KR19990023881A - 눈으로 볼 수 없는 기계검출 보안마킹, 보안마킹의 제조 및 보안마킹을 구비한 보안시스템 - Google Patents

눈으로 볼 수 없는 기계검출 보안마킹, 보안마킹의 제조 및 보안마킹을 구비한 보안시스템 Download PDF

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Abstract

본 발명은 키랄상의 액정물질을 함유한 보안마킹의 위조에 대한 검증레벨이 공지의 보안마킹보다 높은 보안마킹에 관한 것이며, 그 보안마킹은 눈으로 식별할 수 없으며, 키랄상의 액정물질의 특성은 검출시스템을 이용하여 검출할 수가 있다.

Description

눈으로 볼 수 없는 기계검출 보안마킹, 보안마킹의 제조 및 보안마킹을 구비한 보안시스템
본 발명은 눈으로 볼 수 없는 즉 눈에 인지않되는 기계검출 보안마킹, 보안마킹의 제조 및 이 보안마킹을 구비한 보안시스템에 관한 것이다.
컬러복사기의 성장기술의 성숙은, 컬러, 분해능 및 품질이 원물(original)과 구별하기 어렵게 증가된 복사를 이끌고 있다. 컬러복사기 및 스캐너를 사용하는 위조에 대한 보호로서, 광학적 가변소자의 사용이 데이터캐리어에 대한 보안마킹으로서 점점 퍼지고 있으며, 그러한 마킹의 공통특징은 그들이 나타내는 컬러 또는 광도는 그들이 조명되고 관찰되는 상태에 좌우되여 변화한다.
가장 공통점인 광학적 가변 보안마킹은 회전격자(diffraction gratings), 홀로그램(hologram), 간섭코팅(interference coating), 메타메릭 잉크(metameric ink) 및 편광코팅(polarizing coating)등을 포함한다.
독일특허 제195 41 028호에는 물품의 인식 및 특성에 대한 라벨을 가지고 있는 액정안료로 구성된 코드될 물품의 효과적코팅재료에 대하여 기술되여 있다.
이 경우, 라벨링은 바코드원리에 따라서 또는 구성된 스펙트럼 특성에 의해 또는 컬러패턴에 의해 0.5㎛이상의 층두께를 가진 안료의 표면구조에 의해 이루어지며, 또한 효과적 코팅재료 및 마킹된 안료를 제조하는 방법이 기술되여있다.
독일 특허제3942 663호에는 광학적가변 보안소자를 가진 데이터캐리어에 대하여 기술되여있다. 보안소자는 고체도 존재하며 실온에서 배향된 형태의 액정폴리머로 구성된 액정재료를 구비하고 있다.
또한 독일 특허제3942663호에는 액정재료의 통상적인 1.5의 평균굴적율을 가지고 액정재료의 450∼1500nm의 반사파장을 제공하며 300∼1000nm의 격자정수를 가진 액정폴리머시스템의 사용에 대하여 기술하고 있다.
또한, 종전잉크와 LC시스템과의 임의의 조합, 또 반제품의 물품 및 컬러를 검출하는 방법 및 기계적 시험설치, 컬러플롭(color flop) 및 보안소자의 편광에 대하여 기술되여있다.
그 안에서 시행된 중앙파장시험은 위조에 대한 검증의 증가레벨에 대해서는 부적당하였으며, 이것은 본 응용의 비교예에서 시험된다.
독일 특허제 195 44 130호에는 적어도 2개의 프린트판 층으로 된 광학적으로 가변보안소자에 대하여 기술하고 있으며, 제1의 프린트판층은 데이터카리어와 대조된 컬러로 구성되고, 제2의 프린트판층은 약간의 생조를 가진다.
또는 큰 색조가 없는 광학적으로 가변안료로 구성되여 있으며, 적어도 부분적으로 제1의 프린트판층에 중첩되여 있다. 또한, 이 종류의 광학적인 가변보안 소자에 대한 제조기술에 대해 제공되여있다.
본 발명은 공지의 보안마킹보다 큰 위조에 대한 검증레벨의 보안마킹을 제공하는 것을 목적으로 한다.
이 목적은 키랄상의 액정물질을 구비한 보안마킹으로 성취되며, 키랄상의 액정물질의 특성은 검출장치를 이용하여 검출될 수 있다.
키랄상의 액정물질의 투명성의 결과로서 인간의 눈에 보안마킹에 대한 인지불가로 표식물품상의 상기 표식의 존재 및/또는 위치는, 위조자는 인지하는 것이 겨우 가능하다 할지라도 인지하기 어렵다.
그럼으로 검출장치에 의해 위치에 따라 검출될 수 있는 편광-컬러-컬러플롭의 복합적 특성이 위조에 대한 고레벨의 검증을 보유한 보안마킹으로 유도한다.
또한 본 발명은 본 발명의 보안마킹으로 레테르를 붙힌 물품에 관한 것이다.
바람직하게는, 위조자가 겨우 인지할지라도 인지하기 어려운 본 발명의 마킹은 마킹을 한 물품의 구성위치에서 여러다른 기계검출 특성을 나타내며, 이 조합은 더욱더 위조에 대한 검증레벨을 증가시킨다.
따라서, 본 발명은 본 발명의 보안마킹이 마킹된 물품의 구성위치에서 여러다른 기계검출특성을 가질 수 있도록 본 발명의 보안마킹식으로 레테르를 붙인 물품에 관한 것이다.
본 발명의 보안마킹은 종전방법의 마킹보다 실제로 높은 복잡성의 레벨로 다만 재생될 수 있으며, 그것은 다시 위조에 대한 검증레벨을 증가시킨다.
본 발명의 보안마킹으로 존재하는 키랄상의 액정물질은, 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 장파측면이 바람직하게는 200∼420nm의 범위에 놓이도록 또는 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 단파측면이 700∼3000nm의 범위에 놓이도록 선정된다.
특히 바람직하게는, 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 장파측면이 250∼420nm의 범위에 놓이며 또는 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 단파측면이 1501∼3000nm의 범위에 놓이는 것이다.
더 특히 바람직하게는 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 장파측면이 300∼400nm의 범위에 놓이며, 또는 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 단파측면이 1501∼2500nm의 범위에 놓이는 것이다.
본 발명의 보안마킹은, 키랄상의 액정물질의 균일한 마킹이 되며, 또는 키랄상의 적어도 2개의 다른 액정물질의 구조 보안마킹 또는 미구조 보안마킹이며, 또는 액정막에 결합된 액정안료의 보안마킹, 또는 균일한 액정물질의 3차원 배열로 결합된 액정안료의 보안마킹이 될 수 잇다.
본 발명의 보안마킹을 언제나 생성하는 키랄상의 액정물질은 종전기술에서 공지되였으며, 예컨데 실시예 1.1∼1.5에 기술된 문헌에서 공지되여있다.
또한 본 발명은 보안마킹을 생성하기 위해 반사밴드의 장파측면이 200∼420nm의 범위에 놓인 또는 반사밴드의 단파측면이 700∼3000nm의 범위에 놓인 키랄상의 액정물질의 사용에 관한 것이다.
본 발명의 마킹은 예컨데 실시예에 기술된 것 같이 생성되며, 또한 보안마킹은 그중에서도 멀티코트기술에 의해 생성된다.
본 발명의 목적을 위하여, 다음 용어가 아래에 기술된 것 같이 정의된다.
반사밴드의 중심파장 및 밴드폭은 다음과 같이 파장의 함수로서 반사밴드의 강도의 작도에서 얻을 수 있다.
반사밴드의 최대강도치는 반으로 된다. 반으로 된 강도레벨에서 X축(파장스케일)에 평행인 접속선이 단파위치 및 장파위치에서 반사밴드를 교차하며, X축에 평행인 이들 2개의 교차간의 거리가 반사밴드의 밴드폭이다.
반사밴드의 중심파장은 그중심에서 밴드폭을 반으로하여, X스케일 밑에 있는 Y축에 평행인 선을 작도함으로 얻어지며, 중심파장은 반사밴드와 이들 평행선의 교차점에서 얻은 파장치에 상응한다.
편광: 키랄상의 액정물질은 좌 또는 우방향의 나선형 구조를 가지며, 파장선택되게 반사된 빛은 좌 또는 우방향의 원형편광을 이루며, 따라서 1h 또는 rh같이 밑에 표시된다.
반사밴드의 측면: 반사밴드의 강도가 최대치의 10%로 떨어지는 파장.
반사밴드의 단파측면은 단파분기가 최대강도 10%로 떨어지는 파장에 상응하며, 또 반사밴드의 장파측면은 장파분기가 최대강도의 10%로 떨어지는 파장에 상응한다.
컬러란 인가눈에 인지될 수 있는 볼수 있는 광의 파장영역의 컬러일뿐 아니라, 인가눈에 인지될수 없는 인접한 UV 및 IR파장영역의 컬러를 의미하나, UV 및 IR분광계등의 공지의 측정기의 수단으로 측정될 수 있어야 한다.
컬러플롭(color flop): 광입사가 비수직일 때 반사/전송된 광의 스펙트럼컬러의 시프트(shift). 소정의 각 구성에서 플롭의 범위는 액정분자의 평균굴절에 의해 결정된 재료특유의 특성이며, 그것은 독일특허 3732115호에 기술된 공식에 따라 계산된다.
(1) λ(a)= λ(0)·cos[arcsin(sin(a/n))]
본 발명의 보안소자는 바람직하게는, 1개의 액정종의 균일한 보안마킹으로서, 또는 적어도 2개의 다른 액정종의 구조는 보안마킹으로서, 또는 적어도 2개의 다른 액정종의 비구조 보안마킹으로서, 또는 멀티코트 기술에 의해 생성된 보안마킹으로서, 또는 액정안료가 결합된 액정물질의 보안마킹으로서, 또는 액정안료가 결합된 액정물질의 보안마킹으로서, 또는 안전표식에 균일한 액정물질의 3차원 배치로서 구성된다.
테이블 1은 실시예에 기술된 키랄상의 액정물질의 선택 및 상기 총칭용어로 이들 재료로부터 본 발명의 보안마킹을 생성하는 방법을 요약하였다.
테이블 1
보안마킹형에 대한 그룹코드 상용된 키랄상의 액정물질 실시예에 의한 전영역 응용에 의한 보안마킹의 생성 실시예에 의한 LC 안료에서의 보안마킹의 생성
실시예에의한 재료의파장범위 원형으로편광된반사광의회전방향
Ⅰ 1개의 액정종의 균일한 보안마킹
Ⅰ1 2.1 rh 또는 1h 3.1 3.21, 3.22
Ⅰ2 2.2 rh 또는 1h 3.1 3.21, 3.22
Ⅰ3 2.3 rh 또는 1h 3.1 3.21, 3.22
Ⅰ4 2.4 rh 또는 1h 3.1 3.21, 3.22
Ⅱ 적어도 2개의 다른 액정종의 구조화 보안마킹
Ⅱ1 2.5 물질 1: rh물질 2: 1h 3.2, 3.3 3.23, 3.24
Ⅱ2 2.6 물질 1: rh또는 1h물질 2:rh 또는 1h 3.4, 3.5 3.25, 3.26
Ⅱ3 2.7 물질 1: rh물질 2: 1h 3.6, 3.7 3.27, 3.28
Ⅲ 적어도 2개의 다른 액정종의 비구조 보안마킹
Ⅲ 1 2.5 물질 1: rh물질 2: 1h ― 3.29, 3.30
Ⅲ 2 2.6 물질 1:rh 또는 1h물질 2:rh 또는 1h ― 3.31, 3.32
Ⅲ 3 2.7 물질 1: rh물질 2: 1h ― 3.33, 3.34
Ⅳ 멀티코트기술에 의한 보안마킹
Ⅳ1 2.5 물질 1: rh물질 2: 1h 3.10, 3.11 3.40∼3.43
Ⅳ2 2.6 재료 1:rh 또는 1h재료 2:rh 또는 1h 3.12, 3.13 3.44∼3.47
Ⅳ3 2.7 재료 1: rh재료 2: 1h 3.14, 3.15 3.48∼3.51
Ⅴ 액정안료가 결합된 액정물질의 보안마킹
Ⅴ1 2.5 재료 1: rh재료 2: 1h 3.17 3.52, 3.53
Ⅴ2 2.6 재료 1:rh 또는 1h재료 2:rh 또는 1h 3.18 3.54, 3.55
Ⅴ3 2.7 재료 1: rh재료 2: 1h 3.19 3.56, 3.57
Ⅵ 보안마킹에 균일액정물질의 3차원 배치
Ⅵ1 2.1, 2.22.3, 2.4 rh 또는 1h 3.20 3.58, 3.59
또한 본 발명은 본 발명의 보안마킹을 생성하는 방법에 관한 것이다.
