KR20000017564A

KR20000017564A - 금형이상 검출장치

Info

Publication number: KR20000017564A
Application number: KR1019990035690A
Authority: KR
Inventors: 가와사키히로아키; 히로시마유타카; 이시와타야스오; 아키나리치사토
Original assignee: 니시무로 아츠시; 후다바 덴시 고교 가부시키가이샤
Priority date: 1998-08-28
Filing date: 1999-08-26
Publication date: 2000-03-25
Also published as: TW504448B; JP2000071302A; US6379141B1; KR100341358B1

Abstract

이젝터 플레이트를 갖는 금형 파손을 사전에 검지할수 있는 금형이상 검출장치를 제공한다.

금형의 이젝터핀에 압력센서를 설치하고, 금형내 압력을 검지한다. 금형의 동작상태는 금형의 형판에 설치한 센서로 검지한다. 검지한 압력신호와, 금형의 동작상태를 나타내는 신호는 CPU 로 구성된 이상 검출수단으로 처리한다. 이상 검출수단에는 이젝터핀의 정상시의 이형 저항을 초과하는 기준치 D를 설정한다. 성형의 1사이클 AB에 있어서, 재료주입에 따라 금형내 압력은 증대한다. 성형완료후, C에서 이젝터핀에 의한 밀어내기가 행해진다. 감시기간 FF내에 있어서, D를 초과하는 이형저항이 확인될 경우, 이상 검출수단은 금형에 무엇인가의 이상이 발생할 가능성에 있다고 판단하여 통보신호를 출력하여 작업자에 경보를 내고, 성형기 운전을 정지시킨다.

Description

금형이상 검출장치{ABNORMAL MOLD DETECTOR}

본발명은 금형에서 성형품을 밀어내는 이젝터핀에 가해지는 압력을 계측하여 금형 파손 등의 이상을 사전에 검지하는 금형이상 검출장치에 관한 것이다.

도 9는 일반적인 사출성형기 등에 있어서, 사용되는 금형의 정면도이다. 이 도면에는 코어를 갖는 가동측 형판(100)이 도시되어 있다. 도시하지 않으나 가동측 형판(100)에 대면하여 고정측 형판이 있고, 이 고정측 형판에는 공동이 설치되어 있다. 가동측 형판(100)을 도시하지 않은 구동수단에 의해 구동하고, 양 형판을 개폐할수 있다. 가동측 형판(100) 측에는 형판 개폐에 따라 이동하는 이젝터 플레이트(101)가 있고, 이젝터 플레이트(101)에는 도시하지 않은 이젝터핀이 설치되어 있다. 그리고 상기 공동과 상기 코어 사이에 재료를 충전하여 형성된 성형품은 양형판이 상대적으로 이격될 때에 이젝터핀 선단으로 가압되어 형판에서 밀려나온다.

도 9a는 금형체결해제시에 이젝터 플레이트(101)가 가동측 형판(100)측에 이동한 상태를 나타낸다. 이때, 이젝터핀은 형판측으로 돌출하여 성형품을 압출하고 있다. 이것이 이젝터 플레이트(101)의 정상적인 밀어내기 위치이다. 도 9b는 밀어낸후, 금형체결된 상태를 나타낸다. 이때, 이젝터 플레이트(101)는 스프링에 의해 이동하고, 형판에서 가장 떨어진 위치로 복귀해 있다. 이것이 이젝터 플레이트 (101)의 정상적 복귀 위치이다. 이와같은 이젝터 플레이트(101)의 복귀위치 검지는 이젝터 플레이트(101)에 설치된 조작편(102)과 형판의 기판측에 설치된 리미트스위치(103)에 의해 행한다.

도 9a와 같이 밀어내기시에 리미트스위치(103)가 OFF(조작 정지상태)이면 정상이고, 도 9b와 같이 복귀시에 리미트 스위치(103)가 ON (조작된 상태)이면 정상이다. 따라서, 도 9c와 같은 복귀시에 리미트 스위치(103)가 OFF 상태를 유지하고 있으면 무엇인가의 이상이 있다고 판정된다.

