KR20000017165A

KR20000017165A - 시험편 분석 장치

Info

Publication number: KR20000017165A
Application number: KR1019990032408A
Authority: KR
Inventors: 후루사토노리아키; 무라카미아쓰시; 기시모토켄; 에가와코지
Original assignee: 도이 시게루; 가부시키가이샤 교또 다이이찌 가가꾸
Priority date: 1998-08-06
Filing date: 1999-08-06
Publication date: 2000-03-25
Also published as: KR100320185B1; KR100320186B1; DE69934457D1; KR100320184B1; KR20010100025A; DE69940579D1; US6455865B2; US20010022348A1; US6337490B1; CN100468043C; CN1683919A; CN100449299C; DE69934457T2; EP1752773A3; EP0978725A2; CN1683918A; CN1210570C; KR20010100026A; EP1752773B1; EP1752773A2

Abstract

시험편 분석 장치는 분리가능하게 고정된 흡수 부재와, 반송 방향으로 다수의 시험편을 동시에 반송하기 위한 수평 왕복 협지 기구와, 주요 조명기 및 제2 조명기가 제공된 광학 분석 조립체를 포함하고, 제2 조명기는 시험편의 바닥면을 조명시키도록 작용한다.

Description

시험편 분석 장치{TEST PIECE ANALYZING APPARATUS}

본 발명은 소변 또는 혈액과 같은 유체 시료에 각각 침지한 시험편을 자동적으로 반송하고 분석하기 위한 의학적 분석 장치에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 시험편상의 시료의 과도한 양을 제거하는 집합체, 다수의 시험편을 동시에 반송하는 집합체와, 측광(photometry)에 의해 시험편을 분석하는 집합체에 관한 것이다.

종래, 소변 또는 혈액과 같은 시료의 의학적 검사를 수행하기 위해 복수의 시험 패드를 수반하는 직사각형 시험편을 사용한다. 각각의 시험 패드는 소정량의 시약을 함유한다. 따라서, 시험편이 시료에 침지될 때, 시험 패드의 색깔은 변한다. 이러한 색깔 변화를 측광에 의해 분석함으로써, 시료의 의학적 상태를 알 수 있다.

시료에 침지된 시험편의 측광 분석을 자동적으로 수행하기 위해, 시험편 분석 장치가 사용되었다. 예를 들어, 종래 시험편 분석 장치는 시험편 반송 유닛과 시험편 분석 유닛을 포함한다. 시험편 반송 유닛은 시료에 침지된 시험편을 시험편 분석 유닛으로 반송하도록 작용한다. 분석 유닛에서, 시료-습윤 시험편(이하, "습윤 시험편"이라 함)은 에정된 측광 분석을 받게된다. 이를 위해, 종래 시험편 분석 유닛은 습윤 시험편을 광학적으로 처리하기 위한 광학 시스템과 시험편에 관련된 광학 시스템을 이동하기 위한 구동 기구를 포함한다.

종래, 습윤 시험편의 자동 반송은 두가지 방식으로 수행되었다. 이들 중 한가지 방식에 따르면, 습윤 시험편은 부재 상에서 미끄러져 분석 유닛으로 운반된다. 다른 방식에 따르면, 습윤 시험편은 보지기구에 의하여 들어올려져 공중으로 분석유닛에 이동된다.

몇몇 장점에도 불구하고, 전자의 방법은 습윤 시험편이 미끄럼 반송 작업 동안 지지 부재를 오염시키는 단점이 있다. 후자의 방법에 의하면, 하나 이상의 시험편이 동시에 반송될 수 없고, 그 때문에 작업 효율이 감소한다.

시험편 상에서의 시료의 과도한 양을 제거하기 위하여, 종래 흡입 펌프는 방출보틀과 함께 파이프를 통하여 연결하여 사용된다. 방출 보틀이 시료로 가득 찼을 때, 사용자는 재사용을 위해 보틀을 비우고 세정한다.

그러나, 상기 방식은 다음과 같은 점에서 불리하다. 먼저, 흡입 펌프는 동력 공급 없이는 운전될 수 없다. 둘째, 기계적 흡입 펌프는 사용 시, 소음을 유발한다. 셋째, 방출 보틀을 세정하는 것은 번거로운 작업이다. 넷째, 흡입 펌프와 방출 보틀을 설치하기 위한 분석 장치 내에 추가적 내부 공간을 필요로 하고, 결과적으로 분석 장치의 크기를 증가시킨다.

종래 시험편 분석 유닛은 또한 다음과 같은 점에서 불리하다. 상술된 바와 같이, 시험편 분석 유닛에는 습윤 시험편을 광학 처리하기 위한 광학 시스템이 제공된다. 특히, 광학 시스템은 습윤 시험편을 상방으로부터 조명하기 위한 조명기(illuminator)와, 습윤 시험편 상에서 반사된 빛을 검출하기 위한 수광 장치(light receiving device)를 포함한다. 검출된 반사광에 근거하여, 시험편 상의 시험 패드의 위치가 결정되고, 시험 패드의 색깔 변화를 평가한다.

상기 구조에서, 그러나, 시험편상의 시험패드의 위치를 정확하게 결정하는 것이 어렵다. 이것은 시험편이 시료에 습윤된 때, 시험 패드 상에서 반사된 빛과 시험 편상에 시험패드가 없는 부분에서 반사된 빛과 구별하는 것이 어렵기 때문이다.

본 발명은 상기 이유 때문에 제안되었고, 그 목적은 상술된 문제점을 해소 또는 저감하는 것이다.

이러한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 하기 기술적 방법을 채택한다.

본 발명의 첫 번째 특징에 따르면, 시험편 상의 과량의 시료를 제거하기 위한 유체 흡수 수단은 과량의 시료를 흡수하기 위한 흡수 부재(absorbent member), 흡수 부재가 시험편과 접촉하도록 흡수 부재를 지지하는 유지 부재(holding member)로 구성된다.

흡수 부재는 시험편이 미리 정해진 거리까지 미끄러져 이동된 후 시험편과 접촉하도록 배열된다.

흡수 부재는 흡수성 섬유질, 다공성 수지, 고분자 흡수재, 스폰지 등으로 제작된다.

가급적, 흡수 부재는 교체가능한 방식으로 유지 부재에 의해 지지된다.

유체 흡수 수단은 흡수 부재를 수용하기 위한 케이싱을 더 포함하고, 케이싱은 교체가능한 방식으로 유지 부재에 의해 지지된다.