본 발명의 방법에 있어서, 반사밴드의 장파측면이 200∼300nm의 범위에 있으며, 또는 반사밴드의 단파측면이 700∼3000nm의 범위에 있는 키랄상의 액정물질이, 전표면 응용방법에서 직접 지지물질로 응용되거나 또는 먼저 안료로 가공한 다음 그 형태에서 지지물질로 응용되거나 또는 그 물질에 결합이 되는 것을 특징으로 한다.
또한 본 발명은 본 발명의 보안마킹 및 보안마킹을 승인하기 위한 시험설정으로 구성된 보안시스템에 관한 것이다.
본 발명의 보안시스템은, 위조검증 보안마킹을 부여하기 위해 처리된 키랄상의 눈으로 볼 수 없는 액정물질과, 액정물질의 특징이며 보안마킹을 위해 관련되는 것으로 선정된 특성의 완전한 증명을 위한 시험설정과의 조합으로 형성된다.
관련된 것으로서, 선정된 특성은 바람직하게는, 방향성(handedness), 컬러 또는 각 키랄상의 액정물질의 컬러플롭, 또는 물질의 구성배치이다.
컬러는 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 형상을 측정함으로서 결정된다.
컬러플롭은 다른 각 구성에서 결정되고 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 적어도 2개의 중심파장을 측정하여 결정된다.
재료의 방향성은 키랄상의 액적물질에서 반사된 광의 편광을 측정함으로서 결정된다.
물질의 구성배치는 물질의 각 액정성분에 대해 분리하여 상기 특성을 측정함으로서 결정된다.
공지의 시험설정은 LC 보안마킹의 가능성을 충분히 이용않음으로(비교예 참조), 모든 경우에 보안마킹을 위해 선정된 키랄상의 액정물질(또한 LC재료 또는 L(종이라 부름)의 특성의 고감도검출을 부여하는 시험설정을 제공하는 것이 또한 본 발명의 목적이다.
본 발명의 시험설정으로 반사밴드의 적어도 2개의 스펙트럼상의 다른지점에, 반사강도를 결정하여 반사밴드의 특징형태를 검출한다.
바람직하게는, 본 발명의 시험설정으로 반사밴드의 중앙(중심 파장)에서 그리고 반사밴드의 강도가 그의 최고치의 50%이하에 도달하는 파장영역에서 측정을 시행하여 반사밴드의 특징형태를 검출한다.
특히 바람직하게는, 본 발명의 시험설정으로 반사밴드의 중앙(중심파장)에서, 또 반사밴드의 강도가 그의 최고치의 10%이하인 반사밴드의 파장영역에서 측정을 시행함으로 반사밴드의 특징형태를 검출한다.
본 발명의 목적을 위해, 시험설정의 용어는 보안마킹이 1개이상의 광유닛에의해 조명되는 것을 의미하며 보안마킹에 의해 반사된 또는 전송된 광은 1개이상의 검출유닛에서 시험된다.
광유닛(B, B1, B2, B3)은, 광원, 선택적으로 영상시스템(예컨데, 집광경), 컬러필터 및 열필터등의 1개이상의 파장선택소자, 그리고 필요할 경우에는 광웨이브가이드로 구성되여있다.
필터의 선정 및 수는 사용되는 시험장비와 실험될 보안마킹에 좌우되며, 시험장비의 계정과 연관하여 상세히 설명된다. 다음, 광원의 선정에 대하여 기술한다.
10o이하의 조명측 개구각에 의해 특징있는 유향광유닛과 예컨데 울브리히트구를 사용하여 실현되며 10o이상의 조명측 개구각을 가진 확산광 유닛간에는 차이가 있다.
도 1 은 본 발명의 실시예에 의한 광원, 집광렌즈 및 파장선택소자로 구성된 조명시스템도이다.
도 2 는 본 발명의 실시예에 의한 컬러선택과 편광선택이 있는 검출시스템 도이다.
도 3 은 본 발명의 실시예에 있어서, 보안마킹에 의해 반사된 광이 필터바퀴에 의해 빔통로에 이른 각양의 컬러필터에 의해 선택되는 도이다.
도 4 는 시험구성 1(TS1)의 개략구성을 나타낸 도이다.
도 5 는 조명 및 검출이 2개의 다른 각(a1, b1및 a2, b2)에서 일어났을 때 청구된 보안마킹에 대한 전형적인 것으로서 2개의 반사밴드를 나타낸 도이다.
도 6 은 도 5에서 이미 공지된 스펙트럼을 나타낸 도이다.
도 7 은 보안마킹이 액정물질로 시험되는 방법을 나타낸 변형도이다.
도 8 은 도 7의 또다른 변형도이다.
도 9 는 조명/검출이 3개의 다른 각(a1/b1, a2/b2, a3/b3)에서 시행될 때 본 발명의 보안마킹의 전형적인 3개의 반사밴드를 나타낸 도이다.
도 10 은 동일한 필터(F1=F2=F3)가 사용된 것 이외에는 도 9와 유사한 도이다.
도 11 은 다만 1개의 각 구성을 가진 조사시스템 및 검출시스템을 나타낸 도이다.
도 12 는 2개지점의 보안마킹에서 반사된 광을 검출하는 개략도이다.
도 13 은 위조된 원평광소자의 구성을 나타내는 도이다.
도 14 는 순수보안마킹(SM1-4)의 구조를 나타내는 도이다.
도 15 는 위조보안마킹(FM1-4)의 구조를 나타내는 도이다.
본 발명의 시험장비에서 바람직하게 사용되는 광유닛은 다음과 같다.
LU1: 빔집속 및 컬러선정을 하는 광유닛
이 유행광유닛은, 광원(2), 집광경(3) 및 1개이상의 파장선택소자(4)로 구성되며, 이 종류의 조명시스템은 도1의 실시예에 의해 표시되여있다.
보안마킹(5)에 떨어지는 광은 컬러필터(4)에 의해 스펙트럼 선택을 하게되며, 예컨데 이 선택은 배치된 필터에 의해, 도 1에 묘시된 것 같이, 회전필터바퀴(6)에서 이루어지며, 또다른 선택은 이들 필터를 이동 슬라이드에 배치하는 것이다.
LU2: 빔집속을 하는 광유닛
이 유향광유닛은 광원과 집광경으로 구성되며, 컬러선택필터 없는 도 1에 묘사된 것 같은 조면원에 상응한다.
LU3: 광웨이브가이드를 구비한 광유닛
조명용의 2개이상 광원대신에, 다만 1개의 광원에서 출발하여 2개이상의 각에서 보안소자를 조명하는 2개이상의 광웨이브가이드를 사용하는 것이 가능하며, 보안소자는 보안마킹 쪽을 지적하는 광웨이브가이드 및 영상광학으로 조면된다.
LU4: 유향광원을 구비한 광유닛
또다른 광보조구성 부품없이 광이 10o이하의 개구를 가지고 방시되는 광원, 예컨데 레이서등이다.
LU5: 지역조명을 위한 광유닛
보안마킹이 시험될 때 대표적인 특성이 정확히 특성을 나타내도록 조명영역이 선택된다.
예컨데, 여러다른 안료의 혼합물의 경우에는 각개의 대표적인 수는 각 경우에 조명된 지점내에 있다.
구조화보안소자의 경우에는, 전소자, 또는 저어도 소자의 특징부분은 종명된 지점내에 있어야 한다.
예컨데, 유향광유닛이 단일렌스 또는 다중렌즈영상 시스템에 의해 빔확장을 할 수 있도록 지역조명기는 구성된다.
LU6: 확산 광유닛(즉 울브리히트구)
선정된 각 a1, a2등에서의 조명대신에, 모든 입체각에서의 확산조명이 이루어진다. 울브리히트 구용조명과 같이 0o과 90o간의 모든 조명각에서 보안마킹에 의해 반사된 스펙트럼 범위보다 더큰 스펙트럼 영역을 커버하는 광원이 사용된다.
UV범위용 광대역 광원의 예는 중수소 램프, 고압수은 램프 또는 크세논 램프이다.
필터에 의해 스펙트럼으로 선정된 광대신에, 또한 광방사 스펙트럼의 좁은 영역으로 제한되며 그의 파장이 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 중심파장에 상응하는 광원을 사용하는 것이 가능하다.
그러한 단색 및 웨이브선택 광원의 예는 레이저광 또는 금속증기 램프이다.
검출유닛D(D1, D2, D3)의 선정은 다음과 같이 구성된다. 검출유닛은 컬러 및/또는 편광선택소자에 의해 선택적으로 앞선 1개이상의 수신기로 구성되며, 필터의 선정 및 수는 사용한 시험장비 및 시험될 보안마킹에 좌우되며 시험장비의 계정과 연관하며 상세히 설명된다.
수신기는 광강도를 다만 검출하며, 선택적으로 컬러 또는 편광에는 반응않는다. 예컨데, UV 및 눈에 보이는 스펙트럼의 영역에서는 광전자증배관 또는 실리콘포토다이오드를 사용하는 것이 가능하며, 또 ID영역에 대하여는 PbS(연유화물)소자를 사용하는 것이 가능하다.
본 발명의 시험장비에 적합한 검출유닛을 실시예 의해 다음에 기술한다.
DU1: 편광선택 및 파장선택필터와 2개 수신기를 구비한 검출기(10).
도 2는 실시예에 의한 컬러 및 편광선택이 있는 검출시스템을 나타낸다. 보안마킹에 의해 반사된 광은 예컨데 도시된 것 같이 필터바퀴(6)에 의해 빔통로에 가져온 여러다른 컬러필터(4)에 의해 선택된다.
또 다른 선택은 이들필터를 이동 슬라이드에 배치하는 것이다. 그후에 컬러선택된 광은 λ/4 지연소자(11)에 충돌하며, 이 소자에 있어서 보안마킹으로 부터의 원형편광된 광은 선형편광광으로 변환된다.
그 다음의 편광선택빔 스플리터 프리슴에서 2개의 상호수직인 편광방향으로의 선택이 있다. 그후 2개의 편광구성부빔은 개개의 수신기(13)(E1또는 E2)에 충돌한다.
광소자선택에 있어서는, 숙련작업자에 공리되여 있는 선택스펙트럼 범위의 채택에 대한 표준이 고려되여야 한다.
예컨데, λ/4 진연소자(11)는 선택된 스펙트럼영역에 걸처서 그의 지연특성을 유지하는 것이 필요하며, UV영역에서의 적절한 예는 방해석(calcite)으로 된 프레넬롬비(Fresnel rhombi)이며, 가시 및 IR영역에서의 적절한 예는 파장선택된 배향 PC막 또는 방해석으로 된 프레넬롬비이다.
2개의 선형편광구성부의 공간분리용 편광빔스플리터 프리슴은, 예컨데 UV영역에 대해서는 에어갭을 가진 그랜-톰손(Glan-Thompson)프리슴 또는 JR영역에 대해서는 IR-투명접착으로 된 그랜-톰손 프리슴이며, 이런형의 프리슴의 선택각은 파장과는 독립적이다.
DU2: 편광선택 및 파장선택필터와 1개의 수신기를 구비한 검출기(20).
검출장비(DM1)가 다만 1개의 수신기가 사용되도록 변경되였으며, 이것은 실시예에 의해 도 3에 도시되었다. 보안마킹(5)에 의해 반사된 광은, 예컨데 도시된 것같이, 필터바퀴(6)에 의해 빔통로에 가져온 각색의 필터에 의해 선택된다.