도 9c와 같은 이젝터 플레이트(101)의 복귀 불량은 여러 원인으로 발생한다. 가령, 다음과 같은 원인이 고려된다. 성형 잔재나 이형제 잔재가 된 구멍에 들어가서 무엇인가의 원인으로 핀이 굽는다. 금형자체가 무엇인가의 원인으로 변형하는 등이다. 이들 원인에 의해 이젝터핀의 슬라이딩 저항은 증대하고, 이에따라 이젝터핀이 굽으면 슬라이딩 저항은 더욱 증대한다. 최후에는 이젝터핀이 꺾어지고, 또는 이젝터핀과 구멍 사이에 긁힘이 생겨 형판의 개폐불능이 되기도 한다.

상기한 이젝터 플레이트(101)의 복귀불량은 이젝터핀이나 핀구멍 주위에 긁힘등의 파손이 생긴 결과이다. 즉, 종래의 복귀위치 확인은 파손의 사후 검출이어서 복귀위치 불량이 검지되었을때는 금형이 이미 파손되어 있고, 금형 보수가 필요하여 시간과 비용이 필요하였다. 이와같은 종래의 장치는 금형파손을 사전에 검지할수 없었다.

본발명은 이젝터 플레이트를 갖는 금형 파손을 사전에 검지할수 있는 금형이상 검출장치를 제공함을 목적으로 한다.

과제를 해결하기 위한 수단

청구항 1 기재의 금형이상 검출장치는 성형품을 성형하는 복수의 형판(고정측 형판(12), 가동측 형판(13)과, 형판이 상대적으로 이격될 때에 상기 형판에서 성형품을 밀어내는 이젝터핀(24, 61)을 갖는 금형(B)에 적용되고, 상기 금형의 이상을 검출하는 금형이상 검출장치에 있어서, 상기 이젝터핀에 가해지는 압력을 검출하여 압력검출신호를 출력하는 압력검출수단(32; 간접식 압력센서(60)와 상기 성형품 밀어내기시에 상기 이젝터핀에 가해지는 압력이 기준치를 초과할 경우에 이상 검출신호를 출력하는 이상 검출수단(50)를 가지고 있다.

청구항 2 기재의 금형이상 검출장치는 공동을 갖는 제1 형판(고정측 형판 (12))과 코어를 가지고 상기 제1 형판에 대하여 상대적으로 이동가능하게 된 제2 형판(가동측 형판(13))과, 상기 공동과 상기 코어 사이에 재료를 충전하여 성형된 성형품을 상기 제1 및 제2 형판이 상대적으로 이격할 때에 선단으로 가압하에 상기 형판에서 밀어내는 이젝터핀(24,61)을 갖는 금형(B)에 적용되고, 상기 금형의 이상을 검출하는 금형이상 검출장치에 있어서, 상기 이젝터핀에 가해지는 압력을 검출하여 압력검출신호를 출력하는 압력검출수단(32; 가접식 압력센서(60))과 상기 이젝터핀이 상기 성형품을 밀어내는 감시타이밍을 설정하는 감시타이밍 설정수단(센서(52, 53))과, 상기 설정수단으로 설정된 상기 감시타이밍에 있어서, 미리 설정된 기준치와 상기 압력검출신호를 비교하여 상기 압력 검출신호가 상기 기준치를 넘을 경우에 상기 처리수단으로 부터의 지시를 받아 이상 검출신호를 출력하는 처리수단(51)을 가지고 있다.

청구항 3 기재의 금형이상 검출장치는 청구항 2 기재의 금형이상 검출장치에 있어서, 상기 감시타이밍 설정수단이 상기 금형에 설치되어 상기 금형에 의한 성형공정의 타이밍을 출력하는 센서(52,53)를 가지고 있는 것을 특징으로 하고 있다.

