KR102253507B1 - 제품 위치 확인 장치 및 이를 갖는 제품 테스트 장치 - Google Patents

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KR102253507B1
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권수환
유병운
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디플러스(주)
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Abstract

제품 위치 확인 장치는 제품 안착 몸체부, 상기 제품 안착 몸체부의 상면으로부터 오목하게 형성되어 제품의 하면을 수납하는 제품 수납부 및 상기 제품 수납부에 의하여 형성된 바닥면의 테두리를 따라 상기 제품 안착 몸체부를 관통하는 복수개의 관통홀을 포함하는 제품 안착 블럭; 상기 제품 안착 블럭의 하면에 고정되는 회로 기판; 복수개의 상기 관통홀과 대응하는 상기 회로 기판에 각각 형성되어 상기 관통홀로 유입된 광이 인식될 경우 상기 제품의 위치 불량에 대응하는 디텍팅 신호를 출력하는 제품 위치 디텍터; 및 상기 회로 기판에 형성되어 상기 디텍팅 신호에 의하여 제품의 위치 불량 및 위치 불량에 대응하는 제어 신호를 출력하는 제어부를 포함한다.

Description

제품 위치 확인 장치 및 이를 갖는 제품 테스트 장치{device for checking location of product and apparatus having the same}
본 발명은 제품 위치 확인 장치 및 이를 갖는 제품 테스트 장치에 관한 것으로, 특히 본 발명은 소형 카메라 모듈과 같은 제품이 제품 안착 블럭에 정확하게 안착되지 못하는 것을 디텍팅하여 제품의 파손, 제품 안착 블럭의 파손을 사전에 발견 및 제품 테스트 불량을 방지하는 제품 위치 확인 장치 및 이를 갖는 제품 테스트 장치에 관한 것이다.
일반적으로 소형 카메라 모듈과 같은 제품은 휴대폰, 소형 게임기, 자동차, 보안용 카메라 등에 널리 사용되고 있다.
소형 카메라 모듈은 매우 작은 사이즈를 가지나 소형 카메라 모듈의 내부에는 상당히 많은 부품이 집약되어 있고 매우 다양한 기능을 수행하기 때문에 일반적으로 소형 카메라 모듈은 전수 검사를 수행하여 불량 제품을 선별한다.
소형 카메라 모듈을 전수 검사하여 불량 제품을 선별하기 위해서는 먼저 소형 카메라 모듈이 테스트 도중 움직이는 것을 방지하는 제품 안착 블럭, 제품 안착 블럭에 배치된 제품의 단자에 테스트 신호를 인가하여 테스트를 수행하는 테스트 유닛을 필요로 한다.
최근 들어, 소형 카메라 모듈을 수납하는 제품 안착 블럭의 수납홈의 깊이가 다양한 이유에 의하여 점차 감소되면서 소형 카메라 모듈이 제품 안착 블럭의 수납홈으로부터 일부 이탈되거나 소형 카메라 모듈이 제품 안착 블럭의 바닥으로부터 일부 이격될 수 있는데, 작업자가 이를 인식하지 못함으로써 소형 카메라 모듈의 테스트 불량이 빈번하게 발생될 수 있다.
등록특허 제10-2145182호, 카메라 모듈 자동 테스트소켓(등록일 : 2020년 08월 11일)에는 제품이 안착되는 수납홈이 형성된 모듈 고정 유닛을 포함하지만, 상기 카메라 모듈 자동 테스트 소켓은 수납홈으로부터 제품의 적어도 일부가 이탈되거나 수납홈의 바닥으로부터 제품의 바닥이 이격되더라도 이를 인식하여 테스트 불량을 방지하는 기술을 포함하고 있지 않다.
등록특허 제10-2145182호, 카메라 모듈 자동 테스트소켓 (등록일 : 2020년 08월 11일)
본 발명은 제품이 제품 안착 블럭의 수납홈에 수납된 상태에서 제품이 수납홈에 정확하게 안착 또는 제품의 일부가 수납홈에 의하여 형성된 바닥면으로부터 이격되었는지를 테스트 이전에 디텍팅하여 제품 손상 방지, 제품 안착 블럭 손상 방지, 테스트 지연에 따른 생산성 저하 방지 및 테스트 불량을 방지한 제품 위치 확인 장치 및 이를 갖는 제품 테스트 장치를 제공한다.
