KR19990084782A - 광디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법 - Google Patents

광디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR19990084782A
KR19990084782A KR1019980016784A KR19980016784A KR19990084782A KR 19990084782 A KR19990084782 A KR 19990084782A KR 1019980016784 A KR1019980016784 A KR 1019980016784A KR 19980016784 A KR19980016784 A KR 19980016784A KR 19990084782 A KR19990084782 A KR 19990084782A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
recording
test
pattern
test pattern
drive
Prior art date
Application number
KR1019980016784A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100301001B1 (ko
Inventor
서진교
Original Assignee
윤종용
삼성전자 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 윤종용, 삼성전자 주식회사 filed Critical 윤종용
Priority to KR1019980016784A priority Critical patent/KR100301001B1/ko
Publication of KR19990084782A publication Critical patent/KR19990084782A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100301001B1 publication Critical patent/KR100301001B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1816Testing
    • G11B20/182Testing using test patterns
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/10009Improvement or modification of read or write signals
    • G11B20/10305Improvement or modification of read or write signals signal quality assessment
    • G11B20/10398Improvement or modification of read or write signals signal quality assessment jitter, timing deviations or phase and frequency errors
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/18Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
    • G11B20/1883Methods for assignment of alternate areas for defective areas
    • G11B20/1889Methods for assignment of alternate areas for defective areas with discs
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00Record carriers by type
    • G11B2220/20Disc-shaped record carriers
    • G11B2220/25Disc-shaped record carriers characterised in that the disc is based on a specific recording technology
    • G11B2220/2537Optical discs

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

디스크의 드라이브 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하고 이로부터 재생된 패턴을 원래의 패턴과 비교하여 비트 에러율, 지터량 등을 측정하고, 이를 최적화하도록 드라이브의 조정 상태를 조정하는 테스트 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 테스트 방법은 디스크의 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하는 테스트 패턴 기록 과정; 상기 테스트 영역에 기록된 테스트 패턴을 재생하는 테스트 패턴 재생 과정; 및 상기 테스트 패턴 기록 과정에서 기록된 테스트 패턴과 재생된 테스트 패턴을 비교하고, 비트 에러의 발생 유무 및 발생 횟수를 계수하는 에러 비트 계수 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 테스트 방법은 디스크의 소정 영역에 테스트 패턴을 기록하고, 기록된 패턴을 재생하여 원래의 기록 패턴과 비교함에 의해 BER, JITTER 량 등을 측정할 수 있고, 이에 근거하여 드라이브의 조정 상태 예를 들면, 재생 속도, 레이저 다이오드의 파워, 기록 펄스의 펄스폭 등을 디스크의 상태에 맞추어 최적화할 수 있게 하는 효과를 가진다.
또한, 본 발명에 있어서는 특별히 고안된 테스트 패턴을 사용함으로써 BER 및 지터량을 효율적으로 측정할 수 있다.

