KR20000053341A - 분석 장치 - Google Patents

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KR20000053341A
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페르킹스얼라인안느
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Abstract

본 발명에 의한 표면 플라스몬 공진 장치는 가용성 애널리트(예컨대, 단백질), 또는 입자 애널리트(예컨대, 셀)를 검출하기 위한 것으로, (a) 상기 애널리트를 결속하는 가능한 센서 표면을 갖는, 예컨대 센서 슬라이드 등의 센서를 수납하기에 적합한 센서 블록과, (b) 상기 센서 블록 상의 센서 슬라이드의 센서 표면에 에버네센트 파를 발생시키는 것이 가능한 광원과, (c) 상기 센서 표면으로부터 내반사되는 광원으로부터의 광을 검출하는 것이 가능한 제 1 검출기와, (d) 상기 센서 표면에 결속되어 있는 애널리트로부터 산란 또는 방사되는 광을 검출하는 것이 가능한 제 2 검출기(예컨대, 비디오 카메라)를 구비한다. 상기 장치는, 선택적으로, 상기 센서 표면에 결속되어 있는 애널리트로부터 산란 또는 방사되는 광의 광도를 증가시키기 위한 제 2 광원을 더 구비하며, 이 광원으로부터 전달되어 상기 제 1 검출기에 의해 검출되는 광의 광량을 최소화하도록 배치하는 것이 바람직하다. 또한, 본 명세서에는, 상기 장치, 및 상기 장치의 센서 표면에 샘플을 노출시키는 단계를 포함하는 샘플에서 애널리테스를 검출하기 위한 방법에 사용하기에 적합한 센서를 개시하고 있다.

Description

분석 장치{Analytical apparatus}
용액으로부터 가용성의 작은 애널리테스를 검출하기 위해 표면 플라스몬 공진(SPR) 장치를 사용하는 것은 공지되어 있다(예컨대, 런던, Jai press Ltd 사의 발행물, "A Research Annual Vol 1. 1991" 에 Ed. A P F Turner에 의해 발표된 논문 "Advances in Biosensors" 참조)
요약하면, SPR 장치는 일반적으로 편광을 발생하는 광원, 외측 부분이 금속으로 피복되고 샘플 용액에 접촉될 수 있는 센서, 및 센서에서 내반사되는 광을 검출하는 수단을 구비하고 있다.
애널리테스가 결속되어 있지 않은 경우에는, 광은 센서 및 샘플 용액의 반사 계수(RI)로 나타나는 입사각에서 전부 내반사된다. 특정한 입사 각('SPR 각')에서, 편광의 내반사에 의해 셋업(set up)되는 에버네센트 파(evanescent wave)와 금속의 상호 반응은 반사광의 강도를 떨어뜨리는 원인이 된다. 이 광도의 감소는 광 검출기를 통해 관찰될 수 있다.
애널리테스가 센서 표면에서 결속되어 있으면, 상기 에버네센트 영역 내에서, 센서의 RI가 변경되며 이것은 SPR 각을 교란시킨다. 이 교란은 광 센서를 사용하면 관찰할 수 있으며, 애널리테스의 표면 농도에 관계된다.
SPR 검출은, 학술적으로는, 통상 가용성이며 입자로 된 애널리테스, 예컨대 단백질과 핵산 등의 유생 분자(biomolecules)의 사용에 제한되어 있으며, 단백질과 핵산 등은 특히 상기 에버네센트 영역 내에서 적절한 리간드(ligand)를 사용함으로써 결속된다.
그러나, 최근까지, 해당 기술 분야의 SPR 장치는, 가용성과 불가용성의 애널리테스를 포함하고 있는 샘플 물질을 정확하게 검출하는 것에는 적합하지 않게 되어 있다. 그 이유는 특히 수 ㎛의 직경을 갖는 거의 구형의 셀이 상기 에버네센트 영역에서 상호 반응하고, 꽤 높은 농도(예컨대, 107- 108/ml)만이 SPR에서 검출될 수 있도록 한 방식에 제한되어 있기 때문이다. 이에 의해, (예컨대) 단백질 항원에 대항하는 셀을 검출하기 위해서는, 높은 비용과 많은 시간을 필요로 하며 많은 실험이 필요한 또다른 장치가 필요하게 되었다. 예컨대, 특정 검출에 이어서, 숙련된 기술을 사용하면 셀 검출이 빈번해진다.
