KR20040026007A - Ｌｃｄ 패널의 그로스 테스트 장치 - Google Patents

Ｌｃｄ 패널의 그로스 테스트 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 LCD 패널의 그로스 테스트 장치에 관한 것으로서, 본 발명에서는, 게이트 IC의 일측에 형성되어 외부로부터 수신되는 신호를 게이트 IC에 전달하는 입력 패드, 게이트 IC의 타측에 형성되어 게이트 IC로부터 출력되는 주사 신호를 다수의 게이트 라인으로 전달하는 출력 패드 및, 입력 및 출력 패드 위에 게이트 IC를 탑재하기 전에 LCD 패널의 화소 상태를 검증하는 신호를 외부의 신호 전달기로부터 인가받는 그로스 테스트 패드를 포함한다. 또한 그로스 테스트 패드와 직렬 연결되어 그로스 테스트 패드와 신호 전달기간의 접촉으로 인해 발생하는 정전기 관련 전압을 방전시키는 저항을 추가로 포함한다.
이를 통하여, 그로스 테스트시 발생하는 정전기로 인한 소자 불량 및 잘못된 테스트 측정값 발생을 방지하여 제품의 신뢰도를 향상시킬 수 있다.

Description

ＬＣＤ 패널의 그로스 테스트 장치 {A GROSS TESTER OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY PANEL}
본 발명은 LCD 패널의 그로스 테스트 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 그로스 테스트(gross text)란, LCD 패널에 구동 드라이브 IC를 부착하기 전 LCD 패널의 화소(pixel) 상태를 확인하는 것으로서, LCD 패널의 그로스 테스트 방법에는 주로 TAB(Tape Automated Bonding) 실장 방식에 적용되는 핀 콘택(pin contact) 방법과 COG(Chip On Glass) 방식에 적용되는 도전성 러버 콘택(rubber contact) 방법 등이 이용되고 있다.
여기서, TAB 실장 방식이란, LCD 패널에 구동용 TAB IC를 접속하고, TAB IC를 인쇄 회로 기판에 접속시키는 작업을 의미하는 것으로서, 전자의 경우 이방성 도전 필름을 이용하여 LCD 패널과 TAB IC를 접속하고, 후자의 경우에는 납을 이용하여 인쇄회로 기판과 TAB IC를 부착한다.
COG 방식이란, LCD 패널의 게이트 및 데이터 영역에 형성되어 있는 본딩 패드(bonding pad)에 구동용 IC를 탑재하여 전기적으로 도통시키는 방식으로서, 보통 이방성 도전 필름을 사용하여 구동용 IC를 본딩 패드에 접속시킨다. 이와 같이, COG 방식을 사용할 경우 IC 실장 면적을 최소화할 수 있어 LCD 패널의 소형, 박형화를 실현할 수 있고 제작 비용을 절감할 수 있다는 이점이 있다.
여기서, 종래의 COG 방식에 적용되는 LCD 패널의 그로스 테스트 방법을 첨부된 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 1은 일반적인 COG 방식의 LCD 패널을 개략적으로 나타낸 평면도이다. 도시되어 있듯이, COG 방식의 LCD 패널(1)은 TFT 소자가 형성된 TFT 기판(10)과, TFT 기판(10) 상부면에 부착되며 하부면에 칼라필터 패턴이 형성된 칼라필터 기판(20)으로 구성되어 있다.
TFT 기판(10)의 세로 방향에는 복수개의 게이트 라인들(13)이 형성되어 있는 게이트 영역(11)이 있고, TFT 기판(10)의 가로 방향에는 복수개의 데이터라인들(18)이 형성된 데이터 영역(15)이 있다. 여기서, 게이트 라인들(13) 및 데이터 라인들(18) 단부 각각에는 구동용 드라이브 IC(미도시)를 부착하기 위한 범프들(19)이 형성되어 있다.
이와 같이 구성된 COG 방식의 LCD 패널을 그로스 테스트하기 위해서는, 구동용 드라이브 IC(미도시)를 LCD 패널상에 부착하기 전에 게이트 라인 및 데이터 라인의 단부에 형성된 범프들(bump, 19)로 테스트용 신호를 인가하여 그 결과값을 측정한다.