본 발명의 두 번째 특징에 따르면, 시험편을 제1 정류부로부터 제2 정류부로 반송하기 위한 시험편 반송 조립체가 장치되어 있으며, 시험편 반송 조립체는 제1 정류부로부터 제2 정류부까지 연장하고 있고, 시험편 보유부는 소정의 수량의 복수 시험편이 규칙적인 간격으로 배치되도록 되어있다.소정수량의 시험편은 공중에서 동시에 유지되고수평으로 왕복하는 협지기구로 구성되었고, 시험편이 일정한 간격으로 전진한 뒤에 소정 수량의 시험편이 개방되게 되어 있다.

협지기구는 각기 시험편을 잡고, 상승시키고, 하강시키고, 분리하도록 설치되며,

첫 번째 동작기구는 각각의 시험편 유지 부재가 집고,,상승시키고, 하강시키고 분리하도록 되어 있으며,

두 번째 작동기구는 시험편유지부가 시험편이 분리된 뒤에 규칙적인 간격으로 되돌아 오게 되어 있다..

시험편 반송 장치는 왕복동 케이싱과, 규칙적인 간격으로 배치된 시험편 유지 부재를 선회가능하게 유지하기 위해 왕복 케이싱에 의해 지지되는 로드를 더 포함하고, 각각의 시험편 유지 부재는 제1 단편과 제2 단편을 포함하고, 제1 단편은 관련된 시험편의 표면과 분리가능하게 결합하고, 제2 단편은 관련된 시험편의 다른 표면과 분리가능하게 결합한다. 각각의 시험편 유지 부재의 제1 단편과 제2 단편은 탄성 부재에 의해 미리 정해진 방향으로 힘을 받고, 각각의 시험편 유지 부재의 제1 단편과 제2 단편은 개방 상태 및 폐쇄 상태가 된다.

제1 작동 기구는 회전 축, 회전 축에 고정된 캠과, 시험편 유지 부재를 작동하기 위해 캠과 연관된 종동 캠을 포함한다.

캠은 1/4 원형 형상을 갖는다.

제2 작동 기구는 축 주위를 이동가능한 돌기 단편과, 돌기 단편을 활주가능하게 수용하기 위한 안내 홈이 형성된 선회 아암을 포함한다.

시험편 유지부위에는 시험편을 위치 설정하기 위한 요철부가 형성된 한 쌍의 레일이 제공된다.

시험편 반송부 조립체는 시험편 유지부위에 인접하여 시험편 방출 개구부를 더 구성한다.

본 발명의 세 번째 특징에 따르면, 표면(obverse surface)과 배면(reverse surface)를 갖는 시험편용 광학 분석 조립체가 설치되었으며, 시험편은 표면과 이면으로 되어 있으며 표면은 적어도 하나의 시험 패드를 수반하고, 분석 조립체는 시험편의 표면을 조명시키기 위한 제1 조명기와, 시험편의 표면 상에서 반사된 빛을 수광하기 위한 수광 장치와, 시험 패드를 위치 설정하기 위해 시험편의 배면을 비추기 위한 제2 조명기로 구성되고, 수광 장치는 제2 조명기로부터 발산되고 시험편을 통과한 빛을 수광하도록 작용한다.

제1 조명기,수광장치 및 제2 조명기는 시험편에 상대적으로 이동하도록 장치된다..

제1 조명기는 복수의 발광요소로 구성되며 상이한 파장의 빛을 발산한다.수광장치는 발광요소의 중심에 배치한다.

선택된 몇 개의 발광요소들은 동일 파장의 빛을 발산할 수 있고 원주상에 동일한 거리로 배치된다.

전술한 선택된 발광 요소들은 상이한 위상으로 빛을 발산할 수 있다. 있다.

상기 발광 요소들 중 선택된 요소들은 상이한 위상을 갖는 빛을 발산할 수 있다.

본 발명의 네 번째 특징에 따르면, 표면과 배면을 갖는 시험편용 광학 분석 조립부가 설치되고, 표면은 적어도 하나의 시험 패드를 수반하며, 분석 조립부는 시험편의 표면을 비추기 위한 조명기와, 시험편의 표면 상에서 반사된 빛을 수광하기 위한 제1 수광 장치와, 시험편을 통과한 빛을 수광하기 위해 시험편의 아래에 배치된 제2 수광 장치를 포함한다.

본 발명의 기타 목적, 특징 및 장점 들은 첨부 도면을 참조한 상세한 설명으로부터 명백해 질 것이다.

도1은 본 발명에 따른 시험편 분석 장치를 도시한 사시도.

도2는 도1의 시험편 분석 장치를 다른 각도에서 본 도면.

도3은 도1의 시험편 분석 장치의 주요부를 도시한 사시도.

도4는 제3도의 주요부를 다른 각도에서 본 도면.

도5는 도1의 시험편 분석 장치에 사용된 유체 흡습부재를 도시한 단면도.

도6은 도1의 분석 장치에 합체된 협지 기구를 도시한 사시도.

도7은 도6의 협지 기구를 다른 각도에서 본 도면.

도8은 도1의 분석 장치에 합체된 광학 시스템을 도시한 사시도.

도9는 도8에 표시된 방향 X를 취한 도면.

도10은 도1의 분석 장치에 합체된 광학 조립체를 도시한 사시도.

도11은 도10의 광학 조립체의 주요 부품을 도시한 확대도.

도12는 도10의 광학 시스템의 수정 부분을 도시한 단면도.

도13 내지 도17은 도1의 분석 장치의 협지 기구가 사용 시에 작동하는 방법을 도시한 도면.

〈 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 〉

10 : 시험편 도입부

11 : 레일

12 : 푸시 아암

13 : 슬라이딩 기구

13g : 캐리지

20 : 시험편 반송부

21 : 유체 흡수 수단

22 : 측벽

23 : 협지 기구

28 : 선회 아암

30 : 시험편 분석부

30A : 광학 시스템

35 : 발광 요소

36 : 수광 요소

40 : 배출 트레이

본 발명의 바람직한 실시예는 첨부 도면을 참조하여 하기에 설명된다.

먼저, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 시험편 분석 장치를 상이한 각도로부터 관찰한 사시도인 도1 및 도2를 참조한다.

예시하는 분석 장치는 소변, 혈액등의 유체시료에 각각 침지된 복수의 시험편(이하, 이러한 시험편은 "습윤 시험편"이라 함)을 자동적으로 반송하고 분석하도록 설계한 것 이다. 각각의 시험편은 긴 직사각형의 띠로 되어 있고 복수의 시험패드를 수반하다.시험 패드는 시약을 포함할 수 있고 시험편이 시료에 침지될 때 색깔이변화 수 있다. 각각의 시험 패드의 색깔 변화를 분석함으로써, 시료의 의학적 조건은 알 수 있다.

