JP2015086293A - Prepreg and multilayer printed wiring board - Google Patents

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心平 小畑
Shinpei Obata
心平 小畑
岸野 光寿
Mitsutoshi Kishino
光寿 岸野
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a prepreg capable of forming an insulating layer which can achieve a low thermal expansion coefficient, provide appropriate surface roughness and is improved in adhesiveness to a conductor layer.SOLUTION: There is provided a prepreg which comprises a first resin layer A containing a fiber substrate 2 and a second resin layer B which contains no fiber substrate 2 and is formed on at least one surface of the first resin layer A. The first resin layer A contains 100 to 400 pts.mass of an inorganic filler based on 100 pts.mass of a resin component. The second resin layer B contains no inorganic filler or contains 50 pts.mass or less of an inorganic filler based on 100 pts.mass of a resin component. The resin component of the second resin layer B comprises a thermosetting resin B1 having a functional group equivalent of 150 to 400 g/eq, a thermosetting resin B2 having a functional group equivalent of 450 to 600 g/eq and a curing agent. The thickness of the second resin layer B is one half or less of the thickness of the first resin layer A.

Description

本発明は、プリプレグ及び多層プリント配線板に関する。   The present invention relates to a prepreg and a multilayer printed wiring board.

プリント配線板は、電子機器、通信機器、計算機など、各種の分野において広く使用されている。近年、特に携帯通信端末やノート型PC等の小型携帯機器では、多機能化、高性能化、薄型化・小型化が急速に進んでおり、このような機器に搭載される半導体パッケージも高集積化、薄型化、小型化が進んでいる。これに伴い、半導体パッケージの実装基板(プリント配線板)にも配線パターンの微細化、多層化、薄型化、機械特性等の高性能化が要求されている。   Printed wiring boards are widely used in various fields such as electronic devices, communication devices, and computers. In recent years, especially in small portable devices such as portable communication terminals and notebook PCs, multifunction, high performance, thinning and downsizing are rapidly progressing, and semiconductor packages mounted on such devices are also highly integrated. , Thinner and smaller. Along with this, the mounting substrate (printed wiring board) of the semiconductor package is also required to have high performance such as miniaturization, multilayering, thinning, and mechanical characteristics of the wiring pattern.

半導体パッケージの実装基板としては、内層回路を有する多層プリント配線板が用いられている。従来、この多層プリント配線板の製造方法として、内層回路基板にプリプレグを介して銅箔を積層プレスし、スルーホールによって層間導通をとるとともに、エッチングによって銅箔をパターニングして回路形成する方法が知られている。しかし、この方法ではエッチングによって回路を形成するために、微細なパターン配線には充分に対応できない。そこで近年では、このような微細パターンに対応できる手法として、内層回路基板の導体層上にプリプレグや樹脂フィルム等を用いて樹脂絶縁層を形成し、その表面にめっき法により配線パターンとなる導体層を形成し、これら工程を交互に繰り返すことで多層化するビルドアップ方式の多層プリント配線板が採用されている。このビルドアップ方式では、通常、導体層と樹脂絶縁層との密着性を高めるために、前記樹脂絶縁層の表面は過マンガン酸カリウム等の酸化剤により粗化処理される。このように粗化処理を施すことで、樹脂絶縁層の表面に小さな凹凸が形成され、めっきにより形成した導体層との接触面積が大きくなり密着性が向上するというものである。このとき、この粗化処理による樹脂絶縁層表面の凹凸の高低差などの表面粗さが大きすぎると、微細な配線パターンを正確に形成することが難しくなってくる。   A multilayer printed wiring board having an inner layer circuit is used as a mounting substrate for a semiconductor package. Conventionally, as a method for producing this multilayer printed wiring board, there is known a method in which a copper foil is laminated and pressed on an inner layer circuit board through a prepreg, interlayer conduction is established by a through hole, and a copper foil is patterned by etching to form a circuit. It has been. However, since this method forms a circuit by etching, it cannot sufficiently cope with fine pattern wiring. Therefore, in recent years, as a technique that can cope with such a fine pattern, a conductor insulating layer is formed on the surface of the conductor layer of the inner circuit board using a prepreg or a resin film, and a wiring pattern is formed on the surface by plating. A build-up type multilayer printed wiring board is used in which a multilayer structure is formed by alternately repeating these steps. In this build-up method, the surface of the resin insulation layer is usually roughened with an oxidizing agent such as potassium permanganate in order to improve the adhesion between the conductor layer and the resin insulation layer. By performing the roughening treatment in this way, small irregularities are formed on the surface of the resin insulating layer, the contact area with the conductor layer formed by plating is increased, and the adhesion is improved. At this time, if the surface roughness such as the unevenness of the unevenness of the surface of the resin insulating layer due to the roughening treatment is too large, it becomes difficult to accurately form a fine wiring pattern.

特許文献1には、粗化処理により好適な表面粗さの樹脂絶縁層とすることができるエポキシ樹脂組成物の発明が記載されている。この特許文献1のエポキシ樹脂組成物では、樹脂成分として、粗化処理したときに溶解性が異なる2種のエポキシ樹脂を用いることで、表面粗さが大きくなりすぎず、高い密着性を実現する、というものである。   Patent Document 1 describes an invention of an epoxy resin composition that can be made into a resin insulating layer having a suitable surface roughness by roughening treatment. In the epoxy resin composition of Patent Document 1, two types of epoxy resins having different solubility when roughened are used as the resin component, so that the surface roughness does not become too large and high adhesion is realized. That's it.

特許第4600359号公報Japanese Patent No. 4600399

ところで半導体パッケージの実装方法は、近年、ワイヤボンディング方式からフリップチップ方式による接続へと移行してきているが、一方で、半導体パッケージの薄型化に伴い実装基板を構成する基板材料とのCTE(熱膨張率;coefficient of thermal expansion)の差などに起因して反りが発生しやすくなっており、この反りの防止が大きな課題となっている。この反り防止のために、基板の絶縁層を構成する絶縁材料では、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂に無機充填材を高い含有率で配合することでCTEを低減するという手法が行われている。しかしながら、絶縁層に含まれる無機充填材の含有率を大きくすると、CTEを低減できる反面、絶縁層の表面に形成する導体層との密着性が低下したり、あるいは、微細配線パターンを形成しにくくなったりするという問題を生じる。すなわち、多層プリント配線板の導体層を銅箔で形成する場合には、樹脂絶縁層における無機充填材の含有率が大きいゆえに樹脂分が少ないために銅箔との密着性が低下する。また、多層プリント配線板の導体層をめっき法により形成する場合には、樹脂絶縁層の表面に露出する無機充填材が多くなり表面粗さが大きくなってしまうため、微細な微細配線パターンを正確に形成することが困難となる。   By the way, the mounting method of the semiconductor package has recently shifted from the wire bonding method to the connection by the flip chip method, but on the other hand, as the semiconductor package becomes thinner, the CTE (thermal expansion) with the substrate material constituting the mounting substrate Warpage is likely to occur due to a difference in coefficient of thermal expansion, and prevention of this warpage is a major issue. In order to prevent this warpage, in the insulating material constituting the insulating layer of the substrate, a technique of reducing CTE by blending a thermosetting resin such as an epoxy resin with a high content of an inorganic filler has been performed. . However, if the content of the inorganic filler contained in the insulating layer is increased, the CTE can be reduced, but the adhesion with the conductor layer formed on the surface of the insulating layer is reduced, or it is difficult to form a fine wiring pattern. The problem of becoming. That is, when the conductor layer of the multilayer printed wiring board is formed of a copper foil, the resin filler is low because the content of the inorganic filler in the resin insulating layer is large, so that the adhesion with the copper foil is lowered. In addition, when the conductor layer of a multilayer printed wiring board is formed by plating, the inorganic filler exposed on the surface of the resin insulation layer increases and the surface roughness increases, so a fine fine wiring pattern can be accurately obtained. It becomes difficult to form.

特許文献1では、エポキシ樹脂組成物に無機充填材を含有することができると記載されているものの、その含有量としては樹脂組成物全体の5〜50重量%が好ましいと記載されており、含有率が比較的少ない範囲であるためCTEを十分低減するものではなかった。もし仮に、特許文献1のエポキシ樹脂組成物において、無機充填材の含有量を樹脂組成物全体の50重量%以上というように高い含有率にしたとすると、上述したように、絶縁層の表面に形成する導体層との密着性が低下したり、あるいは、微細配線パターンを形成しにくくなったりするという問題を生じてしまうという問題がある。   In Patent Document 1, although it is described that an inorganic filler can be contained in the epoxy resin composition, it is described that the content is preferably 5 to 50% by weight of the entire resin composition, and contained Since the rate is in a relatively small range, the CTE was not sufficiently reduced. If the content of the inorganic filler in the epoxy resin composition of Patent Document 1 is as high as 50% by weight or more of the entire resin composition, as described above, on the surface of the insulating layer, There is a problem that the adhesiveness with the conductor layer to be formed is lowered, or that it is difficult to form a fine wiring pattern.

本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、低い熱膨張率を実現でき、かつ好適な表面粗度とすることができて、導体層に対する密着性を高めた絶縁層を形成することができるプリプレグ、及び多層プリント配線板を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above points, and can form an insulating layer that can realize a low coefficient of thermal expansion, can have a suitable surface roughness, and has improved adhesion to a conductor layer. An object of the present invention is to provide a prepreg capable of forming a multilayer printed wiring board.

