KR102553363B1 - Oled 기판 검사용 파레트 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 OLED 기판 검사시 검사 대상이 되는 OLED 기판이 세팅되는 OLED 기판 검사용 파레트에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 OLED 기판에 형성된 다수의 전극패드들과 컨택되는 클램핑부의 높이를 최소화시킨 OLED 기판 검사용 파레트에 관한 것이다.
본 발명의 OLED 기판 검사용 파레트는 OLED 기판이 놓여지는 베이스(100)와, 상기 베이스에 순차적으로 설치된 복수의 클램프(200)와, 상기 복수의 클램프의 하부에 구비되어 클램프의 동작 상태에 따라 OLED 기판에 형성된 전극패드과 컨택되거나 컨택이 해제되는 컨택터(300)를 구비하며; 상기 컨택터가 연성회로기판이고; 상기 클램프가 상기 컨택터가 고정된 후방블럭(210)과, 상기 컨택터와 분리된 상태로 상기 후방블럭의 전방에 위치하며 하강시 상기 컨택터와 컨택되는 컨택블럭(220)과, 상기 후방블럭을 좌우방향으로 이동시키는 얼라인유닛(230)과, 상기 얼라인유닛에 고정되며 상기 컨택블럭과 후방블럭의 사이에 위치하는 베이스블럭(240)과, 상기 베이스블럭에 컨택블럭을 승강가능하게 연결하는 탄성승강블럭(250)과, 상기 탄성승강블럭의 양측단에 돌출 형성된 클램핑 작동레버(260)를 포함한다.

Description

OLED 기판 검사용 파레트{Pallet for inspection of OLED substrates}
본 발명은 OLED 기판 검사시 검사 대상이 되는 OLED 기판이 세팅되는 OLED 기판 검사용 파레트에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 OLED 기판에 형성된 다수의 전극패드들과 컨택되는 클램핑부의 높이를 최소화시킨 OLED 기판 검사용 파레트에 관한 것이다.
일반적으로 텔레비전이나 노트북 또는 핸드폰에 사용되는 OLED 기판의 가장자리부에는 영상신호, 동기신호, 색상신호와 같은 다양한 전기적 신호를 인가할 수 있도록 다수의 전극패드가 협피치로 배치되어 있다.
그리고, 이러한 OLED 기판은 구동 초기에 열화가 급속히 진행되다가 이후 안정화되는 성질이 있기 때문에 제품 출하 전에 고전압을 소정시간 인가하여 전면 발광시킴으로써 인위적으로 노화시키는 에이징(aging) 검사를 필수적으로 거치게 된다.
또한, OLED 기판은 전극패드에 전기적 신호를 인가함으로써 화소의 불량 유무를 확인하는 점등검사도 수행하게 된다.
이와 같이 OLED 기판은 제조 과정 중 에이징 검사와 점등검사 등 다양한 검사과정을 거치게 되는데, 검사 이전에 반드시 정밀한 얼라인 과정을 거친 후 OLED 기판에 형성된 전극패드들에 검사 신호를 입력할 수 있는 컨택터를 컨택시키는 세팅과정을 거쳐야 한다.
따라서, 대부분의 검사공정에서는 검사대상이 되는 OLED 기판을 파레트에 미리 세팅한 후에 파레트를 이동시켜 가면서 별도의 세팅 과정 없이 각 검사공정별로 신속하고 간편한 검사가 이루어지도록 하고 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 OLED 기판 검사용 파레트(1)는 OLED 기판이 놓여지는 베이스(10)와, 상기 베이스(10)에 순차적으로 설치된 복수의 클램프(20)와, 상기 복수의 클램프(20)의 하부에 구비되어 클램프(20)의 동작 상태에 따라 OLED 기판에 형성된 전극패드과 컨택되거나 컨택이 해제되는 컨택터(30)로 구성되며, 상기 클램프(20)가 들어올려지면 컨택터(30)가 클램프(20)를 따라 상승하게 되고 클램프(20)가 하강하게 되면 컨택터(30)가 클램프(20)를 따라 하강하면서 전극패드과의 컨택이 이루어지도록 동작된다.
그러나, 종래의 OLED 기판 검사용 파레트는 상기 클램프(20)가 상부에 수직으로 설치된 LM 가이드(40)를 따라 승강하도록 구성되어 있기 때문에 상기 클램프(20)의 승강축이 미세하게나마 기울어지게 되면 컨택터(30)와 OLED 기판의 전극패드 사이에 간극이 발생하게 되고, 이로 인하여 일부 전극패드에 대하여 정상적인 컨택이 이루어지지 않게 되는 문제가 발생된다.
