KR200296468Y1 - 타켓보드의 멀티포트소켓장치 - Google Patents

Abstract

본 고안은 시험용 장비의 연결포트잭과 결합되고 내부에 전기적인 접점핀이 다수 형성된 결합핀부와, 상기 결합핀부의 내부에 배치된 다수의 점점핀들의 외부로 돌출된 다드선들을 하이브리드형태로 내부접점에 배치시키고 이들 내부접점을 선택적으로 스위칭할 수 있는 스위칭부와, 상기 스위칭부의 내부점점들에 연결되어 타켓보드의 버스에 연결되는 다리부로 구성된 타켓보드의 멀티포트소켓장치를 제공한다.

상기와 같은 본 고안은 시스템개발시 사용되는 타켓보드의 다중 시험용 포트의 핀들을 하나의 멀티소켓내에 구비하고 시험의 종류에 따라 이들 포트의 핀들을 서로 스위칭시켜 필요한 시험을 실행하므로써, 타켓보드내에 시험의 종류에 따라 다수의 포트소켓을 설치할 필요없이 통합하여 하나의 포트스위칭으로 처리하게 되므로 그에 따라 타켓포트의 공간설계성을 상당히 향상시키게됨은 물론 하나의 멀티소켓만을 사용하므로 시스템 개발에 따른 디버깅시 각각의 작업을 할 때마다 연결 케이블을 다른 포트로 옮겨 연결할 필요가 없어지게 되므로 그에 따라 타켓보드의 사용편의성도 상당히 극대화시킨다.

Description

타켓보드의 멀티포트소켓장치{multi-port socket of the target board}

본 고안은 타켓보드의 멀티포트소켓장치에 관한 것으로, 특히 시스템개발시 사용되는 타켓보드의 다중 시험용 포트의 핀들을 하나의 멀티소켓내에 구비하고 시험의 종류에 따라 이들 포트의 핀들을 서로 스위칭시켜 필요한 시험을 실행하는 타켓보드의 멀티포트소켓장치에 관한 것이다.

일반적으로 산업사회가 정보화사회로 발전됨에 따라 각 매체들사이에서 다양한 정보를 신속히 그리고 다량으로 공유하려는 노력이 진행되고 있다. 특히, 1990년대에 들어와서는 기술선진국들이 경쟁적으로 초고속 정보통신망 구축에 박차를 가하고 있으며, 이러한 초고속 정보통신망 구축방안으로 방송 사업계에서는 CATV 네트워크 기반으로, 데이터 및 컴퓨터업계에서는 인터넷기반으로, 통신사업계에서는 디지털 전송방식을 기반으로 접근하고 있다. 그리고, 상기와 같은 초고속 정보통신망을 실현시키는 방식가운데는 최근 FTHH(fiber to the home)와 ADSL(Asymmetric Digital Subscriber Line)방식이 널리 사용되고 있다. 또한, 그에더하여, 상기 디지털 전송방식에는 광케이블을 전송매체로 사용하는 광전송 방식으로 발전하였으며, 현재는 이를 근간으로 하여 비동기식인 PDH 전송시스템에서 동기식인 SDH 전송시스템으로 변화하고 있는 추세에 있다.

그런데, 상기와 같은 시스템들은 처음 개발단계에서 여러 가지 다양한 시험을 거쳐 디버깅되게 되는데, 이때, 그러한 시험은 하나의 보드 즉, 타켓보드로 불리는 보드를 이용하여 행해지게된다. 예컨대, 상기와 같은 전송시스템의 경우 하나의 마더보드내에 다양한 기능모듈카드 예컨대, 멀티프레임펄스신호(multy frame pulse)를 생성하는 기준클럭발생모듈카드나 가입자보드와 같은 다수의 보드들을 삽입할 수 있는 다수의 커넥터들이 설치되고 이들 커넥터와 커넥터사이에는 다양한 형태로 연결되는 수백개의 연결패턴들이 형성되어 있다. 그리고, 상기와 같은 타켓보드는 개발자가 원하는 다양한 시험을 할 수 있도록 다수의 포트들을 구비하게 된다.

