insulate the upper layer from the gate insulating film on the gate electrode 11a. The active layer 13 is formed in this.

이때 액티브층(13)은 아몰퍼스 실리콘층과 도핑된 아몰퍼스 실리콘의 적층 구조로 형성된다.In this case, the active layer 13 is formed of a stacked structure of an amorphous silicon layer and an amorphous silicon doped.

그리고 상기 게이트라인(11)과 교차 형성되어 화소영역을 정의하는 데이터라인(14)이 있고, 상기 데이터라인(14)에서 일방향으로 돌출되며 액티브층(13)의 일측과 오버랩된 소오스전극(15)이 있고, 상기 소오스전극(15)과 이격되어 액티브층(13)의 타측과 오버랩되어 형성된 드레인전극(16)이 있다.There is a data line 14 intersecting with the gate line 11 to define a pixel region. The source electrode 15 protrudes in one direction from the data line 14 and overlaps one side of the active layer 13. There is a drain electrode 16 spaced apart from the source electrode 15 and overlapping with the other side of the active layer 13.

그리고 상기 스토리지 하부전극의 상측에 스토리지 상부전극(19)이 형성되어 있다.The storage upper electrode 19 is formed on the storage lower electrode.

그리고 상기 스토리지 상부전극(19) 및 드레인전극(16)에 각각 제 1, 제 2 콘택홀(17a, 17b)을 갖도록 하부기판에 패시브층(미도시)이 형성되어 있고, 상기 제 1, 제 2 콘택홀(17a,17b)을 통해서 상기 스토리지 상부전극(19) 및 드레인전극(16)에 콘택되도록 화소영역에 화소전극(18)이 형성되어 있다.A passive layer (not shown) is formed on the lower substrate so as to have first and second contact holes 17a and 17b in the storage upper electrode 19 and the drain electrode 16, respectively. The pixel electrode 18 is formed in the pixel area to contact the storage upper electrode 19 and the drain electrode 16 through the contact holes 17a and 17b.

이하, 첨부 도면을 참조하여 종래의 액정표시소자의 제조방법에 대하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a manufacturing method of a conventional liquid crystal display device will be described with reference to the accompanying drawings.

도 2a 내지 도 2e는 종래기술에 따른 액정표시소자의 제조방법을 나타낸 공정 단면도이고, 도 3은 종래기술에 따른 액정표시소자의 제조방법을 나타낸 공정 흐름도이다.2A to 2E are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a liquid crystal display device according to the prior art, and FIG. 3 is a process flowchart illustrating a method of manufacturing a liquid crystal display device according to the prior art.

종래 액정표시소자의 제조방법은 도 2a 및 도 3에 도시한 바와 같이 투명한 하부기판(10)상에 크롬, 알루미늄, 알루미늄 합금(AlNd), 탄탈륨, 몰리브덴(Mo)등의 도전성 금속막 중 하나를 증착한다.2. Description of the Related Art A conventional method for manufacturing a liquid crystal display device includes one of conductive metal films such as chromium, aluminum, aluminum alloy (AlNd), tantalum, and molybdenum (Mo) on a transparent lower substrate 10 as shown in FIGS. 2A and 3. Deposit.

이후에 게이트형성 마스크를 이용하여 상기 도전성 금속막 중 하나를 사진 식각하여 일방향으로 배열된 게이트라인 및 게이트라인의 일측으로 돌출된 게이트전극(11a)을 형성한다.Subsequently, one of the conductive metal layers is photo-etched using a gate forming mask to form gate lines arranged in one direction and gate electrodes 11a protruding to one side of the gate lines.

다음에 상기 게이트전극(11a)을 포함한 하부기판(10) 전면에게이트절연막(12)을 형성한다.Next, a gate insulating film 12 is formed on the entire lower substrate 10 including the gate electrode 11a.

그리고 게이트절연막(12)상에 액티브층 형성용 비정질 실리콘층(13a)과 n+ 비정질 실리콘층(13b)을 차례로 증착한다.The amorphous silicon layer 13a for forming an active layer and the n + amorphous silicon layer 13b are sequentially deposited on the gate insulating film 12.

이후에 액티브 형성용 마스크를 이용하여 비정질 실리콘층(13a)과 n+ 비정질 실리콘층(13b)을 식각해서 게이트전극(11a)을 포함한 상측에 액티브층(13)을 형성한다.Thereafter, the amorphous silicon layer 13a and the n + amorphous silicon layer 13b are etched using the active forming mask to form the active layer 13 above the gate electrode 11a.

그리고, 하부기판(10) 전면에 몰리브덴(Mo), 알루미늄-네오디뮴(AlNd), 크롬(Cr)으로 구성된 제 1 내지 제 3 도전층(14a,14b,14c)을 차례로 증착한다.(S30)Then, the first to third conductive layers 14a, 14b, and 14c made of molybdenum (Mo), aluminum-neodymium (AlNd), and chromium (Cr) are sequentially deposited on the entire lower substrate 10. (S30)

상기와 같이 도전층을 3층으로 적층 형성하는 이유는 알루미늄-네오디뮴(AlNd) 하부에 몰리브덴(Mo)을 형성하면 알루미늄-네오디뮴(AlNd)에 힐락(hillock)이 발생하거나 스프레쉬(splash) 현상이 일어나는 것을 방지해 줄 수 있고, 알루미늄-네오디뮴(AlNd) 상부에 크롬(Cr)을 형성하면 AlNd의 상부에 산화막이 형성되는 것을 방지할 수 있다.The reason why the conductive layer is formed in three layers as described above is that if molybdenum (Mo) is formed under the aluminum-neodymium (AlNd), hillock occurs in the aluminum-neodymium (AlNd) or a splash phenomenon occurs. It is possible to prevent the occurrence of the chromium (Cr) formed on the top of aluminum-neodymium (AlNd) to prevent the formation of an oxide film on the top of the AlNd.

