KR102593914B1 - 방현 필름 및 그것을 사용한 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

화소 밀도 300ppi 이상의 초고해상의 표시 소자의 영상광의 번쩍임을 억제할 수 있고, 또한 콘트라스트의 저하를 억제할 수 있는 방현 필름을 제공한다. 방현층을 갖는 방현 필름이며, 내부 헤이즈가 5.0 내지 25.0%, 표면 헤이즈가 20.0% 이하이고, λs 2.5㎛ 또한 λc 250㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa2.5-250과, λs 2.5㎛ 또한 λc 70㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa2.5-70이, 하기 식 (1) 내지 (3)을 만족시키는, 방현 필름.

Description

방현 필름 및 그것을 사용한 표시 장치
본 발명은, 방현 필름 및 그것을 사용한 표시 장치에 관한 것이다.
표시 소자의 표면에는, 외광의 겹쳐 비침을 억제하는 것 등을 목적으로 하여, 요철 구조를 갖는 방현 필름이 설치되는 경우가 있다.
그러나 표시 소자의 표면에 요철 구조를 갖는 방현 필름을 사용한 경우, 그 요철 구조에 기인하여 영상광에 미세한 휘도의 변동이 보이는 현상(번쩍임)이 발생하여, 표시 품위를 저하시킨다고 하는 문제가 있다.
특히, 근년의 초고해상화된 표시 소자(화소 밀도 300ppi 이상)에서는 번쩍임이 강해지는 경향이 있어, 번쩍임의 문제는 더욱 심각화되고 있다.
표면 요철에 의한 번쩍임을 억제하는 기술로서, 특허문헌 1 내지 3의 기술이 제안되어 있다.
일본 특허 공개 평11-305010호 공보 일본 특허 공개 제2002-267818호 공보 일본 특허 공개 제2015-172834호 공보
특허문헌 1 및 2는, 내부 헤이즈를 부여함으로써 번쩍임을 개선하는 것이다. 그러나 화소 밀도 300ppi 이상의 초고해상의 표시 소자는 번쩍임이 강해지는 경향이 있어, 특허문헌 1 및 2와 같이 내부 헤이즈에 의해서만 번쩍임을 억제하려고 하면, 내부 헤이즈를 더욱 크게 할 수밖에 없어, 콘트라스트의 저하를 초래하는 것이었다. 특히, 암실 환경하의 콘트라스트가 내부 헤이즈에 의해 저하되는 경향이 있다.
특허문헌 3은, 요철의 경사 각도의 분포가 특정 각도에 치우치지 않음으로써, 내부 헤이즈를 높게 하는 일 없이, 번쩍임을 억제하는 것을 노리고 있다. 그러나 특허문헌 3의 기술에 있어서도, 화소 밀도 300ppi 이상의 초고해상의 표시 소자의 번쩍임을 충분히 억제할 수는 없었다.
본 발명은, 이러한 상황하에 이루어진 것이며, 요철 형상을 갖는 경우에 있어서도, 화소 밀도 300ppi 이상의 초고해상의 표시 소자의 영상광의 번쩍임을 억제할 수 있고, 또한 콘트라스트의 저하를 억제할 수 있는 방현 필름 및 표시 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명은, 이하의 [1] 내지 [2]를 제공한다.
[1] 방현층을 갖는 방현 필름이며, 상기 방현 필름은, 내부 헤이즈가 5.0 내지 25.0%, 표면 헤이즈가 20.0% 이하이고, λs 2.5㎛ 또한 λc 250㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa2.5-250과, λs 2.5㎛ 또한 λc 70㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa2.5-70이, 하기 식 (1) 내지 (3)을 만족시키는, 방현 필름.
[2] 표시 소자와, 표시 소자의 광 출사면측에 배치된 방현 필름을 갖는 표시 장치이며, 상기 방현 필름으로서, 상기 [1]에 기재된 방현 필름을, 식 (1) 내지 (3)을 만족시키는 측의 면이 상기 표시 소자와 반대측을 향하도록 배치하여 이루어지는, 표시 장치.
본 발명의 방현 필름 및 표시 장치는, 화소 밀도 300ppi 이상의 초고해상의 표시 소자의 영상광의 번쩍임을 억제할 수 있고, 또한 콘트라스트의 저하를 억제할 수 있다.
도 1은 본 발명의 방현 필름의 일 실시 형태를 나타내는 단면도이다.
도 2는 본 발명의 방현 필름의 다른 실시 형태를 나타내는 단면도이다.
도 3은 실시예 1의 방현 필름의 요철 형상을 백색 간섭 현미경을 사용하여 측정하였을 때의, 70㎛ 이하의 단파장의 요철을 커트하지 않은 요철 형상(a)과, 70㎛ 이하의 단파장의 요철을 커트한 요철 형상(b)을 나타내는 사시도이다.
도 4는 비교예 1의 방현 필름의 요철 형상을 백색 간섭 현미경을 사용하여 측정하였을 때의, 70㎛ 이하의 단파장의 요철을 커트하지 않은 요철 형상(c)과, 70㎛ 이하의 단파장의 요철을 커트한 요철 형상(d)을 나타내는 사시도이다.
도 5는 번쩍임의 측정 방법을 설명하는 도면이다.
도 6은 샘플로부터 파라미터를 측정할 때의 측정 개소의 일례를 설명하는 도면이다.
이하, 본 발명의 실시 형태를 설명한다.
[방현 필름]
본 발명의 방현 필름은, 방현층을 갖고, 방현 필름의 내부 헤이즈가 5.0 내지 25.0%, 표면 헤이즈가 20.0% 이하이고, λs 2.5㎛ 또한 λc 250㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa2.5-250과, λs 2.5㎛ 또한 λc 70㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa2.5-70이, 하기 식 (1) 내지 (3)을 만족시키는 것이다.
도 1 및 도 2는, 본 발명의 방현 필름(10)의 실시 형태를 나타내는 단면도이다.
도 1의 방현 필름(10)은, 투명 기재(1) 상에 방현층(2)을 갖는 구성이고, 도 2의 방현 필름(10)은 방현층(2)의 단층 구성이다.
본 발명의 방현 필름은, 내부 헤이즈가 5.0 내지 25.0%인 것을 요한다.
방현 필름의 내부 헤이즈가 5.0% 미만이면, 번쩍임을 억제할 수 없다.
또한, 방현 필름의 내부 헤이즈가 25.0% 초과이면, 콘트라스트를 양호하게 할 수 없다. 특히, 표시 소자가 사이드로의 광 누설이 많은 TN 방식의 액정 표시 소자인 경우, 내부 헤이즈가 높은 경우에, 암실 환경하의 콘트라스트가 크게 저하되어 버린다. 또한, 내부 헤이즈를 25.0% 이하로 함으로써, 표시 소자의 해상도의 저하를 억제할 수 있는 점에서도 적합하다.
본 발명에서는, 내부 헤이즈를 극단적으로 높게 하는 일 없이, 후술하는 식 (2) 및 식 (3)을 만족시킴으로써, 콘트라스트의 저하를 억제하면서, 번쩍임을 억제하는 것을 가능하게 하고 있다.
방현 필름의 내부 헤이즈의 하한은, 7.0%인 것이 바람직하고, 10.0%인 것이 보다 바람직하고, 상한은 20.0%인 것이 바람직하고, 18.0%인 것이 더 바람직하다. 이들 하한 및 상한의 값은 적절하게 조합할 수 있다.
본 명세서에 있어서, 내부 헤이즈는, 16개소의 측정값의 평균값을 의미하고, 예를 들어 실시예에 기재된 방법으로 구할 수 있다.
본 명세서에 있어서, 내부 헤이즈, 표면 헤이즈, 식 (1) 내지 (7)의 평균값을 산출하는 16개의 측정 개소는, 측정 샘플의 외연으로부터 1㎝의 영역을 여백으로 하여, 당해 여백보다 내측의 영역에 관하여, 종방향 및 횡방향을 5등분하는 선을 그었을 때의, 교점인 16개소를 측정의 중심으로 하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 측정 샘플이 사각형인 경우, 도 6에 나타내는 바와 같이, 사각형의 외연으로부터 1㎝의 영역을 여백으로 하여, 당해 여백보다 내측의 영역을 종방향 및 횡방향으로 5등분한 점선의 교점인 16개소를 중심으로 하여 측정을 행하고, 그 평균값으로 파라미터를 산출하는 것이 바람직하다. 또한, 측정 샘플이 원형, 타원형, 삼각형, 오각형 등의 사각형 이외의 형상인 경우, 이들 형상에 내접하는 사각형을 그리고, 당해 사각형에 관하여, 상기 방법에 의해 16개소의 측정을 행하는 것이 바람직하다.
또한, 16개소의 내부 헤이즈의 표준 편차는 10% 이하인 것이 바람직하다. 또한, 16개소의 내부 헤이즈의 왜도의 절댓값은 2.0 이하인 것이 바람직하다.
방현 필름의 헤이즈나 표면 형상의 측정값은 정규 분포가 되지 않는 경우가 있지만, 적어도, 본 명세서에 기재하는 표준 편차, 왜도의 범위라면, 본 발명의 효과는 저해되지 않는다. 또한, 방현 필름의 헤이즈나 표면 형상의 측정값이 정규 분포가 되지 않는 경우가 있는 이유는, 이하와 같이 생각된다.
방현층 도포액을 투명 기재에 도포하였을 때, 방현층 도포액에 포함되는 입자 등의 비용해 성분의 존재 비율은, 방현 필름의 면 내의 위치에 따라 일정하지 않다. 즉, 투명 기재 상에 방현층 도포액을 도포하고, 건조시키는 시점에서는, 면 내의 위치에 따라 도막 중의 조성은 미묘하게 다르다. 또한, 건조풍도 완전한 층류는 있을 수 없기 때문에, 건조 조건은 면 내의 위치에 따라 상위하다. 게다가, 도막의 건조 속도는, 이 인자들에 의해, 선형으로 변화되는 것이 아니라, 비선형으로 변화된다. 이러한 원인에 의해, 방현 필름의 헤이즈나 표면 형상의 측정값은 정규 분포가 되지 않는 경우가 발생한다고 생각된다.
본 발명의 방현 필름은, 표면 헤이즈가 20.0% 이하인 것을 요한다.
방현 필름의 표면 헤이즈가 20.0% 초과이면, 콘트라스트, 특히 명실 환경하의 콘트라스트를 양호하게 할 수 없다. 또한, 표면 헤이즈를 20.0% 이하로 함으로써, 표시 소자의 해상도의 저하를 억제할 수 있는 점에서도 적합하다.
또한, 방현 필름이 소정 이상의 표면 헤이즈를 가지면, 방현성을 양호하게 하기 쉽게 할 수 있다. 이 때문에, 표면 헤이즈의 하한은 5.0%인 것이 바람직하고, 10.0%인 것이 보다 바람직하고, 12.0%인 것이 더욱 바람직하고, 상한은 18.0%인 것이 바람직하고, 16.0%인 것이 보다 바람직하다. 이들 하한 및 상한의 값은 적절하게 조합할 수 있다.
본 명세서에 있어서, 표면 헤이즈는, 16개소의 측정값의 평균값을 의미하며, 예를 들어 실시예에 기재된 방법으로 구할 수 있다.
