KR102139248B1 - 수평 수직선 검사장치 및 시스템 - Google Patents

수평 수직선 검사장치 및 시스템 Download PDF

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Abstract

건축물 시공 시, 조사장치에서 조사된 수평라인레이저 또는 수직라인레이저를 수광하여 오차를 검사하는 수평 수직선 검사장치를 개시한다. 수평 수직선 검사장치는 수평라인레이저 또는 수직라인레이저 중 적어도 어느 하나와 비교가 가능한 기준선부를 구비하고 수평라인레이저 또는 수직라인레이저 중 적어도 어느 하나를 입사받는 수광부를 포함한다.

Description

수평 수직선 검사장치 및 시스템{apparatus and system for inspecting of horizontal and vertical line}
이하의 설명은 수평 수직선 검사장치 및 시스템에 관한 것으로 보다 구체적으로 레이저 조사장치에서 조사한 수평 수직선의 틀어짐에 의한 오차 검사하는 수평 수직선 검사장치 및 시스템에 관한 것이다.
건축물의 시공시에 있어서, 이들 구조물이 중력방향에 대하여 수평, 수직을 이루도록 시공하는 것은 이들 구조물의 성능이나 내구성 등에 있어서 상당히 중요한 조건 중의 하나이다.
따라서 건축 및 토목 등의 분야에서는 공간상에 수평 및 수직 위치(기준라인)의 정확한 설정 작업이 중요한 작업중 하나에 해당된다.
이와 같이, 건축물 시공작업 등에 적용되는 수평, 수직 기준을 설정하기 위해 재래식 방법으로 채택되는 작업 방식은, 지주의 수직시공을 위해 수직을 측정하거나 수직포인트를 설정할 때는 추가 달린 긴 줄을 천장에 매달아 수직의 정확도를 측정하거나 또는 수직포인트를 설정하고, 바닥면의 수평시공을 위해서는 수평자 등을 사용하여 수평측정이나 수평 포인트를 설정하는 작업 방식을 따른다.
이러한 종래 수직 및 수평 설정 방법은 천정에 줄을 인위적으로 매달아서 측정하는 방식으로 그 작업이 힘들고 위험함은 물론, 줄이 흔들리는 현상에 의해 정확한 설정을 기대하기 어렵고 또한 위에서 아래방향으로만 측정하여야 하는 불편함은 물론, 수시로 장소를 이동하며 작업하게 되어 신속성과 정확성이 결여되는 등의 문제점을 안고 있다.
이와 같은 문제점 등을 해결하기 위한 수단 중의 하나로 레이저표시장치 등이 개시되고 있다. 이러한 레이저표시장치 중 일 예로 레이저를 선형으로 수평 및 연직방향으로 조사하여 원거리 상의 벽면에 직접적으로 라인을 표시하는 레이저 표시장치가 개시되고 있다.
라인을 표시하는 레이저 표시장치는 벽면에 수평 및 수직라인을 표시함으로써, 작업의 정확성을 향상시킬 수 있다. 다만, 이러한 레이저 표시장치는 내부의 레이저 조사부의 틀어짐이 발생하는 경우 이를 확인하기 어렵고, 틀어짐을 보정하기 위해서는 제조사에 재입고를 해야 하는 불편함이 발생할 수 있었다.
실시 예의 목적은, 수평 및 수직라인의 검출 및 비교를 통해 수직 수평 조사장치의 이상을 검사하는 수평 수직선 검사장치 및 시스템을 제공하는 것이다.
실시 예의 또 다른 목적은, 수평 수직선 검사장치가 검사 결과를 사용자 단말 또는 조사장치에 제공할 수 있는 수평 수직선 검사장치 및 시스템을 제공하는 것이다.
또한, 수평 수직선 검사장치의 검사 결과에 따라 조사장치의 조사부를 자동으로 보정할 수 있는 수평 수직선 검사장치 및 시스템을 제공하는 것이다.
실시 예들에서 해결하려는 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
실시 예에 따른 조사장치에서 조사된 수평라인레이저 또는 수직라인레이저를 수광하여 오차를 검사하는 수평 수직선 검사장치를 개시한다.
수평 수직선 검사장치는 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저 중 적어도 어느 하나와 비교가 가능한 기준선부를 구비하고 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저 중 적어도 어느 하나를 입사받는 수광부를 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 기준선부는 상기 수평라인레이저의 수평기준선 또는 상기 수직라인레이저의 수직기준선 중 적어도 어느 하나 이상이 상기 수광부에 형성될 수 있다.
