JP2017071797A - Thermosetting epoxy resin composition, adhesive film for forming insulating layer and multilayer printed wiring board - Google Patents

Thermosetting epoxy resin composition, adhesive film for forming insulating layer and multilayer printed wiring board Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an epoxy resin composition which can form a roughened surface that has a low dielectric loss tangent and is excellent in adhesiveness with a conductor layer, and can form an insulating layer having well-balanced characteristics of an increase in multilayering of build-up layers and an increase in density of a multilayer printed wiring board.SOLUTION: There is provided a thermosetting epoxy resin composition, where when a nonvolatile component in a resin composition containing at least an epoxy resin (A) and an active ester compound (B) containing a naphthalene structure is 100 mass%, a content of the active ester compound (B) containing the naphthalene structure is 0.1-30 mass%.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、誘電正接が低数値であり、且つ低粗度、高ピールの粗化面を有する絶縁層の形成に適した熱硬化性エポキシ樹脂組成物とその硬化物、及び低粗度、高ピールの粗化面を有する硬化物層を絶縁層として有する多層プリント配線板に関する。   The present invention relates to a thermosetting epoxy resin composition suitable for forming an insulating layer having a low dielectric loss tangent and a low roughness and a high peel rough surface, a cured product thereof, and a low roughness, high The present invention relates to a multilayer printed wiring board having a cured product layer having a roughened surface of a peel as an insulating layer.

電子機器の小型化、高性能化に伴い、使用される多層プリント配線板のビルドアップ層の高複層化、高密度化に対応できる導体形成方法としては、絶縁層表面を粗化処理後、無電解メッキで導体層を形成するアディティブ法と、無電解メッキと電解メッキで導体層を形成するセミアディティブ法が知られており、これらの方法の場合、絶縁層表面とメッキ導体層間の密着性は、主として絶縁層表面を粗化処理してアンカー効果を発揮する微細な凹凸を有する面とすることによって確保されている。   With the downsizing and high performance of electronic equipment, as a conductor formation method that can cope with the high build-up layer and high density of the build-up layer of the multilayer printed wiring board used, after roughening the insulating layer surface, The additive method for forming a conductor layer by electroless plating and the semi-additive method for forming a conductor layer by electroless plating and electrolytic plating are known. In these methods, the adhesion between the insulating layer surface and the plated conductor layer is known. Is ensured mainly by roughening the surface of the insulating layer to form a surface with fine irregularities that exhibits an anchor effect.

絶縁層表面に形成された凹凸によるアンカー効果は、表面の粗度が大きいほど大きく、メッキ導体層との密着性は高まる。しかし、絶縁層表面の粗度が大きいと、粗化面に形成された薄膜導体層を所定の配線パターンが形成されるようにエッチングにより部分的に除去する際に、除去されるべき表面部位における凹部に入り込んだ導体層部分が除去され難い状態であるため、エッチング処理に長時間を要することとなり、その影響で、残されるべき配線パターン部分までが侵食されて微細配線が損傷したり、断線したりする危険性が高くなる。それ故、配線の微細化、高密度化に対応するためには、絶縁層の表面状態は、できるだけ微細な凹凸でしかもメッキにより形成されている薄膜導体層との密着性を十分に確保できる粗化面であることが要求される。   The anchor effect due to the unevenness formed on the surface of the insulating layer increases as the surface roughness increases, and the adhesion to the plated conductor layer increases. However, when the roughness of the surface of the insulating layer is large, when the thin film conductor layer formed on the roughened surface is partially removed by etching so that a predetermined wiring pattern is formed, the surface portion to be removed Since the conductor layer portion that has entered the recess is in a state that is difficult to remove, the etching process takes a long time, and as a result, the wiring pattern portion that should be left is eroded and the fine wiring is damaged or disconnected. The risk of accidents increases. Therefore, in order to cope with the miniaturization and high density of the wiring, the surface state of the insulating layer should be as rough as possible to ensure sufficient adhesion with the thin film conductor layer formed by plating with the finest possible unevenness. It is required to be a conversion surface.

また、絶縁層には、絶縁層表面に形成される配線パターンからなる導体層との間の線熱膨張率に差が生じないように線熱膨張率が低いことも要求される。絶縁層の線熱膨張率が高いと、導体層との間の線熱膨張率の差が大きくなり、絶縁層と導体層の間にクラックが発生する等の問題が生じやすくなる。   The insulating layer is also required to have a low linear thermal expansion coefficient so as not to cause a difference in the linear thermal expansion coefficient between the insulating layer and the conductor layer formed of a wiring pattern formed on the surface of the insulating layer. When the linear thermal expansion coefficient of the insulating layer is high, the difference in the linear thermal expansion coefficient between the insulating layer and the conductor layer increases, and problems such as the occurrence of cracks between the insulating layer and the conductive layer are likely to occur.

従来、上記のような多層プリント配線板の内層回路基板の絶縁層を形成する熱硬化性樹脂組成物に使用する硬化剤として「活性エステル化合物」が知られており、そのような「活性エステル化合物」として「ジシクロペンタジエニルジフェノール構造を含む活性エステル化合物」が主に使用されてきている。しかし、近年の多層プリント配線板のビルドアップ層の高複層化、高密度化の進展は著しく、対応できる絶縁層を形成できるエポキシ樹脂組成物の提案も多くなされてきている。   Conventionally, "active ester compound" is known as a curing agent used in the thermosetting resin composition for forming the insulating layer of the inner circuit board of the multilayer printed wiring board as described above, and such "active ester compound" "The active ester compound containing a dicyclopentadienyl diphenol structure" has been mainly used. However, in recent years, the build-up layer of a multilayer printed wiring board has been greatly increased in the number of layers and the density has been increased, and many proposals of an epoxy resin composition capable of forming a corresponding insulating layer have been made.

特許文献1には、熱硬化性エポキシ樹脂組成物の硬化剤としてフェノールノボラック樹脂中のフェノール性水酸基をアリールエステル化して得られる活性エステル化合物を使用することにより、低い誘電特性を発現する絶縁層を形成する硬化体を得ることができることが記載されている。   Patent Document 1 discloses an insulating layer that exhibits low dielectric properties by using an active ester compound obtained by arylesterifying a phenolic hydroxyl group in a phenol novolac resin as a curing agent for a thermosetting epoxy resin composition. It is described that a cured body to be formed can be obtained.

特許文献2には、硬化物表面を粗化処理した粗化面の粗度が比較的小さいにもかかわらず、該粗化面がメッキ導体に対して高い密着性を示し、かつ線熱膨張率が小さい絶縁層を形成し得るエポキシ樹脂組成物として、(A)エポキシ樹脂、(B)活性エステル化合物、(C)トリアジン構造を有するフェノール樹脂、(D)マレイミド化合物、及び(E)フェノキシ樹脂を含有するエポキシ樹脂組成物が記載されている。   In Patent Document 2, although the roughness of the roughened surface obtained by roughening the surface of the cured product is relatively small, the roughened surface exhibits high adhesion to the plated conductor and has a linear thermal expansion coefficient. As an epoxy resin composition capable of forming an insulating layer having a small size, (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound, (C) a phenol resin having a triazine structure, (D) a maleimide compound, and (E) a phenoxy resin The containing epoxy resin composition is described.

また、特許文献3には、低誘電率、低誘電正接を発現するとともに、優れた耐熱性と難燃性とを兼備した硬化物を与える熱硬化性エポキシ樹脂組成物として、ポリアリーレンオキシ構造を主骨格としており、該構造の芳香核にアリールカルボニル基を有する活性エステル樹脂を含有するエポキシ樹脂組成物が記載されている。   Patent Document 3 discloses a polyaryleneoxy structure as a thermosetting epoxy resin composition that exhibits a low dielectric constant and a low dielectric loss tangent and gives a cured product having both excellent heat resistance and flame retardancy. An epoxy resin composition containing an active ester resin having an arylcarbonyl group in the aromatic nucleus of the structure is described.

上記のように、内層回路基板の絶縁層の形成に適したエポキシ樹脂組成物の提案は多くなされてきているが、低誘電正接であるとともに、めっき層との密着性に優れた微細粗化面を形成することができるという、多層プリント配線板のビルドアップ層の高複層化、高密度化に対応できる特性をバランスよく備えた絶縁層を形成できるエポキシ樹脂組成物に対する要望はさらに高まってきている。   As described above, many proposals for an epoxy resin composition suitable for the formation of an insulating layer of an inner circuit board have been made, but a fine rough surface having a low dielectric loss tangent and excellent adhesion to a plating layer. The demand for an epoxy resin composition capable of forming an insulating layer with a well-balanced property that can cope with higher multilayer and higher density build-up layers of multilayer printed wiring boards is increasing. Yes.

特開平07−082348号公報Japanese Patent Laid-Open No. 07-082348 特開2010−090238号公報JP 2010-090238 A 特開2012−012534号公報JP 2012-012534 A

本発明は、低誘電正接を示すとともに、めっき層との密着性、エッチング性に優れた微細凹凸を有する粗化面を形成することができるという多層プリント配線板のビルドアップ層の高複層化、高密度化に対応できる特性をバランスよく備えた絶縁層を形成できる熱硬化性エポキシ樹脂組成物と、その硬化物によって形成されている絶縁層を有するプリント配線板及び該プリント配線板によって構成されている多層プリント配線板を提供することを目的とするものである。
また、本発明は、上記の熱硬化性エポキシ樹脂組成物よりなる樹脂組成物層を支持フィルム上に形成した絶縁層形成用接着フィルム及び上記熱硬化性エポキシ樹脂組成物がシート状補強基材に含浸されている絶縁層形成用プリプレグを提供することを目的とするものである。
The present invention is capable of forming a multi-layered build-up layer of a multilayer printed wiring board that exhibits a low dielectric loss tangent and can form a roughened surface having fine irregularities excellent in adhesion and etching properties with a plating layer. A thermosetting epoxy resin composition capable of forming an insulating layer having a well-balanced characteristic capable of supporting high density, a printed wiring board having an insulating layer formed by the cured product, and the printed wiring board. An object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board.
In addition, the present invention provides an insulating layer-forming adhesive film in which a resin composition layer comprising the above thermosetting epoxy resin composition is formed on a support film, and the thermosetting epoxy resin composition as a sheet-like reinforcing substrate. An object of the present invention is to provide an impregnated prepreg for forming an insulating layer.

本発明者らは、熱硬化性エポキシ樹脂組成物に使用される硬化剤や配合樹脂類について鋭意検討した結果、エポキシ樹脂組成物に配合される樹脂成分として知られている各種樹脂のなかで、「ナフタレン構造を含む活性エステル化合物」が、その特定量を樹脂組成物中に配合する場合に上記課題を解決し得る手段となる樹脂成分であることを見いだし、以下の発明をなしたものである。   As a result of intensive studies on curing agents and compounded resins used in the thermosetting epoxy resin composition, the present inventors, among various resins known as resin components blended in the epoxy resin composition, The “active ester compound containing a naphthalene structure” was found to be a resin component that can solve the above problems when a specific amount thereof is blended in a resin composition, and the following invention has been made. .