청구항 4 기재의 금형이상 검출장치는 청구항 2 기재의 금형이상 검출장치에 있어서, 상기 감시타이밍 설정수단이 상기 금형에 설치되어 상기 금형에 의한 성형공정의 타이밍을 출력하는 센서(52,53)와 상기 센서로 부터의 트리거 신호에 의해 작동을 개시하는 타이머(계시수단(56)를 가지고 있는 것을 특징으로 하고 있다.

청구항 5 기재의 금형이상 검출장치는 청구항 1 또는 2 또는 3 및 4 기재의 금형이상 검출장치에 있어서, 상기 기준치가 복수단계로 설정되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.

청구항 6 기재의 금형이상 검출장치는 청구항 1 또는 2 기재의 금형이상 검출장치에 있어서, 상기 압력 검출수단(32; 간접식 압력센서(60))에 의한 압력검지의 시간 간격이 상기 이젝터핀(24, 61)에 가해지는 상기 압력검지신호의 펄스시간폭 보다 좁게 설정되어 있는 것을 특징으로 하고 있다.

도 1은 본발명 실시형태의 제1예에 관한 성형용 금형의 단면도,

도 2는 본발명 실시형태의 제1예에 관한 이젝터핀의 단면도와 평면도

도 3은 본발명 실시형태의 제1예에 관한 이젝터핀의 기단부 확대단면도,

도 4는 본발명 실시형태의 제1예에 관한 이젝터핀의 기판부 덮개체를 벗긴 상태에 있어서의 저면도,

도 5는 본발명 실시형태의 제1예에 있어서의 전체 구성을 나타내는 블록도,

도 6은 상기 제1예에 있어서, 이상이 없는 금형에 의한 성형가공의 1사이클(A∼B)을 나타내는 압력파형도,

도 7은 상기 제1예에 있어서, 이상이 있는 금형에 의한 성형가공의 1사이클(A∼B)을 나타내는 압력파형도,

도 8은 본발명에 있어서 사용가능한 간접식 압력센서에 조합시킨 통상의 이젝터핀을 이젝터틀 레이트에 수용한 상태표시도,

도 9는 종래의 성형용 금형의 정면도로서, 이젝터 플레이트의 밀어내기 동작과 복귀 동작에 대한 설명도.

"도면의 주요부분에 대한 부호의 설명"

12: 제1 형판으로서의 고정측 형판

13: 제2 형판으로서의 가동측 형판 100

21: 이젝터 플레이트 24,61: 이젝터핀

32: 압력검지수단 33: 기왜부(起歪部)

34: 센서로서의 왜곡센서 35: 지지부

50: 이상 검출수단 51: 처리수단

52,53: 감시타이밍 설정수단으로서의 센서

54: 기억수단 56: 계시수단

57: 통보수단 60: 간접식 압력센서

B: 성형용 금형

본발명 실시형태의 제1예를 도 1 ∼도 7을 참조하여 설명한다. 도 1은 성형용 금형 B의 단면도이다. 이 성형용 금형 B는 성형기 고정측 홀더에 부착되는 고정측 부착판(10)과, 성형기 가동측 홀더에 부착되는 가동측 부착판(11)을 가지고 있다. 상기 고정측 부착판(10)에는 암형인 공동(12a)을 갖는 고정측 형판(12)이 부착되어 있다. 상기 가동측 부착판(11)에는 수형이 되는 코어(13a)를 갖는 가동측 형판(13)이 받이판(14)과 스페이서블록(15)을 통하여 부착되어 있다.

이 성형용 금형B는 고정측 형판(12)과 가동측 형판(13) 사이에서 분할이 가능하다. 성형기 홀더의 움직임에 맞추어 가동측 형판(1)은 판면에 수직 방향을 따라 고정측 형판(12)에 대하여 이동하고, 이에따라 고정측 형판(12)과 가동측 형판 (13)의 개폐가 행해진다. 고정측 형판(12)에는 가이드부시(19)가 설치되고, 가동측 형판(13)에는 가이드 포스트(18)가 설치되고, 가이드 포스트(18)는 가이드부시 (19)에 슬라이딩 가능하게 삽입되어 있다. 고정측 형판(12)과 가동측 형판(13) 개폐는 이 가이드부시(19)와 가이드포스트(18)에 의해 안내되므로 고정측 형판(12)과 가동측 형판(13)이 닫힐때에 공동(12a)과 코어(13a)는 정확한 위치에서 조합된다.

