KR200238130Y1 - 마이크로 콘트롤러 - Google Patents
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Abstract
본 고안은 마이크로 콘트롤러에 관한 것으로, 종래 원타임 프로그램머블 칩이나 마스트 칩을 사용한 마이크로 콘트롤러에 있어서 아날로그/디지탈 변환 특성을 테스트하는 경우 테스트 장비를 사용한 테스트에는 별 문제가 없으나, 테스트 장비를 사용하지 않고 실제 시용자 환경하에서는 아날로그/디지탈 변환 특성을 테스트할 수 없는 문제점이 있었다. 따라서, 본 고안은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 외부의 테스트 제어 신호를 인가받아 자체적인 아날로그/디지탈 특성을 테스트하는 테스트부를 구비하여 테스트 장비를 통한 아날로그/디지탈 특성뿐만 아니라 실제 사용자 환경하에서 아날로그/디지탈 변환 특성을 테스트함으로써, 사용자에게 더 효율적인 정보를 제공하여 신뢰도를 향상시킴과 아울러 불량 분석을 훨씬 용이하게 수행하는 효과가 있다. 또한, 테스트 모드 신호, 채널 선택 신호, 테스트 시작 신호를 입력받는 핀의 경우, 다른 핀과 겸용으로 사용할 수 있어 추가적인 핀이 필요없으며, 원타임 프로그램머블 칩이나 마스트 칩에 모두 적용할 수 있다
Description
본 고안은 마이크로 콘트롤러에 관한 것으로, 특히 아날로그/디지탈 변환기를 내장한 마이크로 콘트롤러에 있어서 외부 제어신호에 의해 자체 테스트를 수행하는 테스트부를 구비하여 자체 특성 평가(evaluation)의 수행이 가능하도록 한 마이크로 콘트롤러에 관한 것이다.
최근 디지탈 신호 처리 기술이 급속히 발전됨에 따라 마이크로 콘트롤러와 같은 제품의 응용 범위가 다양한 특성과 기능을 통해 산업 전반에 걸쳐 이용되고 있으며, 자연계 물리량의 대부분이 아날로그 신호이므로 이를 디지탈 신호로 변환하는 아날로그/디지탈 변환기가 사용되고 있다.
도 1은 종래 마이크로 콘트롤러의 구성을 보인 블록도로서, 이에 도시된 바와 같이 외부에서 데이터를 입력받아 데이터 버스(10)로 출력하거나 상기 데이터 버스(10)를 통해 데이터를 입력받아 외부로 출력하는 입출력 포트(20)와; 응용 프로그램을 저장함과 아울러 연산된 데이터를 저장하는 메모리(30)와; 제어신호에 의해 아날로그 신호를 입력받아 이를 디지탈 신호로 변환하여 출력하는 아날로그/디지탈 변환기(50)와; 상기 메모리(30)에 저장된 응용 프로그램을 입력받아 상기 입출력포트(20)를 통해 입력된 데이터를 상기 아날로그/디지탈 변환기(50)에서 디지탈 신호로 변환하여 입력받아 연산한 후 이를 상기 메모리(30)에 저장하거나 상기 입출력포트(20)를 통해 외부로 출력하는 중앙 처리 장치(40)로 구성되며, 이와같이 구성된 종래 기술에 따른 동작과정을 상세히 설명한다.
우선, 중앙 처리 장치(40)는 메모리(30)에 저장된 응용 프로그램을 입력받아 이를 수행하여 각부의 동작을 제어하게 되고, 이에 따라 외부에서 데이터를 입력받은 입출력 포트(20)는 이를 상기 중앙 처리 장치(40)의 제어를 받아 데이터 버스(10)로 출력하게 된다.
그리고, 상기 입출력 포트(20)를 통해 상기 데이터 버스(10)로 입력된 아날로그 신호인 데이터는 아날로그/디지탈 변환기(50)에서 디지탈 신호로 변환되어 출력되고, 이를 입력받은 상기 중앙 처리 장치(40)는 이를 연산한 후, 상기 메모리(30)에 저장하거나 상기 입출력 포트(20)를 통해 외부로 출력하게 된다.