일측에 따르면, 상기 기준선부는 상기 수평기준선 또는 상기 수직기준선을 중심으로 양방향에 상기 수평기준선 또는 상기 수직기준선과 평행하고 소정 간격으로 이격되어 형성된 적어도 한 쌍 이상의 보조선을 더 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 수광부를 이동시키는 이송부 및 상기 수광부의 이동을 가이드 하는 가이드 하우징을 더 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 수광부는 일면에 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저를 검출하는 광검출센서가 구비되고, 상기 광검출센서에 생성되는 신호를 수신하여 수광된 수평라인레이저 또는 수직라인레이저의 검출위치와 상기 기준선부의 간격차이 및 각도차이를 오차신호로 생성하는 제어부를 더 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 제어부가 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저 중 적어도 어느 하나 이상에 대응하여 수평 또는 수직하게 생성할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 수광부의 이동을 가이드하는 가이드 하우징 및 상기 가이드 하우징에 구비되어 상기 수광부를 이송하는 이송부를 더 포함하고, 상기 제어부는 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저 중 적어도 어느 하나 이상이 상기 기준선부에 대응하도록 상기 이송부를 이동시도록 제어할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 오차신호를 수치로 정량화하여 시각적 또는 청각적으로 표시하는 표시부를 더 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 오차신호를 조사장치 또는 사용자 단말 중 적어도 하나 이상에 송신하는 송신부를 더 포함할 수 있다.
실시 예에 따른 수평 수직선 검사시스템에 대해 설명한다.
수평 수직선 검사시템은 수평라인레이저를 조사하는 수평조사부 또는 수직라인레이저를 조사하는 수직조사부 중 어느 하나 이상을 포함하는 조사장치 및 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저와 비교가 가능한 기준선부를 구비하는 수광부를 포함하고, 상기 수평라인레이저 또는 수직라인레이저 중 적어도 하나 이상을 수광하여 이상여부를 검사하는 수평 수직선 검사장치를 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 수광부는 일면에 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저를 검출하는 광검출센서가 구비되고, 상기 수평 수직선 검사장치는 상기 광검출센서에 생성되는 신호를 수신하여 수광된 수평라인레이저 또는 수직라인레이저의 검출위치와 상기 기준선부와의 간격차이 및 각도차이를 오차신호로 생성하는 제어부를 더 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 기준선부는 상기 제어부가 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저 중 적어도 어느 하나 이상에 대응하여 수평 또는 수직하게 생성할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 수평 수직선 검사장치는 상기 수광부의 이동을 가이드하는 가이드 하우징 및 상기 가이드 하우징에 구비되어 상기 수광부를 이송하는 이송부를 더 포함하고, 상기 제어부는, 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저 중 적어도 어느 하나 이상이 상기 기준선부에 대응하도록 상기 이송부를 제어할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 수평조사부 또는 상기 수직조사부는, 라인을 표시하는 빛을 발광하는 라인레이저 광원 및 라인레이저 광원의 조사 각도 및 방향을 조절하는 조사방향 조절부를 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 수평 수직선 검사장치는 상기 오차신호를 조사장치 또는 사용자 단말 중 적어도 하나 이상에 송신하는 송신부를 더 포함하고, 상기 조사장치는, 상기 오차신호를 수신하는 수신부 및 상기 오차신호에 대응하여 상기 라인레이저 광원의 조사 각도 및 방향이 오차범위내로 오도록 상기 조사방향 조절부를 제어하는 조사방향 제어부를 더 포함할 수 있다.
일측에 따르면, 상기 조사장치는 상기 오차신호를 수치로 정량화하여 시각적 또는 청각적으로 표시하는 표시부를 더 포함할 수 있다.
실시 예에 따르면 수평 및 수직라인의 검출 및 비교를 통해 수직 수평 조사장치의 이상을 용이하게 검사할 수 있다.
또한, 수평 수직선 검사장치가 검사 결과를 사용자가 용이하게 인지하도록 사용자 단말 또는 수평 수직조사장치에 제공할 수 있다.
또한, 수평 수직선 검사장치의 검사 결과에 따라 조사장치의 조사부를 자동으로 보정할 수 있는 수평 수직선 검사장치 및 시스템을 제공할 수 있다.
실시 예에 따른 수평 수직선 검사장치의 효과는 이상에서 언급된 것들에 한정되지 않으며, 언급되지 아니한 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 일 실시 예에 따른 수평 수직선 검사시스템을 나타내는 도면이다.
도 2는 일 실시 예에 따른 조사장치의 사시도이다.
도 3은 일 실시 예에 따른 조사장치의 커버를 제거한 모습을 나타내는 사시도이다.
도 4는 실시 예에 따른 수평 수직선 검사장치의 사시도이다.
도 5는 실시 예에 따른 수평 수직선 검사장치의 측단면도이다.
도 6은 실시 예에 따른 수광부에 수평라인레이저가 조사된 모습을 보여주는 도면이다.
도 7은 실시 예에 따른 수광부에 수직라인레이저가 조사된 모습을 보여주는 도면이다.
도 8을 다른 실시 예에 따른 수평 수직선 검사시스템의 블록도이다.
도 9는 다른 실시 예에 따른 수광부를 나타내는 도면이다.
본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 일 실시예를 예시하는 것이며, 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술적 사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석 되어서는 아니된다.