상기 고정측 부착판(10)에는 성형기 실린더의 노즐에서 성형용 금형B내에 용융한 수지를 주입할 때의 경로가 되는 스풀(16)과, 성형용 금형B를 성형기 실린더의 노즐에 부착할때의 위치결정수단이 되는 로케이트링(17)이 부착되어 있다.

가동측 부착판(11) 측에는 이젝터플레이트(21)가 설치되어 있다. 이젝터 플레이트(21)에는 성형용 금형B가 열릴때에 상기 코어(13a)에서 돌출하여 성형품을 금형밖으로 밀어내는 압력센서가 부착된 이젝터핀(이하 이젝터핀이라 함; 24)이 설치되어 있다. 또, 이젝터 플레이트(21)에는 성형용 금형B가 닫힐때에 이젝터 플레이트(2)를 소정위치로 복귀시킴으로써 이젝터핀(24)을 인입하기 위한 리턴핀(22)이 설치되어 있다.

도 2 표시와 같이 상기 이젝터핀(24)은 선단부에서 성형품을 밀어내는 단면 원형의 봉형상부(25)와, 봉형상부(25)를 슬라이딩 가능하게 수납하는 슬리브부(26)를 가지고 있다. 슬리브부(26)는 외경이 대개 일정하지만, 그 내경은 상반부와 하반부가 다르다. 슬리브부(26) 상반부는 봉형상부의 안내부(27)이다. 안내부(27)는 내경이 봉형상부(25) 외경과 대략 일치하고, 봉형상부(25)를 축방향으로 슬라이딩 가능하게 안내한다. 봉형상부(25) 선단은 안내부(27) 선단 개구(28)에서 공동(12a)에 임하고 있다. 봉형상부(25) 선단과 안내부(27) 선단은 실질적으로 동일면을 구성하고 있다. 슬리브부(26) 하반부는 내경이 봉형상부(25) 외경보다 크다.

도 3 및 도 4와 같이 상기 슬리브부(26) 후단부에는 계단부(29)가 설치되어 있다. 계단부(29) 내부는 수납실(30)이다. 수납실(30) 내경은 슬리브부(26) 하반부 내경보다 크다. 수납실(30)은 하면이 개구되어 있다. 원형의 덮개체(31)로 닫혀 있다. 이 수납실(30) 내부에는 봉형상부(25) 기단에 고정된 압력검지수단(32)이 수납되어 있다. 압력검지수단(32)은 봉형상부(25) 선단에 가해지는 압력을 검지한다.

도 3 및 도 4와 같이 본 실시예의 압력검지수단(32)은 봉형상부(25) 기단에 고정된 기왜부(33)와, 기왜부(33)에 설치된 압력센서로서의 왜곡센서(34)를 가지고 있다. 기왜부(33)는 한쌍의 지지부(35, 35)와 한쌍의 지지부(35, 35)를 잇는 바부재(36)를 갖는 단면 대략 コ 자형 부품이다. 기왜부(33)는 덮개체(31) 내면과 수납실(30) 측주면에 접해 있고, 바부재(36) 상면에서는 떨어져 있다. 봉형상부(25) 기단은 바부재(36) 상면 중앙에 고정되어 있다. 기왜부(33) 바부재(36)는 봉형상부 (25)에 가해지는 하중을 받아 탄성적으로 변형하고, 지지부(35, 35)는 이 하중을 지지한다. 이 때문에 기왜부(33)는 필요한 안전률이 기대되는 강도의 재질로 일체로 형성되어 있다.