또한, 16개소의 표면 헤이즈의 표준 편차는 10% 이하인 것이 바람직하다. 또한, 16개소의 표면 헤이즈의 왜도의 절댓값은 2.0 이하인 것이 바람직하다.
또한, 본 발명의 방현 필름은, 상술한 표면 헤이즈와 내부 헤이즈의 효과의 밸런스의 관점에서, 표면 헤이즈와 내부 헤이즈의 비(표면 헤이즈/내부 헤이즈)가, 0.6 내지 1.4인 것이 바람직하고, 0.7 내지 1.3인 것이 보다 바람직하다.
본 명세서에 있어서, 표면 헤이즈/내부 헤이즈는, 16개소의 측정값의 평균값을 의미하며, 예를 들어 실시예에 기재된 방법으로 구할 수 있다. 또한, 16개소의 표면 헤이즈/내부 헤이즈의 표준 편차는 0.4 이하인 것이 바람직하다. 또한, 16개소의 표면 헤이즈/내부 헤이즈의 왜도의 절댓값은 2.0 이하인 것이 바람직하다.
본 발명의 방현 필름은, 하기 식 (1)을 만족시킬 것을 요한다.
Sa2.5-250이 0.080㎛ 미만인 경우, 방현성을 양호하게 할 수 없다.
Sa2.5-250은 0.090㎛ 이상인 것이 바람직하고, 0.100㎛ 이상인 것이 보다 바람직하고, 0.110㎛ 이상인 것이 더욱 바람직하다.
또한, Sa2.5-250이 지나치게 크면, 콘트라스트나 표시 소자의 해상도의 저하를 초래하는 경우가 있다. 이 때문에, Sa2.5-250은 0.200㎛ 이하인 것이 바람직하고, 0.180㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.160㎛ 이하인 것이 더욱 바람직하고, 0.140㎛ 이하인 것이 보다 더욱 바람직하다.
본 명세서에 있어서, Sa2.5-250은, 16개소의 측정값의 평균값을 의미하며, 예를 들어 실시예에 기재된 방법으로 구할 수 있다. 또한, 16개소의 Sa2.5-250의 표준 편차는 0.060㎛ 이하인 것이 바람직하다. 또한, 16개소의 Sa2.5-250의 왜도의 절댓값은 2.0 이하인 것이 바람직하다.
본 발명의 방현 필름은, 하기 식 (2)를 만족시킬 것을 요한다.
조건 (2)는, λc가 250㎛인 삼차원 산술 평균 조도 Sa2.5-250과, λc가 70㎛인 삼차원 산술 평균 조도 Sa2.5-70의 차분이다. λc는, 단면 곡선(측정 단면 곡선으로부터 λs 필터를 사용하여 노이즈 등의 단파장 성분이 제거된 것)으로부터 주기가 긴 요철을 제외하는 정도를 나타내는 지표이며, λc가 작을수록 주기가 긴 요철이 제외되는 정도가 크다.
즉, Sa2.5-70은 주기가 긴 요철이 제외된 산술 평균 조도인 것에 비해, Sa2.5-250은 주기가 긴 요철을 포함하는 산술 평균 조도라고 할 수 있다. 그리고 Sa2.5-250과 Sa2.5-70의 차분 「Sa2.5-250-Sa2.5-70」은, 주기가 긴 요철에 기초하는 산술 평균 조도를 나타내고 있다고 할 수 있다. 또한, 이 표현은 반드시 정확한 것은 아니지만, Sa2.5-250과 Sa2.5-70의 차분이 주기 70 내지 250㎛의 요철에 기초하는 산술 평균 조도를 나타내고 있다고 파악하면, 조건 (2)의 의미를 이해하기 쉽다.
또한, 화소 밀도 300ppi의 표시 소자의 하나의 화소의 크기는 약 85㎛이다. 따라서, 상기 식 (2)는, 화소 밀도 300ppi의 표시 소자의 하나의 화소의 크기를 초과하는, 주기가 긴 요철에 기초하는 산술 평균 조도가 작은 것을 의미하고 있다.
또한, 하나의 화소의 크기가 70㎛인 표시 소자의 화소 밀도는 약 360ppi이다. 따라서, 식 (2) 및 (3)에 있어서, λc 70㎛의 데이터를 사용하고 있는 본 발명은, 360ppi 전후의 300 내지 500ppi에 있어서, 실시예에 나타내는 바와 같이 번쩍임을 억제하는 것을 가능하게 하고 있다.
Sa2.5-250-Sa2.5-70이 0.030㎛를 초과하는 경우, 화소 밀도 300ppi의 표시 소자의 하나의 화소의 크기를 초과하는, 주기가 긴 요철에 기초하는 산술 평균 조도가 커져, 번쩍임을 억제할 수 없다. 또한, Sa2.5-250-Sa2.5-70을 0.030㎛ 이하로 함으로써, 해상도의 저하를 억제할 수도 있다.
Sa2.5-250-Sa2.5-70은 0.025㎛ 이하인 것이 바람직하고, 0.020㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.015㎛ 이하인 것이 더욱 바람직하다.
본 명세서에 있어서, Sa2.5-250-Sa2.5-70은, 16개소의 측정값의 평균값을 의미하며, 예를 들어 실시예에 기재된 방법으로 구할 수 있다. 또한, 16개소의 Sa2.5-250-Sa2.5-70의 표준 편차는 0.015㎛ 이하인 것이 바람직하다. 또한, 16개소의 Sa2.5-250-Sa2.5-70의 왜도의 절댓값은 2.0 이하인 것이 바람직하다.
본 발명의 방현 필름은, 하기 식 (3)을 만족시킬 것을 요한다.
상술한 바와 같이, Sa2.5-70은 주기가 긴 요철이 제외된 산술 평균 조도이다. 바꾸어 말하면, Sa2.5-70은, 주기가 짧은 요철(주기가 70㎛ 이하인 요철)에 기초하는 산술 평균 조도이다. 또한, 상술한 바와 같이, Sa2.5-250은 주기가 긴 요철을 포함하는 산술 평균 조도라고 할 수 있다. 따라서, Sa2.5-70/Sa2.5-250은, 화소 밀도 300ppi의 표시 소자의 하나의 화소의 크기를 하회하는, 번쩍임을 악화시키기 어려운 주기가 짧은 요철의 비율을 나타내고 있다.
그리고 본 발명의 방현 필름은, 번쩍임의 요인이 되는 주기가 긴 요철을 소량 갖고 있었다고 해도, 주기가 긴 요철에 주기가 짧은 요철이 중첩되어 있음으로써, 주기가 긴 요철에 기초하는 확산이 주기가 짧은 요철에 의해 완화되어, 번쩍임을 억제할 수 있다. 주기가 짧은 요철에 의한 완화에 대해 보충하면, 주기가 긴 요철에 기초하여 특정 방향으로 강하게 확산될 것이었던 영상광이, 주기가 짧은 요철에 의해 확산되어, 특정 방향으로의 강한 확산이 없어지고, 확산이 균일해짐으로써, 번쩍임을 억제할 수 있다. 또한, 본 발명의 방현 필름은, 내부 헤이즈를 극단적으로 크게 하지 않아도, 주기가 짧은 요철의 비율이 많다는 점에서, 번쩍임을 억제하는 것을 가능하게 하고 있다. 한편, Sa2.5-70/Sa2.5-250이 0.83 미만인 경우, 주기가 긴 요철에 기초하는 확산이 주기가 짧은 요철에 의해 충분히 완화되지 않으므로, 번쩍임을 억제할 수 없다.
Sa2.5-70/Sa2.5-250은 0.84 이상인 것이 바람직하고, 0.86 이상인 것이 보다 바람직하다. Sa2.5-70/Sa2.5-250의 상한은 0.90 정도이다.
본 명세서에 있어서, Sa2.5-70/Sa2.5-250은, 16개소의 측정값의 평균값을 의미하며, 예를 들어 실시예에 기재된 방법으로 구할 수 있다. 또한, 16개소의 Sa2.5-70/Sa2.5-250의 표준 편차는 0.40 이하인 것이 바람직하다. 또한, 16개소의 Sa2.5-70/Sa2.5-250의 왜도의 절댓값은 2.0 이하인 것이 바람직하다.
상기 식 (2) 및 (3)으로부터, 본 발명의 방현층의 표면 형상은, 주기가 긴 요철에 기초하는 조도가 적은 한편, 주기가 짧은 요철의 비율이 많은 것이라고 할 수 있다.
도 3은, 실시예 1의 방현 필름의 요철 형상을 백색 간섭 현미경을 사용하여 측정하였을 때의, 70㎛ 이하의 단파장의 요철을 커트하지 않은 요철 형상(도 3의 (a))과, 70㎛ 이하의 단파장의 요철을 커트한 요철 형상(도 3의 (b))을 나타내는 사시도이다. 한편, 도 4는, 비교예 1의 방현 필름의 요철 형상을 백색 간섭 현미경을 사용하여 측정하였을 때의, 70㎛ 이하의 단파장의 요철을 커트하지 않은 요철 형상(도 4의 (c))과, 70㎛ 이하의 단파장의 요철을 커트한 요철 형상(도 4의 (d))을 나타내는 사시도이다.
도 3의 (b)와 도 4의 (d)의 대비로부터, 실시예 1의 방현 필름의 방현층의 표면 형상은, 주기가 긴 요철에 기초하는 조도가 적은 것을 확인할 수 있다. 또한, 도 3의 (a)와 도 4의 (c)를 대비하면, 실시예 1의 방현 필름의 방현층의 표면 형상은, 주기가 짧은 요철을 많이 갖고 있는 것을 확인할 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 방현층의 표면 형상은, 주기가 긴 요철에 기초하는 조도가 적은 한편, 주기가 짧은 요철의 비율이 많은 것이다.
본 발명의 방현 필름은, 상기 Sa2.5-250과, λs 25㎛ 또한 λc 250㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa25-250과, λs 70㎛ 또한 λc 250㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa70-250이, 하기 식 (4)를 만족시키는 것이 바람직하다.
상기 식 (4)는, λs가 다른 삼차원 산술 평균 조도의 관계를 나타내고 있다. λc는 단면 곡선으로부터 주기가 긴 「기복 성분」을 제거하는 것을 목적으로 하고 있는 것에 비해, λs는 노이즈 등의 단파장 성분을 제거하는 것을 목적으로 하고 있다. 또한, JIS B0601:2001에서는, 동일한 측정 조건에서는 λs를 일정하게 하는 것을 표준으로 하고 있다.
즉, 상기 식 (4)는, 통상은 착안하지 않는 단파장 성분에 착안한 것이며, 또한 통상은 변동시키지 않는 λs를 변동시킴으로써 얻은 파라미터이다.
또한, 상기 식 (4)에 있어서, Sa25-250-Sa70-250은 주기가 25 내지 70㎛인 요철에 기초하는 삼차원 산술 평균 조도의 지표이고, Sa2.5-250-Sa25-250은 주기가 2.5 내지 25㎛인 요철에 기초하는 삼차원 산술 평균 조도의 지표라고 할 수 있다.
