KR102089098B1 - Cutting device and cutting method - Google Patents

Cutting device and cutting method Download PDF

Info

Publication number
KR102089098B1
KR102089098B1 KR1020177024358A KR20177024358A KR102089098B1 KR 102089098 B1 KR102089098 B1 KR 102089098B1 KR 1020177024358 A KR1020177024358 A KR 1020177024358A KR 20177024358 A KR20177024358 A KR 20177024358A KR 102089098 B1 KR102089098 B1 KR 102089098B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cutting
cut
jig
sealed substrate
mark
Prior art date
Application number
KR1020177024358A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20170110651A (en
Inventor
카츠노리 츠타후지
칸지 이시바시
카츠마사 시라이
히로토 모치즈키
Original Assignee
토와 가부시기가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 토와 가부시기가이샤 filed Critical 토와 가부시기가이샤
Publication of KR20170110651A publication Critical patent/KR20170110651A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102089098B1 publication Critical patent/KR102089098B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67092Apparatus for mechanical treatment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/50Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
    • H01L21/56Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67242Apparatus for monitoring, sorting or marking
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/77Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate
    • H01L21/78Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components or integrated circuits formed in, or on, a common substrate with subsequent division of the substrate into plural individual devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/12Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates

Abstract

제1의 마크(17)가 형성된 절단용 치구(9)를 절단용 테이블(8)에 부착한다. 제1의 마크(17)는, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 제2의 마크(4)에 대응한다. 제1의 마크(17)의 위치(제1의 좌표 위치)를 미리 측정하여 기억한다. 절단용 치구(9)의 위에 밀봉완료 기판(1)을 놓고, 제2의 마크의 위치(제2의 좌표 위치)를 측정한다. 제1의 좌표 위치와 제2의 좌표 위치를 비교하여 밀봉완료 기판(1)의 어긋남량을 산출한다. 밀봉완료 기판(1)을, 절단용 치구(9)로부터 들어올려서 어긋남량에 응하여 이동시켜, 재차 절단용 치구(9)의 위에 놓는다. 이에 의해, 절단용 치구(9)의 절단홈의 위치에 밀봉완료 기판(1)의 절단선의 위치를 정확하게 맞출 수 있기 때문에, 절단홈의 위에 위치하는 절단선에 따라 밀봉완료 기판(1)을 절단할 수 있다.The cutting jig 9 on which the first mark 17 is formed is attached to the cutting table 8. The first mark 17 corresponds to the second mark 4 formed on the sealed substrate 1. The position (first coordinate position) of the first mark 17 is measured and stored in advance. The sealed substrate 1 is placed on the cutting jig 9, and the position of the second mark (second coordinate position) is measured. The displacement of the sealed substrate 1 is calculated by comparing the first coordinate position with the second coordinate position. The sealed substrate 1 is lifted from the cutting jig 9 and moved in response to the amount of displacement, and placed on the cutting jig 9 again. Thereby, since the position of the cutting line of the sealed substrate 1 can be precisely aligned with the position of the cutting groove of the cutting jig 9, the sealed substrate 1 is cut along the cutting line located above the cutting groove. can do.

Description

절단 장치 및 절단 방법Cutting device and cutting method

본 발명은, 피절단물을 절단하여 개편화된 복수의 제품을 제조하는 절단 장치 및 절단 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a cutting device and a cutting method for producing a plurality of individualized products by cutting an object to be cut.

프린트 기판이나 리드 프레임 등으로 이루어지는 기판을 격자형상의 복수의 영역으로 가상적으로 구획하여, 각각의 영역에 1개 또는 복수개의 칩형상의 소자(예를 들면, 반도체 칩)를 장착한 후, 기판 전체를 수지 밀봉한 것을 밀봉완료 기판이라고 한다. 회전날 등을 사용한 절단 기구에 의해 밀봉완료 기판을 절단하여, 각각의 영역 단위로 개편화한 것이 제품이 된다.A substrate made of a printed substrate or a lead frame is virtually divided into a plurality of lattice-shaped regions, and after mounting one or a plurality of chip-shaped elements (for example, semiconductor chips) in each region, the entire substrate Is a resin-sealed substrate. It is a product that a sealed substrate is cut by a cutting mechanism using a rotating blade or the like and individualized into individual area units.

종래로부터, 절단 장치를 사용하여 밀봉완료 기판의 소정 영역을 회전날 등의 절단 기구에 의해 절단하고 있다. 예를 들면, BGA(Ball Grid Array Package) 제품은, 다음과 같이 하여 절단된다. 우선, 밀봉완료 기판을 절단용 테이블의 위에 재치한다. 다음에, 밀봉완료 기판을 얼라인먼트(위치맞춤)한다. 얼라인먼트함에 의해, 복수의 영역을 구획하는 가상적인 절단선의 위치를 설정한다. 다음에, 밀봉완료 기판을 재치한 절단용 테이블과 절단 기구를 상대적으로 이동시킨다. 절삭수를 밀봉완료 기판의 절단 개소에 분사함과 함께, 절단 기구에 의해 밀봉완료 기판에 설정된 절단선에 따라 밀봉완료 기판을 절단한다. 밀봉완료 기판을 절단함에 의해 개편화된 제품이 제조된다.Conventionally, a predetermined area of the sealed substrate is cut by a cutting mechanism such as a rotating blade using a cutting device. For example, a BGA (Ball Grid Array Package) product is cut as follows. First, the sealed substrate is placed on the cutting table. Next, the sealed substrate is aligned (positioned). By alignment, the positions of the virtual cutting lines that partition the plurality of regions are set. Next, the cutting table and the cutting mechanism on which the sealed substrate is placed are relatively moved. While cutting water is sprayed to the cut location of the sealed substrate, the sealed substrate is cut along the cutting line set in the sealed substrate by a cutting mechanism. The individualized product is manufactured by cutting the sealed substrate.

절단용 테이블에는, 제품에 대응한 절단용 치구가 부착된다. 절단용 치구의 위에 밀봉완료 기판이 재치되어 흡착된다. 절단용 치구는, 금속 플레이트와 금속 플레이트의 위에 고정된 수지 시트를 구비한다. 수지 시트에는, 밀봉완료 기판의 복수의 영역을 각각 흡착하여 유지하는 복수의 대지형상(臺地狀)의 돌기부가 마련된다. 복수의 돌기부에는, 돌기부의 표면부터 수지 시트와 금속 테이블을 관통하는 흡착구멍이 각각 마련된다. 돌기부끼리의 사이에는, 밀봉완료 기판의 각 영역을 구획하는 복수의 절단선의 위치에 대응하는 복수의 절단홈이 마련된다. 절단용 테이블과 절단 기구가 상대적으로 이동함에 의해, 복수의 절단선에 따라 밀봉완료 기판이 절단되어 개편화된다.A jig for cutting corresponding to the product is attached to the table for cutting. The sealed substrate is placed on the jig for cutting and adsorbed. The cutting jig has a metal plate and a resin sheet fixed on the metal plate. The resin sheet is provided with a plurality of earth-like projections that respectively adsorb and hold a plurality of regions of the sealed substrate. In the plurality of protrusions, suction holes penetrating the resin sheet and the metal table from the surface of the protrusion are respectively provided. Between the protrusions, a plurality of cutting grooves corresponding to positions of a plurality of cutting lines that divide each region of the sealed substrate is provided. As the cutting table and the cutting mechanism are relatively moved, the sealed substrate is cut along the plurality of cutting lines to be separated.

밀봉완료 기판을 절단하는 경우에는, 절단용 테이블의 위에 부착된 절단용 치구의 절단홈의 위치에 밀봉완료 기판의 절단선을 맞추어서 절단한다. 회전날을 절단선에 따라 이동시킴에 의해, 밀봉완료 기판을 절단한다. 절단용 치구의 절단홈의 위치와 밀봉완료 기판의 절단선의 위치가 어긋난 상태에서 밀봉완료 기판을 절단하면, 회전날이 절단홈의 위치로부터 어긋나서 수지 시트의 일부를 깎는(削る)는 일이 있다. 수지 시트가 깎여짐에 의해 대량의 티끌이 발생한다. 돌기부의 주변이 깎여짐에 의해 흡착구멍에 리크가 발생하면 밀봉완료 기판 또는 개편화된 제품을 흡착하기가 어려워진다. 나아가서는, 절단용 치구의 수명이 짧아지고, 절단용 치구의 교환을 빈번하게 행하면 절단 장치의 운용 비용이 높아진다. 따라서 절단용 치구의 절단홈의 위치에 밀봉완료 기판의 절단선의 위치를 정확하게 맞추어서 절단하는 것이 중요해진다.In the case of cutting the sealed substrate, the cutting line of the sealed substrate is aligned with the cutting groove of the cutting jig attached to the cutting table and cut. The sealed substrate is cut by moving the rotating blade along the cutting line. When the sealed substrate is cut in a state where the cutting groove position of the cutting jig and the cutting line position of the sealed substrate are misaligned, the rotating blade may shift from the cutting groove position to cut a portion of the resin sheet. . When the resin sheet is scraped, a large amount of dust is generated. When a leak occurs in the adsorption hole due to the cutting of the periphery of the protrusion, it becomes difficult to adsorb the sealed substrate or the individualized product. Furthermore, the life of the cutting jig is shortened, and frequent replacement of the cutting jig increases the operating cost of the cutting device. Therefore, it is important to precisely cut the position of the cutting line of the sealed substrate to the position of the cutting groove of the cutting jig.

고정밀도로 위치 검출을 행할 수 있는 절단 장치로서, 「(생략), 전자 회로 기판을 공급부로부터 들어올려서 절단용 테이블상에 전치(轉置)하는 반송 기구와, 절단용 테이블상에 재치된 전자 회로 기판을 개개의 전자 회로로 절단하는 절단부를 갖는 절단 장치로서, 반송 기구가, 전자 회로 기판의 위치 결정을 행하는 위치 결정 수단을 갖는」 절단 장치가 제안되어 있다(예를 들면, 특허 문헌 1의 단락〔0009〕, 도 1, 도 2 참조).As a cutting device capable of high-precision position detection, "(omitted), a transport mechanism for lifting an electronic circuit board from a supply section and displacing it on a cutting table, and an electronic circuit board placed on the cutting table. A cutting device has been proposed as a cutting device having a cutting portion for cutting an electronic circuit into individual electronic circuits, wherein the conveying mechanism has positioning means for positioning the electronic circuit board (for example, paragraph 1 of Patent Document 1 [ 0009], see FIGS. 1 and 2).

특허 문헌 1 : 일본국 특개2005-353723호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Application Publication No. 2005-353723

그렇지만, 특허 문헌 1에 개시된 절단 장치(1)에서는, 다음과 같은 과제가 발생한다. 특허 문헌 1의 도 1, 도 2에 도시되는 바와 같이, 반송 기구(24)는, 선단에 파지부(25)를 갖고서 로봇 암과 XYZ 이동 스테이지에 의해 구성된다. 파지부(25)에 워크(6)를 파지하여 공급 테이블(15)로부터 절단용 테이블(28)로 옮긴다. 파지부(25)는, 파지판(25a), 흡착판(25c), 위치 결정핀(위치 결정 수단의 일부)(25d), 스프링(25e) 등을 갖고서 구성되어 있다. 위치 결정핀(25d)은, 워크(6)를 위치 결정하면서 파지부(25)에 파지하기 위한 것이다. 워크(6)에는 위치 결정핀(25d)과 대응하는 위치에 위치 결정구멍(위치 결정 수단의 일부)(6c)이 형성되어 있다. 위치 결정구멍(6c)은, 직경이 위치 결정핀(25d)과 개략 일치하도록 형성된 둥근구멍이다.However, in the cutting device 1 disclosed in Patent Document 1, the following problems occur. As shown in FIGS. 1 and 2 of Patent Document 1, the transport mechanism 24 is configured by a robot arm and an XYZ moving stage with a gripping portion 25 at the tip. The workpiece 6 is gripped by the gripping portion 25 and moved from the supply table 15 to the cutting table 28. The gripping portion 25 includes a gripping plate 25a, an adsorbing plate 25c, a positioning pin (part of the positioning means) 25d, a spring 25e, and the like. The positioning pin 25d is for gripping the gripping portion 25 while positioning the work 6. On the work 6, a positioning hole (part of the positioning means) 6c is formed at a position corresponding to the positioning pin 25d. The positioning hole 6c is a round hole formed so that the diameter roughly coincides with the positioning pin 25d.

이와 같은 반송 기구(24)에서는, 파지판(25a)에 마련된 위치 결정핀(25d)이 워크(6)의 위치 결정구멍(6c)에 삽입되어 위치 결정되면서, 에어 흡착에 의해 워크(6)는 파지판(25a)에 흡착된다. 따라서 워크(6)에 위치 결정구멍(6c)을 4개소 형성하지 않으면 안된다. 절단하는 모든 워크(6)에 위치 결정구멍(6c)을 4개소 형성하기 때문에, 위치 결정구멍(6c)을 형성하는 수고와 비용이 방대하게 된다. 위치 결정핀(25d)과 위치 결정구멍(6c)이 정밀도 좋게 형성되지 않으면 워크(6)의 위치 결정을 할 수가 없게 된다는 폐해도 발생한다.In this conveying mechanism 24, while the positioning pin 25d provided on the gripping plate 25a is inserted into the positioning hole 6c of the work 6 and positioned, the work 6 is absorbed by air adsorption. It is adsorbed on the gripping plate 25a. Therefore, four positioning holes 6c must be formed in the work 6. Since four positioning holes 6c are formed in all the workpieces 6 to be cut, the effort and cost of forming the positioning holes 6c is enormous. If the positioning pins 25d and the positioning holes 6c are not formed with high precision, it may occur that the work 6 cannot be positioned.

본 발명은 상기한 과제를 해결하는 것으로서, 절단 장치에서, 절단용 치구의 절단홈의 위치에 밀봉완료 기판의 절단선의 위치를 정확하게 맞출 수 있는 절단 장치 및 절단 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a cutting device and a cutting method capable of accurately aligning the position of a cutting line of a sealed substrate to a position of a cutting groove of a cutting jig in a cutting device.

상기한 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 절단 장치는, 복수의 제1의 마크와 복수의 절단홈을 갖는 절단용 치구와, 절단용 치구의 위에 재치되어 복수의 제2의 마크를 갖는 피절단물을 복수의 절단선에 따라 절단하는 절단 기구와, 피절단물을 반송하는 반송 기구와, 절단용 치구와 절단 기구를 상대적으로 이동시키는 이동 기구를 구비하고, 피절단물을 복수의 절단선에 따라 절단함에 의해 복수의 제품을 제조할 때에 사용되는 절단 장치로서, 복수의 제1의 마크 및 복수의 제2의 마크를 촬상하는 촬상 수단과, 반송 기구에 의해 절단용 치구의 위에 재치된 피절단물과 절단용 치구를 위치맞춤하는 제어 수단을 구비하고, 촬상 수단에 의해 취득된 화상 데이터에 의거하여 측정되어 미리 기억된 특정한 제1의 마크의 위치 정보로 이루어지는 제1의 위치 정보와, 촬상 수단에 의해 측정된 특정한 제2의 마크의 위치 정보로 이루어지는 제2의 위치 정보를 제어 수단이 비교함에 의해, 절단용 치구와 피절단물 사이의 위치 어긋남을 나타내는 어긋남량을 산출하고, 반송 기구가 절단용 치구로부터 피절단물을 들어올리고, 어긋남량에 의거하여 반송 기구와 절단용 치구를 상대적으로 이동시킴에 의해 피절단물을 어긋남량에 대응하는 목표 위치로 이동시킨 후에, 반송 기구가 절단용 치구에 피절단물을 재차 재치하고, 피절단물이 목표 위치로 이동함에 의해 복수의 절단홈의 위치와 복수의 절단선의 위치가 위치맞춤되고, 재차 재치된 피절단물을 절단 기구가 복수의 절단선에 따라 절단하는 것을 특징으로 한다.In order to solve the above problems, the cutting device according to the present invention includes a plurality of first marks and a cutting jig having a plurality of cutting grooves, and a blood having a plurality of second marks placed on the cutting jig. A cutting mechanism for cutting the cut along a plurality of cutting lines, a transport mechanism for transporting the cut object, and a moving mechanism for relatively moving the jig for cutting and the cutting mechanism, and cutting the cut object by a plurality of cutting lines A cutting device used when manufacturing a plurality of products by cutting in accordance with, the imaging means for imaging a plurality of first marks and a plurality of second marks, and blood placed on the jig for cutting by a transport mechanism A first position comprising control means for positioning the cutting object and the jig for cutting, and consisting of position information of a specific first mark measured and stored in advance based on the image data acquired by the imaging means. By comparing the second positional information consisting of the positional information of the specific second mark measured by the imaging means with the control means, the amount of misalignment indicating the positional misalignment between the jig for cutting and the object to be cut is calculated. , After the conveying mechanism lifts the object to be cut from the jig for cutting, and moves the object to be moved to a target position corresponding to the amount of displacement by moving the conveying mechanism and the jig for cutting relative to the amount of misalignment. The position of the plurality of cutting grooves and the positions of the plurality of cutting lines are repositioned by the mechanism again placing the object to be cut on the jig for cutting, and the object to be moved to the target position, thereby cutting the placed object to be cut again. It is characterized by cutting along a plurality of cutting lines.

본 발명에 관한 절단 장치는, 상술한 절단 장치에서, 절단 기구에 포함되는 절단에 기여하는 수단의 적어도 일부분이, 또는, 절단 기구로부터 공급되는 절단에 기여하는 수단의 적어도 일부분이, 복수의 절단선 중 절단되어 있는 절단선에 대응하는 절단홈을 통과하는 것을 특징으로 한다.In the cutting device according to the present invention, in the above-described cutting device, at least a portion of the means contributing to cutting included in the cutting mechanism, or at least a portion of the means contributing to cutting supplied from the cutting mechanism, includes a plurality of cutting lines. It characterized in that it passes through the cutting groove corresponding to the cut line of the middle.

