KR20040036987A - Thin film transistor array panel for liquid crystal display and manufacturing method of the same - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An array substrate for an LCD device is provided to form a storage capacitor that has sufficient capacitance in a small size, by using a concavo-convex surface, thereby improving an opening ratio. CONSTITUTION: A gate insulating film(106) is deposited on a front side of an insulating substrate(101) comprising a gate electrode(104) and the first storage electrode(105). An active layer(107) and an ohmic contact layer(108) are sequentially deposited on the gate insulating film(106). On the ohmic contact layer(108), data wires, a source electrode(109) extended from the data wires, a drain electrode(110) facing the source electrode(109) based on the gate electrode(104), and the second storage electrode(111) overlapping with the first storage electrode(105) are deposited. The source electrode(109), the drain electrode(110), and the second storage electrode(111) are covered with a protective film(112). The protective film(112) comprises a storage contact hole(113) and a drain contact hole(114) exposing the drain electrode(110) and the second storage electrode(111), respectively.

Description

액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조방법{Thin film transistor array panel for liquid crystal display and manufacturing method of the same}Thin film transistor array panel for liquid crystal display and manufacturing method of the same

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 개구율을 향상시키는데 적당한 액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to an array substrate for a liquid crystal display device suitable for improving the aperture ratio and a manufacturing method thereof.

정보화 사회가 발전함에 따라 표시장치에 대한 요구도 다양한 형태로 점증하고 있으며, 이에 부응하여 근래에는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), ELD(Electro Luminescent Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display)등 여러 가지 평판 표시 장치가 연구되어 왔고 일부는 이미 여러 장비에서 표시장치로 활용되고 있다.As the information society develops, the demand for display devices is increasing in various forms.In recent years, liquid crystal display (LCD), plasma display panel (PDP), electro luminescent display (ELD), and vacuum fluorescent display (VFD) have been developed. Various flat panel display devices have been studied, and some are already used as display devices in various devices.

그 중에, 현재 화질이 우수하고 경량, 박형, 저소비 전력을 장점으로 인하여 이동형 화상 표시장치의 용도로 CRT(Cathode Ray Tube)를 대체하면서 LCD가 가장 많이 사용되고 있으며, 노트북 컴퓨터의 모니터와 같은 이동형의 용도 이외에도 방송신호를 수신하여 디스플레이 하는 텔레비전, 및 컴퓨터의 모니터 등으로 다양하게 개발되고 있다.Among them, LCD is the most widely used as a substitute for CRT (Cathode Ray Tube) for mobile image display device because of its excellent image quality, light weight, thinness and low power consumption, and mobile type such as notebook computer monitor. In addition, it is being developed in various ways such as a television for receiving and displaying a broadcast signal, a monitor of a computer.

이와 같이 액정표시장치가 여러 분야에서 화면 표시장치로서의 역할을 하기 위해 여러 가지 기술적인 발전이 이루어 졌음에도 불구하고 화면 표시장치로서 화상의 품질을 높이는 작업은 상기 장점과 배치되는 면이 많이 있다.As described above, although various technical advances have been made in order for the liquid crystal display device to serve as a screen display device in various fields, the task of improving the image quality as the screen display device has many advantages and disadvantages.

따라서, 액정표시장치가 일반적인 화면 표시장치로서 다양한 부분에 사용되기 위해서는 경량, 박형, 저 소비전력의 특징으로 유지하면서도 고정세, 고휘도, 대면적 등 고품위 화상을 얼마나 구현할 수 있는가에 발전의 관건이 걸려 있다고 할 수 있다.Therefore, in order to use a liquid crystal display as a general screen display device in various parts, development of high quality images such as high definition, high brightness, and large area is required while maintaining the characteristics of light weight, thinness, and low power consumption. It can be said.

이와 같은 액정표시장치는, 화상을 표시하는 액정 패널과 상기 액정 패널에 구동신호를 인가하기 위한 구동부로 크게 구분될 수 있으며, 상기 액정 패널은 일정 공간을 갖고 합착된 제 1, 제 2 유리 기판과, 상기 제 1, 제 2 유리 기판 사이에 주입된 액정층으로 구성된다.Such a liquid crystal display may be largely divided into a liquid crystal panel displaying an image and a driving unit for applying a driving signal to the liquid crystal panel, wherein the liquid crystal panel has a predetermined space and is bonded to the first and second glass substrates. And a liquid crystal layer injected between the first and second glass substrates.

여기서, 상기 제 1 유리 기판(TFT 어레이 기판)에는, 일정 간격을 갖고 일방향으로 배열되는 복수개의 게이트 배선과, 상기 각 게이트 배선과 수직한 방향으로 일정한 간격으로 배열되는 복수개의 데이터 배선과, 상기 각 게이트 배선과 데이터 배선이 교차되어 정의된 각 화소영역에 매트릭스 형태로 형성되는 복수개의 화소 전극과, 상기 게이트 배선의 신호에 의해 스위칭되어 상기 데이터 배선의 신호를 상기 각 화소전극에 전달하는 복수개의 박막 트랜지스터가 형성된다.Here, the first glass substrate (TFT array substrate) includes a plurality of gate wirings arranged in one direction at a predetermined interval, a plurality of data wirings arranged at regular intervals in a direction perpendicular to the respective gate wirings, and each of A plurality of pixel electrodes formed in a matrix form in each pixel region defined by crossing gate lines and data lines, and a plurality of thin films that are switched by signals of the gate lines to transfer signals of the data lines to the pixel electrodes Transistors are formed.

그리고 제 2 유리 기판(칼라필터 기판)에는, 상기 화소 영역을 제외한 부분의 빛을 차단하기 위한 블랙 매트릭스층과, 칼라 색상을 표현하기 위한 R,G,B 칼라 필터층과 화상을 구현하기 위한 공통 전극이 형성된다.The second glass substrate (color filter substrate) includes a black matrix layer for blocking light in portions other than the pixel region, an R, G, B color filter layer for expressing color colors, and a common electrode for implementing an image. Is formed.

이와 같은 상기 제 1, 제 2 유리 기판은 스페이서(spacer)에 의해 일정 공간을 갖고 액정 주입구를 갖는 실(seal)재에 의해 합착되어 상기 두 기판 사이에 액정이 주입된다.The first and second glass substrates are bonded to each other by a seal material having a predetermined space by a spacer and having a liquid crystal injection hole, so that the liquid crystal is injected between the two substrates.

이때, 액정 주입 방법은 상기 실재에 의해 합착된 두 기판 사이를 진공 상태로 유지하여 액정 용기에 상기 액정 주입구가 잠기도록 하면 삼투압 현상에 의해 액정이 두 기판 사이에 주입된다. 이와 같이 액정이 주입되면 상기 액정 주입구를 밀봉재로 밀봉하게 된다.In this case, in the liquid crystal injection method, the liquid crystal is injected between the two substrates by osmotic pressure when the liquid crystal injection hole is immersed in the liquid crystal container by maintaining the vacuum state between the two substrates bonded by the reality. When the liquid crystal is injected as described above, the liquid crystal injection hole is sealed with a sealing material.

도 1은 일반적인 컬러 액정표시장치를 도시한 분해 사시도이다.1 is an exploded perspective view illustrating a general color liquid crystal display device.

도 1에 도시한 바와 같이, 일정 공간을 갖고 합착된 하부기판(1) 및 상부기판(2)과, 상기 하부기판(1)과 상부기판(2) 사이에 주입된 액정층(3)으로 구성되어 있다.As shown in FIG. 1, the lower substrate 1 and the upper substrate 2 bonded to each other with a predetermined space, and the liquid crystal layer 3 injected between the lower substrate 1 and the upper substrate 2 are composed of. It is.

