KR101717264B1 - Assistance apparatus for test - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명의 실시예들은 테스트 대상 장치를 테스트 장치에 용이하게 결합하기 위한 기술과 관련된다.Embodiments of the invention relate to techniques for easily coupling a device under test to a test device.
전자 장치, 회로 보드 등 테스트 대상 장치의 테스트를 위해서는 전원 공급선, 테스트 대상 장치와 테스트 장치간 연결선 등 전기적 연결을 위한 복수의 선들이 필요하다. 이에 따라, 복수의 테스트 대상 장치들을 테스트 하기 위해서는, 각 테스트 대상 장치마다 복수의 선들을 연결해야 하는 번거로움이 있다.To test a device under test, such as an electronic device or a circuit board, a plurality of wires are required for electrical connection, such as a power supply line, and a connection line between the device under test and the test apparatus. Accordingly, in order to test a plurality of test target devices, it is cumbersome to connect a plurality of lines to each test target device.
이에 따라, 테스트 지그와 같이 테스트 장치와의 연결을 위한 커넥터, 전원을 공급하는 커넥터 등을 미리 설정된 위치에 배치시켜, 테스트 대상 장치의 테스트를 돕는 테스트 보조 장치들이 개발되었다.As a result, test auxiliary devices such as a test jig for connecting a test device and a connector for supplying power have been developed at a predetermined position to help test the device under test.
그러나, 이러한 테스트 보조 장치들의 경우, 사용자가 각 커넥터들의 위치를 파악하고, 해당 커넥터들의 위치에 맞게 테스트 장치를 테스트 보조 장치와 연결해야 한다는 번거로움이 여전히 존재한다.However, in the case of these test assistants, there is still a problem that the user has to locate the respective connectors and connect the test apparatus to the test assist apparatus in accordance with the positions of the connectors.
본 발명의 실시예들은 테스트 대상 장치 용이하게 결합이 가능한 테스트 보조 장치를 제공하기 위한 것이다.Embodiments of the present invention are intended to provide a test assistant device capable of being easily combined with a device under test.
본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 보조 장치는, 하우징부, 상기 하우징부의 전면에 형성되며, 테스트 대상 장치와 접속되는 커넥터부, 상기 하우징부의 전면 일단에 회전 가능하게 마련되는 제1 회전 결합부, 상기 제1 회전 결합부에 상기 제1 회전 결합부의 길이 방향을 따라 마련되고, 상기 테스트 대상 장치의 일측을 가이드하는 제1 가이드부, 상기 하우징부의 전면 타단에 회전 가능하게 마련되는 제2 회전 결합부, 상기 제2 회전 결합부에 상기 제2 회전 결합부의 길이 방향을 따라 마련되고, 상기 테스트 대상 장치의 타측을 가이드하는 제2 가이드부, 및 일단이 상기 제1 회전 결합부에 연결되고 타단이 제2 회전 결합부에 연결되며, 상기 제1 회전 결합부 및 상기 제2 회전 결합부를 상기 커넥터부 측으로 회전시켜 상기 테스트 대상 장치의 일측 및 타측이 각각 상기 제1 가이드부 및 상기 제2 가이드부를 따라 상기 커넥터부 측으로 이동하여 상기 커넥터부와 상기 테스트 대상 장치를 물리적으로 결합시키는 손잡이부를 포함한다.A test auxiliary device according to an embodiment of the present invention includes a housing, a connector formed on a front surface of the housing and connected to the device under test, a first rotational coupling part rotatably provided at one end of the front surface of the housing, A first guide portion provided on the first rotary coupling portion along the longitudinal direction of the first rotary coupling portion and guiding one side of the device under test, a second rotary coupling portion rotatably provided on the other end of the front side of the housing portion, A second guide portion provided on the second rotary coupling portion along the longitudinal direction of the second rotary coupling portion and guiding the other side of the device under test, and a second guide portion having one end connected to the first rotary coupling portion, And the first rotary coupling portion and the second rotary coupling portion are rotated toward the connector portion so that one side and the other side of the device under test Each include a first guide part and the second guide portion along the handle for physically coupled to the connector section and the device under test to move to the side of the connector block.
상기 손잡이부는, 상기 제1 회전 결합부 및 상기 제2 회전 결합부를 상기 커넥터부의 반대 측으로 회전시켜 상기 테스트 대상 장치의 일측 및 타측이 각각 상기 제1 가이드부 및 상기 제2 가이드부를 따라 상기 커넥터부의 반대 측으로 이동하여 상기 커넥터부와 상기 테스트 대상 장치의 물리적 결합을 해제시킬 수 있다.Wherein the grip portion rotates the first rotary coupling portion and the second rotary coupling portion to the opposite side of the connector portion so that one side and the other side of the device under test respectively move along the first guide portion and the second guide portion, The physical connection between the connector unit and the device under test can be released.
상기 제1 가이드부는, 상기 테스트 대상 장치의 일측에 돌출 형성되는 제1 돌출부가 걸림되어 상기 제1 가이드부를 따라 이동하도록 마련되고, 상기 제2 가이드부는, 상기 테스트 대상 장치의 타측에 돌출 형성되는 제2 돌출부가 걸림되어 상기 제2 가이드부를 따라 이동하도록 마련될 수 있다.The first guide part may be provided with a first protrusion protruding from one side of the device under test so as to be engaged with the first guide part and the second guide part protrudes from the other side of the device under test 2 projections may be engaged and moved along the second guide portion.