다음에 도 2b 및 도 3에 도시한 바와 같이 제 3 도전층(14c)상에 감광막(20)을 증착한 후 노광 및 현상공정으로 선택적으로 감광막(20)을 패터닝해서, 데이터라인(미도시)과 소오스/드레인전극 형성을 위한 마스크를 제조한다.(S31)Next, as shown in FIGS. 2B and 3, the photoresist film 20 is deposited on the third conductive layer 14c, and then the photoresist film 20 is selectively patterned by an exposure and development process to form a data line (not shown). And a mask for forming a source / drain electrode is prepared (S31).

그리고 도 2c 및 도 3에 도시한 바와 같이 감광막(20)을 마스크로 제 1 식각장비에서 제 1 식각용액으로 제 3 도전층(14c)을 식각한다(S32).As illustrated in FIGS. 2C and 3, the third conductive layer 14c is etched with the first etching solution in the first etching apparatus using the photosensitive film 20 as a mask (S32).

그리고 린즈/건조 장비로 이동하여 상기 제 1 식각용액을 린즈/건조시킨다.The rinse / drying apparatus is moved to rinse / dry the first etching solution.

이때, 제 1 식각용액은 CAN(Ceric Ammonium Nitrate)이나 질산을 사용한다.In this case, the first etching solution may use CAN (Ceric Ammonium Nitrate) or nitric acid.

이후에 도 2d 및 도 3에 도시한 바와 같이 제 2 식각장비에서 제 2 식각용액을 이용하여 제 2, 제 1 도전층(14b,14a)을 차례로 식각(S33)한다.Thereafter, as shown in FIGS. 2D and 3, the second and first conductive layers 14b and 14a are sequentially etched (S33) using the second etching solution in the second etching equipment.

이때 제 2 식각용액은 인산, 질산, 초산, DI(De Ionized)를 혼합한 것이다.At this time, the second etching solution is a mixture of phosphoric acid, nitric acid, acetic acid, DI (De Ionized).

이후에 린즈/건조 장비로 이동하여 상기 제 2 식각용액을 린즈/건조시킨다.Afterwards, the rinse / drying apparatus is moved to rinse / dry the second etching solution.

그리고 마스크로 사용된 감광막(20)을 제거하여(S34) 도 2e에 도시한 바와 같이 몰리브덴(Mo), 알루미늄-네오디뮴(AlNd), 크롬(Cr)이 적층된 소오스 전극(15), 드레인 전극(16) 및 데이터라인(14)(도 1 참조)을 형성한다.As a result, the photosensitive film 20 used as a mask is removed (S34), and as shown in FIG. 2E, the source electrode 15 and the drain electrode on which molybdenum (Mo), aluminum-neodymium (AlNd), and chromium (Cr) are stacked. 16 and data line 14 (see FIG. 1).

이때 소오스 전극(15)과 드레인 전극(16)은 게이트전극(51a)의 일측 및 타측 상부에 오버랩되도록 형성하고, 데이터라인(14)은 게이트라인(11)과 직교하도록 형성한다.In this case, the source electrode 15 and the drain electrode 16 are formed to overlap one side and the other upper portion of the gate electrode 51a, and the data line 14 is formed to be orthogonal to the gate line 11.

상기와 같이 적층된 제 1 내지 제 3 도전층을 식각하여 소오스 전극(15), 드레인 전극(16) 및 데이터라인(14)을 형성할 때, 다른 식각장비내에서 서로 다른 식각용액(Etchant)을 이용하여 진행하여야하므로 공정시간이 길어지고, 장비의 효율성이 떨어진다.When the first to third conductive layers stacked as described above are etched to form the source electrode 15, the drain electrode 16, and the data line 14, different etchantes are used in different etching equipment. Process time is long and the efficiency of equipment is reduced because it needs to proceed.

만일, 동일 식각장치에서 적층된 제 1 내지 제 3 도전층을 식각할 경우 제 1, 제 2 식각용액이 혼합되어 화학반응을 일으켜서 겔(Gel)이 형성되는 문제가 발생할 수 있다.When etching the first to third conductive layers stacked in the same etching apparatus, the first and second etching solutions may be mixed to cause a chemical reaction, thereby forming a gel.

본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위하여 안출한 것으로, 본 발명의목적은 서로 다른 식각용액을 이용하여 식각공정을 진행할 때 공정시간을 단축하고, 장비의 효율성을 향상시킬 수 있는 액정표시장치 및 이를 이용한 액정표시소자의 제조방법을 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve the above problems, the object of the present invention is to reduce the process time when performing the etching process using a different etching solution, and to improve the efficiency of the equipment and It is to provide a method of manufacturing a liquid crystal display device using the same.