이하, 실시 예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 실시 예를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 실시 예에 대한 이해를 방해한다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
또한, 실시 예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
어느 하나의 실시 예에 포함된 구성요소와, 공통적인 기능을 포함하는 구성요소는, 다른 실시 예에서 동일한 명칭을 사용하여 설명하기로 한다. 반대되는 기재가 없는 이상, 어느 하나의 실시 예에 기재한 설명은 다른 실시 예에도 적용될 수 있으며, 중복되는 범위에서 구체적인 설명은 생략하기로 한다.
도 1을 참조하면, 수평 수직 검사시스템(1)은 조사장치(10)에서 조사되는 라인레이저(H1, H2)를 수광하여 오차를 검사한다. 수평 수직선 검사시스템(1)은 조사장치(10) 및 수평 수직선 검사장치(20)를 포함한다.
여기서, 수평 수직선 검사시스템(1)은 최초의 위치의 수평레이저 광원에서 조사된 제1수평라인레이저(H1)를 기준선부(211, 212)와 비교하여 이상여부를 검사할 수 있다. 또한, 수평 수직선 검사시스템(1)은 조사장치(10)의 몸체부(120)의 회전으로 다른 위치의 수평레이저 광원(121a)이 회전하여 최초 조사된 제1수평라인레이저(H1)의 위치에 조사한 제2수평라인레이저(H2)의 이상여부를 검사할 수 있다.
이하, 조사장치(10)는 수평라인레이저(H1, H2) 및 수직라인레이저(V1, V2) 둘 모두를 조사하며, 수평 수직선 검사장치(20)는 수평라인레이저(H1, H2) 및 수직라인레이저(V1, V2)의 기준선부(211, 212)를 모두 표시하는 것으로 예를 들어 설명한다. 이는 설명의 편의를 위한 것으로 이에 한정되지는 않으며, 조사장치(10)는 수평라인레이저(H1, H2) 또는 수직라인레이저(V1, V2) 중 어느 하나만 조사하고 수평 수직선 검사장치(20)는 수평라인레이저(H1, H2) 또는 수직라인레이저(V1, V2) 중 어느 하나에 대응되는 기준선부(211, 212) 만을 구비하는 것도 가능할 수 있다.
도 2는 일 실시 예에 따른 조사장치의 사시도이고, 도 3은 일 실시 예에 따른 조사장치의 커버를 제거한 모습을 나타내는 사시도이다.
조사장치(10)는 시공대상의 벽면에 수평라인을 표시하는 수평라인레이저(H1, H2) 또는 수직라인을 표시하는 수직라인레이저(V1, V2) 중 적어도 어느 하나 이상을 조사한다. 예를 들어, 조사장치(10)는 수평라인레이저(H1, H2) 및 수직라인레이저(V1, V2) 둘 모두를 조사할 수 있다. 또한, 조사장치(10)는 수평라인레이저(H1, H2) 상에 기준점 및 수직라인레이저(V1, V2) 상에 기준점을 표시하는 것도 가능하다.
도 2내지 도 3을 참조하면, 조사장치(10)는 삼발이부(110)와 몸체부(120)를 포함한다.
삼발이부(110)는 후술하는 지지부(123)가 안착되는 상방테두리부(111), 그 하방으로 연장되는 삼발이 타입의 다리부(112) 및 다리부(112) 하단으로부터 연장될 수 있는 연장부(113)를 포함한다. 삼발이부(110)는 몸체부(120)를 지지하며, 연장부(113)의 연장을 통해 몸체부(120)의 수평을 조절할 수 있다.
삼발이부(110)는 미세조정부(114)를 더 포함할 수 있다. 미세조정부(114)는 내부에 나사산이 형성된 봉의 형태로 구비될 수 있으며, 후술하는 몸체부(120)가 안착될 때, 지지부(123)의 하단의 외주면의 기어치와 맞물린다. 미세조정부(114)는 회전 시 몸체부(120)를 수면과 연직한 축을 중심으로 회전시키게 된다. 미세조정부(114)는 수동으로 회전하게 구성이 가능하나 이에 한정되는 것은 아니며 모터 등을 구비하여 미세조정부(114)를 회전시키도록 구성하는 것도 가능하다.
몸체부(120)는 조사부(121, 122), 지지부(123) 및 커버부(130)로 구성된다.
조사부(121, 122)는 수평조사부(121)와 수직조사부(122)로 구분된다. 수평조사부(121) 및 수직조사부(122)는 각각 수평 평면을 360도로 분할하여 4군데에 각각 90도로 이격되어 구비된다. 다만 이에 한정되는 것은 아니며 수평조사부(121) 및 수직조사부(122)는 적어도 하나 이상이 구비될 수 있다. 조사부(121, 122)는 수직 또는 수평한 라인레이저를 조사하여 표시하는 라인레이저 광원(121a, 122a) 및 라인레이저 광원(121a, 122a)을 지지하고 광원의 회전을 조절하여 라인레이저의 조사각도 및 방향을 조절하는 조사방향 조절부(121b, 122b)를 포함한다.