상기 제1 가이드부는, 상기 제1 회전 결합부의 상단을 따라 돌출 형성되는 제1-1 가이드부 및 상기 제1 회전 결합부의 하단을 따라 형성되며, 상기 제1-1 가이드부보다 짧은 길이로 돌출 형성되는 제1-2 가이드부를 포함하고, 상기 제2 가이드부는, 상기 제2 회전 결합부의 상단을 따라 돌출 형성되는 제2-1 가이드부 및 상기 제2 회전 결합부의 하단을 따라 형성되며, 상기 제2-1 가이드부보다 짧은 길이로 돌출 형성되는 제2-2 가이드부를 포함할 수 있다.The first guide part includes a first 1-1 guide part protruding along the upper end of the first rotary part and a second guide part formed along the lower end of the first rotary part, Wherein the second guide portion is formed along a lower end of the second rotary coupling portion and a 2-1 guide portion protruded along the upper end of the second rotary coupling portion, -1 guiding portion which is formed to protrude with a shorter length than the guide portion.
상기 테스트 보조 장치는, 상기 하우징부의 전면 하단에 평평하게 판 형태로 형성되는 바닥부, 상기 바닥부의 일측에서 상기 바닥부의 측면 길이를 따라 마련되고, 상기 테스트 대상 장치가 상기 커넥터부에 인접하도록 상기 테스트 대상 장치의 일측을 가이드하는 제1 레일부, 상기 테스트 대상 장치의 일측에 돌출 형성되는 제1 돌출부가 통과하도록 상기 제1 레일부의 일측에서 타측으로 절개되어 형성되는 제1 레일 홈, 상기 바닥부의 타측에서 상기 바닥부의 측면 길이를 따라 마련되고, 상기 테스트 대상 장치가 상기 커넥터부에 인접하도록 상기 테스트 대상 장치의 타측을 가이드하는 제2 레일부, 및 상기 테스트 대상 장치의 타측에 돌출 형성되는 제2 돌출부가 통과하도록 상기 제2 레일부의 일측에서 타측으로 절개되어 형성되는 제2 레일 홈을 더 포함할 수 있다.The test support device may further include a bottom portion formed in a flat plate shape at a lower front surface of the housing portion, a bottom portion provided at one side of the bottom portion along a side length of the bottom portion, A first rail groove formed on one side of the first rail so as to allow a first projection protruding from one side of the first rail to pass through the first rail, A second rail part provided along the side length of the bottom part on the other side and guiding the other side of the device under test so that the device under test is adjacent to the connector part and a second rail part provided on the other side of the device under test And a second rail groove formed so as to be cut from one side of the second rail portion to the other side so as to allow the projection to pass therethrough. .
상기 테스트 보조 장치는, 상기 제1 회전 결합부가 상기 커넥터부의 반대 측으로 회전한 경우 상기 제1-2 가이드부의 상단 높이는, 상기 제1 레일 홈의 하단 높이보다 낮게 마련되고, 상기 제2 회전 결합부가 상기 커넥터부의 반대 측으로 회전한 경우 상기 제2-2 가이드부의 상단 높이는, 상기 제2 레일 홈의 하단 높이보다 낮게 마련될 수 있다.The test assisting apparatus may further include a second upper guide member having an upper end height that is lower than a lower end height of the first rail groove when the first rotary coupling unit is rotated to the opposite side of the connector unit, The upper end of the second-2 guide portion may be lower than the lower end of the second rail groove.
본 발명의 실시예들에 따르면, 가이드부를 이용하여 테스트 대상 장치와 결합이 용이한 테스트 보조 장치를 제공할 수 있다.According to the embodiments of the present invention, it is possible to provide a test assistant device which is easy to be coupled with the device under test using the guide portion.
또한, 본 발명의 실시예들에 따르면, 양측에 각각 형성되는 한 쌍의 가이드부를 포함함으로써, 사용자가 테스트 보조 장치 및 테스트 대상 장치의 커넥터 위치를 확인할 필요가 없이, 테스트 대상 장치와의 결합이 가능한 테스트 보조 장치를 제공할 수 있다.Further, according to the embodiments of the present invention, by including the pair of guide portions formed on both sides, the user does not have to check the connector positions of the test assistant device and the test target device, A test assistant device can be provided.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 보조 장치의 사시도
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 보조 장치와 테스트 대상 장치의 결합을 설명하기 위한 도면
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 제2 가이드부를 설명하기 위한 도면1 is a perspective view of a test assistant apparatus according to an embodiment of the present invention;
2 is a view for explaining a combination of a test assistant apparatus and a test object apparatus according to an embodiment of the present invention;
3 is a view for explaining a second guide unit according to an embodiment of the present invention;
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하기로 한다. 이하의 상세한 설명은 본 명세서에서 기술된 방법, 장치 및/또는 시스템에 대한 포괄적인 이해를 돕기 위해 제공된다. 그러나 이는 예시에 불과하며 본 발명은 이에 제한되지 않는다.Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. The following detailed description is provided to provide a comprehensive understanding of the methods, apparatus, and / or systems described herein. However, this is merely an example and the present invention is not limited thereto.