본 발명은 일반적으로 애널리테스(analytes) 검출용 장치에 관한 것이다. 본 발명은 또한 그러한 장치를 채택하고 있는 방법에 관한 것이다.
도 1은 실시예 1를 상세히 도시한 것으로서, 가용성 또는 입자 애널리테스를 검출하기 위한 표면 플라스몬 공진 장치의 개략도.
도 2는 실시예 1의 전체 구성의 블록도.
도 3은 상기 장치가 복수개의 애널리테스를 검출하는데 어떻게 사용되는 지를 도시하는 도면으로서, 도 3(a) 및 (b)는 광원, 반-실린더(및 검출 표면), 및 CCD 어레이 디텍터를 개략적으로 도시하며, 도 3(c)은 CCD 어레이의 상세도.
도 4는 반-실린더 센서의 금속화된 검출 표면으로부터 광을 산란시키는 결속된 입자를 도시하는 도시도-광은 비디오 카메라(도시하지 않음)에 의해 검출될 수 있다-.
도 5는 은으로 피복된 표면 상의 박테리아 입자로부터 광이 산란하는 것을 도시하는 도시도(도시된 광의 포인트는 에드위니아 헤르비콜라(Erwinia herbicola)로부터 산란된 광을 나타내고 있다).
본 발명의 제 1 양상에서는, 가용성의 입자 애널리테스를 검출하기 위한 표면 플라스몬 공진 장치를 개시하고 있으며, 상기 장치는:
(a) 센서를 수납하기에 적합한 센서 블록으로서, 상기 센서는 상기 애널리테스의 결속이 가능한 금속화된 센서 표면을 제공하는, 상기 센서 블록과,
(b) 상기 센서 블록의 센서의 센서 표면에 에버네센트 파를 발생시킬 수 있는 광원과,
(c) 상기 광원으로부터의 광을 검출할 수 있는 제 1 검출기로서, 상기 광은 상기 센서 표면에서 내반사되는 상기 제 1 검출기와,
(d) 상기 센서 표면에 결속된 애널리테스로부터 산란되거나 방사되는 광을 검출할 수 있는 제 2 검출기를 구비한다.
센서는 슬라이드로 하는 것이 적합하다.
애널리테로서는 입자인 것, 또는 예컨대 박테리아나 다른 셀로서 포자, 바이러스, 또는 비리온 등의 유생 분자, 또는 단백질 또는 뉴클레오티드 등의 유생 분자를 포함하는 불가용성의 애널리테스가 있다. 박테리아로서 가능한 것은 크라이토스포리듐(cryptosporidium), 대장균, 살모렐라균 등이 있다.
따라서, 본 발명의 장치는, 애널리테스를 포함하는 것으로 주지된 다양한 종의 샘플에서도 사용될 수 있다. 예컨대, 물 등의 환경 샘플 또는 생물학적 샘플 등이 가능하다.
대체적으로, 본 발명의 장치는, 제 2 검출기가, 가용성 애널리테스가 센서의 표면에 결속되어 있는 것을, 센서의 표면에서 내반사되는 광의 광도 변화를 검출함으로써, 검출하고, 한편 제 1 검출기는 센서 표면에 결속되어 있는 애널리테스로부터 산란 또는 방사되는 광을 검출하는 것에 의해 센서의 표면에 입자 애널리테스가 결속되어 있는 것을 검출하도록 함으로써, 가용성의 입자 애널리테스의 고감도 검출이 가능하도록 한 것이므로, 관련 기술 분야에서 현재 사용되고 있는 방법 및 장치에 비해 신속하고 저렴하며 감도가 높은 대안적인 장치를 제공할 수 있다.