또 다른 선택은 이들 필터를 이동 슬라이드에 배치하는 것이다. 컬러선택된 광은, 그다음 예컨데 도시된 것같이, 이동슬라이드(21)를 사용하는 빔통로에 설치된 좌(22) 및 우(23)원형 편광소자에 충돌한다.
DU3: 파장선택필터를 구비한 검출기.
보안마킹에 의해 반사된 광은, 예컨데 필터바퀴 또는 이동 슬라드에 의해 빔통로에 가져온 각색의 필터에 의해 산택된다.
DU4: 편광선택부를 구비한 2개의 검출기.
이것은 DU1에 기술된 장비와 상응한다. 그러나 필터에 의한 컬러선택부가 없다.
DU5: 편광선택부를 구비한 검출기.
이것은 DU2에 기술된 장비와 상응한다. 그러나 필터에 의한 컬러선택부가 없다.
DU6: 컬러 및 편광선택부가 없는 검출기.
보안마킹에 의해 반사된 광은, 선택부없이 즉 컬러시험 또는 편광시험없이 검출된다.
DU7: 검출기로서의 비디오 카메라
다만 절대적으로 방사감수성의 수신기 대신에 입사방사선의 국부적으로 결정적 검출은, 예컨데 비디오 카메라를 사용하여 달성된다.
이 시스템은 빔통로에 가져간 일련의 컬러필터 및/또는 편광기, 비디오 카메라 및 관계된 평가전자장치로 구성되며, 1개이상으로 구성된 영상시스템은 보안소자로부터의 광을 비디오 카메라에 집속시킨다.
또한, 컬러필터 및/또는 편광기는 또한 광원과 마킹사이의 빔통로에 수용되여있다. 필터와 편광기등의 선택구성부의 선택은 시험장비에 명기된 표준을 필요로 한다.
광유닛과 검출유닛의 합리적조합에 대한 일반적 표준은 다음과 같다.
a) 컬러필터는 광유닛 또는 검출유닛에서 사용된다.
b) 편광은 모든 각 구성에서 또는 다만 1개의 각 구성에서 시험된다.
본 발명의 각종 시험장비를 구성하기 위한 광유닛과 검출유닛의 조합을 실시예에 의해 이하 설명한다.
시험구성 1(TS1):
도 4는 시험구성 1(30)의 개략적 구성도를 나타낸다. 액정물질을 가진 보안표식은 광유닛(B1및 B2)에 의해 동시에 또는 연속하여 조사되며, 그리고 보안마킹에 의해 컬러 및 편광선택된 광은 검출기(D1및 D2)에 의해 검출되고 분석된다.
보안마킹(5)의 컬러는 각 구성(a1, b1)에서 시험되며, a1은 광유닛(B1)에서 출발하는 조명광빔과 보안마킹에 수직인 선간의 각으로서 구성되며, b1은 보안마킹에 수직인 선과 검출기(2)에 의해 형성된 각으로 구성되여있다.
a2는 광원(B2)에서의 조명광빔과 보안마킹에 수직인 선간의 각으로서 구성되며, b2는 검출기(2)와 보안마킹에 수직인 선에 의해 형성된 각으로 구성되여있다.
바람직하게 각들은 다음 표준을 충족해야 한다:
a1= b1, 여기서 a1: 0o∼10o
a2= b2, 여기서 a2: 10o∼90o
강제적인 것이 아닐지라도, 각 조건은 관찰하는 것이 바람직하다. 반사밴드의 특징형상은 반사밴드의 중앙 및 측면에 있는 적어도 스펙트럴상으로 3개의 다른 지점에서 검출이 이루어진다.
반사밴드의 중심파장에서, 즉 최대 신호강도에서는, 또한 바람직하게 보안마킹의 편광특성의 조사가 있다. 각 구성(a2, b2)에서는 컬러의 재시험이 있으며, 그것은 a2a1의 조건 때문에 짧은 파장으로 향한 이동을 나타낸다.
다음 주제에서는 시험구성(1)에 대한 보안관계 특성을 조사하기 위한 필터선택의 여러다른 변형을 기술한다:
FP1-1: 컬러 및 컬러플롭에 대한 단순시험
도 5는 조명 및 검출기 2개의 다른 각(a1, b1및 a2, b2)에서 일어날 때 청구된 보안마킹에 대한 전형적인 것으로서 2개의 반사밴드(50)을 나타낸다.
청구된 보안마킹의 고유특징으로서 이들 2개 밴드의 식별은 밴드당 3개의 협대역필터에 의해 실행된다. 사용된 필터는, 바람직하게는 필터의 밴드폭이 반사밴드의 중간치의 파장의 0.5∼5% 사이에, 그리고 바람직하게는 1%가 되도록 검출될 보안소자의 반사밴드에 대해서, 밴드폭이 선정된 간섭필터이다.
예컨데, 반사밴드의 중심파장이 1000nm이며는, 10nm의 밴드폭을 가진 필터의 사용이 바람직하다.
사용된 필터(즉 도5에서 F1∼F6)는 다음 사항에 그들의 최대전송을 위해 바르게 되도록 설정된다:
F1은, 필터의 최대전송의 파장치가 각 위치(a1, b2)에서 장파밴드의 강도가 밴드의 중앙에 최대반사의 10%이하로 떨어지는 파장치에 상응하도록 선정된다.
F2는, 밴드의 중심파장이 각 위치(a1, b1)에서 검출되도록 선정된다.
F3는 필터의 최대전송의 파장치가 각 위치에서(a1, b1)단파밴드의 강도가 밴드의 중앙에 최대반사의 10% 이하로 떨어지는 파장치에 상응하도록 선정된다.
F4는, 필터의 최대전송의 파장치가 각 위치에서(a2, b2)장파밴드의 강도가 밴드의 중앙에서 최대반사의 10%이하로 떨어지는 파장치에 대응하도록 선정된다.
F5는, 각 위치에서 (a2, b2)밴드의 중심파장이 액정종의 공식(I)에 의한 컬러플롭 조건에 따라 검출되도록 선정된다.
F6은, 필터의 최대 전송의 파장치가 각 위치에서 (a2, b2)단파밴드의 강도가 밴드의 중앙에서 최대반사의 10% 이내로 떨어지는 파장치에 대응하도록 선정된다.
6개의 필터의 사용으로 1개의 LC종을 가진 모든 기술된 보안특징의 검출이 반사밴드의 폭과 독립적으로 이루어진다.
FP2-1: 위조에 대한 검증레벨을 증가시키기위한 컬러 및 컬러플롭에 대한 확장시험.
필터의 스펙트럼 투과율에 의하여 각각 F1과 F2또는 F2와 F3의 파장치사이에 있는 2개이상의 추가필터의 사용으로 각 위치(a1, b1)에서의 고유 반사밴드의 검출을 할 수 있다.
이것은 또한 추가필터가 각각 F4와 F5또는 F5와 F6사이에 놓이는 각 위치(a2, b2)에 적용되며, 더욱 위조에 대한 검증레벨을 증가시킨다.
FP3-1: 각 구성의 적절한 선택에 의해 감소된 필터수를 가진 컬러 및 컬러플롭에 대한 시험.
도 6은 도 5에서 이미 공지된 스펙트럼을 나타내며, 필터(F1∼F6)의 선택에 대한 표준은 FP1-1에서 기술된 것이 유효하다.
필터 2에서 각 위치(a1, b1)에 있는 밴드의 중심파장이 검출되도록 동시에 각 위치(a2, b2)에서 밴드중앙에서의 최대반사의 10%이하로의 장파밴드의 층면 감소가 검출되도록 또한 필터 4에서 각 위치(a2, b2)에서의 밴드의 중심파장이 검출되도록 동시에 각 위치(a1, b1)에서 밴드중앙에서의 최대반사의 10% 이하로의 단파밴드의 측면감소가 검출되도록 2개 각(a1, b1및 a2, b2)에 대한 조건이 선정되면, 그때에는 다만 4개의 필터가 필요하게 된다. FP1-1에 주어진 구성에 따라, 다음 것이 그러한 경우이다:
F1, F2= F4, F3= F5, F6
FP4-1: 추가 컬러필터를 사용하여 컬러시험 FP3-1의 확장.
필터의 스펙트럼 투과율에 의하여 컬러시험 FP3-1(도 6)에 있어서 각각 F1과 F2 또는 F2와 F3 또는 F5와 F6의 파장치 사이에 있는 2개이상의 추가필터의 사용으로 고유 반사밴드의 더욱 정밀한 검출을 할 수 있다. 이것은 더욱 위조에 대한 검증레벨을 증가시킨다.
FP5-1: 구조화 보안마킹(Ⅱ1∼Ⅱ3) 및 3차원적매입 보안마킹(Ⅵ1)이 있는 컬러시험 및 컬러플롭시험.
보안마킹이 1개 이상의 LC종으로 구성되면, 각개의 LC종은 마킹 또는 시험장비를 이동하여 영역내에서 선택된다.
조명/검출의 영역내에 다른 컬러의 2개이상의 다른 액정종이 있을 경우에는, 각각 FP1-1 및 FP3-1에 대해 기술된 표준에 따라 추가필터가 액정종마다 필요하게 된다.
PP1-1: 편광에 대한 시험
보안마킹의 편광은 각 위치(a1, b1또는 a2, b2)에 시험구성 TS1에서 시험되며,필터위치(F2)가 있는 각 위치(a1, b1)가 바람직하다.
2개 이상의 다른 컬러 LC종을 동시에 검출하기 위해, 시험구성(TS1)이 2중 또는 다중 시스템으로 구성되며, 그 경우에는 제2 및 추가조명/검출그룹이 견본표면의 수직선주위를 원형으로 회전되게 배치된다.
규정표준에 따라, 광유닛(LU1∼LU7)과 검출유닛(DU1∼DU7)의 다음 조합이 시험장비 1에는 바람직하다:
B1 B2 D1 D2 주
LU2 LU2 DU1 DU3 FP1-1∼FP4-1에 따라 DU1 및 DU3에
대한 필터선택
LU5 LU5 DU1 DU3 FP1-1∼FP4-1에 따라 DU1 및 DU3에
대한 필터선택
LU3 DU1 DU3 B1 및 B2가 2개의 광웨이브가이드를
가진 광원에 실현된다.
LU6 DU1 DU3 B1 및 B2가 확산광유닛 LU6에 의해
실현된다.
시험구성 2(TS2):
도 7은 액정물질로 된 보안마킹(5)이 시험되는 방법을 나타낸 변형을 나타낸다 이 변형도에서, 시험될 보안마킹(5)은 보안마킹(5)(마스터)와 동일형의 액정물질과 검출유닛에서 직접 비교된다(M1/M2).
마스터는 시험될 보안마킹과 동일한 반사특성을 가지나, 투명지지물에 응용된다. 보안마킹은 각(a1및 a2)에서 광유닛(B1및 B2)에 의해 동시에 또는 연속하여 조명된다.
그러한 광유닛의 예는 LU2 또는 LU5에 기술된 시스템이다. 각 b1또는 각 b2에서 보안마킹에 의해 파장 및 편광 선택적으로 반사된 광은, 각각 각(C1및 C2)에서 전장비(각각 M1 또는 M2)내에 위치한 마스터에 충돌하며, 광은 그곳에서부터 각(d1또는 d2)에서 검출기(D1 또는 D3)에 완전히 반사된다.
예컨데 이러한 종류의 검출기는 DU6에 기술된 시스템이다.
이 시험장비에서는, 다음과 같은 표준을 충족하기 위한 각이 필요하다.
a1= C1, a1: 0o∼10o
a2= C2, a2: 10o∼90o
b1= d1, b1: 0o∼10o
b2= d2, b2: 10o∼90o
강제적이 아닐지라도 각 조건을 관찰하는 것이 바람직하다.
위조된 소자의 경우에는 반사밴드 밖에서 잘못된 편광구성부 및/또는 광이 발생한다. 이 광은 마스터에 의해 전송되여 검출기(D2 또는 D4)에 도달한다.
