JP6776749B2 - Resin composition - Google Patents

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Description

本発明は、樹脂組成物に関する。さらには、当該樹脂組成物を含有する、シート状積層材料、当該樹脂組成物の硬化物により形成された絶縁層を含むプリント配線板、及び半導体装置に関する。 The present invention relates to resin compositions. Further, the present invention relates to a sheet-like laminated material containing the resin composition, a printed wiring board including an insulating layer formed of a cured product of the resin composition, and a semiconductor device.

プリント配線板の製造技術としては、内層基板上に絶縁層と導体層を交互に積み重ねるビルドアップ方式による製造方法が知られている。絶縁層は、一般に、樹脂組成物を硬化させることにより形成される。 As a manufacturing technique for a printed wiring board, a manufacturing method by a build-up method in which an insulating layer and a conductor layer are alternately stacked on an inner layer substrate is known. The insulating layer is generally formed by curing the resin composition.

例えば、特許文献1には、少なくともエポキシ樹脂(A)と、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)を含有する樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合の前記ナフタレン構造を含む活性エステル化合物(B)の含有量が0.1〜30質量%である、熱硬化性エポキシ樹脂組成物が開示されている。 For example, Patent Document 1 describes the activity including the naphthalene structure when the non-volatile component in the resin composition containing at least the epoxy resin (A) and the active ester compound (B) containing the naphthalene structure is 100% by mass. A thermosetting epoxy resin composition having an ester compound (B) content of 0.1 to 30% by mass is disclosed.

また、特許文献2には、(A)ラジカル重合性化合物、(B)エポキシ樹脂、(C)硬化剤及び(D)粗化成分を含有することを特徴とする樹脂組成物が開示されている。 Further, Patent Document 2 discloses a resin composition containing (A) a radically polymerizable compound, (B) an epoxy resin, (C) a curing agent, and (D) a roughening component. ..

上記のように、内層回路基板の絶縁層の形成に適したエポキシ樹脂組成物の提案は多くなされてきているが、低誘電正接であるとともに、耐熱性や密着性に優れるという特性をバランスよく備えた絶縁層を形成できる樹脂組成物に対する要望はさらに高まってきている。 As described above, many proposals have been made for epoxy resin compositions suitable for forming an insulating layer of an inner circuit board, but they have well-balanced characteristics of low dielectric loss tangent and excellent heat resistance and adhesion. There is an increasing demand for a resin composition capable of forming an insulating layer.

特開2014−47318号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2014-47318 特開2014−34580号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 2014-34580

本発明の課題は、低誘電正接、高ガラス転移温度、高密着性である絶縁層を形成可能な樹脂組成物を提供することである。 An object of the present invention is to provide a resin composition capable of forming an insulating layer having low dielectric loss tangent, high glass transition temperature, and high adhesion.

本発明者は、前記課題につき鋭意検討した結果、(A)エポキシ樹脂、(B)炭素−炭素不飽和結合を有する活性エステル化合物、及び(C)不飽和炭化水素基を有する樹脂を組み合わせて含む樹脂組成物により、前記の課題を解決できることを見出し、本発明を完成させるに至った。
すなわち、本発明は、下記の内容を含む。
As a result of diligent studies on the above issues, the present inventor includes (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound having a carbon-carbon unsaturated bond, and (C) a resin having an unsaturated hydrocarbon group in combination. It has been found that the resin composition can solve the above-mentioned problems, and the present invention has been completed.
That is, the present invention includes the following contents.

〔1〕(A)エポキシ樹脂(以下、本明細書中「(A)成分」ともいう)、(B)炭素−炭素不飽和結合を有する活性エステル化合物(以下、本明細書中「(B)成分」ともいう)、及び(C)不飽和炭化水素基を有する樹脂(以下、本明細書中「(C)成分」ともいう)を含有する樹脂組成物。
〔2〕前記(B)成分の含有量が、樹脂成分を100質量%とした場合、10〜60質量%である上記〔1〕に記載の樹脂組成物。
〔3〕前記(A)成分の含有量が、樹脂成分を100質量%とした場合、10〜50質量%であり、前記(C)成分の含有量が、樹脂成分を100質量%とした場合、3〜30質量%である上記〔1〕又は〔2〕に記載の樹脂組成物。
〔4〕前記(B)成分が、炭素−炭素二重結合を有する活性エステル化合物である上記〔1〕〜〔3〕のいずれかに記載の樹脂組成物。
〔5〕前記(B)成分が、ビニル基、メタクリル基、アクリル基、アリル基、スチリル基又はプロペニル基を有する活性エステル化合物である上記〔4〕に記載の樹脂組成物。
〔6〕前記(B)成分が、スチリル基を有する活性エステル化合物である上記〔5〕に記載の樹脂組成物。
〔7〕前記(B)成分が、下記一般式(1)で表される化合物を含む上記〔6〕に記載の樹脂組成物。

Figure 0006776749
(前記一般式(1)中、mは1〜6の整数を表し、nは1〜20の整数を表す。)
〔8〕前記(C)成分が、アクリル基、メタクリル基、スチリル基、又はオレフィン基を有する樹脂である上記〔1〕〜〔7〕のいずれかに記載の樹脂組成物。
〔9〕プリント配線板の絶縁層形成用である上記〔1〕〜〔8〕のいずれかに記載の樹脂組成物。
〔10〕上記〔1〕〜〔9〕のいずれかに記載の樹脂組成物を含む、シート状積層材料。
〔11〕上記〔1〕〜〔9〕のいずれかに記載の樹脂組成物の硬化物により形成された絶縁層を含む、プリント配線板。
〔12〕上記〔11〕に記載のプリント配線板を含む、半導体装置。 [1] (A) Epoxy resin (hereinafter, also referred to as “(A) component” in the present specification), (B) Active ester compound having a carbon-carbon unsaturated bond (hereinafter, “(B)) in the present specification. A resin composition containing (also referred to as “component”) and (C) a resin having an unsaturated hydrocarbon group (hereinafter, also referred to as “component (C)” in the present specification).
[2] The resin composition according to the above [1], wherein the content of the component (B) is 10 to 60% by mass when the resin component is 100% by mass.
[3] The content of the component (A) is 10 to 50% by mass when the resin component is 100% by mass, and the content of the component (C) is 100% by mass when the resin component is 100% by mass. The resin composition according to the above [1] or [2], which is 3 to 30% by mass.
[4] The resin composition according to any one of [1] to [3] above, wherein the component (B) is an active ester compound having a carbon-carbon double bond.
[5] The resin composition according to the above [4], wherein the component (B) is an active ester compound having a vinyl group, a methacryl group, an acrylic group, an allyl group, a styryl group or a propenyl group.
[6] The resin composition according to the above [5], wherein the component (B) is an active ester compound having a styryl group.
[7] The resin composition according to the above [6], wherein the component (B) contains a compound represented by the following general formula (1).
Figure 0006776749
(In the general formula (1), m represents an integer of 1 to 6 and n represents an integer of 1 to 20.)
[8] The resin composition according to any one of the above [1] to [7], wherein the component (C) is a resin having an acrylic group, a methacrylic group, a styryl group, or an olefin group.
[9] The resin composition according to any one of the above [1] to [8], which is used for forming an insulating layer of a printed wiring board.
[10] A sheet-like laminated material containing the resin composition according to any one of the above [1] to [9].
[11] A printed wiring board including an insulating layer formed of a cured product of the resin composition according to any one of [1] to [9] above.
[12] A semiconductor device including the printed wiring board according to the above [11].

本発明によれば、ガラス転移温度が高く、導体層との密着性が良好であり、誘電正接が低い硬化物を得ることができる樹脂組成物;当該樹脂組成物を含むシート状積層材料;並びに、当該樹脂組成物の硬化物を含むプリント配線板及び半導体装置を提供することができる。 According to the present invention, a resin composition capable of obtaining a cured product having a high glass transition temperature, good adhesion to a conductor layer, and low dielectric adjacency; a sheet-like laminated material containing the resin composition; , A printed wiring board and a semiconductor device containing a cured product of the resin composition can be provided.

以下、本発明について、実施形態及び例示物を示して詳細に説明する。ただし、本発明は下記の実施形態及び例示物に限定されるものでは無く、本発明の特許請求の範囲及びその均等の範囲を逸脱しない範囲において任意に変更して実施しうる。 Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to embodiments and examples. However, the present invention is not limited to the following embodiments and examples, and can be arbitrarily modified and implemented without departing from the scope of claims of the present invention and the equivalent scope thereof.

以下の説明において、樹脂組成物中の各成分の量は、別途明示のない限り、樹脂組成物中の樹脂成分100質量%に対する値である。
なお、以下の説明において、「樹脂成分」とは、別途明示のない限り、樹脂組成物に含まれる不揮発成分のうち、(D)無機充填材(以下、本明細書中「(D)成分」ともいう)を除いた成分をいう。
In the following description, the amount of each component in the resin composition is a value with respect to 100% by mass of the resin component in the resin composition unless otherwise specified.
In the following description, the “resin component” refers to the (D) inorganic filler (hereinafter, the “(D) component” in the present specification, among the non-volatile components contained in the resin composition, unless otherwise specified. Also referred to as the component excluding).

[1.樹脂組成物の概要]
本発明の樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂、(B)炭素−炭素不飽和結合を有する活性エステル化合物、及び(C)不飽和炭化水素基を有する樹脂を含有する。本発明の樹脂組成物を硬化して形成される硬化物は、(B)成分の不飽和結合部位と、(C)成分の不飽和炭化水素基と、が反応して形成される分子構造部位を含む。この分子構造部位は、(B)成分の不飽和結合部位及び(C)成分の不飽和炭化水素基の作用により、極性が小さい。そのため、硬化物の極性が小さくなり、誘電正接の値を低減することができる。
また、本発明の樹脂組成物を硬化して形成される硬化物は、(B)成分の不飽和結合部位と、(C)成分の不飽和炭化水素基との反応により形成される分子構造部位だけでなく、(B)成分の活性エステル部位と、(A)成分と、が反応して形成される分子構造部位を含む。そのため、架橋密度が密となり(即ち、構造が密となり)、硬化物のガラス転移温度が高くなる。更に、架橋密度が密となることで、硬化物の機械的強度が向上し、硬化物の破壊を伴う剥離が生じ難くなるので、硬化物と導体層との密着性に優れたものとなる。
[1. Outline of resin composition]
The resin composition of the present invention contains (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound having a carbon-carbon unsaturated bond, and (C) a resin having an unsaturated hydrocarbon group. The cured product formed by curing the resin composition of the present invention has a molecular structure site formed by the reaction of the unsaturated bond site of the component (B) and the unsaturated hydrocarbon group of the component (C). including. This molecular structure site has a small polarity due to the action of the unsaturated bond site of the component (B) and the unsaturated hydrocarbon group of the component (C). Therefore, the polarity of the cured product becomes small, and the value of the dielectric loss tangent can be reduced.
Further, the cured product formed by curing the resin composition of the present invention has a molecular structure site formed by the reaction between the unsaturated bond site of the component (B) and the unsaturated hydrocarbon group of the component (C). In addition, it contains a molecular structure site formed by the reaction of the active ester moiety of the component (B) and the component (A). Therefore, the crosslink density becomes dense (that is, the structure becomes dense), and the glass transition temperature of the cured product becomes high. Further, when the crosslink density becomes dense, the mechanical strength of the cured product is improved, and peeling accompanied by destruction of the cured product is less likely to occur, so that the adhesion between the cured product and the conductor layer is excellent.

このように、本発明の樹脂組成物は、(B)成分が、(A)成分及び(C)成分と反応し得る反応部位を化合物中に有するので、(A)成分と(C)成分をそれぞれ単独で用いた場合に発現し得る効果を同時に奏する硬化物を形成することができる。
さらには、(A)成分と反応し得るエステル化合物と、(C)成分と反応し得る不飽和結合を有する化合物と、を別々に用いる場合と(B)成分を用いる場合を比較すると、(A)成分、(B)成分及び(C)成分の混和性を向上させることができる。そのため、硬化物における組成の均一性を向上させることができるので、前記の効果をより高いレベルで得ることができる。
As described above, in the resin composition of the present invention, since the component (B) has a reaction site in the compound capable of reacting with the component (A) and the component (C), the component (A) and the component (C) are contained. It is possible to form a cured product that simultaneously exerts the effects that can be exhibited when each of them is used alone.
Furthermore, comparing the case where the ester compound capable of reacting with the component (A) and the compound having an unsaturated bond capable of reacting with the component (C) are used separately and the case where the component (B) is used, (A) ), The miscibility of the (B) and (C) components can be improved. Therefore, the uniformity of the composition in the cured product can be improved, and the above-mentioned effect can be obtained at a higher level.

[2.(A)エポキシ樹脂]
本発明の樹脂組成物は、(A)成分を含有する。(A)成分と(B)成分の活性エステル部位とが反応して形成される分子構造部位を硬化物が有することにより、構造が密となり、硬化物のガラス転移温度が高く、密着性に優れるものとなる。
(A)成分としては、例えば、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、tert−ブチル−カテコール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環含有エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、トリメチロール型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂、ハロゲン化エポキシ樹脂が挙げられる。
[2. (A) Epoxy resin]
The resin composition of the present invention contains the component (A). Since the cured product has a molecular structure portion formed by reacting the active ester moiety of the component (A) and the active ester moiety of the component (B), the structure becomes dense, the glass transition temperature of the cured product is high, and the adhesion is excellent. It becomes a thing.
Examples of the component (A) include bixilenol type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, and trisphenol type epoxy. Resin, naphthol novolac type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, Cresol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, epoxy resin having a butadiene structure, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring-containing epoxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy resin, Examples thereof include naphthylene ether type epoxy resin, trimethylol type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin, and halogenated epoxy resin.

これらの中でも、(A)成分としては、密着性を向上させるという観点から、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂及びアントラセン型エポキシ樹脂が好ましく、平均線熱膨張率を低下させる観点から、芳香族骨格を含有するエポキシ樹脂が好ましい。ここで、芳香族骨格とは、多環芳香族及び芳香族複素環をも含む概念である。芳香族骨格を含有するエポキシ樹脂は、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、及びナフトール型エポキシ樹脂からなる群より選択される1種以上のエポキシ樹脂が好ましく、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、及びナフタレン型エポキシ樹脂からなる群より選択される1種以上のエポキシ樹脂が更に好ましい。 Among these, the component (A) includes bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, and naphthylene ether from the viewpoint of improving adhesion. A type epoxy resin, a glycidyl ester type epoxy resin, and an anthracene type epoxy resin are preferable, and an epoxy resin containing an aromatic skeleton is preferable from the viewpoint of reducing the average linear thermal expansion rate. Here, the aromatic skeleton is a concept including polycyclic aromatics and aromatic heterocycles. The epoxy resin containing an aromatic skeleton is selected from the group consisting of bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, and naphthol type epoxy resin. One or more kinds of epoxy resins are preferable, and one or more kinds of epoxy resins selected from the group consisting of bisphenol A type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, and naphthalene type epoxy resin are more preferable.

また、樹脂組成物は、(A)成分として、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂を含むことが好ましい。(A)成分の不揮発成分100質量%に対して、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂の割合は、好ましくは50質量%以上、より好ましくは60質量%以上、特に好ましくは70質量%以上である。中でも、樹脂組成物は、(A)成分として、1分子中に3個以上のエポキシ基を有し、温度20℃で固体状のエポキシ樹脂(以下「固体状エポキシ樹脂」と称することがある。)を含むことが好ましい。 Further, the resin composition preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule as the component (A). The ratio of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule to 100% by mass of the non-volatile component of the component (A) is preferably 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more, and particularly preferably. It is 70% by mass or more. Among them, the resin composition may have three or more epoxy groups in one molecule as the component (A) and may be referred to as a solid epoxy resin at a temperature of 20 ° C. (hereinafter, referred to as "solid epoxy resin"). ) Is preferably included.

(A)成分は、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。よって、樹脂組成物は、(A)成分として、固体状エポキシ樹脂のみを含んでもよく、固形状エポキシ樹脂とこれ以外のエポキシ樹脂とを組み合わせて含んでいてもよい。中でも、樹脂組成物は、(A)成分として、固体状エポキシ樹脂と、1分子中に2個以上のエポキシ基を有し、温度20℃で液状のエポキシ樹脂(以下「液状エポキシ樹脂」と称することがある。)とを、組み合わせて含むことが好ましい。(A)成分として、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを組み合わせて用いることで、樹脂組成物の可撓性を向上させたり、樹脂組成物の硬化物の破断強度を向上させたりすることができる。 As the component (A), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination at an arbitrary ratio. Therefore, the resin composition may contain only the solid epoxy resin as the component (A), or may contain a combination of the solid epoxy resin and other epoxy resins. Among them, the resin composition has a solid epoxy resin and two or more epoxy groups in one molecule as the component (A), and is a liquid epoxy resin at a temperature of 20 ° C. (hereinafter referred to as "liquid epoxy resin"). In some cases), it is preferable to include in combination. By using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination as the component (A), the flexibility of the resin composition can be improved, and the breaking strength of the cured product of the resin composition can be improved. it can.

液状エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、及びブタジエン構造を有するエポキシ樹脂が好ましく、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂及びナフタレン型エポキシ樹脂がより好ましい。 Examples of the liquid epoxy resin include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, and ester skeleton. The alicyclic epoxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, and epoxy resin having a butadiene structure are preferable, and glycidylamine type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, and bisphenol AF Type epoxy resin and naphthalene type epoxy resin are more preferable.