아울러, 종래의 OLED 기판 검사용 파레트는 각 검사공정 별로 마련된 검사용 랙에 순차적으로 적재되어 해당 검사를 받게 되는데, 상기 LM 가이드(40)가 클램프(20)의 상부에 수직으로 설치된 관계로 전체적인 높이가 커지면서 검사용 랙에 많은 양을 적재할 수 없어 생산성이 크게 떨어지는 문제를 가진다.
국내등록특허공보 제10-1346952호
본 발명은 상기한 문제점들을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 클램프의 승강축이 기울어지더라도 컨택터와 OLED 기판의 전극패드과의 컨택이 정상적으로 이루어지고 전체적인 높이도 최소화할 수 있는 OLED 기판 검사용 파레트를 제공함에 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 OLED 기판 검사용 파레트는 OLED 기판이 놓여지는 베이스와, 상기 베이스에 순차적으로 설치된 복수의 클램프와, 상기 복수의 클램프의 하부에 구비되어 클램프의 동작 상태에 따라 OLED 기판에 형성된 전극패드과 컨택되거나 컨택이 해제되는 컨택터를 구비하며; 상기 컨택터가 연성회로기판이고; 상기 클램프가 상기 컨택터가 고정된 후방블럭과, 상기 컨택터와 분리된 상태로 상기 후방블럭의 전방에 위치하며 하강시 상기 컨택터와 컨택되는 컨택블럭과, 상기 후방블럭을 좌우방향으로 이동시키는 얼라인유닛과, 상기 얼라인유닛에 고정되며 상기 컨택블럭과 후방블럭의 사이에 위치하는 베이스블럭과, 상기 베이스블럭에 컨택블럭을 승강가능하게 연결하는 탄성승강블럭과, 상기 탄성승강블럭의 양측단에 돌출 형성된 클램핑 작동레버를 포함한다.
또한, 상기 베이스는 바닥판과, 상기 바닥판의 가장자리를 따라 고정된 제1보강프레임과, 상기 바닥판의 양측에 전후방향으로 나란하게 고정되며 양단이 각각 마주하는 제1보강프레임에 결합된 한 쌍의 제2보강프레임을 구비할 수 있다.
아울러, 상기 클램프는 베이스의 전단과 후단에 각각 설치되어 OLED 기판의 사이즈에 따라 전후로 이동하면서 상호간의 이격거리를 달리할 수 있다.
한편, 상기 탄성승강블럭은 베이스블럭의 양측 저면에 위치하며 상기 작동레버와 결합된 양측부와 상기 베이스블럭의 전방에서 상기 컨택블럭과 결합되는 중앙부를 구비한 블럭몸체와, 상기 블럭몸체의 양측부와 베이스블럭의 양측 저면을 이격된 상태로 탄성 지지하는 제1탄성부재를 구비할 수 있다.
이 경우, 상기 컨택블럭은 블럭몸체의 중앙부에 수직방향으로 탄성적으로 유동가능하게 설치될 수 있다.
또한, 상기 컨택블럭의 하단에는 수직홈부가 형성되고, 상기 블럭몸체의 중앙부 하단에는 상기 수직홈부에 끼워지는 수직돌부가 형성되며, 상기 블럭몸체의 중앙부 상단에 전방으로 돌출되게 수평블럭이 고정되고, 상기 컨택블럭의 상단에는 상기 수평블럭과 컨택블럭을 이격되게 탄성지지하는 제2탄성부재가 설치될 수 있다.
아울러, 상기 컨택블럭의 중앙에는 블럭몸체의 중앙부를 향해 개방된 수직홈이 형성되고, 상기 수직홈에는 블럭몸체의 중앙부에 밀착되게 설치되어 상기 컨택블럭이 승강할 때 상기 블럭몸체의 중앙부를 따라 구름운동하면서 컨택블럭의 수직방향으로 유동이 원활하게 이루어지도록 돕는 롤러가 설치될 수도 있다.
한편, 상기 베이스의 좌측과 우측에는 각각 상기 얼라인 유닛의 전후 이동을 제한하는 브레이크 유닛이 구비되는 것이 바람직하다.