검출기에 광의 여러다른 입사 때문에 서로 신뢰성있게 그리고 큰 선택도로 순수보안마킹과 위조보안마킹을 분별할 수가 있다.
시험구성 3(TS 3):
도 8은 액정물질로 된 보안마킹(5)이 시험되는 방법을 나타낸 또다른 변형을 나타낸다. 보안마킹(5)은 3개 각(a1, a2, a3)에서 3개의 광유닛(B1, B2, B3)에 의해 조명되며, 반사광은 검출유닛(D1, D2, D3)에 의해 3개 각(a1, a2, a3)에서 검출된다.
이것은 조명각의 적절한 선택으로 동일한 사양을 갖게 부여할 수 있는 적어도 3개의 필터를 필요로 한다. 시험구성(TS1)를 통하여 이장비의 특징은, 예컨데 필터바퀴 등과 같은 이동부분에 대한 것이 필요없는 것이다.
이 시험장비에서의 각은 바람직하게는 다음 표준을 충족시킨다.
a1= b1, a1: 0o∼10o
a2= b2, a2: 10o∼90o
a3= b3, a3: 10o∼90o
a3a2a1
강제적이 아닐지라도 각 조건을 관찰하는 것이 바람직하다.
다음 주제에 시험구성 3에 대한 보안관계 특성을 조사하는 필터선택의 여러변형을 기술한다.
FP1-3: 컬러 및 컬러플록에 대한 시험
도 9는 조명/검출이 3개의 다른 각(a1/b1, a2/b2및 a3/b3)에서 시행될 때 본 발명의 보안마킹의 전형적인 3개의 반사밴드(50)를 나타낸다.
협대역 컬러필터를 가진 반사밴드당 각 경우에 1개소의 검출에 의해 청구된 특성을 가진 보안마킹이 현존하는 가를 식별하는 것이 가능하며, 선택될 필터의 파장선택에 대하여는 다음과 같은 경우이다(도 9에서 F1∼F3):
F1은, 필터의 최대 전송의 파장치가 각 위치(a1, b1)에서의 단파밴드의 강도가 밴드의 중앙에서 최대반사의 10℃ 이하로 떨어지는 파장치에 상응하도록 선정된다.
F2는, 밴드의 중심파장이 각 위치(a2, b2)에서 검출되도록 선정된다.
F3는, 필터의 최대전송의 파장치는 각 위치(a3, b3)에서의 장파밴드의 강도가 밴드의 중앙에서 최대반사의 10o이하로 떨어지는 파장치에 상응하도록 선정된다.
FP2-3: 각 구성의 적절한 선정을 통하여 1개 필터형을 가진 컬러 및 컬러플롭에 대한 시험
구성은 TS3에 상응하며, 동일한 필터(F1=F2=F3)는 3개의 빔통로에 사용된다.
각 위치(a1, b1)에서의 단파측면 =
각 위치(a2, b2)에서의 중심파장 =
각 위치(a3, b3)에서의 장파측면 =
PP1-3: 편광에 대한 시험
필터 F2를 가지고 각 위치(a2, b2)에서 편광에 대한 시험이 컬러에 대한 시험과 함께 시행되었다.
TS1에 대해 바람직한 것으로 규정된 광 및 검출유닛의 조합은 마찬가지로 TS3에 대해 바람직하다.
시험구성 4(TS4):
구조화 보안마킹(테이블 1에서 Ⅱ1∼Ⅱ3에 상응함)은 마킹의 전윤곽 또는 윤관의 부분을 비디오 카메라에 영상하고 전자적인 저장 마스터와 그 영상을 비교함으로서 식별된다.
그러한 장비는 복잡한 패턴을 온전히 그대로 기계에 의해 신별되게 할 수 있으며, 복잡한 구조를 가진 마킹은 위조에 대한 검증레벨에 지속된 증가를 제공한다.
시험구성 TS4는 시험구성 TS1에 대해 기술된 것 같이 각구성(a1,b1) 및 각구성(a2,b2)을 가진 2개의 빔통로와 또는 시험구성 TS3에 대해 기술된 것 같이 각구성(a1,b1), 각구성(a2,b2) 및 각구성(a3,b3)를 가진 3개의 빔통로로 구성되어 있다.
이러한 종류의 시험장비(60)는 도 1 에 도시되어 있다.
그러나 다만 1개의 각구성(a1,b1)으로 되어 있다.
조명시스템(61)은 각 a1에서 구조화 보안소자의 전체를 또는 구조화보안소자의 일부분을 조명하는 광원 및 영상시스템으로 구성되어 있다(예컨대, Lu5).
각 b1에서 반사된 광은 검출시스템에서 분석되며, 검출시스템은 1개이상의 렌즈를 가진 영상시스템(61), 1개이사의 컬러(62) 및/또는 편광기(63), 비디오카메라(66) 및 관계평가전자장치(65)로 구성되어 있다.
또, 컬러필터(62) 및/또는 편광기(63)은 광원과 마킹(5)사이에 있는 빔통로에 수용되어 있다.
다른 컬러 및/또는 편광에 의해 특징있는 구성부 패턴은 디지털화되고 대응 전자적 저장패턴과 비교되며, 비교는 그 편차가 소정공차내에서 받아들일 수 있도록 바람직하게 시행된다.
다음은 시험구성 4 에 대한 보안관계특성을 조사하는 필터선택의 여러 다른 변형을 기술한다.
FP1-4 : 컬러 및 편광에 대한 시험
빔통로에 각양 컬러 필터 및/또는 편광기의 연속적인 삽입으로 각양의 컬러 및/또는 편광의 구성부 패턴이 비디오 카메라에서 연속적으로 검출된다.
컬러 필터의 선택은 시험구성 TS1 및 TS3과 연관하여 기술된 표준에 종속된다.
FP2-4 : 컬러에 대해 확장된 시험
위조에 대한 검증레벨을 증가시키기 위하여 컬러의 조사는 시험구성 TS1에 유추하여 반사밴드의 중앙에 있는 1개 필터를 사용하여 시행될 뿐 아니라, 반사밴드의 강하는 반사밴드밖에서 2개의 추가 필터에 의해 조사된다(도 5).
컬러 필터의 선택은 시험구성 TS1 및 TS3에 대해 기술된 표준에 좌우된다.
FP3-4 : 컬러 플롭에 대한 시험
컬러 플롭을 조사하기 위하여 광 및 검출시스템에 각구성(a2,b2)에 배치되며, 컬러 플롭은 적절한 컬러 필터를 삽입하여 조사된다.
컬러 필터의 선택은 시험구성 TS1 및 TS3에 대해 기술된 표준에 좌우된다.
대체구성
마스터와 보안마킹의 전자적 비교대신에, 예컨대 간섭측정패턴인식 또는 홀로그래픽패턴인식의 다른 방법을 사용하는 것이 가능하다.
본 발명의 시험장비는 실시예에 의해 도시된 반사보안특성의 검출에 제한된 것이 아니며, 동일방법으로 전송시 검출에 의해 투명기판의 보안마킹을 검출하는 것이 가능하다.
이 경우 조명 및 검출은 상기한 반사프로세스에 대한 것과 동일한 표준에 의한다.
테이블 2 에는 테이블 1 에 기술한 본 발명의 보안마킹을 상기와 같은 각 바람직한 적절한 시스템과 조합하여 본 발명의 바람직한 보안시스템을 기술하였다.
보안마킹의 각 LC종에 대하여는 LC재료로 된 구성요소를 가진 1개의 필터셋의 시험장비로 사용되게 제조된다.
테이블 2
보안마킹형의그룹코드 적합한 시험장비
Ⅰ 1개의 액정종의 균일한 보안마킹
I1 바람직하게는 IR구성요소를 가진 TS1의 사용대안으로는 IR구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
I2 바람직하게는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용대안으로는 UV구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
I3 바람직하게는 IR구성요소를 가진 TS1의 사용대안으로는 IR구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
I4 바람직하게는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용대안으로는 UV구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
Ⅱ 적어도 2개의 다른액정족의 구조화 보안마킹
Ⅱ1 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소, 위치검출시스템 또는 안전표식 2회가진 TS2, TS3, TS4의 사용
Ⅱ2 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소, 위치검출시스템 또는 안전표식 2회가진 TS2, TS3, TS4의 사용
Ⅱ3 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소, 위치검출시스템 또는 안전표식 2회가진 TS2, TS3, TS4의 사용
Ⅲ 적어도 2개의 다른액정종의 비구조화 보안마킹
Ⅲ1 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용E1+E2=1, E1/E2=LC종의 정량비율 대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
Ⅲ2 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용 LC종의 정량비율에 종속되는 신호레벨 대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
Ⅲ3 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용 LC종의 정량비율에 종속되는 신호레벨 대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
Ⅳ 멀티코트기술에 의한 보안마킹
Ⅳ1 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
Ⅳ2 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
Ⅳ3 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
Ⅴ 액정안료가 결합된 액정물질의 보안마킹
Ⅴ1 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용 E1+E2=1, E1/E2=LC종의 정량비율 대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
Ⅴ2 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용 LC종의 정량비율에 종속되는 신호레벨 대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
Ⅴ3 바람직하게는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS1의 사용 LC종의 정량비율에 종속되는 신호레벨 대안으로는 IR 및/또는 UV구성요소를 가진 TS2, TS3의 사용
Ⅵ 보안마킹에 균일한 액정물질의 3차원 배치
Ⅵ1 실제적 실시예 3.20에 따라 응용된 a1/b1 및 a2/b2의 각구성을 가진 바람직하게는 TS1, 대안으로는 TS4, IR 및/또는 UV구성요소의 사용
또한 본 발명은 데이터캐리어에 대한 보안요소로서, 귀중한 문서에 대한 안전요소로서, 그리고 신원서류에 대한 보안요소로서 본 발명의 보안마킹의 사용에 관한 것이다.
본 발명의 보안마킹은 예컨대 독일 특허 DE 39 42 663 호에 기술된 것 같이 모든 공지의 보안마킹과 조합될 수 있다.
다음의 실시예는 본 발명을 설명하는데 유용하다.
실시예 1.1 : 좌측방향나선형 구조를 가진 액정물질의 제조
유럽 특허 EP 0 358 208 호의 실시예 1 및 2 에 따라서
실시예 1.2 : 좌측방향나선형 구조를 가진 액정물질의 제조
유럽 특허 EP 0 601 483 호의 실시예 2 에 따라서
실시예 1.3 : 좌측방향나선형 구조를 가진 액정물질의 제조
미국 특허 US 4,637,896 호의 실시예 4 에 따라서
실시예 1.4 : 우측방향나선형 구조를 가진 액정물질의 제조
독일 특허 DE 42 34 845 호의 실시예 1 에 따라서
실시예 1.5 : 우측방향나선형 구조를 가진 액정물질의 제조
특허문헌 WO 95/24454 호의 실시예 55 에 따라서
실시예 1.6 : 실시예 1.1∼1.5에서 얻은 액정물질을 사용한 액정물질의 염색
개개의 요구반사파장(즉 실시예 2.1∼2.4에 따라서) 및 나선형 구조의 좌우방향은 예컨대 실시예 1.1 또는 1.2 또는 1.3에서 액정물질을 좌측방향구조물과 혼합하여 또는 우측방향나선형 구조의 액정물질을 실시예 1.4 또는 1.5에서 우측방향의 원편광구성요소와 혼합하며 또는 실시예 1.1 또는 1.2 또는 1.3에서 좌측방향의 액정물질을 실시예 1.4 또는 1.5에서 우측방향의 액정물질과 혼합함으로써 달성된다.
각 혼합의 배합을 변경하여 특히 200㎚(UV)∼3000㎚(IR)간에서 반사파장을 조정할 수 있다.
실시예 2.1 : 모든 각구성에 있어서 적외선 스펙트럼영역에서 반사하는 액정물질에 대한 반사파장의 조정
실시예 1.6에 기술된 것 같이, 반사파장은 각구성 a1=b1=80°에서(도 4 에 따라서) 반사밴드의 단파측면이 700㎚이상 되도록 조정된다.
