KR100301001B1 - 광디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법 - Google Patents

광디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법 Download PDF

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Abstract

디스크의 드라이브 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하고 이로부터 재생된 패턴을 원래의 패턴과 비교하여 비트 에러율, 지터량 등을 측정하고, 이를 최적화하도록 드라이브의 조정 상태를 조정하는 테스트 방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 테스트 방법은 디스크의 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하는 테스트 패턴 기록 과정; 상기 테스트 영역에 기록된 테스트 패턴을 재생하는 테스트 패턴 재생 과정; 및 상기 테스트 패턴 기록 과정에서 기록된 테스트 패턴과 재생된 테스트 패턴을 비교하고, 비트 에러의 발생 유무 및 발생 횟수를 계수하는 에러 비트 계수 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 테스트 방법은 디스크의 소정 영역에 테스트 패턴을 기록하고, 기록된 패턴을 재생하여 원래의 기록 패턴과 비교함에 의해 BER, JITTER 량 등을 측정할 수 있고, 이에 근거하여 드라이브의 조정 상태 예를 들면, 재생 속도, 레이저 다이오드의 파워, 기록 펄스의 펄스폭 등을 디스크의 상태에 맞추어 최적화할 수 있게 하는 효과를 가진다.
또한, 본 발명에 있어서는 특별히 고안된 테스트 패턴을 사용함으로써 BER 및 지터량을 효율적으로 측정할 수 있다.

Description

광 디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법
본 발명은 광 디스크 기록/재생 장치의 테스트 방법에 관한 것으로서, 특히 디스크의 드라이브 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하고 이로부터 재생된 패턴을 원래의 패턴과 비교하여 비트 에러율, 지터량 등을 측정하고, 이를 최적화하도록 드라이브의 조정 상태를 조정하는 테스트 방법에 관한 것이다.
멀티미디어 시대는 고용량의 기록 매체를 요구하게 되고, 이에 부응하는 기록 매체로서 MODD(Magneto-Optical Digital Disc), DVD-RAM 등이 있다.
기록 매체의 기록 밀도가 높아짐에 따라 이러한 기록 매체에/로부터 기록/재생하는 장치의 성능 예를 들면, 비트 에러 레이트(BER)를 최적화하기 위한 재생 속도, 최적의 기록을 보장하기 위한 기록용 레이저의 파워 및 펄스 트레인의 폭 조절 등은 사용되는 기록 매체에 맞추어 최적화될 것이 요구된다.
종래에 있어서 광 디스크 플레이어는 제작업체에서 테스트된 상태로 사용될 뿐이었기 때문에 사용 도중에 광 디스크 플레이어의 성능을 최적화하기 위해서는 제작업체에 의뢰할 할 수밖에 없었다.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서 광 디스크 기록/재생 장치에 있어서 자체적으로 사용중인 광 디스크의 특성에 맞추어 그의 성능을 최적화할 수 있는 테스트 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
도 1은 DVD-RAM 디스크의 리드인 영역의 구조를 보이기 위한 것이다.
도 2는 DVD-RAM 디스크의 리드아웃 영역의 구조를 보이기 위한 것이다.
도 3은 본 발명에 따른 디스크 드라이브 테스트 방법을 보이는 흐름도이다.
상기의 목적을 달성하는 본 발명에 따른 테스트 방법은 디스크의 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하는 테스트 패턴 기록 과정; 상기 테스트 영역에 기록된 테스트 패턴을 재생하는 테스트 패턴 재생 과정; 및 상기 테스트 패턴 기록 과정에서 기록된 테스트 패턴과 재생된 테스트 패턴을 비교하고, 비트 에러의 발생 유무 및 발생 횟수를 계수하는 에러 비트 계수 과정을 포함하는 것을 특징으로 한다. 이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성 및 동작을 상세히 설명한다.
도 1은 DVD-RAM의 디스크에서 리드인 영역의 구조를 보이는 것이다. DVD-RAM의 리드인 영역은 크게 고정 데이터 영역(embossed data zone)(10)과 기록 가능한 데이터 영역(rewritable data zone)(14)으로 나뉘어지며 그 사이에는 미러 영역(mirror zone)(12)이 존재한다. 고정 데이터 영역(10)은 다시 공백 영역(blank zone)(10a), 리퍼런스 시그널 영역(reference signal zone)(10b), 컨트롤 데이터 영역(control data zone)(10c), 공백 영역(10d)으로 나뉘어진다.