이 경우, 상기 브레이크 유닛은 상기 베이스에 전후방향으로 설치된 스크류와, 일측은 상기 스크류에 체결되고 타측은 상기 얼라인 유닛에 고정된 연결블럭과, 상기 스크류가 내부를 관통하도록 상기 베이스에 고정된 하우징과, 상기 하우징 내부에 승강가능하게 설치되어 하강시 상기 스크류에 밀착되면서 스크류의 회전을 제한하는 브레이크 블럭과, 하강한 상기 브레이크 블럭을 밀어서 상승시켜 브레이크 상태를 해제하는 가압부재와, 상기 하우징과 브레이크 블럭 사이에 설치되어 상기 브레이크 블럭 상승시 압축되면서 상승한 브레이크 블럭에 대하여 하강력을 제공하는 제3탄성부재를 구비할 수 있다.
또한, 상기 얼라인유닛은 상기 베이스의 일측에 설치된 브레이크 유닛의 연결블럭에 고정된 제1고정블럭과, 상기 제1고정블럭과 후방블럭의 일측단을 수평으로 연결하는 핀부재와, 상기 베이스의 타측에 설치된 브레이크 유닛의 연결블럭에 고정된 제2고정블럭과, 상기 제2고정블럭과 후방블럭의 타측단을 수평으로 탄성연결하는 제4탄성부재와, 상기 제1고정블럭에 설치되어 상기 후방블럭의 일측단을 밀어서 타측으로 이동시키는 이송부재를 구비할 수 있다.
한편, 상기 베이스의 가장자리 일측에는 OLED 기판의 상태나 수명을 관리하기 위한 NFC 칩 또는 RFID 칩이 장착되는 것이 바람직하다.
아울러, 상기 베이스의 표면은 도전저항 값이 106 Ω/sq 내지 109Ω/sq의 수치범위를 만족하도록 대전방지 처리될 수도 있다.
상기와 같이 구성된 본 발명은 컨택터가 연성회로기판으로 이루어져 있고 컨택블럭과 분리된 구성으로 이루어져 있기 때문에 컨택블럭의 승강축이 기울어져 있다 하더라도 상기 컨택터가 항상 OLED 기판의 전극패드를 향해 수평 하강하게 되고, 그 결과 상기 전극패드와의 컨택이 전구간에 대하여 정상적으로 이루어지게 되면서 컨택 신뢰도가 크게 향상되는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 컨택블럭에 탄성승강블럭이 연결되어 있기 때문에 컨택블럭의 승강축이 기울어져 있다 하더라도 상기 탄성승강블럭의 탄성력에 의하여 컨택블럭의 평탄도가 자가 조정되므로 컨택 신뢰도가 보다 크게 향상되는 효과가 있다.
아울러, 본 발명은 클램프의 컨택동작이 컨택블럭의 후방에 설치된 탄성승강블럭을 통해서 이루어지도록 구성되어 있기 때문에 컨택블럭의 상부에 수직으로 LM 가이드가 설치된 종래에 비하여 전체적인 높이를 최소화시킬 수 있고, 이로 인하여 각 검사공정 별로 마련된 검사용 랙에 종래 보다 많은 수량의 적재가 가능해지므로 생산성을 크게 향상시킬 수 있는 효과를 가진다.
도 1은 일반적인 OLED 기판 검사용 파레트의 사시도.
도 2는 본 발명에 따른 OLED 기판 검사용 파레트의 사시도.
도 3은 본 발명에 따른 OLED 기판 검사용 파레트의 분해사시도.
도 4는 본 발명을 구성하는 클램프의 분해사시도.
도 5는 본 발명을 구성하는 클램프의 단면도.
도 6은 본 발명을 구성하는 브레이크 유닛의 사용상태 단면도.
도 7은 본 발명을 구성하는 클램프의 사용상태를 나타내는 단면사시도.
본 발명의 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 바람직한 실시예에 대한 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다.
이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
아울러, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다.
예컨대, 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 아울러, "포함한다" 또는 "구비한다" 또는 "가진다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
또한, 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우 뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "아래에" 있다고 할 경우, 이는 다른 부분 "바로 아래에" 있는 경우 뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다.
아울러, 본 명세서에서 사용한 "제1", "제2" 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않으며, 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
이하, 본 발명의 일 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명함에 있어, 동일한 구성에 대해서는 동일한 부호를 사용하며, 명료성을 위하여 가능한 중복되지 않게 상이한 부분만을 주로 설명한다.