본 발명의 실시예들을 설명함에 있어서, 본 발명과 관련된 공지기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략하기로 한다. 그리고, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다. 상세한 설명에서 사용되는 용어는 단지 본 발명의 실시예들을 기술하기 위한 것이며, 결코 제한적이어서는 안 된다. 명확하게 달리 사용되지 않는 한, 단수 형태의 표현은 복수 형태의 의미를 포함한다. 본 설명에서, "포함" 또는 "구비"와 같은 표현은 어떤 특성들, 숫자들, 단계들, 동작들, 요소들, 이들의 일부 또는 조합을 가리키기 위한 것이며, 기술된 것 이외에 하나 또는 그 이상의 다른 특성, 숫자, 단계, 동작, 요소, 이들의 일부 또는 조합의 존재 또는 가능성을 배제하도록 해석되어서는 안 된다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description, well-known functions or constructions are not described in detail since they would obscure the invention in unnecessary detail. The following terms are defined in consideration of the functions of the present invention, and may be changed according to the intention or custom of the user, the operator, and the like. Therefore, the definition should be based on the contents throughout this specification. The terms used in the detailed description are intended only to describe embodiments of the invention and should in no way be limiting. Unless specifically stated otherwise, the singular form of a term includes plural forms of meaning. In this description, the expressions "comprising" or "comprising" are intended to indicate certain features, numbers, steps, operations, elements, parts or combinations thereof, Should not be construed to preclude the presence or possibility of other features, numbers, steps, operations, elements, portions or combinations thereof.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 보조 장치의 사시도이며, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 보조 장치와 테스트 대상 장치의 결합을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 1 is a perspective view of a test assistant apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a view for explaining a combination of a test assistant apparatus and a test object apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 1 및 도2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 보조 장치(10)는 테스트 장치 및 테스트 대상 장치(20)의 사이에 연결되어, 테스트 대상 장치(20)의 테스트를 돕기 위한 보조적 장치로서, 하우징부(100), 커넥터부(200), 제1 회전 결합부(300), 제2 회전 결합부(400), 제1 가이드부(500), 제2 가이드부(600) 및 손잡이부(700)을 포함한다. Referring to FIGS. 1 and 2, a
또한, 테스트 대상 장치(20)는 양측에 각각 제1 돌출부(21) 및 제2 돌출부(미도시)를 포함할 수 있다. 이때, 제2 돌출부(미도시)는 제1 돌출부(21)와 대응하여, 제1 돌출부(21)의 반대 측면에 돌출 형성될 수 있다. 또한, 도면에는 도시하지 않았으나, 테스트 대상 장치(20)는 일 측면에 테스트 보조 장치(10)의 커넥터부(200)와 대응하는 접속부를 포함할 수 있다.In addition, the device under
하우징부(100)는 내부에 일정 공간을 포함하며 형성될 수 있다. 구체적으로, 하우징부(100)는 직육면체 형상을 갖는 외부 틀일 수 있다. 또한, 하우징부(100)는 예를 들어, 알루미늄, 철 등으로 구성될 수 있다. 다만, 이는 본 발명의 설명을 위한 일 예시로서, 하우징부(100)는 직육면체 형상 외에 다른 형상으로 형성될 수 있으며, 다른 재료로 구성될 수 있다.The
또한, 하우징부(100)는 내부에 테스트 장치와 테스트 대상 장치(20)간 통신을 위한 통신 장치 및 테스트 대상 장치(20)로 전원을 공급하기 위한 장치를 포함할 수 있다.In addition, the
커넥터부(200)는 하우징부(100)의 전면에 형성되며, 테스트 대상 장치(20)와 접속된다. 구체적으로, 커넥터부(200)는 하우징부(100)의 전면에 돌출 형성되는, 적어도 하나의 커넥터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 커넥터부(200)는 하우징부(100)의 전면에 평행으로 배치되며, 각각 직사각형의 접속 단자를 갖는 제1 커넥터부(210), 제2 커넥터부(220), 제3 커넥터부(230) 및 제4 커넥터부(240)를 포함할 수 있다. 다만, 이는 본 발명의 설명을 위한 일 예시로서, 커넥터부(200)는 다른 형태의 접속 단자를 갖는 커넥터로 구성될 수 있다.The