여기서, 조사방향 조절부(121b, 122b)는 라인레이저 광원(121a, 122a)을 회전시켜 레이저의 조사각도를 조절한다. 예를 들어, 도 3에서와 같이 조사방향 조절부(121b, 122b)는 지지부(123)에 원통형으로 삽입 배치되어 회전이 가능하도록 배치될 수 있다. 조사방향 조절부(121b, 122b)가 회전하면 라인레이저 광원(121a, 122a)이 라인레이저 광원(121a, 122a)의 길이방향과 수직한 축으로 회전하게 되므로 라인레이저(H1, H2, V1, V2)의 각도가 회전하게 된다.
조사방향 조절부(121b, 122b)는 라인레이저 광원(121a, 122a)의 회전이 가능하도록 고정할 수 있다. 조사방향 조절부(121b, 122b)는 라인레이저 광원(121a, 122a)을 회전시키는 미세 조절나사(미도시)가 구비될 수 있다. 도면에 도시된 라인레이저 광원(121a, 122a)은 원통형으로 구비되고 길이방향으로 선형을 가지는 라인레이저(H1, H2, V1, V2)가 조사되는데, 라인레이저 광원(121a, 122a)을 길이방향을 축으로 회전시키면 수직방향 또는 수평방향로 라인레이저(H1, H2, V1, V2)의 조사방향 즉 수직방향 또는 수평방향을 이동시킬 수 있다.
조사방향 조절부(121b, 122b)는 수작업으로 조절나사를 이동시키거나 손으로 직접 돌려 라인레이저 광원(121a, 122a)의 조사각도 및 방향을 조절하게 구성이 가능하다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며 조사방향 조절부(121b, 122b)는 후술하는 수평 수직선 검사장치(20)의 신호에 따라 라인레이저 광원(121a, 122a)의 조사각도 및 방향을 조절하도록 별도의 모터 등의이 구동부(미도시)가 구비되는 것도 가능할 수 있다.
지지부(123)는 조사방향 조절부(121b, 122b)를 지지한다. 예를 들어, 지지부(123)는 복수의 판과 복수의 기둥을 포함하여 2층형태로 구성되며, 각 층에 조사방향 지지부(123)를 지지하도록 구성된다.
지지부(123)는 저면이 삼발이부(110)에 결합된다. 또한, 지지부(123)는 하측 외주면이 기어형태로 형성되어 삼발이부(110)에 삽입 배치되며, 미세조정부(114)의 나사산과 맞물린다. 지지부(123)는 미세조정부(114) 회전 시에 수면과 연직한 축을 중심으로 회전된다.
커버부(130)는 지지부(123)를 외부로부터 보호한다. 커버부(130)는 복수의 관통홀(131)이 형성된다. 복수의 관통홀(131)은 라인레이저 광원(121a, 122a) 각각과 대응되는 위치에 형성된다.
한편, 복수의 관통홀(131)에는 라인레이저 광원(121a, 122a)을 보호하기 위해 투명한 보호창(131a)이 구비될 수 있다. 여기서, 보호창(131a)은 라인레이저 광원(121a, 122a)의 유지보수를 위해 착탈이 가능하도록 배치될 수 있다.
또한, 커버부(130)는 일측에 수평계(132)가 구비된다. 예를 들어, 커버부(130)는 최상부에 원형 수평계(132)가 구비될 수 있다. 실시 예에서는 수평계(132)를 원형 수평계(132)로 도시하였지만 이에 한정되는 것은 아니며, 수평계(132)는 조사장치(10)의 수평을 측정한다면 모두 가능할 수 있다. 수평계(132)는 조사장치(10)의 삼발이부(110)를 조정할 때, 조사장치(10)의 수평을 나타내어 조사장치(10)의 수평조절을 용이하게 할 수 있다.
도 4는 실시 예에 따른 수평 수직선 검사장치의 사시도이고, 도 5는 실시 예에 따른 수평 수직선 검사장치의 측단면도이다.
도 4 내지 도 5를 참조하면, 수평 수직선 검사장치(20)는 수평라인레이저(H1, H2) 또는 수직라인레이저(V1, V2) 중 적어도 하나 이상을 수광하여 이상 여부를 검사한다. 수평 수직선 검사장치(20)는 수광부(210), 가이드 하우징(220) 및 이송부(230)를 포함한다.
수광부(210)는 조사장치(10)에서 조사되는 수평라인레이저(H1, H2) 또는 수직라인레이저(V1, V2) 중 적어도 어느 하나를 입사 받는다. 수광부(210)는 수평라인레이저(H1, H2) 또는 수직라인레이저(V1, V2) 중 어느 하나를 입사받을 수 있는 평면이 형성된 모든 형상이 가능할 수 있다.
수광부(210)는 수평라인레이저(H1, H2) 또는 수직라인레이저(V1, V2)의 입사면에 기준선부(211, 212)가 구비될 수 있다. 기준선부(211, 212)는 수광부(210)에 기 표시된 눈금의 선일 수 있으며, 수광부(210)의 입사면이 광검출센서(311)일 때는 가상으로 형성되는 기준선인 것도 가능할 수 있다. 기준선부(211, 212)는 수평라인레이저(H1, H2)의 수평기준선(211) 또는 수직라인레이저(V1, V2)의 수직기준선(212) 중 적어도 어느 하나 이상이 형성된다. 수평기준선(211) 및 수직기준선(212)은 수평 수직선 검사장치(20)가 수평일 때 수평면에 대해서 수평 및 수직을 형성한다.