그러면, 상기와 같은 종래 타켓보드의 일례를 도 1을 참고로 살펴보면, 이 타켓보드(70)에는 개발 대상보드의 기능을 제어하는 CPU(71)와, 상기 CPU(71)에 버스선(72)을 통해 연결되어 타켓보드(70)의 구성부품들의 고정이나 연결상태를 체킹하는 포트인 BST(Board soft target package) 소켓포트부(73)와, 상기 CPU(71)에 버스선(72)을 통해 연결되어 CPU(71)로 직접 엑세스하여 시험데이터를 롬(74)에 라이트시킬 수 있는 지를 체킹하는 포트인 BDM 소켓포트부(75)와, 상기 CPU(71)에 버스선(72)을 통해 연결되어 타켓보드(70)상에 구비된 부품 예컨대, 디지털스위치(76)의 데이터 로드를 체킹하는 포트인 다운로드 소켓포트부(77)를 포함한다.

여기서, 상기 각각의 소켓포트부들(73,75,77)에는 각종 핀 예컨대, BST 소켓포트부(73)에는 3번에 TDO핀, 5번에 TDI핀이 배치되어 있고, 상기 BDM 소켓포트부(75)에는 8번에 DSDI핀, 10번에 DSDO핀이 배치되어 있으며, 상기 다운로드 소켓포트부(77)에는 2번 TDO핀, 3번에 TDI핀과 같이 각종 핀들이 배치되어 있다.

한편, 상기와 같은 종래 타켓보드의 포트작용을 살펴보면, 먼저 일정한 목적을 가지고 타켓보드(70)가 개발될 경우 개발자는 자신이 설계한 타켓보드(70)상에 설치된 구성부품 예컨대, MPU(Micro processor unit)나 일명 GDX라 불리는 PLD(programmable logic device)와같은 부품들의 성능이나 기능을 여러 포트를 바꾸어 가며 시험을 실행하게 된다. 예컨대, 상기 개발자가 타켓보드(70)의 BST시험을 실행할 경우 개발자는 시험용 호스트컴퓨터(78)의 연결케이블의 소켓을 상기 타켓보드(70)에 별개로 설치된 BST 소켓포트부(73)에 삽입결합시킨다. 그리고, 상기 시험용 호스트컴퓨터(78)에서 시험데이터를 송출하면 이 시험데이터는 BST 소켓포트부(73)를 경유하여 CPU(71)로 입력되고 그에 따라 CPU(71)는 CPU(71)의 연결이나 접속상태에 따른 응답신호를 BST 소켓포트부(73)를 통해 다시 호스트컴퓨터(78)로 전송하여 BST시험을 완료하게 된다.

마찬가지로 방식으로, 상기 개발자가 만약 CPU(71)로 직접 엑세스하여 시험데이터를 롬(74)에 라이트시킬 수 있는 지를 체킹하기를 원할 경우 이전에 행하던 호스트컴퓨터(78)의 연결케이블을 분리한 다음 이 연결케이블의 소켓을 BDM 소켓포트부(75)로 삽입하여 시험을 실행한다. 또한, 상기 개발자가 만약 타켓보드(70)상에 구비된 부품 예컨대, 디지털스위치(76)의 데이터 로드를 체킹하기를 원할 경우 이전에 행하던 호스트컴퓨터(78)의 연결케이블을 분리한 다음 이 연결케이블의 소켓을 다운로드 소켓포트부(77)로 삽입하여 해당 시험을 실행한다.