본 발명의 다른 목적은 서로다른 식각용액을 이용하여 식각공정을 진행할 때 겔(Gel)이 형성되는 것을 방지할 수 있는 액정표시장치 및 이를 이용한 액정표시소자의 제조방법을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a liquid crystal display device and a method of manufacturing a liquid crystal display device using the same to prevent the formation of a gel (Gel) when the etching process using a different etching solution.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 단위 화소를 나타낸 확대 평면도1 is an enlarged plan view illustrating unit pixels of a general liquid crystal display device;

도 2a 내지 도 2e는 종래 및 본 발명에 따른 액정표시소자의 제조방법을 나타낸 공정 단면도2A through 2E are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a liquid crystal display device according to the related art and the present invention.

도 3은 종래기술에 따른 액정표시소자의 제조방법을 나타낸 공정 흐름도3 is a process flowchart showing a method of manufacturing a liquid crystal display device according to the prior art;

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자의 제조방법을 나타낸 공정 흐름도4 is a process flowchart showing a method of manufacturing a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention.

도 5는 도 4의 'S62'의 세부 공정을 나타낸 흐름도5 is a flowchart illustrating a detailed process of S62 of FIG. 4.

도 6은 본 발명에 따른 액정표시장치의 블록 구성도6 is a block diagram of a liquid crystal display according to the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

60 : 제 1 식각배스 71 : 제 1 식각용액 액절배스60: first etching bath 71: first etching solution liquid bath

72 : 제 1 식각용액 1차 린즈배스 73 : 제 1 식각용액 2차 린즈배스72: first etching solution primary rinse bath 73: first etching solution secondary rinse bath

74 : 제 1 식각용액 건조배스 80 : 제 2 식각배스74: first etching solution drying bath 80: second etching bath

90 : 제 2 식각용액 린즈배스 100 : 제 2 식각용액 건조배스90: second etching solution rinse bath 100: second etching solution dry bath

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 액정표시장치는 서로 다른 식각용액을 이용하여 식각공정이 진행되는 제 1, 제 2 식각배스와; 상기 제 1, 제 2 식각배스와 함께 그 사이에 액절배스와 린즈배스와 건조배스를 단일장비내에 차례로 구비한 것을 특징으로 한다.The liquid crystal display device of the present invention for achieving the above object is the first and second etching bath that the etching process is performed using different etching solutions; Along with the first and second etching bath, the liquid bath, the rinse bath, and the drying bath are sequentially provided in a single device.

상기 구성을 갖는 액정표시장치는 좀 더 구체적으로, 제 1 식각용액을 이용하여 제 1 식각공정을 진행하는 제 1 식각배스와; 제 1 식각배스와 동일 장비내에 제 2 식각용액을 이용하여 제 2 식각공정을 진행하는 제 2 식각배스와; 상기 제 1 식각용액을 제거하기 위해 상기 제 1 식각배스와 상기 제 2 식각배스의 사이에 구비된 제 1 식각용액 액절배스, 린즈배스 및 건조배스와; 상기 제 2 식각공정을 진행후에 제 2 식각용액을 제거하기 위한 제 2 식각용액 린즈배스와; 상기 제 2 식각용액을 건조시키는 제 2 식각용액 건조배스를 단일 장비내에 구비한 것을 특징으로 한다.In more detail, the liquid crystal display having the above configuration may include: a first etching bath for performing a first etching process using the first etching solution; A second etching bath performing a second etching process using a second etching solution in the same equipment as the first etching bath; A first etching solution liquid bath, a rinse bath, and a drying bath provided between the first etching bath and the second etching bath to remove the first etching solution; A second etching solution rinse bath for removing the second etching solution after the second etching process; A second etching solution drying bath for drying the second etching solution is provided in a single equipment.

상기 액정표시장치를 이용한 본 발명의 액정표시소자의 제조방법은 기판상에일방향으로 배열된 게이트라인 및 게이트라인의 일측으로 돌출된 게이트전극을 형성하는 단계; 상기 게이트전극을 포함한 상기 기판상에 게이트절연막을 형성하는 단계; 상기 게이트전극의 상부의 상기 게이트절연막상에 액티브층을 형성하는 단계; 상기 액티브층을 포함한 상기 게이트절연막상에 제 1 내지 제 3 도전층을 형성하는 단계; 단일 장비내에서 서로 다른 식각용액과 식각, 건조, 린즈 배스를 이용하여 상기 제 3 도전층 및 제 2, 제 1 도전층을 차례로 식각하여 상기 게이트전극의 일측 및 타측 상부에 오버랩되도록 소오스/드레인전극을 형성하고, 상기 게이트라인과 직교하도록 데이터라인을 형성하는 단계를 포함함을 특징으로 한다.A method of manufacturing a liquid crystal display device of the present invention using the liquid crystal display device includes the steps of forming a gate line arranged in one direction on the substrate and a gate electrode protruding to one side of the gate line; Forming a gate insulating film on the substrate including the gate electrode; Forming an active layer on the gate insulating film on the gate electrode; Forming first to third conductive layers on the gate insulating film including the active layer; The source / drain electrodes are overlapped on one side and the other of the gate electrode by sequentially etching the third conductive layer, the second conductive layer and the first conductive layer by using different etching solutions, etching, drying and rinse baths in a single device. And forming a data line to be orthogonal to the gate line.

