KR102539663B1 - chamber tray device - Google Patents
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Abstract
본 발명은 챔버 트레이 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 밀폐된 챔버 내에서 OLED와 같은 피 검사체의 정상 동작여부를 검사할 때, 협소한 챔버 내의 공간을 보다 효율적으로 활용하고, 피 검사체의 종류에 관계없이 간단하게 탈부착이 가능한 챔버 트레이 장치에 관한 것이다.
또한, 밀폐된 챔버 내에서 피 검사체의 정상 동작여부를 검사하기 위해 피 검사체가 고정되는 고정지그와 상기 고정지그가 배열된 검사 패널과 상기 검사 패널이 탈부착되는 캐리어와 상기 캐리어의 슬라이딩 인출을 위한 슬라이드부를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a chamber tray device, and more particularly, when inspecting the normal operation of a subject such as an OLED in a closed chamber, more efficiently utilizing the space in a narrow chamber, It relates to a chamber tray device that can be easily attached or detached regardless of the type.
In addition, in order to inspect the normal operation of the inspected object in the closed chamber, a fixing jig to which the inspected object is fixed, an inspection panel on which the fixing jig is arranged, a carrier to which the inspection panel is detachable, and a sliding pull-out of the carrier It is characterized in that it includes a slide part.
Description
본 발명은 챔버 트레이 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 밀폐된 챔버 내에서 OLED와 같은 피 검사체의 정상 동작여부를 검사할 때, 협소한 챔버 내의 공간을 보다 효율적으로 활용하고, 피 검사체의 종류에 관계없이 간단하게 탈부착이 가능한 챔버 트레이 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a chamber tray device, and more particularly, when inspecting the normal operation of a subject such as an OLED in a closed chamber, more efficiently utilizing the space in a narrow chamber and It relates to a chamber tray device that can be easily attached or detached regardless of the type.
일반적으로 가혹한 환경에서의 정상동작 여부를 확인하기 위한 검사는 외부 환경과 격리되밀폐된 챔버 내에서 실시되고 있다.In general, an inspection to confirm normal operation in a harsh environment is performed in a sealed chamber isolated from the external environment.
하지만 종래의 챔버는 작업자가 피 검사체에 수작업으로 케이블을 연결하고, 배치시킴에 따라, 시간이 많이 소요되고, 번거로운 문제점이 있었다.However, in the conventional chamber, as the operator manually connects and places the cable to the object to be inspected, it takes a lot of time and has troublesome problems.
특히, 작업자가 수작업으로 케이블의 연결과 해제를 반복하면서 케이블의 단자가 파손되거나, 파손으로 인한 연결 불량이 자주 발생하는 문제점이 있었다.In particular, while a worker repeatedly manually connects and disconnects the cable, there is a problem that the terminal of the cable is damaged, or connection failure due to damage often occurs.
이에 따라, 한국공개특허 제10-2010-0002877호 "에이징 검사 수량 조절이 가능한 엘씨디 에이징 챔버"와 같이 피 검사체가 슬라이드식으로 수납가능한 기술이 개발되었다Accordingly, a technology capable of slidingly storing the inspected object has been developed, such as Korean Patent Publication No. 10-2010-0002877 "LCD aging chamber capable of adjusting the amount of aging test"
하지만, 다른 제품의 검사가 어렵고, 피 검사체를 하나씩 장착하거나, 수거해야만 하는 번거러움이 있으며, 피 검사체를 장착하거나 수거하는 동안 검사를 진행하지 못하여 생산성이 떨어지는 문제점이 있었다.However, it is difficult to inspect other products, it is cumbersome to mount or collect the objects one by one, and the inspection cannot be performed while the objects to be inspected are mounted or collected, resulting in low productivity.
또한, 여전히 각 피 검사체 별로 케이블의 연결 및 해제를 반복함에 따라 단자의 파손이 자주 발생되는 문제점이 있었다In addition, there is still a problem in that terminal damage occurs frequently as the cable is repeatedly connected and disconnected for each test subject.
이에 따라, 복수 개의 피 검사체를 한번에 장착하고, 수거하여 검사 준비시간을 크게 감소시키면서, 케이블의 연결 및 해제로 인한 단자 파손을 효과적으로 방지하기 위한 기술 개발의 필요성이 제기되고 있다.Accordingly, there is a need to develop a technology for effectively preventing damage to terminals due to connection and disconnection of cables while greatly reducing test preparation time by mounting and collecting a plurality of objects at once.