본 발명에 관한 절단 장치는, 상술한 절단 장치에서, 반송 기구와 절단용 치구를 상대적으로 이동시킴에 의해, X방향, Y방향, 및, θ방향 중 적어도 하나의 방향에 따라 목표 위치에 피절단물을 이동시킨 후에, 반송 기구가 절단용 치구에 피절단물을 재차 재치하는 것을 특징으로 한다.The cutting device according to the present invention is to be cut at a target position in at least one of the X direction, the Y direction, and the θ direction by relatively moving the conveying mechanism and the cutting jig in the above-described cutting device. After moving the water, the conveying mechanism is characterized by placing the object to be cut on the jig for cutting again.

본 발명에 관한 절단 장치는, 상술한 절단 장치에서, 특정한 제1의 마크는, 평면시(平面視)하여 제1의 방향 및 제1의 방향에 직교하는 제2의 방향에 따라 각각 적어도 2개 설정되고, 특정한 제2의 마크는, 평면시하여 제1의 방향 및 제1의 방향에 직교하는 제2의 방향에 따라 각각 적어도 2개 설정되는 것을 특징으로 한다.In the cutting device according to the present invention, in the above-described cutting device, at least two specific first marks are arranged in plan view along a first direction and a second direction orthogonal to the first direction. It is characterized in that at least two of the specific second marks are set according to the first direction and the second direction orthogonal to the first direction in plan view.

본 발명에 관한 절단 장치는, 상술한 절단 장치에서, 피절단물은 밀봉완료 기판 또는 분할된 밀봉완료 기판인 것을 특징으로 한다.The cutting device according to the present invention is characterized in that in the above-described cutting device, the object to be cut is a sealed substrate or a divided sealed substrate.

본 발명에 관한 절단 장치는, 상술한 절단 장치에서, 피절단물은, 복수의 제품에 각각 대응하는 복수의 영역에서 기능 소자가 만들어진 기판인 것을 특징으로 한다.The cutting device according to the present invention is characterized in that, in the cutting device described above, the object to be cut is a substrate on which functional elements are made in a plurality of regions respectively corresponding to a plurality of products.

상기한 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 관한 절단 방법은, 복수의 절단홈과 복수의 제1의 마크를 갖는 절단용 치구를 준비하는 공정과, 복수의 절단선과 복수의 제2의 마크를 갖는 피절단물을 준비하는 공정과, 반송 기구에 의해 절단용 치구의 위에 피절단물을 재치하는 공정과, 절단용 치구와 절단 기구를 상대적으로 이동시킴에 의해 절단 기구를 사용하여 복수의 절단선에 따라 피절단물을 절단하는 공정을 구비한 절단 방법으로서, 촬상 수단에 의해 복수의 제1의 마크 중 특정한 제1의 마크를 촬상하여 제1의 화상 데이터를 취득하는 공정과, 제1의 화상 데이터에 의거하여 화상 처리함에 의해, 특정한 제1의 마크의 위치 정보로 이루어지는 제1의 위치 정보를 취득하는 공정과, 촬상 수단에 의해 복수의 제2의 마크 중 특정한 제2의 마크를 촬상하여 제2의 화상 데이터를 취득하는 공정과, 제2의 화상 데이터에 의거하여 화상 처리함에 의해, 특정한 제2의 마크의 위치 정보로 이루어지는 제2의 위치 정보를 취득하는 공정과, 제1의 위치 정보와 제2의 위치 정보를 비교함에 의해, 절단용 치구와 피절단물 사이의 위치 어긋남을 나타내는 어긋남량을 산출하는 공정과, 반송 기구가 절단용 치구로부터 피절단물을 들어올리는 공정과, 어긋남량에 의거하여 반송 기구와 절단용 치구를 상대적으로 이동시킴에 의해 어긋남량에 대응하는 목표 위치에 피절단물을 이동시키는 공정과, 반송 기구가 절단용 치구에 피절단물을 재차 재치하는 공정을 구비하고, 이동시키는 공정에서는, 피절단물을 목표 위치로 이동시킴에 의해 복수의 절단홈의 위치와 복수의 절단선의 위치를 위치맞춤하고, 절단하는 공정에서는 재차 재치된 피절단물을 절단하는 것을 특징으로 한다.In order to solve the above problems, the cutting method according to the present invention includes a step of preparing a jig for cutting having a plurality of cutting grooves and a plurality of first marks, and a plurality of cutting lines and a plurality of second marks. The process of preparing an object to be cut, the process of placing the object to be cut on the jig for cutting by the conveying mechanism, and the cutting tool and the cutting device are moved relatively so that a plurality of cutting lines can be used. A cutting method comprising a step of cutting an object to be cut accordingly, comprising: capturing a specific first mark among a plurality of first marks by means of imaging means to obtain first image data; and first image data The process of acquiring the first positional information consisting of the positional information of the specific first mark by image processing based on the image processing, and imaging the specific second mark among the plurality of second marks by the imaging means The process of acquiring the 2nd image data, and the process of acquiring the 2nd position information which consists of specific 2nd mark position information by image processing based on 2nd image data, and the 1st position information By comparing the 2nd position information, the process of calculating the amount of shift which shows the position shift between a cutting jig and a to-be-cut object, the process by which a conveyance mechanism lifts a to-be-cut object from a cutting jig, and the amount of shift A process of moving the object to be moved to a target position corresponding to the amount of displacement by relatively moving the conveying mechanism and the jig for cutting, and a step of transferring the object to the jig for cutting again by the conveying mechanism. In the step of moving, in the step of aligning the positions of the plurality of cutting grooves and the positions of the plurality of cutting lines by moving the object to be moved to the target position, And a car mounted the blood characterized in that the cutting water cutting.

본 발명에 관한 절단 방법은, 상술한 절단 방법에서, 절단하는 공정에서는, 절단 기구에 포함되는 절단에 기여하는 수단의 적어도 일부분을, 또는, 절단 기구로부터 공급되는 절단에 기여하는 수단의 적어도 일부분을, 복수의 절단선 중 절단되어 있는 절단선에 대응하는 절단홈에 통과시키는 것을 특징으로 한다.In the cutting method according to the present invention, in the cutting method described above, in the cutting step, at least a portion of the means contributing to cutting included in the cutting mechanism, or at least a portion of the means contributing to cutting supplied from the cutting mechanism is used. , Passing through the cutting groove corresponding to the cut line among the plurality of cutting lines.

본 발명에 관한 절단 방법은, 상술한 절단 방법에서, 피절단물을 이동시키는 공정에서는, 반송 기구와 절단용 치구를 상대적으로 이동시킴에 의해, X방향, Y방향, 및, θ방향 중 적어도 하나의 방향에 따라 목표 위치에 피절단물을 이동시키는 것을 특징으로 한다.In the cutting method according to the present invention, in the above-described cutting method, in the step of moving the object to be cut, at least one of the X direction, the Y direction, and the θ direction is caused by relatively moving the conveying mechanism and the jig for cutting. Characterized in that the moving object to the target position according to the direction of the.

본 발명에 관한 절단 방법은, 상술한 절단 방법에서, 평면시하여 제1의 방향 및 제1의 방향에 직교하는 제2의 방향에 따라, 복수의 제1의 마크 중 각각 적어도 2개로 이루어지는 특정한 제1의 마크를 설정하는 공정과, 평면시하여 제1의 방향 및 제1의 방향에 직교하는 제2의 방향에 따라, 복수의 제2의 마크 중 각각 적어도 2개로 이루어지는 특정한 제2의 마크를 설정하는 공정을 구비하는 것을 특징으로 한다.The cutting method according to the present invention is a specific product comprising at least two of the plurality of first marks according to the first direction and the second direction orthogonal to the first direction in plan view in the above-described cutting method. A specific second mark consisting of at least two of the plurality of second marks is set according to a process of setting a mark of 1 and a second direction perpendicular to the first direction and the first direction in plan view It is characterized in that it comprises a process.

본 발명에 관한 절단 방법은, 상술한 절단 방법에서, 피절단물은 밀봉완료 기판 또는 분할된 밀봉완료 기판인 것을 특징으로 한다.The cutting method according to the present invention is characterized in that in the above-described cutting method, the object to be cut is a sealed substrate or a divided sealed substrate.

본 발명에 관한 절단 방법은, 상술한 절단 방법에서, 피절단물은, 복수의 제품에 각각 대응하는 복수의 영역에서 기능 소자가 만들어진 기판인 것을 특징으로 한다.The cutting method according to the present invention is characterized in that, in the cutting method described above, the object to be cut is a substrate on which functional elements are made in a plurality of regions respectively corresponding to a plurality of products.

본 발명에 의하면, 절단 장치에서, 복수의 제1의 마크와 복수의 절단홈을 갖는 절단용 치구와, 절단용 치구의 위에 재치되어 복수의 제2의 마크를 갖는 피절단물을 복수의 절단선에 따라 절단하는 절단 기구와, 피절단물을 반송하는 반송 기구와, 절단용 치구와 절단 기구를 상대적으로 이동시키는 이동 기구와, 복수의 제1의 마크 및 복수의 제2의 마크를 촬상하는 촬상 수단과, 피절단물과 절단용 치구를 위치맞춤하는 제어 수단을 구비한다. 촬상 수단에 의해 측정되어 미리 기억된 제1의 위치 정보와 촬상 수단에 의해 측정된 제2의 위치 정보를 비교함에 의해, 절단용 치구와 피절단물 사이의 어긋남량을 산출한다. 어긋남량에 의거하여 반송 기구와 절단용 치구를 상대적으로 이동시킴에 의해 피절단물을 목표 위치로 이동시킨다. 이에 의해, 절단 기구에 마련된 회전날이 절단용 치구의 절단홈의 위치로부터 어긋나는 일 없이, 피절단물을 절단선에 따라 정확하게 절단할 수 있다.According to the present invention, in a cutting device, a plurality of first cutting marks having a plurality of first marks and a plurality of cutting grooves, and a plurality of cutting lines placed on the cutting jigs to be cut with a plurality of second marks The image picks up the cutting mechanism which cuts along, the conveying mechanism which conveys a to-be-cut object, the moving mechanism which relatively moves a jig for cutting and a cutting mechanism, and a some 1st mark and some 2nd mark. It is equipped with a means and a control means for positioning the object to be cut and the jig for cutting. By comparing the first position information measured by the imaging means and stored in advance with the second position information measured by the imaging means, the amount of displacement between the cutting jig and the object to be cut is calculated. The object to be moved is moved to the target position by moving the conveying mechanism and the cutting jig relatively based on the amount of displacement. Thereby, the to-be-cut object can be accurately cut along a cutting line, without the rotation blade provided in the cutting mechanism being displaced from the position of the cutting groove of the cutting jig.

도 1A는 본 발명에 관한 절단 장치의 실시례 1에서 사용되는 밀봉완료 기판을 도시하는 개관도(槪觀圖)로서, 기판측에서 본 평면도.
도 1B는 본 발명에 관한 절단 장치의 실시례 1에서 사용되는 밀봉완료 기판을 도시하는 개관도로서, 기판측에서 본 정면도.
도 2A는 도 1A, 도 1B에 도시된 밀봉완료 기판에 대응하는 절단용 치구를 도시하는 개관도로서, 평면도.
도 2B는 도 1A, 도 1B에 도시된 밀봉완료 기판에 대응하는 절단용 치구를 도시하는 개관도로서, A-A선으로 본 개략 단면도.
도 3A는 본 발명에 관한 절단 장치의 실시례 2에서, 절단용 치구를 도시하는 개관도로서, 평면도.
도 3B는 본 발명에 관한 절단 장치의 실시례 2에서, 절단용 치구를 도시하는 개관도로서, B-B선으로 본 개략 단면도.
도 4는 본 발명에 관한 절단 장치의 실시례 3에서, 절단 장치의 개요를 도시하는 평면도.
도 5A는 절단용 치구에 마련된 제1의 마크를 사용하여 밀봉완료 기판을 절단용 테이블에 재치하는 과정을 도시하는 개략 단면도.
도 5B는 절단용 치구에 마련된 제1의 마크를 사용하여 밀봉완료 기판을 절단용 테이블에 재치하는 과정을 도시하는 개략 단면도.
도 5C는 절단용 치구에 마련된 제1의 마크를 사용하여 밀봉완료 기판을 절단용 테이블에 재치하는 과정을 도시하는 개략 단면도.
도 5D는 절단용 치구에 마련된 제1의 마크를 사용하여 밀봉완료 기판을 절단용 테이블에 재치하는 과정을 도시하는 개략 단면도.
도 5E는 절단용 치구에 마련된 제1의 마크를 사용하여 밀봉완료 기판을 절단용 테이블에 재치하는 과정을 도시하는 개략 단면도.
도 6A는 절단용 테이블에 어긋난 상태로 재치된 밀봉완료 기판을, 어긋남량을 보정하여 정상적인 위치에 재치한 상태를 도시하는 개관도로서, 밀봉완료 기판이 어긋난 상태를 도시하는 평면도.
도 6B는 절단용 테이블에 어긋난 상태로 재치된 밀봉완료 기판을, 어긋남량을 보정하여 정상적인 위치에 재치한 상태를 도시하는 개관도로서, 정상적인 위치에 재치된 상태를 도시하는 평면도.
도 7A는 본 발명에 관한 절단 장치의 실시례 4에서 사용되는 대형의 밀봉완료 기판을 도시하는 개관도로서, 기판측에서 본 평면도.
도 7B는 본 발명에 관한 절단 장치의 실시례 4에서 사용되는 대형의 밀봉완료 기판을 도시하는 개관도로서, 대형의 밀봉완료 기판을 4분할한 상태를 도시하는 평면도.
도 8은 분할된 밀봉완료 기판을 절단용 테이블에 재치한 분할완료 기판의 상태를 도시하는 평면도.
1A is an overview view showing a sealed substrate used in Example 1 of a cutting device according to the present invention, and is a plan view seen from the substrate side.
1B is an overview view showing a sealed substrate used in Example 1 of a cutting device according to the present invention, and is a front view when viewed from the substrate side.
2A is an overview view showing a jig for cutting corresponding to the sealed substrate shown in FIGS. 1A and 1B, and is a plan view.
2B is an overview view showing a jig for cutting corresponding to the sealed substrate shown in FIGS. 1A and 1B, and is a schematic cross-sectional view taken along line AA.
3A is an overview view showing a jig for cutting in Example 2 of a cutting device according to the present invention, and is a plan view.
3B is an outline view showing a jig for cutting in Example 2 of a cutting device according to the present invention, and is a schematic cross-sectional view taken along line BB.
4 is a plan view showing an outline of a cutting device in Example 3 of the cutting device according to the present invention.
5A is a schematic cross-sectional view showing a process of placing a sealed substrate on a cutting table using a first mark provided on a cutting jig.
5B is a schematic cross-sectional view showing a process of placing a sealed substrate on a cutting table using a first mark provided on a cutting jig.
5C is a schematic cross-sectional view showing a process of placing a sealed substrate on a cutting table using a first mark provided on a cutting jig.
Fig. 5D is a schematic cross-sectional view showing a process of placing a sealed substrate on a cutting table using a first mark provided on a cutting jig.
Fig. 5E is a schematic cross-sectional view showing a process of placing a sealed substrate on a cutting table using a first mark provided on a cutting jig.
Fig. 6A is an overview view showing a state in which the sealed substrate mounted on the cutting table is placed in a normal position by correcting the amount of displacement, and is a plan view showing a state in which the sealed substrate is displaced.
Fig. 6B is an overview view showing a state in which the sealed substrate mounted on the cutting table is placed in a normal position by correcting the amount of displacement, and is a plan view showing the state placed in a normal position.
7A is an overview view showing a large-sized sealed substrate used in Example 4 of the cutting device according to the present invention, and is a plan view seen from the substrate side.
7B is an overview view showing a large-sized sealed substrate used in Example 4 of the cutting device according to the present invention, and is a plan view showing a state in which a large-sized sealed substrate is divided into four.
8 is a plan view showing a state of a divided substrate on which a divided sealed substrate is placed on a cutting table.

도 2A, 도 2B에 도시되는 바와 같이, 절단 장치에서, 절단용 테이블(8)에 제품에 대응한 절단용 치구(9)를 부착한다. 절단용 치구(9)의 수지 시트(11)에, 복수의 위치맞춤 마크로 이루어지는 제1의 마크(17A, 17B, …)(이하 적절히 제1의 마크(17)라고 총칭한다. 다른 구성 요소에 대해서도 같다.)를 마련한다. 제1의 마크(17A, 17B, …)는, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 복수의 위치맞춤 마크로 이루어지는 제2의 마크(4A, 4B, …)에 대응하여 마련된다. 절단용 테이블(8)에서, 수지 시트(11)에 형성된 제1의 마크(17)의 좌표 위치를 측정하여 기준의 좌표 위치로서 미리 기억하여 둔다. 이 기준의 좌표 위치와 절단용 테이블(8)에 재치되어 측정된 밀봉완료 기판(1)의 제2의 마크(4)의 좌표 위치를 비교함에 의해, 밀봉완료 기판(1)의 어긋남량을 산출한다. 이 어긋남량을 보정함에 의해, 절단용 치구(9)의 제1의 마크(17)의 위치에 밀봉완료 기판(1)의 제2의 마크(4)의 위치를 정확하게 맞출 수 있다. 따라서 절단용 치구(9)에 마련된 복수의 절단홈의 위치에, 밀봉완료 기판(1)에 설정된 복수의 절단선의 위치를 정확하게 맞출 수 있다. 이에 의해, 절단 기구에 마련된 회전날이 절단용 치구(9)의 절단홈의 위치로부터 어긋나는 일 없이, 밀봉완료 기판(1)을 절단선에 따라 정확하게 절단할 수 있다.2A and 2B, in the cutting device, the cutting jig 9 corresponding to the product is attached to the cutting table 8. To the resin sheet 11 of the cutting jig 9, the first marks 17A, 17B, ... made of a plurality of alignment marks (hereinafter, referred to as the first marks 17 as appropriate, are also collectively referred to as other components). Same.) The first marks 17A, 17B, ... are provided in correspondence with the second marks 4A, 4B, ... made of a plurality of alignment marks formed on the sealed substrate 1. In the cutting table 8, the coordinate position of the first mark 17 formed on the resin sheet 11 is measured and stored in advance as a reference coordinate position. By comparing the coordinate position of the reference and the coordinate position of the second mark 4 of the sealed substrate 1 measured on the cutting table 8, the displacement amount of the sealed substrate 1 is calculated. do. By correcting this amount of displacement, the position of the second mark 4 of the sealed substrate 1 can be precisely aligned with the position of the first mark 17 of the cutting jig 9. Therefore, the positions of the plurality of cutting lines set in the sealed substrate 1 can be precisely matched to the positions of the plurality of cutting grooves provided in the cutting jig 9. Thereby, the sealing-completed board | substrate 1 can be accurately cut along a cutting line, without the rotation blade provided in the cutting mechanism shifting from the position of the cutting groove of the cutting jig 9.

