KR20000004400A - 반도체 소자의 배선 형성방법 - Google Patents

반도체 소자의 배선 형성방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 배선의 수직 프로파일을 균일하게 형성하여, 고집적 소자에 대응할 수 있는 반도체 소자의 배선 형성방법을 제공한다.
본 발명에 따른 반도체 소자의 금속배선은 반도체 기판 상에 Ti/TiN막, 텅스텐막, 및 Ti 막을 순차적으로 증착하고, Ti막, 텅스텐막, 및 Ti/TiN막을 패터닝하여 형성한다. 이때, Ti/TiN막은 Cl2개스와 100 내지 120W의 바이어스 파워를 이용하여 식각함으로써, Ti/TiN막이 균일한 수직 프로파일을 갖는 것을 특징으로 한다.

Description

반도체 소자의 배선 형성방법
본 발명은 반도체 소자의 제조방법에 관한 것으로, 특히 Ti/TiN막과, 텅스텐막 및 Ti막의 적층 구조로 이루어진 반도체 소자의 배선 형성방법에 관한 것이다.
반도체 디바이스의 고집적화에 따라, 배선 설계가 자유롭고 용이하며, 배선 저항 및 전류용량 등의 설정을 여유있게 할 수 있는 배선 기술에 관한 연구가 활발히 진행되고 있다. 이중 비트 라인의 형성시, 텅스텐을 이용하여 저항을 감소시키면서 스텝커버리지를 향상시키는 방법이 제시되었다.
도 1은 텅스텐을 이용한 종래의 비트라인 형성방법을 설명하기 위한 단면도이다. 도 1을 참조하면, 반도체 기판(10) 상에 배리어 금속막으로 작용하는 Ti/TiN막(11), 텅스텐막(12), 및 ARC(Anti-Reflective Coating)막으로서 작용하는 TiN막(13)을 순차적으로 증착한다. 반도체 기판(10)은 도시되지는 않았지만 비트라인용 콘택홀이 형성된 절연막을 구비하고, Ti/TiN막(11), 텅스텐막(12), 및 TiN막(13)은 상기 콘택홀을 통하여 기판(10)과 콘택되어 있다. 그런 다음, TiN막(13), 텅스텐막(12), 및 Ti/TiN막(11)을 패터닝하여 비트라인(100)을 형성한다.
상기한 종래의 비트라인 형성에서, 식각시 텅스텐막(12) 측벽에 소정의 폴리머(미도시)가 형성되어, 하부의 Ti/TiN막(11)의 식각후, 도 1에 도시된 바와 같이, 그의 수직 프로파일이 포지티브 기울기(positive slope)로 나타난다. 그러나, 반도체 소자의 고집적화에 따른 배선밀도의 증가로 인하여, Ti/TiN막(13)의 포지티브 기울기는 배선간의 단락을 유발할 뿐만 아니라, 후속 공정에 대한 마진을 확보하는데 어려움이 있어서, 고집적 소자에 대응하기가 어렵다.
이러한 문제를 해결하기 위하여, Ti/TiN막을 Cl2/BCl3개스를 이용하는 대신에 화학 식각 특성이 강한 Cl2개스만을 이용하여 식각함으로써, Ti/TiN 막의 포지티브 기울기를 방지하고자 하였다. 그러나, 이러한 경우에는 도 2에 도시된 바와 같이, Ti/TiN막(21)의 수직 프로파일이 네가티브 기울기(negative slope)로 나타나서, 결국 배선의 신뢰성이 저하된다.
따라서, 본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 배선의 수직 프로파일을 균일하게 형성하여, 고집적 소자에 대응할 수 있는 반도체 소자의 배선 형성방법을 제공함에 그 목적이 있다.
도 1 및 도 2는 종래의 반도체 소자의 배선 구조를 나타낸 단면도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 반도체 소자의 배선 형성방법을 설명하기 위한 단면도.
〔도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명〕
30 : 반도체 기판 31 : Ti/TiN막
32 : 텅스텐막 33 : Ti막
300 : 비트 라인
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 반도체 소자의 금속배선은 반도체 기판 상에 배리어 금속막, 금속막, ARC막을 순차적으로 증착하고, ARC막, 금속막, 및 배리어 금속막을 패터닝하여 형성한다. 이때, 배리어 금속막은 Cl2개스와 100 내지 120W의 바이어스 파워를 이용하여 식각함으로써, 배리어 금속막이 균일한 수직 프로파일을 갖는 것을 특징으로 한다.
또한, 배리어 금속막은 Ti/TiN막이고, 금속막은 텅스텐막이고, ARC막은 TiN막이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명한다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 반도체 소자의 비트라인 형성방법을 설명하기 위한 단면도이다.