제1 회전 결합부(300)는 하우징부(100)의 전면 일단에 회전 가능하게 마련된다. 또한, 제2 회전 결합부(400)는 하우징부(100)의 전면 타단에 회전 가능하게 마련된다. 구체적으로, 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)는 하우징부(100) 전면 양단에 서로 대칭적으로 마련될 수 있다. The first
또한, 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)는, 하단이 하우징부(100)에 결합된 막대 형상으로 마련될 수 있다. 구체적으로, 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)는, 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)의 회전 방향과 수직 방향으로 길게 형성되는 막대 형상으로 마련될 수 있다. 다만, 이는 본 발명의 설명을 위한 일 예시로서, 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)는 막대 형상 외에 다른 형상으로 마련될 수 있다.In addition, the first
제1 가이드부(500)는 제1 회전 결합부(300)에 제1 회전 결합부(300)의 길이 방향을 따라 마련되고, 테스트 대상 장치(20)의 일측을 가이드한다. 또한, 제2 가이드부(600)는 제2 회전 결합부(400)에 제2 회전 결합부(400)의 길이 방향을 따라 마련되고, 테스트 대상 장치(20)의 타측을 가이드한다. The
구체적으로, 제1 가이드부(500)는 테스트 대상 장치(20)의 일측에 돌출 형성되는 제1 돌출부(21)가 걸림되어 제1 가이드부(500)를 따라 이동하도록 마련될 수 있다. 예를 들어, 제1 가이드부(500)는 제1 회전 결합부(300)의 길이 방향을 따라 마련되고, 제1 돌출부(21)가 걸림되도록 마련되어, 제1 돌출부(21)가 제1 회전 결합부(300)의 길이 방향을 따라 이동하도록 가이드할 수 있다.Specifically, the
또한, 제2 가이드부(600)는 테스트 대상 장치(20)의 타측에 돌출 형성되는 제2 돌출부(미도시)가 걸림되어 제2 가이드부(600)를 따라 이동하도록 마련될 수 있다. 예를 들어, 제2 가이드부(600)는 제2 회전 결합부(400)의 길이 방향을 따라 마련되고, 제2 돌출부가 걸림되도록 마련되어, 제2 돌출부가 제2 회전 결합부(400)의 길이 방향을 따라 이동하도록 가이드할 수 있다.The
또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 제1 가이드부(500) 및 제2 가이드부(600)가 커넥터부(200)를 사이에 두고 양 측에 대응하게 마련되고, 테스트 대상 장치(20)의 양측을 함께 가이드함으로써, 테스트 대상 장치(20)를 효율적으로 가이드할 수 있다. 한편, 제1 가이드부(500) 및 제2 가이드부(600)의 구성 및 구체적인 가이드 방법은 도 3에서 상세히 설명하기로 한다.According to an embodiment of the present invention, the
손잡이부(700)는 일단이 제1 회전 결합부(300)에 연결되고 타단이 제2 회전 결합부(400)에 연결되며, 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)를 커넥터부(200) 측으로 회전시켜 테스트 대상 장치(20)의 일측 및 타측이 각각 제1 가이드부(500) 및 제2 가이드부(600)를 따라 커넥터부(200) 측으로 이동하여 커넥터부(200)와 테스트 대상 장치(20)를 물리적으로 결합시킨다.One end of the
예를 들어, 손잡이부(700)는 일단이 제1 회전 결합부(300)에 연결되고 타단이 제2 회전 결합부(400)에 연결되는, 막대 형상으로 마련될 수 있다. 다만, 이는 본 발명의 설명을 위한 일 예시로서, 손잡이부(700)는 막대 형상 외에 다른 형상으로 형성될 수 있다.For example, the
만약, 사용자가 손잡이부(700)를 커넥터부(200) 측으로 이동시키는 경우, 손잡이부(700)는 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)를 커넥터부(200) 측으로 회전시킬 수 있다. 또한, 이에 따라 테스트 대상 장치(20)는 일측 및 타측이 각각 제1 가이드부(500) 및 제2 가이드부(600)를 따라 커넥터부(200) 측으로 이동하여, 커넥터부(200)와 물리적으로 결합될 수 있다.If the user moves the
또한, 손잡이부(700)는, 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)를 커넥터부(200)의 반대 측으로 회전시켜 테스트 대상 장치(20)의 일측 및 타측이 각각 제1 가이드부(500) 및 제2 가이드부(600)를 따라 커넥터부(200)의 반대 측으로 이동하여 커넥터부(200)와 상기 테스트 대상 장치(20)의 물리적 결합을 해제시킬 수 있다.The
만약, 사용자가 손잡이부(700)를 커넥터부(200)측과 반대 측으로 이동시키는 경우, 손잡이부(700)는 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)를 커넥터부(200)측과 반대 측으로 회전시킬 수 있다. 또한, 이에 따라 테스트 대상 장치(20)는 일측 및 타측이 각각 제1 가이드부(500) 및 제2 가이드부(600)를 따라 커넥터부(200)측과 반대 측으로 이동하여, 커넥터부(200)와의 물리적 결합이 해제될 수 있다.When the user moves the
이와 같이, 본 발명의 실시예들에 따르면, 제1 및 제2 가이드부(500, 600)를 이용하여 테스트 대상 장치(20)와 결합이 용이한 테스트 보조 장치(10)를 제공할 수 있다.As described above, according to the embodiments of the present invention, it is possible to provide the
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 가이드부를 설명하기 위한 도면이다.3 is a view for explaining a first guide unit according to an embodiment of the present invention.