Description

광 디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법
본 발명은 광 디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법에 관한 것으로서, 특히 디스크의 드라이브 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하고 이로부터 재생된 패턴을 원래의 패턴과 비교하여 비트 에러율, 지터량 등을 측정하고, 이를 최적화하도록 드라이브의 조정 상태를 조정하는 테스트 방법에 관한 것이다.
멀티미디어 시대는 고용량의 기록 매체를 요구하게 되고, 이에 부응하는 기록 매체로서 MODD(Magneto-Optical Digital Disc), DVD-RAM 등이 있다.
기록 매체의 기록 밀도가 높아짐에 따라 이러한 기록 매체에/로부터 기록/재생하는 장치의 성능 예를 들면, 비트 에러 레이트(BER)를 최적화하기 위한 재생 속도, 최적의 기록을 보장하기 위한 기록용 레이저의 파워 및 펄스 트레인의 폭 조절 등은 사용되는 기록 매체에 맞추어 최적화될 것이 요구된다.
종래에 있어서 광 디스크 플레이어는 제작업체에서 테스트된 상태로 사용될 뿐이었기 때문에 사용 도중에 광 디스크 플레이어의 성능을 최적화하기 위해서는 제작업체에 의뢰할 할 수밖에 없었다.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서 광 디스크 기록/재생 장치에 있어서 자체적으로 사용중인 광 디스크의 특성에 맞추어 그의 성능을 최적화할 수 있는 테스트 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
도 1은 DVD-RAM 디스크의 리드인 영역의 구조를 보이기 위한 것이다.
도 2는 DVD-RAM 디스크의 리드아웃 영역의 구조를 보이기 위한 것이다.
도 3은 본 발명에 따른 디스크 드라이브 테스트 방법을 보이는 흐름도이다.
상기의 목적을 달성하는 본 발명에 따른 테스트 방법은 디스크의 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하는 테스트 패턴 기록 과정; 상기 테스트 영역에 기록된 테스트 패턴을 재생하는 테스트 패턴 재생 과정; 및 상기 테스트 패턴 기록 과정에서 기록된 테스트 패턴과 재생된 테스트 패턴을 비교하고, 비트 에러의 발생 유무 및 발생 횟수를 계수하는 에러 비트 계수 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다. 이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성 및 동작을 상세히 설명한다.
도 1은 DVD-RAM의 디스크에서 리드인 영역의 구조를 보이는 것이다. DVD-RAM의 리드인 영역은 크게 고정 데이터 영역(embossed data zone)(10)과 기록 가능한 데이터 영역(rewritable data zone)(14)으로 나뉘어지며 그 사이에는 미러 영역(mirror zone)(12)이 존재한다. 고정 데이터 영역(10)은 다시 공백 영역(blank zone)(10a), 리퍼런스 시그널 영역(reference signal zone)(10b), 컨트롤 데이터 영역(control data zone)(10c), 공백 영역(10d)으로 나뉘어진다.
리퍼런스 시그널 영역(10b)에는 한 개의 ECC 블록으로 구성되는 리퍼런스 코드(reference code)가 기록되며, 192512(2F00h)번지부터 16섹터를 차지한다.
컨트롤 데이터 영역(10c)에는 192개의 블록으로 구성되는 컨트롤 데이터(control data)가 기록되며, 193024(2F200h)번지부터 16*192개의 섹터를 차지한다. 각 블록별로 동일한 데이터가 반복되어 기록되어져 있다.
기록 가능한 데이터 영역(14)은 가드 트랙 영역(guard track zone)(14a), 디스크 테스트 영역(disc test zone)(14b), 드라이브 테스트 영역(drive test zone)(14c), 가드 트랙 영역(14d), 디스크 식별 영역(disc identification zone)(14e), DMA1&DMA2영역(14f) 등으로 나뉘어진다.
디스크 테스트 영역(14b)은 디스크 제조업자가 디스크의 불량 여부를 검사하기 위하여 제공되며, 드라이브 테스트 영역(14c)은 드라이브 제조업자가 드라이브의 성능을 테스트하기 위하여 제공된다.
