KR102420784B1 - Connector for electrical connection - Google Patents
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Abstract
개시된 실시예에 따른 상하 방향으로 도전하는 이방성 전기 접속용 커넥터는, 복수의 제1 패드를 유지하는 제1 필름, 상기 제1 필름의 하측에 위치하며 복수의 제2 패드를 유지하는 제2 필름, 상기 제1 필름과 상기 제2 필름 사이에 배치되고 횡방향에서 서로 이격되어 있는 적어도 둘 이상의 칼럼을 포함하고, 상기 칼럼의 일 단부에는 상하 방향으로 형성된 적어도 하나의 도전부가 형성되며, 상기 적어도 둘 이상의 칼럼 사이의 공간에는 외표면이 전도성 재질로 형성된 브릿지 부재가 배치된다.The connector for anisotropic electrical connection conducting in the vertical direction according to the disclosed embodiment includes a first film holding a plurality of first pads, a second film positioned under the first film and holding a plurality of second pads, It includes at least two or more columns disposed between the first film and the second film and spaced apart from each other in the transverse direction, and at least one conductive part formed in the vertical direction is formed at one end of the column, and the at least two or more columns are formed at one end of the column. A bridge member having an outer surface formed of a conductive material is disposed in the space between the columns.
Description
본 개시는 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이에 배치되는 전기 접속용 커넥터에 관한 것이다.The present disclosure relates to a connector for electrical connection disposed between a device under test and test equipment.
제조된 반도체 디바이스와 같은 피검사 디바이스의 불량 여부를 판단하기 위한 검사 공정에서, 피검사 디바이스와 테스트(test) 장비의 사이에 전기 접속용 커넥터가 배치된다. 전기 접속용 커넥터는 피검사 디바이스와 테스트 장비를 전기적으로 연결시켜, 피검사 디바이스와 테스트 장비의 통전 여부를 기초로 피검사 디바이스의 불량 여부를 판단하는 검사방법이 알려져 있다.In an inspection process for determining whether a device under test, such as a manufactured semiconductor device, is defective, a connector for electrical connection is disposed between the device under test and test equipment. A connector for electrical connection electrically connects a device to be tested and a test equipment, and an inspection method for determining whether a device to be inspected is defective based on whether the device to be inspected and the test equipment is energized is known.
만약 전기 접속용 커넥터가 없이 피검사 디바이스의 단자가 테스트 장비의 단자에 직접 접촉하게 되면, 반복적인 검사 과정에서 테스트 장비의 단자가 마모 또는 파손되어 테스트 장비 전체를 교체해야 하는 소요가 발생할 수 있다. 전기 접속용 커넥터를 이용하여 테스트 장비 전체를 교체하는 소요의 발생을 막을 수 있다. 구체적으로, 피검사 디바이스의 단자와의 반복적인 접촉으로 전기 접속용 커넥터가 마모 또는 파손될 때, 해당하는 전기 접속용 커넥터만 교체할 수 있다.If the terminal of the device under test comes into direct contact with the terminal of the test equipment without the connector for electrical connection, the terminals of the test equipment may be worn out or damaged in the repeated inspection process, requiring replacement of the entire test equipment. By using the connector for electrical connection, it is possible to prevent the occurrence of the need to replace the entire test equipment. Specifically, when the connector for electrical connection is worn or damaged due to repeated contact with the terminal of the device under test, only the corresponding electrical connection connector may be replaced.
전기 접속용 커넥터는, 피검사 디바이스의 단자 및 테스트 장비의 단자 사이를 전기적으로 연결시키는 도전부 및 도전부가 배치되는 절연부를 포함한다. 피검사 디바이스와 테스트 장비의 통전 여부를 판단하기 위해 전기 접속용 커넥터는 피검사 디바이스의 단자와 반복적으로 접촉할 수 있다. 또한, 전기 접속용 커넥터는 피검사 디바이스의 단자와 접촉한 상태로 일정 시간 이상 유지될 수 있다.The connector for electrical connection includes a conductive portion for electrically connecting between a terminal of a device under test and a terminal of a test equipment, and an insulating portion on which the conductive portion is disposed. In order to determine whether the device under test and the test equipment are energized, the connector for electrical connection may repeatedly contact the terminal of the device under test. In addition, the connector for electrical connection may be maintained for a predetermined time or longer in a state in contact with the terminal of the device under test.
본 개시의 실시예들은 안정적인 전기 연결을 갖는 전기 접속용 커넥터를 제공한다.Embodiments of the present disclosure provide a connector for electrical connection having a stable electrical connection.
전기 접속용 커넥터가 피검사 디바이스의 단자와 반복적으로 및/또는 일정 시간 이상 접촉할 경우 전기 접속용 커넥터의 도전부는 절연부로부터 이탈할 수 있다. 도전부가 절연부로부터 이탈하게 될 경우 도전부를 통하여 연결되는 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이의 전기적 신호가 끊어질 수 있다. 따라서, 전기 접속용 커넥터를 통한 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이의 전기적 연결이 불안정하거나 끊어질 수 있다.When the connector for electrical connection contacts the terminal of the device under test repeatedly and/or for a predetermined time or longer, the conductive portion of the connector for electrical connection may be separated from the insulating portion. When the conductive part is separated from the insulating part, an electrical signal between the device under test and the test equipment connected through the conductive part may be cut off. Accordingly, the electrical connection between the device under test and the test equipment through the connector for electrical connection may be unstable or broken.
전기 접속용 커텍터를 통한 전기적 연결이 불안정하거나 끊어질 경우 전기접속용 커넥터를 이용한 검사방법의 신뢰도가 낮아질 수 있다. 본 개시의 실시예들은 이러한 문제를 해결한다.If the electrical connection through the electrical connection connector is unstable or cut off, the reliability of the inspection method using the electrical connection connector may be lowered. Embodiments of the present disclosure solve this problem.
본 개시의 실시예들은 이러한 문제를 해결하여, 전기 접속용 커넥터를 통한 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이의 전기적 연결을 안정적으로 제공하는 것이다.Embodiments of the present disclosure solve this problem, and stably provide an electrical connection between a device under test and a test equipment through a connector for electrical connection.
본 개시의 일 측면은 이방성 전기 접속용 커넥터의 실시예들을 제공한다. 대표적 실시예에 따른 상하 방향으로 도전하는 이방성 전기 접속용 커넥터는, 전기 전도성의 복수의 제1 패드를 유지하는 제1 필름, 상기 제1 필름의 하측에 위치하며 전기 전도성의 복수의 제2 패드를 유지하는 제2 필름, 상기 제1 필름과 상기 제2 필름 사이에 배치되고 횡방향에서 서로 이격되어 있는 적어도 둘 이상의 칼럼을 포함하고, 상기 칼럼의 일 단부에는 상하 방향으로 형성된 적어도 하나의 도전부가 형성되며, 상기 적어도 둘 이상의 칼럼 사이에는 공간이 있고 상기 공간에는 적어도 외표면이 전도성 재질로 형성된 브릿지 부재가 배치된다.One aspect of the present disclosure provides embodiments of a connector for anisotropic electrical connection. A connector for anisotropic electrical connection conducting in the vertical direction according to a representative embodiment is a first film for holding a plurality of electrically conductive first pads, a first film located under the first film and a plurality of electrically conductive second pads A second film to hold, disposed between the first film and the second film and comprising at least two or more columns spaced apart from each other in a transverse direction, wherein at least one conductive portion formed in a vertical direction is formed at one end of the column There is a space between the at least two or more columns, and a bridge member having at least an outer surface formed of a conductive material is disposed in the space.
상기 복수의 제1 패드는 상기 제1 필름에 형성된 복수의 제1 관통공에 형성되고, 상기 복수의 제2 패드는 상기 제2 필름에 형성된 복수의 제2 관통공에 형성될 수 있다.The plurality of first pads may be formed in a plurality of first through holes formed in the first film, and the plurality of second pads may be formed in a plurality of second through holes formed in the second film.
상기 제1 패드, 상기 도전부, 상기 브릿지 부재 및 상기 제2 패드는 전기적으로 연결될 수 있다.The first pad, the conductive part, the bridge member, and the second pad may be electrically connected to each other.
상기 칼럼은 절연부를 포함하고, 상기 칼럼의 다른 단부에는 상하 방향으로 형성된 적어도 하나의 도전부가 추가로 형성되며, 상기 칼럼의 일 단에 형성된 상기 적어도 하나의 도전부와 상기 칼럼의 다른 단부에 형성된 상기 적어도 하나의 도전부는 상기 절연부에 의해 분리되고, 상기 칼럼의 일 단에 형성된 상기 도전부와 상기 칼럼의 다른 단부에 형성된 상기 도전부는 복수의 도전성 입자를 포함할 수 있다.The column includes an insulating portion, and at least one conductive portion formed in a vertical direction is further formed at the other end of the column, the at least one conductive portion formed at one end of the column and the at least one conductive portion formed at the other end of the column At least one conductive part may be separated by the insulating part, and the conductive part formed at one end of the column and the conductive part formed at the other end of the column may include a plurality of conductive particles.