그러나, 상기와 같은 종래 타켓보드는 하나의 타켓보드상에서 개발에 따른 각종 시험 예컨대, BST나 BDM 혹은 다운로드 시험을 실행하기위해서 독립적으로 각각의 포트소켓부를 별개로 설치해야 하기 때문에 포트소켓의 배치공간이 타켓보드내에서 상당한 영역을 차지하게 되므로 그에 따라 타켓보드의 공간설계성이 상당히 저하되었으며, 또한, 상기 각각의 포트소켓들은 시험용 호스트컴퓨터와 연결되어 동작하게 되는데, 이때 디버깅 작업을 할 때마다 연결케이블을 분리하여 다른 포트소켓에 일일이 삽입연결해야 하므로 그에 따라 타켓보드의 사용편의성을 상당히 저하시키는 문제점을 야기시켰다.

이에 본 고안은 상기와 같은 종래 제반 문제점을 해결하기 위해 고안된 것으로, 타켓보드내에 시험의 종류에 따라 다수의 포트소켓을 설치할 필요없이 통합하여 하나의 포트스위칭으로 처리하게 되므로 그에 따라 타켓포트의 공간설계성을 상당히 향상시키는 타켓보드의 멀티포트소켓장치를 제공함에 그 목적이 있다.

본 발명의 다른 목적은 하나의 멀티소켓만을 사용하므로 시스템 개발에 따른 디버깅시 각각의 작업을 할 때마다 연결 케이블을 다른 포트로 옮겨 연결할 필요가 없어지게 되므로 그에 따라 타켓보드의 사용편의성도 상당히 극대화되는 타켓보드의 멀티포트소켓장치를 제공하는데 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안은 시험용 장비의 연결포트잭과 결합되고 내부에 전기적인 접점핀이 다수 형성된 결합핀부와, 상기 결합핀부의 내부에 배치된 다수의 점점핀들의 외부로 돌출된 다드선들을 하이브리드형태로 내부접점에 배치시키고 이들 내부접점을 선택적으로 스위칭할 수 있는 스위칭부와, 상기 스위칭부의 내부점점들에 연결되어 타켓보드의 버스에 연결되는 다리부로 구성된 타켓보드의 멀티포트소켓장치를 제공한다.

도 1은 3개의 포트를 설치한 종래 타켓보드를 설명하는 설명도.

도 2는 본 고안의 멀티포트소켓장치를 설명하는 설명도.

도 3은 본 고안 장치가 설치된 타켓보드를 설명하는 설명도.

<부호의 상세한 설명>

1 : 시험용 장비 2 : 연결포트잭

3 : 결합핀부 4 : 스위칭부

5 : 타켓보드 6 : 버스

7 : 다리부 8 : 멀티포트소켓장치

9 : 딥버튼 10: CPU

11: 롬 12: 디지털스위치

이하, 본 고안을 첨부된 예시도면에 의거 상세히 설명한다.

본 고안 장치는 도 2에 도시된 바와같이 시험용 장비(1) 예컨대, 호스트 컴퓨터(1)의 연결포트잭(2)과 결합되고 내부에 전기적인 접점핀이 다수 형성된 결합핀부(3)와, 상기 결합핀부(3)의 내부에 배치된 다수의 점점핀들(a-n)의 외부로 돌출된 다드선들을 하이브리드형태로 내부접점에 배치시키고 이들 내부접점을 선택적으로 스위칭할 수 있는 스위칭부(4)와, 상기 스위칭부(4)의 내부점점들에 연결되어 타켓보드(5)의 버스(6)에 연결되는 다리부(7)로 구성된다.

여기서, 상기 스위칭부(4)는 딥스위치처럼 몸체 외부에 설치된 딥버튼(9)을 푸쉬하거나 돌출시키게 하면 내부의 해당 접점들이 온/오프 스위칭되게 된다.

한편, 상기와 같은 타켓보드(5)에는 상기와 같은 본 고안의 멀티포트소켓장치(8)이외에 이 타켓보드(5)의 기능을 제어하는 CPU(10)와, 이 CPU(10)에 버스(6)로 연결되는 롬(11)과, 상기 CPU(10)에 버스(6)로 연결되는 디지털스위치(12)와 같은 부품들이 탑재될 수 있다.

