KR102204166B1

KR102204166B1 - 게이트 구동기의 스캔 보상방법 및 스캔 보상회로

Info

Publication number: KR102204166B1
Application number: KR1020197000295A
Authority: KR
Inventors: 자오 왕
Original assignee: 티씨엘 차이나 스타 옵토일렉트로닉스 테크놀로지 컴퍼니 리미티드
Priority date: 2016-06-07
Filing date: 2016-08-16
Publication date: 2021-01-15
Also published as: CN105913818B; JP2019519004A; WO2017211008A1; US20180190226A1; US10262612B2; CN105913818A; KR20190014080A

Abstract

본 발명은 게이트 구동기의 스캔 보상방법과 스캔 보상회로를 제공한다. 상기 스캔 보상방법은 게이트 구동기가 제1 스캔 모드로부터 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 제2 스캔 모드로부터 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 게이트 구동기의 클럭 신호와 제1 보상신호에 대해 제1 연산을 실행하고, 획득된 신호와 제2 보상신호에 대해 제2 연산을 실행하는 단계를 포함하며, 그 중, 제1 스캔 모드는 순차 스캔 모드이고, 제2 스캔 모드는 비순차 스캔 모드이다.

Description

게이트 구동기의 스캔 보상방법 및 스캔 보상회로

본 발명은 액정 디스플레이 기술분야에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 게이트 구동기를 위한 스캔 보상방법 및 스캔 보상회로에 관한 것이다.

최근, 액정 디스플레이(LCD)는 부피가 작고, 중량이 가벼우며, 전력소모가 낮고, 디스플레이 품질이 높기 때문에 매우 인기가 있어 점차 종래의 음극선관(CRT) 디스플레이를 대체하고 있다. 액정 디스플레이의 응용 분야는 점차 확대되어, 이미 오디오와 비디오 제품, 노트북 컴퓨터 등 디스플레이로부터 데스크형 컴퓨터, 엔지니어링 워크스테이션용 모니터 등으로 발전하고 있다.

액정 디스플레이의 구동은 액정 디스플레이 소자의 디스플레이 효과를 구현하기 위하여, 액정 소자의 전극에 인가되는 전위 신호의 위상, 피크 값, 주파수 등의 조정을 통해 구동 전기장을 구축하는 것이다. 액정 디스플레이의 구동방식은 여러 가지가 있으며, 상용되는 구동방법은 동적 구동법이다. 액정 디스플레이 소자에 디스플레이되는 화소가 매우 많을 경우(예를 들어, 도트 매트릭스형 액정 디스플레이 소자), 방대한 하드웨어 구동 회로를 절약하기 위하여, 액정 디스플레이 소자 전극의 제작과 배열 방면에 프로세싱을 하여, 어레이형의 구조를 실시한다. 즉 수평 방향의 일 그룹의 디스플레이 화소의 후방전극을 모두 함께 연결하고 인출하여 이를 행 전극이라 칭하고; 수직 방향의 일 그룹의 디스플레이 화소의 구간 전극을 모두 함께 연결하고 인출하여, 이를 열 전극이라 칭한다. 액정 디스플레이 소자에서 매 디스플레이 화소는 모두 그것이 소재하는 열과 행의 위치에 의해 유일하게 확정되고, 구동방식상, CRT와 유사한 래스터 스캐닝 방법을 상응하게 채택한다. 액정 디스플레이의 동적 구동법은 선택 펄스를 행 전극에 주기적으로 인가하고(즉, 행에 대해 스캐닝을 수행한다), 이와 동시에 모든 디스플레이 데이터의 열 전극이 상응하는 선택적 또는 비선택적 구동 펄스를 제공함으로써, 어느 행의 모든 디스플레이 화소의 디스플레이 기능을 구현하는 것이다. 이러한 행 스캐닝은 순차적으로 진행되며, 순환 주기가 매우 짧아 액정 디스플레이 스크린에 안정적인 디스플레이를 나타낼 수 있게 된다.

그러나, 순차 스캔 모드에서, 약간의 특수한 과부하(heavy load) 상황에서는 소스 구동기의 출력이 대폭 상승함과 동시에 발열량이 증가하게 되며, 따라서 액정 디스플레이의 정상적인 작동에 위험을 초래할 수 있다. 액정 디스플레이의 이러한 특수한 과부하 상황에서의 작동 상태를 최적화하기 위하여, 신규한 게이트 구동기의 비순차 스캔 기술이 이미 제안되었다. 예를 들어 정상적인 화면에서, 게이트 구동기의 스캔방식은 순차 스캔 모드이며, 과부하가 검출되었을 때, 게이트 구동기의 스캔방식이 비순차 스캔 모드로 스위칭될 수 있다. 상이한 디스플레이 화면에 따라, 프레임을 단위로 하여 순차 스캔 모드와 비순차 스캔 모드 사이에서 스위칭이 수행될 수 있다. 비록 비순차 스캔 모드를 사용하면 약간의 특수한 상황(예를 들어 과부하)에서 소스 구동기의 출력과 온도를 현저히 저하시킬 수는 있으나, 이와 동시에 약간의 단점도 존재하는데, 그 중 하나로 상이한 행 간의 액정 커패시터(LC)의 전위 유지시간이 다름으로 인해 디스플레이 화면에 줄무늬감이 발생할 가능성이 있다. 따라서 디스플레이 품질을 개선하기 위하여, 게이트 구동기에 대해 추가적인 최적화 설계가 필요하다.