일반적으로, 이러한 테스트용 신호 인가시 범프들(19)에 접촉할 수 있는 프로브 카드(probe card)를 사용하며, 프로브 카드는 외부의 신호 발생기로부터 수신되는 테스트용 신호를 각 범프들에 인가하여 그 결과값을 측정할 수 있도록 한다.
그러나, 이러한 기존의 그로스 테스트 방법은 각 범프들로의 테스트용 신호 전달시, 프로브 카드와 범프들(19)간의 물리적인 접촉으로 인한 정전기 발생으로 LCD 패널 불량이라는 측정 결과 값을 가져올 뿐만 아니라, 특정 소자의 손상(damage)을 가져온다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 이러한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 그로스 테스트시 발생하는 정전기를 제거하여 제품의 신뢰도를 향상시킬 수 있는 LCD 패널의 그로스 테스트 장치를 제공하기 위한 것이다.
도 1은 일반적인 COG 방식의 LCD 패널을 개략적으로 나타낸 평면도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 LCD 패널의 그로스 테스트 장치의 세부적인 연결 구성도이다.
※ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ※
1 : 게이트 라인, 2 : 데이터 라인
10 : 입력 패드 20 : 게이트 IC
30 : 그로스 테스트 패드 40 : 저항
50 : 출력 패드 100 : LCD 패널
110 : 박막 트랜지스터 기판 120 : 컬러필터 기판
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 LCD 패널의 그로스테스트 장치는, 데이터 라인에 화상 데이터에 따른 계조 전압을 전달하는 데이터 IC 및, 게이트 라인에 주사 신호를 순차적으로 전달하는 게이트 IC, 상기 게이트 라인과 상기 데이터 라인간에 격자 배열된 일정 영역에 형성되며, 상기 게이트 라인 및 상기 데이터 라인에 연결되어 있는 스위칭 소자를 가지는 화소를 포함하는 LCD 패널의 그로스 테스트(gross test) 장치에 있어서, 상기 게이트 IC의 일측에 형성되어 외부로부터 수신되는 신호를 상기 게이트 IC에 전달하는 입력 패드; 상기 게이트 IC의 타측에 형성되어 상기 게이트 IC로부터 출력되는 주사 신호를 상기 다수의 게이트 라인으로 전달하는 출력 패드; 및 상기 입력 및 출력 패드 위에 상기 게이트 IC를 탑재하기 전에 상기 LCD 패널의 화소 상태를 검증하는 신호를 외부의 신호 전달기로부터 인가받는 그로스 테스트 패드를 포함한다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 LCD 패널의 그로스 테스트 장치는, 데이터 라인에 화상 데이터에 따른 계조 전압을 전달하는 데이터 IC 및, 게이트 라인에 주사 신호를 순차적으로 전달하는 게이트 IC, 상기 게이트 라인과 상기 데이터 라인간에 격자 배열된 일정 영역에 형성되며, 상기 게이트 라인 및 상기 데이터 라인에 연결되어 있는 스위칭 소자를 가지는 화소를 포함하는 LCD 패널의 그로스 테스트(gross test) 장치에 있어서, 상기 데이터 IC의 일측에 형성되어 외부로부터 수신되는 신호를 상기 데이터 IC에 전달하는 입력 패드; 상기 데이터 IC의 타측에 형성되어 상기 데이터 IC로부터 출력되는 계조 전압을 상기 다수의 데이터 라인으로 전달하는 출력 패드; 및 상기 입력 및 출력 패드 위에 상기 데이터 IC를 탑재하기 전에 상기 LCD 패널의 화소 상태를 검증하는 신호를 외부의 신호 전달기로부터인가받는 그로스 테스트 패드를 포함한다.
또한, 본 발명에 실시예에 따른 그로스테 테스트 장치는 상기 그로스 테스트 패드와 직렬 연결되어 상기 그로스 테스트 패드와 상기 신호 전달기간의 접촉으로 인해 발생하는 정전기 관련 전압을 방전시키는 저항을 추가로 포함한다. 이때, 상기 저항은 ITO 금속 또는 비정질 실리콘 중 어느 하나로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 LCD 패널의 그로스 테스트 장치의 세부적인 연결 구성도이다.
