KR102088437B1 - 발광 다이오드 소자 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 적어도 두 개의 분기들 및 제1 검출 수단(DET1)을 포함하는 발광 다이오드 소자(10)로서, 상기 적어도 두 개의 분기들은 전기적으로 병렬 연결로 장착되며, 각각 발광 다이오드를 포함하고, 상기 적어도 두 개의 분기들은 제1 발광 다이오드(LED1)를 포함하는 제1 분기(11) 및 제2 발광 다이오드(LED2)를 포함하는 제2 분기(12)를 포함하며, 그리고 상기 제1 검출 수단(DET1)은 상기 제1 발광 다이오드의 고장(failure)을 검출하도록 설계된, 발광 다이오드 소자에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 상기 발광 다이오드 소자는 : 상기 제1 발광 다이오드를 전기적으로 우회하도록 장착된 전류 조절기(REG1); 및 상기 제1 발광 다이오드를 통해 흐르는 전류 또는 상기 전류 조절기를 통해 흐르는 전류를, 각각 상기 검출 수단이 상기 제1 발광 다이오드의 고장을 검출하는지 또는 검출하지 않는지의 여부에 따라 번갈아 차단하기 위해, 상기 검출 수단에 의해 제어되는 스위칭 회로(COM1)를 더 포함한다.
Description
본 발명은 일반적으로 발광 다이오드 조명 시스템에 관한 것이다.
더 구체적으로는, 본 발명은 발광 다이오드 소자로서, 한편으로는, 상기 발광 다이오드 소자는 전기적으로 병렬 연결된 적어도 두 개의 분기(branch)들을 포함하고, 각각의 분기는 발광 다이오드를 포함하고, 그 중, 제1 분기는 제1 발광 다이오드를 포함하며, 제2 분기는 제2 발광 다이오드를 포함하고, 한편으로는, 상기 발광 다이오드 소자는 상기 제1 발광 다이오드의 고장(failure)을 검출하도록 설계된 검출 수단을 포함하는, 발광 다이오드 소자에 관한 것이다.
뿐만 아니라, 본 발명은 서로 전기적으로 직렬 연결된, 전술한 것과 같은 발광 다이오드 소자들의 어셈블리에 관한 것이다.
발광 다이오드 소자는 공지되어 있으며, 특히, 전기적으로 병렬 연결된 여러 분기들을 포함하는 발광 다이오드 소자로서, 각각의 분기는 일련의 여러 발광 다이오드들을 포함하는, 발광 다이오드 소자는 문서 US 2008/0204029로부터 공지되어 있다.
상기 소자는 또한 :
- 상기 발광 다이오드 소자의 각각의 분기에서의 전력, 전류 또는 전압을 측정하는 측정 회로; 및
- 상기 측정 회로에 연결된 제어 회로로서, 상기 분기들 중 하나에서 측정된 전력, 전류, 또는 전압이 미리 정해진 임계값을 초과한다면 제어 신호를 전달하는 제어 회로를 포함한다.
이렇게 하여, 상기 소자의 상기 발광 다이오드들 중 하나 이상의 잠재적 고장이 검출될 수 있으며, 결함이 있는 발광 다이오드 또는 결함이 있는 발광 다이오드들을 포함하는 분기는 꺼질(turned off) 수 있다.
그 다음, 상기 결함이 있는 발광 다이오드 또는 결함이 있는 발광 다이오드들을 포함하는 전체 분기를 끄는 것은 다른 분기들에 흐르는 전류의 세기의 증가를 야기하며, 이러한 다른 분기들의 발광 다이오드들의 성능을 저하시키는 위험 및 이러한 발광 다이오드들의 수명을 감소시키는 위험을 야기한다.
전술한 종래 기술의 단점을 극복하기 위해, 본 발명은, 발광 다이오드의 고장이 있을 때, 다른 발광 다이오드들이 가속 노화 또는 조기 고장으로부터 보호될 수 있게 하는 발광 다이오드 소자를 제공한다.
더 구체적으로는, 본 발명에 따르면, 서두에 정의된 것과 같은 발광 다이오드 소자가 제공되며, 상기 발광 다이오드 소자는 :
- 상기 제1 발광 다이오드에 대해 전기적으로 션트 모드로 구성된 전류 조절기; 및
- 상기 제1 발광 다이오드를 통해 흐르는 전류 또는 상기 전류 조절기를 통해 흐르는 전류를, 각각 상기 검출 수단(DET1)이 상기 제1 발광 다이오드의 고장을 검출하는지 또는 검출하지 않는지의 여부에 따라 번갈아 차단하기 위해, 상기 검출 수단에 의해 제어되는 스위칭 회로(COM1)를 포함한다.
이에 따라, 상기 발광 다이오드 소자는, 상기 제1 발광 다이오드의 고장이 상기 검출 수단에 의해 검출될 때, 상기 제1 분기에 흐르는 전류를 유지시키도록 설계된다.