도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 가이드부(500)는 제1-1 가이드부(510) 및 제1-2 가이드부(520)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3, the
제1-1 가이드부(510)는 제1 회전 결합부(300)의 상단을 따라 돌출 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1-1 가이드부(510)는 제1 회전 결합부(300)의 상단에서, 제1 회전 결합부(300)의 길이 방향을 따라 직사각 형태로 돌출 형성될 수 있다. 다만, 이는 본 발명의 설명을 위한 일 예시로서, 제1-1 가이드부(510)는 직사각 형태 외에 다른 형태로 형성될 수 있다.The 1-1
제1-2 가이드부(520)는 제1 회전 결합부(300)의 하단을 따라 형성되며, 제1-1 가이드부(510)보다 짧은 길이로 돌출 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1-2 가이드부(520)는 제1 회전 결합부(300)의 하단에서, 제1 회전 결합부(300)의 길이 방향을 따라 직사각 형태로 돌출 형성될 수 있다. 다만, 이는 본 발명의 설명을 위한 일 예시로서, 제1-2 가이드부(520)는 직사각 형태 외에 다른 형태로 형성될 수 있다.The 1-2
또한, 제1 가이드부(500)는 제1-1 가이드부(510)와 제1-2 가이드부(520) 사이에 테스트 대상 장치(20)의 일 측면에 돌출 형성되는 제1 돌출부(21)가 걸림되어 이동하도록 할 수 있다. 구체적으로, 테스트 대상 장치(20)가 커넥터부(200)측으로 인접하는 경우, 테스트 대상 장치(20)의 제1 돌출부(21)는 제1-1 가이드부(510)의 하단 및 제1-2 가이드부(520)의 상단의 공간에 걸림된다.The
이때 만약, 사용자가 손잡이부(700)를 커넥터부(200)측으로 이동시키면, 제1-2 가이드부(520)는 제1 돌출부(21)를 밀어 테스트 대상 장치(20)를 커넥터부(200) 측으로 이동시킬 수 있다. 또한 만약, 사용자가 손잡이부(700)를 커넥터부(200)측과 반대 측으로 이동시키면, 제1-1 가이드부(510)는 제1 돌출부(21)를 밀어 테스트 대상 장치(20)를 커넥터부(200)측과 반대 측으로 이동시킬 수 있다.When the user moves the
또한, 도면에는 도시하지 않았으나, 제2 가이드부(600)는 제1 가이드부(500)와 대응하여 제2-1 가이드부 및 제2-2 가이드부를 포함할 수 있다.Also, although not shown in the drawing, the
구체적으로, 제2 가이드부(600)는 제2 회전 결합부(400)의 상단을 따라 돌출 형성되는 제2-1 가이드부 및 제2 회전 결합부(400)의 하단을 따라 형성되며, 제2-1 가이드부보다 짧은 길이로 돌출 형성되는 제2-2 가이드부를 포함할 수 있다.Specifically, the
또한, 제2 가이드부(600)는 제1 가이드부(500)와 대응하여 제2-1 가이드부와 제2-2 가이드부 사이에 테스트 대상 장치(20)의 타 측면에 돌출 형성되는 제2 돌출부가 걸림되어 이동하도록 할 수 있다.The
또한, 제2-1 가이드부는 제1-1 가이드부(510)와 대응하여, 사용자가 손잡이부(700)를 커넥터부(200)측과 반대 측으로 이동시키는 경우, 제2 돌출부를 밀어 테스트 대상 장치(20)를 커넥터부(200)측과 반대 측으로 이동시킬 수 있다.When the user moves the
또한, 제2-2 가이드부는 제1-2 가이드부(520)와 대응하여, 사용자가 손잡이부(700)를 커넥터부(200)측으로 이동시키는 경우, 제2 돌출부를 밀어 테스트 대상 장치(20)를 커넥터부(200)측으로 이동시킬 수 있다.The second-second guide portion corresponds to the first-
다시 도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 보조 장치(10)는 바닥부(800), 제1 레일부(900), 제2 레일부(1000), 제1 레일 홈(1100) 및 제2 레일 홈(1200)을 더 포함할 수 있다.1, the
바닥부(800)는 하우징부(100)의 전면 하단에 평평하게 판 형태로 형성될 수 있다. 이때, 바닥부(800)는 예를 들어, 알루미늄, 철 등으로 구성될 수 있다. 다만, 이는 본 발명의 설명을 위한 일 예시로서, 바닥부(800)는 다른 재료로 구성될 수 있다.The
제1 레일부(900)는 바닥부(800)의 일측에서 바닥부(800)의 측면 길이를 따라 마련되고, 테스트 대상 장치(20)가 커넥터부(200)에 인접하도록 테스트 대상 장치(20)의 일측을 가이드할 수 있다. 또한, 제2 레일부(1000)는 바닥부(800)의 타측에서 바닥부(800)의 측면 길이를 따라 마련되고, 테스트 대상 장치(20)가 커넥터부(200)에 인접하도록 테스트 대상 장치(20)의 타측을 가이드할 수 있다.The
구체적으로, 제1 레일부(900)는 테스트 대상 장치(20)의 일측에 돌출 형성되는 제1 돌출부(21)가 걸림되어 커넥터부(200)측으로 이동하도록 가이드할 수 있다. 또한, 제2 레일부(1000)는 테스트 대상 장치(20)의 타측에 돌출 형성되는 제2 돌출부가 걸림되어 커넥터부(200)측으로 이동하도록 가이드할 수 있다.Specifically, the