종래 기술의 부족함을 극복하기 위하여, 본 발명의 예시성 실시예는 스캔 순서의 변경으로 인해 액정 커패시터의 전위 유지시간이 변경되는 행에 대해 보상을 실시함으로써 상이한 전위 유지시간이 디스플레이에 미치는 영향을 경감시킬 수 있는 게이트 구동기의 스캔 보상방법을 제공하고자 한다.

본 발명의 예시성 실시예 방면에 따르면, 게이트 구동기를 위한 스캔 보상방법을 제공하며, 그 중 상기 스캔 보상방법은 게이트 구동기가 제1 스캔 모드로부터 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 제2 스캔 모드로부터 제1 스캔 모드로 스위칭될 때, 게이트 구동기의 클럭 신호와 제1 보상 신호에 대해 제1 연산을 실행하고, 획득된 신호와 제2 보상 신호에 대해 제2 연산을 실행하는 단계를 포함하며, 그 중 제1 스캔 모드는 순차 스캔 모드이고, 제2 스캔 모드는 비순차 스캔 모드이다.

선택적으로, 제1 연산은 OR 연산이고, 제2 연산은 AND 연산이다.

선택적으로, 제1 보상 신호는 게이트 구동기의 모드 스위칭으로 인한 상응하는 행의 전위 유지시간의 증가 정도를 저하시키기 위한 것이고, 제2 보상 신호는 게이트 구동기의 모드 스위칭으로 인한 상응하는 행의 전위 유지 시간의 감소 정도를 저하시키기 위한 것이다.

선택적으로, 게이트 구동기가 제1 스캔 모드로부터 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 제2 스캔 모드로부터 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 액정 디스플레이의 다수의 행 중의 m번째 행이 n번째 순서로 스캔될 때, m이 n보다 작으면, 제1 보상 신호의 하강 에지를 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시키고, m이 n보다 크면, 즉 제2 보상 신호의 하강 에지를 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시키며, m이 n과 같으면, 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기에서 제1 연산 또는 제2 연산을 실행하지 않으며, 그 중, n과 m은 양의 정수이다.

본 발명의 예시성 실시예의 다른 방면에 따르면, 게이트 구동기를 위한 스캔 보상 회로를 제공하며, 그 중 상기 스캔 보상회로는 게이트 구동기가 제1 스캔 모드로부터 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 제2 스캔 모드로부터 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 게이트 구동기의 클럭신호와 제1 보상신호에 대해 제1 연산을 실행하는 제1 보상회로; 게이트 구동기가 제1 스캔 모드로부터 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 제2 스캔 모드로부터 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 제1 연산의 출력신호와 제2 보상신호에 대해 제2 연산을 실행하는 제2 보상회로를 포함하며, 그 중, 제1 스캔 모드는 순차 스캔 모드이고, 제2 스캔 모드는 비순차 스캔 모드이다.

본 발명의 예시성 실시예가 제공하는 게이트 구동기의 스캔 보상방법과 스캔 보상회로는, 스캔 순서의 변경으로 인한 액정 커패시터의 전위 유지시간의 변경에 대해 보상을 실시함으로써 상이한 전위 유지시간이 디스플레이 화면에 미치는 영향을 약화시킬 수 있다.

예시된 실시예의 또 다른 방면은 아래의 묘사에서 부분적으로 기술할 것이며, 또한 부분적으로 상기 묘사를 통해 자명해지거나 또는 본 공개의 실천을 통해 알 수 있을 것이다.

이하 첨부도면을 결합하여 실시되는 실시예에 대한 묘사를 통해, 본 발명의 상기 및/또는 기타 목적과 장점이 더욱 명확해질 것이다. 그 중
도 1a는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 제1 스캔 모드에서의 행이 스캔되는 순서를 나타낸 예시도이다.
도 1b는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 제2 스캔 모드에서의 행이 스캔되는 순서를 나타낸 예시도이다.
도 2는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 스캔 보상방법을 이용하여 게이트 구동기가 제1 스캔 모드로부터 제2 스캔 모드로 스위칭 시 행 스캐닝을 수행하는 것을 나타낸 설명도이다.
도 3a와 도 3b는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 스캔 보상방법을 이용하여 행 스캐닝을 수행하는 더욱 보편적인 상황을 나타낸 설명도이다.
도 4는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 스캔 보상방법의 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 스캔 보상회로의 논리 블록도이다.

