KR19980042696A - 자기 교정 온도 조절기 - Google Patents

자기 교정 온도 조절기 Download PDF

Info

Publication number
KR19980042696A
KR19980042696A KR1019970062343A KR19970062343A KR19980042696A KR 19980042696 A KR19980042696 A KR 19980042696A KR 1019970062343 A KR1019970062343 A KR 1019970062343A KR 19970062343 A KR19970062343 A KR 19970062343A KR 19980042696 A KR19980042696 A KR 19980042696A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
temperature
calibration
voltage
signal
low
Prior art date
Application number
KR1019970062343A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100263595B1 (ko
Inventor
존 엠. 쥬니어 잭슨
크리스 엠. 자미슨
Original Assignee
벅만 토마스 더블유
일리노이 툴 워크스 인코포레이티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 벅만 토마스 더블유, 일리노이 툴 워크스 인코포레이티드 filed Critical 벅만 토마스 더블유
Publication of KR19980042696A publication Critical patent/KR19980042696A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100263595B1 publication Critical patent/KR100263595B1/ko

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
    • H05B3/00—Ohmic-resistance heating
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
    • G05D23/00—Control of temperature
    • G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
    • G05D23/1917—Control of temperature characterised by the use of electric means using digital means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Control Of Temperature (AREA)
  • Control Of Resistance Heating (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)

Abstract

접착제 공급 장치로부터 공급된 고온 용융 접착제의 온도를 정확하게 조절하는데 사용하기에 적합한 자기 교정 온도 조절기가 제공된다. 상기 온도 조절기는 자동으로 자기 교정 동작을 수행하도록 기억된 프로그램하에서 동작된 마이크로콤퓨터를 구비한다. 비휘발성 메모리는 RTD 센서의 비선형성을 보상하기 위하여 룩업 테이블에 RTD 값을 기억하기 위하여 제공된다.