본 발명의 목적은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 검사를 진행할 피 검사체의 장착에 소요되는 검사 준비시간 및 복잡한 케이블의 연결 및 단자의 파손을 방지하기 위한 챔버 트레이 장치를 제공하는 것이다.An object of the present invention has been made to solve the above-described problems, and provides a chamber tray device for preventing test preparation time required for mounting a test object to be tested and connection of complicated cables and damage to terminals. is to do
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 챔버 트레이 장치는 밀폐된 챔버 내에서 피 검사체의 정상 동작여부를 검사하기 위해 피 검사체가 고정되는 고정지그와 상기 고정지그가 배열된 검사 패널과 상기 검사 패널이 탈부착되는 캐리어와 상기 캐리어의 슬라이딩 인출을 위한 슬라이드부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a chamber tray device according to the present invention includes a fixing jig to which the inspected object is fixed, an inspection panel in which the fixing jig is arranged, and the inspection panel in order to inspect whether the inspected object operates normally in a closed chamber. It is characterized in that it includes a detachable carrier and a slide part for sliding and withdrawing the carrier.
또한, 상기 슬라이드부는 캐리어의 하단에 배치되는 제1 슬라이드부와 캐리어의 후면에 배치되는 제2 슬라이드부로 구성되며, 제1 슬라이드부와 제2 슬라이드부는 폭방향이 상호 수직하게 배치된 것을 특징으로 한다.In addition, the slide part is composed of a first slide part disposed on the lower end of the carrier and a second slide part disposed on the rear surface of the carrier, and the first slide part and the second slide part are disposed perpendicular to each other in the width direction. .
또한, 상기 캐리어의 상단에 배치되어 검사 패널의 고정을 위한 고정부재와 상기 고정부재의 하부에 배치되어 검사 패널을 검사장치와 전기적으로 연결시키기 위한 단자부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.In addition, it is characterized in that it is configured to include a fixing member disposed on the top of the carrier for fixing the test panel and a terminal part disposed below the fixing member to electrically connect the test panel to the test device.
또한, 상기 고정부재의 일측은 캐리어의 일측에 회동되도록 결합되고, 고정부재의 타측에는 캐리어의 타측에 돌출된 가이드핀이 삽입되어 위치를 정렬시키도록 가이드홀이 형성되어 있는 것을 특징으로 한다.In addition, one side of the fixing member is coupled to rotate on one side of the carrier, and a guide hole is formed on the other side of the fixing member so that a guide pin protruding from the other side of the carrier is inserted to align the position.
또한, 상기 고정부재의 하부에 배치되어 검사 패널의 위치를 정렬시켜주기 위한 위치정렬부를 더 포함하며, 상기 위치정렬부는 삼각형 또는 사다리꼴 형태의 골이 길이방향을 따라 형성되어 검사 패널의 상단부가 골의 경사면을 따라 미끄러지면서 위치가 정렬되도록 구성된 것을 특징으로 한다.In addition, a positioning unit is disposed under the fixing member to align the position of the inspection panel. The positioning unit has triangular or trapezoidal valleys formed along the longitudinal direction so that the upper end of the examination panel is aligned with the valley. It is characterized in that it is configured to align the position while sliding along the inclined surface.
또한, 상기 위치정렬부는 회동시 점진적으로 검사 패널의 위치를 정렬시키기 위해 회동 축방향측 골의 폭이 반대측 골의 폭보다 더 넓게 형성된 것을 특징으로 한다.In addition, the alignment unit is characterized in that the width of the valley on the axial direction of rotation is wider than the width of the valley on the opposite side in order to gradually align the position of the test panel during rotation.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 챔버 트레이 장치에 의하면, 피 검사체가 고정되는 고정지그가 배열된 검사 패널을 탈부착하여 한번에 복수 개의 피 검사체를 교체하여 검사 준비시간을 크게 줄이고, 검사 패널을 통해 한번에 케이블을 연결함으로써 간편하고, 단자의 파손을 효과적으로 방지할 수 있는 효과가 있다.As described above, according to the chamber tray device according to the present invention, the inspection preparation time is greatly reduced by replacing a plurality of inspection objects at once by attaching and detaching the inspection panel in which the fixing jig to which the inspection object is fixed is arranged, and through the inspection panel By connecting the cable at once, it is convenient and has an effect of effectively preventing damage to the terminal.