현재 예시성 실시예를 상세히 설명할 것이며, 이러한 예시성 실시예는 첨부도면에 도시되어 있다. 그 중, 동일한 참고부호는 시종 동일한 소자를 나타낸다. 이 점에 있어, 본 예시성 실시예는 상이한 형식을 가질 수 있으며, 또한 여기서 설명하는 묘사에 한정되는 것으로 해석해서는 안 된다. 따라서 이하는 단지 발명 구상의 여러 방면을 해석하기 위해 첨부도면을 참조하여 예시성 실시예를 설명하는 것일 뿐이다. 예를 들어 여기에서 사용되는 용어인 "및/또는"은 하나 또는 다수의 관련된 열거 항목의 임의의 조합 및 모든 조합을 포함한다. 일련의 원소 이후에 "......중의 적어도 하나"라는 표현이 나오는 경우, 상기 표현은 전체 원소를 수식하는 것이지, 상기 열의 단일한 원소를 수식하는 것이 아니다.

여기서 사용되는 용어는 본 발명의 구상을 제한하려는 의도가 아니라 단지 예시성 실시예를 묘사하기 위한 목적이다. 예를 들어 여기에 사용되는 단수 형식은 상하 문장에서 별도로 명확하게 지적하지 않는 한, 복수의 형식을 포함하는 의도일 수도 있다. 여기에서 "포함한다", "구비한다" 등의 용어를 사용 시, 진술하는 특징, 완전체, 단계, 조작, 소자, 어셈블리, 또는 이들의 조합이 존재하는 것을 설명하나, 단 하나 또는 다수의 기타 특징, 완전체, 단계, 조작, 소자, 어셈블리, 또는 이들의 조합이 존재하거나 또는 추가되는 것을 배제하지 않음을 이해할 수 있을 것이다.

비록 여기에서 각종 소자, 어셈블리, 영역 층 및/또는 부분을 묘사하기 위해 제1, 제2, 제3 등 용어를 사용하였으나, 이러한 소자, 어셈블리, 영역, 층 및/또는 부분은 이러한 용어에 의해 한정되어서는 안 된다. 이러한 용어는 단지 하나의 소자, 어셈블리, 영역, 층 또는 부분을 다른 영역, 층 또는 부분과 구분하기 위한 것이며, 따라서 본 공개된 주제의 가르침을 벗어나지 않는 상황에서, 아래에 토론하는 제1 소자, 어셈블리, 영역, 층 또는 부분은 제2 소자, 어셈블리, 영역, 층 또는 부분으로 칭할 수도 있다.

별도로 정의하지 않는 한, 여기에 사용되는 모든 용어(기술용어와 과학용어 포함)는 본 공개의 주제가 속하는 분야의 보통 기술자가 통상적으로 이해하는 의미와 동일한 의미를 갖는다. 또한, 여기에서 명확히 정의하지 않는 한, 용어(예를 들어 범용 사전에 정의된 용어)는 관련 분야 환경에서의 이들의 의미와 일치하는 의미로 해석되어야 하며, 이상화되거나 또는 공식적인 의미를 넘어서는 것으로 해석되어서는 안 된다.

또한, 약간의 선택적인 구현에서, 도시된 기능/동작은 도면에 도시된 순서대로 발생하지 않을 수 있음에 유의한다. 예를 들어 관련된 기능/작용에 따라, 잇달아 도시되는 두 도면은 실제로는 대체로 동시에 실행되거나 때로는 반대 순서로 실행될 수도 있다.

도시된 약간의 예시성 실시예의 도면을 참조하여 각종 예시성 실시예를 더욱 충분히 설명할 것이며, 간략화를 위해, 도면에서 층의 두께 또는 영역은 과장되게 도시하였다.

도 1a는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 제1 스캔 모드에서의 행이 스캔되는 순서를 나타낸 예시도이다.

도 1을 참조하면, 4개의 행(예를 들어, L1, L2, L3 및 L4)에 대해 스캐닝을 수행하는 것을 예로 들었다. 여기서, "행"이라는 용어는 화소 행을 나타낸다. 화소 행에 대해 스캐닝을 수행하는 것은 상기 화소 행을 작동시키는(turn on) 것으로 칭할 수도 있다. 제1 스캔 모드("순차 스캔 모드"라고도 칭함)에서, 각 행에 대한 스캐닝은 순차주사이다(즉, 위에서 아래로). 예를 들어, 게이트 구동기가 출력하는 게이트 신호(CKV)에 따라, 먼저 L1을 스캔한 다음, L2를 스캔하고, 이어서 L3를 스캔하고, 마지막으로 L4를 스캔한다. 게이트 신호(CKV)는 주기성 신호이며, 매 주기는 한 행의 스캐닝에 대응된다. 그러나, 약간의 특수 상황(예를 들어 과부화 화면) 시, 순차 스캔 모드 하에서 행 스캐닝을 수행할 경우 소스 구동기의 출력이 현저하게 상승하고, 발열량이 증가할 수 있어, 액정 디스플레이의 정상적인 작동에 불리하다. 이하 도 1b를 참조하여 제2 스캔 모드("비순차 스캔 모드"라고도 칭함) 하에서 행 스캐닝을 수행하는 예시를 설명한다.

도 1b는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 제2 스캔 모드에서의 행이 스캔되는 순서를 나타낸 예시도이다.