상기 장치에서는, 검출기의 다른 기능을 억제하는 것이 중요하다. 제 2 검출기는, 센서 표면으로부터 내반사되는 광을 검출하도록 배치되어야 한다. 상기 내반사되는 광의 광도는, 센서와 샘플 간의 계면의 굴절 계수를 변경하는 센서 표면에 애널리테스(특히 가용성 애널리테스)가 결속되어 있을 때 발생되는 SPR 효과에 의존하고 있다. 후술하는 바와같이, 검출기는 2-D 어레이 검출기이어도 좋다.
대조적으로, 제 1 검출기는 센서 표면의 에버네센트 파 필드(evanescent field)에서 상호 작용하는 애널리테스(특히 입자인 것)로부터 산란 또는 (경우에 따라 형광에 의해) 방사되는 광을 검출한다. 이에 의하면, 순수한 SPR를 사용하여 구할 수 있는 것보다 크기가 어느 정도(order) 큰 입자 애널리테스를 검출하기 위한 감도가 주어진다. 분명한 것은 채택된 제 1 검출기의 성능에 의해 검출 감도와 정확도가 결정되며, 일실시예에서는, 제 1 검출기를 사용함으로써 에버네센트 파 영역 내에서 결속되는 1개의 셀을 검출함과 함께 분석할 수 있고 동시에 가용성 분자의 벌크 결속 효과도 검출할 수 있다.
제 1 검출기는 비디오 카메라인 것이 좋으나(예컨대, 전하 결합 검출기(CCD) 카메라), 애널리테스로부터 산란 또는 방사되는 광을 검출하는 것에 적합한 어떤 종류의 광 검출기, 예컨대 2-d 다이오드, 포토멀티플라이어 등을 사용하여도 좋다.
일실시예에서, 제 1 검출기는, 상기 표면에서 광원과 동일한 측 방향에 배치되고, 상기 표면에 애널리테스가 결속될 때, 후방 산란되거나 방사되는 광을 검출하는 것이 가능하게 되어 있다.
본 명세서에 사용되는 용어 '광원'은, 원격지의 발광 소스에 부착된 광섬유의 단부를 포함하는, 어떤 발광 소스를 의미하고 있다.
다른 실시예에서, 제 1 검출기는, 상기 표면에서 광원 검출기와는 대향하는 측 방향에 배치되고, 상기 표면에 애널리테스가 결속될 때, 산란 또는 방사되는 광을 검출하는 것이 가능하게 되어 있다.
또한 경우에서, 제 1 검출기는 센서 표면에 대해 예컨대 거의 수직인 소정 각으로 산란 또는 방사되는 광을 검출하는 것이 가능하도록 배치되어 있다. 이것은 검출기 표면에서 전부 내반사되는 광의 간섭을 최소화한다.
일반적으로, 센서 블록은 SPR 검출과 관련된 기술 분야에 숙련된 사람에게는 주지되어 있는 프리즘, 또는 반-실린더(hemisilynder)를 포함한다. 이 센서 블록은 금속화된 표면을 갖는, 부착가능한 센서를 수납하기에 적합하다. 이러한 구성은 슬라이드와 같은 센서를 설치하기 위한 영역을 마련함으로써 간단하게 이루어질 수 있고, 특히 부착가능의 센서가 수납될 수 있도록, 예컨대 그루브 또는 적절한 크기의 웰(well)로 형상화되거나 구성하여도 좋다.
또한, 센서 블록과 센서, 또는 개중에 어떤 1개는 플로우(flow) 채널의 한 벽(wall)의 전체를, 또는 일부를 형성할 수 있으며, 상기 플로우 채널을 통해서는 액체 샘플이 금속화한 표면과 접촉하면서 흐를 수 있다. 그러한 플로우 채널을 갖는 장치는 본 발명의 일양상의 일실시예를 형성한다.