상기와 같이 종래 원타임 프로그램머블 칩이나 마스트 칩을 사용한 마이크로 콘트롤러에 있어서 아날로그/디지탈 변환 특성을 테스트하는 경우 테스트 장비를 사용한 테스트에는 별 문제가 없으나, 테스트 장비를 사용하지 않고 실제 시용자 환경하에서는 아날로그/디지탈 변환 특성을 테스트할 수 없는 문제점이 있었다.
따라서, 본 고안은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 외부 제어신호에 의해 자체 아날로그/디지탈 변환 특성을 테스트하는 테스트부를 구비하여 자체 특성 평가의 수행이 가능하도록 한 마이크로 콘트롤러를 제공함에 그 목적이 있다.
도 1은 종래 마이크로 콘트롤러의 구성을 보인 블록도.
도 2는 본 고안 마이크로 콘트롤러의 구성을 보인 블록도.
***도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명***
200 : 테스트부 210 : 에지 디텍터
220 : 레지스터 230 : 벡터 어드레스 생성기
AND : 논리곱 게이트 OR : 논리합 게이트
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안의 구성은 외부에서 데이터를 입력받아 데이터 버스로 출력하거나 상기 데이터 버스를 통해 데이터를 입력받아 외부로 출력하는 입출력 포트와; 응용 프로그램 및 테스트 모드 프로그램을 저장함과 아울러 연산된 데이터를 저장하는 메모리와; 제어신호에 의해 아날로그 신호를 입력받아 이를 디지탈 신호로 변환하여 출력하는 아날로그/디지탈 변환기와; 테스트 모드 신호, 채널 선택 신호 및 테스트 시작 신호를 입력받아 아날로그/디지탈 변환기의 실제 특성을 테스트하는 테스트부와; 상기 테스트부의 테스트 신호에 의해 상기 테스트 모드 프로그램을 읽어 상기 아날로그/디지탈 변환기에서 아날로그/디지탈 변환 동작을 수행하게 하는 중앙 처리 장치로 구성하여 된 것을 특징으로 한다.
상기 테스트부의 구성은 각각 테스트 모드 신호, 채널 선택 신호 및 테스트 시작 신호를 입력받는 변환 시작핀, 채널 선택핀 및 변환 시작핀과; 상기 변환 시작핀을 통해 입력되는 테스트 시작 신호를 검출하는 에지디텍터와; 상기 에지디텍터의 출력신호를 입력받아 셋신호를 출력하는 레지스터와; 상기 테스트 모드핀을 통해 입력되는 테스트 모드 신호와 상기 레지스터의 출력신호를 입력받아 이를 논리곱 연산하여 출력하는 논리곱 게이트와; 리셋신호와 상기 논리곱 게이트의 출력신호를 입력받아 이를 논리합 연산하여 출력하는 논리합 게이트와; 상기 논리곱 게이트 및 논리합 게이트의 출력신호를 입력받아 테스트 모드 프로그램이 저장된 어드레스인 벡터 어드레스를 출력하는 벡터 어드레스 생성기로 구성하여 된 것을 특징으로 한다.