여기서, 상기 본 고안의 멀티포트소켓장치(8)의 접접핀들에는 BST나 BDM 혹은 다운로드시험시에 공통으로 연결되는 예컨대, GND핀들과, BST 시험에 필요한 TDO핀, TDI핀, TRST핀 및 TCK핀들과, BDM 시험에 필요한 DSDI핀, DSDO핀, VFLS0핀, _SRESET핀들과, 다운로드 시험에 필요한 TDO핀, TDI핀, TMS핀, TCK핀과 같이 개발단계에서 필요한 시험을 충분히 실행할 수 있는 각종 핀들로 배치된다.

다음에는 상기와 같은 본 고안의 작용, 효과를 설명한다.

먼저, 본 고안의 장치를 동작시킬 경우 시험용 호스트컴퓨터(1)의 연결포트잭(2)을 내부에 전기적인 접점핀이 다수 형성된 결합핀부(3)에 결합시킨다. 그리고, 상기 타켓보드(5)의 시험용도에 맞게 본고안 멀티포트소켓장치(8)의 스위칭부(4)의 딥버튼들(9)을 해당 시험에 맞게 푸쉬하거나 돌출시켜 포트접점을형성시킨다.

예컨대, BST 시험을 할 경우에는 항상 공통으로 연결되는 GND핀들의 해당 딥버튼들을 눌러 선택하고 TDO핀, TDI핀, TRST핀 및 TCK핀들을 각각 선택한다. 또는 BDM시험을 할 경우는 공통으로 연결되는 GND핀들의 해당 딥버튼들을 눌러 선택하고 DSDI핀, DSDO핀, VFLS0핀, _SRESET핀들의 해당 딥버튼들을 눌러 선택한다. 그리고, 만약 다운로드 시험을 할 경우에는 공통으로 연결되는 GND핀들의 해당 딥버튼들을 눌러 선택하고 TDO핀, TDI핀, TMS핀, TCK핀들의 해당 딥버튼들을 눌러 선택할 수 있다.

따라서, 상기 개발자가 자신이 개발한 타켓보드(5)의 BST시험을 실행할 경우 상기와 같은 과정을 경유하여 해당 시험에 따른 스위치를 설정하게 되는데, 이때 상기 개발자는 현재 시험용 호스트컴퓨터(1)의 연결케이블의 소켓(2)에 결합된 멀티포트소켓장치(8)의 결합핀부(3)를 통해 호스트 컴퓨터(1)의 BST시험용 신호를 송출시킨다. 그러면, 상기 호스트 컴퓨터(1)의 시험데이터는 결합핀부(3), 스위칭부(4) 및 다리부(7)로 연결되는 현재 BST 접점핀들만으로 연결된 스위칭경로와 타켓보드(5)의 버스를 통해 CPU(10)로 입력되고 그에 따라 CPU(10)는 CPU(10)의 연결이나 접속상태에 따른 응답신호를 다시 본 고안의 멀티포트소켓장치(8)를 통해 상기 호스트컴퓨터(1)로 전송하여 BST시험을 완료하게 된다.

마찬가지로 방식으로, 상기 개발자가 만약 CPU(10)로 직접 엑세스하여 시험데이터를 롬(11)에 라이트시킬 수 있는 지를 체킹하기를 원할 경우 종래 장치와는 달리 이전에 행하던 호스트컴퓨터(1)의 연결케이블을 분리할 필요없이 본고안의 멀티포트소켓장치(8)의 스위칭부(4)의 딥버튼들을 이용하여 해당 시험접점 즉, BDM시험에 필요한 연결접점들을 선택연결시킨다. 이때 상기 개발자는 현재 시험용 호스트컴퓨터(1)의 연결케이블의 소켓(2)에 결합된 멀티포트소켓장치(8)의 결합핀부(3)를 통해 호스트 컴퓨터(1)의 BDM시험용 신호를 송출시킨다. 그러면, 상기 호스트 컴퓨터(1)의 시험데이터는 현재 BDM접점핀들만으로 연결된 멀티포트소켓장치(8)의 스위칭경로와 타켓보드(5)의 버스를 통해 CPU(10)로 입력되고 그에 따라 CPU(10)는 수신된 시험용 데이터를 롬(11)에 저장시킨 다음 그 저장결과에 따른 응답신호를 다시 본 고안의 멀티포트소켓장치(8)를 통해 상기 호스트컴퓨터(1)로 전송하여 BDM시험을 완료하게 된다.