금속화된 센서 표면은 특히 그 표면에 유생 분자를 결속하는 것이 가능한 분자의 고정화를 용이하게 하도록 적응되거나 기능화되는 것이 좋다. 예컨대, 센서는 친수성의 덱스트란(dextran) 표면을 가질 수 있다. 특히 항원 애널리테스를 결속하기 위해, 센서 표면에는 항체가 고정될 수 있다. 대안적으로, 폴리뉴클레오티드 애널리테스를 결속하기 위해, 폴리뉴클레오티드 프로브를 고정하여도 좋다.
센서 표면에 애널리테스가 결속될 때, 산란 또는 방사되는 광의 검출을 용이하게 하기 위해서는, 예컨대 항체를 표면의 별개 영역에 결속시키는 것이 좋다. 이렇게 함으로써, 이들 부분들은, 표면에서, 별개의 밝은 부분과 어두운 부분을 대조시키는 것으로, 제 2 검출기에 의해 가시화될 수 있다(경우에 따라 분석될 수 있다). 상기 어두운 부분에는 입자가 결속되어 있지 않다.
상기 표면에는, 보다 큰 1타입의 항원을 결속하기 위해, 보다 큰 1타입의 거대 입자가 고정될 수 있다. 항원이 단단하게 결속되었는지를 용이하게 식별하기 위해서, 예컨대 다른 타입의 항체가 주지의 개별 영역에 결속될 수 있다.
본 발명의 또다른 실시예에서, 상기 장치는 제 2 광원을 포함한다. 이 제 2 광원은, 센서의 표면에 애널리테스가 결속될 때, 그 표면으로부터 산란 또는 방사되는 광의 광도를 증가시키기 위해 사용될 수 있다. 이 실시예는 추가의 구성요소를 필요로 하고 있지만, 상기 광원은 광 산란이나 형광(예컨대, 파장, 센서 표면에 대한 입사각, 광도)에 최적화될 수 있다.
제 2 광원은, 그것으로부터 나와 손실되는 광의 양을 최소화하도록 배치되는 것이 소망되며, 상기 광은 제 2 검출기에 의해 검출된다.
이것은, 도면에 도시된 바와같이, 제 2 광원을, 그것으로부터 나온 광이, 센서 표면으로부터 제 2 검출기로 내반사되는 제 1 광원의 광 경로와 동일한 광 경로를 따르되, 상기 광 방향과는 반대 방향으로 전달되도록 배치함으로써 행해진다.
본 명세서에 채택된 광원은, 관련 기술 분야에 숙련된 기술을 갖는 사람들이라면, 별 어려움없이 선택할 수 있다. 광도를 최대로 하여 감도를 높이기 위해서, 각 광원은 레이저 광, 또는 발광 다이오드이어도 좋다.
본 발명의 제 2 양상은 상술한 바와같이, 상기 장치의 센서 표면을 샘플에 노출하는 단계를 포함하는 샘플에서 애널리테스를 검출하기 위한 방법을 개시하고 있다. 이 애널리테스는 제 1 또는 제 2 검출기에 의해 검출될 수 있다.
예컨대, 센서 표면에서 내반사되는 광의 광도 변화를 검출하는 것에 의해 샘플에서 가용성 애널리테스를 검출할 수 있다. 센서의 표면에 결속된 애널리테스로부터 산란 또는 방사되는 광을 검출하는 것에 의해 샘플에서 입자 애널리테스를 검출할 수 있다. 상기 장치를 가용성 애널리테스 또는 입자 애널리테스를 동시에 검출할 수 있도록 배치하여도 좋다.
제 2 검출기를 보유하기에 적합한 수단은, 예컨대 비디오 카메라와 관련 광학 장치가 수납되도록 배치되거나 규격화된 홀더 또는 클램프를 포함할 수 있으므로, 센서 표면으로부터 산란 또는 방사되는 광을 검출할 수 있다. 소정의 위치에서 제 2 검출기의 기능, 예컨대 포커싱이 가능하도록, 상기 홀더 또는 클램프를 소정의 방향으로 이동가능하게 하여도 좋다.