도 3을 참조하면, 반도체 기판(30) 상에 200 내지 500Å 두께의 Ti막과 300 내지 600Å 두께의 TiN막을 적층하여 배리어 금속막으로서 작용하는 Ti/TiN막(31)을 형성하고, 그 상부에 1,000 내지 2,000Å의 두께로 텅스텐막(32)을 형성한다. 그런 다음, 텅스텐막(32) 상에 ARC(Anti-Reflective Coating)막으로서 TiN막(33)을 형성한다. 여기서, 반도체 기판(30)은 도시되지는 않았지만 비트라인용 콘택홀이 형성된 절연막을 구비하고, Ti/TiN막(31), 텅스텐막(32), 및 TiN막(33)은 상기 콘택홀을 통하여 기판(30)과 콘택되어 있다.
그 후, TiN막(33) 상에 포토리소그라피로 포토레지스트막 패턴(미도시)을 형성하고, 상기 포토레지스트막 패턴을 식각 마스크로 하여, TiN막(33), 텅스텐막(32), 및 Ti/TiN막(31)을 식각하여 비트라인(300)을 형성한다. 이때, TiN막(33)은 Cl2/BCl3개스를 이용하여 식각하고, 텅스텐막(32)은 1,000W 이상의 소오스 파워와, 100W이상의 바이어스 파워와, 60 내지 80sccm의 SF6개스와, 10 내지 20SCCM의 N2개스를 이용하여 10 내지 15mTorr의 압력에서 식각한다. 또한, Ti/TiN막(31)의 식각은 화학 식각 특성이 강한 Cl2개스만을 이용한 등방성 식각으로, 종래 80W 정도보다 비교적 높은 100 내지 120W, 바람직하게 110W의 바이어스 파워와, 1,000 내지 1,600W의 소오스 파워를 이용하여, 8 내지 10mTorr의 압력에서 진행한다. 이에 따라, Ti/TiN막(31)의 식각시, 화학 식각 특성이 강한 Cl2개스가 높은 바이어스 파워에 의해 직진성이 증가되기 때문에, 식각 후 도 3에 도시된 바와 같이, Ti/TiN막(31)의 수직 프로파일이 포지티브 기울기의 생성 없이 균일하게 나타난다. 그 후, 공지된 방법으로 상기 포토레지스트막 패턴을 제거한다.
상기한 본 발명에 의하면, Ti/TiN막과, 텅스텐막, 및 Ti막의 패터닝시, 텅스텐막의 식각 후 폴리머가 형성되더라도, 비교적 높은 바이어스 파워와 화학 식각 특성이 강한 Cl2개스만을 이용하여, 텅스텐막 하부의 Ti/TiN막을 식각하기 때문에, Ti/TiN막의 균일한 수직 프로파일을 얻을 수 있다. 이에 따라, Ti/TiN막의 포지티브 기울기로 인한 배선간의 단락을 방지할 수 있을 뿐만 아니라, 후속 공정에 대한 마진을 용이하게 확보할 수 있으므로, 고집적 소자에 대응하는 것이 가능하다.
또한, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 기술적 요지를 벗어나지 않는 범위내에서 다양하게 변형시켜 실시할 수 있다.

Claims (4)

  1. 반도체 기판 상에 배리어 금속막, 금속막, ARC막을 순차적으로 증착하는 단계; 및,
    상기 ARC막, 금속막, 및 배리어 금속막을 패터닝하여 배선을 형성하는 단계를 포함하고,
    상기 배리어 금속막은 Cl2개스와 100 내지 120W의 바이어스 파워를 이용하여 식각함으로써, 상기 배리어 금속막이 균일한 수직 프로파일을 갖는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 배선 형성방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 배리어 금속막은 Ti/TiN막이고, 상기 금속막은 텅스텐막이고, 상기 ARC막은 TiN막인 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 배선 형성방법.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 배리어 금속막은 200 내지 500Å 두께의 Ti막과 300 내지 600Å 두께의 TiN막을 적층하여 형성하고, 상기 텅스텐막은 1,000 내지 2,000Å의 두께로 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 배선 형성방법.
  4. 제 2 항 또는 제 3 항에 있어서, 상기 Ti/TiN막의 식각은 1,000 내지 1,600W 의 소오스 파워를 이용하여 8 내지 10mTorr의 압력에서 진행하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자의 배선 형성방법.
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