〔1〕 少なくともエポキシ樹脂(A)と、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)を含有する樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合の前記ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)の含有量が0.1〜30質量%である、熱硬化性エポキシ樹脂組成物。
〔2〕 前記ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)が、ポリナフチレンオキサイド構造とアリールカルボニルオキシ基を有する活性エステル化合物である、〔1〕に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。
〔3〕 前記ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)が、ポリナフチレンオキサイド構造のナフタレン核にアリールカルボニルオキシ基が結合した活性エステル化合物である、〔1〕又は〔2〕に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。
〔4〕 前記エポキシ樹脂(A)が液状のエポキシ樹脂を含有する、〔1〕〜〔3〕のいずれかに記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。
〔5〕 さらに無機充填材を含有する、〔1〕〜〔4〕のいずれかに記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。
〔6〕 さらに熱可塑性樹脂を含有する、〔1〕〜〔5〕のいずれかに記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。
〔7〕 メッキにより導体層を形成する多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物である、〔1〕〜〔6〕のいずれかに記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。
〔8〕 〔1〕〜〔7〕のいずれかに記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物からなる樹脂組成物層を支持フィルム上に有することを特徴とする、絶縁層形成用接着フィルム。
〔9〕 〔1〕〜〔7〕のいずれかに記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物がシート状繊維基材に含浸されていることを特徴とする、絶縁層形成用プリプレグ。
〔10〕 〔8〕に記載の絶縁層形成用接着フィルムの樹脂組成物層及び〔9〕に記載の絶縁層形成用プリプレグのいずれかの硬化物よりなるプリント配線板用絶縁体。
〔11〕 〔10〕に記載のプリント配線板用絶縁体からなる絶縁層上にパターン加工された導体層回路を有するプリント配線板用絶縁体。
〔12〕 前記絶縁層の表面粗さRaが10〜200nmであり、Rqが15〜250nmであり、前記絶縁層と導体層のピール強度が0.35kgf/cm以上であることを特徴とする、〔10〕又は〔11〕に記載のプリント配線板用絶縁体。
〔13〕 〔11〕又は〔12〕に記載のプリント配線板用絶縁体を多層積層して形成されてなる、多層プリント配線板。
〔14〕 〔13〕に記載の多層プリント配線板を用いることを特徴とする半導体装置。
[1] Active ester compound (B) having the naphthalene structure when the nonvolatile component in the resin composition containing at least the epoxy resin (A) and the active ester compound (B) having a naphthalene structure is 100% by mass The thermosetting epoxy resin composition whose content is 0.1-30 mass%.
[2] The thermosetting epoxy resin composition according to [1], wherein the active ester compound (B) having a naphthalene structure is an active ester compound having a polynaphthylene oxide structure and an arylcarbonyloxy group.
[3] The thermosetting according to [1] or [2], wherein the active ester compound (B) having a naphthalene structure is an active ester compound in which an arylcarbonyloxy group is bonded to a naphthalene nucleus of a polynaphthylene oxide structure. Epoxy resin composition.
[4] The thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [3], wherein the epoxy resin (A) contains a liquid epoxy resin.
[5] The thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [4], further containing an inorganic filler.
[6] The thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [5], further containing a thermoplastic resin.
[7] The thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [6], which is a resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board in which a conductor layer is formed by plating.
[8] An adhesive film for forming an insulating layer, comprising a resin composition layer comprising the thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [7] on a support film.
[9] A prepreg for forming an insulating layer, wherein the thermosetting epoxy resin composition according to any one of [1] to [7] is impregnated in a sheet-like fiber base material.
[10] An insulator for printed wiring boards, comprising a cured product of any of the resin composition layer of the adhesive film for forming an insulating layer according to [8] and the prepreg for forming an insulating layer according to [9].
[11] A printed wiring board insulator having a conductor layer circuit patterned on an insulating layer made of the printed wiring board insulator according to [10].
[12] The surface roughness Ra of the insulating layer is 10 to 200 nm, Rq is 15 to 250 nm, and the peel strength of the insulating layer and the conductor layer is 0.35 kgf / cm or more, [10] The insulator for a printed wiring board according to [11].
[13] A multilayer printed wiring board formed by multilayering the printed wiring board insulator according to [11] or [12].
[14] A semiconductor device using the multilayer printed wiring board according to [13].

前記熱硬化性エポキシ樹脂組成物は、低誘電正接を示し、めっき層との密着性に優れた粗化面を形成することができ、多層プリント配線板のビルドアップ層の高複層化、高密度化に対応できる特性をバランスよく備えた絶縁層となる硬化物層を形成できる熱硬化性エポキシ樹脂組成物である。
また、上記熱硬化性エポキシ樹脂組成物を硬化してなる硬化物は、表面粗化処理によって、表面粗さRaが10〜200nmでRqが15〜250nmという微細な凹凸を形成した場合であっても、めっき層との密着性に優れた粗化面となるので、多層プリント配線板における絶縁層形成材料として特に有用である。
The thermosetting epoxy resin composition exhibits a low dielectric loss tangent and can form a roughened surface with excellent adhesion to the plating layer. It is a thermosetting epoxy resin composition capable of forming a cured product layer that becomes an insulating layer having a well-balanced characteristic capable of coping with densification.
Moreover, the hardened | cured material formed by hardening | curing the said thermosetting epoxy resin composition is a case where fine unevenness | corrugation whose surface roughness Ra is 10-200 nm and Rq is 15-250 nm is formed by the surface roughening process. In addition, since it becomes a roughened surface having excellent adhesion to the plating layer, it is particularly useful as an insulating layer forming material in a multilayer printed wiring board.

以下、本発明の熱硬化性エポキシ樹脂組成物、絶縁層形成用接着フィルム、絶縁層形成用プリプレグ、プリント配線板用絶縁体及び多層プリント配線板のそれぞれについてさらに詳述する。   Hereinafter, each of the thermosetting epoxy resin composition, the adhesive film for forming an insulating layer, the prepreg for forming an insulating layer, the insulator for a printed wiring board, and the multilayer printed wiring board will be described in detail.

本発明の熱硬化性エポキシ樹脂組成物は、必須成分としてエポキシ樹脂(A)と、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)を含有し、他に、無機充填材、熱可塑性樹脂、エポキシ樹脂用硬化剤、硬化促進剤、及び多層プリント配線板における絶縁層を形成する樹脂組成物に使用される添加物を必要に応じて含有することができる。   The thermosetting epoxy resin composition of the present invention contains an epoxy resin (A) and an active ester compound (B) containing a naphthalene structure as essential components, and in addition, for inorganic fillers, thermoplastic resins, and epoxy resins. The additive used for the resin composition which forms the insulating layer in a hardening | curing agent, a hardening accelerator, and a multilayer printed wiring board can be contained as needed.

<エポキシ樹脂(A)>
本発明の熱硬化性エポキシ樹脂組成物に使用するエポキシ樹脂(A)は、多層プリント配線板における絶縁層を形成する樹脂組成物に通常使用されるエポキシ樹脂であり、以下に挙げるものから適宜選択して使用することができる。
<Epoxy resin (A)>
The epoxy resin (A) used in the thermosetting epoxy resin composition of the present invention is an epoxy resin that is usually used in a resin composition for forming an insulating layer in a multilayer printed wiring board, and is appropriately selected from those listed below. Can be used.

例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、tert-ブチル-カテコール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環含有エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、トリメチロール型エポキシ樹脂、ハロゲン化エポキシ樹脂等が挙げられる。   For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin Naphthylene ether type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, epoxy resin having butadiene structure, Alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring-containing epoxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy resin, trimethylol type epoxy resin, halogen Epoxy resins.

エポキシ樹脂(A)は2種以上を併用してもよい。エポキシ樹脂(A)の不揮発成分を100質量%とした場合に、少なくとも50質量%以上は1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂であるのが好ましい。またさらに、1分子中に2個以上のエポキシ基を有し、温度20℃で液状の芳香族系エポキシ樹脂(液状エポキシ樹脂)を含有する態様が好ましく、該液状エポキシ樹脂及び1分子中に3個以上のエポキシ基を有し、温度20℃で固体状の芳香族系エポキシ樹脂(固体状エポキシ樹脂)を含有する態様がより好ましい。
なお、本発明において、芳香族系エポキシ樹脂とは、その分子内に芳香環骨格を有するエポキシ樹脂を意味する。またエポキシ当量(g/eq)は、エポキシ基1個当たりの分子量のことである。エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂を使用することで、エポキシ樹脂組成物を接着フィルムの形態で使用する場合に、十分な可撓性を示し、取扱い性に優れたフィルムを形成できると同時に、エポキシ樹脂組成物の硬化物の破断強度が向上し、多層プリント配線板の耐久性が向上する。
Two or more epoxy resins (A) may be used in combination. When the nonvolatile component of the epoxy resin (A) is 100% by mass, at least 50% by mass is preferably an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. Furthermore, an embodiment having two or more epoxy groups in one molecule and containing a liquid aromatic epoxy resin (liquid epoxy resin) at a temperature of 20 ° C. is preferable. An embodiment having at least one epoxy group and containing a solid aromatic epoxy resin (solid epoxy resin) at a temperature of 20 ° C. is more preferable.
In the present invention, the aromatic epoxy resin means an epoxy resin having an aromatic ring skeleton in the molecule. The epoxy equivalent (g / eq) is the molecular weight per epoxy group. By using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin as an epoxy resin, when the epoxy resin composition is used in the form of an adhesive film, a film exhibiting sufficient flexibility and excellent handleability can be formed. At the same time, the breaking strength of the cured product of the epoxy resin composition is improved, and the durability of the multilayer printed wiring board is improved.

また、エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂を併用する場合、配合割合(液状:固体状)は質量比で1:0.1〜1:2の範囲が好ましい。かかる範囲内で液状エポキシ樹脂を用いることで、接着フィルムの形態で使用する場合に、十分な可撓性が得られ、取り扱い性が向上し、ラミネートの際の十分な流動性を得ることもできるようになる。一方、かかる範囲内で固形エポキシ樹脂を用いることで、エポキシ樹脂組成物の粘着性を低下させ、接着フィルムの形態で使用する場合に、真空ラミネート時の脱気性を向上させることができる。また、真空ラミネート時に保護フィルムや支持フィルムの剥離性を良好にし、硬化後の耐熱性を向上させることもできる   Moreover, when using together a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin as an epoxy resin, the mixture ratio (liquid: solid state) has the preferable range of 1: 0.1-1: 2 by mass ratio. By using a liquid epoxy resin within such a range, when used in the form of an adhesive film, sufficient flexibility is obtained, handling is improved, and sufficient fluidity can be obtained during lamination. It becomes like this. On the other hand, by using a solid epoxy resin within such a range, the tackiness of the epoxy resin composition can be reduced, and when used in the form of an adhesive film, the deaeration during vacuum lamination can be improved. In addition, the peelability of the protective film and the support film can be improved during vacuum lamination, and the heat resistance after curing can be improved.

本発明のエポキシ樹脂組成物において、エポキシ樹脂組成物の不揮発成分を100質量
%とした場合、エポキシ樹脂(A)の含有量は10〜50質量%であるのが好ましく、より好ましくは20〜40質量%であり、さらに好ましくは20〜35質量%である。エポキシ樹脂(A)の含有量をこの範囲内とすることで、エポキシ樹脂組成物の硬化性が向上する傾向にある。
In the epoxy resin composition of the present invention, when the nonvolatile component of the epoxy resin composition is 100% by mass, the content of the epoxy resin (A) is preferably 10 to 50% by mass, more preferably 20 to 40%. It is mass%, More preferably, it is 20-35 mass%. By setting the content of the epoxy resin (A) within this range, the curability of the epoxy resin composition tends to be improved.

<ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)>
本発明の熱硬化性エポキシ樹脂組成物における「ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)」は、エポキシ樹脂の硬化剤としての機能を有しているとともに、樹脂硬化物面を粗化処理した際に、メッキ層との密着性がよい微細な凹凸が形成されることにも寄与しているものと考えられる。
<Active ester compound containing naphthalene structure (B)>
The “active ester compound (B) containing a naphthalene structure” in the thermosetting epoxy resin composition of the present invention has a function as a curing agent for the epoxy resin, and the surface of the cured resin is roughened. In addition, it is considered that it contributes to the formation of fine irregularities with good adhesion to the plating layer.

ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)としては、ナフタレン構造とアリールカルボニルオキシ基を有しさえすれば特に限定されないが、ポリナフチレンオキサイド構造とアリールカルボニルオキシ基を有する活性エステル化合物が好ましく、ポリナフチレンオキサイド構造のナフタレン核にアリールカルボニルオキシ基が結合した活性エステル化合物がより好ましい。ポリナフチレンオキサイド構造としては、炭素数1〜4のアルキル基で置換されたポリナフチレンオキサイド構造でもよく、さらにはポリフェニレンオキサイド構造を有していても良い。上記のような活性エステル化合物は、核置換ヒドロキシル基を有するナフタレン構造の化合物と、ナフタレン核又はベンゼン核にカルボキシル基を有するカルボン酸化合物との縮合反応で製造することができる。このような活性エステル化合物は、たとえば、特許文献3に記載されている「ポリアリーレンオキシ構造を主骨格とし、アリールカルボン酸でエステル化されている活性エステル化合物」に包含される化合物である。   The active ester compound (B) containing a naphthalene structure is not particularly limited as long as it has a naphthalene structure and an arylcarbonyloxy group, but an active ester compound having a polynaphthylene oxide structure and an arylcarbonyloxy group is preferable. An active ester compound in which an arylcarbonyloxy group is bonded to a naphthalene nucleus having a naphthylene oxide structure is more preferable. The polynaphthylene oxide structure may be a polynaphthylene oxide structure substituted with an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, or may have a polyphenylene oxide structure. The active ester compound as described above can be produced by a condensation reaction between a compound having a naphthalene structure having a nucleus-substituted hydroxyl group and a carboxylic acid compound having a carboxyl group in a naphthalene nucleus or a benzene nucleus. Such active ester compounds are, for example, compounds included in “active ester compounds having a polyaryleneoxy structure as a main skeleton and esterified with an arylcarboxylic acid” described in Patent Document 3.

具体的には、下記一般式(1)のものが挙げられる。   Specifically, the thing of the following general formula (1) is mentioned.

Figure 2017071797
〔式中、R1はそれぞれ独立に水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基となり、好ましくは水素原子である。R2はそれぞれ独立に水素原子又は下記一般式(2)が挙げられる。Xはそれぞれ独立に水素、ベンゾイル基又はナフチルカルボニル基となり、好ましくはベンゾイル基である。n及びmはそれぞれ0〜5の整数であって、n又はmのいずれか一方は1以上の整数である。〕
Figure 2017071797
[In formula, R1 becomes a hydrogen atom or a C1-C4 alkyl group each independently, Preferably it is a hydrogen atom. R2 is independently a hydrogen atom or the following general formula (2). Each X is independently hydrogen, benzoyl group or naphthylcarbonyl group, preferably benzoyl group. n and m are each an integer of 0 to 5, and one of n and m is an integer of 1 or more. ]

Figure 2017071797
〔式中、R1は上記と同様である。Xは上記と同様である。pは1又は2の整数である。なお、上記一般式(1)及び(2)のXの少なくとも一つはベンゾイル基又はナフチルカルボニル基となる。〕
Figure 2017071797
[Wherein, R1 is the same as above. X is the same as above. p is an integer of 1 or 2. In addition, at least one of X in the general formulas (1) and (2) is a benzoyl group or a naphthylcarbonyl group. ]

本発明のエポキシ樹脂組成物において、エポキシ樹脂組成物の不揮発成分を100質量
%とした場合、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)の含有量は0.1〜30質量%とする。これにより、低誘電正接を示すとともに、めっき層との密着性、エッチング性に優れた微細凹凸を有する粗化面を形成することができる。より好ましい範囲として3〜30質量%であり、さらに好ましくは5〜28質量%である。
In the epoxy resin composition of the present invention, when the nonvolatile component of the epoxy resin composition is 100% by mass, the content of the active ester compound (B) containing a naphthalene structure is 0.1 to 30% by mass. As a result, it is possible to form a roughened surface that exhibits a low dielectric loss tangent and has fine irregularities excellent in adhesion to the plating layer and etching properties. As a more preferable range, it is 3-30 mass%, More preferably, it is 5-28 mass%.

<無機充填材>
本発明のエポキシ樹脂組成物は、さらに無機充填材を含有させることにより、線熱膨張率を低下させることや誘電正接を低下させることができる。無機充填材としては、例えば、シリカ、アルミナ、硫酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、ホウ酸アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウムなどが挙げられる。なかでも、無定形シリカ、粉砕シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ、中空シリカ、球状シリカ等のシリカが好ましく、とくに絶縁層の表面粗さを低下させるという点で溶融シリカ、球状シリカがより好ましく、球状溶融シリカが更に好ましい。これらは1種または2種以上組み合わせて使用してもよい。市販されている球状溶融シリカとして、(株)アドマテックス製「SOC2」、「SOC1」等が挙げられる。
<Inorganic filler>
The epoxy resin composition of the present invention can reduce the linear thermal expansion coefficient and dielectric loss tangent by further containing an inorganic filler. Examples of the inorganic filler include silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate, barium titanate, Examples include strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, and calcium zirconate. Of these, silica such as amorphous silica, pulverized silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica, and spherical silica is preferable. In particular, fused silica and spherical silica are more preferable in terms of reducing the surface roughness of the insulating layer. Preferably, spherical fused silica is more preferable. You may use these 1 type or in combination of 2 or more types. Examples of commercially available spherical fused silica include “SOC2” and “SOC1” manufactured by Admatechs Co., Ltd.

無機充填材の平均粒径は、特に限定されないが、絶縁層表面が低粗度となり、微細配線形成を行うことを可能にするという観点から、5μm以下が好ましく、3μm以下がより好ましく、2μm以下が更に好ましく、1μm以下が更に一層好ましく、0.8μm以下が殊更好ましく、0.6μm以下が特に好ましく、0.4μm以下がとりわけ好ましい。一方、樹脂組成物を樹脂ワニスとした場合に、ワニスの粘度が上昇し、取り扱い性が低下するのを防止するという観点から、0.01μm以上が好ましく、0.03μm以上がより好ましく、0.05μm以上が更に好ましく、0.07μm以上が更に一層好ましく、0.1μm以上が殊更好ましい。上記無機充填材の平均粒径はミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的にはレーザー回折散乱式粒度分布測定装置により、無機充填材の粒度分布を体積基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。測定サンプルは、無機充填材を超音波により水中に分散させたものを好ましく使用することができる。レーザー回折散乱式粒度分布測定装置としては、(株)堀場製作所製 LA−950等を使用することができる。無機充填材は、アミノシラン系カップリング剤、ウレイドシラン系カップリング剤、エポキシシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤、シラン系カップリング剤、ビニルシラン系カップリング剤、スチリルシラン系カップリング剤、アクリレートシラン系カップリング剤、イソシアネートシラン系カップリング剤、スルフィドシラン系カップリング剤、オルガノシラザン化合物、チタネート系カップリング剤等の表面処理剤で表面処理してその耐湿性、分散性を向上させたものが好ましい。これらは1種又は2種以上組み合わせて使用してもよい。   The average particle size of the inorganic filler is not particularly limited, but is preferably 5 μm or less, more preferably 3 μm or less, and more preferably 2 μm or less from the viewpoint that the surface of the insulating layer has low roughness and enables fine wiring formation. Is more preferably 1 μm or less, still more preferably 0.8 μm or less, particularly preferably 0.6 μm or less, and particularly preferably 0.4 μm or less. On the other hand, when the resin composition is a resin varnish, it is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.03 μm or more, from the viewpoint of preventing the viscosity of the varnish from increasing and handling properties from decreasing. 05 μm or more is more preferable, 0.07 μm or more is further more preferable, and 0.1 μm or more is particularly preferable. The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction / scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler can be prepared on a volume basis by a laser diffraction / scattering particle size distribution measuring apparatus, and the median diameter can be measured as the average particle diameter. As the measurement sample, an inorganic filler dispersed in water by ultrasonic waves can be preferably used. As a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring apparatus, LA-950 manufactured by Horiba, Ltd. or the like can be used. Inorganic fillers include amino silane coupling agents, ureido silane coupling agents, epoxy silane coupling agents, mercapto silane coupling agents, silane coupling agents, vinyl silane coupling agents, and styryl silane coupling agents. Surface treatment with surface treatment agents such as acrylate silane coupling agents, isocyanate silane coupling agents, sulfide silane coupling agents, organosilazane compounds, titanate coupling agents, etc. to improve its moisture resistance and dispersibility Are preferred. These may be used alone or in combination of two or more.

無機充填材を配合する場合には、樹脂組成物に要求される特性によっても異なるが、エポキシ樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、30〜90質量%であるのが好ましく、40〜80質量%であるのがより好ましく、50〜70質量%であるのが更に好ましい。無機充填材の含有量が少なすぎると、硬化物の線熱膨張率が高くなる傾向にあり、含有量が多すぎると接着フィルムを調製する際にフィルム化が困難となったり、硬化物が脆くなる傾向にある。   When blending an inorganic filler, it varies depending on the properties required for the resin composition, but when the nonvolatile component in the epoxy resin composition is 100% by mass, it is preferably 30 to 90% by mass, More preferably, it is 40-80 mass%, and it is still more preferable that it is 50-70 mass%. If the content of the inorganic filler is too small, the linear thermal expansion coefficient of the cured product tends to increase. If the content is too large, it becomes difficult to form a film when preparing an adhesive film, or the cured product is brittle. Tend to be.

<熱可塑性樹脂>
本発明のエポキシ樹脂組成物は、さらに熱可塑性樹脂を含有させることにより、硬化物の機械強度を向上させることができ、更に接着フィルムの形態で使用する場合のフィルム成型能を向上させることもできる。熱可塑性樹脂としては、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂を挙げることができ、特にフェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂が好ましい。これらの熱可塑性樹脂は各々単独で用いてもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。熱可塑性樹脂の重量平均分子量は8000〜200000の範囲であるのが好ましく、12000〜100000の範囲がより好ましい。なお本発明における重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法(ポリスチレンン換算)で測定される。GPC法による重量平均分子量は、具体的には、測定装置として(株)島津製作所製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工(株)社製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。
<Thermoplastic resin>
The epoxy resin composition of the present invention can further improve the mechanical strength of the cured product by further containing a thermoplastic resin, and can also improve the film molding ability when used in the form of an adhesive film. . Examples of the thermoplastic resin include phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, polyetheretherketone resin, and polyester resin. In particular, phenoxy resin and polyvinyl acetal resin are preferable. These thermoplastic resins may be used alone or in combination of two or more. The weight average molecular weight of the thermoplastic resin is preferably in the range of 8,000 to 200,000, and more preferably in the range of 12,000 to 100,000. In addition, the weight average molecular weight in this invention is measured by the gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene conversion). Specifically, the weight average molecular weight by the GPC method is LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P / K-804L / K manufactured by Showa Denko KK as a column. -804L can be measured at a column temperature of 40 ° C. using chloroform or the like as a mobile phase, and can be calculated using a standard polystyrene calibration curve.

