KR19980034255A - 백 바이어스 전압 발생기 - Google Patents

백 바이어스 전압 발생기 Download PDF

Info

Publication number
KR19980034255A
KR19980034255A KR1019960052251A KR19960052251A KR19980034255A KR 19980034255 A KR19980034255 A KR 19980034255A KR 1019960052251 A KR1019960052251 A KR 1019960052251A KR 19960052251 A KR19960052251 A KR 19960052251A KR 19980034255 A KR19980034255 A KR 19980034255A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
back bias
reference voltage
output
bias voltage
Prior art date
Application number
KR1019960052251A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100228770B1 (ko
Inventor
김무석
김영희
Original Assignee
김영환
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김영환, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김영환
Priority to KR1019960052251A priority Critical patent/KR100228770B1/ko
Publication of KR19980034255A publication Critical patent/KR19980034255A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100228770B1 publication Critical patent/KR100228770B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels

Abstract

본 발명은 백 바이어스 전압 발생기에 관한 것으로, 전압 'VCC'의 레벨 변화에 상관 없이 일정한 백 바이어스 전압(VBB)을 출력하도록 하므로써, 디램 회로에 정전압 VBB를 공급하므로 인해 VCC의 변화에 따른 리프레쉬 타임의 열화를 방지하여 리프레쉬 특성을 약 10% 정도 향상시키는 잇점이 있으며, 리프레쉬 특성 개선을 위한 공정 실험도 줄일 수 있어 제품 생산 기간을 단축시키는 잇점이 있다.