먼저, 본 발명의 실시예에 따른 그로스 테스트 장치를 통해 양, 불량이 측정되는 LCD 패널에 대해 간략히 알아보면 다음과 같다.
COG(Chip On Glass) 방식의 LCD 패널(100)은 TFT 소자가 형성된 박막 트랜지스터 기판(110)과, 박막 트랜지스터 기판(110) 상부면에 부착되며 하부면에 컬러필터 패턴이 형성된 컬러필터 기판(120)으로 구성되어 있다.
박막 트랜지스터 기판(110)의 세로 방향에는 다수의 게이트 라인들(GO 내지 Gn)이 형성되어 있는 게이트 영역(111)이 있고, 박막 트랜지스터 기판(120)의 가로 방향에는 다수의 데이터 라인(미도시)이 형성되어 있는 데이터 영역(112)이 있다.
LCD 패널(100)의 게이트 영역(111)에는 외부로부터 입력되는 제어 신호에 따라, 주사 신호(scanning signal)를 다수의 게이트 라인(GO 내지 Gn)으로 순차 출력하는 다수의 게이트 IC(20)가 형성되어 있고, 데이터 영역(112)에는 외부로부터 입력되는 R, G, B 화상 신호에 따른 계조 전압을 다수의 데이터 라인으로 출력하는 다수의 데이터 IC(미도시)가 형성되어 있다.
이러한 구조를 이루는 LCD 패널 상에 형성되어 상기 LCD 패널의 화소 상태를 검증하는 그로스 테스트 장치에 대해 자세히 알아보면 다음과 같다.
우선, LCD 패널(100)의 게이트 영역(111)에 대해 자세히 살펴보면, 게이트 IC(20)의 일측에는 외부로부터 수신되는 제어 신호를 게이트 IC(20)에 전달하는 입력 패드(10, input pad)가 일정 간격으로 형성되어 있으며, 게이트 IC(20)의 타측에는 게이트 IC(20)로부터 출력되는 주사 신호가 다수의 게이트 라인(1)에 순차적으로 출력될 수 있도록 하는 출력 패드(50, out pad)가 일정 간격으로 형성되어 있다
이때, 본 발명의 실시예에 따른 그로스 테스트 장치는, 게이트 IC(20)의 타측에 게이트 IC(20)를 부착하기 전 LCD 패널(100)의 화소(pixel) 상태를 확인하기 위한 그로스 테스트(gross test) 전용 패드인 G/T 패드(30)를 별도로 포함한다. 또한, 이러한 G/T 패드(30)의 타측에 그로스 테스트시 발생하는 정전기에 의한 전압을 제거하여 제품의 품질을 향상시킬 수 있는 저항(40)을 포함한다.
상세히 설명하면, 일반적으로 구동용 드라이브 IC를 부착하기 전 LCD 패널의 화소 상태를 확인하기 위한 그로스 테스트를 하기 위해서는, 구동용 드라이브 IC를 부착하기 전에 상기 구동용 드라이브 IC를 부착하기 위한 패드(대부분 출력 패드)로 테스트용 신호를 인가하여 그 결과값을 통해 LCD 패널의 양, 불량을 측정한다.
그런데, 이러한 테스트용 신호를 해당 패드로 전달하여 LCD 패널의 양, 불량을 측정함에 있어, 일반적인 그로스 테스트 방법은 이러한 본딩 패드와 신호 전달기(미도시, 예를 들어 프로브 카드 등)간의 접촉으로 인해 정전기에 따른 전압이 발생한다. 이는 곧 LCD 패널 불량이라는 그로스 테스트 결과 값을 나오게 할 뿐만 아니라, 이러한 정전기 관련 전압은 제품의 품질을 저하시킨다.
따라서, 본 발명의 실시예에 따른 그로스 테스트 장치는, LCD 패널 상에 그로스 테스트 전용 G/T 패드(30)를 출력 패드(50)와 별도로 형성하며, 이를 이용한 그로스 테스트시 G/T 패드(30)에서 발생하는 정전기 관련 전압을 방전시키기 위한 저항(30)을 상기 그로스 테스트용 패드(30)와 직렬 연결되도록 형성한다. 이때, 저항(30)의 주 성분은 도전체 물질(예를 들어, 비정질 실리콘 또는 ITO 금속 등)로서, LCD 패널의 게이트 라인이나 데이터 라인의 주 성분과 동일한 물질로 형성되며, 이렇게 형성되는 저항의 크기의 수Ω 내지 수㏀인 것을 특징으로 한다.