리퍼런스 시그널 영역(10b)에는 한 개의 ECC 블록으로 구성되는 리퍼런스 코드(reference code)가 기록되며, 192512(2F00h)번지부터 16섹터를 차지한다.
컨트롤 데이터 영역(10c)에는 192개의 블록으로 구성되는 컨트롤 데이터(control data)가 기록되며, 193024(2F200h)번지부터 16*192개의 섹터를 차지한다. 각 블록별로 동일한 데이터가 반복되어 기록되어져 있다.
기록 가능한 데이터 영역(14)은 가드 트랙 영역(guard track zone)(14a), 디스크 테스트 영역(disc test zone)(14b), 드라이브 테스트 영역(drive test zone)(14c), 가드 트랙 영역(14d), 디스크 식별 영역(disc identification zone)(14e), DMA1&DMA2영역(14f) 등으로 나뉘어진다.
디스크 테스트 영역(14b)은 디스크 제조업자가 디스크의 불량 여부를 검사하기 위하여 제공되며, 드라이브 테스트 영역(14c)은 드라이브 제조업자가 드라이브의 성능을 테스트하기 위하여 제공된다.
도 2는 DVD-RAM의 디스크에서 리드아웃 영역의 구조를 보이는 것이다. DVD-RAM의 리드아웃 영역은 DMA3&DMA4영역(20a), 디스크 식별 영역(disc identification zone)(20b), 가드 트랙 영역(guard track zone)(20c), 드라이브 테스트 영역(20d), 디스크 테스트 영역(20e), 가드 트랙 영역(20f)으로 나뉘어 진다.
드라이브 테스트 영역(20d) 및 디스크 테스트 영역(20e)은 리드인 영역의 드라이브 테스트 영역(14c) 및 디스크 테스트 영역(14b)과 같다.
본 발명의 테스트 방법에서는 리드인 영역의 테스트 영역을 이용하여 소정의 패턴을 기록하고, 다시 이를 재생하여 원래의 기록된 패턴과 재생된 패턴을 비교하여 BER(Bit Error Rate), 지터(jitter) 등을 측정한다. 그리고, 측정된 결과를 참조하여 재생 속도, 레이저 파워, 기록 펄스의 패턴 등을 조정하여 드라이브를 최적의 상태로 유지하게 한다.
도 3은 본 발명에 따른 테스트 방법을 보이는 흐름도이다. 도 3에 도시된 바와 같은 방법은 드라이브 혹은 컴퓨터에 의해 자체적으로 수행된다. 통상 DVD 드라이버는 컴퓨터 저장 매체로서 사용되므로 컴퓨터에 의해 수행되는 경우가 많을 것이다. 이와 같은 컴퓨터는 중앙 처리 장치 및 각종의 버스(bus)가 구비되어져 있고, 드라이브에도 마이컴, 아타피 인터페이스 (ATAPI interface)장치, 데이터 처리기, 내부 버스 등이 구비되어져 있는 것을 가정한다.
도 3에 도시된 방법은 디펙트 검사 과정(300), BER측정 과정(310), 드라이브 조정 과정(320)을 포함한다.
디펙트 검사 과정(300)은 도 1에 도시된 리드인 영역의 드라이브 테스트 영역 혹은 도 2에 도시된 리드아웃 영역의 드라이브 테스트 영역의 디펙트 유무를 검사하는 과정으로서 드라이브 테스트 영역 검증 과정(302), 배드 섹터 유무 판단 과정(304), 디펙트 관리 과정(306)을 포함한다.
드라이브 테스트 영역 검증 과정(302)은 드라이브 테스트 영역에 일정 주파수의 기록 패턴 예를 들면 최저 길이의 기록 마크가 반복되는 패턴을 기록하고 이를 재생한다. 배드 섹터 유무 판단 과정(304)은 기록된 패턴과 재생된 패턴을 비교하여 배드 섹터의 유무를 판단한다. 배드 섹터 유무 판단 과정(304)에서 배드 섹터가 있는 것으로 판단되면 디펙트 관리 과정(308)을 통하여 배드 섹터가 사용되지 못하도록 관리한다.