Description

백 바이어스 전압 발생기
본 발명은 백 바이어스 전압 발생기에 관한 것으로, 전압 'VCC'의 레벨 변화에 상관없이 일정한 백 바이어스 전압(VBB)을 출력하도록 하므로써, 접합 누설 전류를 감소시키는 백 바이어스 전압 발생기에 관한 것이다.
일반적으로 디-램의 메모리 셀은 1 트렌지스터와 1 캐패시터(1 Transistor 1 Capacitor : 1T1C)로 이루어지는데, 보편적으로 상기 트랜지스터는 N-모스 트랜지스터를 사용하며, 이와 같은 디-램의 메모리 셀은 N-모스의 벌크가 온-칩 VBB 발생기로부터의 출력인 백 바이어스 전압((-) 전압)에 연결되어 있어, 전압 VCC가 증가함에 따라 연동되어 같이 레벨이 높아지기 때문에 정션 양단에 걸리는 역 바이어스 전압이 커져 접합 누설 전류가 증가하게 되므로써, 셀 데이타가 '하이' 인 경우에는 리프레쉬 특성이 좋지 않은 문제점이 있다.
여기서 상기 백 바이어스 전압 발생기를 간략히 설명하면, 이는 백 바이어스 전압 레벨을 검출하는 전압 레벨 검출기와, 상기 검출기의 출력에 의해 전하 펌핑을 주기적으로 하기 위한 펄스를 발생시키는 오실레이터와, 원하는 백 바이어스 전압레벨을 얻기위해 전하를 펌핑시켜주는 차지 펌핑부와, 상기 오실레이터에서 출력되는 클럭에 상기 차지 펌핑부의 동작을 제어하는 펌핑 제어부를 포함하며, 상기와 같은 백 바이어스 전압 발생기는 백 바이어스 전압이 회로에서 설정된 전압보다 높은 레벨이 되면 검출기를 통해 검출되어 최종적으로 상기 차지 펌핑부를 동작시켜 백 바이어스 전압이 설정된 전압으로 다시 다운되도록 하는 역할을 한다.
이때 상기 전압 레벨 검출기의 출력단 회로를 보면 제 1도와 같이 도시할 수 있는 바, 소스단으로 VCC 전압을 인가받는 P-모스 트랜지스터(P1, P2)가 대칭적으로 연결되어 있고, 상기 P-모스 트랜지스터(P1)는 게이트단으로 VBB 전압 값에 따라 턴-온/오프되는 복수개의 P-모스 트랜지스터 및 N-모스 트랜지스터에서 출력되는 값(S1)을 입력받으며, 상기 P-모스 트랜지스터(P2)의 게이트단으로는 백 바이어스 인에이블 신호의 궤한된 신호(S2)가 입력된다.
또한 상기 P-모스 트랜지스터(P1)의 드레인단에는 복수개의 N-모스 트랜지스터(N1, N2)가 연결되며, 상기 N-모스 트랜지스터(N1)의 게이트단으로는 상기 P-모스 트랜지스터(P2)의 게이트단에 입력되는 신호(S2)가 동일하게 입력되고, 상기 N-모스 트랜지스터(N2)의 게이트단으로는 상기 P-모스 트랜지스터(P1)의 게이트단에 입력되는 신호(S1)가 동일하게 입력된다.
그리고 상기 각 P-모스 트랜지스터(P1, P2)의 공통 출력이 최종적인 백 바이어스 인에이블 신호(BBE)가 되며, 이 신호의 상태에 따라 차지 펌핑부(1)가 동작하게 된다.
상기와 같이 구성된 백 바이어스 전압 레벨 검출기의 출력단 회로는 낸드 게이트 역할을 하는 회로로써, 상기에서도 언급한 바와 같이 출력단에 인가되는 전압 VCC의 레벨 변화에 따라 백 바이어스 전압 레벨 또한 증가하고, 검출기의 출력신호인 백 바이어스 인에이블 신호도 불안정하게 출력된다.
따라서 VBB의 증가로 인해 더 많은 누설 전류가 흐르게 되고 이는 리프레쉬 특성을 저하시키는 하나의 요인으로 작용한다.
참고로 상기처럼 디-램 셀의 리프레쉬 특성을 나쁘게 하는 누설전류로는 크게 저장노드의 접합 누설 전류(junction leakage current), 오프-스테이트 서브스레시홀드 영역에서의 누설 전류(off-state subthreshold leakage current), 옥사이드 누설 전류(oxide leakage current)로 구분할 수 있다.
본 발명은 상술한 바와 같은 종래 문제점을 감안하여, VCC 전압 레벨 변화에 무관한 안정적인 백 바이어스 전압이 출력되도록 하므로써, 접합 누설 전류를 감소시켜 디램의 리프레쉬 특성을 향상시키는 것을 목적으로 한다.
도 1은 일반적인 백 바이어스 전압 발생기 내의 전압 레벨 검출기 출력부 회로도.
도 2는 본 발명에 의한 기준 전압 발생기 회로도.
도 3은 본 발명에 의한 전압 레벨 검출기의 회로도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
1 : 차지 펌핑부
상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명에서는 전압 'VCC'의 변화에 무관한 값을 가지는 기준 전압 발생기를 이용하여 차지 펌핑 회로를 동작시키는 인에이블 신호를 출력하므로써, 차지 펌핑 회로의 안정적인 동작이 이루어지도록 한 것이다.
상기와 같이 동작되는 본 발명에 의한 백 바이어스 전압 발생기는 연속적으로 일정전압을 출력하여 상기 전압 레벨 검출기에 인가하는 기준전압 발생기와;