熱可塑性樹脂を配合する場合には、エポキシ樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、0.1〜10質量%が好ましく、0.5〜5質量%がより好ましい。この範囲内であると、フィルム成型能や機械強度向上の効果が発揮され、更に溶融粘度の上昇や湿式粗化工程後の絶縁層表面の粗度を低下させることができる。   When mix | blending a thermoplastic resin, when the non-volatile component in an epoxy resin composition is 100 mass%, 0.1-10 mass% is preferable and 0.5-5 mass% is more preferable. Within this range, the effect of improving the film forming ability and mechanical strength can be exhibited, and the melt viscosity can be increased and the roughness of the insulating layer surface after the wet roughening step can be reduced.

<エポキシ樹脂用硬化剤>
本発明のエポキシ樹脂組成物は、さらに一般的なエポキシ樹脂用硬化剤を使用することもできる。使用できるエポキシ樹脂用硬化剤としては、TD2090、TD2131〔DIC(株)、商品名〕、MEH−7600、MEH−7851、MEH−8000H〔明和化成(株)、商品名〕、NHN、CBN、GPH−65、GPH−103〔日本化薬(株)、商品名〕、SN170、SN180、SN190、SN475、SN485、SN495、SN375、SN395〔新日鐵化学(株)、商品名〕、LA7052、LA7054、LA3018,LA1356〔DIC(株)、商品名〕などのフェノール系硬化剤、F−a、P−d〔四国化成(株)、商品名〕、HFB2006M〔昭和高分子(株)、商品名〕などのベンゾオキサジン系硬化剤、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルナジック酸無水物、水素化メチルナジック酸無水物などの酸無水物系硬化剤、PT30、PT60、BA230S75〔ロンザジャパン(株)、商品名〕などのシアネートエステル系硬化剤等が挙げられる。
<Curing agent for epoxy resin>
The epoxy resin composition of the present invention may further use a general curing agent for epoxy resins. Examples of the epoxy resin curing agent that can be used include TD2090, TD2131 [DIC Corporation, trade name], MEH-7600, MEH-7851, MEH-8000H [Maywa Kasei Co., trade name], NHN, CBN, GPH. -65, GPH-103 [Nippon Kayaku Co., Ltd., trade name], SN170, SN180, SN190, SN475, SN485, SN495, SN375, SN395 [Nippon Steel Chemical Co., Ltd., trade name], LA7052, LA7054, Phenolic curing agents such as LA3018, LA1356 [DIC Corporation, trade name], Fa, Pd [Shikoku Kasei Co., trade name], HFB2006M [Showa Polymer Co., trade name], etc. Benzoxazine-based curing agents, methyl hexahydrophthalic anhydride, methyl nadic anhydride, hydrogenated methyl nadic anhydride Acid anhydride curing agents such as acid anhydrides, PT30, PT60, BA230S75 [Lonza Japan Ltd., trade name] cyanate ester-based curing agent, such as and the like.

<硬化促進剤>
本発明のエポキシ樹脂組成物は、さらに硬化促進剤を含有させることにより、硬化時間及び硬化温度を効率的に調整することができる。硬化促進剤としては、例えば、TPP、TPP−K、TPP−S、TPTP−S〔北興化学工業(株)、商品名〕などの有機ホスフィン化合物、キュアゾール2MZ、2E4MZ、Cl1Z、Cl1Z−CN、Cl1Z−CNS、Cl1Z−A、2MZ−OK、2MA−OK、2PHZ〔四国化成工業(株)、商品名〕などのイミダゾール化合物、ノバキュア〔旭化成工業(株)、商品名〕、フジキュア〔富士化成工業(株)、商品名〕などのアミンアダクト化合物、1,8−ジアザビシクロ[5,4,0]ウンデセン−7,4−ジメチルアミノピリジン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、4−ジメチルアミノピリジンなどのアミン化合物、コバルト、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズ等の有機金属錯体又は有機金属塩、等が挙げられる。硬化促進剤は2種以上を併用してもよい。硬化促進剤を配合する場合には、エポキシ樹脂組成物中に含まれるエポキシ樹脂の総量を100質量%(不揮発成分)とした場合、0.05〜1質量%の範囲で使用するのが好ましい。
<Curing accelerator>
The epoxy resin composition of the present invention can efficiently adjust the curing time and the curing temperature by further containing a curing accelerator. Examples of the curing accelerator include organic phosphine compounds such as TPP, TPP-K, TPP-S, TPTP-S [Hokuko Chemical Co., Ltd., trade name], Curesol 2MZ, 2E4MZ, Cl1Z, Cl1Z-CN, Cl1Z. -CNS, Cl1Z-A, 2MZ-OK, 2MA-OK, 2PHZ [Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., trade name] and other imidazole compounds, Novacure [Asahi Kasei Kogyo Co., Ltd., trade name], Fujicure [Fuji Kasei Kogyo ( Co., Ltd., trade name, etc.], amine adduct compounds such as 1,8-diazabicyclo [5,4,0] undecene-7,4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) Amine compounds such as phenol and 4-dimethylaminopyridine, cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, tin, etc. Machine metal complex or organic metal salt, and the like. Two or more curing accelerators may be used in combination. When the curing accelerator is blended, it is preferably used in the range of 0.05 to 1% by mass when the total amount of the epoxy resin contained in the epoxy resin composition is 100% by mass (nonvolatile component).

本発明のエポキシ樹脂組成物は、本発明の効果が発揮される範囲で、上述した以外の他の各種樹脂添加物を任意で含有してもよい。樹脂添加物としては、例えばシリコンパウダー、ナイロンパウダー、フッ素パウダー、ゴム粒子等の有機充填剤、オルベン、ベントン等の増粘剤、シリコーン系、フッ素系、高分子系の消泡剤又はレベリング剤、イミダゾール系、チアゾール系、トリアゾール系、シランカップリング剤等の密着性付与剤、フタロシアニンブルー、フタロシアニン・グリーン、アイオジン・グリーン、ジスアゾイエロー、カーボンブラック等の着色剤、水酸化金属物、リン含有化合物等の難燃剤等を挙げることができる。   The epoxy resin composition of the present invention may optionally contain various resin additives other than those described above as long as the effects of the present invention are exhibited. Examples of the resin additive include organic fillers such as silicon powder, nylon powder, fluorine powder, and rubber particles, thickeners such as olben and benton, silicone-based, fluorine-based, polymer-based antifoaming agents or leveling agents, Adhesion imparting agents such as imidazole, thiazole, triazole, silane coupling agents, coloring agents such as phthalocyanine blue, phthalocyanine green, iodin green, disazo yellow, carbon black, metal hydroxides, phosphorus-containing compounds, etc. The flame retardant of No. can be mentioned.

本発明のエポキシ樹脂組成物は、上記成分を適宜混合し、また、必要に応じて三本ロール、ボールミル、ビーズミル、サンドミル等の混練手段、あるいはスーパーミキサー、プラネタリーミキサー等の撹拌手段により混練または混合することにより調整することができる。また、さらに有機溶剤を加えることで樹脂ワニスとしても調整することができる。   The epoxy resin composition of the present invention is appropriately mixed with the above components, and if necessary, kneaded by a kneading means such as a three roll, ball mill, bead mill, sand mill, or a stirring means such as a super mixer or a planetary mixer. It can be adjusted by mixing. Moreover, it can adjust also as a resin varnish by adding an organic solvent.

本発明のエポキシ樹脂組成物においては、低誘電正接を示し、めっき層との密着性に優れた粗化面を形成することができるので、メッキにより導体層を形成するための樹脂組成物(メッキにより導体層を形成する多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物)として好適に使用することができ、更に多層プリント配線板のビルドアップ層用樹脂組成物として好適である。   In the epoxy resin composition of the present invention, a roughened surface having a low dielectric loss tangent and excellent adhesion to a plating layer can be formed. Therefore, a resin composition for forming a conductor layer by plating (plating) Can be suitably used as a resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board that forms a conductor layer), and is also suitable as a resin composition for a build-up layer of a multilayer printed wiring board.

本発明の樹脂組成物は、多層プリント配線板の絶縁層形成材料として特に適した組成であるが、ソルダーレジスト、アンダ−フィル材、ダイボンディング材、半導体封止材、穴埋め樹脂、部品埋め込み樹脂等、樹脂組成物が必要とされる用途の広範囲に使用できる。また、本発明の樹脂組成物の形態としては、特に限定されないが、接着フィルム、プリプレグ等のシート状積層材料、回路基板(積層板用途、多層プリント配線板用途等)に適用することが出来る。本発明の樹脂組成物は、ワニス状態で回路基板に塗布して絶縁層を形成することもできるが、工業的には一般に、接着フィルム、プリプレグ等のシート状積層材料の形態として絶縁層形成に用いられる。   The resin composition of the present invention is a composition that is particularly suitable as an insulating layer forming material for multilayer printed wiring boards. However, a solder resist, an underfill material, a die bonding material, a semiconductor sealing material, a hole-filling resin, a component-filling resin, etc. It can be used in a wide range of applications where a resin composition is required. In addition, the form of the resin composition of the present invention is not particularly limited, but it can be applied to sheet-like laminated materials such as adhesive films and prepregs, and circuit boards (for laminated boards and multilayer printed wiring boards). The resin composition of the present invention can be applied to a circuit board in a varnish state to form an insulating layer, but industrially, generally, the insulating layer is formed as a sheet-like laminated material such as an adhesive film or a prepreg. Used.

<シート状積層材料>
(絶縁層形成用接着フィルム)
本発明の絶縁層形成用接着フィルムは、熱硬化性エポキシ樹脂組成物からなる樹脂組成物層を支持フィルム上に有することを特徴としている。当業者に公知の方法、例えば、有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、この樹脂ワニスを、ダイコーターなどを用いて、支持体に塗布し、更に加熱、あるいは熱風吹きつけ等により有機溶剤を乾燥させて樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。
<Sheet laminated material>
(Insulating layer forming adhesive film)
The adhesive film for forming an insulating layer according to the present invention has a resin composition layer made of a thermosetting epoxy resin composition on a support film. Methods known to those skilled in the art, for example, preparing a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent, applying this resin varnish to a support using a die coater, etc., and further heating or blowing hot air, etc. Thus, the organic solvent can be dried to form a resin composition layer.

有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、カルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ、ブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド、N−メチルピロリドン等のアミド系溶媒等を挙げることができる。有機溶剤は2種以上を組みわせて用いてもよい。   Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, acetates such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, and carbitols such as cellosolve and butyl carbitol. And aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide, and N-methylpyrrolidone. Two or more organic solvents may be used in combination.

乾燥条件は特に限定されないが、樹脂組成物層への有機溶剤の含有量が10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。ワニス中の有機溶剤量、有機溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30〜60質量%の有機溶剤を含むワニスを50〜150℃で3〜10分程度乾燥させることにより、樹脂組成物層を形成することができる。   The drying conditions are not particularly limited, but the drying is performed so that the content of the organic solvent in the resin composition layer is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Depending on the amount of organic solvent in the varnish and the boiling point of the organic solvent, for example, a resin composition layer is formed by drying a varnish containing 30 to 60% by mass of an organic solvent at 50 to 150 ° C. for about 3 to 10 minutes. can do.

接着フィルムにおいて形成される樹脂組成物層の厚さは、導体層の厚さ以上とするのが好ましい。回路基板が有する導体層の厚さは通常5〜70μmの範囲であるので、樹脂組成物層は10〜100μmの厚さを有するのが好ましい。薄膜化の観点から、15〜80μmがより好ましい。   The thickness of the resin composition layer formed in the adhesive film is preferably equal to or greater than the thickness of the conductor layer. Since the thickness of the conductor layer of the circuit board is usually in the range of 5 to 70 μm, the resin composition layer preferably has a thickness of 10 to 100 μm. From the viewpoint of thinning, 15 to 80 μm is more preferable.