本発明に係るプリプレグは、繊維基材を含む第一樹脂層Aと、
繊維基材を含まず、前記第一樹脂層Aの少なくとも一方の面に形成された第二樹脂層Bと、
を備え、
前記第一樹脂層Aは、樹脂成分100質量部に対して無機充填材を100〜400質量部含有し、
前記第二樹脂層Bは、無機充填材を含有しないか、又は、樹脂成分100質量部に対して無機充填材を50質量部以下含有し、
前記第二樹脂層Bの樹脂成分は、官能基当量が150〜400g/eqの熱硬化性樹脂B1と、官能基当量が450〜600g/eqの熱硬化性樹脂B2と、硬化剤と、を含有し、
前記第二樹脂層Bの厚みは、前記第一樹脂層Aの厚みの1/2以下であることを特徴とする。
The prepreg according to the present invention includes a first resin layer A containing a fiber substrate,
A second resin layer B formed on at least one surface of the first resin layer A without including a fiber substrate;
With
Said 1st resin layer A contains 100-400 mass parts inorganic filler with respect to 100 mass parts of resin components,
Said 2nd resin layer B does not contain an inorganic filler, or contains 50 mass parts or less of an inorganic filler with respect to 100 mass parts of resin components,
The resin component of the second resin layer B includes a thermosetting resin B1 having a functional group equivalent of 150 to 400 g / eq, a thermosetting resin B2 having a functional group equivalent of 450 to 600 g / eq, and a curing agent. Contains,
The thickness of the second resin layer B is ½ or less of the thickness of the first resin layer A.

前記プリプレグにおいて、前記第一樹脂層Aの厚みは15μm以上であり、
前記第二樹脂層Bの厚みは5〜15μmであることが好ましい。
In the prepreg, the thickness of the first resin layer A is 15 μm or more,
The thickness of the second resin layer B is preferably 5 to 15 μm.

前記プリプレグにおいて、前記熱硬化性樹脂B1は、エポキシ当量が150〜400g/eqのエポキシ樹脂であり、
前記熱硬化性樹脂B2は、エポキシ当量が450〜600g/eqのエポキシ樹脂であることが好ましい。
In the prepreg, the thermosetting resin B1 is an epoxy resin having an epoxy equivalent of 150 to 400 g / eq,
The thermosetting resin B2 is preferably an epoxy resin having an epoxy equivalent of 450 to 600 g / eq.

前記プリプレグにおいて、前記熱硬化性樹脂B1は、1分子中にエポキシ基を3個以上有する多官能エポキシ樹脂であり、
前記熱硬化性樹脂B2は、1分子中にエポキシ基を2〜2.3個有するエポキシ樹脂であることが好ましい。
In the prepreg, the thermosetting resin B1 is a polyfunctional epoxy resin having three or more epoxy groups in one molecule,
The thermosetting resin B2 is preferably an epoxy resin having 2 to 2.3 epoxy groups in one molecule.

前記プリプレグにおいて、前記熱硬化性樹脂B1と前記熱硬化性樹脂B2との含有比率は、前記熱硬化性樹脂B1に対する前記熱硬化性樹脂B2の質量比が(B2)/(B1)=4.2〜9.0であることが好ましい。   In the prepreg, the content ratio of the thermosetting resin B1 and the thermosetting resin B2 is such that the mass ratio of the thermosetting resin B2 to the thermosetting resin B1 is (B2) / (B1) = 4. It is preferable that it is 2-9.0.

本発明に係る多層プリント配線板は、前記プリプレグの硬化物を絶縁層として備え、
前記第二樹脂層Bの硬化物層の表面が粗化処理されてその上にめっき導体層が形成されていることを特徴とする。
The multilayer printed wiring board according to the present invention comprises a cured product of the prepreg as an insulating layer,
The surface of the cured product layer of the second resin layer B is roughened and a plated conductor layer is formed thereon.

本発明によれば、低い熱膨張率を実現でき、かつ好適な表面粗度とすることができて、導体層に対する密着性を高めた絶縁層を形成することができる。   According to the present invention, a low thermal expansion coefficient can be realized, and a suitable surface roughness can be obtained, and an insulating layer with improved adhesion to the conductor layer can be formed.

本発明の実施の形態の一例を示すものであり、(a)は第一樹脂層Aの片面に第二樹脂層Bが形成されたプリプレグの概略断面図、(b)は第一樹脂層Aの両面に第二樹脂層Bが形成されたプリプレグの概略断面図である。An example of embodiment of this invention is shown, (a) is schematic sectional drawing of the prepreg in which the 2nd resin layer B was formed in the single side | surface of the 1st resin layer A, (b) is the 1st resin layer A It is a schematic sectional drawing of the prepreg in which the 2nd resin layer B was formed in both surfaces. 図1(a)に示すプリプレグを用いて製造した多層プリント配線板の一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the multilayer printed wiring board manufactured using the prepreg shown to Fig.1 (a).

以下、本発明の実施の形態を説明する。   Embodiments of the present invention will be described below.

図1は本発明に係るプリプレグ1の実施の形態の一例を示す。このプリプレグ1は、第一樹脂層Aと、第二樹脂層Bとを備えている。第一樹脂層A及び第二樹脂層Bは、半硬化状態(Bステージ状態)である。   FIG. 1 shows an example of an embodiment of a prepreg 1 according to the present invention. The prepreg 1 includes a first resin layer A and a second resin layer B. The first resin layer A and the second resin layer B are in a semi-cured state (B stage state).

第一樹脂層Aは、第一樹脂組成物の半硬化物であり、繊維基材2を含んでいる。第一樹脂組成物は、樹脂成分及び無機充填材を含有する。樹脂成分には、熱硬化性樹脂、必要に応じて硬化剤及び硬化促進剤が含まれる。第一樹脂層Aは、樹脂成分100質量部に対して無機充填材を100〜400質量部含有する。   The first resin layer A is a semi-cured product of the first resin composition and includes the fiber substrate 2. The first resin composition contains a resin component and an inorganic filler. The resin component includes a thermosetting resin and, if necessary, a curing agent and a curing accelerator. The 1st resin layer A contains 100-400 mass parts of inorganic fillers with respect to 100 mass parts of resin components.

ここで、熱硬化性樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、シアネート樹脂、メラミン樹脂、イミド樹脂等を用いることができる。これらの群より選ばれた1種以上のものを用いることができる。上記の熱硬化性樹脂の中でも特にエポキシ樹脂が好ましい。エポキシ樹脂としては、例えば、ナフタレン骨格型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、多官能フェノールのジグリシジルエーテル化合物、多官能アルコールのジグリシジルエーテル化合物、フェノール類とホルムアルデヒドの重縮合物のグリシジルエーテル化物であるフェノール系ノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、及びこれらを臭素化したエポキシ樹脂等を挙げることができる。これらの群より選ばれた1種以上のものを用いることができる。特に第一樹脂層Aも第二樹脂層Bもエポキシ樹脂を含有する樹脂系であることが好ましい。この場合、プリプレグ1を硬化させる際に第一樹脂層A及び第二樹脂層Bの境界領域で架橋結合を生じ、層間強度をより大きくすることができる。   Here, as a thermosetting resin, an epoxy resin, a phenol resin, cyanate resin, a melamine resin, an imide resin etc. can be used, for example. One or more selected from these groups can be used. Among the above thermosetting resins, an epoxy resin is particularly preferable. Examples of the epoxy resin include naphthalene skeleton type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, polyfunctional phenol diglycidyl ether compound A diglycidyl ether compound of a polyfunctional alcohol, a phenolic novolac type epoxy resin, a cresol novolak type epoxy resin, a bisphenol A novolak type epoxy resin, and a brominated form thereof, which are glycidyl etherified products of polycondensates of phenols and formaldehyde An epoxy resin etc. can be mentioned. One or more selected from these groups can be used. In particular, both the first resin layer A and the second resin layer B are preferably resin systems containing an epoxy resin. In this case, when the prepreg 1 is cured, cross-linking occurs in the boundary region between the first resin layer A and the second resin layer B, and the interlayer strength can be further increased.

また硬化剤としては、熱硬化性樹脂との組み合わせにおける適応性の観点から、公知の材料等から適宜選択することが可能であり、例えば、フェノール系硬化剤、アミン系硬化剤、ジシアンジアミド硬化剤等が挙げられる。これらの群より選ばれた1種以上のものを用いることができる。フェノール系硬化剤としては、例えば、ビスフェノールA等の2官能フェノール樹脂、ノボラック型フェノール樹脂、トリアジン環を有するフェノール系ノボラック樹脂等を挙げることができる。これらの群より選ばれた1種以上のものを用いることができる。なお、トリアジン環を有するフェノール系ノボラック樹脂とは、トリアジン環を有する化合物に由来する構成単位を含有するフェノール系ノボラック樹脂である。   Further, the curing agent can be appropriately selected from known materials from the viewpoint of adaptability in combination with a thermosetting resin, such as a phenolic curing agent, an amine curing agent, a dicyandiamide curing agent, and the like. Is mentioned. One or more selected from these groups can be used. Examples of the phenolic curing agent include bifunctional phenolic resins such as bisphenol A, novolac type phenolic resins, and phenolic novolac resins having a triazine ring. One or more selected from these groups can be used. The phenol-based novolak resin having a triazine ring is a phenol-based novolak resin containing a structural unit derived from a compound having a triazine ring.