이하, 본 고안에 따른 일실시예에 대한 동작과 작용효과를 첨부한 도면을 참조하여상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2는 본 고안 마이크로 콘트롤러의 구성을 보인 블록도로서, 이에 도시한 바와 같이 외부에서 데이터를 입력받아 데이터 버스(10)로 출력하거나 상기 데이터 버스(10)를 통해 데이터를 입력받아 외부로 출력하는 입출력 포트(100)와; 응용 프로그램과 테스트 모드 프로그램을 저장함과 아울러 연산된 데이터를 저장하는 메모리(110)와; 제어신호에 의해 아날로그 신호를 입력받아 이를 디지탈 신호로 변환하여 출력하는 아날로그/디지탈 변환기(120)와; 테스트 모드 신호, 채널 선택 신호 및 테스트 시작 신호를 입력받아 상기 아날로그/디지탈 변환기(120)의 실제 특성을 테스트하는 테스트부(200)와; 상기 테스트부(200)의 테스트 신호에 의해 상기 테스트 모드 프로그램을 읽어 상기 아날로그/디지탈 변환기(120)에서 아날로그/디지탈 변환 동작을 수행하여 출력하게 하는 중앙 처리 장치(130)로 구성하며, 상기 테스트부(200)는 각각 상기 테스트 모드 신호(TMS), 채널 선택 신호(CSS) 및 테스트 시작 신호(TSS)를 입력받는 테스트 모드핀, 채널 선택핀 및 변환 시작핀(미도시)과; 상기 변환 시작핀을 통해 인가되는 테스트 시작 신호(TSS)를 검출하는 에지디텍터(210)와; 상기 에지디텍터(210)의 출력신호를 입력받아 셋신호를 출력하는 레지스터(220)와; 상기 테스트 모드핀을 통해 입력되는 테스트 모드 신호(TMS)와 상기 레지스터(220)의 출력신호를 입력받아 이를 논리곱 연산하여 출력하는 논리곱 게이트(AND)와; 리셋신호(RESET)와 상기 논리곱 게이트(AND)의 출력신호를 입력받아 이를 논리합 연산하여 출력하는 논리합 게이트(OR)와; 상기 논리곱 게이트(AND) 및 논리합 게이트(OR)의 출력신호를 입력받아 상기 데이터 버스(10)를 통해 상기 중앙 처리 장치(130)로 벡터 어드레스를 출력하는 벡터 어드레스 생성기(230)로 구성하며, 이와 같이 구성한 본 고안에 따른 동작과정을 상세히 설명한다.
우선, 일반적인 동작은 종래 도 1과 동일하게 동작한다. 즉, 중앙 처리 장치(130)는 메모리(110)에 저장된 응용 프로그램을 입력받은 이를 통해 외부 아날로그 데이터를 입출력 포트(100)를 통해 입력받아 아날로그/디지탈 변환기(120)에서 디지탈 신호로 변환하여 상기 입출력 포트(100)를 통해 외부로 출력한다.
그러나, 테스트 장비에서가 아닌 실제 사용자 환경에서 상기 아날로그/디지탈 변환 동작 특성을 테스트하고자 하는 경우, 테스트 모드핀을 통해 테스트 모드 신호(TMS)를 고전위로 입력하여 테스트부(200)를 인에이블시킨후, 채널 선택핀을 통해 채널 선택 신호(CSS)를 상기 중앙 처리 장치(130)로 입력하여 상기 입출력 포트(100)에 입력될 아날로그신호의 입력 채널을 선택한다.
그리고, 에지 디텍터(210)는 변환 시작핀을 통해 테스트 시작 신호(TSS)가 인가되는지를 감지한다.
따라서, 상기 테스트 시작 신호(TSS)가 인가되면, 상기 에지 디텍터(210)는 이를 감지하여 레지스터(220)로 출력하고, 상기 레지스터(220)는 상기 에지 디텍터(210)의 감지 신호를 입력받아 고전위의 셋신호를 출력한다.
그리고, 상기 고전위의 테스트 모드 신호(TMS)와 상기 레지스터(220)의 고전위 셋신호를 입력받아 논리곱 게이트(AND)는 이를 논리곱 연산하여 고전위를 논리합 게이트(OR) 및 벡터 어드레스 생성기(230)로 출력하고, 상기 고전위 출력신호를 입력받은 상기 논리합 게이트(OR)는 고전위를 상기 중앙 처리 장치(130)와 백터 어드레스 생성기(230)로 출력한다.
따라서, 상기 고전위의 논리합 게이트(OR) 및 논리곱 게이트(AND)의 출력신호를 입력받은 벡터 어드레스 생성기(230)는 테스트 모드 프로그램이 저장된 처음 어드레스의 번지인 벡터 어드레스를 데이터 버스(10)를 통해 상기 중앙 처리 장치(130)로 출력한다.