Description

자기 교정 온도 조절기
본 발명은 일반적으로 고온 용융 접착제 등에 적용하기 위한 장치에 관한 것이다. 특히, 본 발명은 접착제 공급 장치로부터 공급된 고온 용융 접착제의 온도를 정확하게 조절하는데 사용되는 자기 교정 온도 조절기에 관한 것이다.
일반적으로 공지되어 있는 바와 같이, 이전에는 접착제의 온도를 검출하여 온도에 비례하는 아날로그 전압을 발생시키는 온도 센서를 구비하여, 공급되는 접착제의 온도를 조절하기 위한 온도 조절기가 제공되었다. 이에 따라서, 상기 종래 기술의 온도 조절기는 아날로그 전압을 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환기를 이용한다. 그러나, 상기 종래 기술의 검출 기구는 A/D 변환 과정이 본래 전기적 노이즈에 민감하다는 점에서 문제점을 가지고 있었다. 결국, A/D 변환이 수행될 때 나타나는 노이즈는 온도 판독에 포함되어, 오류를 발생하고 신뢰할 수 없는 측정값을 제공한다. 종래 기술의 설게상에 나타나는 다른 문제점은 이들이 제조 비용, 조립 비용 및 인건비를 증가시키는 교정을 요구한다는 점이다.
따라서, 접착제의 온도를 측정하기 위하여 더욱 정확하고 신뢰할 수 있는 온도 조절기를 제공하는 것이 바람직하다. 또한, 수동 교정이 필요없는 온도 조절기를 제공하는 것이 타당하다.
다음의 미국 특허는 미국 특허 상표청에서 검색된 본 출원의 주제와 관련된 종래 기술이다.
4,059,2045,130,518
4,065,0345,324,918
4,847,4705,407,101
4,889,4405,457,302
5,098,196
1997년 12월 27일자로 J.E.Callan에게 허여된 미국 특허 제 4,065,034호에는, 비영리적 계획기간 동안 열연화 접착제 또는 밀봉 합성물을 가열하여 공급하는 총(gun) 형태의 공급기가 기술되어 있다. 상기 공급기는 공급기의 몸체의 외부 말단을 가열하는 전기적 가열 요소를 포함한다.
1989년 12월 26일자로 C.L. Shano에게 허여된 미국 특허 제 4,889,440호에는, 용융된 밀랍의 코팅을 소정의 표면에 공급하기 위한 롤러 도포구가 개시되어 있는데, 상기 롤러 도포구는 용기를 포함하고, 상기 용기 내에서 밀랍이 녹아 제 1 서미스터의 열 조절하에서 열전기 저항기에 의해 높은 작업 온도까지 가열된다. 제 2 서미스터는 밀랍의 레벨이 저밀랍 표시를 발생하기 위해 감소함에 따라서 용융 밀랍에서 가라앉는 정도가 감소되도록 위치된다.
1992년 3월 24일자로 M.J.O'Neill에게 허여된 미국 특허에는, 분석 기구에서 가열 및 온도 측정을 위한 회로 장치가 개시되어 있다. 표준과 비교된 테스트 샘플에서 상이한 가열 또는 냉각을 측정하는데 사용되는 저항 소자에 인가된 상이한 전력을 계산하는데 세 개의 부분 회로가 사용된다. 상기 세 개의 부분 회로는 제 1 아날로그부, 디지털부 및 제 2 아날로그부를 포함한다. 디지털부는 아날로그 전압을 주파수로 변환하기 위한 전압-주파수 변환기로 형성된다.
1994년 6월 28일자로 B.J. Kadwell외 다수에게 허여된 미국 특허 제 5,324,918호에는, 요리 장치의 동작을 조절하는 온도 조절 제어 시스템이 상술되어 있다. 상기 제어 시스템은 오븐에서 온도를 검출하는 RTD 온도 센서와, 상기 RTD 온도 센서와 마이크로 컴퓨터 사이에 접속된 A/D 변환기를 포함한다. 마이크로컴퓨터, 네트워크 및 연산 증폭기 회로에 의하여 일정한 전류 여기(excitation)보다 가변 전압이 상기 센서에 인가된다.
위에서 열거되었지만 특별히 언급되지 않은 나머지 특허는 일반적인 관심거리이며 이들은 접착제 등을 공급하는 시스템과 그 온도를 제어하는 수단에 있어서 종래 기술의 상태를 나타낸다고 생각된다.
그러나, 전술한 종래 기술의 장치중 어느 것도 자동으로 자기 교정 동작을 수행하도록 기억된 프로그램하에서 동작하는 마이크로컴퓨터를 가지는 온도 조절기를 구비하고 있는 본 발명의 장치와 같은 고온 용융 접착제를 공급하는 접착제 공급 장치를 상술하고 있지 않다. 본 발명은 전술한 종래 기술에 대하여 크게 개선되었음을 보여준다. 본 발명에 나타나는 상기 개선점은 전기적 노이즈가 크게 감소된 온도 센서에 의해 검출된 온도에 대응하는 전압을 변환하는 전압-주파수 변환기를 제공하므로서 달성된다. 자동 자기 교정은 두 개의 정밀 저항기, 즉, 고온에 대응하는 저항기와 저온에 대응하는 다른 저항기의 값을 주기적으로 검사하고 그 값을 온도 범위에서 전달 함수를 수학적으로 선형화하는 마이크로컴퓨터에 공급하므로서 달성된다.
따라서 본 발명의 일반적인 목적은 고온 용융 접착제를 공급하기 위한 개량된 접착제 공급 장치를 제공하는 것이며, 상기 장치는 자동 자기 교정 동작을 수행하도록 기억된 프로그램하에서 동작된 마이크로컴퓨터를 가지는 온도 조절기를 포함한다.
본 발명의 목적은 접착제 공급 장치로부터 공급된 고온 용융 접착제의 온도를 정확하게 조절하는데 사용하기 적합한 자기 교정 온도 조절기를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 더 정확하고 신뢰할 수 있는 기초 위에서 접착제의 온도를 제어하기 위한 개량된 온도 조절기를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 전기적 노이즈를 거의 완전히 제거하기 위하여, 온도 센서에 의해 검출된 온도에 대응하는 전압을 주파소루 변환하는 전압-주파수 변환기를 구비하는 개량된 온도 조절기를 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 온도 범위에서 전달 함수를 수학적으로 선형화하기 위하여, 두 개의 정밀 저항기의 값을 주기적으로 검사하는 마니크로컴퓨터를 구비하는 개량된 온도 조절기를 제공하는 것이다.