液状エポキシ樹脂としては、例えば、DIC社製の「HP4032」、「HP4032D」、「HP4032SS」(ナフタレン型エポキシ樹脂);三菱化学社製の「YL980」、「828US」、「jER828EL」、「825」、「エピコート828EL」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂);三菱化学社製の「jER806H」、「jER807」、「YL983U」、「1750」(ビスフェノールF型エポキシ樹脂);三菱化学社製の「jER152」(フェノールノボラック型エポキシ樹脂);三菱化学社製の「630」、「630LSD」(グリシジルアミン型エポキシ樹脂);新日鉄住金化学社製の「ZX1059」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の混合品);ナガセケムテックス社製の「EX−721」(グリシジルエステル型エポキシ樹脂);ダイセル社製の「セロキサイド2021P」(エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂);ダイセル社製の「PB−3600」(ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂);新日鐵化学社製の「ZX1658」、「ZX1658GS」(液状1,4−グリシジルシクロヘキサン型エポキシ樹脂)が挙げられる。これらは、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。 Examples of the liquid epoxy resin include "HP4032", "HP4032D", and "HP4032SS" (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC; "YL980", "828US", "jER828EL", and "825" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. , "Epicoat 828EL" (bisphenol A type epoxy resin); "jER806H", "jER807", "YL983U", "1750" (bisphenol F type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd .; "jER152" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. ( Phenol novolac type epoxy resin); Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "630", "630LSD" (glycidylamine type epoxy resin); Nippon Steel & Sumitomo Metal Chemical Co., Ltd. "ZX1059" (mixture of bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin) Product); "EX-721" (glycidyl ester type epoxy resin) manufactured by Nagase ChemteX Co., Ltd .; "Selokiside 2021P" (alicyclic epoxy resin having an ester skeleton) manufactured by Daicel Co., Ltd .; "PB-3600" manufactured by Daicel Co., Ltd. (Epoxy resin having a butadiene structure); "ZX1658" and "ZX1658GS" (liquid 1,4-glycidylcyclohexane type epoxy resin) manufactured by Nippon Steel Chemical Co., Ltd. can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more at any ratio.

固体状エポキシ樹脂としては、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂、ビキシレノール型エポキシ樹脂が好ましく、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ビキシレノール型エポキシ樹脂及びビフェニル型エポキシ樹脂がより好ましい。 Examples of the solid epoxy resin include naphthalene type epoxy resin, naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, and naphthylene. Ether type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin, and bixylene type epoxy resin are preferable, and naphthalene type epoxy resin, naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, naphthol type epoxy resin, and bixilenol. Type epoxy resin and biphenyl type epoxy resin are more preferable.

固体状エポキシ樹脂としては、例えば、DIC社製の「HP4032H」(ナフタレン型エポキシ樹脂);DIC社製の「HP−4700」、「HP−4710」(ナフタレン型4官能エポキシ樹脂);DIC社製の「N−690」、「N−695」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂);DIC社製の「HP−7200」、「HP−7200HH」、「HP−7200H」(ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂);DIC社製の「EXA−7311」、「EXA−7311−G3」、「EXA−7311−G4」、「EXA−7311−G4S」、「HP6000」(ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「EPPN−502H」(トリスフェノール型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「NC7000L」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「NC3000H」、「NC3000」、「NC3000L」、「NC3100」(ビフェニル型エポキシ樹脂);新日鉄住金化学社製の「ESN475V」(ナフトールナフタレン型エポキシ樹脂);新日鉄住金化学社製の「ESN485」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂);三菱化学社製の「YL6121」(ビフェニル型エポキシ樹脂);三菱化学社製の「YX4000H」、「YX4000」、「YX4000HK」(ビキシレノール型エポキシ樹脂);三菱化学社製の「YX8800」(アントラセン型エポキシ樹脂);大阪ガスケミカル社製の「PG−100」、「CG−500」;三菱化学社製の「YL7760」(ビスフェノールAF型エポキシ樹脂);三菱化学社製の「YL7800」(フルオレン型エポキシ樹脂);三菱化学社製の「jER1010」(固体状ビスフェノールA型エポキシ樹脂);三菱化学社製の「jER1031S」(テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂)が挙げられる。これらは、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。 Examples of the solid epoxy resin include "HP4032H" (naphthalene type epoxy resin) manufactured by DIC; "HP-4700" and "HP-4710" (naphthalene type tetrafunctional epoxy resin) manufactured by DIC; "N-690", "N-695" (cresol novolac type epoxy resin); "HP-7200", "HP-7200HH", "HP-7200H" (dicyclopentadiene type epoxy resin) manufactured by DIC; "EXA-7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S", "HP6000" (naphthylene ether type epoxy resin) manufactured by DIC; Nippon Kayakusha "EPPN-502H" (trisphenol type epoxy resin) manufactured by Nippon Kayakusha; "NC7000L" (naphthol novolac type epoxy resin) manufactured by Nippon Kayakusha; "NC3000H", "NC3000", "NC3000L" manufactured by Nippon Kayakusha, "NC3100" (biphenyl type epoxy resin); "ESN475V" (naphthol naphthalene type epoxy resin) manufactured by Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation; "ESN485" (naphthol novolac type epoxy resin) manufactured by Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation; "YL6121" (biphenyl type epoxy resin); "YX4000H", "YX4000", "YX4000HK" (bixilenol type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd .; "YX8800" (anthracen type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd .; Osaka Gas "PG-100" and "CG-500" manufactured by Chemical Co., Ltd .; "YL7760" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. (bisphenol AF type epoxy resin); "YL7800" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. (fluorene type epoxy resin); "JER1010" (solid bisphenol A type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "jER1031S" (tetraphenylethane type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation can be mentioned. These may be used alone or in combination of two or more at any ratio.

(A)成分として、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを組み合わせて用いる場合、それらの質量比(液状エポキシ樹脂:固体状エポキシ樹脂)は、好ましくは1:0.1〜1:15、より好ましくは1:0.5〜1:10、特に好ましくは1:1〜1:8である。
液状エポキシ樹脂の質量比が斯かる範囲にあることで、接着フィルムの形態で使用する場合に、十分な可撓性が得られ、取扱い性が向上し、ラミネートの際の十分な流動性を得ることができる。
固体状エポキシ樹脂の質量比が斯かる範囲にあることで、エポキシ樹脂の粘性を低下させ、接着フィルムの形態で使用する場合に、真空ラミネート時の脱気性を向上させることができる。また、真空ラミネート時に保護フィルムや支持フィルムの剥離性を良好にし、硬化後の耐熱性を向上させることができる。
When a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination as the component (A), their mass ratio (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is preferably 1: 0.1 to 1:15. It is preferably 1: 0.5 to 1:10, and particularly preferably 1: 1 to 1: 8.
When the mass ratio of the liquid epoxy resin is in such a range, sufficient flexibility is obtained when used in the form of an adhesive film, handleability is improved, and sufficient fluidity at the time of laminating is obtained. be able to.
When the mass ratio of the solid epoxy resin is in such a range, the viscosity of the epoxy resin can be reduced, and the degassing property at the time of vacuum lamination can be improved when used in the form of an adhesive film. In addition, the peelability of the protective film and the support film during vacuum lamination can be improved, and the heat resistance after curing can be improved.

(A)成分のエポキシ当量は、好ましくは50〜5000、より好ましくは50〜3000、さらに好ましくは80〜2000、特に好ましくは110〜1000である。(A)成分のエポキシ当量が前記の範囲にあることにより、樹脂組成物の硬化物の架橋密度が十分となり、表面粗さの小さい絶縁層を得ることができる。
エポキシ当量は、1当量のエポキシ基を含む樹脂の質量であり、JIS K7236に従って測定し得る。
The epoxy equivalent of the component (A) is preferably 50 to 5000, more preferably 50 to 3000, still more preferably 80 to 2000, and particularly preferably 110 to 1000. When the epoxy equivalent of the component (A) is in the above range, the crosslink density of the cured product of the resin composition becomes sufficient, and an insulating layer having a small surface roughness can be obtained.
Epoxy equivalent is the mass of a resin containing 1 equivalent of an epoxy group and can be measured according to JIS K7236.

(A)成分の重量平均分子量は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、好ましくは100〜5000、より好ましくは250〜3000、さらに好ましくは400〜1500である。
(A)成分の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により、ポリスチレン換算の値として測定し得る。例えば、樹脂の重量平均分子量は、測定装置として島津製作所社製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工社製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。
The weight average molecular weight of the component (A) is preferably 100 to 5000, more preferably 250 to 3000, and even more preferably 400 to 1500, from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention.
The weight average molecular weight of the component (A) can be measured as a polystyrene-equivalent value by a gel permeation chromatography (GPC) method. For example, the weight average molecular weight of the resin is such that LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation is used as a measuring device, Shodex K-800P / K-804L / K-804L manufactured by Showa Denko Co., Ltd. is used as a column, and chloroform or the like is used as a mobile phase. Can be measured at a column temperature of 40 ° C. and calculated using a standard polystyrene calibration curve.

樹脂組成物における(A)成分の量は、高ガラス転移温度、高密着性を示す絶縁層を得る観点から、樹脂組成物中の樹脂成分100質量%に対して、好ましくは5質量%以上、より好ましくは10質量%以上、さらに好ましくは20質量%以上である。(A)成分の量の上限は、本発明の効果が奏される限り任意であり、好ましくは70質量%以下、より好ましくは65質量%以下、さらに好ましくは60質量%以下、特に好ましくは50質量%以下である。 The amount of the component (A) in the resin composition is preferably 5% by mass or more with respect to 100% by mass of the resin component in the resin composition from the viewpoint of obtaining an insulating layer exhibiting a high glass transition temperature and high adhesion. It is more preferably 10% by mass or more, still more preferably 20% by mass or more. The upper limit of the amount of the component (A) is arbitrary as long as the effect of the present invention is exhibited, and is preferably 70% by mass or less, more preferably 65% by mass or less, still more preferably 60% by mass or less, and particularly preferably 50. It is mass% or less.

[3.(B)炭素−炭素不飽和結合を有する活性エステル化合物]
本発明の樹脂組成物は、(B)成分を含有する。(B)成分を用いることにより、(A)成分及び(C)成分の両成分と反応し、硬化物を形成する。
(B)成分の不飽和結合部位と、(C)成分と、が反応して形成される分子構造部位を硬化物が有することにより、硬化物の極性が小さくなり、誘電正接の値を低減することができる。
また、(B)成分の活性エステル部位と、(A)成分と、が反応して形成される分子構造部位を硬化物が有することにより、構造が密となり、硬化物のガラス転移温度が高く、密着性に優れるものとなる。
[3. (B) Active ester compound having a carbon-carbon unsaturated bond]
The resin composition of the present invention contains the component (B). By using the component (B), it reacts with both the components (A) and (C) to form a cured product.
Since the cured product has a molecular structure site formed by the reaction of the unsaturated bond site of the component (B) and the component (C), the polarity of the cured product is reduced and the value of dielectric loss tangent is reduced. be able to.
Further, since the cured product has a molecular structure portion formed by the reaction of the active ester moiety of the component (B) and the component (A), the structure becomes dense and the glass transition temperature of the cured product is high. It has excellent adhesion.

従来、2つの異なる反応性を有する樹脂を併用した場合、各樹脂の混和性が悪く、硬化物は均一に形成され難いものであった。従って、上記の効果を高いレベルで同時に発現することは困難であった。
一方、本願発明の樹脂組成物においては、(B)成分が、2つの異なる反応性を有する樹脂とそれぞれ反応可能な部位を同一化合物中に有する。そのため、(B)成分が各樹脂を連結して硬化物を形成し、均一な硬化物を形成することができる。従って、上記の特性を高いレベルで同時に発現することができ、本願発明の所望の効果を奏することができる。
さらには、(B)成分を用いると、(A)成分、(B)成分及び(C)成分の混和性を向上させることができる。そのため、硬化物における組成の均一性を向上させることができるので、上記の効果をより高いレベルで得ることができる。
Conventionally, when two resins having different reactivity are used in combination, the miscibility of each resin is poor, and it is difficult to form a cured product uniformly. Therefore, it was difficult to simultaneously express the above effects at a high level.
On the other hand, in the resin composition of the present invention, the component (B) has a site capable of reacting with two resins having different reactivity in the same compound. Therefore, the component (B) can connect the resins to form a cured product, and a uniform cured product can be formed. Therefore, the above-mentioned characteristics can be simultaneously expressed at a high level, and the desired effect of the present invention can be obtained.
Furthermore, when the component (B) is used, the miscibility of the component (A), the component (B) and the component (C) can be improved. Therefore, the uniformity of the composition in the cured product can be improved, and the above effect can be obtained at a higher level.

炭素−炭素不飽和結合としては、例えば、炭素−炭素二重結合、炭素−炭素三重結合が挙げられる。中でも、炭素−炭素二重結合が好ましい。炭素−炭素二重結合としては、例えば、ビニル基、メタクリル基、アクリル基、アリル基、スチリル基、プロペニル基が挙げられる。中でも、耐熱性に優れるという観点から、スチリル基が特に好ましい。 Examples of the carbon-carbon unsaturated bond include a carbon-carbon double bond and a carbon-carbon triple bond. Of these, a carbon-carbon double bond is preferable. Examples of the carbon-carbon double bond include a vinyl group, a methacrylic group, an acrylic group, an allyl group, a styryl group, and a propenyl group. Of these, a styryl group is particularly preferable from the viewpoint of excellent heat resistance.

(B)成分としては、下記一般式(1)で表される化合物を含むことが好ましい。

Figure 0006776749
一般式(1)中、mは1〜6の整数を表し、nは1〜20の整数を表す。 The component (B) preferably contains a compound represented by the following general formula (1).
Figure 0006776749
In the general formula (1), m represents an integer of 1 to 6, and n represents an integer of 1 to 20.

一般式(1)中、mは、好ましくは1〜6の整数であり、より好ましくは1〜3の整数である。また、nは、好ましくは1〜10の整数であり、より好ましくは1〜5の整数であり、特に好ましくは1〜3の整数である。斯かる数値範囲であることにより、(B)成分は(C)成分と適切な割合で反応し、誘電正接の低下を実現し得る。 In the general formula (1), m is preferably an integer of 1 to 6, and more preferably an integer of 1 to 3. Further, n is preferably an integer of 1 to 10, more preferably an integer of 1 to 5, and particularly preferably an integer of 1 to 3. Within such a numerical range, the component (B) can react with the component (C) at an appropriate ratio, and a decrease in dielectric loss tangent can be realized.

(B)成分は、一般式(1)で表される化合物のm、nの値が異なる化合物の混合物であってもよい。混合物である場合、(B)成分は、一般式(1)で表される化合物を含む限り、一般式(1)においてnが0の化合物(下記式(0−1)で表される化合物)や、nが1〜20の整数であり、mが0の化合物(下記一般式(0−2)で表される化合物)を含むものであってもよい。
なお、(B)成分100質量%に対して、式(0−1)で表される化合物及び一般式(0−2)で表される化合物の合計の割合は、好ましくは10質量%以下、より好ましくは5質量%以下、更に好ましくは3質量%以下、特に好ましくは1質量%以下、0質量%である。斯かる範囲であることで、(B)成分は(C)成分と適切な割合で反応し、誘電正接の低下を実現し得る。

Figure 0006776749
一般式(0−2)中、nは1〜20の整数を表す。 The component (B) may be a mixture of compounds having different m and n values of the compound represented by the general formula (1). In the case of a mixture, the component (B) contains a compound represented by the general formula (1), and a compound in which n is 0 in the general formula (1) (a compound represented by the following formula (0-1)). Alternatively, it may contain a compound in which n is an integer of 1 to 20 and m is 0 (a compound represented by the following general formula (0-2)).
The total ratio of the compound represented by the formula (0-1) and the compound represented by the general formula (0-2) to 100% by mass of the component (B) is preferably 10% by mass or less. It is more preferably 5% by mass or less, further preferably 3% by mass or less, and particularly preferably 1% by mass or less and 0% by mass. Within such a range, the component (B) can react with the component (C) at an appropriate ratio, and a decrease in dielectric loss tangent can be realized.
Figure 0006776749
In the general formula (0-2), n represents an integer of 1 to 20.

一般式(1)で表される化合物は市販品を用いてもよく、合成品を用いてもよい。市販品としては、例えば、商品名「PC1300−02−65MA」(エア・ウォーター社製)が挙げられる。 As the compound represented by the general formula (1), a commercially available product may be used, or a synthetic product may be used. Examples of commercially available products include the trade name "PC1300-02-65MA" (manufactured by Air Water Inc.).

樹脂組成物における(B)成分の量は、低誘電正接、高ガラス転移温度、高密着性を示す絶縁層を得る観点から、樹脂組成物中の樹脂成分100質量%に対して、好ましくは5質量%以上、より好ましくは10質量%以上、さらに好ましくは20質量%以上である。(B)成分の量の上限は、本発明の効果が奏される限り任意であり、好ましくは70質量%以下、より好ましくは65質量%以下、さらに好ましくは60質量%以下である。 The amount of the component (B) in the resin composition is preferably 5 with respect to 100% by mass of the resin component in the resin composition from the viewpoint of obtaining an insulating layer exhibiting low dielectric loss tangent, high glass transition temperature, and high adhesion. By mass or more, more preferably 10% by mass or more, still more preferably 20% by mass or more. The upper limit of the amount of the component (B) is arbitrary as long as the effect of the present invention is exhibited, and is preferably 70% by mass or less, more preferably 65% by mass or less, and further preferably 60% by mass or less.

[4.(C)不飽和炭化水素基を有する樹脂]
本発明の樹脂組成物は、(C)成分を含有する。(C)成分と(B)成分の不飽和結合部位が反応して形成される分子構造部位を硬化物が有することにより、硬化物の極性が小さくなり、誘電正接の値を低減することができる。
(C)成分としては、不飽和炭化水素基を有していれば、特に限定されない。不飽和炭化水素基を使用することで、硬化物の誘電正接を低下させることができる。不飽和炭化水素としては、アクリル基、メタクリル基、スチリル基、オレフィン基であることが好ましい。中でも、耐熱性に優れるという観点からスチリル基を有することがより好ましい。
ここで、「オレフィン基」とは、分子中に炭素−炭素二重結合を有する脂肪族炭化水素基をいう。例えば、アリル基、ビニル基、プロペニル基が挙げられる。
[4. (C) Resin having unsaturated hydrocarbon group]
The resin composition of the present invention contains the component (C). Since the cured product has a molecular structure site formed by the reaction of the unsaturated bond sites of the component (C) and the component (B), the polarity of the cured product can be reduced and the value of dielectric loss tangent can be reduced. ..
The component (C) is not particularly limited as long as it has an unsaturated hydrocarbon group. By using an unsaturated hydrocarbon group, the dielectric loss tangent of the cured product can be reduced. The unsaturated hydrocarbon is preferably an acrylic group, a methacrylic group, a styryl group, or an olefin group. Above all, it is more preferable to have a styryl group from the viewpoint of excellent heat resistance.
Here, the "olefin group" refers to an aliphatic hydrocarbon group having a carbon-carbon double bond in the molecule. For example, an allyl group, a vinyl group, and a propenyl group can be mentioned.