また硬化促進剤としては、硬化反応を促進することができるものであれば特に制限することなく用いることができる。具体的には、例えば、2−メチルイミダゾール等のイミダゾール類、トリエチレンジアミン等の三級アミン類、トリフェニルホスフィン等の有機ホスフィン類等を挙げることができる。これらの群より選ばれた1種以上のものを用いることができる。   Moreover, as a hardening accelerator, if it can accelerate | stimulate hardening reaction, it can use without a restriction | limiting in particular. Specific examples include imidazoles such as 2-methylimidazole, tertiary amines such as triethylenediamine, and organic phosphines such as triphenylphosphine. One or more selected from these groups can be used.

また無機充填材としては、例えば、シリカ、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、Eガラス粉末、アルミナ、酸化マグネシウム、二酸化チタン、チタン酸バリウム、ケイ酸カルシウム、炭酸カルシウム、クレイ、タルク等を挙げることができる。これらの群より選ばれた1種以上のものを用いることができる。これらの中でもシリカを用いることが好ましい。シリカとしては、球状シリカや破砕シリカ等が使用可能である。無機充填材の平均粒径は、例えば、0.1〜20μmであり、好ましくは0.5〜10μmである。なお、平均粒径とは、レーザー回折式粒度分布測定装置を用いて測定された重量平均粒子径を意味する。   Examples of the inorganic filler include silica, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, E glass powder, alumina, magnesium oxide, titanium dioxide, barium titanate, calcium silicate, calcium carbonate, clay, talc and the like. it can. One or more selected from these groups can be used. Among these, it is preferable to use silica. As silica, spherical silica, crushed silica, or the like can be used. The average particle diameter of the inorganic filler is, for example, 0.1 to 20 μm, preferably 0.5 to 10 μm. In addition, an average particle diameter means the weight average particle diameter measured using the laser diffraction type particle size distribution measuring apparatus.

また繊維基材2としては、例えば、ガラス等の無機質繊維の織布(クロス)又は不織布や、アラミドクロス、ポリエステルクロス、紙等を用いることができる。特に繊維基材2はガラスクロスであることが好ましい。   Moreover, as the fiber base material 2, for example, a woven fabric (cloth) or a nonwoven fabric of inorganic fibers such as glass, an aramid cloth, a polyester cloth, paper, or the like can be used. In particular, the fiber base 2 is preferably a glass cloth.

上記のように第一樹脂層Aは、繊維基材2を含み、かつ、無機充填材を比較的高い割合で含有しているので、その硬化物の熱膨張率(CTE:coefficient of thermal expansion)を十分低くすることができる。なお、第一樹脂層Aにおいて無機充填材の含有量が100質量部未満であると、第一樹脂層Aの硬化物の熱膨張率を十分低減することができない。また、無機充填材の含有量が400質量部を超えると、プリプレグ1を用いて成形する際に、第一樹脂組成物の溶融粘度が大きくなり過ぎ、カスレやボイドなどの成形不良を生じるおそれがある。   As described above, the first resin layer A includes the fiber base 2 and contains a relatively high proportion of the inorganic filler, so that the cured product has a coefficient of thermal expansion (CTE). Can be made sufficiently low. If the content of the inorganic filler in the first resin layer A is less than 100 parts by mass, the coefficient of thermal expansion of the cured product of the first resin layer A cannot be sufficiently reduced. In addition, if the content of the inorganic filler exceeds 400 parts by mass, when molding using the prepreg 1, the melt viscosity of the first resin composition becomes too large, and molding defects such as scum and voids may occur. is there.

一方、第二樹脂層Bは、第一樹脂層Aの少なくとも一方の面に形成されている。すなわち、第二樹脂層Bは、図1(a)のように第一樹脂層Aの片面に形成されていてもよいし、図1(b)のように第一樹脂層Aの両面に形成されていてもよい。そして、後述のように第二樹脂層Bが硬化した硬化物層32の表面に金属による導体層が形成される。   On the other hand, the second resin layer B is formed on at least one surface of the first resin layer A. That is, the second resin layer B may be formed on one side of the first resin layer A as shown in FIG. 1A, or formed on both sides of the first resin layer A as shown in FIG. May be. And the conductor layer by a metal is formed in the surface of the hardened | cured material layer 32 which the 2nd resin layer B hardened | cured as mentioned later.

第二樹脂層Bは、第二樹脂組成物の半硬化物であり、繊維基材2を含んでいない。第二樹脂組成物は、樹脂成分として後述の熱硬化性樹脂B1、熱硬化性樹脂B2、硬化剤が含まれる。また第二樹脂層Bは、無機充填材を含有しないか、あるいは比較的少ない含有量であれば無機充填材を含有することができる。第二樹脂層Bが無機充填材を含有する場合、その含有量は、樹脂成分100質量部に対して50質量部以下とする。第二樹脂層Bが無機充填材を含有しない場合、第二樹脂層Bが硬化した硬化物層32では、後述するように、第二樹脂組成物の樹脂成分による効果が好適に得られることにより、導体層に対する密着性が向上する。また第二樹脂層Bが無機充填材を含有していても、その含有量が上記のように少量であれば、硬化物層32の導体層に対する密着性への影響が実質的に問題ない程度に小さいため、好適な密着性を得ることができる。   The second resin layer B is a semi-cured product of the second resin composition and does not include the fiber substrate 2. The second resin composition includes a thermosetting resin B1, a thermosetting resin B2, and a curing agent described later as resin components. The second resin layer B does not contain an inorganic filler or can contain an inorganic filler as long as the content is relatively small. When the 2nd resin layer B contains an inorganic filler, the content shall be 50 mass parts or less with respect to 100 mass parts of resin components. When the 2nd resin layer B does not contain an inorganic filler, in the hardened material layer 32 which 2nd resin layer B hardened, as mentioned below, the effect by the resin component of the 2nd resin composition is acquired suitably. Adhesion to the conductor layer is improved. In addition, even if the second resin layer B contains an inorganic filler, if the content is small as described above, the effect on the adhesion of the cured product layer 32 to the conductor layer is substantially satisfactory. Therefore, suitable adhesion can be obtained.

ここで、第二樹脂層B(又は第二樹脂組成物)の樹脂成分は、官能基当量が150〜400g/eqの熱硬化性樹脂B1と、官能基当量が450〜600g/eqの熱硬化性樹脂B2と、硬化剤とを含有する。熱硬化性樹脂B1及び熱硬化性樹脂B2の官能基は硬化剤と反応し得るものである。官能基当量が小さい熱硬化性樹脂B1は、硬化剤と反応して、架橋密度の高い硬化物となる一方、これとは相対的に官能基当量が大きい熱硬化性樹脂B2は、硬化剤と反応して、上記の硬化物よりも架橋密度の低い硬化物となる。そして、第二樹脂層Bの硬化物層32は、その表面を粗化処理したとき、架橋密度が低い熱硬化性樹脂B2の硬化物が、架橋密度が高い熱硬化性樹脂B1の硬化物よりも優先的に溶解されて、表面粗度が比較的小さい微細な凹凸表面となる。この微細な凹凸表面は、導体層に対する密着力の向上に寄与する。なお、表面粗度は例えば算術平均粗さ(Ra)及び十点平均粗さ(Rz)で評価することができる。   Here, the resin component of the second resin layer B (or the second resin composition) includes a thermosetting resin B1 having a functional group equivalent of 150 to 400 g / eq and a thermosetting resin having a functional group equivalent of 450 to 600 g / eq. Containing a functional resin B2 and a curing agent. The functional groups of the thermosetting resin B1 and the thermosetting resin B2 can react with the curing agent. The thermosetting resin B1 having a small functional group equivalent reacts with a curing agent to form a cured product having a high crosslink density, while the thermosetting resin B2 having a relatively large functional group equivalent has a curing agent and It reacts to become a cured product having a lower crosslink density than the above cured product. And when the hardened | cured material layer 32 of the 2nd resin layer B roughens the surface, the hardened | cured material of thermosetting resin B2 with low crosslinking density is hardened | cured material of thermosetting resin B1 with high crosslinking density. Is also preferentially dissolved, resulting in a fine uneven surface with a relatively small surface roughness. This fine concavo-convex surface contributes to an improvement in adhesion to the conductor layer. The surface roughness can be evaluated by, for example, arithmetic average roughness (Ra) and ten-point average roughness (Rz).

なお、熱硬化性樹脂B1の官能基当量が150g/eq未満の場合には、得られる硬化物を粗化処理して形成される表面の表面粗度が小さくなりすぎ、400を超える場合には上記の表面粗度が大きくなりすぎて、導体層との密着性が低下する。また熱硬化性樹脂B2の官能基当量が450g/eq未満の場合には、得られる硬化物を粗化処理して形成される表面の表面粗度が小さくなりすぎて密着性が低下し、600を超える場合には、上記の表面粗度が大きくなりすぎる。   In addition, when the functional group equivalent of thermosetting resin B1 is less than 150 g / eq, the surface roughness of the surface formed by roughening the obtained cured product becomes too small, and when it exceeds 400, Said surface roughness becomes too large, and adhesiveness with a conductor layer falls. Further, when the functional group equivalent of the thermosetting resin B2 is less than 450 g / eq, the surface roughness of the surface formed by roughening the resulting cured product becomes too small, resulting in a decrease in adhesion, and 600 If it exceeds 1, the above-mentioned surface roughness becomes too large.