이를 위해, 상기 제1 발광 다이오드의 고장을 검출하는 상기 검출 수단은 :
- 상기 제1 발광 다이오드를 수반하는 상기 제1 분기의 일부를 개방시키고 상기 전류 조절기를 수반하는 상기 제1 분기의 일부를 접속(closing)시키기 위한 상기 스위칭 회로; 및
- 상기 제1 분기에서의 전류를 유지시키기 위한 전류 조절기를 제어한다.
이에 따라, 상기 발광 다이오드 소자의 동작의 연속성은 상기 제1 발광 다이오드에 결함이 있을 때조차도 보장된다. 왜냐하면, 상기 제2 발광 다이오드는 상기 고장 이전의 전류와 실질적으로 동일한 전류에 의해 계속해서 구동되기 때문이다.
이러한 방식으로, 상기 제2 발광 다이오드는 계속해서 정상적으로 작동하며, 노화 또는 증가된 고장 위험으로부터 보호된다.
본 발명에 따른 발광 다이오드 소자의 다른 비-제한적인 이로운 특징들은 다음과 같다 :
- 상기 전류 조절기는 상기 검출 수단에 의해 제어되는 전류 발생기이다;
- 상기 검출 수단은 상기 제1 발광 다이오드의 단선 상태를 식별하기 위한 시스템을 포함한다;
- 상기 검출 회로는 상기 스위칭 회로에게 검출 전압을 전달하며, 상기 검출 전압의 값은 상기 제1 발광 다이오드의 양단 전압의 측정 값 및 개방 회로 기준 전압 간의 비교의 결과에 따라 달라진다;
- 상기 검출 수단은 상기 제1 발광 다이오드의 단락 상태를 식별하기 위한 시스템을 포함한다;
- 상기 검출 회로는 상기 스위칭 회로에게 검출 전압을 전달하며, 상기 검출 전압의 값은 상기 제1 발광 다이오드의 양단 전압의 측정 값 및 단락 회로 기준 전압 간의 비교의 결과에 따라 달라진다;
- 상기 제1 분기는 상기 전류 조절기에 전기적으로 직렬 연결된 평형 저항(balancing resistor)을 포함한다;
- 상기 제1 분기는 상기 전류 조절기 및 상기 제1 발광 다이오드를 포함하는 제2 회로와 전기적으로 직렬 연결된 보상 저항(compensating resistor)을 포함한다;
- 또한 상기 발광 다이오드 소자는 :
- 상기 제2 발광 다이오드의 고장을 검출하도록 설계된 다른 검출 수단;
- 상기 제2 발광 다이오드와 병렬 연결된 다른 전류 조절기; 및
- 상기 제2 발광 다이오드를 통해 흐르는 전류 또는 상기 다른 전류 조절기를 통해 흐르는 전류를, 각각 상기 다른 검출 수단이 상기 제2 발광 다이오드의 고장을 검출하는지 또는 검출하지 않는지의 여부에 따라 번갈아(alternately) 차단하기 위한, 상기 다른 검출 수단에 의해 제어되는 다른 스위칭 회로를 더 포함한다.
본 발명의 특히 유리한 응용 하나는 발광 다이오드의 직렬-병렬 배치의 구현에 있다.
따라서 또한 본 발명은 본 발명에 따른 다수의 발광 다이오드 소자들을 포함하는 발광 다이오드 소자의 어셈블리로서, 상기 발광 다이오드 소자들은 서로 전기적으로 직렬 연결된, 어셈블리를 제공한다.
첨부된 도면과 관련하여 비-제한 예들로서 주어진 다음의 설명은 본 발명이 무엇으로 구성되어 있는지 그리고 본 발명이 어떻게 구현되는지가 더 명확하게 이해될 수 있게 해줄 것이다.
첨부된 도면들에서 :
- 도 1a는 본 발명의 제1 실시예에 따른, 두 개의 발광 다이오드들을 포함하는 발광 다이오드 소자의 전기 회로도이며;
- 도 1b는, 상기 두 개의 발광 다이오드들이 올바르게 작동할 때의, 도 1a의 상기 발광 다이오드 소자의 등가 전기 회로도이며;
- 도 1c는 상기 두 개의 발광 다이오드들 중 하나가 고장을 나타낼 때의, 도 1a의 발광 다이오드 소자의 등가 전기 회로도이며;
- 도 2는 도 1a의 발광 다이오드 소자의 상기 제1 발광 다이오드 및 상기 검출 수단의 상세한 전기 회로도이며,
- 도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른, 발광 다이오드 소자의 전기 회로도이며; 그리고
- 도 4는 직렬 연결된 발광 다이오드 소자들의 어셈블리의 전기 회로도이다.
무엇보다도, 다양한 도면들에 도시된 다양한 실시예들의 동일하거나 유사한 요소들은 동일한 참조 부호를 사용하여 참조될 것이며 매번 설명되지 않을 것임이 주목되어야 한다.
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무엇보다도, 다양한 도면들에 도시된 다양한 실시예들의 동일하거나 유사한 요소들은 동일한 참조 부호를 사용하여 참조될 것이며 매번 설명되지 않을 것임이 주목되어야 한다.