실시예 2.2 : 모든 각구성에 있어서 자외선 스펙트럼영역에서 반사하는 액정물질에 대한 반사파장의 조정
실시예 1.6에 기술된 것 같이, 반사파장은 각구성 a1=b1=0°(도 4 에 따라서)에서 반사밴드의 장파측면이 420㎚이하가 되도록 조정된다.
실시예 2.3 : 모든 각구성에 있어서 적외선 스펙트럼영역에서 반사하여 그의 반사밴드가 넓어지는 액정물질의 제조
실제 실시예 1.1∼1.5에 따라서 제조된 액정물질의 반사밴드는 각구성 a1=b1=80°(도 4 에 따라서)에서 반사밴드의 단파측면이 700㎚이상이 되도록 유럽 특허 EP 0 606 940에 기술된 방법을 사용하여 넓혀진다.
실시예 2.4 : 모든 각구성에 있어서 자외선 스펙트럼영역에서 반사하여 그의 반사밴드가 넓혀지는 액정물질의 제조
실시예 1.1∼1.5에서 제조된 액정물질의 반사밴드는 각구성 a1=b1=0°(도 4 에 따라서)에서 반사밴드의 장파측면이 420㎚이하가 되도록 유럽 특허 EP 0 606 940에 기술된 방법을 사용하여 넓혀진다.
실제 실시예 2.5 : 동일 컬러 및 다른 방향의 나선형 구조를 가진 2개의 액정물질의 제조
2개의 액정재료는 2개 재료의 고유반사밴드가 차이가 없게 또는 적어도 고유반사밴드의 중심파장이 중심파장치의 1％이내 그리고 반사밴드의 밴드폭이 2％ 이내로 떨어지도록 제조된다.
물질 1 : rh, 물질 2 : 1h
물질 1 및 물질 2 의 중심파장 및 나선형방향은 물질 1 및 물질 2 의 중심파장 및 밴드폭이 실시예 2.1∼2.4중의 1개의 데이터에 대응되도록 실제 실시예 1.6에 기술된 것 같이 조정된다.
실시예 2.6 : 다른 컬러 및 동일방향의 나선형 구조를 가진 액정물질의 제조
2개의 액정재료는 실시예 2.6a 또는 2.6b에 기술된 것 같이 제조되며, 2개 물질의 고유반사밴드의 중심파장은 중심파장치의 1％이상의 차이가 있으며 및/또는 반사밴드의 밴드폭은 2％이상 떨어지도록 한다.
실제 실시예 2.6a : 재료 1 : rh, 재료 2 : rh,
물질 1 및 물질 2 의 중심파장 및 나선형방향은 실제예 1.6에 기술된 것 같이 실시예 2.1∼2.4중의 1개에 기술된 것 같이 조정된 재료 1 및 재료 2 의 중심파장 및 밴드폭으로 조정된다.
실시예 2.6b : 재료 1 : 1h, 재료 2 : 1h
재료 1 및 재료 2 의 중심파장 및 나선형 방향은 실제 실시예 1.6에 기술된 것 같이 실시예 2.1∼2.4중의 1개에 기술된 것 같이 조정된 재료 1 및 재료 2 의 중심파장 및 밴드폭으로 조정된다.
실시예 2.7 : 다른 컬러 및 다른 방향의 나선형 구조의 2개 액정물질의 제조
2개의 액정물질은 2개 재료의 고유반사밴드가 다르게 그리고 나선형의 방향이 대행되도록 제조된다.
2개의 고유반사밴드는 중심파장이 중심파장의 1％이상 떨어지고 및/또는 반사밴드의 밴드폭이 2％이상 서로 떨어져 있을 때는 다르다.
재료 1 : rh, 재료 2 : 1h,
재료 1 및 재료 2 의 중심파장 및 나선형방향은 실시예 1.6에 기술된 것 같이 조정되며, 재료 1 및 재료 2 의 중심파장 및 밴드폭은 실시예 2.1∼2.4중의 1개에 기술된 것 같이 조정된다.
실시예 3.1 : 지지필름에 액정피막의 제조
실시예 2.1∼2.4중의 1개에 따라서 조정된 액정물질은 유럽 특허 EP 358 201에 기술된 방법에 의해 예컨대 폴리에스테르필름등의 내찢기성(tear resistant)플라스틱에 응용되며, 배향 및 가교가 이루어진다.
이 경우 독일 특허 DE 39 42 663 호에 기술된 모든 변형을 사용할 수 있다(즉, 흑색 또는 염색된 배경, 배경의 직물화).
그리하여 액정물질로 된 지지웨브는 예컨대 독일 특허 DE 39 42 663 호에 기술된 것 같이 좁은 웨브 또는 필라멘트로 절삭되고 보안필라멘트로서 종이 또는 기타물질에 매입된다.
전송소자의 제조에 대한 것과 같이 독일 특허 DE 39 42 663 호에 기술된 모든 기타방법은 마찬가지로 가능하다(독일 특허 DE 39 42 663 호는 참조로 합동됨).
실시예 3.2 : 전영역코팅에 있어서 동일컬러이나 다른 방향의 나선형 구조의 2개의 액정물질로 된 구조한 표식의 제조
실시예 3.1에서와 같이, 폴리에스테르 필름과 같이 1개의 캐리어물질은 모든 경우에 실시예 2.5에 따라서 제조된 2개의 다른 액정물질로 코팅된다.
예컨대 스탬핑과 같은 종래의 기술을 사용하여 얻어진 2개의 필름은 동일 컬러이나 다른 나선형방향과 2개의 액정물질로 구성한 보안소자를 제조하는데 사용되는 패턴을 만드는데 사용된다.
예컨대 이것은 데이터캐리어에 있어서 보안소자를 제조/처리하는 독일 특허 DE 39 42 663 호에 기술된 처리방법에 따라서 이루어진다.
실시예 3.3 : 전영역코팅에 있어서 동일 컬러이나 다른 방향의 나선형 구조의 2개의 액정재료로 된 구조화표식의 제조
실시예 2.5에 기술된 것 같이 제조된 2개의 다른 액정물질은 서로 직접 인접된 2개의 분리체임버를 가진 체임버형 코팅바를 사용하여 유럽 특허 EP 358 208 호에 기술된 방법에 의해 지지물질, 예컨대 폴리에스테르 필름에 동시에 코팅되고 그리고 배향 및 가교가 이루어졌다.
이것은 서로 직접 인접된 2개의 다른 액정영역을 가진 필름 스트립을 제조한다.
이와 같이 제조된 필름스트립의 계속된 처리는 독일 특허 DE 39 42 663 호에 기술된 처리와 비슷하였다.
실시예 3.4 : 전영역코팅에 있어서 다른 컬러이나 동일방향의 나선형 구조의 2개의 액정물질로 된 구조화마킹의 제조
실시예 3.2의 절차가 반복되었으나 차이점은 사용된 액정물질은 실시예 2.5에 기술된 것보다도 실시예 2.6에 기술된 절차로 제조되었다.
실시예 3.5 : 전영역코팅에 있어서 동일방향의 나선형 구조의 2개의 다른 컬러로 된 액정물질로 된 구조화마킹의 제조
실시예 3.3의 절차가 반복되었으나 차이점은 사용된 액정물질은 실시예 2.5에 기술된 것보다도 실제 실시예 2.6에 기술된 절차로 제조되었다.
실시예 3.6 : 전영역코팅에 있어서, 다른 컬러 및 다른 나선형방향구조의 2개의 액정물질로 된 구조화마킹의 제조
실시예 3.2의 절차가 반복되었으나 차이점은 사용된 액정물질은 실시예 2.5에 기술된 것보다도 실시예 2.7에 기술된 절차로 제조되었다.
실시예 3.7 : 전영역코팅에 있어서 다른 방향의 나선형 구조의 2개의 다른 컬러로 된 액정물질에서 구조화마킹의 제조
실시예 3.3의 절차가 반복되었으나 차이점은 사용된 액정물질은 실시예 2.5에 기술된 것보다 실제 실시예 2.7에 기술된 절차로 제조되었다.
실시예 3.8 : 전영역코팅에 있어서, 서로 상부에 사용된 2개의 다른 액정물질로 구성된 보안마킹의 제조
실시예 2.5, 2.6 또는 2.7에 기술된 것 같이 제조된 2개의 다른 액정물질은 각각 유럽 특허 EP 358 208 호에 기술된 방법으로 내찢기성 플라스틱, 예컨대 폴리에스테르 필름에 독립적으로 사용되고 배향 및 가교가 이루어진다.
그리고 결과로서 생긴 지지웨브는 자체 공지된 방법에 의해 예컨대 액정코팅에 응용된 고온융해접착층의 도움으로 적층된다.
예컨대 이것은 독일 특허 DE 39 42 663 호에 기술되어 있으며, 얻어진 지지웨브는 독일 특허 DE 39 42 663 호에 기술된 방법으로 사용될 수 있다(예컨대 보안필라멘트를 제조하기 위함).
실시예 3.9 : 전영역코팅에 있어서, 서로 상부에 응용된 2개의 다른 액정물질로 구성된 보안마킹의 제조
실시예 2.5, 2.6 또는 2.7에 기술된 것 같이 제조된 2개의 다른 액정물질은 일본 특허 JP 08 146 416 A2 호에 기술된 방법에 의하여 내찢기성 플라스틱, 예컨대 폴리에스테르 필름에 계속적으로 서로 서로 상부에 응용된다.
그리하여 얻어진 지지웨브는 실시예 3.8에 기술된 것 같이 계속 처리되여 보안소자를 형성한다.
실시예 3.10 : 서로 상부에 적용된 동일 컬러 및 다른 방향의 나선형 구조를 가진 2개의 액정물질로 구성된 보안마킹의 제조
실시예 3.8의 절차가 실제 실시예 2.5에 기술된 것 같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.11 : 서로 상부에 적용된 동일 컬러 및 다른 방향의 나선형 구조(실시예 3.10에 대한 대안)를 가진 2개의 액정물질로 구성된 보안마킹의 제조
실시예 3.9의 절차가 실시예 2.5에 기술된 것 같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.12 : 서로 상부에 적용된 다른 컬러 및 동일방향의 나선형 구조를 가진 2개의 액정물질로 구성된 보안마킹의 제조
실시예 3.8의 절차가 실시예 2.6에 기술된 것 같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.13 : 서로 상부에 적용된 다른 컬러 및 동일방향의 나선형 구조(실시예 3.12에 대한 대안)를 가진 2개의 액정물질로 구성된 보안마킹의 제조
실시예 3.9의 절차가 실시예 2.6에서 기술된 것 같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.14 : 서로 상부에 적용된 다른 컬러 및 다른 방향의 나선형 구조를 가진 2개의 액정물질로 구성된 안전표식의 제조
실시예 3.8의 절차가 실시예 2.7에 기술된 것 같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.15 : 서로 상부에 응용된 다른 컬러 및 다른 방향의 나선형 구조를 가진 2개의 액정물질로 구성된 보안마킹의 제조
실시예 3.9의 절차가 실시예 2.7에 기술된 것 같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.16 : 다른 액정물질에 혼합된 키랄상의 액정안료로 된 보안마킹의 제조
실시예 2.5, 2.6 또는 2.7에서와 같이 제조된 2개의 다른 액정물질이 다음과 같이 처리되었다 : 제 1 물질(물질 1)은 유럽 특허 EP 0 601 483, 실시예 1B에 기술된 것 같이 안료로 처리되고, 그 다음 마지막으로 내찢기성 플라스틱, 예컨대 폴리에스테르 필름에 응용된 제 2 물질(물질 2)에 혼합된 후, 배향 및 가교가 이루어졌다.
제 2 물질에 대한 제 1 물질(안료향태료)의 비율은 제 2 물질이 종전방법에 따른 조건하에서 충분히 배향되도록 선택되어야 한다.
안전소자에의 코팅지지웨브의 계속적인 처리는 독일 특허 DE 39 42 663 호에 기술된 것 같은 방법과 유사하게 이루어진다.