본 발명의 일실시예에 따르면, 접착제 공급 장치로부터 공급된 고온 용융 접착제의 온도를 정확하게 제어하는데 사용하기에 적합한 자기 교정 온도 조절기가 제공된다. 상기 온도 조절기는 접착제 공급 장치의 복수의 지역에서 소정의 온도를 설정하는 수단을 구비한다. 온도 검출 수단은 접착제 공급 장치의 각각의 복수의 지역에서 온도를 측정하고 상기 측정된 온도에 대응하는 아날로그 전압 신호를 발생하기 위하여 제공된다. 전압-주파수 변환기는 아날로그 전압을 상기 측정된 온도에 대응하는 주파수 신호로 변환하기 위하여 제공된다.
마이크로컴퓨터는 주파수 시호를 소정의 온도와 비교하는데 이용되고 상기 비교에 기초하여 대응 지역에 위치된 히터에 공급된 전류의 양을 조절하는 온도 제어 신호를 발생한다. 자동 자기 교정 회로는 저온에 대응하는 낮은 교정 온도 신호와 고온에 대응하는 높은 교정 온도 신호를 발생하는데 이용된다. 상기 마이크로 컴퓨터는 저온 신호와 고온 신호를 계속해서 검사하고 드리프트를 제거하기 위하여 상기 측정된 온도를 조절하는 기억된 프로그램하에서 작동된다.
도 1은 본 발명의 온도 조절기의 키패드 레이아웃을 도시한 도면.
도 2는 본 발명의 원리에 따라서 구성된 온도 조절기의 단순화된 블록 다이어그램.
도 3은 도 2의 블록(42, 44, 46, 48, 50 및 52)에 사용하기에 적합한 회로를 나타내는 개략적인 회로도.
도 4a 내지 도 4c는 도 2의 블록(54, 56, 58, 60 및 62)에 사용하기에 적합한 회로를 나타내는 개략적인 회로도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
10 ; 온도 조절기12 ; 키패드 레이아웃
14 ; 파워 스위치16 ; 펌프 스위치
18 ; 업 투쉬커20 ; 다운 푸쉬커
22 ; 키 스위치
접착제 공급 장치로부터 공급된 고온 용융된 접착제의 온도를 정확하게 조절하는데 사용하기에 특히 적합한 것으로 예증되고 상술된 하기의 본 발명은 그 범위 또는 제시된 내용에 대한 한정을 위한 것이 아니라, 단지 그 응용의 일실시예를 예증하는 것이 편리하기 때문임을 먼저 분명히 주지해야 한다. 본 발명은 더 정확하고 신뢰할 수 있는 기초에서 온도를 조절하기 위한 자동 자기 교정 온도 조절기를 구비하고 있기 때문에 다른 분야 및 장치에서 많이 응용될 수 있다.
이제 도면과 관련하여 상세히 설명하면, 참조번호 10으로 표시된 본 발명의 자기 교정 온도 조절기가 도 1에 도시되어 있다. 상기 온도 조절기(10)는 한 개의 호퍼(hopper), 두 개의 호스(hose) 및 두 개의 헤드/도포구(5개 구역)를 위한 고온 용융 접착제의 온도를 정밀하게 조절하는 접착제 공급 장치(도시되지 않음)에 사용하는데 적합한 다중 채널 장치에 기초된 마이크로컴퓨터이다. 상기 접착제 공급장치는 공기 작동식 자동 도포구(헤드), 전기 도포구, 휴대용 도포구 또는 특수 도포구를 수용할 수 있다.
온도 조절기(10)는 전력을 공급 또는 중단하는 메인 파워 스위치(14), 펌프작동을 위한 펌프 스위치(16), 업-푸쉬키(18), 다운-푸쉬키(20) 및 키 스위치(22)를 구비하는 키패드 레이아웃(12)을 포함한다. 키 스위치가 잠김 위치에 있으면, 프로그램된 설정 포인트의 변화를 방지하기 위하여 푸쉬키(18 및 20)는 작동불능된다. 프로그래밍은 키 스위치(22)가 열림 위치(24)에 있을 때만 수행된다. 상기 키패드 레이아웃(12)은 또한 세븐-세그먼트 LED 디지털 판독 디스플레이(26), 온도 스케일 표시등((28)(섭씨) 및 (30)(화씨)), 호퍼 온도를 위한 푸쉬버턴/LED(32), 제 1 호스 온도를 위한 푸쉬버턴/LED(34), 제 2 호스 온도를 위한 푸쉬버턴/LED(36), 제 1 도포제 온도를 위한 푸쉬버턴/LED(38) 및 제 2 도포제 온도를 위한 푸쉬버턴/LED(40)를 구비한다.
도 2는 본 발명의 원리에 따라 구성된 온도 제어기(10)의 간략화된 전기적인 블록 다이어그램이다. 도면에 나타낸 바와 같이, 온도 제어기(10)는 온도 검출 네트워크(42), 안정 전압 발생기(44), 교정 저항기 회로, 아날로그 멀티플렉서(48), 래치 회로(60) 및 디지털 디스플레이 회로(62)로 구성된다. 도 3은 도 2의 블록(42, 44, 46, 48, 50 및 52)에 사용하기에 적합한 회로의 개략적인 세부 회로도이다. 도 4는 도 2는 블록(54, 56, 58, 60 및 62)에 사용하기에 적합한 회로의 개략적인 세부 회로도이다.
도 3에 도시된 것과 같이, 온도 검출 네크워크(42)는 다섯 구역, 즉, HOPPER, HOSE1, HEAD1, HOSE2 및 HEAD2에서 각각의 온도를 측정하거나 검출하기 위한 복수의 저항 온도 검출기(RTD) 센서(64a 내지 64e)를 구비한다. 각각의 RTD 센서(64a 내지 64e)는 검출기의 온도가 증가함에 따라서 전기적 저항이 직접적으로 증가하는 따라서 양의 온도 계수를 100옴의 플라티늄 저항 온도 검출기를 구비한다. 이런 관점에서 본다면, 각각의 검출기 양단에 발생된 전압은 아주 정확하다.