BER 측정 과정(310)은 도 1에 도시된 리드인 영역의 드라이브 테스트 영역 혹은 도 2에 도시된 리드아웃 영역의 드라이브 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하고, 다시 이를 재생하여 BER, JITTER량 등을 평가하는 과정으로서 테스트 패턴 기록 과정(312), 테스트 패턴 재생 과정(314), 에러 비트 계수 과정(316), 에러 비트수 저장 과정(318)을 포함한다.
테스트 패턴 기록 과정(312)에서는 드라이브 테스트 영역의 각 섹터에 소정의 테스트 패턴을 순차로 기록한다. 이 테스트 패턴은 BER의 측정, JITTER량의 측정 등에 적합하도록 최소 길이의 기록마크로부터 최대 길이의 기록마크가 적절히 혼합되어져 있는 것을 사용한다. 여기서, 테스트 패턴은 롬과 같은 드라이브의 저장 수단에 데이터 혹은 프로그램의 형태로 미리 기록되어져 있다.
테스트 패턴 재생 과정(314)은 드라이브 테스트 영역에 기록된 테스트 패턴을 섹터별로 재생한다.
에러 비트 계수 과정(316)은 원래의 테스트 패턴과 재생된 테스트 패턴을 비교하고, 비트 에러의 발생 유무 및 발생 횟수를 섹터별로 계수한다.
에러 비트수 저장 과정(318)은 계수된 섹터별 에러 비트수를 저장한다. 저장된 섹터별 에러 비트수는 드라이브 조정 과정(320)에서 참조된다.
드라이브 조정 과정(320)은 측정된 BER을 참조하여 다음 테스트시의 BER이 최저가 될 수 있도록 레이저 다이오드의 파워 및 기록 펄스의 폭을 가변하는 과정으로서 조정 유무 판단 과정(322), 레이저 다이오드의 파워 조정 과정(324), 펄스 가변 판단 과정(326), 펄스폭 제어 과정(328)을 포함한다.
레이저 다이오드의 파워 조정 과정(324)에서는 기록 마크를 기록하기 위한 레이저의 파워 예를 들면, 바이어스 파워, 이레이즈 파워, 기록 파워 등을 조정한다.
펄스폭 제어 과정(328)에서는 기록 마크를 기록하기 위한 펄스(펄스 트레인)의 펄스폭 예를 들면, 퍼스트 펄스, 라스트 펄스, 멀티 펄스의 폭을 조정한다.
도 3에 도시된 방법을 상세히 설명한다. 도 1 내지 도 2에 도시된 바와 같이 DVD-DISC의 리드인 영역 및 리드아웃 영역에는 드라이브 테스트 영역이 존재하며 그 크기는 각각 112블록이다.
본 발명의 테스트 방법에서는 먼저 드라이브 테스트 영역의 결함 유무를 조사하고, 배드 섹터가 있을 경우에는 해당 블록을 대체하기 위한 결함 관리를 실시한다.(300과정)
배드 섹터가 없으면 어드레스를 제어하면서 테스트 패턴을 기록하고, 기록된 테스트 패턴을 재생하여 BER을 측정한다.(310과정) 이때 사용된 테스트 패턴은 몇 가지 기본적인 패턴의 반복으로 구성되어져 있어서 기록 및 비교가 용이하다.
측정된 BER을 참조하여 레이저 다이오드의 파워 및 펄스 트레인의 펄스폭을 변경함에 의해 드라이브의 성능을 조정한다.(320과정)
이러한 과정을 반복적으로 수행함에 의해 드라이버의 성능을 최적화할 수 있다.
표 1 내지 표 6은 도 3의 BER 측정 과정(310)에서 기록되는 테스트 패턴을 보이는 것이다. 드라이브 테스트 영역은 모두 112개의 블록으로 구성된다. 본 발명의 테스트 방법에서는 112개의 블록에 순차적으로 최저 길이의 기록 마크로부터 최대 길이의 기록마크를 조합하여 기록한다.