본 실시예의 분석 장치에는 시험편 도입부(10)와, 시험편 반송부(20)와, 시험편 분석부(30)를 장치하다. 분석 장치는 전체적으로 분석 장치에 장착된 마이크로컴퓨터에 의해 제어된다. 컴퓨터가 이러한 장치에 종종 사용된다는 것은 널리 공지되어 있다. 따라서, 본 설명서에서, 마이크로컴퓨터의 배열 및 작동에 대한 설명은 기재하지 않는다.

시험편 도입부(10)는 습치 시험편을 하나씩 시험편 반송부(20)로 반송하도록 배치된다. 시험편 반송부(20)는 미리 정해진 개수의 시험편이 시험편 분석부(30)를 향해 단계적으로 동시에 진행하도록 되는 구역이다. 시험편 분석부(30)에서, 습윤 시험편들은 측광에 의해 분석된다. 이들 세가지 구역의 설명은 아래와 같다.것이다.

도3 및 도4를 참조하면, 시험편 도입부(10)와 그 주변이 대체적으로 반대 방향으로 도시되었다. 시험편 도입부(10)에는 시험편(A)으로부터 떨어진 유체 시료를 보유하기 위한 배출 트레이(40; drainage tray)가 설치된다.

도시된 바와 같이, 트레이(40)는 시험편 반송부(20)까지 연장할 정도로 충분히 길다. 트레이(40)는 반송 방향(F)에 수직인 방향으로 상거하여 두 개의 길이 방향의 측벽(22)으로 되어 있다. 각각의 측벽(22)은 위치적으로 시험편 반송부(20)에 대응하는 소정 개수의 절결부(22a)(바람직한 실시예에서 7개의 절결부)를 갖는다. 각각의 측벽(22)에서 절결부(22a)는, 도4에 도시된 바와 같이, 제 위치에 시험편(A)을 보유하기 위해 제공된다. 절결부(22a)는 미리 정해진 거리로 서로터 동일한 간격으로 설치된다.

시험편 도입부(10)에서, 한 쌍의 슬라이드 레일(11)은 반송 방향(F)을 따라 수평으로 연장한다. 분석하려는 시험편(A)은 두 개 레일 사이에서 걸쳐지는 방식으로 슬라이드 레일(11) 상에 놓는다. 따라서, 시험편(A)의 길이 방향은 반송 방향(F)에 수직이다.

시험편(A)[정확하게는, 시험편(A)의 길이 방향의 변]는 가동 푸시 아암(12)과 접촉하고 푸시 아암(12)에 의해 레일(11) 상에서 슬라이딩하게 된다. 이를 위해, 푸시 아암(12)은 슬라이딩 기구(13)에 의해 작동된다.

도4에 도시된 바와 같이, 슬라이딩 기구(13)는 모터(24; 도7 참조)에 의해 회전되는 회전 샤프트(13a)와, 회전 샤프트(13a)에 고정된 크랭크(13b)와, 연결 로드(13c)와, 선회 레버(13d)와, 제1 가이드 샤프트(13e)와, 제2 가이드 샤프트(13f)와, 왕복 캐리지(13g)를 포함한다.

연결 로드(13c)는 한 끝이 회전할 수 있게 크랭크(13b)의 선단에연결되고, 또한, 동시에 선회 레버(13d)의 중간부에 타단부가 회전가능하게 연결된다. 선회 레버(13d)의 하단부는 슬라이딩 기구(13)의 고정부에 회전가능하게 연결된다. 캐리지(13g)는 제1 가이드 샤프트(13e)에 의해 슬라이딩이 가능하게 지지되어, 캐리지(13g)는 샤프트(13e)의 길이 방향으로 왕복할 수 있다. 캐리지(13g)는 또한 캐리지(13g) 상에 장착된 롤러(13i)를 경유하여 제2 가이드 샤프트(13f)에 의해 안내된다다. 캐리지(13g)에는 선회 레버(13d)의 상단부를 안내하기 위한 수직방향으로 기다란 개구(13h)가 형성된다.

상기 구조로 소정 방향으로 모터(24; 도7)가 작동하면, 회전 샤프트(13a)와 크랭크(13b)는, 예를 들면, 도4에 도시된 바와 같이, 시계 반대 방향으로 회전된다. 크랭크(13b)가 완전히 일회전할 때마다, 선회 레버(13d)는 하단부가 제 위치에 고정된 상태에서 전후방으로 움직이게된다. 그 결과로, 캐리지(13g)와 그에 고정된 푸시 아암(12)은 1차 가이드 샤프트와 제2 가이드 샤프트(13e, 13f)에 의해 안내되는 동안 반송 방향(F) 및 반대 방향으로 왕복하게 되다.

도3에 도시된 바와 같이, 유체 흡수부(21)는 시험편 도입부(10)의 내측 단부에 설치되다. 유체 흡수부(21)는 반송 방향(F)에 수직으로 길주한 외형의 직사각형 형상을 갖는다.

유체 흡수부(21)는 흡수 섬유질, 기공성 수지, 고분자 흡수재 또는 스폰지와 같은 흡수성이 높은 물질로 제작된다. 흡수 섬유지의 예는 부직포, 종이(특히, 여과지), 유리 섬유 및 천이다. 아크릴 수지 섬유를 포함하는 부직포는 탁월한 유체 흡수재임이 알려졌다. 기공성 수지의 예는 소결된 폴리에틸렌(polyethylene) 또는 폴리오렐핀(polyolefin) 및 발포 수지이다. 그렇지 않으면, 합성 수지로 제조된 브러쉬형(brush-like) 흡수재가 사용된다.

도1에서 선 X-X를 따라 취한 단면도 도5에 도시된 바와 같이, 유체 흡수재(21)은 소정 부분이 외부에 노출되는 상태로 케이싱(21a)에 장착된다. 케이싱(21a)은 트레이(40)의 하방으로 돌출한 홈(40a)에 수용된다. 도시된 바와 같이, 케이싱(21a)의 높이는 홈(40a)의 깊이보다 더 크도록 되어 있어, 푸시 아암(12)에 의해 레일(11) 상에서 이동되는 시험편(A)은 유체 흡수재(21a)의 노출 부분과 접촉하게 된다.

케이싱(21a)은 홈(40a)으로부터 용이하게 분리될 수 있다. 따라서, 현재 사용되는 유체 흡수재(21)의 흡수 성능이 불만족해질 때, 흡수재(21)을 새케이싱에 장착한 새흡수재로 대체하는 것은 용이하다.