도 2는 본 발명에 따른 OLED 기판 검사용 파레트의 사시도이고, 도 3은 본 발명에 따른 OLED 기판 검사용 파레트의 분해사시도이며, 도 4는 본 발명을 구성하는 클램프의 분해사시도이고, 도 5는 본 발명을 구성하는 클램프의 단면도이며, 도 6은 본 발명을 구성하는 브레이크 유닛의 사용상태 단면도이고, 도 7은 본 발명을 구성하는 클램프의 사용상태를 나타내는 단면사시도로서, 도시된 바와 같이, 본 발명의 OLED 기판 검사용 파레트는 베이스(100)와, 상기 베이스(100)에 순차적으로 설치된 복수의 클램프(200)와, 상기 복수의 클램프(200)의 하부에 구비되어 클램프(200)의 동작 상태에 따라 OLED 기판에 형성된 전극패드과 컨택되거나 컨택이 해제되는 컨택터(300)를 기본적으로 구비한다.
상기 베이스(100)는 검사대상이 되는 OLED 기판이 놓여지는 곳으로서 바닥판(110)을 구비한다. 이 경우, 바닥판(110)의 강도와 평탄도를 향상시키기 위하여 상기 바닥판(110)의 가장자리를 따라 제1보강프레임(120)이 고정된다. 그리고, 상기 바닥판(110)의 양측에는 전후방향으로 나란하게 제2보강프레임(130)이 고정된다. 상기 제2보강프레임(130)의 양단은 각각 마주하는 제1보강프레임(120)에 결합된다.
상기 클램프(200)는 베이스(100)의 전단과 후단에 각각 설치되어 OLED 기판의 사이즈에 따라 전후로 이동하면서 상호간의 이격거리를 달리하도록 구성된다.
본 발명에 따른 클램프(200)는 컨택터(300)가 고정된 후방블럭(210)과, 상기 컨택터(300)와 분리된 상태로 상기 후방블럭(210)의 전방에 위치하며 하강시 상기 컨택터(300)와 컨택되는 컨택블럭(220)과, 상기 후방블럭(210)을 좌우방향으로 이동시키는 얼라인유닛(230)과, 상기 얼라인유닛(230)에 고정되며 상기 컨택블럭(220)과 후방블럭(210)의 사이에 위치하는 베이스블럭(240)과, 상기 베이스블럭(240)에 컨택블럭(220)을 승강가능하게 연결하는 탄성승강블럭(250)과, 상기 탄성승강블럭(250)의 양측단에 돌출 형성된 클램핑 작동레버(260)로 구성된다.
이 경우, 상기 컨택터(300)는 유연성을 가진 연성회로기판(Flexible Printed Circuit Board, FPCB)이 적용된다.
아울러, 상기 컨택터(300)와 후방블럭(210)과 컨택블럭(220)은 다양한 OLED 기판 검사를 효율적으로 진행할 수 있도록 OLED 기판 사이즈에 맞추어 분할 구성되어 순차적으로 설치될 수 있다.
상기 탄성승강블럭(250)은 베이스블럭(240)의 하부에 위치하는 블럭몸체(251)와, 상기 블럭몸체(251)와 베이스블럭(240)를 이격된 상태로 탄성 지지하는 제1탄성부재(252)로 구성될 수 있다.
이 경우, 상기 블럭몸체(251)는 작동레버(260)가 결합되고 상기 제1탄성부재(252)가 구비된 양측부(251a)와, 상기 베이스블럭(240)의 전방에서 상기 컨택블럭(220)과 결합되는 중앙부(251b)로 구성된다.
따라서, 상기 컨택블럭(220)은 탄성승강블럭(250)과 동반 승강하게 되며, 하강시 하부에 위치한 컨택터(300)와의 컨택이 이루어지게 된다.
이때, 상기 컨택블럭(220)은 컨택시 승강축이 기울어지더라도 상기 탄성승강블럭(250)의 탄성력에 의하여 평탄도가 자가 조정된다.
한편, 상기 컨택블럭(220)은 블럭몸체(251)의 중앙부(251b)에 수직방향으로 탄성적으로 유동가능하게 설치되는 것이 바람직하다.
이 경우, 상기 컨택블럭(220)의 하단에는 수직홈부(221)가 형성되고, 상기 블럭몸체(251)의 중앙부(251b) 하단에는 상기 수직홈부(221)에 끼워지는 수직돌부(253)가 형성되며, 상기 블럭몸체(251)의 중앙부(251b) 상단에 전방으로 돌출되게 수평블럭(254)이 고정되고, 상기 컨택블럭(220)의 상단의 좌측과 우측에는 각각 상기 수평블럭(254)과 컨택블럭(220)을 이격되게 탄성지지하는 제2탄성부재(222)가 설치될 수 있다.