(C)成分としては、下記一般式(2)で表される化合物が好ましい。 As the component (C), a compound represented by the following general formula (2) is preferable.

Figure 0006776749
一般式(2)中、R〜Rは、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基を表し、好ましくは水素原子である。Aは、下記一般式(3)又は下記一般式(4)で表される構造を表す。
Figure 0006776749
In the general formula (2), R 1 to R 6 independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and are preferably hydrogen atoms. A represents a structure represented by the following general formula (3) or the following general formula (4).

Figure 0006776749
一般式(3)中、Bは、下記一般式(B−1)、(B−2)又は(B−3)で表される構造を表す。
Figure 0006776749
In the general formula (3), B represents a structure represented by the following general formula (B-1), (B-2) or (B-3).

Figure 0006776749
一般式(4)中、Dは、下記一般式(5)で表される構造を表す。
Figure 0006776749
In the general formula (4), D represents a structure represented by the following general formula (5).

Figure 0006776749
一般式(5)中、R〜R14は、それぞれ独立に、水素原子、炭素数6以下のアルキル基又はフェニル基を表し、好ましくは水素原子又はメチル基である。特にR、R、R13、R14は、より好ましくはメチル基である。a、bは、少なくとも一方が0でない0〜100の整数である。Bは、下記一般式(B−1)、(B−2)又は(B−3)で表される構造を表す。
Figure 0006776749
In the general formula (5), R 7 to R 14 independently represent a hydrogen atom, an alkyl group or a phenyl group having 6 or less carbon atoms, and are preferably a hydrogen atom or a methyl group. In particular, R 7 , R 8 , R 13 and R 14 are more preferably methyl groups. a and b are integers of 0 to 100 in which at least one of them is not 0. B represents a structure represented by the following general formula (B-1), (B-2) or (B-3).

Figure 0006776749
一般式(B−1)中、R15〜R18は、それぞれ独立に、水素原子、炭素数6以下のアルキル基又はフェニル基を表し、好ましくは水素原子又はメチル基である。
一般式(B−2)中、R19〜R26は、それぞれ独立に、水素原子、炭素数6以下のアルキル基又はフェニル基を表し、好ましくは水素原子又はメチル基である。
一般式(B−3)中、R27〜R34は、それぞれ独立に、水素原子、炭素数6以下のアルキル基又はフェニル基を表し、好ましくは水素原子又はメチル基である。Eは、炭素数20以下の直鎖状、分岐状又は環状の2価の炭化水素基を表す。
Figure 0006776749
In the general formula (B-1), R 15 to R 18 independently represent a hydrogen atom, an alkyl group having 6 or less carbon atoms, or a phenyl group, and are preferably a hydrogen atom or a methyl group.
In the general formula (B-2), R 19 to R 26 independently represent a hydrogen atom, an alkyl group or a phenyl group having 6 or less carbon atoms, and are preferably a hydrogen atom or a methyl group.
In the general formula (B-3), R 27 to R 34 independently represent a hydrogen atom, an alkyl group or a phenyl group having 6 or less carbon atoms, and are preferably a hydrogen atom or a methyl group. E represents a linear, branched or cyclic divalent hydrocarbon group having 20 or less carbon atoms.

(C)成分としては、下記一般式(6)、下記式(7)又は下記式(8)で表される化合物であることがより好ましい。 The component (C) is more preferably a compound represented by the following general formula (6), the following formula (7) or the following formula (8).

Figure 0006776749
一般式(6)中、R〜Rは、一般式(2)中のR〜Rと同義であり、Bは、一般式(3)中のBと同義であり、a、bは、一般式(5)中のa、bと同義である。
Figure 0006776749
In the general formula (6), R 1 to R 6 in general formula (2) has the same meaning as R 1 to R 6 of the, B has the same meaning as the general formula (3) in B, a, b Is synonymous with a and b in the general formula (5).

Figure 0006776749
Figure 0006776749

Figure 0006776749
Figure 0006776749

市販されている(C)成分としては、例えば、スチレン変性ポリフェニレンエーテル樹脂(三菱瓦斯化学社製「OPE−2St 1200(数平均分子量1200)」、一般式(6)相当)、ビキシレノールジアリルエーテル樹脂(三菱化学社製「YL7776(数平均分子量331)」、式(7)相当)、ジオキサンアクリルモノマーグリコールジアクリレート(新中村化学工業社製「A−DOG(数平均分子量326)」、式(8)相当)が挙げられる。 Examples of the commercially available component (C) include a styrene-modified polyphenylene ether resin (“OPE-2St 1200 (number average molecular weight 1200)” manufactured by Mitsubishi Gas Chemicals, Inc., equivalent to the general formula (6)), and a bixilenol diallyl ether resin. (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "YL7776 (number average molecular weight 331)", equivalent to formula (7)), Dioxane acrylic monomer glycol diacrylate (Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd. "A-DOG (number average molecular weight 326)", formula (8) ) Equivalent).

(C)成分の数平均分子量は、樹脂ワニス乾燥時の揮発防止、樹脂組成物の溶融粘度が上昇しすぎるのを防止するという観点から、好ましくは100〜10000の範囲であり、より好ましくは200〜3000の範囲である。なお、本発明における数平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法(ポリスチレンン換算)で測定される。GPC法による数平均分子量としては、例えば、測定装置として島津製作所社製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工社製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。 The number average molecular weight of the component (C) is preferably in the range of 100 to 10,000, more preferably 200, from the viewpoint of preventing volatilization during drying of the resin varnish and preventing the melt viscosity of the resin composition from increasing too much. It is in the range of ~ 3000. The number average molecular weight in the present invention is measured by gel permeation chromatography (GPC) method (polystyrene conversion). As the number average molecular weight by the GPC method, for example, LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device and Shodex K-800P / K-804L / K-804L manufactured by Showa Denko Corporation as a column are used as mobile phases. It can be measured at a column temperature of 40 ° C. using chloroform or the like, and calculated using a standard polystyrene calibration curve.

樹脂組成物における(C)成分の量は、硬化物の誘電正接の値を小さくする観点から、樹脂組成物中の樹脂成分100質量%に対して、好ましくは3質量%以上、より好ましくは5質量%以上、さらに好ましくは10質量%以上である。(C)成分の量の上限は、本発明の効果が奏される限り任意であり、好ましくは50質量%以下、より好ましくは40質量%以下、さらに好ましくは30質量%以下である。 The amount of the component (C) in the resin composition is preferably 3% by mass or more, more preferably 5 with respect to 100% by mass of the resin component in the resin composition, from the viewpoint of reducing the value of the dielectric loss tangent of the cured product. By mass or more, more preferably 10% by mass or more. The upper limit of the amount of the component (C) is arbitrary as long as the effect of the present invention is exhibited, and is preferably 50% by mass or less, more preferably 40% by mass or less, and further preferably 30% by mass or less.

[5.硬化剤]
樹脂組成物は、本発明の効果を損なわない限り、(B)成分とは異なる硬化剤を含有してもよい。硬化剤としては、特に限定されるものではなく、例えば、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、活性エステル系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、及びカルボジイミド系硬化剤が挙げられる。中でも、導体層との密着性に優れる絶縁層を得る観点からは、活性エステル系硬化剤が好ましい。なお、硬化剤は、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。
[5. Hardener]
The resin composition may contain a curing agent different from the component (B) as long as the effects of the present invention are not impaired. The curing agent is not particularly limited, and examples thereof include a phenol-based curing agent, a naphthol-based curing agent, an active ester-based curing agent, a benzoxazine-based curing agent, a cyanate ester-based curing agent, and a carbodiimide-based curing agent. Be done. Above all, an active ester-based curing agent is preferable from the viewpoint of obtaining an insulating layer having excellent adhesion to the conductor layer. The curing agent may be used alone or in combination of two or more at an arbitrary ratio.

フェノール系硬化剤又はナフトール系硬化剤としては、耐熱性及び耐水性の観点から、ノボラック構造を有するフェノール系硬化剤又はノボラック構造を有するナフトール系硬化剤が好ましい。また、導体層との密着性の観点から、含窒素フェノール系硬化剤又は含窒素ナフトール系硬化剤が好ましく、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤又はトリアジン骨格含有ナフトール系硬化剤がより好ましい。中でも、耐熱性、耐水性、及び導体層との密着性を高度に満足させる観点から、トリアジン骨格含有フェノールノボラック硬化剤又はトリアジン骨格含有ナフトールノボラック硬化剤が好ましい。 As the phenol-based curing agent or naphthol-based curing agent, a phenol-based curing agent having a novolak structure or a naphthol-based curing agent having a novolak structure is preferable from the viewpoint of heat resistance and water resistance. Further, from the viewpoint of adhesion to the conductor layer, a nitrogen-containing phenol-based curing agent or a nitrogen-containing naphthol-based curing agent is preferable, and a triazine skeleton-containing phenol-based curing agent or a triazine skeleton-containing naphthol-based curing agent is more preferable. Among them, a triazine skeleton-containing phenol novolac curing agent or a triazine skeleton-containing naphthol novolac curing agent is preferable from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesion to the conductor layer.

フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤としては、例えば、明和化成社製の「MEH−7700」、「MEH−7810」、「MEH−7851」、日本化薬社製の「NHN」、「CBN」、「GPH」、新日鉄住金社製の「SN−170」、「SN−180」、「SN−190」、「SN−475」、「SN−485」、「SN−495」、「SN−375」、「SN−395」、DIC社製の「TD−2090」、「LA−7052」、「LA−7054」、「LA−1356」、「LA−3018−50P」等が挙げられる。 Examples of the phenol-based curing agent and the naphthol-based curing agent include "MEH-7700", "MEH-7810", "MEH-7851" manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., and "NHN" and "CBN" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. , "GPH", "SN-170", "SN-180", "SN-190", "SN-475", "SN-485", "SN-495", "SN-375" manufactured by Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation , "SN-395", "TD-2090", "LA-7052", "LA-7054", "LA-1356", "LA-3018-50P" manufactured by DIC, and the like.

活性エステル系硬化剤としては、特に限定されない。例えば、フェノールエステル類、チオフェノールエステル類、N−ヒドロキシアミンエステル類、複素環ヒドロキシ化合物のエステル類等の、反応活性の高いエステル基を1分子中に2個以上有する化合物を用いることができる。該活性エステル系硬化剤は、カルボン酸化合物及びチオカルボン酸化合物の少なくともいずれかの化合物と、ヒドロキシ化合物及びチオール化合物の少なくともいずれかの化合物と、の縮合反応によって得られるものが好ましい。特に耐熱性向上の観点から、カルボン酸化合物と、ヒドロキシ化合物と、から得られる活性エステル系硬化剤が好ましい。 The active ester-based curing agent is not particularly limited. For example, compounds having two or more ester groups with high reactive activity in one molecule, such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds, can be used. The active ester-based curing agent is preferably obtained by a condensation reaction of at least one compound of a carboxylic acid compound and a thiocarboxylic acid compound and at least one compound of a hydroxy compound and a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester-based curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable.

カルボン酸化合物としては、例えば、安息香酸、酢酸、コハク酸、マレイン酸、イタコン酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ピロメリット酸が挙げられる。フェノール化合物又はナフトール化合物としては、例えば、ハイドロキノン、レゾルシン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、フェノールフタリン、メチル化ビスフェノールA、メチル化ビスフェノールF、メチル化ビスフェノールS、フェノール、o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、カテコール、α−ナフトール、β−ナフトール、1,5−ジヒドロキシナフタレン、1,6−ジヒドロキシナフタレン、2,6−ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシベンゾフェノン、トリヒドロキシベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン、フロログルシン、ベンゼントリオール、ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物、フェノールノボラック等が挙げられる。ここで、「ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物」とは、ジシクロペンタジエン1分子にフェノール2分子が縮合して得られるジフェノール化合物をいう。 Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid. Examples of the phenol compound or naphthol compound include hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthaline, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m-. Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenol, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, fluoroglusin, Examples thereof include benzenetriol, dicyclopentadiene-type diphenol compounds, and phenol novolac. Here, the "dicyclopentadiene-type diphenol compound" refers to a diphenol compound obtained by condensing two phenol molecules with one dicyclopentadiene molecule.

活性エステル系硬化剤としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物が好ましく、ナフタレン構造を含む活性エステル化合物、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物がより好ましい。「ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造」とは、フェニレン−ジシクロペンチレン−フェニレンからなる2価の構造単位を表す。 Examples of the active ester-based curing agent include an active ester compound containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure, an active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, and an active ester compound containing a benzoyl product of phenol novolac. Is preferable, and an active ester compound containing a naphthalene structure and an active ester compound containing a dicyclopentadiene-type diphenol structure are more preferable. The "dicyclopentadiene-type diphenol structure" represents a divalent structural unit composed of phenylene-dicyclopentylene-phenylene.

活性エステル系硬化剤の市販品としては、例えば、DIC社製の「EXB9451」、「EXB9460」、「EXB9460S」、「HPC−8000−65T」、「EXB−8000L−65TM」、「HPC−8000H−65M」(ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル化合物)、DIC社製の「EXB−9416L−70BK」(ナフタレン構造を含む活性エステル化合物)、三菱化学社製の「DC808」(フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル化合物)、三菱化学社製の「YLH1026」(フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル化合物)、DIC社製の「EXB−9050L−62M」(リン原子含有活性エステル化合物)等が挙げられる。 Examples of commercially available active ester-based curing agents include "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", "HPC-8000-65T", "EXB-8000L-65TM", and "HPC-8000H-" manufactured by DIC. "65M" (active ester compound containing dicyclopentadiene type diphenol structure), "EXB-9416L-70BK" manufactured by DIC (active ester compound containing naphthalene structure), "DC808" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. (phenol novolac) Active ester compound containing acetylated product), "YLH1026" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (active ester compound containing benzoylated product of phenol novolac), "EXB-9050L-62M" manufactured by DIC (phosphorus atom-containing active ester compound), etc. Can be mentioned.

ベンゾオキサジン系硬化剤としては、例えば、昭和高分子社製の「HFB2006M」、四国化成工業社製の「P−d」、「F−a」が挙げられる。 Examples of the benzoxazine-based curing agent include "HFB2006M" manufactured by Showa High Polymer Co., Ltd., "Pd" and "FA" manufactured by Shikoku Chemicals Corporation.

シアネートエステル系硬化剤としては、特に限定されない。例えば、フェノールノボラック型、アルキルフェノールノボラック型等の、ノボラック型シアネートエステル系硬化剤;ジシクロペンタジエン型シアネートエステル系硬化剤;ビスフェノールA型、ビスフェノールF型、ビスフェノールS型等の、ビスフェノール型シアネートエステル系硬化剤;並びに、これらが一部トリアジン化したプレポリマー等が挙げられる。シアネートエステル系硬化剤としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート、オリゴ(3−メチレン−1,5−フェニレンシアネート)、4,4’−メチレンビス(2,6−ジメチルフェニルシアネート)、4,4’−エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2−ビス(4−シアネート)フェニルプロパン、1,1−ビス(4−シアネートフェニルメタン)、ビス(4−シアネート−3,5−ジメチルフェニル)メタン、1,3−ビス(4−シアネートフェニル−1−(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4−シアネートフェニル)チオエーテル、及びビス(4−シアネートフェニル)エーテル等の2官能シアネート樹脂;フェノールノボラック及びクレゾールノボラック等から誘導される多官能シアネート樹脂;及び、これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマーが挙げられる。市販品としては、ロンザジャパン社製の「PT30」、「PT60」(いずれもフェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂)、「BA230」(ビスフェノールAジシアネートの一部又は全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー)が挙げられる。 The cyanate ester-based curing agent is not particularly limited. For example, novolak type cyanate ester type curing agent such as phenol novolac type and alkylphenol novolak type; dicyclopentadiene type cyanate ester type curing agent; bisphenol type cyanate ester type curing agent such as bisphenol A type, bisphenol F type and bisphenol S type. Agents; and prepolymers in which these are partially triazined. Examples of the cyanate ester-based curing agent include bisphenol A disicianate, polyphenol cyanate, oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4'-methylenebis (2,6-dimethylphenylcyanate), and 4,4. '-Etilidene diphenyl disianate, hexafluorobisphenol A disyanate, 2,2-bis (4-cyanate) phenylpropane, 1,1-bis (4-cyanate phenylmethane), bis (4-cyanate-3,5-dimethyl) Bifunctional cyanate resins such as phenyl) methane, 1,3-bis (4-cyanatephenyl-1- (methylethylidene)) benzene, bis (4-cyanatephenyl) thioether, and bis (4-cyanatephenyl) ether; phenol Examples thereof include polyfunctional cyanate resins derived from novolak, cresol novolak, and the like; and prepolymers in which these cyanate resins are partially triazined. Commercially available products include "PT30" and "PT60" (both phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resins) manufactured by Ronza Japan Co., Ltd., and "BA230" (part or all of bisphenol A disicanate is triazined to form a trimer. Prepolymer).

カルボジイミド系硬化剤としては、例えば、日清紡ケミカル社製の「V−03」、「V−07」が挙げられる。 Examples of the carbodiimide-based curing agent include "V-03" and "V-07" manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd.