도 1b를 참조하면, 여전히 4개의 행(예를 들어, L1, L2, L3 및 L4)에 대해 스캐닝을 수행하는 것을 예로 들었다. 과부하 화면 상태에서 액정 디스플레이의 작동 상태를 최적화하기 위하여, 과부하가 검출되었을 때, 게이트 구동기는 제1 스캔 모드(즉, 순차 스캔 모드)로부터 제2 스캔 모드(즉, 비순차 스캔 모드)로 스위칭된다. 제2 스캔 모드 하에서, 각 행에 대한 스캐닝은 위에서 아래로 실시되는 것이 아니며, 예를 들어, 게이트 구동기가 출력한 게이트 신호(CKV)에 따라, 먼저 L1을 스캔한 다음, L3를 스캔하고, 이어서 L2를 스캔하며, 마지막으로 L4를 스캔한다. 따라서, 도 1a와 도 1b에 도시된 바와 같이, 디스플레이 화면에 따라, 게이트 신호에 따른 스캔 순서는 프레임을 단위로 하여 제1 스캔 모드와 제2 스캔 모드 사이에서 스위칭될 수 있다.

비록 제2 스캔 모드를 사용하여 행 스캐닝을 수행할 경우 소스 구동기의 전력 소모와 온도를 현저히 저하시킬 수 있으나, 약간의 부정적인 영향도 동시에 초래할 수 있다. 예를 들어 순차 스캔 모드에서, 매 행에 대하여 설명하면, 상기 행이 매 프레임 중에서 작동되는 시간점이 모두 동일하기 때문에, 프레임을 스위칭 시, 충전이 완료된 후에는, 매 행의 액정 커패시터의 전위 유지시간(도 1에 도시된 바와 같이, 각 행의 저전위 단계는 즉 액정 커패시터의 전위 유지 단계이다)이 모두 동일하다. 그러나, 순차 스캔 모드로부터 비순차 스캔 모드로 스위칭하여 각 행을 스캔 시, 약간의 행에는 작동되는 시간점에 변화가 발생할 가능성이 있으며, 따라서 이러한 행의 전위 유지시간이 다름으로 인해 디스플레이 화면에 줄무니감이 발생할 수 있다. 따라서, 게이트 구동기에 대해 추가적인 최적화가 필요하다.

도 2는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 스캔 보상방법을 사용하여 게이트 구동기가 제1 스캔 모드로부터 제2 스캔 모드로 스위칭 시 행 스캐닝을 수행하는 것을 나타내는 설명도이다.

도 2를 참조하면, 게이트 구동기의 클럭신호(CKV)와 제1 보상신호 및 제2 보상신호에 대해 제1 연산과 제2 연산을 실행한 후 발생되는 신호는 CKV_C이다. 연산 후의 신호 CKV_C는 게이트 구동기의 클럭 신호로 사용된다. 상기한 바와 같이, 게이트 구동기가 제1 스캔 모드로부터 제2 스캔 모드로 스위칭 시, 행의 작동 시간점에 변화가 발생하기 때문에, 상기 행의 상응하는 전위 유지시간 역시 변화가 발생한다. 예를 들어 L1과 L4의 전위 유지시간은 변화가 발생하지 않으나, L2의 작동 시간은 지연되고, L3의 작동 시간은 앞당겨진다. L2의 작동시간이 지연되므로, 그 전위 유지시간은 증가하고, L3의 작동 시간이 앞당겨지므로, 그 전위 유지시간은 감소한다. 이 점에서, 작동 시간이 지연된 후의 L2에 대하여, 대응되는 게이트 구동기의 클럭신호(CKV)의 주기의 파형의 상승 에지를 제1 보상신호(S1)의 하강 에지와 정렬시키고, 이에 따라 제1 연산(즉, OR 연산)을 실행함으로써, 연산 후의 신호 CKV_C의 상응하는 주기의 파형을 조절한다. 도 2에 도시된 바와 같이, 행 스캔 신호가 클럭신호(CKV_C)의 상승 에지에 의해 트리거되기 때문에, L2는 제1 보상신호(S1)의 작용으로 인해 앞당겨 작동되며, 이에 따라 제2 스캔 모드로 스위칭됨으로 인한 L2의 전위 유지시간의 증가 정도가 상응하게 저하된다. 즉, L2의 전위 유지시간이 증가하는 값이 감소하며, 감소되는 값은 ΔT2로 표시한다. 바꿔 말하면, 제1 보상신호(S1)는 게이트 구동기의 모드 스위칭으로 인한 상응하는 행의 전위 유지시간의 증가 정도를 저하시킬 수 있다. 한편, 작동 시간이 앞당겨진 L3에 대하여, 대응되는 게이트 구동기의 클럭신호(CKV)의 주기의 파형의 상승 에지를 제2 보상신호(S2)의 하강 에지와 정렬시키고, 이에 따라 제2 연산(즉, AND 연산)을 실행함으로써, 연산 후의 신호 CKV_C의 상응하는 주기의 파형을 조절한다. 도 2에 도시된 바와 같이, 행 스캔 신호가 클럭신호(CKV_C)의 상승 에지에 의해 트리거되기 때문에, L3는 제2 보상신호(S2)의 작용으로 인해 지연 작동되며, 이에 따라 제2 스캔 모드로 스위칭됨으로 인한 L3의 전위 유지시간의 감소 정도가 상응하게 저하된다. 즉, L3의 전위 유지시간이 감소하는 값이 증가하며, 증가되는 값은 ΔT1로 표시한다. 바꿔 말하면, 제2 보상신호(S2)는 게이트 구동기의 모드 스위칭으로 인한 상응하는 행의 전위 유지시간의 감소 정도를 저하시킬 수 있다. 본 발명의 예시성 실시예에 따르면, ΔT1과 ΔT2의 값은 조절 가능하며, 실제 디스플레이 화면에 따라 ΔT1과 ΔT2를 조절할 수 있다.