바람직하게는, 상기 보유 수단은 예컨대 거의 수직인 소정 각도에서 센서 표면으로 방사되는 광을 검출하는 것이 가능하도록 제 1 검출기를 보유하기에 적합하게 되어 있다.
본 발명에 의한 장치의 제 2 검출기는 제 2 광원을 수납하도록 적응될 수 있으며, 상술한 바와같이, 상기 제 2 검출기를 상기 제 2 광원으로부터 이격시켜 배치함으로써, 소정 위치에서 제 2 광원과 제 2 검출기와의 간섭을 최소화하도록, 제 2 광원을 구성할 수 있다.
본 발명의 제 5 양상은 상술한 장치에 적합하며 금속화된 표면을 갖는 센서에 대한 것이다. 특히, 상기 센서는 그 센서로부터 방사 또는 산란되는 광이 제 1 검출기에 전달될 수 있도록 한 것이다. 상기 센서는 슬라이드를 포함할 수 있고, 그 표면은, 상술한 바와같이, 별개의 섹션으로 구분될 수 있다.
실시예 1: 가용성 또는 입자로 된 애널리테스를 검출하기 위한 표면 플라스몬 공진 장치
도 1은, 당업자라면 (본 실시예에 비추어서) 능히 구성할 수 있는, 가용성이거나 입자로 되어 있는 애널리테스를 검출하기 위한 표면 플라스몬 공진 장치의 개략도이다. 상기 장치의 구성요소에 대한 블록도는 도 2에 도시되어 있다.
이 시스템은 소망하는 배열로 재배치할 수 있다. 예컨대 편광자가 필요하다면 반-실린더의 뒤에 배치하여도 좋다.
도 1을 참조하면, 제 1 검출기('CCD 어레이')에 이르는 광 경로는, 좌측의 광원으로부터 시작하여, 빔 스플리터(광의 일부를 기준 검출기로 분광한다)와, 편광자, 및 초점 렌즈를 통해, 반-실린더의 내면에서 반사되어 시준 렌즈를 통해서 CCD 어레이에 도달한다.
도 3(a)에는 상기 광 경로가 개략적으로 도시되어 있다. 시준(視準)되어 있는 소스는, 도 3(b)에 도시된 바와같이, 입사각 범위에 걸쳐서 반-실린더 표면을 연속적으로 조사하기 위해 사용된다. CCD 어레이는 개별 광 센서로 되어 있는 픽셀 어레이로 구성되어 있고, 각 센서는 상이한 반사 각을 검출하거나, 도 3(c)에 도시된 바와같이, 상이한 샘플 애널리테스(이 경우, 4개의 상이한 샘플)를 검출하도록 사용된다. 이것은 부품을 이동시키지 않고도 모니터링을 빠르게 할 수 있게 한다.
도 1을 참조하면, 제 2 검출기('CCD 카메라')에 이르는 광 경로는, 좌측의 광원으로부터 시작하여, 빔 스플리터(광의 일부를 기준 검출기로 분광한다)와, 편광자, 및 초점 렌즈를 통해 반-실린더에 이르도록 되어 있다.
본 예에서는 우측의 가시 레이저 다이오드로부터의 광의 광도를 고려하고 있다. 상기 광은 CCD 어레이로부터 나와 우측의 시준 렌즈를 통해 반-실린더에 전달된다. 반-실린더의 표면 상에 에버네센트 필드(evanescent field)를 발생시키고 또한 그 표면을 금속화 처리하면, 도 4에 도시된 바와같이, 결속된 입자들이 광을 산란시키게 된다. 이 산란광은 렌즈를 통해 포커싱되고 CCD 카메라에 의해 검출된다.
물론, 상기 입자들이 형광성이라면, 시약(예컨대, 플루오레세인: fluorescein)과, 당업자에게 주지된 방법을 사용함으로써, CCD 카메라가 에버네센트 필드에 의해 입자가 여기될 때의 방사 광을 검출할 수 있다.