따라서, 상기 식 (4)의 「(Sa25-250-Sa70-250)/(Sa2.5-250-Sa25-250)」은, 주기가 25 내지 70㎛인 요철에 기초하는 삼차원 산술 평균 조도와, 주기가 2.5 내지 25㎛인 요철에 기초하는 삼차원 산술 평균 조도의 비를 나타내고 있다고 할 수 있다. 그리고 「(Sa25-250-Sa70-250)/(Sa2.5-250-Sa25-250)」이 1.0에 가까운 것은, 주기가 25 내지 70㎛인 요철과, 주기가 2.5 내지 25㎛인 요철이, 등량에 가까운 것을 의미하고 있다. 바꾸어 말하면, 「(Sa25-250-Sa70-250)/(Sa2.5-250-Sa25-250)」이 1.0에 가까운 것은, 주기가 70㎛ 이하인 요철의 분포가, 특정한 주기에 치우쳐 있지 않은 것을 의미하고 있다.
식 (3)에 있어서 설명한 바와 같이, 본 발명의 방현 필름은, 번쩍임의 요인이 되는 주기가 긴 요철을 소량 갖고 있었다고 해도, 주기가 긴 요철에 주기가 짧은 요철이 중첩되어 있음으로써, 주기가 긴 요철에 기초하는 확산이 주기가 짧은 요철에 의해 완화되어, 번쩍임을 억제할 수 있다. 주기가 짧은 요철이 다양한 주기를 갖고 있는 경우, 광이 다양한 방향으로 확산되는 작용이 높아지므로, 식 (3)에 기초하는 효과는 더 우수한 것이 된다고 생각된다.
따라서, 상기 식 (4)를 만족시킴으로써, 번쩍임을 더 억제할 수 있다.
식 (4)에 있어서, 「(Sa25-250-Sa70-250)/(Sa2.5-250-Sa25-250)」은, 0.80 이상 1.20 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.85 이상 1.15 이하인 것이 더 바람직하다.
본 명세서에 있어서, 「(Sa25-250-Sa70-250)/(Sa2.5-250-Sa25-250)」은, 16개소의 측정값의 평균값을 의미하며, 예를 들어 실시예에 기재된 방법으로 구할 수 있다. 또한, 16개소의 「(Sa25-250-Sa70-250)/(Sa2.5-250-Sa25-250)」의 표준 편차는 0.30 이하인 것이 바람직하다. 또한, 16개소의 「(Sa25-250-Sa70-250)/(Sa2.5-250-Sa25-250)」의 왜도의 절댓값은 2.0 이하인 것이 바람직하다.
본 발명의 방현 필름은, 상기 Sa2.5-250과, λs 2.5㎛ 또한 λc 50㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa2.5-50이, 하기 식 (6)을 만족시키는 것이 바람직하다.
화소 밀도 500ppi의 표시 소자의 하나의 화소의 크기는 약 50㎛이다. 따라서, 상기 식 (2)는, 화소 밀도 500ppi의 표시 소자의 하나의 화소의 크기를 초과하는, 주기가 긴 요철에 기초하는 산술 평균 조도가 작은 것을 의미하고 있다. 이 때문에, Sa2.5-250-Sa2.5-50을 0.050㎛ 이하로 함으로써, 화소 밀도 500ppi의 초고해상의 표시 소자의 번쩍임을 더 억제할 수 있다.
Sa2.5-250-Sa2.5-50은, 0.040㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.030㎛ 이하인 것이 더욱 바람직하다.
본 명세서에 있어서, Sa2.5-250-Sa2.5-50은, 16개소의 측정값의 평균값을 의미하며, 예를 들어 실시예에 기재된 방법으로 구할 수 있다. 또한, 16개소의 Sa2.5-250-Sa2.5-50의 표준 편차는 0.025㎛ 이하인 것이 바람직하다. 또한, 16개소의 Sa2.5-250-Sa2.5-50의 왜도의 절댓값은 2.0 이하인 것이 바람직하다.
본 발명의 방현 필름은, 상기 Sa2.5-250과, 상기 Sa2.5-50이, 하기 식 (7)을 만족시키는 것이 바람직하다.
Sa2.5-50/Sa2.5-250을 0.70 이상으로 함으로써, 주기가 긴 요철에 기초하는 확산을 주기가 짧은 요철에 의해 완화할 수 있어, 화소 밀도 500ppi의 초고해상의 표시 소자의 번쩍임을 더 억제할 수 있다.
Sa2.5-50/Sa2.5-250은 0.73 이상인 것이 바람직하고, 0.75 이상인 것이 더 바람직하다. Sa2.5-50/Sa2.5-250의 상한은 0.82 정도이다.
본 명세서에 있어서, Sa2.5-50/Sa2.5-250은, 16개소의 측정값의 평균값을 의미하며, 예를 들어 실시예에 기재된 방법으로 구할 수 있다. 또한, 16개소의 Sa2.5-50/Sa2.5-250의 표준 편차는 0.35 이하인 것이 바람직하다. 또한, 16개소의 Sa2.5-50/Sa2.5-250의 왜도의 절댓값은 2.0 이하인 것이 바람직하다.
본 명세서에 있어서, 삼차원 산술 평균 조도 Sa는, JIS B0601:2001에 기재되어 있는 이차원 조도 파라미터인 산술 평균 조도 Ra를 삼차원으로 확장한 것이다. 또한, 본 명세서에 있어서의 λs 및 λc는, JIS B0601:2001의 λs 및 λc에 상당하는 것이다. 또한, 본 명세서에 있어서, Sa의 측정 영역은 750㎛×750㎛이다.
Sa는, 접촉식의 표면 형상 측정기로도 측정할 수 있지만, 접촉식의 면 형상 측정기는 촉침의 선단 형상의 영향에 의해, 미세 형상의 측정에 한계가 있다. 이 때문에, Sa는 백색 간섭 현미경을 사용한 표면 형상 측정기로 측정하는 것이 바람직하다.
Sa는, 기준면에 직교 좌표축 X, Y축을 두고, 조도 곡면을 Z(x, y), 기준면의 크기를 Lx, Ly로 하면, 하기 식 (i)로 산출할 수 있다.
식 (i) 중, 「A=Lx×Ly」이다.
또한, 삼차원 조도 곡면의 데이터는 기준면(횡방향을 x축, 종방향을 y축으로 함)에 있어서 간격 d로 격자상으로 배치한 점과, 그 점의 위치에 있어서의 높이로 표시된다. x축 방향으로 i번째, y축 방향으로 j번째의 점의 위치에 있어서의 높이를 Zi,j로 하면, Sa는 하기 식 (ii)로 산출된다.
식 (ii) 중, N은 전체 점의 수를 나타낸다.
삼차원 산술 평균 조도 Sa는, 간섭 현미경 「New View」 시리즈에 부속된 측정·해석 어플리케이션 소프트웨어 「MetroPro」에 의해 산출할 수 있다.
본 명세서에 있어서의 λs 및 λc는, 상기 어플리케이션 소프트웨어의 「Microscope Application」에서 「Analyze Controls」윈도우 중의 「Filer」를 「Band Pass」, 「Filter Type」를 「Gauss Spline」으로 설정한 후, 「Filter High Wavelen」, 「Filter Low Wavelen」에서 조정할 수 있다.
본 발명의 방현 필름은, 상기 방현층이 평균 입자경 2.0 내지 5.0㎛의 입자 및 바인더 수지를 포함하고, 상기 방현층의 140㎛×140㎛의 영역을 35㎛×35㎛의 격자상의 16영역으로 분할하고, 16영역 내의 상기 입자의 개수의 평균을 NAVE, 16영역 내의 상기 입자의 개수의 표준 편차를 NSD로 하였을 때에, NSD 및 NAVE가 하기 식 (5)를 만족시키는 것이 바람직하다.
상기 식 (5)의 NSD/NAVE는, 평균값에 대한 입자의 개수의 변동을 평가하는 지표가 되는 것이며, 이른바 「변동 계수」라고 불리는 것이다. NSD/NAVE를 0.150 이하로 함으로써, 번쩍임을 더 억제할 수 있다.
NSD/NAVE는 0.140 이하인 것이 더 바람직하다.
또한, 입자의 개수는 이하와 같이 측정할 수 있다.
방현 필름을 광학 현미경으로 투과 관찰한다. 배율은 개개의 입자를 인식할 수 있으면 특별히 한정되지는 않지만 500 내지 2000배가 적합하다. 관찰 화상 중의 140㎛×140㎛의 영역을 35㎛×35㎛의 격자상의 영역으로 16분할하여, 1영역당의 입자의 개수를 산출한다. 입자가 복수의 구획에 걸쳐서 존재하는 경우는, 입자의 중심을 그 입자의 존재 개소로서 산출한다. 16영역의 개수의 평균값을 NAVE라고 하고, 표준 편차를 NSD라고 한다.
본 명세서에 있어서, NSD/NAVE는, 16개소(140㎛×140㎛의 영역이 16개소)의 측정값의 평균값을 의미하며, 예를 들어 실시예에 기재된 방법으로 구할 수 있다. 또한, 16개소의 NSD/NAVE의 표준 편차는 0.07 이하인 것이 바람직하다. 또한, 16개소의 NSD/NAVE의 왜도의 절댓값은 2.0 이하인 것이 바람직하다.
방현 필름은, JIS K7361-1:1997의 전광선 투과율이 80% 이상인 것이 바람직하고, 85% 이상인 것이 보다 바람직하고, 90% 이상인 것이 더욱 바람직하다.
방현 필름은, 해상도의 관점에서, JIS K7374:2007에 정하는 상 선명도 측정 장치를 사용하여, 0.125㎜의 폭을 갖는 광학 빗을 통과시킨 투과상 선명도가 50.0% 이상인 것이 바람직하고, 52.5% 이상인 것이 보다 바람직하고, 55.0% 이상인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 방현성의 관점에서, 80% 이하인 것이 바람직하고, 75% 이하인 것이 보다 바람직하고, 80% 이하인 것이 더욱 바람직하다.
방현 필름은, 방현층의 단층이어도 되고, 투명 기재 상에 방현층을 갖는 복층이어도 된다. 취급성 및 제조의 용이성에서는, 투명 기재 상에 방현층을 갖는 구성이 적합하다.
또한, 방현 필름은, 반사 방지층, 방오층, 대전 방지층 등의 기능성층을 갖고 있어도 된다.
방현 필름은, 상기 식 (1) 내지 (3)을 만족시키는 측과 반대측의 면이 대략 평활한 것이 바람직하다. 예를 들어, 방현 필름이 방현층의 단층인 경우, 요철면과는 반대측의 면은 대략 평활한 것이 바람직하다. 또한, 방현 필름이 투명 기재 상에 방현층을 갖는 구성인 경우, 투명 기재의 방현층을 갖는 면과는 반대측의 면은 대략 평활한 것이 바람직하다. 또한, 방현 필름이, 요철 형상을 갖는 측의 면과 반대측면의 최표면에 기능성층을 갖는 경우, 기능성층의 표면은 대략 평활한 것이 바람직하다. 여기서, 대략 평활이란, 상기 Sa2.5-250이 0.02㎛ 이하인 것을 말한다.
<방현층>
방현층 표면의 요철 형상은, 예를 들어 (A) 엠보스 롤을 사용한 방법, (B) 에칭 처리, (C) 형에 의한 성형, (D) 코팅에 의한 도막의 형성 등에 의해 형성할 수 있다. 이 방법들 중에서는, 요철 형상의 재현성의 관점에서는 (C)의 형에 의한 성형이 적합하고, 생산성 및 다품종 대응의 관점에서는 (D)의 코팅에 의한 도막의 형성이 적합하다.
