KR20000002451A - 신뢰도를 개선할 수 있는 반도체 패키지의 본딩부 및 본딩방법 - Google Patents
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Abstract
본드패드의 부식을 억제하고, 본드 와이어(bond wire)와 본드패드간의 접착력을 향상시킬 수 있는 반도체 패키지의 본딩부 및 본딩방법에 관해 개시한다. 이를 위해 본 발명은 칩의 본드패드를 본드 와이어를 사용하여 칩 외부로 연결하는 제1 공정과, 본드 와이어가 연결된 본드패드 상부를 절연막으로 덮는 제2 공정을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 본딩방법 및 이러한 본딩에 의한 반도체 패키지의 본딩부를 제공한다.
Description
본 발명은 반도체 패키지(Package) 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 본드패드를 본드와이어로 외부로 연결하는 반도체 패키지의 와이어 본딩부(Wire bonding section) 및 본딩방법에 관한 것이다.
일반적으로 반도체 패키지 제조공정은 칩(Chip)을 리드프레임(leadframe)이나 인쇄회로기판(PCB: Print Circuit Board)의 칩패드(Chippad)에 탑재(mounting)하고 칩의 기능을 외부로 연결하기 위한 와이어 본딩(Wire bonding)을 수행한다. 그 후, 몰딩(Molding) 공정을 진행하여 칩이 외부 환경으로부터 보호되게 한다. 이때, 칩에서 본드 와이어(bond wire)와 연결되는 본드패드(Bondpad)는 도전막으로 구성되고 칩의 다른 영역과 달리 칩을 외부로부터 보호하는 역할을 수행하는 패시베이션층(Passivation Layer)이 덮여지지 않고 개방된 상태가 된다. 따라서, 패키징(Packaging) 공정을 완료한 후에 이 부분에 부식(Corrosion) 등의 문제가 발생하여 누설전류를 발생시켜 반도체 소자의 특성을 저하시키고 심한 경우에는 단선(Short) 결함이 발생하여 여러 가지 문제의 원인이 되고 있다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 와이어 본딩(wire bonding) 공정이 끝난 후에 칩의 본드패드를 보호할 수 있는 공정을 추가하여 상술한 본딩공정에서 발생하는 문제점을 해결할 수 있는 반도체 패키지의 본딩방법을 제공하는데 있다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 기술적 과제는 상기 반도체 패키지의 본딩방법에 의한 본딩부를 제공하는데 있다.
도 1은 본 발명에 의한 본딩방법을 설명하기 위해 도시한 본딩(bonding)된 칩(Chip)의 평면도이다.
도 2는 상기 도 1의 본딩방법에 의해 본딩된 칩의 구조를 설명하기 위한 단면도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
100: 칩(Chip), 102: 본딩와이어(Bonding wire),
104: 본드패드, 106: 절연막,
108: 패시베이션층(Passivation layer).
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명은, 칩의 본드패드를 본드 와이어를 사용하여 칩 외부로 연결하는 제1 공정과, 상기 본드 와이어가 연결된 본드패드 상부를 절연막으로 덮는 제2 공정을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 본딩방법을 제공한다.
본 발명의 바람직한 실시예에 의하면, 상기 절연막은 폴리이미드(Polyimide)를 사용하는 것이 적합하고, 상기 제2 공정 후에 상기 절연막의 경화를 위한 베이킹(baking) 공정을 추가로 진행하는 것이 적합하다.
바람직하게는 상기 제2 공정의 절연막은 칩의 모든 본드패드를 덮거나 부분적으로 덮도록 형성하는 것이 적합하다.
상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명은, 집적회로를 포함하는 반도체 칩과, 상기 칩의 상부에 노출된 도전막으로 구성된 본드패드(bondpad)와, 상기 본드패드와 연결되어 칩 외부로 상기 집적회로의 기능을 확장시키는 본드 와이어(bond wire) 및 상기 칩의 본드패드를 덮으면서 본드와이어를 고정하는 역할을 하는 절연막을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 와이어 본딩부를 제공한다.
본 발명의 바람직한 실시예에 의하면, 상기 절연막은 폴리이미드(Polyimide)를 재질로 하는 것이 적합하다.
본 발명에 따르면, 첫째 반도체 소자의 패키징 공정에서 칩의 본드패드에서 발생하는 부식을 억제하여 누설전류의 증가나 단선결함과 같은 전기적인 특성저하를 방지하고, 둘째 본드 와이어간의 기생 커패시턴스를 억제하고, 셋째 본드 와이어와 본드패드간의 접착력을 향상시켜 신뢰도가 높은 반도체 패키지를 실현할 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명에 의한 본딩방법을 설명하기 위해 도시한 본딩(bonding)된 칩(Chip)의 평면도이다.
