KR102426842B1 - 유리패널 크랙 검사장치 - Google Patents
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- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 136
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 10
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 56
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 37
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims 2
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 4
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 1
- 239000010938 white gold Substances 0.000 description 1
- 229910000832 white gold Inorganic materials 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/38—Concrete; Lime; Mortar; Gypsum; Bricks; Ceramics; Glass
- G01N33/386—Glass
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8809—Adjustment for highlighting flaws
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- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
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- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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- Signal Processing (AREA)
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Abstract
Description
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 유리패널 크랙 검사장치를 나타낸 도면이다.
도 3은 도 2에 도시된 헤드유닛을 나타낸 사시도다.
도 4는 도 3에 도시된 헤드유닛이 TAB 공정이 진행된 유리패널 아래에서 유리패널을 향해 조명 빛을 조사하여, 조명 빛이 비친 유리패널을 촬영하는 상태를 나타낸 도면으로, 도 4(a)는 금이 없는 유리패널을 촬영하는 상태를 나타낸 도면이고, 도 4(b)에서는 금이 간 유리패널을 촬영하는 상태를 나타낸 도면이고, 도 4(c)는 조명 빛의 조사 각도를 바꿔 금이 간 유리패널을 촬영하는 상태를 나타낸 도면이다.
도 5는 도 4에 도시된 유리패널을 촬영한 영상을 나타낸 도면으로, 도 5(a)는 도 4(a)에 도시된 유리패널을 촬영한 영상을 나타낸 도면이고, 도 5(b)는 도 4(b)에 도시된 유리패널을 촬영한 영상을 나타낸 도면이고, 도 5(c)는 도 4(c)에 도시된 유리패널을 촬영한 영상을 나타낸 도면이다.
도 6은 도 3에 도시된 헤드유닛이 TAB 공정이 진행된 유리패널 아래에서 유리패널을 향해 조명 빛을 조사하여, 조명 빛이 비친 유리패널을 촬영하는 상태를 나타낸 도면으로, 도 4(a)는 깨지지 않은 유리패널을 촬영하는 상태를 나타낸 도면이고, 도 4(b)에서는 깨진 유리패널을 촬영하는 상태를 나타낸 도면이고, 도 4(c)는 조명 빛의 조사 각도를 바꿔 깨진 유리패널을 촬영하는 상태를 나타낸 도면이다.
도 7은 도 6에 도시된 유리패널을 촬영한 영상을 나타낸 도면으로, 도 7(a)는 도 6(a)에 도시된 유리패널을 촬영한 영상을 나타낸 도면이고, 도 7(b)는 도 6(b)에 도시된 유리패널을 촬영한 영상을 나타낸 도면이고, 도 7(c)는 도 6(c)에 도시된 유리패널을 촬영한 영상을 나타낸 도면이다.
10: 헤드유닛 110: 조명부
120: 카메라부 20: 구동유닛
30: 영상판독유닛
Claims (3)
- TAB 공정이 진행된 유리패널 아래에서 상기 유리패널의 하면을 향해 조명 빛을 조사하는 조명부와, 상기 유리패널 아래에서 조명 빛이 비친 상기 유리패널의 하면을 촬영하는 카메라부로 구성되며, 상기 조명부와 상기 카메라부가 함께 움직일 수 있게 하나의 모듈로 묶인 헤드유닛;
상기 헤드유닛을 TAB 공정이 진행된 상기 유리패널 부위를 따라 이동시키는 구동유닛; 및
상기 카메라부에서 촬영된 영상을 받아, TAB 공정이 진행된 상기 유리패널이 깨지거나 금이 갔는지 판독하는 영상판독유닛을 포함하며,
상기 조명부는, 상기 카메라부의 둘레에 120°간격으로 둘러싼 제1조명부, 제2조명부, 제3조명부로 구성되며,
상기 제1조명부, 제2조명부, 제3조명부 각각은,
조명등과 상기 조명등을 구동하는 조명등구동부로 구성되며,
상기 조명등구동부는 상기 조명등을 위로 세우거나 아래로 굽혀 상기 유리패널의 하면을 향해 조사되는 조명 빛의 조사 각도를 바꾸거나, 상기 제1조명부, 제2조명부, 제3조명부 중 어느 하나를 끄고 상기 조명등을 위로 세우거나 아래로 굽혀 상기 유리패널의 하면을 향해 조사되는 조명 빛의 조사 각도를 바꾸고,
상기 카메라부는 상기 유리패널의 하면에서 조명 빛의 조사 각도가 바뀔때마다 상기 유리패널을 촬영하고,
상기 영상판독유닛은 상기 카메라부로부터 촬영된 상기 유리패널의 영상을 받아, TAB 공정이 진행된 상기 유리패널 부위에 금이 가거나 깨졌을 때 조명 빛이 반사되는 형태가 다르다는 점을 이용하여, TAB 공정이 진행된 상기 유리패널이 깨졌거나 금이 갔는지 판독하는 것을 특징으로 하는 유리패널 크랙 검사장치. - 삭제
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020200129395A KR102426842B1 (ko) | 2020-10-07 | 2020-10-07 | 유리패널 크랙 검사장치 |
Applications Claiming Priority (1)
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KR1020200129395A KR102426842B1 (ko) | 2020-10-07 | 2020-10-07 | 유리패널 크랙 검사장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20220046226A KR20220046226A (ko) | 2022-04-14 |
KR102426842B1 true KR102426842B1 (ko) | 2022-07-29 |
Family
ID=81211514
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020200129395A KR102426842B1 (ko) | 2020-10-07 | 2020-10-07 | 유리패널 크랙 검사장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102426842B1 (ko) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100785420B1 (ko) * | 2006-06-13 | 2007-12-13 | 주식회사 에스에프에이 | 압흔 검사기 |
US20120046203A1 (en) | 2008-09-24 | 2012-02-23 | Straus Holdings Inc. | Imaging analyzer for testing analytes |
KR101111383B1 (ko) | 2010-01-29 | 2012-03-05 | 윈텍 주식회사 | 3차원 표면 형상 측정부가 구비되는 압흔 검사시스템 |
KR101342117B1 (ko) * | 2012-11-08 | 2013-12-18 | (주)바론시스템 | 압흔 검사 장치 및 검사 방법 |
JP2015227793A (ja) * | 2014-05-30 | 2015-12-17 | コニカミノルタ株式会社 | 光学部品の検査装置及び検査方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20070118939A (ko) * | 2006-12-27 | 2007-12-18 | 주식회사 에스에프에이 | 압흔 검사기 |
KR20110008665A (ko) | 2009-07-21 | 2011-01-27 | 주식회사 넥스트아이 | 엘시디 패널의 검사장치 및 검사방법 |
-
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- 2020-10-07 KR KR1020200129395A patent/KR102426842B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100785420B1 (ko) * | 2006-06-13 | 2007-12-13 | 주식회사 에스에프에이 | 압흔 검사기 |
US20120046203A1 (en) | 2008-09-24 | 2012-02-23 | Straus Holdings Inc. | Imaging analyzer for testing analytes |
KR101111383B1 (ko) | 2010-01-29 | 2012-03-05 | 윈텍 주식회사 | 3차원 표면 형상 측정부가 구비되는 압흔 검사시스템 |
KR101342117B1 (ko) * | 2012-11-08 | 2013-12-18 | (주)바론시스템 | 압흔 검사 장치 및 검사 방법 |
JP2015227793A (ja) * | 2014-05-30 | 2015-12-17 | コニカミノルタ株式会社 | 光学部品の検査装置及び検査方法 |
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PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20201007 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
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E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
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