支持体としては、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等のポリオレフィンのフィルム、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート等のポリエステルのフィルム、ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルムなどの各種プラスチックフィルムが挙げられる。また離型紙や銅箔、アルミニウム箔等の金属箔などを使用してもよい。中でも、汎用性の点から、プラスチックフィルムが好ましく、ポリエチレンテレフタレートフィルムがより好ましい。支持体及び後述する保護フィルムには、マッド処理、コロナ処理等の表面処理が施してあってもよい。また、シリコーン樹脂系離型剤、アルキッド樹脂系離型剤、フッ素樹脂系離型剤等の離型剤で離型処理が施してあってもよい。   Examples of the support include polyolefin films such as polyethylene, polypropylene, and polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as “PET”), polyester films such as polyethylene naphthalate, polycarbonate films, and polyimide films. Various plastic films are listed. Moreover, you may use release foil, metal foil, such as copper foil and aluminum foil. Among these, from the viewpoint of versatility, a plastic film is preferable, and a polyethylene terephthalate film is more preferable. The support and a protective film described later may be subjected to surface treatment such as mud treatment or corona treatment. The release treatment may be performed with a release agent such as a silicone resin release agent, an alkyd resin release agent, or a fluororesin release agent.

支持体の厚さは特に限定されないが、10〜150μmが好ましく、25〜50μmがより好ましい。   Although the thickness of a support body is not specifically limited, 10-150 micrometers is preferable and 25-50 micrometers is more preferable.

樹脂組成物層の支持体が密着していない面には、支持体に準じた保護フィルムをさらに積層することができる。保護フィルムの厚みは、特に限定されるものではないが、例えば、1〜40μmである。保護フィルムを積層することにより、樹脂組成物層の表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。接着フィルムは、ロール状に巻きとって貯蔵することもできる。   A protective film according to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer on which the support is not in close contact. Although the thickness of a protective film is not specifically limited, For example, it is 1-40 micrometers. By laminating the protective film, it is possible to prevent dust and the like from being attached to the surface of the resin composition layer and scratches. The adhesive film can also be stored in a roll.

(絶縁層形成用プリプレグ)
本発明の絶縁層形成用プリプレグは、熱硬化性エポキシ樹脂組成物がシート状繊維基材に含浸されていることを特徴とする。すなわち、本発明の樹脂組成物をシート状補強基材にホットメルト法又はソルベント法により含浸させ、加熱して半硬化させることにより製造することができる。シート状補強基材としては、例えば、ガラスクロスやアラミド繊維等のプリプレグ用繊維として常用されている繊維からなるものを用いることができる。そして支持体上にプリプレグが形成されたものが好適である。
(Insulating layer forming prepreg)
The prepreg for forming an insulating layer according to the present invention is characterized in that a sheet-like fiber base material is impregnated with a thermosetting epoxy resin composition. That is, the resin composition of the present invention can be produced by impregnating a sheet-like reinforcing base material by a hot melt method or a solvent method, and heating and semi-curing it. As a sheet-like reinforcement base material, what consists of a fiber currently used as prepreg fibers, such as glass cloth and an aramid fiber, can be used, for example. And what formed the prepreg on the support body is suitable.

ホットメルト法は、樹脂組成物を有機溶剤に溶解することなく、支持体上に一旦コーティングし、それをシート状補強基材にラミネートする、あるいはダイコーターによりシート状補強基材に直接塗工するなどして、プリプレグを製造する方法である。またソルベント法は、接着フィルムと同様にして樹脂を有機溶剤に溶解して樹脂ワニスを調製し、このワニスにシート状補強基材を浸漬し、樹脂ワニスをシート状補強基材に含浸させ、その後乾燥させる方法である。また、接着フィルムをシート状補強基材の両面から加熱、加圧条件下、連続的に熱ラミネートすることで調製することもできる。支持体や保護フィルム等も接着フィルムと同様に用いることができる。   In the hot melt method, the resin composition is once coated on a support without being dissolved in an organic solvent, and then laminated on a sheet-like reinforcing substrate, or directly applied to a sheet-like reinforcing substrate by a die coater. Thus, a prepreg is manufactured. In the solvent method, a resin varnish is prepared by dissolving a resin in an organic solvent in the same manner as the adhesive film, and a sheet-like reinforcing base material is immersed in the varnish, and then the resin-like varnish is impregnated into the sheet-like reinforcing base material. It is a method of drying. Alternatively, the adhesive film can be prepared by continuously laminating the adhesive film from both sides of the sheet-like reinforcing substrate under heating and pressure conditions. A support, a protective film, etc. can be used similarly to the adhesive film.

上述したように、前記絶縁層形成用接着フィルムの樹脂組成物層及び前記絶縁層形成用プリプレグのいずれかの硬化物よりなるプリント配線板用絶縁体が、多層プリント配線板用の絶縁層として好適である。また、該プリント配線板用絶縁体からなる絶縁層上にパターン加工された導体層回路を有することがより好適である。また、該導体層回路を有するプリント配線板用絶縁体を多層積層して形成されてなる多層プリント配線板が好適である。   As described above, the printed wiring board insulator made of a cured product of either the resin composition layer of the insulating layer forming adhesive film or the prepreg for forming the insulating layer is suitable as an insulating layer for a multilayer printed wiring board. It is. It is more preferable to have a conductor layer circuit patterned on an insulating layer made of the printed wiring board insulator. In addition, a multilayer printed wiring board formed by laminating a plurality of printed wiring board insulators having the conductor layer circuit is preferable.

<シート状積層材料を用いた多層プリント配線板>
次に、上記のようにして製造したシート状積層材料を用いて多層プリント配線板を製造する方法の一例を説明する。
<Multilayer printed wiring board using sheet-like laminated material>
Next, an example of a method for producing a multilayer printed wiring board using the sheet-like laminated material produced as described above will be described.

まず、シート状積層材料を、真空ラミネーターを用いて回路基板の片面又は両面にラミネート(積層)する。回路基板に用いられる基板としては、例えば、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等が挙げられる。なお、ここで回路基板とは、上記のような基板の片面又は両面にパターン加工された導体層(回路)が形成されたものをいう。また導体層と絶縁層とを交互に積層してなる多層プリント配線板において、該多層プリント配線板の最外層の片面又は両面がパターン加工された導体層(回路)となっているものも、ここでいう回路基板に含まれる。なお導体層表面には、黒化処理、銅エッチング等により予め粗化処理が施されていてもよい。   First, a sheet-like laminated material is laminated (laminated) on one side or both sides of a circuit board using a vacuum laminator. Examples of the substrate used for the circuit substrate include a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, and the like. In addition, a circuit board means here that the conductor layer (circuit) patterned was formed in the one or both surfaces of the above boards. Also, in a multilayer printed wiring board in which conductor layers and insulating layers are alternately laminated, one of the outermost layers of the multilayer printed wiring board is a conductor layer (circuit) in which one or both sides are patterned. It is included in the circuit board. The surface of the conductor layer may be previously roughened by blackening, copper etching, or the like.

上記ラミネートにおいて、シート状積層材料が保護フィルムを有している場合には該保護フィルムを除去した後、必要に応じてシート状積層材料及び回路基板をプレヒートし、シート状積層材料を加圧及び加熱しながら回路基板にラミネートする。本発明のシート状積層材料においては、真空ラミネート法により減圧下で回路基板にラミネートする方法が好適に用いられる。ラミネートの条件は、特に限定されるものではないが、例えば、圧着温度(ラミネート温度)を好ましくは70〜140℃、圧着圧力(ラミネート圧力)を好ましくは1〜11kgf/cm(9.8×10〜107.9×10N/m)とし、圧着時間(ラミネート時間)を好ましくは5〜180秒とし、空気圧20mmHg(26.7hPa)以下の減圧下でラミネートするのが好ましい。また、ラミネートの方法は、バッチ式であってもロールでの連続式であってもよい。真空ラミネートは、市販の真空ラミネーターを使用して行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、ニチゴー・モートン(株)製バキュームアップリケーター、(株)名機製作所製真空加圧式ラミネーター、(株)日立インダストリイズ製ロール式ドライコータ、日立エーアイーシー(株)製真空ラミネーター等を挙げることができる。 In the above laminate, when the sheet-like laminate material has a protective film, after removing the protective film, the sheet-like laminate material and the circuit board are preheated as necessary, and the sheet-like laminate material is pressurized and Laminate to circuit board while heating. In the sheet-like laminated material of the present invention, a method of laminating on a circuit board under reduced pressure by a vacuum laminating method is suitably used. Lamination conditions are not particularly limited. For example, the pressure bonding temperature (laminating temperature) is preferably 70 to 140 ° C., and the pressure bonding pressure (laminating pressure) is preferably 1 to 11 kgf / cm 2 (9.8 × 10 4 to 107.9 × 10 4 N / m 2 ), the pressure bonding time (laminating time) is preferably 5 to 180 seconds, and the lamination is preferably performed under reduced pressure with an air pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less. The laminating method may be a batch method or a continuous method using a roll. The vacuum lamination can be performed using a commercially available vacuum laminator. Commercially available vacuum laminators include, for example, a vacuum applicator manufactured by Nichigo-Morton Co., Ltd., a vacuum pressurizing laminator manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd., a roll dry coater manufactured by Hitachi Industries, Ltd., and Hitachi AIC Co., Ltd. ) Made vacuum laminator and the like.

シート状積層材料を回路基板にラミネートした後、室温付近に冷却してから、支持体を剥離する場合は剥離し、樹脂組成物を熱硬化して硬化物を形成することで、回路基板上に絶縁層を形成することができる。熱硬化の条件は、樹脂組成物中の樹脂成分の種類、含有量などに応じて適宜選択すればよいが、好ましくは150℃〜220℃で20分〜180分、より好ましくは160℃〜210℃で30〜120分の範囲で選択される。絶縁層を形成した後、硬化前に支持体を剥離しなかった場合は、必要によりここで剥離することもできる。   After laminating the sheet-like laminated material on the circuit board, after cooling to near room temperature, if the support is peeled off, it is peeled off, and the resin composition is thermally cured to form a cured product, thereby forming a cured product on the circuit board. An insulating layer can be formed. The thermosetting conditions may be appropriately selected according to the type and content of the resin component in the resin composition, but preferably 150 ° C. to 220 ° C. for 20 minutes to 180 minutes, more preferably 160 ° C. to 210 ° C. It is selected in the range of 30 to 120 minutes at ° C. After the insulating layer is formed, if the support is not peeled before curing, it can be peeled off here if necessary.

また、シート状積層材料を、真空プレス機を用いて回路基板の片面又は両面に積層することもできる。減圧下、加熱及び加圧を行う積層工程は、一般の真空ホットプレス機を用いて行うことが可能である。例えば、加熱されたSUS板等の金属板を支持体層側からプレスすることにより行うことができる。プレス条件は、減圧度を通常1×10−2MPa以下、好ましくは1×10−3MPa以下の減圧下とする。加熱及び加圧は、1段階で行うことも出来るが、樹脂のしみだしを制御する観点から2段階以上に条件を分けて行うのが好ましい。例えば、1段階目のプレスを、温度が70〜150℃、圧力が1〜15kgf/cm2の範囲、2段階目のプレスを、温度が150〜200℃、圧力が1〜40kgf/cm2の範囲で行うのが好ましい。各段階の時間は30〜120分で行うのが好ましい。このように樹脂組成物層を熱硬化することにより回路基板上に絶縁層を形成することができる。市販されている真空ホットプレス機としては、例えば、MNPC−V−750−5−200(株)名機製作所製)、VH1−1603(北川精機(株)製)等が挙げられる。 Moreover, a sheet-like laminated material can also be laminated | stacked on the single side | surface or both surfaces of a circuit board using a vacuum press machine. The lamination process for heating and pressurizing under reduced pressure can be performed using a general vacuum hot press machine. For example, it can be performed by pressing a metal plate such as a heated SUS plate from the support layer side. The pressing condition is that the degree of vacuum is usually 1 × 10 −2 MPa or less, preferably 1 × 10 −3 MPa or less. Although heating and pressurization can be carried out in one stage, it is preferable to carry out the conditions separately in two or more stages from the viewpoint of controlling the oozing of the resin. For example, the first stage press has a temperature of 70 to 150 ° C. and the pressure is in the range of 1 to 15 kgf / cm 2, and the second stage press has the temperature of 150 to 200 ° C. and the pressure is in the range of 1 to 40 kgf / cm 2 It is preferred to do so. The time for each stage is preferably 30 to 120 minutes. Thus, an insulating layer can be formed on a circuit board by thermosetting the resin composition layer. Examples of commercially available vacuum hot press machines include MNPC-V-750-5-200 (manufactured by Meiki Seisakusho), VH1-1603 (manufactured by Kitagawa Seiki Co., Ltd.), and the like.