유사하게, 게이트 구동기가 제2 스캔 모드로부터 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 각 행의 상응하는 전위 유지시간 역시 변화가 발생한다. 예를 들어, 본 예시에서, 순차 스캐닝을 회복하기 위하여, L2의 작동 시간은 앞당겨질 필요가 있고, L3의 작동 시간은 지연될 필요가 있다. 따라서, L2의 전위 유지시간은 감소되어야 하고, L3의 전위 유지시간은 증가되어야 한다. 이때, 작동 시간이 앞당겨지는 L2에 대하여, 대응되는 게이트 구동기의 클럭신호(CKV)의 주기의 파형의 상승 에지를 제2 보상신호(S2)의 하강 에지와 정렬시키고, 이에 따라 제2 연산(즉 AND 연산)을 실행함으로써, 연산 후의 신호 CKV_C의 상응하는 주기의 파형을 조절한다. 따라서 L2가 제2 보상신호(S2)의 작용으로 인해 지연 작동되기 때문에, 제1 스캔 모드로 스위칭됨으로 인한 L2의 전위 유지시간의 감소 정도가 상응하게 저하된다. 한편, 작동시간이 지연된 L3에 대하여, 상응하는 게이트 구동기의 클럭신호(CKV)의 주기의 파형의 상승 에지를 제1 보상신호(S1)의 하강 에지와 정렬시키고, 이에 따라 제1 연산(즉, OR 연산)을 실행함으로써, 연산 후의 신호 CKV_C의 상응하는 주기의 파형을 조절한다. 따라서 L3가 제1 보상신호(S1)의 작용으로 인해 앞당겨 작동됨으로써, 제1 스캔 모드로 스위칭됨으로 인한 L3의 전위 유지시간의 증가 정도가 상응하게 저하된다.

상기 예시성 실시예에 따르면, 스캔 모드의 스위칭으로 인한 L2와 L3의 전위 유지시간의 변경 정도를 조절함으로써, 그로 인한 디스플레이 화면의 줄무늬감 등 부정적인 영향을 현저하게 저하시킬 수 있다.

도 3a와 도 3b는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 스캔 보상방법을 사용하여 행 스캐닝을 실시하는 더욱 보편적인 상황을 나타낸 설명도이다.

도 3a를 참조하면, 게이트 구동기가 제1 스캔 모드와 제2 스캔 모드 사이에서 스위칭 시, 본 발명의 예시성 실시예에 따른 스캔 보상방법을 사용하여 액정 디스플레이의 다수의 행 중의 일부 행의 스캔 순서를 변경시킬 수 있다. 이 점에서, m번째 행이 n번째 순서로 스캔될 때(여기서, m과 n은 양의 정수이다), m이 n보다 작으면, 즉 제1 보상신호(S1)의 하강 에지를 구동기의 클럭신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시킨다. 이와 같이, 제1 연산과 제2 연산을 실행한 결과는 m번째 행의 전위 유지시간의 증가 정도를 저하시킨다. 또한, m이 n보다 크면, 제2 보상신호의 하강 에지를 구동기의 클럭신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시킨다. 이와 같이, 제1 연산과 제2 연산을 실행한 결과는 m번째 행의 전위 유지시간의 감소 정도를 저하시킨다. 제1 보상신호가 인가된 상승 에지의 시간과 제2 보상신호가 인가된 상승 에지의 시간은 실제의 디스플레이 화면에 따라 조절할 수 있다. 따라서, 스캔 모드의 스위칭으로 인한 화소 행의 전위 유지시간 변경 정도를 조절함으로써, 디스플레이 화면에 미치는 부정적인 영향(예를 들어 줄무늬감 등)을 현저하게 저하시킬 수 있다.

도 4는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 스캔 보상방법의 흐름도이다.