상기 HOPPER RTD 센서(64a)는 고정밀 저항기(R13)(0.1%)의 한쪽 말단에 직렬로 접속되어 전압 분할기를 형성한다. 상기 저항기(R13)의 다른쪽 말단은 안정 전압 발생기에 접속된다. 상기 전압 발생기(44)는 출력 핀(6)에서 +5VDC와 같은 정확한 기준 전압을 생성하기 위한 전압 조절기인 집적 회로(U13)로 형성된다. 상기 집적 회로(U13)는 모토롤라사의 REF02형과 유사할 수도 있다. RTD 센서(64a)의 다른 말단은 그라운드 전위에 접속된다.
RTD 센서(64a)와 저항기(R13)를 현결하면 제 1 검출 출력 전압이 라인(66)에 공급되고 이것은 HOPPER RTD 센서(64a)의 온도와 HOPPER 온도에 직접적으로 비례한다. 상기 출력 전압은 아날로그 멀티플렉서(48)의 제 1 입력부에 공급된다. 상기 멀티플렉서는 모트롤러사의 DG508형과 유사한 집적 회로(U16)로 형성된다. 따라서, 라인(66)에서 상기 제 1 검출 출력 전압은 상기 집적 회로(U16)의 핀(4)에 접속된다.
HOSE1 RTD 센서(64b)는 고정밀 저항기(R14)에 직렬로 접속되어 기준 전압과 그라운드 전위 사이의 전압 분할기를 형성한다. RTD 센서(64b)와 저항기(R14)를 연결하면 제 2 검출 출력 전압이 라인(68)에 공급되고, 이것은 HOSE1 RTD 센서(64b)의 온도와 HOSE1 온도에 정비례한다. 상기 제 2 검출 출력 전압은 집적 회로(U15)의 핀(5)에 공급된다. HEAD1 RTD 센서(64c)는 고정밀 저항기(R15)에 직렬로 접속되어 기준 전압과 그라운드 포텐셜 사이에 전압 분할기를 형성한다. RTD 센서(64c)와 저항기(R15)를 연결하면, 제 3 검출 출력 전압이 라인(70)에 공급되고 그것은 HEAD1 온도에 정비례한다.
마찬가지로, HOSE2 RTD 센서(64d)와 HEAD2 RTD 센서(64e)는 저항기(R16과 R17)에 각각 직렬로 접속되어 부가적인 전압 분할기를 형성한다. RTD 센서(64d)와 저항기(R16)를 연결하면 제 4 검출 출력 전압이 라인(72)에 공급되고, 이것은 HOSE2 온도에 정비례한다. 마찬가지로, RTD 센서(64e)와 저항기(R17)를 연결하면 제 5 검출 출력 전압이 라인(74)에 공급되고, 이것은 HOSE2 온도에 정비례한다. 각각의 제 3, 제 4 및 제 5 검출 출력 전압은 집적 회로(U15)의 대응 핀(5, 6 및 12)에 접속된다.
교정 저항기 회로(46)는 세 개의 병렬 브랜치를 구비하고 있으며, 제 1 브랜치는 직렬 접속된 정밀 저항기(R18과 R21)로 형성되고, 제 2 브랜치는 직렬 접속된 정밀 저항기(R19와 R22)로 형성되고, 제 3 브랜치는 직렬 접속된 정밀 저항기(R20와 R23)로 형성된다. 세 개의 브랜치는 각각 안정 기준 전압(+5.0VDC)과 그라운드 전위 사이에 접속된 전압 분할기를 형성한다. 각각의 라인(76, 78 및 80)에 대한 상기 정밀 저항기(R18과 R21, R19와 R22 및 R20과 R23)의 접합부는 집적 회로(U16)의 대응 핀(11, 10 및 9)에 연결된다. 정밀 저항기(R21, R22 및 R23) 양단의 전압은 101.5。F, 445.9。F 및 125。F의 정밀 온도에 대응한다. 라인(76)상의 전압은 저온에 대응하는 낮은 교정 온도 신호를 정의한다. 라인(78)상의 전압은 고온에 대응하는 높은 교정 온도 신호를 정의한다. 라인(80)상의 전압은 일반적으로 사용되지 않는다.
집적 회로(U16)의 핀(1, 16 및 15)에 공급된 신호를 제어하므로서, RTD 센서(64a - 64e)로부터 검출된 출력 전압과 교정 회로(46)로부터 나온 교정 신호는 멀티플렉서의 입력으로부터 핀(8)(Vin)의 출력까지 선택적으로 접속된다. 상기 전압(Vin)은 연산 증폭기 회로(50)의 입력에 연결된다. 상기 연산 증폭기 회로는 집적 회로(U14), 저항기(R9, R10) 및 콘덴서(C24)를 구비한다. 상기 집적 회로(U14)는 비반전 구성으로 접속되어 11의 이득을 공급한다. 멀티플렉서(U16)로부터 나온 상기 전압(Vin)은 집적 회로(U14)의 핀에 접속되고, 증폭된 전압은 집적 회로(U14)의 핀(1)에 발생된다. 상기 집적 회로(U14)는 내셔널 세미콘덕터의 LM358형일 수 있다.
전압-주파수 변환기(52)는 모토롤라사의 AD654JN형 집적 회로(U15)를 구비한다. 라인(82)의 출력 전압(Vout)은 집적 회로(U15)의 핀(4)에 접속한다. 상기 아날로그 전압은 대응 주파수로 변환되고 출력 핀(1)(Fout)에서 발생된다. 아래 표 1에는, 컬럼 (A)의 화씨 온도에서부터 컬럼 (F)의 출력 주파수(KHz)에 이르기까지 완전한 전달 함수가 도시된다.
[표 1]
도면의 도 4에서, 마이크로컴퓨터(54)는 모트롤라사의 80C32형과 유사한 집적 회로(U11)를 구비한다. 타이머 회로(56)는 콘덴서(C28, C29)와 핀(18과 19)에서 집적 회로(U11)에 접속되는 크리스탈(Y1)을 구비한다. 상기 타이머 회로는 마이크로컴퓨터(U11)의 샘플링 및 카운팅 동작을 개설하는데 이용된다. 양호한 실시예에서, 타이머 회로는 크리스탈(Y1)을 통하여 약 11.0592MHz의 주파수로 설정되었다. 콘덴서(C28 및 C29)는 크리스탈(Y1)을 안정화하는 기능을 한다. 전압-주파수 변환기(U14)로부터 나오는 출력 주파수(Fout)는 마이크로컴퓨터(U11)의 핀(1)에 접속된다. 상기 마이크로컴퓨터는 크리스탈(Y1)에 의해 결정된 정확한 시간 동안 상기 출력 주파수(Fout)를 카운트한다. 상기 카운트 값은 이제 마이크로프로세서(U16)에 의해 선택된 입력 전압중 한 전압의 온도 값의 디지털 표시이다.