도 3과 도 4와 같이 왜곡센서(34)는 기왜부(33)의 바부재(36) 하면 대략 중앙에 설치되어 있다. 이 왜곡센서(34)는 기왜부(33)의 바부재(36)의 탄성적 변형을 검지하는 센서로서, 가령 저항선의 탄성적 변형에 의해 저항치가 변화되고, 이것을 전압의 변화로서 출력하는 저항선 왜곡 게이지 등을 사용할수 있다. 왜곡센서(34)로부터의 도선은 계단부(29) 또는 덮개체(31)에 형성된 관통공을 통하여 외부로 도출되어 있다.

도 5와 같이 금형B 외부에는 도시하지 않은 이상 검출수단(50)이 설치되어 있다. 이상검출수단(50)은 가령 CPU에 의해 구성된다. 이상검출수단(50)은 금형의 이상을 판단·검지하기 위한 연산·처리를 행하는 처리수단(51)을 가지고 있다. 따라서, 처리수단(51)에는 금형의 상태를 나타내는 각종 정보가 입력된다. 상기 정보는 이젝터핀(24)의 압력검지수단(32)에서 송출되는 압력검지신호(S1)나 금형B에 설치된 센서(52, 53; 또는 스위치)에서 송출되는 금형B의 동작신호(S2, S3)가 있다. 금형B의 동작신호로는 금형체결, 금형체결해제 등을 나타내는 트리거 신호나 금형의 파팅면에 설치된 스위치가 금형체결, 금형체결해제에 출력하는 트리거신호가 있다. 이들 동작신호(S2, S3)는 이젝터핀이 상기 성형품을 밀어내는 감시 타이밍을 설정하기 위한 감시타이밍을 설정수단으로서 기능한다. 또한 도 5에는 금형의 동작을 표시하는 트리거신호(S2, S3)의 루트를 2개 표시하였으나 적어도 어느 한쪽이 있으면 된다.

도 5와 같이 이상검출수단(50)은 상기 처리수단(51)에 의한 처리수순이나 처리에 필요한 데이터등을 격납하는 기억수단(54)을 가지고 있다. 기억수단(54)에는 왜곡센서(34)로 부터의 출력과 공동내의 압력과의 관계를 나타내는 데이터가 미리 격납되어 있다. 왜곡센서(34)로 부터의 신호(압력검지신호(S1))는 이상검지수단 (50)에 입력되고, 이상검지수단(50)은 이젝터핀(24)에 가해지는 공동내 압력을 검출할수 있다. 또, 기억수단(54)에는 압력검지수단(32)의 검지결과와 비교하기 위한 기준치를 격납하고 있다. 또, 공동내의 압력을 감시할때의 샘플링시간이나 샘플링한 압력과 상기 기준치와 비교하는 타이밍을 나타내는 타이밍 데이터가 기억되어 있다. 기준치, 샘플링시간, 타이밍데이터는 설정수단(55)으로 임의로 설정할수 있다.

도 5와 같이 이상검출수단(50)은 계시수단(56; 타이머)을 가지고 있다.

이상검출수단(50)은 판단한 결과에 따라 통보수단(57; 가령 부저, 표시장치 등)으로 금형B의 이상을 통보하고 또 금형B를 구동하는 성형기를 정지하는 등의 제어를 행한다.

상기 이상검출수단(50)에 의한 금형의 이상검지방법 내지 수순에 대하여 도 6, 도 7을 참조하여 설명한다.

우선, 수지를 성형용 금형B에 사출하는 공정에 있어서, 공동(12a)내에 용융한 수지가 사출되면 이젝터핀(24) 선단에 수지의 압력이 가해진다. 본 실시예의 이젝터핀(24)에 있어서는 이젝터핀(24) 선단의 면적내 봉형상부(25) 선단의 면적만이 압력검지에 관한 수압면적이다. 즉, 슬리브부(26) 선단의 환상면은 압력 검지에는 관여하지 않는다. 봉형상부(25) 선단에 수지압력이 가해지고, 봉형상부(25)에 하향의 하중에 가해지면 봉형상부(25)는 기왜부(33)의 바부재(36)를 하향으로 가압한다. 지지부(35, 35)에 지지된 바부재(36) 상면 대략 중앙부에 하중이 가해지면 바부재 (36)는 휘고, 왜곡센서(34)가 그 왜곡량에 대응한 신호를 출력한다. 왜곡센서(34)의 출력은 이상 검출수단(50)에 입력되고 굽힘 모멘트의 계산식에 따라 하중이 구해져서 공동내의 압력이 산출된다.