형에 의한 성형은, 방현층 표면의 요철 형상과 상보적인 형상으로 이루어지는 형을 제작하고, 당해 형에 고분자 수지나 유리 등의 방현층을 구성하는 재료를 흘려 넣어 경화시킨 후, 형으로부터 취출함으로써 제조할 수 있다. 투명 기재를 사용하는 경우에는, 형에 고분자 수지 등을 흘려 넣고, 그 위에 투명 기재를 겹친 후, 고분자 수지 등을 경화시켜, 투명 기재째 형으로부터 취출함으로써 제조할 수 있다. 또한, 방현층에 입자나 첨가제를 함유시키는 경우에는, 형에 고분자 수지 등을 흘려 넣을 때, 입자나 첨가제 등도 추가로 흘려 넣어도 된다.
코팅에 의한 도막의 형성은, 바인더 수지 성분 및 입자를 함유하여 이루어지는 방현층 형성 도포액을, 그라비아 코팅, 바 코팅 등의 공지의 도포 방법에 의해 투명 기재 상에 도포하고, 필요에 따라 건조, 경화함으로써 형성할 수 있다.
입자로서는, 평균 입자경 2.0 내지 5.0㎛의 입자를 포함하는 것이 바람직하다. 또한, 평균 입자경 2.0 내지 5.0㎛의 입자에다가, 평균 1차 입자경 1 내지 50㎚의 무기 입자를 추가로 포함하는 것이 바람직하다.
이하, 평균 입자경 2.0 내지 5.0㎛의 입자를 「대입자」, 평균 1차 입자경 1 내지 50㎚의 무기 입자를 「무기 미립자」라고 칭하는 경우가 있다.
<<대입자>>
평균 입자경 2.0 내지 5.0㎛의 입자(대입자)는, 유기 입자 및 무기 입자 모두 사용할 수 있다. 대입자의 평균 입자경을 2.0㎛ 이상으로 함으로써, 식 (1) 및 표면 헤이즈를 상기 범위로 하기 쉽게 할 수 있다. 또한, 대입자의 평균 입자경을 5.0㎛ 이하로 함으로써, 입자에 의한 볼록부의 크기를 작게 하여 볼록부의 수를 증가시킬 수 있으므로, 주기가 짧은 요철을 형성할 수 있어, 식 (2) 내지 (4), (6) 내지 (7)을 상기 범위로 하기 쉽게 할 수 있다.
대입자의 평균 입자경은, 2.5 내지 4.5㎛인 것이 바람직하고, 3.0 내지 4.0㎛인 것이 더 바람직하다.
또한, 대입자는 2종 이상의 평균 입자경의 것을 혼합해도 되지만, 식 (5)를 만족시키기 쉽게 하는 관점에서는, 평균 입자경이 1종인 것을 사용하는 것이 바람직하다.
또한, 대입자의 평균 입자경의 변동은, 1종의 평균 입자경의 입자에 대해, 90% 이상의 입자가 평균 입자경±0.5㎛ 내인 것이 바람직하고, 평균 입자경±0.4㎛ 내인 것이 보다 바람직하고, 평균 입자경±0.3㎛ 내인 것이 더욱 바람직하다.
평균 입자경의 변동을 상기 범위로 함으로써, 극단적으로 큰 입자경의 입자의 존재 확률이 감소하고, 나아가 주기가 긴 요철의 비율이 감소하므로, 식 (2) 내지 (4), (6) 내지 (7)을 상기 범위로 하기 쉽게 할 수 있다.
대입자의 평균 입자경은, 이하의 (i) 내지 (iii)의 작업에 의해 산출할 수 있다.
(i) 방현 필름을 광학 현미경에 의해 투과 관찰 화상을 촬상한다. 배율은 500 내지 2000배가 바람직하다.
(ii) 관찰 화상으로부터 임의의 10개의 대입자를 추출하고, 개개의 대입자의 입자경을 산출한다. 입자경은, 대입자의 단면을 임의의 평행한 2개의 직선 사이에 끼웠을 때, 당해 2개의 직선간 거리가 최대가 되는 2개의 직선의 조합에 있어서의 직선간 거리로서 측정된다.
(iii) 동일한 샘플의 다른 화면의 관찰 화상에 있어서 마찬가지의 작업을 5회 행하여, 합계 50개분의 입자경의 수 평균으로부터 얻어지는 값을 대입자의 평균 입자경으로 한다.
대입자는, 구형, 원반형, 럭비볼형, 부정형 등의 형상을 들 수 있고, 또한 이들 형상의 중공 입자, 다공질 입자 및 중실 입자 등을 들 수 있다. 이들 중에서도, 번쩍임 억제의 관점에서는, 구형의 중실 입자가 적합하다.
유기 입자로서는, 폴리메틸메타크릴레이트, 폴리아크릴-스티렌 공중합체, 멜라민 수지, 폴리카르보네이트, 폴리스티렌, 폴리염화비닐, 벤조구아나민-멜라민-포름알데히드 축합물, 실리콘, 불소계 수지 및 폴리에스테르계 수지 등으로 이루어지는 입자를 들 수 있다.
무기 입자로서는, 실리카, 알루미나, 지르코니아 및 티타니아 등으로 이루어지는 입자를 들 수 있다.
상술한 대입자 중에서도, 분산 제어의 용이함의 관점에서 유기 입자가 적합하다. 또한, 유기 입자는 비중이 가벼워, 무기 미립자와 병용함으로써 방현층의 표면 부근으로 유기 입자가 떠오르기 쉬워지고, 방현층 표면의 볼록부의 수를 증가시켜 주기가 긴 요철의 비율을 감소시킬 수 있으므로, 식 (2) 내지 (4), (6) 내지 (7)을 상기 범위로 하기 쉽게 할 수 있다.
유기 입자 중에서도, 폴리아크릴-스티렌 공중합체 입자가 적합하다. 폴리아크릴-스티렌 공중합체 입자는, 굴절률 및 친소수의 정도의 제어가 용이하다는 점에서, 내부 헤이즈 및 분산의 제어를 하기 쉬운 점에서 양호하다. 대입자의 분산성을 양호하게 함으로써, 주기가 긴 요철을 저감시킬 수 있으므로, 식 (2), (3), (6) 및 (7)을 만족시키기 쉽게 할 수 있다. 또한, 대입자의 분산성을 양호하게 함으로써, 식 (5)를 만족시키기 쉽게 할 수 있다.
대입자로서 폴리아크릴-스티렌 공중합체 입자를 사용하는 경우, 분산성의 관점에서, 스티렌의 비율을 증가시켜, 입자의 소수성을 높게 하는 것이 바람직하다. 폴리아크릴-스티렌 공중합체 입자를 구성하는 아크릴과 스티렌의 비율은, 입자의 굴절률을 판단 기준으로 할 수 있다. 구체적으로는, 스티렌은 아크릴보다 굴절률이 높기 때문에, 폴리아크릴-스티렌 공중합체 입자의 굴절률이 높을수록, 스티렌의 비율이 높아, 소수성이 높아지는 경향이 있다.
또한, 내부 헤이즈를 상기 범위로 하는 관점에서는, 대입자와 바인더 수지의 굴절률 차를 0.01 내지 0.10으로 하는 것이 바람직하다.
대입자의 함유량은, 식 (1) 내지 (4), (6) 내지 (7), 그리고 표면 헤이즈 및 내부 헤이즈를 상기 범위로 하기 쉽게 하는 관점에서, 방현층을 형성하는 전고형분 중의 2 내지 25질량%인 것이 바람직하고, 5 내지 20질량%인 것이 더 바람직하다.
<<무기 미립자>>
평균 입자경 1 내지 50㎚의 무기 입자(무기 미립자)로서는, 실리카, 알루미나, 지르코니아 및 티타니아 등으로 이루어지는 미립자를 들 수 있다. 이들 중에서도, 내부 헤이즈의 발생을 억제하기 쉬운 실리카가 적합하다.
방현층 형성 도포액 중에 무기 미립자를 포함함으로써, 도포액 중에서 대입자가 분산되기 쉬워지고, 또한 비중이 가벼운 대입자(단, 대입자가 유기 입자인 경우)가 방현층의 표면 부근으로 떠오르기 쉬워짐으로써, 주기가 긴 요철이 감소하기 때문에, 식 (2) 내지 (7)을 상기 범위로 하기 쉽게 할 수 있다. 또한, 방현층 형성 도포액 중에 무기 미립자를 포함함으로써, 방현층의 경화 수축이 억제되어, 식 (1) 및 표면 헤이즈를 상기 범위로 하기 쉽게 할 수 있다.
무기 미립자의 평균 입자경은, 2 내지 45㎚인 것이 바람직하고, 5 내지 40㎚인 것이 더 바람직하다.
무기 미립자의 평균 입자경은, 이하의 (i) 내지 (iii)의 작업에 의해 산출할 수 있다.
(i) 방현 필름의 단면을 TEM 또는 STEM에 의해 촬상한다. TEM 또는 STEM의 가속 전압은 10kv 내지 30kV, 배율은 5만 내지 30만배로 하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 히타치 하이테크놀러지즈사 제조의 제품명 「S-4800(TYPE2)」를 사용하여, STEM 관찰 모드로 관찰할 수 있다. 샘플을 샘플대에 놓을 크기로 커트 후, 은 페이스트나 카본 페이스트로 첩부하여, 도통을 양호하게 하기 위해 Pt-Pd를 20초 정도 스퍼터한다. 상기 가속 전압, 에미션 전류는 10μA, 검출기: TE로, 포커스를 조절하여 콘트라스트 및 밝기를 각 입자의 윤곽이 분별되는지 관찰하면서 5만 내지 30만배로 적절하게 조절한다. 사진의 촬영 시에는 또한, 애퍼쳐를 빔 모니터 조리개 3, 대물 렌즈 조리개를 3으로 하고, 또한 W.D.를 8㎜로 해도 된다. 콘트라스트 부족으로 입자 윤곽을 보기 어려운 경우에는, 전처리로서, 사산화오스뮴, 사산화루테늄, 인텅스텐산 등 염색 처리를 실시해도 된다.
(ii) 관찰 화상으로부터 임의의 10개의 무기 미립자를 추출하고, 개개의 무기 미립자의 입자경을 산출한다. 입자경은, 무기 미립자의 단면을 임의의 평행한 2개의 직선 사이에 끼웠을 때, 당해 2개의 직선간 거리가 최대가 되는 2개의 직선의 조합에 있어서의 직선간 거리로서 측정된다.
(iii) 동일한 샘플의 다른 화면의 관찰 화상에 있어서 마찬가지의 작업을 5회 행하여, 합계 50개분의 입자경의 수 평균으로부터 얻어지는 값을 무기 미립자의 평균 입자경으로 한다.
무기 미립자는, 표면 처리에 의해 반응성 기가 도입된 반응성 무기 미립자가 바람직하다. 반응성 기를 도입함으로써, 방현층 중에 다량의 무기 미립자를 함유시키는 것이 가능해져, 대입자를 분산시키기 쉽게 할 수 있어, 식 (2) 내지 (7)을 만족시키기 쉽게 할 수 있다.
반응성 기로서는, 중합성 불포화 기가 적합하게 사용되고, 바람직하게는 광 경화성 불포화 기이고, 특히 바람직하게는 전리 방사선 경화성 불포화 기이다. 그 구체예로서는, (메트)아크릴로일기, (메트)아크릴로일옥시기, 비닐기 및 알릴기 등의 에틸렌성 불포화 결합, 그리고 에폭시기 등을 들 수 있다.