일실시예로서, 제품 위치 확인 장치는 제품 안착 몸체부, 상기 제품 안착 몸체부의 상면으로부터 오목하게 형성되어 제품의 하면을 수납하는 제품 수납부 및 상기 제품 수납부에 의하여 형성된 바닥면의 테두리를 따라 상기 제품 안착 몸체부를 관통하는 복수개의 관통홀을 포함하는 제품 안착 블럭; 상기 제품 안착 블럭의 하면에 고정되는 회로 기판; 복수개의 상기 관통홀과 대응하는 상기 회로 기판에 각각 형성되어 상기 관통홀로 유입된 광이 인식될 경우 상기 제품의 위치 불량에 대응하는 디텍팅 신호를 출력하는 제품 위치 디텍터; 및 상기 회로 기판에 형성되어 상기 디텍팅 신호에 의하여 제품의 위치 불량 및 위치 불량에 대응하는 제어 신호를 출력하는 제어부를 포함한다.
제품 위치 확인 장치의 상기 제품 위치 디텍터는 제품의 위치 불량에 기인하여 상기 관통홀로 유입된 광에 의하여 상기 디텍팅 신호를 생성하는 포토 센서를 포함한다.
제품 위치 확인 장치는 상기 회로 기판에 형성되어 상기 제어 신호를 외부로 출력하는 단자 유닛; 및 상기 단자 유닛에 연결되며 상기 제어 신호에 응답하여 제품의 위치 정보를 표시하는 표시 유닛을 더 포함한다.
일실시예로서, 제품 테스트 장치는 베이스 몸체; 상기 베이스 몸체와 마주하게 배치된 커버 몸체; 상기 커버 몸체가 상기 베이스 몸체에 대하여 회동되도록 상기 베이스 몸체 및 상기 커버 몸체의 일측 단부에 결합된 회동 부재; 상기 베이스 몸체의 상부에 배치되는 제품 안착 몸체부와 상기 제품 안착 몸체부의 상면으로부터 오목하게 형성되어 제품의 하면을 수납하는 제품 수납부 및 상기 제품 수납부에 의하여 형성된 바닥면의 테두리를 따라 상기 제품 안착 몸체부를 관통하는 복수개의 관통홀을 포함하는 제품 안착 블럭, 상기 제품 안착 블럭의 하면 및 상기 베이스 몸체의 사이에 배치되는 회로 기판, 복수개의 상기 관통홀과 대응하는 상기 회로 기판에 각각 형성되어 상기 관통홀로 유입된 광이 인식될 경우 상기 제품의 위치 불량에 대응하는 디텍팅 신호를 출력하는 제품 위치 디텍터 및 상기 회로 기판에 형성되어 상기 디텍팅 신호에 의하여 제품의 위치 불량 및 위치 불량에 대응하는 제어 신호를 출력하는 제어부를 포함하는 제품 위치 확인 장치; 상기 커버 몸체에 배치되며 상기 제품 안착 몸체부에 배치된 상기 제품의 단자에 테스트 신호를 인가하는 테스트 유닛; 및 상기 베이스 몸체에 결합되며, 상기 제어부로부터 출력된 상기 제어 신호에 의하여 상기 커버 몸체의 회동을 제한하는 인터럽트 유닛을 포함한다.
제품 테스트 장치의 상기 인터럽트 유닛은 상기 베이스 몸체의 측면에 결합되며 회전축이 상기 베이스 몸체 및 상기 커버 몸체의 사이로 향하게 배치되며 상기 제어 신호에 의하여 회전되는 모터 및 상기 회전축에 결합되어 상기 커버 몸체가 상기 베이스 몸체를 향해 회동되는 것을 방지하는 인터럽트 부재를 포함한다.