상기 멀티플렉서의 핀(4-7 및 9-12)에서의 입력 전압은 각각의 라인(84, 86 및 88)의 단자(MUXO, MUX1 및 MUX2)에서의 값에 기초하여 선택되고 상기 단자는 디코더(58)와 래치 회로(60)를 통하여 마이크로컴퓨터에 의해 제어된다. 상기 디코더(58)는 74HC373형과 유사한 집적 회로(U9)로 구성되고 래치 회로(60)는 74LS259형과 유사한 집적 회로(U5)로 구성된다. 마이크로프로세서는 또한 5개 구역에 대한 실제 온도를 표시하기 위하여 드라이버(U1 내지 U3)를 통하여 디지털 디스플레이 회로(62)를 구동한다. 상기 온도 표시 회로(62)는 세븐 세그먼트 LED 표시장치(DISP1 내지 DISP3)를 포함한다.
본 발명의 자동 자기 교정 온도 조절기(10)는 여러가지 방식에 있어서, 공지된 종래 기술의 온도 검출 회로에 대하여 크게 향상되었다. 먼저, 5개 구역에 대응하는 검출된 전압이 주파수 값으로 변환된다. 이런 검출 기술은 향상된 성능과 정확성을 제공하는데, 왜냐하면 그것이 검출된 전압 판독의 시간 평균을 제공하고 전기적인 노이즈에 대한 높은 이뮤니티를 가지기 때문이다. 또한, 온도 조절기(10)는 RTD 센서(64a 내지 64e)의 값의 허용오차와 블록(48 내지 52)의 회로 소자에서의 허용 오차 변화를 보상하기 위하여 연속적인 베이시스에 자동 자기 교정 스텝을 제공한다. 결국, 수동 교정이 필요없게 되고 시간에 대한 드리프터 변화가 제거된다.
자동 자기 교정을 위하여, 마이크로프로세서는 계속해서 정밀 저항기(R21 및 R22)로부터 얻어진 카운트를 검사한다. 앞에서 지적한 바와 같이, 라인(76)상의 정밀 저항기(R21) 양단 전압은 상기 RTD 센서의 온도 범위(즉, 100。F)의 소정의 하한에 대응하는 정확한 전압값을 가진다. 마찬가지로, 라인(78)의 정밀 저항기(R22) 양단의 전압은 RTD 센서의 온도 범위(즉 450。F)의 소정의 상한에 대응하는 정밀 전압값을 가진다. 마이크로컴퓨터(U11)는 정밀 저항기(R21 및 R22)로부터 얻어진 카운트를 저장하고 알고리즘을 이용하여 상기 온도 범위 내의 전달 함수를 선형화 한다. 바꾸어 말하면, 저항에 비례하는 RTD 센서로부터 검출된 출력 전압은 100。F와 450。F사이의 온도에 대응하도록 정확하게 계수화된다.
또한, 플라티늄 RTD 센서는 거의 선형이지만, 완전히 선형은 아님을 주지한다. 이러한 비선형성을 보상하기 위하여, 위에서 검토된 룩업 테이블이 마이크로 컴퓨터의 ROM 또는 EEPROM과 같은 비휘발성 메모리에 저장되고, 상기 마이크로컴퓨터는 측정된 온도를 변화시키며 따라서 사실상 에러는 존재하지 않는다.
정상 동작시, 각각의 5개 구역에 대응하는 온도 설정 포인트는 초기에 도 1의 키패드 레이아웃(12)의 푸쉬키(18과 20)를 통하여 입력된다. 각 구역의 온도는 대응 RTD 센서(64a 내지 64e)에 의해 측정되거나 검출된다. 특정 구역에 대한 온도 측정 후, 마이크로컴퓨터(U11)의 소프트웨어는 PID(비례 적분 미분) 알고리즘을 이용하여 관련된 설정 포인트 신호와 대응 RTD 센서로부터 나온 온도 신호를 비교하고, 소정의 설정 포인트를 관리하는데 필요한 상기 구역에 대하여 적절한 출력히터 전력을 계산한다. 이것은 열의 양을 효율적으로 하기 위하여 AC 전류를 상기 구역에 위치된 히터로 스위칭하므로서 수행된다. 바꾸어 말하면, 만약 마이크로컴퓨터(U11)가 소프트웨어로부터 열이 요구된다고 판단하면, 히터에 대한 AC 전류의 듀티 사이클이 증가된다. 반면에, 만약 마이크로프로세서가 너무 많은 역이 있다고 판단하면, 히터에 대한 AC 전류의 듀티 사이클은 감소된다. 상기 과정은 각각의 나머지 구역에 대해서 계속 반복된다.
이런식으로 본 발명의 온도 조절기(10)의 마이크로컴퓨터(U11)는 RTD 센서에 의해 검출된 온도를 계속 샘플링하고 그것을 소정의 설정 포인트와 비교하므로서 히터로부터 상기 구역까지 열의 양을 조절한다. 마이크로프로세서는 또한 드리프트를 제거하기 위한 자동 자기 교정 단계를 수행하기 위하여 정밀 저항기(R21 및 R2)로부터 온도를 계속 샘플링하고 그것의 비선형성을 보상하기 위하여 룩업 테이블에서의 RTD 값을 이용함을 주지한다.
전술한 상세한 설명으로부터, 본 발명은 접착제 공급 장치로부터 공급된 고온 용융 접착제의 온도를 정확하게 조절하는데 사용하기에 적합한 향상된 온도 조절기를 제공한다. 상기 온도 조절기는 자동으로 자기 교정 동작을 수행하돌고 기억된 프로그램 하에서 동작하는 마이크로컴퓨터를 포함한다. RTD 값은 비선형성을 보상하기 위하여 비휘발성 메모리의 룩업테이블로 기억된다.
현재 본 발명의 양호한 실시예로 간주되는 것이 예증되고 설명되었지만, 그것은 본 기술에 숙련된 사람에 의해 다양한 변화와 수정이 가해질 수 있고, 본 발명의 범주를 벗어나지 않고 그 구성요소의 일부가 그에 상당하는 것으로 대체될 수 있음을 주지한다. 또한, 본 발명의 범주를 벗어나지 않고 특정 상황 또는 본 발명의 의도에 적합하도록 많은 수정이 가해질 수 있다. 따라서, 본 발명은 본 발명을 실행하기 위하여 예기된 최고의 형식으로 개시된 특정 실시예에 제한되지 않고, 첨부된 청구항의 범주내의 모든 실시예를 포함함을 주지한다.