이러한 반응성 무기 미립자는, 실란 커플링제로 표면 처리한 무기 미립자를 들 수 있다. 무기 미립자의 표면을 실란 커플링제로 처리하는 데는, 무기 미립자에 실란 커플링제를 스프레이하는 건식법이나, 무기 미립자를 용제에 분산시키고 나서 실란 커플링제를 첨가하여 반응시키는 습식법 등을 들 수 있다.
무기 미립자의 함유량은, 방현층을 형성하는 전고형분 중의 10 내지 90질량%인 것이 바람직하고, 20 내지 70질량%인 것이 보다 바람직하고, 35 내지 50질량%인 것이 더욱 바람직하다. 당해 범위로 함으로써, 대입자의 분산성이 양호해지는 동시에, 방현층의 중합 수축이 억제되어, 식 (1) 및 표면 헤이즈를 상기 범위로 하기 쉽게 할 수 있다.
또한, 식 (1) 내지 (7), 그리고 표면 헤이즈를 상기 범위로 하기 쉽게 하는 관점에서, 방현층 중에 있어서의 대입자 및 무기 미립자의 함유량의 비(투광성 입자의 함유량/무기 미립자의 함유량)는, 0.1 내지 0.4인 것이 바람직하고, 0.2 내지 0.3인 것이 더 바람직하다.
방현층의 바인더 수지는, 열경화성 수지 조성물의 경화물 또는 전리 방사선 경화성 수지 조성물의 경화물을 포함하는 것이 바람직하고, 기계적 강도를 더 좋게 하는 관점에서, 전리 방사선 경화성 수지 조성물의 경화물을 포함하는 것이 더 바람직하다. 또한, 방현층 도포액의 점도를 높게 함으로써, 대입자의 응집을 억제하고, 식 (2) 내지 (7)을 상기 범위로 하기 쉽게 하는 관점에서, 열가소성 수지를 포함하는 것이 바람직하다.
열경화성 수지 조성물은, 적어도 열경화성 수지를 포함하는 조성물이며, 가열에 의해 경화되는 수지 조성물이다.
열경화성 수지로서는, 아크릴 수지, 우레탄 수지, 페놀 수지, 요소 멜라민 수지, 에폭시 수지, 불포화 폴리에스테르 수지, 실리콘 수지 등을 들 수 있다. 열경화성 수지 조성물에는, 이들 경화성 수지에, 필요에 따라서 경화제가 첨가된다.
전리 방사선 경화성 수지 조성물은, 전리 방사선 경화성 관능기를 갖는 화합물(이하, 「전리 방사선 경화성 화합물」이라고도 함)을 포함하는 조성물이다. 전리 방사선 경화성 관능기로서는, (메트)아크릴로일기, 비닐기, 알릴기 등의 에틸렌성 불포화 결합기, 및 에폭시기, 옥세타닐기 등을 들 수 있다. 전리 방사선 경화성 화합물로서는, 에틸렌성 불포화 결합기를 갖는 화합물이 바람직하고, 에틸렌성 불포화 결합기를 2개 이상 갖는 화합물이 보다 바람직하고, 그 중에서도, 에틸렌성 불포화 결합기를 2개 이상 갖는 다관능성 (메트)아크릴레이트계 화합물이 더욱 바람직하다. 다관능성 (메트)아크릴레이트계 화합물로서는, 모노머 및 올리고머 모두 사용할 수 있다.
또한, 전리 방사선이란, 전자파 또는 하전 입자선 중, 분자를 중합 혹은 가교할 수 있는 에너지 양자를 갖는 것을 의미하고, 통상 자외선(UV) 또는 전자선(EB)이 사용되지만, 그 밖에, X선, γ선 등의 전자파, α선, 이온선 등의 하전 입자선도 사용 가능하다.
다관능성 (메트)아크릴레이트계 화합물 중, 2관능 (메트)아크릴레이트계 모노머로서는, 에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 비스페놀 A 테트라에톡시디아크릴레이트, 비스페놀 A 테트라프로폭시디아크릴레이트, 1,6-헥산디올디아크릴레이트 등을 들 수 있다.
3관능 이상의 (메트)아크릴레이트계 모노머로서는, 예를 들어 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, 이소시아누르산 변성 트리(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다.
또한, 상기 (메트)아크릴레이트계 모노머는, 분자 골격의 일부를 변성하고 있는 것이어도 되고, 에틸렌옥시드, 프로필렌옥시드, 카프로락톤, 이소시아누르산, 알킬, 환상 알킬, 방향족, 비스페놀 등에 의한 변성이 이루어진 것도 사용할 수 있다.
또한, 다관능성 (메트)아크릴레이트계 올리고머로서는, 우레탄(메트)아크릴레이트, 에폭시(메트)아크릴레이트, 폴리에스테르(메트)아크릴레이트, 폴리에테르(메트)아크릴레이트 등의 아크릴레이트계 중합체 등을 들 수 있다.
우레탄(메트)아크릴레이트는, 예를 들어 다가 알코올 및 유기 디이소시아네이트와 히드록시(메트)아크릴레이트의 반응에 의해 얻어진다.
또한, 바람직한 에폭시(메트)아크릴레이트는, 3관능 이상의 방향족 에폭시 수지, 지환족 에폭시 수지, 지방족 에폭시 수지 등과 (메트)아크릴산을 반응시켜 얻어지는 (메트)아크릴레이트, 2관능 이상의 방향족 에폭시 수지, 지환족 에폭시 수지, 지방족 에폭시 수지 등과 다염기산과 (메트)아크릴산을 반응시켜 얻어지는(메트)아크릴레이트 및 2관능 이상의 방향족 에폭시 수지, 지환족 에폭시 수지, 지방족 에폭시 수지 등과 페놀류와 (메트)아크릴산을 반응시켜 얻어지는 (메트)아크릴레이트이다.
상기 전리 방사선 경화성 화합물은 1종을 단독으로, 또는 2종 이상을 조합하여 사용할 수 있다.
전리 방사선 경화성 화합물이 자외선 경화성 화합물인 경우에는, 전리 방사선 경화성 조성물은, 광중합 개시제나 광중합 촉진제 등의 첨가제를 포함하는 것이 바람직하다.
광중합 개시제로서는, 아세토페논, 벤조페논, α-히드록시알킬페논, 미힐러케톤, 벤조인, 벤질디메틸케탈, 벤조일벤조에이트, α-아실옥심에스테르, 티오크산톤류 등에서 선택되는 1종 이상을 들 수 있다.
광중합 촉진제는, 경화 시의 공기에 의한 중합 저해를 경감시켜 경화 속도를 빠르게 할 수 있는 것이며, 예를 들어 p-디메틸아미노벤조산이소아밀에스테르, p-디메틸아미노벤조산에틸에스테르 등에서 선택되는 1종 이상을 들 수 있다.
열가소성 수지로서는, 아크릴계 수지, 셀룰로오스계 수지, 우레탄계 수지, 염화비닐계 수지, 폴리에스테르계 수지, 폴리올레핀계 수지, 폴리카르보네이트, 나일론, 폴리스티렌 및 ABS 수지 등을 사용할 수 있다. 이들 중에서도, 아크릴계 수지가 바람직하고, 아크릴계 수지 중에서도 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA)가 적합하다.
또한, 열가소성 수지는, 방현층 도포액의 점도를 높게 함으로써, 대입자의 응집을 억제하고, 식 (2) 내지 (7)을 상기 범위로 하기 쉽게 하는 관점에서, GPC법으로 측정한 폴리스티렌 환산의 질량 평균 분자량이 2만 이상인 것이 바람직하고, 5만 이상인 것이 더 바람직하다. 열가소성 수지의 질량 평균 분자량의 상한은, 바람직하게는 20만, 보다 바람직하게는 10만이다.
방현층의 바인더 수지의 전량에 있어서의 열가소성 수지의 함유 비율은, 10 내지 30질량%인 것이 바람직하고, 15 내지 25질량%인 것이 보다 바람직하다.
방현층의 두께는, 컬 억제, 기계적 강도, 경도 및 인성과의 밸런스의 관점에서, 2 내지 10㎛인 것이 바람직하고, 4 내지 8㎛인 것이 더 바람직하다.
또한, 식 (1) 내지 (4), (6) 내지 (7), 그리고 표면 헤이즈를 상기 범위로 하기 쉽게 하는 관점에서, 방현층의 두께와 대입자의 평균 입자경의 비(대입자의 평균 입자경/방현층의 두께)는, 0.50 내지 0.85인 것이 바람직하고, 0.55 내지 0.80인 것이 더 바람직하다.
방현층의 두께의 변동은, 평균 막 두께에 대해 ±15% 이내인 것이 바람직하고, ±10% 이내인 것이 보다 바람직하고, ±7% 이내인 것이 더욱 바람직하고, 5% 이내인 것이 보다 더 바람직하다.
방현층의 두께는, 주사형 투과 전자 현미경(STEM)에 의한 방현 필름의 단면 사진의 임의의 개소를 20점 선택하여, 그 평균값에 의해 산출할 수 있다.
방현층 형성 도포액에는, 통상, 점도를 조절하거나, 각 성분을 용해 또는 분산 가능하게 하거나 하기 위해 용제를 사용한다. 용제의 종류에 따라, 도포, 건조시킨 후의 방현층의 표면 형상이 다르기 때문에, 용제의 포화 증기압, 투명 기재에 대한 용제의 침투성 등을 고려하여 용제를 선정하는 것이 바람직하다.
구체적으로는, 용제는, 예를 들어 케톤류(아세톤, 메틸에틸케톤, 메틸이소부틸케톤, 시클로헥사논 등), 에테르류(디옥산, 테트라히드로푸란 등), 지방족 탄화수소류(헥산 등), 지환식 탄화수소류(시클로헥산 등), 방향족 탄화수소류(톨루엔, 크실렌 등), 할로겐화 탄소류(디클로로메탄, 디클로로에탄 등), 에스테르류(아세트산메틸, 아세트산에틸, 아세트산부틸 등), 알코올류(부탄올, 시클로헥산올 등), 셀로솔브류(메틸셀로솔브, 에틸셀로솔브 등), 셀로솔브아세테이트류, 술폭시드류(디메틸술폭시드 등), 아미드류(디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드 등) 등을 예시할 수 있고, 이들의 혼합물이어도 된다.
일반적인 도포액에서는, 입자의 응집을 방지하기 위해, 건조 속도가 빠른 용제가 선택된다.
그러나 하기의 이유로부터, 방현층 도포액 중에 무기 미립자 및/또는 열가소성 수지를 포함하는 경우에는, 방현층 도포액의 용제로서 건조 속도가 느린 용제를 포함하는 것이 바람직하다.
먼저, 방현층 도포액 중에 무기 미립자 및/또는 열가소성 수지를 포함하는 경우, 대입자의 응집을 억제할 수 있다. 즉, 방현층 도포액 중에 무기 미립자 및/또는 열가소성 수지를 포함하는 경우, 방현층 도포액에 건조 속도가 느린 용제를 포함하고 있어도, 대입자의 응집을 억제할 수 있다.