特に熱硬化性樹脂B1は、エポキシ当量が150〜400g/eqのエポキシ樹脂であり、熱硬化性樹脂B2は、エポキシ当量が450〜600g/eqのエポキシ樹脂であることが好ましい。このように、熱硬化性樹脂B1及び熱硬化性樹脂B2が共にエポキシ樹脂であれば、その他の熱硬化性樹脂に比べて、第二樹脂層Bの硬化物層32の導体層に対する密着力をより向上させることができる。   In particular, the thermosetting resin B1 is preferably an epoxy resin having an epoxy equivalent of 150 to 400 g / eq, and the thermosetting resin B2 is preferably an epoxy resin having an epoxy equivalent of 450 to 600 g / eq. Thus, if both thermosetting resin B1 and thermosetting resin B2 are epoxy resins, compared with other thermosetting resins, the adhesive force with respect to the conductor layer of the hardened | cured material layer 32 of the 2nd resin layer B is improved. It can be improved further.

さらに熱硬化性樹脂B1は、1分子中にエポキシ基を3個以上有する多官能エポキシ樹脂であり、熱硬化性樹脂B2は、1分子中にエポキシ基を2〜2.3個有するエポキシ樹脂であることが好ましい。   Further, the thermosetting resin B1 is a polyfunctional epoxy resin having 3 or more epoxy groups in one molecule, and the thermosetting resin B2 is an epoxy resin having 2 to 2.3 epoxy groups in one molecule. Preferably there is.

1分子中にエポキシ基を3個以上有する多官能エポキシ樹脂の具体例としては、多官能フェノールのジグリシジルエーテル化合物、多官能アルコールのジグリシジルエーテル化合物、フェノール類とホルムアルデヒドの重縮合物のグリシジルエーテル化物であるフェノール系ノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビスフェノールAノボラック型エポキシ樹脂、及びこれらを臭素化したエポキシ樹脂等を挙げることができる。これらの群より選ばれた1種以上のものを用いることができる。これらの中では反応性が高い点からフェノール系ノボラック型エポキシ樹脂が好ましく用いられる。   Specific examples of polyfunctional epoxy resins having three or more epoxy groups in one molecule include diglycidyl ether compounds of polyfunctional phenols, diglycidyl ether compounds of polyfunctional alcohols, and glycidyl ethers of polycondensates of phenols and formaldehyde. And phenolic novolac type epoxy resins, cresol novolac type epoxy resins, bisphenol A novolac type epoxy resins and brominated epoxy resins. One or more selected from these groups can be used. Of these, phenol novolac type epoxy resins are preferably used because of their high reactivity.

1分子中にエポキシ基を2〜2.3個有するエポキシ樹脂の具体例としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂等を挙げることができる。これらの中でもビスフェノールA型エポキシ樹脂が好ましく、特に臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂が好ましい。このような臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂を用いた場合には、硬化の際に臭素原子が立体障害となって、架橋が不完全な部分が生じ、硬化物を粗化処理した際には、この部分が微細な凹凸を形成するように溶解するために、高い密着性を示すことに寄与すると考えられる。   Specific examples of the epoxy resin having 2 to 2.3 epoxy groups in one molecule include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, and biphenyl type epoxy resin. . Among these, bisphenol A type epoxy resins are preferable, and brominated bisphenol A type epoxy resins are particularly preferable. When such a brominated bisphenol A type epoxy resin is used, a bromine atom becomes a steric hindrance during curing, resulting in incomplete crosslinking, and when the cured product is roughened, Since this part dissolves so as to form fine irregularities, it is considered that it contributes to showing high adhesion.

そして、熱硬化性樹脂B1として1分子中にエポキシ基を3個以上有する多官能エポキシ樹脂を用いると、第二樹脂層Bの硬化物層32に架橋密度の高い部分を形成することができる。一方、熱硬化性樹脂B2として1分子中にエポキシ基を2〜2.3個有するエポキシ樹脂を用いると、第二樹脂層Bの硬化物層32に架橋密度の低い部分を形成することができる。よって、上記の2種のエポキシ樹脂を併用すると、第二樹脂層Bの硬化物層32において相対的に架橋密度が高い部分と低い部分とを均一に併存させることができる。   When a polyfunctional epoxy resin having three or more epoxy groups in one molecule is used as the thermosetting resin B1, a portion having a high crosslinking density can be formed in the cured product layer 32 of the second resin layer B. On the other hand, when an epoxy resin having 2 to 2.3 epoxy groups in one molecule is used as the thermosetting resin B2, a portion having a low crosslinking density can be formed in the cured product layer 32 of the second resin layer B. . Therefore, when the above two types of epoxy resins are used in combination, a portion having a relatively high crosslink density and a portion having a low crosslink density can coexist in the cured product layer 32 of the second resin layer B.

また第二樹脂層Bにおいて、熱硬化性樹脂B1と熱硬化性樹脂B2との含有比率は、熱硬化性樹脂B1に対する熱硬化性樹脂B2の質量比が(B2)/(B1)=4.2〜9.0であることが好ましい。この場合、第二樹脂層Bの硬化物層32は、その表面を粗化処理したとき、表面粗度が比較的小さい微細な凹凸表面が良好に形成される。つまり、凹凸表面の凹部及び凸部がバランスよく形成される。よって、第二樹脂層Bの硬化物層32の導体層に対する密着性を向上させることができる。   In the second resin layer B, the content ratio of the thermosetting resin B1 and the thermosetting resin B2 is such that the mass ratio of the thermosetting resin B2 to the thermosetting resin B1 is (B2) / (B1) = 4. It is preferable that it is 2-9.0. In this case, when the surface of the cured product layer 32 of the second resin layer B is roughened, a fine uneven surface with a relatively small surface roughness is formed favorably. That is, the concave and convex portions on the uneven surface are formed in a well-balanced manner. Therefore, the adhesiveness with respect to the conductor layer of the hardened | cured material layer 32 of the 2nd resin layer B can be improved.

また第二樹脂組成物における硬化剤としては、第一樹脂組成物における硬化剤として挙げたものを用いることができるが、特に好ましい硬化剤としては、トリアジン環を有するフェノール系ノボラック樹脂である。このトリアジン環を有するフェノール系ノボラック樹脂は、硬化剤として単独、あるいは、他のフェノール化合物と併用して用いられてもよい。   In addition, as the curing agent in the second resin composition, those mentioned as the curing agent in the first resin composition can be used, and a particularly preferable curing agent is a phenol novolak resin having a triazine ring. This phenolic novolak resin having a triazine ring may be used alone or in combination with other phenolic compounds as a curing agent.

また第二樹脂組成物には、さらに必要に応じて硬化促進剤を含有させることができる。その場合、硬化促進剤としては、第一樹脂組成物における硬化促進剤として例示したものと同様の化合物から選択することができる。   The second resin composition may further contain a curing accelerator as necessary. In that case, as a hardening accelerator, it can select from the same compound as what was illustrated as a hardening accelerator in a 1st resin composition.

本発明において第二樹脂層Bは、上述した通り、繊維基材2を含まず、第二樹脂組成物の半硬化物で形成されている。これにより、後述するように、第一樹脂層Aの表面に比較的薄い状態で第二樹脂層Bを形成することができる。また第二樹脂層Bは、無機充填材を含有していないか、又は含有していてもその量は、既述のように樹脂成分100質量部に対して50質量部以下という少量である。したがって、第二樹脂層Bの硬化物層32の表面には無機充填材の影響がないか、大きな影響が及ばなくて済むので、第二樹脂層Bの硬化物層32は、その表面を粗化処理したとき、表面粗度が比較的小さい微細な凹凸表面が良好に形成され、導体層に対する密着性が向上する。ここで、第二樹脂層Bにおいて無機充填材の含有量が50質量部を超えると、プリプレグ1の硬化後の絶縁層3、特に硬化物層32の表面に露出する無機充填材が多くなり、表面粗度が増大して導体層に対する密着性が低下するおそれがある。ただし、無機充填材を少量でも含有させることで第二樹脂層Bの硬化物層32の熱膨張率は低減されるので、第二樹脂層Bに無機充填材を含有させる場合には、密着性に悪影響を及ぼさない程度に無機充填材の含有量が低ければよい。   In the present invention, as described above, the second resin layer B does not include the fiber base material 2 and is formed of a semi-cured product of the second resin composition. Thereby, as will be described later, the second resin layer B can be formed in a relatively thin state on the surface of the first resin layer A. Moreover, the 2nd resin layer B does not contain the inorganic filler, or even if it contains, the amount is a small amount of 50 parts by mass or less with respect to 100 parts by mass of the resin component as described above. Therefore, since the surface of the cured product layer 32 of the second resin layer B is not affected by the inorganic filler or does not have a significant effect, the cured product layer 32 of the second resin layer B has a rough surface. When the treatment is performed, a fine uneven surface having a relatively small surface roughness is formed well, and the adhesion to the conductor layer is improved. Here, when the content of the inorganic filler in the second resin layer B exceeds 50 parts by mass, the amount of the inorganic filler exposed on the surface of the insulating layer 3 after the prepreg 1 is cured, in particular, the cured product layer 32 increases. There is a possibility that the surface roughness increases and the adhesion to the conductor layer decreases. However, since the coefficient of thermal expansion of the cured product layer 32 of the second resin layer B is reduced by containing even a small amount of the inorganic filler, the adhesiveness is increased when the inorganic filler is contained in the second resin layer B. It is sufficient that the content of the inorganic filler is low to the extent that it does not adversely affect the content.

なお、第二樹脂層Bが無機充填材を含有する場合には、この無機充填材としては、第一樹脂層Aが含有する無機充填材と同様のものを用いることができる。この場合、無機充填材の平均粒径は2μm以下が好ましく、より好ましくは1μm以下である。このように無機充填材の平均粒径を比較的小さくすることで、第二樹脂層Bに無機充填材を含有させた場合における上記密着性への影響を小さくすることができる。   In addition, when the 2nd resin layer B contains an inorganic filler, the thing similar to the inorganic filler which the 1st resin layer A contains can be used as this inorganic filler. In this case, the average particle size of the inorganic filler is preferably 2 μm or less, more preferably 1 μm or less. Thus, by making the average particle diameter of an inorganic filler comparatively small, when the 2nd resin layer B contains an inorganic filler, the influence on the said adhesiveness can be made small.