도3을 다시 참조하면, 유체 흡수재(21)가 시험편 도입부(20)의 내측 단부에 배치된 상태에서, 시험편(A)은, 푸시 아암(12)에 의해 레일(11) 상에서 슬라이드할 때, 유체 흡수재(21)와 접촉하게 된다. 이 후에, 시험편(A)은 잠시동안 이 위치에 유지된다. [이 후에, 시험편(A)이 유체 흡수기(21)와 접촉한 상태로 유지되는 특정 위치 또는 부분은 참조 번호 20A로 표시되었으며 "제1 정류부"라 한다.]

상기 구조와 함께, 시험편(A) 상에서 과량의 유체 시료는 유체 흡수기(21)에 의해 간단히 흡수되며, 동 유체 흡수기는 작동용 동력을 필요로 하는 펌프 또는 다른 기계 장치의 사용을 배제하여 유익하다. 또한, 유체 흡수재(21)는 케이싱(21a)와 함께 분석 장치로부터 용이하게 분리되며 및 새로운 것으로 대체할 수 있어서, 오염된 유체 흡수재(21)를 세척할 필요가 없다. 부가적으로, 유체 흡수재(21)는 장착을 위해 넓은 공간을 필요로 하지 않으며, 분석 장치의 전체 크기를 감소시키는 데 유익하다.

제1 정류부(20A)와 가장 근접한 절결부(22a) 사이의 수평 거리는 인접한 어느 절결부(22a)와의 사이의 거리나 동일하도록 되어 있다. 따라서, 총 8개의 시험편(A)[이들 중 하나는 제1 정류부(20A)에 놓이고 다른 것들은 절결부(22a)에 의해 보지됨]은 미리 정해진 일정한 거리로 반송 방향(F)으로 서로 떨어져 있게 된다.

도1에 도시된 바와 같이, 시험편 반송부(20)에서, 수평으로 왕복하는 협지 기구(23)는 시험편 분석부(30)를 향하는 반송 경로(20C)를 따라 복수의 시험편을 동시에 반송하기 위해 장치된다. 특별한 설명은 도6 및 도7을 참조하여 아래에 설명한다.

도6 및 도7에 도시된 바와 같이, 협지 기구(23)는 왕복 케이싱(23b)과, 왕복 케이싱(23b)에 의해 지지되는 수평 로드(23c)와, 복수의 시험편 유지 부재(23a)를 포함한다. 이들 인접한 시험편 유지 부재(23a) 사이는 미리 정해진 일정한 거리에 대응하는 규칙적인 간격으로 배치된다.

각각의 시험편 유지 부재(23a)는 상부 단편(23d)과 이 상부 단편(23d)과 협동하는 하부 단편(23e)으로 이루어진다. 왕복동 케이싱(23b)은 길이 방향의 측벽(22)(도1 참조) 중 하나에 인접하여 위치하고, 하기에 설명되는 바와 같이, 반송 방향(F) 및 반대 방향으로 움직일 수 있게 설치된다.

로드(23c)는 반송 방향(F)으로 뻗도록 케이싱(23b)에 의해 양 단부가 지지된다. 각각의 왕복하는 시험편 유지 부재(23a)의 상부 및 하부 부재(23d, 23e)는 로드(23c)에 회전가능하게 끼워 맞춤된다. 도7에 도시된 바와 같이, 각각의 상부 부재(23d)는 시험편(A)의 상부면에 가압하기에 적절하게 마련된 자유 단부를 갖는다. 다른 한편으로, 각각의 하부 부재(23e)에는 시험편(A)을 유지하기에 적합한 V형 부분이 설치된다. 모든 하부 부재(23e)는 단일 베이스 플레이트(23f)에 함께 부착된다.

준비된 상태에서, 각각의 상부 부재(23d)는 근본적으로 수평 위치에 유지되고, 동시에 판스프링과 같은 도시되지 않은 탄성 요소에 의해 하향으로 힘을 받는다. 다른 한편으로, 준비된 상태에서, 각각의 하부 부재(23e)는 상응하는 상부 부재(23d)로부터 간격을 두고 경사 위치에 유지되고, 동시에 코일 스프링과 같은 도시되지 않은 탄성 요소에 의해 하향으로 힘을 받는다.

협지 기구(23)는 하기에 설명되는 수직 작동 기구의 도움으로 하기 방식으로 유지 및 분리 동작을 수행할 것이다.

도7을 참조하면, 수직 작동 기구는 슬라이딩 기구(13)와 함께 모터(24)를 공유한다. 모터(24)의 구동력은 감속 기어(24a)와 다른 기어 열(24b, 24c)을 경유하여 샤프트(13a)에 전달된다. 비록 도7에 도시되어 있지 않지만, 샤프트(13a)는 전술한 크랭크(13)를 한쪽 끝에 설치한다. 반대 단부에서, 샤프트(13a)는 캠(25)을 장착한다. 캠(25)은 대체적으로 1/4 원형 형상을 갖는다.

또한, 수직 작동 기구에는 캠(25)과 연관하여 사용될 수 있는 종동 캠(26)을 장착한다. 특히, 종동 캠(26)은 대체적으로 직사각형 하부와 비교적 좁은 연결부(26b)를 포함한다. 하부에는 개구(26a)에 수용된 캠(25)의 운동을 제한시킬 정도로 크지 않게 되는 직사각형 개구(26a)가 형성된다. 연결부(26b)는 하부로부터 상방으로 연장하여 바닥판(23f)의 바닥면과 접촉하게 된다.

이러한 구조와 함께, 샤프트(13a)가 완전히 일회전할 때마다, 종동 캠(26)은, 양방향 화살표에 의해 표시된 바와 같이, 상하로 이동한다. 그 결과로, 모든 하부 부재(23e)[바닥판(23f)에 고정됨]는 수평 로드(23c) 주위를 동시에 선회하도록 되어 있다.

종동 캠(26)이 하방으로 강제되는 힘에 대향하여 융기될 때, 하부 부재(23e)는 상부 부재(23d)와 접촉하게 되고 결국, 상부 부재(23d)를 미리 정해진 범위까지 밀어 올린다. 상부 부재(23d)가 판스프링에 의해 하방으로 계속하여 힘을 받으므로, 시험편(A)은 상향 하부 부재(23e)와 상부 부재(23d) 사이에 견고하게 유지될 수 있다. 반대로, 종동 캠(26)이 하강할 때, 하부 부재(23e)는 상부 부재(23d)로부터 분리되고, 이에 의해서 시험편(A)을 분리시킨다.