상기 복수의 도전성 입자는 상기 절연부에 의해 상기 칼럼에 유지될 수 있다.The plurality of conductive particles may be maintained in the column by the insulating part.
상기 칼럼은 상하 방향에서 중간 부분의 횡방향 단면의 면적이 가장 작을 수 있다.The column may have the smallest area of the transverse cross-section of the middle portion in the vertical direction.
상기 칼럼의 횡방향 단면은 타원형, 원형 및 다각형 중 하나의 형상을 가질 수 있다.The transverse cross-section of the column may have one of the following shapes: elliptical, circular and polygonal.
상기 브릿지 부재는 구(球) 형상일 수 있다.The bridge member may have a spherical shape.
상기 제1 패드의 상측에는 복수의 가이드부가 더 포함될 수 있다.A plurality of guide parts may be further included on the upper side of the first pad.
상기 제2 필름의 하측에 위치하며 복수의 제3 패드를 유지하는 제3 필름, 상기 제2 필름과 상기 제3 필름 사이에 배치되고 횡방향에서 서로 이격되어 있는 적어도 둘 이상의 추가 칼럼을 더 포함하고, 상기 추가 칼럼의 일 단에는 상하 방향으로 형성된 적어도 하나의 추가 도전부가 형성되며, 상기 적어도 둘 이상의 추가 칼럼 사이의 공간에는 적어도 외표면이 전도성 재질로 형성된 추가 브릿지 부재가 배치될 수 있다.A third film positioned under the second film and holding a plurality of third pads, and at least two additional columns disposed between the second film and the third film and spaced apart from each other in the transverse direction, , At one end of the additional column is formed at least one additional conductive portion formed in the vertical direction, the space between the at least two or more additional columns at least an additional bridge member formed of a conductive material may be disposed on the outer surface.
상기 제1 패드, 상기 도전부, 상기 브릿지 부재, 상기 제2 패드, 상기 추가 도전부, 상기 추가 브릿지 부재 및 상기 제3 패드는 전기적으로 연결될 수 있다.The first pad, the conductive part, the bridge member, the second pad, the additional conductive part, the additional bridge member, and the third pad may be electrically connected to each other.
다른 대표적인 실시예에 따른 상하 방향으로 도전하는 이방성 전기 접속용 커넥터는, 상기 이방성 전기 접속용 커넥터의 상단과 상기 이방성 전기 접속용 커넥터의 하단을 도전시키는 복수의 도전 채널; 및 상기 복수의 도전 채널이 상하로 관통하며 배치되고, 전기 절연성인 절연체;를 포함하고, 상기 복수의 도전 채널 각각은, 상하 방향으로 연장하고 통전 가능하게 구성된 복수의 도전부; 및 상기 복수의 도전부 사이에 형성된 수용 공간 내에 배치되고, 상기 복수의 도전부와 접촉하고, 적어도 외표면이 전도성 재질로 형성된 적어도 하나의 브릿지 부재를 포함한다.A connector for anisotropic electrical connection conducting in a vertical direction according to another representative embodiment includes: a plurality of conductive channels for conducting an upper end of the connector for anisotropic electrical connection and a lower end of the connector for anisotropic electrical connection; and an insulator having the plurality of conductive channels penetrating vertically and being electrically insulating, wherein each of the plurality of conductive channels includes: a plurality of conductive parts extending in a vertical direction and configured to be energized; and at least one bridge member disposed in the accommodating space formed between the plurality of conductive parts, in contact with the plurality of conductive parts, and having at least an outer surface formed of a conductive material.
상기 복수의 도전 채널은 횡방향으로 서로 이격될 수 있다. The plurality of conductive channels may be spaced apart from each other in a lateral direction.
상기 복수의 도전부는 상기 도전 채널의 상하 방향으로 연장되는 중심축으로부터 이격될 수 있다.The plurality of conductive parts may be spaced apart from a central axis extending in a vertical direction of the conductive channel.
상기 복수의 도전부는 상기 브릿지 부재의 둘레를 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다.The plurality of conductive parts may be disposed to be spaced apart from each other along the circumference of the bridge member.
상기 복수의 도전부는 4개 내지 6개의 도전부일 수 있다.The plurality of conductive parts may be 4 to 6 conductive parts.
상기 복수의 도전 채널에 대응하는 복수의 상기 수용 공간이 형성될 수 있다.A plurality of the accommodation spaces corresponding to the plurality of conductive channels may be formed.
상기 복수의 수용 공간은 서로 연통될 수 있다.The plurality of accommodation spaces may communicate with each other.
상기 도전부는 복수의 도전성 입자를 포함하고, 상기 브릿지 부재의 부피는 상기 복수의 도전성 입자의 평균 부피보다 클 수 있다.The conductive part may include a plurality of conductive particles, and a volume of the bridge member may be greater than an average volume of the plurality of conductive particles.
상기 복수의 도전부는 상기 수용 공간의 외주면의 일부를 한정할 수 있다.The plurality of conductive parts may define a portion of an outer circumferential surface of the accommodation space.
본 개시의 실시예들에 의하면, 전기 접속용 커넥터를 통한 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이의 전기적 연결이 다양한 경로로서 제공될 수 있다.According to embodiments of the present disclosure, electrical connection between the device under test and the test equipment through the connector for electrical connection may be provided as various paths.
본 개시의 실시예들에 의하면, 전기 접속용 커넥터를 통한 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이의 전기적 연결을 안정적으로 제공할 수 있다.According to the embodiments of the present disclosure, it is possible to stably provide an electrical connection between the device under test and the test equipment through the connector for electrical connection.
도 1은 일 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터의 상하 방향 단면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 칼럼의 확대도이다.
도 3은 도 1에 도시된 도전 채널의 확대도이다.
도 4는 도 1에 도시된 전기 접속용 커넥터의 X-X' 선을 따른 단면도의 일 예시이다.
도 5는 도 1에 도시된 전기 접속용 커넥터의 X-X' 선을 따른 단면도의 다른 예시이다.
도 6은 도 1에 도시된 전기 접속용 커넥터의 X-X' 선을 따른 단면도의 또 다른 예시이다.
도 7은 도 1에 도시된 전기 접속용 커넥터의 X-X' 선을 따른 단면도의 또 다른 예시이다.
도 8은 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터의 상하 방향 단면도이다.
도 9는 또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터의 상하 방향 단면도이다.
도 10은 또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터의 상하 방향 단면도이다.1 is a vertical cross-sectional view of a connector for electrical connection according to an embodiment.
FIG. 2 is an enlarged view of the column shown in FIG. 1 .
FIG. 3 is an enlarged view of the conductive channel shown in FIG. 1 .
FIG. 4 is an example of a cross-sectional view taken along line XX′ of the connector for electrical connection shown in FIG. 1 .
FIG. 5 is another example of a cross-sectional view taken along line XX′ of the connector for electrical connection shown in FIG. 1 .
FIG. 6 is another example of a cross-sectional view taken along line XX′ of the connector for electrical connection shown in FIG. 1 .
FIG. 7 is another example of a cross-sectional view taken along line XX′ of the connector for electrical connection shown in FIG. 1 .
8 is a vertical cross-sectional view of a connector for electrical connection according to another embodiment.
9 is a vertical cross-sectional view of a connector for electrical connection according to another embodiment.
10 is a vertical cross-sectional view of a connector for electrical connection according to another embodiment.
본 개시의 실시예들은 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것이다. 본 개시에 따른 권리범위가 이하에 제시되는 실시예들이나 이들 실시예들에 대한 구체적 설명으로 한정되는 것은 아니다.Embodiments of the present disclosure are exemplified for the purpose of explaining the technical spirit of the present disclosure. The scope of the rights according to the present disclosure is not limited to the embodiments presented below or specific descriptions of these embodiments.
본 개시에서 '실시예'는 본 개시의 기술적 사상을 용이하게 설명하기 위한 임의의 구분으로서, 실시예 각각이 서로 배타적일 필요는 없다. 예를 들어, 일 실시예에 개시된 구성들은 다른 실시예에 적용 및 구현될 수 있으며, 본 개시의 범위를 벗어나지 않는 한도에서 변경되어 적용 및 구현될 수 있다.In the present disclosure, an 'embodiment' is an arbitrary division for easily explaining the technical idea of the present disclosure, and each of the embodiments is not necessarily mutually exclusive. For example, configurations disclosed in one embodiment may be applied and implemented in other embodiments, and may be changed and applied and implemented without departing from the scope of the present disclosure.