また第二樹脂層Bの厚みは、第一樹脂層Aの厚みの1/2以下であり、好ましくは1/3以下である。このように、第二樹脂層Bの厚みが薄く、第一樹脂層Aの厚みが厚いため、プリプレグ1の硬化物の全体としての熱膨張率には、第二樹脂層Bの硬化物層32の熱膨張率特性よりも、第一樹脂層Aの硬化物層31の熱膨張率特性が支配的に反映される。なお、第二樹脂層Bの厚みが第一樹脂層Aの厚みの1/2を超えると、プリプレグ1の硬化物の全体としての熱膨張率が高くなりやすい。   Moreover, the thickness of the 2nd resin layer B is 1/2 or less of the thickness of the 1st resin layer A, Preferably it is 1/3 or less. Thus, since the thickness of the 2nd resin layer B is thin and the thickness of the 1st resin layer A is thick, the cured | curing material layer 32 of the 2nd resin layer B has the thermal expansion coefficient as the whole cured | curing material of the prepreg 1 in it. The thermal expansion coefficient characteristic of the cured product layer 31 of the first resin layer A is predominantly reflected rather than the thermal expansion coefficient characteristic. In addition, when the thickness of the 2nd resin layer B exceeds 1/2 of the thickness of the 1st resin layer A, the thermal expansion coefficient as the whole cured | curing material of the prepreg 1 tends to become high.

次に、本発明の実施の形態であるプリプレグ1の製造方法の一例について説明する。   Next, an example of the manufacturing method of the prepreg 1 which is embodiment of this invention is demonstrated.

まず、第一樹脂組成物のワニスを繊維基材2に含浸させ、これを半硬化状態となるまで加熱乾燥することによって、第一樹脂層Aを形成することができる。   First, the first resin layer A can be formed by impregnating the fiber substrate 2 with the varnish of the first resin composition and drying it by heating until it is in a semi-cured state.

ここで、第一樹脂組成物のワニスを調製するにあたっては、まず熱硬化性樹脂、必要に応じて硬化剤、硬化促進剤、溶剤を配合することによってベースワニスを調製する。次にベースワニスに無機充填材を配合することによって、第一樹脂組成物のワニスを調製することができる。   Here, in preparing the varnish of the first resin composition, a base varnish is first prepared by blending a thermosetting resin, and optionally a curing agent, a curing accelerator, and a solvent. Next, the varnish of a 1st resin composition can be prepared by mix | blending an inorganic filler with a base varnish.

溶剤としては、例えば、ベンゼン、トルエン等の芳香族炭化水素類、N,N−ジメチルホルムアミド(DMF)等のアミド類、アセトン、メチルエチルケトン等のケトン類、メタノール、エタノール等のアルコール類、セロソルブ類等を挙げることができる。これらの群より選ばれた1種以上のものを用いることができる。   Examples of the solvent include aromatic hydrocarbons such as benzene and toluene, amides such as N, N-dimethylformamide (DMF), ketones such as acetone and methyl ethyl ketone, alcohols such as methanol and ethanol, cellosolves, and the like. Can be mentioned. One or more selected from these groups can be used.

次に、上記のようにして形成された第一樹脂層Aの片面又は両面に第二樹脂組成物のワニスを塗布し、これを半硬化状態となるまで加熱乾燥することによって、第二樹脂層Bを形成し、図1に示すようなプリプレグ1を得ることができる。第二樹脂組成物のワニスの塗布方法は特に制限されず、例えば、スプレーコート法、ディップコート法、ロールコート法、カーテンコート法、ダイコート法、スリットコート法などの公知の塗布方法が挙げられる。   Next, the varnish of the second resin composition is applied to one side or both sides of the first resin layer A formed as described above, and this is heated and dried until it becomes a semi-cured state, whereby the second resin layer B can be formed to obtain a prepreg 1 as shown in FIG. The coating method of the varnish of the second resin composition is not particularly limited, and examples thereof include known coating methods such as a spray coating method, a dip coating method, a roll coating method, a curtain coating method, a die coating method, and a slit coating method.

ここで、第二樹脂組成物のワニスは、官能基当量が150〜400g/eqの熱硬化性樹脂B1、官能基当量が450〜600g/eqの熱硬化性樹脂B2、硬化剤、必要に応じて硬化促進剤、溶剤を配合することによって調製することができる。必要に応じて第二樹脂組成物のワニスに無機充填材を配合する。   Here, the varnish of the second resin composition is a thermosetting resin B1 having a functional group equivalent of 150 to 400 g / eq, a thermosetting resin B2 having a functional group equivalent of 450 to 600 g / eq, a curing agent, and if necessary. It can be prepared by blending a curing accelerator and a solvent. An inorganic filler is mix | blended with the varnish of a 2nd resin composition as needed.

上記のようにして得られたプリプレグ1において、第一樹脂層Aの厚みは15μm以上であり、第二樹脂層Bの厚みは5〜15μmであることが好ましい。第一樹脂層Aの厚みが15μm以上であれば、第一樹脂層Aが有する熱膨張特性の影響を相対的に大きくすることができ、プリプレグ1の硬化物としての熱膨張率をさらに低くすることができる。なお、第一樹脂層Aの厚みの上限は特に限定されないが、例えば200μmである。また第二樹脂層Bの厚みが薄すぎると、プリプレグ1を硬化させる過程で溶融した第一樹脂層Aの構成成分の一部が第二樹脂層Bと混じり合い、第二樹脂層Bの表面側に第一樹脂層Aの構成成分の影響が及んで硬化物層32の密着力が低下するおそれがある。しかし、第二樹脂層Bの厚みが5μm以上であれば、硬化物層32の導体層に対する密着性の低下を抑制することができる。さらに第二樹脂層Bの厚みが15μm以下であれば、第二樹脂層Bが有する熱膨張特性の影響を相対的に小さくすることができ、プリプレグ1の硬化物としての熱膨張率が大きくなることを抑制できる。   In the prepreg 1 obtained as described above, the thickness of the first resin layer A is preferably 15 μm or more, and the thickness of the second resin layer B is preferably 5 to 15 μm. If the thickness of the 1st resin layer A is 15 micrometers or more, the influence of the thermal expansion characteristic which the 1st resin layer A has can be enlarged relatively, and the thermal expansion coefficient as a hardened | cured material of the prepreg 1 is made still lower. be able to. In addition, although the upper limit of the thickness of the 1st resin layer A is not specifically limited, For example, it is 200 micrometers. If the thickness of the second resin layer B is too thin, part of the constituent components of the first resin layer A melted in the process of curing the prepreg 1 are mixed with the second resin layer B, and the surface of the second resin layer B There exists a possibility that the adhesive force of the hardened | cured material layer 32 may fall under the influence of the structural component of the 1st resin layer A to the side. However, if the thickness of the 2nd resin layer B is 5 micrometers or more, the fall of the adhesiveness with respect to the conductor layer of the hardened | cured material layer 32 can be suppressed. Further, if the thickness of the second resin layer B is 15 μm or less, the influence of the thermal expansion characteristics of the second resin layer B can be relatively reduced, and the coefficient of thermal expansion as a cured product of the prepreg 1 is increased. This can be suppressed.

次に、本発明に係る多層プリント配線板5の実施の形態の一例について説明する。この多層プリント配線板5は、図2に示すように内層回路基板50の導体層40が形成された面に、上記のプリプレグ1の硬化物を絶縁層3として備えている。プリプレグ1が図1(a)のように第一樹脂層Aの片面に第二樹脂層Bが形成されたものである場合、プリプレグ1の硬化物は、第一樹脂層Aの硬化物層31と第二樹脂層Bの硬化物層32とが積層した状態で絶縁層3が形成されることとなる。またプリプレグ1が図1(b)のように第一樹脂層Aの両面に第二樹脂層Bが形成されたものである場合、プリプレグ1の硬化物は、2つの第二樹脂層Bの硬化物層32の間に第一樹脂層Aの硬化物層31が挟み込まれた状態で絶縁層3が形成されることとなる。   Next, an example of an embodiment of the multilayer printed wiring board 5 according to the present invention will be described. As shown in FIG. 2, the multilayer printed wiring board 5 includes the cured product of the prepreg 1 as an insulating layer 3 on the surface of the inner circuit board 50 on which the conductor layer 40 is formed. When the prepreg 1 is formed by forming the second resin layer B on one side of the first resin layer A as shown in FIG. 1A, the cured product of the prepreg 1 is a cured product layer 31 of the first resin layer A. And the insulating layer 3 will be formed in the state which the cured | curing material layer 32 of the 2nd resin layer B laminated | stacked. Further, when the prepreg 1 is one in which the second resin layer B is formed on both surfaces of the first resin layer A as shown in FIG. 1B, the cured product of the prepreg 1 is cured of the two second resin layers B. The insulating layer 3 is formed in a state where the cured product layer 31 of the first resin layer A is sandwiched between the product layers 32.