Claims (17)

  1. 접착제 공급 장치로부터 공급된 고온 용융 접착제의 온도를 정확하게 조절하는데 사용하기에 적합한 자동 자기 교정 온도 조절기에 있어서,
    상기 접착제 공급 장치의 복수의 구역에서 소정의 온도를 설정하기 위한 수단과,
    상기 접착제 공급 장치의 구역에서 온도를 측정하고 상기 측정된 온도에 대응하는 아날로그 전압 신호를 발생하는 온도 검출 수단과,
    상기 아날로그 전압을 상기 측정된 온도에 대응하는 주파수 신호로 변환하기 위한 수단과,
    상기 주파수 신호를 상기 소정의 온도와 비교하고 상기 비교에 기초하여 상기 구역에 위치된 히터에 공급된 전류의 양을 조절하는 온도 제어 신호를 발생하기 위한 마이크로컴퓨터 수단과,
    저온에 대응하는 낮은 교정 온도 신호와 저온에 대응하는 높은 교정 온도 신호를 발생하는 자동 자기 교정 수단을 구비하고,
    상기 마이크로컴퓨터 수단은 상기 저온 신호와 상기 고온 신호를 계속해서 검사하고 드리프트를 제거하기 위하여 상기 측정된 온도를 조절하도록 기억된 프로그램 하에서 동작되는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 온도 검출 수단은 복수의 RTD 센서를 구비하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 아날로그 전압을 변환하는 상기 수단은 전압-주파수 변환기인 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 자동 자기 교정 수단은 저온에 대응하는 값을 가지는 제 1 정밀 저항기와 고온에 대응하는 값을 가지는 제 2 정밀 저항기를 구비하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  5. 제 4항에 있어서.
    비휘발성 메모리에 기억된 룩업 테이블을 더 포함하고, 상기 마이크로컴퓨터는 상기 RTD 센서의 비선형성을 보상하기 위하여 상기 룩업 테이블을 이용하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 복수의 구역은 호퍼(hopper), 제 1 호스(hose), 제 1 헤드(head), 제 2 호스(hose), 제 2 헤드(head)를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  7. 제 4항에 있어서,
    상기 저온은 약 100。F이고 상기 고온은 약 450。F인 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  8. 제 1항에 있어서,
    상기 구역의 온도를 표시하기 위하여 상기 온도 제어 신호에 응답하는 디스플레이 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  9. 제 1항에 있어서,
    상기 소정의 온도를 설정하는 상기 수단은 키패드 레이아웃에 위치된 푸쉬키를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  10. 자동 자기 교정 온도 조절기에 있어서,
    적어도 한 개의 소정의 온도를 설정하기 위한 수단과,
    온도를 측정하고 상기 측정된 온도에 대응하는 아날로그 전압 신호를 발생하기 위한 온도 검출 수단과,
    상기 아날로그 전압을 상기 측정된 온도에 대응하는 주파수 신호로 변환하기 위한 수단과,
    상기 주파수 신호를 상기 소정의 온도와 비교하고 상기 비교에 기초하여 히터에 공급된 전류의 양을 조절하는 온도 제어 신호를 발생하기 위한 데이터 처리 수단과,
    낮은 교정 온도 신호와 높은 교정 온도 신호를 발생하는 자동 자기 교정 수단을 구비하고,
    상기 데이터 처리 수단은 상기 낮은 교정 온도 신호와 상기 높은 교정 온도 신호를 계속해서 검사하고 드리프트를 제거하기 위하여 상기 측정된 온도를 조절하도록 기억된 프로그램 하에서 동작되는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  11. 제 10항에 있어서,
    상기 온도 검출 수단은 복수의 RTD 센서를 구비하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 아날로그 전압을 변환하는 상기 수단은 전압-주파수 변환기를 구비하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  13. 제 12항에 있어서,
    상기 자동 자기 교정 수단은 저온에 대응하는 값을 가지는 제 1 정밀 저항기와 고온에 대응하는 값을 가지는 제 2 정밀 저항기를 구비하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  14. 제 13항에 있어서,
    비휘발성 메모리에 기억된 룩업 테이블을 더 포함하고, 상기 데이터 처리 수단을 상기 RTD 센성에서의 비선형성을 보상하기 위하여 상기 룩업 테이블을 이용하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  15. 제 13항에 있어서,
    상기 저온은 약 100。F이고 상기 고온은 약 450。F인 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  16. 제 10항에 있어서,
    상기 구역의 온도를 표시하기 위하여 상기 온도 제어 신호에 응답하는 디스플레이 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
  17. 제 10항에 있어서,
    상기 소정 온도를 설정하기 위한 수단은 키패드 레이아웃에 위치된 푸쉬키를 구비하는 것을 특징으로 하는 자동 자기 교정 온도 조절기.
KR1019970062343A 1996-11-19 1997-11-19 자기 교정 온도 조절기 KR100263595B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/752,659 US5719378A (en) 1996-11-19 1996-11-19 Self-calibrating temperature controller
US8/752,659 1996-11-19