絶縁層の誘電正接としては、0.009以下が好ましく、0.006以下がより好ましい。誘電正接は低いほどよく、特に下限値は無いが、0.001以上、0.003以上などとなる。   The dielectric loss tangent of the insulating layer is preferably 0.009 or less, and more preferably 0.006 or less. The lower the dielectric loss tangent, the better. There is no particular lower limit, but it is 0.001 or more, 0.003 or more, etc.

次いで、回路基板上に形成された絶縁層に穴開け加工を行ってビアホール、スルーホールを形成する。穴あけ加工は、例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等の公知の方法により、また必要によりこれらの方法を組み合わせて行うことができるが、炭酸ガスレーザー、YAGレーザー等のレーザーによる穴あけ加工が最も一般的な方法である。穴あけ加工前に支持体を剥離しなかった場合は、ここで剥離することになる。   Next, a hole is formed in the insulating layer formed on the circuit board to form a via hole and a through hole. For example, the drilling can be performed by a known method such as drilling, laser, or plasma, or a combination of these methods if necessary, but drilling by a laser such as a carbon dioxide gas laser or a YAG laser is the most common. Is the method. If the support is not peeled off before drilling, it will be peeled off here.

次いで、絶縁層表面に粗化処理を行う。乾式の粗化処理の場合はプラズマ処理等が挙げられ、湿式の粗化処理の場合は膨潤液による膨潤処理、酸化剤による粗化処理及び中和液による中和処理をこの順に行う方法が挙げられる。湿式の粗化処理の方が、絶縁層表面に凸凹のアンカーを形成しながら、ビアホール内のスミアを除去することができる点で好ましい。膨潤液による膨潤処理は、絶縁層を50〜80℃で5〜20分間(好ましくは55〜70℃で8〜15分間)、膨潤液に浸漬させることで行われる。膨潤液としてはアルカリ溶液、界面活性剤溶液等が挙げられ、好ましくはアルカリ溶液であり、該アルカリ溶液としては、例えば、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液等が挙げられる。市販されている膨潤液としては、例えば、アトテックジャパン(株)製のスウェリング・ディップ・セキュリガンスP(Swelling Dip Securiganth P)、スウェリング・ディップ・セキュリガンスSBU(Swelling Dip Securiganth SBU)等を挙げることができる。酸化剤による粗化処理は、絶縁層を60〜80℃で10〜30分間(好ましくは70〜80℃で15〜25分間)、酸化剤溶液に浸漬させることで行われる。酸化剤としては、例えば、水酸化ナトリウムの水溶液に過マンガン酸カリウムや過マンガン酸ナトリウムを溶解したアルカリ性過マンガン酸溶液、重クロム酸塩、オゾン、過酸化水素/硫酸、硝酸等を挙げることができる。また、アルカリ性過マンガン酸溶液における過マンガン酸塩の濃度は5〜10重量%とするのが好ましい。市販されている酸化剤としては、例えば、アトテックジャパン(株)製のコンセントレート・コンパクト CP、ドージングソリューション セキュリガンスP等のアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。中和液による中和処理は、30〜50℃で3〜10分間(好ましくは35〜45℃で3〜8分間)、中和液に浸漬させることで行われる。中和液としては、酸性の水溶液が好ましく、市販品としては、アトテックジャパン(株)製のリダクションソリューシン・セキュリガントPが挙げられる。   Next, a roughening process is performed on the surface of the insulating layer. In the case of dry-type roughening treatment, plasma treatment or the like can be mentioned. It is done. The wet roughening treatment is preferable in that smear in the via hole can be removed while forming an uneven anchor on the surface of the insulating layer. The swelling treatment with the swelling liquid is performed by immersing the insulating layer in the swelling liquid at 50 to 80 ° C. for 5 to 20 minutes (preferably at 55 to 70 ° C. for 8 to 15 minutes). Examples of the swelling liquid include an alkaline solution and a surfactant solution, and an alkaline solution is preferable. Examples of the alkaline solution include a sodium hydroxide solution and a potassium hydroxide solution. Examples of the commercially available swelling liquid include Swelling Dip Securiganth P (Swelling Dip Securiganth P) and Swelling Dip Securiganth SBU (ABUTEC Japan). be able to. The roughening treatment with an oxidizing agent is performed by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution at 60 to 80 ° C. for 10 to 30 minutes (preferably at 70 to 80 ° C. for 15 to 25 minutes). Examples of the oxidizing agent include alkaline permanganate solution in which potassium permanganate and sodium permanganate are dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide, dichromate, ozone, hydrogen peroxide / sulfuric acid, nitric acid and the like. it can. The concentration of permanganate in the alkaline permanganate solution is preferably 5 to 10% by weight. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganic acid solutions such as Concentrate Compact CP and Dosing Solution Securigans P manufactured by Atotech Japan. The neutralization treatment with the neutralizing solution is performed by immersing in a neutralizing solution at 30 to 50 ° C. for 3 to 10 minutes (preferably at 35 to 45 ° C. for 3 to 8 minutes). As the neutralizing solution, an acidic aqueous solution is preferable, and as a commercially available product, Reduction Solution / Secligant P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. may be mentioned.

絶縁層表面を粗化処理した粗化面の粗さは、微細配線を形成する上で、Ra値で200nm以下であるのが好ましく、150nm以下がより好ましく、100nm以下が更に好ましい。また粗化面のアンカー効果を確保するためには10nm以上であることが好ましい。なお、Ra値とは、表面粗さを表す数値の一種であり、算術平均粗さと呼ばれるものであって、具体的には測定領域内で変化する高さの絶対値を平均ラインである表面から測定して算術平均したものである。例えば、ビーコインスツルメンツ社製WYKONT3300を用いて、VSIコンタクトモード、50倍レンズにより測定範囲を121μm×92μmとして得られる数値により求めることができる。   The roughness of the roughened surface obtained by roughening the surface of the insulating layer is preferably 200 nm or less, more preferably 150 nm or less, and even more preferably 100 nm or less in terms of Ra value when forming fine wiring. Moreover, in order to ensure the anchor effect of a roughening surface, it is preferable that it is 10 nm or more. The Ra value is a kind of numerical value representing the surface roughness, and is called arithmetic average roughness. Specifically, the absolute value of the height changing in the measurement region is determined from the surface that is the average line. Measured and arithmetically averaged. For example, using WYKONT 3300 manufactured by Bee Coins Instruments Co., Ltd., a VSI contact mode and a numerical value obtained with a measurement range of 121 μm × 92 μm using a 50 × lens can be obtained.

また、二乗平均平方根粗さ(Rq値)は絶縁層表面の局所的な状態が反映されるため、Rq値の把握により緻密で平滑な絶縁層表面になっていることが確認でき、ピール強度が安定化することを見出した。Rq値は、緻密で平滑な絶縁層表面とするために、250nm以下が好ましく、200nm以下がより好ましく、150nm以下が更に好ましく、100nm以下が更に一層好ましい。またピール強度を安定化させるという観点からは、15nm以上が好ましく、30nm以上がより好ましい。なお、Rq値とは、表面粗さを表す数値の一種であり、二乗平均平方根粗さと呼ばれるものであって、具体的には測定領域内で変化する高さの絶対値を平均ラインである表面から測定して二乗平均平方根を表したものである。   In addition, since the root mean square roughness (Rq value) reflects the local state of the insulating layer surface, it can be confirmed by grasping the Rq value that the surface of the insulating layer is dense and smooth, and the peel strength is Found to stabilize. In order to obtain a dense and smooth insulating layer surface, the Rq value is preferably 250 nm or less, more preferably 200 nm or less, still more preferably 150 nm or less, and even more preferably 100 nm or less. Further, from the viewpoint of stabilizing the peel strength, 15 nm or more is preferable, and 30 nm or more is more preferable. The Rq value is a kind of numerical value representing the surface roughness, and is called root mean square roughness. Specifically, the absolute value of the height changing in the measurement region is the average line. It represents the root mean square measured from

次いで、乾式メッキ又は湿式メッキにより絶縁層上に導体層を形成する。乾式メッキとしては、蒸着、スパッタリング、イオンプレーティング等の公知の方法を使用することができる。湿式メッキとしては、無電解メッキと電解メッキとを組み合わせて導体層を形成する方法、導体層とは逆パターンのメッキレジストを形成し、無電解メッキのみで導体層を形成する方法、等が挙げられる。その後のパターン形成の方法として、例えば、当業者に公知のサブトラクティブ法、セミアディティブ法などを用いることができ、上述の一連の工程を複数回繰り返すことで、ビルドアップ層を多段に積層した多層プリント配線板となる。   Next, a conductor layer is formed on the insulating layer by dry plating or wet plating. As the dry plating, a known method such as vapor deposition, sputtering, or ion plating can be used. Examples of wet plating include a method in which a conductive layer is formed by combining electroless plating and electrolytic plating, a method in which a plating resist having a pattern opposite to that of the conductive layer is formed, and a conductive layer is formed only by electroless plating. It is done. As a pattern formation method thereafter, for example, a subtractive method or a semi-additive method known to those skilled in the art can be used. By repeating the above-described series of steps a plurality of times, a multilayer in which build-up layers are stacked in multiple stages It becomes a printed wiring board.

絶縁層と導体層のピール強度は、絶縁層と導体層とを十分に密着させておくために0.35kgf/cm以上が好ましく、0.4kgf/cm以上がより好ましい。ピール強度の上限値は高いほどよく、特に制限は無いが、一般的に1.5kgf/cm以下、1.2kgf/cm以下、1.0kgf/cm以下、0.8kgf/cm以下などとなる。本発明においては、低粗度、高ピールであるため、多層プリント配線板のビルドアップ層として好適に使用することができる。   The peel strength between the insulating layer and the conductor layer is preferably 0.35 kgf / cm or more, and more preferably 0.4 kgf / cm or more so that the insulating layer and the conductor layer are sufficiently adhered to each other. The upper limit of the peel strength is preferably as high as possible and is not particularly limited, but is generally 1.5 kgf / cm or less, 1.2 kgf / cm or less, 1.0 kgf / cm or less, 0.8 kgf / cm or less. In the present invention, since it has low roughness and high peel, it can be suitably used as a build-up layer of a multilayer printed wiring board.