ここで、図1(a)のように第一樹脂層Aの片面に第二樹脂層Bが形成されたプリプレグ1を用いる場合には、特に図2に示すように内層回路基板50の側に第一樹脂層Aを重ね、第二樹脂層Bを外側にすることが好ましい。   Here, when using the prepreg 1 in which the second resin layer B is formed on one side of the first resin layer A as shown in FIG. 1A, particularly on the inner circuit board 50 side as shown in FIG. It is preferable to overlap the first resin layer A and make the second resin layer B outside.

そして、第二樹脂層Bの硬化物層32の表面が、粗化液により粗化処理されて、その上にめっき導体層4が形成されている。図示省略しているが、ビルドアップ法により、複数層の絶縁層3とめっき導体層4とが交互に積層されていてもよい。   And the surface of the hardened | cured material layer 32 of the 2nd resin layer B is roughened by the roughening liquid, and the plating conductor layer 4 is formed on it. Although not shown, a plurality of insulating layers 3 and plated conductor layers 4 may be alternately laminated by a build-up method.

以下では多層プリント配線板5の製造方法について説明しつつ、多層プリント配線板5の具体的形態について説明する。   Below, the specific form of the multilayer printed wiring board 5 is demonstrated, explaining the manufacturing method of the multilayer printed wiring board 5. FIG.

多層プリント配線板5を製造するにあたっては、まず、あらかじめ外表面に内層回路となり得る導体層40が形成された内層回路基板50を用意し、必要に応じて酸溶液等を用いてこの内層回路基板50の導体層40に黒色酸化処理(黒化処理)等の内層粗化処理を行っておく。次に、内層回路基板50の外表面に上記のプリプレグ1を重ね、さらに保護フィルムを重ねた後、多段真空プレス等の成形方法によりこれらを一体に積層成形する。成形後に保護フィルムを除去した後は、プリプレグ1が硬化して形成された絶縁層3の表面を粗化液によって粗化処理を行う。   In manufacturing the multilayer printed wiring board 5, first, an inner layer circuit board 50 in which a conductor layer 40 that can be an inner layer circuit is formed in advance on the outer surface is prepared, and this inner layer circuit board is used using an acid solution or the like as necessary. 50 conductor layers 40 are subjected to inner layer roughening treatment such as black oxidation treatment (blackening treatment). Next, after the above prepreg 1 is overlaid on the outer surface of the inner layer circuit board 50 and a protective film is further overlaid, these are integrally laminated by a molding method such as a multistage vacuum press. After removing the protective film after molding, the surface of the insulating layer 3 formed by curing the prepreg 1 is roughened with a roughening solution.

ここで、粗化液としては、酸と酸化剤の両方又は一方を含むものであれば、特に限定されるものではない。例えば、過マンガン酸塩、重クロム酸塩、オゾン、過酸化水素/硫酸、硝酸等の酸化剤で粗化処理することができる。   Here, the roughening solution is not particularly limited as long as it contains both or one of an acid and an oxidizing agent. For example, it can be roughened with an oxidizing agent such as permanganate, dichromate, ozone, hydrogen peroxide / sulfuric acid, nitric acid.

さらに、ロームアンドハース社製「サーキュポジットMLB211」、「サーキュポジットMLB213」及び「サーキュポジットMLB216」の3種類からなるものをセットで粗化液として用いることもできる。粗化液による粗化処理は、プリプレグ1の積層成形後の積層板を粗化液に浸漬させることによって行うことができ、また、粗化液の種類を変えて複数回行うことができる。粗化液の温度は40〜90℃、浸漬時間は1〜30分間に設定することができる。   Furthermore, a set of three types of “Circumposit MLB211”, “Circuposit MLB213” and “Circuposit MLB216” manufactured by Rohm and Haas may be used as a roughening solution. The roughening treatment with the roughening liquid can be performed by immersing the laminated plate after the prepreg 1 is laminated in the roughening liquid, and can be performed a plurality of times by changing the type of the roughening liquid. The temperature of the roughening solution can be set to 40 to 90 ° C., and the immersion time can be set to 1 to 30 minutes.

上記の「サーキュポジットMLB211」、「サーキュポジットMLB213」及び「サーキュポジットMLB216」の3種類からなるものをセットで粗化液として用いる場合には、例えば次のようにして粗化処理を行うことができる。まず積層成形後の積層板を「サーキュポジットMLB211」に浸漬させて樹脂を膨潤させ、次に上記の積層板を「サーキュポジットMLB213」に浸漬させて樹脂を溶解させ、最後に上記の積層板を「サーキュポジットMLB216」に浸漬させて塩基性下の状態を中和させる。このようにして、上記の3種類からなる粗化液による粗化処理を行うことができる。   When the above-mentioned “Circus Deposit MLB 211”, “Circus Deposit MLB 213” and “Circus Deposit MLB 216” are used as a roughening solution as a set, the roughening treatment can be performed as follows, for example. it can. First, the laminated board after the lamination molding is immersed in “Circusposit MLB211” to swell the resin, then the above laminated board is immersed in “Circuposit MLB213” to dissolve the resin, and finally the above laminated board is It is immersed in “Circuposit MLB216” to neutralize the basic condition. In this way, the roughening treatment with the above three kinds of roughening liquids can be performed.

その後、上記のように粗化処理された絶縁層3の表面に公知のアディティブ法で外層回路となり得るめっき導体層4を形成することによって、多層プリント配線板5を得ることができる。アディティブ法には、フルアディティブ法とセミアディティブ法とがあり、本発明においてはいずれの方法を使用してめっき導体層4を形成してもよい。以下、セミアディティブ法でめっき導体層4を形成する例について説明する。   Then, the multilayer printed wiring board 5 can be obtained by forming the plating conductor layer 4 which can become an outer layer circuit by the well-known additive method on the surface of the insulating layer 3 roughened as described above. The additive method includes a full additive method and a semi-additive method. In the present invention, any method may be used to form the plated conductor layer 4. Hereinafter, an example in which the plated conductor layer 4 is formed by the semi-additive method will be described.

まず、スルーホールやブラインドバイアホールを形成するための貫通穴や非貫通穴(いずれも図示省略)を粗化処理後の絶縁層3にドリル、レーザーなどにより形成する。次に、無電解めっき処理を行って絶縁層3の表面に無電解銅めっき等の無電解めっきを形成した後、めっき導体層4を形成しない部分にめっきレジスト(図示省略)を形成する。その後、電解めっき処理を行って、めっきレジストが形成されていない部分に電解銅めっき等の電解めっきを形成した後、めっきレジストを剥離する。そして、めっきレジストの剥離により露出した無電解めっきをクイックエッチング法(フラッシュエッチング)で除去することにより、めっき導体層4が外層回路として形成された多層プリント配線板5を得ることができる。貫通穴や非貫通穴の内面には無電解めっき及び電解めっきが形成されることによって、内層回路である導体層40と外層回路であるめっき導体層4とを電気的に接続するスルーホールやブラインドバイアホール(いずれも図示省略)が形成される。なお、適宜にアフターキュアーを行ってもよい。   First, a through hole or a non-through hole (both not shown) for forming a through hole or a blind via hole is formed in the insulating layer 3 after the roughening process by a drill, a laser, or the like. Next, after performing electroless plating treatment to form electroless plating such as electroless copper plating on the surface of the insulating layer 3, a plating resist (not shown) is formed in a portion where the plated conductor layer 4 is not formed. Thereafter, electrolytic plating treatment is performed to form electrolytic plating such as electrolytic copper plating on a portion where the plating resist is not formed, and then the plating resist is peeled off. And the multilayer printed wiring board 5 in which the plating conductor layer 4 was formed as an outer layer circuit can be obtained by removing the electroless plating exposed by peeling of the plating resist by a quick etching method (flash etching). Through holes and blinds that electrically connect the conductor layer 40 that is the inner layer circuit and the plated conductor layer 4 that is the outer layer circuit by forming electroless plating and electrolytic plating on the inner surface of the through hole and the non-through hole. A via hole (both not shown) is formed. In addition, you may perform an after cure suitably.

上記のようにして得られた多層プリント配線板5においては、次のような効果を得ることができる。すなわち、上記のプリプレグ1を用いて多層プリント配線板5の絶縁層3を形成すると、この絶縁層3を構成する第二樹脂層Bの硬化物層32は、粗化処理により表面粗度が比較的小さい微細な凹凸表面としやすい。よって、この硬化物層32の表面にアディティブ法によりめっき導体層4を形成すると、このめっき導体層4に対して硬化物層32の高密着化を図ることができる。しかも上記の絶縁層3を構成する第一樹脂層Aの硬化物31によって低熱膨張率化も同時に図ることができる。このように、多層プリント配線板5を製造するにあたって、上記のようなプリプレグ1を用いると、低い熱膨張率を実現でき、かつ好適な表面粗度とすることができて、導体層に対する密着性を高めた絶縁層3を形成することができる。   In the multilayer printed wiring board 5 obtained as described above, the following effects can be obtained. That is, when the insulating layer 3 of the multilayer printed wiring board 5 is formed using the prepreg 1 described above, the cured product layer 32 of the second resin layer B constituting the insulating layer 3 has a surface roughness compared by roughening treatment. It is easy to make small uneven surface. Therefore, when the plated conductor layer 4 is formed on the surface of the cured product layer 32 by an additive method, the cured product layer 32 can be highly adhered to the plated conductor layer 4. In addition, the coefficient of thermal expansion can be reduced at the same time by the cured product 31 of the first resin layer A constituting the insulating layer 3. Thus, when manufacturing the multilayer printed wiring board 5, if the above prepregs 1 are used, a low coefficient of thermal expansion can be realized and a suitable surface roughness can be obtained, and adhesion to the conductor layer can be achieved. It is possible to form the insulating layer 3 with increased resistance.