따라서, 상기 컨택블럭(220)은 수직홈부(221)와 수직돌부(253)에 의해 전후방향으로 유동되지 않고 수직방향으로 원활하게 컨택터(300)와의 컨택이 이루어지게 되며, 컨택블럭(220)의 승강축이 기울어지더라도 컨택터(300)가 전극패드에 컨택될 때 상기 제2탄성부재(222)에 의하여 컨택터(300)의 자세가 수평으로 자가 조정되므로 컨택터(300)와 전극패드와의 컨택이 항상 안정적으로 이루어지게 된다.
아울러, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 컨택블럭(220)의 중앙에는 블럭몸체(251)의 중앙부(251b)를 향해 개방된 수직홈(223)이 형성되고, 상기 수직홈(223)에는 블럭몸체(251)의 중앙부(251b)에 밀착되게 롤러(224)가 설치될 수 있다.
이 경우, 상기 컨택블럭(220)이 승강하면 상기 롤러(224)가 블럭몸체(251)의 중앙부(251b)를 따라 구름운동하게 되므로 수직방향으로의 승강동작이 원활하게 이루어지게 된다.
한편, 상기 베이스(100)의 좌측과 우측에는 각각 상기 얼라인 유닛(230)의 전후 이동을 제한하는 브레이크 유닛(400)이 구비되는 것이 바람직하다.
이 경우, 상기 브레이크 유닛(400)은 베이스(100)에 전후방향으로 설치된 스크류(410)와, 일측이 상기 스크류(410)에 체결되고 타측이 상기 얼라인 유닛(230)에 고정된 연결블럭(420)과, 상기 스크류(410)가 내부를 관통하도록 상기 베이스(100)에 고정된 하우징(430)과, 상기 하우징(430) 내부에 승강가능하게 설치되어 하강시 상기 스크류(410)에 밀착되면서 스크류(410)의 회전을 제한하는 브레이크 블럭(440)과, 하강한 상기 브레이크 블럭(440)을 밀어서 상승시켜 브레이크 상태를 해제하는 가압부재(450)와, 상기 하우징(430)과 브레이크 블럭(440) 사이에 설치되어 상기 브레이크 블럭(440) 상승시 압축되면서 상승한 브레이크 블럭(440)에 대하여 하강력을 제공하는 제3탄성부재(460)를 구비할 수 있다.
이 경우, 상기 스크류(410)에는 브레이크 블럭(440)과의 컨택이 확실하게 이루어지도록 밀착부재(470)가 결합되는 것이 바람직하다.
따라서, 가압부재(450)가 브레이크 블럭(440)을 상승시키면 제3탄성부재(460)가 압축됨과 동시에 브레이크 블럭(440)이 밀착부재(470)와의 밀착이 해제되면서 브레이크 상태가 해제된다. 브레이크 해제 상태에서는 스크류(410)의 회전이 가능한 상태로서 클램프(200) 전체의 전후 유동 및 이동이 가능해진다.
그리고 가압부재(450)가 하강하면 압축된 제3탄성부재(460)가 복원되면서 브레이크 블럭(440)을 하강시키게 되고 하강한 브레이크 블럭(440)이 밀착부재(470)와 밀착되면서 브레이크 상태로 복귀하게 된다. 브레이크 상태에서는 스크류(410)의 회전이 불가능한 상태로서 클램프(200) 전체의 전후 유동 및 이동이 불허된다.
이와 같이 구성된 상기 브레이크 유닛(400)은 컨택블럭(220)이 컨택터(300)에 컨택을 하기 위하여 하강할 때 브레이크 상태로 전환되어 크램퍼(200)의 전후 이동을 제한함으로써 정밀한 컨택이 이루어질 수 있도록 돕는다.
아울러, 상기 브레이크 유닛(400)은 검사대상이 OLED 기판이 베이스(100)에 안착되거나 검사가 완료된 OLED 기판이 베이스(100)로부터 탈거될 때 클램프(200)가 전후로 이동할 수 있도록 브레이크 상태를 해제시킨다.
한편, 상기 얼라인유닛(230)은 상기 베이스(100)의 우측에 설치된 브레이크 유닛(400)의 연결블럭(420)에 고정된 제1고정블럭(231)과, 상기 제1고정블럭(231)과 후방블럭(210)의 우측단을 수평으로 연결하는 핀부재(232)와, 상기 베이스(100)의 좌측에 설치된 브레이크 유닛(400)의 연결블럭(420)에 고정된 제2고정블럭(233)과, 상기 제2고정블럭(233)과 후방블럭(210)의 좌측단을 수평으로 탄성연결하는 제4탄성부재(234)와, 상기 제1고정블럭(231)에 설치되어 상기 후방블럭(210)의 우측단을 밀어서 좌측으로 이동시키는 이송부재(235)를 구비한다.