보다 구체적으로 설명하면, 상기 하부기판(1)은 화소영역(P)을 정의하기 위하여 일정한 간격을 갖고 일방향으로 복수개의 게이트 배선(4)이 배열되고, 상기 게이트 배선(4)에 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 복수개의 데이터 배선(5)이 배열되며, 상기 게이트 배선(4)과 데이터 배선(5)이 교차하는 각 화소영역(P)에는 화소전극(6)이 형성되고, 상기 각 게이트 배선(4)과 데이터 배선(5)이 교차하는 부분에 박막 트랜지스터(T)가 형성되어 있다.More specifically, the lower substrate 1 has a plurality of gate lines 4 arranged in one direction at regular intervals to define the pixel region P, and in a direction perpendicular to the gate lines 4. A plurality of data lines 5 are arranged at regular intervals, and pixel electrodes 6 are formed in each pixel region P where the gate lines 4 and the data lines 5 intersect, and each of the gate lines The thin film transistor T is formed at the portion where (4) and the data wiring 5 intersect.

그리고 상기 상부기판(2)은 상기 화소영역(P)을 제외한 부분의 빛을 차단하기 위한 블랙 매트릭스층(7)과, 컬러 색상을 표현하기 위한 R,G,B 컬러 필터층(8)과, 화상을 구현하기 위한 공통전극(9)이 형성되어 있다.The upper substrate 2 includes a black matrix layer 7 for blocking light in portions other than the pixel region P, an R, G, and B color filter layer 8 for expressing color colors, and an image. The common electrode 9 is formed to implement the.

여기서, 상기 박막 트랜지스터(T)는 상기 게이트 배선(4)으로부터 돌출된 게이트 전극과, 전면에 형성된 게이트 절연막(도면에는 도시되지 않음)과 상기 게이트 전극 상측의 게이트 절연막위에 형성된 액티브층과, 상기 데이터 배선(5)으로부터 돌출된 소오스 전극과, 상기 소오스 전극에 대향되도록 드레인 전극을 구비하여 구성된다.The thin film transistor T may include a gate electrode protruding from the gate line 4, a gate insulating film (not shown) formed on a front surface, an active layer formed on the gate insulating film above the gate electrode, and the data. A source electrode protruding from the wiring 5 and a drain electrode are provided so as to face the source electrode.

상기 화소전극(6)은 인듐-틴-옥사이드(indium-tin-oxide : ITO)와 같이 빛의 투과율이 비교적 뛰어난 투명 도전성 금속을 사용한다.The pixel electrode 6 uses a transparent conductive metal having a relatively high light transmittance, such as indium-tin-oxide (ITO).

전술한 바와 같이 구성되는 액정표시장치는 상기 화소전극(6)상에 위치한 액정층(3)이 상기 박막 트랜지스터(T)로부터 인가된 신호에 의해 배향되고, 상기 액정층(3)의 배향 정도에 따라 액정층(3)을 투과하는 빛의 양을 조절하여 화상을 표현할 수 있다.In the liquid crystal display device configured as described above, the liquid crystal layer 3 positioned on the pixel electrode 6 is aligned by a signal applied from the thin film transistor T, and the liquid crystal layer 3 is aligned with the alignment degree of the liquid crystal layer 3. Accordingly, the image can be expressed by adjusting the amount of light passing through the liquid crystal layer 3.

전술한 바와 같은 액정패널은 상-하로 걸리는 전기장에 의해 액정을 구동하는 방식으로, 투과율과 개구율 등의 특성이 우수하며, 상부기판(2)의 공통전극(9)이 접지역할을 하게 되어 정전기로 인한 액정 셀의 파괴를 방지할 수 있다.As described above, the liquid crystal panel drives the liquid crystal by an electric field applied up and down, and has excellent characteristics such as transmittance and aperture ratio, and the common electrode 9 of the upper substrate 2 serves as a ground to discharge static electricity. It is possible to prevent the destruction of the liquid crystal cell.

도 2는 일반적인 액정표시장치용 어레이 기판을 나타낸 평면도이고, 도 3은 도 2의 Ⅳ-Ⅳ선에 따른 종래의 액정표시장치용 어레이 기판을 나타낸 단면도이다.FIG. 2 is a plan view illustrating a general liquid crystal display array substrate, and FIG. 3 is a cross-sectional view of a conventional liquid crystal display array substrate according to line IV-IV of FIG. 2.

도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 액정표시장치용 어레이 기판에서는 투명한 절연 기판(11)위에 일방향으로 일정한 간격을 갖는 게이트 배선(12)과, 상기 게이트 배선(12)에서 연장된 게이트 전극(13) 및 스토리지 제 1 전극(14)이 형성되어 있다.2 and 3, in an array substrate for a liquid crystal display device, a gate line 12 having a predetermined distance in one direction on a transparent insulating substrate 11 and a gate electrode extending from the gate line 12 ( 13 and a storage first electrode 14 are formed.

상기 게이트 배선(12)과 게이트 전극(13) 상부에는 게이트 절연막(15)이 형성되어 있으며, 상기 게이트 절연막(15)상에 액티브층(16)과 오믹 콘택층(17)이 순차적으로 형성되어 있다.A gate insulating layer 15 is formed on the gate wiring 12 and the gate electrode 13, and an active layer 16 and an ohmic contact layer 17 are sequentially formed on the gate insulating layer 15. .

상기 오믹 콘택층(17)위에 상기 게이트 배선(12)과 수직한 방향으로 데이터 배선(18)과, 상기 데이터 배선(18)에서 연장된 소오스 전극(19), 게이트 전극(13)을 중심으로 소오스 전극(19)과 마주 대하고 있는 드레인 전극(20) 및 게이트 배선(12)과 중첩하는 스토리지 제 2 전극(21)이 형성되어 있다.The source line 18 is disposed on the ohmic contact layer 17 in a direction perpendicular to the gate line 12, and the source electrode 19 and the gate electrode 13 extending from the data line 18 are formed around the ohmic contact layer 17. The drain electrode 20 facing the electrode 19 and the storage second electrode 21 overlapping with the gate wiring 12 are formed.

상기 데이터 배선(18)과 소오스 전극(19) 및 드레인 전극(20) 그리고 스토리지 제 2 전극(21)은 보호막(22)으로 덮여 있으며, 상기 보호막(22)은 드레인 전극(20)과 스토리지 제 2 전극(21)을 각각 드러내는 스토리지 콘택홀(23) 및 드레인 콘택홀(24)을 갖는다.The data line 18, the source electrode 19, the drain electrode 20, and the storage second electrode 21 are covered with a passivation layer 22, and the passivation layer 22 is the drain electrode 20 and the storage second. Each of the electrodes 21 has a storage contact hole 23 and a drain contact hole 24.

상기 게이트 배선(12)과 데이터 배선(18)이 교차하여 정의되는 화소영역의 보호막(22) 상부에는 화소전극(25)이 형성되어 있는데, 상기 화소전극(25)은 스토리지 콘택홀(23) 및 드레인 콘택홀(24)을 통해 각각 드레인 전극(20) 및 스토리지 제 2 전극(21)과 연결되어 있다.The pixel electrode 25 is formed on the passivation layer 22 of the pixel region defined by the gate line 12 and the data line 18 intersecting. The pixel electrode 25 includes a storage contact hole 23 and The drain contact hole 24 is connected to the drain electrode 20 and the storage second electrode 21, respectively.

상기와 같이 구성된 어레이 기판에서는, 게이트 배선(12)을 통해 게이트 전극(13)에 전압이 인가되었을 때, 액티브층(16)에 전자가 집중되고 전도성 채널이 형성됨으로써 소오스 전극(19) 및 드레인 전극(20) 사이에 전류가 흐를 수 있게 되어, 데이터 배선(18)에서 전달된 화상 신호가 소오스 전극(19)과 드레인 전극(20)을 통해 화소전극(25)에 도달하게 된다.In the array substrate configured as described above, when a voltage is applied to the gate electrode 13 through the gate wiring 12, electrons are concentrated in the active layer 16 and a conductive channel is formed, so that the source electrode 19 and the drain electrode are formed. The current flows between the lines 20 so that the image signal transmitted from the data line 18 reaches the pixel electrode 25 through the source electrode 19 and the drain electrode 20.