실시예 1에 의한 장치는, 해당 기술 분야의 SPR 기기에 상술한 구성요소를 추가로 갖는 것을 토대로 구성하여도 좋다. 상기 기기와 구성요소는 상업적으로 이용가능한 것일 수 있다. 예컨대, 광원은 광섬유 통신에 사용되는 에지 에미팅 LED(edge emitting LED)(예컨대, EG&G 타입의 S86018)로 하면 유리하다. 인공물(artifacts)을 최소화하기 위해, 안정화된 전원 공급 장치를 사용하여도 좋다.
센서는 금속으로 피복된 마이크로스코프 슬라이드(또는 유사한 두께를 갖는 유전체)이어도 좋으며, 상기 슬라이드와 반-실린더는, 유사한 굴절 계수들 중에서 유동적으로 계수 정합된다. 반-실린더의 일부는 상기 슬라이드를 수납하기 위해 그러운드 오프(ground off)될 수 있다.
CCD 어레이(약 20㎛2의 화소를 갖는다)는 비디오 용으로 개발된 타입이어도 좋다. CCD로부터의 판독은 샘플 에리어(sample-area) 행을 판독용 또는 행 레지스터에 트랜스퍼링(transfering)함으로써 달성된다. 잡음을 제거하기 위해, CDS(correlated double sampling)를 사용하여도 좋다. 아날로그 출력은 ADC를 통해 디지털 신호 처리기에 전달된다. 상기 처리기로서 적합한 것은 아날로그 디바이스(ADSP-2105)가 있다. 이 디바이스는 양방향 병렬 포트를 통해 외부 호스트 PC와 통신을 행할 수 있다.
CCD 비디오 카메라는, 예컨대 하마마츠사(일본)가 판매한 바와같은, 종래 상업적으로 이용가능한 것이면 좋다.
실시예 2 : 표면 플라스몬 공진 장치의 사용 방법
사용 방법에 있어서, 시준됨 빔을 따라 소스의 강도 차를 수정하기 위해, 실험전에 교정을 행할 수 있다. 다음에, 센서 표면은 샘플에 노출되게 된다. 호스트 컴퓨터는 반사율과 각 스캔을 사용하여 각도를 모니터링한다. 이때, 데이터가 소정 시간 기간에 걸쳐 획득되고 호스트 PC에 의해 표시된다.
실시예 3 : 제 2 검출기를 사용한 입자 애널리테스의 검출
광 산란 기술을 실예를 들어 설명하면, 글래스 마이크로스코프 슬라이드는 최적의 표면 플라스몬 공진(48nm)을 위해 은(silver)으로 피복된다. 다음에, 이 슬라이드는 글래스로 된 반-실린더 프라이즘에 설치되고, 3mW 헬리움-네온 레이저로 조사된다. 이 슬라이드는 인산염을 완충하는 식염수에서 1×106/ml 의 박테리아(Erwinia herbicola) 막으로 피복된다. 다음에, 상기 박테리아는 은으로 피복된 마이크로스코프 슬라이드의 표면에 흡착되도록 된다.
SPR 표면 위의 CCD 어레이로부터의 출력은 256 밝기 레벨를 갖는 노르말 비디오 출력이다. 은 피복 면을 관찰하면, 처음에 CCD 카메라 상의 전체 픽셀에는 낮은 리딩(reading)(1-20)이 주어져 있고, 그 표면은 어둡게 나타나고 있음을 알 수 있다. 표면에는 박테리아가 부착되어 있기 때문에, 특히 표면에 박테리아가 존재하는 영역에 얼라인(aligned)된 픽셀에 대한 밝기는 증가된다. 표면의 박테리아에 의해 산란된 광으로부터 나타나는 최대의 밝기 레벨은 230이다. 상기 표면은, 어두운 배경에 밝은 점이 나타나는 양상을 보이며, 상기 밝은 점은 표면 상의 박테리아와 관련된다(도 5참조).