본 개시에 사용되는 모든 기술적 용어들 및 과학적 용어들은, 달리 정의되지 않는 한, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해되는 의미를 갖는다. 본 개시에 사용되는 모든 용어들은 본 개시를 더욱 명확히 설명하기 위한 목적으로 선택된 것이며 본 개시에 따른 권리범위를 제한하기 위해 선택된 것이 아니다.All technical and scientific terms used in this disclosure, unless otherwise defined, have the meanings commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this disclosure belongs. All terms used in the present disclosure are selected for the purpose of more clearly describing the present disclosure and not to limit the scope of the present disclosure.
본 개시에서 사용되는 "포함하는", "구비하는", "갖는" 등과 같은 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 달리 언급되지 않는 한, 다른 실시예를 포함할 가능성을 내포하는 개방형 용어(open-ended terms)로 이해되어야 한다.As used in this disclosure, expressions such as "comprising", "including", "having", etc. are open-ended terms connoting the possibility of including other embodiments, unless otherwise stated in the phrase or sentence in which the expression is included. (open-ended terms).
본 개시에서 사용되는 해당 구성 "만으로 구성되는" 등과 같은 표현은, 해당 구성 외에 다른 구성을 포함할 가능성을 배제하는 폐쇄형 용어(closed-ended terms)로 이해되어야 한다.Expressions such as “consisting only of” a corresponding component used in the present disclosure should be understood as closed-ended terms that exclude the possibility of including other components in addition to the corresponding component.
본 개시에서 기술된 단수형의 표현은 달리 언급하지 않는 한 복수형의 의미를 포함할 수 있으며, 이는 청구범위에 기재된 단수형의 표현에도 마찬가지로 적용된다.Expressions in the singular described in this disclosure may include the meaning of the plural unless otherwise stated, and the same applies to expressions in the singular in the claims.
본 개시에서 사용되는 "제1", "제2" 등의 표현들은 복수의 구성요소들을 상호 구분하기 위해 사용되며, 해당 구성요소들의 순서 또는 중요도를 한정하는 것은 아니다.Expressions such as “first” and “second” used in the present disclosure are used to distinguish a plurality of components from each other, and do not limit the order or importance of the corresponding components.
본 개시에서 사용되는 "상측", "상" 등의 방향지시어는 도 1을 참조하여, 브릿지 부재(400)를 기준으로 제1 필름(100)이 배치되는 방향을 의미하고, "하측", "하" 등의 방향지시어는 상측 방향의 반대 방향을 의미한다. 이는 어디까지나 본 개시가 명확하게 이해될 수 있도록 설명하기 위한 기준이며, 기준을 어디에 두느냐에 따라 상측 및 하측을 다르게 정의할 수도 있음은 물론이다.Direction indicators such as "upper" and "upper" used in the present disclosure refer to the direction in which the
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 개시의 실시예들을 설명한다. 첨부된 도면에서, 동일하거나 대응하는 구성요소에는 동일한 참조부호가 부여되어 있다. 또한, 이하의 실시예들의 설명에 있어서, 동일하거나 대응하는 구성요소를 중복하여 기술하는 것이 생략될 수 있다. 그러나, 구성요소에 관한 기술이 생략되어도, 그러한 구성요소가 어떤 실시예에 포함되지 않는 것으로 의도되지는 않는다.Hereinafter, embodiments of the present disclosure will be described with reference to the accompanying drawings. In the accompanying drawings, identical or corresponding components are assigned the same reference numerals. In addition, in the description of the embodiments below, overlapping description of the same or corresponding components may be omitted. However, even if description regarding components is omitted, it is not intended that such components are not included in any embodiment.
도 1은 일 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)의 상하 방향 단면도이다.1 is a vertical cross-sectional view of a
일 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)는 상하 방향으로 도전하는 이방성일 수 있다. 전기 접속용 커넥터(1000)는 복수의 제1 패드(110)를 유지하는 제1 필름(100)과, 제1 필름(100)의 하측에 위치하며 복수의 제2 패드(210)를 유지하는 제2 필름(200)을 포함할 수 있다.The
제1 필름(100)에는 복수의 제1 관통공(105)이 형성될 수 있다. 복수의 제1 관통공(105)은 제1 필름(100)의 제1 절연 부분(101)에 형성될 수 있다. 제1 관통공(105)은 제1 필름(100)의 상측으로부터 제1 필름(100)의 하측으로 연장하며 제1 절연 부분(101)을 관통할 수 있다. 제1 필름(100)의 상측으로부터 바라보았을 때 제1 관통공(105)은 원 형상의 단면을 가질 수 있다. 복수의 제1 관통공(105)은 서로 이격되어 제1 절연 부분(101)에 형성될 수 있다.A plurality of first through
제1 필름(100)은 제1 패드(110)를 포함할 수 있다. 제1 필름(100)에는 복수의 제1 패드(110)가 유지될 수 있다. 제1 패드(110)는 제1 관통공(105)에 형성될 수 있다. 제1 패드(110)는 제1 관통공(105)에 대응되는 크기 및 형상을 가질 수 있다. 제1 패드(110)는 전기 전도성일 수 있다. 제1 패드(110)는 도전성 입자를 포함할 수 있다. 제1 패드(110)는 실리콘을 포함할 수 있다. 제1 패드(110)에서 도전성 입자는 실리콘에 의해 유지될 수 있다. 제1 패드(110)를 통하여 제1 필름(100)의 상측과 제1 필름(100)의 하측이 도전될 수 있다.The
피검사 디바이스의 불량 여부를 판단하기 위한 검사 공정에서, 제1 패드(110)는 피검사 디바이스와 접촉할 수 있다. 제1 패드(110)는 피검사 디바이스의 단자와 접촉할 수 있다. 제1 패드(110)는 피검사 디바이스의 단자와 접촉하여 피검사 디바이스와 전기적으로 연결될 수 있다.In the inspection process for determining whether the device under test is defective, the
제2 필름(200)에는 복수의 제2 관통공(205)이 형성될 수 있다. 복수의 제2 관통공(205)은 제2 필름(200)의 제2 절연 부분(201)에 형성될 수 있다. 제2 관통공(205)은 제2 필름(200)의 상측으로부터 제2 필름(200)의 하측으로 연장하며 제2 절연 부분(201)을 관통할 수 있다. 제2 필름(200)의 상측으로부터 바라보았을 때 제2 관통공(205)은 원 형상의 단면을 가질 수 있다. 복수의 제2 관통공(205)은 서로 이격되어 제2 절연 부분(201)에 형성될 수 있다.A plurality of second through
제2 필름(200)은 제2 패드(210)를 포함할 수 있다. 제2 필름(200)에는 복수의 제2 패드(210)가 유지될 수 있다. 제2 패드(210)는 제2 관통공(205)에 형성될 수 있다. 제2 패드(210)는 제2 관통공(205)에 대응되는 크기 및 형상을 가질 수 있다. 제2 패드(210)는 전기 전도성일 수 있다. 제2 패드(210)는 도전성 입자를 포함할 수 있다. 제2 패드(210)는 실리콘을 포함할 수 있다. 제2 패드(210)에서 도전성 입자는 실리콘에 의해 유지될 수 있다. 제2 패드(210)를 통하여 제2 필름(200)의 상측과 제2 필름(200)의 하측이 도전될 수 있다.The
일 예로, 피검사 디바이스의 불량 여부를 판단하기 위한 검사 공정에서, 제2 패드(210)는 테스트 장비와 접촉할 수 있다. 제2 패드(210)는 테스트 장비와 접촉하여 전기적으로 연결될 수 있다.For example, in the inspection process for determining whether the device under test is defective, the
다른 예로, 후술할 도 9에 따른 실시예와 같이, 제2 패드(210)의 하단에 추가 칼럼(600)과 접촉될 수 있다. 제2 패드(210)는 추가 칼럼(600)과 전기적으로 연결될 수 있다.As another example, as in the embodiment according to FIG. 9 to be described later, the lower end of the
전기 접속용 커넥터(1000)는 적어도 둘 이상의 칼럼(300)을 포함할 수 있다. 적어도 둘 이상의 칼럼(300)은 제1 필름(100)과 제2 필름(200) 사이에 배치될 수 있다. 칼럼(300)은 제1 필름(100) 및 제2 필름(200)과 접촉할 수 있다. 칼럼(300)에는 도전부(310)가 형성될 수 있다. 도전부(310)의 상부는 제1 패드(110)의 하부와 접촉할 수 있다. 도전부(310)의 하부는 제2 패드(210)의 상부와 접촉할 수 있다. 칼럼(300)은 도전성일 수 있다. 제1 패드(110), 도전부(310) 및 제2 패드(210)는 전기적으로 연결될 수 있다.The