이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정표시장치 및 이를 이용한 액정표시소자의 제조방법에 대하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a liquid crystal display device and a method of manufacturing a liquid crystal display device using the same according to an exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

먼저, 본 발명의 일실시예에 따른 액정표시소자의 제조방법에 대하여 설명하기로 한다.First, a method of manufacturing a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention will be described.

도 2a 내지 도 2e는 본 발명에 따른 액정표시소자의 제조방법을 나타낸 공정 단면도이고, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자의 제조방법을 나타낸 공정 흐름도이며, 도 5는 도 4의 'S62'단계의 세부 공정을 나타낸 흐름도이다.2A to 2E are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention, FIG. 4 is a process flowchart showing a method of manufacturing a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention, and FIG. It is a flowchart showing the detailed process of a step "S62".

본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자의 제조방법은 소오스/드레인 전극 및 데이터라인을 Cr/AlNd/Mo의 3중막으로 형성할 때, 이를 단일 장비에서 2종류의 식각용액으로 겔(Gel)의 형성없이 패턴할 수 있는 방법에 특징이 있다.In the method of manufacturing a liquid crystal display device according to an embodiment of the present invention, when a source / drain electrode and a data line are formed of a triple film of Cr / AlNd / Mo, the gel is formed into two kinds of etching solutions in a single device. It is characterized by a method that can be patterned without formation.

본 발명의 실시예에 따른 액정표시소자의 제조방법은 도 2a 및 도 4에 도시한 바와 같이 투명한 하부기판(10)상에 크롬, 알루미늄, 알루미늄 합금(AlNd), 탄탈륨, 몰리브덴(Mo)등의 도전성 금속막 중 하나를 증착한다.A method of manufacturing a liquid crystal display device according to an exemplary embodiment of the present invention includes chromium, aluminum, aluminum alloy (AlNd), tantalum, molybdenum (Mo), etc., on the transparent lower substrate 10 as shown in FIGS. 2A and 4. One of the conductive metal films is deposited.

이후에 게이트형성 마스크를 이용하여 상기 도전성 금속막 중 하나를 사진 식각하여 일방향으로 배열된 게이트라인 및 게이트라인의 일측으로 돌출된 게이트전극(11a)을 형성한다.Subsequently, one of the conductive metal layers is photo-etched using a gate forming mask to form gate lines arranged in one direction and gate electrodes 11a protruding to one side of the gate lines.

다음에 상기 게이트전극(11a)을 포함한 하부기판(10) 전면에 게이트절연막(12)을 형성한다.Next, a gate insulating film 12 is formed on the entire lower substrate 10 including the gate electrode 11a.

그리고 게이트절연막(12)상에 액티브층 형성용 비정질 실리콘층(13a)과 n+ 비정질 실리콘층(13b)을 차례로 증착한다.The amorphous silicon layer 13a for forming an active layer and the n + amorphous silicon layer 13b are sequentially deposited on the gate insulating film 12.

이후에 액티브 형성용 마스크를 이용하여 비정질 실리콘층(13a)과 n+ 비정질 실리콘층(13b)을 식각해서 게이트전극(11a)을 포함한 상측에 액티브층(13)을 형성한다.Thereafter, the amorphous silicon layer 13a and the n + amorphous silicon layer 13b are etched using the active forming mask to form the active layer 13 above the gate electrode 11a.

그리고, 하부기판(10) 전면에 몰리브덴(Mo), 알루미늄-네오디뮴(AlNd), 크롬(Cr)으로 구성된 제 1 내지 제 3 도전층(14a,14b,14c)을 차례로 증착한다.(S40)Then, the first to third conductive layers 14a, 14b, and 14c made of molybdenum (Mo), aluminum-neodymium (AlNd), and chromium (Cr) are sequentially deposited on the entire lower substrate 10. (S40)

상기와 같이 도전층을 3층으로 형성하는 이유는 알루미늄-네오디뮴(AlNd) 하부에 몰리브덴(Mo)을 형성하면 알루미늄-네오디뮴(AlNd)에 힐락(hillock)이 발생하거나 스프레쉬(splash) 현상이 일어나는 것을 방지해 줄 수 있고, 알루미늄-네오디뮴(AlNd) 상부에 크롬(Cr)을 형성하면 AlNd의 상부에 산화막이 형성되는 것을 방지할 수 있다.The reason why the conductive layer is formed in three layers as described above is that when molybdenum (Mo) is formed under aluminum-neodymium (AlNd), hillock occurs in the aluminum-neodymium (AlNd) or a splash phenomenon occurs. If the chromium (Cr) is formed on aluminum-neodymium (AlNd), it is possible to prevent the formation of an oxide film on the AlNd.

다음에 도 2b 및 도 4에 도시한 바와 같이 제 3 도전층(14c)상에 감광막(20)을 증착한 후 노광 및 현상공정으로 선택적으로 감광막(20)을 패터닝해서, 데이터라인(미도시)과 소오스/드레인전극 형성을 위한 마스크를 제조한다.(S50)Next, as shown in FIGS. 2B and 4, the photoresist film 20 is deposited on the third conductive layer 14c, and then the photoresist film 20 is selectively patterned by an exposure and development process to thereby form a data line (not shown). And a mask for forming a source / drain electrode is prepared (S50).

그리고 도 2c, 도 2d 및 도 4에 도시한 바와 같이 감광막(20)을 마스크로 단일 식각 장비에서 제 1 식각용액으로 제 3 도전층(14c)을 식각하고(S61), 이어서 제 1 식각용액으로 린즈/건조(S62)시킨 후 제 2 식각용액으로 제 2, 제 1 도전층(14b,14a)을 차례로 식각(S63)한다.As shown in FIGS. 2C, 2D, and 4, the third conductive layer 14c is etched with the first etching solution in a single etching apparatus using the photoresist film 20 as a mask (S61), and then with the first etching solution. After rinsing / drying (S62), the second and first conductive layers 14b and 14a are sequentially etched (S63) with a second etching solution.

좀더 자세하게 설명하면 도 4, 도 5 및 도 6 도시한 바와 같이 감광막(20)을 마스크로 식각장비내의 제 1 식각배스(60)에서 제 1 식각용액으로 제 3 도전층(14c)을 식각한다.In detail, as illustrated in FIGS. 4, 5, and 6, the third conductive layer 14c is etched with the first etching solution from the first etching bath 60 in the etching apparatus using the photosensitive film 20 as a mask.

이때 제 1 식각용액은 CAN(Ceric Ammonium Nitrate)이나 질산을 사용하며, 이것은 제 3 도전층(14c)인 Cr을 식각하기 위한 것이다.In this case, the first etching solution uses Ceric Ammonium Nitrate (CAN) or nitric acid, which is used to etch Cr, which is the third conductive layer 14c.

이후에 제 1 식각용액 액정 배스(71)에서 제 1 식각용액을 액절시킨다. 이때 액절은 에어 나이프(Air Knife)를 이용해 건조시키는 방법을 사용한다.Thereafter, the first etching solution is liquefied in the first etching solution liquid crystal bath 71. At this time, the liquid section uses a method of drying using an air knife.

다음에 제 1 식각용액 1차 린즈 배스(72)내에서 제 1 식각용액을 1차 린즈한다. 이때 린즈는 아쿠아 나이프(Aqua Knife) 또는 샤워(Shower)와 같은 방법을 사용한다.Next, the first etching solution is first rinsed in the first etching solution primary rinse bath 72. Linz uses a method such as Aqua Knife or Shower.

이어서 제 1 식각용액 2차 린즈 배스(73)내에서 제 1 식각용액을 2차 린즈한다.Subsequently, the first etching solution is secondly rinsed in the first etching solution secondary rinse bath 73.

이후에 제 1 식각용액 건조 배스(74)내에서 제 1 식각용액을 건조시킨다.Thereafter, the first etching solution is dried in the first etching solution drying bath 74.

다음에 제 2 식각 배스(80)내에서 감광막(20)을 마스크 제 2 식각용액으로제 2, 제 1 도전층(14b,14a)을 식각한다.(S63)Next, the second and first conductive layers 14b and 14a are etched using the photosensitive film 20 as a mask second etching solution in the second etching bath 80 (S63).

이때 제 2 식각용액은 인산:질산:초산:DI(De Ionized)를 20:16%:5%:59%의 비율로 혼합한 것으로 AlNd와 Mo의 제 2, 제 1 도전층(14b,14a)를 식각하기 위한 것이다.At this time, the second etching solution is a mixture of phosphoric acid: nitric acid: acetic acid: DI (De Ionized) in a ratio of 20: 16%: 5%: 59%, and the second and first conductive layers AlNd and Mo (14b, 14a). To etch.

이후에 제 2 식각용액 린즈 배스(90) 및 제 2 식각용액 건조 배스(100)내에서 제 2 식각용액을 린즈하고, 건조시킨다.Thereafter, the second etching solution is rinsed and dried in the second etching solution rinse bath 90 and the second etching solution drying bath 100.

그리고 마스크로 사용된 감광막(20)을 제거하여(S70) 도 2e에 도시한 바와 같이 몰리브덴(Mo), 알루미늄-네오디뮴(AlNd), 크롬(Cr)이 적층된 소오스 전극(15)과 드레인 전극(16) 및 데이터라인(14)(도 1 참조)을 형성한다.As a result, the photoresist film 20 used as a mask is removed (S70), and as shown in FIG. 16 and data line 14 (see FIG. 1).

이때 소오스 전극(15)과 드레인 전극(16)은 게이트전극(51a)의 일측 및 타측 상부에 오버랩되도록 형성하고, 데이터라인(14)은 게이트라인(11)과 직교하도록 형성한다.In this case, the source electrode 15 and the drain electrode 16 are formed to overlap one side and the other upper portion of the gate electrode 51a, and the data line 14 is formed to be orthogonal to the gate line 11.

상기에서 소오스전극(15) 및 드레인전극(16)을 형성할 때 비정질 실리콘층(13a)이 드러나도록 n+ 비정질 실리콘층(13b)을 과도식각하여 오믹콘택층을 형성한다.When forming the source electrode 15 and the drain electrode 16, the ohmic contact layer is formed by excessively etching the n + amorphous silicon layer 13b so that the amorphous silicon layer 13a is exposed.

상기에서와 같이 제 1 내지 제 3 도전층(14a,14b,14c)을 식각한 배스와 제 1, 제 2 식각용액을 린즈/건조시킨 배스들은 모두 동일 장비내에 구비된 것이며, 각 식각 및 린즈/건조공정도 동일 장비에서 일련의 과정을 거쳐서 진행되는 것이다.As described above, the baths in which the first to third conductive layers 14a, 14b, and 14c are etched and the baths in which the first and second etching solutions are rinsed / dried are all included in the same equipment. The drying process also goes through a series of processes on the same equipment.

다음에 도면에는 도시되지 않았지만, 하부기판(10)상에 보호막을 증착하고보호막상에 마스크 패턴을 형성한 후, 마스크 패턴을 이용해서 보호막을 식각하므로써 드레인전극의 일영역 및 전단 게이트라인의 일영역에 콘택홀을 형성한다.Next, although not shown in the drawings, a protective film is deposited on the lower substrate 10, a mask pattern is formed on the protective film, and the protective film is etched using the mask pattern to thereby form one region of the drain electrode and one region of the front gate line. A contact hole is formed in the hole.

이때 보호막은 질화 실리콘(Si3N4) 또는 산화 실리콘(SiO2) 등의 무기 절연물질, 또는 아크릴(Acryl)계 유기화합물, 테프론(Teflon), BCB(benzocyclobuten), 사이토프(Cytop) 또는 PFCB(Perfluorocyclobutane) 등의 유전 상수가 작은 유기물질 중에서 적어도 하나를 선택하여 형성할 수 있다.In this case, the protective layer may be an inorganic insulating material such as silicon nitride (Si 3 N 4) or silicon oxide (SiO 2), or an acrylic organic compound, Teflon, BCB (benzocyclobuten), Cytop, or PFCB (Perfluorocyclobutane). It may be formed by selecting at least one of the organic material having a low dielectric constant of.

다음에 하부기판상에 투명전극을 증착한 후 사진 식각하여 콘택홀을 포함한 화소영역에 화소전극을 형성한다.Next, a transparent electrode is deposited on the lower substrate and then etched to form a pixel electrode in the pixel region including the contact hole.

이때 화소전극은 ITO(Indium-Tin-Oxide), IZO(Indium-Zinc-Oxide), ITZO(Indium-Tin-Zinc-Oxide)중 하나의 물질로 구성한다.In this case, the pixel electrode is made of one material of ITO (Indium-Tin-Oxide), IZO (Indium-Zinc-Oxide) or ITZO (Indium-Tin-Zinc-Oxide).

다음에, 상기 액정표시소자의 제조방법에 사용되는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 구성에 대하여 설명하기로 한다.Next, the configuration of the liquid crystal display device according to the embodiment of the present invention used in the method for manufacturing the liquid crystal display element will be described.

도 6은 본 발명에 따른 액정표시장치의 블록 구성도이다.6 is a block diagram of a liquid crystal display according to the present invention.

본 발명의 일실시예에 따른 액정표시장치는 상기 액정표시소자의 제조방법중 몰리브덴(Mo), 알루미늄-네오디뮴(AlNd), 크롬(Cr)의 3중막으로 구성된 소오스/드레인전극 및 데이터라인을 형성하는데 사용되는 식각장치이다.According to an exemplary embodiment of the present invention, a liquid crystal display device includes a source / drain electrode and a data line formed of a triple layer of molybdenum (Mo), aluminum-neodymium (AlNd), and chromium (Cr). Etching device used to

도 6에 도시한 바와 같이 단일 식각장비내에 제 1 식각 배스(60)와, 제 1 식각용액 액절 배스(71)와, 제 1 식각용액 1차 린즈 배스(72)와, 제 1 식각용액 2차 린즈 배스(73)와, 제 1 식각용액 건조 배스(74)와, 제 2 식각 배스(80)와, 제 2 식각용액 린즈 배스(90)와, 제 2 식각용액 건조 배스(100)로 구성된다.As shown in FIG. 6, the first etching bath 60, the first etching solution liquid bath 71, the first etching solution rinse bath 72, and the first etching solution in the single etching equipment are shown in FIG. 6. A rinse bath 73, a first etching solution drying bath 74, a second etching bath 80, a second etching solution rinse bath 90, and a second etching solution drying bath 100. .

상기에서 제 1 식각 배스(60)는 앞서 설명한 CAN(Ceric Ammonium Nitrate)이나 질산으로 구성된 제 1 식각용액을 이용하여 크롬(Cr)으로 구성된 제 3 도전층(14c)을 식각하기 위한 것이다.The first etching bath 60 is for etching the third conductive layer 14c made of chromium (Cr) using the first etching solution made of Ceric Ammonium Nitrate (CAN) or nitric acid.

그리고 제 1 식각용액 액절 배스(71)와 제 1 식각용액 1차 린즈 배스(72)와 제 1 식각용액 2차 린즈 배스(73)와 제 1 식각용액 건조 배스(74)는 상기 제 1 식각배스(60)에서 상기 제 2 식각 배스(80)로 이동하여 제 2, 제 1 도전층(14b,14a)을 식각하기 전에 제 1 식각용액을 완전히 제거하기 위한 배스(bath)이다.The first etching solution liquid bath 71, the first etching solution primary rinse bath 72, the first etching solution secondary rinse bath 73, and the first etching solution drying bath 74 are the first etching bath. A bath for completely removing the first etching solution before moving to the second etching bath 80 at 60 and etching the second and first conductive layers 14b and 14a.