NO. 섹터 어드레스리드인/리드아웃 데이터 순서 패턴
1 198144/1488768 MARK/SPACE 3T 3T 3T 3T 3T 3T - 3T 3T 3T 3T 3T 3T
2 198160/1488784 3T 4T 3T 4T 3T 4T - 3T 4T 3T 4T 3T 4T
3 198176/1488800 3T 5T 3T 5T 3T 5T - 3T 5T 3T 5T 3T 5T
4 198192/1488816 3T 6T 3T 6T 3T 6T - 3T 6T 3T 6T 3T 6T
5 198208/1488832 3T 7T 3T 7T 3T 7T - 3T 7T 3T 7T 3T 7T
6 198224/1488848 3T 8T 3T 8T 3T 8T - 3T 8T 3T 8T 3T 8T
7 198224/1488864 3T 9T 3T 9T 3T 9T - 3T 9T 3T 9T 3T 9T
8 198256/1488880 3T 10T 3T 10T 3T 10T - 3T 10T 3T 10T 3T 10T
9 198272/1488896 3T 11T 3T 11T 3T 11T - 3T 11T 3T 11T 3T 11T
10 198288/1488912 3T 14T 3T 14T 3T 14T - 3T 14T 3T 14T 3T 14T
11 198304/1488928 MARK/SPACE 3T 3T 3T 3T 3T 3T - 3T 3T 3T 3T 3T 3T
12 198320/1488944 4T 3T 4T 3T 4T 3T - 4T 3T 4T 3T 4T 3T
13 198336/1488960 5T 3T 5T 3T 5T 3T - 5T 3T 5T 3T 5T 3T
14 198352/1488976 6T 3T 6T 3T 6T 3T - 6T 3T 6T 3T 6T 3T
15 198368/1488992 7T 3T 7T 3T 7T 3T - 7T 3T 7T 3T 7T 3T
16 198384/1489008 8T 3T 8T 3T 8T 3T - 8T 3T 8T 3T 8T 3T
17 198400/1489024 9T 3T 9T 3T 9T 3T - 9T 3T 9T 3T 9T 3T
18 198416/1489040 10T 3T 10T 3T 10T 3T - 10T 3T 10T 3T 10T 3T
19 198432/1489056 11T 3T 11T 3T 11T 3T - 11T 3T 11T 3T 11T 3T
20 198448/1489072 14T 3T 14T 3T 14T 3T - 14T 3T 14T 3T 14T 3T
표 1에 보여지는 것은 드라이브 테스트 영역의 첫 번째 블록부터 스무 번째 블록까지 기록되는 내용이다. 드라이브 테스트 영역의 첫 번째 블록부터 스무 번째 블록까지는 최저 길이의 기록 마크(3T)를 기본으로 순차적으로 긴 기록 마크(4T, 5T,,,,14T)의 순서로 조합하여 기록한다. 예를 들면, 첫 번째 블록에는 최저 길이의 기록 마크(3T)가 반복되어 기록되고, 두 번째 블록에는 최저 길이의 기록 마크(3T)와 다음 길이의 기록 마크(4T)가 반복적으로 교호되어 기록된다. 이러한 패턴을 순차적으로 반복하여 10번째 블록에는 최저 길이의 기록 마크(3T)와 최대 길이의 기록 마크(14T)가 반복적으로 교호되어 기록된다. 이와 같이, 기본 길이의 기록 마크(표 1에서는 3T)와 다음으로 긴 기록 마크를 반복적으로 기록함에 의해 비트 에러를 효율적으로 측정할 수 있다.
또한, 열한 번째 블록부터 스무 번째 블록까지는 첫 번째 블록부터 열 번째 블록까지 기록된 내용을 기록 순서를 바꾸어 기록한다.
이와 같이 기록 패턴(마크와 스페이스)을 바꾸어 기록함에 의해 비트 에러를 보다 효율적으로 측정할 수 있다.
통상 지터량은 최저 길이의 기록 마크(3T)가 연속되어 기록되거나 최저 길이의 기록 마크(3T)와 최대 길이의 기록 마크(14T)가 반복되어 기록될 때 최대가 된다. 그렇기 때문에 첫 번째, 열 번째 블록, 열한 번째, 그리고 스무 번째 블록은 지터량의 측정에 매우 효과적이다.