硬化剤は、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、活性エステル系硬化剤及びカルボジイミド系硬化剤から選択される1種以上であることが好ましく、フェノール系硬化剤及び活性エステル系硬化剤の少なくともいずれかであることが更に好ましい。 The curing agent is preferably one or more selected from a phenol-based curing agent, a naphthol-based curing agent, an active ester-based curing agent, and a carbodiimide-based curing agent, and at least one of the phenol-based curing agent and the active ester-based curing agent. It is more preferable that

(A)成分のエポキシ基数を1とした場合、機械的強度の良好な絶縁層を得る観点から、硬化剤の反応基数の下限は、好ましくは0.1以上、より好ましくは0.2以上、更に好ましくは0.3以上、特に好ましくは0.4以上である。上限は、好ましくは2以下、より好ましくは1.5以下、更に好ましくは1以下である。
ここで、「硬化剤の反応基」は、活性水酸基、活性エステル基等であり、硬化剤の種類によって異なる。また、「(A)成分のエポキシ基数」とは、樹脂組成物中の各エポキシ樹脂の固形分質量をエポキシ当量で除した値を全てのエポキシ樹脂について合計した値である。更に、「硬化剤の反応基数」とは、樹脂組成物中に存在する各硬化剤の固形分質量を反応基当量で除した値を全ての硬化剤について合計した値である。(A)エポキシ樹脂と硬化剤との量比を斯かる範囲とすることにより、樹脂組成物の硬化物の耐熱性をより向上することができる。
When the number of epoxy groups of the component (A) is 1, the lower limit of the number of reaction groups of the curing agent is preferably 0.1 or more, more preferably 0.2 or more, from the viewpoint of obtaining an insulating layer having good mechanical strength. It is more preferably 0.3 or more, and particularly preferably 0.4 or more. The upper limit is preferably 2 or less, more preferably 1.5 or less, still more preferably 1 or less.
Here, the "reactive group of the curing agent" is an active hydroxyl group, an active ester group, or the like, and differs depending on the type of the curing agent. The "number of epoxy groups of the component (A)" is a value obtained by dividing the solid content mass of each epoxy resin in the resin composition by the epoxy equivalent and the total value for all the epoxy resins. Further, the "number of reactive groups of the curing agent" is a value obtained by dividing the solid content mass of each curing agent present in the resin composition by the reactive group equivalent and the total value for all the curing agents. (A) By setting the amount ratio of the epoxy resin and the curing agent within such a range, the heat resistance of the cured product of the resin composition can be further improved.

樹脂組成物中の硬化剤の含有量は特に限定されない。例えば、樹脂組成物中の樹脂成分100質量%に対して、上限は、好ましくは30質量%以下、より好ましくは25質量%以下、さらに好ましくは20質量%以下、特に好ましくは18質量%以下、15質量%以下である。また、下限は、好ましくは1質量%以上、より好ましくは3質量%以上、さらに好ましくは5質量%以上、特に好ましくは7質量%以上、10質量%以上である。硬化剤の含有量を斯かる範囲とすることにより、樹脂組成物の線熱膨張係数、誘電正接、導体層との密着性において一層優れた硬化物を形成し得る。 The content of the curing agent in the resin composition is not particularly limited. For example, with respect to 100% by mass of the resin component in the resin composition, the upper limit is preferably 30% by mass or less, more preferably 25% by mass or less, still more preferably 20% by mass or less, and particularly preferably 18% by mass or less. It is 15% by mass or less. The lower limit is preferably 1% by mass or more, more preferably 3% by mass or more, still more preferably 5% by mass or more, and particularly preferably 7% by mass or more and 10% by mass or more. By setting the content of the curing agent in such a range, a cured product having more excellent linear thermal expansion coefficient, dielectric loss tangent, and adhesion to the conductor layer of the resin composition can be formed.

[6.(D)無機充填材]
樹脂組成物は、通常、(D)成分を含有する。(D)成分を用いることにより、樹脂組成物の硬化物の熱膨張係数を小さくできるので、絶縁層のリフロー反りを抑制することができる。
[6. (D) Inorganic filler]
The resin composition usually contains the component (D). By using the component (D), the coefficient of thermal expansion of the cured product of the resin composition can be reduced, so that the reflow warp of the insulating layer can be suppressed.

(D)成分の材料は特に限定されないが、例えば、シリカ、アルミナ、ガラス、コーディエライト、シリコン酸化物、硫酸バリウム、炭酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、酸化亜鉛、ハイドロタルサイト、ベーマイト、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、窒化アルミニウム、窒化マンガン、ホウ酸アルミニウム、炭酸ストロンチウム、チタン酸バリウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、酸化ジルコニウム、チタン酸ジルコン酸バリウム、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウム、リン酸ジルコニウム、及びリン酸タングステン酸ジルコニウムが挙げられる。これらの中でも、シリカが好ましく、無定形シリカ、粉砕シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ、中空シリカ、球状シリカがより好ましく、絶縁層の表面粗さを低下させるという観点から、溶融シリカ、球状シリカがさらに好ましく、球状溶融シリカが特に好ましい。(D)成分は、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。 The material of the component (D) is not particularly limited, but for example, silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, etc. Aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, barium titanate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, titanium Examples thereof include bismuth acid acid, titanium oxide, zirconate oxide, barium titanate titanate, barium zirconate titanate, calcium zirconate, zirconate zirconate, and zirconate titnate tantistate. Among these, silica is preferable, amorphous silica, crushed silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, hollow silica, and spherical silica are more preferable, and fused silica and spherical silica are used from the viewpoint of reducing the surface roughness of the insulating layer. Silica is more preferable, and spherical fused silica is particularly preferable. As the component (D), one type may be used alone, or two or more types may be used in combination at an arbitrary ratio.

通常、(D)成分は、粒子の状態で樹脂組成物に含まれる。(D)成分の粒子の平均粒径は、回路埋め込み性を向上させ、表面粗さの小さい絶縁層を得る観点から、好ましくは5μm以下、より好ましくは3μm以下、さらに好ましくは2μm以下、特に好ましくは1μm以下、0.8μm以下、0.6μm以下、0.4μm以下である。該平均粒径の下限は、樹脂ワニスとした際の、ワニスの粘度が上昇し、取扱い性が低下することを防止する観点から、好ましくは0.01μm以上、より好ましくは0.03μm以上、更に好ましくは0.05μm以上、特に好ましくは0.07μm以上、0.1μm以上である。 Usually, the component (D) is contained in the resin composition in the form of particles. The average particle size of the particles of the component (D) is preferably 5 μm or less, more preferably 3 μm or less, still more preferably 2 μm or less, particularly preferably, from the viewpoint of improving circuit embedding property and obtaining an insulating layer having a small surface roughness. Is 1 μm or less, 0.8 μm or less, 0.6 μm or less, 0.4 μm or less. The lower limit of the average particle size is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.03 μm or more, and further, from the viewpoint of preventing the viscosity of the varnish from increasing and the handleability from decreasing when the resin varnish is used. It is preferably 0.05 μm or more, particularly preferably 0.07 μm or more, and 0.1 μm or more.

前記のような平均粒径を有する(D)成分の市販品としては、例えば、新日鉄住金マテリアルズ社製「SP60−05」、「SP507−05」;アドマテックス社製「YC100C」、「YA050C」、「YA050C−MJE」、「YA010C」;デンカ社製「UFP−30」;トクヤマ社製「シルフィルNSS−3N」、「シルフィルNSS−4N」、「シルフィルNSS−5N」;アドマテックス社製「SC2500SQ」、「SO−C4」、「SO−C2」、「SO−C1」が挙げられる。 Examples of commercially available products of the component (D) having an average particle size as described above include "SP60-05" and "SP507-05" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Materials Co., Ltd .; "YC100C" and "YA050C" manufactured by Admatex Co., Ltd. , "YA050C-MJE", "YA010C"; "UFP-30" manufactured by Denka; "Silfil NSS-3N", "Silfil NSS-4N", "Silfil NSS-5N" manufactured by Tokuyama; "SC2500SQ" manufactured by Admatex , "SO-C4", "SO-C2", "SO-C1".

(D)成分等の粒子の平均粒径は、ミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により、測定し得る。例えば、レーザー回折散乱式粒度分布測定装置により、粒子の粒径分布を体積基準で測定し、その粒径分布からメディアン径として平均粒径を測定可能である。測定サンプルは、粒子を超音波により水中に分散させたものを好ましく使用可能である。レーザー回折散乱式粒度分布測定装置としては、堀場製作所社製「LA−500」等を使用可能である。 The average particle size of the particles such as the component (D) can be measured by a laser diffraction / scattering method based on the Mie scattering theory. For example, a laser diffraction / scattering type particle size distribution measuring device can measure the particle size distribution of particles on a volume basis, and the average particle size can be measured as the median diameter from the particle size distribution. As the measurement sample, those in which the particles are dispersed in water by ultrasonic waves can be preferably used. As the laser diffraction / scattering type particle size distribution measuring device, "LA-500" manufactured by HORIBA, Ltd. or the like can be used.

(D)成分は、任意の表面処理剤で表面処理されていてもよい。表面処理剤としては、例えば、アミノシラン系カップリング剤、エポキシシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤、アルコキシシラン化合物、オルガノシラザン化合物、チタネート系カップリング剤等が挙げられる。これらの表面処理剤で(D)成分を表面処理することにより、(D)成分の耐湿性及び分散性を高めることができる。 The component (D) may be surface-treated with any surface treatment agent. Examples of the surface treatment agent include aminosilane-based coupling agents, epoxysilane-based coupling agents, mercaptosilane-based coupling agents, alkoxysilane compounds, organosilazane compounds, titanate-based coupling agents, and the like. By surface-treating the component (D) with these surface treatment agents, the moisture resistance and dispersibility of the component (D) can be enhanced.

表面処理剤の市販品としては、例えば、信越化学工業社製「KBM−22」(ジメチルジメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM−403」(3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM−803」(3−メルカプトプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBE−903」(3−アミノプロピルトリエトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM−573」(N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「SZ−31」(ヘキサメチルジシラザン)、信越化学工業社製「KBM−103」(フェニルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM−4803」(長鎖エポキシ型シランカップリング剤)が挙げられる。また、表面処理剤は、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。 Examples of commercially available surface treatment agents include "KBM-22" (dimethyldimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM-403" (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., and Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM-803" (3-mercaptopropyltrimethoxysilane) manufactured by Kagaku Kogyo Co., Ltd., "KBE-903" (3-aminopropyltriethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM-573" manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. ( N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane), "SZ-31" (hexamethyldisilazane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM-103" (phenyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Examples thereof include "KBM-4803" (long-chain epoxy type silane coupling agent) manufactured by the company. Further, the surface treatment agent may be used alone or in combination of two or more at an arbitrary ratio.

表面処理剤による表面処理の程度は、(D)成分の単位表面積当たりのカーボン量によって評価し得る。(D)成分の単位表面積当たりのカーボン量は、(D)成分の分散性向上の観点から、好ましくは0.02mg/m以上、より好ましくは0.1mg/m以上、特に好ましくは0.2mg/m以上である。一方、樹脂組成物の溶融粘度及びシート形態での溶融粘度の上昇を抑制する観点から、前記のカーボン量は、好ましくは1mg/m以下、より好ましくは0.8mg/m以下、特に好ましくは0.5mg/m以下である。 The degree of surface treatment with the surface treatment agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of the component (D). (D) a carbon amount per unit surface area of the component, from the viewpoint of improving dispersibility of the component (D), preferably 0.02 mg / m 2 or more, more preferably 0.1 mg / m 2 or more, particularly preferably 0 .2 mg / m 2 or more. On the other hand, from the viewpoint of suppressing an increase in the melt viscosity of the resin composition and the melt viscosity in the sheet form, the amount of carbon is preferably 1 mg / m 2 or less, more preferably 0.8 mg / m 2 or less, particularly preferably. Is 0.5 mg / m 2 or less.

(D)成分の単位表面積当たりのカーボン量は、表面処理後の(D)成分を溶媒(例えば、メチルエチルケトン(以下「MEK」と略称することがある。))により洗浄処理した後に、測定し得る。例えば、十分な量のメチルエチルケトンと、表面処理剤で表面処理された(D)成分とを混合して、25℃で5分間、超音波洗浄する。その後、上澄液を除去し、固形分を乾燥させた後、カーボン分析計を用いて、(D)成分の単位表面積当たりのカーボン量を測定し得る。カーボン分析計としては、堀場製作所社製「EMIA−320V」を使用し得る。 The amount of carbon per unit surface area of the component (D) can be measured after the component (D) after the surface treatment is washed with a solvent (for example, methyl ethyl ketone (hereinafter, may be abbreviated as “MEK”)). .. For example, a sufficient amount of methyl ethyl ketone and the component (D) surface-treated with a surface treatment agent are mixed and ultrasonically cleaned at 25 ° C. for 5 minutes. Then, the supernatant is removed, the solid content is dried, and then the amount of carbon per unit surface area of the component (D) can be measured using a carbon analyzer. As the carbon analyzer, "EMIA-320V" manufactured by HORIBA, Ltd. can be used.

樹脂組成物における(D)成分の量の下限は、熱膨張率の低い絶縁層を得る観点から、樹脂組成物中の樹脂成分100質量部に対して、好ましくは100質量部以上、より好ましくは200質量部以上、更に好ましくは250質量部以上である。上限は、絶縁層の機械的強度、特に伸びの観点から、好ましくは500質量部以下、より好ましくは400質量部以下、さらに好ましくは350質量部以下である。 The lower limit of the amount of the component (D) in the resin composition is preferably 100 parts by mass or more, more preferably 100 parts by mass or more, based on 100 parts by mass of the resin component in the resin composition from the viewpoint of obtaining an insulating layer having a low coefficient of thermal expansion. It is 200 parts by mass or more, more preferably 250 parts by mass or more. The upper limit is preferably 500 parts by mass or less, more preferably 400 parts by mass or less, and further preferably 350 parts by mass or less from the viewpoint of mechanical strength of the insulating layer, particularly elongation.

[7.(E)硬化促進剤]
本発明の樹脂組成物は、必要に応じて、(E)硬化促進剤(以下、本明細書中「(E)成分」ともいう)を更に含有するものであってもよい。(E)成分を用いることにより、樹脂組成物を硬化させる際に硬化を促進できる。
[7. (E) Curing accelerator]
The resin composition of the present invention may further contain (E) a curing accelerator (hereinafter, also referred to as “component (E)” in the present specification), if necessary. By using the component (E), curing can be promoted when the resin composition is cured.

(E)成分としては、例えば、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、グアニジン系硬化促進剤、金属系硬化促進剤、過酸化物系硬化促進剤等が挙げられる。中でも、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、過酸化物系硬化促進剤又は金属系硬化促進剤が好ましく、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、過酸化物系硬化促進剤又は金属系硬化促進剤がより好ましい。
なお、(E)成分は、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。
Examples of the component (E) include phosphorus-based curing accelerators, amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, metal-based curing accelerators, peroxide-based curing accelerators, and the like. .. Of these, phosphorus-based curing accelerators, amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, peroxide-based curing accelerators or metal-based curing accelerators are preferable, and amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, and peroxides are preferred. A physical curing accelerator or a metal curing accelerator is more preferable.
The component (E) may be used alone or in combination of two or more at an arbitrary ratio.

リン系硬化促進剤としては、例えば、トリフェニルホスフィン、ホスホニウムボレート化合物、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、n−ブチルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩、(4−メチルフェニル)トリフェニルホスホニウムチオシアネート、テトラフェニルホスホニウムチオシアネート、ブチルトリフェニルホスホニウムチオシアネートが挙げられる。中でも、トリフェニルホスフィン、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩が好ましい。 Examples of the phosphorus-based curing accelerator include triphenylphosphine, phosphonium borate compound, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, and (4-methylphenyl) triphenylphosphonium thiocyanate. , Tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyltriphenylphosphonium thiocyanate and the like. Of these, triphenylphosphine and tetrabutylphosphonium decanoate are preferable.

アミン系硬化促進剤としては、例えば、トリエチルアミン、トリブチルアミン等のトリアルキルアミン、4−ジメチルアミノピリジン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6,−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8−ジアザビシクロ[5,4,0]−ウンデセンが挙げられる。中でも、4−ジメチルアミノピリジン、1,8−ジアザビシクロ[5,4,0]−ウンデセンが好ましい。 Examples of the amine-based curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6, -tris (dimethylaminomethyl) phenol, and 1,8-diazabicyclo. [5,4,0] -Undesen can be mentioned. Of these, 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo [5,4,0] -undecene are preferable.

イミダゾール系硬化促進剤としては、例えば、2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−ウンデシルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−エチル−4’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2’−メチルイミダゾリル−(1’)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3−ジヒドロ−1H−ピロロ[1,2−a]ベンズイミダゾール、1−ドデシル−2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロライド、2−メチルイミダゾリン、2−フェニルイミダゾリンのイミダゾール化合物及びイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体が挙げられる。中でも、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾールが好ましい。 Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecyl imidazole, 2-heptadecyl imidazole, 1,2-dimethyl imidazole, 2-ethyl-4-methyl imidazole, 2-phenyl imidazole, 2-. Phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2- Ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecyl imidazolium trimerite, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimerite, 2,4-diamino-6 -[2'-methylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine, 2, 4-Diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- (1')] -ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1')] -Ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3- Dihydro-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, 2-phenylimidazoline imidazole compound and imidazole compound and epoxy resin Adduct body can be mentioned. Of these, 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole are preferable.

イミダゾール系硬化促進剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、三菱化学社製の「P200−H50」等が挙げられる。 As the imidazole-based curing accelerator, a commercially available product may be used, and examples thereof include "P200-H50" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

グアニジン系硬化促進剤としては、例えば、ジシアンジアミド、1−メチルグアニジン、1−エチルグアニジン、1−シクロヘキシルグアニジン、1−フェニルグアニジン、1−(o−トリル)グアニジン、ジメチルグアニジン、ジフェニルグアニジン、トリメチルグアニジン、テトラメチルグアニジン、ペンタメチルグアニジン、1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、7−メチル−1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エン、1−メチルビグアニド、1−エチルビグアニド、1−n−ブチルビグアニド、1−n−オクタデシルビグアニド、1,1−ジメチルビグアニド、1,1−ジエチルビグアニド、1−シクロヘキシルビグアニド、1−アリルビグアニド、1−フェニルビグアニド、1−(o−トリル)ビグアニドが挙げられる。中でも、ジシアンジアミド、1,5,7−トリアザビシクロ[4.4.0]デカ−5−エンが好ましい。 Examples of the guanidine-based curing accelerator include dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1- (o-tolyl) guanidine, dimethylguanidine, diphenylguanidine, trimethylguanidine, and the like. Tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] Deca-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1,1-diethylbiguanide, 1-cyclohexylbiguanide, 1 -Allyl biguanide, 1-phenylbiguanide, 1- (o-tolyl) biguanide can be mentioned. Of these, dicyandiamide, 1,5,7-triazabicyclo [4.4.0] deca-5-ene is preferable.