도 4a 내지 도 4e는 종래의 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법을 나타낸 공정단면도이다.4A to 4E are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a conventional array substrate for a liquid crystal display device.

도 4a에 도시한 바와 같이, 절연 기판(11)상에 알루미늄(Al), 알루미늄계 합금(AlNd), 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo) 등의 도전성 금속 중 하나를 증착하고 패터닝하여 게이트 배선(도 2의 12)을 형성한다.As shown in FIG. 4A, one of conductive metals such as aluminum (Al), aluminum-based alloy (AlNd), chromium (Cr), and molybdenum (Mo) is deposited and patterned on the insulating substrate 11 to form a gate wiring ( 12) of FIG. 2 is formed.

여기서 상기 게이트 배선(12)을 알루미늄계 금속을 사용하여 형성할 경우에는 알루미늄-네오뮴/몰리브덴(AlNd/Mo) 또는 알루미늄-네오늄/크롬(AlNd/Cr)과 같이 이중층으로 형성한다.When the gate wiring 12 is formed using an aluminum metal, the gate wiring 12 is formed of a double layer such as aluminum-neodymium / molybdenum (AlNd / Mo) or aluminum-neonium / chromium (AlNd / Cr).

그 이유는 상기 게이트 배선(12)의 제 1 층으로 사용된 알루미늄계 금속은 저항이 작기 때문에 게이트 배선을 흐르는 신호의 RC 딜레이를 줄일 수 있다.The reason is that since the aluminum-based metal used as the first layer of the gate wiring 12 has a small resistance, the RC delay of the signal flowing through the gate wiring can be reduced.

그러나 상기 알루미늄계 금속은 화학제품에 대한 내식성이 작기 때문에 식각용액에 의해 식각 침식되어 단선불량이 발생한다.However, the aluminum-based metal is etched by the etching solution because of the low corrosion resistance to chemicals, resulting in disconnection defects.

따라서 이를 방지하기 위해 화학약품에 대한 내식성이 강한 몰리브덴(Mo) 등의 금속을 사용하여 이중층으로 형성한다.Therefore, in order to prevent this is formed in a double layer using a metal such as molybdenum (Mo) strong corrosion resistance to chemicals.

이때, 상기 게이트 배선(12)의 일부는 게이트 전극(13)과 스토리지 제 1 전극(14)으로 사용한다.In this case, a part of the gate wiring 12 is used as the gate electrode 13 and the storage first electrode 14.

도 4b에 도시한 바와 같이, 상기 게이트 배선(12)을 포함한 절연 기판(11)의 전면에 실리콘 질화막(SiNx)과 실리콘 산화막(SiO2)을 포함하는 무기절연 물질 그룹 또는 경우에 따라서는 벤조사이클로부덴(BCB : Benzocyclobutene)과 아크릴(Acryl)계 수지(resin) 등이 포함된 유기절연 물질 그룹 중 선택된 하나를 증착 또는 도포하여 게이트 절연막(15)을 형성한다.As shown in FIG. 4B, an inorganic insulating material group including silicon nitride film (SiNx) and silicon oxide film (SiO 2 ) on the entire surface of the insulating substrate 11 including the gate wiring 12, or in some cases, benzocyclo. A gate insulating layer 15 is formed by depositing or applying one selected from the group of organic insulating materials including BB (Benzocyclobutene), acryl resin, and the like.

이어, 상기 게이트 절연막(15)이 형성된 절연 기판(11)의 전면에 순수한 비정질 실리콘(a-Si:H)과 불순물이 포함된 비정질 실리콘(n+a-Si:H)을 차례로 증착한 후, 포토 및 식각 공정을 통해 패터닝하여 액티브층(active layer)(16)과 오믹 콘택층(ohmic contact layer)(17)을 형성한다.Subsequently, pure amorphous silicon (a-Si: H) and amorphous silicon (n + a-Si: H) containing impurities are sequentially deposited on the entire surface of the insulating substrate 11 on which the gate insulating layer 15 is formed. Patterning is performed through photo and etching processes to form an active layer 16 and an ohmic contact layer 17.

도 4c에 도시한 바와 같이, 상기 오믹 콘택층(17)이 형성된 절연 기판(11)의 전면에 도전성 금속을 증착하고 패터닝하여, 상기 적층된 액티브층(16)과 오믹 콘택층(17)상에 데이터 배선(도 2의 18)과 상기 데이터 배선(18)에서 상기 게이트 전극(13) 상부로 돌출되는 소오스 전극(19)과, 이와는 소정간격 이격된 드레인 전극(20)과 스토리지 제 1 전극(14)의 상부에 아일랜드 형태로 스토리지 제 2 전극(21)을 형성한다.As shown in FIG. 4C, a conductive metal is deposited and patterned on the entire surface of the insulating substrate 11 on which the ohmic contact layer 17 is formed, and then, on the stacked active layer 16 and the ohmic contact layer 17. 2, a source electrode 19 protruding from the data line 18 and the data line 18 above the gate electrode 13, a drain electrode 20 spaced apart from the predetermined distance, and a storage first electrode 14. The storage second electrode 21 is formed in the form of an island on the top.

이어, 상기 소오스 전극(19)과 드레인 전극(20)을 마스크로 하여 상기 오믹 콘택층(17)의 일부분을 식각하여 하부의 액티브층(16)을 노출한다.Subsequently, a portion of the ohmic contact layer 17 is etched using the source electrode 19 and the drain electrode 20 as a mask to expose the lower active layer 16.

여기서, 상기 소오스 전극(19)과 드레인 전극(20) 사이에 존재하는 오믹 콘택층(17)을 제거하는 이유는 누설 전류를 줄이기 위함이다.The reason for removing the ohmic contact layer 17 existing between the source electrode 19 and the drain electrode 20 is to reduce leakage current.

도 4d에 도시한 바와 같이, 상기 소오스 전극(19)과 드레인 전극(20)이 형성된 절연 기판(11)의 전면에 절연 물질을 증착 또는 도포하여 보호막(22)을 형성한다.As shown in FIG. 4D, a protective film 22 is formed by depositing or applying an insulating material on the entire surface of the insulating substrate 11 on which the source electrode 19 and the drain electrode 20 are formed.

이어, 상기 스토리지 제 2 전극(21) 및 드레인 전극(20)의 표면이 소정부분 노출되도록 상기 보호막(22)을 선택적으로 제거하여 스토리지 콘택홀(23)과 드레인 콘택홀(24)을 형성한다.Subsequently, the protective layer 22 is selectively removed so that the surfaces of the storage second electrode 21 and the drain electrode 20 are partially exposed to form the storage contact hole 23 and the drain contact hole 24.

도 4e에 도시한 바와 같이, 상기 스토리지 콘택홀(23)과 드레인 콘택홀(24)이 형성된 절연 기판(11)의 전면에 인듐-틴-옥사이드(indium-tin-oxide : ITO)와 인듐-징크-옥사이드(indium-zinc-oxide : IZO) 등으로 구성된 투명 도전성 금속그룹 중 선택된 하나를 증착하고 패터닝하여 화소전극(25)을 형성한다.As shown in FIG. 4E, indium-tin-oxide (ITO) and indium-zink are formed on the entire surface of the insulating substrate 11 on which the storage contact hole 23 and the drain contact hole 24 are formed. A pixel electrode 25 is formed by depositing and patterning one selected from a group of transparent conductive metals including indium-zinc-oxide (IZO).