상술된 유지 및 분리 작동을 수행하는 동안, 협지 기구(23)는 하기에 설명되는 수평 작동 기구의 도움으로 반송 방향(F)에 평행하게 전후로 움직인다.

도6을 참조하면, 수평 작동 기구는 캠(25)의 미리 정해진 부분에 고정된 핀(27)을 포함한다. 수평 작동 기구는 핀(27)과 관련된 선회 아암(28)을 또한 포함한다. 선회 아암(28)에는 핀(27)을 미끄러지면서 안내하기 위한 긴 개구(28a)가 형성된다. 선회 아암(28)의 하단부(28b)는 시험편 분석 장치의 미리 정해진 부분에 회전가능하게 연결된다.

작동 시, 선회 아암(28)의 상부는 반송 방향(F) 및 반대 방향으로 캐리지(23b)를 각각 이동하기 위해 전방 결합 부재(23g) 및 후방 결합 부재(23h)와 번갈아서 가압 접촉하게 된다. 이를 위해, 전방 및 후방 결합 부재(23g, 23h)는 캐리지(23b)에 고정된다.

도8 및 도9를 참조하면, 시험편 분석부(30)에는 시험편(A)을 광학 처리하기 위한 광학 시스템(30A)이 장치된다. 광학 처리 시에, 시험편(A)은 제2 정류부(20B)에서의 제위치에 유지된다(도1 참조). 시험편 분석부(30)에는 또한 시험편(A)의 길이 방향으로 광학 시스템(30A)을 이동시키기 위한 구동 시스템(30B)이 장치된다.

광학 시스템(30A)에 대한 더욱 자세한 설명은 도10 및 도11을 참조하여 이루어질 것이다. 도시된 바와 같이, 광학 시스템(30A)은 절연 기판(31)과, 캐리지(32a)와, 제1 및 제2 보조 부품(32b 및 32c)과, 다수의 발광 요소(35; 이하, "주요 발광 요소"라 칭함)와, 수광 요소(36)와, 발광 요소(35)를 보호하기 위한 투명한 1차 보호 커버(37)와, 수광 요소(36)를 보호하기 위한 투명한 2차 보호 커버(38)와, 발광 요소(39a; 이하, "제2 발광 요소"라 칭함)를 결합시킨 보조 조명기(39)를 포함한다.

기판(31)은 캐리지(32a) 상에 장착된다. 도8 및 도9에 도시된 바와 같이, 캐리지(32a)는 제1 보조 부품(32b)을 경유하여 벨트 구동 기구(33)에 연결된다. 특히, 벨트 구동 기구(33)는 무단 벨트(33a)와 이 무단 벨트(33a)에 결합하는 한 쌍의 풀리(33b, 33c)를 포함한다. 각각의 풀리(33b, 33c) 또는 이들 중 하나는, 예를 들면, 도시되지 않은 모터에 의해 구동될 수 있다. 도9에 도시된 바와 같이, 제1 보조 부품(32b)의 하부는 무단 벨트(33a)에 고정된다.

캐리지(32a)는 한 쌍의 평행 로드(34)에 의해 안내되도록 지지된다. 하나의 로드(34)는 캐리지(32a)에 형성된 보어(32d; 도10 및 도11 참조)를 관통하여 연장하는 반면에, 다른 로드(34)는 제2 보조 부품(32c)과 캐리지(32a) 사이의 간극을 통해 연장한다.

상기 구조와 함께, 상술된 도시되지 않은 모터가 전후 방향으로 구동될 때, 캐리지(32a)는 제2 정류부(20B)에 배치된 시험편(A)을 스캐닝하기 위해 평행 로드(34) 상에서 왕복하게 된다.

1차 발광 요소(35)는 상이한 파장의 빛을 발생시키도록 배열된 발광 다이오드(LED)로 할 수 있다. 이들 요소들은 상부로부터 습윤 시험편(A)을 조명시키기 위해 사용된다. 예시된 실시예에서, 원형으로 배열된 9개의 발광 요소(35)가 사용된다. 이들 중 3개는 적색 광(R)에 상응하는 제1 파장의 빛을 발산하기 위한 것이고, 다른 3개는 녹색 광(G)에 상응하는 제2 파장의 빛을 발산하기 위한 것이고, 나머지 3개는 청색 광(B)에 상응하는 제3 파장의 빛을 발산하기 위한 것이다. 동일한 색깔(R, G, B)의 세 개 발광 요소(35)는 서로 약 120°간격으로 원주상에 동일하게 배치된다. 따라서, 9개의 발광 요소(35)는, 예를 들면, 원형으로 R, G 및 B의 반복되는 순서로 교번하여 배치된다.

제1 파장(즉, 적색 광)의 세 개의 발광 요소(35)는 서로 상이한 세 개의 위상을 갖는 빛을 발산하도록 배열된다. 이 사실은 제2 파장의 요소(35) 뿐만 아니라 제3 파장의 요소(35)에도 동일하다.

이러한 구조와 함께, 동일 파장(R, G 또는 B)의 빛은 수광 요소(36)에 의해 효과적으로 수광될 수 있다.

수광 요소(36)는 감광성 다이오드로 제작될 수 있다. 수광 요소(36)는 시험편(A)의 시험 패드 상에서 반사된 빛의 검출을 위해 배치된다. 하부(또는 상부)로부터 관찰된 바와 같이, 수광 요소(36)는 원형상으로 배치된 발광 요소(35)의 중심에 배치된다. 발광 요소(35)로부터 발산된 빛이 수광 요소(36)에 직접 도달하는 것을 방지하기 위하여, 발광 요소(35)의 위치에 상응하여 복수의 광 차폐 부재(36a)가 사용된다.

수광 요소(36)에 의해 검출된 빛에 근거하여, 마이크로컴퓨터는 각각의 시료의 분석을 행하고, 이 후에 프린터 및/또는 모니터가 결과를 출력하도록 한다.

보조 발광기(39)에서 2차 발광 요소(39a)는 1차 발광 요소(35)에 유사한 LED일 수 있다. 보조 조명기(39)는 미리 정해진 파장을 갖는 빛으로 시험편(A)의 바닥면을 조명시킨다. 빛은 수광 요소(36)에 의해 검출되도록 시험편(A)을 부분적으로 투과하고, 동시에 시험편(A)에 의해 부분적으로 산란된다. 시험 패드가 시험편(A) 상에 존재할 때, 빛은 덜 통과하게 된다. 따라서, 수광 요소(36)에 의해 검출된 빛을 분석함으로써, 마이크로컴퓨터는 시험편(A) 상에 장착된 시험 패드의 위치를 결정할 수 있다.