이때, 상기 고전위 논리합 게이트(OR)의 출력 신호를 입력받은 상기 중앙 처리 장치(130)는 현재 연산하던 데이터를 메모리(110)에 저장한 후, 현재 수행중인 동작을 정지하고, 상기 데이터 버스(10)를 통해 인가되는 상기 벡터 어드레스 생성기(230)의 벡터 어드레스를 입력받아 상기 벡터 어드레스에 해당되는 상기 메모리(110)내 어드레스에 저장된 테스트 모드 프로그램을 수행한다.
즉, 상기 입출력포트(100)내 선택된 채널을 통해 입력되는 아날로그 신호를 상기 아날로그/디지탈 변환기(120)에서 디지탈 신호로 변환하는 동작을 수행한 후, 그 결과값을 상기 선택된 입출력 포트(100)내 채널을 통해 외부로 출력한다.
상기에서 상세히 설명한 바와 같이, 본 고안은 외부의 테스트 제어 신호를 인가받아 자체적인 아날로그/디지탈 특성을 테스트하는 테스트부를 구비하여 테스트 장비를 통한 아날로그/디지탈 특성뿐만 아니라 실제 사용자 환경하에서 아날로그/디지탈 변환 특성을 테스트함으로써, 사용자에게 더 효율적인 정보를 제공하여 신뢰도를 향상시킴과 아울러 불량 분석을 훨씬 용이하게 수행하는 효과가 있다.
또한, 테스트 모드 신호, 채널 선택 신호, 테스트 시작 신호를 입력받는 핀의 경우, 다른 핀과 겸용으로 사용할 수 있어 추가적인 핀이 필요없으며, 원타임 프로그램머블 칩이나 마스트 칩에 모두 적용할 수 있다.
Claims (1)
- 외부에서 데이터를 입력받아 데이터 버스로 출력하거나 상기 데이터 버스를 통해 데이터를 입력받아 외부로 출력하는 입출력 포트와; 응용 프로그램 및 테스트 모드 프로그램을 저장함과 아울러 연산된 데이터를 저장하는 메모리와; 제어신호에 의해 아날로그 신호를 입력받아 이를 디지탈 신호로 변환하여 출력하는 아날로그/디지탈 변환기와; 변환 시작핀을 통해 입력되는 테스트 시작 신호를 검출하는 에지디텍터와; 상기 에지디텍터의 출력신호를 입력받아 셋신호를 출력하는 레지스터와; 테스트 모드핀을 통해 입력되는 테스트 모드 신호와 상기 레지스터의 출력신호를 입력받아 이를 논리곱 연산하여 출력하는 논리곱 게이트와; 리셋신호와 상기 논리곱 게이트의 출력신호를 입력받아 이를 논리합 연산하여 출력하는 논리합 게이트와; 상기 논리곱 게이트 및 논리합 게이트의 출력신호를 입력받아 테스트 모드 프로그램이 저장된 어드레스인 벡터 어드레스를 출력하는 벡터 어드레스 생성기와; 상기 벡터 어드레스 생성기의 벡터 어드레스에 의해 상기 메모리에서 테스트 모드 프로그램을 읽어 상기 아날로그/디지탈 변환기에서 아날로그/디지탈 변환 동작을 수행하여 출력하게 하는 중앙 처리 장치로 구성하여 된 것을 특징으로 하는 마이크로 콘트롤러.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019990004900U KR200238130Y1 (ko) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | 마이크로 콘트롤러 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2019990004900U KR200238130Y1 (ko) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | 마이크로 콘트롤러 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20000018735U KR20000018735U (ko) | 2000-10-25 |
| KR200238130Y1 true KR200238130Y1 (ko) | 2001-10-27 |
Family
ID=54760914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR2019990004900U KR200238130Y1 (ko) | 1999-03-26 | 1999-03-26 | 마이크로 콘트롤러 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR200238130Y1 (ko) |
-
1999
- 1999-03-26 KR KR2019990004900U patent/KR200238130Y1/ko not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20000018735U (ko) | 2000-10-25 |
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