적어도 둘 이상의 칼럼(300)은 횡방향에서 서로 이격될 수 있다. 적어도 둘 이상의 칼럼(300) 사이에는 공간이 형성될 수 있다. 적어도 둘 이상의 칼럼(300) 사이의 공간에는 브릿지 부재(400)가 배치될 수 있다. 브릿지 부재(400)는 원기둥, 다면체, 구 등의 여러 형상을 가질 수도 있으나, 본 실시예에서 브릿지 부재(400)는 구(球) 형상을 가진다. 브릿지 부재(400)는 적어도 둘 이상의 칼럼(300) 사이의 공간에 배치되어 적어도 둘 이상의 칼럼(300)과 접촉할 수 있다. 브릿지 부재(400)는 서로 인접하게 배치된 적어도 둘 이상의 칼럼(300)과 모두 접촉할 수 있다.At least two or
브릿지 부재(400)의 적어도 외표면(410)은 전도성 재질로 형성될 수 있다. 즉, 상기 외표면을 포함한 브릿지 부재(400) 전체가 전도성 재질로 형성될 수도 있고, 브릿지 부재(400)의 외표면(410)만 전도성 재질로 형성될 수도 있다.At least the
일 실시예에서, 브릿지 부재(400)의 외표면(410)을 제외한 브릿지 부재(400)의 내부(420)는 절연성 재질(예를 들어, 합성수지, 실리콘 등)로 형성될 수 있다. 여기서, 브릿지 부재(400)의 외표면(410)은 전도성 재질이 도금되어 형성될 수 있다. 전도성 재질은 예를 들어 금일 수 있다.In one embodiment, the
브릿지 부재(400)의 외표면(410)이 전도성 재질로 형성됨에 따라 브릿지 부재(400)를 통한 전기적 연결이 제공될 수 있다. 제1 패드(110), 도전부(310), 브릿지 부재(400) 및 제2 패드(210)는 전기적으로 연결될 수 있다.As the
전기 접속용 커넥터(1000)는 전기 접속용 커넥터(1000)의 상단과 전기 접속용 커넥터(1000)의 하단을 도전시키는 복수의 도전 채널(10)을 포함할 수 있다. 복수의 도전 채널(10)은 횡방향으로 서로 이격될 수 있다. 도전 채널(10)은 전기 접속용 커넥터(1000)의 상측과 전기 접속용 커넥터(1000)의 하측을 도전시키는 전기 접속용 커넥터(1000)의 일 단위 구성일 수 있다. 이하에서 도 3을 참조하여 도전 채널(10)에 대하여 보다 상세히 알 수 있다.The
도 2는 도 1에 도시된 칼럼(300)의 확대도이다.FIG. 2 is an enlarged view of the
칼럼(300)의 일 단부에는 상하 방향으로 형성된 적어도 하나의 도전부(310)가 형성될 수 있다. 칼럼(300)의 다른 단부에는 상하 방향으로 형성된 적어도 하나의 도전부(310)가 추가로 형성될 수 있다. 도전부(310)는 복수의 도전성 입자(311)를 포함할 수 있다. 복수의 도전성 입자(311)를 포함하는 도전부(310)는 전도성일 수 있다. 도전부(310) 칼럼(300)의 상측과 칼럼(300)의 하측을 전기적으로 연결시킬 수 있다.At least one
칼럼(300)은 절연부(320)를 포함할 수 있다. 절연부(320)는 실리콘일 수 있다. 칼럼(300)의 일 단부에 형성된 적어도 하나의 도전부(310)와 칼럼(300)의 다른 단부에 형성된 적어도 하나의 도전부(310)는 절연부(320)의 의해 분리될 수 있다. 일 단부에 형성된 적어도 하나의 도전부(310)와 다른 단부에 형성된 적어도 하나의 도전부(310) 사이에 절연부(320)가 위치할 수 있다.The
도전부(310)의 복수의 도전성 입자(311)는 절연부(320)에 의해 칼럼(300)에 유지될 수 있다. 복수의 도전성 입자(311)는 절연부(320)의 소정 위치에 유지될 수 있다. 복수의 도전성 입자(311)는 절연부(320)의 단부에 유지될 수 있다.The plurality of
칼럼(300)은 상하 방향에서 중간 부분의 횡방향 단면의 면적이 가장 작을 수 있다. 칼럼(300)의 상부에서 칼럼(300)의 중간 부분으로 갈수록 칼럼(300)의 횡방향 단면의 면적이 감소할 수 있다. 칼럼(300)의 횡방향 단면의 면적은 칼럼(300)의 상부에서 칼럼(300)의 중간 부분으로 갈수록 선형적으로 감소할 수 있다. 칼럼(300)의 하부에서 칼럼(300)의 중간 부분으로 갈수록 칼럼(300)의 횡방향 단면의 면적이 감소할 수 있다. 칼럼(300)의 횡방향 단면의 면적은 칼럼(300)의 하부에서 칼럼(300)의 중간 부분으로 갈수록 선형적으로 감소할 수 있다. 칼럼(300)은 칼럼(300)의 상하 방향에 대하여 중간 부분을 기준으로 서로 대칭일 수 있다.The
도 3은 도 1에 도시된 도전 채널(10)의 확대도이다.FIG. 3 is an enlarged view of the
도전 채널(10)은 전기 접속용 커넥터(1000)의 상측과 전기 접속용 커넥터(1000)의 하측을 도전시키는 전기 접속용 커넥터(1000)의 일 단위 구성일 수 있다. 도전 채널(10)은 절연체(20)를 상하로 관통하도록 배치될 수 있다. 절연체(20)는 칼럼(300)의 절연부(320), 제1 필름(100)의 제1 절연 부분(101) 및 제2 필름(200)의 제2 절연 부분(201)을 포함할 수 있다. 도전 채널(10)의 외측에 절연체(20)가 배치될 수 있다. 절연체(20)는 도전 채널(10)의 외주를 따라 배치될 수 있다.The
도전 채널(10)은 제1 패드(110)를 포함할 수 있다. 도전 채널(10)은 제2 패드(210)를 포함할 수 있다. 제1 패드(110) 및 제2 패드(210)의 구성 및 효과는 도 1에서 설명한 바와 동일한 바, 상세한 설명은 생략하도록 한다.The
도전 채널(10)은 상하 방향으로 연장하고 통전 가능하게 구성된 복수의 도전부(11)를 포함할 수 있다. 도전 채널(10)에 포함되는 복수의 도전부(11)는 적어도 2개일 수 있다. 도전부(11)는 도 2에서 설명한 칼럼(300)의 일 단부에 형성된 도전부(310)와 동일한 구성일 수 있다. 도전 채널(10)에 포함되는 복수의 도전부(11)는 각각 서로 다른 칼럼(300)에 형성될 수 있다. 예를 들어, 도 3에 도시된 바와 같이, 도전 채널(10)에 포함되는 2개의 도전부(11)는 각각 서로 다른 2개의 칼럼(300)에 형성될 수 있다.The
도전 채널(10)에 포함되는 복수의 도전부(11)는 서로 인접하게 배치될 수 있다. 도전 채널(10)에 포함되는 복수의 도전부(11)는 수용 공간(12)을 형성할 수 있다. 도전 채널(10)에 포함되는 복수의 도전부(11)는 수용 공간(12)을 둘러쌀 수 있다. 수용 공간(12)은 복수의 도전부(11) 사이에 형성될 수 있다. 수용 공간(12)은 복수의 도전부(11)에 의해 둘러싸여 형성될 수 있다. 복수의 도전부(11)는 수용 공간(12)의 외주면의 일부를 한정할 수 있다. 수용 공간(12)의 외주면은 수용 공간(12)의 경계를 형성하는 임의의 면일 수 있다. 수용 공간(12)의 외주면의 일부는 복수의 도전부(11)에 의해 한정되고, 수용 공간(12)의 외주면의 나머지 부분은 개방된 부분일 수 있다.The plurality of
도전 채널(10)에 포함되는 복수의 도전부(11)는 도전 채널(10)의 상하 방향으로 연장되는 중심축으로부터 이격될 수 있다. 복수의 도전부(11)는 각각 도전 채널(10)의 중심축으로부터 동일한 거리만큼 이격될 수 있다.The plurality of
도전 채널(10)에 포함되는 복수의 도전부(11)는 각각 서로 다른 칼럼(300)에 형성될 수 있다. 도전 채널(10)은 각각 서로 다른 칼럼(300)에 형성되어 인접하게 배치된 복수의 도전부(11)를 포함할 수 있다.The plurality of
도전 채널(10)은 수용 공간(12) 내에 배치되는 브릿지 부재(400)를 포함할 수 있다. 브릿지 부재(400)의 적어도 외표면(410)은 전도성 재질로 형성될 수 있다. 브릿지 부재(400)의 부피는 도전부(11)에 포함되는 복수의 도전성 입자(도 2 참조)의 평균 부피보다 클 수 있다.The
브릿지 부재(400)는 복수의 도전부(11)와 접촉할 수 있다. 복수의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)의 둘레를 따라 배치될 수 있다. 복수의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)의 둘레를 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다.The
도전 채널(10)에서 제1 패드(110), 도전부(11), 브릿지 부재(400) 및 제2 패드(210)는 전기적으로 연결될 수 있다. 전기 접속용 커넥터(1000; 도 1 참조)는 브릿지 부재(400)를 통한 전기적 연결을 추가적으로 제공할 수 있다. 전기 접속용 커넥터(1000)를 통한 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이의 전기적 연결이 다양한 경로로 제공될 수 있다.In the
예를 들어, 도전부(11)의 소정 부분이 손상되어 도전부(11)를 통한 전기적 연결이 끊어졌을 때, 브릿지 부재(400)를 통한 전기적 연결이 제공될 수 있다. 도전부(11)의 상부로부터 브릿지 부재(400)를 경유하여 도전부(11)의 하부로 연결되는 전기적 연결이 제공될 수 있다. 브릿지 부재(400)를 통한 전기적 연결이 제공됨에 따라 전기 접속용 커넥터(1000)를 통한 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이의 전기적 연결이 안정적일 수 있다.For example, when a predetermined portion of the
도 4는 도 1에 도시된 전기 접속용 커넥터(1000)의 X-X' 선을 따른 단면도의 일 예시이다.FIG. 4 is an example of a cross-sectional view taken along line X-X' of the
전기 접속용 커넥터(1000)의 칼럼(300)은 다양한 형상을 가질 수 있다. 칼럼(300)의 형상은 피검사용 디바이스의 단자에 대응되도록 다양하게 변경될 수 있다.The
도전부(310)는 칼럼(300)의 일 단부 및 다른 단부에 형성될 수 있다. 칼럼(300)의 일 단부는 칼럼(300)의 단면에서 모서리 부분에 대응되는 부분 중 하나일 수 있다. 칼럼(300)의 다른 단부는 칼럼(300)의 단면에서 모서리 부분에 대응되는 부분 중 나머지일 수 있다. 칼럼(300)의 단면 형상에 따라 칼럼(300)의 일 단부 및 다른 단부의 배치는 변경될 수 있다. 칼럼(300)의 단면 형상에 따라 칼럼(300)의 다른 단부는 복수 개일 수 있다.The
칼럼(300)의 일 단부에 형성된 도전부(310)와 칼럼(300)의 다른 단부에 형성된 도전부(310)는 서로 다른 도전 채널(10)에 포함될 수 있다. 칼럼(300)의 일 단부에 형성된 도전부(310)와 칼럼(300)의 다른 단부에 형성된 도전부(310)는 서로 다른 브릿지 부재(400)와 접촉할 수 있다.The
이하에서 도 4 내지 도 7을 참조하여, 칼럼(300)의 다양한 형상에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)의 구성을 상세히 알아본다.Hereinafter, with reference to FIGS. 4 to 7 , the configuration of the