대조적으로, 박테리아가 없는, 인산염 완충제의 세일린(saline) 막은 유사한 마이크로스코프 슬라이드의 은 표면을 피복하는 것에 사용된다. 이 때에는, 표면으로부터 어떤 산란도 관찰되지 않는다.

Claims (32)

  1. 가용성 또는 입자 애널리테스를 검출하기 위한 표면 플라스몬(plasmon) 공진 장치에 있어서,
    (a) 센서를 수납하기 위한 센서 블록으로서, 상기 센서는 상기 애널리테스를 결속하는 것이 가능한 금속화된 표면을 제공하는 상기 센서 블록과,
    (b) 상기 센서 블록에 배치될 때, 상기 센서 표면에 에버네센트파의 발생을 가능케 하는 광원과,
    (c) 상기 광원으로부터의 광 검출이 가능한 제 1 검출기로서, 상기 광은 상기 센서 표면에서 내반사되는 상기 제 1 검출기와,
    (d) 상기 센서 표면에 결속되는 애널리테스로부터 산란되거나 방사되는 광을 검출하는 것이 가능한 제 2 검출기를 구비하는 표면 플라스몬 공진 장치.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 입자 애널리테스는 원핵 셀, 유핵 셀, 바이러스 또는 비리온을 포함하는 리스트로부터 선택되는 표면 플라스몬 공진 장치.
  3. 제 1 또는 2 항에 있어서, 상기 가용성 애널리테스는 단백질, 핵산을 포함하는 리스트로부터 선택되는 유생 분자인 표면 플라스몬 공진 장치.
  4. 제 1 내지 3 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제 2 검출기는 비디오 카메라인 표면 플라스몬 공진 장치.
  5. 제 1 내지 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제 2 검출기는, 상기 광원과 동일한 표면 측 방향에 배치되고, 상기 표면에 애널리테스가 결속될 때, 후방산란되거나 방사되는 광을 검출하는 것이 가능하도록 되어 있는 표면 플라스몬 공진 장치.
  6. 제 1 내지 4 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제 2 검출기는, 상기 광원과 대향하는 표면 측 방향에 배치되고, 상기 표면에 애널리테스가 결속될 때, 산란되거나 방사되는 광을 검출하는 것이 가능하도록 된 표면 플라스몬 공진 장치.
  7. 제 5 또는 6항에 있어서, 상기 제 2 검출기는, 소정 각도에서, 상기 센서 표면에 산란되거나 방사되는 광을 검출하는 것이 가능하도록 배치되는 표면 플라스몬 공진 장치.
  8. 제 1 내지 7 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 센서 블록은 액체 샘플이 흐르게 되어 있는 플루(flow) 채널의 전체 또는 일부를 한정하는 표면 플라스몬 공진 장치.
  9. 제 1 내지 8 항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 센서 표면에 결속된 애널리테스로부터 산란 또는 방사되는 광의 광도를 증가시키기 위한 제 2 광원을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 표면 플라스몬 공진 장치.
  10. 제 9 항에 있어서, 상기 제 2 광원은, 그것으로부터 전달되며 제 1 검출기에 의해 검출되는 광의 광량을 최소화하도록 배치되는 표면 플라스몬 공진 장치.
  11. 제 10 항에 있어서, 상기 제 2 광원은, 상기 센서 표면에서 상기 제 1 검출기로 내반사되는 상기 제 1 광원의 광 경로와 동일한 광 경로를 따르되, 상기 광 방향과는 반대 방향으로 전달되도록 배치되는 표면 플라스몬 공진 장치.
  12. 제 9 내지 11 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 제 2 광원은 상이한 파장의 광을 상기 제 1 광원에 전달하는 표면 플라스몬 공진 장치.
  13. 제 1 내지 12 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 광원 또는 각 광원은 레이저 광원인 표면 플라스몬 공진 장치.
  14. 제 1 내지 13 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 광원 또는 각 광원은 발광 다이오드인 표면 플라스몬 공진 장치.