도 2는 DVD-RAM의 디스크에서 리드아웃 영역의 구조를 보이는 것이다. DVD-RAM의 리드아웃 영역은 DMA3&DMA4영역(20a), 디스크 식별 영역(disc identification zone)(20b), 가드 트랙 영역(guard track zone)(20c), 드라이브 테스트 영역(20d), 디스크 테스트 영역(20e), 가드 트랙 영역(20f)으로 나뉘어 진다.
드라이브 테스트 영역(20d) 및 디스크 테스트 영역(20e)은 리드인 영역의 드라이브 테스트 영역(14c) 및 디스크 테스트 영역(14b)과 같다.
본 발명의 테스트 방법에서는 리드인 영역의 테스트 영역을 이용하여 소정의 패턴을 기록하고, 다시 이를 재생하여 원래의 기록된 패턴과 재생된 패턴을 비교하여 BER(Bit Error Rate), 지터(jitter) 등을 측정한다. 그리고, 측정된 결과를 참조하여 재생 속도, 레이저 파워, 기록 펄스의 패턴 등을 조정하여 드라이브를 최적의 상태로 유지하게 한다.
도 3은 본 발명에 따른 테스트 방법을 보이는 흐름도이다. 도 3에 도시된 바와 같은 방법은 드라이브 혹은 컴퓨터에 의해 자체적으로 수행된다. 통상 DVD 드라이버는 컴퓨터 저장 매체로서 사용되므로 컴퓨터에 의해 수행되는 경우가 많을 것이다. 이와 같은 컴퓨터는 중앙 처리 장치 및 각종의 버스(bus)가 구비되어져 있고, 드라이브에도 마이컴, 아타피 인터페이스 (ATAPI interface)장치, 데이터 처리기, 내부 버스 등이 구비되어져 있는 것을 가정한다.
도 3에 도시된 방법은 디펙트 검사 과정(300), BER측정 과정(310), 드라이브 조정 과정(320)을 포함한다.
디펙트 검사 과정(300)은 도 1에 도시된 리드인 영역의 드라이브 테스트 영역 혹은 도 2에 도시된 리드아웃 영역의 드라이브 테스트 영역의 디펙트 유무를 검사하는 과정으로서 드라이브 테스트 영역 검증 과정(302), 배드 섹터 유무 판단 과정(304), 디펙트 관리 과정(306)을 포함한다.
드라이브 테스트 영역 검증 과정(302)은 드라이브 테스트 영역에 일정 주파수의 기록 패턴 예를 들면 최저 길이의 기록 마크가 반복되는 패턴을 기록하고 이를 재생한다. 배드 섹터 유무 판단 과정(304)은 기록된 패턴과 재생된 패턴을 비교하여 배드 섹터의 유무를 판단한다. 배드 섹터 유무 판단 과정(304)에서 배드 섹터가 있는 것으로 판단되면 디펙트 관리 과정(308)을 통하여 배드 섹터가 사용되지 못하도록 관리한다.
BER 측정 과정(310)은 도 1에 도시된 리드인 영역의 드라이브 테스트 영역 혹은 도 2에 도시된 리드아웃 영역의 드라이브 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하고, 다시 이를 재생하여 BER, JITTER량 등을 평가하는 과정으로서 테스트 패턴 기록 과정(312), 테스트 패턴 재생 과정(314), 에러 비트 계수 과정(316), 에러 비트수 저장 과정(318)을 포함한다.
테스트 패턴 기록 과정(312)에서는 드라이브 테스트 영역의 각 섹터에 소정의 테스트 패턴을 순차로 기록한다. 이 테스트 패턴은 BER의 측정, JITTER량의 측정 등에 적합하도록 최소 길이의 기록마크로부터 최대 길이의 기록마크가 적절히 혼합되어져 있는 것을 사용한다. 여기서, 테스트 패턴은 롬과 같은 드라이브의 저장 수단에 데이터 혹은 프로그램의 형태로 미리 기록되어져 있다.
테스트 패턴 재생 과정(314)은 드라이브 테스트 영역에 기록된 테스트 패턴을 섹터별로 재생한다.
에러 비트 계수 과정(316)은 원래의 테스트 패턴과 재생된 테스트 패턴을 비교하고, 비트 에러의 발생 유무 및 발생 횟수를 섹터별로 계수한다.
에러 비트수 저장 과정(318)은 계수된 섹터별 에러 비트수를 저장한다. 저장된 섹터별 에러 비트수는 드라이브 조정 과정(320)에서 참조된다.
드라이브 조정 과정(320)은 측정된 BER을 참조하여 다음 테스트시의 BER이 최저가 될 수 있도록 레이저 다이오드의 파워 및 기록 펄스의 폭을 가변하는 과정으로서 조정 유무 판단 과정(322), 레이저 다이오드의 파워 조정 과정(324), 펄스 가변 판단 과정(326), 펄스폭 제어 과정(328)을 포함한다.
레이저 다이오드의 파워 조정 과정(324)에서는 기록 마크를 기록하기 위한 레이저의 파워 예를 들면, 바이어스 파워, 이레이즈 파워, 기록 파워 등을 조정한다.