도 4에 도시된 바와 같이, 칼럼(300)의 일 예시로서, 칼럼(300)의 횡방향 단면은 타원형일 수 있다. 칼럼(300)은 타원형의 단면이 상하 방향으로 적층된 구조일 수 있다. 칼럼(300)의 타원형의 단면이 상하 방향으로 적층된 구조를 가질 때, 도 2에 도시된 바와 같이 칼럼(300)은 상하 방향에서 중간 부분의 횡방향 단면의 면적이 가장 작을 수 있다. 칼럼(300)의 횡방향 단면인 타원형의 면적은 상하 방향에서 중간 부분이 가장 작을 수 있다.As shown in FIG. 4 , as an example of the
칼럼(300)이 타원형의 횡방향 단면을 가질 때, 칼럼(300)에는 2 개의 도전부(310)가 형성될 수 있다. 도전부(310)는 절연부(320)에 의해 분리될 수 있다. 도전부(310)는 복수의 도전성 입자(311)를 포함할 수 있다. 칼럼(300)의 일 단부 및 다른 단부에 형성된 도전부(310)는 브릿지 부재(400)와 접촉할 수 있다. 칼럼(300)의 일 단부 및 다른 단부에 형성된 도전부(310)는 브릿지 부재(400)의 외표면(410)으로 형성된 전도성 재질과 접촉할 수 있다.When the
전기 접속용 커넥터(1000)의 상측과 전기 접속용 커넥터(1000)의 하측을 도전시키는 전기 접속용 커넥터(1000)의 일 단위 구성인 도전 채널(10)은 4 개의 도전부(11)를 포함할 수 있다. 도전 채널(10)은 4 개의 칼럼(300)에 각각 형성된 4 개의 도전부(11)를 포함할 수 있다.The
4 개의 도전부(11)에 의해 수용 공간(12)이 형성될 수 있다. 수용 공간(12)은 4 개의 도전부(11)에 의해 둘러 싸일 수 있다. 4 개의 도전부(11)에 의해 형성되는 수용 공간(12)은 복수일 수 있다.The
복수의 도전 채널(10)에 대응되도록 복수의 수용 공간(12)이 형성될 수 있다. 수용 공간(12)의 개수는 도전 채널(10)의 개수와 대응될 수 있다. 복수의 수용 공간(12)은 서로 연통할 수 있다. 복수의 수용 공간(12) 사이의 공간은 폐쇄되지 않고 개방될 수 있다.A plurality of
브릿지 부재(400)는 4 개의 도전부(11)에 의해 형성된 수용 공간(12)에 배치될 수 있다. 브릿지 부재(400)는 4 개의 도전부(11)에 의해 둘러싸일 수 있다. 4 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)와 접촉할 수 있다. 4 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)의 둘레를 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 4 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)의 둘레를 따라 서로 동일한 간격으로 이격될 수 있다.The
도 5는 도 1에 도시된 전기 접속용 커넥터(1000)의 X-X' 선을 따른 단면도의 다른 예시이다.FIG. 5 is another example of a cross-sectional view taken along line X-X' of the
칼럼(300)의 다른 예시로서, 칼럼(300)의 횡방향 단면은 삼각형일 수 있다. 칼럼(300)은 삼각형의 단면이 상하 방향으로 적층된 구조일 수 있다. 칼럼(300)이 삼각형의 단면이 상하 방향으로 적층된 구조를 가질 때, 도 2에 도시된 바와 같이 칼럼(300)은 상하 방향에서 중간 부분의 횡방향 단면의 면적이 가장 작을 수 있다. 칼럼(300)의 횡방향 단면인 삼각형의 면적은 상하 방향에서 중간 부분이 가장 작을 수 있다.As another example of the
칼럼(300)이 삼각형의 횡방향 단면을 가질 때, 칼럼(300)에는 3 개의 도전부(310)가 형성될 수 있다. 칼럼(300)의 도전부(310)는 삼각형 단면의 각 모서리에 대응되는 부분에 형성될 수 있다. 도전부(310)는 절연부(320)에 의해 분리될 수 있다. 도전부(310)는 브릿지 부재(400)와 접촉할 수 있다. 도전부(310)는 브릿지 부재(400)의 외표면(410)으로 형성된 전도성 재질과 접촉할 수 있다.When the
삼각형 단면의 각 모서리에 대응되는 부분에 형성된 도전부(310)는 각 모서리마다 서로 다른 도전 채널(10)에 포함될 수 있다. 칼럼(300)에 형성된 3 개의 도전부(310)는 3 개의 서로 다른 도전 채널(10)에 포함될 수 있다.The
전기 접속용 커넥터(1000)의 상측과 전기 접속용 커넥터(1000)의 하측을 도전시키는 전기 접속용 커넥터(1000)의 일 단위 구성인 도전 채널(10)은 6 개의 도전부(11)를 포함할 수 있다. 도전 채널(10)은 6 개의 칼럼(300)에 각각 형성된 6 개의 도전부(11)를 포함할 수 있다.The
6 개의 도전부(11)에 의해 수용 공간(12)이 형성될 수 있다. 수용 공간(12)은 6 개의 도전부(11)에 의해 둘러 싸일 수 있다. 브릿지 부재(400)는 6 개의 도전부(11)에 의해 형성된 수용 공간(12)에 배치될 수 있다. 브릿지 부재(400)는 6 개의 도전부(11)에 의해 둘러싸일 수 있다. 6 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)와 접촉할 수 있다. 6 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)의 둘레를 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 6 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)의 둘레를 따라 서로 동일한 간격으로 이격될 수 있다.The
도 6은 도 1에 도시된 전기 접속용 커넥터(1000)의 X-X' 선을 따른 단면도의 또 다른 예시이다.FIG. 6 is another example of a cross-sectional view taken along line X-X' of the
칼럼(300)의 다른 예시로서, 칼럼(300)의 횡방향 단면은 정사각형 또는 직사각형일 수 있다. 칼럼(300)은 정사각형 또는 직사각형의 단면이 상하 방향으로 적층된 구조일 수 있다. 칼럼(300)이 정사각형 또는 직사각형의 단면이 상하 방향으로 적층된 구조를 가질 때, 도 2에 도시된 바와 같이 칼럼(300)은 상하 방향에서 중간 부분의 횡방향 단면의 면적이 가장 작을 수 있다. 칼럼(300)의 횡방향 단면인 정사각형 또는 직사각형의 면적은 상하 방향에서 중간 부분이 가장 작을 수 있다.As another example of
칼럼(300)이 정사각형 또는 직사각형의 횡방향 단면을 가질 때, 칼럼(300)에는 4 개의 도전부(310)가 형성될 수 있다. 칼럼(300)의 도전부(310)는 정사각형 또는 직사각형 단면의 각 모서리에 대응되는 부분에 형성될 수 있다. 도전부(310)는 절연부(320)에 의해 분리될 수 있다. 도전부(310)는 브릿지 부재(400)와 접촉할 수 있다. 도전부(310)는 브릿지 부재(400)의 외표면(410)으로 형성된 전도성 재질과 접촉할 수 있다.When the
정사각형 또는 직사각형 단면의 각 모서리에 대응되는 부분에 형성된 도전부(310)는 각 모서리마다 서로 다른 도전 채널(10)에 포함될 수 있다. 칼럼(300)에 형성된 4 개의 도전부(310)는 4 개의 서로 다른 도전 채널(10)에 포함될 수 있다.The
전기 접속용 커넥터(1000)의 상측과 전기 접속용 커넥터(1000)의 하측을 도전시키는 전기 접속용 커넥터(1000)의 일 단위 구성인 도전 채널(10)은 4 개의 도전부(11)를 포함할 수 있다. 도전 채널(10)은 4 개의 칼럼(300)에 각각 형성된 4 개의 도전부(11)를 포함할 수 있다.The
4 개의 도전부(11)에 의해 수용 공간(12)이 형성될 수 있다. 수용 공간(12)은 4 개의 도전부(11)에 의해 둘러 싸일 수 있다. 브릿지 부재(400)는 4 개의 도전부(11)에 의해 형성된 수용 공간(12)에 배치될 수 있다. 브릿지 부재(400)는 4 개의 도전부(11)에 의해 둘러싸일 수 있다. 4 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)와 접촉할 수 있다. 4 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)의 둘레를 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 4 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)의 둘레를 따라 서로 동일한 간격으로 이격될 수 있다.The
도 7은 도 1에 도시된 전기 접속용 커넥터(1000)의 X-X' 선을 따른 단면도의 또 다른 예시이다.FIG. 7 is another example of a cross-sectional view taken along line X-X' of the
칼럼(300)의 다른 예시로서, 칼럼(300)의 횡방향 단면은 마름모일 수 있다. 칼럼(300)은 마름모의 단면이 상하 방향으로 적층된 구조일 수 있다. 칼럼(300)이 마름모의 단면이 상하 방향으로 적층된 구조를 가질 때, 도 2에 도시된 바와 같이 칼럼(300)은 상하 방향에서 중간 부분의 횡방향 단면의 면적이 가장 작을 수 있다. 칼럼(300)의 횡방향 단면인 마름모의 면적은 상하 방향에서 중간 부분이 가장 작을 수 있다.As another example of the
칼럼(300)이 마름모의 횡방향 단면을 가질 때, 칼럼(300)에는 4 개의 도전부(310)가 형성될 수 있다. 칼럼(300)의 도전부(310)는 마름모 단면의 각 모서리에 대응되는 부분에 형성될 수 있다. 칼럼(300)의 도전부(310)의 단면적 크기는, 마름모의 단면의 각 모서리에 대응되는 부분의 단면적 크기에 비례할 수 있다. 도전부(310)는 절연부(320)에 의해 분리될 수 있다. 도전부(310)는 브릿지 부재(400)와 접촉할 수 있다. 도전부(310)는 브릿지 부재(400)의 외표면(410)으로 형성된 전도성 재질과 접촉할 수 있다.When the
마름모의 단면의 각 모서리에 대응되는 부분에 형성된 도전부(310)는 각 모서리마다 서로 다른 도전 채널(10)에 포함될 수 있다. 칼럼(300)에 형성된 4 개의 도전부(310)는 4 개의 서로 다른 도전 채널(10)에 포함될 수 있다.The
전기 접속용 커넥터(1000)의 상측과 전기 접속용 커넥터(1000)의 하측을 도전시키는 전기 접속용 커넥터(1000)의 일 단위 구성인 도전 채널(10)은 4 개의 도전부(11)를 포함할 수 있다. 도전 채널(10)은 4 개의 칼럼(300)에 각각 형성된 4 개의 도전부(11)를 포함할 수 있다.The
4 개의 도전부(11)에 의해 수용 공간(12)이 형성될 수 있다. 수용 공간(12)은 4 개의 도전부(11)에 의해 둘러 싸일 수 있다. 브릿지 부재(400)는 4 개의 도전부(11)에 의해 형성된 수용 공간(12)에 배치될 수 있다. 브릿지 부재(400)는 4 개의 도전부(11)에 의해 둘러싸일 수 있다. 4 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)와 접촉할 수 있다. 4 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)의 둘레를 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 4 개의 도전부(11)는 브릿지 부재(400)의 둘레를 따라 서로 동일한 간격으로 이격될 수 있다.The