실시예 3.17 : 다른 액정물질에 혼합된 키랄상의 액정안료로 된 보안마킹의 제조, 2개의 액정물징은 동일 컬러 및 다른 방향의 나선형 구조를 가진다.
실시예 3.16 의 처리가 실시예 2.5에 기술된 것 같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.18 : 다른 액정물질에 혼합된 키랄상의 액정안료로 된 보안마킹의 제조, 2개의 액정물질은 다른 컬러 및 동일방향의 나선형 구조를 가진다.
실시예 3.17의 절차가 실시예 2.6에 기술된 것 같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.19 : 다른 액정물질에 혼합된 키랄상의 액정안료로 된 보안마킹의 제조, 2개의 액정물질은 다른 컬러 및 다른 방향의 나선형 구조를 가진다.
실제 실시예 3.18의 절차가 실제 실시예 2.7에 기술된 것 같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.20 : 매트릭스에 액정물질의 3차원 배치로 구성된 보안마킹의 제조
이 실시예는 예컨대 도 12 에 나타낸 것 같은 보안마킹의 여러 장소에서 매트릭스에 다른 각으로 액정시스템을 고정하므로 여러 다른 조명/검출구성하에 키랄상의 액정시스템의 명백한 컬러플롭작용을 이용한다.
이 목적을 위해 실시예 2.1, 2.2, 2.3 또는 2.4에 따라서 제조되여 사용된 액정물질은 제일 먼저 필름, 예컨대 폴리에스테르 필름에 적용되고 배향 및 가교가 이루어진다.
예컨대 PVC의 폴리머 매트릭스는 셰이핑프레스장치에 의해 톱니형으로 변환된다.
응용된 액정물질을 가진 폴리에스테르 필름으로 구성된 지지웨브는 예컨대 고온용융접착기술로 적층하여 톱니구조에 적용되고 최종에는 폴리머 매트릭스로 고르게 덮혀진다.
이것에 의해 예컨대 카드로 결합된 평면 보안마킹이 제조된다.
이와 같이 제조된 보안마킹은 다음과 같이 검출된다 :
도 12 에 나타낸 것 같이 예컨대 실시예 4.1에 기술된 조명/검출시스템은 보안마킹의 2개의 다른 장소에 다음 신호를 생성한다 :
B1 및 D1이 있는 위치 1에는 중심파장을 가진 반사밴드가 각 a1및 b1(a1=b1)을 결정한 B1 및 D1의 위치설정으로 획득되며, 한편 B2 및 D2가 있는 위치 2 에는 각 조건(a2=b2)에 상응하는 중심파장을 가진 반사밴드가 얻어진다.
검출영역은 측정될 위치 1 및 2의 영역보다 작아야 된다는 것에 유의해야 한다.
상기한 실시예 3.1∼3.20은 액정물질을 전영역에서 다룬다.
그러나 유럽 특허 EP 0 685 749 호에 기술된 모자이크 원리에 따라서 키랄상의 액정물질의 안료의 도움으로 전영역효과를 얻는 것에 가능하다.
따라서 실시예 3.1∼3.20에 기술된 보안마킹은 또한 다음 실제 실시예에 기술된 것 같은 안료에서 제조될 수 있다.
실시예 3.21 : 키랄상의 액정물질로 구성된 접합제에 결합된 안료로부터 스크린 인쇄법에 의한 지지필름에 액정피막의 제조.
실시예 2.5에 기술된 것 같이 반사파장이 실시예 2.1∼2.4에 지정된 치로 조정된 실제 실시예 1.1∼1.5의 액정물질은 유럽 특허 EP 0 601 483 호, 실시예 1B에 기술된 처리에 의해 안료로 처리된다.
적절한 접합제 시스템으로 안료를 결합한 후, 그 안료는 자체 공지의 스크린의 인쇄법에 의해 내찢기성 플라스틱, 예컨대 폴리에스테르 필름에 응용된다.
예컨대 독일 특허 DE 39 42 663 호에 기술된 방법에 따라서 이들 필름의 다음 처리치가 이루어지며, 보안마킹을 제조하기 위해 그 독일 특허에 기술된 변형체를 사용하는 것이 가능하다.
실시예 3.22 : 폴리머 매트릭스에 결합된 키랄상의 액정물질의 안료의 액정피막의 제조.
실시예 2.5에 따라서 실시예 1.1∼1.4에서 실시예 2.1∼2.4에 의한 파장으로 조정된 액정물질은 유럽 특허 EP 0 601 483 호에 기술된 방법에 의해 PVC에 결합된다.
그 결과로 생긴 필름은 다음 처리는 실시예 3.21에 기술된 것과 같다.
실시예 3.23 : 동일 컬러 및 다른 방향의 나선형 구조의 안료에서 구조화마킹의 제조
액정물질의 필름은 실시예 2.5에 기술된 것 같이 제조된 2개의 다른 액정물질을 사용하여 실시예 3.21에 따라서 제조된다.
구조화마킹으로의 지지필름의 처리는 실시예 3.2에 기술된 것 같이 행해진다.
실시예 3.24 : 동일 컬러 및 다른 방향의 나선형 구조의 액정물질의 2개의 안료에서 구조화마킹의 제조.
지지필름은 실시예 2.5에 기술된 것 같이 제조된 2개의 다른 액정물질을 사용하여 실시예 3.22에 따라서 제조된다.
구조화마킹으로의 지지필름의 처리는 실시예 3.2에서와 같이 행하여진다.
실시예 3.25 : 동일 방향의 나선형 구조를 가진 액정물질의 2개의 다른 컬러 안료에서 구조화마킹의 제조.
지지필름은 실제 실시예 2.6에 기술된 것 같이 제조된 2개의 다른 액정물질을 사용하여 실시예 3.21에 따라서 제조된다.
구조화마킹으로의 지지필름의 처리는 실시예 3.2에서와 같이 행하여진다.
실시예 3.26 : 실시예 3.25의 변형 : 동일 방향의 나선형 구조를 가진 액정물질의 2개의 다른 컬러 안료에서 구조화 마킹의 제조.
지지필름은 실시예 2.6에 기술된 것 같이 제조된 2개의 다른 액정물질을 사용하여 실시예 3.22에 따라서 제조된다.
구조화마킹으로의 지지필름의 처리는 실시예 3.2에서와 같이 행하여진다.
실시예 3.27 : 다른 방향의 나선형 구조를 가진 액정물질의 2개의 다른 컬러 안료에서 구조화마킹의 제조.
지지필름은 실시예 2.7에 기술된 것 같이 제조된 2개의 다른 액정물질을 사용하여 실시예 3.21에 따라서 제조된다.
구조화마킹으로의 지지필름의 처리는 실시예 3.2에 기술된 것 같이 이루어진다.
실시예 3.28 : 다른 방향의 나선형 구조를 가진 액정물질의 2개의 다른 컬러 안료에서 구조화마킹의 제조.
지지필름은 실시예 2.7에 기술된 것 같이 제조된 2개의 다른 액정물질을 사용하여 실시예 3.22에 따라서 제조된다.
구조화마킹으로의 지지필름의 처리는 실시예 3.2에 기술된 것 같이 행하여진다.
실시예 3.29 : 다른 방향의 나선형 구조를 가진 액정물질의 동일 컬러 안료의 혼합물로 구성된 비구조화마킹의 제조.
실시예 2.5에 기술된 것 같이 컬러에 관하여 서로 응용된 2개의 액정물질은 각각 독립적으로 유럽 특허 0 601 483 호, 실시예 1B에 기술된 방법에 의해 안료로 처리된다.
그 결과로 생성된 안료는 다음과 같은 혼합비율 A:B(중량％)로 처리된다.
실시예 3.29 a : A:B=1:1, 실시예 3.21에서와 같이 처리(스크린 인쇄법처리)
실시예 3.29 b : A:B=2:1, 실시예 3.21에서와 같이 처리(스크린 인쇄법처리)
실시예 3.29 c : A:B=1:2, 실시예 3.21에서와 같이 처리(스크린 인쇄법처리)
예컨대, 실시예 4.1에 기술된 검출장치를 사용하여 A:B의 비율을 반사밴드의 상대강도에서 결정된다.
실시예 3.30 : 다른 방향의 나선형 구조를 가진 액정물질의 동일 컬러 안료의 혼합물로 구성된 비구조화마킹의 제조.
실시예 3.29 에 기술된 절차가 반복되었다.
차이점은 안료가 실시예 3.21(스크린 인쇄법)에 기술된 것 같이 처리되지 않고 그 대신 실시예 3.22(필름에 혼합)에 기술된 것 같이 처리되었다.
실시예 3.31 : 동일 방향의 나선형 구조를 가진 액정물질의 다른 컬러 안료의 혼합물로 구성된 비구조화마킹의 제조.
실시예 3.29에 기술된 절차가 반복되어 있다.
차이점은 사용된 액정물질이 실제 실시예 2.5에 기술된 것 같이 제조된 것이 아니고 실시예 2.6에 기술된 것 같이 제조된 것이다.
실시예 3.32 : 동일 방향의 나선형 구조를 가진 액정물질의 다른 컬러 안료의 혼합물로 구성된 비구조화마킹의 제조.
실시예 3.30에 기술된 절차가 반복되었으며, 차이점은 사용된 액정물질이 실시예 2.5에 기술된 것 같이 제조된 것이 아니고 실시예 2.6에 기술된 것이 제조된 것이다.
실시예 3.33 : 다른 방향의 나선형 구조를 가진 액정물질의 다른 컬러 안료의 혼합물로 구성된 비구조화마킹의 제조.
실시예에 기술된 절차가 반복되었으나, 차이점은 사용된 액정물질은 실시예 2.5에 기술된 것 같이 제조된 것이 아니고 실시예 2.7에 기술된 것 같이 제조된 것이다.
실시예 3.34 : 다른 방향의 나선형 구조를 가진 액정물질의 다른 컬러 안료의 혼합물로 구성된 비구조화마킹의 제조.
실시예 3.30에 기술된 절차가 반복되었으며, 차이점은 사용된 액정물질이 실시예 2.5에 기술된 것 같이 제조된 것이 아니고 실시예 2.7에 기술된 것 같이 제조된 것이다.
실시예 3.35 : 스크린 인쇄법에 의해 적용된 액정의 2개의 다른 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 2.5, 2.6 또는 2.7에 기술된 것 같이 제조된 2개의 다른 액정물질이 유럽 특허 EP 0 601 483 호, 실시예 1B에 기술된 방법에 의하여 안료를 제조하기 위해 사용되었다.
스크린 인쇄 접합제를 사용한 스크린 인쇄방법에 의하여 안료는 각각 내찢기성 플라스틱, 예컨대 폴리에스테르 필름에 독립적으로 적용되었다.
그리하여 얻어진 2개의 지지웨브의 다음처리는 실제 실시예 3.8 에 기술된것같이 이루어졌다.
실시예 3.6 : 실시예 3.5 의 변형 : 폴리머 매트릭스에 결합된 액정물질의 2개의 다른 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.5 의 절차가 반복되었으며, 차이점은 스크린인쇄 방법대신에 안료가 각각 실제 실시예에 기술된것같이 폴리머매트릭스에 독립적으로 결합되었다.
실시예 3.37 : 서로 상부에 코팅된 2개의 다른 액정물질에서 안료의 제조.
안료는 실시예 3.9 에 기술된 것같이 지지필름에 적용된 액정 2중 피막을 기본으로 사용하여 유럽특허 EP 0 601 483, 실시예 IC 에서와 같이 제조되었다.
이 경우 사용된 액정물질은 실시예 2.5 , 2.6 또는 2.7 에 기술된것같이 제조되었다.
실시예 3.38 : 서로 상부에 코팅된 2개의 액정피막으로 되고 스크린 인쇄법에 의해 적용된 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.37에서 제조된 안료는 실시예 3.21 에 기술된 방법에 유사한 스크린인쇄법으로 처리되었다.
그리하여 획득된 지지웨브는 마킹을 부여하기 위해 실시예3.21 에 기술된것같은 계속 처리되었다.