펄스폭 제어 과정(328)에서는 기록 마크를 기록하기 위한 펄스(펄스 트레인)의 펄스폭 예를 들면, 퍼스트 펄스, 라스트 펄스, 멀티 펄스의 폭을 조정한다.
도 3에 도시된 방법을 상세히 설명한다. 도 1 내지 도 2에 도시된 바와 같이 DVD-DISC의 리드인 영역 및 리드아웃 영역에는 드라이브 테스트 영역이 존재하며 그 크기는 각각 112블록이다.
본 발명의 테스트 방법에서는 먼저 드라이브 테스트 영역의 결함 유무를 조사하고, 배드 섹터가 있을 경우에는 해당 블록을 대체하기 위한 결함 관리를 실시한다.(300과정)
배드 섹터가 없으면 어드레스를 제어하면서 테스트 패턴을 기록하고, 기록된 테스트 패턴을 재생하여 BER을 측정한다.(310과정) 이때 사용된 테스트 패턴은 몇 가지 기본적인 패턴의 반복으로 구성되어져 있어서 기록 및 비교가 용이하다.
측정된 BER을 참조하여 레이저 다이오드의 파워 및 펄스 트레인의 펄스폭을 변경함에 의해 드라이브의 성능을 조정한다.(320과정)
이러한 과정을 반복적으로 수행함에 의해 드라이버의 성능을 최적화할 수 있다.
표 1 내지 표 6은 도 3의 BER 측정 과정(310)에서 기록되는 테스트 패턴을 보이는 것이다. 드라이브 테스트 영역은 모두 112개의 블록으로 구성된다. 본 발명의 테스트 방법에서는 112개의 블록에 순차적으로 최저 길이의 기록 마크로부터 최대 길이의 기록마크를 조합하여 기록한다.
표 1에 보여지는 것은 드라이브 테스트 영역의 첫 번째 블록부터 스무 번째 블록까지 기록되는 내용이다. 드라이브 테스트 영역의 첫 번째 블록부터 스무 번째 블록까지는 최저 길이의 기록 마크(3T)를 기본으로 순차적으로 긴 기록 마크(4T, 5T,,,,14T)의 순서로 조합하여 기록한다. 예를 들면, 첫 번째 블록에는 최저 길이의 기록 마크(3T)가 반복되어 기록되고, 두 번째 블록에는 최저 길이의 기록 마크(3T)와 다음 길이의 기록 마크(4T)가 반복적으로 교호되어 기록된다. 이러한 패턴을 순차적으로 반복하여 10번째 블록에는 최저 길이의 기록 마크(3T)와 최대 길이의 기록 마크(14T)가 반복적으로 교호되어 기록된다. 이와 같이, 기본 길이의 기록 마크(표 1에서는 3T)와 다음으로 긴 기록 마크를 반복적으로 기록함에 의해 비트 에러를 효율적으로 측정할 수 있다.
또한, 열한 번째 블록부터 스무 번째 블록까지는 첫 번째 블록부터 열 번째 블록까지 기록된 내용을 기록 순서를 바꾸어 기록한다.
이와 같이 기록 패턴(마크와 스페이스)을 바꾸어 기록함에 의해 비트 에러를 보다 효율적으로 측정할 수 있다.
통상 지터량은 최저 길이의 기록 마크(3T)가 연속되어 기록되거나 최저 길이의 기록 마크(3T)와 최대 길이의 기록 마크(14T)가 반복되어 기록될 때 최대가 된다. 그렇기 때문에 첫 번째, 열 번째 블록, 열한 번째, 그리고 스무 번째 블록은 지터량의 측정에 매우 효과적이다.
표 2에 보여지는 것은 기본 길이가 4T인 경우의 것이며, 그 외의 내용은 표 1을 참조한다.
표 3에 보여지는 것은 기본 길이가 5T인 경우의 것이며, 그 외의 내용은 표 1을 참조한다.
표 4에 보여지는 것은 기본 길이가 6T인 경우의 것이며, 그 외의 내용은 표 1을 참조한다.
표 6에 보여지는 것은 기본 길이가 7T인 경우의 것이며, 그 외의 내용은 표 1을 참조한다.
표 6에 보여지는 것은 기본 길이가 8T인 경우의 것이며, 그 외의 내용은 표 1을 참조한다.
기본 길이가 9T - 11T인 것은 드라이브 테스트 영역의 기록 용량의 한계 때문에 생략된다. 그러나, 기록 용량이 충분하다면 이들의 조합을 포함할 수도 있다. 예를 들면, 드라이브 테스트 영역 이외에도 디스크 테스트 영역에도 테스트 패턴을 기록할 수 있다. 이 경우 기본 길이가 9T-11T인 것도 포함시킬 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 테스트 방법은 디스크의 소정 영역에 테스트 패턴을 기록하고, 기록된 패턴을 재생하여 원래의 기록 패턴과 비교함에 의해 BER, JITTER 량 등을 측정할 수 있고, 이에 근거하여 드라이브의 조정 상태 예를 들면, 재생 속도, 레이저 다이오드의 파워, 기록 펄스의 펄스폭 등을 디스크의 상태에 맞추어 최적화할 수 있게 하는 효과를 가진다.
또한, 본 발명에 있어서는 특별히 고안된 테스트 패턴을 사용함으로써 BER 및 지터량을 효율적으로 측정할 수 있다.