金属系硬化促進剤としては、例えば、コバルト、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズ等の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩が挙げられる。有機金属錯体として、例えば、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト錯体;銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅錯体;亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛錯体;鉄(III)アセチルアセトナート等の有機鉄錯体;ニッケル(II)アセチルアセトナート等の有機ニッケル錯体;マンガン(II)アセチルアセトナート等の有機マンガン錯体が挙げられる。有機金属塩としては、例えば、オクチル酸亜鉛、オクチル酸錫、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、ステアリン酸スズ、ステアリン酸亜鉛が挙げられる。 Examples of the metal-based curing accelerator include organometallic complexes or organometallic salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin. Examples of the organometallic complex include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate; organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate; zinc (II) acetylacetonate and the like. Organic zinc complexes; organic iron complexes such as iron (III) acetylacetonate; organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate; organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate. Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate.

過酸化物系硬化促進剤としては、例えば、シクロヘキサノンパーオキサイド、tert−ブチルパーオキシベンゾエート、メチルエチルケトンパーオキサイド、ジクミルパーオキサイド、tert-ブチルクミルパーオキサイド、ジ−tert−ブチルパーオキシド、ジイソプロピルベンゼンハイドロパーオキサイド、クメンハイドロパーオキサイド、tert−ブチルハイドロパーオキサイドが挙げられる。 Examples of the peroxide-based curing accelerator include cyclohexanone peroxide, tert-butyl peroxybenzoate, methyl ethyl ketone peroxide, dicumyl peroxide, tert-butyl cumyl peroxide, di-tert-butyl peroxide, and diisopropylbenzene hydro. Examples thereof include peroxide, cumene hydroperoxide, and tert-butyl hydroperoxide.

過酸化物系硬化促進剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、日油社製の「パークミル D」が挙げられる。 As the peroxide-based curing accelerator, a commercially available product may be used, and examples thereof include "Park Mill D" manufactured by NOF CORPORATION.

樹脂組成物における(E)成分の量は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、樹脂組成物中の樹脂成分100質量%に対して、0.01〜3質量%の範囲が好ましい。 The amount of the component (E) in the resin composition is preferably in the range of 0.01 to 3% by mass with respect to 100% by mass of the resin component in the resin composition from the viewpoint of remarkably obtaining the desired effect of the present invention. ..

[8.(F)熱可塑性樹脂]
本発明の樹脂組成物は、(F)熱可塑性樹脂(以下、本明細書中「(F)成分」ともいう)を更に含んでもよい。(F)成分としては、例えば、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリブタジエン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂、インデンクマロン樹脂が挙げられる。中でも、相溶性向上という観点から、インデンクマロン樹脂が好ましい。なお、(F)成分は1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。
[8. (F) Thermoplastic resin]
The resin composition of the present invention may further contain (F) a thermoplastic resin (hereinafter, also referred to as “component (F)” in the present specification). Examples of the component (F) include phenoxy resin, polyvinyl acetal resin, polyolefin resin, polybutadiene resin, polyimide resin, polyamideimide resin, polyetherimide resin, polysulfone resin, polyethersulfone resin, polyphenylene ether resin, polycarbonate resin, and poly. Examples thereof include ether ether ketone resin, polyester resin, and indenkumaron resin. Of these, the indene marron resin is preferable from the viewpoint of improving compatibility. The component (F) may be used alone or in combination of two or more at an arbitrary ratio.

(F)成分のポリスチレン換算の重量平均分子量は、8,000〜70,000の範囲が好ましく、10,000〜60,000の範囲がより好ましく、20,000〜60,000の範囲がさらに好ましい。
(F)成分のポリスチレン換算の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法で測定される。例えば、(F)成分のポリスチレン換算の重量平均分子量は、測定装置として島津製作所社製LC−9A/RID−6Aを、カラムとして昭和電工社製Shodex K−800P/K−804L/K−804Lを、移動相としてクロロホルム等を用いて、カラム温度40℃にて測定し、標準ポリスチレンの検量線を用いて算出することができる。
The polystyrene-equivalent weight average molecular weight of the component (F) is preferably in the range of 8,000 to 70,000, more preferably in the range of 10,000 to 60,000, and even more preferably in the range of 20,000 to 60,000. ..
The polystyrene-equivalent weight average molecular weight of the component (F) is measured by a gel permeation chromatography (GPC) method. For example, the polystyrene-equivalent weight average molecular weight of component (F) is determined by using LC-9A / RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device and Shodex K-800P / K-804L / K-804L manufactured by Showa Denko Co., Ltd. as a column. , Chloroform or the like is used as the mobile phase, the measurement can be performed at a column temperature of 40 ° C., and the calculation can be performed using a standard polystyrene calibration curve.

フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA骨格、ビスフェノールF骨格、ビスフェノールS骨格、ビスフェノールアセトフェノン骨格、ノボラック骨格、ビフェニル骨格、フルオレン骨格、ジシクロペンタジエン骨格、ノルボルネン骨格、ナフタレン骨格、アントラセン骨格、アダマンタン骨格、テルペン骨格、及びトリメチルシクロヘキサン骨格からなる群から選択される1種以上の骨格を有するフェノキシ樹脂が挙げられる。フェノキシ樹脂の末端は、フェノール性水酸基、エポキシ基等のいずれの官能基でもよい。フェノキシ樹脂は、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。 Examples of the phenoxy resin include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenol acetphenone skeleton, novolak skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton, anthracene skeleton, adamantan skeleton, and terpen. Examples thereof include phenoxy resins having one or more skeletons selected from the group consisting of skeletons and trimethylcyclohexane skeletons. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group. The phenoxy resin may be used alone or in combination of two or more at any ratio.

フェノキシ樹脂としては、例えば、三菱化学社製の「1256」及び「4250」(いずれもビスフェノールA骨格含有フェノキシ樹脂);三菱化学社製の「YX8100」(ビスフェノールS骨格含有フェノキシ樹脂);三菱化学社製の「YX6954」(ビスフェノールアセトフェノン骨格含有フェノキシ樹脂);新日鉄住金化学社製の「FX280」及び「FX293」;三菱化学社製の「YX6954BH30」、「YX7553」、「YX7553BH30」、「YL7769BH30」、「YL6794」、「YL7213」、「YL7290」、「YL7891BH30」及び「YL7482」等が挙げられる。 Examples of the phenoxy resin include "1256" and "4250" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (both are bisphenol A skeleton-containing phenoxy resins); "YX8100" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation (bisphenol S skeleton-containing phenoxy resin); "YX6954" (bisphenol acetophenone skeleton-containing phenoxy resin); "FX280" and "FX293" manufactured by Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation; "YX6954BH30", "YX7553", "YX7553BH30", "YL7769BH30", "YL7769BH30" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation. Examples thereof include "YL6794", "YL7213", "YL7290", "YL7891BH30" and "YL7482".

インデンクマロン樹脂としては、例えば、日塗化学社製の「H−100」、「WS−100G」、「WS−100H」、「WS−120V」、「WS−100GC」;ノバレス・ルトガーズ社製の「C10」、「C30」、「CA80」が挙げられる。 Examples of the indene marron resin include "H-100", "WS-100G", "WS-100H", "WS-120V", and "WS-100GC" manufactured by Nikko Kagaku Co., Ltd .; manufactured by Novales Lutgers. "C10", "C30", "CA80" can be mentioned.

樹脂組成物における(F)成分の量の下限は、樹脂組成物中の樹脂成分100質量%に対して、好ましくは0.1質量%以上、より好ましくは0.5質量%以上である。また、その上限は、好ましくは10質量%以下、より好ましくは5質量%以下である。斯かる範囲であることにより、フィルム成型能や機械的強度向上の効果が発揮され、更に溶融粘度の上昇や湿式粗化工程後の絶縁層表面の粗度を低下させることができる。 The lower limit of the amount of the component (F) in the resin composition is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.5% by mass or more, based on 100% by mass of the resin component in the resin composition. The upper limit thereof is preferably 10% by mass or less, more preferably 5% by mass or less. Within such a range, the effect of improving the film molding ability and the mechanical strength can be exhibited, and further, the melt viscosity can be increased and the roughness of the surface of the insulating layer after the wet roughening step can be lowered.

[9.任意成分]
本発明の樹脂組成物は、上述した成分以外に、任意成分を含み得る。このような任意成分としては、例えば、難燃剤;有機充填材;有機銅化合物、有機亜鉛化合物及び有機コバルト化合物等の有機金属化合物;増粘剤;消泡剤;レベリング剤;密着性付与剤;着色剤等の樹脂添加剤が挙げられる。
[9. Optional ingredient]
The resin composition of the present invention may contain an arbitrary component in addition to the above-mentioned components. Such optional components include, for example, flame retardants; organic fillers; organometallic compounds such as organocopper compounds, organozinc compounds and organocobalt compounds; thickeners; defoaming agents; leveling agents; adhesion-imparting agents; Examples thereof include resin additives such as colorants.

<難燃剤>
本発明の樹脂組成物は、難燃剤を用いることにより、樹脂組成物の硬化物のガラス転移温度をさらに向上し得る。
難燃剤としては、例えば、有機リン系難燃剤、有機系窒素含有リン化合物、窒素化合物、シリコーン系難燃剤、金属水酸化物等が挙げられる。難燃剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、三光社製の「HCA−HQ」、「HCA−HQ−HS」、大八化学工業社製の「PX−200」が挙げられる。なお、難燃剤は、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。
<Flame retardant>
The resin composition of the present invention can further improve the glass transition temperature of the cured product of the resin composition by using a flame retardant.
Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicone flame retardant, and a metal hydroxide. As the flame retardant, a commercially available product may be used, and examples thereof include "HCA-HQ" and "HCA-HQ-HS" manufactured by Sanko Co., Ltd. and "PX-200" manufactured by Daihachi Chemical Industry Co., Ltd. The flame retardant may be used alone or in combination of two or more at any ratio.

樹脂組成物における難燃剤の量は、耐熱性を付与する観点から、樹脂組成物中の樹脂成分100質量%に対して、0.5〜20質量%の範囲が好ましく、0.5質量%〜15質量%の範囲がより好ましく、0.5〜10質量%の範囲がさらに好ましい。 The amount of the flame retardant in the resin composition is preferably in the range of 0.5 to 20% by mass, preferably 0.5% by mass to 100% by mass, based on 100% by mass of the resin component in the resin composition from the viewpoint of imparting heat resistance. The range of 15% by mass is more preferable, and the range of 0.5 to 10% by mass is further preferable.

<有機充填材>
本発明の樹脂組成物は、有機充填材を用いることにより、樹脂組成物の硬化物の柔軟性を向上させられるので、絶縁層の伸び性を改善できる。
有機充填材としては、プリント配線板の絶縁層を形成するに際し使用し得る任意の有機充填材を使用できる。例えば、ゴム粒子、ポリアミド粒子、シリコーン粒子が挙げられる。また、ゴム粒子としては、市販品を用いてもよく、例えば、ダウ・ケミカル日本社製の「EXL−2655」、アイカ工業社製の「AC3816N」が挙げられる。なお、有機充填材は、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。
<Organic filler>
In the resin composition of the present invention, the flexibility of the cured product of the resin composition can be improved by using the organic filler, so that the extensibility of the insulating layer can be improved.
As the organic filler, any organic filler that can be used when forming the insulating layer of the printed wiring board can be used. For example, rubber particles, polyamide particles, and silicone particles can be mentioned. As the rubber particles, commercially available products may be used, and examples thereof include "EXL-2655" manufactured by Dow Chemical Japan Co., Ltd. and "AC3816N" manufactured by Aica Kogyo Co., Ltd. The organic filler may be used alone or in combination of two or more at any ratio.

有機充填材の粒子の平均粒径は、樹脂組成物中の分散性に優れるという観点から、好ましくは5μm以下、より好ましくは4μm以下、さらに好ましくは3μm以下である。有機充填材の平均粒径の下限は、好ましくは0.05μm以上、より好ましくは0.08μm以上、特に好ましくは0.10μm以上である。 The average particle size of the particles of the organic filler is preferably 5 μm or less, more preferably 4 μm or less, still more preferably 3 μm or less, from the viewpoint of excellent dispersibility in the resin composition. The lower limit of the average particle size of the organic filler is preferably 0.05 μm or more, more preferably 0.08 μm or more, and particularly preferably 0.10 μm or more.

樹脂組成物における有機充填材の量は、樹脂組成物の硬化物の機械的物性を適切な範囲に調整する観点から、樹脂組成物中の樹脂成分100質量%に対して、0.1〜20質量%の範囲が好ましく、0.2〜10質量%の範囲がより好ましく、0.3〜5質量%の範囲がさらに好ましく、0.5〜3質量%の範囲が特に好ましい。 The amount of the organic filler in the resin composition is 0.1 to 20 with respect to 100% by mass of the resin component in the resin composition from the viewpoint of adjusting the mechanical properties of the cured product of the resin composition to an appropriate range. The range of mass% is preferable, the range of 0.2 to 10% by mass is more preferable, the range of 0.3 to 5% by mass is further preferable, and the range of 0.5 to 3% by mass is particularly preferable.

[10.樹脂組成物の製法及び特性]
本発明の樹脂組成物の調製方法は、特に限定されるものではなく、例えば、配合成分を、必要により溶媒等を添加し、回転ミキサー等を用いて混合・分散する方法が挙げられる。
[10. Manufacturing method and characteristics of resin composition]
The method for preparing the resin composition of the present invention is not particularly limited, and examples thereof include a method in which a compounding component is added with a solvent or the like as necessary and mixed and dispersed using a rotary mixer or the like.

本発明の樹脂組成物は、ガラス転移温度の高い硬化物をもたらすことができる。本発明の樹脂組成物の硬化物のガラス転移温度は、後述の<ガラス転移温度の測定>に記載の方法により測定することができる。具体的には、引張加重法で熱機械分析を行うことにより、荷重1g、昇温速度5℃/minで測定することができる。本発明の樹脂組成物の硬化物は、好ましくは158℃以上、より好ましくは160℃以上、さらに好ましくは162℃以上のガラス転移温度を示すことができる。ガラス転移温度の上限は特に限定されなく、通常、250℃以下である。 The resin composition of the present invention can provide a cured product having a high glass transition temperature. The glass transition temperature of the cured product of the resin composition of the present invention can be measured by the method described in <Measurement of glass transition temperature> described later. Specifically, by performing thermomechanical analysis by the tensile weighting method, it is possible to measure at a load of 1 g and a heating rate of 5 ° C./min. The cured product of the resin composition of the present invention can exhibit a glass transition temperature of preferably 158 ° C. or higher, more preferably 160 ° C. or higher, and even more preferably 162 ° C. or higher. The upper limit of the glass transition temperature is not particularly limited, and is usually 250 ° C. or lower.

本発明の樹脂組成物は、誘電正接の低い硬化物をもたらすことができる。本発明の樹脂組成物の硬化物の誘電正接は、後述の<誘電正接の測定>に記載の方法により測定することができる。具体的には、空洞共振器摂動法により周波数5.8GHz、測定温度23℃で測定することができる。誘電正接の値は、高周波での発熱防止、信号遅延及び信号ノイズの低減の観点から、好ましくは0.0037以下、より好ましくは0.0035以下である。誘電正接の値の下限は、低いほど好ましく、通常、0.0001以上等とし得る。 The resin composition of the present invention can provide a cured product having a low dielectric loss tangent. The dielectric loss tangent of the cured product of the resin composition of the present invention can be measured by the method described in <Measurement of dielectric loss tangent> described later. Specifically, it can be measured at a frequency of 5.8 GHz and a measurement temperature of 23 ° C. by the cavity resonator perturbation method. The value of the dielectric loss tangent is preferably 0.0037 or less, more preferably 0.0035 or less, from the viewpoint of preventing heat generation at high frequencies, reducing signal delay and signal noise. The lower limit of the value of the dielectric loss tangent is preferably as low as possible, and can usually be 0.0001 or more.

本発明の樹脂組成物は、導体層との密着性の高い硬化物をもたらすことができる。本発明の樹脂組成物の硬化物の密着性は、後述の<密着性の測定>に記載の方法により評価することができる。得られる導体層と絶縁層との密着性は、好ましくは0.60kgf/cm以上、より好ましくは0.70kgf/cm以上である。密着性の上限は特に限定されなく、通常、1.2kgf/cm以下等とし得る。 The resin composition of the present invention can provide a cured product having high adhesion to the conductor layer. The adhesion of the cured product of the resin composition of the present invention can be evaluated by the method described in <Measurement of adhesion> described later. The adhesion between the obtained conductor layer and the insulating layer is preferably 0.60 kgf / cm or more, more preferably 0.70 kgf / cm or more. The upper limit of the adhesiveness is not particularly limited, and may be usually 1.2 kgf / cm or less.