이 경우, 상기 이송부재(235)로는 정밀제어가 가능한 볼 스크류가 적당하다.
이와 같이 구성된 상기 얼라인유닛(230)은 베이스(100)에 안착된 OLED 기판의 전극패드에 대하여 컨택터(300)의 컨택위치가 좌우방향으로 어긋나 있는 경우, 후방블럭(210)을 좌우방향으로 미세하게 이동시켜 후방블럭(210)에 고정된 컨택터(300)를 얼라인시킨다.
즉, 이송부재(235)가 전진하면 핀부재(232)의 안내에 따라 후방블럭(210)이 우측으로 밀려 이동하면서 얼라인이 이루어지게 됨과 동시에 제4탄성부재(234)가 압축되고, 이송부재(235)가 후퇴하면 압축된 제4탄성부재(234)가 복원되면서 이송부재(235)가 후퇴한 만큼 후방블럭(210)을 좌측으로 밀어서 컨택터(300)를 얼라인시키는 것이다.
한편, 상기 베이스(100)의 가장자리 일측에는 OLED 기판의 상태나 수명을 용이하게 관리할 수 있도록 NFC(Near Field Communication) 칩 또는 RFID(Radio Frequency Identification) 칩이 장착될 수 있다.
아울러, 상기 베이스(100)는 공기중의 수분 흡수력이 거의 없고, 절연저항이 매우 높기 때문에 발생된 정전기를 흘려버리지 못하고 축적하는 성질을 가지게 된다. 따라서 정전기 장애를 일으키지 않도록 표면저항(Surface Resistance)을 제어할 필요가 있다.
이를 위하여, 상기 베이스(100)의 표면은 대전방지처리되는 것이 바람직하다.
대전방지처리는 베이스(100) 표면에 레디던트(Raydent) 용재와 카본(Cabon) 가루와 그라파이트(Graphite) 가루를 섞어 레이던트 코팅층을 형성시킨 것으로 도전저항 값이 106 Ω/sq 내지 109Ω/sq의 범위를 유지하도록 처리된다.
이와 같이 구성된 본 발명의 OLED 기판 검사용 파레트는 검사대상이 되는 OLED 기판이 얼라인된 상태로 베이스(100)에 안착되면 클램프(200)가 OLED 기판의 사이즈에 따라 미리 입력된 위치로 이동하게 된다.
이때의 클램핑 작동레버(260)는 외부로부터 상승력을 부여받아 상승된 상태로서 클램핑 작동레버(260)를 따라 탄성승강블럭(250) 및 컨택블럭(220)이 동반 상승한 언컨택 상태이다.
그리고, 얼라인 유닛(230)을 통해 컨택터(300)가 좌우방향으로 미세 이동하면서 OLED 기판의 전극패드와 컨택터(300)에 대한 정밀 얼라인이 이루어진다.
정밀 얼라인이 완료되면, 브레이크 유닛(400)이 브레이크 상태로 전환되면서 얼라인 유닛(230)의 전후 이동이 제한되며, 그 결과 얼라인 유닛(230)에 연결된 컨택터(300)의 전후이동이 제한된다.
따라서, 컨택터(300)는 전후 및 좌우 방향으로의 이동이 불허되면서 정밀 얼라인 상태가 안정적으로 유지된다.
이 상태에서 크램핑 작동레버(260)에 작용하고 있는 상승력이 제거되면, 압축된 상태의 제1탄성부재(252)의 복원력에 의하여 클램핑 작동레버(260)와 함께 탄성승강블럭(250)과 컨택블럭(220)이 하강하면서 아래에 위치한 컨택터(300)를 아래로 누르게 된다.
상기 컨택터(300)는 연성회로기판으로 이루어져 있고 컨택블럭(220)과는 분리되어 있기 때문에 상기 컨택블럭(220)의 승강축이 기울어져 있다 하더라도 이와는 상관없이 OLED 기판의 전극패드를 향해 수평 하강하게 되고, 그 결과 상기 전극패드와의 컨택이 전구간에 대하여 정상적으로 이루어지게 된다.
이때, 컨택블럭(220)에 탄성승강블럭(250)이 연결되어 있기 때문에 컨택블럭(220)의 승강축이 기울어지더라도 컨택터(300)가 전극패드에 컨택될 때 컨택블럭(220)의 자세가 수평으로 자가 조정되므로 확실한 컨택이 보장된다.