그리고 방현층 도포액 중에 무기 미립자를 포함하면, 비중이 가벼운 유기 입자가 방현층의 표면 부근으로 떠오르기 쉬워져, 방현층 표면의 볼록부의 수를 증가시켜 주기가 긴 요철의 비율을 감소시킬 수 있다. 여기서, 유기 입자가 방현층의 표면 부근으로 떠오르기 위해서는, 일정 시간이 필요하다. 즉, 방현층 도포액 중에 건조 속도가 느린 용제가 포함되어 있는 쪽이, 유기 입자가 방현층의 표면 부근으로 떠오르기 쉬워진다.
이상의 점에서, 방현층 도포액 중에 무기 미립자 및/또는 열가소성 수지를 포함하는 경우에는, 방현층 도포액의 용제로서 건조 속도가 느린 용제를 포함하는 것이 바람직하다. 구체적으로는, 방현층 도포액의 용제로서는, 상대 증발 속도(n-아세트산부틸의 증발 속도를 100으로 하였을 때의 상대 증발 속도)가 100 미만인 용제를, 전체 용제 중의 5 내지 30질량% 포함하는 것이 바람직하고, 10 내지 20질량% 포함하는 것이 더 바람직하다. 건조 속도가 느린 용제의 상대 증발 속도는 30 내지 90인 것이 바람직하고, 30 내지 50인 것이 더 바람직하다.
상대 증발 속도의 예를 들면, 톨루엔이 195, 메틸에틸케톤(MEK)이 465, 메틸이소부틸케톤(MIBK)이 118, 프로필렌글리콜모노메틸에테르(PGME)가 68, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트가 34이다.
또한, 방현층 형성 도포액의 건조를 빠르게 하기 위해, 방현층을 형성할 때, 건조 조건을 제어하는 것이 바람직하다.
건조 조건은, 건조 온도 및 건조기 내의 풍속에 의해 제어할 수 있다. 구체적인 건조 온도로서는, 30 내지 120℃, 건조 풍속으로는 0.2 내지 50m/s로 하는 것이 바람직하다. 또한, 건조에 의해 방현층의 표면 형상을 제어하기 위해, 전리 방사선의 조사는 건조 후에 행하는 것이 적합하다.
방현층 형성 도포액에는, 레벨링제를 함유시켜도 된다. 레벨링제는, 실리콘계 레벨링제 및 불소계 레벨링제를 들 수 있다.
그러나 방현층의 표면 형상을 과잉으로 레벨링시키면, 식 (2), (3), (6) 및 (7)을 만족시키기 어려워질 가능성이 있다. 이 때문에, 레벨링제의 첨가량으로서는, 방현층 형성 도포액의 전고형분에 대해 0.01 내지 0.5중량%가 바람직하고, 0.05 내지 0.2중량%가 더 바람직하다.
<투명 기재>
방현 필름의 투명 기재로서는, 광투과성, 평활성, 내열성을 구비하고, 기계적 강도가 우수한 것인 것이 바람직하다.
이러한 투명 기재로서는, 폴리에스테르, 트리아세틸셀룰로오스(TAC), 셀룰로오스디아세테이트, 셀룰로오스아세테이트부티레이트, 폴리아미드, 폴리이미드, 폴리에테르술폰, 폴리술폰, 폴리프로필렌, 폴리메틸펜텐, 폴리염화비닐, 폴리비닐아세탈, 폴리에테르케톤, 폴리메타크릴산메틸, 폴리카르보네이트, 폴리우레탄 및 비정질 올레핀(Cyclo-Olefin-Polymer: COP) 등의 플라스틱 필름을 들 수 있다. 투명 기재는, 2매 이상의 플라스틱 필름을 접합한 것이어도 된다.
상기한 것 중에서도, 기계적 강도나 치수 안정성의 관점에서는, 연신 가공, 특히 2축 연신 가공된 폴리에스테르(폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트)가 바람직하다. 또한, TAC, 아크릴은 광투과성 광학적 등방성의 관점에서 적합하다. 또한, COP, 폴리에스테르는 내후성이 우수하다는 점에서 적합하다. 또한, 리타데이션값 3000 내지 30000㎚의 플라스틱 필름 및 1/4 파장 위상차의 플라스틱 필름은, 편광 선글라스를 통해 액정 디스플레이의 화상을 관찰한 경우에, 표시 화면에 색이 다른 불균일이 관찰되는 것을 억제할 수 있다는 점에서 적합하다.
투명 기재의 두께는, 5 내지 300㎛인 것이 바람직하고, 30 내지 200㎛인 것이 더 바람직하다.
방현 필름을 박막화하고자 하는 경우는, 투명 기재의 두께의 바람직한 상한은 60㎛이고, 더 바람직한 상한은 50㎛이다. 또한, 투명 기재가 폴리에스테르, COP, 아크릴 등의 저투습성 기재인 경우에는, 박막화를 위한 투명 기재의 두께의 바람직한 상한은 40㎛이고, 더 바람직한 상한은 20㎛이다. 대화면인 경우라도, 투명 기재의 두께의 상한이 전술한 범위라면, 변형을 발생시키기 어렵게 할 수 있다는 점에서도 적합하다. 또한, 투명 기재의 두께는, 디지매틱 인디케이터 표준 외측 마이크로미터(미츠토요사 제조, 제품 번호 「MDC-25SX」) 등으로 측정할 수 있다. 투명 기재의 두께는, 임의의 10점을 측정한 평균값이 상기 수치이면 되고, 두께의 변동은 평균값±8%의 범위인 것이 바람직하고, 평균값±4%의 범위인 것이 보다 바람직하고, 평균값±3%의 범위인 것이 더욱 바람직하다(두께의 평균값이 50㎛이면, 각 두께가 46 내지 54㎛의 범위에 들어가는 것이 바람직하고, 각 두께가 48 내지 52㎛의 범위에 들어가는 것이 바람직하고, 각 두께가 48.5 내지 51.5㎛의 범위에 들어가는 것이 더욱 바람직함).
투명 기재의 표면에는, 접착성 향상을 위해, 코로나 방전 처리, 산화 처리 등의 물리적인 처리 외에, 앵커제 또는 프라이머라고 불리는 도료의 도포를 미리 행해도 된다.
방현 필름은, 반사 방지층, 방오층, 대전 방지층 등의 기능성층을 갖고 있어도 된다.
<크기, 형상 등>
방현 필름은 매엽상이어도 되고 롤 형상이어도 된다.
또한, 매엽의 크기는 특별히 한정되지 않지만, 일반적으로는, 크기는 대각으로 2 내지 500인치 정도이다. 롤 형상의 폭 및 길이는 특별히 한정되지 않지만, 일반적으로는, 폭은 500 내지 3000㎜, 길이는 500 내지 5000m 정도이다.
또한, 매엽의 형상도 특별히 한정되지 않으며, 예를 들어 다각형(삼각형, 사각형, 오각형 등)이나 원형이어도 되고, 랜덤한 부정형이어도 된다.
[표시 장치]
본 발명의 표시 장치는, 표시 소자와, 표시 소자의 광 출사면측에 배치된 방현 필름을 갖는 표시 장치이며, 상기 방현 필름으로서, 상술한 본 발명의 방현 필름을, 식 (1) 내지 (3)을 만족시키는 측의 면이 상기 표시 소자와 반대측을 향하도록 배치하여 이루어지는 것이다.
표시 소자로서는, 액정 표시 소자, EL 표시 소자(유기 EL 표시 소자, 무기 EL 표시 소자), 플라스마 표시 소자 등을 들 수 있고, 더욱이 마이크로 LED 표시 소자 등의 LED 표시 소자를 들 수 있다. 이들 표시 소자가, 화소 밀도가 300ppi 이상인 초고해상의 표시 소자일 때, 번쩍임 억제의 효과가 현저하게 발휘된다는 점에서 바람직하다. 또한, 표시 소자의 화소 밀도는 300ppi 내지 500ppi인 것이 더 바람직하다.
액정 표시 소자로서는, TN 방식, STN 방식, TSTN 방식, IPS 방식, VA 방식, 멀티 도메인 방식, OCB 방식 등을 들 수 있다. 또한, 이들 중 어느 방식에 터치 패널 기능을 내장하여 이루어지는, 인셀 터치 패널 액정 소자도 들 수 있다.
액정 표시 소자 중에서도 TN 방식은, 내부 헤이즈를 높게 하였을 때에 암실 환경하의 콘트라스트가 저하되는 경향이 있지만, 본 발명에서는, 방현 필름의 내부 헤이즈를 억제하고 있으므로, TN 방식의 액정 표시 소자를 사용한 경우라도 콘트라스트를 양호하게 할 수 있다.
또한, 본 발명의 표시 소자는, 터치 패널을 구비한 표시 장치여도 된다.
터치 패널로서는, 저항막식, 정전 용량식, 전자 유도식, 적외선식, 초음파식 등의 방식을 들 수 있다.
방현 필름은, 예를 들어 이하의 순으로 표시 소자의 전방면에 설치할 수 있다.
(a) 표시 소자/표면 보호판/방현 필름
(b) 표시 소자/방현 필름
(c) 표시 소자/방현 필름을 표면에 갖는 터치 패널
실시예
다음으로, 본 발명을 실시예에 의해 더욱 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들 예에 의해 전혀 한정되는 것은 아니다. 또한, 「부」 및 「%」는 특별히 정함이 없는 한 질량 기준으로 한다.
1. 측정 및 평가
1-1. 헤이즈 및 전광선 투과율
눈으로 보아 티끌이나 흠집 등의 이상점이 없는 것을 확인한 후, 실시예 및 비교예의 방현 필름을 10㎝×10㎝로 절단한 샘플 A를 준비하였다.
헤이즈 미터(HM-150, 무라카미 시키사이 기쥬츠 겐큐죠 제조)를 사용하여, 샘플 A의 전체 헤이즈(JIS K7136:2000) 및 전광선 투과율(JIS K7361-1:1997)을 측정하였다. 측정은 샘플 A마다 16개소(도 6 참조)에서 행하였다.
또한, 각 샘플 A의 방현층측의 표면에, 투명 점착제(파낙사 제조, PD-S1, 두께 25㎛)를 통해, 두께 80㎛의 TAC 필름(후지 필름사 제조, TD80UL)을 첩부함으로써 요철 형상을 찌부러뜨려 평탄하게 하여, 표면 형상 기인의 헤이즈의 영향을 없앤 샘플 B를 제작하였다. 샘플 B의 헤이즈를 측정하여, 내부 헤이즈(Hi)를 구하였다. 측정은 샘플 B마다 16개소(도 6 참조)에서 행하였다. 그리고 전체 헤이즈로부터 내부 헤이즈를 차감하여, 표면 헤이즈(Hs)를 구하였다.
헤이즈 및 전광선 투과율의 측정 시의 분위기는, 온도는 23℃±5℃, 습도 50%±10%로 하였다. 또한, 측정 개시 전에, 각 샘플을 23℃±5℃, 습도 50%±10%의 분위기에 10분 이상 방치하였다. 광 입사면은 투명 기재측으로 하고, 지문이 묻지 않도록, 또한 주름이 생기지 않도록 설치하였다.
16개소의 평균값을, 각 실시예 및 비교예의 표면 헤이즈(Hs), 내부 헤이즈(Hi) 및 전광선 투과율(Tt)로 하였다.