도 1은 본 발명에 따른 챔버 트레이 장치의 실시예를 도시한 도면.
도 2는 본 발명에 따른 챔버 트레이 장치를 도시한 도면.
도 3은 본 발명에 따른 챔버 트레이 장치의 고정부재를 도시한 도면.
도 4는 본 발명에 따른 챔버 트레이 장치의 위치정렬부를 도시한 도면.1 shows an embodiment of a chamber tray device according to the present invention;
Figure 2 shows a chamber tray device according to the present invention.
3 is a view showing a fixing member of the chamber tray device according to the present invention.
4 is a view showing a position alignment unit of the chamber tray device according to the present invention.
본 명세서에 개시되어 있는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들에 대해서 특정한 구조적 또는 기능적 설명은 단지 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것으로서, 본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 형태들로 실시될 수 있으며 본 명세서에 설명된 실시 예들에 한정되지 않는다.Specific structural or functional descriptions of the embodiments according to the concept of the present invention disclosed in this specification are only illustrated for the purpose of explaining the embodiments according to the concept of the present invention, and the embodiments according to the concept of the present invention It can be embodied in various forms and is not limited to the embodiments described herein.
본 발명의 개념에 따른 실시 예들은 다양한 변경들을 가할 수 있고 여러 가지 형태들을 가질 수 있으므로 실시 예들을 도면에 예시하고 본 명세서에서 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 개념에 따른 실시 예들을 특정한 개시 형태들에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함한다.Embodiments according to the concept of the present invention can apply various changes and have various forms, so the embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in this specification. However, this is not intended to limit the embodiments according to the concept of the present invention to specific disclosure forms, and includes all changes, equivalents, or substitutes included in the spirit and technical scope of the present invention.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 챔버 트레이 장치의 실시예를 도시한 도면이며, 도 2는 본 발명에 따른 챔버 트레이 장치를 도시한 도면이고, 도 3은 본 발명에 따른 챔버 트레이 장치의 고정부재를 도시한 도면이며, 도 4는 본 발명에 따른 챔버 트레이 장치의 위치정렬부를 도시한 도면이다.1 is a view showing an embodiment of a chamber tray device according to the present invention, FIG. 2 is a view showing a chamber tray device according to the present invention, and FIG. 3 shows a fixing member of the chamber tray device according to the present invention. This is a drawing, and FIG. 4 is a view showing a position alignment unit of the chamber tray device according to the present invention.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 챔버 트레이 장치는 밀폐된 챔버 내에서 피 검사체(1)의 정상 동작여부를 검사하기 위해 피 검사체(1)가 고정되는 고정지그(2)와 상기 고정지그(2)가 배열된 검사 패널(3)과 상기 검사 패널(3)이 탈부착되는 캐리어(4)와 상기 캐리어(4)의 슬라이딩 인출을 위한 슬라이드부(5)를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 1, the chamber tray device according to the present invention includes a
이때, 상기 슬라이드부(5)에 의해 인출되는 캐리어(4)는 복수 개가 배열되도록 구성될 수 있다.At this time, a plurality of
또한, 상기 상기 슬라이드부(5)는 도 2에 도시된 정면도와 같이, 캐리어(4)의 하단에 배치되는 제1 슬라이드부(11)와 캐리어(4)의 후면에 배치되는 제2 슬라이드부(12)로 구성되며, 수직방향 하중과 수평방향 하중에 복합적으로 안정적인 지지력을 가질 수 있도록 제1 슬라이드부(11)와 제2 슬라이드부(12)는 폭방향이 상호 수직하게 배치됨이 바람직하다.In addition, as shown in the front view shown in FIG. 2, the