  15. 제 1 내지 14 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 센서 블록은 센서 슬라이드를 수납하기에 적합한 표면 플라스몬 공진 장치.
  16. 애널리테스를 검출하기 위한 표면 플라스몬 공진 장치에 있어서,
    (a) 센서를 수납하기에 적합한 센서 블록으로서, 상기 센서는 상기 애널리테스를 결속시키는 금속화된 센서 표면을 제공하는 상기 센서 블록과,
    (b) 상기 센서가 상기 센서 블록 상에 존재할 때, 상기 금속화된 센서 표면에 에버네센트 파를 발생시키는 것이 가능한 광원과,
    (c) 상기 광원으로부터 상기 센서 표면에서 내반사된 광을 검출하는 것이 가능한 제 1 검출기를 구비하며,
    (d) 상기 센서 표면에 결속된 애널리테스로부터 산란 또는 방사되는 광을 검출하는 것이 가능한 제 2 검출기를 수납하기에 적합한 수단을 또한 구비하는 것을 특징으로 하는 표면 플라스몬 공진 장치.
  17. 제 16 항에 있어서, 상기 제 2 검출기는 상기 센서 표면에 거의 수직으로 산란 또는 방사되는 광을 검출할 수 있도록 되어 있는 표면 플라스몬 공진 장치.
  18. 제 16 또는 17 항의 장치에 의해 상기 센서 표면에 결속된 애널리테스로부터 산란 또는 방사되는 광을 검출할 수 있도록 되어 있는 제 2 검출기.
  19. 제 1 내지 18 항중 어느 한 항의 장치에 사용하기 적합한 센서.
  20. 슬라이드를 구비하는 제 19 항에 의한 센서.
  21. 제 19 또는 20 항에 있어서, 거대 분자의 고정화, 특히 유생 분자를 결속시키는 것을 용이하게 하기 위해, 친수성의 덱스트란 표면을 갖는 센서.
  22. 제 19 내지 21 항중 어느 한 항에 있어서, 액체 샘플이 흐를 수 있도록 한 플로우 채널의 전체 또는 일부를 한정하도록 사용되는 센서.
  23. 제 19 내지 22 항중 어느 한 항에 있어서, 특히 항원 애널리테스를 결속시키기 위해 그 표면에 고착된 항체를 갖는 센서.
  24. 제 23 항에 있어서, 상기 항체는, 상기 표면에 애널리테스가 결속될 때, 산란 또는 반사되는 광의 검출을 용이하게 하기 위해서 표면의 부분을 분리하도록 결속되는 센서.
  25. 제 23 항에 있어서, 상기 표면은 1타입 이상의 항원을 결속시키기 위해, 1타입 이상의 항체가 고착되는 센서.
  26. 제 1 내지 17 항중 어느 한 항에 있어서, 센서를 더 구비하는 표면 플라스몬 공진 장치.
  27. 제 24 항에 있어서, 상기 센서는 제 18 내지 23 항의 센서인 표면 플라스몬 공진 장치.
  28. 제 26 또는 27 항의 장치의 센서 표면에 샘플을 노출시키는 단계를 포함하는 샘플에서 애널리테스를 검출하는 방법.
  29. 제 28 항의 방법의 사용을 포함하는 샘플에서의 가용성 애널리테스를 검출하기 위한 방법으로서, 센서 표면으로부터 내반사되는 광의 광도 변화가 검출되는 방법.
  30. 제 28 항의 방법의 사용을 포함하는 샘플에서의 입자 애널리테스를 검출하기 위한 방법으로서, 센서 표면에 결속된 애널리테스로부터 산란되거나 방사되는 광이 검출되는 방법.
  31. 제 28 내지 30 항중 어느 한 항에 있어서, 가용성이며 입자로 된 애널리테스들은 동시에 검출되는 방법.
  32. 제 1 내지 18 항과 제 26 항 또는 제 27 항의 어느 한 항에서 청구되고 도면에 참조된 바와같은 장치.
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