일실시예로서, 제품 테스트 장치는 베이스 몸체; 상기 베이스 몸체의 상면을 따라 이동되는 슬라이드 블록; 상기 슬라이드 블록의 상부에 형성되어 승하강되는 승하강 유닛; 상기 승하강 유닛에 결합되어 승하강되는 커버 몸체; 상기 베이스 몸체의 상부에 배치되는 제품 안착 몸체부와 상기 제품 안착 몸체부의 상면으로부터 오목하게 형성되어 제품의 하면을 수납하는 제품 수납부 및 상기 제품 수납부에 의하여 형성된 바닥면의 테두리를 따라 상기 제품 안착 몸체부를 관통하는 복수개의 관통홀을 포함하는 제품 안착 블럭, 상기 제품 안착 블럭의 하면 및 상기 베이스 몸체의 사이에 배치되는 회로 기판, 복수개의 상기 관통홀과 대응하는 상기 회로 기판에 각각 형성되어 상기 관통홀로 유입된 광이 인식될 경우 상기 제품의 위치 불량에 대응하는 디텍팅 신호를 출력하는 제품 위치 디텍터 및 상기 회로 기판에 형성되어 상기 디텍팅 신호에 의하여 제품의 위치 불량 및 위치 불량에 대응하는 제어 신호를 출력하는 제어부를 포함하는 제품 위치 확인 장치; 상기 커버 몸체에 배치되며 상기 제품 안착 몸체부에 배치된 상기 제품의 단자에 테스트 신호를 인가하는 테스트 유닛; 및 상기 베이스 몸체에 결합되며, 상기 제어부로부터 출력된 상기 제어 신호에 의하여 상기 커버 몸체가 상기 베이스 몸체로 하강되는 것을 방지하는 인터럽트 유닛을 포함한다.
제품 테스트 장치의 상기 인터럽트 유닛은 상기 베이스 몸체에 결합되며 회전축이 상기 베이스 몸체 및 상기 커버 몸체의 사이로 향하게 배치되며 상기 제어 신호에 의하여 회전되는 모터 및 상기 회전축에 결합되어 상기 커버 몸체가 상기 베이스 몸체를 향해 하강되는 것을 방지하는 인터럽트 부재를 포함한다.
본 발명에 따른 제품 위치 확인 장치 및 이를 갖는 제품 테스트 장치는 제품이 제품 안착 블럭의 수납홈에 수납된 상태에서 제품이 수납홈에 정확하게 안착 또는 제품의 일부가 수납홈에 의하여 형성된 바닥면으로부터 이격되었는지를 테스트 이전에 디텍팅하여 제품 손상 방지, 제품 안착 블럭 손상 방지, 테스트 지연에 따른 생산성 저하 방지 및 테스트 불량을 방지할 수 있는 효과를 갖는다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 제품 위치 확인 장치를 도시한 분해 사시도이다.
도 2는 도 1의 종단면도이다.
도 3은 도 2의 'A' 부분 확대도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 제품 안착 블럭에 제품이 정확하게 안착되지 않았을 때 제품 위치 디텍터의 작동을 도시한 단면도이다.
도 5는 도 2에 도시된 표시 유닛에 표시된 화면을 도시한 평면도이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 제품 테스트 장치를 도시한 단면도이다.
도 7은 본 발명의 다른 일실시예에 따른 제품 테스트 장치를 도시한 단면도이다.
이하 설명되는 본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고, 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에서 상세하게 설명하고자 한다.
그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
또한 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 구분하여 설명하기 위해 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
또한 본 출원에서 적어도 2개의 상이한 실시예들이 각각 기재되어 있을 경우, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 별다른 기재가 없더라도 각 실시예들은 구성요소의 전부 또는 일부를 상호 병합 및 혼용하여 사용할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 제품 위치 확인 장치를 도시한 분해 사시도이다. 도 2는 도 1의 종단면도이다. 도 3은 도 2의 'A' 부분 확대도이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 제품 위치 확인 장치(800)는 제품 안착 블럭(100), 회로 기판(200), 제품 위치 디텍터(300) 및 제어부(400)를 포함한다. 이에 더하여 제품 위치 확인 장치(800)는 단자 유닛(500) 및 표시 유닛(600)을 더 포함한다.
제품 안착 블럭(100)은 초소형 카메라 모듈과 같은 제품을 지정된 위치에 고정한다.
제품 안착 블럭(100)은 납작한 직육면체 플레이트 형상으로 형성될 수 있으며, 제품 안착 블럭(100)은 금속 소재 또는 합성수지 소재로 제작될 수 있다.
제품 안착 블럭(100)은 제품 안착 몸체부(110), 제품 수납부(120) 및 관통홀(130)을 포함한다.
제품 안착 몸체부(110)는 직육면체 플레이트 형상으로 형성될 수 있으며, 초소형 카메라 모듈과 같은 제품을 지정된 위치에 수납하는 역할을 한다.
제품 안착 몸체부(110)의 테두리에는 제품 안착 몸체부(110)를 후술 될 회로 기판(200)에 고정하기 위한 다수개의 체결홀(115)들이 형성될 수 있다.