NO. 섹터 어드레스리드인/리드아웃 데이터 순서 패턴
21 198464/1489088 MARK/SPACE 4T 3T 4T 3T 4T 3T - 4T 3T 4T 3T 4T 3T
22 198480/1489104 4T 4T 4T 4T 4T 4T - 4T 4T 4T 4T 4T 4T
23 198496/1489120 4T 5T 4T 5T 4T 5T - 4T 5T 4T 5T 4T 5T
24 198512/1489136 4T 6T 4T 6T 4T 6T - 4T 6T 4T 6T 4T 6T
25 198528/1489152 4T 7T 4T 7T 4T 7T - 4T 7T 4T 7T 4T 7T
26 198544/1489168 4T 8T 4T 8T 4T 8T - 4T 8T 4T 8T 4T 8T
27 198560/1489184 4T 9T 4T 9T 4T 9T - 4T 9T 4T 9T 4T 9T
28 198576/1489200 4T 10T 4T 10T 4T 10T - 4T 10T 4T 10T 4T 10T
29 198592/1489216 4T 11T 4T 11T 4T 11T - 4T 11T 4T 11T 4T 11T
30 198608/1489232 4T 14T 4T 14T 4T 14T - 4T 14T 4T 14T 4T 14T
31 198624/1489248 MARK/SPACE 3T 4T 3T 4T 3T 4T - 3T 4T 3T 4T 3T 4T
32 198640/1489264 4T 4T 4T 4T 4T 4T - 4T 4T 4T 4T 4T 4T
33 198656/1489280 5T 4T 5T 4T 5T 4T - 5T 4T 5T 4T 5T 4T
34 198672/1489296 6T 4T 6T 4T 6T 4T - 6T 4T 6T 4T 6T 4T
35 198688/1489312 7T 4T 7T 4T 7T 4T - 7T 4T 7T 4T 7T 4T
36 198704/1489328 8T 4T 8T 4T 8T 4T - 8T 4T 8T 4T 8T 4T
37 198720/1489344 9T 4T 9T 4T 9T 4T - 9T 4T 9T 4T 9T 4T
38 198736/1489360 10T 4T 10T 4T 10T 4T - 10T 4T 10T 4T 10T 4T
39 198752/1489376 11T 4T 11T 4T 11T 4T - 11T 4T 11T 4T 11T 4T
40 198768/1489392 14T 4T 14T 4T 14T 4T - 14T 4T 14T 4T 14T 4T
표 2에 보여지는 것은 기본 길이가 4T인 경우의 것이며, 그 외의 내용은 표 1을 참조한다.
NO. 섹터 어드레스리드인/리드아웃 데이터 순서 패턴
41 198784/1489408 MARK/SPACE 5T 3T 5T 3T 5T 3T - 5T 3T 5T 3T 5T 3T
42 198800/1489424 5T 4T 5T 4T 5T 4T - 5T 4T 5T 4T 5T 4T
43 198816/1489440 5T 5T 5T 5T 5T 5T - 5T 5T 5T 5T 5T 5T
44 198832/1489456 5T 6T 5T 6T 5T 6T - 5T 6T 5T 6T 5T 6T
45 198848/1489472 5T 7T 5T 7T 5T 7T - 5T 7T 5T 7T 5T 7T
46 198864/1489488 5T 8T 5T 8T 5T 8T - 5T 8T 5T 8T 5T 8T
47 198880/1489504 5T 9T 5T 9T 5T 9T - 5T 9T 5T 9T 5T 9T
48 198896/1489520 5T 10T 5T 10T 5T 10T - 5T 10T 5T 10T 5T 10T
49 198912/1489536 5T 11T 5T 11T 5T 11T - 5T 11T 5T 11T 5T 11T
50 198928/1489552 5T 14T 5T 14T 5T 14T - 5T 14T 3T 14T 3T 14T
51 198944/1489568 MARK/SPACE 3T 5T 3T 5T 3T 5T - 3T 5T 3T 5T 3T 5T
52 198960/1489584 4T 5T 4T 5T 4T 5T - 4T 5T 4T 5T 4T 5T
53 198976/1489600 5T 5T 5T 5T 5T 5T - 5T 5T 5T 5T 5T 5T
54 198992/1489616 6T 5T 6T 5T 6T 5T - 6T 5T 6T 5T 6T 5T
55 199008/1489632 7T 5T 7T 5T 7T 5T - 7T 5T 7T 5T 7T 5T
56 199024/1489648 8T 5T 8T 5T 8T 5T - 8T 5T 8T 5T 8T 5T
57 199040/1489664 9T 5T 9T 5T 9T 5T - 9T 5T 9T 5T 9T 5T
58 199056/1489680 10T 5T 10T 5T 10T 5T - 10T 5T 10T 5T 10T 5T
59 199072/1489696 11T 5T 11T 5T 11T 5T - 11T 5T 11T 5T 11T 5T
60 199088/1489712 14T 5T 14T 5T 14T 5T - 14T 5T 14T 5T 14T 5T
표 3에 보여지는 것은 기본 길이가 5T인 경우의 것이며, 그 외의 내용은 표 1을 참조한다.