도 4를 참조하면, 게이트 구동기의 스캔 모드에 스위칭이 발생 시, 만약 액정 디스플레이의 다수의 행 중의 m번째 행이 n번째 순서로 스캔된다면, 즉 단계 S101에서, m이 n과 같은지 여부를 판단한다. 여기서, m과 n은 양의 정수이다. m이 n과 같은 경우, 본 방법을 실행하지 않는다(즉, 방법은 종료로 전환된다). m과 n이 같으면 상응하는 행의 스캔 순서에 변화가 발생하지 않았음을 설명하는 것이므로, 그 전위 유지시간은 변화가 발생하지 않아 디스플레이 화면에 영향을 미치지 않기 때문이다. m이 n과 같지 않으면, 단계 S102에서, 게이트 구동기의 클럭신호와 제1 보상신호(S1)에 대해 제1 연산(즉 OR 연산)을 실행한다. 이후, 단계 S103에서, 단계 S102에서 획득된 연산 후의 신호와 제2 보상신호(S2)에 대해 제2 연산(즉 AND 연산)을 실행한다. 단계 S104에서, m이 n보다 작은지 여부를 판단한다. m이 n보다 작으면, 단계 S105에서 제1 보상신호(S1)의 하강 에지를 게이트 구동기의 클럭신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시킨다. 단계 S105에서, 제1 보상신호(S1)의 작용에 의해, 게이트 구동기의 클럭신호의 n번째 주기에서, 연산 후의 신호 CKV_C의 트리거 시간이 앞당겨지며, 따라서 대응되는 행이 앞당겨 작동된다. 제1 보상신호(S1)의 상승 에지에 인가된 시간 조절을 통해 앞당겨진 시간량을 조절할 수 있으며, 이에 따라 대응되는 행이 앞당겨 작동되는 정도를 제어할 수 있다. m이 n보다 크면, 단계 S106에서 제2 보상신호(S2)의 하강 에지를 게이트 구동기의 클럭신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시킨다. 단계 S106에서, 제2 보상신호(S2)의 작용에 의해, 게이트 구동기의 클럭신호의 n번째 주기에서, 연산 후의 신호 CKV_C의 트리거 시간이 지연되며, 따라서 대응되는 행이 지연 작동된다. 제2 보상신호(S2)의 상승 에지에 인가된 시간 조절을 통해 지연된 시간량을 조절할 수 있으며, 이에 따라 대응되는 행이 지연 작동되는 정도를 제어할 수 있다.

도 5는 본 발명의 예시성 실시예에 따른 스캔 보상회로(20)의 논리도이다.

도 5를 참조하면, 스캔 보상회로(20)는 제1 보상회로(100)와 제2 보상회로(200)를 포함한다. 제1 보상회로(100)는 게이트 구동기의 클럭신호(CKV)와 제1 보상신호(S1)를 제1 보상회로(100)의 입력단에 입력할 수 있는 OR 게이트일 수 있으며, OR 게이트의 출력단은 OR 연산의 결과 신호를 출력할 수 있고, 상기 결과 신호는 입력으로써 제2 보상회로(200)에 입력될 수 있다. 제2 보상회로(200)는 AND 게이트일 수 있다. 제2 보상회로(200)의 입력단은 제1 보상회로(100)의 출력신호와 제2 보상신호(S2)를 수신하여, AND 연산 후의 신호 CKV_C를 클럭신호로써 게이트 구동기로 출력할 수 있다. 비록 본 예시에 도시된 제1 보상회로(100)는 OR 게이트이고, 제2 보상회로(200)는 AND 게이트이나, 예시의 실시예는 이에 한정되지 않고, 제1 보상회로(100)와 제2 보상회로(200)는 유사한 기능을 갖는 기타 논리회로일 수 있다.

도 5에 도시된 바와 같이, 제1 보상회로(100)가 제1 보상신호(S1)와 구동기의 클럭신호(CKV)에 대해 OR 연산을 실행한 후, 제2 보상회로(200)가 제1 보상회로(100)의 출력신호와 제2 보상신호(S2)에 대해 AND 연산을 실행하며, 연산 후의 신호(CKV_C)를 클럭신호로써 게이트 구동기로 출력한다.

상기한 바와 같이, 본 발명의 예시성 실시예에 따른 게이트 구동기의 스캔 보상방법과 스캔 보상회로는 스캔 순서의 변경으로 인한 액정 커패시터의 전위 유지시간의 변경을 보상함으로써, 상이한 전위 유지시간이 디스플레이 화면에 미치는 영향을 약화시키고, 액정 디스플레이의 안정성을 향상시킬 수 있다.

예시성 실시예에 따르면, 도 4에 도시된 블록으로 표시된 어셈블리, 소자 또는 유닛 중의 적어도 하나는 상기 기능을 부분적으로 실행하는 각종 수량의 하드웨어, 소프트웨어 및/또는 펌웨어 구조로 실시될 수 있다. 예를 들어, 이러한 어셈블리, 소자 또는 유닛 중의 적어도 하나는 하나 또는 그 이상의 마이크로프로세서 또는 기타 제어장치의 제어를 통해 각자의 기능을 실행하는 직접 회로 구조(예를 들어 메모리, 처리장치, 논리유닛, 룩업 테이블 등)를 사용할 수 있다. 이밖에, 이러한 어셈블리, 소자 또는 유닛 중의 적어도 하나는 특정 논리기능을 실행하기 위한 하나 또는 그 이상의 실행 가능한 명령을 포함하는 모듈, 프로그램, 또는 일부 코드를 통해 구체적으로 실시될 수 있으며, 또한 하나 또는 그 이상의 마이크로프로세서 또는 기타 제어장치를 통해 실행될 수 있다.