설명에서, 용어 "병렬" 및 "션트 모드"는 두 종류의 전기적 구성들을 나타내기 위해 사용될 것이다.
병렬로 연결된 두 개의 요소들은 공통 노드들에 의해 그것들의 단자들 각각에 연결될 것이다. 따라서 상기 병렬로 연결된 두 개의 요소들은 동일한 단자 전압을 가질 것이다.
반면, 션트 모드로 연결된 두 개의 요소들은 병렬 연결된 두 개의 분기들에 위치될 것이며, 이 때, 이러한 분기들 중 어느 하나는 다른 전기적 컴포넌트들도 포함할 수 있다; 그러면, 이러한 두 개의 요소들의 양단 전압들은 다를 수 있다.
도 1a 및 도 3은 자동차를 위한 외부 조명 시스템(예를 들어, 로우-빔 및 하이-빔 헤드램프들, 또는 주간 주행등(Daytime running lamp; DRL) 유형의 시그널링 램프)과 같은 보다 일반적인 어셈블리의 일부를 형성할 수 있는 발광 다이오드 소자들을 도시한다.
LED(Light-Emitting Diode에 대한 두문자) 기술은 점점 더 자동차들에서 사용되고 있다. 왜냐하면, LED 기술은 백열등 또는 할로겐 램프들과 같은 지금까지 사용된 종래의 램프들과 비교할 때, 감소된 전력 소비 및 증가된 수명을 제공하기 때문이다.
게다가, 발광 다이오드들은 작은 광원들이기 때문에, 광 빔들의 컨디셔닝(conditioning) 및 광 빔들의 성형의 광범위한 가능성을 제공한다.
사이드 램프들, 하이-빔 및 로우-빔 헤드 램프들, 안개등들 및 시그널링 램프들과 같이, 발광 다이오드들을 자동차 조명 시스템으로 통합시키는 것은, 상기 자동차의 운전자에게, 도로에 대한 개선된 가시성 및 개선된 시그널링 성능을 제공하며, 그리고 자동차 제조업체들에게, 그들의 조명 시스템들의 설계에 있어서의 더 큰 자유를 제공한다.
도 1a 및 도 3의 발광 다이오드 소자들(10, 30)은 상기 발광 다이오드들의 열화를 야기할 수 있는 너무 강한 열적 조건들 및 전기적 조건들 하에 있게 된다.
하나 이상의 발광 다이오드들의 고장은, 예를 들어 밤에 운전할 때, 운전자에게 심각한 영향을 미칠 수 있다. 왜냐하면 이러한 고장들은 발광 다이오드 소자에 의해 방출된 빛 세기의 전부 또는 일부의 손실을 초래하기 때문이다.
발광 다이오드의 고장이 다른 발광 다이오드들의 고장로 연결되지 않는 발광 다이오드 소자를 제공하는 것은 본 발명의 목적들 중 하나이다.
예를 들어 도 1a에 도시된 바와 같이, 상기 발광 다이오드 소자(이하에서는 'LED 소자'로 표기됨)(10)는 전기적으로 병렬 연결된 적어도 두 개의 분기들(11, 12)을 포함한다.
상기 LED 소자(10)의 입력 지점(10a) 및 출력 지점(10b) 사이에 연결된 전원 공급 장치(13)는 상기 LED 소자(10)의 작동에 필요한 전력을 공급한다.
보다 정확하게는, 본원에서, 상기 전원 공급 장치(13)는 상기 LED 소자(10)의 단자들을 가로지르는 미리 정해진 전원 전압 V를, 즉 상기 입력 지점(10a) 및 상기 출력 지점(10b) 사이의 미리 정해진 전원 전압 V를 유지시키는 전류 조절기이며, 세기가 I인 전원 전류를 전달한다. 이러한 전원 전류는 상기 전원 전압 V와는 독립적이며, 상기 제1 분기(11) 및 상기 제2 분기(12)에 존재하는 다양한 전기적 컴포넌트들에 따라, 그리고 상기 LED 소자(10)가 방출해야할 빛의 세기의 레벨에 따라 고정된다.
변형으로서, 상기 전원 공급 장치는 상기 LED 소자의 전압 제어를 제공하는 전압 조절기일 수 있다.
본원에서 각각의 분기(11, 12)는 발광 다이오드를 포함한다.
변형으로서, 상기 LED 소자의 다양한 분기들은, 예를 들어, 직렬의 여러 발광 다이오드들을 포함할 수 있다.
뿐만 아니라, 적어도 제1 발광 다이오드(LED1)의 고장을 검출하기 위해 제1 검출 수단(DET1)이 제공된다.
상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 고장을 보상하기 위한 수단들로서, 다른 발광 다이오드들을 통해 흐르는 전류들이 이러한 고장에 의해 영향을 받지 않거나 거의 영향을 받지 않게 하는 방식으로 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 고장을 보상하기 위한 수단들 또한 제공되며, 이 또한 본 발명의 대상이다.