실시례 1Example 1

본 발명에 관한 절단 장치의 실시례 1에 관해, 도 1A, 도 1B, 도 2A, 도 2B를 참조하여 설명한다. 본 출원 서류에서의 어느 도면에 관해서도, 알기 쉽게 하기 위해, 적절히 생략하여 또는 과장하여 모식적으로 그려져 있다. 동일한 구성 요소에 관해서는, 동일한 부호를 붙여서 설명을 적절히 생략한다.The first embodiment of the cutting device according to the present invention will be described with reference to Figs. 1A, 1B, 2A, and 2B. Any drawings in the present application document are schematically drawn by omission or exaggeration as appropriate for the sake of clarity. About the same component, the same code | symbol is attached | subjected and description is abbreviate | omitted suitably.

도 1A, 도 1B에 도시되는 바와 같이, 밀봉완료 기판(1)은, 프린트 기판이나 리드 프레임 등으로 이루어지는 기판(2)과, 기판(2)이 갖는 복수의 영역(후술)에 장착된 복수의 칩형상 부품(도시 없음)과, 복수의 영역이 일괄하여 덮이도록 하여 형성된 밀봉 수지(3)를 갖는다. 밀봉완료 기판(1)은, 최종적으로 절단되어 개편화되는 피절단물이다.1A and 1B, the sealed substrate 1 includes a plurality of substrates 2 made of a printed substrate, a lead frame, or the like, and a plurality of regions (described later) included in the substrate 2. It has a chip-shaped component (not shown) and a sealing resin 3 formed so that a plurality of areas are collectively covered. The sealed substrate 1 is an object to be cut which is finally cut into pieces.

도 1A에 도시되는 바와 같이, 밀봉완료 기판(1)에는, 기판(2)의 긴변방향 및 짧은변방향에 따라 다수의 제2의 마크(4A, 4B, …)(도면에서 +로 나타나는 마크)가 형성된다. 제2의 마크(4)는, 제품의 사이즈나 수에 의해 임의로 설정된다. 얼라인먼트용의 카메라(도시 없음)에 의해 제2의 마크(4)가 촬상되고, 화상 인식에 의해 좌표 위치가 측정된다. 좌표 위치를 측정함에 의해, 밀봉완료 기판(1)의 위치맞춤이 행하여진다. 위치맞춤에는, 밀봉완료 기판(1)의 4모퉁이(隅)에 형성된 제2의 마크(4)가 통상 사용된다. 도 1A에서는, 밀봉완료 기판(1)의 4모퉁이에 형성된 8개의 제2의 마크(4)를, 밀봉완료 기판(1)의 좌상(左上)을 기점으로 하여 반시계방향으로 각각 4A, 4B, …, 4G, 4H라고 한다.As shown in Fig. 1A, the sealed substrate 1 has a plurality of second marks 4A, 4B, ... along the long and short sides of the substrate 2 (marks indicated by + in the figure) Is formed. The second mark 4 is arbitrarily set by the size and number of products. The second mark 4 is picked up by an alignment camera (not shown), and the coordinate position is measured by image recognition. By measuring the coordinate position, the alignment of the sealed substrate 1 is performed. For alignment, a second mark 4 formed on four corners of the sealed substrate 1 is usually used. In Fig. 1A, eight second marks 4 formed on four corners of the sealed substrate 1, 4A, 4B, respectively, in the counterclockwise direction, starting from the upper left of the sealed substrate 1, respectively, … , 4G, 4H.

밀봉완료 기판(1)의 긴변방향 및 짧은변방향으로 각각 대향하여 형성된 제2의 마크(4)를 연결하도록 하여, 짧은변방향에 따른 복수의 제1의 절단선(5)과 긴변방향에 따른 복수의 제2의 절단선(6)이 각각 가상적으로 설정된다. 복수의 제1의 절단선(5)과 복수의 제2의 절단선(6)에 의해 둘러싸여진 복수의 영역(7)이, 개편화됨에 의해 각각 제조되는 제품에 대응한다. 도 1A에서는, 예를 들면, 짧은변방향으로 7개의 제1의 절단선(5)이 설정되고, 긴변방향으로 4개의 제2의 절단선(6)이 설정된다. 따라서 짧은변방향으로는 3개 및 긴변방향으로는 6개의 영역(7)이 형성되어, 합계로 18개의 영역(7)이 격자형상으로 형성된다. 밀봉완료 기판(1)에 형성된 영역(7)은, 개편화된 제품의 사이즈나 수에 의해 임의로 설정된다.By connecting the second marks 4 formed opposite to the long side direction and the short side direction of the sealed substrate 1 respectively, a plurality of first cutting lines 5 along the short side direction and along the long side direction The plurality of second cutting lines 6 are virtually set, respectively. The plurality of regions 7 surrounded by the plurality of first cutting lines 5 and the plurality of second cutting lines 6 correspond to products manufactured by reorganization. In Fig. 1A, for example, seven first cutting lines 5 are set in the short side direction, and four second cutting lines 6 are set in the long side direction. Therefore, three regions in the short side direction and six regions 7 in the long side direction are formed, and a total of 18 regions 7 are formed in a lattice shape. The region 7 formed on the sealed substrate 1 is arbitrarily set by the size and number of individualized products.

도 2A, 도 2B에 도시되는 바와 같이, 절단용 테이블(8)은, 절단 장치에서 밀봉완료 기판(1)을 절단하여 개편화하기 위한 테이블이다. 절단용 테이블(8)에는, 제품에 대응한 절단용 치구(9)가 부착된다. 절단용 치구(9)는, 금속 플레이트(10)와 금속 플레이트의 위에 고정된 수지 시트(11)를 구비한다. 수지 시트(11)에는, 기계적인 충격을 완화하기 위해 적당한 유연성이 필요하다. 수지 시트(11)는, 예를 들면, 실리콘계 수지나 불소계 수지 등에 의해 형성되는 것이 바람직하다. 절단용 테이블(8)은, 복수의 제품에 대해 공통화되고, 절단용 치구(9)만이 제품에 대응하여 교환된다.2A and 2B, the cutting table 8 is a table for cutting and separating the sealed substrate 1 in a cutting device. A cutting jig 9 corresponding to the product is attached to the cutting table 8. The cutting jig 9 includes a metal plate 10 and a resin sheet 11 fixed on the metal plate. The resin sheet 11 needs moderate flexibility to alleviate mechanical impact. The resin sheet 11 is preferably formed of, for example, silicone-based resin, fluorine-based resin, or the like. The cutting table 8 is common to a plurality of products, and only the cutting jig 9 is exchanged corresponding to the product.

절단용 치구(9)의 수지 시트(11)에는, 밀봉완료 기판(1)에서의 복수의 영역(7)을 각각 흡착하여 유지하는 복수의 대지형상(臺地狀)의 돌기부(12)가 마련된다. 절단용 치구(9)에는, 복수의 돌기부(12)의 표면부터 수지 시트(11)와 금속 플레이트(10)를 관통하는 복수의 흡착구멍(13)이 각각 마련된다. 복수의 흡착구멍(13)은, 절단용 테이블(8)에 마련된 공간(14)에 각각 연결된다. 공간(14)은 외부에 마련되는 흡인 기구(도시 없음)에 접속된다.The resin sheet 11 of the cutting jig 9 is provided with a plurality of earth-like projections 12 that adsorb and hold a plurality of regions 7 on the sealed substrate 1, respectively. do. The cutting jig 9 is provided with a plurality of adsorption holes 13 penetrating the resin sheet 11 and the metal plate 10 from the surfaces of the plurality of protrusions 12, respectively. The plurality of suction holes 13 are respectively connected to the space 14 provided in the cutting table 8. The space 14 is connected to a suction mechanism (not shown) provided outside.

도 1A, 도 1B에 도시한 밀봉완료 기판(1)의 복수의 영역(7)을 구획하는 복수의 제1의 절단선(5) 및 복수의 제2의 절단선(6)에 대응하도록, 돌기부(12)끼리의 사이에는 복수의 제1의 절단홈(15) 및 복수의 제2의 절단홈(16)이 각각 마련된다. 복수의 제1의 절단홈(15)은 수지 시트(11)(절단용 치구(9))의 짧은변방향에 따라, 복수의 제2의 절단홈(16)은 수지 시트(11)(절단용 치구(9))의 긴변방향에 따라, 각각 형성된다. 밀봉완료 기판(1)의 가장 끝(端)에 설정된 제1의 절단선(5) 및 제2의 절단선(6)에 대해서는, 수지 시트(11)의 최외주에 형성된 돌기부(12)의 외측의 공간이 절단홈과 같은 역할을 갖는다. 복수의 제1의 절단홈(15) 및 복수의 제2의 절단홈(16)의 깊이(돌기부(12)의 상면(上面)부터 홈의 내저면까지의 거리)는, 0.5㎜∼1.0㎜ 정도로 설정된다.Protrusions corresponding to a plurality of first cutting lines 5 and a plurality of second cutting lines 6 that partition the plurality of regions 7 of the sealed substrate 1 shown in FIGS. 1A and 1B. (12) A plurality of first cutting grooves 15 and a plurality of second cutting grooves 16 are respectively provided between each other. The plurality of first cutting grooves 15 is along the short side direction of the resin sheet 11 (cutting tool 9), and the plurality of second cutting grooves 16 is the resin sheet 11 (for cutting According to the long side direction of the jig 9), each is formed. About the first cutting line 5 and the second cutting line 6 set at the outermost end of the sealed substrate 1, the outer side of the projection 12 formed on the outermost circumference of the resin sheet 11 The space of has the same role as the cutting groove. The depth of the plurality of first cutting grooves 15 and the plurality of second cutting grooves 16 (distance from the upper surface of the projection 12 to the inner bottom surface of the groove) is about 0.5 mm to 1.0 mm. Is set.

또한, 실시례 1에서는, 밀봉완료 기판(1)의 가장 끝에 설정된 제1의 절단선(5) 및 제2의 절단선(6)에 대응하는 절단홈을, 절단용 치구(9)에 형성하지 않는다. 이것으로 한하지 않고, 가장 끝에 설정된 제1의 절단선(5) 및 제2의 절단선(6)에 대응하는 절단홈을 절단용 치구(9)에 형성할 수도 있다. 이 경우에는, 돌기부(12)의 외주를 둘러싸도록 하여, 또한 더미의 돌기부가 마련된다.Further, in Example 1, cutting grooves corresponding to the first cutting line 5 and the second cutting line 6 set at the extreme ends of the sealed substrate 1 are not formed in the cutting jig 9. Does not. Without being limited to this, the cutting grooves corresponding to the first cutting line 5 and the second cutting line 6 set at the extreme ends may be formed in the cutting jig 9. In this case, the outer periphery of the projections 12 is enclosed, and a dummy projection is provided.

도 2A에 도시되는 바와 같이, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 제2의 마크(4)(도 1A 참조)의 위치에 대응하여, 긴변방향 및 짧은변방향에 따라 복수의 제1의 마크(17A, 17B, …)(도면에서 +로 나타나는 마크)가, 수지 시트(11)에 형성된다. 예를 들면, 밀봉완료 기판(1)의 4모퉁이에 마련된 제2의 마크(4A, 4B, …, 4G, 4H)의 좌표 위치에 대응하여, 수지 시트(11)의 4모퉁이에 제1의 마크(17A, 17B, …, 17G, 17H)가 형성된다. 또한, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 제2의 마크(4)에 대응하여, 필요한 수의 제1의 마크(17)가 긴변방향 및 짧은변방향에 따라 형성된다. 예를 들면, 도 2A에서는, 또한 긴변방향에 따라 2개의 제1의 마크(17)가 형성된다. 긴변방향에 따라 형성된 제1의 마크(17A와 17H)의 사이에 2개, 제1의 마크(17D와 17E)의 사이에 2개의 제1의 마크(17)가 각각 형성된다.As shown in Fig. 2A, in correspondence with the position of the second mark 4 (see Fig. 1A) formed on the sealed substrate 1, a plurality of first marks 17A along the long and short sides , 17B, ...) (marks indicated by + in the drawing) are formed on the resin sheet 11. For example, corresponding to the coordinate positions of the second marks 4A, 4B, ..., 4G, 4H provided on the four corners of the sealed substrate 1, the first marks on the four corners of the resin sheet 11 (17A, 17B, ..., 17G, 17H) are formed. Further, corresponding to the second mark 4 formed on the sealed substrate 1, the required number of first marks 17 are formed along the long side direction and the short side direction. For example, in Fig. 2A, two first marks 17 are also formed along the long side. Two first marks 17 are formed between the first marks 17A and 17H formed along the long side direction, and two first marks 17 are formed between the first marks 17D and 17E.

도 1A, 도 1B, 도 2A, 도 2B를 참조하여, 밀봉완료 기판(1)을 절단용 치구(9)의 위에 재치하여 위치맞춤하는 동작에 관해 설명한다. 절단용 테이블(8)에서, 절단용 치구(9)는 절단용 테이블(8)에 부착되고, 밀봉완료 기판(1)은 절단용 치구(9)의 위에 재치된다. 따라서 절단용 치구(9)의 수지 시트(11)에 형성된 제1의 마크(17)의 위치 정보, 및, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 제2의 마크(4)의 위치 정보를, 절단용 테이블(8)에서의 위치 정보(좌표 위치)로서 측정할 수 있다.1A, 1B, 2A, and 2B, the operation of positioning the sealed substrate 1 on the jig 9 for cutting will be described. In the cutting table 8, the cutting jig 9 is attached to the cutting table 8, and the sealed substrate 1 is placed on the cutting jig 9. Accordingly, the positional information of the first mark 17 formed on the resin sheet 11 of the cutting jig 9 and the positional information of the second mark 4 formed on the sealed substrate 1 are for cutting. It can measure as position information (coordinate position) in the table 8.

우선, 밀봉완료 기판(1)을 절단용 치구(9)에 재치하지 않은 상태에서, 수지 시트(11)에 형성된 제1의 마크(17)를 얼라인먼트용의 카메라(도시 없음)에 의해 촬상하여 화상 데이터를 취득한다. 화상 데이터에 의거하여 화상 인식함에 의해, 제1의 마크(17)의 좌표 위치를 측정한다. 측정된 제1의 마크(17)의 좌표 위치를 절단용 테이블(8)에서의 기준의 좌표 위치로서 미리 기억하여 둔다. 예를 들면, 수지 시트(11)의 4모퉁이에 형성된 8개의 제1의 마크(17A, 17B, …, 17G, 17H)의 좌표 위치를 미리 기억하여 둔다.First, the image of the first mark 17 formed on the resin sheet 11 is imaged by an alignment camera (not shown) while the sealed substrate 1 is not placed on the cutting jig 9. Acquire data. The coordinate position of the first mark 17 is measured by image recognition based on image data. The measured coordinate position of the first mark 17 is stored in advance as a reference coordinate position in the cutting table 8. For example, the coordinate positions of eight first marks 17A, 17B, ..., 17G, 17H formed on four corners of the resin sheet 11 are stored in advance.

다음에, 반송 기구(도시 없음)를 사용하여, 절단용 치구(9)에 밀봉완료 기판(1)을 재치한다. 절단용 치구(9)에 밀봉완료 기판(1)이 재치된 상태에서, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 제2의 마크(4)를 촬상하여 화상 데이터를 취득한다. 화상 데이터에 의거하여 화상 인식함에 의해, 제2의 마크(4)의 좌표 위치를 측정한다. 예를 들면, 4모퉁이에 형성된 8개의 제2의 마크(4A, 4B, …, 4G, 4H)의 좌표 위치를 측정한다. 이들의 측정된 제2의 마크(4)의 좌표 위치와 미리 기억하여 둔 제1의 마크(17)의 좌표 위치를 비교한다. 이에 의해, 밀봉완료 기판(1)의 X방향, Y방향, 및, θ방향의 어긋남량을 산출할 수 있다.Next, the sealed substrate 1 is placed on the jig 9 for cutting using a transport mechanism (not shown). In a state where the sealed substrate 1 is placed on the cutting jig 9, the second mark 4 formed on the sealed substrate 1 is imaged to obtain image data. Coordinate position of the second mark 4 is measured by image recognition based on the image data. For example, coordinate positions of eight second marks 4A, 4B, ..., 4G, 4H formed on four corners are measured. The measured coordinate position of the second mark 4 is compared with the coordinate position of the first mark 17 memorized in advance. Thereby, the amount of displacement in the X direction, the Y direction, and the θ direction of the sealed substrate 1 can be calculated.

다음에, 산출된 어긋남량에 의거하여 이들의 어긋남량을 보정한다. 구체적으로는, 우선, 반송 기구를(도시 없음) 사용하여 절단용 치구(9)로부터 밀봉완료 기판(1)을 들어올려서, 반송 기구에 밀봉완료 기판(1)을 유지한다. 다음에, 절단용 치구(9)에 밀봉완료 기판(1)이 재치되어 있지 않고 반송 기구에 밀봉완료 기판(1)이 유지되어 있는 상태에서, X방향, Y방향, 및, θ방향 중 적어도 하나의 방향에 따라, 어긋남량에 의거한 적정한 양만큼 반송 기구를 이동시킨다. 이동시킴에 의해, 어긋남량에 대응하는 목표 위치에 피절단물을 이동시킨다. 목표 위치는, 어긋남량이 제로인 위치 또는 이동하기 전의 위치에 비하여 어긋남량이 감소하여 제로에 가까운 값이 되는 위치이다. 다음에, 반송 기구를 사용하여 절단용 치구(9)에 밀봉완료 기판(1)을 재차 재치한다.Next, these shift amounts are corrected based on the calculated shift amount. Specifically, first, the sealed substrate 1 is lifted from the jig 9 for cutting using a conveying mechanism (not shown), and the sealed substrate 1 is held in the conveying mechanism. Next, at least one of the X-direction, the Y-direction, and the θ-direction in a state where the sealed substrate 1 is not placed on the jig 9 for cutting and the sealed substrate 1 is held on the transport mechanism. According to the direction of the, the conveying mechanism is moved by an appropriate amount based on the amount of displacement. By moving, the object to be cut is moved to a target position corresponding to the amount of displacement. The target position is a position where the amount of shift decreases to a value close to zero compared to a position where the amount of shift is zero or a position before moving. Next, the sealed substrate 1 is placed on the jig 9 for cutting again using the transport mechanism.