즉, 제1 슬라이드부(11)와 제2 슬라이드부(12)는 레일의 형성 방향이 상호 수직하도록 배치되는 것이다.That is, the
또한, 상기 캐리어(4)는 "ㄴ"자 형태로 검사 패널(3)이 올려져 거치되도록 구성되며, 상부에 위치한 고정부재(13) 또는 별도의 클램프와 같은 고정수단을 통해 고정되도록 구성될 수 있다.In addition, the
보다 상세하게는, 도 3에 도시된 바와 같이 상기 캐리어(4)의 상단에 고정부재(13)가 배치되어 검사 패널(3)을 고정시키게 된다.More specifically, as shown in FIG. 3 , a
상기 고정부재(13)의 일측은 캐리어(4)의 일측에 회동되도록 결합되어, 고정부재(13)의 회동 동작에 의해 검사 패널(3)의 고정 및 해제가 실시된다.One side of the
또한, 상기 고정부재(13)의 하부에는 검사 패널(3)의 단자(3a)를 검사장치와 전기적으로 연결시키기 위한 단자부(14)가 배치된다.In addition, a
또한, 상기 고정부재(13)의 타측에는 캐리어(4)의 타측에 돌출된 가이드핀(15)이 삽입되어 회동되는 고정부재(13)의 위치를 정렬시키도록 가이드홀(16)이 형성됨이 바람직하다.In addition, it is preferable that a
이를 통해, 상기 고정부재(13)는 단자와 연결된 검사 패널(3)과 캐리어(4) 양측에 결합되어 그 위치를 정렬시켜주게 된다.Through this, the
또한, 도 4에 도시된 바와 같이 상기 고정부재(14)의 하부에 배치되어 검사 패널(3)의 위치를 정렬시켜주기 위한 위치정렬부(17)를 더 포함하도록 구성될 수도 있다.In addition, as shown in FIG. 4, it may be configured to further include a
상기 위치정렬부(17)는 삼각형 또는 사다리꼴 형태의 골이 길이방향을 따라 형성되어 검사 패널(3)의 상단부가 골의 경사면을 따라 미끄러지면서 위치가 정렬되도록 구성된다.The
특히, 상기 위치정렬부(17)는 회동시 점진적으로 검사 패널(3)의 위치를 정렬시키기 위해 회동 축방향측 골의 폭이 반대측 골의 폭보다 더 넓게 형성될 수도 있다.In particular, in order to gradually align the position of the
즉, 고정부재(13)의 회동을 고려하여 검사 패널(3)과 처음 접하게 되는 회동 축방향측 골의 폭이 더 넓게 형성되어 아직 정렬되지 않은 검사 패널(3)이 보다 쉽게 골에 수용되며, 반대측 골은 검사 패널(3)을 정위치시키기 위해 골이 협소하게 형성되는 것이다.That is, in consideration of the rotation of the
이상과 같이 본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 실시예를 중심으로 기술되었지만 당업자라면 이러한 기재로부터 본 발명의 범주를 벗어남이 없이 많은 다양한 자명한 변형이 가능하다는 것은 명백하다. 따라서 본 발명의 범주는 이러한 많은 변형의 예들을 포함하도록 기술된 청구범위에 의해서 해석되어져야 한다.As described above, the present invention has been described with reference to the preferred embodiments with reference to the accompanying drawings, but it is clear that many and various obvious modifications are possible to those skilled in the art from this description without departing from the scope of the present invention. Accordingly, the scope of the present invention should be construed by the claims described to include examples of these many variations.
1 : 피 검사체
2 : 고정지그
3 : 검사 패널
4 : 캐리어
5 : 슬라이드부
11 : 제1 슬라이드부
12 : 제2 슬라이드부
13 : 고정부재
14 : 단자부
15 : 가이드핀
16 : 가이드홀
17 : 위치정렬부1: blood test subject
2 : fixed jig
3: Inspection panel
4 : carrier
5: slide part
11: first slide part
12: second slide part
13: fixing member
14: terminal part
15: guide pin
16: guide hole
17: position alignment unit
Claims (6)
상기 고정지그가 배열된 검사 패널과;
상기 검사 패널이 탈부착되는 캐리어와;
상기 캐리어의 슬라이딩 인출을 위한 슬라이드부를 포함하며,
상기 슬라이드부는
캐리어의 하단에 배치되는 제1 슬라이드부와;
캐리어의 후면에 배치되는 제2 슬라이드부로 구성되며,
제1 슬라이드부와 제2 슬라이드부는 폭방향이 상호 수직하게 배치된 것을 특징으로 하는
챔버 트레이 장치.
A fixing jig in which a test object is fixed in order to test whether the test object operates normally in a closed chamber;
an inspection panel on which the fixing jig is arranged;
a carrier to which the test panel is detachable;
It includes a slide part for sliding and withdrawing the carrier,
the slide part
a first slide unit disposed at a lower end of the carrier;
Consisting of a second slide portion disposed on the rear surface of the carrier,
Characterized in that the first slide part and the second slide part are disposed perpendicular to each other in the width direction
chamber tray device.