도 8은 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)의 상하 방향 단면도이다.8 is a vertical cross-sectional view of the
다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)는 상술한 일 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)의 구성을 포함할 수 있다. 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)는 제1 패드(110)의 상측에 형성된 가이드부(150)를 더 포함할 수 있다.The
가이드부(150)에는 전도부(151)가 형성될 수 있다. 전도부(151)는 상하 방향으로 형성될 수 있다. 전도부(151)는 전도부(151)의 상측과 전도부(151)의 하측을 전기적으로 연결시킬 수 있다. 전도부(151)의 상부는 피검사 디바이스의 단자와 접촉할 수 있다. 전도부(151)는 피검사 디바이스의 단자와 전기적으로 연결될 수 있다. 전도부(151)의 하부는 제1 패드(110)와 접촉할 수 있다. 전도부(151)는 제1 패드(110)와 전기적으로 연결될 수 있다.A
복수의 전도부(151)에 의해 피검사 디바이스의 단자가 수용될 수 있는 단자 수용부(155)가 형성될 수 있다. 단자 수용부(155)는 복수의 전도부(151)에 의해 둘러싸일 수 있다. 단자 수용부(155)는 피검사 디바이스의 단자가 제1 패드(110)와 접촉할 수 있도록 피검사 디바이스의 단자를 가이드할 수 있다. 피검사 디바이스의 단자는 단자 수용부(155)에 수용되어 복수의 전도부(151)와 접촉할 수 있다. 피검사 디바이스의 단자는 단자 수용부(155)에 수용되어 제1 패드(110)와 접촉할 수 있다. 피검사 디바이스의 단자, 복수의 전도부(151), 제1 패드(110)는 전기적으로 연결될 수 있다.The terminal
도 9는 또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)의 상하 방향 단면도이다.9 is a vertical cross-sectional view of the
또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)는 상술한 실시예들에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)의 구성을 포함할 수 있다.The
또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)는 제2 필름(200)의 하측에 위치하는 제3 필름(500)을 포함할 수 있다. 제3 필름(500)에는 복수의 제3 관통공(505)이 형성될 수 있다. 복수의 제3 관통공(505)은 제3 필름(500)의 제3 절연 부분(501)에 형성될 수 있다. 제3 관통공(505)은 제3 필름(500)의 상측으로부터 제3 필름(500)의 하측으로 연장하며 제3 절연 부분(501)을 관통할 수 있다. 제3 필름(500)의 상측으로부터 바라보았을 때 제3 관통공(505)은 원 형상의 단면을 가질 수 있다. 복수의 제3 관통공(505)은 서로 이격되어 제3 절연 부분(501)에 형성될 수 있다.The
제3 필름(500)은 제3 패드(510)를 포함할 수 있다. 제3 필름(500)에는 복수의 제3 패드(510)가 유지될 수 있다. 제3 패드(510)는 제3 관통공(505)에 형성될 수 있다. 제3 패드(510)는 제3 관통공(505)에 대응되는 크기 및 형상을 가질 수 있다. 제3 패드(510)는 전기 전도성일 수 있다. 제3 패드(510)는 도전성 입자를 포함할 수 있다. 제3 패드(510)는 실리콘을 포함할 수 있다. 제3 패드(510)에서 도전성 입자는 실리콘에 의해 유지될 수 있다. 제3 패드(510)를 통하여 제3 필름(500)의 상측과 제3 필름(500)의 하측이 도전될 수 있다.The
또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)는 적어도 둘 이상의 추가 칼럼(600)을 포함할 수 있다. 적어도 둘 이상의 추가 칼럼(600)은 제2 필름(200)과 제3 필름(500) 사이에 배치될 수 있다. 추가 칼럼(600)은 제2 필름(200) 및 제3 필름(500)과 접촉할 수 있다. 추가 칼럼(600)에는 추가 전도부(610)가 형성될 수 있다. 추가 전도부(610)는 추가 칼럼(600)의 일 단부 및 다른 단부에 형성될 수 있다. 추가 전도부(610)의 상부는 제2 패드(210)의 하부와 접촉할 수 있다. 추가 전도부(610)의 하부는 제3 패드(510)의 상부와 접촉할 수 있다. 추가 칼럼(600)은 도전성일 수 있다. 제1 패드(110), 도전부(310), 제2 패드(210), 추가 전도부(610) 및 제3 패드(510)는 전기적으로 연결될 수 있다.The
적어도 둘 이상의 추가 칼럼(600)은 횡방향에서 서로 이격될 수 있다. 적어도 둘 이상의 추가 칼럼(600) 사이에는 공간이 형성될 수 있다. 공간은 서로 인접하게 배치된 적어도 둘 이상의 추가 칼럼(600)에 의해 형성될 수 있다. 적어도 둘 이상의 추가 칼럼(600) 사이의 공간에는 추가 브릿지 부재(700)가 배치될 수 있다. 추가 브릿지 부재(700)는 구 형상일 수 있다. 추가 브릿지 부재(700)는 적어도 둘 이상의 추가 칼럼(600) 사이의 공간에 배치되어 적어도 둘 이상의 추가 칼럼(600)과 접촉할 수 있다. 추가 브릿지 부재(700)는 서로 인접하게 배치된 적어도 둘 이상의 추가 칼럼(600)과 모두 접촉할 수 있다.At least two or more
추가 브릿지 부재(700)는 전도성 재질로 형성될 수 있다. 추가 브릿지 부재(700)의 적어도 외표면(710)은 전도성 재질로 형성될 수 있다. 추가 브릿지 부재(700)의 외표면(710)이 전도성 재질로 형성될 때, 추가 브릿지 부재(700)의 외표면(710)을 제외한 추가 브릿지 부재(700)의 내부는 실리콘 재질로 형성될 수 있다. 추가 브릿지 부재(700)의 외표면(710)은 전도성 재질이 도금되어 형성될 수 있다. 전도성 재질은 예를 들어 금일 수 있다.The
추가 브릿지 부재(700)의 외표면(710)이 전도성 재질로 형성됨에 따라 추가 브릿지 부재(700)를 통한 전기적 연결이 제공될 수 있다. 제1 패드(110), 도전부(310), 브릿지 부재(400), 제2 패드(210), 추가 전도부(610), 추가 브릿지 부재(700) 및 제3 패드(510)는 전기적으로 연결될 수 있다.As the
도 10은 또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)의 상하 방향 단면도이다.10 is a vertical cross-sectional view of the
또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)는 상술한 실시예들에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)의 구성을 포함할 수 있다.The
또 다른 실시예에 따른 전기 접속용 커넥터(1000)에서 적어도 둘 이상의 칼럼(300) 사이의 공간에는 적어도 외표면(410)이 전도성 재질로 형성된 브릿지 부재(400)가 복수 개 배치될 수 있다. 브릿지 부재(400)는 예를 들어 2개일 수 있으나, 브릿지 부재(400)의 개수는 이에 제한되지 않는다.A plurality of
복수 개의 브릿지 부재(400)는 서로 접촉할 수 있다. 브릿지 부재(400)는 서로 인접하게 배치된 적어도 둘 이상의 칼럼(300) 중 적어도 하나의 칼럼(300)과 접촉할 수 있다. 브릿지 부재(400)는 칼럼(300)에 형성된 도전부(310)와 접촉할 수 있다. 브릿지 부재(400)가 적어도 하나의 칼럼(300)과 접촉함에 따라 브릿지 부재(400)와 적어도 하나의 칼럼(300)은 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 패드(110), 도전부(310), 복수 개의 브릿지 부재(400) 및 제2 패드(210)는 전기적으로 연결될 수 있다.The plurality of
실시예들은 전기 접속용 커넥터(1000)를 통한 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이의 전기적 연결을 다양한 경로로서 제공할 수 있다. 또한, 실시예들에 의하면, 전기 접속용 커넥터(1000)를 통한 피검사 디바이스와 테스트 장비 사이의 전기적 연결이 안정적으로 제공될 수 있다.Embodiments may provide an electrical connection between the device under test and the test equipment through the
이상 일부 실시예들과 첨부된 도면에 도시된 예에 의해 본 개시의 기술적 사상이 설명되었지만, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이해할 수 있는 본 개시의 기술적 사상 및 범위를 벗어나지 않는 범위에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 이루어질 수 있다는 점을 알아야 할 것이다. 또한, 그러한 치환, 변형 및 변경은 첨부된 청구범위 내에 속하는 것으로 생각되어야 한다.Although the technical spirit of the present disclosure has been described by the examples shown in some embodiments and the accompanying drawings, it does not depart from the technical spirit and scope of the present disclosure that can be understood by those of ordinary skill in the art to which the present disclosure belongs. It should be understood that various substitutions, modifications, and alterations within the scope may be made. Further, such substitutions, modifications, and alterations are intended to fall within the scope of the appended claims.
1000: 전기 접속용 커넥터, 10: 도전 채널, 11: 도전부, 12: 수용 공간, 100: 제1 필름, 101: 제1 절연 부분, 105: 제1 관통공, 110: 제1 패드, 150: 가이드부, 151: 전도부, 155: 단자 수용부, 20: 절연체, 200: 제2 필름, 201: 제2 절연 부분, 205: 제2 관통공, 210: 제2 패드, 300: 칼럼, 310: 도전부, 311: 도전성 입자, 320: 절연부, 400: 브릿지 부재, 410: 브릿지 부재의 외표면, 420: 브릿지 부재의 내부, 500: 제3 필름, 505: 제3 관통공, 510: 제3 패드, 600: 추가 칼럼, 610: 추가 도전부, 700: 추가 브릿지 부재1000 electrical connection connector, 10 conductive channel, 11: conductive part, 12 receiving space, 100 first film, 101 first insulating portion, 105 first through hole, 110 first pad, 150: Guide part 151: conductive part, 155: terminal receiving part, 20: insulator, 200: second film, 201: second insulating portion, 205: second through hole, 210: second pad, 300: column, 310: conductive Part, 311: conductive particles, 320: insulating part, 400: bridge member, 410: outer surface of the bridge member, 420: the inside of the bridge member, 500: third film, 505: third through hole, 510: third pad , 600: additional column, 610: additional conductive part, 700: additional bridge member
Claims (20)
전기 전도성의 복수의 제1 패드를 유지하는 제1 필름,
상기 제1 필름의 하측에 위치하며 전기 전도성의 복수의 제2 패드를 유지하는 제2 필름,
상기 제1 필름과 상기 제2 필름 사이에 배치되고 횡방향에서 서로 이격되어 있는 적어도 둘 이상의 칼럼을 포함하고,
상기 칼럼의 일 단부에는 상하 방향으로 형성된 적어도 하나의 도전부가 형성되며,
상기 적어도 둘 이상의 칼럼 사이에는 공간이 있고 상기 공간에는 적어도 외표면이 전도성 재질로 형성된 브릿지 부재가 배치되는,
이방성 전기 접속용 커넥터.It is a connector for anisotropic electrical connection that conducts in the vertical direction,
a first film holding a plurality of first electrically conductive pads;
a second film positioned under the first film and holding a plurality of electrically conductive second pads;
at least two columns disposed between the first film and the second film and spaced apart from each other in the transverse direction,
At one end of the column is formed at least one conductive portion formed in the vertical direction,
There is a space between the at least two or more columns, and a bridge member having at least an outer surface formed of a conductive material is disposed in the space,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 복수의 제1 패드는 상기 제1 필름에 형성된 복수의 제1 관통공에 형성되고,
상기 복수의 제2 패드는 상기 제2 필름에 형성된 복수의 제2 관통공에 형성되는,
이방성 전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
The plurality of first pads are formed in a plurality of first through holes formed in the first film,
The plurality of second pads are formed in a plurality of second through holes formed in the second film,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 제1 패드, 상기 도전부, 상기 브릿지 부재 및 상기 제2 패드는 전기적으로 연결되는,
이방성 전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
The first pad, the conductive part, the bridge member, and the second pad are electrically connected,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 칼럼은 절연부를 포함하고,
상기 칼럼의 다른 단부에는 상하 방향으로 형성된 적어도 하나의 도전부가 추가로 형성되며,
상기 칼럼의 일 단부에 형성된 상기 적어도 하나의 도전부와 상기 칼럼의 다른 단부에 형성된 상기 적어도 하나의 도전부는 상기 절연부에 의해 분리되고,
상기 칼럼의 일 단부에 형성된 상기 도전부와 상기 칼럼의 다른 단부에 형성된 상기 도전부는 복수의 도전성 입자를 포함하는,
이방성 전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
The column comprises an insulation,
At the other end of the column, at least one conductive part formed in the vertical direction is further formed,
The at least one conductive portion formed at one end of the column and the at least one conductive portion formed at the other end of the column are separated by the insulating portion,
The conductive portion formed at one end of the column and the conductive portion formed at the other end of the column include a plurality of conductive particles,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 복수의 도전성 입자는 상기 절연부에 의해 상기 칼럼에 유지되는,
이방성 전기 접속용 커넥터.5. The method of claim 4,
The plurality of conductive particles are held in the column by the insulating portion,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 칼럼은 상하 방향에서 중간 부분의 횡방향 단면의 면적이 가장 작은,
이방성 전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
The column has the smallest area of the transverse cross-section of the middle part in the vertical direction,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 칼럼의 횡방향 단면은 타원형, 원형 및 다각형 중 하나의 형상을 갖는,
이방성 전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
wherein the transverse cross-section of the column has a shape of one of elliptical, circular and polygonal;
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 브릿지 부재는 구(球) 형상인,
이방성 전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
The bridge member has a spherical shape,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 제1 패드의 상측에 복수의 가이드부를 더 포함하는,
이방성 전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
Further comprising a plurality of guide parts on the upper side of the first pad,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 제2 필름의 하측에 위치하며 복수의 제3 패드를 유지하는 제3 필름,
상기 제2 필름과 상기 제3 필름 사이에 배치되고 횡방향에서 서로 이격되어 있는 적어도 둘 이상의 추가 칼럼을 더 포함하고,
상기 추가 칼럼의 일 단부에는 상하 방향으로 형성된 적어도 하나의 추가 도전부가 형성되며,
상기 적어도 둘 이상의 추가 칼럼 사이의 공간에는 적어도 외표면이 전도성 재질로 형성된 추가 브릿지 부재가 배치되는,
이방성 전기 접속용 커넥터.According to claim 1,
a third film positioned under the second film and holding a plurality of third pads;
Further comprising at least two or more additional columns disposed between the second film and the third film and spaced apart from each other in the transverse direction,
At one end of the additional column is formed at least one additional conductive portion formed in the vertical direction,
An additional bridge member having at least an outer surface formed of a conductive material is disposed in the space between the at least two or more additional columns,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 제1 패드, 상기 도전부, 상기 브릿지 부재, 상기 제2 패드, 상기 추가 도전부, 상기 추가 브릿지 부재 및 상기 제3 패드는 전기적으로 연결되는,
이방성 전기 접속용 커넥터.11. The method of claim 10,
the first pad, the conductive part, the bridge member, the second pad, the additional conductive part, the additional bridge member, and the third pad are electrically connected;
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 이방성 전기 접속용 커넥터의 상단과 상기 이방성 전기 접속용 커넥터의 하단을 도전시키는 복수의 도전 채널; 및