이때, 상기 화소전극(25)은 상기 드레인 콘택홀(24)을 통해 드레인 전극(20)과 콘택됨과 동시에, 상기 스토리지 콘택홀(23)을 통해 상기 스토리지 제 2 전극(21)과 콘택된다.In this case, the pixel electrode 25 is in contact with the drain electrode 20 through the drain contact hole 24 and is in contact with the storage second electrode 21 through the storage contact hole 23.

상기와 같이 스토리지 제 1 전극(14)과, 유전층인 게이트 절연막(15)과, 스토리지 제 2 전극(21)으로 구성된 스토리지 캐패시터가 형성된다.As described above, a storage capacitor including a storage first electrode 14, a gate insulating layer 15 as a dielectric layer, and a storage second electrode 21 is formed.

그러나 상기와 같은 종래의 액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조방법에 있어서 다음과 같은 문제점이 있었다.However, the above-described conventional liquid crystal display array substrate and its manufacturing method have the following problems.

즉, 인가된 픽셀 전압을 한 프레임(frame) 동안 유지하기 위해 스토리지 캐패시터(storage capacitor)를 형성하는데, 이는 게이트 배선 또는 공통 전극 라인을 형성한 후 그 위에 형성하고 있다.That is, a storage capacitor is formed to maintain the applied pixel voltage for one frame, which is formed on and after the gate wiring or the common electrode line is formed.

따라서 게이트 배선의 폭이 얇기 때문에 충분한 정전용량을 얻기 위해서 스토리지 캐패시터의 형성부분을 픽셀쪽으로 확대하여 형성함으로써 개구율의 감소가 발생한다.Therefore, since the width of the gate wiring is small, a reduction in the aperture ratio occurs by forming the formation portion of the storage capacitor in the pixel side in order to obtain sufficient capacitance.

본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로 요철 구조의 표면을 이용하여 작은 면적으로도 충분한 정전용량을 갖는 스토리지 캐패시터를 형성함으로써 개구율을 향상시키도록 한 액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조방법을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an array substrate for a liquid crystal display device to improve the aperture ratio by forming a storage capacitor having a sufficient capacitance even with a small area by using the surface of the uneven structure and Its purpose is to provide its manufacturing method.

도 1은 일반적인 컬러 액정표시장치를 도시한 분해 사시도1 is an exploded perspective view showing a general color liquid crystal display device

도 2는 일반적인 액정표시장치용 어레이 기판을 나타낸 평면도2 is a plan view showing an array substrate for a general liquid crystal display device

도 3은 도 2의 Ⅳ-Ⅳ선에 따른 종래의 액정표시장치용 어레이 기판을 나타낸 단면도3 is a cross-sectional view illustrating a conventional array substrate for a liquid crystal display device according to line IV-IV of FIG. 2.

도 4a 내지 도 4e는 종래의 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법을 나타낸 공정단면도4A through 4E are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing a conventional array substrate for a liquid crystal display device.

도 5는 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이 기판을 나타낸 단면도5 is a cross-sectional view showing an array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention.

도 6a 내지 도 6g는 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법을 나타낸 공정단면도6A to 6G are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention.

도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for the main parts of the drawings

101 : 절연 기판 102 : 포토 아크릴101: insulated substrate 102: photo acrylic

103 : 요철 104 : 게이트 전극103: unevenness 104: gate electrode

105 : 스토리지 제 1 전극 106 : 게이트 절연막105: storage first electrode 106: gate insulating film

107 : 액티브층 108 : 오믹 콘택층107: active layer 108: ohmic contact layer

109 : 소오스 전극 110 : 드레인 전극109 source electrode 110 drain electrode

111 : 스토리지 제 2 전극 112 : 보호막111: storage second electrode 112: protective film

113 : 스토리지 콘택홀 114 : 드레인 콘택홀113: storage contact hole 114: drain contact hole

115 : 화소전극115: pixel electrode

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이 기판은 교차 배치되어 화소영역을 정의하는 게이트 배선 및 데이터 배선과, 상기 게이트 배선과 데이터 배선의 교차 부위에 형성된 박막 트랜지스터와, 상기 게이트 배선과 일체형으로 형성되며 표면에 복수개의 요철을 갖고 형성되는 스토리지 제 1 전극과, 상기 게이트 배선을 포함한 전면에 형성되는 게이트 절연막과, 상기 게이트 절연막 상부에 형성되는 상기 박막 트랜지스터의 드레인 전극 및 스토리지 제 2 전극과, 상기 스토리지 제 1 전극과 제 2 전극을 포함한 전면에 형성되는 보호막과, 상기 박막트랜지스터의 드레인 전극과 스토리지 제 2 전극에 콘택되는 화소전극을 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, an array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention includes a gate wiring and a data wiring crossing each other to define a pixel region, a thin film transistor formed at an intersection of the gate wiring and the data wiring, A storage first electrode formed integrally with the gate wiring and having a plurality of irregularities on a surface thereof, a gate insulating film formed on the entire surface including the gate wiring, a drain electrode and the storage of the thin film transistor formed on the gate insulating film And a second electrode, a passivation layer formed on the front surface including the storage first electrode and the second electrode, and a pixel electrode contacting the drain electrode and the storage second electrode of the thin film transistor.

여기서, 상기 스토리지 제 1 전극 하부에 복수개의 요철을 갖고 형성되는 절연막을 더 포함하여 이루어진다.The semiconductor device may further include an insulating layer formed under the storage first electrode with a plurality of irregularities.

또한, 상기 절연막은 포토 아크릴, 실리콘 산화막, BCB, P/A 등의 물질로 이루어져 있다.In addition, the insulating film is made of a material such as a photo acrylic, a silicon oxide film, BCB, P / A.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법은 교차 배치되어 화소영역을 정의하는 복수개의 게이트 배선 및 데이터 배선과, 상기 게이트 배선 및 데이터 배선의 교차부위에 형성되는 박막 트랜지스터와, 상기 박막 트랜지스터의 드레인 전극에 연결되는 화소전극을 포함하여이루어진 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법에 있어서, 상기 게이트 배선과 일체형으로 표면에 복수개의 요철을 갖는 스토리지 제 1 전극을 형성하는 단계, 상기 스토리지 제 1 전극을 포함한 전면에 게이트 절연막을 형성하는 단계, 상기 게이트 절연막상에 박막 트랜지스터의 드레인 전극과 동시에 스토리지 제 2 전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of fabricating an array substrate for a liquid crystal display device, wherein the plurality of gate lines and data lines are arranged to be intersected to define a pixel area, and are formed at intersections of the gate lines and data lines. In the method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device comprising a thin film transistor and a pixel electrode connected to the drain electrode of the thin film transistor, the storage first electrode having a plurality of irregularities on the surface integrally with the gate wiring; And forming a gate insulating film on the entire surface including the storage first electrode, and simultaneously forming a storage second electrode on the gate insulating film simultaneously with the drain electrode of the thin film transistor.