도 6은 상기 금형B에 의한 성형가공의 1사이클(A∼B)을 나타내는 압력 파형도이고, 금형 등에 이상이 없는 경우를 표시하고 있다. 수직축은 금형내 압력을 나타내고 수평축은 시간을 나타낸다. A에서 형 닫힘이 개시되고, 약 1.4 초 경과시에 형닫힘이 완료하며, 그후 재료 주입에 따라 금형내 압력이 증대해 간다. 성형완료후 경과시간 약 9.5초로 형열림이 되고, 경과시간 약 10.5초(C)로 이젝터핀 (24)에 의한 밀어내기가 행해진다. 이때, C에 표시되는 펄스상의 파형이 이젝터핀 (24)에 가해지는 이형 저항이다.

이 정상시의 이형저항을 원점으로하여 이보다 큰값 D를 임의로 설정한다. 이 값D는 금형에 이상이 발생하는지 여부를 판단하기 위한 기준치이다. 또, 이젝터핀 (24)에 의한 압력검지는 이상검출수단(50)의 제어에 의해 적당한 샘플링시간을 두고 반복되고 있으나, 이 샘플링시간은 물론 펄스상의 상기 이형 저항 시간폭 보다 짧게 설정되어 있다. 이형 저항의 펄스파형이 확실하게 포착되도록 되어 있다. 또, 이형 저항의 펄스파형은 포착하기 위하여 샘플링한 압력과 상기 기준치와 비교하는 타이밍을 표시하는 타이밍데이터를 설정한다. 이 타이밍데이터는 금형 작동에 있어서 이젝터핀(24)에 의한 밀어내기의 시간대를 나타내는 데이터로서, 도 6에 있어서 가령 시간 범위 EF를 나타낸다. 또한, 상기 기준치D와, 상기 타이밍 데이터(감시시간 EF)의 설정은 성형기의 소변동을 고려하여 폭을 가지고 설정한다.

도 7은 상기 금형B에 의한 성형가공의 1사이클(A∼B)을 나타내는 압력파형도이고, 금형 등에 무엇인가의 이상이 발생할 가능성이 있을 경우(또는 이미 이상이 발생되어 있을 가능성도 있다)를 표시하고 있다. 타이밍 데이터가 나타내는 감시시간 EF에 있어서 이형 저항이 포착되고, 그 값이 기준치 D를 초과하고 있음이 검지되면 이상 검지수단(50)는 통보수단(57)에 작동신호를 출력하여 작업자에 경보를 보내고 또 성형기 운전을 정지시킨다.

이형 저항의 이상치 정도는 발생 원인에 따라 달라진다는 것을 생각할 수 있으므로 상기 기준치 D는 복수단계로 설정해 두고, 각 단계마다 다른 경보를 출력하게 하여도 된다. 어느 단계에서 어떤 이상이 발생할 위험성이 있을지는 실험에 의해 구할수 있다.

상기 감시시간 EF의 설정에는 다음 3가지 방법을 생각할수 있다.

① 금형에 스위치를 설치하고, 금형체결, 금형체결해제 등의 신호를 트리거신호로서 성형기에서 꺼내어 상기 E점, F점의 설정을 한다.

② 금형의 파팅면에 스위치를 설치하고, 금형체결, 금형체결해제 등의 신호를 트리거 신호로서 상기 E점, F점의 설정을 한다.

③ 성형개시(형 닫힘신호)등, 하나의 트리거신호를 성형기에서 꺼내어 E점, F점의 타이밍 설정은 이상 검출수단(50)이 갖는 계시수단(56; 타이머)으로 행한다.