<半導体装置>
本発明の多層プリント配線板を用いることで半導体装置を製造することができる。本発明の多層プリント配線板の導通箇所に、半導体チップを実装することにより半導体装置を製造することができる。「導通箇所」とは、「多層プリント配線板における電気信号を伝える箇所」であって、その場所は表面であっても、埋め込まれた箇所であってもいずれでも構わない。また、半導体チップは半導体を材料とする電気回路素子であれば特に限定されない。
<Semiconductor device>
A semiconductor device can be manufactured by using the multilayer printed wiring board of the present invention. A semiconductor device can be manufactured by mounting a semiconductor chip in a conductive portion of the multilayer printed wiring board of the present invention. The “conduction location” is a “location where an electrical signal is transmitted in a multilayer printed wiring board”, and the location may be a surface or an embedded location. The semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor.

本発明の半導体装置を製造する際の半導体チップの実装方法は、半導体チップが有効に機能しさえすれば、特に限定されないが、具体的には、ワイヤボンディング実装方法、フリップチップ実装方法、バンプなしビルドアップ層(BBUL)による実装方法、異方性導電フィルム(ACF)による実装方法、非導電性フィルム(NCF)による実装方法、などが挙げられる。   The semiconductor chip mounting method for manufacturing the semiconductor device of the present invention is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively, but specifically, a wire bonding mounting method, a flip chip mounting method, and no bumps. Examples include a mounting method using a build-up layer (BBUL), a mounting method using an anisotropic conductive film (ACF), and a mounting method using a non-conductive film (NCF).

以下、実施例及び比較例を用いて本発明をより詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例等によって制限されるものではない。なお、以下の記載において、「部」及び「%」は「質量部」及び「質量%」を意味する。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated in detail using an Example and a comparative example, this invention is not restrict | limited by these Examples. In the following description, “parts” and “%” mean “parts by mass” and “% by mass”.

測定方法・評価方法
<メッキ導体層の引き剥がし強さ(ピール強度)の測定、算術平均粗さ(Ra)、二乗平均平方根粗さ(Rq)の測定>
Measurement Method / Evaluation Method <Measurement of Peeling Strength (Peel Strength) of Plating Conductor Layer, Arithmetic Average Roughness (Ra), Root Mean Square Roughness (Rq)>

(1)積層板の下地処理
内層回路の形成されたガラス布基材エポキシ樹脂両面銅張積層板(銅箔の厚さ18μm、残銅率60%、基板厚み0.3mm、松下電工(株)製R5715ES)の両面をメック(株)製CZ8100に浸漬して銅表面の粗化処理を行った。
(1) Surface treatment of laminated board Glass cloth base epoxy resin double-sided copper-clad laminated board with inner layer circuit (copper foil thickness 18μm, remaining copper ratio 60%, substrate thickness 0.3mm, Matsushita Electric Works, Ltd.) Both surfaces of R5715ES) were immersed in CZ8100 manufactured by Mec Co., Ltd., and the copper surface was roughened.

(2)接着フィルムのラミネート
各実施例及び各比較例で作成した接着フィルムを、バッチ式真空加圧ラミネーターMVLP-500〔(株)名機製作所製、商品名〕を用いて、積層板の両面にラミネートした。ラミネートは、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とし、その後30秒間、100℃、圧力0.74MPaで圧着させることにより行った。
(2) Lamination of adhesive film The adhesive film prepared in each example and each comparative example was prepared on both sides of a laminate using a batch type vacuum pressure laminator MVLP-500 (trade name, manufactured by Meiki Seisakusho Co., Ltd.). Laminated. Lamination was performed by reducing the pressure for 30 seconds to a pressure of 13 hPa or less, and then pressure bonding for 30 seconds at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa.

(3)樹脂組成物の硬化
ラミネートされた接着フィルムからPETフィルムを剥離し、170℃、30分の硬化条件で樹脂組成物を硬化した。
(3) Curing of resin composition The PET film was peeled from the laminated adhesive film, and the resin composition was cured under curing conditions at 170 ° C for 30 minutes.

(4)粗化処理
積層板を、膨潤液である、アトテックジャパン(株)のジエチレングリコールモノブチルエーテル含有のスエリングディップ・セキュリガンドPに60℃で10分間浸漬し、次に粗化液として、アトテックジャパン(株)のコンセントレート・コンパクトP(KMnO:60g/L、NaOH:40g/Lの水溶液)に80℃で20分間浸漬、最後に中和液として、アトテックジャパン(株)のリダクションショリューシン・セキュリガントPに40℃で5分間浸漬した。この粗化処理後の積層板をサンプルAとした。
(4) Roughening treatment The laminated plate is immersed in a swelling dip secu-ligand P containing diethylene glycol monobutyl ether of Atotech Japan Co., Ltd. for 10 minutes at 60 ° C., and then used as a roughening solution. Soaked in Concentrate Compact P (KMnO 4 : 60 g / L, NaOH: 40 g / L aqueous solution) at 80 ° C. for 20 minutes, and finally as a neutralizing solution, Atotech Japan Co., Ltd. -It was immersed in securigant P for 5 minutes at 40 ° C. The laminate after the roughening treatment was designated as sample A.

(5)セミアディティブ工法によるメッキ形成
絶縁層表面に回路を形成するために、積層板を、PdClを含む無電解メッキ用溶液に浸漬し、次に無電解銅メッキ液に浸漬した。150℃にて30分間加熱してアニール処理を行った後に、エッチングレジストを形成し、エッチングによるパターン形成の後に、硫酸銅電解メッキを行い、30μmの厚さで導体層を形成した。次に、アニール処理を180℃にて60分間行った。この積層板をサンプルBとした。
(5) Plating formation by semi-additive method In order to form a circuit on the surface of the insulating layer, the laminate was immersed in an electroless plating solution containing PdCl 2 and then immersed in an electroless copper plating solution. After annealing for 30 minutes at 150 ° C., an etching resist was formed. After pattern formation by etching, copper sulfate electrolytic plating was performed to form a conductor layer with a thickness of 30 μm. Next, annealing was performed at 180 ° C. for 60 minutes. This laminate was designated as Sample B.

(6)算術平均粗さ(Ra値)、二乗平均平方根粗さ(Rq値)の測定
サンプルAについて、非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製WYKO NT3300)を用いて、VSIコンタクトモード、50倍レンズにより測定範囲を121μm×92μmとして得られる数値によりRa、Rq値を求めた。そして、それぞれ10点の平均値を求めることにより測定値とした。
(6) Arithmetic average roughness (Ra value), root mean square roughness (Rq value) measurement For sample A, using a non-contact type surface roughness meter (WYKO NT3300 manufactured by Becoins Instruments), VSI contact mode, Ra and Rq values were obtained from numerical values obtained using a 50 × lens with a measurement range of 121 μm × 92 μm. And it was set as the measured value by calculating | requiring the average value of 10 each.

(7)メッキ導体層の引き剥がし強さ(ピール強度)の測定
サンプルBの導体層に、幅10mm、長さ100mmの部分の切込みをいれ、この一端を剥がしてつかみ具(株式会社ティー・エス・イー、オートコム型試験機 AC−50C−SL)で掴み、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重(kgf/cm)を測定した。
(7) Measurement of peel strength (peel strength) of plated conductor layer Cut the conductor layer of sample B into a 10 mm wide and 100 mm long part, peel off one end, and grasping tool (TS Co., Ltd.) -E, auto-comb type tester AC-50C-SL), and the load (kgf / cm) when 35 mm was peeled off in the vertical direction at a speed of 50 mm / min at room temperature was measured.

<誘電正接の測定>
各実施例及び各比較例で得られた接着フィルムを190℃で90分熱硬化させて、PETフィルムを剥離してシート状の硬化物を得た。その硬化物を、幅2mm、長さ80mmの試験片に切断し、関東応用電子開発(株)製空洞共振器摂動法誘電率測定装置CP521およびアジレントテクノロジー(株)製ネットワークアナライザーE8362Bを使用して、空洞共振法で測定周波数5.8GHzにて誘電正接(tanδ)の測定を行った。2本の試験片について測定を行い、平均値を算出した。
<Measurement of dielectric loss tangent>
The adhesive films obtained in each Example and each Comparative Example were thermally cured at 190 ° C. for 90 minutes, and the PET film was peeled off to obtain a sheet-like cured product. The cured product was cut into a test piece having a width of 2 mm and a length of 80 mm, and a cavity resonator perturbation method dielectric constant measuring device CP521 manufactured by Kanto Applied Electronics Development Co., Ltd. and a network analyzer E8362B manufactured by Agilent Technology Co., Ltd. were used. The dielectric loss tangent (tan δ) was measured by the cavity resonance method at a measurement frequency of 5.8 GHz. Two test pieces were measured, and the average value was calculated.

実施例1
液状ビスフェノールA型エポキシ樹脂(エポキシ当量180、三菱化学(株)製「828US」)15部と、ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量291、日本化薬(株)製「NC3000H」)15部とをメチルエチルケトン(以下「MEK」と略称する。)15部、シクロヘキサノン15部に攪拌しながら加熱溶解させた。そこへ、ナフタレン型活性エステル化合物〔DIC(株)製「EXB9411−65BK」、活性エステル当量272、固形分65%のトルエン溶液〕43部、硬化促進剤〔広栄化学工業(株)製、「4−ジメチルアミノピリジン」〕0.15部、球形シリカ〔平均粒径0.5μm、フェニルアミノシラン処理付「SO−C2」、(株)アドマテックス製、単位質量あたりのカーボン量0.18%〕100部、フェノキシ樹脂(YL6954BH30、固形分30質量%のMEK溶液、重量平均分子量40000)15部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニスを作製した。次に、かかる樹脂ワニスをポリエチレンテレフタレート(厚さ38μm、以下「PET」と略称する。)上に、乾燥後の樹脂厚みが40μmとなるようにダイコーターにて塗布し、80〜120℃(平均100℃)で6分間乾燥させて、シート状の接着フィルムを得た。
Example 1
15 parts of liquid bisphenol A type epoxy resin (epoxy equivalent 180, “828US” manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) and 15 parts biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent 291; “NC3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) (Hereinafter abbreviated as “MEK”) 15 parts and 15 parts of cyclohexanone were heated and dissolved with stirring. Thereto, 43 parts of a naphthalene type active ester compound [“EXB9411-65BK” manufactured by DIC Corporation, an active ester equivalent of 272, a solid solution of 65% toluene], a curing accelerator [manufactured by Guangei Chemical Industry Co., Ltd., “4 -Dimethylaminopyridine "] 0.15 parts, spherical silica [average particle size 0.5 μm," SO-C2 "with phenylaminosilane treatment, manufactured by Admatechs Co., Ltd., carbon amount 0.18% per unit mass] 100 Part and 15 parts of phenoxy resin (YL6954BH30, MEK solution with a solid content of 30% by mass, weight average molecular weight 40000) were mixed and dispersed uniformly with a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish. Next, the resin varnish was applied onto polyethylene terephthalate (thickness 38 μm, hereinafter abbreviated as “PET”) with a die coater so that the resin thickness after drying was 40 μm, and 80 to 120 ° C. (average (100 ° C.) for 6 minutes to obtain a sheet-like adhesive film.