상기 방식에서, 마이크로컴퓨터는 또한 시험편(A) 상의 시험 패드의 배치 형태를 결정할 수 있다. 따라서, 상이한 식별 목적을 위한 상이한 패드 배치를 갖는 복수의 시험편을 사용하는 경우에, 마이크로컴퓨터는 식별 목적이 각각의 시험편이 시험편 상의 특정 패드 패턴으로부터 판단하기 위해 사용된다는 것을 인식할 수 있다.

마이크로컴퓨터의 제어 하에서, 1차 및 2차 발광 요소는 광학 시스템(30A)이 시험편(A)의 길이 방향으로 이동함에 따라 켜지거나 또는 꺼지게 된다.

특히, 광학 시스템(30A)이 평행 로드(34) 상에서 이동하는 동안, 동일 색깔(예를 들어, 적색)의 주요 발광 요소(35)는 시험편(A)을 조명하기 위해 동시에 켜지고 미리 정해진 시간 동안 전력이 유지된다. 따라서, 적색 발광 요소(35)가 꺼진 후, 녹색 발광 요소(35)는, 예를 들어 켜지고, 이 후에 미리 정해진 시간 동안 전력이 유지된다. 유사하게, 녹색 발광 요소(35)가 꺼진 후, 청색 발광 요소(35)가 켜지고, 이 후에 미리 정해진 시간동안 전력이 유지된다. 이 켜지고 꺼지는 작동은 반복적으로 수행되고, 시험편(A)의 각각의 시험 패드 상에 반사된 빛은 수광 요소(36)에 의해 수광된다.

비슷하게, 2차 발광 요소(39a)는 광학 시스템(30A)이 평행 로드(34) 상에서 이동됨에 따라 마이크로컴퓨터의 제어 하에서 반복적으로 켜지거나 꺼지게된다.

2차 발광 요소(39a)의 켜짐-꺼짐 작동의 시기에 따라, 수광 요소(36)에 의해 검출된 빛으로부터 얻어진 데이터는 마이크로컴퓨터로 전송된다. 요소(36)에 의해 검출된 빛이 시험편(A) 상에서 반사된 빛[1차 발광 요소(35)로부터 생기는 빛] 또는 시험편(A)을 통과하는 빛[2차 발광 요소(39a)로부터 생기는 빛]이다. 전자의 빛[시험편(A) 상에서 반사됨]과 후자의 빛[시험편(A)을 통과함]은 동시에 또는 시간 지연으로 검출될 수 있다.

시험편(A) 상에서 반사된 빛과 비교하면, 시험편(A)을 통과한 빛은 시험편(A) 상의 시료에 의해 영향을 받지 않는다. 따라서, 바람직한 실시예에 따르면, 시험편(A) 상의 시험 패드의 위치는 정확하게 결정된다.

시험편(A)의 분석 작업이 종료된 후에, 시험편(A)은 방출 구역(20D)을 경유하여 방출된다. 이를 위해, 방출 구역(20D)에는 길이 방향 치수가 시험편(A)의 길이보다 큰 개구가 설치된다. 비록 도시되어 있지는 않지만, 시험편 분석 장치에는 사용된 시험편(A)의 적층을 일시적으로 저장하기 위한 내부 공간이 준비된다.

본 발명의 시험편 분석 장치의 전체 작동은 하기에 설명될 것이다.

먼저, 분석 장치의 사용자는 적절한 시간 간격으로 슬라이드 레일(11) 상에 하나씩 습윤 시험편(A)을 수동으로 놓는다.

따라서, 레일(11) 상에 배치된 습윤 시험편(A)은 푸시 아암(12)에 의해 유체 흡수기(21)를 향해 이동된다. 결국, 시험편(A)은 유체 흡수기(21)와 접촉하게 되고 잠시동안 제1 정류부(20A)에 정지한다. 이 위치에서, 시험편(A) 상의 유체 시료의 과량은 유체 흡수기(21)에 의해 제거(즉, 흡수)된다.

시험편(A)이 유체 흡수기(21)와 접촉한 후에, 푸시 아암(21)은 슬라이딩 기구(13)의 작동에 의해 초기 위치로 다시 가져올 것이다.

따라서, 제1 정류부(20A)에서 시험편(A)은 순차적으로 반송되어 협지 기구(23)에 의해 다른 것에 이어서 절결부(22a)의 하나와 결합한다. 동일 방식으로, 후속 시험편(A)은 협지 기구(23)에 의해 진행된다.

반송 작업의 소정 단계에서, 전체 8개의 시험편(A1 내지 A8)은 분석 장치 상의 제 위치에 동시에 유지된다. 이 상황은 도13에 도시되어 있다. 도시된 바와 같이, 제1 시험편(A1)은 제1 정류부(20A)에 위치되고, 동시에 제8 시험편(A8)은 제2 정류부(20B)에 위치된다. 제2 내지 제7 시험편(A2 내지 A7)은 제1 및 제8 시험편(A1, A8) 사이에 배치된다. 특히, 제2 시험편(A2)은 제1 정류부(20A)에 가장 근접하는 제1 유지 위치에 유지된다. 비슷하게, 제3 시험편(A3)은 제1 유지 위치 다음의 제2 유지 위치에 유지되고, 제4 시험편(A4)은 제2 유지 위치 다음의 제3 유지 위치에 유지된다. 이들 8개의 시험편(A1 내지 A8)은 서로 동일하게 이격된다.

도13에서, 각각의 시험편 보지 부재(23a)는 시험편(A1 내지 A8) 중 대응하는 것에 인접하여 유지된다. 동시에, 각각의 보지 부재(23a)의 상부 및 하부 부재(23d, 23e)는 근접하지 않는다[즉, 두 개 부재(23d, 23e)는 도7에 도시된 바와 같이 서로 떨어져 있다].

샤프트(13a)[및 캠(25)]가 도14에 도시된 바와 같이 약 90°정도로 회전(1/4 회전)될 때, 종동 캠(26)은 상방으로 이동한다. 결과적으로, 시험편 유지 부재(23a)는 로드(23c) 주위에서 상방으로 선회하도록 되고, 이에 의해서 각각의 상부 및 하부 부재(23d, 23e)가 밀접하게 된다. 따라서, 이 단계에서, 제1 내지 제8 시험편(A1 내지 A8)은 동시에 파지되고 8개의 유지 부재(23a)에 의해 각각 상승한다.