상기 기준전압 발생기로부터 출력되는 제 1 기준전압(Vref 1)과 제 2 기준전압(Vref)을 입력으로 하여 VBB 레벨을 검출하므로써, 정전압 VBB를 출력토록 하는 전압 레벨 검출기를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상술한 목적, 특징 및 장점은 첨부된 도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통하여 보다 분명해 질 것이다. 이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
제 1도는 본 발명에 의해 제시된 기준 전압 발생기 회로도로, 백 바이어스 전압의 레벨을 검출하는 검출 회로에 인가되는 전압을 제공한다.
P-모스 트랜지스터(P11, P12)와, N-모스 트랜지스터(N11, N12)로 이루어져 입력신호를 반전시키는 인버터 회로가 대칭 구조로 연결되고, 상기 회로의 출력단(Vref 1)에 P-모스 트랜지스터(P13, P14)가 각각 연결된 회로로써, 상기 제 1 출력단(Vref 1)의 출력을 제 1 기준전압(Vref 1)으로 사용하고, 최종 출력 단의 출력(Vref)을 제 2 기준전압(Vref)으로 사용한다.
여기서 상기 제 1 기준전압(Vref 1)은 전압 'VCC-Vt'의 전압 레벨값을 갖는다.
상기와 같은 기준 전압 발생기에서 출력되는 일정전압을 인가받아 동작하는 백 바이어스 전압 레벨 검출 회로는 제 2 도와 같이 도시할 수 있는 바, 소스단으로는 전원전압을 인가받으며 게이트 단으로는 상기 기준 전압 발생기에서 출력되는 제 1 기준전압을 인가받는 복수개의 P-모스 트랜지스터(P15, P16, P17)와;
상기 P-모스 트랜지스터(P15)의 드레인단에 연결되며, 게이트단은 접지되고, 소스단은 백 바이어스 전압에 연결된 N-모스 트랜지스터(N13)와;
노드 1에 게이트단이 연결되며, P-모스 트랜지스터(P18)의 소스단은 상기 P-모스 트랜지스터(P16)에 연결되고, N-모스 트랜지스터(N14)의 소스단은 접지단에 연결된 타 N-모스 트랜지스터(N16)에 연결된 모스 인버터와;
노드 2에 게이트단이 연결되며, P-모스 트랜지스터(P19)의 소스단은 상기 P-모스 트랜지스터(P17)에 연결되고, N-모스 트랜지스터(N15)의 소스단은 접지단에 연결된 타 N-모스 트랜지스터(N17)에 연결된 모스 인버터와;
노드 3의 신호를 연속 반전시켜 최종 백 바이어스 인에이블 신호(BBE)를 출력하는 복수개의 인버터(INV1, INV2); 및
상기 백 바이어스 인에이블 신호의 상태에 따라 동작되는 차지 펌핑부(1)를 포함한다.
상기와 같이 구현된 본 발명 회로의 동작은 다음과 같이 실행된다.
기준 전압 발생기에서 제공되는 제 1 기준 전압(Vref 1)을 인가받은 각각의 P-모스 트랜지스터(P15, P16, P17)는 상기 제 1 기준전압이 각 P-모스 트랜지스터(P15, P16, P17)에 인가되는 전압(VCC)보다 로우 레벨이므로 턴-온되며, 이때 흐르는 전압이 백 바이어스 인에이블 신호로 출력되는가의 여부는 N-모스 트랜지스터(N13)의 턴-온/오프 여부에 따라 결정되는 바, 이 N-모스 트랜지스터(N13)는 항상 턴-온 상태에 있다가 백 바이어스 전압(VBB)이 접지전압 보다 하이 레벨이 되면 턴-오프 상태가 된다.
따라서 백 바이어스 전압이 접지 전압 보다 로우 레벨인 '-'전압일 경우에는 상기 P-모스 트랜지스터(P15)에서 흐르는 전압이 많이 상쇄되어 노드 1의 값이 '로우' 레벨이 되므로 노드 2의 레벨은 '하이'가 되며, 노드 3의 레벨은 '로우'가 된다.
이에 따라 최종적인 백 바이어스 인에이블 신호는 '로우' 상태가 되어 차지 펌핑부(1)는 동작하지 않게된다.
상기와 반대로 백 바이어스 전압이 접지 전압보다 높은 레벨이 되면 상기 N-모스 트랜지스터(N13)는 턴-오프되어 노드 1의 레벨은 '하이' 상태가 되고, 노드 2는 '로우' 레벨이 되며, 노드 3은 '하이' 레벨이 된다.
이에 따라 백 바이어스 인에이블 신호는 '하이' 레벨이 되어 차지 펌핑부(1)를 동작시켜, 상기 백 바이어스 전압이 다시 접지 전압보다 낮은 레벨이 되도록 한다.
이와 같이 동작하는 본 발명의 백 바이어스 전압 발생기는 상기에서 설명된 바와 같이 상기 백 바이어스 레벨 검출기에 인가되는 전압이 종래 처럼 가변될 수 있는 VCC 전압이 아닌 항상 일정한 전압을 제공하는 기준 전압 발생기에서 인가되는 전압이므로 백 바이어스 인에이블 신호가 안정적인 상태로 출력된다.
따라서 차지 펌핑부(1) 또한 안정적인 조건에서 항상 동작하게 된다.
이상에서 상세히 설명한 바와 같이 본 발명은 디램 회로에 정전압 VBB를 공급하므로 인해 VCC의 변화에 따른 리프레쉬 타임의 열화를 방지하여 리프레쉬 특성을 약 10% 정도 향상시키는 잇점이 있으며, 리프레쉬 특성 개선을 위한 공정 실험도 줄일 수 있어 제품 생산 시간을 단축시키는 잇점이 있다.
아울러 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가 등이 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허 청구의 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