여기까지의 공정에 의해, 절단용 치구(9)의 제1의 마크(17)의 위치에 밀봉완료 기판(1)의 제2의 마크(4)의 위치를 정확하게 맞출 수 있다. 상세히 말하면, 제1의 마크(17)와 제2의 마크(4)와의 사이의 위치 관계를 소정의 위치 관계로 정할 수 있다. 따라서 절단용 치구(9)에 마련된 복수의 제1의 절단홈(15) 및 복수의 제2의 절단홈(16)의 위치에, 밀봉완료 기판(1)에 설정된 복수의 제1의 절단선(5) 및 복수의 제2의 절단선(6)의 위치를 정확하게 맞출 수 있다. 이에 의해, 절단 기구에 마련된 회전날이 절단용 치구(9)의 절단홈의 위치로부터 어긋나는 일 없이, 밀봉완료 기판(1)을 절단선에 따라 정확하게 절단할 수 있다.By the steps up to this point, the position of the second mark 4 of the sealed substrate 1 can be precisely aligned with the position of the first mark 17 of the jig 9 for cutting. Specifically, the positional relationship between the first mark 17 and the second mark 4 can be determined as a predetermined positional relationship. Accordingly, at the positions of the plurality of first cutting grooves 15 and the plurality of second cutting grooves 16 provided in the cutting jig 9, the plurality of first cutting lines set in the sealed substrate 1 ( 5) and a plurality of second cutting lines 6 can be precisely positioned. Thereby, the sealing-completed board | substrate 1 can be accurately cut along a cutting line, without the rotation blade provided in the cutting mechanism shifting from the position of the cutting groove of the cutting jig 9.

반송 기구(도시 없음)와 절단용 치구(9)의 구성에 응하여, 반송 기구가 절단용 치구(9)로부터 밀봉완료 기판(1)을 들어올려서 반송 기구에 밀봉완료 기판(1)을 유지하는 상태에서, X방향, Y방향, 및, θ방향 중 적어도 하나의 방향에 따라, 어긋남량에 의거한 적정한 양만큼 절단용 치구(9)를 이동시켜도 좋다. 그 후에, 반송 기구를 사용하여 절단용 치구(9)에 밀봉완료 기판(1)을 재차 재치한다.In response to the configuration of the conveying mechanism (not shown) and the jig 9 for cutting, the conveying mechanism lifts the sealed substrate 1 from the jig 9 for cutting to hold the sealed substrate 1 in the conveying mechanism In, at least one of the X direction, the Y direction, and the θ direction, the jig 9 for cutting may be moved by an appropriate amount based on the amount of displacement. After that, the sealed substrate 1 is placed on the jig 9 for cutting again using a transport mechanism.

본질적으로는, 반송 기구가 절단용 치구(9)로부터 밀봉완료 기판(1)을 들어올려서 반송 기구에 밀봉완료 기판(1)을 유지한 상태에서, X방향, Y방향, 및, θ방향 중 적어도 하나의 방향에 따라, 어긋남량에 의거한 적정한 양만큼, 반송 기구와 절단용 치구(9)를 상대적으로 이동시키면 좋다. 필요에 응하여, 절단용 치구(9)의 제1의 마크(17) 또는 밀봉완료 기판(1)의 제2의 마크(4)를 사용하여, 절단용 치구(9)에 마련된 제1의 절단홈(15)(또는 제2의 절단홈(16))의 위치와 회전날(도시 없음)의 위치를 맞춘다. 밀봉완료 기판(1)에 설정된 제1의 절단선(5)(또는 제2의 절단선(6))의 위치와 회전날(도시 없음)의 위치를 맞추어도 좋다. 여기까지 설명한 어긋남량의 보정은 다른 실시례에서도 마찬가지로 실행된다.Essentially, at least one of the X-direction, the Y-direction, and the θ-direction, with the transport mechanism lifting the sealed substrate 1 from the cutting jig 9 and holding the sealed substrate 1 in the transport mechanism According to one direction, the conveying mechanism and the cutting jig 9 may be relatively moved by an appropriate amount based on the amount of displacement. If necessary, the first cutting groove provided in the cutting jig 9 using the first mark 17 of the cutting jig 9 or the second mark 4 of the sealed substrate 1 (15) Align the position of the (or the second cutting groove 16) with the position of the rotating blade (not shown). The position of the first cutting line 5 (or the second cutting line 6) set on the sealed substrate 1 may be aligned with the position of the rotating blade (not shown). Correction of the amount of misalignment described so far is also performed in other embodiments.

반송 기구는, 도 4에서 「반송 기구(22)」로서 도시되어 있다. 반송 기구와 절단용 치구(9)가 상대적으로 이동하는 것에 수반하는 반송 기구와 절단용 치구(9) 사이에서의 위치의 정밀도(본래 있어야 할 위치와 실제의 위치 사이의 어긋남량)는, 밀봉완료 기판(1)의 어긋남량에 비교한 경우에 무시할 수 있을 정도로 충분히 작다. 예를 들면, 반송 기구와 절단용 치구(9)가 같은 위치 관계가 되도록 이동하는 것을 반복한 경우에 있어서의 위치의 정밀도는, 밀봉완료 기판(1)의 어긋남량에 비교한 경우에 무시할 수 있을 정도로 충분히 작다.The conveying mechanism is shown in FIG. 4 as "the conveying mechanism 22". The precision of the position (the amount of displacement between the original position and the actual position) between the transport mechanism and the jig 9 for cutting accompanying the relative movement of the transport mechanism and the jig for cutting 9 is sealed. It is small enough to be negligible when compared to the amount of displacement of the substrate 1. For example, the accuracy of the position in the case where the transport mechanism and the cutting jig 9 are repeatedly moved to have the same positional relationship can be neglected when compared to the amount of displacement of the sealed substrate 1. Small enough.

본 실시례에 의하면, 절단용 테이블(8)에 제품에 대응한 절단용 치구(9)를 부착한다. 절단용 치구(9)의 수지 시트(11)에, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 복수의 제2의 마크(4)에 대응하는 복수의 제1의 마크(17)를 마련한다. 절단용 테이블(8)에서, 수지 시트(11)에 형성된 제1의 마크(17)의 좌표 위치를 측정하여 기준의 좌표 위치로서 미리 기억하여 둔다. 다음에, 절단용 테이블(8)에 재치된 밀봉완료 기판(1)의 제2의 마크(4)의 좌표 위치를 측정한다. 제1의 마크(17)의 좌표 위치와 제2의 마크(4)의 좌표 위치를 비교함에 의해, 밀봉완료 기판(1)의 어긋남량을 산출할 수 있다. 이 어긋남량을 보정함에 의해, 절단용 치구(9)의 제1의 마크(17)의 위치에 밀봉완료 기판(1)의 제2의 마크(4)의 위치를 정확하게 맞출 수 있다. 따라서 절단용 치구(9)에 마련된 복수의 절단홈의 위치에, 밀봉완료 기판(1)에 설정된 복수의 절단선의 위치를 정확하게 맞출 수 있다. 이에 의해, 절단 기구에 마련된 회전날이 절단용 치구(9)의 절단홈의 위치로부터 어긋나는 일 없이, 밀봉완료 기판(1)을 절단선에 따라 정확하게 절단할 수 있다.According to this embodiment, the cutting jig 9 corresponding to the product is attached to the cutting table 8. A plurality of first marks 17 corresponding to a plurality of second marks 4 formed on the sealed substrate 1 are provided on the resin sheet 11 of the cutting jig 9. In the cutting table 8, the coordinate position of the first mark 17 formed on the resin sheet 11 is measured and stored in advance as a reference coordinate position. Next, the coordinate position of the second mark 4 of the sealed substrate 1 placed on the cutting table 8 is measured. By comparing the coordinate position of the first mark 17 and the coordinate position of the second mark 4, the amount of misalignment of the sealed substrate 1 can be calculated. By correcting this amount of displacement, the position of the second mark 4 of the sealed substrate 1 can be precisely aligned with the position of the first mark 17 of the cutting jig 9. Therefore, the positions of the plurality of cutting lines set in the sealed substrate 1 can be precisely matched to the positions of the plurality of cutting grooves provided in the cutting jig 9. Thereby, the sealing-completed board | substrate 1 can be accurately cut along a cutting line, without the rotation blade provided in the cutting mechanism shifting from the position of the cutting groove of the cutting jig 9.

본 실시례에 의하면, 절단용 치구(9)에 형성된 제1의 마크(17)의 좌표 위치와 밀봉완료 기판(1)에 형성된 제2의 마크(4)의 좌표 위치를 비교함에 의해, 밀봉완료 기판(1)의 어긋남량을 산출한다. 따라서 밀봉완료 기판(1) 자체의 치수 오차, 밀봉완료 기판(1)의 휘어짐, 냉각수 등의 영향을 받아 밀봉완료 기판(1)이 신축한 경우 등도 포함하여, 절단용 치구(9)에 재치된 상태의 밀봉완료 기판(1)의 어긋남량을 산출할 수 있다. 따라서 밀봉완료 기판(1)이 어떤 상태에 있더라도, 절단용 치구(9)에 마련된 절단홈의 위치에 밀봉완료 기판(1)에 설정된 절단선의 위치를 맞추는 정밀도를 향상시킬 수 있다.According to this embodiment, sealing is completed by comparing the coordinate position of the first mark 17 formed on the jig 9 for cutting with the coordinate position of the second mark 4 formed on the sealed substrate 1. The amount of displacement of the substrate 1 is calculated. Therefore, the dimensional error of the sealed substrate 1 itself, the curvature of the sealed substrate 1, and the influence of cooling water, etc., including the case where the sealed substrate 1 is stretched, etc., are mounted on the cutting fixture 9 The amount of misalignment of the sealed substrate 1 in a state can be calculated. Therefore, even if the sealed substrate 1 is in any state, it is possible to improve the accuracy of aligning the position of the cut line set in the sealed substrate 1 to the position of the cutting groove provided in the cutting jig 9.

본 실시례에 의하면, 절단용 치구(9)에 마련된 절단홈의 위치에, 밀봉완료 기판(1)에 설정된 절단선의 위치를 정확하게 맞출 수 있다. 따라서 절단 기구에 마련된 회전날이 절단홈의 위치로부터 어긋나는 일 없이, 밀봉완료 기판(1)을 절단선에 따라 절단할 수 있다. 이에 의해, 회전날에 의해 수지 시트(11)가 깎여지는 것을 방지할 수 있다. 따라서 절단용 치구(9)로부터 티끌을 발생시키는 것이나 절단용 치구(9)의 흡착구멍(13)에 리크를 발생시키는 일이 없어진다. 회전날이 수지 시트(11)를 깎는 일이 없어지기 때문에, 절단용 치구(9)의 수명이 길어지고, 절단 장치의 운용 비용을 저감할 수 있다.According to the present embodiment, the position of the cutting line provided in the sealing substrate 1 can be precisely aligned with the position of the cutting groove provided in the cutting jig 9. Therefore, the sealed substrate 1 can be cut along the cutting line without the rotational blade provided in the cutting mechanism being displaced from the position of the cutting groove. Thereby, it can prevent that the resin sheet 11 is cut off by a rotating blade. Therefore, dust is not generated from the jig 9 for cutting or leak is generated in the suction hole 13 of the jig 9 for cutting. Since the rotating blade does not cut the resin sheet 11, the life of the cutting jig 9 becomes long, and the operating cost of the cutting device can be reduced.

실시례 2Example 2

본 발명에 관한 절단 장치의 실시례 2에 관해, 도 3A, 도 3B를 참조하여 설명한다. 실시례 1과의 차이는, 절단용 치구(9)의 위치맞춤 마크(제1의 마크)를 수지 시트(11)가 아니라 금속 플레이트(10)에 형성한 것이다. 그 이외의 구성이나 동작에 관해서는 실시례 1과 같기 때문에, 설명을 생략한다.The second embodiment of the cutting device according to the present invention will be described with reference to Figs. 3A and 3B. The difference from Example 1 is that the alignment mark (first mark) of the cutting jig 9 is formed on the metal plate 10 rather than on the resin sheet 11. The rest of the configuration and operation are the same as those in the first embodiment, and thus explanations are omitted.

도 3A에 도시되는 바와 같이, 밀봉완료 기판(1)에 마련된 제2의 마크(4)의 위치에 대응할 수 있도록, 수지 시트(11)의 주위를 둘러싸도록 하여, 긴변방향 및 짧은변방향에 따라 복수의 제1의 마크(18)(도면에서 +로 나타나는 마크)가 금속 플레이트(10)에 형성된다. 예를 들면, 밀봉완료 기판(1)의 4모퉁이에 마련된 제2의 마크(4A, 4B, …, 4G, 4H)(도 1A 참조)의 위치에 대응할 수 있도록, 금속 플레이트(10)의 4모퉁이에 제1의 마크(18A, 18B, …, 18G, 18H)가 형성된다. 또한, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 제2의 마크(4)에 대응할 수 있도록, 필요한 수의 제1의 마크(18)를 긴변방향 및 짧은변방향에 따라 형성할 수 있다. 도 3A에서는, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 모든 제2의 마크(4)(도 1A 참조)에 대응할 수 있도록 제1의 마크(18)를 형성한 경우를 도시한다.As shown in Fig. 3A, in order to correspond to the position of the second mark 4 provided on the sealed substrate 1, the periphery of the resin sheet 11 is enclosed, along the long and short sides. A plurality of first marks 18 (marks indicated by + in the drawing) are formed on the metal plate 10. For example, the four corners of the metal plate 10 so as to correspond to the positions of the second marks 4A, 4B, ..., 4G, 4H (see FIG. 1A) provided on the four corners of the sealed substrate 1. First marks 18A, 18B, ..., 18G, 18H are formed on the. In addition, in order to correspond to the second mark 4 formed on the sealed substrate 1, the required number of first marks 18 can be formed along the long side direction and the short side direction. 3A shows a case where the first mark 18 is formed so as to correspond to all the second marks 4 (see FIG. 1A) formed on the sealed substrate 1.

도 2A, 도 2B에서 도시한 경우와 마찬가지로, 절단용 치구(9)의 금속 플레이트(10)에 형성된 제1의 마크(18)의 위치 정보, 및, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 제2의 마크(4)의 위치 정보를, 절단용 테이블(8)에서의 위치 정보로서 측정할 수 있다. 금속 플레이트(10)에 형성된 제1의 마크(18)의 좌표 위치를 측정하여 절단용 테이블(8)에서의 기준의 좌표 위치로서 미리 기억하여 둔다. 이 기준의 좌표 위치와 절단용 테이블(8)에 재치되어 측정된 밀봉완료 기판(1)의 제2의 마크(4)의 좌표 위치를 비교함에 의해, 밀봉완료 기판(1)의 어긋남량을 산출한다. 이들의 어긋남량을 보정함에 의해, 절단용 치구(9)의 X방향 및 Y방향에 따라 형성된 제1의 마크(18)의 위치에 대응하도록 하여 밀봉완료 기판(1)의 제2의 마크(4)의 위치를 맞출 수 있다. 따라서 절단용 치구(9)에 마련된 복수의 절단홈의 위치에, 밀봉완료 기판(1)에 설정된 복수의 절단선의 위치를 정확하게 맞출 수 있다. 이에 의해, 절단 기구에 마련된 회전날이 절단용 치구(9)의 절단홈의 위치로부터 어긋나는 일 없이, 밀봉완료 기판(1)을 절단선에 따라 정확하게 절단할 수 있다.2A and 2B, the positional information of the first mark 18 formed on the metal plate 10 of the cutting jig 9, and the second formed on the sealed substrate 1 The positional information of the mark 4 can be measured as the positional information on the cutting table 8. The coordinate position of the first mark 18 formed on the metal plate 10 is measured and stored in advance as a reference coordinate position on the cutting table 8. By comparing the coordinate position of the reference and the coordinate position of the second mark 4 of the sealed substrate 1 measured on the cutting table 8, the displacement amount of the sealed substrate 1 is calculated. do. By correcting the amount of misalignment, the second mark 4 of the sealed substrate 1 is made to correspond to the position of the first mark 18 formed along the X and Y directions of the cutting jig 9 ). Therefore, the positions of the plurality of cutting lines set in the sealed substrate 1 can be precisely matched to the positions of the plurality of cutting grooves provided in the cutting jig 9. Thereby, the sealing-completed board | substrate 1 can be accurately cut along a cutting line, without the rotation blade provided in the cutting mechanism shifting from the position of the cutting groove of the cutting jig 9.

실시례 2에서는, 절단용 치구(9)의 금속 플레이트(10)에 제1의 마크(18)를 형성하였다. 수지 시트(11)에 비하여, 금속 플레이트(10)는 제1의 마크의 가공이 하기 쉽고, 가공면의 형상이 샤프하게 된다. 따라서 금속 플레이트(10)에 형성된 제1의 마크(18)는, 수지 시트(11)에 형성된 제1의 마크(17)보다도 그 윤곽이 명확하게 된다. 이에 의해, 화상 인식에 의한 제1의 마크(18)의 콘트라스트가 명확하게 된다. 따라서 절단용 치구(9)의 제1의 마크(18)의 좌표 위치의 측정 정밀도가 향상하고, 위치맞춤 정밀도도 향상한다. 그 이외에 관해서는, 실시례 1과 같은 효과를 이루기 때문에, 설명을 생략한다.In Example 2, the first mark 18 was formed on the metal plate 10 of the jig 9 for cutting. Compared to the resin sheet 11, the metal plate 10 is easy to process the first mark, and the shape of the processing surface is sharp. Therefore, the outline of the first mark 18 formed on the metal plate 10 is clearer than the first mark 17 formed on the resin sheet 11. Thereby, the contrast of the 1st mark 18 by image recognition becomes clear. Therefore, the measurement precision of the coordinate position of the 1st mark 18 of the cutting jig 9 improves, and the positioning precision also improves. Other than that, since the same effects as those of Example 1 are achieved, the description is omitted.