以下、本発明を実施例によって具体的に説明する。   Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples.

<実施例1〜9及び比較例1〜4>
(第一樹脂組成物)
表1及び表2に示す配合組成により、熱硬化性樹脂A1、硬化剤、無機充填材、硬化促進剤を配合し、さらにメチルエチルケトン(MEK)で希釈することによって、第一樹脂層Aを形成するための第一樹脂組成物のワニス(固形分74質量%)を調製した。各材料としては、次のものを用いた。
<Examples 1-9 and Comparative Examples 1-4>
(First resin composition)
The first resin layer A is formed by blending a thermosetting resin A1, a curing agent, an inorganic filler, and a curing accelerator, and further diluting with methyl ethyl ketone (MEK) according to the blending composition shown in Table 1 and Table 2. A varnish (solid content 74% by mass) of the first resin composition was prepared. The following materials were used as each material.

(熱硬化性樹脂A1):DIC株式会社製「エピクロンHPC9500P」(ナフタレン骨格型エポキシ樹脂、エポキシ当量153g/eq)
(硬化剤):DIC株式会社製「TD2090」(フェノール硬化剤)
(無機充填材):株式会社アドマテックス製「SO−C2」(球状シリカ、平均粒径0.5μm)
(硬化促進剤):四国化成工業株式会社製「2E4MZ」(イミダゾール触媒)
(第二樹脂組成物)
表1及び表2に示す配合組成により、熱硬化性樹脂B1、熱硬化性樹脂B2、硬化剤、無機充填材、硬化促進剤を配合し、さらにMEKで希釈することによって、第二樹脂層Bを形成するための第二樹脂組成物のワニス(固形分62.5質量%)を調製した。ただし、比較例3については、表3に示す配合組成により、熱硬化性樹脂B1、熱硬化性樹脂B2、硬化剤、無機充填材、硬化促進剤を配合し、さらにMEKで希釈することによって、第二樹脂組成物のワニス(固形分62.5質量%)を調製した。各材料としては、次のものを用いた。
(Thermosetting resin A1): “Epiclon HPC9500P” manufactured by DIC Corporation (Naphthalene skeleton type epoxy resin, epoxy equivalent 153 g / eq)
(Curing agent): “TD2090” manufactured by DIC Corporation (phenol curing agent)
(Inorganic filler): “SO-C2” manufactured by Admatechs Co., Ltd. (spherical silica, average particle size 0.5 μm)
(Curing accelerator): “2E4MZ” (imidazole catalyst) manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.
(Second resin composition)
By blending the thermosetting resin B1, the thermosetting resin B2, the curing agent, the inorganic filler, and the curing accelerator according to the composition shown in Tables 1 and 2, the second resin layer B is diluted with MEK. The varnish (solid content 62.5 mass%) of the 2nd resin composition for forming was prepared. However, about the comparative example 3, by mix | blending thermosetting resin B1, thermosetting resin B2, a hardening | curing agent, an inorganic filler, a hardening accelerator by the compounding composition shown in Table 3, and also diluting with MEK, A varnish (solid content: 62.5% by mass) of the second resin composition was prepared. The following materials were used as each material.

(熱硬化性樹脂B1):DIC株式会社製「エピクロンN690−75M」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、エポキシ当量225g/eq、1分子中におけるエポキシ基数 約12個)
(熱硬化性樹脂B2):DIC株式会社製「エピクロン850S」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂、エポキシ当量188g/eq、1分子中におけるエポキシ基数2)
(硬化剤):DIC株式会社製「LA3018−50P」(ノボラック型フェノール樹脂)
(無機充填材):株式会社アドマテックス製「SO−C2」(球状シリカ、平均粒径0.5μm)
(硬化促進剤):四国化成工業株式会社製「2E4MZ」(イミダゾール触媒)
(プリプレグ)
実施例1〜9及び比較例4のプリプレグについては、次のようにして製造した。
(Thermosetting resin B1): “Epiclon N690-75M” manufactured by DIC Corporation (cresol novolac type epoxy resin, epoxy equivalent 225 g / eq, about 12 epoxy groups in one molecule)
(Thermosetting resin B2): “Epiclon 850S” manufactured by DIC Corporation (bisphenol A type epoxy resin, epoxy equivalent 188 g / eq, number of epoxy groups 2 in one molecule)
(Curing agent): “LA3018-50P” (novolac type phenolic resin) manufactured by DIC Corporation
(Inorganic filler): “SO-C2” manufactured by Admatechs Co., Ltd. (spherical silica, average particle size 0.5 μm)
(Curing accelerator): “2E4MZ” (imidazole catalyst) manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.
(Prepreg)
About the prepreg of Examples 1-9 and Comparative Example 4, it manufactured as follows.

まず、第一樹脂組成物を繊維基材2に含浸させ、これを半硬化状態となるまで加熱乾燥することによって、第一樹脂層Aを形成した。繊維基材2としては、実施例1〜3、5〜9及び比較例4については、旭化成イーマテリアルズ株式会社製「1017−1070−AS890MSW」を用い、実施例4については、旭化成イーマテリアルズ株式会社製「1000−1070−AS890TFD」を用いた。   First, the first resin composition was impregnated in the fiber base material 2, and this was heat-dried until it became a semi-cured state, whereby the first resin layer A was formed. As the fiber substrate 2, for Examples 1 to 3, 5 to 9 and Comparative Example 4, "1017-1070-AS890MSW" manufactured by Asahi Kasei E-Materials Co., Ltd. was used, and for Example 4, Asahi Kasei E-Materials was used. “1000-1070-AS890TFD” manufactured by Co., Ltd. was used.

次に、上記のようにして形成した第一樹脂層Aの片面に第二樹脂組成物を塗布し、これを半硬化状態となるまで加熱乾燥することによって、第二樹脂層Bを形成し、図1(a)に示すようなプリプレグ1を得た。   Next, the second resin composition B is applied to one side of the first resin layer A formed as described above, and the second resin layer B is formed by heating and drying until a semi-cured state is obtained. A prepreg 1 as shown in FIG.

比較例1、2のプリプレグについては、第一樹脂組成物を上記と同様の繊維基材2(旭化成イーマテリアルズ株式会社製「1017−1070−AS890MSW」)に含浸させ、これを半硬化状態となるまで加熱乾燥することによって製造した。   For the prepregs of Comparative Examples 1 and 2, the first resin composition was impregnated in the same fiber base material 2 (“1017-1070-AS890MSW” manufactured by Asahi Kasei E-Materials Co., Ltd.), It was manufactured by heating to dryness.

比較例3のプリプレグについては、第二樹脂組成物を上記と同様の繊維基材2(旭化成イーマテリアルズ株式会社製「1017−1070−AS890MSW」)に含浸させ、これを半硬化状態となるまで加熱乾燥することによって製造した。   For the prepreg of Comparative Example 3, the second resin composition was impregnated into the same fiber base material 2 (“1017-1070-AS890MSW” manufactured by Asahi Kasei E-Materials Co., Ltd.) until it was in a semi-cured state. It was manufactured by heat drying.

(多層プリント配線板)
まず、あらかじめ外表面に内層回路となり得る導体層40が形成された内層回路基板50(パナソニック株式会社製「R−1566」)の表面にプリプレグ1の第一樹脂層Aを重ね、さらに保護フィルムを重ね合わせた後、多段真空プレスを用いて積層成形(温度150℃、圧力0.4MPa)した。そして、保護フィルムを剥離して除去し、オーブンで170℃×30分の条件で硬化させ、粗化液による絶縁層の粗化処理を行った。
(Multilayer printed wiring board)
First, the first resin layer A of the prepreg 1 is overlaid on the surface of an inner layer circuit board 50 (“R-1566” manufactured by Panasonic Corporation) in which a conductor layer 40 that can be an inner layer circuit is formed on the outer surface in advance, and a protective film is further formed. After superposition, lamination molding (temperature 150 ° C., pressure 0.4 MPa) was performed using a multistage vacuum press. And the protective film was peeled and removed, it hardened | cured on 170 degreeC * 30 minute conditions in oven, and the roughening process of the insulating layer by the roughening liquid was performed.

上記の粗化処理は下記(1)〜(3)の順番で行った。   Said roughening process was performed in order of following (1)-(3).

(1)積層成形後の積層板をロームアンドハース社製「サーキュポジットMLB211」の液中に80℃で6分間浸漬させた。   (1) The laminated board after lamination molding was immersed in a solution of “Circuposit MLB211” manufactured by Rohm and Haas for 6 minutes at 80 ° C.

(2)次にロームアンドハース社製「サーキュポジットMLB213」の液中に80℃で10分間浸漬させた。   (2) Next, it was immersed for 10 minutes at 80 ° C. in a solution of “Circuposit MLB213” manufactured by Rohm and Haas.

(3)最後にロームアンドハース社製「サーキュポジットMLB216」の液中に45℃で5分間浸漬させた。   (3) Finally, it was immersed for 5 minutes at 45 ° C. in a solution of “Circuposit MLB216” manufactured by Rohm and Haas.