실시예 3.39 : 실시예 3.38 의 변형 : 서로 상부에 코팅된 2개의 액정피막으로 되고 폴리머 매트릭스에 결합된 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예3.37에서 제조된 안료는 실시예 3.22 에 기술된 방법에 의해 폴리머매트릭스에 결합되고 마킹을 부여하기 위해 실시예 3.22 에 기술된 것같이 처리된다.
실시예3.40 : 동일컬러 및 다른 방향의 나선형 구조를 가진 액정물질로 되고 스크린 인쇄법으로 적용된 2개의 다른 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.35 와 동일한 공정이 실시예2.5 에 기술된것같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.41 : 실시예 3.40 의 변형 : 동일컬러 및 다른방향의 나선형 구조를 가진 액정물질로 되고 폴리머매트릭스에 결합된 2개의 다른 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.36 와 동일한 공정이 실시예 2.4 에 기술된것같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예3.42 : 동일컬러 및 다른 방향의 나선형 구조를 가지고 서로 상부에 코팅된 2개의 액정피막으로 되고 스크린 인쇄법에 의해 적용된 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.38 와 동일한 공정이 실시예 2.5 에 기술된것같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.43 : 실시예 3.42 의 변형 : 동일컬러 및 다른방향의 나선형 구조를 가지고 서로 상부에 코팅된 2개의 액정피막으로 되고 폴리머매트릭스에 결합된 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.39 와 동일한 공정이 실시예 2.5 에 기술된것같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되였다.
실시예 3.44 : 다른 컬러 및 동일방향의 나선형 구조이고 스크린 인쇄법에 의해 적용된 2개의 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.35 와 동일한 공정이 실시예 2.6 에 기술된것같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.45 : 실시예 3.40 의 변형 : 동일컬러 및 동일방향의 나선형구조의 액정물질로 되고 폴리머 매트릭스에 결합된 2개의 다른 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.36 와 동일한 공정이 실시예 2.6에 기술된것같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되였다.
실시예 3.46 : 다른 컬러 및 동일방향의 나선형 구조를 가지고 서로 상부에 코팅된 2개의 액정피막으로 구성되고 스크린 인쇄법에 의해 응용된 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.38 와 동일한 공정이 실시예 2.6 에 기술된것같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되였다.
실시예 3.47 : 실시예 3.42 의 변형 : 다른 컬러 및 동일방향의 나선형구조 가지고 서로 상부에 코팅된 2개의 액정피막으로 되고 폴리머 매트릭스에 결합된 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.39 와 동일한 공정이 실제 실시예 2.6 에 기술된것같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되였다.
실시예 3.48 : 스크린 인쇄법에 의해 응용된 액정물질에서 동일컬러 및 다른방향의 나선형 구조의 2개의 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.35 와 동일한 공정이 실시예 2.7 에 기술된것같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.49 : 실시예 3.40 의 변형 : 다른 컬러 및 동일방향의 나선형구조의 액정물질로 되고 폴리머 매트릭스에 결합된 2개의 다른 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.36 와 동일한 공정이 실시예2.7 에 기술된것같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.50 : 다른 커럴 및 다른 방향의 나선형 구조를 가지며 서로 상부에 응용된 2개의 액정물질로 되고 스크린 인쇄법에 의해 적용된 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.38 과 동일한 공정이 실시예 2.7 에서와 같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되였다.
실시예 3.51 : 다른 컬러 및 다른방향의 나선형 구조를 가지며 서로 상부에 코팅된 2개의 액정피막으로 되고 폴리머 매트릭스에 결합된 안료로 구성된 보안마킹의 제조.
실시예 3.29 와 동일한 공정이 실시예 2.7 에서와 같이 제조된 액정물질을 사용하여 반복되었다.
실시예 3.52 : 동일컬러 및 다른방향의 나선형구조를 가진 액정물질의 안료가 결합된 액정물질의 안료에서 보안마킹의 제조.
실시예 2.5 에 따라서 제조된 액정물질을 사용하여, 코팅된 지지웨브가 실시예 3.16 에서와 같이 제조되고, 또한 유럽특허 EP 0 601 483, 실시예 1B 에서와 같이 안료를 제조하기 위해 처리되었고, 이와같이 제조된 안료는 또한 실시예 3.21 에 따라서 스크린 인쇄법으로 처리되었다.
실시예 3.53 : 동일컬러 및 다른방향의 나선형구조를 가진 액정물질의 얀료가 결합된 액정물질의 안료에서 보안마킹의 제조.
실시예 2.5 에 따라서 제조된 액정물질을 사용하여, 코팅된 지지웨브가 실시예 3.16 에서와 같이 제조되고, 또한 유럽특허 EP 0 601 483, 실시예 1B 에서와 같이 안료를 제조하기 위한 제조되였다.
그와같이 제조된 안료는 또한 실시예 3.22 에 따라서 폴리머 매트릭스에 처리되였다.
실시예 3.54 : 다른컬러 및 동일방향의 나선형구조를 가진 액정물의 안료가 결합된 액정물질의 안료에서 보안마킹의 제조.
실시예 2.6 에 따라서 제조된 액정물질을 사용하여, 코팅 지지웨브가 실시예 3.16 에서와 같이 제조되고, 또한 유럽특허 EP 0 601 483, 실시예 1B 에서와 같이 안료를 제조하기 처리되었다.
그와같이 제조된 안료는 또한 실시예 3.21 에 따라서 스크린 인쇄법으로 처리되었다.
실시예 3.55 : 다른컬러 및 동일방향의 나선형구조를 가진 액정물질의 안료가 결합된 액정물질의 안료에서 보안마킹의 제조.
실시예 2.6 에 따라서 제조된 액정물을 사용한, 코팅 지지웨브가 실시예 3.16 에서와 같이 제조되고, 또한 유럽특허 0 601 483, 실시예 1B에서와 같이 안료를 제조하기 위해 처리되었다.
그와같이 제조된 안료는 또한 실시예 3.22 에 따라서 폴리머 매트릭스에 처리되었다.
실시예 3.56 : 다른 컬러 및 다른 방향의 나선형구조를 가진 액정물질의 안료가 결합된 액정물질의 안료에 보안마킹의 제조.
실시예 2.7 에 따라서 제조된 액정물질을 사용하여 코팅지지웨브가 실시예 3.16 에서와 같이 제조되고 또한 유럽특허 EP 0 601 483, 실시예 1B 에서와 같이 안료를 제조하기 위해 처리되었다.
이와같이 제조된 안료는 또는 실시예 3.21 에 따라서 스크린 인쇄법으로 처리되었다.
실시예 3.57 : 실시예 3.56 의 변형 :
다른 컬러 및 다른방향의 나선형구조를 가진 액정물질의 안료가 결합된 액정물질의 안료에 보안마킹의 제조.
실시예 2.7 에 따라서 제조된 액정물질을 사용하여, 코팅지지웨브의 실시예 3.16 에서와 같이 제조되고, 또한 유럽특허 EP 0 601 483, 실시예 1B 에서와 같이 안료를 제조하기 위해 처리되었다.
그와같이 제조된 안료는 실시예 3.22 에 따라서 폴리머 매트릭스에 처리되엿다.
실시예 3.58 : 스크린 인쇄법으로 응용된 안료를 구비한 액정물질의 3차원 배치를 매트릭스에 구성한 보안마킹의 제조.
실시예 3.20 의 공법이 반복되었으나, 지지필름에 액정물질의 직접 응용대신에, 액정물질의 안료가 실시예 3.21에서와 같이 스크린 인쇄법으로 응용되었다.
실시예 3.59 : 폴리머 매트릭스에 결합된 안료를 구비한 액정물질의 3차원 배치 매트릭스에 구성한 보안마킹의 제조.
실시예 3.20 의 공법이 반복되었으나, 지지필름에 액정물질의 직접 응용대신에 액정물질의 안료가 실시예 3.22 에서와같이 매트릭스에 결합되었다.
비교실시예 : 독일특허 DE 39 42 663 A1, 페이지 10에 기술된 구조를 가진 위조원편광소자의 검출.
위조원편광의 구성이 도 13 에 표시되었다.
반사층(71), 예컨데 알미늄박영역 또는 거울반사영역이 원편광영역, 예컨데 ¼필름 및 반사층을 면하고 있는 선형편광치로 구성된 상용의 원편광필름으로 덮혀 있다.
양구성물은 함께 원반사소자를 형성하며, 그 소자의 밴드폭은 일반적으로 콜레스테릭 반사밴드의 밴드폭보다 훨씬 크다.
불평광으로 구성된 광원의 방사시 이 소자에는 원편광의 반사가 있으며, 컬러필터의 밴드폭에 상응한 구성소자는 상기 요소를 통과하고 ¼필름에 의해 선형편광 방사로 변환되여, 제2의 검출기가 광을 수취못함으로 2개중의 1개의 검출기에 최대의 강도를 생성한다.
컬러필름이 제2의 각에서 시험될때에도 위조소자는 원반사의 큰 밴드폭 때문에 진짜로서 인식된다.
그 결과로서, 위조 보안소자는 독일특허 DE 39 42 663 페이지 10에 기술된 구성에 있어서 진짜로서 잘못인식된다.
다음 실시예 4.1~4.4 는 보안마킹에 구성된 특성에 따라서 컬러, 컬러플롭 및 편광에 대하여 기계적으로 시험된 방법을 나타낸다.
실시예 4.1 : 시험구성 TS1 으로 보안마킹형 I1 의 시험.
테이블 1 의 그룹코드 I1 에 기술된것같이 IR 스펙트럼영역에서 반사되는 우측방향 LC 종을 가진 보안마킹 SM1-1 이 시험되었다.
보안마킹이 실시예 3.1 에 따라서 전영역적용으로 제조되었다.
FP1-1 에 따라 기술된 절차에 따라서 컬러 및 컬러플롭 그리고 PP1-1 의 기술에 따라서 편광에 대한 시험을 실행하였다.
LU2 에 따라 기술된 장치가 조명시스템(B1 및 B2)로서 2회 사용되었다.
각(b1)에서의 검출(D1)에 대하여는 DU1 에 따라 기술된 검출시스템이 사용되고, 각(b2)에서의 검출(D2)에 대하여는 DU3 에 따라 기술된 검출시스템이 사용되었다.
측정신호는 다음과 같이 평가되었다 : 보안소자의 각 측정점의 신호레벨은 동일방향으로 제조된 보안마킹의 신호레벨과 비교되었다(기준치).
이 목적을 위해 기준치의 반사밴드의 각 위치(중앙/측면)에서의 측정변수의치는 160% 로 취하고 반사밴드의 중앙에서는 ±10% 의 보안마킹의 신호레벨 편차가 그리고 반사밴드의 측면에서는 ±25% 의 편차가 허용되었다.
90% 보다 크고 110% 보다 작은 신호레벨을 1로서 취하고, 기타의 신호레벨을 0 으로 취하였다.
테이블 3 은 본 발명의 보안마킹을 시험할 때 검출시스템에서의 신호를 나타낸다.
테이블 3
조명 검출 필터 D1에서 신호E1 (rh) E2(1h) D2에서 신호D2
각 a1에서각 a1에서각 a1에서각 a2에서각 a2에서각 a2에서 각 b1에서각 b1에서각 b1에서각 b2에서각 b2에서각 b2에서 F1F2F3F4F5F6 1 01 01 0 111
위조보안마킹의 인식 :
위조보안마킹이 기술된 구성요소를 가진 시험구성 TS1 에 시험을 위해 응용되었으며, 다음과 같은 구성을 갖는다.
동일중심파장 및 동일높이 좁은 반사밴드를 가진 마킹비교 컬러플롭 및 비편광을 가진 마킹.
테이블 4 는 위조마킹을 시험할 때 검출시스템에서의 신호를 나타낸다.
테이블 4 :
조명 검출 필터 D1에서 신호E1 (rh) E2(1h) D2에서 신호D2
각 a1에서각 a1에서각 a1에서각 a2에서각 a2에서각 a2에서 각 b1에서각 b1에서각 b1에서각 b2에서각 b2에서각 b2에서 F1F2F3F4F5F6 1 01 01 0 111
광역반사밴드이고 저레벨이나 동일중심파장을 가진 위조보안마킹일지라도 컬러플롭없이 그리고 우측방향 원편광을 가지고 다음과 같이 인식된다.