뿐만 아니라, 상기 컨택블럭(220)이 블럭몸체(251)에 수직방향으로 탄성적으로 유동가능하게 설치된 경우, 상기와 마찬가지로 컨택블럭(220)의 승강축이 기울어지더라도 컨택터(300)가 전극패드에 컨택될 때 컨택블럭(220)의 자세가 수평으로 자가 조정되므로 컨택 신뢰도는 더욱 향상된다.
아울러, 본 발명은 클램프(200)의 컨택동작이 컨택블럭(220)의 후방에 설치된 탄성승강블럭(250)을 통해서 이루어지도록 구성되어 있기 때문에 컨택블럭(220)의 상부에 LM 가이드가 설치된 종래에 비하여 전체적인 높이를 최소화시킬 수 있게 된다.
따라서, 본 발명의 OLED 기판 검사용 파레트는 각 검사공정 별로 마련된 검사용 랙에 종래 보다 많은 수량의 적재가 가능해지므로 생산성을 크게 향상시킬 수 있게 된다.
이와 같이, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대해 상술하였으나 본 발명은 전술한 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자가 본 발명의 사상을 벗어나지 않고 변형 가능하며, 이러한 변형은 본 발명의 권리범위에 속할 것이다.
100...베이스 110...바닥판
120...제1보강프레임 130...제2보강프레임
200...클램프 210...후방블럭
220...컨택블럭 221...수직홈부
222...제2탄성부재 223...수직홈부
224...롤러 230...얼라인유닛
231...제1고정블럭 232...핀부재
233...제2고정블럭 234...제4탄성부재
235...이송부재 240...베이스블럭
250...탄성승강블럭 251...블럭몸체
251a...양측부 251b...중앙부
252...제1탄성부재 253...수직돌부
254...수평블럭 260...클램핑 작동레버
300...컨택터 400...브레이크 유닛
410...스크류 420...연결블럭
430...하우징 440...브레이크 블럭
450...가압부재 460...제3탄성부재

Claims (12)

  1. OLED 기판이 놓여지는 베이스와, 상기 베이스에 순차적으로 설치된 복수의 클램프와, 상기 복수의 클램프의 하부에 구비되어 클램프의 동작 상태에 따라 OLED 기판에 형성된 전극패드과 컨택되거나 컨택이 해제되는 컨택터를 구비한 OLED 기판 검사용 파레트에 있어서,
    상기 컨택터가 연성회로기판이고;
    상기 클램프가 상기 컨택터가 고정된 후방블럭과, 상기 컨택터와 분리된 상태로 상기 후방블럭의 전방에 위치하며 하강시 상기 컨택터와 컨택되는 컨택블럭과, 상기 후방블럭을 좌우방향으로 이동시키는 얼라인유닛과, 상기 얼라인유닛에 고정되며 상기 컨택블럭과 후방블럭의 사이에 위치하는 베이스블럭과, 상기 베이스블럭에 컨택블럭을 승강가능하게 연결하는 탄성승강블럭과, 상기 탄성승강블럭의 양측단에 돌출 형성된 클램핑 작동레버를 포함하며;
    상기 베이스의 좌측과 우측에는 각각 상기 얼라인 유닛의 전후 이동을 제한하는 브레이크 유닛이 구비된 OLED 기판 검사용 파레트.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 베이스는
    바닥판;
    상기 바닥판의 가장자리를 따라 고정된 제1보강프레임; 및
    상기 바닥판의 양측에 전후방향으로 나란하게 고정되며 양단이 각각 마주하는 제1보강프레임에 결합된 한 쌍의 제2보강프레임을 구비한 OLED 기판 검사용 파레트.
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 클램프는 베이스의 전단과 후단에 각각 설치되어 OLED 기판의 사이즈에 따라 전후로 이동하면서 상호간의 이격거리를 달리하는 OLED 기판 검사용 파레트.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 탄성승강블럭은
    베이스블럭의 하부에 위치하며 상기 작동레버와 결합된 양측부와, 상기 베이스블럭의 전방에서 상기 컨택블럭과 결합되는 중앙부를 구비한 블럭몸체; 및
    상기 블럭몸체의 양측부와 베이스블럭의 양측 저면을 이격된 상태로 탄성 지지하는 제1탄성부재를 구비한 OLED 기판 검사용 파레트.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 컨택블럭은 블럭몸체의 중앙부에 수직방향으로 탄성적으로 유동가능하게 설치된 OLED 기판 검사용 파레트.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 컨택블럭의 하단에는 수직홈부가 형성되고
    상기 블럭몸체의 중앙부 하단에는 상기 수직홈부에 끼워지는 수직돌부가 형성되며;
    상기 블럭몸체의 중앙부 상단에 전방으로 돌출되게 수평블럭이 고정되고;
    상기 컨택블럭의 상단에는 상기 수평블럭과 컨택블럭을 이격되게 탄성지지하는 제2탄성부재가 설치된 OLED 기판 검사용 파레트.