Claims (3)

  1. 백 바이어스 전압 레벨을 검출하는 전압 레벨 검출기와, 상기 검출기의 출력에 의해 전하 펌핑을 주기적으로 하기 위한 펄스를 발생시키는 오실레이터와, 원하는 백 바이어스 전압 레벨을 얻기 위해 전하를 펌핑시켜주는 차지 펌핑부와, 상기 오실레이터에서 출력되는 클럭에 상기 차지 펌핑부의 동작을 제어하는 펌핑 제어부를 포함하는 백 바이어스 전압(VBB) 발생기에 있어서,
    일정전압의 두개의 기준전압을 출력하여 상기 전압 레벨 검출기에 인가하는 기준전압 발생기와;
    상기 기준전압 발생기로부터 출력되는 제 1 기준전압(Vref 1)과 제 2 기준전압(Vref)을 입력으로 하여 VBB 레벨을 검출하므로써, 정전압 VBB를 출력토록 하는 전압 레벨 검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 백 바이어스 전압 발생기.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 기준전압 발생기에서 출력되는 두 기준전압인 제 1 기준전압과, 제 2 기준전압은 제 1 기준전압(Vref 1)이 제 2 기준전압(Vref)에 비해 문턱전압 만큼 높은 전압값인 것을 특징으로 하는 백 바이어스 전압 발생기.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 전압 레벨 검출기는 소스단으로는 전원전압을 인가받으며 게이트 단으로는 상기 기준 전압 발생기에서 출력되는 제 1 기준전압을 인가받는 제 1, 2, 3의 P-모스 트랜지스터와;
    상기 제 1 P-모스 트랜지스터의 드레인단에 연결되며, 게이트단은 접지되고, 소스단은 백 바이어스 전압에 연결된 N-모스 트랜지스터와;
    상기 제 2, 제 3 P-모스 트랜지스터의 일측에 연결되는 각각의 모스 인버터와;
    상기 제 2 기준전압을 게이트단으로 입력받으며, 상기 각각의 모스 인버터에 연결된 각각의 N-모스 트랜지스터; 및
    상기 모스 인버터의 신호를 연속 반전시켜 최종 백 바이어스 인에이블 신호(BBE)를 출력하는 복수개의 인버터(INV1, INV2)를 포함하는 것을 특징으로 하는 백 바이어스 전압 발생기.
KR1019960052251A 1996-11-06 1996-11-06 백 바이어스 전압 발생기 KR100228770B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960052251A KR100228770B1 (ko) 1996-11-06 1996-11-06 백 바이어스 전압 발생기

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019960052251A KR100228770B1 (ko) 1996-11-06 1996-11-06 백 바이어스 전압 발생기

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19980034255A true KR19980034255A (ko) 1998-08-05
KR100228770B1 KR100228770B1 (ko) 1999-11-01

Family

ID=19480924

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019960052251A KR100228770B1 (ko) 1996-11-06 1996-11-06 백 바이어스 전압 발생기

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100228770B1 (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100733407B1 (ko) * 2005-06-30 2007-06-29 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자의 벌크 바이어스 전압 레벨 검출기
KR100833587B1 (ko) * 2001-12-22 2008-05-30 주식회사 하이닉스반도체 리프레시 특성 향상을 위한 반도체 메모리 장치
KR100897295B1 (ko) * 2007-12-13 2009-05-14 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 벌크 바이어스 전압 생성 회로

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100833587B1 (ko) * 2001-12-22 2008-05-30 주식회사 하이닉스반도체 리프레시 특성 향상을 위한 반도체 메모리 장치
KR100733407B1 (ko) * 2005-06-30 2007-06-29 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 소자의 벌크 바이어스 전압 레벨 검출기
US7366048B2 (en) 2005-06-30 2008-04-29 Hynix Semiconductor Inc. Bulk bias voltage level detector in semiconductor memory device
US7733132B2 (en) 2005-06-30 2010-06-08 Hynix Semiconductor Inc. Bulk bias voltage level detector in semiconductor memory device
KR100897295B1 (ko) * 2007-12-13 2009-05-14 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 벌크 바이어스 전압 생성 회로

Also Published As

Publication number Publication date
KR100228770B1 (ko) 1999-11-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960009394B1 (ko) 동적 임의 접근 메모리용 전원 회로
KR0133933B1 (ko) 기판바이어스 발생회로
EP0399240B1 (en) Semiconductor memory device
KR100363142B1 (ko) 3상태논리게이트회로를갖는반도체집적회로
US4460985A (en) Sense amplifier for MOS static memory array
US6304120B1 (en) Buffer circuit operating with a small through current and potential detecting circuit using the same
JPH0554650A (ja) 半導体集積回路
US5744997A (en) Substrate bias voltage controlling circuit in semiconductor memory device
US4943738A (en) Digital signal input buffer circuit having a simple construction and capable of retaining data
JPH0319516A (ja) 電圧リミッタ回路
KR100299816B1 (ko) 전압발생회로
KR100228770B1 (ko) 백 바이어스 전압 발생기
KR970001697B1 (ko) 레벨 변환 회로
KR100281281B1 (ko) 고전압 발생기
KR0183874B1 (ko) 반도체 메모리장치의 내부 전원전압 발생회로
KR19990019750A (ko) 기판 바이어스전압 감지장치
KR960001297B1 (ko) 전압 레벨 감지 회로
KR200284963Y1 (ko) 안정된 고전압을 발생하는 고전압발생기
KR100373799B1 (ko) 에스램프리챠지신호발생기
KR100232893B1 (ko) 반도체 메모리 장치용 로우 디코더
KR100223670B1 (ko) 고전압 발생기
KR100211122B1 (ko) 반도체 집적 회로 장치용 발진 회로
KR960002915Y1 (ko) 데이타 출력용 버퍼회로
KR20000043182A (ko) 고전압 발생기
KR100245088B1 (ko) 고전압 발생기

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20100726

Year of fee payment: 12

LAPS Lapse due to unpaid annual fee