Claims (9)

  1. 디스크의 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하는 테스트 패턴 기록 과정;
    상기 테스트 영역에 기록된 테스트 패턴을 재생하는 테스트 패턴 재생 과정;
    상기 테스트 패턴 기록 과정에서 기록된 테스트 패턴과 재생된 테스트 패턴을 비교하고, 비트 에러의 발생 유무 및 발생 횟수를 계수하는 에러 비트 계수 과정을 포함하여, 비트 에러율을 측정하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이브 테스트 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 테스트 패턴 기록 과정은
    BER의 측정, JITTER량의 측정 등에 적합하도록 회소 길이의 기록마크로부터 최대 길이의 기록 마크를 조합하여 기록하는 것을 특징으로 하는 드라이브 테스트 방법.
  3. 제1항에 있어서, 성가 테스트 패턴 기록 과정은 디스크의 드라이브 테스트 영역에 테스트 패턴을 기록하는 것을 특징으로 하는 드리이브 테스트 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    계수된 에러 비트수를 저장하는 에러 비트수 저장 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 테스트 패턴 기록 과정의 전 단계로서
    상기 테스트 영역의 디펙트 유무를 검사하는 디펙트 검사 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
  6. 제 7항에 있어서 상기 디펙트 검사 과정은
    드라이브 테스트 영역에 일정 주파수의 기록 패턴 예를 들면 최저 길이의 기록 마크가 반복되는 패턴을 기록하고 이를 재생하는 드라이브 테스트 영역 검증 과정;
    기록된 패턴과 재생된 패턴을 비교하여 배드 섹터의 유무를 판단하는 배드 섹터 유무 판단 과정;
    상기 배드 섹터 유무 판단 과정에서 배드 섹터가 있는 것으로 판단되면 배드 섹터가 사용되지 못하도록 관리하는 디펙트 관리 과정을 구비하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    측정된 비트에러율을 참조하여 다음 테스트시의 비트에러율이 최저가 될 수 있도록 레이저 다이오드의 파워 및 기록 펄스의 폭을 가변하는 드라이브 조정 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
  8. 제7항에 있어서, 상기 드라이브 조정 과정은
    기록 마크를 기록하기 위한 레이저 다이오드의 바이어스 파워, 이레이즈 파워, 기록 파워 등을 조정하는 레이저 다이오드의 파워 조정 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    기록 마크를 기록하기 위한 펄스 트레인의 퍼스트 펄스, 라스트 펄스, 멀티 펄스의 폭을 조정하는 펄스폭 제어 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
KR1019980016784A 1998-05-11 1998-05-11 광디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법 KR100301001B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980016784A KR100301001B1 (ko) 1998-05-11 1998-05-11 광디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980016784A KR100301001B1 (ko) 1998-05-11 1998-05-11 광디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19990084782A true KR19990084782A (ko) 1999-12-06
KR100301001B1 KR100301001B1 (ko) 2001-09-06