상기 고정지그가 배열된 검사 패널과;
상기 검사 패널이 탈부착되는 캐리어와;
상기 캐리어의 슬라이딩 인출을 위한 슬라이드부와;
상기 캐리어의 상단에 배치되어 검사 패널의 고정을 위한 고정부재와;
상기 고정부재의 하부에 배치되어 검사 패널을 검사장치와 전기적으로 연결시키기 위한 단자부를 포함하며,
상기 고정부재의 일측은 캐리어의 일측에 회동되도록 결합되고, 고정부재의 타측에는 캐리어의 타측에 돌출된 가이드핀이 삽입되어 위치를 정렬시키도록 가이드홀이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는
챔버 트레이 장치.
A fixing jig in which a test object is fixed in order to test whether the test object operates normally in a closed chamber;
an inspection panel on which the fixing jig is arranged;
a carrier to which the test panel is detachable;
a slide unit for sliding and withdrawing the carrier;
a fixing member disposed on the top of the carrier to fix the test panel;
A terminal portion disposed below the fixing member to electrically connect the test panel to the test device,
One side of the fixing member is rotatably coupled to one side of the carrier, and a guide hole is formed on the other side of the fixing member so that a guide pin protruding from the other side of the carrier is inserted to align the position.
chamber tray device.
상기 고정부재의 하부에 배치되어 검사 패널의 위치를 정렬시켜주기 위한 위치정렬부를 더 포함하며,
상기 위치정렬부는 삼각형 또는 사다리꼴 형태의 골이 길이방향을 따라 형성되어 검사 패널의 상단부가 골의 경사면을 따라 미끄러지면서 위치가 정렬되도록 구성된 것을 특징으로 하는
챔버 트레이 장치.
According to claim 2,
Further comprising a position alignment unit disposed under the fixing member to align the position of the inspection panel,
The alignment unit is characterized in that the triangular or trapezoidal valley is formed along the longitudinal direction so that the upper end of the test panel slides along the inclined surface of the valley to align the position
chamber tray device.
상기 위치정렬부는 회동시 점진적으로 검사 패널의 위치를 정렬시키기 위해 회동 축방향측 골의 폭이 반대측 골의 폭보다 더 넓게 형성된 것을 특징으로 하는
챔버 트레이 장치.
According to claim 3,
In order to gradually align the position of the test panel during rotation, the alignment unit is characterized in that the width of the valley on the axial direction of rotation is wider than the width of the valley on the opposite side.
chamber tray device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020210051020A KR102539663B1 (en) | 2021-04-20 | 2021-04-20 | chamber tray device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020210051020A KR102539663B1 (en) | 2021-04-20 | 2021-04-20 | chamber tray device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20220144558A KR20220144558A (en) | 2022-10-27 |
KR102539663B1 true KR102539663B1 (en) | 2023-06-02 |
Family
ID=83810229
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020210051020A KR102539663B1 (en) | 2021-04-20 | 2021-04-20 | chamber tray device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102539663B1 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101249018B1 (en) | 2012-08-10 | 2013-04-02 | (주)디지털프론티어 | Ejector and ejecting system using ejector |
KR101249011B1 (en) | 2012-08-21 | 2013-04-02 | (주)디지털프론티어 | Board removable apparatus of burn-in tester |
KR101717264B1 (en) * | 2016-11-22 | 2017-03-17 | (주)앤츠 | Assistance apparatus for test |
JP2018028526A (en) | 2017-05-07 | 2018-02-22 | 合同会社Pleson | Tray-replaceable burn-in test unit |
KR102070007B1 (en) * | 2019-02-13 | 2020-02-17 | (주) 피티씨 | Burn-In Board Rack Unit and Semiconductor Inspection Apparatus having the same |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20070019416A (en) * | 2005-08-12 | 2007-02-15 | 삼성전자주식회사 | burn-in test system having device for assembling of burn-in board |
KR20100002877A (en) | 2008-06-30 | 2010-01-07 | (주)테이크시스템즈 | Lcd aging chamber adjustable of aging test capacity |
-
2021
- 2021-04-20 KR KR1020210051020A patent/KR102539663B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101249018B1 (en) | 2012-08-10 | 2013-04-02 | (주)디지털프론티어 | Ejector and ejecting system using ejector |
KR101249011B1 (en) | 2012-08-21 | 2013-04-02 | (주)디지털프론티어 | Board removable apparatus of burn-in tester |
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR20220144558A (en) | 2022-10-27 |
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