KR102209377B1 - 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법 - Google Patents

부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 부식액을 이용하여 극판(Plate)의 러그(Lug) 부위에 존재하는 불순물 제거를 효율적으로 향상시켜 Strap 간의 결합력 향상 및 저항을 억제하여 납축전지 성능 및 내구성 향상을 제공할 수 있는 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법에 관한 것이다.
본 발명을 통해, 부식액을 이용하여 극판(Plate)의 러그(Lug) 부위에 존재하는 불순물 제거를 효율적으로 향상시켜 Strap 간의 결합력 향상 및 내부 저항을 억제하여 납축전지 성능 및 내구성을 향상시키는 효과를 제공하게 된다.

Description

부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법{How to remove residues from lead-acid battery lugs using Etching solution}
본 발명은 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 부식액을 이용하여 극판(Plate)의 러그(Lug) 부위에 존재하는 불순물 제거를 효율적으로 향상시켜 Strap 간의 결합력 향상 및 저항을 억제하여 납축전지 성능 및 내구성 향상을 제공할 수 있는 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법에 관한 것이다.
현재 납축전지 활물질 메커니즘은 활물질에 물리적 강도 및 황산과의 반응 표면적 확보를 위하여 폴리에스터 계열 화이버를 첨가하고 있다.
통상적으로 납축전지 활물질에 0.8 ~ 5 데니어의 섬도를 갖고, 1 ~ 10 mm 길이의 폴리에스터 계열의 화이버를 첨가하는데 이러한 섬유(화이버)는 내산성과 내산화성이 우수한 특징이 있다.
이때, 첨가되는 유기합성 단섬유는 통상적으로 원형 단면 형태를 가지며, 길이는 2 ~ 10mm 정도이다.
유기합성 단섬유의 성분은 내산성 및 내산화성이 우수한 폴리프로필렌, 폴리에스테르, 모드아크릴 계열이 주종을 이루고 있다.
종래 기술인 대한민국특허등록번호 제10-0603908호인 "축전지용 극판 및 그 제조 방법"은 활물질 표면에 섬유 필라멘트가 박히도록 섬유강화 종이를 압력을 가해 부착하고 표면의 요철부에 활물질을 충전하여서 되는 극판 제조 방법을 개시한다.
상기한 종래 대한민국등록특허는 "축전지용 극판 및 그 제조 방법"에 관한 것으로서 축전지의 극판은 전기가 흐르는 통로 역할을 하는 기판에 전기 화학적 활성을 갖는 활물질이 도포되고, 그 활물질 표면에 섬유강화 종이를 부착 또는 압착하는 단계에서 섬유강화종이의 섬유 필라멘트가 일정 깊이로 박히도록 압력을 가해 부착하고, 섬유강화종이의 표면 요철부에 활물질이 충전되어 그 결착표면적을 증대시킴으로서, 기판으로부터 활물질이 탈리되는 것을 방지하고, 나아가, 섬유강화종이의 다공성으로 인한 극판의 초기고율방전 특성을 향상시키고 또한 섬유강화종이의 섬유필라멘트 조직의 안정된 지지력과 내산성으로 인한 활물질을 잘 보유하고 지지함으로서 축전지의 수명을 연장시키는 기술에 관한 것이다.
지금까지 납축전지용 그리드 합금으로 납(Pb)-칼슘(Ca)-주석(Sn)계 합금을 사용해 왔으나 이러한 합금구성만으로는 가혹한 사용환경(고온 및 과충전 현상)에 충분히 대응하지 못해 그리드의 부식이나 부식의 성장(growth)으로 인한 변형이 발생하여 납축전지의 수명이 짧아지고 있는 것이 문제로 지적되고 있다.
이에 따라 그리드의 내부식성, 기계적 강도 개선 및 성장 변형의 억제가 요구되고 있다.
한편, 종래의 납축전지의 활물질은 일반적으로 연분(鉛粉)과 황산수용액을 기본으로 하며, 양극과 음극 특성에 따라서 기타 첨가제를 배합한 후, 혼합하여 활물질을 만든다.