Family

ID=37529030

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980016784A KR100301001B1 (ko) 1998-05-11 1998-05-11 광디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100301001B1 (ko)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100301670B1 (ko) * 1999-02-09 2001-09-26 구자홍 광디스크의 기록제어 장치 및 방법
KR100503793B1 (ko) * 2002-08-24 2005-07-26 삼성전자주식회사 테스트용 광디스크
KR100618993B1 (ko) * 2000-04-08 2006-08-31 삼성전자주식회사 광 디스크의 결함 관리 영역 정보 확인 방법 및 이를수행하기 위한 테스트 장치
KR100688556B1 (ko) * 2005-07-12 2007-03-02 삼성전자주식회사 하드디스크 드라이브의 기록 제어 방법 그리고 이에 적합한하드디스크 드라이브 및 기록 매체
US7480226B2 (en) 2004-05-31 2009-01-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Optical disc recording/reproducing apparatus and optimum bias power decision method therefor
KR101235802B1 (ko) * 2006-03-24 2013-02-21 삼성전자주식회사 저장 매체, 그 저장 매체를 이용한 테스트 자동화 방법 및장치

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002092994A (ja) * 2000-09-20 2002-03-29 Sharp Corp 光再生装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100301670B1 (ko) * 1999-02-09 2001-09-26 구자홍 광디스크의 기록제어 장치 및 방법
KR100618993B1 (ko) * 2000-04-08 2006-08-31 삼성전자주식회사 광 디스크의 결함 관리 영역 정보 확인 방법 및 이를수행하기 위한 테스트 장치
KR100503793B1 (ko) * 2002-08-24 2005-07-26 삼성전자주식회사 테스트용 광디스크
US7480226B2 (en) 2004-05-31 2009-01-20 Samsung Electronics Co., Ltd. Optical disc recording/reproducing apparatus and optimum bias power decision method therefor
KR100688556B1 (ko) * 2005-07-12 2007-03-02 삼성전자주식회사 하드디스크 드라이브의 기록 제어 방법 그리고 이에 적합한하드디스크 드라이브 및 기록 매체
KR101235802B1 (ko) * 2006-03-24 2013-02-21 삼성전자주식회사 저장 매체, 그 저장 매체를 이용한 테스트 자동화 방법 및장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR100301001B1 (ko) 2001-09-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2385510C2 (ru) Система, способ и устройство управления дефектной зоной неперезаписываемого оптического носителя записи
JP3580711B2 (ja) 情報記録再生装置
KR100602407B1 (ko) 정보 기록 매체, 정보 기록 및 재생 방법과, 정보 기록 및재생 장치
KR100301001B1 (ko) 광디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법
JP3924780B2 (ja) レーザパワーの選定方法、情報記録媒体、及び、情報記録装置
KR100532465B1 (ko) 광 기록기기에서 최적의 기록 파워를 설정하는 방법
KR100545019B1 (ko) 광디스크
JP4216204B2 (ja) 光記録条件設定方法、光記録再生装置、制御プログラム、及び記録媒体
JP2007172693A (ja) 光ディスク、記録再生方法および記録再生装置
KR100667764B1 (ko) 광 기록 매체, 기록/재생 방법 및 기록/재생 장치
JP2014116045A (ja) 情報再生性能の評価方法、情報再生装置及び情報記録媒体
JP2008524765A (ja) 光記憶媒体の光効果の解析
JP3866824B2 (ja) 光ディスク記録装置
JP3699243B2 (ja) 光ディスク記録再生装置
RU2294025C2 (ru) Способ управления обработкой дефектов диска и устройство для его осуществления, а также диск для указанного устройства
JP2003272157A (ja) 光ディスク装置の制御方法
JP4425902B2 (ja) 光記録条件設定方法、光記録再生装置、制御プログラム、及び記録媒体
KR100246478B1 (ko) 결함영역관리 리스트 생성 장치 및 방법
JP2009515284A (ja) 書き込みパラメータを調節する方法,光ディスク書き込み装置,及び前記方法を用いてデータを記録する方法
KR100932513B1 (ko) 고밀도 광디스크 및 고밀도 광디스크의 재생과 기록 방법
KR100723098B1 (ko) 광디스크 기록 제어방법
JP3804959B2 (ja) 情報記録再生装置
JP4651603B2 (ja) 情報記録再生装置
JP4567090B2 (ja) 光記録条件設定方法、光記録再生装置、制御プログラム、及び記録媒体
JP3931137B2 (ja) 光ディスク記録装置および記録条件決定方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20110530

Year of fee payment: 11

LAPS Lapse due to unpaid annual fee