本発明の樹脂組成物は、ガラス転移温度が高く、誘電正接が低く、導体層との密着性が良好な硬化物をもたらすことができる。従って、本発明の樹脂組成物は、プリント配線板の絶縁層を形成するための樹脂組成物(プリント配線板の絶縁層用樹脂組成物)として好適に使用することができ、プリント配線板の層間絶縁層を形成するための樹脂組成物(プリント配線板の層間絶縁層用樹脂組成物)としてより好適に使用することができる。本発明の樹脂組成物はまた、接着フィルム、プリプレグ等のシート状積層材料、ソルダーレジスト、アンダーフィル材、ダイボンディング材、半導体封止材、穴埋め樹脂、部品埋め込み樹脂等、樹脂組成物が必要とされる用途の広範囲に使用できる。 The resin composition of the present invention can provide a cured product having a high glass transition temperature, a low dielectric loss tangent, and good adhesion to the conductor layer. Therefore, the resin composition of the present invention can be suitably used as a resin composition for forming an insulating layer of a printed wiring board (resin composition for an insulating layer of a printed wiring board), and can be used between layers of the printed wiring board. It can be more preferably used as a resin composition for forming an insulating layer (resin composition for an interlayer insulating layer of a printed wiring board). The resin composition of the present invention also requires a resin composition such as an adhesive film, a sheet-like laminated material such as a prepreg, a solder resist, an underfill material, a die bonding material, a semiconductor encapsulant, a hole filling resin, and a component embedding resin. Can be used in a wide range of applications.

[11.シート状積層材料]
本発明の樹脂組成物は、ワニス状態で塗布して使用することもできるが、工業的には一般に、該樹脂組成物を含有するシート状積層材料の形態で用いることが好適である。
[11. Sheet-shaped laminated material]
The resin composition of the present invention can be applied and used in a varnished state, but industrially, it is generally preferable to use the resin composition in the form of a sheet-like laminated material containing the resin composition.

シート状積層材料としては、以下に示す接着フィルム、プリプレグが好ましい。 As the sheet-like laminated material, the following adhesive films and prepregs are preferable.

一実施形態において、接着フィルムは、支持体と、該支持体と接合している樹脂組成物層(接着層)とを含んでなり、樹脂組成物層(接着層)が本発明の樹脂組成物から形成される。 In one embodiment, the adhesive film comprises a support and a resin composition layer (adhesive layer) bonded to the support, and the resin composition layer (adhesive layer) is the resin composition of the present invention. Formed from.

樹脂組成物層の厚さは、プリント配線板の薄型化の観点から、好ましくは100μm以下、より好ましくは80μm以下、さらに好ましくは60μm以下、特に好ましくは50μm以下、40μm以下である。樹脂組成物層の厚さの下限は、特に限定されなく、通常、1μm以上、好ましくは5μm以上、更に好ましくは10μm以上等とし得る。 The thickness of the resin composition layer is preferably 100 μm or less, more preferably 80 μm or less, still more preferably 60 μm or less, particularly preferably 50 μm or less, 40 μm or less, from the viewpoint of thinning the printed wiring board. The lower limit of the thickness of the resin composition layer is not particularly limited, and may be usually 1 μm or more, preferably 5 μm or more, more preferably 10 μm or more, and the like.

支持体としては、例えば、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔、離型紙が挙げられ、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔が好ましい。 Examples of the support include a film made of a plastic material, a metal foil, and a paper pattern, and a film made of a plastic material and a metal foil are preferable.

支持体としてプラスチック材料からなるフィルムを使用する場合、プラスチック材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)等のポリエステル;ポリカーボネート(PC)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)等のアクリル;環状ポリオレフィン、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエーテルサルファイド(PES)、ポリエーテルケトン、ポリイミドが挙げられる。中でも、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートが好ましく、安価なポリエチレンテレフタレートが特に好ましい。 When a film made of a plastic material is used as the support, the plastic material includes, for example, polyester such as polyethylene terephthalate (PET) and polyethylene naphthalate (PEN); acrylic such as polycarbonate (PC) and polymethylmethacrylate (PMMA). Cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), polyether ketone, polyimide. Of these, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.

支持体として金属箔を使用する場合、金属箔としては、例えば、銅箔、アルミニウム箔が挙げられる。中でも、銅箔が好ましい。銅箔としては、銅の単金属からなる箔を用いてもよく、銅と他の金属(例えば、スズ、クロム、銀、マグネシウム、ニッケル、ジルコニウム、ケイ素、チタン等)との合金からなる箔を用いてもよい。 When a metal foil is used as the support, examples of the metal foil include copper foil and aluminum foil. Of these, copper foil is preferable. As the copper foil, a foil made of a single metal of copper may be used, and a foil made of an alloy of copper and another metal (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. You may use it.

支持体は、樹脂組成物層と接合する側の表面にマット処理、コロナ処理を施してあってもよい。また、支持体としては、樹脂組成物層と接合する側の表面に離型層を有する離型層付き支持体を使用してもよい。離型層付き支持体の離型層に使用する離型剤としては、例えば、アルキド樹脂、オレフィン樹脂、ウレタン樹脂、及びシリコーン樹脂からなる群から選択される1種以上の離型剤が挙げられる。離型剤の市販品としては、例えば、アルキド樹脂系離型剤である、リンテック社製の「SK−1」、「AL−5」、「AL−7」が挙げられる。 The surface of the support on the side to be joined with the resin composition layer may be matted or corona-treated. Further, as the support, a support with a release layer having a release layer on the surface on the side to be joined with the resin composition layer may be used. Examples of the release agent used for the release layer of the support with the release layer include one or more release agents selected from the group consisting of alkyd resin, olefin resin, urethane resin, and silicone resin. .. Examples of commercially available release agents include "SK-1", "AL-5", and "AL-7" manufactured by Lintec Corporation, which are alkyd resin-based mold release agents.

支持体の厚さは、特に限定されなく、5〜75μmの範囲が好ましく、10〜60μmの範囲がより好ましい。なお、支持体が離型層付き支持体である場合、離型層付き支持体全体の厚さが上記範囲であることが好ましい。 The thickness of the support is not particularly limited, and is preferably in the range of 5 to 75 μm, more preferably in the range of 10 to 60 μm. When the support is a support with a release layer, the thickness of the entire support with a release layer is preferably in the above range.

接着フィルムは、例えば、有機溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、この樹脂ワニスを、ダイコーター等を用いて支持体上に塗布し、更に乾燥させて樹脂組成物層を形成させることにより製造することができる。 For the adhesive film, for example, a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent is prepared, and this resin varnish is applied onto a support using a die coater or the like and further dried to form a resin composition layer. It can be manufactured by.

有機溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン(MEK)及びシクロヘキサノン等のケトン類;酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート及びカルビトールアセテート等の酢酸エステル類;セロソルブ及びブチルカルビトール等のカルビトール類;トルエン及びキシレン等の芳香族炭化水素類;ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド(DMAc)及びN−メチルピロリドン等のアミド系溶媒を挙げることができる。有機溶剤は、1種単独で用いてもよく、2種以上を任意の比率で組み合わせて用いてもよい。 Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone (MEK) and cyclohexanone; acetic acid esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate; cellosolve and butyl carbitol and the like. Carbitols; aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide (DMAc) and N-methylpyrrolidone. The organic solvent may be used alone or in combination of two or more at any ratio.

乾燥は、加熱、熱風吹きつけ等の公知の方法により実施してよい。乾燥条件は特に限定されなく、樹脂組成物層中の有機溶剤の含有量が10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。樹脂ワニス中の有機溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30〜60質量%の有機溶剤を含む樹脂ワニスを用いる場合、50〜150℃で3〜10分間乾燥させることにより、樹脂組成物層を形成することができる。 Drying may be carried out by a known method such as heating or blowing hot air. The drying conditions are not particularly limited, and the resin composition layer is dried so that the content of the organic solvent is 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Although it depends on the boiling point of the organic solvent in the resin varnish, for example, when a resin varnish containing 30 to 60% by mass of an organic solvent is used, the resin composition layer is formed by drying at 50 to 150 ° C. for 3 to 10 minutes. can do.

接着フィルムにおいて、樹脂組成物層の支持体と接合していない面(即ち、支持体とは反対側の面)には、支持体に準じた保護フィルムをさらに積層することができる。保護フィルムの厚さは、特に限定されるものではなく、例えば、1〜40μmである。保護フィルムを積層することにより、樹脂組成物層の表面へのゴミ等の付着やキズを防止することができる。接着フィルムは、ロール状に巻きとって保存することが可能である。接着フィルムが保護フィルムを有する場合、保護フィルムを剥がすことによって使用可能となる。 In the adhesive film, a protective film similar to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer that is not bonded to the support (that is, the surface opposite to the support). The thickness of the protective film is not particularly limited, and is, for example, 1 to 40 μm. By laminating the protective film, it is possible to prevent dust and the like from adhering to the surface of the resin composition layer and scratches. The adhesive film can be rolled up and stored. If the adhesive film has a protective film, it can be used by peeling off the protective film.

一実施形態において、プリプレグは、シート状繊維基材に本発明の樹脂組成物を含浸させて形成される。 In one embodiment, the prepreg is formed by impregnating a sheet-like fiber base material with the resin composition of the present invention.

プリプレグに用いるシート状繊維基材は特に限定されず、ガラスクロス、アラミド不織布、液晶ポリマー不織布等のプリプレグ用基材として常用されているものを用いることができる。プリント配線板の薄型化の観点から、シート状繊維基材の厚さは、好ましくは50μm以下、より好ましくは40μm以下、さらに好ましくは30μm以下、特に好ましくは20μm以下である。シート状繊維基材の厚さの下限は特に限定されない。通常、10μm以上である。 The sheet-shaped fiber base material used for the prepreg is not particularly limited, and those commonly used as the base material for the prepreg such as glass cloth, aramid non-woven fabric, and liquid crystal polymer non-woven fabric can be used. From the viewpoint of reducing the thickness of the printed wiring board, the thickness of the sheet-shaped fiber base material is preferably 50 μm or less, more preferably 40 μm or less, still more preferably 30 μm or less, and particularly preferably 20 μm or less. The lower limit of the thickness of the sheet-shaped fiber base material is not particularly limited. Usually, it is 10 μm or more.

プリプレグは、ホットメルト法、ソルベント法等の公知の方法により製造することができる。 The prepreg can be produced by a known method such as a hot melt method or a solvent method.

プリプレグの厚さは、上述の接着フィルムにおける樹脂組成物層と同様の範囲とし得る。 The thickness of the prepreg can be in the same range as the resin composition layer in the above-mentioned adhesive film.

(A)成分、(B)成分、及び(C)成分を組み合わせて含む樹脂組成物を使用する本発明においては、ガラス転移温度が高く、誘電正接が低く、導体層との密着性が良好な硬化物をもたらす、プリント配線板の製造に際して極めて有用なシート状積層材料を実現することができる。 In the present invention using a resin composition containing a combination of the component (A), the component (B), and the component (C), the glass transition temperature is high, the dielectric loss tangent is low, and the adhesion to the conductor layer is good. It is possible to realize a sheet-like laminated material which is extremely useful in the production of a printed wiring board, which brings about a cured product.

本発明のシート状積層材料は、プリント配線板の絶縁層を形成するため(プリント配線板の絶縁層用)に好適に使用することができ、プリント配線板の層間絶縁層を形成するため(プリント配線板の層間絶縁層用)により好適に使用することができる。 The sheet-shaped laminated material of the present invention can be suitably used for forming an insulating layer of a printed wiring board (for an insulating layer of a printed wiring board), and for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board (printed). It can be more preferably used for the interlayer insulating layer of the wiring board).

[12.プリント配線板]
本発明のプリント配線板は、本発明の樹脂組成物又は本発明のシート状積層材料を熱硬化して得られた絶縁層を含む。
[12. Printed circuit board]
The printed wiring board of the present invention contains an insulating layer obtained by thermosetting the resin composition of the present invention or the sheet-like laminated material of the present invention.

一実施形態において、本発明のプリント配線板は、上述の接着フィルムを用いて、下記(I)及び(II)の工程を含む方法により製造することができる。
(I)内層基板上に、接着フィルムを、該接着フィルムの樹脂組成物層が内層基板と接合するように積層する工程
(II)樹脂組成物層を熱硬化して絶縁層を形成する工程
In one embodiment, the printed wiring board of the present invention can be manufactured by a method including the following steps (I) and (II) using the above-mentioned adhesive film.
(I) A step of laminating an adhesive film on an inner layer substrate so that the resin composition layer of the adhesive film is bonded to the inner layer substrate (II) A step of thermosetting the resin composition layer to form an insulating layer.

工程(I)で用いる「内層基板」とは、主として、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等の基板、又は該基板の片面又は両面にパターン加工された導体層(回路)が形成された回路基板をいう。またプリント配線板を製造する際に、さらに絶縁層及び導体層の少なくともいずれかが形成されるべき中間製造物の内層回路基板も本発明でいう「内層基板」に含まれる。プリント配線板が部品内蔵回路板である場合、部品を内蔵した内層基板を使用すればよい。 The "inner layer substrate" used in the step (I) is mainly a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a heat-curable polyphenylene ether substrate or the like, or one or both sides of the substrate. A circuit board on which a patterned conductor layer (circuit) is formed. Further, the "inner layer substrate" of the present invention also includes an inner layer circuit board of an intermediate product in which at least one of an insulating layer and a conductor layer should be formed when the printed wiring board is manufactured. When the printed wiring board is a circuit board with built-in components, an inner layer board with built-in components may be used.

内層基板と接着フィルムの積層は、例えば、支持体側から接着フィルムを内層基板に加熱圧着することにより行うことができる。接着フィルムを内層基板に加熱圧着する部材(以下、「加熱圧着部材」ともいう。)としては、例えば、加熱された金属板(SUS鏡板等)又は金属ロール(SUSロール)等が挙げられる。なお、加熱圧着部材を接着フィルムに直接プレスするのではなく、内層基板の表面凹凸に接着フィルムが十分に追随するよう、耐熱ゴム等の弾性材を介してプレスするのが好ましい。 Lamination of the inner layer substrate and the adhesive film can be performed, for example, by heat-pressing the adhesive film to the inner layer substrate from the support side. Examples of the member for heat-pressing the adhesive film to the inner layer substrate (hereinafter, also referred to as “heat-bonding member”) include a heated metal plate (SUS end plate or the like) or a metal roll (SUS roll). It is preferable not to press the heat-bonded member directly onto the adhesive film, but to press it through an elastic material such as heat-resistant rubber so that the adhesive film sufficiently follows the surface irregularities of the inner layer substrate.

内層基板と接着フィルムの積層は、真空ラミネート法により実施してよい。真空ラミネート法において、加熱圧着温度は、好ましくは60〜160℃、より好ましくは80〜140℃の範囲である。加熱圧着圧力は、好ましくは0.098〜1.77MPa、より好ましくは0.29〜1.47MPaの範囲である。加熱圧着時間は、好ましくは20〜400秒間、より好ましくは30〜300秒間の範囲である。積層は、好ましくは圧力26.7hPa以下の減圧条件下で実施する。 The inner layer substrate and the adhesive film may be laminated by a vacuum laminating method. In the vacuum laminating method, the heat-bonding temperature is preferably in the range of 60 to 160 ° C, more preferably 80 to 140 ° C. The heat crimping pressure is preferably in the range of 0.098 to 1.77 MPa, more preferably 0.29 to 1.47 MPa. The heat crimping time is preferably in the range of 20 to 400 seconds, more preferably 30 to 300 seconds. Lamination is preferably carried out under reduced pressure conditions at a pressure of 26.7 hPa or less.

積層は、市販の真空ラミネーターによって行うことができる。市販の真空ラミネーターとしては、例えば、名機製作所社製の真空加圧式ラミネーター、ニッコー・マテリアルズ社製のバキュームアップリケーター等が挙げられる。 Lamination can be performed by a commercially available vacuum laminator. Examples of commercially available vacuum laminators include vacuum pressurizing laminators manufactured by Meiki Co., Ltd., vacuum applicators manufactured by Nikko Materials, and the like.

積層の後に、常圧下(大気圧下)、例えば、加熱圧着部材を支持体側からプレスすることにより、積層された接着フィルムの平滑化処理を行ってもよい。平滑化処理のプレス条件は、上記積層の加熱圧着条件と同様の条件とすることができる。平滑化処理は、市販のラミネーターによって行うことができる。なお、積層と平滑化処理は、上記の市販の真空ラミネーターを用いて連続的に行ってもよい。 After laminating, the laminated adhesive film may be smoothed by pressing the heat-bonded member from the support side under normal pressure (under atmospheric pressure), for example. The press conditions for the smoothing treatment can be the same as the heat-bonding conditions for the above-mentioned lamination. The smoothing process can be performed by a commercially available laminator. The lamination and smoothing treatment may be continuously performed using the above-mentioned commercially available vacuum laminator.

支持体は、工程(I)と工程(II)の間に除去してもよく、工程(II)の後に除去してもよい。 The support may be removed between steps (I) and step (II) or after step (II).

工程(II)において、樹脂組成物層を熱硬化して絶縁層を形成する。 In step (II), the resin composition layer is thermoset to form an insulating layer.

樹脂組成物層の熱硬化条件は特に限定されず、プリント配線板の絶縁層を形成するに際して通常採用される条件を使用してよい。 The thermosetting conditions of the resin composition layer are not particularly limited, and the conditions usually adopted when forming the insulating layer of the printed wiring board may be used.

例えば、樹脂組成物層の熱硬化条件は、樹脂組成物の種類等によっても異なる。例えば、硬化温度は120〜240℃の範囲(好ましくは150〜220℃の範囲、より好ましくは170〜200℃の範囲)である。硬化時間は5〜120分間の範囲(好ましくは10〜100分間、より好ましくは15〜90分間)である。 For example, the thermosetting conditions of the resin composition layer differ depending on the type of the resin composition and the like. For example, the curing temperature is in the range of 120 to 240 ° C. (preferably in the range of 150 to 220 ° C., more preferably in the range of 170 to 200 ° C.). The curing time is in the range of 5 to 120 minutes (preferably 10 to 100 minutes, more preferably 15 to 90 minutes).