이렇게 만들어진 활물질은 기판에 바르는 작업인 도포 작업을 거쳐, 양/음극 특성에 따라 숙성공정 및 건조공정을 거친 후, 준비된 양극판과 음극판을 여러 장 교호로 중첩하며, 이때, 극판 간에 전기적 단락을 방지하기 위하여 비전도성 격리판을 설치하여, 양극판과 음극판 및 격리판이 극판군(群)을 이루도록 구성되어 있다.
극판군은 축전지 용량에 따라 여러 개가 직렬로 접속되어 전조안에 수용된다.
상기 수용된 극판군은 전기적인 성질을 가질 수 있도록 초충전인 화성공정을 거치게 되는데, 이때 양극판의 활물질은 이산화납(PbO2)이 형성되고 특성상, 산화된 납의 미립자가 무수히 결합되어 있으며 다공성이 풍부하여 입자간을 전해액이 자유로이 확산, 침투하도록 되어 있다.
또한, 음극판의 활물질은 해면상납(海綿狀鉛, Pb)으로 역시 다공성과 반응성이 풍부하여 전해액이 자유로이 확산, 침투하도록 된 것이다.
이렇게 만들어진 제품은 비로소 시장에서 사용할 수 있게 되는 것이다.
또한, 초충전 과정을 원활히 하며, 제품의 내구성을 향상시키기 위하여 극성별로 별도의 숙성 및 건조공정을 거치게 된다.
양극판의 숙성공정은 제품의 내구성을 증대시키는 중요한 공정으로서 스팀(steam)의 뜨거운 온도(약 70 ~ 100℃)와 수분(습도 99%이상)으로 활물질의 구성성분인 납(Pb)을 산화납(PbO)으로 변화시킬 뿐만 아니라, 활물질의 결정구조를 변화시킨다.
음극판은 별도 공정 없이 자연 상태에서 방치하면 숙성 및 건조를 동시에 할 수 있다.
하지만, 충분한 숙성 및 건조가 이루어지지 않으면 극판군을 형성하는 조립과정에서 극판과 극판끼리 달라붙으며, 수분이 존재하여 활물질의 내구력이 떨어져 기판사이에 박혀 있는 활물질은 조그마한 충격에도 손쉽게 떨어지게 된다.
이와 같은 과정을 거쳐 만들어진 납축전지는 충,방전의 횟수가 증가함에 따라 납과 황산의 반응에 의해서 활물질은 기판에서 더욱 쉽게 떨어지게 되며, 떨어진 활물질들은 더 이상 반응에 참가할 수 없기 때문에, 결국 납축전지의 성능을 저하시켜 납축전지의 수명을 통상 1~2년에 불과하게 만들었다.
따라서, 납 축전지 내구성과 성능을 향상시킬 수 있는 제조 공정이 요구되고 있는 실정이다.
상기와 같은 요구를 해결하기 위하여 본 출원인은 극판의 러그 부위에서 발생하는 성능 저하 원인을 발견하게 되었다.
구체적으로, 일반적으로 납축전지 극판 제조 공정에는 활물질 제조를 위해 산화납과 황산, 물을 혼합하는 공정과 기판 (Grid)에 도포하는 공정을 거친다.
이렇게 만들어진 극판의 Lug 부위와 Strap을 연결하게 되는데, 이때, 극판에 도포되어진 활물질이 연결 부위인 Lug에 잔유물이 존재하는 경우가 있으며, 잔유물을 제거하기 위해 Brush를 하게 된다.
Brush로 극판 Lug에 붙은 활물질의 잔류물을 완벽히 제거하기란 어려운 일이며, 활물질이 Lug에 잔류함에 따라 Strap과의 연결이 원활하지 않을 경우, 납축전지 내부저항이 상승하게 된다.
따라서, 상기 납축전지의 러그 부위에 존재하는 잔유물을 완벽하게 제거할 수 있는 기술이 필요하게 되었으며, 본 발명에서는 이에 대한 기술을 제안하고자 하는 것이다.