実施例2
実施例1のナフタレン型活性エステル化合物〔DIC(株)製「EXB9411−65BK」、活性エステル当量272、固形分65%のトルエン溶液〕43部を、80部に変更したこと以外は、実施例1と全く同様にして樹脂ワニスを作製した。次に実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
Example 2
Example 1 except that 43 parts of the naphthalene-type active ester compound (“EXB9411-65BK” manufactured by DIC Corporation, active ester equivalent 272, 65% solids toluene solution) in Example 1 was changed to 80 parts. A resin varnish was prepared in the same manner as described above. Next, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

実施例3
実施例1のナフタレン型活性エステル化合物〔DIC(株)製「EXB9411−65BK」、活性エステル当量272、固形分65%のトルエン溶液〕43部を、20部に変更したこと以外は、実施例1と全く同様にして樹脂ワニスを作製した。次に実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
Example 3
Example 1 except that 43 parts of the naphthalene-type active ester compound (“EXB9411-65BK” manufactured by DIC Corporation, active ester equivalent 272, 65% solids toluene solution) in Example 1 was changed to 20 parts. A resin varnish was prepared in the same manner as described above. Next, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

実施例4
実施例1のビフェニル型エポキシ樹脂〔エポキシ当量291、日本化薬(株)製「NC3000H」〕15部を、ナフトール型エポキシ樹脂〔エポキシ当量332、新日鐵化学(株)製「ESN475V」〕15部に変更し、シアネートエステル樹脂(ロンザ社製「BA230S75」、固形分75%のメチルエチルケトン溶液)15部と硬化触媒〔ナフテン酸亜鉛ミネラルスピリット溶液(金属含有量8%)の3%シクロヘキサノン希釈液〕0.03部を添加したこと以外は、実施例3と全く同様にして樹脂ワニスを作製した。次に実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
Example 4
15 parts of the biphenyl type epoxy resin of Example 1 [epoxy equivalent 291; “NC3000H” manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.] is added to 15 parts of naphthol type epoxy resin [epoxy equivalent 332, “ESN475V” manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd.] 15 And 15 parts of cyanate ester resin ("BA230S75" manufactured by Lonza Corporation, methyl ethyl ketone solution with a solid content of 75%) and a curing catalyst [3% cyclohexanone diluted solution of zinc naphthenate mineral spirit solution (metal content 8%)] A resin varnish was produced in the same manner as in Example 3 except that 0.03 part was added. Next, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

比較例1
実施例1のナフタレン型活性エステル化合物〔DIC(株)製「EXB9411−65BK」、活性エステル当量272、固形分65%のトルエン溶液〕43部を活性エステル化合物〔DIC(株)製「HPC8000−65T」、活性エステル当量223、固形分65%のトルエン溶液〕35部に変更し、球形シリカ〔平均粒径0.5μm、フェニルアミノシラン処理付「SO−C2」、(株)アドマテックス製、単位質量あたりのカーボン量0.18%〕100部を90部に変更し、硬化促進剤〔広栄化学工業(株)製、「4−ジメチルアミノピリジン」〕0.15部を0.1部に変更したこと以外は、実施例1と全く同様にして樹脂ワニスを作製した。次に実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
Comparative Example 1
43 parts of the naphthalene type active ester compound of Example 1 (“EXB9411-65BK” manufactured by DIC Corporation, toluene solution having an active ester equivalent of 272 and a solid content of 65%) 43 parts of active ester compound [“HPC8000-65T manufactured by DIC Corporation”) ”, 35 parts by weight toluene solution with an active ester equivalent of 223 and a solid content of 65%], and spherical silica (“ SO-C2 ”with an average particle size of 0.5 μm, phenylaminosilane treatment, manufactured by Admatechs, unit mass) The carbon amount per 0.18%] was changed to 100 parts, and the curing accelerator [Guangei Chemical Industry Co., Ltd., “4-dimethylaminopyridine”] 0.15 parts was changed to 0.1 parts. A resin varnish was prepared in exactly the same manner as in Example 1 except that. Next, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

比較例2
実施例1のナフタレン型活性エステル化合物〔DIC(株)製「EXB9411−65BK」、活性エステル当量272、固形分65%のトルエン溶液〕43部を、95部に変更したこと以外は、実施例1と全く同様にして樹脂ワニスを作製した。次に実施例1と同様にして接着フィルムを得た。
Comparative Example 2
Example 1 except that 43 parts of the naphthalene-type active ester compound (“EXB9411-65BK” manufactured by DIC Corporation, active ester equivalent 272, 65% solids toluene solution) in Example 1 was changed to 95 parts. A resin varnish was prepared in the same manner as described above. Next, an adhesive film was obtained in the same manner as in Example 1.

実施例及び比較例で製造した接着フィルムを使用した評価サンプルのメッキ導体層のピール強度、粗化処理後の表面粗さ(Ra値)及び(Rq値)、評価サンプルの誘電正接の各測定結果、柔軟性の評価結果を表1に示す。   Measurement results of peel strength, plating surface roughness (Ra value) and (Rq value) after the roughening treatment, and dielectric loss tangent of the evaluation sample, using the adhesive films produced in Examples and Comparative Examples Table 1 shows the evaluation results of flexibility.

Figure 2017071797
Figure 2017071797

表1に示されるように、実施例1のエポキシ樹脂組成物におけるナフタレン構造を含む活性エステル化合物を、本発明の範囲外の活性エステル化合物に変更した比較例1のエポキシ樹脂組成物の硬化物は、粗化処理後のRa,Rqの数値が実施例1のエポキシ樹脂組成物の硬化物の表面に形成される粗化面のRa,Rqの数値よりも遥かに大きい数値を示しているにも拘らず、メッキ層との密着性(ピール強度)は実施例1のものよりも小さく、誘電正接の数値は大きくなっている。
また、比較例2のエポキシ樹脂組成物は、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物の配合量が本発明の範囲を超えて多くなっていることにより、メッキ層との密着性(ピール強度)は実施例1のものよりも小さくなっている。
以上の実施例及び比較例の結果から明らかなように、本発明のエポキシ樹脂組成物は、多層プリント配線板のビルドアップ層の高複層化、高密度化に対応できる特性をバランスよく備えた硬化物からなる絶縁層を形成できるエポキシ樹脂組成物である。
As shown in Table 1, the cured product of the epoxy resin composition of Comparative Example 1 in which the active ester compound containing a naphthalene structure in the epoxy resin composition of Example 1 was changed to an active ester compound outside the scope of the present invention was In addition, the Ra and Rq values after the roughening treatment are much larger than the Ra and Rq values of the roughened surface formed on the surface of the cured product of the epoxy resin composition of Example 1. Regardless, the adhesion (peel strength) to the plating layer is smaller than that of Example 1, and the numerical value of the dielectric loss tangent is large.
In addition, the epoxy resin composition of Comparative Example 2 has an adhesiveness (peel strength) with the plating layer as a result of the amount of the active ester compound containing a naphthalene structure exceeding the range of the present invention. It is smaller than one.
As is clear from the results of the above Examples and Comparative Examples, the epoxy resin composition of the present invention has a well-balanced characteristic that can cope with the increase in the number of layers and the increase in the density of the build-up layer of the multilayer printed wiring board. An epoxy resin composition capable of forming an insulating layer made of a cured product.

Claims (16)

少なくともエポキシ樹脂(A)と、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)とを含有する樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合の前記ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)の含有量が0.1〜30質量%であり、
前記ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)が、ポリナフチレンオキサイド構造とアリールカルボニルオキシ基を有する活性エステル化合物である、熱硬化性エポキシ樹脂組成物。
Inclusion of active ester compound (B) containing naphthalene structure when non-volatile component in resin composition containing at least epoxy resin (A) and active ester compound (B) containing naphthalene structure is 100% by mass The amount is 0.1-30% by mass,
The thermosetting epoxy resin composition whose active ester compound (B) containing the said naphthalene structure is an active ester compound which has a polynaphthylene oxide structure and an arylcarbonyloxy group.
前記ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)が、ポリナフチレンオキサイド構造のナフタレン核にアリールカルボニルオキシ基が結合した活性エステル化合物である、請求項1に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。   The thermosetting epoxy resin composition of Claim 1 whose active ester compound (B) containing the said naphthalene structure is an active ester compound which the arylcarbonyloxy group couple | bonded with the naphthalene nucleus of the polynaphthylene oxide structure. 前記エポキシ樹脂(A)が温度20℃で液状のエポキシ樹脂を含有する、請求項1又は2に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。   The thermosetting epoxy resin composition according to claim 1 or 2, wherein the epoxy resin (A) contains a liquid epoxy resin at a temperature of 20 ° C. さらに無機充填材を含有する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。   Furthermore, the thermosetting epoxy resin composition of any one of Claims 1-3 containing an inorganic filler. 樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、無機充填材の含有量が30〜90質量%である、請求項4に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。   The thermosetting epoxy resin composition of Claim 4 whose content of an inorganic filler is 30-90 mass% when the non-volatile component in a resin composition is 100 mass%. さらに熱可塑性樹脂を含有する、請求項1〜5のいずれか1項に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。   Furthermore, the thermosetting epoxy resin composition of any one of Claims 1-5 containing a thermoplastic resin. 樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、熱可塑性樹脂の含有量が0.1〜10質量%である、請求項6に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。   The thermosetting epoxy resin composition of Claim 6 whose content of a thermoplastic resin is 0.1-10 mass% when the non-volatile component in a resin composition is 100 mass%. 樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、エポキシ樹脂(A)の含有量が10〜50質量%である、請求項1〜7のいずれか1項に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。   The thermosetting epoxy resin according to any one of claims 1 to 7, wherein the content of the epoxy resin (A) is 10 to 50% by mass when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. Composition. メッキにより導体層を形成する多層プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物である、請求項1〜8のいずれか1項に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物。   The thermosetting epoxy resin composition according to any one of claims 1 to 8, which is a resin composition for an insulating layer of a multilayer printed wiring board on which a conductor layer is formed by plating. 請求項1〜9のいずれか1項に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物からなる樹脂組成物層を支持フィルム上に有することを特徴とする、絶縁層形成用接着フィルム。   An adhesive film for forming an insulating layer, comprising a resin composition layer comprising the thermosetting epoxy resin composition according to any one of claims 1 to 9 on a support film. 請求項1〜9のいずれか1項に記載の熱硬化性エポキシ樹脂組成物がシート状繊維基材に含浸されていることを特徴とする、絶縁層形成用プリプレグ。   A prepreg for forming an insulating layer, wherein the thermosetting epoxy resin composition according to any one of claims 1 to 9 is impregnated in a sheet-like fiber base material. 請求項10に記載の絶縁層形成用接着フィルムの樹脂組成物層及び請求項11に記載の絶縁層形成用プリプレグのいずれかの硬化物よりなるプリント配線板用絶縁体。   The insulator for printed wiring boards which consists of a hardened | cured material in any one of the resin composition layer of the adhesive film for insulating layer formation of Claim 10, and the prepreg for insulating layer formation of Claim 11. 請求項12に記載のプリント配線板用絶縁体からなる絶縁層上にパターン加工された導体層回路を有するプリント配線板用絶縁体。   The insulator for printed wiring boards which has the conductor layer circuit patterned on the insulating layer which consists of an insulator for printed wiring boards of Claim 12. 前記絶縁層の算術平均粗さRaが10〜200nmであり、二乗平均平方根粗さRqが15〜250nmであり、前記絶縁層と導体層のピール強度が0.35kgf/cm(3.43N/cm)以上であることを特徴とする、請求項12又は13に記載のプリント配線板用絶縁体。   The insulating layer has an arithmetic average roughness Ra of 10 to 200 nm, a root mean square roughness Rq of 15 to 250 nm, and a peel strength of the insulating layer and the conductor layer of 0.35 kgf / cm (3.43 N / cm). 14) The printed wiring board insulator according to claim 12 or 13, characterized in that it is above. 請求項13又は14に記載のプリント配線板用絶縁体を多層積層して形成されてなる、多層プリント配線板。   The multilayer printed wiring board formed by laminating | stacking the insulator for printed wiring boards of Claim 13 or 14 in multiple layers. 請求項15に記載の多層プリント配線板を用いることを特徴とする半導体装置。   A semiconductor device comprising the multilayer printed wiring board according to claim 15.
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