또한, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 제1 레일부(900) 및 제2 레일부(1000)가 바닥부(800)를 사이에 두고 양 측에 대응하게 마련되고, 테스트 대상 장치(20)의 양측을 함께 가이드함으로써, 테스트 대상 장치(20)를 효율적으로 가이드할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the
제1 레일 홈(1100)은 테스트 대상 장치(20)의 일측에 돌출 형성되는 제1 돌출부(21)가 통과하도록 제1 레일부(900)의 일측에서 타측으로 절개되어 형성될 수 있다. 또한, 제2 레일 홈(1200)은 테스트 대상 장치(20)의 타측에 돌출 형성되는 제2 돌출부가 통과하도록 제2 레일부(1000)의 일측에서 타측으로 절개되어 형성될 수 있다.The
구체적으로, 제1 레일 홈(1100)은 테스트 대상 장치(20)의 제1 돌출부(21)가 통과하는 통로일 수 있다. 또한, 제2 레일 홈(1200)은 테스트 대상 장치(20)의 제2 돌출부가 통과하는 통로일 수 있다.Specifically, the
한편, 제1 회전 결합부(300)가 커넥터부(200)의 반대 측으로 회전한 경우 제1-2 가이드부(520)의 상단 높이는, 제1 레일 홈(1100)의 하단 높이보다 낮게 마련될 수 있다. 또한, 제2 회전 결합부(400)가 커넥터부(200)의 반대 측으로 회전한 경우 제2-2 가이드부(미도시)의 상단 높이는, 제2 레일 홈(1200)의 하단 높이보다 낮게 마련될 수 있다.When the first
구체적으로, 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)는 커넥터부(200)의 반대 측으로 회전할 수 있는 임계 회전 각도가 존재할 수 있다. 이때, 임계 회전 각도는 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)가 커넥터부(200)의 반대 측으로 최대한 회전한 경우, 지평선과 제1 및 제2 회전 결합부(300, 400) 사이의 각도일 수 있다. 예를 들어, 임계 회전 각도는 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)가 각각 제1 레일부(900) 및 제2 레일부(1000)에 걸치게 될 때, 제1 및 제2 회전 결합부(300, 400)와 지평선 사이의 각도일 수 있다.Specifically, there may be a critical rotation angle at which the first
또한, 제1 회전 결합부(300)가 임계 회전 각도만큼 회전하는 경우, 제1-2 가이드부(520)의 상단 높이는, 제1 레일 홈(1100)의 하단 높이보다 낮을 수 있다. 또한, 제2 회전 결합부(400)가 임계 회전 각도만큼 회전하는 경우, 제2-2 가이드부의 상단 높이는, 제2 레일 홈(1200)의 하단 높이보다 낮을 수 있다. In addition, when the first
본 발명의 일 실시예에 따르면, 제1-2 가이드부(520)의 상단 높이가 제1 레일 홈(1100)의 하단 높이보다 낮고, 제2-2 가이드부의 상단 높이가 제2 레일 홈(1200)의 하단 높이보다 낮음으로써, 테스트 대상 장치(20)는 제1 및 제2 가이드부(500, 600)의 높이에 따른 걸림 없이 커넥터부(200)로 인접할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, the height of the upper end of the first-
다시 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 보조 장치(10)는 테스트 대상 장치(20)와 용이하게 결합될 수 있어, 테스트 대상 장치(20)를 용이하게 테스트할 수 있다.Referring again to FIG. 2, the
만약, 사용자가 테스트 대상 장치(20)를 테스트하고자 하는 경우, 사용자는 테스트 대상 장치(20)를 커넥터부(200) 측으로 밀어서 테스트 대상 장치(20)와 커넥터부(200)를 물리적으로 결합시킬 수 있다. If the user desires to test the
구체적으로, 사용자는 손잡이부(700)를 커넥터부(200)측과 반대 측으로 이동시키고, 테스트 대상 장치(20)를 커넥터부(200) 측으로 이동시킬 수 있다. 이때, 제1 레일부(900) 및 제2 레일부(1000)는 테스트 대상 장치(20)가 커넥터부(200)에 인접할 때까지 각각 제1 돌출부(21) 및 제2 돌출부(미도시)를 가이드할 수 있다.Specifically, the user can move the
만약, 테스트 대상 장치(20)가 커넥터부(200)에 인접한 경우, 사용자는 손잡이부(700)를 커넥터부(200)측으로 이동시켜 테스트 대상 장치(20)를 커넥터부(200)와 결합시킬 수 있다. 이때, 손잡이부(700)는 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)를 회전시킬 수 있다. 이에 따라, 제1 가이드부(500) 및 제2 가이드부(600)는 각각 회전함과 동시에 제1 돌출부(21) 및 제2 돌출부(미도시)를 커넥터부(200)측으로 이동시킬 수 있다. 또한 이에 따라, 테스트 대상 장치(20)는 커넥터부(200)에 물리적, 전기적으로 결합할 수 있다.If the test