NO. 섹터 어드레스리드인/리드아웃 데이터 순서 패턴
61 199104/1489728 MARK/SPACE 6T 3T 6T 3T 6T 3T - 6T 3T 6T 3T 6T 3T
62 199120/1489724 6T 4T 6T 4T 6T 4T - 6T 4T 6T 4T 6T 4T
63 199136/1489760 6T 5T 6T 5T 6T 5T - 6T 5T 6T 5T 6T 5T
64 199152/1489776 6T 6T 6T 6T 6T 6T - 6T 6T 6T 6T 6T 6T
65 199168/1489792 6T 7T 6T 7T 6T 7T - 6T 7T 6T 7T 6T 7T
66 199184/1489808 6T 8T 6T 8T 6T 8T - 6T 8T 6T 8T 6T 8T
67 199200/1489824 6T 9T 6T 9T 6T 9T - 6T 9T 6T 9T 6T 9T
68 199216/1489840 6T 10T 6T 10T 3T 10T - 3T 10T 6T 10T 6T 10T
69 199232/1489856 6T 11T 6T 11T 3T 11T - 3T 11T 6T 11T 6T 11T
70 199248/1489872 6T 14T 6T 14T 3T 14T - 3T 14T 3T 14T 3T 14T
71 199264/1489888 MARK/SPACE 3T 6T 3T 6T 3T 6T - 3T 6T 3T 6T 3T 6T
72 199280/1489904 4T 6T 4T 6T 4T 6T - 4T 6T 4T 6T 4T 6T
73 199296/1489920 5T 6T 5T 6T 5T 6T - 5T 6T 5T 6T 5T 6T
74 199312/1489936 6T 6T 6T 6T 6T 6T - 6T 6T 6T 6T 6T 6T
75 199328/1489952 7T 6T 7T 6T 7T 6T - 7T 6T 7T 6T 7T 6T
76 199344/1489968 8T 6T 8T 6T 8T 6T - 8T 6T 8T 6T 8T 6T
77 199360/1489984 9T 6T 9T 6T 9T 6T - 9T 6T 9T 6T 9T 6T
78 199376/1490000 10T 6T 10T 6T 10T 6T - 10T 6T 10T 6T 10T 6T
79 199392/1490016 11T 6T 11T 6T 11T 6T - 11T 6T 11T 6T 11T 6T
80 199408/1490032 14T 6T 14T 6T 14T 6T - 14T 6T 14T 6T 14T 6T
표 4에 보여지는 것은 기본 길이가 6T인 경우의 것이며, 그 외의 내용은 표 1을 참조한다.