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19980042696A true KR19980042696A (ko) 1998-08-17
KR100263595B1 KR100263595B1 (ko) 2000-08-01

Family

ID=25027237

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019970062343A KR100263595B1 (ko) 1996-11-19 1997-11-19 자기 교정 온도 조절기

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5719378A (ko)
EP (1) EP0843167A1 (ko)
JP (1) JPH10162937A (ko)
KR (1) KR100263595B1 (ko)
CN (1) CN1110733C (ko)
TW (1) TW353850B (ko)

Families Citing this family (81)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6017143A (en) 1996-03-28 2000-01-25 Rosemount Inc. Device in a process system for detecting events
US6539267B1 (en) 1996-03-28 2003-03-25 Rosemount Inc. Device in a process system for determining statistical parameter
US8290721B2 (en) * 1996-03-28 2012-10-16 Rosemount Inc. Flow measurement diagnostics
US7630861B2 (en) * 1996-03-28 2009-12-08 Rosemount Inc. Dedicated process diagnostic device
US6654697B1 (en) 1996-03-28 2003-11-25 Rosemount Inc. Flow measurement with diagnostics
US7949495B2 (en) * 1996-03-28 2011-05-24 Rosemount, Inc. Process variable transmitter with diagnostics
US6519546B1 (en) 1996-11-07 2003-02-11 Rosemount Inc. Auto correcting temperature transmitter with resistance based sensor
US6449574B1 (en) * 1996-11-07 2002-09-10 Micro Motion, Inc. Resistance based process control device diagnostics
US6434504B1 (en) 1996-11-07 2002-08-13 Rosemount Inc. Resistance based process control device diagnostics
US6754601B1 (en) 1996-11-07 2004-06-22 Rosemount Inc. Diagnostics for resistive elements of process devices
BR9812913A (pt) 1997-10-13 2000-08-08 Rosemount Inc Dispositivo processador, programa em um meio legìvel por computador, estrutura de dados incorporada em um dispositivo processador de fluido e método de trasmitir dados em um laço de controle de processo fluido
US6015967A (en) * 1998-05-05 2000-01-18 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Ground drift-free switching circuit
US6244744B1 (en) 1998-05-20 2001-06-12 James Calvin Three-wire RTD interface
US6043465A (en) * 1998-06-12 2000-03-28 Thermal Technology, Inc. Temperature measurement device for furnace heating elements, furnace utilizing said device and method of using the same
US6615149B1 (en) 1998-12-10 2003-09-02 Rosemount Inc. Spectral diagnostics in a magnetic flow meter
US6611775B1 (en) 1998-12-10 2003-08-26 Rosemount Inc. Electrode leakage diagnostics in a magnetic flow meter
US6119949A (en) * 1999-01-06 2000-09-19 Honeywell Inc. Apparatus and method for providing a multiple option select function
US6356191B1 (en) 1999-06-17 2002-03-12 Rosemount Inc. Error compensation for a process fluid temperature transmitter
US7010459B2 (en) * 1999-06-25 2006-03-07 Rosemount Inc. Process device diagnostics using process variable sensor signal
JP4824234B2 (ja) 1999-07-01 2011-11-30 ローズマウント インコーポレイテッド ２線式温度送信機およびプロセス温度測定方法
US6505517B1 (en) 1999-07-23 2003-01-14 Rosemount Inc. High accuracy signal processing for magnetic flowmeter
US6701274B1 (en) 1999-08-27 2004-03-02 Rosemount Inc. Prediction of error magnitude in a pressure transmitter
US6556145B1 (en) 1999-09-24 2003-04-29 Rosemount Inc. Two-wire fluid temperature transmitter with thermocouple diagnostics
US6612737B1 (en) * 1999-12-29 2003-09-02 Affymetrix, Inc. System and method for self-calibrating measurement
US6735484B1 (en) 2000-09-20 2004-05-11 Fargo Electronics, Inc. Printer with a process diagnostics system for detecting events
JP2002257639A (ja) * 2001-02-20 2002-09-11 Binyou Chin 電子体温計ｉｃ回路
US6859755B2 (en) 2001-05-14 2005-02-22 Rosemount Inc. Diagnostics for industrial process control and measurement systems
US6629059B2 (en) 2001-05-14 2003-09-30 Fisher-Rosemount Systems, Inc. Hand held diagnostic and communication device with automatic bus detection
KR100431352B1 (ko) * 2001-07-11 2004-05-12 삼성전자주식회사 온도센서 불량감지장치 및 그 방법
US6772036B2 (en) 2001-08-30 2004-08-03 Fisher-Rosemount Systems, Inc. Control system using process model
US6971790B2 (en) * 2002-10-11 2005-12-06 Welch Allyn, Inc. Thermometry probe calibration method
US20040071182A1 (en) * 2002-10-11 2004-04-15 Welch Allyn, Inc. Thermometry probe calibration method
US7306283B2 (en) * 2002-11-21 2007-12-11 W.E.T. Automotive Systems Ag Heater for an automotive vehicle and method of forming same
CN1853098B (zh) * 2003-07-18 2010-12-08 罗斯蒙德公司 声学流量计和监测工业过程中固定设备的健康程度的方法
US7018800B2 (en) * 2003-08-07 2006-03-28 Rosemount Inc. Process device with quiescent current diagnostics
US6910804B2 (en) * 2003-09-09 2005-06-28 Schweitzer Engineering Laboratories, Inc. Resistive temperature device (RTD) module with improved noise immunity
US7627441B2 (en) * 2003-09-30 2009-12-01 Rosemount Inc. Process device with vibration based diagnostics
US20050095359A1 (en) * 2003-10-31 2005-05-05 Nordson Corporation Hot melt adhesive system and method using machine readable information
US7857510B2 (en) * 2003-11-08 2010-12-28 Carl F Liepold Temperature sensing circuit
US20050099163A1 (en) * 2003-11-08 2005-05-12 Andigilog, Inc. Temperature manager
US7523667B2 (en) * 2003-12-23 2009-04-28 Rosemount Inc. Diagnostics of impulse piping in an industrial process
WO2006131785A2 (en) * 2004-03-22 2006-12-14 W.E.T. Automotive Systems Ag Heater for an automotive vehicle and method of forming same
US20060178857A1 (en) * 2005-02-10 2006-08-10 Barajas Leandro G Quasi-redundant smart sensing topology
US7773867B2 (en) * 2005-05-06 2010-08-10 Illinois Tool Works Inc. Hot melt adhesive hose assembly having redundant components
US7732735B2 (en) * 2005-05-06 2010-06-08 Illinois Tool Works Inc. Hot melt adhesive hose assembly having redundant components
US7351937B2 (en) * 2005-05-06 2008-04-01 Illinois Tool Works Inc. Control circuits for hot melt adhesive heater circuits and applicator heads
US7204638B2 (en) * 2005-05-23 2007-04-17 Etron Technology, Inc. Precise temperature sensor with smart programmable calibration
US8112565B2 (en) * 2005-06-08 2012-02-07 Fisher-Rosemount Systems, Inc. Multi-protocol field device interface with automatic bus detection
US20070005289A1 (en) * 2005-06-23 2007-01-04 Fortune Semiconductor Corporation Temperature compensation apparatus for electronic signal
US7835295B2 (en) * 2005-07-19 2010-11-16 Rosemount Inc. Interface module with power over Ethernet function
US20070068225A1 (en) * 2005-09-29 2007-03-29 Brown Gregory C Leak detector for process valve
ITTO20050841A1 (it) * 2005-11-29 2007-05-30 Incos Spa Sistema di termoregolazione per componenti riscaldati di apparecchiature di stampaggio ad iniezione di materie plastiche
US7434985B2 (en) * 2005-12-16 2008-10-14 Etron Technology, Inc. Calibrated built-in temperature sensor and calibration method thereof
DE102006010107A1 (de) * 2006-03-01 2007-09-06 E.G.O. Elektro-Gerätebau GmbH Verfahren und Vorrichtung zur Erkennung eines an eine Steuerung angeschlossenen Temperatursensors
US7484886B2 (en) * 2006-05-03 2009-02-03 International Business Machines Corporation Bolometric on-chip temperature sensor
US7953501B2 (en) 2006-09-25 2011-05-31 Fisher-Rosemount Systems, Inc. Industrial process control loop monitor
EP2074385B2 (en) 2006-09-29 2022-07-06 Rosemount Inc. Magnetic flowmeter with verification
US8898036B2 (en) * 2007-08-06 2014-11-25 Rosemount Inc. Process variable transmitter with acceleration sensor
US7590511B2 (en) * 2007-09-25 2009-09-15 Rosemount Inc. Field device for digital process control loop diagnostics
US7723647B2 (en) * 2007-09-28 2010-05-25 Illinois Tool Works Inc. Information communication systems between components of a hot melt adhesive material dispensing system
US8524490B2 (en) * 2008-09-18 2013-09-03 X-Bar Diagnostic Systems, Inc. Fully automated portable DNA detection system
US8337082B2 (en) 2009-05-08 2012-12-25 Canon U.S. Life Sciences, Inc. Systems and methods for auto-calibration of resistive temperature sensors
US7921734B2 (en) * 2009-05-12 2011-04-12 Rosemount Inc. System to detect poor process ground connections
US8529126B2 (en) 2009-06-11 2013-09-10 Rosemount Inc. Online calibration of a temperature measurement point
CN102116558B (zh) * 2009-12-31 2013-03-27 财团法人工业技术研究院 具有温度补偿调整的除雾节能控制装置
US8794829B2 (en) 2009-12-31 2014-08-05 Welch Allyn, Inc. Temperature-measurement probe
US9207670B2 (en) 2011-03-21 2015-12-08 Rosemount Inc. Degrading sensor detection implemented within a transmitter
US20130269539A1 (en) * 2011-09-17 2013-10-17 B. Robert Polt Variable Temperature Cooking Method and Apparatus
CN102435326A (zh) * 2011-09-28 2012-05-02 河南师范大学 一种温度计
CN103389931B (zh) * 2012-05-07 2015-11-25 中国长城计算机深圳股份有限公司 一种电源自动校准装置及其校准方法
EP2863196B1 (en) * 2012-06-19 2017-03-01 Edan Instruments, Inc. Self-calibration temperature control device and method
US9052240B2 (en) 2012-06-29 2015-06-09 Rosemount Inc. Industrial process temperature transmitter with sensor stress diagnostics
US9207129B2 (en) 2012-09-27 2015-12-08 Rosemount Inc. Process variable transmitter with EMF detection and correction
US9602122B2 (en) 2012-09-28 2017-03-21 Rosemount Inc. Process variable measurement noise diagnostic
NZ722834A (en) * 2014-02-19 2019-03-29 Mallinckrodt Hospital Products Ip Ltd Systems and methods for compensating long term sensitivity drift of electrochemical gas sensors exposed to nitric oxide
TWI536026B (zh) 2015-06-25 2016-06-01 財團法人工業技術研究院 無線批次校準裝置、系統及其方法
US10934921B2 (en) * 2016-03-02 2021-03-02 Watlow Electric Manufacturing Company Heater element as sensor for temperature control in transient systems
US10154676B1 (en) * 2017-11-07 2018-12-18 Walter Ready Food dispenser
CN111256862B (zh) * 2020-03-31 2021-12-28 西安微电子技术研究所 一种高精度自标校智能温度采集和控制电路
CN111929573A (zh) * 2020-07-27 2020-11-13 中核核电运行管理有限公司 一种恒温环境的热继电器自动校验仪
CN112362195B (zh) * 2020-12-04 2021-05-28 中国科学院力学研究所 一种热流静态校准装置