또한, 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법은 교차 배치되어 화소영역을 정의하는 복수개의 게이트 배선 및 데이터 배선과, 상기 게이트 배선 및 데이터 배선의 교차부위에 형성되는 박막 트랜지스터와, 상기 박막 트랜지스터의 드레인 전극에 연결되는 화소전극을 포함하여 이루어진 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법에 있어서, 기판에 스토리지 캐패시터가 형성될 영역을 정의하는 단계, 상기 스토리지 캐패시터가 형성될 영역의 기판상에 복수개의 요철을 갖는 절연막을 형성하는 단계, 상기 요철을 갖는 절연막상에 게이트 배선과 일체형으로 스토리지 제 1 전극을 형성하는 단계, 상기 스토리지 제 1 전극을 포함한 전면에 게이트 절연막을 형성하는 단계, 상기 게이트 절연막상에 데이터 배선과 동시에 스토리지 제 2 전극을 형성하는 단계, 상기 기판의 전면에 보호막을 형성하고 상기 박막 트랜지스터의 드레인 전극과 상기 스토리지 제 2 전극의 표면이 소정부분 노출되도록 콘택홀을 형성하는 단계, 상기 콘택홀을 통해 상기 드레인 전극과 스토리지 제 2 전극에 연결되는 화소전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 한다.In addition, a method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention includes a plurality of gate wirings and data wirings intersecting to define a pixel region, thin film transistors formed at intersections of the gate wirings and data wirings, and A method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device comprising a pixel electrode connected to a drain electrode of a thin film transistor, the method comprising: defining a region in which a storage capacitor is to be formed on a substrate, and forming a region on the substrate in which the storage capacitor is to be formed. Forming an insulating film having a plurality of irregularities, forming a storage first electrode integrally with the gate wiring on the insulating film having the irregularities, forming a gate insulating film on the entire surface including the storage first electrode, and the gate Storage second electrode simultaneously with data wiring on the insulating film Forming a protective layer on the entire surface of the substrate and forming a contact hole to expose a surface of the drain electrode and the storage second electrode of the thin film transistor, wherein the drain electrode and the storage agent are formed through the contact hole; And forming a pixel electrode connected to the two electrodes.

여기서, 상기 복수개의 요철을 갖는 절연막을 형성하는 단계는 절연 기판상에 절연막을 도포한 후 포토 및 식각 공정을 통해 상기 절연막에 표면에 복수개의 요철을 형성한다.In the forming of the insulating film having the plurality of irregularities, a plurality of irregularities are formed on the surface of the insulating layer by applying an insulating film on the insulating substrate and then performing a photo and etching process.

또한, 상기 절연막은 포토 아크릴, 실리콘 산화막, BCB, P/A 등의 물질로 형성한다.The insulating film is formed of a material such as a photo acrylic, a silicon oxide film, BCB, or P / A.

또한, 상기 포토 아크릴은 3~4㎛의 두께로 도포한 후 복수개의 개구부를 갖는 마스크를 이용하여 전면에 노광하여 요철을 형성한다.In addition, the photoacryl is applied to a thickness of 3 ~ 4㎛ and then exposed to the entire surface using a mask having a plurality of openings to form irregularities.

또한, 상기 보호막은 질화 실리콘 또는 산화 실리콘 등의 무기절연물질 또는 아크릴계의 유기화합물, 테프론, BCB, 사이토프 또는 PFCB 등의 유전상수가 작은 유기절연물로 형성한다.The protective film may be formed of an inorganic insulating material such as silicon nitride or silicon oxide, or an organic insulating material having a low dielectric constant such as acrylic organic compound, Teflon, BCB, cytoplasm or PFCB.

또한, 상기 게이트 절연막은 실리콘 질화막과 실리콘 산화막을 포함하는 무기절연 물질 그룹 또는 경우에 따라서는 BCB와 아크릴계 수지 등이 포함된 유기절연 물질 그룹 중 선택된 하나를 증착 또는 도포하여 형성한다.The gate insulating layer may be formed by depositing or applying one selected from an inorganic insulating material group including a silicon nitride film and a silicon oxide film or an organic insulating material group including BCB and an acrylic resin.

이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조방법을 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 5는 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이 기판을 나타낸 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating an array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention.

도 5에 도시한 바와 같이, 액정표시장치용 어레이 기판에서는 투명한 절연 기판(101)위의 일정영역(스토리지 캐패시터가 형성될 영역)에 반구형태를 갖고 형성되는 복수개의 요철(103)과, 상기 절연 기판(101)상에 일방향으로 일정한 간격을 갖는 게이트 배선(도면에는 도시되지 않음)과, 상기 게이트 배선에서 연장된 게이트 전극(104) 및 상기 복수개의 요철(103)을 따라 스토리지 제 1 전극(105)이 형성되어 있다.As shown in FIG. 5, in the array substrate for a liquid crystal display device, a plurality of irregularities 103 formed in a hemispherical shape on a transparent region 101 (region where a storage capacitor is to be formed) on the transparent insulation substrate 101 and the insulation The storage first electrode 105 along the gate wirings (not shown in the drawing) at regular intervals in one direction on the substrate 101, the gate electrodes 104 extending from the gate wirings, and the plurality of irregularities 103. ) Is formed.

상기 게이트 전극(104) 및 스토리지 제 1 전극(105)을 포함한 절연 기판(101)의 전면에 게이트 절연막(106)이 형성되어 있으며, 상기 게이트 절연막(106)상에 액티브층(107)과 오믹 콘택층(108)이 순차적으로 형성되어 있다.A gate insulating layer 106 is formed on the entire surface of the insulating substrate 101 including the gate electrode 104 and the storage first electrode 105, and the active layer 107 and the ohmic contact are formed on the gate insulating layer 106. Layer 108 is formed sequentially.

상기 오믹 콘택층(108)위에 상기 게이트 배선과 수직한 방향으로 데이터 배선(도면에 도시되지 않음)과, 상기 데이터 배선에서 연장된 소오스 전극(109), 게이트 전극(104)을 중심으로 소오스 전극(109)과 마주 대하고 있는 드레인 전극(110) 및 상기 제 1 스토리지 전극(105)과 중첩하는 스토리지 제 2 전극(111)이 형성되어 있다.A source electrode (not shown) on the ohmic contact layer 108 in a direction perpendicular to the gate wiring, a source electrode 109 and a gate electrode 104 extending from the data wiring (not shown). A drain electrode 110 facing the 109 and a storage second electrode 111 overlapping the first storage electrode 105 are formed.

상기 소오스 전극(109) 및 드레인 전극(110) 그리고 스토리지 제 2 전극(111)은 보호막(112)으로 덮여 있으며, 상기 보호막(112)은 드레인 전극(110)과 스토리지 제 2 전극(111)을 각각 노출시키는 스토리지 콘택홀(113) 및 드레인 콘택홀(114)을 갖는다.The source electrode 109, the drain electrode 110, and the storage second electrode 111 are covered with a passivation layer 112, and the passivation layer 112 covers the drain electrode 110 and the storage second electrode 111, respectively. And a storage contact hole 113 and a drain contact hole 114 to be exposed.

상기 게이트 배선과 데이터 배선이 교차하여 정의되는 화소영역의 보호막(112) 상부에는 화소전극(115)이 형성되어 있는데, 상기 화소전극(115)은 스토리지 콘택홀(113) 및 드레인 콘택홀(114)을 통해 각각 드레인 전극(110) 및 스토리지 제 2 전극(111)과 연결되어 있다.The pixel electrode 115 is formed on the passivation layer 112 of the pixel region defined by the gate wiring and the data wiring crossing. The pixel electrode 115 includes a storage contact hole 113 and a drain contact hole 114. It is connected to the drain electrode 110 and the storage second electrode 111 through each.

따라서 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이 기판의 스토리지 캐패시터는 절연 기판(101)상에 형성된 복수개의 요철(103)을 따라 스토리지 제 1 전극(105), 게이트 절연막(106), 스토리지 제 2 전극(111)이 적층되어 형성되기 때문에 동일면적에서도 캐패시턴스가 증대하여 그 크기를 종래보다 줄일 수 있어 전체적인 개구율을 향상시킬 수 있다.Accordingly, the storage capacitor of the array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention includes a storage first electrode 105, a gate insulating film 106, and a storage second electrode along a plurality of irregularities 103 formed on the insulating substrate 101. Since 111) is formed by being stacked, the capacitance can be increased even in the same area, so that the size thereof can be reduced compared with the conventional one, and the overall aperture ratio can be improved.

한편, 상기 복수개의 요철(103)은 포토 아크릴, 실리콘 산화막, BCB, P/A 등의 물질로 이루어져 있다.On the other hand, the plurality of irregularities 103 is made of a material such as photoacryl, silicon oxide film, BCB, P / A.

상기와 같이 구성된 액정표시장치용 어레이 기판에서는, 게이트 배선을 통해 게이트 전극(104)에 전압이 인가되었을 때, 액티브층(107)에 전자가 집중되고 전도성 채널이 형성됨으로써 소오스 전극(109) 및 드레인 전극(110) 사이에 전류가 흐를 수 있게 되어, 데이터 배선에서 전달된 화상 신호가 소오스 전극(109)과 드레인 전극(110)을 통해 화소전극(115)에 도달하게 된다.In the array substrate for a liquid crystal display device configured as described above, when a voltage is applied to the gate electrode 104 through the gate wiring, electrons are concentrated in the active layer 107 and a conductive channel is formed to form a source electrode 109 and a drain. The current flows between the electrodes 110 so that the image signal transmitted from the data line reaches the pixel electrode 115 through the source electrode 109 and the drain electrode 110.

도 6a 내지 도 6g는 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법을 나타낸 공정단면도이다.6A to 6G are cross-sectional views illustrating a method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention.

도 6a에 도시한 바와 같이, 절연 기판(101)상에 포토 아크릴(102)을 3~4㎛의 두께로 도포한다.As shown in FIG. 6A, photo acryl 102 is applied to the insulating substrate 101 in a thickness of 3 to 4 μm.

도 6b에 도시한 바와 같이, 상기 포토 아크릴(102)이 도포된 절연 기판(101)의 상부에 복수개의 개구부가 형성된 레티클 등의 마스크(도시되지 않음)를 형성하고, 전면에 자외선 또는 UV광을 조사하여 상기 포토 아크릴(102)을 노광하여 상기 절연 기판(101)상의 일정영역에 반구형태를 갖는 복수개의 요철(103)을 형성한다.As shown in FIG. 6B, a mask (not shown) such as a reticle having a plurality of openings is formed on the insulating substrate 101 to which the photo acryl 102 is applied, and UV or UV light is applied to the entire surface. Irradiation exposes the photoacryl 102 to form a plurality of irregularities 103 having a hemispherical shape in a predetermined region on the insulating substrate 101.

도 6c에 도시한 바와 같이, 상기 복수개의 요철(103)이 형성된 상기 절연 기판(101)상에 알루미늄(Al), 알루미늄계 합금(AlNd), 크롬(Cr), 몰리브덴(Mo) 등의 도전성 금속 중 하나를 증착하고 패터닝하여 게이트 배선(도면에는 도시되지 않음)을 형성한다.As shown in FIG. 6C, a conductive metal such as aluminum (Al), aluminum-based alloy (AlNd), chromium (Cr), molybdenum (Mo), or the like is formed on the insulating substrate 101 on which the plurality of unevenness 103 is formed. Either one of them is deposited and patterned to form a gate wiring (not shown in the figure).

여기서 상기 게이트 배선(104)을 알루미늄계 금속을 사용하여 형성할 경우에는 알루미늄-네오뮴/몰리브덴(AlNd/Mo) 또는 알루미늄-네오늄/크롬(AlNd/Cr)과 같이 이중층으로 형성한다.When the gate wiring 104 is formed using an aluminum metal, the gate wiring 104 is formed of a double layer such as aluminum-neodymium / molybdenum (AlNd / Mo) or aluminum-neonium / chromium (AlNd / Cr).

그 이유는 상기 게이트 배선의 제 1 층으로 사용된 알루미늄계 금속은 저항이 작기 때문에 게이트 배선을 흐르는 신호의 RC 딜레이를 줄일 수 있다.The reason is that since the aluminum-based metal used as the first layer of the gate wiring has a small resistance, the RC delay of the signal flowing through the gate wiring can be reduced.

그러나 상기 알루미늄계 금속은 화학제품에 대한 내식성이 작기 때문에 식각용액에 의해 식각 침식되어 단선불량이 발생한다.However, the aluminum-based metal is etched by the etching solution because of the low corrosion resistance to chemicals, resulting in disconnection defects.

따라서 이를 방지하기 위해 화학약품에 대한 내식성이 강한 몰리브덴(Mo) 등의 금속을 사용하여 이중층으로 형성한다.Therefore, in order to prevent this is formed in a double layer using a metal such as molybdenum (Mo) strong corrosion resistance to chemicals.

이때, 상기 게이트 배선의 일부는 게이트 전극(104)과 스토리지 제 1 전극(105)으로 사용한다.In this case, a part of the gate wiring is used as the gate electrode 104 and the storage first electrode 105.

한편, 상기 스토리지 제 1 전극(105)은 상기 절연 기판(101)상에 형성된 복수개의 요철(103)을 따라 형성되면서 그 표면도 요철을 갖게 된다.On the other hand, the storage first electrode 105 is formed along the plurality of irregularities 103 formed on the insulating substrate 101, the surface thereof has irregularities.

도 6d에 도시한 바와 같이, 상기 게이트 전극(104) 및 스토리지 제 1 전극(105)을 포함한 절연 기판(101)의 전면에 실리콘 질화막(SiNx)과 실리콘 산화막(SiO2)을 포함하는 무기절연 물질 그룹 또는 경우에 따라서는 벤조사이클로부덴(Benzocyclobutene)과 아크릴(Acryl)계 수지(resin) 등이 포함된 유기절연 물질 그룹 중 선택된 하나를 증착 또는 도포하여 게이트 절연막(106)을형성한다.As shown in FIG. 6D, an inorganic insulating material including a silicon nitride film (SiNx) and a silicon oxide film (SiO 2 ) on an entire surface of the insulating substrate 101 including the gate electrode 104 and the storage first electrode 105. The gate insulating layer 106 may be formed by depositing or applying one selected from a group or a group of organic insulating materials including benzocyclobutene, acryl resin, and the like.

이어, 상기 게이트 절연막(106)이 형성된 절연 기판(101)의 전면에 순수한 비정질 실리콘(a-Si:H)과 불순물이 포함된 비정질 실리콘(n+a-Si:H)을 차례로 증착한 후, 패터닝하여 액티브층(active layer)(107)과 오믹 콘택층(ohmic contact layer)(108)을 형성한다.Subsequently, pure amorphous silicon (a-Si: H) and amorphous silicon (n + a-Si: H) containing impurities are sequentially deposited on the entire surface of the insulating substrate 101 on which the gate insulating layer 106 is formed. Patterning forms an active layer 107 and an ohmic contact layer 108.

도 6e에 도시한 바와 같이, 상기 오믹 콘택층(108)이 형성된 절연 기판(101)의 전면에 도전성 금속을 증착하고 패터닝하여, 상기 적층된 액티브층(107)과 오믹 콘택층(108)상에 데이터 배선(도시되지 않음)과 상기 데이터 배선에서 상기 게이트 전극(104) 상부로 돌출되는 소오스 전극(109)과, 이와는 소정간격 이격된 드레인 전극(110)과 스토리지 제 1 전극(105)의 상부에 아일랜드 형태로 스토리지 제 2 전극(111)을 형성한다.As shown in FIG. 6E, a conductive metal is deposited and patterned on the entire surface of the insulating substrate 101 on which the ohmic contact layer 108 is formed, and then stacked on the stacked active layer 107 and the ohmic contact layer 108. On the data line (not shown) and the source electrode 109 protruding from the data line above the gate electrode 104, the drain electrode 110 and the storage first electrode 105 spaced apart from each other. The storage second electrode 111 is formed in an island shape.

이어, 상기 소오스 전극(109)과 드레인 전극(110)을 마스크로 하여 상기 오믹 콘택층(108)의 일부분을 식각하여 하부의 액티브층(107)을 노출한다.Subsequently, a portion of the ohmic contact layer 108 is etched using the source electrode 109 and the drain electrode 110 as a mask to expose the lower active layer 107.

여기서, 상기 소오스 전극(109)과 드레인 전극(110) 사이에 존재하는 오믹 콘택층(108)을 제거하는 이유는 누설 전류를 줄이기 위함이다.The reason for removing the ohmic contact layer 108 existing between the source electrode 109 and the drain electrode 110 is to reduce leakage current.

도 6f에 도시한 바와 같이, 상기 소오스 전극(109)과 드레인 전극(110)이 형성된 절연 기판(101)의 전면에 절연 물질을 증착 또는 도포하여 보호막(112)을 형성한다.As illustrated in FIG. 6F, a protective film 112 is formed by depositing or applying an insulating material on the entire surface of the insulating substrate 101 on which the source electrode 109 and the drain electrode 110 are formed.

여기서, 상기 보호막(112)은 질화 실리콘 또는 산화 실리콘 등의 무기절연물질 또는 아크릴계의 유기화합물, 테프론(Teflon), BCB(benzocyclobutene), 사이토프(cytop) 또는 PFCB(perfluorocyclobutane)등의 유전상수가 작은 유기절연물로 형성된다.The protective layer 112 may be formed of an inorganic insulating material such as silicon nitride or silicon oxide, or an organic compound of acrylic type, a dielectric constant such as Teflon, BCB (benzocyclobutene), cytotope, or perfluorocyclobutane (PFCB). It is formed of an organic insulator.

이어, 상기 스토리지 제 2 전극(111) 및 드레인 전극(110)의 표면이 소정부분 노출되도록 상기 보호막(112)을 선택적으로 제거하여 스토리지 콘택홀(113)과 드레인 콘택홀(114)을 형성한다.Subsequently, the protective layer 112 is selectively removed so that the surfaces of the storage second electrode 111 and the drain electrode 110 are partially exposed to form the storage contact hole 113 and the drain contact hole 114.

도 6g에 도시한 바와 같이, 상기 스토리지 콘택홀(113)과 드레인 콘택홀(114)이 형성된 절연 기판(101)의 전면에 인듐-틴-옥사이드(indium-tin-oxide : ITO)와 인듐-징크-옥사이드(indium-zinc-oxide : IZO) 등으로 구성된 투명 도전성 금속그룹 중 선택된 하나를 증착하고, 포토 및 식각 공정을 통해 패터닝하여 화소전극(115)을 형성한다.As shown in FIG. 6G, indium-tin-oxide (ITO) and indium-zinc are formed on the entire surface of the insulating substrate 101 on which the storage contact hole 113 and the drain contact hole 114 are formed. One selected from a group of transparent conductive metals including indium-zinc-oxide (IZO) is deposited, and patterned through photo and etching processes to form the pixel electrode 115.

이때, 상기 화소전극(115)은 상기 드레인 콘택홀(114)을 통해 드레인 전극(110)과 콘택됨과 동시에, 상기 스토리지 콘택홀(113)을 통해 상기 스토리지 제 2 전극(111)과 콘택된다.In this case, the pixel electrode 115 is in contact with the drain electrode 110 through the drain contact hole 114 and is in contact with the storage second electrode 111 through the storage contact hole 113.

상기와 같이 스토리지 제 1 전극(105)과, 유전층인 게이트 절연막(106)과, 스토리지 제 2 전극(111)이 스토리지 캐패시터가 된다.As described above, the storage first electrode 105, the gate insulating layer 106 serving as the dielectric layer, and the storage second electrode 111 become a storage capacitor.

한편, 상기와 같이 절연 기판(101)의 표면에 형성된 복수개의 요철(103)을 따라 형성되는 스토리지 캐패시터는 종래와 동일 면적에서도 캐패시턴스를 높일 수 있기 때문에 그 사이즈를 줄일 수 있어 전체적으로 스토리지 캐패시터가 차지하는 면적을 줄일 수 있기 때문에 개구율을 향상시킬 수 있다.On the other hand, the storage capacitor formed along the plurality of irregularities 103 formed on the surface of the insulating substrate 101 as described above can increase the capacitance even in the same area as in the prior art, so that the size can be reduced and the area occupied by the storage capacitor as a whole. Since it is possible to reduce the aperture ratio, the aperture ratio can be improved.

본 발명의 다른 실시예로 포토 아크릴(102)을 사용하지 않고, BCB, 실리콘산화막, P/A 등의 물질 등의 절연막을 사용할 수 있다.In another embodiment of the present invention, an insulating film such as BCB, silicon oxide film, P / A, or the like may be used without using photo acryl 102.

즉, 절연 기판(101)상에 절연막을 약 1.3㎛의 두께로 형성한 후 포토 및 식각 공정을 통해 상기 절연막을 표면으로부터 소정두께만큼 제거하여 표면에 복수개의 요철을 형성하여 도 6b 내지 도 6g와 같은 동일한 공정을 실시하여 스토리지 캐패시터를 형성할 수도 있다.That is, after the insulating film is formed on the insulating substrate 101 to a thickness of about 1.3 μm, the insulating film is removed from the surface by a predetermined thickness through a photo and etching process to form a plurality of irregularities on the surface. The same process may be performed to form the storage capacitor.

한편, 이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.On the other hand, the present invention described above is not limited to the above-described embodiment and the accompanying drawings, it is possible that various substitutions, modifications and changes within the scope without departing from the technical spirit of the present invention. It will be apparent to those of ordinary skill in Esau.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이 기판 및 그 제조방법은 다음과 같은 효과가 있다.As described above, the array substrate for a liquid crystal display device and the method of manufacturing the same according to the present invention have the following effects.

즉, 스토리지 캐패시터를 요철 구조로 형성함으로써 스토리지 캐패시터가 차지하는 면적을 줄여 개구율을 향상시킬 수 있다.That is, by forming the storage capacitor in an uneven structure, the area occupied by the storage capacitor can be reduced to improve the aperture ratio.

Claims (12)

교차 배치되어 화소영역을 정의하는 게이트 배선 및 데이터 배선과,Gate wiring and data wiring intersecting to define the pixel region; 상기 게이트 배선과 데이터 배선의 교차 부위에 형성된 박막 트랜지스터와,A thin film transistor formed at an intersection of the gate wiring and the data wiring; 상기 게이트 배선과 일체형으로 형성되며 표면에 복수개의 요철을 갖고 형성되는 스토리지 제 1 전극과,A storage first electrode formed integrally with the gate wiring and having a plurality of irregularities on a surface thereof; 상기 게이트 배선을 포함한 전면에 형성되는 게이트 절연막과,A gate insulating film formed on the entire surface including the gate wiring; 상기 게이트 절연막 상부에 형성되는 상기 박막 트랜지스터의 드레인 전극 및 스토리지 제 2 전극과,A drain electrode and a storage second electrode of the thin film transistor formed on the gate insulating layer; 상기 스토리지 제 1 전극과 제 2 전극을 포함한 전면에 형성되는 보호막과,A protective film formed on an entire surface including the storage first electrode and the second electrode; 상기 박막트랜지스터의 드레인 전극과 스토리지 제 2 전극에 콘택되는 화소전극을 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.And a pixel electrode contacting the drain electrode and the storage second electrode of the thin film transistor. 제 1 항에 있어서, 상기 스토리지 제 1 전극 하부에 복수개의 요철을 갖고 형성되는 절연막을 더 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.The array substrate of claim 1, further comprising an insulating layer formed under the storage first electrode with a plurality of irregularities. 제 2 항에 있어서, 상기 절연막은 포토 아크릴, 실리콘 산화막, BCB, P/A 등의 물질 중 선택된 하나로 이루어짐을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.3. The array substrate of claim 2, wherein the insulating layer is made of one selected from materials such as photoacryl, silicon oxide, BCB, and P / A. 제 1 항에 있어서, 상기 보호막은 질화 실리콘 또는 산화 실리콘 등의 무기절연물질 또는 아크릴계의 유기화합물, 테프론, BCB, 사이토프 또는 PFCB 등의 유전상수가 작은 유기절연물로 중 선택된 하나로 이루어짐을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.The method of claim 1, wherein the protective film is made of one of an inorganic insulating material such as silicon nitride or silicon oxide or an organic insulating material having a low dielectric constant such as acrylic organic compound, Teflon, BCB, cytoplasm or PFCB. Array substrate for liquid crystal display device. 제 1 항에 있어서, 상기 게이트 절연막은 실리콘 질화막과 실리콘 산화막을 포함하는 무기절연 물질 그룹 또는 경우에 따라서는 BCB와 아크릴계 수지 등이 포함된 유기절연 물질 그룹 중 선택된 하나로 이루어짐을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판.The liquid crystal display of claim 1, wherein the gate insulating layer is selected from an inorganic insulating material group including a silicon nitride film and a silicon oxide film or an organic insulating material group including BCB and an acrylic resin. Array substrate for. 교차 배치되어 화소영역을 정의하는 복수개의 게이트 배선 및 데이터 배선과, 상기 게이트 배선 및 데이터 배선의 교차부위에 형성되는 박막 트랜지스터와, 상기 박막 트랜지스터의 드레인 전극에 연결되는 화소전극을 포함하여 이루어진 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법에 있어서,A plurality of gate lines and data lines intersecting to define a pixel region, a thin film transistor formed at an intersection of the gate line and data line, and a pixel electrode connected to a drain electrode of the thin film transistor. In the method of manufacturing an array substrate for an apparatus, 상기 게이트 배선과 일체형으로 표면에 복수개의 요철을 갖는 스토리지 제 1 전극을 형성하는 단계;Forming a storage first electrode having a plurality of unevennesses on a surface of the gate wiring in one piece; 상기 스토리지 제 1 전극을 포함한 전면에 게이트 절연막을 형성하는 단계;Forming a gate insulating film on an entire surface including the storage first electrode; 상기 게이트 절연막상에 박막 트랜지스터의 드레인 전극과 동시에 스토리지 제 2 전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.And forming a storage second electrode simultaneously with the drain electrode of the thin film transistor on the gate insulating film. 교차 배치되어 화소영역을 정의하는 복수개의 게이트 배선 및 데이터 배선과, 상기 게이트 배선 및 데이터 배선의 교차부위에 형성되는 박막 트랜지스터와, 상기 박막 트랜지스터의 드레인 전극에 연결되는 화소전극을 포함하여 이루어진 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법에 있어서,A plurality of gate lines and data lines intersecting to define a pixel region, a thin film transistor formed at an intersection of the gate line and data line, and a pixel electrode connected to a drain electrode of the thin film transistor. In the method of manufacturing an array substrate for an apparatus, 기판에 스토리지 캐패시터가 형성될 영역을 정의하는 단계;Defining a region in which a storage capacitor is to be formed in the substrate; 상기 스토리지 캐패시터가 형성될 영역의 기판상에 복수개의 요철을 갖는 절연막을 형성하는 단계;Forming an insulating film having a plurality of irregularities on a substrate in a region where the storage capacitor is to be formed; 상기 요철을 갖는 절연막상에 게이트 배선과 일체형으로 스토리지 제 1 전극을 형성하는 단계;Forming a storage first electrode integrally with a gate wiring on the insulating film having irregularities; 상기 스토리지 제 1 전극을 포함한 전면에 게이트 절연막을 형성하는 단계;Forming a gate insulating film on an entire surface including the storage first electrode; 상기 게이트 절연막상에 데이터 배선과 동시에 스토리지 제 2 전극을 형성하는 단계;Forming a storage second electrode simultaneously with the data line on the gate insulating film; 상기 기판의 전면에 보호막을 형성하고 상기 박막 트랜지스터의 드레인 전극과 상기 스토리지 제 2 전극의 표면이 소정부분 노출되도록 콘택홀을 형성하는 단계;Forming a protective film on the entire surface of the substrate and forming a contact hole to expose a portion of a surface of the drain electrode and the storage second electrode of the thin film transistor; 상기 콘택홀을 통해 상기 드레인 전극과 스토리지 제 2 전극에 연결되는 화소전극을 형성하는 단계를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.And forming a pixel electrode connected to the drain electrode and the storage second electrode through the contact hole. 제 7 항에 있어서, 상기 복수개의 요철을 갖는 절연막을 형성하는 단계는 절연 기판상에 절연막을 도포한 후 포토 및 식각 공정을 통해 상기 절연막에 표면에 복수개의 요철을 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.8. The liquid crystal display of claim 7, wherein the forming of the insulating film having the plurality of irregularities is performed by coating the insulating film on the insulating substrate and then forming the plurality of irregularities on the surface of the insulating layer through a photo and etching process. Method of manufacturing an array substrate for an apparatus. 제 8 항에 있어서, 상기 절연막은 포토 아크릴, 실리콘 산화막, BCB, P/A 등의 물질로 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.10. The method of claim 8, wherein the insulating film is formed of a material such as a photo acrylic, a silicon oxide film, BCB, or P / A. 제 7 항 또는 제 9 항에 있어서, 상기 포토 아크릴은 3~4㎛의 두께로 도포한 후 복수개의 개구부를 갖는 마스크를 이용하여 전면에 노광하여 요철을 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.10. The array of claim 7 or 9, wherein the photoacryl is coated with a thickness of 3 to 4 µm and then exposed to the entire surface using a mask having a plurality of openings to form irregularities. Method of manufacturing a substrate. 제 7 항에 있어서, 상기 보호막은 질화 실리콘 또는 산화 실리콘 등의 무기절연물질 또는 아크릴계의 유기화합물, 테프론, BCB, 사이토프 또는 PFCB 등의 유전상수가 작은 유기절연물 중에서 하나를 증착 또는 도포하여 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.The method of claim 7, wherein the protective film is formed by depositing or applying one of an inorganic insulating material such as silicon nitride or silicon oxide or an organic insulating material having a low dielectric constant such as acrylic organic compound, Teflon, BCB, cytosol or PFCB. A method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device, characterized in that. 제 7 항에 있어서, 상기 게이트 절연막은 실리콘 질화막과 실리콘 산화막을 포함하는 무기절연 물질 그룹 또는 경우에 따라서는 BCB와 아크릴계 수지 등이 포함된 유기절연 물질 그룹 중 선택된 하나를 증착 또는 도포하여 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법.The method of claim 7, wherein the gate insulating layer is formed by depositing or applying one selected from an inorganic insulating material group including a silicon nitride film and a silicon oxide film or an organic insulating material group including BCB, an acrylic resin, and the like. A method of manufacturing an array substrate for a liquid crystal display device.
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US9299726B2 (en) 2013-11-13 2016-03-29 Samsung Display Co., Ltd. Display device having an overlapping low reflection conductive line
KR20180136619A (en) * 2017-06-14 2018-12-26 삼성디스플레이 주식회사 Unit pixel and organic light emitting display device including the same
US11784190B2 (en) 2018-07-02 2023-10-10 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus and method of manufacturing the same

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7868338B2 (en) * 2005-11-23 2011-01-11 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Liquid crystal display array board and method of fabricating the same
US9299726B2 (en) 2013-11-13 2016-03-29 Samsung Display Co., Ltd. Display device having an overlapping low reflection conductive line
KR20180136619A (en) * 2017-06-14 2018-12-26 삼성디스플레이 주식회사 Unit pixel and organic light emitting display device including the same
US11784190B2 (en) 2018-07-02 2023-10-10 Samsung Display Co., Ltd. Display apparatus and method of manufacturing the same

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