또한, 상기 과정중에 상기 개발자가 만약 타켓보드(5)상에 구비된 부품 예컨대, 디지털스위치(12)의 데이터 로드를 체킹하기를 원할 경우 종래 장치와는 달리 이전에 행하던 호스트컴퓨터(1)의 연결케이블을 분리할 필요없이 본고안의 멀티포트소켓장치(8)의 스위칭부(4)의 딥버튼만을 이용하여 해당 시험접점 즉, 다운로드 시험에 필요한 연결접점들을 선택연결시킨다.

그러면, 상기 개발자는 현재 시험용 호스트 컴퓨터(1)의 연결케이블의 소켓(2)에 결합된 멀티포트소켓장치(8)의 결합핀부(3)를 통해 호스트 컴퓨터(1)의 다운로드시험용 신호를 송출시킨다. 그러면, 상기 호스트 컴퓨터(1)의 시험데이터는 현재 다운로드 접점핀들만으로 연결된 멀티포트소켓장치(8)의 스위칭경로와 타켓보드(5)의 버스를 통해 CPU(10)로 입력되고 그에 따라 CPU(10)는 수신된 시험용 데이터를 일명 GDX칩이라 불리는 디지털스위치(12)에 다운로드시킨 다음 그 다운로드결과에 따른 응답신호를 다시 본 고안의 멀티포트소켓장치(8)를 통해 상기 호스트컴퓨터(1)로 전송하여 다운로드시험을 완료하게 된다.

이상 설명에서와 같이 본 고안은 시스템개발시 사용되는 타켓보드의 다중 시험용 포트의 핀들을 하나의 멀티소켓내에 구비하고 시험의 종류에 따라 이들 포트의 핀들을 서로 스위칭시켜 필요한 시험을 실행하므로써, 타켓보드내에 시험의 종류에 따라 다수의 포트소켓을 설치할 필요없이 통합하여 하나의 포트스위칭으로 처리하게 되므로 그에 따라 타켓포트의 공간설계성을 상당히 향상시키는 장점을 가지고 있다.

뿐만아니라, 본 발명에 의하면, 하나의 멀티소켓만을 사용하므로 시스템 개발에 따른 디버깅시 각각의 작업을 할 때마다 연결 케이블을 다른 포트로 옮겨 연결할 필요가 없어지게 되므로 그에 따라 타켓보드의 사용편의성도 상당히 극대화되는 효과도 있다.

Claims (2)

1. 시험용 장비의 연결포트잭과 결합되고 내부에 전기적인 접점핀이 다수 형성된 결합핀부와, 상기 결합핀부의 내부에 배치된 다수의 점점핀들의 외부로 돌출된 다드선들을 하이브리드형태로 내부접점에 배치시키고 이들 내부접점을 선택적으로 스위칭할 수 있는 스위칭부와, 상기 스위칭부의 내부점점들에 연결되어 타켓보드의 버스에 연결되는 다리부로 구성된 것을 특징으로 하는 타켓보드의 멀티포트소켓장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 스위칭부에는 내부의 접점들을 온/오프 스위칭하는 다수의 딥버튼들이 몸체 외부에 설치되는 것을 특징으로 하는 타켓보드의 멀티포트소켓장치.