또한, 기준선부(211, 212)는 수평기준선(211) 또는 수직기준선(212) 중심으로 양방향에 수평기준선(211) 또는 수직기준선(212)과 평행하고 소정 간격으로 이격되어 형성된 적어도 한 쌍 이상의 보조선(211a)이 형성되는 것도 가능하다. 보조선(211a)은 눈금형태로 mm 등의 길이단위로 이격되어 형성될 수 있다. 하지만 이에 한정되는 것은 아니며 도 4에 도시된 수직기준선(212)과 같이 보조선(211a) 대신 수평기준선(211) 또는 수직기준선(212)이 복수 개로 형성되어 보조선(211a)의 역할을 수행하는 것도 가능할 수 있다.
수광부(210)는 후술하는 가이드 하우징(220)쪽 면에 고정기둥(213)이 구비될 수 있다. 고정기둥(213)은 가이드 하우징(220)에 삽입 배치될 수 있다.
도면에는 도시되지 않았지만 수광부(210)의 가이드 하우징(220) 쪽 면에는 수광부(210)의 길이방향 즉 수평 방향으로 수평슬릿홀(미도시)이 더 형성될 수 있다. 고정기둥(213)은 수평슬릿홀에 삽입 배치되어 수평슬릿홀을 따라 이동이 가능할 수 있다. 이때, 고정기둥(213)을 축으로 수광부(210)의 각도조절후에 고정이 가능하도록 나사 등의 고정부재(미도시)가 더 구비될 수 있다.
수광부(210)는 지지나사(미도시)를 더 포함할 수 있다. 지지나사는 수광부(210)의 가이드 하우징(220)쪽 면에 돌출되도록 수광부(210)에 삽입 배치된다. 지지나사의 외주면에는 나사산이 형성되어 회전으로 수광부(210)의 가이드 하우징쪽 면에서 돌출길이가 조절될 수 있다. 수광부(210)는 고정기둥(213) 및 지지나사를 통해 수평설정이 가능하며, 수광부(210)에는 수평계(미도시)가 더 구비될 수 있다.
다만, 이에 한정되는 것은 아니며, 수평계는 가이드 하우징(220)에 구비될 수 있으며, 가이드 하우징(220)의 하부에 조사장치(10)의 삼발이형태를 가지는 연장다리가 형성됨으로써 수광부(210)의 수평조절이 가능하게 형성되는 것도 가능할 수 있다.
가이드 하우징(220)은 수광부(210)의 이동을 가이드한다. 예를 들어, 가이드 하우징(220)은 수광부(210)의 수직이동을 가이드할 수 있다. 여기서, 가이드 하우징(220)은 고정기둥이 삽입 배치되는 슬릿홀(221)이 형성될 수 있다. 슬릿홀(221)은 가이드 하우징(220)의 길이방향 즉 수직방향으로 길게 배치되어 수광부(210)의 수직이동을 가이드할 수 있다.
실시 예에서 가이드 하우징(220)은 수광부(210)의 수직이동을 안내하는 것으로 도시하였지만 이에 한정되는 것은 아니며, 수광부(210)의 수평이동을 안내하도록 슬릿홀(221)의 길이방향을 구성하는 것도 가능하다. 이때, 수광부(210)의 가이드 하우징(220)쪽 면에는 수직방향으로 슬릿홀(221)이 형성되도록 구성할 수 있다. 한편, 가이드 하우징(220)의 슬릿홀(221)을 따라 소정간격으로 형성된 눈금 및 높이가 표시되어 있는 것도 가능하다. 이 경우, 기준선부(211, 212)의 높이 측정이 원활할 수 있다.
이송부(230)는 수광부(210)를 가이드 하우징(220)의 가이드 방향으로 이동시킨다. 예를 들어, 이송부(230)는 가이드 하우징(220)에 회전 가능하게 배치되는 회전기둥(231), 가이드 하우징(220) 외부에 구비되어 회전기둥(231)을 회전시키는 제1줄(232) 및 회전기둥(231)에 권취되고 수광부(210)의 고정기둥(213)에 결합되는 제2줄(233)을 포함할 수 있다. 여기서, 사용자는 제1줄(232)을 통해 회전기둥(231)의 회전방향을 달리하여 수광부(210)를 수직방향으로 이동시킬 수 있다.
하지만 이송부(230)의 형태를 이에 한정되는 것은 아니며, 수광부(210)를 이동시키는 모든 형태면 가능할 수 있다. 예를 들어, 이송부(230)는 모터를 구비하여 제2줄(233)을 회전기둥(231)의 회전을 조절하는 구성도 가능할 수 있다. 또 다른 예로 이송부(230)는 단순 레일 및 브레이크의 형태로 레일을 따라 이송부(230)가 이동하다가 정지되는 형태도 가능할 수 있다.