도 1을 참조하면, 리드프레임(leadframe)이나 인쇄회로 기판(PCB)의 칩패드에 탑재된 반도체 칩(100)을 와이어 본딩 장비(Wire bonding machine)를 이용하여 본드 와이어(102)가 칩에 본드패드(104)에 연결되어 칩의 외부, 예컨대 리드프레임의 인너 리드 팁(Inner lead tip)에 연결되도록 한다. 이때, 본드 패드(104)는 본드 와이어(102)의 접합을 위해 도전막 위에 보호막이 없는 상태로 다음 공정인 몰딩(molding) 공정으로 진행되었다. 그러나, 본 발명에서는 절연막(106), 예컨대 폴리이미드(Polyimide)와 같은 막질은 한 방울씩 떨어뜨리는 방식으로 본드 패드(104)를 덮도록 하는 공정을 추가함으로써 본드 패드(104)가 후속공정 또는 사용자가 사용하는 동안 부식되어 반도체 소자의 전기적인 특성이 저하되는 문제점을 방지할 수 있다. 이러한 절연막은 칩에 있는 모든 본드 패드(104)를 전부 덮도록 형성할 수도 있고, 전원이 주로 인가되는 특정 본드패드(104)에만 선별적으로 형성할 수 있다.
도 2는 상기 도 1의 A부분을 절개(Cross section)하였을 때의 단면도이다.
도 2를 참조하면, 집적회로가 형성된 칩(100)에는 외부 연결을 위해 도전막으로 구성된 본드패드(104)와, 상기 본드패드(104)와 연결된 본드 와이어(102)가 구성되어 있다. 그리고 본드패드(104)를 제외한 칩의 표면에는 보호막의 역할을 하는 패시베이션층(108)이 덮여 있다. 그리고 본 발명에 의한 절연막, 예컨대 폴리이미드(Polyimide)막이 패시베이션층(108)과 본드패드(104)를 덮으면서 본드 와이어(102)를 고정하도록 구성되어 있다. 여기서 상기 절연막(106)은 본 발명의 핵심사상으로 본드패드(104)가 부식되는 것을 방지하고, 복수개의 본드 와이어(102) 상호간에 발생할 수 있는 기생용량을 억제하고, 본드와이어(102)와 본드패드(104)간의 접착력을 강화시키는 중요한 역할을 한다.
본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명이 속한 기술적 사상 내에서 당 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 많은 변형이 가능함이 명백하다.
따라서, 상술한 본 발명에 따르면, 본드패드를 덮는 절연막 형성공정을 반도체 패키지 제조공정에 추가함으로써, 첫째 반도체 소자의 패키징 공정에서 칩의 본드패드에서 발생하는 부식을 억제하여 누설전류의 증가나 단선결함과 같은 전기적인 특성저하를 방지하고, 둘째 본드 와이어간의 기생 커패시턴스를 억제하고, 셋째 본드 와이어와 본드패드간의 접착력을 향상시켜 신뢰도가 높은 반도체 패키지를 실현할 수 있다.
Claims (6)
- 칩의 본드패드를 본드 와이어를 사용하여 칩 외부로 연결하는 제1 공정; 및상기 본드 와이어가 연결된 본드패드 상부를 절연막으로 덮는 제2 공정을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 본딩방법.
- 제 1항에 있어서,상기 절연막은 폴리이미드(Polyimide)를 사용하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 본딩방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 절연막은 칩의 모든 본드패드를 덮거나 부분적으로 제한된 개수의 본드패드를 덮도록 형성하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 본딩방법.
- 제 1항에 있어서,상기 제2 공정 후에 베이킹 공정을 추가로 진행하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 본딩방법.
- 집적회로를 포함하는 반도체 칩;상기 칩의 상부에 노출된 도전막으로 구성된 본드패드(bondpad);상기 본드패드와 연결되어 칩 외부로 상기 집적회로의 기능을 확장시키는 본드 와이어(bond wire); 및상기 칩의 본드패드를 덮으면서 본드와이어를 고정하는 역할을 하는 절연막을 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 와이어 본딩부.
- 제 1항에 있어서,상기 절연막은 폴리이미드(Polyimide)를 재질로 하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 와이어 본딩부.
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