이상 설명한 예에서는 압력센서가 수용된 이젝터핀(24)을 사용하였으나 도 8과 같은 간접식 압력센서(60)와 통상의 이젝터핀(61)을 조합시킨 것을 사용할 수도 있다. 또, 본발명에 있어서는 압력센서로서 압전변환소자도 사용할수 있다. 또, 상기 예에서는 압력센서가 수용된 이젝터핀(24)을 1개 설치하였으나 이것을 복수개, 다른 개소에 설치하면 이상이 검지된 이젝터핀의 위치에서 금형의 이상 원인을 어느 정도 판정할수 있다.

본발명에 따르면, 성형품 밀어내기시에 이젝터핀에 가해지는 압력을 검지하고, 이것이 기준치를 초과할 경우에 무엇인가의 이상이 있다고 판단하도록 했기때문에 비교적 가늘고 파손되기 쉽고 이젝터핀이 실제로 파손하기 전에 이상 발생을 검지할수 있다. 즉, 본발명에 따르면 긁힘 등의 파손의 초기단계 이전의 원인발생시에 이상검출을 행할수 있기 때문에 금형손상을 피할수 있고, 점검후 재가동까지의 시간을 최소한으로 억지할수 있다. 그리고, 이젝터핀 파손 예방을 위한 점검시기를 알기가 가능하게 된다.

Claims

성형품을 성형하는 복수의 형판과, 형판이 상대적으로 이격된 때에 상기 형판에서 성형품을 밀어내는 이젝터핀을 갖는 금형에 적용되고, 상기 금형의 이상을 검출하는 금형이상 검출장치에 있어서,

상기 이젝터핀에 가해지는 압력을 검출하여 압력검출신호를 출력하는 압력검출수단과,

상기 성형품 밀어내기시에 상기 이젝터핀에 가해지는 압력이 기준치를 초과할 경우에 이상검출신호를 출력하는 이상검출수단을 갖는 것을 특징으로 하는 금형이상 검출장치.
공동을 갖는 제1형판과, 코어를 가지고 상기 제1 형판에 대하여 상대적으로 이동가능하게 된 제2형판과, 상기 공동과 상기 코어 사이에 재료를 충전하여 성형된 성형품을 상기 제1 및 제2형판이 상대적으로 이격된 때에 선단으로 가압하여 상기 형판에서 밀어내는 이젝터핀을 갖는 금형에 적용되고, 상기 금형의 이상을 검출하는 금형이상검출장치에 있어서, 상기 이젝터에 가해지는 압력을 검출하여 압력검출신호를 출력하는 압력검출수단과, 상기 이젝터핀이 상기 성형품을 밀어내는 감시타이밍을 설정하는 감시타이밍 설정수단과, 상기 감시타이밍 설정수단으로 설정된 상기 감시타이밍에 있어서, 미리 설정된 기준치와, 상기 압력검출신호를 비교하여 상기 압력검출신호가 상기 기준치를 초과할 경우에 상기 처리수단으로 부터의 지시를 받아 이상검출신호를 출력하는 처리수단을 갖는 것을 특징으로 하는 금형이상 검출장치.
제 2 항에 있어서, 상기 감시타이밍 설정수단이 상기 금형에 설치하여 상기 금형에 의한 성형공정의 타이밍을 출력하는 센서를 가지고 있는 것을 특징으로 하는 금형이상 검출장치.
제 2 항에 있어서, 상기 감시타이밍 설정수단이 상기 금형에 설치하여 상기 금형에 의한 성형공정의 타이밍을 출력하는 센서와, 상기 센서로부터의 트리거 신호에 의해 작동을 개시하는 타이머를 갖고 있는 것을 특징으로 하는 금형이상 검출장치.
제 1 항 내지 제 4 항중 어느 한 항에 있어서, 상기 기준치가 복수단계로 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 금형이상 검출장치.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서, 상기 압력검출수단에 의한 압력검지의 시간간격이 상기 이젝터핀에 가해지는 상기 압력검출신호의 펄스 시간폭 보다 좁게 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 금형이상 검출장치.