테스트 대상 장치(20)와 테스트 보조 장치(10)가 전기적으로 결합한 경우, 사용자는 테스트 대상 장치(20)의 테스트를 진행할 수 있다. 구체적으로, 테스트 보조 장치(10)는 테스트 대상 장치(20)로 테스트 신호를 전송하고, 테스트 대상 장치(20)로부터 테스트 신호에 대한 응답 신호를 수신할 수 있다. 또한, 테스트 보조 장치(10)는 테스트 장치로 응답 신호를 전송하고, 테스트 장치로부터 응답 신호에 기초한 테스트 결과를 수신 및 출력할 수 있다. 또한, 테스트 보조 장치(10)는 전원 공급 장치로부터 교류 전원 및 직류 전원 중 적어도 하나를 공급받고, 교류 전원 및 직류 전원 중 테스트 대상 장치에 적합한 전원을 테스트 대상 장치(20)로 선택적으로 공급할 수 있다.When the
만약, 테스트 대상 장치(20)의 테스트가 종료된 경우, 사용자는 테스트 대상 장치(20)를 커넥터부(200)측과 반대 측으로 밀어서 테스트 대상 장치(20)와 커넥터부(200) 간 물리적 결합을 해제시킬 수 있다.If the test of the
구체적으로, 사용자는 손잡이부(700)를 커넥터부(200)측과 반대 측으로 이동시켜, 테스트 대상 장치(20)와 커넥터부(200)간 물리적 결합을 해제시킬 수 있다. 이때, 손잡이부(700)는 제1 회전 결합부(300) 및 제2 회전 결합부(400)를 회전시킬 수 있다. 이에 따라, 제1 가이드부(500) 및 제2 가이드부(600)는 각각 회전함과 동시에 제1 돌출부(21) 및 제2 돌출부(미도시)를 커넥터부(200)측과 반대 측으로 이동시킬 수 있다.Specifically, the user can move the
그 후, 사용자는 테스트 대상 장치(20)를 커넥터부(200)측과 반대 측으로 이동시킬 수 있다. 이때, 제1 레일부(900) 및 제2 레일부(1000)는 각각 제1 돌출부(21) 및 제2 돌출부(미도시)를 가이드할 수 있다.Thereafter, the user can move the device under
이상에서 대표적인 실시예를 통하여 본 발명에 대하여 상세하게 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 전술한 실시예에 대하여 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 다양한 변형이 가능함을 이해할 것이다. 그러므로 본 발명의 권리범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안 되며, 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다. While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, I will understand. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the above-described embodiments, but should be determined by equivalents to the appended claims, as well as the appended claims.
10: 테스트 보조 장치
100: 하우징부
20: 테스트 대상 장치
200: 커넥터부
300: 제1 회전 결합부
400: 제2 회전 결합부
500: 제1 가이드부
510: 제1-1 가이드부
520: 제1-2 가이드부
600: 제2 가이드부
700: 손잡이부
800: 바닥부
900: 제1 레일부
1000: 제2 레일부
1100: 제1 레일 홈
1200: 제2 레일 홈10: Test Aids
100: housing part
20: Device under test
200:
300: first rotating coupling portion
400: second rotating coupling portion
500: first guide portion
510: Guide section 1-1
520:
600: second guide portion
700: Handle portion
800:
900: 1st railway
1000: 2nd railway
1100: first rail groove
1200: second rail groove
Claims (6)
상기 하우징부의 전면에 형성되며, 테스트 대상 장치와 접속되는 커넥터부;
상기 하우징부의 전면 일단에 회전 가능하게 마련되는 제1 회전 결합부;
상기 제1 회전 결합부에 상기 제1 회전 결합부의 길이 방향을 따라 마련되고, 상기 테스트 대상 장치의 일측을 가이드하는 제1 가이드부;
상기 하우징부의 전면 타단에 회전 가능하게 마련되는 제2 회전 결합부;
상기 제2 회전 결합부에 상기 제2 회전 결합부의 길이 방향을 따라 마련되고, 상기 테스트 대상 장치의 타측을 가이드하는 제2 가이드부; 및
일단이 상기 제1 회전 결합부에 연결되고 타단이 제2 회전 결합부에 연결되며, 상기 제1 회전 결합부 및 상기 제2 회전 결합부를 상기 커넥터부 측으로 회전시켜 상기 테스트 대상 장치의 일측 및 타측이 각각 상기 제1 가이드부 및 상기 제2 가이드부를 따라 상기 커넥터부 측으로 이동하여 상기 커넥터부와 상기 테스트 대상 장치를 물리적으로 결합시키는 손잡이부를 포함하고,
상기 제1 가이드부는, 상기 테스트 대상 장치의 일측에 돌출 형성되는 제1 돌출부가 걸림되어 상기 제1 가이드부를 따라 이동하도록 마련되고,
상기 제2 가이드부는, 상기 테스트 대상 장치의 타측에 돌출 형성되는 제2 돌출부가 걸림되어 상기 제2 가이드부를 따라 이동하도록 마련되는, 테스트 보조 장치.