이에 따라, 본 발명의 특히 유리한 일 특징에 따르면, 상기 LED 소자(10, 20)는 :
- 상기 제1 발광 다이오드(LED1)에 대해 전기적으로 션트 모드로 구성된 전류 조절기(REG1); 및
- 상기 제1 발광 다이오드(LED1)를 통해 흐르는 전류 또는 상기 전류 조절기(REG1)를 통해 흐르는 전류를, 각각 상기 검출 수단(DET1)이 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 고장을 검출하는지 또는 검출하지 않는지의 여부에 따라 번갈아 차단하기 위한, 상기 검출 수단(DET1)에 의해 제어되는 스위칭 회로(COM1)를 더 포함한다.
상기 전류 조절기(REG1)는 상기 제1 발광 다이오드(LED1)가 고장나기 전에 상기 제1 발광 다이오드(LED1)에 의해 소비된 전력과 실질적으로 동일한 전력이 소비되는 것을 가능하게 할 것이다. 상기 스위칭 회로(COM1)는, 그것이 입장에서, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)가 연결되지 않게 할 것이며, 대신에, 그리고 상기 제1 발광 다이오드(LED1)를 대신해서, 상기 전류 조절기(REG1)가 연결되게 할 것이다.
도 1a에 도시된 본 발명의 제1 실시예에서, 상기 LED 소자(10)는 오직 두 개의 분기들(11, 12)만을 포함한다. 이러한 실시예는 주로, 단순한 방식으로 본 발명의 동작을 보여주기 위해 설명되고 도시되었다.
그 후, 도 1a에 도시된 바와 같이, 상기 전력원(13)에 의해 공급되는, 상기 LED 소자(10)에 흐르는 전원 전류 I는 다음의 것들의 합으로 분해된다 :
- 상기 제1 분기(11)에 흐르는 제1 전류(I1); 및
- 상기 제2 분기(12)에 흐르는 제2 전류(I2).
제1 실시예에서, 본원의 각각의 분기(11, 12)는 하나의 발광 다이오드를 포함한다 : 상기 제1 분기(11)는 상기 제1 분기(11)의 제1 부분(11a)에 배치된 제1 발광 다이오드(LED1)를 포함하며, 그리고 상기 제2 분기(12)는 제2 발광 다이오드(LED2)를 포함한다.
상기 제1 발광 다이오드(LED1) 및 상기 제2 발광 다이오드(LED2)는 동일하거나 또는 상이한 광학적 특성들(빛의 세기, 파장 스펙트럼(wavelength spectrum), 색 온도 등)을 나타낼 수 있다.
이와 유사하게, 상기 제1 발광 다이오드(LED1) 및 상기 제2 발광 다이오드(LED2)는 동일하거나 또는 상이한 전기적 특성들을 나타낼 수 있다.
본원에서, 상기 특성들은 상이한 것으로 간주된다.
도 1a의 상기 LED 소자(10)의 전기적 동작을 이해하기 위해, 상기 두 개의 발광 다이오들(LED1, LED2)이 고장 없이 작동중 일 때, 상기 LED 소자(10)의 등가 전기 회로도가 도 1b에 도시되어 있다.
고장이 없을 때, 상기 제1 발광 다이오드(LED1), 상기 제2 발광 다이오드(LED2), 그리고 상기 전원 공급 장치(13)는 병렬로 연결된다.
상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단 전압 VLED1 및 상기 제2 발광 다이오드(LED2)의 단자들을 가로지르는 제2 전압 VLED2은 상기 전원 전압 V와 동일하다.
본원에서 상기 발광 다이오드들(LED1, LED2)의 전기적 특성들이 약간 상이하기 때문에, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)를 통해 흐르는 제1 순방향 전류 IF1 및 상기 제2 발광 다이오드(LED2)를 통해 흐르는 제2 순방향 전류 IF2는 상이할 수 있다.
발광 다이오드는 그것의 점멸 또는 고장으로 이어지는 고장을 경험할 수 있다.
이에 따라, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)는, 예를 들어, 단선 고장(open circuit failure)을 나타낼 수 있다. 이 경우, 상기 제1 분기(11)의 상기 제1 부분(11a) 내에서의 전류 통과는 차단되며, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단 전압 VLED1은 일시적 증가를 보인다. 그 후, 상기 전원 전압 I 전체가 상기 제2 분기(12)에 흐를 위험이 있으며, 이는 상기 제2 발광 다이오드(LED2)를 통해 흐르는 전류의 증가를 야기할 것이며, 그리고 상기 제2 발광 다이오드(LED2)의 성능 저하를 유발할 수 있다.
반대로, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)는 단락 고장(short-circuit failure)을 나타낼 수 있다. 이 경우, 상기 제1 분기(11)의 상기 제1 부분(11a) 내에서의 전류 통과는 저항 없이 이루어지며, 상기 제2 발광 다이오드(LED2)는 단락되고, 더 이상 빛을 방출하지 않는다. 이에 따라, 상기 LED 소자(10)는 작동 불능이 된다.
총괄해서 말하자면, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 임의의 고장은 그것의 양단 전압 VLED1의 변화를 야기한다.