제품 안착 몸체부(110)의 상면의 중앙 부분에는 초소형 카메라 모듈의 하면을 수납하기에 적합한 제품 수납부(120)가 형성된다. 제품 수납부(120)는 제품 안착 몸체부(110)의 상면으로부터 오목하게 형성된 홈 형상으로 형성된다.
홈 형상을 갖는 제품 수납부(120)에 의하여 제품 안착 몸체부(110)에는 바닥판(125) 및 바닥판(125)과 만나는 측벽(127)이 형성된다.
관통홀(130)은 바닥판(125) 중 측벽(127)과 만나는 바닥판(125)의 테두리를 따라 형성되며, 본 발명의 일실시예에서, 관통홀(130)은 제품 수납부(120)의 바닥판(125)으로부터 제품 안착 몸체부(110)의 하면까지 관통된다.
평면상에서 보았을 때, 관통홀(130)은 바닥판(125)의 상기 테두리를 따라 복수개가 형성되는데, 관통홀(130)은 바닥판(125)의 상기 테두리를 따라 8개가 소정 간격 이격되어 형성된다.
비록 본 발명의 일실시예에서는 관통홀(130)이 바닥판(125)의 테두리를 따라 단속적으로 8개가 형성되는 것이 도시 및 설명되고 있지만, 관통홀(130)은, 평면상에서 보았을 때, 장공(oblong hole) 형상으로 4개가 단속적으로 형성되어도 무방하다.
회로 기판(200)은 내부에 전기 신호가 통과하는 배선(미도시)이 내장되며, 회로 기판(200)은 제품 안착 블럭(100)의 하부에 배치되며, 회로 기판(200) 및 제품 안착블럭(100)은 체결 나사(140)에 의하여 상호 착탈 가능하게 결합된다.
회로 기판(200) 중 제품 안착 블럭(100)과 중첩되지 않는 부분에는 배선과 전기적으로 연결되는 단자 핀(510)을 포함하는 단자 유닛(500)이 결합된다.
제품 위치 디텍터(300)는 제품 안착 블럭(100)에 형성된 관통홀(130)과 대응하는 회로 기판(200)의 상면에 각각 형성되며, 각 제품 위치 디텍터(300)는 배선과 전기적으로 연결된다.
제품 위치 디텍터(300)는 제품 안착 블럭(100)의 제품 수납부(120)의 관통홀(130)을 통해 유입된 광이 인식될 경우 초소형 카메라의 위치 불량을 나타내는(또는 대응하는) 디텍팅 신호를 배선을 통해 출력한다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 제품 안착 블럭에 제품이 정확하게 안착되지 않았을 때 제품 위치 디텍터의 작동을 도시한 단면도이다.
도 4를 참조하면, 제품(P)이 제품 안착 블럭(100)의 제품 수납부(120)에 정확하게 배치되지 않아 제품(P)이 제품 수납부(120)의 바닥면(125)에 밀착되지 않을 경우, 외부광은 제품 수납부(120) 및 관통홀(130)을 통해 제품 위치 디텍터(300)에 도달하게 되고, 제품 위치 디텍터(300)는 광에 의하여 디텍팅 신호를 배선으로 출력한다.
본 발명의 일실시예에서, 제품 위치 디텍터(300)는 광에 의하여 디텍팅 신호를 출력하는 광 센서 또는 포토 센서를 포함할 수 있다.
제품 위치 디텍터(300)로 광 센서 또는 포토 센서를 이용할 경우, 제품(P)의 위치 불량 뿐만 아니라 제품(P)의 어느쪽이 바닥면(125)으로부터 이격되었는지도 파악할 수 있다.
도 1 내지 도 3을 다시 참조하면, 제품 위치 디텍터(300)에 연결된 배선에 의하여 제품 위치 디텍터(300)로부터 생성된 디텍팅 신호는 회로 기판(200)에 형성된 제어부(400)로 입력된다.
제어부(400)는 제품 위치 디텍터(300)로부터 입력된 디텍팅 신호에 대응하여 후술 될 표시 유닛(600)으로 제공되는 디스플레이 신호 및 테스트를 강제로 중단시키기 위한 인터럽트 신호를 포함하는 제어 신호를 생성 및 단자 유닛(500)의 단자 핀(510)으로 제공한다.
도 5는 도 2에 도시된 표시 유닛에 표시된 화면을 도시한 평면도이다.