  7. 제 6항에 있어서,
    상기 컨택블럭의 중앙에는 블럭몸체의 중앙부를 향해 개방된 수직홈이 형성되고;
    상기 수직홈에는 블럭몸체의 중앙부에 밀착되게 설치되어 상기 컨택블럭이 승강할 때 상기 블럭몸체의 중앙부를 따라 구름운동하면서 컨택블럭의 수직방향으로 유동이 원활하게 이루어지도록 돕는 롤러가 설치된 OLED 기판 검사용 파레트.
  8. 삭제
  9. 제 1항에 있어서,
    상기 브레이크 유닛은
    상기 베이스에 전후방향으로 설치된 스크류;
    일측은 상기 스크류에 체결되고 타측은 상기 얼라인유닛에 고정된 연결블럭;
    상기 스크류가 내부를 관통하도록 상기 베이스에 고정된 하우징;
    상기 하우징 내부에 승강가능하게 설치되어 하강시 상기 스크류에 밀착되면서 스크류의 회전을 제한하는 브레이크 블럭;
    하강한 상기 브레이크 블럭을 밀어서 상승시켜 브레이크 상태를 해제하는 가압부재; 및
    상기 하우징과 브레이크 블럭 사이에 설치되어 상기 브레이크 블럭 상승시 압축되면서 상승한 브레이크 블럭에 대하여 하강력을 제공하는 제3탄성부재를 구비한 OLED 기판 검사용 파레트.
  10. 제 9항에 있어서,
    상기 얼라인유닛은
    상기 베이스의 일측에 설치된 브레이크 유닛의 연결블럭에 고정된 제1고정블럭;
    상기 제1고정블럭과 후방블럭의 일측단을 수평으로 연결하는 핀부재;
    상기 베이스의 타측에 설치된 브레이크 유닛의 연결블럭에 고정된 제2고정블럭;
    상기 제2고정블럭과 후방블럭의 타측단을 수평으로 탄성연결하는 제4탄성부재; 및
    상기 제1고정블럭에 설치되어 상기 후방블럭의 일측단을 밀어서 타측으로 이동시키는 이송부재를 구비한 OLED 기판 검사용 파레트.
  11. 제 1항에 있어서,
    상기 베이스의 가장자리 일측에는 OLED 기판의 상태나 수명을 관리하기 위한 NFC 칩 또는 RFID 칩이 장착된 OLED 기판 검사용 파레트.
  12. 제 1항에 있어서,
    상기 베이스의 표면은 도전저항 값이 106 Ω/sq 내지 109Ω/sq의 수치범위를 만족하도록 대전방지 처리된 것을 특징으로 하는 OLED 기판 검사용 파레트.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006324030A (ja) 2005-05-17 2006-11-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd フラットディスプレイパネルの点灯検査装置および点灯検査方法
KR100958104B1 (ko) 2009-03-16 2010-05-17 코스모스시스템(주) 광특성을 측정하기 위한 엘이디 모듈 및 비엘유 겸용 고정장치
KR102149698B1 (ko) * 2019-02-27 2020-08-31 주식회사 이엘피 디스플레이 패널의 양변 검사장치

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101346952B1 (ko) 2012-11-21 2014-01-16 주식회사 이엘피 Amoled 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법
KR101611922B1 (ko) * 2014-05-12 2016-04-14 참엔지니어링(주) 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법
KR20170071058A (ko) * 2015-12-15 2017-06-23 이동인 글래스 패널 회로부 컨택장치 및 이를 이용한 글래스 패널 회로부 검사방법

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006324030A (ja) 2005-05-17 2006-11-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd フラットディスプレイパネルの点灯検査装置および点灯検査方法
KR100958104B1 (ko) 2009-03-16 2010-05-17 코스모스시스템(주) 광특성을 측정하기 위한 엘이디 모듈 및 비엘유 겸용 고정장치
KR102149698B1 (ko) * 2019-02-27 2020-08-31 주식회사 이엘피 디스플레이 패널의 양변 검사장치

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