이제, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)가 고장날 때, 본 발명에 따른 상기 LED 소자(10)가, 상기 제2 분기(12)를 통해 흐르는 제2 전류 세기 I2를, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 고장 전의 제2 전류의 세기값과 근접한 값으로 고정시키는 방법이 설명될 것이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 상기 제1 검출 수단(DET1)은 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단에 연결되어, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단 전압 VLED1의 값을 측정한다.
상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 잠재적 단선 고장을 검출하기 위해, 상기 제1 검출 수단(DET1)은 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 단선 상태를 식별하기 위한 시스템 COMPOC,1 및 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 단락 상태를 식별하기 위한 시스템 COMPSC,1을 더 포함한다(도 2 참고).
본원에서, 상기 단선 상태를 식별하기 위한 시스템 COMPOC,1 은 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단 전압 VLED1의 측정값을 개방회로 기준 전압 VOC,REF과 비교하는 전압 비교기를 포함한다.
예를 들어, 순방향 작동 전압 VF1이 3V 내지 4V 사이에 있는 제1 발광 다이오드(LED1)에 대해, 상기 개방회로 기준 전압 VOC,REF은 VF1보다 훨씬 크도록 선택될 것이며, 그리고 4.5V 내지 5.5V 사이에 있도록 선택될 것이다.
상기 단선 상태를 식별하기 위한 시스템 COMPOC,1 은 그것의 출력에서 제1 단선 검출 전압 VOC,1을 전달하며, 상기 제1 단선 검출 전압 VOC,1은 선행하는 비교의 결과에 따라 달라진다 :
- 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단 전압 VLED1이 상기 개방회로 기준 전압 VOC,REF 보다 낮을 때, 상기 단선 상태를 식별하기 위한 시스템 COMPOC,1 은, 상기 제1 단선 검출 전압 VOC,1의, 예를 들어 양의 값인, 제1 값을 전달하며, 이에 따라, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)가 제대로 작동하고 있다는 것을 식별한다; 그리고
- 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단 전압 VLED1이 상기 개방회로 기준 전압 VOC,REF 보다 크거나 같을 때, 상기 단선 상태를 식별하기 위한 시스템 COMPOC,1 은, 상기 제1 단선 검출 전압 VOC,1의, 예를 들어 음의 값인, 제2 값을 전달하며, 이에 따라, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)에 결함이 있다는 것을 식별한다.
또한, 본원에서, 상기 단락 상태를 식별하기 위한 시스템 COMPSC,1은 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단 전압 VLED1의 측정값을 단락회로 기준 전압 VSC,REF과 비교하는 전압 비교기를 포함한다.
상기 단락회로 기준 전압 VSC,REF은 0 V 및 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 임계 전압 사이에 있다. 예를 들어, 임계 전압이 2.5V 내지 4V 사이에 있는 제1 발광 다이오드(LED1)에 대해, 상기 단선회로 기준 전압 VSC,REF은 1V 내지 2V 사이에 있을 것이다.
상기 단락 상태를 식별하기 위한 시스템 COMPSC,1은 그것의 출력에서 제1 단락 검출 전압 VSC,1을 전달하며, 상기 제1 단락 검출 전압 VSC,1은 선행하는 비교에 따라 달라진다 :
- 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단 전압 VLED1이 상기 단락회로 기준 전압 VSC,REF 보다 높을 때, 상기 단락 상태를 식별하기 위한 시스템 COMPSC,1은, 상기 제1 단락 검출 전압 VSC,1의, 예를 들어 양의 값인, 제1 값을 전달하며, 이에 따라, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)가 제대로 작동하고 있다는 것을 식별한다; 그리고
- 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단 전압 VLED1이 상기 단락회로 기준 전압 VSC,REF 보다 작거나 같을 때, 상기 단락 상태를 식별하기 위한 시스템 COMPSC,1은, 상기 제1 단락 검출 전압 VSC,1의, 예를 들어 음의 값인, 제2 값을 전달하며, 이에 따라, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)가 단락 고장을 가짐을 식별한다.
변형으로서, 상기 LED 소자를 위한 상기 제1 검출 수단은 오직 단선 상태를 식별하기 위한 시스템만을 포함하거나, 또는 오직 단락 상태를 식별하기 위한 시스템만을 포함할 수 있다.
또한, 도 1a 내지 도 3에 도시된 LED 소자들(10; 20)의 예들에서, 상기 제1 검출 수단(DET1)은 두 개의 입력들 및 하나의 출력을 갖는 논리 회로(LOG1)도 포함한다.
변형으로서, 상기 제1 검출 수단은, 예를 들어, 아날로그 회로를 포함할 수 있다.
상기 논리 회로(LOG1)는 그것의 입력에서 상기 개방회로 기준 전압 VOC,REF 및 상기 단락회로 기준 전압 VSC,REF을 수신하며, 그것의 출력에서 검출 전압 VDET1을 전달한다.
상기 논리 회로(LOG1)는, 예를 들어, 'AND' 게이트일 수 있다.
상기 제1 검출 수단(DET1)은, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)를 수반하는 상기 제1 분기(11)에 연결되어, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 잠재적 단락 고장 또는 단선 고장을 검출할 수 있다.