NO. 섹터 어드레스리드인/리드아웃 데이터 순서 패턴
81 199424/1490048 MARK/SPACE 7T 3T 7T 3T 7T 3T - 7T 3T 7T 3T 7T 3T
82 199440/1490064 7T 4T 7T 4T 7T 4T - 7T 4T 7T 4T 7T 4T
83 199456/1490080 7T 5T 7T 5T 7T 5T - 7T 5T 7T 5T 7T 5T
84 199472/1490096 7T 6T 7T 6T 7T 6T - 7T 6T 7T 6T 7T 6T
85 199488/1490112 7T 7T 7T 7T 7T 7T - 7T 7T 7T 7T 7T 7T
86 199504/1490128 7T 8T 7T 8T 7T 8T - 7T 8T 7T 8T 7T 8T
87 199520/1490144 7T 9T 7T 9T 7T 9T - 7T 9T 7T 9T 7T 9T
88 199536/1490160 7T 10T 7T 10T 3T 10T - 3T 10T 7T 10T 7T 10T
89 199552/1490176 7T 11T 7T 11T 3T 11T - 3T 11T 7T 11T 7T 11T
90 199568/1490192 7T 14T 7T 14T 3T 14T - 3T 14T 3T 14T 3T 14T
91 199584/1490208 MARK/SPACE 3T 7T 3T 7T 3T 7T - 3T 7T 3T 7t 3T 7T
92 199600/1490224 4T 7T 4T 7T 4T 7T - 4T 7T 4T 7T 4T 7T
93 199616/1490240 5T 7T 5T 7T 5T 7T - 5T 7T 5T 7T 5T 7T
94 199632/1490256 6T 7T 6T 7T 6T 7T - 6T 7T 6T 7T 6T 7T
95 199648/1490272 7T 7T 7T 7T 7T 7T - 7T 7T 7T 7T 7T 7T
96 199664/1490288 8T 7T 8T 7T 8T 7T - 8T 7T 8T 7T 8T 7T
97 199680/1490304 9T 7T 9T 7T 9T 7T - 9T 7T 9T 7T 9T 7T
98 199696/1490320 10T 7T 10T 7T 10T 7T - 10T 7T 10T 7T 10T 7T
99 199712/1490336 11T 7T 11T 7T 11T 7T - 11T 7T 11T 7T 11T 7T
110 199728/1490352 14T 7T 14T 7T 14T 7T - 14T 7T 14T 7T 14T 7T
표 6에 보여지는 것은 기본 길이가 7T인 경우의 것이며, 그 외의 내용은 표 1을 참조한다.
NO. 섹터 어드레스리드인/리드아웃 데이터 순서 패턴
1 198144/1488768 MARK/SPACE 3T 3T 3T 3T 3T 3T - 3T 3T 3T 3T 3T 3T
2 198160/1488784 3T 4T 3T 4T 3T 4T - 3T 4T 3T 4T 3T 4T
3 198176/1488800 3T 5T 3T 5T 3T 5T - 3T 5T 3T 5T 3T 5T
4 198192/1488816 3T 6T 3T 6T 3T 6T - 3T 6T 3T 6T 3T 6T
5 198208/1488832 3T 7T 3T 7T 3T 7T - 3T 7T 3T 7T 3T 7T
6 198224/1488848 3T 8T 3T 8T 3T 8T - 3T 8T 3T 8T 3T 8T
7 198224/1488864 3T 9T 3T 9T 3T 9T - 3T 9T 3T 9T 3T 9T
8 198256/1488880 3T 10T 3T 10T 3T 10T - 3T 10T 3T 10T 3T 10T
9 198272/1488896 3T 11T 3T 11T 3T 11T - 3T 11T 3T 11T 3T 11T
10 198288/1488912 3T 14T 3T 14T 3T 14T - 3T 14T 3T 14T 3T 14T
11 198304/1488928 MARK/SPACE 3T 3T 3T 3T 3T 3T - 3T 3T 3T 3T 3T 3T
12 198320/1488944 4T 3T 4T 3T 4T 3T - 4T 3T 4T 3T 4T 3T
13 198336/1488960 5T 3T 5T 3T 5T 3T - 5T 3T 5T 3T 5T 3T
14 198352/1488976 6T 3T 6T 3T 6T 3T - 6T 3T 6T 3T 6T 3T
15 198368/1488992 7T 3T 7T 3T 7T 3T - 7T 3T 7T 3T 7T 3T
16 198384/1489008 8T 3T 8T 3T 8T 3T - 8T 3T 8T 3T 8T 3T
17 198400/1489024 9T 3T 9T 3T 9T 3T - 9T 3T 9T 3T 9T 3T
18 198416/1489040 10T 3T 10T 3T 10T 3T - 10T 3T 10T 3T 10T 3T
19 198432/1489056 11T 3T 11T 3T 11T 3T - 11T 3T 11T 3T 11T 3T
20 198448/1489072 14T 3T 14T 3T 14T 3T - 14T 3T 14T 3T 14T 3T
표 6에 보여지는 것은 기본 길이가 8T인 경우의 것이며, 그 외의 내용은 표 1을 참조한다.