대한민국특허등록번호 제10-0483246호
따라서, 본 발명은 상기 종래의 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로,
부식액을 이용하여 극판(Plate)의 러그(Lug) 부위에 존재하는 불순물 제거를 효율적으로 향상시켜 Strap 간의 결합력 향상 및 저항을 억제하여 납축전지 성능 및 내구성 향상을 제공할 수 있는 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법을 제공하고자 한다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 일실시예에 따른 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법은,
납축전지의 극판에 활물질을 도포하는 도포 공정 이후에,
극판 러그 부위의 잔류 물질을 제거하기 위하여 만니톨(mannitol), 수산화나트륨(NaOH), 아세트산을 혼합하여 부식액을 제조하는 부식액제조단계(S100);와
상기 부식액제조단계에서 제조된 부식액을 가지고 상기 극판 러그 부위에 1초 ~ 20분 동안 침적시켜 극판 러그 부위에 존재하는 산화납 불순물을 제거하기 위한 극판러그침적단계(S200);를 포함함으로써, 본 발명의 과제를 해결하게 된다.
본 발명인 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법을 통해, 부식액을 이용하여 극판(Plate)의 러그(Lug) 부위에 존재하는 불순물 제거를 효율적으로 향상시켜 Strap 간의 결합력 향상 및 내부 저항을 억제하여 납축전지 성능 및 내구성을 향상시키는 효과를 제공하게 된다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법의 공정도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법을 이용하여 산화납 불순물을 제거한 후 제조된 개선품과 종래품를 비교한 충전수입성 시험 그래프 도면이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법을 이용하여 산화납 불순물을 제거한 후 제조된 개선품과 종래품를 비교한 내구성 시험 그래프 도면이다.
본 발명의 일실시예에 따른 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법은,
납축전지의 극판에 활물질을 도포하는 도포 공정 이후에,
극판 러그 부위의 잔류 물질을 제거하기 위하여 만니톨(mannitol), 수산화나트륨(NaOH), 아세트산을 혼합하여 부식액을 제조하는 부식액제조단계(S100);와
상기 부식액제조단계에서 제조된 부식액을 가지고 상기 극판 러그 부위에 1초 ~ 20분 동안 침적시켜 극판 러그 부위에 존재하는 산화납 불순물을 제거하기 위한 극판러그침적단계(S200);를 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 극판러그침적단계(S200) 이후에,
부식액이 러그 부위가 아닌 극판의 활물질과 반응하는 것을 방지하기 위하여 대기 중에서 1분 내지 60분 동안 자연 건조시키기 위한 자연건조단계(S300);를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 부식액은,
만니톨(mannitol) 20 ~ 40 중량부, 수산화나트륨(NaOH) 20 ~ 40 중량부, 아세트산 10 ~ 20 중량부를 혼합하여 제조하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 자연건조단계(S300)에 의해,
납축전지 러그를 건조할 경우에 만니톨(mannitol)이 0.01% ~ 0.03% 범위 내에서 납축전지 러그에 존재하는 것을 특징으로 한다.
이때, 강산성 양이온 교환수지를 이용한 GC 기법 혹은 LC 기법을 이용하여 납축전지 러그에 만니톨을 함유하고 있는지를 확인하며, 납축전지 러그에 만니톨을 함유하고 있지 않을 경우에 극판러그침적단계(S200)를 재차 수행하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법에 의해,
제조된 납축전지 러그를 포함하고 있는 납축전지의 보유 용량이 70Ah의 용량일 경우,
수명은 74 싸이클에서 86 싸이클로 16%의 수명 향상을 제공할 수 있는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 제조 방법에 의해,
부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거한 납축전지용 극판을 포함하고 있는 납축전지를 제공할 수 있게 된다.
이하, 본 발명에 의한 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법의 실시예를 통해 상세히 설명하도록 한다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법의 공정도이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명인 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법은,
납축전지의 극판에 활물질을 도포하는 도포 공정 이후에,
극판 러그 부위의 잔류 물질을 제거하기 위하여 만니톨(mannitol), 수산화나트륨(NaOH), 아세트산을 혼합하여 부식액을 제조하는 부식액제조단계(S100);와
상기 부식액제조단계에서 제조된 부식액을 가지고 상기 극판 러그 부위에 1초 ~ 20분 동안 침적시켜 극판 러그 부위에 존재하는 산화납 불순물을 제거하기 위한 극판러그침적단계(S200);를 포함하게 된다.
상기와 같은 단계를 거치게 되면, 부식액을 이용하여 극판(Plate)의 러그(Lug) 부위에 존재하는 불순물 제거를 효율적으로 향상시켜 Strap 간의 결합력 향상 및 내부 저항을 억제하여 납축전지 성능 및 내구성을 향상시키는 효과를 제공하게 된다.