또한, 가이드 하우징(220)이 긴 막대형태로 구비되고 이송부(230)가 가이드 하우징(220)을 감싸는 형태로 가이드 하우징(220)의 길이방향을 따라 이동하도록 구성되는 것도 가능하다. 이때, 이송부(230)는 이송부(230)를 가이드 하우징(220)에서 고정하는 나사등의 고정부재(미도시)를 포함할 수 있다.
도 6은 실시 예에 따른 수광부에 수평라인레이저가 조사된 모습을 보여주는 도면이다. 도 6의 (a)는 수평라인레이저의 간격오차가 발생한 모습을 보여주는 도면이고 도 6의 (b)는 수평라인레이저의 각도오차가 발생한 모습을 보여주는 도면이다.
이하 수평 수직선 검사시스템(1)의 검사방법에 대해 설명하면, 일 수평 라인레이저 광원(121a)에서 조사된 제1수평라인레이저(H1)에 기준선부(211, 212)를 대응시키도록 수광부를 이동시킨다. 이때, 수광부(210)의 수평 및 수직을 맞춘 후 기준선부(211)를 제1수평라인레이저(H1)에 대응시킨다. 이 후, 조사장치(10)의 지지부(123)를 회전시켜 다른 라인레이저 광원에서 조사된 제2수평라인레이저(H2)를 조사한다. 여기서, 제2수평라인레이저(H2)를 조사한 때에는 제1수평라인레이저(H1)도 다른 방향으로 회전되어 보이지 않지만 제1수평라인레이저(H1)와 대응된 기준선부(211)는 정지하여 있으므로 비교를 통해 이상유무 검사가 가능한다.
제2수평라인레이저(H2)는 도 6의 (a)와 같이 수평 기준선부(211)와 평행하지만 간격오차를 가질 수 있다. 또한, 도6의 (b)와 같이 제2라인레이저 광원에서 조사된 제2수평라인레이저(H2)는 수평 기준선부(211)와 각도 오차가 발생하는 것도 가능할 수 있다. 여기서, 간격오차에 대해서 사용자는 라인레이저 광원(121a)의 조사방향을 조정함으로써 수정이 가능할 수 있다. 간격오차는 사용자가 설정하는 범위로 0~±2mm까지는 오차범위 내로 설정할 수 있다. 또한, 각도오차에 대해서 사용자가 라인레이저 광원의 조사각도를 조정함으로써 수정이 가능할 수 있다.
또한, 일 라인레이저 광원(121a)에서 조사된 제1수평라인레이저(H1)를 기준선부(211, 212)와 대응시킬 때, 일 라인레이저 광원(121a)의 각도가 틀어진 경우에는 일 라인레이저 광원(121a)의 조사방향 조절부를 조작함으로써 각도의 보정이 가능하다.
도 7은 실시 예에 따른 수광부에 수직라인레이저가 조사된 모습을 보여주는 도면이다. 도 7의 (a)는 수직라인레이저의 간격오차가 발생한 모습을 보여주는 도면이고 도 7의 (b)는 수직라인레이저의 각도오차가 발생한 모습을 보여주는 도면이다. 앞서 설명한 바와 같이, 수평 수직선 검사시스템(1)을 통해 제1수직레이저 라인(V1) 및 제2수직레이저 라인(V2)의 이상유무를 수직 기준선(212)과 비교로 검사하여 간격 및 각도오차를 보정할 수 있다.
한편, 기준선부(211, 212)의 높이가 미리 설정된 경우에, 수평 수직선 검사장치(20)에 표시되는 라인에 따라서 제1수평라인레이저(H1) 또는 제1수직라인레이저(V1)와 기준선부(211, 212)의 간격오차 및 각도오차를 보정하는 것도 가능할 수 있다.
이하에서는 도 8 및 도 9를 참조하여, 다른 실시 예에 따른 수평 수직선 검사장치 및 시스템에 대해 설명한다.
도 8을 다른 실시 예에 따른 수평 수직선 검사시스템의 블록도이고, 도 9는 다른 실시 예에 따른 수광부를 나타내는 도면이다.
도 8을 참조하면, 수평 수직선 검사시스템(1)은 전자시스템으로 레이저라인의 검사 및 오차의 보정이 이루어지는 시스템으로 구성된다. 예를 들어, 수평 수직선 검사시스템(1)은 조사장치(30) 및 수평 수직선 검사장치(40)로 구성되고, 수평 수직선 검사장치(40)가 오차신호를 생성하면 조사장치(10)에서 라인레이저 광원(121a, 122a)의 각도 및 조사방향을 자동으로 보정하는 시스템일 수 있다.
조사장치(10)는 삼발이부(110), 몸체부(120), 수신부(330) 및 조사방향 제어부(340)를 포함한다. 여기서, 삼발이부(110) 및 몸체부(120)의 구성은 일 실시 예의 조사장치(10)와 동일한 구성요소를 포함하고 있어 설명을 생략한다. 여기서, 조사방향 조절부(121b, 122b)는 모터와 기어를 포함하여 조사방향 조절부(121b, 122b)를 회전시키거나 라인레이저 광원(121a, 122a)을 회전시키도록 구성된다.