즉, 제 1 식각용액 액절 배스(71)와 제 1 식각용액 1차 린즈 배스(72)와 제 1 식각용액 2차 린즈 배스(73)와 제 1 식각용액 건조 배스(74)는 제 1 식각용액이 제 2 식각용액과 섞여서 화학반응을 일으켜서 겔(Gel)을 형성하는 것을 방지하기 위한 린즈영역(rinse zone)이다.That is, the first etching solution liquid bath 71, the first etching solution primary rinse bath 72, the first etching solution secondary rinse bath 73, and the first etching solution drying bath 74 are the first etching solution. It is a rinse zone for preventing the formation of a gel by mixing with the second etching solution to cause a chemical reaction.

이와 같이 서로 다른 식각용액을 사용하여 식각하는 제 1, 제 2 식각배스(bath) 사이에 액절/린즈/건조배스(린즈영역)를 구비하면 두 개의 식각용액(Etchant)을 이용한 식각공정을 한 장비내에서 일련의 과정을 거쳐서 진행할 수 있게 된다.In this way, if an axle / rinse / dry bath (rinse area) is provided between the first and second etching baths using different etching solutions, the etching process using the two etching solutions is performed. You can go through a series of processes within.

또한, 상기 제 1 식각용액 2차 린즈 배스(73)는 제 1 식각용액 1차 린즈 배스(73)를 통한 린즈 공정후 남아 있을 수 있는 제 1 식각용액을 좀 더 확실하게 세정하기 위해 구비된 것이다.In addition, the first etching solution secondary rinse bath 73 is provided to more reliably clean the first etching solution that may remain after the rinse process through the first etching solution primary rinse bath 73. .

그리고 제 2 식각 배스(80)는 앞서 설명한 혼산으로 구성된 제 2 식각용액을 이용하여 AlNd와 Mo로 구성된 제 2, 제 1 도전층(14b,14a)을 차례로 식각하기 위한것이다.The second etching bath 80 is for sequentially etching the second and first conductive layers 14b and 14a made of AlNd and Mo using the second etching solution made of mixed acid described above.

그리고 제 2 식각용액 린즈 배스(90)와 제 2 식각용액 건조 배스(100)는 제 2 식각용액을 린즈, 건조시키기 위한 것이다.The second etching solution rinse bath 90 and the second etching solution drying bath 100 are for rinsing and drying the second etching solution.

상기에서 제 1 식각용액을 CAN이나 질산, 제 2 식각용액을 혼산을 이용한다고 한정하여 각각 크롬과, AlNd와 Mo를 식각한다고 한정하였다.In the above, the first etching solution was limited to using CAN, nitric acid, and the second etching solution by using mixed acid, thereby limiting the etching of chromium, AlNd, and Mo, respectively.

그러나 본 발명의 액정표시장치는 상기와 같이 식각용액을 한정하지 않고, 서로 다른 식각용액(Etchant)을 이용하여 다층의 도전층이나 절연막을 각각 식각하는 공정에 모두 적용할 수 있는 것이다.However, the liquid crystal display device of the present invention is not limited to the etching solution as described above, and can be applied to all of the processes of etching the multilayer conductive layer or the insulating layer using different etching solutions.

즉, 서로 다른 식각용액으로 식각하는 배스(bath)들의 사이에 용액의 액절/린즈/건조배스를 차례로 구비시키므로써, 서로 다른 식각용액을 이용한 2스텝 이상의 식각공정을 단일 장비내에서 진행할 수 있도록 하였다.That is, by equating the liquid rinse / rinse / dry bath of the solution between baths that are etched with different etching solutions, two or more steps of etching processes using different etching solutions can be performed in a single device. .

상기와 같은 본 발명의 액정표시장치 및 이를 이용한 액정표시소자의 제조방법은 다음과 같은 효과가 있다.The liquid crystal display of the present invention as described above and the manufacturing method of the liquid crystal display device using the same have the following effects.

첫째, 서로 다른 식각용액을 이용한 식각배스의 사이에 용액을 액절/린즈/건조시키는 배스(bath)를 구비하므로써, 식각용액의 화학작용에 의한 겔(Gel) 형성없이 단일 장비내에서 서로 다른 식각용액을 이용한 식각공정을 진행할 수 있다.First, by having a bath to liquefy, rinse, and dry the solution between etching baths using different etching solutions, different etching solutions in a single device without forming gel by chemical reaction of the etching solution. The etching process can be performed using.

둘째, 서로 다른 식각용액을 이용한 2스텝 이상의 식각공정을 한 장비내에서 진행할 수 있으므로 공정시간을 단축시킬 수 있을 뿐만아니라, 식각장비의 효율성을 향상시킬 수 있다.Second, since the etching process of two or more steps using different etching solutions can be performed in one equipment, the process time can be shortened and the efficiency of the etching equipment can be improved.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술 사상을 이탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

따라서, 본 발명의 기술 범위는 상기 실시예에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라, 특허 청구의 범위에 의하여 정해져야 한다.Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the above embodiments, but should be defined by the claims.