샤프트(13a)의 상기 1/4 회전 동안, 선회 아암(28)은 제1 위치(도13)로부터 제2 위치(도14)까지 이동된다. 제1 위치에서, 선회 아암(28)은 상부가 후방 결합 부재(23h)와 접촉하여 유지된 상태에서 제1 정류부(20A)을 향해 경사진다. 제2 위치에서, 선회 아암(28)은 후방 결합 부재(23h) 또는 전방 결합 부재(23g)와 접촉하지 않고 직립으로 유지된다. 따라서, 샤프트(13a)의 1/4 회전 동안, 협지 기구(23)는 선회 아암(23)에 의해 이동되지 않고, 반송 방향(F)에서 관찰된 바와 같이, 초기 위치에 남는다.

따라서, 샤프트(13a)가, 도15에 도시된 바와 같이, 90°더 회전(2/4 회전)될 때, 종동 캠(26)은 캠(25)의 특정 형상 때문에 도14에 도시된 바와 같이 동일 높이에 유지된다. 따라서, 각각의 시험편 유지 부재(A1 내지 A8)는 상승한 위치에 유지된다. 다른 한편으로, 선회 아암(28)은 선회 아암(28)이 제2 정류부(20B)를 향해 경사지는 제3 위치로 가져온다.

상기 2/4 회전 동안, 선회 아암(28)의 상부는 전방 결합 부재(23g)와 결합하게 된다. 따라서, 제2 정류부(20B)을 향하는 선회 아암(28)의 경사 단계에서, 협지 기구(23)는 전체적으로 반송 방향(F)을 따라 이동된다.

협지 기구(23)의 상기 이동의 결과로서, 제1 시험편[A1; 제1 정류부(20A)에 초기에 위치됨]은 제1 유지 위치 바로 위의 위치[제2 시험편(A2)이 초기에 위치됨]로 이동될 것이다. 비슷하게, 제2 시험편(A2)은 제2 유지 위치 바로 위치로 이동될 것이고, 제3 시험편(A3)은 제4 유지 위치 바로 위의 위치로 이동될 것이며, 나머지는 마찬가지다.

따라서, 샤프트(13a)가 다른 90°정도로 더욱 회전(3/4 회전)될 때, 종동 캠(26)은 도16에 도시된 바와 같이, 하향한다. 결과적으로, 개별적인 시험편 유지 부재(23a)는 로드(23c) 주위를 하향으로 선회하게 되고, 이에 의해서 제1 내지 제8 시험편(A1 내지 A8)을 낮춘다. 시험편 유지 부재(23a)의 하향 이동의 적합한 단계에서, 상부 부재(23d)와 대응하는 하부 부재(23e)는 개방될 것이고(도7에 도시됨), 개별적인 시험편(A1 내지 A8)은 분리된다.

결과적으로, 제1 시험편(A1)은 제1 유지 위치에서 제 위치에 유지되고, 제2 시험편(A2)은 제2 유지 위치에서 제 위치에 유지되며, 나머지는 마찬가지다. 그러나, 방출 구역(20D)으로 가져오는 제8 시험편(A8)은 중력에 의해 떨어져서 방출된다.

상기 3/4 회전 동안, 선회 아암(28)의 상부는, 도16에 도시된 바와 같이, 전방 결합 부재(23g) 또는 후방 결합 부재(23h)와 결합하지 않는다. 따라서, 협지 기구(23)는 반송 방향(F)에 정지되어 있다.

최종적으로, 샤프트(13a)가, 도17에 도시된 바와 같이, 다른 90°정도로 회전(4/4 회전)될 때, 종동 캠(26)은 도16에 도시된 하부 위치에 남아 있게 된다. 따라서, 시험편(A1 내지 A7)은 유지 부재(23a)에 의해 파지되지 않고 고정되어 있는다.

4/4 회전 동안, 선회 아암(28)은 선회 아암(28)의 상부가 후방 결합 부재(23h)와 접촉하여 유지된 상태로 제1 정류부(20A)를 향해 경사진다. 결과적으로, 협지 기구(23)는 반송 방향(F)에 반대인 방향으로 이동하고, 이에 의해서 개별적인 시험편 유지 부재(23a)는 도13에 도시된 초기 위치로 다시 가져와진다.

상술된 1/4 내지 4/4 회전의 반복은 복수의 시험편(A)을 제1 정류부(20A)로부터 제2 정류부(20B)로 반송되고, 최종적으로 폐기부(20D)에서 폐기되도록 한다.

상술된 바와 같이, 시험편(A)이 제2 정류부(20B)로 가져올 때마다, 시험편(A)은 측광된다.

상기 구조와 함께, 각각의 습윤 시험편(A)은 습윤 시험편(A)이 협지 기구(23)에 의해 공중에 유지될 때 반송 경로(20C)를 따라 수평 방향[즉, 반송 방향(F)]으로 이동된다. 따라서, 종래 장치와는 달리, 본 발명의 반송 경로(20C)는 시험편(A) 상의 시료에 의해 오염되지 않는다.

또한, 복수의 시험편 유지 부재(23a)와 함께, 하나 이상의 시험편(A)은 반송 경로(20C)를 따라 동시에 반송될 수 있어, 시험편 분석 작업의 효율성을 개선시키는 데 유익하다

또한, 샤프트(13a)는 푸시 아암(12), 종동 캠(26) 및 선회 아암(28)을 작동하는 데 사용된다. 따라서, 푸시 아암(12), 종동 캠(26) 및 선회 아암(28)의 작업 시기를 조정하는 것이 용이하다.

상술된 바람직한 실시예에 따르면, 제2 발광 요소(39a)에서 방출된 빛이 각 시험편(A)의 배면을 조명하도록 구조가 이루어진다. 대안으로, 도12에 도시된 바와 같이, 보조 조명기(39)를 시험편(A) 아래에 배열된 제2 수광 장치(36b)로 대체하는 것이 가능하다. 제2 수광 장치(36b)는 표면으로부터 배면으로 시험편(A)을 통과하는 빛을 수광하기 위해 제공된다. [광원(35)으로부터 발산된 빛이 시험편(A)에 의해 부분적으로 반사되거나 또는 산란되고, 동시에 부분적으로는 시험편(A)을 통과한다는 것을 인식하여야 한다.] 이러한 구조와 함께, 시험편(A) 상의 개별적인 시험 패드의 위치를 정확하게 결정하기 위한 바람직한 실시예에서와 같은 동일한 장점을 얻을 수 있다.

상술된 본 발명이 다른 방식으로 변경될 수 있다는 것은 명백하다. 이러한 변경은 본 발명의 사상 및 요지로부터 벗어나는 것으로 인식되지 않고, 기술 분야의 숙련된 당업자들에게 명백한 모든 수정은 하기 청구범위의 요지 내에 포함된다.