수신부(330)는 후술하는 오차신호를 수신한다. 예를 들어, 수신부(330)는 RF통신, WiFi Direct, 블루투스, IrDA, 지그비, UWB 등의 통신모듈 중 하나로 구비되어 수평 수직선 검사장치(40)와 직접 연결되거나, WCDMA, LTE, WiFi 등의 통신모듈로 구비되어 인터넷망을 통해 연결되어서 오차신호를 수신할 수 있다.
조사방향 제어부(340)는 오차신호에 대응하여 라인레이저 광원(121a, 122a)의 조사 각도 및 방향이 오차범위내로 오도록 조사방향 조절부(121b, 122b)를 제어한다. 예를 들어, 조사방향 제어부(340)는 오차신호를 분석하여 간격 및 각도오차를 수치화하고 이에 대응하여 조사방향 조절부(121b, 122b)의 모터를 구동하여 라인레이저(H1, H2, V1, V2)가 기준선(411a)과의 오차범위내에 조사되도록 간격 및 각도를 조절하도록 제어한다.
수평 수직선 검사장치(40)는 수광부(410), 이송부(430), 제어부(440), 송신부(450) 및 표시부(460)를 포함한다.
수광부(410)는 라인레이저(H1, H2, V1, V2)가 조사되는 면에 광검출센서(311)를 구비한다. 광검출센서(311)는 레이저가 조사되는 부분을 검출하는 센서로 면에 조사되는 라인레이저(H1, H2, V1, V2)를 검출한다.
이송부(430)는 모터를 포함하여, 수광부(410)를 이동시킬 수 있다. 예를 들어, 이송부(430)는 제1줄(232) 대신 모터가 구비된 형태일 수 있다.
제어부(440)는 수평라인레이저(H1, H2) 또는 수직라인레이저(V1, V2) 중 적어도 어느 하나 이상에 대응하여 이와 대응되는 수평 또는 수직한 기준선부를 생성한다. 예를 들어, 도 9의 (a)와 같이 라인레이저(H1, H2, V1, V2)와 일치되는 기준선부(411a)를 생성할 수 있으며, 도 9의 (b)와 같이 라인레이저(H1, H2, V1, V2)가 수평하지 않을 경우, 라인레이저(H1, H2, V1, V2)와 교차하는 수평 또는 수직한 기준선부(411a)를 생성할 수 있다. 수광부(410)가 디스플레이 모듈을 포함하여 기준선부(411a)가 시각적으로 표시되는 것도 가능하다.
다만 이에 한정되는 것은 아니며, 수광부(410)에 기준선부(411a)가 미리 구비되어 있는 것도 가능한다. 이 경우, 제어부(440)는 이송부(430)를 제어하여 라인레이저(H1, H2, V1, V2)와 기준선부(411a)가 대응되도록 이동시키는 것도 가능할 수 있다.
제어부(440)는 기준선부(411a)와 입사된 라인레이저(H1, H2, V1, V2)의 간격 및 각도를 측정하고 이를 이용하여 오차신호를 생성한다. 제어부(440)는 생성된 오차신호를 송신부(450)에 전달한다.
송신부(450)는 오차신호를 조사장치(30) 또는 사용자 단말(미도시)에 송신한다. 예를 들어, 송신부(450)는 수신부(330)와 동일한 통신모듈로 구성되어 조사장치(10)와 페어링될 수 있다. 또한, 송신부(450)는 서버(미도시)를 통해 오차신호를 송신할 수 있으며, 서버와 연결된 조사장치(10) 또는 사용자 단말에 오차신호를 송신하게 된다.
한편, 사용자 단말은 스마트폰, PDA, PC, 랩탑, 태블릿 PC 등일 수 있으며, 오차신호를 수신하여 시각적으로 디스플레이할 수 있다. 또한, 사용자 단말의 설치된 앱(미도시)을 통해 높이 및 각도를 변경한 기준선부(411a)를 설정하고, 서버를 통해 설정된 기준선부(411a)의 신호가 수평 수직선 검사장치(20)로 송신되어 기준선부(411a)가 세팅되는 것도 가능할 수 있다.
표시부(460)는 제어부(440)에서 오차신호를 전달받아 표시한다. 표시부(440)는 수광부(410)에 구비된 디스플레이 모듈일 수 있으며, 별도로 구비되는 것도 가능하다. 표시부(460)는 오차신호를 수치로 정량화하여 시각적 또는 청각적으로 표시한다. 또한, 표시부(460)는 기준선부(411a)를 표시할 수 있다.
이상과 같이 비록 한정된 도면에 의해 실시 예들이 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 구조, 장치 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.

Claims (16)

  1. 수평라인레이저를 조사하는 수평조사부 또는 수직라인레이저를 조사하는 수직조사부 중 어느 하나 이상을 포함하는 조사장치; 및
    상기 수평라인레이저 또는 수직라인레이저 중 적어도 하나 이상을 수광하여 이상여부를 검사하는 수평 수직선 검사장치;
    를 포함하고,
    상기 수평 수직선 검사장치는,
    일면에 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저를 검출하는 광검출센서와, 상기 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저와 비교가 가능한 기준선부를 구비하는 수광부;
    상기 광검출센서에 생성되는 신호를 수신하여 수광된 수평라인레이저 또는 수직라인레이저의 검출위치와 상기 기준선부의 간격차이 및 각도차이를 오차신호로 생성하는 제어부; 및
    상기 오차신호를 송신하는 송신부;
    를 더 포함하고,
    상기 수평조사부 또는 상기 수직조사부는
    라인을 표시하는 빛을 발광하는 라인레이저 광원; 및
    상기 라인레이저 광원을 두 축 이상 회전 가능하게 지지하고, 상기 라인레이저 광원을 회전시키는 구동부를 포함하여 조사 각도 및 방향을 조절하는 조사방향 조절부;
    를 구비하고,
    상기 조사장치는,
    상기 오차신호를 수신하는 수신부; 및
    상기 오차신호에 대응하여 상기 라인레이저 광원의 조사 각도 또는 방향이 오차범위내로 오도록 상기 구동부를 제어하는 조사방향 제어부;
    를 더 포함하는 수평 수직선 검사 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 기준선부는,
    상기 수평라인레이저의 수평기준선 또는 상기 수직라인레이저의 수직기준선 중 적어도 어느 하나 이상이 상기 수광부에 형성되는 수평 수직선 검사 시스템.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 기준선부는
    상기 수평기준선 또는 상기 수직기준선을 중심으로 양방향에 상기 수평기준선 또는 상기 수직기준선과 평행하고 소정 간격으로 이격되어 형성된 적어도 한 쌍 이상의 보조선;
    을 더 포함하는 수평 수직선 검사 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 조사장치는,
    상기 수광부의 이동을 가이드 하는 가이드 하우징; 및
    상기 가이드 하우징에 구비되어 상기 수광부를 이송하는 이송부;
    을 더 포함하는 수평 수직선 검사 시스템.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제4항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저 중 적어도 어느 하나 이상이 상기 기준선부에 대응하도록 상기 이송부를 이동시키도록 제어하는 수평 수직선 검사 시스템.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 수평 수직선 검사장치는,
    상기 오차신호를 수치로 정량화하여 시각적 또는 청각적으로 표시하는 표시부;
    를 더 포함하는 수평 수직선 검사 시스템.
  9. 삭제
  10. 삭제
  11. 삭제
  12. 제1항에 있어서,
    상기 기준선부는,
    상기 제어부가 상기 수평라인레이저 또는 상기 수직라인레이저 중 적어도 어느 하나 이상에 대응하여 수평 또는 수직하게 생성하는 수평 수직선 검사 시스템.
  13. 삭제
  14. 삭제
  15. 삭제
  16. 삭제
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102248504B1 (ko) * 2021-03-09 2021-05-06 시설물안전연구원 주식회사 레이저를 이용한 기울기 측정장치 및 이의 제어방법

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE112019007245T5 (de) * 2019-04-23 2022-01-05 Robert Bosch Gesellschaft mit beschränkter Haftung Laser-Nivelliergerät und ein Verfahren zur Verwendung desselben

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1163992A (ja) * 1997-08-25 1999-03-05 Topcon Corp 照射光検出装置
JPH11118488A (ja) * 1997-10-09 1999-04-30 Topcon Corp 基準照射光検出装置
JP2003148955A (ja) * 2001-11-12 2003-05-21 Max Co Ltd 床面の水平度測定方法及び測定装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0859215A1 (en) * 1996-08-30 1998-08-19 Technical System Co., Ltd. Photoelectric displacement detector
JP4984290B2 (ja) * 2007-08-29 2012-07-25 雄一 平井 レーザー受光器
KR100969601B1 (ko) * 2007-12-05 2010-07-12 (주)인천측기 레이저 수평수직 측정 장치
EP2199739A1 (en) * 2008-12-17 2010-06-23 Leica Geosystems AG Laser Receiver for detecting a relative position
EP2781880B1 (de) * 2013-03-19 2019-01-16 Leica Geosystems AG Konstruktionslasersystem mit zumindest teilweise automatisch ablaufender Rekalibrierungsfunktionalität für eine Strahlhorizontierfunktionalität

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1163992A (ja) * 1997-08-25 1999-03-05 Topcon Corp 照射光検出装置
JPH11118488A (ja) * 1997-10-09 1999-04-30 Topcon Corp 基準照射光検出装置
JP2003148955A (ja) * 2001-11-12 2003-05-21 Max Co Ltd 床面の水平度測定方法及び測定装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102248504B1 (ko) * 2021-03-09 2021-05-06 시설물안전연구원 주식회사 레이저를 이용한 기울기 측정장치 및 이의 제어방법

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