その後、粗化処理された絶縁層3(実施例1〜9では第二樹脂層Bの硬化物層32)の表面にセミアディティブ法を用いて外層回路としてめっき導体層4を形成した。すなわち、無電解銅めっき処理を行って絶縁層3の表面に無電解銅めっきを形成した後、120℃で60分間乾燥させ、回路を形成しない部分にめっきレジストを形成した。さらに電解銅めっき処理を行った後にめっきレジストを剥離し、無電解めっきをフラッシュエッチングにより除去した。無電解銅めっきと電解銅めっきにより形成されためっき導体層4の厚さは20±2μm、めっき導体層4の幅は10mmであった。   Then, the plating conductor layer 4 was formed as an outer layer circuit on the surface of the roughened insulating layer 3 (in the first to ninth embodiments, the cured layer 32 of the second resin layer B) using a semi-additive method. That is, after electroless copper plating treatment was performed to form electroless copper plating on the surface of the insulating layer 3, it was dried at 120 ° C. for 60 minutes to form a plating resist in a portion where no circuit was formed. Furthermore, after performing the electrolytic copper plating treatment, the plating resist was peeled off, and the electroless plating was removed by flash etching. The thickness of the plating conductor layer 4 formed by electroless copper plating and electrolytic copper plating was 20 ± 2 μm, and the width of the plating conductor layer 4 was 10 mm.

めっき導体層4を形成した後、乾燥機により180℃×60分の条件でアフターキュアーを行うことによって、多層プリント配線板5を得た。   After forming the plating conductor layer 4, the multilayer printed wiring board 5 was obtained by performing after-curing on 180 degreeC x 60 minute conditions with a dryer.

<熱膨張率(CTE)>
多層プリント配線板5について、TMA法(Thermo-mechanicalanalysis)の引張モードによりガラス転移温度(Tg)以下の温度範囲(50〜100℃)における板厚方向に垂直な方向の熱膨張率を測定した。
<Coefficient of thermal expansion (CTE)>
About the multilayer printed wiring board 5, the thermal expansion coefficient of the direction perpendicular | vertical to the plate | board thickness direction in the temperature range (50-100 degreeC) below a glass transition temperature (Tg) was measured by the tension mode of TMA method (Thermo-mechanicalanalysis).

<表面粗度>
オリンパス株式会社製レーザー顕微鏡「OLS3000」を用い、以下の条件によって粗化処理後の絶縁層3の表面の算術平均粗さ(Ra)及び十点平均粗さ(Rz)を測定した。
<Surface roughness>
Using an Olympus laser microscope “OLS3000”, the arithmetic average roughness (Ra) and ten-point average roughness (Rz) of the surface of the insulating layer 3 after the roughening treatment were measured under the following conditions.

・半導体レーザー:波長408nm
・測定ピッチ:0.1μm
・測定範囲:0.012mm(平面)
<密着性>
密着性を評価するため、90度ピール試験方法(JIS C6481)に従い、多層プリント配線板5のめっき導体層4(銅めっき幅10mm)のめっきピール強度を測定した。
・ Semiconductor laser: wavelength 408nm
・ Measurement pitch: 0.1 μm
・ Measurement range: 0.012 mm 2 (plane)
<Adhesion>
In order to evaluate adhesion, the plating peel strength of the plating conductor layer 4 (copper plating width 10 mm) of the multilayer printed wiring board 5 was measured according to a 90-degree peel test method (JIS C6481).

以上の結果を表1〜表3に示す。   The above results are shown in Tables 1 to 3.

Figure 2015086293
Figure 2015086293

Figure 2015086293
Figure 2015086293

Figure 2015086293
CTEは10.0ppm/℃以下、算術平均粗さ(Ra)は0.2μm以下、十点平均粗さ(Rz)は2.7μm以下、めっきピール強度は0.7kN/m以上であることが好ましく、実施例1〜9ではこれらの数値範囲が全て満たされている。
Figure 2015086293
CTE is 10.0 ppm / ° C. or less, arithmetic average roughness (Ra) is 0.2 μm or less, ten-point average roughness (Rz) is 2.7 μm or less, and plating peel strength is 0.7 kN / m or more. Preferably, in Examples 1 to 9, all of these numerical ranges are satisfied.

これに対して、比較例1では第二樹脂層Bが形成されていないので、表面粗度が高く、密着性も悪い。   On the other hand, in the comparative example 1, since the 2nd resin layer B is not formed, surface roughness is high and adhesiveness is also bad.

また比較例2では、比較例1に比べて無機充填材が高充填化されているのでCTEは小さいものの、第二樹脂層Bが形成されていないので、表面粗度が高く、密着性も悪い。   In Comparative Example 2, since the inorganic filler is highly filled as compared with Comparative Example 1, although the CTE is small, since the second resin layer B is not formed, the surface roughness is high and the adhesion is poor. .

また比較例3では、第二樹脂組成物が用いられており、この第二樹脂組成物には、密着性に優れた樹脂成分が含有されているが、この他に無機充填材が多めに含有されている。そのため、CTEは小さくなるものの、高充填された無機充填材が、樹脂成分の特性を阻害してしまい、結果として密着性が悪くなっている。   In Comparative Example 3, a second resin composition is used, and this second resin composition contains a resin component having excellent adhesion, but additionally contains a large amount of an inorganic filler. Has been. Therefore, although CTE becomes small, the highly filled inorganic filler interferes with the characteristics of the resin component, resulting in poor adhesion.

また比較例4では、第一樹脂層Aの厚みと第二樹脂層Bの厚みとが同じであるのでCTEが大きい。   Moreover, in the comparative example 4, since the thickness of the 1st resin layer A and the thickness of the 2nd resin layer B are the same, CTE is large.

1 プリプレグ
2 絶縁基材
3 絶縁層
4 めっき導体層
5 多層プリント配線板
32 硬化物層
A 第一樹脂層A
B 第二樹脂層B
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Prepreg 2 Insulating base material 3 Insulating layer 4 Plating conductor layer 5 Multilayer printed wiring board 32 Hardened | cured material layer A 1st resin layer A
B Second resin layer B

Claims (6)

繊維基材を含む第一樹脂層Aと、
繊維基材を含まず、前記第一樹脂層Aの少なくとも一方の面に形成された第二樹脂層Bと、
を備え、
前記第一樹脂層Aは、樹脂成分100質量部に対して無機充填材を100〜400質量部含有し、
前記第二樹脂層Bは、無機充填材を含有しないか、又は、樹脂成分100質量部に対して無機充填材を50質量部以下含有し、
前記第二樹脂層Bの樹脂成分は、官能基当量が150〜400g/eqの熱硬化性樹脂B1と、官能基当量が450〜600g/eqの熱硬化性樹脂B2と、硬化剤と、を含有し、
前記第二樹脂層Bの厚みは、前記第一樹脂層Aの厚みの1/2以下である
ことを特徴とするプリプレグ。
A first resin layer A containing a fiber substrate;
A second resin layer B formed on at least one surface of the first resin layer A without including a fiber substrate;
With
Said 1st resin layer A contains 100-400 mass parts inorganic filler with respect to 100 mass parts of resin components,
Said 2nd resin layer B does not contain an inorganic filler, or contains 50 mass parts or less of an inorganic filler with respect to 100 mass parts of resin components,
The resin component of the second resin layer B includes a thermosetting resin B1 having a functional group equivalent of 150 to 400 g / eq, a thermosetting resin B2 having a functional group equivalent of 450 to 600 g / eq, and a curing agent. Contains,
The thickness of said 2nd resin layer B is 1/2 or less of the thickness of said 1st resin layer A, The prepreg characterized by the above-mentioned.
前記第一樹脂層Aの厚みは15μm以上であり、
前記第二樹脂層Bの厚みは5〜15μmである
ことを特徴とする請求項1に記載のプリプレグ。
The thickness of the first resin layer A is 15 μm or more,
The prepreg according to claim 1, wherein the thickness of the second resin layer B is 5 to 15 μm.
前記熱硬化性樹脂B1は、エポキシ当量が150〜400g/eqのエポキシ樹脂であり、
前記熱硬化性樹脂B2は、エポキシ当量が450〜600g/eqのエポキシ樹脂である
ことを特徴とする請求項1又は2に記載のプリプレグ。
The thermosetting resin B1 is an epoxy resin having an epoxy equivalent of 150 to 400 g / eq,
The prepreg according to claim 1 or 2, wherein the thermosetting resin B2 is an epoxy resin having an epoxy equivalent of 450 to 600 g / eq.
前記熱硬化性樹脂B1は、1分子中にエポキシ基を3個以上有する多官能エポキシ樹脂であり、
前記熱硬化性樹脂B2は、1分子中にエポキシ基を2〜2.3個有するエポキシ樹脂である
ことを特徴とする請求項3に記載のプリプレグ。
The thermosetting resin B1 is a polyfunctional epoxy resin having three or more epoxy groups in one molecule,
The prepreg according to claim 3, wherein the thermosetting resin B2 is an epoxy resin having 2 to 2.3 epoxy groups in one molecule.
前記熱硬化性樹脂B1と前記熱硬化性樹脂B2との含有比率は、前記熱硬化性樹脂B1に対する前記熱硬化性樹脂B2の質量比が(B2)/(B1)=4.2〜9.0である
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載のプリプレグ。
The content ratio of the thermosetting resin B1 and the thermosetting resin B2 is such that the mass ratio of the thermosetting resin B2 to the thermosetting resin B1 is (B2) / (B1) = 4.2-9. The prepreg according to claim 1, wherein the prepreg is zero.
請求項1乃至5のいずれか一項に記載のプリプレグの硬化物を絶縁層として備え、
前記第二樹脂層Bの硬化物層の表面が粗化処理されてその上にめっき導体層が形成されている
ことを特徴とする多層プリント配線板。
A cured product of the prepreg according to any one of claims 1 to 5 is provided as an insulating layer,
A multilayer printed wiring board, wherein the surface of the cured product layer of the second resin layer B is roughened and a plated conductor layer is formed thereon.
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