A housing part;
A connector unit formed on a front surface of the housing unit and connected to the device under test;
A first rotation coupling part rotatably provided at one end of a front surface of the housing part;
A first guide part provided to the first rotary coupling part along the longitudinal direction of the first rotary coupling part and guiding one side of the device under test;
A second rotation coupling part rotatably provided on the other end of the front surface of the housing part;
A second guide part provided on the second rotary coupling part along the longitudinal direction of the second rotary coupling part and guiding the other side of the device under test; And
One end of the test object device is connected to the first rotary coupling portion and the other end is connected to the second rotary coupling portion and the first rotary coupling portion and the second rotary coupling portion are rotated toward the connector portion, And a grip portion that moves toward the connector portion along the first guide portion and the second guide portion to physically connect the connector portion and the device under test,
The first guide unit may include a first protrusion formed to protrude from one side of the device under test to be moved along the first guide unit,
And the second guide portion is provided so as to move along the second guide portion by engaging with a second projection protruding from the other side of the device under test.
상기 손잡이부는, 상기 제1 회전 결합부 및 상기 제2 회전 결합부를 상기 커넥터부의 반대 측으로 회전시켜 상기 테스트 대상 장치의 일측 및 타측이 각각 상기 제1 가이드부 및 상기 제2 가이드부를 따라 상기 커넥터부의 반대 측으로 이동하여 상기 커넥터부와 상기 테스트 대상 장치의 물리적 결합을 해제시키는, 테스트 보조 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the handle portion rotates the first rotary coupling portion and the second rotary coupling portion to the opposite side of the connector portion so that one side and the other side of the device under test respectively face the opposite sides of the connector portion along the first guide portion and the second guide portion, To release the physical coupling between the connector portion and the device under test.
상기 제1 가이드부는, 상기 제1 회전 결합부의 상단을 따라 돌출 형성되는 제1-1 가이드부 및 상기 제1 회전 결합부의 하단을 따라 형성되며, 상기 제1-1 가이드부보다 짧은 길이로 돌출 형성되는 제1-2 가이드부를 포함하고,
상기 제2 가이드부는, 상기 제2 회전 결합부의 상단을 따라 돌출 형성되는 제2-1 가이드부 및 상기 제2 회전 결합부의 하단을 따라 형성되며, 상기 제2-1 가이드부보다 짧은 길이로 돌출 형성되는 제2-2 가이드부를 포함하는, 테스트 보조 장치.
The method according to claim 1,
The first guide part includes a first 1-1 guide part protruding along the upper end of the first rotary part and a second guide part formed along the lower end of the first rotary part, And a second guide portion,
The second guide portion may include a second-1 guide portion protruding from the upper end of the second rotary coupling portion and a second guide portion formed along the lower end of the second rotary coupling portion, And a second-second guide portion that is provided on the second side surface of the second guide portion.
상기 하우징부의 전면 하단에 평평하게 판 형태로 형성되는 바닥부;
상기 바닥부의 일측에서 상기 바닥부의 측면 길이를 따라 마련되고, 상기 테스트 대상 장치가 상기 커넥터부에 인접하도록 상기 테스트 대상 장치의 일측을 가이드하는 제1 레일부;
상기 테스트 대상 장치의 일측에 돌출 형성되는 제1 돌출부가 통과하도록 상기 제1 레일부의 일측에서 타측으로 절개되어 형성되는 제1 레일 홈;
상기 바닥부의 타측에서 상기 바닥부의 측면 길이를 따라 마련되고, 상기 테스트 대상 장치가 상기 커넥터부에 인접하도록 상기 테스트 대상 장치의 타측을 가이드하는 제2 레일부; 및
상기 테스트 대상 장치의 타측에 돌출 형성되는 제2 돌출부가 통과하도록 상기 제2 레일부의 일측에서 타측으로 절개되어 형성되는 제2 레일 홈을 더 포함하는, 테스트 보조 장치.
The method of claim 4,
A bottom portion formed in a flat plate shape at a lower front end of the housing portion;
A first rail for guiding one side of the device under test so that the device under test is adjacent to the connector part, the first rail being provided along a side length of the bottom part at one side of the bottom part;
A first rail groove formed on one side of the first rail so as to extend from the first rail such that a first projection protruding from the first rail is passed through the first rail;
A second rail disposed along the side length of the bottom portion on the other side of the bottom portion and guiding the other side of the device under test so that the device under test is adjacent to the connector portion; And
Further comprising a second rail groove formed to be cut from one side of the second rail to the other side so that a second protrusion protruded on the other side of the device under test passes through.
상기 제1 회전 결합부가 상기 커넥터부의 반대 측으로 회전한 경우 상기 제1-2 가이드부의 상단 높이는, 상기 제1 레일 홈의 하단 높이보다 낮게 마련되고,
상기 제2 회전 결합부가 상기 커넥터부의 반대 측으로 회전한 경우 상기 제2-2 가이드부의 상단 높이는, 상기 제2 레일 홈의 하단 높이보다 낮게 마련되는, 테스트 보조 장치.
The method of claim 5,
Wherein when the first rotation coupling portion is rotated to the opposite side of the connector portion, the top height of the first-second guide portion is lower than the bottom height of the first rail groove,
And the upper end of the second-second guide part is lower than the lower end of the second rail groove when the second rotary coupling part is rotated to the opposite side of the connector part.
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ID=58501918
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