이밖에, 이러한 어셈블리, 소자 또는 유닛 중의 적어도 하나는 각자의 기능을 실행하는 중앙처리유닛(CPU)의 프로세서, 마이크로프로세스 등을 더 포함할 수 있다. 이러한 어셈블리, 소자 또는 유닛 중의 2개 또는 그 이상은 하나의 단독의 어셈블리, 소자 또는 유닛으로 병합될 수 있으며, 상기 하나의 독립적인 어셈블리, 소자 또는 유닛은 병합된 2개 또는 그 이상의 어셈블리, 소자 또는 유닛의 모든 조작 또는 기능을 실행한다. 또한, 이러한 어셈블리, 소자 또는 유닛 중의 적어도 하나의 적어도 일부 기능은 이러한 어셈블리, 소자 또는 유닛 중의 다른 하나에 의해 실행될 수 있다. 또한, 비록 이상의 블록도에는 버스(BUS)가 도시되지 않았으나, 어셈블리, 소자 또는 유닛 사이의 통신은 버스를 통해 실행될 수 있다. 이상의 예시성 실시예의 기능 방면은 하나 또는 다수의 프로세서에서 실행되는 알고리즘 중에서 실시될 수 있다. 또한, 블록 또는 처리단계에서 나타낸 어셈블리, 소자 또는 유닛은 임의의 수량의 관련 분야의 기술을 이용하여 전자학적 배치, 신호 처리 및 /또는 제어, 데이터 처리 등을 수행할 수 있다.

방법 단계는 컴퓨터 프로그램으로 입력 데이터의 조작과 출력을 통해 기능을 실행하는 하나 또는 그 이상의 프로그래머블 프로세서에 의해 실행될 수 있다. 방법 단계는 전용 논리 회로(예를 들어, FPGA(현장 프로그래머블 게이트 어레이) 또는 ASIC(응용 주문형 집적회로))에 의해 실행될 수도 있으며, 또한 장치는 전용 논리회로에 의해 구현될 수 있다.

각종 실시예에서, 컴퓨터 가독 매체는 명령을 포함할 수 있으며, 상기 명령이 실행될 때, 장치가 상기 방법 단계 중의 적어도 일부분을 실행한다. 약간의 실시예에서, 컴퓨터 가독 매체는 자기매체, 광매체, 기타 매체 또는 이들의 조합(예를 들어 CD-ROM, 하드디스크 구동기, 리드온리 메모리, 플래시 구동기 등)에 포함될 수 있다. 이와 같은 실시예에서, 컴퓨터 가독 매체는 터치 가능하며 비임시적으로 구현될 수 있는 제조품일 수 있다.

비록 이미 예시성 실시예를 참조하여 본 발명의 주제의 원리를 설명하였으나, 본 분야의 기술자는 공개된 이러한 구상의 정신과 범위를 벗어나지 않는 경우, 여기에 묘사된 예시성 실시예에 대해 각종 변경과 수정을 가할 수 있음을 알 수 있을 것이다. 따라서, 이상의 실시예는 제한적인 것이 아니라, 예시적인 것으로 이해하여야 한다. 따라서, 공개된 구상의 범위는 청구항 및 등가물의 가장 광범위한 허용 가능한 해석에 의해 결정되며, 전술한 설명에 국한되거나 또는 제한되어서는 안 된다. 따라서, 청구항은 실시예의 범위 내에 포함되는 모든 수정과 변경을 포괄함을 이해하여야 한다.