상기와 같은 기능을 제공하기 위하여, 본 발명의 부식액제조단계(S100)는 납축전지의 극판에 활물질을 도포하는 도포 공정 이후에 진행하게 되는데, 구체적으로는 극판 러그 부위의 잔류 물질을 제거하기 위하여 만니톨(mannitol), 수산화나트륨(NaOH), 아세트산을 혼합하여 부식액을 제조하는 공정이다.
일반적으로 화학적 반응을 이용해서 불필요한 이물질을 제거해 내기 위해 사용되는 용액을 부식액이라 정의하고 있으며, 주로 많이 사용되는 부식액에는 Ferric Chloride(염화철), Ammonium Persulfate(황산 암모니아), Chromic Acid(크롬산) 등이 있다.
그러나, 본 발명에서는 납축전지의 전극 러그 부위에만 적용하여 러그 부위의 잔류 물질을 제거하기 위한 것이기 때문에 상기와 같은 일반적인 부식액으로 사용하는데 에는 무리가 있었다.
따라서, 본 발명에서는 부식액을 전극의 러그 부위에만 사용하기 위하여 만니톨, 수산화나트륨, 아세트산을 혼합한 부식액을 제조하여 사용하게 되는 것이다.
구체적으로, 상기 부식액은,
만니톨(mannitol) 20 ~ 40 중량부, 수산화나트륨(NaOH) 20 ~ 40 중량부, 아세트산 10 ~ 20 중량부를 혼합하여 제조하는 것을 특징으로 한다.
이때, 상기 만니톨이 20 중량부 미만일 경우에는 잔류 물질 제거를 위한 활동도를 떨어뜨려 부식 속도가 현저히 떨어져 제거 효과가 저하되는 현상이 발생하여 부식 시간이 증가하게 되므로 공정상 적용이 어렵고, 40 중량부를 초과하게 되면 잔류 물질 제거 효과를 나타낸 다른 혼합물의 함량이 상대적으로 떨어져 제거 효과가 떨어지는 원인을 제공하게 된다.
상기 수산화나트륨(NaOH)이 20 중량부 미만일 경우에는 잔류 물질 제거력이 부족하여 충분한 잔류 물질 제거가 이루어지지 않으며, 40 중량부를 초과하게 되면 러그 부위에 크랙이 발생할 수 있는 확률이 높아지게 된다.
상기 아세트산은 반응 속도 등을 조절하기 위해 완충제로 작용하여 만니톨과 수산화나트륨의 제거 속도를 조절하는 역할을 한다. 아세트산은 10 중량부 미만일 경우에는 러그 부위에 존재하는 잔류 물질이 균일하게 제거되지 않고 러그 내의 제거 속도 불균일로 얼룩이 발생하는 문제점이 있고, 20 중량부를 초과하게 되면 거품이 많이 발생하게 되어 잔류 물질이 제거되지 않을 수도 있다.
따라서, 상기한 만니톨, 수산화나트륨, 아세트산은 바람직하게는 제시된 범위 내에서 준비하여야 한다.
일반적으로 극판의 Lug 부위와 Strap을 연결할 경우에 극판에 도포되어진 활물질이 연결 부위인 Lug에 잔유물로 존재하는 경우가 있으며, 잔유물을 제거하기 위해 Brush를 하게 된다.
상기 Brush로 극판 Lug에 붙은 활물질의 잔류물을 완벽히 제거하기란 어려운 일이며, 활물질이 Lug에 잔류함에 따라 Strap과의 연결이 원활하지 않을 경우에 납축전지의 내부 저항이 상승하게 된다.
이는 극판 러그와 스트랍 간의 결합력 저하 및 내부 저항 상승을 야기시켜 결국에는 납축전지의 성능 저하 및 내구성 저하를 야기시키게 되는 것이다.
그리고, 상기 극판러그침적단계(S200)는 상기 부식액제조단계에서 제조된 부식액을 가지고 상기 극판 러그 부위에 1초 ~ 20분 동안 침적시켜 극판 러그 부위에 존재하는 산화납 불순물을 제거하기 위한 공정이다.
상기한 침적은 화학적 또는 물리적인 원인으로 발생한 미세입자가 중력(重力)이나 정전압(장(場))의 영향으로 어떤 특정한 장소에 부착하는 현상을 말하며, 예를 들어, 원자력시설에서는 방출된 방사성 물질이 지토(地土)등에 부착한 경우를 말한다.