Claims

시험편 상에서 과량의 시료를 제거하기 위한 유체 흡수 수단에 있어서,

과량의 시료를 흡수하기 위한 흡수재와,

상기 흡수 부재가 시험편과 접촉하도록 상기 흡수 부재를 지지하기 위한 유지 부재로 이루어진 유체 흡수 수단.
제1항에 있어서, 상기 흡수 부재는 상기 시험편이 미리 정해진 거리까지 미끄러져 이동된 후 상기 시험편과 접촉하도록 배열되는 유체 흡수 수단.
제1항에 있어서, 상기 흡수 부재는 흡수 섬유질로 제작되는 유체 흡수 수단.
제1항에 있어서, 상기 흡수 부재는 기공성 수지로 제작되는 유체 흡수 수단.
제1항에 있어서, 상기 흡수 부재는 고분자 흡수재로 제작되는 유체 흡수 수단.
제1항에 있어서, 상기 흡수 부재는 스폰지로 제작되는 유체 흡수 수단.
제1항에 있어서, 상기 흡수 부재는 교체가능한 방식으로 상기 유지 부재에 의해 지지되는 유체 흡수 수단.
제1항에 있어서, 상기 흡수 부재를 수용하기 위한 케이싱을 더 포함하고, 상기 케이싱은 교체가능한 방식으로 상기 유지 부재에 의해 지지되는 유체 흡수 수단.
시험편을 제1 정류부로부터 제2 정류부로 반송하기 위한 시험편 반송 조립체에 있어서,

상기 제1 정류부로부터 상기 제2 정류부까지 연장하고 있고, 규칙적인 간격으로 배치된 복수의 시험편 중 미리 정해진 개수를 보유하도록 배열된 시험편 유지부와,

상기 시험편이 규칙적인 간격으로 진행된 후 미리 정해진 개수의 시험편을 공중에서 동시에 보유하고 미리 정해진 개수의 시험편을 분리하도록 배열된 수평 왕복 협지 기구로 이루어진 시험편 반송 조립체.
제9항에 있어서, 상기 협지 기구는 시험편을 집고, 상승시키고, 하강시키고, 분리시키도록 각각 배열된 복수의 시험편 유지부와,

각각의 시험편 유지부가 시험편을 집고, 상승시키고, 하강시키고, 분리시키도록 배열된 제1 작동 기구와,

시험편이 상승될 때 상기 시험편 유지부가 규칙적인 간격으로 진행하도록 배열되고, 동시에 상기 시험편이 분리된 후 상기 시험편 유지부가 규칙적인 간격으로 역행하도록 배열된 제2 작동 기구로 이루어진 시험편 반송 조립체.
제10항에 있어서, 왕복 케이싱과, 규칙적인 간격으로 배치된 시험편 유지부를 선회가능하게 보유하기 위해 상기 왕복 케이싱에 의해 지지된 로드를 더 포함하고,

각각의 시험편 유지부는 제1 단편과 제2 단편을 포함하고,

상기 제1 단편은 관련된 시험편의 표면과 분리가능하게 결합하고, 상기 제2 단편은 관련된 시험편의 다른 표면과 분리가능하게 결합하는 시험편 반송 조립체.
제11항에 있어서, 각각의 시험편 유지부의 제1 단편과 제2 단편은 탄성 부재에 의해 미리 정해진 방향으로 힘을 받고, 각각의 시험편 유지부의 제1 단편과 제2 단편은 개방 상태 및 폐쇄 상태로 선택적으로 야기되는 시험편 반송 조립체.
제10항에 있어서, 상기 제1 작동 기구는 회전 샤프트와, 상기 회전 샤프트에 고정된 캠과, 상기 시험편 유지부를 작동하기 위해 상기 캠과 관련된 종동 캠을 포함하는 시험편 반송 조립체.
제13항에 있어서, 상기 캠은 1/4 원형 형상을 갖는 시험편 반송 조립체.
제10항에 있어서, 상기 제2 작동 기구는 축 주위를 이동가능한 돌기 단편과 , 상기 돌기 단편을 활동 가능하게 수용하기 위한 안내홈이 형성된 스윙 암을 포함하는 시험편 반송 조립체.
제9항에 있어서, 상기 시험편 유지부에는 상기 시험편을 위치 설정하기 위한 절결부가 형성된 한 쌍의 레일이 제공되는 시험편 반송 조립체.
제9항에 있어서, 상기 시험편 유지부에 인접한 시험편 방출 개구를 더 포함하는 시험편 반송 조립체.
표면과 배면을 갖고, 상기 표면은 적어도 하나의 시험 패드를 수반하는 시험편용 광학 분석 조립체에 있어서,

상기 시험편의 표면을 조명시키기 위한 제1 조명기와,

상기 시험편의 표면 상에서 반사된 빛을 수용하기 위한 수광 장치와,

상기 시험 패드를 위치 설정하기 위해 상기 시험편의 배면을 조명시키기 위한 제2 조명기로 이루어지고,

상기 수광 장치는 상기 제2 조명기로부터 발산되고 상기 시험편을 통과한 빛을 수용하도록 작용하는 광학 분석 조립체.
제18항에 있어서, 상기 제1 조명기, 상기 수광 장치 및 상기 제2 조명기는 시험편에 상대적으로 이동하도록 배열되는 광학 분석 조립체.
제18항에 있어서, 상기 제1 조명기는 원형으로 배열되고 상이한 파장의 빛을 발산하는 복수의 발광 요소를 포함하고, 상기 수광 장치는 상기 발광 요소의 중심에 배치되는 광학 분석 조립체.
제20항에 있어서, 상기 발광 요소 중 선택된 요소들은 동일 파장의 빛을 발산하고 서로로부터 원주상에서 동일하게 간격을 둔 광학 분석 조립체.
제21항에 있어서, 상기 발광 요소 중 선택된 요소들은 상이한 위상을 갖는 빛을 발산하는 광학 분석 조립체.
표면과 배면을 갖고, 상기 표면은 적어도 하나의 시험 패드를 수반하는 시험편용 광학 분석 조립체에 있어서,

상기 시험편의 표면을 조명시키기 위한 제1 조명기와,

상기 시험편의 표면 상에서 반사된 빛을 수용하기 위한 제1 수광 장치와,

상기 시험편을 통과한 빛을 수용하기 위해 상기 시험편의 아래에 배열된 제2 수광 장치를 포함하는 광학 분석 조립체.