Claims

게이트 구동기에 적용되는 스캔 보상방법에 있어서,
상기 스캔 보상방법은,
게이트 구동기가 제1 스캔 모드로부터 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 제2 스캔 모드로부터 제1 스캔 모드로 스위칭될 때, 상기 게이트 구동기의 클럭 신호와 제1 보상 신호에 대해 제1 연산을 실행하고, 획득된 신호와 제2 보상 신호에 대해 제2 연산을 실행하는 단계를 포함하며,
그 중, 상기 제1 스캔 모드는 순차 스캔 모드이고, 상기 제2 스캔 모드는 비순차 스캔 모드이고,
상기 제1 연산은 OR 연산이고, 상기 제2 연산은 AND 연산이고,
상기 게이트 구동기가 상기 제1 스캔 모드로부터 상기 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 상기 제2 스캔 모드로부터 상기 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 액정 디스플레이의 다수의 행 중의 m번째 행이 n번째 순서로 스캔될 때, m이 n과 같으면, 클럭 신호의 n번째 주기의 상승 에지가 불변하고; m과 n이 같지 않으면, 상기 제1 보상 신호가 낮은 전위에서 높은 전위로 변화되거나, 상기 제2 보상 신호가 높은 전위에서 낮은 전위로 변화되고, 클럭 신호의 n번째 주기의 상승 에지가 화소 행을 앞당겨 작동시키거나 지연 작동시키고, 그 중, n과 m은 양의 정수인,
스캔 보상방법.
제1항에 있어서,
상기 제1 보상 신호는 상기 게이트 구동기의 모드 스위칭으로 인한 상응하는 행의 전위 유지시간의 증가 정도를 저하시키기 위한 것이고, 상기 제2 보상 신호는 상기 게이트 구동기의 모드 스위칭으로 인한 상응하는 행의 전위 유지 시간의 감소 정도를 저하시키기 위한 것인, 스캔 보상방법.
제1항에 있어서,
상기 게이트 구동기가 상기 제1 스캔 모드로부터 상기 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 상기 제2 스캔 모드로부터 상기 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 액정 디스플레이의 다수의 행 중의 m번째 행이 n번째 순서로 스캔될 때, m이 n보다 작으면, 상기 제1 보상 신호의 하강 에지를 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시켜, 제1 연산을 실행하고, m이 n보다 크면, 즉 상기 제2 보상 신호의 하강 에지를 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시켜, 제2 연산을 실행하며, m이 n과 같으면, 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기에서 제1 연산 및 제2 연산을 실행하지 않는, 스캔 보상방법.
제2항에 있어서,
상기 게이트 구동기가 상기 제1 스캔 모드로부터 상기 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 상기 제2 스캔 모드로부터 상기 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 액정 디스플레이의 다수의 행 중의 m번째 행이 n번째 순서로 스캔될 때, m이 n보다 작으면, 상기 제1 보상 신호의 하강 에지를 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시켜, 제1 연산을 실행하고, m이 n보다 크면, 즉 상기 제2 보상 신호의 하강 에지를 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시켜, 제2 연산을 실행하며, m이 n과 같으면, 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기에서 제1 연산 및 제2 연산을 실행하지 않는, 스캔 보상방법.
게이트 구동기에 적용되는 스캔 보상회로에 있어서,
상기 스캔 보상회로는,
상기 게이트 구동기가 제1 스캔 모드로부터 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 제2 스캔 모드로부터 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 게이트 구동기의 클럭신호와 제1 보상신호에 대해 제1 연산을 실행하는 제1 보상회로;
상기 게이트 구동기가 제1 스캔 모드로부터 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 제2 스캔 모드로부터 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 제1 연산의 출력신호와 제2 보상신호에 대해 제2 연산을 실행하는 제2 보상회로를 포함하며,
그 중, 상기 제1 스캔 모드는 순차 스캔 모드이고, 상기 제2 스캔 모드는 비순차 스캔 모드이고,
상기 제1 연산은 OR 연산이고, 상기 제2 연산은 AND 연산이고,
상기 게이트 구동기가 상기 제1 스캔 모드로부터 상기 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 상기 제2 스캔 모드로부터 상기 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 액정 디스플레이의 다수의 행 중의 m번째 행이 n번째 순서로 스캔될 때, m이 n과 같으면, 클럭 신호의 n번째 주기의 상승 에지가 불변하고; m과 n이 같지 않으면, 상기 제1 보상 신호가 낮은 전위에서 높은 전위로 변화되거나, 상기 제2 보상 신호가 높은 전위에서 낮은 전위로 변화되고, 클럭 신호의 n번째 주기의 상승 에지가 화소 행을 앞당겨 작동시키거나 지연 작동시키고, 그 중, n과 m은 양의 정수인,
스캔 보상회로.
제5항에 있어서,
상기 제1 보상 신호는 상기 게이트 구동기의 모드 스위칭으로 인한 상응하는 행의 전위 유지시간의 증가 정도를 저하시키기 위한 것이고, 상기 제2 보상 신호는 상기 게이트 구동기의 모드 스위칭으로 인한 상응하는 행의 전위 유지 시간의 감소 정도를 저하시키기 위한 것인, 스캔 보상회로.
제5항에 있어서,
상기 게이트 구동기가 상기 제1 스캔 모드로부터 상기 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 상기 제2 스캔 모드로부터 상기 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 액정 디스플레이의 다수의 행 중의 m번째 행이 n번째 순서로 스캔될 때, m이 n보다 작으면, 상기 제1 보상 신호의 하강 에지를 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시켜, 제1 연산을 실행하고, m이 n보다 크면, 즉 상기 제2 보상 신호의 하강 에지를 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시켜, 제2 연산을 실행하며, m이 n과 같으면, 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기에서 제1 연산 및 제2 연산을 실행하지 않는, 스캔 보상회로.
제6항에 있어서,
상기 게이트 구동기가 상기 제1 스캔 모드로부터 상기 제2 스캔 모드로 스위칭되거나 또는 상기 제2 스캔 모드로부터 상기 제1 스캔 모드로 스위칭 시, 액정 디스플레이의 다수의 행 중의 m번째 행이 n번째 순서로 스캔될 때, m이 n보다 작으면, 상기 제1 보상 신호의 하강 에지를 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시켜, 제1 연산을 실행하고, m이 n보다 크면, 즉 상기 제2 보상 신호의 하강 에지를 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기의 파형의 상승 에지와 정렬시켜, 제2 연산을 실행하며, m이 n과 같으면, 상기 게이트 구동기의 클럭 신호의 n번째 주기에서 제1 연산 및 제2 연산을 실행하지 않는, 스캔 보상회로.
삭제
삭제