기본 길이가 9T - 11T인 것은 드라이브 테스트 영역의 기록 용량의 한계 때문에 생략된다. 그러나, 기록 용량이 충분하다면 이들의 조합을 포함할 수도 있다. 예를 들면, 드라이브 테스트 영역 이외에도 디스크 테스트 영역에도 테스트 패턴을 기록할 수 있다. 이 경우 기본 길이가 9T-11T인 것도 포함시킬 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 테스트 방법은 디스크의 소정 영역에 테스트 패턴을 기록하고, 기록된 패턴을 재생하여 원래의 기록 패턴과 비교함에 의해 BER, JITTER 량 등을 측정할 수 있고, 이에 근거하여 드라이브의 조정 상태 예를 들면, 재생 속도, 레이저 다이오드의 파워, 기록 펄스의 펄스폭 등을 디스크의 상태에 맞추어 최적화할 수 있게 하는 효과를 가진다.
또한, 본 발명에 있어서는 특별히 고안된 테스트 패턴을 사용함으로써 BER 및 지터량을 효율적으로 측정할 수 있다.

Claims (9)

  1. 디스크의 테스트 영역에 소정의 테스트 패턴을 기록하는 테스트 패턴 기록 과정;
    상기 테스트 영역에 기록된 테스트 패턴을 재생하는 테스트 패턴 재생 과정;
    상기 테스트 패턴 기록 과정에서 기록된 테스트 패턴과 재생된 테스트 패턴을 비교하고, 비트 에러의 발생 유무 및 발생 횟수를 계수하는 에러 비트 계수 과정을 포함하여, 비트 에러율을 측정하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이브 테스트 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 테스트 패턴 기록 과정은
    BER의 측정, JITTER량의 측정 등에 적합하도록 회소 길이의 기록마크로부터 최대 길이의 기록 마크를 조합하여 기록하는 것을 특징으로 하는 드라이브 테스트 방법.
  3. 제1항에 있어서, 성가 테스트 패턴 기록 과정은 디스크의 드라이브 테스트 영역에 테스트 패턴을 기록하는 것을 특징으로 하는 드리이브 테스트 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    계수된 에러 비트수를 저장하는 에러 비트수 저장 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 테스트 패턴 기록 과정의 전 단계로서
    상기 테스트 영역의 디펙트 유무를 검사하는 디펙트 검사 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
  6. 제 7항에 있어서 상기 디펙트 검사 과정은
    드라이브 테스트 영역에 일정 주파수의 기록 패턴 예를 들면 최저 길이의 기록 마크가 반복되는 패턴을 기록하고 이를 재생하는 드라이브 테스트 영역 검증 과정;
    기록된 패턴과 재생된 패턴을 비교하여 배드 섹터의 유무를 판단하는 배드 섹터 유무 판단 과정;
    상기 배드 섹터 유무 판단 과정에서 배드 섹터가 있는 것으로 판단되면 배드 섹터가 사용되지 못하도록 관리하는 디펙트 관리 과정을 구비하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
  7. 제1항에 있어서,
    측정된 비트에러율을 참조하여 다음 테스트시의 비트에러율이 최저가 될 수 있도록 레이저 다이오드의 파워 및 기록 펄스의 폭을 가변하는 드라이브 조정 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
  8. 제7항에 있어서, 상기 드라이브 조정 과정은
    기록 마크를 기록하기 위한 레이저 다이오드의 바이어스 파워, 이레이즈 파워, 기록 파워 등을 조정하는 레이저 다이오드의 파워 조정 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    기록 마크를 기록하기 위한 펄스 트레인의 퍼스트 펄스, 라스트 펄스, 멀티 펄스의 폭을 조정하는 펄스폭 제어 과정을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스크 드라이버의 테스트 방법.
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