테이블 5 는 위조 보안마킹을 시험할 때 검출시스템에서의 신호를 나타낸다.
조명 검출 필터 D1에서 신호E1 (rh) E2(1h) D2에서 신호D2
각 a1에서각 a1에서각 a1에서각 a2에서각 a2에서각 a2에서 각 b1에서각 b1에서각 b1에서각 b2에서각 b2에서각 b2에서 F1F2F3F4F5F6 0 00 00 0 000
반사밴드의 편이형상, 편이컬러플롭 및 편이편광특성에서 이루어진 기타의 조합들을 또한 위조보안마킹으로서 인식된다.
거짓으로 인식된 기타의 액정보안소자의 예를들면 다음과 같다.
컬러플롭 있는 광대역 비편광소자 ;
컬러플롭 없는 협대역 비편광소자 ;
컬러플롭 있는 협대역 비편광소자 ;
컬러플롭 없는 광대역 선형편광소자 ;
컬러플롭 없는 광대역 선형편광소자 ;
컬러플롭 있는 광대역 선형편광소자 ;
컬러플롭 없는 광대역 원편광소자 ;
컬러플롭있는 광대역의 원편광소자는 경사조명시 반사밴드의 동일형상 및 동일파장변화가 결핍되면 거짓으로 인식된다.
이 조건은 위조가 위조되는 보안마킹과 동일재료로 구성될때에만 충족된다.
컬러플롭있는 협대역의 원편광소자는 경사조명시 반사밴드의 동일형상 및 동일파장변화가 결핍되면 거짓으로 인식된다.
이 조건은 위조가 위조될 보안마킹과 동일재료로 구성 될 때에만 충족된다.
실시예 4.2 : 시험구성 TS2 로 보안마킹형 I1 의 시험.
테이블 1 의 그룹코드 I1 에 기술된것같이 IR 스펙트럼영역에서 반사하는 우측방향 LC 종을 가진 보안마킹 SM1-2 이 시험되었다.
보안마킹이 실시예 3.1 에 따라 전영역적용으로 제조되었다.
TS2 에 의한 시험구성장치가 사용되었으며, LU2 에 따라 기술된 장치가 조명시스템(B1 및 B2 )으로서 2회사용되었다.
모든 경우에 D1,D2,D3 및 D4 의 검출은 DU6 에 따라 기술된 검출시스템을 사용하여 시행되었다.
검출시스템에서의 신호레벨의 확인은 검출된 보안마킹을 마스터와 비교하여 시행되었다.
반사밴드의 신호레벨은, 마스터와 시험될 보안소자간에 20% 의 요동밴드를 허용하면서, 1을 확인용으로 표준화하였으며, 기타의 신호레벨은 0을 설정하였다.
테이블 6 은 본 발명의 보안마킹을 시험할 때 검출시스템의 신호를 나타낸다.
테이블 6
검출기의 신호
보안마킹 D1 D2 D3 D4
SM1-2 1 0 1 0
위조 보안마킹의 인식 :
위조 보안마킹의시험을 위해 기술된 구성장치를 가진 시험구성 TS2 에 제공되며, 위조 보안마킹은 다음과 같은 구성을 갖고 있다.
1. 비편광반사조자 및 그밖에 I1 과 동일한 반사특성을 가진 위조보안마킹 FM1-2.
2. 선형편광반사소자 및 그밖에 I1 과 동일한 반사특성을 가진 위조보안마킹 FM2-2.
3. 2배의 밴드폭 그러나 동일방향의 원편광반사소자를 가진 위조보안마킹 FM3-2.
테이블 7 은 위조보안마킹을 시험할 때 검출기의 신호를 나타낸다.
테이블 7 :
검출기의 신호
보안마킹 D1 D2 D3 D4
FM1-1FM2-2FM3-2 0 0 0 00 0 0 00 0 0 0
실시예 4.3 : 시험구성 TS3 으로 보안마킹형 Ⅲ 3 에 기술 된 것같이 IT 스펙트럼영역에 반사하는 2개의 LC종을 가진 보안마킹 SM1-3 이 시험되었으며, 2개의 LC종에서, LC종 1 은 컬러 1 및 우측방향 편광을 가졌고 LC종 2 는 컬러 2 및 좌측방향 편광을 가지고 있다.
보안마킹은 실시예 3.3 에 따라서 안료에서 제조되고, TS3 에 상응한 시험장치가 사용되었다.
시험은 FP1-3 에 기술된 절차에 따른 컬러 및 컬러플롭에 대하여 그리고 PP1-3 에 기술된 절차에 따른 편광에 대하여 실행되었다.
2개의 다른 컬러가 없기 때문에 FP1-3 가 별도로 각 컬러에 대해 사용되었으며, 양 컬러는 동일각으로 측정되었다.
LU5 에 기술된 장치가 조명시스템 B1, B2및 B3로서, 모든 경우에 사용되었다.
DU1 에 기술된 검출시스템은 각(b1)에서의 검출 D1 용으로 사용되고, DU3 에 기술된 검출시스템은 각(b2)에서의 검출 D2 용으로 사용되고, DU3 에 기술된 검출시스템은 각(b1 및 b3)에서의 검출 D1 및 D3 용으로 사용되었다.
보안마킹은 양 LC종이 동시에 검출되고 비교영역부분을 가질수 있는 영역에서 조명되고 검출되였다.
측정신호의 평가는 실시예 4.1 에 기술된것과 같다.
테이블 8 은 본 발명의 보안마킹은 시험할 때 검출시스템의 신호를 나타낸다.
테이블 8 :
조명 검출 필터 검출기에서의 신호D1 E1 E2 D3(rh) (1h)
각 a1에서 각 b1에서 칼라 1 용 F1칼라 2 용 F1 11
각 a2에서 각 b2에서 칼라 1 용 F2칼라 2 용 F2 1 00 1
각 a3에서 각 b3에서 칼라 1 용 F3칼라 2 용 F3 11
위조보안마킹의 인식 :
상기와 같은 구성요소를 가진 시험구성 PS2 은 시험을 위해 위조보안마킹이 제공되며, 위조보안마킹 FM1-2 는 2개 컬러가 동일방향의 편광으로, 예컨데 우측방향 있다는 것이 보안마킹 SM1-3 과 다른 점이다.
테이블 9 는 위조보안마킹을 시험할 때 검출시스템의 신호를 나타낸다.
조명 검출 필터 검출기에서의 신호D1 E1 E2 D3(rh) (1h)
각 a1에서 각 b1에서 칼라 1 용 F1칼라 2 용 F1 11
각 a2에서 각 b2에서 칼라 1 용 F2칼라 2 용 F2 1 00 1
각 a3에서 각 b3에서 칼라 1 용 F3칼라 2 용 F3 11
실시예4.4 : 시험구성 TS4 로 보안마킹형 Ⅱ1 의 시험.
테이블 1 의 그룹코드 Ⅱ1 에 기술된 것같이 도 14 에 따라서 UV 의 동일반사밴드 및 다른 편광을 가진 2개의 LC 으로 구성된 구조화보안마킹 SM1-4(5)이 시험되였다.
보안마킹(5)은 실시예3.23 에 따라 안료의 스크린 인쇄법에 의하여 제조되였으며, TS4 에 상응한 시험구성이 각 구성(a1=b1) 및 각 구성(a2=b2)으로 사용되었다.
LU6 에 기술된 광유닛이 모든 경우에 조명시스템(B1및 B2)으로서 사용되었다.
D1및 D2에서의 검출은 모든 경우 검출유닛(DU7)을 사용하여 시행되며, D1및 D2 용 필터선정은 TS1 의 표준 FP1-1 에 따라서 이루어진다.
위조보안마킹(80)의 인정
위조보안마킹 FM1-4(80)은 SM1-4(도 15 참조)에 대해 거짓으로 구성된 것이 보안마킹 SM1-4과의 차이점이다.
그러나, 그 외에는 SM1-4 와 동일한 LC 종으로 제조되였다.
위조보안마킹 FM2-4 는, SM1-4 와 동일스펙트럼영역에서 그러나 스펙트럼상 넓혀진 반사를 가진 우측 및 좌측방향의 원형광반사의 2개종으로 구성된 것이 보안마킹 SM1-4 과 다른점이다.
구조는 SM1-2 에 대한것과 동일하다.
테이블 10 은 진짜 및 위조보안마킹을 시험할 때 검출시스템의 신호를 나타낸다.
테이블 10 :
D1 에서의 검출
편광 F1F2F3필터 rh 1h rh 1h rh 1h
SM1-4 1 1 1 1 1 1FM1-4 1 1 0 0 1 1FM2-4 0 0 1 1 0 0
D1 에서의 검출
편광 F1F2F3필터 rh 1h rh 1h rh 1h
SM1-4 1 1 1 1 1 1FM1-4 1 1 0 0 1 1FM2-4 0 0 1 1 0 0
보안마킹의 제조에 있어서 키랄상의 액정물질을 사용함으로서, 검출장치를 사용하지 않고는 눈으로 볼 수 없는 보안마킹을 제공하게 된다.
따라서 위조에 대한 높은 레벨의 검증을 갖게되여, 종래의 것보다 안정성있고 신뢰성 있는 보안마킹을 제공할 수가 있다.

Claims (10)

  1. 키랄상의 액정물질로 구성되고 위조에 대한 보증레벨이 공지의 보안마킹보다 큰 보안마킹에 있어서, 보안마킹은 육안으로는 볼수 없으며 키랄상의 물질의 특성은 검출시스템에 의하여 검출될 수 있는 것을 특징으로 하는 보안마킹.
  2. 제 1 항에 있어서,
    키랄상의 액정물질은, 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 장파측면이 200~420nm 의 범위에 있으며, 또는 키랄상의 액정물질의 단파측면이 700~3000nm 의 범위에 있는 것을 특징으로 하는 보안마킹.
  3. 제 1 항의 보안마킹을 제공하는 방법에 있어서,
    그 방법은, 반사밴드의 장파측면이 200~420nm 의 범위에 있으며, 또는 반사밴드의 장파측면이 700~3000nm 의 범위에 있는 키랄상의 액정물질을 전영역적용 절차에서 지지물질에 직접 적용 또는 먼저 이 형상에서 지지물질에 적용된 또는 지지물질에 결합된 안료를 형성하기 위해 처리시킴으로 구성된 것을 특징으로 하는 보안마킹을 제조하는 방법.
  4. 제 1 항의 보안마킹으로 레테르를 붙힌 물품.
  5. 보안마킹 및 보안마킹을 인식하기 위한 시험구성을 구비한 보안시스템에 있어서, 보안마킹은 제 1 항 또는 제 2 항의 보안마킹인 것을 특징으로 하는 보안시스템.
  6. 제 5 항에 있어서,
    시험구성은 키랄상의 액정물질의 특징이며 보안마킹에 대해 관련된 것으로서, 선택된 특성의 완전한 식별을 가능케하는 것을 특징으로 하는 보안시스템.
  7. 제 6 항에 있어서,
    관련된 것으로 선정된 특성은 방향성, 키랄상의 액정물질의 컬러 또는 컬러플롭 또는 물질의 구성배치등인 것을 특징으로 하는 보안시스템.
  8. 키랄상의 액정물질로 구성된 보안마킹의 반사밴드를 검출하는 시험구성에 있어서, 그 구성은 반사밴드의 적어도 2개의 스펙트럼상의 다른 장소에서 반사의 강도를 결정함으로써 물질의 반사밴드의 특징형상을 검출하는 것을 특징으로 하는 시험구성.
  9. 보안마킹을 제조하기 위해 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 장파측면이 200~420nm 범위에 있으며, 또는 키랄상의 액정물질의 반사밴드의 단파측면이 700~3000nm 범위에 있는 것을 특징으로 하는 키랄상의 액정물질의 사용.
  10. 데이터 캐리어, 유가증권 및 증명서에서의 보안요소로서 청구항 1 또는 2 의 보안마킹의 사용.
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