Claims (9)

서로 다른 식각용액을 이용하여 식각공정이 진행되는 제 1, 제 2 식각배스와;First and second etching baths in which an etching process is performed using different etching solutions; 상기 제 1, 제 2 식각배스와 함께 그 사이에 액절배스와 린즈배스와 건조배스를 단일장비내에 차례로 구비한 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And a liquid bath, a rinse bath, and a dry bath in sequence in a single device together with the first and second etching baths. 제 1 식각용액을 이용하여 제 1 식각공정을 진행하는 제 1 식각배스와;A first etching bath performing a first etching process using the first etching solution; 제 1 식각배스와 동일 장비내에 제 2 식각용액을 이용하여 제 2 식각공정을 진행하는 제 2 식각배스와;A second etching bath performing a second etching process using a second etching solution in the same equipment as the first etching bath; 상기 제 1 식각용액을 제거하기 위해 상기 제 1 식각배스와 상기 제 2 식각배스의 사이에 구비된 제 1 식각용액 액절배스, 린즈배스 및 건조배스와;A first etching solution liquid bath, a rinse bath, and a drying bath provided between the first etching bath and the second etching bath to remove the first etching solution; 상기 제 2 식각공정을 진행후에 제 2 식각용액을 제거하기 위한 제 2 식각용액 린즈배스와;A second etching solution rinse bath for removing the second etching solution after the second etching process; 상기 제 2 식각용액을 건조시키는 제 2 식각용액 건조배스를 단일 장비내에 구비한 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And a second etching solution drying bath for drying the second etching solution in a single device. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 제 1 식각용액 린즈배스는 상기 제 1 식각용액을 2번에 걸쳐 린즈시키도록 제 1 식각용액 1차, 2차 린즈배스로 구성됨을 특징으로 하는 액정표시장치.The first etching solution rinse bath is a liquid crystal display, characterized in that the first etching solution is composed of a first, secondary rinse bath to rinse the first etching solution twice. 기판상에 일방향으로 배열된 게이트라인 및 게이트라인의 일측으로 돌출된 게이트전극을 형성하는 단계;Forming a gate line arranged in one direction on the substrate and a gate electrode protruding to one side of the gate line; 상기 게이트전극을 포함한 상기 기판상에 게이트절연막을 형성하는 단계;Forming a gate insulating film on the substrate including the gate electrode; 상기 게이트전극의 상부의 상기 게이트절연막상에 액티브층을 형성하는 단계;Forming an active layer on the gate insulating film on the gate electrode; 상기 액티브층을 포함한 상기 게이트절연막상에 제 1 내지 제 3 도전층을 형성하는 단계;Forming first to third conductive layers on the gate insulating film including the active layer; 단일 장비내에서 서로 다른 식각용액과 식각, 건조, 린즈 배스를 이용하여 상기 제 3 도전층 및 제 2, 제 1 도전층을 차례로 식각하여 상기 게이트전극의 일측 및 타측 상부에 오버랩되도록 소오스/드레인전극을 형성하고, 상기 게이트라인과 직교하도록 데이터라인을 형성하는 단계를 포함함을 특징으로 하는 액정표시소자의 제조방법.The source / drain electrodes are overlapped on one side and the other of the gate electrode by sequentially etching the third conductive layer, the second conductive layer and the first conductive layer by using different etching solutions, etching, drying and rinse baths in a single device. And forming a data line to be orthogonal to the gate line. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 소오스/드레인 전극 및 데이터라인의 형성은Formation of the source / drain electrodes and data lines 제 1 식각 배스(bath)에서 제 1 식각용액으로 제 3 도전층을 식각하는 단계;Etching the third conductive layer with the first etching solution in the first etching bath; 제 1 식각용액 액절, 린즈, 건조 배스(bath)에서 상기 제 1 식각용액을 액절 → 1차린즈 → 2차린즈 → 건조하여 제거하는 단계;Removing the first etching solution from the first etching solution liquid rinse, rinse, and drying bath by drying the liquid solution → primary rinse → secondary rinse → drying; 제 2 식각 배스(bath)에서 제 2 식각용액으로 제 2, 제 1 도전층을 차례로식각하는 단계;Sequentially etching the second and first conductive layers with a second etching solution in a second etching bath; 상기 제 2 식각용액을 린즈 → 건조시키는 단계를 포함함을 특징으로 하는 액정표시소자의 제조방법.And rinsing and drying the second etching solution. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제 1, 제 2, 제 3 도전층은 몰리브덴(Mo), 알루미늄-네오디뮴(AlNd), 크롬(Cr)으로 형성함을 특징으로 하는 액정표시소자의 제조방법.The first, second and third conductive layers are formed of molybdenum (Mo), aluminum-neodymium (AlNd), chromium (Cr). 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, wherein 상기 제 1 식각용액은 CAN(Ceric Ammonium Nitrate)이나 질산을 이용하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자의 제조방법.The first etching solution is a manufacturing method of a liquid crystal display device, characterized in that using CAN (Ceric Ammonium Nitrate) or nitric acid. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, wherein 상기 제 2 식각용액은 인산과, 질산과 초산과 DI(De Ionized)를 혼합하여 사용함을 특징으로 하는 액정표시소자의 제조방법.The second etching solution is a method of manufacturing a liquid crystal display device, characterized in that for mixing phosphoric acid, nitric acid and acetic acid and DI (De Ionized). 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 인산:질산:초산:DI(De Ionized)는 20:16%:5%:59%의 비율로 혼합된 것을 사용함을 특징으로 하는 액정표시소자의 제조방법.The phosphoric acid: nitric acid: acetic acid: DI (De Ionized) is a method of manufacturing a liquid crystal display device characterized in that the mixture of 20: 16%: 5%: 59%.
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