樹脂組成物層を熱硬化させる前に、樹脂組成物層を硬化温度よりも低い温度にて予備加熱してもよい。例えば、樹脂組成物層を熱硬化させるのに先立ち、50℃以上120℃未満(好ましくは60℃以上110℃以下、より好ましくは70℃以上100℃以下)の温度にて、樹脂組成物層を5分間以上(好ましくは5〜150分間、より好ましくは15〜120分間)予備加熱してもよい。 Before the resin composition layer is thermally cured, the resin composition layer may be preheated at a temperature lower than the curing temperature. For example, prior to thermosetting the resin composition layer, the resin composition layer is heated at a temperature of 50 ° C. or higher and lower than 120 ° C. (preferably 60 ° C. or higher and 110 ° C. or lower, more preferably 70 ° C. or higher and 100 ° C. or lower). Preheating may be performed for 5 minutes or longer (preferably 5 to 150 minutes, more preferably 15 to 120 minutes).

プリント配線板を製造するに際しては、(III)絶縁層に穴あけする工程、(IV)絶縁層を粗化処理する工程、(V)絶縁層表面に導体層を形成する工程をさらに実施してもよい。これらの工程(III)乃至(V)は、プリント配線板の製造に用いられる、当業者に公知の各種方法に従って実施してよい。なお、支持体を工程(II)の後に除去する場合、該支持体の除去は、工程(II)と工程(III)との間、工程(III)と工程(IV)の間、又は工程(IV)と工程(V)との間に実施してよい。 When manufacturing a printed wiring board, even if (III) a step of drilling a hole in the insulating layer, (IV) a step of roughening the insulating layer, and (V) a step of forming a conductor layer on the surface of the insulating layer are further carried out. Good. These steps (III) to (V) may be carried out according to various methods known to those skilled in the art used for manufacturing a printed wiring board. When the support is removed after the step (II), the removal of the support is performed between the steps (II) and the step (III), between the steps (III) and the step (IV), or the step ( It may be carried out between IV) and step (V).

他の実施形態において、本発明のプリント配線板は、上述のプリプレグを用いて製造することができる。製造方法は基本的に接着フィルムを用いる場合と同様である。 In another embodiment, the printed wiring board of the present invention can be manufactured using the prepreg described above. The manufacturing method is basically the same as when an adhesive film is used.

工程(III)は、絶縁層に穴あけする工程であり、これにより絶縁層にビアホール、スルーホール等のホールを形成することができる。工程(III)は、絶縁層の形成に使用した樹脂組成物の組成等に応じて、例えば、ドリル、レーザー、プラズマを使用して実施してよい。ホールの寸法や形状は、プリント配線板のデザインに応じて適宜決定してよい。 The step (III) is a step of drilling holes in the insulating layer, whereby holes such as via holes and through holes can be formed in the insulating layer. The step (III) may be carried out by using, for example, a drill, a laser, or a plasma, depending on the composition of the resin composition used for forming the insulating layer and the like. The size and shape of the hole may be appropriately determined according to the design of the printed wiring board.

工程(IV)は、絶縁層を粗化処理する工程である。粗化処理の手順、条件は特に限定されず、プリント配線板の絶縁層を形成するに際して通常使用される公知の手順、条件を採用することができる。例えば、膨潤液による膨潤処理、酸化剤による粗化処理、中和液による中和処理をこの順に実施して絶縁層を粗化処理することができる。 Step (IV) is a step of roughening the insulating layer. The procedure and conditions of the roughening treatment are not particularly limited, and known procedures and conditions usually used when forming the insulating layer of the printed wiring board can be adopted. For example, the insulating layer can be roughened by performing a swelling treatment with a swelling liquid, a roughening treatment with an oxidizing agent, and a neutralization treatment with a neutralizing liquid in this order.

膨潤液としては特に限定されない。例えば、アルカリ溶液、界面活性剤溶液が挙げられる。好ましくはアルカリ溶液であり、該アルカリ溶液としては、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液がより好ましい。市販されている膨潤液としては、例えば、アトテックジャパン社製の「スウェリング・ディップ・セキュリガンスP」、「スウェリング・ディップ・セキュリガンスSBU」が挙げられる。膨潤液による膨潤処理は、特に限定されない。例えば、30〜90℃の膨潤液に絶縁層を1〜20分間浸漬することにより行うことができる。絶縁層の樹脂の膨潤を適度なレベルに抑える観点から、40〜80℃の膨潤液に硬化体を5〜15分間浸漬することが好ましい。 The swelling liquid is not particularly limited. For example, an alkaline solution and a surfactant solution can be mentioned. An alkaline solution is preferable, and as the alkaline solution, a sodium hydroxide solution and a potassium hydroxide solution are more preferable. Examples of commercially available swelling liquids include "Swelling Dip Security SBU" and "Swelling Dip Security SBU" manufactured by Atotech Japan. The swelling treatment with the swelling liquid is not particularly limited. For example, it can be carried out by immersing the insulating layer in a swelling liquid at 30 to 90 ° C. for 1 to 20 minutes. From the viewpoint of suppressing the swelling of the resin of the insulating layer to an appropriate level, it is preferable to immerse the cured product in a swelling solution at 40 to 80 ° C. for 5 to 15 minutes.

酸化剤としては、特に限定されない。例えば、水酸化ナトリウムの水溶液に過マンガン酸カリウムや過マンガン酸ナトリウムを溶解したアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。アルカリ性過マンガン酸溶液等の酸化剤による粗化処理は、60〜80℃に加熱した酸化剤溶液に絶縁層を10〜30分間浸漬して行うことが好ましい。また、アルカリ性過マンガン酸溶液における過マンガン酸塩の濃度は5〜10質量%が好ましい。市販されている酸化剤としては、例えば、アトテックジャパン社製の「コンセントレート・コンパクトCP」、「ドージングソリューション・セキュリガンスP」等のアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。また、中和液としては、酸性の水溶液が好ましく、市販品としては、例えば、アトテックジャパン社製の「リダクションソリューション・セキュリガントP」が挙げられる。 The oxidizing agent is not particularly limited. For example, an alkaline permanganate solution in which potassium permanganate or sodium permanganate is dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide can be mentioned. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganate solution is preferably carried out by immersing the insulating layer in the oxidizing agent solution heated to 60 to 80 ° C. for 10 to 30 minutes. The concentration of permanganate in the alkaline permanganate solution is preferably 5 to 10% by mass. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganate solutions such as "Concentrate Compact CP" and "Dosing Solution Security P" manufactured by Atotech Japan. Further, the neutralizing solution is preferably an acidic aqueous solution, and examples of commercially available products include "Reduction Solution Securigant P" manufactured by Atotech Japan.

中和液による処理は、酸化剤による粗化処理がなされた処理面を30〜80℃の中和液に5〜30分間浸漬することにより行うことができる。作業性等の点から、酸化剤による粗化処理がなされた対象物を、40〜70℃の中和液に5〜20分間浸漬する方法が好ましい。 The treatment with the neutralizing solution can be carried out by immersing the treated surface that has been roughened with the oxidizing agent in the neutralizing solution at 30 to 80 ° C. for 5 to 30 minutes. From the viewpoint of workability and the like, a method of immersing the object roughened with an oxidizing agent in a neutralizing solution at 40 to 70 ° C. for 5 to 20 minutes is preferable.

工程(V)は、導体層を形成する工程である。 Step (V) is a step of forming a conductor layer.

導体層に使用する導体材料は特に限定されない。好適な実施形態では、導体層は、金、白金、パラジウム、銀、銅、アルミニウム、コバルト、クロム、亜鉛、ニッケル、チタン、タングステン、鉄、スズ及びインジウムからなる群から選択される1種以上の金属を含む。導体層は、単金属層であっても合金層であってもよく、合金層としては、例えば、上記の群から選択される2種以上の金属の合金(例えば、ニッケル・クロム合金、銅・ニッケル合金及び銅・チタン合金)から形成された層が挙げられる。中でも、導体層形成の汎用性、コスト、パターニングの容易性等の観点から、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅の単金属層、又はニッケル・クロム合金、銅・ニッケル合金、銅・チタン合金の合金層が好ましく、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅の単金属層、又はニッケル・クロム合金の合金層がより好ましく、銅の単金属層が更に好ましい。 The conductor material used for the conductor layer is not particularly limited. In a preferred embodiment, the conductor layer is one or more selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. Contains metal. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer, and the alloy layer may be, for example, an alloy of two or more metals selected from the above group (for example, nickel-chromium alloy, copper, etc.). A layer formed from a nickel alloy and a copper / titanium alloy) can be mentioned. Among them, from the viewpoint of versatility of conductor layer formation, cost, ease of patterning, etc., a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or a nickel-chromium alloy, copper, etc. An alloy layer of a nickel alloy or a copper-titanium alloy is preferable, and a monometal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy is more preferable, and a single copper is preferable. A metal layer is more preferred.

導体層は、単層構造であってもよく、異なる種類の金属若しくは合金からなる単金属層又は合金層が2層以上積層した複層構造であってもよい。導体層が複層構造である場合、絶縁層と接する層は、クロム、亜鉛若しくはチタンの単金属層、又はニッケル・クロム合金の合金層であることが好ましい。 The conductor layer may have a single-layer structure, or may have a single-metal layer made of different types of metals or alloys, or a multi-layer structure in which two or more alloy layers are laminated. When the conductor layer has a multi-layer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy.

導体層の厚さは、所望のプリント配線板のデザインによるが、一般に3〜35μmであり、好ましくは5〜30μmである。 The thickness of the conductor layer is generally 3 to 35 μm, preferably 5 to 30 μm, depending on the desired printed wiring board design.

一実施形態において、導体層は、メッキにより形成してよい。例えば、セミアディティブ法、フルアディティブ法等の従来公知の技術により絶縁層の表面にメッキして、所望の配線パターンを有する導体層を形成することができる。 In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, the surface of the insulating layer can be plated by a conventionally known technique such as a semi-additive method or a full-additive method to form a conductor layer having a desired wiring pattern.

他の実施形態において、導体層は、金属箔を使用して形成してよい。金属箔を使用して導体層を形成する場合、工程(V)は、工程(I)と工程(II)の間に実施することが好適である。例えば、工程(I)の後、支持体を除去し、露出した樹脂組成物層の表面に金属箔を積層する。樹脂組成物層と金属箔との積層は、真空ラミネート法により実施してよい。積層の条件は、工程(I)について説明した条件と同様としてよい。次いで、工程(II)を実施して絶縁層を形成する。その後、絶縁層上の金属箔を利用して、サブトラクティブ法、モディファイドセミアディティブ法等の従来の公知の技術により、所望の配線パターンを有する導体層を形成することができる。 In other embodiments, the conductor layer may be formed using metal foil. When the conductor layer is formed using the metal foil, the step (V) is preferably carried out between the steps (I) and the steps (II). For example, after step (I), the support is removed and a metal foil is laminated on the surface of the exposed resin composition layer. Lamination of the resin composition layer and the metal foil may be carried out by a vacuum laminating method. The laminating conditions may be the same as the conditions described for step (I). Then, step (II) is carried out to form an insulating layer. After that, the metal foil on the insulating layer can be used to form a conductor layer having a desired wiring pattern by a conventionally known technique such as a subtractive method or a modified semi-additive method.

金属箔は、例えば、電解法、圧延法等の公知の方法により製造することができる。金属箔の市販品としては、例えば、JX日鉱日石金属社製のHLP箔、JXUT−III箔、三井金属鉱山社製の3EC−III箔、TP−III箔等が挙げられる。 The metal foil can be produced by a known method such as an electrolysis method or a rolling method. Examples of commercially available metal foils include HLP foils and JXUT-III foils manufactured by JX Nippon Mining & Metals Co., Ltd., 3EC-III foils and TP-III foils manufactured by Mitsui Mining & Smelting Co., Ltd.

(A)成分、(B)成分、及び(C)成分を組み合わせて含む本発明の樹脂組成物を使用してプリント配線板を製造する場合、導体層をメッキにより形成するか金属箔を使用して形成するかの別を問わず、導体層と絶縁層との密着性を著しく向上させることができる。 When a printed wiring board is manufactured using the resin composition of the present invention containing a combination of the component (A), the component (B), and the component (C), the conductor layer is formed by plating or a metal foil is used. Regardless of whether it is formed or not, the adhesion between the conductor layer and the insulating layer can be remarkably improved.

[13.半導体装置]
本発明の半導体装置は、本発明のプリント配線板を含む。
[13. Semiconductor device]
The semiconductor device of the present invention includes the printed wiring board of the present invention.

半導体装置としては、電気製品(例えば、コンピューター、携帯電話、デジタルカメラ及びテレビ等)及び乗物(例えば、自動二輪車、自動車、電車、船舶及び航空機等)等に供される各種半導体装置が挙げられる。 Examples of semiconductor devices include various semiconductor devices used in electric products (for example, computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (for example, motorcycles, automobiles, trains, ships, aircraft, etc.).

本発明の半導体装置は、プリント配線板の導通箇所に、部品(半導体チップ)を実装することにより製造することができる。「導通箇所」とは、「プリント配線板における電気信号を伝える箇所」であって、その場所は表面であっても、埋め込まれた箇所であってもいずれでも構わない。また、半導体チップは半導体を材料とする電気回路素子であれば特に限定されない。 The semiconductor device of the present invention can be manufactured by mounting a component (semiconductor chip) on a conductive portion of a printed wiring board. The "conduction point" is a "place for transmitting an electric signal in the printed wiring board", and the place may be a surface or an embedded place. Further, the semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor.

本発明の半導体装置を製造する際の半導体チップの実装方法は、半導体チップが有効に機能しさえすれば、特に限定されない。例えば、ワイヤボンディング実装方法、フリップチップ実装方法、バンプなしビルドアップ層(BBUL)による実装方法、異方性導電フィルム(ACF)による実装方法、非導電性フィルム(NCF)による実装方法が挙げられる。ここで、「バンプなしビルドアップ層(BBUL)による実装方法」とは、「半導体チップをプリント配線板の凹部に直接埋め込み、半導体チップとプリント配線板上の配線とを接続させる実装方法」のことである。 The mounting method of the semiconductor chip in manufacturing the semiconductor device of the present invention is not particularly limited as long as the semiconductor chip functions effectively. For example, a wire bonding mounting method, a flip chip mounting method, a bumpless build-up layer (BBUL) mounting method, an anisotropic conductive film (ACF) mounting method, and a non-conductive film (NCF) mounting method can be mentioned. Here, the "mounting method using the bumpless build-up layer (BBUL)" means "a mounting method in which the semiconductor chip is directly embedded in the recess of the printed wiring board and the semiconductor chip is connected to the wiring on the printed wiring board". Is.

以下、本発明について、実施例を示して具体的に説明する。ただし、本発明は、以下に示す実施例に限定されるものでは無い。以下の説明において、量を表す「部」及び「%」は、別に断らない限り、質量基準である。 Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to examples. However, the present invention is not limited to the examples shown below. In the following description, "parts" and "%" representing quantities are based on mass unless otherwise specified.

<実施例1>
ビキシレノール型エポキシ樹脂(三菱化学社製「YX4000HK」、エポキシ当量約185)25部、ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学社製「828US」、エポキシ当量約180)10部をソルベントナフサ25部に撹拌しながら加熱溶解し、その後室温にまで冷却した。無機充填材(アドマテックス社製「SO−C2」、平均粒径0.5μm、単位表面積当たりのカーボン量0.38mg/m)315部を混合し、3本ロールで混練し分散させた。そこへ、ビニル基を有する活性エステル系硬化剤(エア・ウォーター社製「PC1300−02−65MA」、活性基当量約199の不揮発分65%のメチルアミルケトン溶液)69.2部、ビニル基を有する樹脂(三菱瓦斯化学社製「OPE−2St 1200」、不揮発分60%のトルエン溶液)25部、インデンクマロン樹脂(日塗化学製「H−100」)15部、硬化促進剤として4−ジメチルアミノピリジン(DMAP)の5%のMEK溶液2部及びジクミルパーオキサイド(日油社製「パークミル D」)0.13部を混合し、回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニス1を作製した。
<Example 1>
Stir 25 parts of bixilenol type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "YX4000HK", epoxy equivalent about 185) and 10 parts of bisphenol A type epoxy resin (Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "828US", epoxy equivalent about 180) to 25 parts of solvent naphtha. While heating and dissolving, it was then cooled to room temperature. 315 parts of an inorganic filler (“SO-C2” manufactured by Admatex Co., Ltd., average particle size 0.5 μm, carbon amount 0.38 mg / m 2 per unit surface area) was mixed, and kneaded and dispersed by three rolls. There, 69.2 parts of an active ester-based curing agent having a vinyl group (“PC1300-02-65MA” manufactured by Air Water Co., Ltd., a methylamylketone solution having an active group equivalent of about 199 and a non-volatile content of 65%) and a vinyl group were added. 25 parts of resin ("OPE-2St 1200" manufactured by Mitsubishi Gas Chemicals Co., Ltd., toluene solution with 60% non-volatile content), 15 parts of indenkumaron resin ("H-100" manufactured by Nikko Chemical Co., Ltd.), 4-as a curing accelerator Mix 2 parts of a 5% MEK solution of dimethylaminopyridine (DMAP) and 0.13 part of dicumyl peroxide (“Park Mill D” manufactured by Nichiyu Co., Ltd.) and uniformly disperse with a rotary mixer to obtain resin varnish 1. Made.

樹脂ワニス1を、アルキド系離型処理付きポリエチレンテレフタレートフィルム(リンテック社製「AL−5」、厚さ38μm)の離型面上に、乾燥後の樹脂組成物層の厚みが40μmとなるようにダイコーターにて均一に塗布し、80〜110℃(平均95℃)で5分間乾燥し、接着フィルム1を作製した。 The resin varnish 1 is placed on a mold release surface of a polyethylene terephthalate film (“AL-5” manufactured by Lintec Co., Ltd., thickness 38 μm) with an alkyd-based mold release treatment so that the thickness of the resin composition layer after drying is 40 μm. The film was uniformly applied with a die coater and dried at 80 to 110 ° C. (95 ° C. on average) for 5 minutes to prepare an adhesive film 1.