상기 전류 조절기(REG1)는, 상기 제1 분기(11)의 제2 부분(11b)에서, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)에 대해 전기적으로 션트 모드로 구성된다.
상기 전류 조절기(REG1)는 상기 제1 검출 수단(DET1)에 의해 전달되는 상기 검출 전압 VDET1에 의해 제어된다. 이는 상기 전류 조절기(REG1)가 상기 검출 수단(DET1)에 의해 활성화(enabling)되고, 그리고 상기 전류 조절기(REG1)가 상기 검출 전압 VDET1의 값에 따라 달라지는 두 개의 상이한 전기적 상태들을 나타낸다는 것을 의미하는 것으로 이해된다.
특히, 상기 검출 전압 VDET1이 특정한 미리 정해진 임계값보다 높을 때, 이는 상기 제1 발광 다이오드(LED1)가 제대로 작동 중이라는 표시이며, 상기 전류 조절기(REG1)는 비활성화(disabled)되고, 전류가 흐르지 않는 개방 회로와 전기적으로 등가이다.
그와 반대로, 상기 검출 전압 VDET1이 상기 미리 정해진 임계값보다 낮을 때, 이는 상기 제1 발광 다이오드(LED1)에 고장이 있다는 표시이며, 상기 전류 조절기(REG1)는 활성화되고, 상기 제1 분기(11)로 전류를 전달한다.
예를 들어, 상기 전류 조절기(REG1)는 보정 저항(calibration resistor)과 직렬 연결된 양극성 트랜지스터를 포함할 수 있으며, 상기 트랜지스터의 베이스(base)는 상기 검출 수단(DET1)에 연결되며, 상기 검출 전압을 받으며, 상기 트랜지스터의 이미터 및 컬렉터는 상기 제1 분기(11)의 상기 제2 부분(11b)에 연결된다.
변형으로서, 예를 들어, 상기 전류 조절기는 양극성 트랜지스터, 그리고 상기 트랜지스터의 베이스 및 이미터 사이의 접합과 병렬 연결된 보정 저항을 포함할 수 있다.
상기 스위칭 회로(COM1)는, 각각 상기 제1 발광 다이오드(LED1) 및 상기 전류 조절기(REG1) 뒤에 있는, 상기 제1 분기(11)의 제1 부분(11a) 및 제2 부분(11b)의 연결 지점에 위치한다.
변형으로서, 예를 들어, 상기 스위칭 회로는 상기 제1 발광 다이오드 전에, 그리고 상기 전류 조절기 전에 있을 수 있다.
상기 스위칭 회로(COM1)는, 예를 들어 두 개의 스위치들을 포함하는, 전기적 컴포넌트이며, 상기 전기적 컴포넌트는 두 개의 상이한 전기적 상태들을 갖는다 :
- 제1 상태로서, 상기 제1 상태에서, 상기 전기적 컴포넌트는 상기 제1 분기(11)의 상기 제1 부분(11a)에서만 전류가 흐르도록 허용하는, 제1 상태.
- 제2 상태로서, 상기 제2 상태에서, 상기 전기적 컴포넌트는 상기 제1 분기(11)의 상기 제2 부분(11b)에서만 전류가 흐르도록 허용하는, 제2 상태.
유리하게는, 상기 스위칭 회로(COM1)는 상기 검출 수단(DET1)에 의해 제어되며, 상기 검출 수단(DET1)이 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 고장을 검출하느냐 또는 검출하지 않느냐의 여부에 따라, 각각 상기 제2 상태, 상기 제1 상태에 있다.
더 상세하게는, 상기 검출 회로(DET1)는 상기 스위칭 회로(COM1)에게 상기 검출 전압 VDET,1을 전달하며, 이러한 검출 전압 VDET,1의 값은 상기 스위칭 회로(COM1)에 의해 취해지는 상기 상태를 고정시킨다 :
- 상기 제1 발광 다이오드(LED1)가 정상적으로 작동하고, 상기 검출 전압 VDET1이 미리 정해진 임계값보다 높을 때 상기 제1 상태에 있게 한다; 그리고
- 상기 제1 발광 다이오드(LED1)에 결함이 있고, 상기 검출 전압 VDET1이 상기 미리 정해진 임계값보다 낮을 때 상기 제2 상태에 있게 한다.
이에 따라, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)에 결함이 있을 때, 도 1a의 상기 LED 소자(10)는 도 1c에 도시된 전기 회로도와 전기적으로 등가이다.
유리하게는, 상기 전류 조절기(REG1)는, 상기 전류 조절기가 상기 검출 수단(DET1)에 의해 제어되는 상기 스위칭 회로(COM1)에 의해 상기 제1 분기(11)로 연결될 때, 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 고장 전에 상기 제1 발광 다이오드(LED1)를 통해 흘렀던 전류와 실질적으로 동일한 전류를 전달하는 방식으로 선택된다.
이러한 방식으로, 상기 제2 분기(12)에 흐르는, 그리고 고장이 나지 않은 상기 제2 발광 다이오드(LED2)를 통해 흐르는 상기 제2 전류(I2)는 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 고장 전의 전류 값에 근접하고 실질적으로 변함없게 유지된다.
상기 전류 조절기(REG1)가 그 자체로 상기 제2 분기(12)에서의 전류를 유지시킬 수 없을 때, 상기 전류 조절기(REG1)에 전기적으로 직렬 연결된 평형 저항(balancing resistor) Req,1이 제공된다.
또한 상기 평형 저항 Req,1은 상기 전류 조절기(REG1)를 통해 흐르는 전류가 미리 정해진 값으로 고정될 수 있게 할 수 있다.
변형으로서, 그 자체로 이러한 전류를 유지시킬 수 있는 전류 조절기가 선택될 수 있으며, 이 경우, 상기 평형 저항은 필요하지 않을 것이다.
이에 따라, 본 발명에 의해, 이러한 제2 발광 다이오드(LED2)의 가속 노화 또는 조기 고장의 위험들이 감소된다.
도 4에 도시된 제2 실시예에서, 상기 LED 소자(20)는, 상기 제1 검출 수단(DET1)처럼, 상기 제2 발광 다이오드(LED2)의 고장을 검출할 제2 검출 수단(DET2)도 포함한다.
따라서 상기 LED 소자(20) 또한 :
- 상기 제2 발광 다이오드(LED2)와 병렬 연결된 제2 전류 조절기(REG2); 및
- 상기 제2 검출 수단(DET2)이 상기 제2 발광 다이오드(LED2)의 고장을 검출하는지 또는 검출하지 않았는지의 여부에 따라, 각각, 전류가 교대로 상기 제2 발광 다이오드(LED2)에서 또는 상기 제2 전류 조절기(REG2)에서 흐르도록 하는, 상기 제2 검출 수단(DET2)에 의해 제어되는 제2 스위칭 회로(COM2)를 더 포함한다.
다른 전류 조절기(REG2)의 동작 및 다른 스위칭 회로(COM2)의 동작은 상기 전류 조절기(REG1)의 동작 및 상기 스위칭 회로(COM1)의 동작과 동일하다.
이에 따라, 상기 LED 소자(20)가 상기 두 개의 발광 다이오드들(LED1, LED2) 중 하나 또는 다른 하나의 고장이 보상되도록 하기 때문에, 이러한 LED 소자(20)의 내구성이 개선된다.
유리하게는, 상기 제1 발광 다이오드(LED1) 및 상기 제2 발광 다이오드(LED2)가 상이한 전기적 특성들, 특히 상이한 동작 전압들을 나타낼 때, 상기 LED 소자(20)는, 각각 상기 제1 분기(11) 및 상기 제2 분기(12)에 배치되는, 보상 저항들 Rcomp,1, Rcomp,2을 포함하며, 상기 보상 저항들은 각각 상기 제1 스위칭 회로(COM1) 및 상기 제2 스위칭 회로(COM2) 뒤에 있어서(도 4 참고), 상기 발광 다이오드들(LED1, LED2) 중 하나가 고장나거나 고장나지 않을 때, 상기 제1 분기(11)의 전압 및 상기 제2 분기(12)의 전압을 조정한다.
변형으로서, 또한 상기 LED 소자는 상기 제1 분기 및 상기 제2 분기의 상기 전류 조절기들과 직렬 연결된 평형 저항들도 포함할 수 있다.
이전에 기술된 LED 소자의 유형의 LED 소자들의 어셈블리(30)가 도 4에 도시되어 있다.
이러한 어셈블리(30)는 두 개의 LED 소자들의 '직렬-병렬'이라 지칭되는 정렬로부터 형성되며, 이 때, 상기 두 개의 LED 소자들 각각은 서로 병렬 연결된 네 개의 발광다이오드들(LED1, LED2, LED3, LED4, LED5, LED6, LED7, LED8)(이하에서는 LED1-LED8로 표시됨)을 포함하고, 상기 두 개의 LED 소자들은 서로 전기적으로 직렬 연결된다.
LED 소자들의 이러한 어셈블리(30)는 또한 'LED들의 4 x 2 어레이'로도 알려져 있다.
변형으로서, LED 소자들의 어셈블리는 다수의 LED 소자들로서, 상기 다수의 LED 소자들 각각은 서로 병렬 연결된 상이한 개수의 발광 다이오드들을 포함하는, 다수의 LED 소자들을 포함할 수 있다.
본원에서, 특히 바람직한 방법으로, 각각의 발광 다이오드(LED1-LED8)는 이전에 설명된 방식과 동일한 방식으로 함께 작동하는 검출 수단(DET1, DET2, DET3, DET4, DET5, DET6, DET7, DET8), 전류 조절기(REG1, REG2, REG3, REG4, REG5, REG6, REG7, REG8), 그리고 스위칭 회로(COM1, COM2, COM3, COM4, COM5, COM6, COM7, COM8)에 연결된다.
이에 따라, 상기 발광 다이오드들(LED1-LED8) 중 하나가 고장날 때, 예를 들어, 단선 고장 또는 단락 고장이 날 때, 나머지 모든 발광 다이오드들은 계속해서 작동하며, 상기 LED 소자들의 어셈블리(30)에 의해 방출되는 총 빛의 세기는 결함이 있는 발광 다이오드의 빛의 세기만큼만 감소된다.
게다가, 결함이 없는 발광 다이오드들을 통해 흐르는 전류들은 상기 결함이 있는 발광 다이오드의 고장 전과 고장 후가 실질적으로 동일하여서, 결함이 없는 발광 다이오드들의 수명은 영향 받지 않는다.
Claims (10)
- 발광 다이오드 소자(10, 20)에 있어서,
상기 발광 다이오드 소자(10, 20)는 :
- 전기적으로 병렬 연결된 적어도 두 개의 분기들(11, 12)로서,
각각의 분기는 발광 다이오드(LED1, LED2)를 포함하며,
상기 적어도 두 개의 분기들(11, 12) 중 제1 분기(11)는 제1 발광 다이오드(LED1)를 포함하며, 제2 분기(12)는 제2 발광 다이오드(LED2)를 포함하는, 적어도 두 개의 분기들(11, 12); 및
- 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 고장(failure)을 검출하도록 설계된 제1 검출 수단(DET1)을 포함하고,
상기 발광 다이오드 소자(10, 20)는 :
- 상기 제1 발광 다이오드(LED1)에 대해 전기적으로 션트 모드로 구성된 전류 조절기(REG1); 및
- 상기 제1 발광 다이오드(LED1)를 통해 흐르는 전류 또는 상기 전류 조절기(REG1)를 통해 흐르는 전류를 각각, 상기 검출 수단(DET1)이 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 고장을 검출하는지 또는 검출하지 않는지의 여부에 따라 번갈아 차단하기 위해, 상기 검출 수단(DET1)에 의해 제어되는 스위칭 회로(COM1)를 더 포함하며,
상기 검출 수단(DET1)은 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 단락 상태(short-circuit state)를 식별하기 위한 시스템(COMPSC,1)을 포함하는 것을 특징으로 하는, 발광 다이오드 소자. - 청구항 1에 있어서,
상기 전류 조절기(REG1)는 상기 검출 수단(DET1)에 의해 제어되는 전류 조절기인, 발광 다이오드 소자. - 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 검출 수단(DET1)은 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 단선 상태(open-circuit state)를 식별하기 위한 시스템(COMPOC,1)을 포함하는, 발광 다이오드 소자. - 청구항 3에 있어서,
상기 검출 수단(DET1)은 상기 스위칭 회로(COM1)에게 검출 전압(VDET1)을 전달하며,
상기 검출 전압(VDET1)의 값은 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단 전압(VLED1)의 측정 값 및 개방 회로 기준 전압(VOC,REF) 간의 비교의 결과에 따라 달라지는, 발광 다이오드 소자. - 삭제
- 청구항 1에 있어서,
상기 검출 수단(DET1)은 상기 스위칭 회로(COM1)에게 검출 전압(VDET1)을 전달하며,
상기 검출 전압(VDET1)의 값은 상기 제1 발광 다이오드(LED1)의 양단 전압(VLED1)의 측정 값 및 단락 회로 기준 전압(VSC,REF) 간의 비교의 결과에 따라 달라지는, 발광 다이오드 소자. - 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 제1 분기(11)는 상기 전류 조절기(REG1)와 전기적으로 직렬 연결된 평형 저항(balancing resistor)(Req,1)을 포함하는, 발광 다이오드 소자. - 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 제1 분기(11)는 상기 전류 조절기(REG1) 및 상기 제1 발광 다이오드(LED1)를 포함하는 제2 회로와 전기적으로 직렬 연결된 보상 저항(compensating resistor)(Rcomp,1)을 포함하는, 발광 다이오드 소자. - 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서,
상기 발광 다이오드 소자는 :
- 상기 제2 발광 다이오드(LED2)의 고장을 검출하도록 설계된 다른 검출 수단(DET2);
- 상기 제2 발광 다이오드(LED2)와 병렬 연결된 다른 전류 조절기(REG2); 및
- 상기 제2 발광 다이오드(LED2)를 통해 흐르는 전류 또는 상기 다른 전류 조절기(REG2)를 통해 흐르는 전류를 각각, 상기 다른 검출 수단(DET2)이 상기 제2 발광 다이오드(LED2)의 고장을 검출하는지 또는 검출하지 않는지의 여부에 따라 번갈아(alternately) 차단하기 위한, 상기 다른 검출 수단(DET2)에 의해 제어되는 다른 스위칭 회로(COM2)를 더 포함하는, 발광 다이오드 소자. - 발광 다이오드 소자들의 어셈블리(30)로서,
상기 어셈블리(30)는 :
청구항 1 또는 청구항 2에 따른 다수의 발광 다이오드 소자들을 포함하는 것을 특징으로 하며,
상기 발광 다이오드 소자들은 서로 전기적으로 직렬 연결되는, 발광 다이오드 소자들의 어셈블리.
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