1-2. 방현 필름의 삼차원 산술 평균 조도 Sa
눈으로 보아 티끌이나 흠집 등의 이상점이 없는 것을 확인한 후, 실시예 및 비교예의 방현 필름을 10㎝×10㎝로 절단하였다. 절단한 방현 필름의 투명 기재측의 면을 광학 투명 점착제(25㎛ 두께, 파낙 제조 PD-S1)를 통해, 세로 10㎝×가로 10㎝의 크기의 유리판(두께 2.0㎜)을 접합한 샘플 C를 제작하였다.
백색 간섭 현미경(New View 7300, Zygo사 제조)을 사용하여, 계측 스테이지에 샘플 C가 고정 또한 밀착된 상태가 되도록 세트한 후, 이하의 조건에서, 방현 필름의 표면 형상의 측정 및 해석을 행하였다. 측정에는 MetroPro ver9.0.10의 Microscope Stitching Application을 사용하여 복수 화상을 자동적으로 서로 연결하여 측정하였다. 해석에는 MetroPro ver8.3.2의 Microscope Application을 사용하여, Filter High Wavelen(λs에 상당) 및 Filter Low Wavelen(λc에 상당)을 적절하게 변경하여 해석을 행하고, 화면에 표시되는 Ra를 각 Sa로 하여, Sa2.5-250, Sa2.5-70, Sa2.5-50, Sa25-250 및 Sa70-250을 산출하였다. 또한, Sa2.5-250 등의 값에 기초하여, 식 (2) 내지 (4), 식 (6) 내지 (7)의 값을 산출하였다. 결과를 표 1에 나타낸다.
측정은 샘플 C마다 16개소(도 6 참조)에서 행하고, 16개소의 평균에 의해, 각 실시예 및 비교예의 식 (1) 내지 (4), 식 (6) 내지 (7)의 값을 산출하였다.
또한, 측정 시의 분위기는, 온도는 23℃±5℃, 습도 50%±10%로 하였다. 또한, 측정 개시 전에, 각 샘플 C를 23℃±5℃, 습도 50%±10%의 분위기에 10분 이상 방치하였다.
<측정 조건>
대물 렌즈: 50× Mirau
[Measurement Controls]
Acquisition Mode: Scan
Camera Mode: 496×496 70Hz
Subtract Sys Err: Off
AGC: Off
Phase Res: High
Connetion Order: Location
Discon Action: Filter
Min Mod(%): 7
Min Area Size: 7
Scan Direction: Downward
Image Zoom: ×1
Remove Fringes: ON
Number of Averages: 0
FDA Noise Threshold: 10
Scan Length: 10um bipolar
Extended Scan Length: 1000㎛
FDA Res: High 2G
카메라 해상도(1점당의 간격): 0.44㎛
[Stitch Controls]
Type: X & Y Size
Size X: 0.75㎜
Size Y: 0.75㎜
Overlap(%): 10
측정 영역: 750㎛×750㎛
(해석 조건)
Removed: None
Trim: 0
Data Fill: On
Data Fill Max: 100
Filter: BandPass
Filter Type: GaussSpline
Filter Trim: Off
Remove spikes: on
Spike Height(xRMS): 2.5
1-3. 방현층의 입자의 개수의 측정
광학 현미경(VHX-200, 키엔스사 제조)을 사용하여, 투과, 배율 1000배, 측사 조명, 촬영 사이즈-선명으로 상술한 샘플 A의 방현 필름을, 평탄한 상태로 셀로판테이프(등록상표)나 추 등으로 관찰대에 적절하게 고정하고, 방현 필름의 면이 현미경의 광축과 수직이 되도록 하고, 대입자의 윤곽이 선명해지도록 포커스를 맞추어, 투과 관찰 화상을 촬영하였다. 관찰 화상 중의 140㎛×140㎛의 영역을 35㎛×35㎛ 사방의 바둑판 눈 형상으로 16영역으로 분할하여, 각각의 영역에서의 대입자의 개수를 산출하였다. 16영역의 개수의 평균값을 NAVE, 표준 편차를 NSD로 하여 NSD/NAVE를 산출하였다. 측정은 샘플 A마다 16개소(도 6 참조)에서 행하였다. 16개소의 NSD/NAVE의 평균값을 표 1에 나타낸다.
1-4. 번쩍임
방현 필름의 투명 기재(1)측의 면과, 블랙 매트릭스(유리 두께 0.7㎜, 블랙 매트릭스의 화소 밀도가 350ppi 상당)(300)의 매트릭스가 형성되어 있지 않은 측의 면을, 주름이나 지문 등의 오염, 티끌·에어 혼입이 가능한 한 없도록 투명 점착제층(200)(25㎛ 두께, 파낙 제조 PD-S1)을 통해 접합하여, 번쩍임 평가용 샘플을 제작하였다.
암실하에서 평가용 샘플의 블랙 매트릭스측으로부터, 백색면 광원(500)(HAKUBA사 제조, LIGHTBOX, 평균 휘도 1000cd/㎡)에서 광을 조사하여, 의사적으로 번쩍임을 발생시켜, 방현층(2)측으로부터 CCD 카메라(600)(KP-M1, C 마운트 어댑터, 접사 링; PK-11A 니콘, 카메라 렌즈; 50㎜, F1.4s NIKKOR)로 촬영하였다. 백색면 광원(500)과 블랙 매트릭스(300)의 거리는 70㎜, CCD 카메라(600)와 방현층(2)의 거리는 200㎜로 하고, CCD 카메라의 포커스는 방현 필름에 맞도록 조절하였다. 도 5는 전술한 측정을 행할 때의 개략도이다.
화상 처리 소프트웨어(ImagePro Plus ver.6.2; Media Cybernetics사 제조)를 사용하여, CCD 카메라로 촬영한 화상을 화상 보드(Pro-Series Capture Kit Spectrim Pro For Windows 2000 & XP Pro Version 5.1)를 통해 퍼스널 컴퓨터로 가져와, 각 화소의 휘도의 집합체로 이루어지는 화상 데이터를 얻었다. 또한, 동 소프트웨어를 사용하여 다음과 같이 해석을 행하였다. 또한, 가져올 때에는, 메뉴→가져오기→비디오/디지털로 표시되는 가져오기 화면 데이터 중, 휘도를 32, 콘트라스트를 40, 색상을 32, 채도를 32로 설정하고, 그 밖의 항목은 디폴트의 설정에 따랐다.
먼저, 가져온 화상 데이터로부터 200×160 픽셀(샘플상에서 10㎜×8㎜)의 평가 개소를 선택하여, 당해 평가 개소에 있어서, 16bit 그레이 스케일로 변환하였다.
다음으로, 필터 커맨드의 강조 탭으로부터 로 패스 필터를 선택하여, 「3×3, 횟수 3, 강도 10」의 조건으로 필터링하였다. 이에 의해 블랙 매트릭스 패턴 유래의 성분을 제거하였다.
다음으로, 평탄화를 선택하여, 「배경: 어둡게, 오브젝트 폭 10」의 조건으로 쉐이딩 보정을 행하였다.
다음으로, 콘트라스트 강조 커맨드로 「콘트라스트: 96, 휘도: 48」로 하여 콘트라스트 강조를 행하였다. 얻어진 화상 데이터를 8비트 그레이 스케일(256계조의 그레이 스케일)로 변환하였다. 바꾸어 말하면, 얻어진 화상 데이터를, 최댓값 255, 최솟값 0인 256계조의 휘도(변환값으로 인해 단위 없음)로 변환하였다. 이와 같이 하여 얻어진 화상 데이터에 대해, 그 중 150×110 픽셀(=16500 픽셀)의 영역에 대해 각 화소의 휘도의 표준 편차를 산출하여, 그 값을 번쩍임값으로 하였다. 또한, 이 영역의 휘도 평균이 120 내지 140이 되도록 광원의 휘도를 조정하였다. 번쩍임값 18.0 이상이 「불가」, 16.0 이상 18.0 미만이 「양호」, 16.0 미만이 「우수」라고 할 수 있다.
1-5. 콘트라스트
<CR1>
IPS 방식의 액정 표시 장치(Apple사 제조의 상품명 iPad(등록상표) Air2) 상에, 실시예 및 비교예의 방현 필름을 배치한 상태에 있어서, 명실 환경하(액정 표시 장치의 전원을 OFF로 한 상태에서의 방현 필름 상의 조도를 800 내지 1200Lx로 한 환경)의 콘트라스트를 평가하였다.
콘트라스트가 양호하다고 느끼는 것을 2점, 어느 쪽이라고도 할 수 없는 것을 1점, 콘트라스트가 불충분하다고 느끼는 것을 0점으로 하여, 20인의 피험자가 평가를 행하여, 평균점을 산출하였다. 평균점이 1.5 이상인 것을 「A」, 평균점이 1.0 이상 1.5 미만인 것을 「B」, 평균점이 1.0 미만인 것을 「C」로 하였다.
<CR2>
IPS 방식의 액정 표시 장치(Apple사 제조의 상품명 iPad(등록상표) Air2) 상에, 실시예 및 비교예의 방현 필름을 배치한 경우와, 배치하지 않은 경우의, 암실 환경하(액정 표시 장치의 전원을 OFF로 한 상태에서의 방현 필름 상의 조도를 5Lx 이하로 한 환경)의 콘트라스트를 평가하였다.
방현 필름의 배치의 유무로 콘트라스트의 변화를 느낄 수 없는 것을 2점, 어느 쪽이라고도 할 수 없는 것을 1점, 방현 필름을 배치하지 않은 경우에 비해 방현 필름을 배치한 경우의 콘트라스트가 저하되었다고 느낄 수 있었던 것을 0점으로 하여, 20명의 피험자가 평가를 행하여, 평균점을 산출하였다. 평균점이 1.5 이상인 것을 「A」, 평균점이 1.0 이상 1.5 미만인 것을 「B」, 평균점이 1.0 미만인 것을 「C」로 하였다.
<CR3>
TN 방식의 액정 표시 장치(ASUS사 제조의 상품명 VH168D) 상에, 실시예 및 비교예의 방현 필름을 배치한 상태에 있어서, 명실 환경하(액정 표시 장치의 전원을 OFF로 한 상태에서의 방현 필름 상의 조도를 800 내지 1200Lx로 한 환경)의 콘트라스트를 평가하였다. 평가 기준은 CR1과 마찬가지로 하였다.
<CR4>
TN 방식의 액정 표시 장치(ASUS사 제조의 상품명 VH168D) 상에, 실시예 및 비교예의 방현 필름을 배치한 경우와, 배치하지 않은 경우의, 암실 환경하(액정 표시 장치의 전원을 OFF로 한 상태에서의 방현 필름 상의 조도를 5Lx 이하로 한 환경)의 콘트라스트를 평가하였다. 평가 기준은 CR2와 마찬가지로 하였다.
1-6. 방현성
방현 필름의 투명 기재측에, 투명 점착제를 통해 주름이나 지문 등의 오염, 티끌·에어 혼입이 가능한 한 없도록 흑색 아크릴판을 접합하여, 방현성 평가용 샘플을 제작하였다. 당해 샘플을 명실 환경하(방현 필름 상의 조도를 800 내지 1200Lx로 한 환경)에서 눈으로 보아, 피험자 15인에 의해, 관측자 및 관측자의 배경의 겹쳐 비침이 신경쓰이지 않을 정도의 방현성이 얻어졌는지 여부를 하기의 기준에 의해 평가하였다.
A: 양호하다고 응답한 사람이 10인 이상
B: 양호하다고 응답한 사람이 5 내지 9인
C: 양호하다고 응답한 사람이 4인 이하
1-7. 투과상 선명도
스가 시켄키사 제조의 사상성 측정기(상품명: ICM-1T)를 사용하여, JIS K7374:2007에 준거하여, 상기 「1-1」에서 제작한 샘플 A의 0.125㎜의 폭을 갖는 광학 빗을 통과시킨 투과상 선명도를 측정하였다. 측정은 샘플 A마다 16개소(샘플 A에 2㎝ 간격으로 가공의 선을 그었을 때의, 교점인 16개소)에서 행하였다. 16개소의 평균값을, 각 실시예 및 비교예의 투과상 선명도로 하였다. 측정 시의 분위기는, 온도는 23℃±5℃, 습도 50%±10%로 하였다. 또한, 측정 개시 전에, 각 샘플을 23℃±5℃, 습도 50%±10%의 분위기에 10분 이상 방치하였다. 광 입사면은 방현층측으로 하고, 지문이 묻지 않도록, 또한 주름이 생기지 않도록 설치하였다.
2. 방현 필름의 제작
[실시예 1]
투명 기재(두께 80㎛ 트리아세틸셀룰로오스 수지 필름(TAC), 후지필름사 제조, TD80UL) 상에, 하기 처방의 방현층 도포액 1을 도포하고, 70℃, 풍속 5m/s로 30초간 건조시킨 후, 자외선을 질소 분위기(산소 농도 200ppm 이하)하에서 적산 광량이 100mJ/㎠가 되도록 조사하여, 방현층을 형성하고, 방현 필름을 얻었다. 방현층의 막 두께는 5.0㎛였다. 또한, 방현 필름의 방현층과는 반대측의 Sa2.5-250은 0.012㎛였다.
<방현층 도포액 1>
·펜타에리트리톨트리아크릴레이트 30부
(닛본 가야쿠사 제조, KAYARAD-PET-30)
·이소시아누르산 EO 변성 트리아크릴레이트
(도아 고세사 제조, M-313) 25부
·아크릴 폴리머
(미츠비시 레이온사 제조, 분자량 75,000) 12부
·광중합 개시제 3부
(BASF사 제조, 이르가큐어 184)
·실리콘계 레벨링제 0.12부
(모멘티브 퍼포먼스 머티리얼즈사 제조, TSF4460)
·투광성 입자 15부
(세키스이 가세이힌사 제조, 구상 폴리아크릴-스티렌 공중합체)
(평균 입자경 3.5㎛, 굴절률 1.555)
(입자경 3.2 내지 3.8㎛의 입자의 비율이 90% 이상)
·무기 미립자 분산액 115부
(닛산 가가쿠사 제조, 표면에 반응성 관능기가 도입된 실리카, 용제 MIBK, 고형분 35%)
(평균 1차 입자경 12㎚)
·용제 1(톨루엔) 110부
·용제2 33부
(프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트)
[실시예 2]
실시예 1의 투광성 입자의 배합량을 12부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 방현 필름을 얻었다.
[실시예 3]
실시예 1의 투광성 입자의 굴절률을 1.565로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 방현 필름을 얻었다.
[비교예 1]
실시예 1의 방현층 도포액 1을 하기 처방의 방현층 도포액 2로 변경하고, 방현층의 막 두께를 6.0㎛로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 방현 필름을 얻었다.
<방현층 도포액 2>
·펜타에리트리톨테트라아크릴레이트 60부
·우레탄아크릴레이트
(DIC사 제조, V-4000BA) 40부
·광중합 개시제 5부
(BASF사 제조, 이르가큐어 184)
·실리콘계 레벨링제 0.025부
(모멘티브 퍼포먼스 머티리얼즈사 제조, TSF4460)
·투광성 입자 11부
(구상 폴리스티렌 입자)
(평균 입자경 3.5㎛, 굴절률 1.59)
(입자경 3.2 내지 3.8㎛의 입자의 비율이 90% 이상)
·퓸드실리카 7부
(옥틸실란 처리; 평균 1차 입자경 12㎚)
(평균 1차 입자경 12㎚)
·용제 1(톨루엔) 155부
·용제 2 25부
(프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트)
·용제 3(이소프로필알코올) 60부
[비교예 2]
실시예 1의 방현층 도포액 1을 하기 처방의 방현층 도포액 3으로 변경하고, 방현층의 막 두께를 6.0㎛로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 방현 필름을 얻었다.
<방현층 도포액 3>
·펜타에리트리톨테트라아크릴레이트 60부
·우레탄아크릴레이트
(DIC사 제조, V-4000BA) 40부
·광중합 개시제 5부
(BASF사 제조, 이르가큐어 184)
·실리콘계 레벨링제 0.025부
(모멘티브 퍼포먼스 머티리얼즈사 제조, TSF4460)
·투광성 입자 1 3부
(구상 폴리스티렌 입자)
(평균 입자경 3.5㎛, 굴절률 1.59)
(입자경 3.2 내지 3.8㎛의 입자의 비율이 90% 이상)
·투광성 입자 2 7부
(구상 아크릴-스티렌 공중합체 입자)
(평균 입자경 3.5㎛, 굴절률 1.57)
(입자경 3.2 내지 3.8㎛의 입자의 비율이 90% 이상)
·퓸드실리카 7부
(옥틸실란 처리; 평균 1차 입자경 12㎚)
(평균 1차 입자경 12㎚)
·용제 1(톨루엔) 155부
·용제 2 25부
(프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트)
·용제 3(이소프로필알코올) 60부
[비교예 3]
실시예 1의 방현층 도포액 1을 하기 처방의 방현층 도포액 4로 변경하고, 방현층의 막 두께를 4.5㎛로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 방현 필름을 얻었다.
<방현층 도포액 4>
·펜타에리트리톨트리아크릴레이트 100부
(닛본 가야쿠사 제조, KAYARAD-PET-30)
·아크릴 폴리머
(미츠비시 레이온사 제조, 분자량 75,000) 10부
·광중합 개시제 5부
(BASF사 제조, 이르가큐어 184)
·실리콘계 레벨링제 0.025부
(모멘티브 퍼포먼스 머티리얼즈사 제조, TSF4460)
·투광성 입자 14부
(구상 폴리스티렌 입자)
(평균 입자경 3.5㎛, 굴절률 1.59)
(입자경 3.2 내지 3.8㎛의 입자의 비율이 90% 이상)
·용제 1(톨루엔) 120부
·용제 4(시클로헥사논) 30부
[비교예 4]
실시예 1의 방현층 도포액 1을 하기 처방의 방현층 도포액 5로 변경하고, 방현층의 막 두께를 5.5㎛로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 방현 필름을 얻었다.
<방현층 도포액 5>
·펜타에리트리톨테트라아크릴레이트 65부
·우레탄아크릴레이트
(DIC사 제조, V-4000BA) 35부
·광중합 개시제 5부
(BASF사 제조, 이르가큐어 184)
·실리콘계 레벨링제 0.025부
(모멘티브 퍼포먼스 머티리얼즈사 제조, TSF4460)
·투광성 입자 13부
(구상 아크릴-스티렌 공중합체 입자)
(평균 입자경 3.5㎛, 굴절률 1.545)
(입자경 3.2 내지 3.8㎛의 입자의 비율이 90% 이상)
·퓸드실리카 6부
(옥틸실란 처리; 평균 1차 입자경 12㎚)
(평균 1차 입자경 12㎚)
·용제 1(톨루엔) 145부
·용제 3(이소프로필알코올) 55부
·용제 4(시클로헥사논) 20부
[비교예 5]
실시예 1의 방현층 도포액 1을 하기 처방의 방현층 도포액 6으로 변경하고, 방현층의 막 두께를 6.0㎛로 한 것 이외에는, 실시예 1과 마찬가지로 하여, 방현 필름을 얻었다.
<방현층 도포액 6>
·펜타에리트리톨트리아크릴레이트 36부
(닛본 가야쿠사 제조, KAYARAD-PET-30)
·이소시아누르산 EO 변성 트리아크릴레이트
(도아 고세사 제조, M-313) 22부
·아크릴 폴리머
(미츠비시 레이온사 제조, 분자량 75,000) 11부
·광중합 개시제 6부
(BASF사 제조, 이르가큐어 184)
·실리콘계 레벨링제 0.1부
(모멘티브 퍼포먼스 머티리얼즈사 제조, TSF4460)
·투광성 입자 1 20부
(구상 폴리아크릴-스티렌 공중합체)
(평균 입자경 5.0㎛, 굴절률 1.52)
(입자경 4.7 내지 5.3㎛의 입자의 비율이 90% 이상)
·투광성 입자 2 3부
(구상 폴리아크릴-스티렌 공중합체)
(평균 입자경 3.5㎛, 굴절률 1.52)
(입자경 3.2 내지 3.8㎛의 입자의 비율이 90% 이상)
·무기 미립자 분산액 85부
(닛산 가가쿠사 제조, 표면에 반응성 관능기가 도입된 실리카, 용제 MIBK, 고형분 35%)
(평균 1차 입자경 12㎚)
·용제 1(톨루엔) 45부
Figure 112020032307528-pct00012
표 1의 결과로부터 명백한 바와 같이, 실시예의 방현 필름은, 번쩍임 및 콘트라스트의 저하를 억제할 수 있음과 함께, 방현성을 양호하게 할 수 있음을 확인할 수 있다. 또한, 실시예의 방현 필름은 투과상 선명도가 높고, 해상도도 양호함을 확인할 수 있다.
1: 투명 기재
2: 방현층
10: 방현 필름
200: 투명 점착제층
300: 블랙 매트릭스
500: 백색면 광원
600: CCD 카메라
700: 지주
800: 수평대

Claims (4)

  1. 방현층을 갖는 방현 필름이며,
    상기 방현 필름은, 내부 헤이즈가 5.0 내지 25.0%, 표면 헤이즈가 20.0% 이하이고,
    λs 2.5㎛ 또한 λc 250㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa2.5-250과, λs 2.5㎛ 또한 λc 70㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa2.5-70이, 하기 식 (1) 내지 (3)을 만족시키는, 방현 필름.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 Sa2.5-250과, λs 25㎛ 또한 λc 250㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa25-250과, λs 70㎛ 또한 λc 250㎛로 하였을 때의 상기 방현층 표면의 삼차원 산술 평균 조도 Sa70-250이, 하기 식 (4)를 만족시키는, 방현 필름.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 방현층이 평균 입자경 2.0 내지 5.0㎛의 입자 및 바인더 수지를 포함하고, 상기 방현층의 140㎛×140㎛의 영역을 35㎛×35㎛의 격자상의 16영역으로 분할하고, 16영역 내의 상기 입자의 개수의 평균을 NAVE, 16영역 내의 상기 입자의 개수의 표준 편차를 NSD로 하였을 때, NSD 및 NAVE가 하기 식 (5)를 만족시키는, 방현 필름.
  4. 표시 소자와, 표시 소자의 광 출사면측에 배치된 방현 필름을 갖는 표시 장치이며, 상기 방현 필름으로서, 제1항 또는 제2항에 기재된 방현 필름을, 식 (1) 내지 (3)을 만족시키는 측의 면이 상기 표시 소자와 반대측을 향하도록 배치하여 이루어지는, 표시 장치.
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