실시례 3Example 3

본 발명에 관한 절단 장치의 실시례 3에 관해, 도 4∼도 6B를 참조하여 설명한다. 도 4에 도시되는 바와 같이, 절단 장치(19)는, 피절단물을 복수의 제품으로 개편화하는 장치이다. 절단 장치(19)는, 기판 공급 모듈(A)과 기판 절단 모듈(B)과 검사 모듈(C)을, 각각 구성 요소로서 구비한다. 각 구성 요소(각 모듈(A∼C))는, 각각 다른 구성 요소에 대해 착탈 가능하면서 교환 가능하다.The third embodiment of the cutting device according to the present invention will be described with reference to Figs. 4 to 6B. As shown in Fig. 4, the cutting device 19 is a device for reorganizing the object to be cut into a plurality of products. The cutting device 19 includes a substrate supply module A, a substrate cutting module B, and an inspection module C as components, respectively. Each component (each module (A-C)) is detachable and exchangeable with respect to each other component.

기판 공급 모듈(A)에는, 피절단물에 상당하는 밀봉완료 기판(1)을 공급하는 기판 공급 기구(20)와, 밀봉완료 기판(1)을 주고받는 기판 재치부(21)와, 밀봉완료 기판(1)을 반송하는 반송 기구(22)가 마련된다. 반송 기구(22)는, X방향, Y방향, 및, Z방향으로 이동 가능하고, 또한, θ방향으로 회동 가능하다. 밀봉완료 기판(1)은, 기판 재치부(21)에서 위치 결정된 후, 반송 기구(22)에 의해 기판 절단 모듈(B)에 반송된다.The substrate supply module (A) includes a substrate supply mechanism (20) for supplying a sealed substrate (1) corresponding to an object to be cut, a substrate placement unit (21) for exchanging the sealed substrate (1), and sealing completion A transport mechanism 22 for transporting the substrate 1 is provided. The conveyance mechanism 22 is movable in the X direction, the Y direction, and the Z direction, and is also rotatable in the θ direction. After the sealed substrate 1 is positioned in the substrate placing portion 21, it is conveyed to the substrate cutting module B by the conveying mechanism 22.

도 4에 도시되는 절단 장치(19)는, 싱글 컷 테이블 방식의 절단 장치이다. 따라서 기판 절단 모듈(B)에는, 1개의 절단용 테이블(8)이 마련된다. 절단용 테이블(8)은, 이동 기구(23)에 의해 도면의 Y방향으로 이동 가능하고, 또한, 회전 기구(24)에 의해 θ방향으로 회동 가능하다. 절단용 테이블(8)에는 절단용 치구(9)(도 2A, 도 2B, 도 3A, 도 3B 참조)가 부착되고, 절단용 치구(9)의 위에 밀봉완료 기판(1)이 재치되어 흡착된다.The cutting device 19 shown in FIG. 4 is a single-cut table type cutting device. Therefore, one cutting table 8 is provided in the substrate cutting module B. The cutting table 8 can be moved in the Y-direction of the drawing by the moving mechanism 23 and can also be rotated in the θ direction by the rotating mechanism 24. A jig 9 for cutting (see FIGS. 2A, 2B, 3A, and 3B) is attached to the table 8 for cutting, and the sealed substrate 1 is placed on the jig 9 for cutting and adsorbed. .

기판 절단 모듈(B)에는, 얼라인먼트용의 카메라(25)가 마련된다. 카메라(25)는, 독립해서 X방향으로 이동 가능하다. 카메라(25)가 X방향으로 이동하고, 또한, 절단용 테이블(8)이 Y방향으로 이동함에 의해, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 제2의 마크(4)(도 1A 참조)의 좌표 위치가 측정된다. 이에 의해, 밀봉완료 기판(1)의 짧은변방향에 따른 복수의 제1의 절단선(5)과 긴변방향에 따른 복수의 제2의 절단선(6)이 각각 가상적으로 설정된다(도 1A 참조).The substrate cutting module B is provided with an alignment camera 25. The camera 25 is independently movable in the X direction. Coordinate position of the second mark 4 (refer to FIG. 1A) formed on the sealed substrate 1 by the camera 25 moving in the X direction and the cutting table 8 moving in the Y direction. Is measured. Thereby, the plurality of first cutting lines 5 along the short side direction of the sealed substrate 1 and the plurality of second cutting lines 6 along the long side direction are virtually set (see FIG. 1A). ).

기판 절단 모듈(B)에는, 절단 기구로서 스핀들(26)이 마련된다. 절단 장치(19)는, 1개의 스핀들(26)이 마련되는 싱글 스핀들 구성의 절단 장치이다. 스핀들(26)은, 독립해서 X방향과 Z방향으로 이동 가능하다. 스핀들(26)에는 회전날(27)이 장착된다. 스핀들(26)에는, 고속 회전하는 회전날(27)에 의해 발생하는 마찰열을 억제하기 위해 절삭수를 분사하는 절삭수용 노즐(도시 없음)이 마련된다. 절단용 테이블(8)과 스핀들(26)을 상대적으로 이동시킴에 의해 밀봉완료 기판(1)이 절단된다. 회전날(27)은, Y방향과 Z방향을 포함하는 면 내에서 회전함에 의해 밀봉완료 기판(1)을 절단한다.The substrate cutting module B is provided with a spindle 26 as a cutting mechanism. The cutting device 19 is a single-spindle cutting device provided with one spindle 26. The spindle 26 is independently movable in the X direction and the Z direction. A rotating blade 27 is mounted on the spindle 26. The spindle 26 is provided with a cutting water nozzle (not shown) for spraying cutting water to suppress frictional heat generated by the rotating blade 27 rotating at high speed. The sealed substrate 1 is cut by relatively moving the cutting table 8 and the spindle 26. The rotating blade 27 cuts the sealed substrate 1 by rotating in a plane including the Y direction and the Z direction.

검사 모듈(C)에는 검사용 테이블(28)이 마련된다. 검사용 테이블(28)에는, 밀봉완료 기판(1)을 절단하여 개편화된 복수의 제품(P)으로 이루어지는 집합체, 즉, 절단완료 기판(29)이 재치된다. 복수의 제품(P)은, 검사용의 카메라(도시 없음)에 의해 검사되어, 양품과 불량품으로 선별된다. 양품은 트레이(30)에 수용된다.The inspection module C is provided with an inspection table 28. On the inspection table 28, an aggregate consisting of a plurality of products P that have been cut into pieces by cutting the sealed substrate 1, that is, the cut substrate 29 is placed. The plurality of products P are inspected by an inspection camera (not shown), and are selected as good and bad products. The good product is accommodated in the tray 30.

또한, 본 실시례에서는, 절단 장치(19)의 동작, 밀봉완료 기판(1)의 반송, 밀봉완료 기판(1)의 위치맞춤, 밀봉완료 기판(1)의 절단, 절단완료 기판(29)의 검사 등의 동작이나 제어를 행하는 제어부(CTL)를 기판 공급 유닛(A) 내에 마련하였다. 이것으로 한하지 않고, 제어부(CTL)를 다른 유닛 내에 마련하여도 좋다.In addition, in this embodiment, the operation of the cutting device 19, conveyance of the sealed substrate 1, alignment of the sealed substrate 1, cutting of the sealed substrate 1, cutting of the finished substrate 29 A control unit CTL for performing operations such as inspection and control is provided in the substrate supply unit A. It is not limited to this, and a control unit CTL may be provided in another unit.

본 실시례에서는, 싱글 컷 테이블 방식으로서, 싱글 스핀들 구성의 절단 장치(19)를 설명하였다. 이것으로 한하지 않고, 싱글 컷 테이블 방식으로서, 트윈 스핀들 구성의 절단 장치나, 트윈 커트 테이블 방식으로서, 트윈 스핀들 구성의 절단 장치 등에서도, 본 발명의 절단용 테이블(8)을 적용할 수 있다.In this embodiment, the cutting device 19 having a single spindle configuration is described as a single cut table method. Not limited to this, the cutting table 8 of the present invention can be applied to a single-spin table system, a twin-spindle configuration cutting device, or a twin-spin-table cutting device or the like.

도 4∼도 6B를 참조하여, 절단용 테이블(8)에 부착된 절단용 치구(9)에 밀봉완료 기판(1)을 재치하여 위치맞춤하는 동작에 관해 설명한다. 실시례 3에서는, 절단용 테이블(8)에서, 절단용 치구(9)의 금속 플레이트(10)에 제1의 마크(18)를 형성한 경우에 관해 설명한다.4 to 6B, the operation of placing the sealed substrate 1 on the jig 9 for cutting attached to the table 8 for cutting will be described. In Example 3, the case where the 1st mark 18 is formed in the metal plate 10 of the jig 9 for cutting in the table 8 for cutting is demonstrated.

도 5A에 도시되는 바와 같이, 절단용 테이블(8)은, 긴변방향이 X방향에 따르도록 배치되어 있다. 따라서 짧은변방향은 Y방향에 따르도록(도 5A에서는 지면(紙面)의 속으로부터 앞을 향하여) 배치된다. 이하, 절단용 테이블(8)의 긴변방향이 X방향에 따르도록 배치된 경우에 관해 설명한다.5A, the cutting table 8 is arrange | positioned so that the long side direction may be along the X direction. Therefore, the short side direction is arranged to follow the Y direction (in FIG. 5A, from the inside of the paper surface toward the front). Hereinafter, the case where the long side direction of the cutting table 8 is arrange | positioned so that it may be along the X direction is demonstrated.

절단용 테이블(8)에는 절단용 치구(9)가 부착된다. 절단용 치구(9)의 금속 플레이트(10)의 4모퉁이에는, 제1의 마크(18A, 18B, …, 18G, 18H)(도 3A 참조)가 형성되어 있다. 도 5A에서는, 그들 중 제1의 마크(18D와 18E)가 도시된다.The cutting jig 9 is attached to the cutting table 8. First marks 18A, 18B, ..., 18G, 18H (see Fig. 3A) are formed at four corners of the metal plate 10 of the jig 9 for cutting. In Fig. 5A, the first marks 18D and 18E of them are shown.

다음에, 예를 들면, 절단용 테이블(8)을 이동 기구(23)(도 4 참조)에 의해 Y방향의 소정 위치까지 이동시기고, 또한, 얼라인먼트용의 카메라(25)를 X방향으로 이동시킴에 의해, 카메라(25)를 절단용 치구(9)에서의 특정한 제1의 마크(18D)의 위에 정지시킨다. 카메라(25)에 의해 제1의 마크(18D)를 촬상하여, 화상 데이터(제1의 화상 데이터)를 취득한다. 화상 데이터에 의거하여 화상 인식함에 의해, 제1의 마크(18D)의 좌표 위치(제1의 위치 정보)를 측정하여 기억한다. 또한, 카메라(25)를 +X방향으로 이동시켜, 마찬가지로 하여 제1의 마크(18E)의 좌표 위치를 측정하여 기억한다. 이와 같이 하여, 절단용 테이블(8)을 Y방향으로 이동시키고, 또한, 카메라(25)를 X방향으로 이동시킴에 의해, 절단용 치구(9)의 금속 플레이트(10)에 형성된 제1의 마크(18)의 좌표 위치를 측정하여 기억할 수 있다. 필요에 응하여, 필요한 수만큼 제1의 마크(18)의 좌표 위치를 측정하여 기억하여 둔다. 이들의 좌표 위치(제1의 위치 정보)를, 절단용 테이블(8)에서의 위치맞춤의 기준의 좌표 위치라고 한다. 이 경우에는, 예를 들면, X방향에 따른 2개의 제1의 마크(18D, 18E)의 좌표 위치와, Y방향에 따른 2개의 제1의 마크(18B, 18C)(도 3A 참조)의 좌표 위치를 측정한다. 측정된 제1의 마크(18D, 18E, 18B, 18C)의 좌표 위치의 데이터를 절단 장치(19)의 제어부(CTL)(도 4 참조)에 보내어, 미리 기억하여 둔다.Next, for example, the cutting table 8 is moved to a predetermined position in the Y direction by the moving mechanism 23 (see Fig. 4), and the alignment camera 25 is moved in the X direction. By this, the camera 25 is stopped on the specific first mark 18D in the cutting jig 9. The first mark 18D is picked up by the camera 25, and image data (first image data) is acquired. By recognizing the image based on the image data, the coordinate position (first position information) of the first mark 18D is measured and stored. Further, the camera 25 is moved in the + X direction, and similarly, the coordinate position of the first mark 18E is measured and stored. In this way, the first mark formed on the metal plate 10 of the jig 9 for cutting is moved by moving the table 8 for cutting in the Y direction and also moving the camera 25 in the X direction. The coordinate position in (18) can be measured and memorized. In response to the need, the coordinate positions of the first mark 18 are measured and stored as many times as necessary. These coordinate positions (first position information) are referred to as the coordinate positions of the reference for alignment in the cutting table 8. In this case, for example, the coordinate positions of the two first marks 18D and 18E along the X direction and the coordinates of the two first marks 18B and 18C along the Y direction (see FIG. 3A). Measure the location. The measured data of the coordinate positions of the first marks 18D, 18E, 18B, and 18C is sent to the control unit CTL (see FIG. 4) of the cutting device 19 and stored in advance.

다음에, 도 5B에 도시되는 바와 같이, 반송 기구(22)(도 4 참조)를 사용하여, 밀봉완료 기판(1)을 절단용 치구(9)의 위에 재치한다. 이때에, 밀봉완료 기판(1)이 절단용 치구(9)의 소정 위치로부터 어긋나서 재치되는 일이 있다.Next, as shown in Fig. 5B, using the transport mechanism 22 (see Fig. 4), the sealed substrate 1 is placed on the cutting jig 9 for cutting. At this time, the sealed substrate 1 may be displaced from a predetermined position of the jig 9 for cutting.

다음에, 도 5C에 도시되는 바와 같이, 절단용 테이블(8)을 Y방향으로 이동시키고, 또한, 카메라(25)를 X방향으로 이동시킴에 의해, 예를 들면, 밀봉완료 기판(1)에 형성된 특정한 제2의 마크(4D)의 위에 카메라(25)를 정지시킨다. 카메라(25)에 의해 제2의 마크(4D)를 촬상하여, 화상 데이터(제2의 화상 데이터)를 취득한다. 화상 데이터에 의거하여 화상 인식함에 의해, 제2의 마크(4D)의 좌표 위치(제2의 위치 정보)를 측정한다. 마찬가지로 하여, 제2의 마크(4E)의 좌표 위치를 측정한다. 이 경우에는, X방향에 따른 2개의 제2의 마크(4D, 4E)의 좌표 위치와, Y방향에 따른 2개의 제2의 마크(4B, 4C)(도 1A 참조)의 좌표 위치를 측정한다. 측정된 제2의 마크(4D, 4E, 4B, 4C)의 좌표 위치(제2의 위치 정보)의 데이터는 제어부(CTL)에 보내진다.Next, as shown in Fig. 5C, by moving the cutting table 8 in the Y direction, and also by moving the camera 25 in the X direction, for example, to the sealed substrate 1 The camera 25 is stopped on the formed specific second mark 4D. The second mark 4D is picked up by the camera 25 to obtain image data (second image data). The coordinate position (second position information) of the second mark 4D is measured by image recognition based on the image data. Similarly, the coordinate position of the 2nd mark 4E is measured. In this case, the coordinate positions of the two second marks 4D and 4E along the X direction and the coordinate positions of the two second marks 4B and 4C along the Y direction (see FIG. 1A) are measured. . Data of the coordinate position (second position information) of the measured second marks 4D, 4E, 4B, and 4C is sent to the control unit CTL.

제어부(CTL)에서, 미리 기억하여 둔 절단용 치구(9)의 제1의 마크(18D, 18E, 18B, 18C)의 좌표 위치와, 측정된 밀봉완료 기판(1)의 제2의 마크(4D, 4E, 4B, 4C)의 좌표 위치를 비교한다. 이들의 좌표 위치의 데이터를 데이터 처리함에 의해, X방향의 어긋남, Y방향의 어긋남, 및, θ방향의 어긋남을 각각 산출할 수 있다.In the control unit CTL, the coordinate positions of the first marks 18D, 18E, 18B, and 18C of the cutting jig 9 stored in advance and the second marks 4D of the measured sealed substrate 1 , 4E, 4B, 4C). By processing the data at these coordinate positions, the displacement in the X direction, the displacement in the Y direction, and the displacement in the θ direction can be calculated, respectively.

미리 기억하여 둔 절단용 치구(9)의 제1의 마크의 좌표 위치와, 측정된 밀봉완료 기판(1)의 제2의 마크의 좌표 위치를 데이터 처리한 결과, 제어부(CTL)가 밀봉완료 기판(1)의 어긋남이 없다고 판단한 경우에는, 밀봉완료 기판(1)이 재치된 상태 그대로 절단용 테이블(8)을 +Y방향으로 이동시킨다. 스핀들(26)(도 4 참조)을 사용하여 밀봉완료 기판(1)을 절단선에 따라 절단한다.As a result of data processing the coordinate position of the first mark of the cutting jig 9 stored in advance and the coordinate position of the second mark of the measured sealed substrate 1, the control unit CTL seals the completed substrate. When it is judged that there is no misalignment of (1), the cutting table 8 is moved in the + Y direction as it is with the sealed substrate 1 placed. Using the spindle 26 (see FIG. 4), the sealed substrate 1 is cut along the cutting line.

데이터 처리를 한 결과, 제어부(CTL)가 밀봉완료 기판(1)에 어긋남이 발생하고 있다고 판단한 경우에는, 도 5D에 도시되는 바와 같이, 밀봉완료 기판(1)이 절단용 치구(9)에 재치된 때의 상태를 유지한 채로, 반송 기구(22)(도 4 참조)가 절단용 치구(9)로부터 밀봉완료 기판(1)을 들어올린다. 제어부(CTL)에 의해 산출된 어긋남량에 의거하여, 반송 기구(22)가 밀봉완료 기판(1)의 X방향, Y방향, 및, θ방향의 어긋남량을 보정하여, 밀봉완료 기판(1)을 절단용 치구(9)의 소정 위치의 상방에 이동시킨다. 구체적으로는, 반송 기구(22)가, X방향, Y방향, 및, θ방향 중 적어도 하나의 방향에 따라, 어긋남량에 의거한 적정한 양만큼 이동한다.As a result of the data processing, when the control unit CTL determines that the displacement of the sealed substrate 1 is occurring, the sealed substrate 1 is placed on the cutting jig 9 as shown in FIG. 5D. The conveyance mechanism 22 (refer FIG. 4) lifts the sealed board | substrate 1 from the cutting jig 9, maintaining the state at the time of being carried out. Based on the amount of displacement calculated by the control unit CTL, the conveyance mechanism 22 corrects the amount of displacement in the X, Y, and θ directions of the sealed substrate 1, thereby sealing the substrate 1 Is moved above the predetermined position of the jig 9 for cutting. Specifically, the conveyance mechanism 22 moves by an appropriate amount based on the amount of displacement according to at least one of the X direction, the Y direction, and the θ direction.

다음에, 도 5E에 도시되는 바와 같이, 밀봉완료 기판(1)의 X방향, Y방향, 및, θ방향의 어긋남량이 보정된 위치에서, 반송 기구(22)가 밀봉완료 기판(1)을 절단용 치구(9)의 위에 재차 재치한다. 이에 의해, 절단용 치구(9)의 소정 위치에 밀봉완료 기판(1)이 정확하게 위치맞춤된 상태로 재치된다. 따라서 절단용 치구(9)에 마련된 절단홈의 위치에 밀봉완료 기판(1)의 절단선의 위치를 정확하게 맞출 수 있다. 절단용 치구(9)의 절단홈에 밀봉완료 기판(1)의 절단선이 정확하게 위치맞춤된 상태에서, 밀봉완료 기판(1)을 절단할 수 있다.Next, as shown in Fig. 5E, the transport mechanism 22 cuts the sealed substrate 1 at a position where the amount of misalignment in the X, Y, and θ directions of the sealed substrate 1 is corrected. It is placed on the top of the jig 9 again. As a result, the sealed substrate 1 is accurately positioned at a predetermined position of the cutting jig 9. Therefore, the position of the cutting line of the sealed substrate 1 can be precisely aligned with the position of the cutting groove provided in the cutting jig 9. In the state where the cutting line of the sealed substrate 1 is precisely positioned in the cutting groove of the cutting jig 9, the sealed substrate 1 can be cut.

도 6A, 도 6B는, 도 5A∼도 5E로 도시한 밀봉완료 기판(1)을 절단용 치구(9)의 소정 위치에 위치맞춤하는 동작을 평면적으로 도시하고 있다. 도 6A에 도시되는 바와 같이, 절단용 테이블(8)에 밀봉완료 기판(1)을 재치한 상태에서는, 밀봉완료 기판(1)의 위치는 X방향, Y방향, 및, θ방향으로 각각 어긋나 있다. 도 6A에서, 점선으로 둘러싸여진 영역(SUB)이, 절단용 테이블(8)에서의 밀봉완료 기판(1)이 재치되는 영역이다. 예를 들면, 밀봉완료 기판(1)의 제2의 마크(4D 및 4E)의 좌표 위치로부터 우선 θ방향의 어긋남량을 산출한다. θ방향의 어긋남량을 보정함에 의해, 밀봉완료 기판(1)의 긴변방향과 짧은변방향을, 절단용 테이블(8)의 긴변방향과 짧은변방향에 평행하게 배치할 수 있다. 이 상태로부터, X방향과 Y방향과의 어긋남량을 각각 보정함에 의해, 도 6B에 도시되는 바와 같이, 절단용 테이블(8)의 소정 영역(SUB)에 밀봉완료 기판(1)을 배치할 수 있다.6A and 6B planarly show the operation of positioning the sealed substrate 1 shown in FIGS. 5A to 5E at a predetermined position of the cutting jig 9. As shown in Fig. 6A, in the state where the sealed substrate 1 is placed on the cutting table 8, the positions of the sealed substrate 1 are shifted in the X direction, the Y direction, and the θ direction, respectively. . In Fig. 6A, a region SUB surrounded by a dotted line is a region where the sealed substrate 1 on the cutting table 8 is placed. For example, a shift amount in the θ direction is first calculated from the coordinate positions of the second marks 4D and 4E of the sealed substrate 1. By correcting the amount of misalignment in the θ direction, the long side direction and the short side direction of the sealed substrate 1 can be arranged parallel to the long side direction and the short side direction of the cutting table 8. From this state, by correcting the amount of misalignment between the X direction and the Y direction, the sealed substrate 1 can be placed in a predetermined area SUB of the cutting table 8, as shown in Fig. 6B. have.

본 실시례에 의하면, 절단 장치(19)에서, 반송 기구(22)를, X방향, Y방향, 및, Z방향으로 이동 가능하게 하고, 또한, θ방향으로 회동 가능하게 하였다. 이에 의해, 밀봉완료 기판(1)이 절단용 치구(9)의 소정 위치로부터 어긋난 경우라도, 밀봉완료 기판(1)의 어긋남량을 반송 기구(22)에 의해 보정하는 것을 가능하게 하였다. 밀봉완료 기판(1)이 절단용 치구(9)의 소정 위치로부터 어긋난 상태 그대로, 반송 기구(22)에 의해 밀봉완료 기판(1)을 재차 들어올린다. 이 상태로부터, 밀봉완료 기판(1)의 어긋남량만큼 반송 기구(22)를 이동시켜, 절단용 치구(9)의 소정 위치의 상방에서 정지시킨다. 그 후에, 절단용 치구(9)의 위에 밀봉완료 기판(1)을 재치한다. 절단용 치구(9)의 소정 위치에 밀봉완료 기판(1)을 재치할 수 있기 때문에, 절단용 치구(9)의 절단홈의 위치에 밀봉완료 기판(1)의 절단선의 위치를 정확하게 맞출 수 있다. 기존의 절단 장치(19)에 새로운 구성 요소나 새로운 기능을 추가하는 일 없이, 밀봉완료 기판(1)의 위치맞춤을 정밀도 좋게 행할 수 있다. 절단 장치(19)를 개량하는 일 없이, 또한, 비용이 생기는 일 없이, 밀봉완료 기판(1)의 위치맞춤을 정밀도 좋게 행할 수 있다. 따라서 절단 장치(19)의 비용을 억제하면서, 절단의 정밀도나 수율을 향상시킬 수 있다.According to this embodiment, in the cutting device 19, the conveyance mechanism 22 was made movable in the X direction, the Y direction, and the Z direction, and was also rotatable in the θ direction. Thereby, even when the sealed substrate 1 was shifted from a predetermined position of the cutting jig 9, it was possible to correct the displacement amount of the sealed substrate 1 by the transport mechanism 22. The sealed substrate 1 is lifted again by the transport mechanism 22 while the sealed substrate 1 is displaced from a predetermined position of the cutting jig 9. From this state, the transport mechanism 22 is moved by the amount of displacement of the sealed substrate 1, and is stopped above the predetermined position of the cutting jig 9. Thereafter, the sealed substrate 1 is placed on the jig 9 for cutting. Since the sealed substrate 1 can be placed at a predetermined position of the cutting jig 9, the position of the cutting line of the sealed substrate 1 can be precisely aligned with the cutting groove of the cutting jig 9. . Without adding new components or new functions to the existing cutting device 19, the alignment of the sealed substrate 1 can be accurately performed. Without improving the cutting device 19 and without incurring a cost, the alignment of the sealed substrate 1 can be accurately performed. Therefore, while suppressing the cost of the cutting device 19, the precision and yield of cutting can be improved.

본 실시례에 의하면, 절단용 치구(9)의 절단홈의 위치에 밀봉완료 기판(1)의 절단선의 위치가 정확하게 위치맞춤된 상태에서, 밀봉완료 기판(1)을 절단할 수 있다. 따라서 회전날에 의해 수지 시트(11)를 깎는 것을 방지할 수 있다. 절단용 치구(9)로부터 티끌을 발생시키는 것이나 절단용 치구(9)의 흡착구멍(13)에 리크를 발생시키는 것을 방지할 수 있다. 회전날이 수지 시트(11)를 깎는 일이 없어지기 때문에, 절단용 치구(9)의 수명이 길어지고, 절단 장치(19)의 운용 비용을 저감할 수 있다. 또한, 제품의 수율을 향상시키고, 제품의 품질을 향상시킬 수 있다.According to this embodiment, it is possible to cut the sealed substrate 1 in a state where the position of the cutting line of the sealed substrate 1 is precisely positioned at the position of the cutting groove of the cutting jig 9. Therefore, it is possible to prevent the resin sheet 11 from being cut by the rotating blade. It is possible to prevent the generation of dust from the cutting jig 9 and the generation of a leak in the suction hole 13 of the cutting jig 9. Since the rotating blade does not cut the resin sheet 11, the life of the cutting jig 9 becomes long, and the operating cost of the cutting device 19 can be reduced. In addition, it is possible to improve the yield of the product and improve the quality of the product.

또한, 본 실시례에서는, 반송 기구(22)가 밀봉완료 기판(1)의 X방향, Y방향, 및, θ방향의 어긋남량을 보정하여, 밀봉완료 기판(1)을 절단용 치구(9)의 소정 위치의 상방에 이동시켜서 재치하였다. 이것으로 한하지 않고, 반송 기구(22)가 밀봉완료 기판(1)의 X방향의 어긋남량을 보정하고, 절단용 테이블(8)이 Y방향 및 θ방향의 어긋남량을 보정하여, 밀봉완료 기판(1)을 절단용 치구(9)의 소정 위치에 재치할 수 있다. 이 경우라면, 반송 기구(22)를 X방향으로만 이동 가능한 구성으로 하여도 좋다.In addition, in this embodiment, the conveyance mechanism 22 corrects the amount of misalignment in the X, Y, and θ directions of the sealed substrate 1, and the jig 9 for cutting the sealed substrate 1 It was moved by moving above the predetermined position. Without being limited to this, the transport mechanism 22 corrects the amount of displacement in the X direction of the sealed substrate 1, and the table 8 for cutting corrects the amount of displacement in the Y direction and θ direction, and the sealed substrate (1) can be placed in a predetermined position on the jig 9 for cutting. In this case, the transport mechanism 22 may be configured to be movable only in the X direction.

실시례 4Example 4

본 발명에 관한 절단 장치의 실시례 4에 관해, 도 7A, 도 7B, 도 8을 참조하여 설명한다. 실시례 4에서는, 여기까지 설명하여 돈 기존의 절단 장치(19)의 절단용 테이블(8)에 탑재할 수 없는 대형의 밀봉완료 기판을 절단하여 개편화하는 방법에 관해 설명한다.A fourth embodiment of the cutting device according to the present invention will be described with reference to Figs. 7A, 7B, and 8. In the fourth embodiment, a description will be given of a method of cutting and reorganizing a large-sized sealed substrate that cannot be mounted on the cutting table 8 of the conventional cutting device 19 described above.

도 7A에 도시되는 바와 같이, 예를 들면, 대형의 밀봉완료 기판(31)은 600×500㎜의 크기를 갖고 있다. 밀봉완료 기판(31)에는, 기판의 긴변방향 및 짧은변방향에 따라 다수의 제2의 마크(32)(도면에서 +로 나타나는 마크)가 형성된다. 도 7A에서는, 밀봉완료 기판(31)의 4모퉁이에 형성된 8개의 제2의 마크(32)를, 밀봉완료 기판(31)의 좌상을 기점으로 하여 반시계방향으로 각각 32A, 32B, …, 32G, 32H라고 한다. 밀봉완료 기판(31)의 4모퉁이 이외에도, 긴변방향 및 짧은변방향으로 다수의 제2의 마크(32)가 형성되어 있다. 도시되지 않지만, 밀봉완료 기판(31)에서 4분할된 부분(파선과 2점 쇄선에 의해 4분할된 부분)의 각각에 형성되는 복수의 영역은 도 1A, 도 1B에서 도시하는 복수의 영역(7)과 같은 치수를 갖고 있다.As shown in Fig. 7A, for example, the large-sized sealed substrate 31 has a size of 600 x 500 mm. On the sealed substrate 31, a plurality of second marks 32 (marks indicated by + in the figure) are formed along the long and short sides of the substrate. In Fig. 7A, eight second marks 32 formed on four corners of the sealed substrate 31, starting from the upper left of the sealed substrate 31, are counterclockwise, respectively, 32A, 32B, ... , 32G, 32H. In addition to the four corners of the sealed substrate 31, a plurality of second marks 32 are formed in the long side direction and the short side direction. Although not shown, a plurality of regions formed in each of the four-divided portions (the four-divided portions by broken lines and two-dot chain lines) in the sealed substrate 31 includes a plurality of regions 7 shown in FIGS. 1A and 1B. ).

예를 들면, 도 4에서 도시한 절단 장치(19)의 절단용 테이블(8)에 탑재할 수 있는 밀봉완료 기판의 크기는 최대로 320×320㎜이기 때문에, 밀봉완료 기판(31)을 절단용 테이블(8)에 재치할 수가 없다. 따라서 그대로의 상태로는 절단 장치(19)를 사용하여 밀봉완료 기판(31)을 절단할 수가 없다. 그래서, 밀봉완료 기판(31)을 절단용 테이블(8)에 탑재할 수 있는 크기로 분할한다. 예를 들면, 밀봉완료 기판(31)을 4분할하기 위해, 짧은변방향에 따른 분할선(33) 및 긴변방향에 따른 분할선(34)을 설정한다.For example, since the size of the sealed substrate that can be mounted on the cutting table 8 of the cutting device 19 shown in FIG. 4 is at most 320 × 320 mm, for cutting the sealed substrate 31 It cannot be placed on the table 8. Therefore, it is not possible to cut the sealed substrate 31 using the cutting device 19 as it is. Thus, the sealed substrate 31 is divided into sizes that can be mounted on the cutting table 8. For example, in order to divide the sealed substrate 31 into four, the dividing line 33 along the short side direction and the dividing line 34 along the long side direction are set.

다음에, 도 7B에 도시되는 바와 같이, 대형의 밀봉완료 기판(31)을 분할 가능한 수단을 사용하여, 밀봉완료 기판(31)을 분할선(33) 및 분할선(34)에 따라 절단한다. 이에 의해, 밀봉완료 기판(31)은 4분할되어, 300×250㎜의 크기를 갖는 밀봉완료 기판(35)으로 분할된다. 분할된 밀봉완료 기판(35A, 35B, 35C, 35D)은, 절단 장치(19)의 절단용 테이블(8)에 탑재 가능한 크기를 갖는다. 밀봉완료 기판(31)을 분할함에 의해, 밀봉완료 기판(31)이 원래 갖고 있던 휘어짐이나 내부 응력 등이 저감한다. 따라서 분할된 밀봉완료 기판(35A, 35B, 35C, 35D)은, 휘어짐이나 치수 등에 변화가 생긴다.Next, as shown in Fig. 7B, the sealed substrate 31 is cut along the dividing line 33 and the dividing line 34 by means of dividing the large-sized sealed substrate 31. Thereby, the sealed substrate 31 is divided into four, and is divided into a sealed substrate 35 having a size of 300 x 250 mm. The divided sealing substrates 35A, 35B, 35C, and 35D have a size that can be mounted on the cutting table 8 of the cutting device 19. By dividing the sealed substrate 31, the warpage, internal stress, etc. originally held by the sealed substrate 31 are reduced. Therefore, the divided sealing substrates 35A, 35B, 35C, and 35D change in warpage, dimensions, and the like.

다음에, 도 8에 도시되는 바와 같이, 예를 들면, 4분할된 중의 1개의 밀봉완료 기판(35A)을 반송 기구(22)에 의해 절단용 테이블(8)에 재치한다. 절단용 테이블(8)에는, 도 3A, 도 3B에서 도시한 절단용 치구(9)가 부착되어 있다. 따라서 절단용 치구(9)의 금속 플레이트(10)에는 다수의 제1의 마크(18)가 형성되어 있다. 절단용 테이블(8)의 소정 영역(SUB)의 범위 내에서, 밀봉완료 기판(35A)을 재치할 수 있다.Next, as shown in Fig. 8, for example, one of the sealed substrates 35A in four divisions is placed on the cutting table 8 by the transport mechanism 22. The cutting jig 9 shown in FIGS. 3A and 3B is attached to the cutting table 8. Therefore, a number of first marks 18 are formed on the metal plate 10 of the jig 9 for cutting. Within the range of the predetermined area SUB of the cutting table 8, the sealed substrate 35A can be placed.

밀봉완료 기판(35A)에서, 긴변방향에 따라 형성된 제2의 마크(32) 중 어느 1개의 제2의 마크를 32I, 짧은변방향에 따라 형성된 제2의 마크(32) 중 어느 1개의 제2의 마크를 32J라고 한다.In the sealed substrate 35A, any one of the second marks 32I formed along the long side direction is 32I, and the second of any one of the second marks 32 formed along the short side direction. The mark of is called 32J.