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3657926A (en) * 1970-04-02 1972-04-25 Thayer Corp Method and apparatus for measuring physical phenomena
US4065034A (en) * 1976-07-30 1977-12-27 Cities Service Company Gun-type dispenser for heat softenable adhesive or sealant compounds
US4059204A (en) * 1976-10-26 1977-11-22 Usm Corporation System for dispensing and controlling the temperature of hot melt adhesive
US4528637A (en) * 1982-06-17 1985-07-09 Westinghouse Electric Corp. Data acquisition system and analog to digital converter therefor
JPS61167827A (ja) * 1985-01-21 1986-07-29 Omron Tateisi Electronics Co 電子温度計
US4600124A (en) * 1985-05-08 1986-07-15 Nordson Corporation Controlled temperature hot melt adhesive dispensing system
US4713783A (en) * 1985-06-24 1987-12-15 Fletcher Taylor C Digital temperature indicating system
EP0213407A3 (en) * 1985-08-26 1990-05-23 Spacelabs, Inc. Method and apparatus for body temperature measurement with multiple probe types
JPS62240824A (ja) * 1986-04-11 1987-10-21 Sharp Corp 温度計
US4899034A (en) * 1986-12-10 1990-02-06 Robertshaw Controls Company Method of operating a control unit
US4854728A (en) * 1987-05-18 1989-08-08 Sippican Ocean Systems, Inc. Seawater probe
JPH0771003B2 (ja) * 1987-08-05 1995-07-31 株式会社東芝 冷蔵庫の制御装置
US4889440A (en) * 1987-08-31 1989-12-26 Lectro Stik Corp. Wax applicator with electronic control
US4847470A (en) * 1987-12-14 1989-07-11 Bakke Allan P Electric blood warmer utilizing metallic ribbon flow cartridge and low thermal mass heating units
GB2215569A (en) * 1988-02-26 1989-09-20 Philips Electronic Associated Multi-page teletext decoder arrangements
DE3808475A1 (de) * 1988-03-14 1989-10-19 Friedhelm Meyer Verfahren und vorrichtung zum messen einer temperatur
DE3810795C2 (de) * 1988-03-30 1994-04-21 Huerner Gmbh Elektro-Schweißgerät zum selbsttätigen Schweißen von Heizwendel-Fittingen
US5280422A (en) * 1990-11-05 1994-01-18 Watlow/Winona, Inc. Method and apparatus for calibrating and controlling multiple heaters
US5098196A (en) * 1991-01-04 1992-03-24 The Perkin-Elmer Corporation Circuit for heating and sensing with a single element
US5457302A (en) * 1991-08-27 1995-10-10 Tottori Sanyo Electric Co., Ltd. Heat cooking apparatus with controllable heat source
US5189283A (en) * 1991-08-28 1993-02-23 Shell Oil Company Current to power crossover heater control
US5186097A (en) * 1992-03-23 1993-02-16 Prince Castle Fryer controller
US5347476A (en) * 1992-11-25 1994-09-13 Mcbean Sr Ronald V Instrumentation system with multiple sensor modules
US5419637A (en) * 1993-11-03 1995-05-30 Santa Barbara Research Center Method and apparatus for measuring temperature using an inherently calibrated p-n junction-type temperature sensor
US5407101A (en) * 1994-04-29 1995-04-18 Nordson Corporation Thermal barrier for hot glue adhesive dispenser
US5633801A (en) * 1995-10-11 1997-05-27 Fluke Corporation Pulse-based impedance measurement instrument

Also Published As

Publication number Publication date
CN1194390A (zh) 1998-09-30
EP0843167A1 (en) 1998-05-20
TW353850B (en) 1999-03-01
JPH10162937A (ja) 1998-06-19
KR100263595B1 (ko) 2000-08-01
CN1110733C (zh) 2003-06-04
US5719378A (en) 1998-02-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100263595B1 (ko) 자기 교정 온도 조절기
US20200092951A1 (en) Two-wire layered heater system
US5521850A (en) Method and apparatus for calibration and controlling multiple heaters
CN111108350B (zh) 用于测量和控制加热器系统性能的传感器系统和集成加热器-传感器
US5980728A (en) Diagnostic method and apparatus for solid electrolyte gas analyzer
JP5009374B2 (ja) プロセス変数送信機における温度センサ構成の検出
JPH01254381A (ja) 半田こての温度調整装置
US3738174A (en) Temperature calibration system
JP4324520B2 (ja) 湿度測定方法および構造
CA1310127C (en) Potentiometer setting detection by measuring the ratio of rc time constants
US20120216593A1 (en) Electronic chemical trace detector
JPH04310830A (ja) 分析機器用回路装置
US4982605A (en) Air flow monitor and temperature compensating circuit therefor
US5111692A (en) Temperature compensated liquid level and fluid flow sensor
US3939687A (en) Temperature calibration system
US6763711B1 (en) Air flow sensor using measurement of rate of heat loss
US4563098A (en) Gradient compensated temperature probe and gradient compensation method
US4370546A (en) Kiln temperature controller
CA1337302C (en) External constant specification in a digital electronic system
JPS61279086A (ja) 加熱要素
JP3959828B2 (ja) 圧力センサー
JPS61105422A (ja) 流量測定装置
Block presys
DE59711765D1 (de) Temperaturregelung für Gassensoren
US3417330A (en) Electrical circuit for determining the resistance and temperature of a resistive element

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee