KR102554147B1 - 칩의 제조 방법 - Google Patents
칩의 제조 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102554147B1 KR102554147B1 KR1020180062576A KR20180062576A KR102554147B1 KR 102554147 B1 KR102554147 B1 KR 102554147B1 KR 1020180062576 A KR1020180062576 A KR 1020180062576A KR 20180062576 A KR20180062576 A KR 20180062576A KR 102554147 B1 KR102554147 B1 KR 102554147B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- workpiece
- holding
- chip
- modified layer
- divided
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P54/00—Cutting or separating of wafers, substrates or parts of devices
-
- H01L21/78—
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/36—Removing material
- B23K26/38—Removing material by boring or cutting
-
- H01L21/324—
-
- H01L21/76—
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10P95/00—Generic processes or apparatus for manufacture or treatments not covered by the other groups of this subclass
- H10P95/90—Thermal treatments, e.g. annealing or sintering
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W10/00—Isolation regions in semiconductor bodies between components of integrated devices
- H10W10/01—Manufacture or treatment
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Dicing (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JPJP-P-2017-110732 | 2017-06-05 | ||
| JP2017110732A JP6925717B2 (ja) | 2017-06-05 | 2017-06-05 | チップの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20180133215A KR20180133215A (ko) | 2018-12-13 |
| KR102554147B1 true KR102554147B1 (ko) | 2023-07-10 |
Family
ID=64542716
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020180062576A Active KR102554147B1 (ko) | 2017-06-05 | 2018-05-31 | 칩의 제조 방법 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6925717B2 (https=) |
| KR (1) | KR102554147B1 (https=) |
| CN (1) | CN108987339B (https=) |
| TW (1) | TWI765027B (https=) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3913660B1 (en) * | 2020-05-22 | 2024-06-19 | Nichia Corporation | Method of cutting semiconductor element and semiconductor element |
| CN112404747B (zh) * | 2020-11-09 | 2022-05-24 | 松山湖材料实验室 | 一种晶圆剥离方法和晶圆剥离装置 |
| CN119525777B (zh) * | 2025-01-23 | 2025-04-25 | 合肥芯谷微电子股份有限公司 | 一种半导体生产用防护输送载具 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003088973A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-25 | Hamamatsu Photonics Kk | レーザ加工方法 |
| JP2003088974A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-25 | Hamamatsu Photonics Kk | レーザ加工方法 |
| JP2008153420A (ja) | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Seiko Epson Corp | 基材の分割方法、液滴吐出ヘッドの製造方法、半導体装置の製造方法、基板の製造方法、及び電気光学装置の製造方法 |
| JP2009043992A (ja) | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| JP2010186971A (ja) | 2009-02-13 | 2010-08-26 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| JP2014199834A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-23 | 株式会社ディスコ | 保持手段及び加工方法 |
| JP2014236034A (ja) * | 2013-05-31 | 2014-12-15 | 株式会社ディスコ | ウェーハの加工方法 |
Family Cites Families (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05198783A (ja) * | 1992-01-23 | 1993-08-06 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路装置の製造方法 |
| JPH06275712A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-09-30 | Nec Kansai Ltd | ダイシング装置 |
| JP3408805B2 (ja) | 2000-09-13 | 2003-05-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | 切断起点領域形成方法及び加工対象物切断方法 |
| JP4733934B2 (ja) * | 2004-06-22 | 2011-07-27 | 株式会社ディスコ | ウエーハの加工方法 |
| JP4198123B2 (ja) * | 2005-03-22 | 2008-12-17 | 浜松ホトニクス株式会社 | レーザ加工方法 |
| JP2007012878A (ja) * | 2005-06-30 | 2007-01-18 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの分割方法 |
| JP2007019379A (ja) * | 2005-07-11 | 2007-01-25 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウェーハの加工方法 |
| JP4749851B2 (ja) * | 2005-11-29 | 2011-08-17 | 株式会社ディスコ | ウェーハの分割方法 |
| JP2007223854A (ja) * | 2006-02-24 | 2007-09-06 | Seiko Epson Corp | 基板分割方法、基板分割装置、レーザスクライブ装置、電気光学装置、電子機器 |
| JP5139739B2 (ja) * | 2007-07-19 | 2013-02-06 | パナソニック株式会社 | 積層体の割断方法 |
| JP5791866B2 (ja) | 2009-03-06 | 2015-10-07 | 株式会社ディスコ | ワーク分割装置 |
| JP5964580B2 (ja) * | 2011-12-26 | 2016-08-03 | 株式会社ディスコ | ウェーハの加工方法 |
| JP5967405B2 (ja) * | 2012-01-17 | 2016-08-10 | アイシン精機株式会社 | レーザによる割断方法、及びレーザ割断装置 |
| JP2013152988A (ja) * | 2012-01-24 | 2013-08-08 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| JP5988601B2 (ja) * | 2012-02-13 | 2016-09-07 | 株式会社ディスコ | 光デバイスウェーハの分割方法 |
| JP2014209523A (ja) * | 2013-04-16 | 2014-11-06 | 株式会社ディスコ | ウェーハの加工方法 |
| JP2015069975A (ja) * | 2013-09-26 | 2015-04-13 | 株式会社ディスコ | 被加工物の加工方法 |
| JP6366393B2 (ja) * | 2014-07-15 | 2018-08-01 | 株式会社ディスコ | ウェーハの加工方法 |
| JP6347714B2 (ja) * | 2014-10-02 | 2018-06-27 | 株式会社ディスコ | ウエーハの加工方法 |
| JP2017011134A (ja) * | 2015-06-23 | 2017-01-12 | 株式会社ディスコ | デバイスチップの製造方法 |
| JP6775880B2 (ja) * | 2016-09-21 | 2020-10-28 | 株式会社ディスコ | ウェーハの加工方法 |
-
2017
- 2017-06-05 JP JP2017110732A patent/JP6925717B2/ja active Active
-
2018
- 2018-04-26 TW TW107114205A patent/TWI765027B/zh active
- 2018-05-29 CN CN201810527430.7A patent/CN108987339B/zh active Active
- 2018-05-31 KR KR1020180062576A patent/KR102554147B1/ko active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003088973A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-25 | Hamamatsu Photonics Kk | レーザ加工方法 |
| JP2003088974A (ja) * | 2001-09-12 | 2003-03-25 | Hamamatsu Photonics Kk | レーザ加工方法 |
| JP2008153420A (ja) | 2006-12-18 | 2008-07-03 | Seiko Epson Corp | 基材の分割方法、液滴吐出ヘッドの製造方法、半導体装置の製造方法、基板の製造方法、及び電気光学装置の製造方法 |
| JP2009043992A (ja) | 2007-08-09 | 2009-02-26 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| JP2010186971A (ja) | 2009-02-13 | 2010-08-26 | Disco Abrasive Syst Ltd | ウエーハの加工方法 |
| JP2014199834A (ja) * | 2013-03-29 | 2014-10-23 | 株式会社ディスコ | 保持手段及び加工方法 |
| JP2014236034A (ja) * | 2013-05-31 | 2014-12-15 | 株式会社ディスコ | ウェーハの加工方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW201903875A (zh) | 2019-01-16 |
| TWI765027B (zh) | 2022-05-21 |
| CN108987339A (zh) | 2018-12-11 |
| JP2018206941A (ja) | 2018-12-27 |
| CN108987339B (zh) | 2023-12-15 |
| JP6925717B2 (ja) | 2021-08-25 |
| KR20180133215A (ko) | 2018-12-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102554147B1 (ko) | 칩의 제조 방법 | |
| KR102553014B1 (ko) | 칩의 제조 방법 | |
| JP6925720B2 (ja) | チップの製造方法 | |
| KR102682696B1 (ko) | 칩의 제조 방법 | |
| JP6925722B2 (ja) | チップの製造方法 | |
| JP6925721B2 (ja) | チップの製造方法 | |
| JP7031963B2 (ja) | チップの製造方法 | |
| JP6851690B2 (ja) | チップの製造方法 | |
| JP2019197829A (ja) | チップの製造方法 | |
| JP2019196285A (ja) | チップの製造方法 | |
| KR102682695B1 (ko) | 칩의 제조 방법 | |
| JP6925719B2 (ja) | チップの製造方法 | |
| JP2019040914A (ja) | チップの製造方法 | |
| JP6925718B2 (ja) | チップの製造方法 | |
| JP2018206967A (ja) | チップの製造方法 | |
| JP6851692B2 (ja) | チップの製造方法 | |
| JP6821265B2 (ja) | チップの製造方法 | |
| JP7031968B2 (ja) | チップの製造方法 | |
| JP2019197826A (ja) | チップの製造方法 | |
| JP2019195834A (ja) | チップの製造方法 | |
| JP2019197859A (ja) | チップの製造方法 | |
| JP2019197827A (ja) | チップの製造方法 | |
| JP2019197828A (ja) | チップの製造方法 | |
| JP2019197861A (ja) | チップの製造方法 | |
| JP2019197864A (ja) | チップの製造方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| E13-X000 | Pre-grant limitation requested |
St.27 status event code: A-2-3-E10-E13-lim-X000 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000 |