얼라인먼트용의 카메라(25)(도 4 참조)에 의해, 밀봉완료 기판(35A)의 긴변방향에 따라 형성된 제2의 마크(32A, 32I), 및, 짧은변방향에 따라 형성된 제2의 마크(32B, 32J)의 좌표 위치를 측정한다. 이들의 측정된 제2의 마크(32A, 32I 및 32B, 32J)의 좌표 위치와, 미리 기억하여 둔 제1의 마크(18A, 18H 및 18B, 18C)의 좌표 위치를 비교한다. 이에 의해, 밀봉완료 기판(35A)의 어긋남량을 산출할 수 있다. 이 어긋남량을 보정함에 의해, 절단용 테이블(8)의 제1의 마크(18)의 위치에 대응하도록 하여 밀봉완료 기판(35A)의 제2의 마크(32)의 위치를 맞출 수 있다. 따라서 절단용 치구(9)에 마련된 절단홈의 위치에, 밀봉완료 기판(35A)에 설정된 절단선의 위치를 정확하게 맞출 수 있다. 이에 의해, 회전날이 절단용 치구(9)의 절단홈의 위치로부터 어긋나는 일 없이, 분할된 밀봉완료 기판(35A)을 절단선에 따라 정확하게 절단할 수 있다. 마찬가지로 하여, 분할된 밀봉완료 기판(35B, 35C, 35D)을 각각 절단용 테이블(8)에 재치하여 절단한다.The second mark 32A, 32I formed along the long side direction of the sealed substrate 35A by the camera 25 for alignment (see Fig. 4), and the second mark formed along the short side direction ( 32B, 32J). The coordinate positions of these measured second marks 32A, 32I and 32B, 32J are compared with the coordinate positions of the first marks 18A, 18H, and 18B, 18C that have been previously stored. Thereby, the amount of displacement of the sealed substrate 35A can be calculated. By correcting this shift amount, the position of the second mark 32 of the sealed substrate 35A can be aligned so as to correspond to the position of the first mark 18 of the cutting table 8. Therefore, the position of the cutting line provided in the cutting jig 9 can accurately match the position of the cutting line set in the sealed substrate 35A. Thereby, the divided sealing substrate 35A can be accurately cut along the cutting line without shifting the rotating blade from the position of the cutting groove of the cutting jig 9. Similarly, the divided sealing substrates 35B, 35C, and 35D are placed on the cutting table 8 and cut.

본 실시례에 의하면, 기존의 절단 장치(19)의 절단용 테이블(8)에 탑재할 수 없는 대형의 밀봉완료 기판(31)을 분할함에 의해, 기존의 절단 장치(19)를 사용하여 분할된 밀봉완료 기판(35)을 절단할 수 있다. 이것은, 종래와 같은 위치 결정핀을 사용한 위치맞춤 방법이 아니라, 얼라인먼트용의 카메라(25)를 사용하여 좌표 위치를 측정하는 위치맞춤 방법을 채용함에 의해 가능하게 되었다. 분할된 밀봉완료 기판(35)의 제2의 마크(32)의 좌표 위치와, 미리 기억된 절단용 테이블(8)의 제1의 마크(18)의 좌표 위치를 비교함에 의해 정확하게 위치맞춤을 할 수 있다. 따라서 절단용 테이블(8)에 탑재할 수 없는 대형의 밀봉완료 기판을 분할함에 의해, 기존의 절단 장치(19)를 사용하여 절단하는 것이 가능해진다.According to the present embodiment, by dividing the large-sized sealing substrate 31 that cannot be mounted on the cutting table 8 of the existing cutting device 19, it is divided using the existing cutting device 19. The sealed substrate 35 can be cut. This was made possible by adopting a positioning method for measuring coordinate positions using the alignment camera 25 rather than the conventional positioning method using a positioning pin. Precise alignment is achieved by comparing the coordinate position of the second mark 32 of the divided sealing substrate 35 with the previously stored coordinate position of the first mark 18 of the cutting table 8. You can. Therefore, by dividing a large sealed substrate which cannot be mounted on the cutting table 8, it becomes possible to cut using the existing cutting device 19.

본 실시례에 의하면, 대형의 밀봉완료 기판(31)을 분할하여, 분할된 밀봉완료 기판(35)을 절단할 수 있다. 밀봉완료 기판(31)을 분할함에 의해, 밀봉완료 기판(31)의 휘어짐이나 내부 응력이 저감하기 때문에, 분할된 밀봉완료 기판(35)은 휘어짐이나 치수 등에 변화가 생긴다. 분할된 밀봉완료 기판(35)의 치수에 변화가 생긴 경우에도, 밀봉완료 기판(35)의 제2의 마크(32)의 좌표 위치를 측정하기 때문에, 치수의 변화에 대해서도 보정을 할 수 있다. 따라서 분할된 밀봉완료 기판(35)과 절단용 테이블(8)과의 위치맞춤을 정확하게 행할 수 있다.According to this embodiment, the large sealed substrate 31 can be divided, and the divided sealed substrate 35 can be cut. By dividing the sealed substrate 31, the warpage and internal stress of the sealed substrate 31 are reduced, so that the divided sealed substrate 35 undergoes warpage, dimensions, and the like. Even when the dimension of the divided sealed substrate 35 changes, the coordinate position of the second mark 32 of the sealed substrate 35 is measured, so that the change in dimensions can be corrected. Therefore, it is possible to accurately position the divided sealing substrate 35 and the cutting table 8.

본 실시례에 의하면, 통상의 밀봉완료 기판(1) 및 분할된 밀봉완료 기판(35)을, 같은 절단 장치(19)와 같은 절단용 테이블(8)을 사용하여 절단할 수 있다. 따라서 기존의 절단 장치(19)에 새로운 구성 요소나 새로운 기능을 추가하는 일 없이, 밀봉완료 기판(1) 및 분할된 밀봉완료 기판(35)의 위치맞춤을 정밀도 좋게 행할 수 있다. 절단 장치(19)를 개량하는 일 없이, 또한, 비용이 생기는 일 없이, 밀봉완료 기판의 위치맞춤을 정밀도 좋게 행할 수 있다. 따라서 절단 장치(19)의 비용을 억제하면서, 다양한 크기를 갖는 밀봉완료 기판을 절단하는 것이 가능해진다.According to this embodiment, the normal sealed substrate 1 and the divided sealed substrate 35 can be cut using the same cutting device 19 and the same cutting table 8. Therefore, the positioning of the sealed substrate 1 and the divided sealed substrate 35 can be accurately performed without adding new components or new functions to the existing cutting device 19. Without improving the cutting device 19, and without incurring a cost, it is possible to precisely align the sealed substrate. Therefore, it is possible to cut the sealed substrate having various sizes while suppressing the cost of the cutting device 19.

각 실시례에서는, 피절단물로서 칩형상의 소자(반도체 칩 등)를 포함하는 밀봉완료 기판을 절단하는 경우를 나타내었다. 이것으로 한하지 않고, 밀봉완료 기판 이외의 피절단물로서 다음의 피절단물을 절단하여 개편화하는 경우에 본 발명을 적용할 수 있다. 첫번째로, 실리콘, 화합물 반도체로 이루어지고 회로 소자, MEMS(Micro Electro Mechanical Systems) 등의 기능 소자가 만들어진 반도체 웨이퍼(semiconductor wafer)를 개편화하는 경우이다. 두번째로, 저항체, 콘덴서, 센서, 표면 탄성파(彈性波) 디바이스 등의 기능 소자가 만들어진 세라믹스 기판, 유리 기판 등을 개편화하여 칩 저항, 칩 콘덴서, 칩형의 센서, 표면 탄성파 디바이스 등의 제품을 제조하는 경우이다. 이들 2개의 경우에는, 반도체 웨이퍼, 세라믹스 기판 등이, 복수의 영역에 각각 대응하는 기능 소자가 만들어진 기판에 해당한다. 세번째로, 수지 성형품을 개편화하여, 렌즈, 광학 모듈, 도광판 등의 광학 부품을 제조하는 경우이다. 네번째로, 수지 성형품을 개편화하여, 일반적인 성형 제품을 제조하는 경우이다. 다섯번째로, 다양한 전자 기기의 커버 등으로서 사용되는 유리판을 제조하는 경우이다. 상술한 5개의 경우를 포함하는 다양한 경우에 있어서, 여기까지 설명한 내용을 적용할 수 있다.In each embodiment, a case is shown in which a sealed substrate including a chip-shaped element (semiconductor chip, etc.) is cut as an object to be cut. Without being limited to this, the present invention can be applied to the case where the next to-be-cut object is cut into pieces to be cut into pieces other than the sealed substrate. First, it is a case in which a semiconductor wafer made of silicon, a compound semiconductor, and a functional element such as a circuit element and a microelectromechanical systems (MEMS) is made is reorganized. Second, products such as chip resistors, chip capacitors, chip-type sensors, and surface acoustic wave devices are manufactured by reorganizing ceramic substrates and glass substrates made of functional elements such as resistors, capacitors, sensors, and surface acoustic wave devices. Is the case. In these two cases, a semiconductor wafer, a ceramic substrate, or the like corresponds to a substrate on which functional elements corresponding to a plurality of regions are respectively made. Third, the resin molded article is reorganized to manufacture optical components such as lenses, optical modules, and light guide plates. Fourth, it is a case in which a resin molded article is reorganized to produce a general molded product. Fifth, it is a case of manufacturing a glass plate used as a cover for various electronic devices. In various cases including the above-mentioned five cases, the contents described so far can be applied.

각 실시례에서는, 피절단물로서, 긴변방향과 짧은변방향을 갖는 직사각형의 형상을 갖는 피절단물을 절단하는 경우를 나타내었다. 이것으로 한하지 않고, 정방형의 형상을 갖는 피절단물을 절단하는 경우나, 반도체 웨이퍼와 같은 실질적으로 원형의 형상을 갖는 피절단물을 절단하는 경우에서도, 여기까지 설명한 내용을 적용할 수 있다.In each example, a case where a to-be-cut object having a rectangular shape having a long side direction and a short side direction is cut is shown as the object to be cut. The present invention can be applied not only to this, but also in the case of cutting an object having a square shape or in the case of cutting an object having a substantially circular shape such as a semiconductor wafer.

각 실시례에서는, 밀봉완료 기판에 형성된 제2의 마크의 좌표 위치를 절단용 치구(9)에 형성된 제1의 마크와 비교함에 의해, 어긋남량을 산출하였다. 이것으로 한하지 않고, 복수의 위치맞춤 마크로서 제2의 마크 이외의 패턴을 사용할 수 있다. 반도체 웨이퍼에 형성된 실제의 회로 패턴, 밀봉완료 기판에서의 외부 접속용의 단자의 패턴, 돌기형상 전극(범프, BGA에서의 볼) 등을 사용하여 위치맞춤을 할 수 있다.In each example, the amount of misalignment was calculated by comparing the coordinate position of the second mark formed on the sealed substrate with the first mark formed on the jig 9 for cutting. Without being limited to this, patterns other than the second mark can be used as a plurality of alignment marks. Positioning can be performed using the actual circuit pattern formed on the semiconductor wafer, the pattern of the terminal for external connection on the sealed substrate, the projection electrode (bump, ball in BGA), or the like.

각 실시례에서는, 금속 플레이트(10)와 금속 플레이트의 위에 고정된 수지 시트(11)를 갖는 절단용 치구(9)를, 절단용 테이블(8)에 부착하였다. 이것으로 한하지 않고, 1종류 또는 복수종류의 금속에 의해 구성된 절단용 치구(9), 환언하면, 금속제의 절단용 치구(9)를 사용할 수 있다. 1종류 또는 복수종류의 수지에 의해 구성되는 절단용 치구(9), 환언하면 수지제의 절단용 치구(9)를 사용할 수 있다. 절단용 테이블(8)을 사용하지 않고, 이동 기구(23)와 회전 기구(24)에 의해 절단용 치구(9) 본체를 직접 이동시켜도 좋다.In each example, a jig 9 for cutting having a metal plate 10 and a resin sheet 11 fixed on the metal plate was attached to the table 8 for cutting. Without being limited to this, a jig 9 for cutting composed of one or a plurality of types of metals, in other words, a jig 9 for cutting made of metal can be used. The jig 9 for cutting which consists of 1 type or multiple types of resin, in other words, the jig 9 for cutting made of resin can be used. The main body of the cutting jig 9 may be moved directly by the moving mechanism 23 and the rotating mechanism 24 without using the cutting table 8.

각 실시례에서는, 절단 기구로서 회전날을 사용하였다. 이것으로 한하지 않고, 와이어 쏘, 밴드 쏘, 레이저광, 워터 제트, 블라스트 등을 사용하여도 좋다. 와이어 쏘 및 밴드 쏘를 사용하는 경우에는, 절단에 기여하는 수단인 날(와이어 쏘, 밴드 쏘)이 통과하는 공간으로서의 관통 구멍이 절단용 치구에 마련된다. 레이저광, 워터 제트, 블라스트를 사용하는 경우에는, 절단에 기여하는 그들의 수단이 통과하는 공간으로서의 관통 구멍이 절단용 치구에 마련된다. 이들의 것으로부터, 본 발명에서의 「절단홈」에는 「절단용 치구」를 관통하는 슬릿형상의 관통 구멍이 포함된다. 절단 기구에 포함되는 절단에 기여하는 수단(회전날, 와이어 쏘, 밴드 쏘 등)의 적어도 일부분이, 「절단홈」을 통과한다. 절단 기구로부터 공급되는 절단에 기여하는 수단(레이저광, 고압의 분사수, 지립(砥粒) 등)의 적어도 일부분이, 「절단홈」을 통과한다.In each example, a rotating blade was used as a cutting mechanism. Without being limited to this, a wire saw, band saw, laser light, water jet, blast, or the like may be used. In the case of using a wire saw and a band saw, a through hole as a space through which a blade (wire saw, band saw), which is a means contributing to cutting, passes is provided in the cutting jig. In the case of using laser light, water jet, or blast, a through hole as a space through which their means contributing to cutting passes is provided in the cutting jig. From these, the "cutting groove" in the present invention includes a slit-shaped through hole penetrating the "cutting jig". At least a part of means (rotating blade, wire saw, band saw, etc.) contributing to cutting included in the cutting mechanism passes through the "cutting groove". At least a part of the means (laser light, high-pressure injection water, abrasive grains, etc.) contributing to the cutting supplied from the cutting mechanism passes through the "cutting groove".

본 발명은, 상술한 각 실시례로 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위 내에서, 필요에 응하여, 임의로 또한 적절하게 조합시켜서, 변경하고, 또는 선택하여 채용할 수 있는 것이다.The present invention is not limited to each of the above-described embodiments, and can be employed by arbitrarily and appropriately combining, changing, or selecting as necessary, without departing from the spirit of the present invention.

1 : 밀봉완료 기판(피절단물)
2 : 기판
3 : 밀봉 수지
4, 4A, 4B, …, 4G, 4H : 제2의 마크
5 : 제1의 절단선(절단선)
6 : 제2의 절단선(절단선)
7 : 영역(제품)
8 : 절단용 테이블
9 : 절단용 치구
10 : 금속 플레이트
11 : 수지 시트
12 : 돌기부
13 : 흡착구멍
14 : 공간
15 : 제1의 절단홈(절단홈)
16 : 제2의 절단홈(절단홈)
17, 17A, 17B, …, 17G, 17H : 제1의 마크
18, 18A, 18B, …, 18G, 18H : 제1의 마크
19 : 절단 장치
20 : 기판 공급 기구
21 : 기판 재치부
22 : 반송 기구
23 : 이동 기구
24 : 회전 기구
25 : 얼라인먼트용의 카메라(촬상 수단)
26 : 스핀들(절단 기구)
27 : 회전날
28 : 검사용 테이블
29 : 절단완료 기판
30 : 트레이
31 : 대형의 밀봉완료 기판
32, 32A, 32B, …, 32G, 32H, 32I, 32J : 제2의 마크
33 : 분할선
34 : 분할선
35, 35A, 35B, 35C, 35D : 분할된 밀봉완료 기판(피절단물)
A : 기판 공급 모듈
B : 기판 절단 모듈
C : 검사 모듈
P : 제품
CTL : 제어부(제어 수단)
SUB : 밀봉완료 기판이 재치되는 영역
1: Sealed substrate (cut material)
2: Substrate
3: sealing resin
4, 4A, 4B,… , 4G, 4H: 2nd mark
5: first cut line (cut line)
6: Second cutting line (cut line)
7: Area (product)
8: Cutting table
9: jig for cutting
10: metal plate
11: resin sheet
12: protrusion
13: adsorption hole
14: space
15: first cutting groove (cutting groove)
16: second cutting groove (cutting groove)
17, 17A, 17B,… , 17G, 17H: First mark
18, 18A, 18B,… , 18G, 18H: First mark
19: cutting device
20: substrate supply mechanism
21: substrate mounting unit
22: conveying mechanism
23: moving mechanism
24: rotating mechanism
25: Alignment camera (imaging means)
26: spindle (cutting mechanism)
27: rotating blade
28: inspection table
29: cut substrate
30: tray
31: large-sized sealed substrate
32, 32A, 32B,… , 32G, 32H, 32I, 32J: 2nd mark
33: dividing line
34: dividing line
35, 35A, 35B, 35C, 35D: Divided sealed substrate (cut material)
A: Board supply module
B: Substrate cutting module
C: Inspection module
P: Product
CTL: Control unit (control means)
SUB: Area where the sealed substrate is placed

Claims (12)