<実施例2>
実施例1において、ビニル基を有する活性エステル系硬化剤(エア・ウォーター社製「PC1300−02−65MA」、活性基当量約199の不揮発分65%のメチルアミルケトン溶液)69.2部中30.8部を活性エステル系硬化剤(DIC者製「HPC−8000−65T」、活性基当量約223の不揮発分65%のトルエン溶液)30.8部に変更した。以上の事項以外は実施例1と同様にして樹脂ワニス2及び接着フィルム2を作製した。
<Example 2>
In Example 1, an active ester-based curing agent having a vinyl group (“PC1300-02-65MA” manufactured by Air Water Co., Ltd., a methylamylketone solution having an active group equivalent of about 199 and a non-volatile content of 65%) in 69.2 parts was 30 parts. .8 parts was changed to 30.8 parts of an active ester-based curing agent (“HPC-8000-65T” manufactured by DIC, a toluene solution having an active group equivalent of about 223 and a non-volatile content of 65%). A resin varnish 2 and an adhesive film 2 were produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<実施例3>
実施例1において、ビキシレノール型エポキシ樹脂(三菱化学社製「YX4000HK」、エポキシ当量約185)25部中5部をビニル基を有する樹脂(三菱瓦斯化学社製「OPE−2St 1200」、不揮発分60%のトルエン溶液)8.3部に変更した。以上の事項以外は実施例1と同様にして樹脂ワニス3及び接着フィルム3を作製した。
<Example 3>
In Example 1, a resin having a vinyl group ("OPE-2St 1200" manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc.) in which 5 out of 25 parts of a bixylenol type epoxy resin ("YX4000HK" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, epoxy equivalent of about 185) is a non-volatile component. 60% toluene solution) 8.3 parts. A resin varnish 3 and an adhesive film 3 were produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<実施例4>
実施例1において、ビニル基を有する樹脂(三菱瓦斯化学社製「OPE−2St 1200」、不揮発分60%のトルエン溶液)25部をジオキサンアクリルモノマー(新中村化学工業社製「A−DOG」)15部に変更した。以上の事項以外は実施例1と同様にして樹脂ワニス4及び接着フィルム4を作製した。
<Example 4>
In Example 1, 25 parts of a resin having a vinyl group (“OPE-2St 1200” manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, a toluene solution having a non-volatile content of 60%) was added to a dioxane acrylic monomer (“A-DOG” manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.). Changed to 15 copies. A resin varnish 4 and an adhesive film 4 were produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<比較例1>
実施例1において、ビニル基を有する活性エステル系硬化剤(エア・ウォーター社製「PC1300−02−65MA」、活性基当量約199の不揮発分65%のメチルアミルケトン溶液)を活性エステル系硬化剤(DIC社製「HPC−8000−65T」、活性基当量約223の不揮発分65%のトルエン溶液)に変更した。以上の事項以外は実施例1と同様にして樹脂ワニス5及び接着フィルム5を作製した。
<Comparative example 1>
In Example 1, an active ester-based curing agent having a vinyl group (“PC1300-02-65MA” manufactured by Air Water Co., Ltd., a methylamyl ketone solution having an active group equivalent of about 199 and a non-volatile content of 65%) was used as an active ester-based curing agent. ("HPC-8000-65T" manufactured by DIC, a toluene solution having an active group equivalent of about 223 and a non-volatile content of 65%) was changed. A resin varnish 5 and an adhesive film 5 were produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<比較例2>
実施例1において、ビニル基を有する活性エステル系硬化剤(エア・ウォーター社製「PC1300−02−65MA」、活性基当量約199の不揮発分65%のメチルアミルケトン溶液)を活性エステル系硬化剤(DIC社製「EXB−8000L−65TM」、活性基当量約220の不揮発分65%のトルエン溶液)に変更した。以上の事項以外は実施例1と同様にして樹脂ワニス6及び接着フィルム6を作製した。
<Comparative example 2>
In Example 1, an active ester-based curing agent having a vinyl group (“PC1300-02-65MA” manufactured by Air Water Co., Ltd., a methylamyl ketone solution having an active group equivalent of about 199 and a non-volatile content of 65%) was used as an active ester-based curing agent. ("EXB-8000L-65TM" manufactured by DIC, a toluene solution having an active group equivalent of about 220 and a non-volatile content of 65%) was changed. A resin varnish 6 and an adhesive film 6 were produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<比較例3>
実施例1において、ビニル基を有する活性エステル系硬化剤(エア・ウォーター社製「PC1300−02−65MA」、活性基当量約199の不揮発分65%のメチルアミルケトン溶液)69.2部を活性エステル系硬化剤(DIC社製「EXB−9416L−70BK」、活性基当量約330の不揮発分70%のトルエン溶液)64.3部に変更した。以上の事項以外は実施例1と同様にして樹脂ワニス7及び接着フィルム7を作製した。
<Comparative example 3>
In Example 1, 69.2 parts of an active ester-based curing agent having a vinyl group (“PC1300-02-65MA” manufactured by Air Water Co., Ltd., a methylamylketone solution having an active group equivalent of about 199 and a non-volatile content of 65%) was activated. The ester-based curing agent (“EXB-9416L-70BK” manufactured by DIC, a toluene solution having an active group equivalent of about 330 and a non-volatile content of 70%) was changed to 64.3 parts. A resin varnish 7 and an adhesive film 7 were produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

[評価方法]
上述した実施例及び比較例で得た接着フィルムを、下記の方法によって評価した。
[Evaluation methods]
The adhesive films obtained in the above-mentioned Examples and Comparative Examples were evaluated by the following methods.

<硬化物性評価用サンプルの作製>
実施例及び比較例で得た接着フィルムを190℃で90分間熱硬化させ、支持体のPETを剥離することによりシート状の硬化物評価用サンプルを作製した。
<Preparation of sample for evaluation of cured physical properties>
The adhesive films obtained in Examples and Comparative Examples were heat-cured at 190 ° C. for 90 minutes, and the PET of the support was peeled off to prepare a sheet-shaped sample for evaluation of the cured product.

<誘電正接の測定>
硬化物性評価用サンプルから、幅2mm、長さ80mmの試験片を切り取った。切り出した試験片について、アジレントテクノロジーズ(Agilent Technologies)社製の測定装置「HP8362B」を用いて、空洞共振摂動法により、測定周波数5.8GHz、測定温度23℃にて誘電正接を測定した。
なお、0.0035以下である場合を「優」と評価し、0.0037以下である場合を「良」と評価し、0.0037超である場合を「不良」と評価した。
<Measurement of dielectric loss tangent>
A test piece having a width of 2 mm and a length of 80 mm was cut out from the sample for evaluation of cured physical properties. The cut out test piece was measured for dielectric positive contact at a measurement frequency of 5.8 GHz and a measurement temperature of 23 ° C. by a cavity resonance perturbation method using a measuring device “HP8362B” manufactured by Agilent Technologies.
A case of 0.0035 or less was evaluated as "excellent", a case of 0.0037 or less was evaluated as "good", and a case of more than 0.0037 was evaluated as "poor".

<ガラス転移温度の測定>
硬化物性評価用サンプルを、幅約5mm、長さ約15mmの試験片に切断し、熱機械分析装置(リガク社製「Thermo Plus TMA8310」)を使用して、引張加重法にて熱機械分析を行った。詳細には、試験片を前記熱機械分析装置に装着した後、荷重1g、昇温速度5℃/分の測定条件にて連続して2回測定した。そして2回目の測定において、ガラス転移温度(Tg;℃)を算出した。
なお、138℃超である場合を「良」と評価し、138℃以下である場合を「不良」と評価した。
<Measurement of glass transition temperature>
A sample for evaluation of cured physical properties is cut into test pieces having a width of about 5 mm and a length of about 15 mm, and thermomechanical analysis is performed by a tensile weighting method using a thermomechanical analyzer (“Thermo Plus TMA8310” manufactured by Rigaku Corporation). went. Specifically, after the test piece was attached to the thermomechanical analyzer, measurements were taken twice in succession under the measurement conditions of a load of 1 g and a heating rate of 5 ° C./min. Then, in the second measurement, the glass transition temperature (Tg; ° C.) was calculated.
When the temperature was higher than 138 ° C, it was evaluated as “good”, and when it was lower than 138 ° C, it was evaluated as “bad”.

<密着性の測定>
(1)銅箔の下地処理
三井金属鉱山社製「3EC−III」(電界銅箔、35μm)の光沢面をメック社製メックエッチボンド「CZ−8101」に浸漬して銅表面に粗化処理(Ra値=1μm)を行い、防錆処理(CL8300)を施した。この銅箔をCZ銅箔という。さらに、130℃のオーブンで30分間加熱処理した。
<Measurement of adhesion>
(1) Base treatment of copper foil The glossy surface of "3EC-III" (electric field copper foil, 35 μm) manufactured by Mitsui Metal Mining Co., Ltd. is immersed in Mech Etch Bond "CZ-8101" manufactured by Mech Co., Ltd. to roughen the copper surface. (Ra value = 1 μm) was performed, and a rust preventive treatment (CL8300) was applied. This copper foil is called CZ copper foil. Further, it was heat-treated in an oven at 130 ° C. for 30 minutes.

(2)銅箔のラミネートと絶縁層形成
実施例及び比較例で作製した接着フィルムを、バッチ式真空加圧ラミネーター(名機社製「MVLP-500」)を用いて、樹脂組成物層が内層回路基板と接合するように、内層回路基板の両面にラミネート処理した。ラミネート処理は、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とした後、100℃、圧力0.74MPaで30秒間圧着することにより行った。ラミネート処理された接着フィルムから支持体であるPETフィルムを剥離した。その樹脂組成物層上に、「3EC−III」のCZ銅箔の処理面を、上記と同様の条件で、ラミネートした。そして、190℃、90分の硬化条件で樹脂組成物層を硬化して絶縁層を形成することで、サンプルを作製した。
(2) Lamination of Copper Foil and Formation of Insulation Layer The adhesive film produced in Examples and Comparative Examples is subjected to a resin composition layer as an inner layer using a batch type vacuum pressure laminator (“MVLP-500” manufactured by Meiki Co., Ltd.). Both sides of the inner layer circuit board were laminated so as to be bonded to the circuit board. The laminating treatment was carried out by reducing the pressure for 30 seconds to reduce the atmospheric pressure to 13 hPa or less, and then crimping at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds. The PET film as a support was peeled off from the laminated adhesive film. The treated surface of the CZ copper foil of "3EC-III" was laminated on the resin composition layer under the same conditions as described above. Then, a sample was prepared by curing the resin composition layer under curing conditions of 190 ° C. for 90 minutes to form an insulating layer.

(3)銅箔引き剥がし強さ(密着性)の測定
作製したサンプルを150×30mmの小片に切断した。小片の銅箔部分に、カッターを用いて幅10mm、長さ100mmの部分の切込みをいれて、銅箔の一端を剥がしてつかみ具(ティー・エス・イー社製、オートコム型試験機、「AC−50C−SL」)で掴み、インストロン万能試験機を用いて、室温中にて、50mm/分の速度で垂直方向に35mmを引き剥がした時の荷重をJIS C6481に準拠して測定し、「密着性」とした。
なお、0.3kgf/cm超である場合を「良」と評価し、0.3kgf/cm以下である場合を「不良」と評価した。
(3) Measurement of Copper Foil Peeling Strength (Adhesion) The prepared sample was cut into small pieces of 150 × 30 mm. Use a cutter to make a notch in a small piece of copper foil with a width of 10 mm and a length of 100 mm, peel off one end of the copper foil, and use a gripper (manufactured by JIS, Autocom type testing machine, " AC-50C-SL "), and using an Instron universal tester, measure the load when 35 mm is peeled off vertically at a speed of 50 mm / min at room temperature in accordance with JIS C6481. , "Adhesion".
The case of more than 0.3 kgf / cm was evaluated as "good", and the case of less than 0.3 kgf / cm was evaluated as "poor".

<結果>
上述した実施例及び比較例の結果を、下記の表に示す。下記の表において、略称の意味は、下記のとおりである。
YX4000HK:ビキシレノール型エポキシ樹脂(三菱化学社製「YX4000HK」)
828US:ビスフェノールA型エポキシ樹脂(三菱化学社製「828US」)
PC1300−02:ビニル基を有する活性エステル系硬化剤(エア・ウォーター社製「PC1300−02−65MA」)
HPC−8000:活性エステル系硬化剤(DIC社製「HPC−8000−65T」)
EXB−8000L:活性エステル系硬化剤(DIC社製「EXB−8000L−65TM」)
EXB−9416:活性エステル系硬化剤(DIC社製「EXB−9416L−70BK」)
OPE−2St 1200:ビニル基を有する樹脂(三菱瓦斯化学社製「OPE−2St 1200」)
A−DOG:ジオキサンアクリルモノマー(新中村化学工業社製「A−DOG」)
H−100:インデンクマロン樹脂(日塗化学製「H−100」)
SOC2:球状シリカ(アドマテックス社製「SO−C2」)
パークミル D:ジクミルパーオキサイド(日油社製「パークミル D」)
DMAP:4−ジメチルアミノピリジン
なお、表中、配合量は固形分換算値である。
<Result>
The results of the above-mentioned Examples and Comparative Examples are shown in the table below. In the table below, the meanings of the abbreviations are as follows.
YX4000HK: Bixylenol type epoxy resin ("YX4000HK" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation)
828US: Bisphenol A type epoxy resin ("828US" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation)
PC1300-02: Active ester-based curing agent having a vinyl group (“PC1300-02-65MA” manufactured by Air Water Inc.)
HPC-8000: Active ester-based curing agent ("HPC-8000-65T" manufactured by DIC Corporation)
EXB-8000L: Active ester-based curing agent ("EXB-8000L-65TM" manufactured by DIC Corporation)
EXB-9416: Active ester-based curing agent ("EXB-9416L-70BK" manufactured by DIC Corporation)
OPE-2St 1200: Resin having a vinyl group ("OPE-2St 1200" manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc.)
A-DOG: Dioxane acrylic monomer ("A-DOG" manufactured by Shin-Nakamura Chemical Industry Co., Ltd.)
H-100: Indenkumaron resin (Nippon Kagaku "H-100")
SOC2: Spherical silica ("SO-C2" manufactured by Admatex)
Park Mill D: Dikmil Peroxide (NOF Corporation "Park Mill D")
DMAP: 4-Dimethylaminopyridine In the table, the blending amount is a solid content conversion value.

Figure 0006776749
Figure 0006776749

[検討]
活性エステル系硬化剤を用いた比較例1〜3は、ガラス転移温度、及び密着性に劣る。特に、比較例3で用いたナフタレン構造を含む活性エステル系硬化剤では、誘電正接も僅かに劣るものであった。
これに対して、(B)成分を用いた実施例1〜4は、誘電正接の値を低く維持したまましたまま、ガラス転移温度を高くし、且つ、良好な密着性を示した。よって、これら実施例1〜4、比較例1〜3の結果から、(A)成分、(B)成分、及び(C)成分を組み合わせることによって、誘電正接が低く、ガラス転移温度が高く、導電層との密着性の良好な絶縁層を得ることができる樹脂組成物を実現できることが確認された。
[Consideration]
Comparative Examples 1 to 3 using the active ester-based curing agent are inferior in the glass transition temperature and the adhesion. In particular, the active ester-based curing agent containing a naphthalene structure used in Comparative Example 3 was slightly inferior in dielectric loss tangent.
On the other hand, in Examples 1 to 4 using the component (B), the glass transition temperature was raised and good adhesion was shown while maintaining the value of the dielectric loss tangent low. Therefore, from the results of Examples 1 to 4 and Comparative Examples 1 to 3, by combining the components (A), (B), and (C), the dielectric loss tangent is low, the glass transition temperature is high, and the conductivity is high. It was confirmed that a resin composition capable of obtaining an insulating layer having good adhesion to the layer can be realized.

Claims (8)

(A)エポキシ樹脂、(B)炭素−炭素不飽和結合を有する活性エステル化合物、及び(C)不飽和炭化水素基を有する樹脂を含有し、
前記(A)成分の含有量が、樹脂成分を100質量%とした場合、10〜50質量%であり、
前記(C)成分の含有量が、樹脂成分を100質量%とした場合、3〜30質量%であり、
前記(B)成分が、スチリル基を有する活性エステル化合物である樹脂組成物。
It contains (A) an epoxy resin, (B) an active ester compound having a carbon-carbon unsaturated bond, and (C) a resin having an unsaturated hydrocarbon group.
The content of the component (A) is 10 to 50% by mass when the resin component is 100% by mass.
The content of the component (C) is 3 to 30% by mass when the resin component is 100% by mass.
A resin composition in which the component (B) is an active ester compound having a styryl group.
前記(B)成分の含有量が、樹脂成分を100質量%とした場合、10〜60質量%である請求項1に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to claim 1, wherein the content of the component (B) is 10 to 60% by mass when the resin component is 100% by mass. 前記(B)成分が、下記一般式(1)で表される化合物を含む請求項1又は2に記載の樹脂組成物。
Figure 0006776749
(前記一般式(1)中、mは1〜6の整数を表し、nは1〜20の整数を表す。)
The resin composition according to claim 1 or 2 , wherein the component (B) contains a compound represented by the following general formula (1).
Figure 0006776749
(In the general formula (1), m represents an integer of 1 to 6 and n represents an integer of 1 to 20.)
前記(C)成分が、アクリル基、メタクリル基、スチリル基、又はオレフィン基を有する樹脂である請求項1〜のいずれか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 3 , wherein the component (C) is a resin having an acrylic group, a methacrylic group, a styryl group, or an olefin group. プリント配線板の絶縁層形成用である請求項1〜のいずれか1項に記載の樹脂組成物。 The resin composition according to any one of claims 1 to 4 , which is used for forming an insulating layer of a printed wiring board. 請求項1〜のいずれか1項に記載の樹脂組成物を含む、シート状積層材料。 A sheet-like laminated material containing the resin composition according to any one of claims 1 to 5 . 請求項1〜のいずれか1項に記載の樹脂組成物の硬化物により形成された絶縁層を含む、プリント配線板。 A printed wiring board including an insulating layer formed of a cured product of the resin composition according to any one of claims 1 to 5 . 請求項に記載のプリント配線板を含む、半導体装置。 A semiconductor device including the printed wiring board according to claim 7 .
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