상기 복수의 도전 채널이 상하로 관통하며 배치되고, 전기 절연성인 절연체;를 포함하고,
상기 복수의 도전 채널 각각은,
상하 방향으로 연장하고 통전 가능하게 구성된 복수의 도전부; 및
상기 복수의 도전부 사이에 형성된 수용 공간 내에 배치되고, 상기 복수의 도전부와 접촉하고, 적어도 외표면이 전도성 재질로 형성된 적어도 하나의 브릿지 부재를 포함하는,
이방성 전기 접속용 커넥터.It is a connector for anisotropic electrical connection that conducts in the vertical direction,
a plurality of conductive channels for conducting an upper end of the connector for anisotropic electrical connection and a lower end of the connector for anisotropic electrical connection; and
and an insulator in which the plurality of conductive channels penetrate vertically and are electrically insulating;
Each of the plurality of conductive channels,
a plurality of conductive parts extending in the vertical direction and configured to be energized; and
It is disposed in the receiving space formed between the plurality of conductive parts, and is in contact with the plurality of conductive parts, comprising at least one bridge member having at least an outer surface formed of a conductive material,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 복수의 도전 채널은 횡방향으로 서로 이격되는,
이방성 전기 접속용 커넥터.13. The method of claim 12,
The plurality of conductive channels are laterally spaced apart from each other,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 복수의 도전부는 상기 도전 채널의 상하 방향으로 연장되는 중심축으로부터 이격되는,
이방성 전기 접속용 커넥터.13. The method of claim 12,
The plurality of conductive parts are spaced apart from a central axis extending in the vertical direction of the conductive channel,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 복수의 도전부는 상기 브릿지 부재의 둘레를 따라 서로 이격되어 배치되는,
이방성 전기 접속용 커넥터.13. The method of claim 12,
The plurality of conductive parts are disposed to be spaced apart from each other along the circumference of the bridge member,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 복수의 도전부는 4개 내지 6개의 도전부인,
이방성 전기 접속용 커넥터.13. The method of claim 12,
The plurality of conductive parts are 4 to 6 conductive parts,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 복수의 도전 채널에 대응하는 복수의 상기 수용 공간이 형성되는,
이방성 전기 접속용 커넥터.13. The method of claim 12,
A plurality of the receiving spaces corresponding to the plurality of conductive channels are formed,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 복수의 수용 공간은 서로 연통되는,
이방성 전기 접속용 커넥터.18. The method of claim 17,
The plurality of accommodation spaces are in communication with each other,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 도전부는 복수의 도전성 입자를 포함하고,
상기 브릿지 부재의 부피는 상기 복수의 도전성 입자의 평균 부피보다 큰,
이방성 전기 접속용 커넥터.13. The method of claim 12,
The conductive part includes a plurality of conductive particles,
The volume of the bridge member is greater than the average volume of the plurality of conductive particles,
Connectors for anisotropic electrical connections.
상기 복수의 도전부는 상기 수용 공간의 외주면의 일부를 한정하는,
이방성 전기 접속용 커넥터.13. The method of claim 12,
The plurality of conductive portions defining a portion of the outer peripheral surface of the accommodation space,
Connectors for anisotropic electrical connections.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200130406A KR102420784B1 (en) | 2020-10-08 | 2020-10-08 | Connector for electrical connection |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200130406A KR102420784B1 (en) | 2020-10-08 | 2020-10-08 | Connector for electrical connection |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20220047015A KR20220047015A (en) | 2022-04-15 |
KR102420784B1 true KR102420784B1 (en) | 2022-07-15 |
Family
ID=81211946
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020200130406A KR102420784B1 (en) | 2020-10-08 | 2020-10-08 | Connector for electrical connection |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102420784B1 (en) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009244139A (en) | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Micronics Japan Co Ltd | Test socket |
KR101366171B1 (en) | 2013-02-19 | 2014-02-24 | 주식회사 아이에스시 | Test socket with high density conduction section |
KR101682230B1 (en) | 2015-08-04 | 2016-12-02 | 주식회사 아이에스시 | Socket for electrical test |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20090077991A (en) * | 2008-01-14 | 2009-07-17 | (주)마이크로컨텍솔루션 | Socket provided with pressure conductive rubber pin |
KR100958134B1 (en) * | 2008-03-31 | 2010-05-18 | 리노공업주식회사 | test socket |
KR100997576B1 (en) * | 2008-08-12 | 2010-11-30 | 이용준 | Semiconductor device test contactor |
KR101624689B1 (en) * | 2014-08-21 | 2016-05-26 | 주식회사 아이에스시 | Electrical connecting connector |
KR101707853B1 (en) * | 2015-07-17 | 2017-02-17 | 초이스테크닉스 주식회사 | Micro contact array structure for semiconductor device test |
KR101781161B1 (en) * | 2015-11-19 | 2017-10-23 | (주)티에스이 | Test Socket |
KR20170125147A (en) * | 2016-05-03 | 2017-11-14 | 염승수 | Surface mount type device test connector |
KR20200077165A (en) * | 2018-12-20 | 2020-06-30 | 주식회사 아이에스시 | Test socket |
KR20200080922A (en) * | 2018-12-27 | 2020-07-07 | 주식회사 아이에스시 | Contact pin for test socket and test socket comprising the same |
KR20200111025A (en) * | 2019-03-18 | 2020-09-28 | 주식회사 아이에스시 | Test socket |
-
2020
- 2020-10-08 KR KR1020200130406A patent/KR102420784B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009244139A (en) | 2008-03-31 | 2009-10-22 | Micronics Japan Co Ltd | Test socket |
KR101366171B1 (en) | 2013-02-19 | 2014-02-24 | 주식회사 아이에스시 | Test socket with high density conduction section |
KR101682230B1 (en) | 2015-08-04 | 2016-12-02 | 주식회사 아이에스시 | Socket for electrical test |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20220047015A (en) | 2022-04-15 |
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