복수의 제1의 마크와 복수의 절단홈을 갖는 절단용 치구와, 상기 절단용 치구의 위에 재치되어 복수의 제2의 마크를 갖는 피절단물을 복수의 절단선에 따라 절단하는 절단 기구와, 상기 피절단물을 반송하는 반송 기구와, 상기 절단용 치구와 상기 절단 기구를 상대적으로 이동시키는 이동 기구를 구비하고, 상기 피절단물을 상기 복수의 절단선에 따라 절단함에 의해 복수의 제품을 제조할 때에 사용되는 절단 장치로서,
상기 복수의 제1의 마크 및 상기 복수의 제2의 마크를 촬상하는 촬상 수단과,
상기 반송 기구에 의해 상기 절단용 치구의 위에 재치된 상기 피절단물과 상기 절단용 치구를 위치 맞춤하는 제어 수단을 구비하고,
상기 촬상 수단에 의해 취득된 화상 데이터에 의거하여 측정되어 미리 기억된 특정한 제1의 마크의 위치 정보로 이루어지는 제1의 위치 정보와, 상기 절단용 치구에 상기 피절단물이 재치되고 흡착된 상태에서 상기 촬상 수단에 의해 측정된 특정한 제2의 마크의 위치 정보로 이루어지는 제2의 위치 정보를 상기 제어 수단이 비교함에 의해, 상기 절단용 치구와 상기 피절단물 사이의 위치 어긋남을 나타내는 어긋남량을 산출하고,
상기 피절단물에 대한 흡착이 해제된 후에 상기 반송 기구가 상기 절단용 치구로부터 상기 피절단물을 들어올리고, 상기 어긋남량에 의거하여 상기 반송 기구와 상기 절단용 치구를 상대적으로 이동시킴에 의해 상기 피절단물을 상기 어긋남량에 대응하는 목표 위치로 이동시킨 후에, 상기 반송 기구가 상기 절단용 치구에 상기 피절단물을 재차 재치하여 흡착하고,
상기 피절단물이 상기 목표 위치로 이동함에 의해 상기 복수의 절단홈의 위치와 상기 복수의 절단선의 위치가 위치 맞춤되고,
상기 절단용 치구에 상기 피절단물이 재차 재치되어 흡착된 것에 뒤이어서, 상기 절단용 치구에 재차 재치되어 흡착된 상기 피절단물을 상기 절단 기구가 상기 복수의 절단선에 따라 절단하는 것을 특징으로 하는 절단 장치.
A cutting jig having a plurality of first marks and a plurality of cutting grooves, and a cutting mechanism placed on the cutting jig to cut a cut object having a plurality of second marks along a plurality of cutting lines, A conveying mechanism for conveying the object to be cut, a moving mechanism for relatively moving the jig for cutting and the cutting mechanism, and manufacturing a plurality of products by cutting the object to be cut along the plurality of cutting lines As a cutting device used when
Imaging means for imaging the plurality of first marks and the plurality of second marks;
And control means for positioning the cutting object placed on the cutting jig and the cutting jig by the conveying mechanism,
With the first positional information consisting of the positional information of the specific first mark measured and stored in advance based on the image data acquired by the imaging means, and in the state where the object to be cut is placed and adsorbed on the jig for cutting. By comparing the second positional information consisting of the positional information of the specific second mark measured by the imaging means, the control means calculates a shift amount indicating the positional shift between the cutting jig and the object to be cut. and,
After the adsorption to the object to be cut is released, the conveying mechanism lifts the object to be cut from the jig for cutting and moves the conveying mechanism and the jig for cutting relative to the amount of displacement. After the object to be cut is moved to a target position corresponding to the amount of displacement, the transport mechanism places the object to be cut again on the jig for cutting and adsorbs it,
The position of the plurality of cutting grooves and the position of the plurality of cutting lines are aligned by moving the object to be cut to the target position,
It characterized in that the cutting mechanism is cut along the plurality of cutting lines, after the object to be cut is placed on the cutting jig again and adsorbed. Cutting device.
제1항에 있어서,
상기 절단 기구에 포함되는 절단에 기여하는 수단의 적어도 일부분이, 또는, 상기 절단 기구로부터 공급되는 절단에 기여하는 수단의 적어도 일부분이, 상기 복수의 절단선 중 절단되어 있는 절단선에 대응하는 상기 절단홈을 통과하는 것을 특징으로 하는 절단 장치.
According to claim 1,
At least a portion of the means contributing to cutting included in the cutting mechanism, or at least a portion of the means contributing to cutting supplied from the cutting mechanism, corresponds to the cutting line that is cut out of the plurality of cutting lines Cutting device characterized by passing through the groove.
제2항에 있어서,
상기 반송 기구와 상기 절단용 치구를 상대적으로 이동시킴에 의해, X방향, Y방향, 및, θ방향 중 적어도 하나의 방향에 따라 상기 목표 위치에 상기 피절단물을 이동시킨 후에, 상기 반송 기구가 상기 절단용 치구에 상기 피절단물을 재차 재치하는 것을 특징으로 하는 절단 장치.
According to claim 2,
By moving the conveying mechanism and the cutting jig relatively, after moving the object to be moved to the target position in at least one of the X direction, the Y direction, and the θ direction, the conveying mechanism Cutting device, characterized in that to place the object to be cut again on the jig for cutting.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 특정한 제1의 마크는, 평면시하여 제1의 방향 및 상기 제1의 방향에 직교하는 제2의 방향에 따라 각각 적어도 2개 설정되고,
상기 특정한 제2의 마크는, 평면시하여 제1의 방향 및 상기 제1의 방향에 직교하는 제2의 방향에 따라 각각 적어도 2개 설정되는 것을 특징으로 하는 절단 장치.
The method according to any one of claims 1 to 3,
At least two specific first marks are set according to a first direction in plan view and a second direction orthogonal to the first direction,
The cutting device according to claim 2, wherein the specific second mark is set at least two according to a first direction in plan view and a second direction orthogonal to the first direction.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 피절단물은 밀봉완료 기판 또는 분할된 밀봉완료 기판인 것을 특징으로 하는 절단 장치.
The method according to any one of claims 1 to 3,
The object to be cut is a sealing device, characterized in that the sealed substrate or a divided sealed substrate.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 피절단물은, 상기 복수의 제품에 각각 대응하는 복수의 영역에서 기능 소자가 만들어진 기판인 것을 특징으로 하는 절단 장치.
The method according to any one of claims 1 to 3,
The object to be cut is a cutting device, characterized in that the substrate is made of functional elements in a plurality of regions respectively corresponding to the plurality of products.
복수의 절단홈과 복수의 제1의 마크를 갖는 절단용 치구를 준비하는 공정과, 복수의 절단선과 복수의 제2의 마크를 갖는 피절단물을 준비하는 공정과, 반송 기구에 의해 상기 절단용 치구의 위에 상기 피절단물을 재치하는 공정과, 상기 절단용 치구와 절단 기구를 상대적으로 이동시킴에 의해 상기 절단 기구를 사용하여 상기 복수의 절단선에 따라 상기 피절단물을 절단하는 공정을 구비하고, 상기 피절단물을 절단함에 의해 복수의 제품을 제조하는 방법으로서,
촬상 수단에 의해 상기 복수의 제1의 마크 중 특정한 제1의 마크를 촬상하여 제1의 화상 데이터를 취득하는 공정과,
상기 제1의 화상 데이터에 의거하여 화상 처리함에 의해, 상기 특정한 제1의 마크의 위치 정보로 이루어지는 제1의 위치 정보를 취득하는 공정과,
상기 절단용 치구에 재치된 상기 피절단물을 흡착하는 공정과,
상기 절단용 치구에 상기 피절단물이 재치되어 흡착된 상태에서 상기 촬상 수단에 의해 상기 복수의 제2의 마크 중 특정한 제2의 마크를 촬상하여 제2의 화상 데이터를 취득하는 공정과,
상기 제2의 화상 데이터에 의거하여 화상 처리함에 의해, 상기 특정한 제2의 마크의 위치 정보로 이루어지는 제2의 위치 정보를 취득하는 공정과,
상기 제1의 위치 정보와 상기 제2의 위치 정보를 비교함에 의해, 상기 절단용 치구와 상기 피절단물 사이의 위치 어긋남을 나타내는 어긋남량을 산출하는 공정과,
상기 피절단물에 대한 흡착이 해제된 후에 상기 반송 기구가 상기 절단용 치구로부터 상기 피절단물을 들어올리는 공정과,
상기 어긋남량에 의거하여 상기 반송 기구와 상기 절단용 치구를 상대적으로 이동시킴에 의해 상기 어긋남량에 대응하는 목표 위치에 상기 피절단물을 이동시키는 공정과,
상기 반송 기구가 상기 절단용 치구에 상기 피절단물을 재차 재치하여 흡착하는 공정을 구비하고,
상기 이동시키는 공정에서는, 상기 피절단물을 상기 목표 위치로 이동시킴에 의해 상기 복수의 절단홈의 위치와 상기 복수의 절단선의 위치를 위치 맞춤하고,
상기 피절단물을 재차 재치하여 흡착하는 공정에 뒤이어서 상기 절단하는 공정에서 상기 절단용 치구에 재차 재치되어 흡착된 상기 피절단물을 절단하는 것을 특징으로 하는 방법.
A process for preparing a jig for cutting having a plurality of cutting grooves and a plurality of first marks, a process for preparing a cut object having a plurality of cutting lines and a plurality of second marks, and for cutting by a transport mechanism And a step of placing the object to be cut on the jig, and a step of cutting the object to be cut along the plurality of cutting lines by using the cutting mechanism by relatively moving the cutting jig and the cutting mechanism. And, as a method of manufacturing a plurality of products by cutting the object to be cut,
A step of capturing a specific first mark among the plurality of first marks by the imaging means to obtain first image data;
A step of acquiring first positional information consisting of positional information of the specific first mark by image processing based on the first image data;
A step of adsorbing the object to be cut placed on the jig for cutting,
A step of acquiring second image data by imaging a specific second mark among the plurality of second marks by the imaging means while the object to be cut is placed and adsorbed on the jig for cutting;
A step of acquiring second position information consisting of the positional information of the specific second mark by image processing based on the second image data;
A step of calculating a shift amount indicating a position shift between the cutting jig and the object to be cut by comparing the first position information and the second position information;
After the adsorption to the object to be cut is released, the conveying mechanism lifts the object to be cut from the jig for cutting,
A step of moving the object to be moved to a target position corresponding to the amount of displacement by relatively moving the conveying mechanism and the cutting jig based on the amount of displacement;
The conveying mechanism is provided with a step of placing the object to be cut again on the jig for cutting and adsorbing it.
In the moving step, the position of the plurality of cutting grooves and the position of the plurality of cutting lines are aligned by moving the object to be cut to the target position,
A method characterized by cutting the adsorbed object again placed on the jig for cutting in the cutting step following the process of placing the object to be cut again and adsorbing it.
제7항에 있어서,
상기 절단하는 공정에서는, 상기 절단 기구에 포함되는 절단에 기여하는 수단의 적어도 일부분을, 또는, 상기 절단 기구로부터 공급되는 절단에 기여하는 수단의 적어도 일부분을, 상기 복수의 절단선 중 절단되어 있는 절단선에 대응하는 상기 절단홈에 통과시키는 것을 특징으로 하는 방법.
The method of claim 7,
In the cutting step, at least a portion of the means contributing to cutting included in the cutting mechanism, or at least a portion of the means contributing to cutting supplied from the cutting mechanism, is cut among the plurality of cutting lines. Method for passing through the cutting groove corresponding to the line.
제8항에 있어서,
상기 피절단물을 이동시키는 공정에서는, 상기 반송 기구와 상기 절단용 치구를 상대적으로 이동시킴에 의해, X방향, Y방향, 및, θ방향 중 적어도 하나의 방향에 따라 상기 목표 위치에 상기 피절단물을 이동시키는 것을 특징으로 하는 방법.
The method of claim 8,
In the step of moving the object to be cut, the object is cut at the target position in at least one of the X direction, the Y direction, and the θ direction by relatively moving the transport mechanism and the cutting jig. A method characterized by moving water.
제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
평면시하여 제1의 방향 및 상기 제1의 방향에 직교하는 제2의 방향에 따라, 상기 복수의 제1의 마크 중 각각 적어도 2개로 이루어지는 상기 특정한 제1의 마크를 설정하는 공정과,
평면시하여 제1의 방향 및 상기 제1의 방향에 직교하는 제2의 방향에 따라, 상기 복수의 제2의 마크 중 각각 적어도 2개로 이루어지는 상기 특정한 제2의 마크를 설정하는 공정을 구비하는 것을 특징으로 하는 방법.
The method according to any one of claims 7 to 9,
A step of setting the specific first mark comprising at least two of the plurality of first marks according to a first direction in plan view and a second direction orthogonal to the first direction;
Comprising a step of setting the specific second mark comprising at least two of the plurality of second marks according to a first direction in plan view and a second direction orthogonal to the first direction How to feature.
제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 피절단물은 밀봉완료 기판 또는 분할된 밀봉완료 기판인 것을 특징으로 하는 방법.
The method according to any one of claims 7 to 9,
The method, characterized in that the object to be cut is a sealed substrate or a divided sealed substrate.
제7항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 피절단물은, 복수의 제품에 각각 대응하는 복수의 영역에서 기능 소자가 만들어진 기판인 것을 특징으로 하는 방법.
The method according to any one of claims 7 to 9,
The object to be cut is a method in which a functional element is made in a plurality of regions corresponding to a plurality of products, respectively.
KR1020177024358A 2015-02-05 2016-01-06 Cutting device and cutting method KR102089098B1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015021259A JP6212507B2 (en) 2015-02-05 2015-02-05 Cutting apparatus and cutting method
JPJP-P-2015-021259 2015-02-05
PCT/JP2016/050202 WO2016125518A1 (en) 2015-02-05 2016-01-06 Cutting device and cutting method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170110651A KR20170110651A (en) 2017-10-11
KR102089098B1 true KR102089098B1 (en) 2020-03-13

Family

ID=56563870

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020177024358A KR102089098B1 (en) 2015-02-05 2016-01-06 Cutting device and cutting method

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP6212507B2 (en)
KR (1) KR102089098B1 (en)
CN (1) CN107210206B (en)
TW (1) TWI622090B (en)
WO (1) WO2016125518A1 (en)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6483541B2 (en) * 2015-06-16 2019-03-13 株式会社ディスコ Processing method of package substrate
JP2018133432A (en) * 2017-02-15 2018-08-23 株式会社ディスコ Cutting device
CN112074357B (en) * 2018-05-14 2022-08-26 株式会社富士 Lead cutting unit and mounting machine provided with same
CN114340846B (en) 2019-09-27 2022-11-29 株式会社东京精密 Cutting device and method
JP7377092B2 (en) * 2019-12-16 2023-11-09 Towa株式会社 Statistical data generation method, cutting device and system
JP2022007540A (en) * 2020-06-26 2022-01-13 キヤノントッキ株式会社 Alignment device, film deposition apparatus, alignment method, electronic device manufacturing method, program and storage medium
JP7438865B2 (en) * 2020-06-26 2024-02-27 キヤノントッキ株式会社 Alignment equipment, film forming equipment, alignment method, electronic device manufacturing method, program and storage medium
JP7440355B2 (en) * 2020-06-26 2024-02-28 キヤノントッキ株式会社 Alignment equipment, film forming equipment, alignment method, electronic device manufacturing method, program and storage medium
JP7440356B2 (en) * 2020-06-26 2024-02-28 キヤノントッキ株式会社 Alignment equipment, film forming equipment, alignment method, electronic device manufacturing method, program and storage medium
JP7423161B2 (en) 2020-06-30 2024-01-29 株式会社ディスコ chuck table
JP2022152993A (en) * 2021-03-29 2022-10-12 Towa株式会社 Processing device and production method of finished product
KR102633129B1 (en) * 2021-09-29 2024-02-06 한국생산기술연구원 Alignment method between dies and wafers on bonding step
CN114609711B (en) * 2022-03-09 2023-07-18 业成科技(成都)有限公司 Manufacturing method of optical element, clamping device, display module and electronic equipment
JP2024024364A (en) * 2022-08-09 2024-02-22 Towa株式会社 Cutting device and method for manufacturing cut products
CN115815474B (en) * 2022-12-01 2023-09-15 广东新亚光电缆股份有限公司 Low-voltage wire and intelligent processing system thereof

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001156025A (en) 1999-11-29 2001-06-08 Disco Abrasive Syst Ltd Method for separating pellet
JP2009170501A (en) * 2008-01-11 2009-07-30 Disco Abrasive Syst Ltd Cutting apparatus
KR101123613B1 (en) 2008-03-17 2012-03-20 미쓰보시 다이야몬도 고교 가부시키가이샤 Scribing device and scribing method
JP2012114126A (en) * 2010-11-19 2012-06-14 Sharp Corp Substrate splitting device and method of manufacturing electronic component

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4733929B2 (en) * 2004-04-20 2011-07-27 株式会社ディスコ Semiconductor wafer cutting method
JP2005353723A (en) 2004-06-09 2005-12-22 Apic Yamada Corp Dicing apparatus, and dicing method
JP6232667B2 (en) * 2013-06-25 2017-11-22 ボンドテック株式会社 Substrate bonding method
JP6218511B2 (en) * 2013-09-02 2017-10-25 Towa株式会社 Cutting apparatus and cutting method
JP6143668B2 (en) * 2013-12-28 2017-06-07 Towa株式会社 Cutting apparatus and method for manufacturing electronic parts

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001156025A (en) 1999-11-29 2001-06-08 Disco Abrasive Syst Ltd Method for separating pellet
JP2009170501A (en) * 2008-01-11 2009-07-30 Disco Abrasive Syst Ltd Cutting apparatus
KR101123613B1 (en) 2008-03-17 2012-03-20 미쓰보시 다이야몬도 고교 가부시키가이샤 Scribing device and scribing method
JP2012114126A (en) * 2010-11-19 2012-06-14 Sharp Corp Substrate splitting device and method of manufacturing electronic component

Also Published As

Publication number Publication date
WO2016125518A1 (en) 2016-08-11
JP2016143861A (en) 2016-08-08
TWI622090B (en) 2018-04-21
JP6212507B2 (en) 2017-10-11
CN107210206B (en) 2020-09-22
CN107210206A (en) 2017-09-26
KR20170110651A (en) 2017-10-11
TW201643951A (en) 2016-12-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102089098B1 (en) Cutting device and cutting method
KR101784596B1 (en) Cutting device and cutting method
KR102128154B1 (en) Adsorption mechanism and adsorption method, and manufacturing apparatus and manufacturing method
US7727800B2 (en) High precision die bonding apparatus
TWI483340B (en) A method and device for aligning components
TWI683388B (en) Electronic device mounting device and mounting method, and manufacturing method of packaged component
KR102194372B1 (en) Use of placeable marker components for a staged placement of components on a carrier
CN104103629B (en) Plate object
CN112771652A (en) Bare die attachment system and method for integrated accuracy verification and calibration using the same
KR102186384B1 (en) Die bonding apparatus and manufacturing method of semiconductor device
KR20140022582A (en) Flip chip bonding apparatus and calibration method thereof
EP2059112B1 (en) Electronic component taking out apparatus, surface mounting apparatus and method for taking out electronic component
KR101237056B1 (en) Method for Aligning Semiconductor Package Aggregate
JP6498073B2 (en) Method for detecting misalignment of cutting blade
KR101372379B1 (en) Method for inspecting PCB of semiconductor packages
CN112331582B (en) Chip mounting apparatus and method for manufacturing semiconductor device
TWI752603B (en) Mounting device for electronic parts
TWI575587B (en) Substrate cutting device and substrate cutting method
JP5855866B2 (en) Dummy chip and component mounting accuracy inspection method using the same
KR102417464B1 (en) Electronic component bonding apparatus
CN111543125B (en) Chip for measuring mounting accuracy and kit for measuring mounting accuracy
KR20080102061A (en) Alignment vision method and device
KR20140064255A (en) Electronic device mounting apparatus and method for judging position thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant