KR102077867B1 - Thermosetting epoxy resin composition, adhesive film for forming insulating layer and multilayer printed wiring board - Google Patents

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Abstract

(과제) 저유전정접이고, 도체층과의 밀착성이 우수한 조화면(粗化面)을 형성할 수 있고, 다층 프린트 배선판의 빌드업층의 추가적인 다층화, 고밀도화에 대응할 수 있는 특성을 양호한 밸런스로 구비한 절연층을 형성할 수 있는 에폭시 수지 조성물을 제공한다.
(해결 수단) 적어도 에폭시 수지(A)와, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)을 함유하는 수지 조성물 중의 불휘발성 성분을 100 질량%로 한 경우의 상기 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)의 함유량이 0.1∼30 질량%인, 열경화성 에폭시 수지 조성물.
(Problem) With a good balance of low dielectric loss tangent, it is possible to form a rough surface excellent in adhesion with the conductor layer, and to cope with further multilayering and high density of the buildup layer of the multilayer printed wiring board. An epoxy resin composition capable of forming an insulating layer is provided.
(Solution means) The active ester compound containing the said naphthalene structure when the nonvolatile component in the resin composition containing at least an epoxy resin (A) and the active ester compound (B) containing a naphthalene structure is 100 mass% ( The thermosetting epoxy resin composition whose content of B) is 0.1-30 mass%.

Description

열경화성 에폭시 수지 조성물, 절연층 형성용 접착 필름 및 다층 프린트 배선판{THERMOSETTING EPOXY RESIN COMPOSITION, ADHESIVE FILM FOR FORMING INSULATING LAYER AND MULTILAYER PRINTED WIRING BOARD}Thermosetting epoxy resin composition, adhesive film for insulating layer formation and multilayer printed wiring board {THERMOSETTING EPOXY RESIN COMPOSITION, ADHESIVE FILM FOR FORMING INSULATING LAYER AND MULTILAYER PRINTED WIRING BOARD}

본 발명은, 유전 정접이 낮은 값이며, 또한 조도(粗度)가 낮고, 필 강도를 높게 할 수 있는 조화면(粗化面)을 갖는 절연층의 형성에 알맞은 열경화성 에폭시 수지 조성물과 그 경화물, 및 조도가 낮고, 필 강도를 높게 할 수 있는 조화면을 갖는 경화물층을 절연층으로서 갖는 다층 프린트 배선판에 관한 것이다. This invention is a thermosetting epoxy resin composition suitable for formation of the insulating layer which has a low dielectric constant tangent value, low roughness, and has a roughening surface which can raise a peeling strength, and its hardened | cured material. The present invention relates to a multilayer printed wiring board having a cured product layer having a roughened surface having low roughness and a high peel strength as an insulating layer.

전자 기기의 소형화, 고성능화에 따라, 사용되는 다층 프린트 배선판의 빌드업층의 추가적인 다층화, 고밀도화에 대응할 수 있는 도체 형성 방법으로는, 절연층 표면을 조화(粗化) 처리한 후, 무전해 도금으로 도체층을 형성하는 애더티브법과, 무전해 도금과 전해 도금으로 도체층을 형성하는 세미 애더티브법이 알려져 있고, 이들 방법의 경우, 절연층 표면과 도금 도체층 사이의 밀착성은, 주로 절연층 표면을 조화 처리하여 앵커 효과를 발휘하는 미세한 요철을 갖는 면으로 함으로써 확보되고 있다.According to the miniaturization and high performance of electronic devices, as a conductor formation method that can cope with additional multilayering and high density of the buildup layer of the multilayer printed wiring board used, the surface of the insulating layer is roughened, and the conductor is subjected to electroless plating. The additive method of forming a layer and the semiadditive method of forming a conductor layer by electroless plating and electrolytic plating are known. In these methods, the adhesion between the insulating layer surface and the plated conductor layer is mainly based on the surface of the insulating layer. It is ensured by making it the surface which has the fine unevenness | corrugation which exhibits an anchor effect by roughening process.

절연층 표면에 형성된 요철에 의한 앵커 효과는, 표면의 조도가 클수록 크고, 조도가 클수록 절연층과 도금 도체층의 밀착성은 높아진다. 그러나, 절연층 표면의 조도가 크면, 조화면에 형성된 박막 도체층을 소정의 배선 패턴이 형성되도록 에칭에 의해 부분적으로 제거할 때에, 절연층 표면 중의 제거되어야 할 부위에서의 오목부에 들어간 도체층 부분이 제거되기 어려운 상태이기 때문에, 에칭 처리에 장시간을 필요로 하게 되고, 그 영향으로, 남겨져야 할 배선 패턴 부분까지 침식되어 미세 배선이 손상되거나, 단선되거나 할 위험성이 높아진다. 그 때문에, 배선의 미세화, 고밀도화에 대응하기 위해서는, 절연층의 표면 상태는, 가능한 한 미세한 요철이고 또한 도금에 의해 형성되어 있는 박막 도체층과의 밀착성을 충분히 확보할 수 있는 조화면일 것이 요구된다.The anchor effect due to the irregularities formed on the surface of the insulating layer is larger as the roughness of the surface is larger, and the adhesion between the insulating layer and the plating conductor layer is higher as the roughness is larger. However, when the roughness of the surface of the insulating layer is large, when the thin film conductor layer formed on the roughened surface is partially removed by etching so as to form a predetermined wiring pattern, the conductor layer enters into the recess at the portion to be removed in the surface of the insulating layer. Since the part is difficult to be removed, the etching process requires a long time, and as a result, there is a high risk of eroding even the wiring pattern portion to be left, resulting in damage or disconnection of the fine wiring. Therefore, in order to cope with miniaturization and densification of wiring, the surface state of the insulating layer is required to be a rough surface which is as fine as possible as possible and can secure sufficient adhesiveness with the thin film conductor layer formed by plating. .

또한, 절연층에는, 절연층 표면에 형성되는 배선 패턴으로 이루어지는 도체층과의 사이의 선열팽창률에 차가 생기지 않도록 선열팽창률이 낮을 것도 요구된다. 절연층의 선열팽창률이 높으면, 도체층의 선열팽창률과의 차가 커져, 절연층과 도체층 사이에 크랙이 발생하는 등의 문제가 생기기 쉬워진다.The insulating layer is also required to have a low coefficient of thermal expansion so that a difference does not occur in the coefficient of thermal expansion between the conductor layer formed of the wiring pattern formed on the surface of the insulating layer. When the thermal expansion rate of an insulating layer is high, the difference with the linear thermal expansion rate of a conductor layer will become large, and it will become easy to produce a problem, such as a crack generate | occur | producing between an insulating layer and a conductor layer.

종래, 상기와 같은 다층 프린트 배선판의 내층 회로 기판의 절연층을 형성하는 열경화성 수지 조성물에 사용하는 경화제로서 「활성 에스테르 화합물」이 알려져 있고, 그와 같은 「활성 에스테르 화합물」로서 「디시클로펜타디에닐디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물」이 주로 사용되고 있다. 그러나, 최근의 다층 프린트 배선판의 빌드업층의 추가적인 다층화, 고밀도화의 진전은 현저하여, 이러한 상황에 대응할 수 있는 절연층을 형성할 수 있는 에폭시 수지 조성물의 제안도 많이 이루어지고 있다.Conventionally, an "active ester compound" is known as a curing agent used in a thermosetting resin composition for forming an insulating layer of an inner layer circuit board of a multilayer printed wiring board as described above, and as such an "active ester compound", "dicyclopentadienyldi Active ester compounds containing a phenol structure ”are mainly used. However, the progress of further multilayering and densification of the buildup layer of the multilayered printed circuit board in recent years is remarkable, and many proposals have been made of epoxy resin compositions capable of forming an insulating layer that can cope with such a situation.

특허문헌 1에는, 열경화성 에폭시 수지 조성물의 경화제로서 페놀 노볼락 수지 중의 페놀성 수산기를 아릴에스테르화하여 얻어지는 활성 에스테르 화합물을 사용함으로써, 낮은 유전 특성을 발현하는 절연층을 형성하는 경화체를 얻을 수 있는 것이 기재되어 있다.Patent Literature 1 provides a cured product that forms an insulating layer that exhibits low dielectric properties by using an active ester compound obtained by aryl esterifying a phenolic hydroxyl group in a phenol novolak resin as a curing agent of a thermosetting epoxy resin composition. It is described.

특허문헌 2에는, 경화물 표면을 조화 처리한 조화면의 조도가 비교적 작음에도 불구하고, 상기 조화면이 도금 도체에 대하여 높은 밀착성을 나타내며, 또한 선열팽창률이 작은 절연층을 형성할 수 있는 에폭시 수지 조성물로서, (A) 에폭시 수지, (B) 활성 에스테르 화합물, (C) 트리아진 구조를 갖는 페놀 수지, (D) 말레이미드 화합물, 및 (E) 페녹시 수지를 함유하는 에폭시 수지 조성물이 기재되어 있다.Although the roughness of the roughening surface which roughened the hardened | cured material surface is comparatively small in patent document 2, the said roughening surface shows high adhesiveness with respect to a plating conductor, and the epoxy resin which can form the insulating layer with a small coefficient of linear thermal expansion. As the composition, an epoxy resin composition containing (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, (C) a phenol resin having a triazine structure, (D) a maleimide compound, and (E) a phenoxy resin is described. have.

또한, 특허문헌 3에는, 저유전율, 저유전정접을 발현함과 동시에, 우수한 내열성과 난연성을 겸비한 경화물을 부여하는 열경화성 에폭시 수지 조성물로서, 폴리아릴렌옥시 구조를 주골격으로 하고 있고, 상기 구조의 방향핵에 아릴카르보닐기를 갖는 활성 에스테르 수지를 함유하는 에폭시 수지 조성물이 기재되어 있다.In addition, Patent Document 3, as a thermosetting epoxy resin composition which expresses a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent and provides a cured product having excellent heat resistance and flame retardancy, has a polyaryleneoxy structure as a main skeleton, and has the above structure. The epoxy resin composition containing the active ester resin which has an arylcarbonyl group in the aromatic nucleus of is described.

상기한 바와 같이, 내층 회로 기판의 절연층의 형성에 알맞은 에폭시 수지 조성물의 제안은 많이 이루어지고 있지만, 저유전정접임과 동시에, 도체층과의 밀착성이 우수한 미세 조화면을 형성할 수 있다는, 다층 프린트 배선판의 빌드업층의 추가적인 다층화, 고밀도화에 대응할 수 있는 특성을 양호한 밸런스로 구비한 절연층을 형성할 수 있는 에폭시 수지 조성물에 대한 요망은 더욱 높아지고 있다.As described above, many proposals have been made for an epoxy resin composition suitable for forming an insulating layer of an inner layer circuit board. However, it is possible to form a fine roughened surface excellent in adhesion with a conductor layer while being a low dielectric loss tangent. The demand for the epoxy resin composition which can form the insulating layer provided with the favorable balance with the characteristic which can respond to further multilayering and high density of the buildup layer of a printed wiring board is increasing further.

특허문헌 1 : 일본 특허 공개 평07-082348호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-Open No. 07-082348 특허문헌 2 : 일본 특허 공개 제2010-090238호 공보Patent Document 2: Japanese Unexamined Patent Publication No. 2010-090238 특허문헌 3 : 일본 특허 공개 제2012-012534호 공보Patent Document 3: Japanese Patent Laid-Open No. 2012-012534

본 발명은, 저유전정접을 나타냄과 동시에, 도체층과의 밀착성, 에칭성이 우수한 미세 요철을 갖는 조화면을 형성할 수 있다는 다층 프린트 배선판의 빌드업층의 추가적인 다층화, 고밀도화에 대응할 수 있는 특성을 양호한 밸런스로 구비한 절연층을 형성할 수 있는 열경화성 에폭시 수지 조성물과, 그 경화물에 의해 형성되어 있는 절연층을 갖는 프린트 배선판 및 상기 프린트 배선판에 의해 구성되어 있는 다층 프린트 배선판을 제공하는 것을 목적으로 하는 것이다.The present invention provides low dielectric loss tangent, and can cope with further multilayering and high density of the build-up layer of a multilayer printed wiring board capable of forming a rough surface having fine irregularities excellent in adhesion to the conductor layer and etching property. An object of the present invention is to provide a printed wiring board having a thermosetting epoxy resin composition capable of forming an insulating layer provided with a good balance, an insulating layer formed of the cured product, and a multilayer printed wiring board constituted by the printed wiring board. It is.

또한 본 발명은, 상기한 열경화성 에폭시 수지 조성물로 이루어지는 수지 조성물층을 지지 필름 상에 형성한 절연층 형성용 접착 필름 및 상기 열경화성 에폭시 수지 조성물이 시트형 보강 기재에 함침되어 있는 절연층 형성용 프리프레그를 제공하는 것을 목적으로 하는 것이다.The present invention also provides an insulating layer-forming adhesive film in which the resin composition layer made of the above-mentioned thermosetting epoxy resin composition is formed on a supporting film, and a prepreg for forming an insulating layer in which the thermosetting epoxy resin composition is impregnated into a sheet-like reinforcing substrate. The purpose is to provide.

본 발명자들은, 열경화성 에폭시 수지 조성물에 사용되는 경화제나 배합 수지류에 관해 예의 검토한 결과, 에폭시 수지 조성물에 배합되는 수지 성분으로서 알려져 있는 각종 수지 중에서, 「나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물」이, 특정량, 수지 조성물 중에 배합된 경우에 상기 과제를 해결할 수 있는 수단이 되는 것을 발견하여, 이하의 발명을 이룬 것이다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM As a result of earnestly examining about the hardening | curing agent and compounding resins used for a thermosetting epoxy resin composition, among various resins known as a resin component mix | blended with an epoxy resin composition, "the active ester compound containing a naphthalene structure", When it mix | blends with a specific amount and resin composition, it discovers that it becomes a means which can solve the said subject, and achieves the following invention.

[1] 적어도 에폭시 수지(A)와, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)을 함유하는 열경화성 에폭시 수지 조성물로서,[1] A thermosetting epoxy resin composition containing at least an epoxy resin (A) and an active ester compound (B) containing a naphthalene structure,

상기 열경화성 에폭시 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우의 상기 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)의 함유량이 0.1∼30 질량%인, 열경화성 에폭시 수지 조성물. The thermosetting epoxy resin composition whose content of the active ester compound (B) containing the said naphthalene structure when the non volatile component in the said thermosetting epoxy resin composition is 100 mass% is 0.1-30 mass%.

[2] 상기 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)이, 폴리나프틸렌옥사이드 구조와 아릴카르보닐옥시기를 갖는 활성 에스테르 화합물인, [1]에 기재된 열경화성 에폭시 수지 조성물.[2] The thermosetting epoxy resin composition according to [1], wherein the active ester compound (B) having a naphthalene structure is an active ester compound having a polynaphthylene oxide structure and an arylcarbonyloxy group.

[3] 상기 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)이, 폴리나프틸렌옥사이드 구조의 나프탈렌핵에 아릴카르보닐옥시기가 결합한 활성 에스테르 화합물인, [1] 또는 [2]에 기재된 열경화성 에폭시 수지 조성물.[3] The thermosetting epoxy resin composition according to [1] or [2], wherein the active ester compound (B) having a naphthalene structure is an active ester compound having an arylcarbonyloxy group bonded to a naphthalene nucleus of a polynaphthylene oxide structure. .

[4] 상기 에폭시 수지(A)가 액상 에폭시 수지를 함유하는, [1]∼[3] 중 어느 하나에 기재된 열경화성 에폭시 수지 조성물.[4] The thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [3], in which the epoxy resin (A) contains a liquid epoxy resin.

[5] 무기 충전재를 더 함유하는, [1]∼[4] 중 어느 하나에 기재된 열경화성 에폭시 수지 조성물.[5] The thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [4], further containing an inorganic filler.

[6] 열가소성 수지를 더 함유하는, [1]∼[5] 중 어느 하나에 기재된 열경화성 에폭시 수지 조성물.[6] The thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [5], further containing a thermoplastic resin.

[7] 도금에 의해 도체층이 형성되는 다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물인, [1]∼[6] 중 어느 하나에 기재된 열경화성 에폭시 수지 조성물.[7] The thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [6], which is a resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board on which a conductor layer is formed by plating.

[8] [1]∼[7] 중 어느 하나에 기재된 열경화성 에폭시 수지 조성물로 이루어지는 수지 조성물층이 지지 필름 상에 형성되어 있는, 절연층 형성용 접착 필름.[8] An adhesive film for insulating layer formation, wherein the resin composition layer made of the thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [7] is formed on a support film.

[9] [1]∼[7] 중 어느 하나에 기재된 열경화성 에폭시 수지 조성물이 시트형 섬유 기재에 함침되어 있는, 절연층 형성용 프리프레그.[9] A prepreg for forming an insulating layer, wherein the thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [7] is impregnated into the sheet-like fiber base material.

[10] [8]에 기재된 절연층 형성용 접착 필름의 수지 조성물층의 경화물로 이루어지는, 프린트 배선판용 절연체.[10] An insulator for a printed wiring board, comprising the cured product of the resin composition layer of the adhesive film for forming an insulating layer according to [8].

[11] [9]에 기재된 절연층 형성용 프리프레그의 경화물로 이루어지는, 프린트 배선판용 절연체.[11] An insulator for a printed wiring board, comprising the cured product of the prepreg for forming an insulating layer according to [9].

[12] [10] 또는 [11]에 기재된 프린트 배선판용 절연체로 이루어지는 절연층 상에 패턴 가공된 도체층이 형성되어 있는, 프린트 배선판용 절연체.[12] An insulator for a printed wiring board, wherein a conductor layer formed by patterning is formed on the insulating layer comprising the insulator for a printed wiring board according to [10] or [11].

[13] 상기 절연층의 표면 거칠기(Ra)가 10∼200 nm이고, Rq가 15∼250 nm이고, 상기 절연층과 도체층의 필 강도가 0.35 kgf/cm 이상인, [10]∼[12] 중 어느 하나에 기재된 프린트 배선판용 절연체.[13] [10] to [12], wherein the surface roughness Ra of the insulating layer is 10 to 200 nm, Rq is 15 to 250 nm, and the peel strength of the insulating layer and the conductor layer is 0.35 kgf / cm or more. The insulator for printed wiring boards in any one of them.

[14] [12] 또는 [13]에 기재된 프린트 배선판용 절연체가 복수 적층되어 있는, 다층 프린트 배선판.[14] A multilayer printed wiring board, in which a plurality of insulators for a printed wiring board according to [12] or [13] are laminated.

[15] [14]에 기재된 다층 프린트 배선판을 포함하는, 반도체 장치.[15] A semiconductor device comprising the multilayer printed wiring board described in [14].

상기 열경화성 에폭시 수지 조성물은, 유전 정접이 낮고, 도체층과의 밀착성이 우수한 조화면을 형성할 수 있고, 다층 프린트 배선판의 빌드업층의 추가적인 다층화, 고밀도화에 대응할 수 있는 특성을 양호한 밸런스로 구비한 절연층이 되는 경화물층을 형성할 수 있는 열경화성 에폭시 수지 조성물이다.The thermosetting epoxy resin composition has low dielectric loss tangent, can form a roughened surface excellent in adhesion with the conductor layer, and has good balance of properties that can cope with further multilayering and densification of the buildup layer of the multilayer printed wiring board. It is a thermosetting epoxy resin composition which can form the hardened | cured material layer used as a layer.

또한, 상기 열경화성 에폭시 수지 조성물을 경화하여 이루어지는 경화물은, 그 표면의 조화 처리에 의해, 표면 거칠기(Ra)가 10∼200 nm이고, Rq가 15∼250 nm인 미세한 요철을 형성한 경우에도, 도체층과의 밀착성이 우수한 조화면이 되기 때문에, 다층 프린트 배선판에서의 절연층 형성 재료로서 특히 유용하다.Moreover, even when the hardened | cured material formed by hardening | curing the said thermosetting epoxy resin composition forms fine unevenness | corrugation whose surface roughness Ra is 10-200 nm and Rq is 15-250 nm by the roughening process of the surface, Since it becomes the roughening surface excellent in adhesiveness with a conductor layer, it is especially useful as an insulation layer forming material in a multilayer printed wiring board.

이하, 본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물, 절연층 형성용 접착 필름, 절연층 형성용 프리프레그, 프린트 배선판용 절연체 및 다층 프린트 배선판의 각각에 관해 더욱 상세히 서술한다.Hereinafter, each of the thermosetting epoxy resin composition, the adhesive film for insulating layer formation, the prepreg for insulating layer formation, the insulator for a printed wiring board, and a multilayer printed wiring board of this invention is explained in full detail.

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물은, 필수 성분으로서 에폭시 수지(A)와, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)을 함유하고, 그 밖에, 무기 충전재, 열가소성 수지, 에폭시 수지용 경화제, 경화 촉진제, 및 다층 프린트 배선판에서의 절연층을 형성하는 수지 조성물에 사용되는 첨가물을 필요에 따라 함유할 수 있다.The thermosetting epoxy resin composition of this invention contains an epoxy resin (A) and the active ester compound (B) containing a naphthalene structure as an essential component, In addition, an inorganic filler, a thermoplastic resin, the hardening | curing agent for epoxy resins, and a hardening accelerator And the additive used for the resin composition which forms the insulating layer in a multilayer printed wiring board as needed.

<에폭시 수지(A)> <Epoxy Resin (A)>

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물에 사용하는 에폭시 수지(A)는, 다층 프린트 배선판에서의 절연층을 형성하는 수지 조성물에 통상 사용되는 에폭시 수지로, 이하에 드는 예로부터 적절히 선택하여 사용할 수 있다.The epoxy resin (A) used for the thermosetting epoxy resin composition of this invention is an epoxy resin normally used for the resin composition which forms the insulating layer in a multilayer printed wiring board, It can select suitably from the examples below, and can use it.

즉, 에폭시 수지(A)로는, 예컨대, 비스페놀 A형 에폭시 수지, 비스페놀 F형 에폭시 수지, 비스페놀 S형 에폭시 수지, 비스페놀 AF형 에폭시 수지, 페놀 노볼락형 에폭시 수지, tert-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 선형 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소고리형 에폭시 수지, 스피로고리 함유 에폭시 수지, 시클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 트리메틸올형 에폭시 수지, 할로겐화 에폭시 수지 등을 들 수 있다.That is, as an epoxy resin (A), for example, bisphenol-A epoxy resin, bisphenol F-type epoxy resin, bisphenol S-type epoxy resin, bisphenol AF-type epoxy resin, phenol novolak-type epoxy resin, tert- butyl- catechol type epoxy resin , Naphthol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, anthracene type epoxy Resins, linear aliphatic epoxy resins, epoxy resins having a butadiene structure, alicyclic epoxy resins, heterocyclic epoxy resins, spirocyclic epoxy resins, cyclohexanedimethanol epoxy resins, trimethylol epoxy resins, halogenated epoxy resins, and the like. Can be.

에폭시 수지(A)는 2종 이상을 병용해도 좋다. 에폭시 수지(A)는, 에폭시 수지(A)의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우에, 적어도 50 질량% 이상은 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 함유하는 양태가 바람직하다. 그리고 또한, 에폭시 수지(A)는, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖고, 온도 20℃에서 액상인 방향족계 에폭시 수지(액상 에폭시 수지)를 함유하는 양태가 바람직하고, 상기 액상 에폭시 수지 및 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖고, 온도 20℃에서 고체상인 방향족계 에폭시 수지(고체상 에폭시 수지)를 함유하는 양태가 보다 바람직하다.Epoxy resin (A) may use 2 or more types together. When an epoxy resin (A) makes the non volatile component of an epoxy resin (A) 100 mass%, the aspect in which at least 50 mass% or more contains the epoxy resin which has two or more epoxy groups in 1 molecule is preferable. Moreover, the aspect in which an epoxy resin (A) has two or more epoxy groups in 1 molecule and contains a liquid aromatic epoxy resin (liquid epoxy resin) at the temperature of 20 degreeC is preferable, The said liquid epoxy resin and 1 molecule are preferable. The aspect which has three or more epoxy groups in the inside, and contains aromatic epoxy resin (solid epoxy resin) which is solid at the temperature of 20 degreeC is more preferable.

또, 본 발명에 있어서, 방향족계 에폭시 수지란, 그 분자 내에 ?향고리 골격을 갖는 에폭시 수지를 의미한다. 또한 에폭시 당량(g/eq)이란, 에폭시기 1개당의 분자량을 의미한다. 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 사용함으로써, 에폭시 수지 조성물을 접착 필름의 형태로 사용하는 경우에, 충분한 가요성을 나타내어, 취급성이 우수한 필름을 형성할 수 있음과 동시에, 에폭시 수지 조성물의 경화물의 파단 강도가 향상되어, 다층 프린트 배선판의 내구성이 향상된다.In addition, in this invention, an aromatic epoxy resin means the epoxy resin which has an aromatic ring frame | skeleton in the molecule | numerator. In addition, an epoxy equivalent (g / eq) means the molecular weight per epoxy group. By using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin as the epoxy resin, when the epoxy resin composition is used in the form of an adhesive film, sufficient flexibility can be exhibited and a film excellent in handleability can be formed and the epoxy resin can be formed. The breaking strength of the cured product of the composition is improved, and the durability of the multilayer printed wiring board is improved.

또한, 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용하는 경우, 이들의 배합 비율(액상 에폭시 수지 : 고체상 에폭시 수지)은 질량비로 1 : 0.1∼1 : 2의 범위로 하는 것이 바람직하다. 이러한 범위 내에서 액상 에폭시 수지를 이용함으로써, 접착 필름의 형태로 사용하는 경우에, 충분한 가요성이 얻어져, 취급성이 향상되고, 라미네이트시의 충분한 유동성을 얻을 수도 있게 된다. 또한, 이러한 범위 내에서 고체상 에폭시 수지를 이용함으로써, 에폭시 수지 조성물의 점착성을 저하시키고, 접착 필름의 형태로 사용하는 경우에, 진공 라미네이트시의 탈기성을 향상시킬 수 있다. 또한, 진공 라미네이트시에 보호 필름이나 지지 필름의 박리성을 양호하게 하고, 경화 후의 내열성을 향상시킬 수도 있다.In addition, when using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin together as an epoxy resin, it is preferable to make these compounding ratio (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) into the range of 1: 0.1-1: 2 by mass ratio. By using a liquid epoxy resin within such a range, when using it in the form of an adhesive film, sufficient flexibility is obtained, handleability improves, and sufficient fluidity at the time of lamination can also be obtained. Moreover, by using a solid epoxy resin within such a range, when the adhesiveness of an epoxy resin composition is reduced and it uses in the form of an adhesive film, the degassing property at the time of vacuum lamination can be improved. Moreover, the peelability of a protective film and a support film can be made favorable at the time of vacuum lamination, and the heat resistance after hardening can also be improved.

본 발명의 에폭시 수지 조성물에 있어서, 에폭시 수지 조성물의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 에폭시 수지(A)의 함유량은 10∼50 질량%인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 20∼40 질량%이고, 더욱 바람직하게는 20∼35 질량%이다. 에폭시 수지(A)의 함유량을 이 범위 내로 함으로써, 에폭시 수지 조성물의 경화성이 향상되는 경향이 있다.In the epoxy resin composition of the present invention, when the nonvolatile component of the epoxy resin composition is 100% by mass, the content of the epoxy resin (A) is preferably 10 to 50% by mass, more preferably 20 to 40% by mass. %, More preferably, it is 20-35 mass%. There exists a tendency for the hardenability of an epoxy resin composition to improve by making content of an epoxy resin (A) into this range.

<나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)> <Active ester compound (B) containing a naphthalene structure>

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물에서의 「나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)」(나프탈렌형 활성 에스테르 화합물)는, 에폭시 수지의 경화제로서의 기능을 갖고 있음과 동시에, 수지 경화물 표면을 조화 처리했을 때에, 도체층과의 밀착성이 좋은 미세한 요철이 형성되는 것에도 기여하고 있는 것으로 생각된다.The "active ester compound (B) containing a naphthalene structure" (naphthalene type active ester compound) in the thermosetting epoxy resin composition of this invention has a function as a hardening | curing agent of an epoxy resin, and roughens a resin hardened | cured material surface. When it does, it is thought that it contributes also to the formation of the fine unevenness | corrugation which has favorable adhesiveness with a conductor layer.

나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)로는, 나프탈렌 구조와 아릴카르보닐옥시기를 갖기만 하면 특별히 한정되지 않지만, 폴리나프틸렌옥사이드 구조와 아릴카르보닐옥시기를 갖는 활성 에스테르 화합물이 바람직하고, 폴리나프틸렌옥사이드 구조의 나프탈렌핵에 아릴카르보닐옥시기가 결합한 활성 에스테르 화합물이 보다 바람직하다. 폴리나프틸렌옥사이드 구조로는, 탄소수 1∼4의 알킬기로 치환된 폴리나프틸렌옥사이드 구조여도 좋다. 상기와 같은 활성 에스테르 화합물은, 핵 치환 히드록실기를 갖는 나프탈렌 구조의 화합물과, 나프탈렌핵 또는 벤젠핵에 카르복실기를 갖는 카르복실산 화합물의 축합 반응으로 제조할 수 있다. 이러한 활성 에스테르 화합물은, 예를 들면, 특허문헌 3에 기재되어 있는 「폴리아릴렌옥시 구조를 주골격으로 하고, 아릴카르복실산으로 에스테르화되어 있는 활성 에스테르 화합물」에 포함되는 화합물이다.The active ester compound (B) containing a naphthalene structure is not particularly limited as long as it has a naphthalene structure and an arylcarbonyloxy group, but an active ester compound having a polynaphthylene oxide structure and an arylcarbonyloxy group is preferable, and a polynap The active ester compound which the arylcarbonyloxy group couple | bonded with the naphthalene nucleus of a styrene oxide structure is more preferable. The polynaphthylene oxide structure may be a polynaphthylene oxide structure substituted with an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms. The active ester compound as described above can be produced by a condensation reaction between a compound having a naphthalene structure having a nuclear substituted hydroxyl group and a carboxylic acid compound having a carboxyl group at the naphthalene nucleus or benzene nucleus. Such an active ester compound is a compound contained in "the active ester compound esterified by the arylcarboxylic acid, for example as a main frame | skeleton described in patent document 3".

나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)로는, 구체적으로는, 하기 화학식(1)로 표시되는 화합물을 들 수 있다.Specifically as an active ester compound (B) containing a naphthalene structure, the compound represented by following General formula (1) is mentioned.

Figure 112013079974026-pat00001
Figure 112013079974026-pat00001

[식(1) 중, R1은 각각 독립적으로 수소원자 또는 탄소수 1∼4의 알킬기이고, 바람직하게는 수소원자이다. R2는 각각 독립적으로 수소원자 또는 하기 화학식(2)로 표시되는 1가의 기이다. X는 각각 독립적으로 수소원자, 벤조일기 또는 나프틸카르보닐기이고, 바람직하게는 벤조일기이다. n 및 m은 각각 독립적으로 0∼5의 정수로서, n 또는 m 중 어느 한쪽은 1 이상의 정수이다.][In formula (1), R <1> is a hydrogen atom or a C1-C4 alkyl group each independently, Preferably it is a hydrogen atom. R 2 is each independently a hydrogen atom or a monovalent group represented by the following general formula (2). Each X is independently a hydrogen atom, a benzoyl group or a naphthylcarbonyl group, preferably a benzoyl group. n and m are each independently an integer of 0 to 5, and either n or m is an integer of 1 or more.]

Figure 112013079974026-pat00002
Figure 112013079974026-pat00002

[식(2) 중, R1은 상기와 동일하다. X는 상기와 동일하다. p는 1 또는 2의 정수이다. 또, 상기 화학식(1) 및 화학식(2) 중의 X 중 적어도 하나는 벤조일기 또는 나프틸카르보닐기이다.][In formula (2), R <1> is the same as the above. X is the same as above. p is an integer of 1 or 2. And at least one of X in the formulas (1) and (2) is a benzoyl group or a naphthylcarbonyl group.]

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물에 있어서, 열경화성 에폭시 수지 조성물의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)의 함유량은 0.1∼30 질량%가 된다. 이에 따라, 낮은 유전 정접을 나타냄과 동시에, 도체층과의 밀착성, 에칭성이 우수한 미세 요철을 갖는 조화면을 형성할 수 있다. 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)의 함유량의 보다 바람직한 범위는 3∼30 질량%이고, 더욱 바람직하게는 5∼28 질량%이다.In the thermosetting epoxy resin composition of this invention, when the non volatile component of a thermosetting epoxy resin composition is 100 mass%, content of the active ester compound (B) containing a naphthalene structure becomes 0.1-30 mass%. As a result, it is possible to form a roughened surface having fine unevenness which exhibits low dielectric tangent and is excellent in adhesion to the conductor layer and etching property. The range with more preferable content of the active ester compound (B) containing a naphthalene structure is 3-30 mass%, More preferably, it is 5-28 mass%.

<무기 충전재> <Inorganic filler>

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물은, 무기 충전재를 더 함유시킴으로써, 선열팽창률을 저하시키는 것이나 유전 정접을 저하시키는 것이 가능하다. 무기 충전재로는, 예컨대, 실리카, 알루미나, 황산바륨, 탤크, 클레이, 운모 가루, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 산화마그네슘, 질화붕소, 붕산알루미늄, 티타늄산바륨, 티타늄산스트론튬, 티타늄산칼슘, 티타늄산마그네슘, 티타늄산비스무트, 산화티타늄, 지르콘산바륨, 지르콘산칼슘 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 무정형 실리카, 분쇄 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카, 구형 실리카 등의 실리카가 바람직하고, 특히 절연층의 표면 거칠기를 저하시킨다는 점에서 용융 실리카, 구형 실리카가 보다 바람직하고, 구형 용융 실리카가 더욱 바람직하다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다. 시판되고 있는 구형 용융 실리카의 예로서, (주)애드마테크스 제조의 「SOC2」, 「SOC1」 등을 들 수 있다.By further containing an inorganic filler, the thermosetting epoxy resin composition of this invention can reduce a linear thermal expansion rate and can reduce dielectric loss tangent. Examples of the inorganic fillers include silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate, barium titanate, strontium titanate, Calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, calcium zirconate, and the like. Among them, silica, such as amorphous silica, pulverized silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica, spherical silica, is preferable, and fused silica and spherical silica are more preferable in that the surface roughness of the insulating layer is reduced. , Spherical fused silica is more preferred. You may use these 1 type or in combination or 2 or more types. As an example of the commercially available spherical fused silica, "SOC2", "SOC1", etc. made by ADMATICS Co., Ltd. are mentioned.

무기 충전재의 평균 입경은, 특별히 한정되지 않지만, 절연층 표면이 저조도가 되어, 미세 배선 형성을 행할 수 있게 한다는 관점에서, 5 ㎛ 이하가 바람직하고, 3 ㎛ 이하가 보다 바람직하고, 2 ㎛ 이하가 더욱 바람직하고, 1 ㎛ 이하가 더욱더 바람직하고, 0.8 ㎛ 이하가 특히 바람직하고, 0.6 ㎛ 이하가 특히 바람직하고, 0.4 ㎛ 이하가 특히 바람직하다. 한편, 수지 조성물을 수지 와니스로 한 경우에, 와니스의 점도가 상승하여, 취급성이 저하되는 것을 방지한다는 관점에서, 0.01 ㎛ 이상이 바람직하고, 0.03 ㎛ 이상이 보다 바람직하고, 0.05 ㎛ 이상이 더욱 바람직하고, 0.07 ㎛ 이상이 더욱더 바람직하고, 0.1 ㎛ 이상이 특히 바람직하다. 상기 무기 충전재의 평균 입경은 미(Mie) 산란 이론에 기초한 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입도 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 메디안경을 평균 입경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재를 초음파에 의해 수중에 분산시킨 것을 바람직하게 사용할 수 있다. 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치로는, (주)호리바 제작소 제조의 LA-950 등을 사용할 수 있다. 무기 충전재는, 아미노실란계 커플링제, 우레이도실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 메르캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 비닐실란계 커플링제, 스티릴실란계 커플링제, 아크릴레이트실란계 커플링제, 이소시아네이트실란계 커플링제, 술피드실란계 커플링제, 오르가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등의 표면 처리제로 표면 처리하여 그 내습성, 분산성을 향상시킨 것이 바람직하다. 이들은 1종 또는 2종 이상 조합하여 사용해도 좋다.Although the average particle diameter of an inorganic filler is not specifically limited, 5 micrometers or less are preferable, 3 micrometers or less are more preferable, and 2 micrometers or less are from a viewpoint that an insulating layer surface becomes low roughness and enables fine wiring formation. More preferably, 1 micrometer or less is still more preferable, 0.8 micrometer or less is especially preferable, 0.6 micrometer or less is especially preferable, and 0.4 micrometer or less is especially preferable. On the other hand, in the case where the resin composition is used as a resin varnish, from the viewpoint of preventing the viscosity of the varnish from rising and the handleability to be lowered, 0.01 µm or more is preferable, 0.03 µm or more is more preferable, and 0.05 µm or more Preferably, 0.07 micrometer or more is further more preferable, 0.1 micrometer or more is especially preferable. The average particle diameter of the said inorganic filler can be measured by the laser diffraction scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, it can measure by making a particle size distribution of an inorganic filler by volume basis with a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, and making the median diameter into an average particle diameter. The measurement sample can use preferably what disperse | distributed the inorganic filler in water according to the ultrasonic wave. As a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring apparatus, LA-950 etc. by Horiba Corporation can be used. Inorganic fillers include aminosilane coupling agents, ureidosilane coupling agents, epoxysilane coupling agents, mercaptosilane coupling agents, silane coupling agents, vinylsilane coupling agents, styrylsilane coupling agents, and acrylates. It is preferable to surface-treat with surface treatment agents, such as a silane coupling agent, an isocyanate silane coupling agent, a sulfide silane coupling agent, an organosilazane compound, and a titanate coupling agent, and to improve the moisture resistance and dispersibility. You may use these 1 type or in combination or 2 or more types.

무기 충전재를 배합하는 경우에는, 열경화성 에폭시 수지 조성물에 요구되는 특성에 따라서도 상이하지만, 무기 충전재의 함유량은 열경화성 에폭시 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 30∼90 질량%인 것이 바람직하고, 40∼80 질량%인 것이 보다 바람직하고, 50∼70 질량%인 것이 더욱 바람직하다. 무기 충전재의 함유량이 지나치게 적으면, 경화물의 선열팽창률이 높아지는 경향이 있고, 함유량이 지나치게 많으면, 접착 필름을 조제할 때에 필름화가 곤란해지거나, 경화물이 취약해지는 경향이 있다.When mix | blending an inorganic filler, although it changes also with the characteristic calculated | required by a thermosetting epoxy resin composition, content of an inorganic filler is 30-90 mass%, when the non volatile component in a thermosetting epoxy resin composition is 100 mass%. It is preferable that it is 40-80 mass%, and it is still more preferable that it is 50-70 mass%. When there is too little content of an inorganic filler, there exists a tendency for the linear thermal expansion rate of hardened | cured material to become high, and when there is too much content, film formation becomes difficult and hardened | cured material tends to become weak when preparing an adhesive film.

<열가소성 수지> <Thermoplastic>

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물은, 열가소성 수지를 더 함유시킴으로써, 경화물의 기계 강도를 향상시킬 수 있고, 게다가 접착 필름의 형태로 사용하는 경우의 필름 성형능을 향상시킬 수도 있다. 열가소성 수지로는, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르이미드 수지, 폴리술폰 수지, 폴리에테르술폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지, 폴리카보네이트 수지, 폴리에테르에테르케톤 수지, 폴리에스테르 수지를 들 수 있고, 특히 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지가 바람직하다. 이들 열가소성 수지는 각각 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 열가소성 수지의 중량 평균 분자량은 8000∼200000의 범위인 것이 바람직하고, 12000∼100000의 범위인 것이 보다 바람직하다. 또 본 발명에서의 중량 평균 분자량은, 겔 퍼미에이션 크로마토그래피(GPC)법(폴리스티렌 환산)으로 측정된다. GPC법에 의한 중량 평균 분자량은, 구체적으로는, 측정 장치로서 (주)시마즈 제작소 제조의 LC-9A/RID-6A를, 컬럼으로서 쇼와 덴꼬(주) 제조의 Shodex K-800P/K-804L/K-804L을, 이동상으로서 클로로포름 등을 이용하고, 컬럼 온도 40℃에서 측정하여, 표준 폴리스티렌의 검량선을 이용하여 산출할 수 있다.By further containing a thermoplastic resin, the thermosetting epoxy resin composition of this invention can improve the mechanical strength of hardened | cured material, and can also improve the film forming ability at the time of using in the form of an adhesive film. Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyether sulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyether ether Ketone resin and polyester resin are mentioned, A phenoxy resin and polyvinyl acetal resin are especially preferable. These thermoplastic resins may be used independently, respectively and may be used in combination of 2 or more type. It is preferable that it is the range of 8000-200000, and, as for the weight average molecular weight of a thermoplastic resin, it is more preferable that it is the range of 12000-100000. In addition, the weight average molecular weight in this invention is measured by the gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene conversion). The weight average molecular weight by GPC method specifically, LC-9A / RID-6A by Shimadzu Corporation as a measuring apparatus, Shodex K-800P / K-804L by Showa Denko Co., Ltd. as a column. / K-804L can be calculated using a calibration curve of standard polystyrene by measuring at a column temperature of 40 ° C using chloroform or the like as a mobile phase.

열가소성 수지를 배합하는 경우에는, 그 배합량은, 열경화성 에폭시 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 0.1∼10 질량%가 바람직하고, 0.5∼5 질량%가 보다 바람직하다. 이 범위 내이면, 필름 성형능이나 기계 강도 향상의 효과가 발휘되고, 또한 용융 점도의 상승이나 습식 조화 공정 후의 절연층 표면의 조도를 저하시킬 수 있다.When mix | blending a thermoplastic resin, when the non-volatile component in a thermosetting epoxy resin composition is 100 mass%, the compounding quantity has preferable 0.1-10 mass%, and its 0.5-5 mass% is more preferable. If it is in this range, the effect of film forming ability and mechanical strength improvement will be exhibited, and also the raise of melt viscosity and the roughness of the insulating layer surface after a wet roughening process can be reduced.

<에폭시 수지용 경화제> <Hardener for epoxy resin>

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물은, 또한 일반적인 에폭시 수지용 경화제를 사용할 수도 있다. 사용할 수 있는 에폭시 수지용 경화제의 예로는, TD2090, TD2131[DIC(주), 상품명], MEH-7600, MEH-7851, MEH-8000H[메이와 화성(주), 상품명], NHN, CBN, GPH-65, GPH-103[니혼 카야쿠(주), 상품명], SN170, SN180, SN190, SN475, SN485, SN495, SN375, SN395[신닛테츠 화학(주), 상품명], LA7052, LA7054, LA3018, LA1356[DIC(주), 상품명] 등의 페놀계 경화제, F-a, P-d[시코쿠 화성(주), 상품명], HFB2006M[쇼와 고분자(주), 상품명] 등의 벤조옥사진계 경화제, 메틸헥사히드로무수프탈산, 메틸나딕산무수물, 수소화메틸나딕산무수물 등의 산무수물계 경화제, PT30, PT60, BA230S75[론자 재팬(주), 상품명] 등의 시아네이트에스테르계 경화제 등을 들 수 있다.The thermosetting epoxy resin composition of this invention can also use the hardening | curing agent for general epoxy resins further. As an example of the hardening | curing agent for epoxy resins which can be used, TD2090, TD2131 [DIC Corporation, brand name], MEH-7600, MEH-7851, MEH-8000H [Meiwa Chemical Co., Ltd., brand name], NHN, CBN, GPH -65, GPH-103 [Nihon Kayaku Co., Ltd.], SN170, SN180, SN190, SN475, SN485, SN495, SN375, SN395 [Shin-Nitetsu Chemical Co., Ltd.], LA7052, LA7054, LA3018, LA1356 Phenolic hardening agents, such as [DIC Corporation, a brand name], Benzoxazine type hardening agents, such as Fa, Pd [Shikoku Chemical Co., Ltd., a brand name], HFB2006M [Showa Polymer Co., Ltd., a brand name], Methylhexahydro phthalic anhydride And acid anhydride curing agents such as methylnadic acid anhydride and hydrogenated methylnadic acid anhydride, and cyanate ester curing agents such as PT30, PT60, and BA230S75 (Lonza Japan Co., Ltd.).

<경화 촉진제> <Hardening accelerator>

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물은, 경화 촉진제를 더 함유시킴으로써, 경화 시간 및 경화 온도를 효율적으로 조정할 수 있다. 경화 촉진제로는, 예컨대, TPP, TPP-K, TPP-S, TPTP-S[홋쿄 화학 공업(주), 상품명] 등의 유기 포스핀 화합물, 큐아졸 2MZ, 2E4MZ, Cl1Z, Cl1Z-CN, Cl1Z-CNS, Cl1Z-A, 2MZ-OK, 2MA-OK, 2PHZ[시코쿠 화성 공업(주), 상품명] 등의 이미다졸 화합물, 노바큐아[아사히 화성 공업(주), 상품명], 후지큐아[후지 화성 공업(주), 상품명] 등의 아민 어덕트 화합물, 1,8-디아자비시클로[5,4,0]운데센-7,4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6-트리스(디메틸아미노메틸)페놀, 4-디메틸아미노피리딘 등의 아민 화합물, 코발트, 구리, 아연, 철, 니켈, 망간, 주석 등의 유기 금속 착체 또는 유기 금속염 등을 들 수 있다. 경화 촉진제는 2종 이상을 병용해도 좋다. 경화 촉진제를 배합하는 경우에는, 에폭시 수지 조성물 중에 포함되는 에폭시 수지의 총량을 100 질량%(불휘발 성분)로 한 경우, 0.05∼1 질량%의 범위에서 사용하는 것이 바람직하다.The thermosetting epoxy resin composition of this invention can adjust hardening time and hardening temperature efficiently by containing a hardening accelerator further. As a hardening accelerator, For example, organic phosphine compounds, such as TPP, TPP-K, TPP-S, TPTP-S [Hokkyo Chemical Industry Co., Ltd., brand name], Curazole 2MZ, 2E4MZ, Cl1Z, Cl1Z-CN, Cl1Z Imidazole compounds, such as -CNS, Cl1Z-A, 2MZ-OK, 2MA-OK, and 2PHZ [Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., brand name], Novaca cua [Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd.], Fujikyua [Fuji Kasei] Amine adduct compounds, such as an industry, a brand name, 1, 8- diazabicyclo [5, 4, 0] undecene-7, 4- dimethylamino pyridine, benzyl dimethylamine, 2, 4, 6-tris Amine compounds such as (dimethylaminomethyl) phenol and 4-dimethylaminopyridine, and organometallic complexes such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese and tin or organometallic salts. A hardening accelerator may use 2 or more types together. When mix | blending a hardening accelerator, when making the total amount of the epoxy resin contained in an epoxy resin composition into 100 mass% (nonvolatile component), it is preferable to use in 0.05-1 mass%.

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물은, 본 발명의 효과가 발휘되는 범위에서, 전술한 것 이외의 다른 각종 수지 첨가물을 임의로 함유해도 좋다. 수지 첨가물로는, 예컨대 실리콘 파우더, 나일론 파우더, 불소 파우더, 고무 입자 등의 유기 충전제, 오루벤, 벤톤 등의 증점제, 실리콘계, 불소계, 고분자계의 소포제 또는 레벨링제, 이미다졸계, 티아졸계, 트리아졸계, 실란 커플링제 등의 밀착성 부여제, 프탈로시아닌·블루, 프탈로시아닌·그린, 아이오딘·그린, 디스아조 옐로우, 카본 블랙 등의 착색제, 수산화 금속물, 인 함유 화합물 등의 난연제 등을 들 수 있다.The thermosetting epoxy resin composition of this invention may arbitrarily contain various resin additives other than the above-mentioned in the range in which the effect of this invention is exhibited. Examples of the resin additive include organic fillers such as silicone powder, nylon powder, fluorine powder and rubber particles, thickeners such as oruben and benton, silicone, fluorine and polymer antifoaming agents or leveling agents, imidazole series, thiazole series and tria Adhesion-imparting agents, such as a sol type and a silane coupling agent, phthalocyanine blue, phthalocyanine green, iodine green, dispersing agents, such as disazo yellow and carbon black, flame retardants, such as a metal hydroxide and a phosphorus containing compound, etc. are mentioned.

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물은, 상기 성분을 적절하게 혼합하고, 또한, 필요에 따라 3본 롤, 볼 밀, 비드 밀, 샌드 밀 등의 혼련 수단, 혹은 수퍼 믹서, 플라네터리 믹서 등의 교반 수단에 의해 혼련 또는 혼합함으로써 조제할 수 있다. 또한, 유기 용제를 더 첨가함으로써 수지 와니스로서도 조제할 수 있다.The thermosetting epoxy resin composition of this invention mixes the said components suitably, and also stirrings, such as a kneading | mixing means, such as a three roll, a ball mill, a bead mill, and a sand mill, or a super mixer, a planetary mixer, as needed. It can prepare by kneading or mixing by a means. Moreover, it can also prepare as a resin varnish by adding the organic solvent further.

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물에 있어서는, 유전 정접이 낮고, 도체층과의 밀착성이 우수한 조화면을 형성할 수 있기 때문에, 도금에 의해 도체층을 형성하기 위한 수지 조성물(도금에 의해 도체층이 형성되는 다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물)로서 적합하게 사용할 수 있고, 또한 다층 프린트 배선판의 빌드업층용 수지 조성물로서 적합하다.In the thermosetting epoxy resin composition of the present invention, since a rough surface having a low dielectric tangent and excellent adhesion to a conductor layer can be formed, a resin composition for forming a conductor layer by plating (a conductor layer is formed by plating). It can be used suitably as a resin composition for insulating layers of the multilayer printed wiring board used, and is suitable as a resin composition for buildup layers of a multilayer printed wiring board.

본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물은, 다층 프린트 배선판의 절연층 형성 재료로서 특히 알맞은 조성이지만, 솔더 레지스트, 언더필재, 다이 본딩재, 반도체 밀봉재, 보충 수지, 부품 매립 수지 등, 수지 조성물이 필요한 용도에 광범위하게 사용할 수 있다. 또한, 본 발명의 수지 조성물의 형태로는, 특별히 한정되지 않지만, 접착 필름, 프리프레그 등의 시트형 적층 재료, 회로 기판(적층판 용도, 다층 프린트 배선판 용도 등)에 적용할 수 있다. 본 발명의 수지 조성물은, 와니스 상태로 회로 기판에 도포하여 절연층을 형성할 수도 있지만, 공업적으로는 일반적으로, 접착 필름, 프리프레그 등의 시트형 적층 재료의 형태로서 절연층 형성에 이용된다.Although the thermosetting epoxy resin composition of this invention is a composition suitable especially as an insulation layer formation material of a multilayer printed wiring board, it is used for the use which needs resin compositions, such as a soldering resist, an underfill material, a die bonding material, a semiconductor sealing material, a supplementary resin, and a part embedding resin. It can be used extensively. Moreover, it is although it does not specifically limit as an aspect of the resin composition of this invention, It can apply to sheet-like laminated materials, such as an adhesive film and a prepreg, and a circuit board (laminate board use, multilayer printed wiring board use, etc.). Although the resin composition of this invention can be apply | coated to a circuit board in a varnish state, and can form an insulation layer, industrially, it is generally used for formation of an insulation layer as a form of sheet-like laminated materials, such as an adhesive film and a prepreg.

<시트형 적층 재료><Sheet type laminated material>

(절연층 형성용 접착 필름)(Adhesive film for insulating layer formation)

본 발명의 절연층 형성용 접착 필름은, 열경화성 에폭시 수지 조성물로 이루어지는 수지 조성물층이 지지 필름 상에 형성되어 있는 것을 특징으로 한다. 절연층 형성용 접착 필름은, 당업자에게 공지된 방법, 예컨대, 유기 용제에 수지 조성물을 용해시킨 수지 와니스를 조제하고, 이 수지 와니스를, 다이 코터 등을 이용하여 지지체에 도포하고, 또한 가열, 혹은 열풍 분사 등에 의해 유기 용제를 건조시켜 수지 조성물층을 형성함으로써 제조할 수 있다.The adhesive film for insulating layer formation of this invention is characterized by the resin composition layer which consists of a thermosetting epoxy resin composition formed on the support film. The adhesive film for insulating layer formation prepares the resin varnish which melt | dissolved the resin composition in the organic solvent, the method known to a person skilled in the art, for example, apply | coats this resin varnish to a support body using a die coater, etc., and heats it, or It can manufacture by drying an organic solvent by hot air spray etc., and forming a resin composition layer.

유기 용제로는, 예컨대, 아세톤, 메틸에틸케톤, 시클로헥사논 등의 케톤류, 초산에틸, 초산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 카르비톨아세테이트 등의 초산에스테르류, 셀로솔브, 부틸카르비톨 등의 카르비톨류, 톨루엔, 크실렌 등의 방향족 탄화수소류, 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드, N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용매 등을 들 수 있다. 유기 용제는 2종 이상을 조합하여 이용해도 좋다.Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, acetate esters such as propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, cellosolve and butyl. Carbitols, such as carbitol, Aromatic hydrocarbons, such as toluene and xylene, Amide system solvents, such as dimethylformamide, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone, etc. are mentioned. You may use the organic solvent in combination of 2 or more type.

건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층에의 유기 용제의 함유량이 10 질량% 이하, 바람직하게는 5 질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 와니스 중의 유기 용제량, 유기 용제의 비점에 따라서도 상이하지만, 예컨대 30∼60 질량%의 유기 용제를 포함하는 와니스를 50∼150℃에서 3∼10분간 정도 건조시킴으로써, 수지 조성물층을 형성할 수 있다.Although drying conditions are not specifically limited, It drys so that content of the organic solvent to a resin composition layer may be 10 mass% or less, Preferably it is 5 mass% or less. Although it changes also with the amount of the organic solvent in a varnish, and the boiling point of an organic solvent, a resin composition layer can be formed by drying the varnish containing 30-60 mass% of organic solvents at 50-150 degreeC for 3 to 10 minutes, for example. have.

절연층 형성용 접착 필름에 있어서 형성되는 수지 조성물층의 두께는, 도체층의 두께 이상으로 하는 것이 바람직하다. 회로 기판이 갖는 도체층의 두께는 통상 5∼70 ㎛의 범위이기 때문에, 수지 조성물층은 10∼100 ㎛의 두께를 갖는 것이 바람직하다. 박막화의 관점에서, 15∼80 ㎛가 보다 바람직하다.It is preferable that the thickness of the resin composition layer formed in the adhesive film for insulating layer formation shall be more than the thickness of a conductor layer. Since the thickness of the conductor layer which a circuit board has is normally 5-70 micrometers, it is preferable that a resin composition layer has a thickness of 10-100 micrometers. From a viewpoint of thinning, 15-80 micrometers is more preferable.

지지체의 예로는, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리염화비닐 등의 폴리올레핀의 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하 「PET」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리에틸렌나프탈레이트 등의 폴리에스테르의 필름, 폴리카보네이트 필름, 폴리이미드 필름 등의 각종 플라스틱 필름을 들 수 있다. 또한 이형지나 동박, 알루미늄박 등의 금속박 등을 사용해도 좋다. 그 중에서도, 범용성 면에서, 플라스틱 필름이 바람직하고, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름이 보다 바람직하다. 지지체 및 후술하는 보호 필름에는, 매드 처리, 코로나 처리 등의 표면 처리가 실시되어 있어도 좋다. 또한, 실리콘 수지계 이형제, 알키드 수지계 이형제, 불소 수지계 이형제 등의 이형제로 이형 처리가 실시되어 있어도 좋다.Examples of the support include a film of polyolefin such as polyethylene, polypropylene, polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PET"), a film of polyester such as polyethylene naphthalate, polycarbonate film, poly Various plastic films, such as a mid film, are mentioned. Moreover, you may use metal foil, such as a release paper, copper foil, and aluminum foil. Especially, a plastic film is preferable and a polyethylene terephthalate film is more preferable from a versatility viewpoint. Surface treatments, such as a mad process and a corona treatment, may be given to the support body and the protective film mentioned later. Moreover, the mold release process may be performed with mold release agents, such as a silicone resin mold release agent, an alkyd resin mold release agent, and a fluororesin mold release agent.

지지체의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 10∼150 ㎛가 바람직하고, 25∼50 ㎛가 보다 바람직하다.Although the thickness of a support body is not specifically limited, 10-150 micrometers is preferable and 25-50 micrometers is more preferable.

수지 조성물층의 지지체가 밀착되어 있지 않은 면에는, 지지체에 준한 보호 필름을 더 적층할 수 있다. 보호 필름의 두께는, 특별히 한정되지 않지만, 예컨대 1∼40 ㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면에 대한 먼지 등의 부착이나 흠집을 방지할 수 있다.The protective film based on a support body can be further laminated | stacked on the surface in which the support body of a resin composition layer is not in close contact. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, it is 1-40 micrometers. By laminating | stacking a protective film, adhesion | attachment of a dust etc. to a surface of a resin composition layer, and a damage can be prevented.

상기한 구성을 갖는 절연층 형성용 접착 필름은, 롤형으로 권취하여 저장할 수도 있다.The adhesive film for insulating layer formation which has the above-mentioned structure can also be wound up and stored in roll shape.

(절연층 형성용 프리프레그)(Prepreg for insulation layer formation)

본 발명의 절연층 형성용 프리프레그는, 열경화성 에폭시 수지 조성물이 시트형 섬유 기재에 함침되어 있는 것을 특징으로 한다. 즉, 본 발명의 열경화성 에폭시 수지 조성물을 시트형 보강 기재에 핫멜트법 또는 솔벤트법에 의해 함침시키고, 가열하여 반경화시킴으로써 제조할 수 있다. 시트형 보강 기재로는, 예컨대, 유리 클로스나 아라미드 섬유 등의 상용되고 있는 섬유로 이루어지는 프리프레그용 섬유를 이용할 수 있다. 그리고 본 발명의 절연층 형성용 프리프레그는, 지지체 상에 형성되는 구성이 적합하다. The prepreg for insulating layer formation of this invention is characterized by the thermosetting epoxy resin composition being impregnated into the sheet-like fiber base material. That is, the thermosetting epoxy resin composition of this invention can be manufactured by impregnating a sheet-like reinforcement base material by the hot-melt method or the solvent method, and heating and semi-hardening. As a sheet-like reinforcement base material, the fiber for prepreg which consists of commonly used fibers, such as glass cloth and aramid fiber, can be used. And the structure formed on the support body is suitable for the prepreg for insulating layer formation of this invention.

핫멜트법은, 수지 조성물을 유기 용제에 용해시키지 않고, 지지체 상에 일단 코팅하고, 그것을 시트형 보강 기재에 라미네이트하거나, 혹은 다이 코터에 의해 시트형 보강 기재에 수지 조성물을 직접적으로 도공하거나 하여, 프리프레그를 제조하는 방법이다. 또한 솔벤트법은, 전술한 절연층 형성용 접착 필름의 제조방법과 동일하게 하여 수지를 유기 용제에 용해시켜 수지 와니스를 조제하고, 이 와니스에 시트형 보강 기재를 침지하고, 수지 와니스를 시트형 보강 기재에 함침시키고, 그 후 건조시키는 방법이다. 또한, 본 발명의 절연층 형성용 프리프레그는, 절연층 형성용 접착 필름을 시트형 보강 기재의 양면으로부터 가열, 가압 조건하에, 연속적으로 열 라미네이트함으로써 조제할 수도 있다. 지지체나 보호 필름 등도 전술한 절연층 형성용 접착 필름과 동일하게 이용할 수 있다.In the hot-melt method, the resin composition is coated on the support body without dissolving the resin composition in an organic solvent and then laminated on the sheet-like reinforcing substrate, or the resin composition is directly coated on the sheet-like reinforcing substrate by a die coater, thereby prepreg It is a method of manufacturing. In the solvent method, the resin is dissolved in an organic solvent to prepare a resin varnish in the same manner as in the above-described method for producing an insulating film for forming an insulating layer. Impregnation is followed by drying. Moreover, the prepreg for insulating layer formation of this invention can also be prepared by thermally laminating the adhesive film for insulating layer formation on both sides of a sheet-shaped reinforcement base material under heating and pressurization conditions. A support body, a protective film, etc. can also be used similarly to the adhesive film for insulating layer formation mentioned above.

전술한 바와 같이, 상기 절연층 형성용 접착 필름의 수지 조성물층의 경화물로 이루어지는 프린트 배선판용 절연체 및 상기 절연층 형성용 프리프레그의 경화물로 이루어지는 프린트 배선판용 절연체가, 다층 프린트 배선판용의 절연층으로서 적합하다. 또한, 상기 프린트 배선판용 절연체로 이루어지는 절연층 상에 패턴 가공된 도체층(회로)이 형성되어 있는 것이 보다 적합하다. 또한, 상기 도체층(회로)이 형성되어 있는 프린트 배선판용 절연체가 복수 적층되어 있는 다층 프린트 배선판이 적합하다.As mentioned above, the insulator for printed wiring boards which consists of hardened | cured material of the resin composition layer of the said adhesive film for insulating layer formation, and the hardened | cured material of the said prepreg for insulating layer formation is insulation for multilayer printed wiring boards. It is suitable as a layer. Moreover, it is more preferable that the patterned conductor layer (circuit) is formed on the insulating layer which consists of the said insulator for printed wiring boards. Moreover, the multilayer printed wiring board in which the insulator for printed wiring boards in which the said conductor layer (circuit) is formed is laminated | stacked is suitable.

<시트형 적층 재료를 이용한 다층 프린트 배선판><Multilayer printed wiring board using sheet type laminated material>

다음으로, 상기한 바와 같이 하여 제조한 시트형 적층 재료를 이용하여 다층 프린트 배선판을 제조하는 방법의 일례를 설명한다.Next, an example of the method of manufacturing a multilayer printed wiring board using the sheet-like laminated material manufactured as mentioned above is demonstrated.

우선, 시트형 적층 재료를, 진공 라미네이터를 이용하여 회로 기판의 편면 또는 양면에 라미네이트(적층)한다. 회로 기판에 이용되는 기판으로는, 예컨대, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또, 여기서 회로 기판이란, 상기와 같은 기판의 편면 또는 양면에 패턴 가공된 도체층(회로)이 형성된 것을 말한다. 또한 도체층과 절연층을 교대로 적층하여 이루어지는 다층 프린트 배선판에 있어서, 상기 다층 프린트 배선판의 최외층의 편면 또는 양면이 패턴 가공된 도체층(회로)으로 되어 있는 것도, 여기서 말하는 회로 기판에 포함된다. 또 도체층 표면에는, 흑화 처리, 구리 에칭 등에 의해 미리 조화 처리가 실시되어 있어도 좋다.First, a sheet-like laminated material is laminated (laminated) on one side or both sides of a circuit board using a vacuum laminator. As a board | substrate used for a circuit board, a glass epoxy board, a metal board | substrate, a polyester board | substrate, a polyimide board | substrate, a BT resin board | substrate, a thermosetting polyphenylene ether board | substrate, etc. are mentioned, for example. In addition, a circuit board means here that the conductor layer (circuit) pattern-processed was formed in the single side | surface or both surfaces of the above board | substrates. In the multilayer printed wiring board formed by alternately stacking the conductor layer and the insulating layer, the one or both sides of the outermost layer of the multilayer printed wiring board are also used as patterned conductor layers (circuits) in the circuit board referred to herein. . Moreover, the roughening process may be previously performed to the conductor layer surface by blackening process, copper etching, etc.

상기 라미네이트에 있어서, 시트형 적층 재료가 보호 필름을 갖고 있는 경우에는 상기 보호 필름을 제거한 후, 필요에 따라 시트형 적층 재료 및 회로 기판을 프리히트하고, 시트형 적층 재료를 가압 및 가열하면서 회로 기판에 라미네이트한다. 본 발명의 시트형 적층 재료에 있어서는, 진공 라미네이트법에 의해 감압하에서 회로 기판에 라미네이트하는 방법이 적합하게 이용된다. 라미네이트의 조건은, 특별히 한정되지 않지만, 예컨대, 압착 온도(라미네이트 온도)를 바람직하게는 70∼140℃로 하고, 압착 압력(라미네이트 압력)을 바람직하게는 1∼11 kgf/cm2(9.8× 104∼107.9×104 N/m2)로 하고, 압착 시간(라미네이트 시간)을 바람직하게는 5∼180초간으로 하고, 공기압을 20 mmHg(26.7 hPa) 이하로 하는 감압 조건하에서 라미네이트하는 것이 바람직하다. 또한, 라미네이트의 방법은, 배치식이어도 좋고 롤을 이용하는 연속식이어도 좋다. 진공 라미네이트는, 시판되는 진공 라미네이터를 사용하여 행할 수 있다. 시판되는 진공 라미네이터로는, 예컨대, 니치고·모톤(주) 제조의 배큐엄 어플리케이터, (주)메이키 제작소 제조의 진공 가압식 라미네이터, (주)히타치 인더스트리즈 제조의 롤식 드라이 코터, 히타치 에이아이씨(주) 제조의 진공 라미네이터 등을 들 수 있다.In the laminate, in the case where the sheet-like laminated material has a protective film, after removing the protective film, the sheet-like laminated material and the circuit board are preheated as needed, and the sheet-like laminated material is laminated on the circuit board while pressing and heating. . In the sheet-like laminated material of this invention, the method of laminating to a circuit board under reduced pressure by the vacuum lamination method is used suitably. The conditions of the laminate are not particularly limited, but for example, the crimping temperature (lamination temperature) is preferably 70 to 140 ° C, and the crimping pressure (lamination pressure) is preferably 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × 10). 4 ~107.9 × 10 4 N / m 2), and to the compression time (the time the laminate) is preferably 5-180 seconds, it is preferred to laminate under reduced pressure to a pressure less than 20 mmHg (26.7 hPa) . In addition, the laminating method may be batch type or continuous type using a roll. Vacuum lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. As a commercially available vacuum laminator, for example, Nichigo Morton Co., Ltd. Vacuum Applicator, the Meiki Co., Ltd. vacuum press type laminator, Hitachi Industries, Ltd. roll type dry coater, Hitachi AIC ( Note) The vacuum laminator of manufacture etc. are mentioned.

시트형 적층 재료를 회로 기판에 라미네이트한 후, 실온 부근으로 냉각시키고 나서, 지지체를 박리하는 경우에는 박리하고, 수지 조성물을 열경화하여 경화물을 형성함으로써, 회로 기판 상에 절연층을 형성할 수 있다. 열경화의 조건은, 수지 조성물 중의 수지 성분의 종류, 함유량 등에 따라 적절하게 선택하면 되지만, 바람직하게는 150℃∼220℃에서 20분간∼180분간, 보다 바람직하게는 160℃∼210℃에서 30분간∼120분간의 범위에서 선택된다. 절연층을 형성한 후, 경화 전에 지지체를 박리하지 않은 경우에는, 필요에 따라 여기서 박리할 수도 있다.After laminating a sheet-like laminated material on a circuit board and cooling to around room temperature, when peeling a support body, it can peel, heat-cure a resin composition, and can form a hardened | cured material, and an insulating layer can be formed on a circuit board. . Although the conditions of thermosetting may be suitably selected according to the kind, content, etc. of the resin component in a resin composition, Preferably it is 20 minutes-180 minutes at 150 degreeC-220 degreeC, More preferably, it is 30 minutes at 160 degreeC-210 degreeC It is selected in the range of-120 minutes. After forming an insulating layer, when a support body is not peeled off before hardening, you may peel here as needed.

또한, 시트형 적층 재료를, 진공 프레스기를 이용하여 회로 기판의 편면 또는 양면에 적층할 수도 있다. 감압하에, 가열 및 가압을 행하는 적층 공정은, 일반적인 진공 핫프레스기를 이용하여 행하는 것이 가능하다. 예컨대, 가열된 SUS판 등의 금속판을 지지체층측에서 프레스함으로써 행할 수 있다. 프레스 조건은, 감압도를 통상 1×10-2 MPa 이하, 바람직하게는 1×10-3 MPa 이하의 감압 조건으로 한다. 가열 및 가압은, 1단계로 행할 수도 있지만, 수지의 스며나옴을 제어하는 관점에서 2단계 이상으로 조건을 나누어 행하는 것이 바람직하다. 예컨대, 1단계째의 프레스를, 온도를 70∼150℃로 하고, 압력을 1∼15 kgf/cm2의 범위로 하고, 2단계째의 프레스를, 온도를 150∼200℃로 하고, 압력을 1∼40 kgf/cm2의 범위로 하여 행하는 것이 바람직하다. 각 단계의 시간은 30∼120분간으로 행하는 것이 바람직하다. 이와 같이 수지 조성물층을 열경화함으로써 회로 기판 상에 절연층을 형성할 수 있다. 시판되고 있는 진공 핫프레스기로는, 예컨대, MNPC-V-750-5-200 (주)메이키 제작소 제조), VH1-1603(기타가와 세이키(주) 제조) 등을 들 수 있다.In addition, the sheet-like lamination material may be laminated on one side or both sides of the circuit board using a vacuum press. The lamination process of heating and pressurizing under reduced pressure can be performed using a general vacuum hot press. For example, it can carry out by pressing metal plates, such as a heated SUS board, at the support body layer side. Press conditions are made into the pressure reduction conditions of 1 * 10 <-2> MPa or less normally, Preferably it is 1 * 10 <-3> MPa or less. Although heating and pressurization may be performed in one step, it is preferable to divide conditions into two or more steps from a viewpoint of controlling the exudation of resin. For example, the press of the first stage is set at a temperature of 70 to 150 캜, the pressure is in the range of 1 to 15 kgf / cm 2 , and the press of the second stage is made a temperature of 150 to 200 캜, and the pressure is It is preferable to carry out in the range of 1-40 kgf / cm <2> . It is preferable to perform time of each step for 30 to 120 minutes. Thus, an insulating layer can be formed on a circuit board by thermosetting a resin composition layer. Commercially available vacuum hot presses include, for example, MNPC-V-750-5-200 (manufactured by Meiki Corporation), VH1-1603 (manufactured by Kitagawa Seiki Co., Ltd.), and the like.

절연층의 유전 정접은, 0.009 이하가 바람직하고, 0.006 이하가 보다 바람직하다. 유전 정접은 낮을수록 좋고, 특별히 하한치는 없지만, 0.001 이상, 0.003 이상 등이 된다.0.009 or less are preferable and, as for the dielectric tangent of an insulating layer, 0.006 or less are more preferable. The lower the dielectric loss tangent is, the better there is, and there is no particular lower limit, but it is 0.001 or more, 0.003 or more.

계속해서, 회로 기판 상에 형성된 절연층에 천공 가공을 행하여 비아홀, 스루홀을 형성한다. 천공 가공은, 예컨대, 드릴, 레이저, 플라즈마 등의 공지된 방법에 의해, 또한 필요에 따라 이들 방법을 조합하여 행할 수 있지만, 탄산 가스 레이저, YAG 레이저 등의 레이저에 의한 천공 가공이 가장 일반적인 방법이다. 천공 가공 전에 지지체를 박리하지 않은 경우에는, 여기서 박리하게 된다.Subsequently, a perforation process is performed to the insulating layer formed on a circuit board, and a via hole and a through hole are formed. Although the drilling process can be performed by well-known methods, such as a drill, a laser, and a plasma, for example, combining these methods as needed, drilling by a laser, such as a carbon dioxide laser and a YAG laser, is the most common method. . When a support body is not peeled off before a punching process, it peels here.

계속해서, 절연층 표면에 조화 처리를 행한다. 건식 조화 처리의 경우에는 플라즈마 처리 등을 들 수 있고, 습식 조화 처리의 경우에는 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리 및 중화액에 의한 중화 처리를 이 순서로 행하는 방법을 들 수 있다. 습식 조화 처리 쪽이, 절연층 표면에 요철의 앵커를 형성하면서, 비아홀 내의 스미어를 제거할 수 있는 점에서 바람직하다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는, 절연층을 50∼80℃에서 5∼20분간(바람직하게는 55∼70℃에서 8∼15분간), 팽윤액에 침지시킴으로써 행해진다. 팽윤액의 예로는 알칼리 용액, 계면활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이고, 상기 알칼리 용액으로는, 예컨대, 수산화나트륨 용액, 수산화칼륨 용액 등을 들 수 있다. 시판되고 있는 팽윤액으로는, 예컨대, 아토테크 재팬(주) 제조의 스웰링·딥·세큐리간스 P(Swelling Dip Securiganth P), 스웰링·딥·세큐리간스 SBU(Swelling Dip Securiganth SBU) 등을 들 수 있다. 산화제에 의한 조화 처리는, 절연층을 60∼80℃에서 10∼30분간(바람직하게는 70∼80℃에서 15∼25분간), 산화제 용액에 침지시킴으로써 행해진다. 산화제로는, 예컨대, 수산화나트륨의 수용액에 과망간산칼륨이나 과망간산나트륨을 용해시킨 알칼리성 과망간산 용액, 중크롬산염, 오존, 과산화수소/황산, 질산 등을 들 수 있다. 또한, 알칼리성 과망간산 용액에서의 과망간산염의 농도는 5∼10 중량%로 하는 것이 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로는, 예컨대, 아토테크 재팬(주) 제조의 컨센트레이트·컴팩트 CP, 도징 솔루션 세큐리간스 P 등의 알칼리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 중화액에 의한 중화 처리는, 30∼50℃에서 3∼10분간(바람직하게는 35∼45℃에서 3∼8분간), 중화액에 침지시킴으로써 행해진다. 중화액으로는, 산성의 수용액이 바람직하고, 시판품으로는, 아토테크 재팬(주) 제조의 리덕션 솔루션·세큐리간스 P를 들 수 있다.Then, a roughening process is performed to the insulating layer surface. In the case of a dry roughening process, a plasma process etc. are mentioned, In the case of a wet roughening process, the swelling process with a swelling liquid, the roughening process with an oxidizing agent, and the neutralization process with a neutralizing liquid are mentioned in this order. A wet roughening process is preferable at the point which can remove the smear in a via hole, forming an uneven | corrugated anchor on the surface of an insulating layer. The swelling treatment by the swelling liquid is performed by immersing the insulating layer in the swelling liquid for 5 to 20 minutes (preferably 8 to 15 minutes at 55 to 70 ° C) at 50 to 80 ° C. Examples of the swelling liquid include an alkali solution, a surfactant solution, and the like, and preferably an alkaline solution. Examples of the alkali solution include sodium hydroxide solution and potassium hydroxide solution. Examples of commercially available swelling liquids include Swelling Dip Securiganth P (Swelling Dip Securiganth P) manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., and Swelling Dip Securiganth SBU (SBU). Can be mentioned. The roughening treatment by the oxidizing agent is performed by immersing the insulating layer in the oxidizing agent solution for 10 to 30 minutes (preferably 15 to 25 minutes at 70 to 80 ° C) at 60 to 80 ° C. Examples of the oxidizing agent include alkaline permanganate solutions in which potassium permanganate and sodium permanganate are dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide, dichromate, ozone, hydrogen peroxide / sulfuric acid, and nitric acid. The concentration of permanganate in the alkaline permanganate solution is preferably 5 to 10% by weight. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganic acid solutions such as Concentrate Compact CP manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. and Dosing Solution Securigans P. Neutralization treatment by neutralizing liquid is performed by immersing in neutralizing liquid for 3 to 10 minutes (preferably 3 to 8 minutes at 35-45 degreeC) at 30-50 degreeC. As a neutralization liquid, an acidic aqueous solution is preferable, and as a commercial item, reduction solution Securigans P of Atotech Japan Co., Ltd. product is mentioned.

절연층 표면을 조화 처리한 조화면의 거칠기는, 미세 배선을 형성하는 관점에서, Ra값이 200 nm 이하인 것이 바람직하고, 150 nm 이하인 것이 보다 바람직하고, 100 nm 이하인 것이 더욱 바람직하다. 또한 조화면의 앵커 효과를 확보하기 위해서는 10 nm 이상인 것이 바람직하다. 한편, Ra값이란, 표면 거칠기를 나타내는 수치의 일종으로, 산술 평균 거칠기라고 불리는 것으로서, 구체적으로는 측정 영역 내에서 변화되는 높이의 절대치를 평균 라인인 표면으로부터 측정하여 산술 평균한 것이다. 예컨대, 비코 인스트루먼트사 제조의 WYKONT3300을 이용하여, VSI 컨택트 모드, 50배 렌즈에 의해 측정 범위를 121 ㎛×92 ㎛로 하여 얻어지는 수치에 의해 구할 수 있다.The roughness of the roughened surface obtained by roughening the surface of the insulating layer is preferably 200 nm or less, more preferably 150 nm or less, and even more preferably 100 nm or less from the viewpoint of forming fine wirings. Moreover, in order to ensure the anchor effect of a roughening surface, it is preferable that it is 10 nm or more. On the other hand, Ra value is a kind of numerical value which shows surface roughness, and is called arithmetic mean roughness, and is specifically an arithmetic mean which measured the absolute value of the height which changes in a measurement area from the surface which is an average line. For example, it can obtain | require by the numerical value obtained by making the measurement range into 121 micrometer x 92 micrometers with a VSI contact mode and a 50x lens using WYKONT3300 by a Vico Instruments company.

또한, 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값)는 절연층 표면의 국소적인 상태가 반영되기 때문에, Rq값의 파악에 의해 치밀하고 평활한 절연층 표면으로 되어 있는 것을 확인할 수 있고, 필 강도가 안정화되는 것을 발견했다. Rq값은, 치밀하고 평활한 절연층 표면으로 하기 위해, 250 nm 이하가 바람직하고, 200 nm 이하가 보다 바람직하고, 150 nm 이하가 더욱 바람직하고, 100 nm 이하가 더욱더 바람직하다. 또한 필 강도를 안정화시킨다는 관점에서는, 15 nm 이상이 바람직하고, 30 nm 이상이 보다 바람직하다. 한편, Rq값이란, 표면 거칠기를 나타내는 수치의 일종으로, 제곱 평균 평방근 거칠기라고 불리는 것으로서, 구체적으로는 측정 영역 내에서 변화되는 높이의 절대치를 평균 라인인 표면으로부터 측정하여 제곱 평균 평방근으로서 나타낸 것이다.In addition, since the root mean square roughness (Rq value) reflects the local state of the insulating layer surface, it can be confirmed that the grasp of the Rq value is a dense and smooth insulating layer surface, and the peel strength is stabilized. found. In order to make the Rq value a dense and smooth insulating layer surface, 250 nm or less is preferable, 200 nm or less is more preferable, 150 nm or less is more preferable, and 100 nm or less is still more preferable. Moreover, from a viewpoint of stabilizing peeling strength, 15 nm or more is preferable and 30 nm or more is more preferable. In addition, Rq value is a kind of numerical value which shows surface roughness, and is called a square average square root roughness, and specifically, it represents as a square average square root by measuring the absolute value of the height which changes in a measurement area from the surface which is an average line.

계속해서, 건식 도금 또는 습식 도금에 의해 절연층 상에 도체층을 형성한다. 건식 도금으로는, 증착, 스퍼터링, 이온 플레이팅 등의 공지된 방법을 사용할 수 있다. 습식 도금으로는, 무전해 도금과 전해 도금을 조합하여 도체층을 형성하는 방법, 도체층과는 반대 패턴의 도금 레지스트를 형성하고, 무전해 도금만으로 도체층을 형성하는 방법 등을 들 수 있다. 그 후의 패턴 형성의 방법으로서, 예컨대, 당업자에게 공지된 서브트랙티브법, 세미 애더티브법 등을 이용할 수 있고, 전술한 일련의 공정을 복수회 반복함으로써, 빌드업층을 다단으로 적층한 다층 프린트 배선판을 제조할 수 있다.Subsequently, a conductor layer is formed on an insulating layer by dry plating or wet plating. As dry plating, well-known methods, such as vapor deposition, sputtering, and ion plating, can be used. Examples of wet plating include a method of forming a conductor layer by combining electroless plating and electrolytic plating, a method of forming a plating resist having a pattern opposite to the conductor layer, and a method of forming a conductor layer only by electroless plating. As a method of subsequent pattern formation, for example, a subtractive method, a semiadditive method, and the like known to those skilled in the art can be used, and by repeating the above-described series of steps a plurality of times, a multilayer printed wiring board in which a buildup layer is laminated in multiple stages. Can be prepared.

절연층과 도체층의 필 강도는, 절연층과 도체층을 충분히 밀착시켜 두기 위해 0.35 kgf/cm 이상인 것이 바람직하고, 0.4 kgf/cm 이상인 것이 보다 바람직하다. 필 강도의 상한치는 높을수록 좋고, 특별히 제한은 없지만, 일반적으로 1.5 kgf/cm 이하, 1.2 kgf/cm 이하, 1.0 kgf/cm 이하, 0.8 kgf/cm 이하 등이 된다. 본 발명의 프린트 배선판용 절연체의 절연층은, 조도가 낮고, 절연층과 도체층의 필 강도가 높기 때문에, 다층 프린트 배선판의 빌드업층으로서 적합하게 사용할 수 있다.The peel strength of the insulating layer and the conductor layer is preferably 0.35 kgf / cm or more, and more preferably 0.4 kgf / cm or more, in order to keep the insulating layer and the conductor layer in close contact. Although the upper limit of peeling strength is so good that there is no restriction | limiting in particular, it is generally 1.5 kgf / cm or less, 1.2 kgf / cm or less, 1.0 kgf / cm or less, 0.8 kgf / cm or less. Since the insulation layer of the insulator for printed wiring boards of this invention has low roughness, and the peeling strength of an insulation layer and a conductor layer is high, it can be used suitably as a buildup layer of a multilayer printed wiring board.

<반도체 장치> <Semiconductor Device>

본 발명의 다층 프린트 배선판을 이용함으로써 반도체 장치를 제조할 수 있다. 즉, 본 발명의 반도체 장치는, 본 발명의 다층 프린트 배선판을 포함한다. 본 발명의 다층 프린트 배선판의 도통 개소에, 반도체칩을 실장함으로써 반도체 장치를 제조할 수 있다. 「도통 개소」란, 「다층 프린트 배선판에서의 전기 신호를 전하는 개소」로서, 그 장소는 표면이어도, 매립된 개소여도 어느 곳이어도 상관없다. 또한, 반도체칩은 반도체를 재료로 하는 전기 회로 소자이면 특별히 한정되지 않는다.A semiconductor device can be manufactured by using the multilayer printed wiring board of this invention. That is, the semiconductor device of this invention contains the multilayer printed wiring board of this invention. A semiconductor device can be manufactured by mounting a semiconductor chip in the conduction part of the multilayer printed wiring board of this invention. A "conduction point" is a "point which transmits an electric signal in a multilayer printed wiring board", and the place may be a surface, a buried point, or any place. In addition, the semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor.

본 발명의 반도체 장치를 제조할 때의 반도체칩의 실장 방법은, 반도체칩이 유효하게 기능하기만 하면, 특별히 한정되지 않지만, 구체적으로는, 와이어 본딩 실장 방법, 플립칩 실장 방법, 범프레스 빌드업층(BBUL)에 의한 실장 방법, 이방성 도전 필름(ACF)에 의한 실장 방법, 비도전성 필름(NCF)에 의한 실장 방법 등을 들 수 있다.The method for mounting a semiconductor chip in manufacturing the semiconductor device of the present invention is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, but specifically, a wire bonding method, a flip chip mounting method, a bump press build-up layer The mounting method by (BBUL), the mounting method by an anisotropic conductive film (ACF), the mounting method by a nonelectroconductive film (NCF), etc. are mentioned.

실시예Example

이하, 실시예 및 비교예를 이용하여 본 발명을 보다 상세히 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예 등에 의해 제한되는 것은 아니다. 한편, 이하의 기재에 있어서, 「부」 및 「%」는 「질량부」 및「질량%」를 의미한다.Hereinafter, although an Example and a comparative example demonstrate this invention in detail, this invention is not restrict | limited by these Examples. In addition, in the following description, "part" and "%" mean a "mass part" and the "mass%."

측정 방법·평가 방법Measurement method, evaluation method

<도체층의 박리 강도(필 강도)의 측정, 산술 평균 거칠기(Ra), 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq)의 측정><Measurement of Peel Strength (Peel Strength) of Conductor Layer, Measurement of Arithmetic Average Roughness Ra, Square Average Square Root Roughness Rq>

(1) 적층판의 하지 처리(1) base treatment of laminate

내층 회로가 형성된 유리천 기재 에폭시 수지 양면 동장 적층판(동박의 두께 18 ㎛, 잔동률 60%, 기판 두께 0.3 mm, 마츠시타 전공(주) 제조의 R5715ES)의 양면을 메크(주) 제조의 CZ8100에 침지하여 동박 표면의 조화 처리를 행했다.Both sides of glass cloth base material epoxy resin double-sided copper clad laminated board (18 micrometers of copper foil, 60% of residual ratios, substrate thickness 0.3mm, Matsushita Electric Co., Ltd. product R5715ES) in which inner-layer circuit was formed were immersed in CZ8100 of Mech Corporation make And the roughening process of the copper foil surface was performed.

(2) 접착 필름의 라미네이트(2) Lamination of Adhesive Film

하기의 각 실시예 및 각 비교예에서 제조한 접착 필름을, 배치식 진공 가압 라미네이터 MVLP-500[(주)메이키 제작소 제조, 상품명]을 이용하여, 상기한 적층판의 양면에 라미네이트했다. 라미네이트는, 30초간 감압하여 기압을 13 hPa 이하로 하고, 그 후 30초간, 100℃, 압력 0.74 MPa로 압착함으로써 행했다.The adhesive film manufactured by each of the following Examples and each comparative example was laminated on both surfaces of the said laminated board using the batch type vacuum pressurizing laminator MVLP-500 (manufactured by Meiki Co., Ltd., brand name). Lamination was performed by depressurizing for 30 second, making atmospheric pressure 13 hPa or less, and crimping at 100 degreeC and pressure 0.74 MPa for 30 second after that.

(3) 수지 조성물의 경화(3) curing of the resin composition

라미네이트된 접착 필름으로부터 PET 필름을 박리하고, 170℃, 30분간의 경화 조건으로 수지 조성물을 경화하여 절연층으로 했다.The PET film was peeled from the laminated adhesive film, the resin composition was cured under curing conditions at 170 ° C. for 30 minutes to obtain an insulating layer.

(4) 조화 처리(4) coordination treatment

절연층이 형성된 상기한 적층판을, 팽윤액인, 아토테크 재팬(주)의 디에틸렌글리콜모노부틸에테르를 함유하는 스웰링·딥·세큐리간스 P에 60℃에서 10분간 침지하고, 다음으로 조화액으로서, 아토테크 재팬(주)의 컨센트레이트·컴팩트 P(KMnO4 : 60 g/L, NaOH : 40 g/L의 수용액)에 80℃에서 20분간 침지하고, 마지막으로 중화액으로서, 아토테크 재팬(주)의 리덕션 솔루션·세큐리간스 P에 40℃에서 5분간 침지했다. 이 조화 처리 후의 적층판을 샘플 A로 했다.Said laminated board with an insulating layer was immersed in 60 degreeC for 10 minutes in swelling dip securigans P containing diethylene glycol monobutyl ether of Atotech Japan Co., Ltd. which is swelling liquid, and then roughened As a liquid, it was immersed in Atotech Japan Co., Ltd. concentrate compact P (KMnO 4 : 60 g / L, NaOH: 40 g / L aqueous solution) for 20 minutes at 80 degreeC, Finally, as a neutralizing liquid, Atotech Japan It was immersed in reduction solution Securigans P of the company for 5 minutes at 40 degreeC. The laminated sheet after this roughening process was made into sample A.

(5) 세미 애디티브 공법에 의한 도체층 형성(5) Conductor layer formation by semi additive method

절연층 표면 상에 회로를 형성하기 위해, 샘플 A의 적층판을, PdCl2를 포함하는 무전해 도금용 용액에 침지하고, 다음으로 무전해 구리 도금액에 침지했다. 150℃에서 30분간 가열하여 어닐링 처리를 행한 후에, 에칭 레지스트 패턴을 형성하고, 에칭에 의한 패턴 형성 후에, 황산구리 전해 도금을 행하여, 30 ㎛의 두께로 도체층을 형성했다. 다음으로, 어닐링 처리를 180℃에서 60분간 행했다. 이 적층판을 샘플 B로 했다.To form a circuit on an insulating layer surface, immersing the laminate in Sample A, the electroless plating solution comprising a PdCl 2, followed by immersion in an electroless copper plating solution to the next. After heating at 150 degreeC for 30 minutes and performing an annealing process, the etching resist pattern was formed, After the pattern formation by etching, copper sulfate electroplating was performed and the conductor layer was formed in the thickness of 30 micrometers. Next, annealing treatment was performed at 180 degreeC for 60 minutes. This laminated sheet was referred to as Sample B.

(6) 산술 평균 거칠기(Ra값), 제곱 평균 평방근 거칠기(Rq값)의 측정(6) Measurement of arithmetic mean roughness (Ra value) and square mean square root roughness (Rq value)

샘플 A에 관해, 비접촉형 표면 거칠기계(비코 인스트루먼트사 제조의 WYKONT3300)를 이용하여, VSI 컨택트 모드, 50배 렌즈에 의해 측정 범위를 121 ㎛×92 ㎛로 하여 얻어지는 수치에 의해 Ra, Rq값을 구했다. 그리고, 각각 10점의 평균치를 구함으로써 얻어진 수치를 측정치로 했다.Regarding Sample A, using a non-contact surface roughness machine (WYKONT3300, manufactured by Vico Instruments, Inc.), the Ra and Rq values were determined by numerical values obtained by setting the measurement range to 121 µm x 92 µm using a VSI contact mode and a 50x lens. Saved. And the numerical value obtained by obtaining the average value of ten points, respectively was made into the measured value.

(7) 도체층의 박리 강도(필 강도)의 측정 (7) Measurement of Peel Strength (Peel Strength) of Conductor Layer

샘플 B의 도체층의 일부분에, 폭 10 mm, 길이 100 mm의 범위를 둘러싸는 절개선을 넣고, 단책(短冊)형의 도체층의 일단을 벗겨 그립 도구(주식회사 티·에스·이, 오토콤형 시험기 AC-50C-SL)로 쥐고, 실온에서, 50 mm/분의 속도로 수직 방향으로 35 mm를 박리했을 때의 하중(kgf/cm)을 측정했다.A cut line surrounding a range of 10 mm in width and 100 mm in length was placed in a portion of the conductor layer of Sample B, and one end of the single-layered conductor layer was peeled off and a grip tool (T.S.E., Autocom Type) The test machine AC-50C-SL) was hold | maintained and the load (kgf / cm) at the time of peeling 35 mm in the vertical direction at the speed | rate of 50 mm / min was measured at room temperature.

<유전 정접의 측정> Measurement of Dielectric Junction

하기의 각 실시예 및 각 비교예에서 얻어진 접착 필름을 190℃에서 90분간 열경화시키고, PET 필름을 박리하여 시트형의 경화물을 얻었다. 그 경화물을, 폭 2 mm, 길이 80 mm의 시험편으로 절단하고, 간토 응용 전자 개발(주) 제조의 공동 공진기 섭동법 유전율 측정 장치 CP521 및 애질런트 테크놀러지(주) 제조의 네트워크 애널라이저 E8362B를 사용하여, 공동 공진법에 의해 측정 주파수 5.8 GHz로 유전 정접(tanδ)의 측정을 행했다. 2개의 시험편에 관해 측정을 행하여, 평균치를 산출했다.The adhesive film obtained by each following example and each comparative example was thermosetted at 190 degreeC for 90 minutes, the PET film was peeled off, and the sheet-like hardened | cured material was obtained. The cured product was cut into a test piece having a width of 2 mm and a length of 80 mm, using a cavity resonator perturbation dielectric constant measuring device CP521 manufactured by Kanto Application Electronics Development Co., Ltd. and a network analyzer E8362B manufactured by Agilent Technologies Co., Ltd. The dielectric tangent tantan was measured at a measurement frequency of 5.8 GHz by the cavity resonance method. The two test pieces were measured and the average value was computed.

실시예 1Example 1

액상 비스페놀 A형 에폭시 수지(에폭시 당량 180, 미츠비시 화학(주) 제조의 「828US」) 15부와, 비페닐형 에폭시 수지(에폭시 당량 291, 니혼 카야쿠(주) 제조의 「NC3000H」) 15부를 메틸에틸케톤(이하「MEK」라고 약칭함) 15부, 시클로헥사논 15부에 교반하면서 가열 용해시켰다. 여기에, 나프탈렌형 활성 에스테르 화합물[DIC(주) 제조의 「EXB9411-65BK」, 활성 에스테르 당량 272, 고형분 65%의 톨루엔 용액] 43부, 경화 촉진제[고에 화학 공업(주) 제조의 「4-디메틸아미노피리딘」] 0.15부, 구형 실리카[평균 입경 0.5 ㎛, 페닐아미노실란 처리된 「SO-C2」, (주)애드마테크스 제조, 단위 질량당의 카본량 0.18%] 100부, 페녹시 수지(YL6954BH30, 고형분 30 질량%의 MEK 용액, 중량 평균 분자량 40000) 15부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시켜, 수지 와니스를 제작했다. 다음으로, 이러한 수지 와니스를 폴리에틸렌테레프탈레이트(두께 38 ㎛, 이하 「PET」라고 약칭함) 필름 상에, 건조 후의 수지 두께가 40 ㎛가 되도록 다이 코터로 도포하고, 80∼120℃(평균 100℃)에서 6분간 건조시켜, 시트형의 접착 필름을 얻었다.15 parts of liquid bisphenol A type epoxy resins (epoxy equivalent 180, "828US" of Mitsubishi Chemical Corporation) and 15 parts of biphenyl-type epoxy resins (epoxy equivalent 291, "NC3000H" of Nippon Kayaku Co., Ltd.) 15 parts of methyl ethyl ketone (hereinafter abbreviated as "MEK") and 15 parts of cyclohexanone were heated and dissolved while stirring. Here, 43 parts of naphthalene type active ester compounds ["EXB9411-65BK" of DIC Corporation make, active ester equivalent weight 272, toluene solution of 65% of solid content], hardening accelerator ["4 of Koe Chemical Industry Co., Ltd. product) -Dimethylaminopyridine "] 0.15 parts, spherical silica [average particle diameter: 0.5 micrometer, phenylaminosilane-treated" SO-C2 ", manufactured by Admateks Co., Ltd., 0.18% of carbon per unit mass] 100 parts, phenoxy 15 parts of resin (YL6954BH30, MEK solution of 30 mass% of solid content, the weight average molecular weight 40000) were mixed, it was disperse | distributed uniformly by the high speed rotary mixer, and the resin varnish was produced. Next, this resin varnish is applied onto a polyethylene terephthalate (thickness 38 mu m, hereinafter referred to as "PET") film with a die coater so that the resin thickness after drying is 40 mu m, and 80 to 120 deg. ), And dried for 6 minutes to obtain a sheet-shaped adhesive film.

실시예 2Example 2

실시예 1의 나프탈렌형 활성 에스테르 화합물[DIC(주) 제조의 「EXB9411-65BK」, 활성 에스테르 당량 272, 고형분 65%의 톨루엔 용액] 43부를, 80부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 와니스를 제작했다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다.Except for changing 43 parts of the naphthalene type active ester compound ("EXB9411-65BK" made by DIC Corporation, active ester equivalent weight 272, 65% of solid content 65%) to 80 parts, it is completely the same as Example 1. The resin varnish was produced. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

실시예 3Example 3

실시예 1의 나프탈렌형 활성 에스테르 화합물[DIC(주) 제조의 「EXB9411-65BK」, 활성 에스테르 당량 272, 고형분 65%의 톨루엔 용액] 43부를, 20부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 와니스를 제작했다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다.Except for changing 43 parts of the naphthalene type active ester compound ("EXB9411-65BK" made by DIC Corporation, active ester equivalent weight 272, 65% of solid content 65%) to 20 parts, it is completely the same as Example 1. A resin varnish was produced. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

실시예 4Example 4

실시예 1의 비페닐형 에폭시 수지[에폭시 당량 291, 니혼 카야쿠(주) 제조의 「NC3000H」] 15부를, 나프톨형 에폭시 수지[에폭시 당량 332, 신닛테츠 화학(주) 제조의 「ESN475V」] 15부로 변경하고, 시아네이트에스테르 수지(론자사 제조의 「BA230S75」, 고형분 75%의 메틸에틸케톤 용액) 15부와 경화 촉매[나프텐산아연 미네랄 스피릿 용액(금속 함유량 8%)의 3% 시클로헥사논 희석액] 0.03부를 첨가한 것 이외에는, 실시예 3과 완전히 동일하게 하여 수지 와니스를 제작했다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다.Biphenyl type epoxy resin [Epoxy equivalent 291, "NC3000H" of Nippon Kayaku Co., Ltd. product) 15 parts naphthol type epoxy resin [Epoxy equivalent 332, "ESN475V" by Shin-Nitetsu Chemical Co., Ltd.] 15 parts of 3% cyclohexanone of cyanate ester resin ("BA230S75" by Lonza company, methyl ethyl ketone solution of 75% of solid content), and hardening catalyst [zinc naphthenate mineral spirit solution (8% of metal content)] Non-dilution liquid] The resin varnish was produced like Example 3 except having added 0.03 part. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

비교예 1Comparative Example 1

실시예 1의 나프탈렌형 활성 에스테르 화합물[DIC(주) 제조의 「EXB9411-65BK」, 활성 에스테르 당량 272, 고형분 65%의 톨루엔 용액] 43부를 활성 에스테르 화합물[DIC(주) 제조의 「HPC8000-65T」, 활성 에스테르 당량 223, 고형분 65%의 톨루엔 용액] 35부로 변경하고, 구형 실리카[평균 입경 0.5 ㎛, 페닐아미노실란 처리된 「SO-C2」, (주)애드마테크스 제조, 단위 질량당의 카본량 0.18%] 100부를 90부로 변경하고, 경화 촉진제[고에 화학 공업(주) 제조의 「4-디메틸아미노피리딘」] 0.15부를 0.1부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 와니스를 제작했다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다.43 parts of naphthalene type active ester compound ["EXB9411-65BK" by DIC Corporation, active ester equivalent weight 272, toluene solution of 65% of solid content] 43 parts of active ester compound [HPC8000-65T by DIC Corporation] To 35 parts of active ester equivalent 223 and a toluene solution of 65% solids content, and spherical silica (average particle diameter: 0.5 µm, phenylaminosilane-treated "SO-C2", manufactured by ADMATICS Co., Ltd., per unit mass) 0.18% of carbon amount] 100 parts were changed to 90 parts, and 0.15 parts of curing accelerators ("4-dimethylaminopyridine" manufactured by Koe Chemical Co., Ltd.) were changed to 0.1 parts, except that the resin was completely the same as in Example 1. Made a varnish. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

비교예 2Comparative Example 2

실시예 1의 나프탈렌형 활성 에스테르 화합물[DIC(주) 제조의 「EXB9411-65BK」, 활성 에스테르 당량 272, 고형분 65%의 톨루엔 용액] 43부를, 95부로 변경한 것 이외에는, 실시예 1과 완전히 동일하게 하여 수지 와니스를 제작했다. 다음으로 실시예 1과 동일하게 하여 접착 필름을 얻었다.Except for changing 43 parts of naphthalene type active ester compound ("EXB9411-65BK" made by DIC Corporation, active ester equivalent weight 272, 65% of solid content 65%) to 95 parts, it is exactly the same as Example 1. The resin varnish was produced. Next, it carried out similarly to Example 1, and obtained the adhesive film.

실시예 및 비교예에서 제조한 접착 필름을 사용한 평가 샘플의 도체층의 필 강도, 조화 처리 후의 표면 거칠기(Ra값) 및 (Rq값), 평가 샘플의 유전 정접의 각 측정 결과를 표 1에 나타낸다.Table 1 shows the peel strength of the conductor layer of the evaluation sample using the adhesive films prepared in Examples and Comparative Examples, the surface roughness (Ra value) and (Rq value) after the roughening treatment, and the dielectric tangent of the evaluation sample. .

Figure 112013079974026-pat00003
Figure 112013079974026-pat00003

표 1에 나타낸 바와 같이, 실시예 1의 에폭시 수지 조성물에서의 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물을, 본 발명의 범위 밖의 활성 에스테르 화합물로 변경한 비교예 1의 에폭시 수지 조성물의 경화물은, 조화 처리 후의 Ra, Rq의 수치가 실시예 1의 에폭시 수지 조성물의 경화물의 표면에 형성되는 조화면의 Ra, Rq의 수치보다 훨씬 큰 수치를 나타내고 있음에도 불구하고, 도체층과의 밀착성(필 강도)은 실시예 1의 것보다 작고, 유전 정접의 수치는 커져 있다.As shown in Table 1, the hardened | cured material of the epoxy resin composition of the comparative example 1 which changed the active ester compound containing the naphthalene structure in the epoxy resin composition of Example 1 into the active ester compound outside the range of this invention is roughened. Although the numerical values of Ra and Rq after the treatment showed much larger values than the values of Ra and Rq of the roughened surface formed on the surface of the cured product of the epoxy resin composition of Example 1, the adhesiveness (peel strength) with the conductor layer was It is smaller than that of Example 1, and the numerical value of dielectric loss tangent is large.

또한, 비교예 2의 에폭시 수지 조성물은, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물의 배합량이 본 발명의 범위를 초과하여 많아져 있음으로써, 도체층과의 밀착성(필 강도)은 실시예 1의 것보다 작아져 있다.In addition, since the compounding quantity of the active ester compound containing the naphthalene structure of the epoxy resin composition of the comparative example 2 increases more than the range of this invention, adhesiveness (fill strength) with a conductor layer is compared with the thing of Example 1 It is small.

이상의 실시예 및 비교예의 결과로부터 분명한 바와 같이, 본 발명의 에폭시 수지 조성물은, 다층 프린트 배선판의 빌드업층의 추가적인 다층화, 고밀도화에 대응할 수 있는 특성을 양호한 밸런스로 구비한 경화물로 이루어지는 절연층을 형성할 수 있는 에폭시 수지 조성물이다.As is clear from the results of the above examples and comparative examples, the epoxy resin composition of the present invention forms an insulating layer made of a cured product having a good balance of properties capable of coping with further multilayering and densification of the buildup layer of the multilayer printed wiring board. It is an epoxy resin composition which can be done.

Claims (15)

적어도 에폭시 수지(A)와, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)과, 무기 충전재와, 페녹시 수지를 함유하는 열경화성 에폭시 수지 조성물로서,
상기 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우의 상기 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)의 함유량이 0.1∼30 질량%이고,
상기 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 무기 충전재의 함유량이 30 ~ 80 질량%이고,
상기 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 페녹시 수지의 함유량이 0.1 ~ 10 질량% 이고,
상기 수지 조성물 중의 불휘발 성분을 100 질량%로 한 경우, 에폭시 수지(A)의 함유량이 10 ~ 50 질량%인 열경화성 에폭시 수지 조성물.
As a thermosetting epoxy resin composition containing at least an epoxy resin (A), an active ester compound (B) containing a naphthalene structure, an inorganic filler, and a phenoxy resin,
Content of the active ester compound (B) containing the said naphthalene structure when the non volatile component in the said resin composition is 100 mass% is 0.1-30 mass%,
When the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass, the content of the inorganic filler is 30 to 80% by mass,
When the nonvolatile component in the resin composition is 100 mass%, the content of the phenoxy resin is 0.1 to 10 mass%,
The thermosetting epoxy resin composition whose content of an epoxy resin (A) is 10-50 mass%, when the non volatile component in the said resin composition is 100 mass%.
제1항에 있어서, 상기 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)이, 폴리나프틸렌옥사이드 구조와 아릴카르보닐옥시기를 갖는 활성 에스테르 화합물인 열경화성 에폭시 수지 조성물.The thermosetting epoxy resin composition according to claim 1, wherein the active ester compound (B) containing the naphthalene structure is an active ester compound having a polynaphthylene oxide structure and an arylcarbonyloxy group. 제1항에 있어서, 상기 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물(B)이, 폴리나프틸렌옥사이드 구조의 나프탈렌핵에 아릴카르보닐옥시기가 결합한 활성 에스테르 화합물인 열경화성 에폭시 수지 조성물. The thermosetting epoxy resin composition according to claim 1, wherein the active ester compound (B) having a naphthalene structure is an active ester compound having an arylcarbonyloxy group bonded to a naphthalene nucleus of a polynaphthylene oxide structure. 제1항에 있어서, 상기 에폭시 수지(A)가 액상의 에폭시 수지를 함유하는 열경화성 에폭시 수지 조성물. The thermosetting epoxy resin composition according to claim 1, wherein the epoxy resin (A) contains a liquid epoxy resin. 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서, 도금에 의해 도체층이 형성되는 다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물인 열경화성 에폭시 수지 조성물. The thermosetting epoxy resin composition of Claim 1 which is a resin composition for insulating layers of a multilayer printed wiring board in which a conductor layer is formed by plating. 제1항 내지 제4항 및 제7항 중 어느 한 항에 기재된 열경화성 에폭시 수지 조성물로 이루어지는 수지 조성물층이 지지 필름 상에 형성되어 있는 절연층 형성용 접착 필름.The adhesive film for insulating layer formation in which the resin composition layer which consists of a thermosetting epoxy resin composition in any one of Claims 1-4 and 7 is formed on a support film. 제1항 내지 제4항 및 제7항 중 어느 한 항에 기재된 열경화성 에폭시 수지 조성물이 시트형 섬유 기재에 함침되어 있는 절연층 형성용 프리프레그.The prepreg for insulating layer formation in which the thermosetting epoxy resin composition in any one of Claims 1-4 and 7 is impregnated in the sheet-like fiber base material. 제8항에 기재된 절연층 형성용 접착 필름의 수지 조성물층의 경화물로 이루어지는 프린트 배선판용 절연체.The insulator for printed wiring boards which consists of hardened | cured material of the resin composition layer of the adhesive film for insulating layer formation of Claim 8. 제9항에 기재된 절연층 형성용 프리프레그의 경화물로 이루어지는 프린트 배선판용 절연체.The insulator for printed wiring boards which consists of hardened | cured material of the prepreg for insulating layer formation of Claim 9. 제10항에 기재된 프린트 배선판용 절연체로 이루어지는 절연층 상에 패턴 가공된 도체층이 형성되어 있는 프린트 배선판용 절연체. The insulator for printed wiring boards with which the conductor layer patterned was formed on the insulation layer which consists of the insulator for printed wiring boards of Claim 10. 제12항에 있어서, 상기 절연층의 표면 거칠기(Ra)가 10∼200 nm이고, Rq가 15∼250 nm이고, 상기 절연층과 상기 도체층의 필 강도가 0.35 kgf/cm 이상인 프린트 배선판용 절연체.The insulator for a printed wiring board according to claim 12, wherein the surface roughness Ra of the insulating layer is 10 to 200 nm, Rq is 15 to 250 nm, and the peel strength of the insulating layer and the conductor layer is 0.35 kgf / cm or more. . 제12항에 기재된 프린트 배선판용 절연체가 복수 적층되어 있는 다층 프린트 배선판.The multilayer printed wiring board in which the insulator for printed wiring boards of Claim 12 is laminated | stacked. 제14항에 기재된 다층 프린트 배선판을 포함하는 반도체 장치.The semiconductor device containing the multilayer printed wiring board of Claim 14.
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