상기한 침적 시간이 20분을 초과할 경우에는 극판 러그에 무리가 가해지게 되어 극판 러그의 내구성이 오히려 감소하는 원인이 될 수 있으므로 상기한 범위의 시간 동안 침적 공정을 실시하는 것이 바람직할 것이다.
본 발명에서 설명하고 있는 극판 러그 부위의 잔류 물질은 예를 들어, 산화납 불순물을 의미하게 된다.
한편, 부가적인 양상에 따라, 극판러그침적단계(S200) 이후에,
부식액이 러그 부위가 아닌 극판의 활물질과 반응하는 것을 방지하기 위하여 대기 중에서 1분 내지 60분 동안 자연 건조시키기 위한 자연건조단계(S300);를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
즉, 부식액이 건조되지 않는다면 극판까지 이동할 수 있기 때문에 극판의 활물질과 반응하여 활물질을 산화시키는 문제가 발생하게 된다.
따라서, 부식액을 완벽하게 제거하는 부식제거 공정을 수행하거나, 상기한 단계와 같이 대기 중에서 1분 내지 60분 동안 자연 건조시키는 것이 바람직하다.
한편, 상기와 같이, 납축전지 러그를 건조할 경우에 만니톨(mannitol)이 0.01% ~ 0.03% 범위 내에서 납축전지 러그에 존재하는 것을 특징으로 한다.
이는 강산성 양이온 교환수지를 이용한 GC 기법 혹은 LC 기법을 이용하여 납축전지 러그에 만니톨을 함유하고 있는지를 확인하였으며, 확인한 결과, 상기와 같은 범위 내의 만니톨이 존재하는 것을 알 수 있었다.
상기와 같이, 납축전지 러그에 만니톨을 함유하고 있지 않을 경우에 극판러그침적단계(S200)를 재차 수행하는 것을 특징으로 한다.
이를 통해 상기한 범위 내에서의 만니톨이 납축전지 러그에 존재하도록 하는 것이다.
위에서 상술한 바와 같이 본 발명의 효과를 파악하기 위해 활물질을 도포한 후, 브러쉬로 극판 러그에 붙은 활물질을 제거한 후, 극판과 스트랍을 결합한 납축전지와 본 발명의 부식액 조성물을 극판 러그에 1초 ~ 20분 동안 침적한 후, 극판과 스트랍을 결합한 납축전지에 대한 기초성능 및 수명시험을 하였다.
후술하는 종래품이라 함은, 출원인이 제조하는 납축전지(BX80)에 사용하는 활물질에 을 도포한 후, 브러쉬로 극판 러그에 붙은 활물질을 제거한 후, 극판과 스트랍을 결합한 납축전지를 말하며, 개선품은 본 발명의 부식액 조성물을 극판 러그에 1초 ~ 20분 동안 침적한 후, 극판과 스트랍을 결합한 납축전지를 말한다.
또한, 후속 공정인 조립 및 기판에 전기 전도도를 부여하는 화성 등의 공정을 통해 최종적인 70Ah 용량(20시간율 용량)을 갖는 종래품과 개선품을 제작하였으며, 효과를 입증하기 위하여 충전수입성과 내구성 시험(Endurance in cycles test)을 진행하였다.
1) 충전수입성 시험 (CA: Charge Acceptance test)
만충전된 시료를 상온(25±2℃)에서 5시간율 전류(70Ah 기준 17.5A)로 2.5시간 방전한 후, 0±2℃ 온도에서 12시간이상 방치한다.
이후 정전압 14.4V±0.1V으로 충전하여 충전 10분때 전류를 측정한다.
시험결과, 전지전도도 및 충전 효율이 높아 개선품이 종래품 대비 10분 정도에 전류가 32% 증대되었음을 알 수 있었다.(도 2 참조)
구분 시간 종래품 개선품





충전수입성		 1분 27.25 28.17
2분 24.21 26.98
3분 22.14 26.22
4분 21.25 25.52
5분 20.11 24.83
6분 19.35 23.94
7분 18.74 23.46
8분 17.68 22.79
9분 17.04 22.37
10분 16.43 21.78
상기 브러쉬 방식을 이용할 경우에 갈수록 높은 기초 성능을 요구하는 환경에서는 성능 제공에 문제점이 발생하게 되었다.
따라서, 본 발명에서는 이를 개선하기 위하여 만니톨(mannitol), 수산화나트륨(NaOH), 아세트산을 혼합하여 부식액을 제조하고, 제조된 부식액을 가지고 상기 극판 러그 부위에 1초 ~ 20분 동안 침적시킴으로써, 러그 부위에 잔류한 산화납 불순물을 제거하게 된 것이다.
이는 극판과 스트랍의 결합력을 향상시키고, 최종적으로 전지의 기초성능 및 수명을 향상시키는 것이다.
이에 대한 실험 자료는 후술하도록 하겠다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법을 이용하여 산화납 불순물을 제거한 후 제조된 개선품과 종래품를 비교한 내구성 시험 그래프 도면이다.
2) 내구성 시험(Endurance in cycles test)
만충전된 시료를 40±2℃의 온도에서 5In전류(In은 20시간율 전류로 70Ah기준 20시간 전류는 3.5A) 17.5A로 2시간 방전한다.
이때, 단자 전압이 10.5V이하로 떨어지면 시험은 종료된다.
이후 15.6V(전류 제한 5In(17.5A))로 5시간 충전한다.
위의 충전/방전이 1cycle로 방전 시, 단자전압이 10.5V이하로 떨어질 때까지 Cycle 시험을 진행한다.
구분 종래품 개선품
사이클 74 86
상기 표 2와 같이, 시험결과, 개선품이 종래품 대비 16% 수명이 증대된 것을 확인할 수 있었다.(도 3 참조)
즉, 도 3에서 보는 것과 같이 종래품에 대비하여 수명에서 16% 향상 효과를 보임으로써, 본 발명의 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법을 이용하여 산화납 불순물을 제거한 후 납축전지를 제조할 경우에 수명 증가에 대한 긍정적인 영향을 주었음을 알 수 있었다.
상기와 같은 제조 방법을 통해, 부식액을 이용하여 극판(Plate)의 러그(Lug) 부위에 존재하는 불순물 제거를 효율적으로 향상시켜 Strap 간의 결합력 향상 및 내부 저항을 억제하여 납축전지 성능 및 내구성을 향상시키는 효과를 제공하게 된다.
상기와 같은 내용의 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시된 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해해야만 한다.
S100 : 부식액제조단계
S200 : 극판러그침적단계

Claims (5)

  1. 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법에 있어서,
    납축전지의 극판에 활물질을 도포하는 도포 공정 이후에,
    극판 러그 부위의 잔류 물질을 제거하기 위하여 만니톨(mannitol), 수산화나트륨(NaOH), 아세트산을 혼합하여 부식액을 제조하는 부식액제조단계(S100);와
    상기 부식액제조단계에서 제조된 부식액을 가지고 상기 극판 러그 부위에 1초 ~ 20분 동안 침적시켜 극판 러그 부위에 존재하는 산화납 불순물을 제거하기 위한 극판러그침적단계(S200);를 포함하는 것을 특징으로 하는 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법.
  2. 제 1항에 있어서,
    납축전지 러그를 건조할 경우에 만니톨(mannitol)이 0.01% ~ 0.03% 범위 내에서 납축전지 러그에 존재하는 것을 특징으로 하는 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법.
  3. 제 2항에 있어서,
    강산성 양이온 교환수지를 이용한 GC 기법 혹은 LC 기법을 이용하여 납축전지 러그에 만니톨을 함유하고 있는지를 확인하며, 납축전지 러그에 만니톨을 함유하고 있지 않을 경우에 극판러그침적단계(S200);를 재차 수행하는 것을 특징으로 하는 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법에 의해,
    제조된 납축전지 러그를 포함하고 있는 납축전지의 보유 용량이 70Ah의 용량일 경우,
    수명은 74 싸이클에서 86 싸이클로 16%의 수명 향상을 제공할 수 있는 것을 특징으로 하는 부식액을 이용하여 납축전지 러그 부위의 잔류 물질을 제거하는 방법.
  5. 삭제
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100483246B1 (ko) 2000-11-09 2005-04-15 가부시키가이샤 유아사코오포레이션 음극활물질 및 그 제조방법 그리고 납축전지
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