도 2 및 도 5를 참조하면, 표시 유닛(600)은 단자 유닛(500)에 전기적으로 결합되며, 표시 유닛(600)으로는 제어부(400)에서 생성된 제어 신호 중 하나인 디스플레이 신호가 입력된다.
디스플레이 신호에 의하여 표시 유닛(600)에는 복수개의 제품 위치 디텍터가 표시되며, 특히 표시 유닛(600)에는 제품 위치 디텍터 중 광이 디텍팅된 제품 위치 디텍터가 별도로 표시됨으로써 작업자는 제품의 배치 불량을 시각적으로 확인할 수 있으며, 작업자는 표시 유닛(600)을 통해 제품 안착 블럭에 배치된 제품의 배치를 올바르게 교정할 수 있다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 제품 테스트 장치를 도시한 단면도이다. 도 6에 도시된 제품 테스트 장치의 제품 위치 확인 장치는 앞서 도 1 내지 도 5를 통해 도시 및 설명된 제품 위치 확인 장치와 실질적으로 동일한 구성을 갖는다. 따라서 동일한 구성에 대한 중복된 설명은 생략하기로 하며, 동일한 구성에 대해서는 동일한 명칭 및 동일한 참조 부호를 부여하기로 한다.
도 6을 참조하면, 제품 테스트 장치(1000)는 베이스 몸체(910), 커버 몸체(920), 회동 부재(930), 제품 위치 확인 장치(800), 테스트 유닛(940) 및 인터럽트 유닛(950)을 포함한다.
베이스 몸체(910)는, 예를 들어, 플레이트 형상으로 형성되며, 베이스 몸체(910)의 상면에는 도 1 내지 도 5를 통해 도시 및 설명된 제품 위치 확인 장치(800)가 고정되며, 제품 위치 확인 장치(800)의 제품 안착 블럭(100)에는 초소형 카메라 모듈과 같은 제품(P)이 테스트 되기 위해 탑재된다.
커버 몸체(920)는 플레이트 형상으로 형성되며, 커버 몸체(920)는 베이스 몸체(910)에 대하여 회동된다.
커버 몸체(920)가 베이스 몸체(910)에 대하여 회동될 수 있도록 상기 베이스 몸체(910)의 일측 단부 및 커버 몸체(920)의 일측 단부에는 회동 부재(930)가 결합된다. 회동 부재(930)에 의하여 커버 몸체(920)는 베이스 몸체(910)에 대하여 회동된다.
커버 몸체(920) 중 베이스 몸체(910)에 배치된 제품(P)과 마주하는 하면에는 제품(P)의 단자와 전기적으로 접속되어 제품(P)의 단자로 테스트 신호를 제공하여 제품(P)을 전기적으로 테스트하는 테스트 유닛(940)이 형성된다.
한편, 제품 위치 확인 장치(800)에 의하여 제품 안착 블럭(100)에 배치된 제품(P)이 지정된 위치로부터 벗어난 곳에 배치될 경우 제품 위치 디텍터(300)는 제품(P)의 위치 불량을 감지하여 디텍팅 신호를 제어부(400)로 전송하고, 제어부(400)는 디텍팅 신호에 의하여 생성된 인터럽트 신호를 인터럽트 유닛(950)으로 인가하여 커버 몸체(920)의 회동을 제한하여 제품(P)의 파손, 테스트 유닛(940)의 파손, 테스트 불량을 방지한다.
인터럽트 유닛(950)은 회전축(953)을 포함하는 모터(952) 및 인터럽트 부재(954)를 포함할 수 있다.
모터(952)는 베이스 몸체(910)의 측면으로부터 돌출된 받침판(915)에 고정되며, 모터(952)에 형성된 회전축(953)은 베이스 몸체(910) 및 커버 몸체(920)의 사이에 배치된다.
모터(952)는 제어부(400)로부터 발생된 인터럽트 신호에 의하여 회전축(953)을 회전시킨다.
인터럽트 부재(954)는 회전축(953)에 결합되어 회전축(953)과 함께 회전된다.
본 발명의 일실시예에서, 인터럽트 신호가 모터(952)로 인가되지 않을 경우 인터럽트 부재(954)는 베이스 몸체(910)와 나란하게 배치되어 커버 몸체(920)의 회동을 제한하지 않지만, 제어부(400)로부터 인터럽트 신호가 모터(952)로 인가될 경우 회전축(953)이 회전되면서 인터럽트 부재(954)는 커버 몸체(920)의 회동 경로 상에 배치되고 이로 인해 커버 몸체(920)는 베이스 몸체(910)를 향해 회동 되지 못하게 된다.
도 7은 본 발명의 다른 일실시예에 따른 제품 테스트 장치를 도시한 단면도이다. 도 7에 도시된 제품 테스트 장치의 제품 위치 확인 장치는 앞서 도 1 내지 도 5를 통해 도시 및 설명된 제품 위치 확인 장치와 실질적으로 동일한 구성을 갖는다. 따라서 동일한 구성에 대한 중복된 설명은 생략하기로 하며, 동일한 구성에 대해서는 동일한 명칭 및 동일한 참조 부호를 부여하기로 한다.
도 7을 참조하면, 제품 테스트 장치(1000)는 베이스 몸체(960), 슬라이드 블록(965), 커버 몸체(970), 제품 위치 확인 장치(800), 테스트 유닛(980) 및 인터럽트 유닛(990)을 포함한다.
베이스 몸체(960)는, 예를 들어, 플레이트 형상으로 형성되며, 베이스 몸체(960)의 상면에는 도 1 내지 도 5를 통해 도시 및 설명된 제품 위치 확인 장치(800)가 고정되며, 제품 위치 확인 장치(800)의 제품 안착 블럭(100)에는 초소형 카메라 모듈과 같은 제품(P)이 테스트 되기 위해 탑재된다.
슬라이드 블록(965)은 베이스 몸체(960)의 상면 중 제품 위치 확인 장치(800)로부터 이격된 위치에 배치된다. 슬라이드 블록(965)은 베이스 몸체(960)의 상면을 따라서 직선 왕복 운동되며, 슬라이드 블록(965)은 유체압 실린더(미도시)에 의하여 베이스 몸체(960)를 따라 왕복 운동된다.
커버 몸체(970)는 플레이트 형상으로 형성되며, 커버 몸체(970)는 슬라이드 블록(965)의 상면에 배치되며, 커버 몸체(970)는 슬라이드 블럭(965)의 내부에 내장된 유체압 실린더(미도시)에 의하여 베이스 몸체(960)에 대하여 가까워지는 방향 또는 멀어지는 방향으로 승강 및 하강된다.
커버 몸체(970) 중 베이스 몸체(910)에 배치된 제품(P)과 마주하는 하면에는 제품(P)의 단자와 전기적으로 접속되어 제품(P)의 단자로 테스트 신호를 제공하여 제품(P)을 전기적으로 테스트하는 테스트 유닛(980)이 형성된다.
한편, 제품 위치 확인 장치(800)에 의하여 제품 안착 블럭(100)에 배치된 제품(P)이 지정된 위치로부터 벗어난 곳에 배치될 경우 제품 위치 디텍터(300)는 제품(P)의 위치 불량을 감지하여 디텍팅 신호를 제어부(400)로 전송하고, 제어부(400)는 디텍팅 신호에 의하여 생성된 인터럽트 신호를 인터럽트 유닛(990)으로 인가하여 커버 몸체(980)의 하강을 제한하여 제품(P)의 파손, 테스트 유닛(980)의 파손, 테스트 불량을 방지한다.
인터럽트 유닛(990)은 회전축(993)을 포함하는 모터(992) 및 인터럽트 부재(994)를 포함할 수 있다.
모터(992)는 베이스 몸체(960)의 측면으로부터 돌출된 받침판(965)에 고정되며, 모터(992)에 형성된 회전축(993)은 베이스 몸체(960) 및 커버 몸체(970)의 사이에 배치된다.
모터(992)는 제어부(400)로부터 발생된 인터럽트 신호에 의하여 회전축(993)을 회전시킨다.
인터럽트 부재(994)는 회전축(993)에 결합되어 회전축(993)과 함께 회전된다.
본 발명의 일실시예에서, 인터럽트 신호가 모터(992)로 인가되지 않을 경우 인터럽트 부재(994)는 베이스 몸체(960)와 나란하게 배치되어 커버 몸체(970)의 하강을 제한하지 않지만, 제어부(400)로부터 인터럽트 신호가 모터(992)로 인가될 경우 회전축(993)이 회전되면서 인터럽트 부재(994)는 커버 몸체(970)의 하강 경로 상에 배치되고 이로 인해 커버 몸체(970)는 베이스 몸체(960)를 향해 하강 되지 못하게 된다.
앞서 설명한 바에 의하면 인터럽트 유닛(990)은 일실시예로서 인터럽트 부재(994)를 회전시키는 모터(992)를 포함하는 것이 도시 및 설명되었지만 이와 다르게 인터럽트 유닛(990)은 인터럽트 부재(994)를 구동시키기 위해 다양한 회전 유닛, 직선왕복운동을 회전운동으로 변환시키는 유닛, 에어 실린더, 유압 실린더 등 다양한 구성을 포함할 수 있다.
이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 제품이 제품 안착 블럭의 수납홈에 수납된 상태에서 제품이 수납홈에 정확하게 안착 또는 제품의 일부가 수납홈에 의하여 형성된 바닥면으로부터 이격되었는지를 테스트 이전에 디텍팅하여 제품 손상 방지, 제품 안착 블럭 손상 방지, 테스트 지연에 따른 생산성 저하 방지 및 테스트 불량을 방지할 수 있는 효과를 갖는다.
한편, 본 도면에 개시된 실시예는 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게는 자명한 것이다.
100...제품 안착 블럭 200...회로 기판
300...제품 위치 디텍터 400...제어부
500...단자 유닛 600...표시 유닛

Claims (7)

  1. 제품 안착 몸체부, 상기 제품 안착 몸체부의 상면으로부터 오목하게 형성되어 제품의 하면을 수납하는 제품 수납부 및 상기 제품 수납부에 의하여 형성된 바닥면의 테두리를 따라 상기 제품 안착 몸체부를 관통하는 복수개의 관통홀을 포함하는 제품 안착 블럭;
    상기 제품 안착 블럭의 하면에 고정되는 회로 기판;
    복수개의 상기 관통홀과 대응하는 상기 회로 기판에 각각 형성되어 상기 관통홀로 유입된 광이 인식될 경우 상기 제품의 위치 불량에 대응하는 디텍팅 신호를 출력하는 제품 위치 디텍터; 및
    상기 회로 기판에 형성되어 상기 디텍팅 신호에 의하여 제품의 위치 불량 및 위치 불량에 대응하는 제어 신호를 출력하는 제어부를 포함하는 제품 위치 확인 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제품 위치 디텍터는 제품의 위치 불량에 기인하여 상기 관통홀로 유입된 광에 의하여 상기 디텍팅 신호를 생성하는 포토 센서를 포함하는 제품 위치 확인 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 회로 기판에 형성되어 상기 제어 신호를 외부로 출력하는 단자 유닛; 및
    상기 단자 유닛에 연결되며 상기 제어 신호에 응답하여 제품의 위치 정보를 표시하는 표시 유닛을 더 포함하는 제품 위치 확인 장치.
  4. 베이스 몸체;
    상기 베이스 몸체와 마주하게 배치된 커버 몸체;
    상기 커버 몸체가 상기 베이스 몸체에 대하여 회동되도록 상기 베이스 몸체 및 상기 커버 몸체의 일측 단부에 결합된 회동 부재;
    상기 베이스 몸체의 상부에 배치되는 제품 안착 몸체부와 상기 제품 안착 몸체부의 상면으로부터 오목하게 형성되어 제품의 하면을 수납하는 제품 수납부 및 상기 제품 수납부에 의하여 형성된 바닥면의 테두리를 따라 상기 제품 안착 몸체부를 관통하는 복수개의 관통홀을 포함하는 제품 안착 블럭, 상기 제품 안착 블럭의 하면 및 상기 베이스 몸체의 사이에 배치되는 회로 기판, 복수개의 상기 관통홀과 대응하는 상기 회로 기판에 각각 형성되어 상기 관통홀로 유입된 광이 인식될 경우 상기 제품의 위치 불량에 대응하는 디텍팅 신호를 출력하는 제품 위치 디텍터 및 상기 회로 기판에 형성되어 상기 디텍팅 신호에 의하여 제품의 위치 불량 및 위치 불량에 대응하는 제어 신호를 출력하는 제어부를 포함하는 제품 위치 확인 장치;
    상기 커버 몸체에 배치되며 상기 제품 안착 몸체부에 배치된 상기 제품의 단자에 테스트 신호를 인가하는 테스트 유닛; 및
    상기 베이스 몸체에 결합되며, 상기 제어부로부터 출력된 상기 제어 신호에 의하여 상기 커버 몸체의 회동을 제한하는 인터럽트 유닛을 포함하는 제품 테스트 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 인터럽트 유닛은 상기 베이스 몸체의 측면에 결합되며 회전축이 상기 베이스 몸체 및 상기 커버 몸체의 사이로 향하게 배치되며 상기 제어 신호에 의하여 회전되는 모터 및 상기 회전축에 결합되어 상기 커버 몸체가 상기 베이스 몸체를 향해 회동되는 것을 방지하는 인터럽트 부재를 포함하는 제품 테스트 장치.
  6. 베이스 몸체;
    상기 베이스 몸체의 상면을 따라 이동되는 슬라이드 블록;
    상기 슬라이드 블록의 상부에 형성되어 승하강되는 승하강 유닛;
    상기 승하강 유닛에 결합되어 승하강되는 커버 몸체;
    상기 베이스 몸체의 상부에 배치되는 제품 안착 몸체부와 상기 제품 안착 몸체부의 상면으로부터 오목하게 형성되어 제품의 하면을 수납하는 제품 수납부 및 상기 제품 수납부에 의하여 형성된 바닥면의 테두리를 따라 상기 제품 안착 몸체부를 관통하는 복수개의 관통홀을 포함하는 제품 안착 블럭, 상기 제품 안착 블럭의 하면 및 상기 베이스 몸체의 사이에 배치되는 회로 기판, 복수개의 상기 관통홀과 대응하는 상기 회로 기판에 각각 형성되어 상기 관통홀로 유입된 광이 인식될 경우 상기 제품의 위치 불량에 대응하는 디텍팅 신호를 출력하는 제품 위치 디텍터 및 상기 회로 기판에 형성되어 상기 디텍팅 신호에 의하여 제품의 위치 불량 및 위치 불량에 대응하는 제어 신호를 출력하는 제어부를 포함하는 제품 위치 확인 장치;
    상기 커버 몸체에 배치되며 상기 제품 안착 몸체부에 배치된 상기 제품의 단자에 테스트 신호를 인가하는 테스트 유닛; 및
    상기 베이스 몸체에 결합되며, 상기 제어부로부터 출력된 상기 제어 신호에 의하여 상기 커버 몸체가 상기 베이스 몸체로 하강되는 것을 방지하는 인터럽트 유닛을 포함하는 제품 테스트 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 인터럽트 유닛은 상기 베이스 몸체에 결합되며 회전축이 상기 베이스 몸체 및 상기 커버 몸체의 사이로 향하게 배치되며 상기 제어 신호에 의하여 회전되는 모터 및 상기 회전축에 결합되어 상기 커버 몸체가 상기 베이스 몸체를 향해 하강되는 것을 방지하는 인터럽트 부재를 포함하는 제품 테스트 장치.
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Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990027220A (ko) * 1997-09-29 1999-04-15 윤종용 직렬로 연결된 복수개의 센서를 갖는 카세트 탑재부
JP4013488B2 (ja) * 2001-02-28 2007-11-28 横河電機株式会社 デバイス位置検出装置
KR101574486B1 (ko) * 2015-09-14 2015-12-11 디플러스(주) 테스트 소켓
KR101619801B1 (ko) * 2014-11-05 2016-05-13 디플러스(주) 반도체 제품 테스트 소켓
KR101652303B1 (ko) * 2015-01-05 2016-08-30 디플러스(주) 제품 테스트 소켓
KR102145182B1 (ko) 2019-10-10 2020-08-18 주식회사 세인블루텍 카메라 모듈 자동 테스트소켓

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR19990027220A (ko) * 1997-09-29 1999-04-15 윤종용 직렬로 연결된 복수개의 센서를 갖는 카세트 탑재부
JP4013488B2 (ja) * 2001-02-28 2007-11-28 横河電機株式会社 デバイス位置検出装置
KR101619801B1 (ko) * 2014-11-05 2016-05-13 디플러스(주) 반도체 제품 테스트 소켓
KR101652303B1 (ko) * 2015-01-05 2016-08-30 디플러스(주) 제품 테스트 소켓
KR101574486B1 (ko) * 2015-09-14 2015-12-11 디플러스(주) 테스트 소켓
KR102145182B1 (ko) 2019-10-10 2020-08-18 주식회사 세인블루텍 카메라 모듈 자동 테스트소켓

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