즉, 본 발명의 실시예에 따른 LCD 패널의 그로스 테스트 장치는 그로스 테스트를 위한 전용 패드를 별도로 형성하며, 전용 패드에서 발생하는 정전기 관련 전압을 상기 전용 패드와 직렬 연결된 저항을 이용하여 방전시킨다. 이때, 저항은 접지 단자를 통해 정전기 관련 전압을 방전시킨다. 이는 곧 정전기로 인한 소자의 손상(damage) 및 잘못된 측정값 유도를 방지할 수 있다.
또한, 본 발명은 그로스 테스트 전용 패드를 LCD 패널의 게이트 영역에 형성하였지만, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니고 LCD 패널의 데이터 영역에 형성할수도 있다.
도면과 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
본 발명에 따른 LCD 패널의 그로스 테스트 장치는 그로스 테스트시 발생하는 정전기로 인한 소자 불량 및 잘못된 테스트 측정값 발생을 방지함으로써, 제품의 신뢰도를 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims (4)

  1. 데이터 라인에 화상 데이터에 따른 계조 전압을 전달하는 데이터 IC 및, 게이트 라인에 주사 신호를 순차적으로 전달하는 게이트 IC, 상기 게이트 라인과 상기 데이터 라인간에 격자 배열된 일정 영역에 형성되며, 상기 게이트 라인 및 상기 데이터 라인에 연결되어 있는 스위칭 소자를 가지는 화소를 포함하는 LCD 패널의 그로스 테스트(gross test) 장치에 있어서,
    상기 게이트 IC의 일측에 형성되어 외부로부터 수신되는 신호를 상기 게이트 IC에 전달하는 입력 패드;
    상기 게이트 IC의 타측에 형성되어 상기 게이트 IC로부터 출력되는 주사 신호를 상기 다수의 게이트 라인으로 전달하는 출력 패드; 및
    상기 입력 및 출력 패드 위에 상기 게이트 IC를 탑재하기 전에 상기 LCD 패널의 화소 상태를 검증하는 신호를 외부의 신호 전달기로부터 인가받는 그로스 테스트 패드
    를 포함하는 LCD 패널의 그로스 테스트 장치.
  2. 데이터 라인에 화상 데이터에 따른 계조 전압을 전달하는 데이터 IC 및, 게이트 라인에 주사 신호를 순차적으로 전달하는 게이트 IC, 상기 게이트 라인과 상기 데이터 라인간에 격자 배열된 일정 영역에 형성되며, 상기 게이트 라인 및 상기 데이터 라인에 연결되어 있는 스위칭 소자를 가지는 화소를 포함하는 LCD 패널의그로스 테스트(gross test) 장치에 있어서,
    상기 데이터 IC의 일측에 형성되어 외부로부터 수신되는 신호를 상기 데이터 IC에 전달하는 입력 패드;
    상기 데이터 IC의 타측에 형성되어 상기 데이터 IC로부터 출력되는 계조 전압을 상기 다수의 데이터 라인으로 전달하는 출력 패드; 및
    상기 입력 및 출력 패드 위에 상기 데이터 IC를 탑재하기 전에 상기 LCD 패널의 화소 상태를 검증하는 신호를 외부의 신호 전달기로부터 인가받는 그로스 테스트 패드
    를 포함하는 LCD 패널의 그로스 테스트 장치.
  3. 제1 항 또는 제2 항에 있어서,
    상기 그로스 테스트 패드와 직렬 연결되어 상기 그로스 테스트 패드와 상기 신호 전달기간의 접촉으로 인해 발생하는 정전기 관련 전압을 방전시키는 저항을 추가로 포함하는 LCD 패널의 그로스 테스트 장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 저항은 ITO 금속 또는 비정질 실리콘 중 어느 하나로 이루어지는 것을 특징으로 하는 LCD 패널의 그로스 테스트 장치.
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US7839479B2 (en) 2004-06-24 2010-11-23 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Thin film transistor array substrate comprising a first insulating layer completely covering the dummy testing pad, display using the same, and fabrication method thereof

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