KR102038454B1 - A device for measuring the device value and size of a chip - Google Patents

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KR102038454B1
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김경우
강상석
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주식회사 시스다인
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Abstract

The present invention relates to an element measuring device, capable of accurately obtaining an element size and an element characteristic value, which comprises: a frame (100) having a measuring unit (300) provided therein; a V-contactor (110) provided adjacent to one side of the measuring unit (300); a contactor unit (120) provided in a state of being fixed to the frame to face the V-contactor (110); a linear motor (130); and a control device (140) for controlling an operation of the linear motor.

Description

소자 측정 장치.{A device for measuring the device value and size of a chip}{A device for measuring the device value and size of a chip}

본 발명은 소자 측정 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 기판에 장착되는 소자의 소자 특성 값 이외에도 소자의 크기 및 형상을 판별할 수 있는 측정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a device measuring device, and more particularly to a measuring device that can determine the size and shape of the device in addition to the device characteristic value of the device mounted on the substrate.

반도체 소자(Semiconductor Devices)는 전기 전도 특성을 이용한 전자 회로/장치에 주로 사용되는 부품이다.Semiconductor devices are components mainly used in electronic circuits / devices using electrical conduction characteristics.

일 예로 컴퓨터의 CPU가 대표적이며 그 밖에 모바일 기기, 가전, 자동차, 산업용 전자기기, 스토리지, 방송 통신, 에너지, 의료, 환경 등에서 연산, 제어, 전송, 변환 기능을 수행하는 전자 소자를 포함한다.For example, a CPU of a computer is representative and other electronic devices that perform calculation, control, transmission, and conversion functions in mobile devices, home appliances, automobiles, industrial electronics, storage, broadcast communication, energy, medical, and environment.

근래에는 상기 전기 소자의 성능도 고도화되어 1개의 기판 위에 수백만 개의 트랜지스터가 집적되는 수준까지 발전했으며 기억용량도 칩 1개에 원고지 수십만 장 분량이 입력될 만큼 방대하다.In recent years, the performance of the electric devices has also been advanced to the level where millions of transistors are integrated on one substrate, and the storage capacity is enormous enough to input hundreds of thousands of originals into one chip.

반도체 주력 시장이 PC 위주에서 모바일 제품, 융복합 가전, 시스템 반도체로의 변화에 따라 전자 제품의 다기능화 추세에 부합 할 수 있도록 반도체 공정의 미세화, 소형화, 고집적화가 대응이 가능한 패키지 개발에 대한 수요가 증가하고 있어 반도체의 소형화는 반도체 산업의 주요 트렌드로 지속될 것으로 예상된다.As the semiconductor market shifts from PC-oriented to mobile products, convergence appliances, and system semiconductors, there is a demand for the development of packages capable of miniaturization, miniaturization, and high integration of semiconductor processes to meet the trend of multifunctionalization of electronic products. Increasingly, miniaturization of semiconductors is expected to continue as a major trend in the semiconductor industry.

이와 같은 전기 소자를 제조한 후에는 그에 따른 전기적 특성 검사를 진행하게 되는데, 현존하는 장비의 일 예로 국내 특허 제 10-2013-0117847호에 의하면 소자의 소자 특성 값을 직접 측정하는 소자데이터 측정 유닛;이 구비된 실장 창치를 제공하고 있다.After the manufacture of such an electrical device, the electrical properties are inspected accordingly. According to one example of existing equipment, a device data measuring unit for directly measuring device property values of devices according to Korean Patent No. 10-2013-0117847; This provided mounting fixture is provided.

그러나 상기와 같은 소자 측정 장치는 소자 특성 값을 측정하기 위해 소자를 위치시키는 플레이트 형상의 지지부재로부터 상기 소자가 이탈될 수 있으며, 또한 상기 소자가 이탈되더라도 상기 소자의 존재유무를 파악할 수 없을 뿐만 아니라 소자의 크기를 측정하기 어렵다는 점에서 기존에 알려지지 않은 신개념의 반도체 소자의 자동 측정 테스트 장치에 대한 필요성이 대두된다.However, in the device measuring apparatus as described above, the device may be detached from the plate-shaped support member in which the device is positioned to measure the device characteristic value, and even if the device is detached, it may not be possible to determine whether the device is present. As the size of the device is difficult to measure, there is a need for an automatic measurement test apparatus for a new concept of semiconductor device, which is not known.

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 상기 소자를 측정 장치에 안정적으로 안착시킬 수 있으며 상기 안착 과정에서 소자의 이탈현상을 방지하고, 또한 상기 소자의 소자 특성 값 이외에도 소자의 크기 및 형상을 판별할 수 있는 소자 측정 장치를 제공하고자 하는데 그 목적이 있다.The present invention is to solve the above-described problems, it is possible to stably seat the device in the measuring device and to prevent the detachment of the device during the mounting process, and in addition to the device characteristic value of the device in addition to the size and shape of the device It is an object of the present invention to provide an element measuring apparatus that can be discriminated.

그러나 본 발명의 목적은 상기에 언급된 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.However, the object of the present invention is not limited to the above-mentioned object, another object that is not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 기판에 결합되는 소자(10)를 투입하여 상기 소자의 데이터를 측정할 수 있는 측정 장치에 있어서, 투입된 소자의 데이터를 측정할 수 있는 측정부(300)가 내측에 구비되는 프레임(100)과 상기 측정부(300)의 일측 인근에 구비되는 V컨텍터(110)와 상기 측정부의 타측 인근에 구비되되, V컨텍터(110)와 마주보도록 프레임에 고정된 상태로 구비되는 컨텍터 유닛(120)과 상기 V컨텍터(110)을 이동시켜 상기 컨텍터 유닛(120)과 접촉되도록 하는 리니어 모터(130)와 상기 리니어 모터의 동작을 제어하는 제어장치(140)를 포함한다.In order to achieve the above object, the present invention is a measuring device that can measure the data of the device by inserting the device 10 coupled to the substrate, the measuring unit 300 that can measure the data of the device is It is provided in the vicinity of the V contact 110 and the other side of the V contact 110 provided in the vicinity of one side of the frame 100 and the measuring unit 300 provided inside, fixed to the frame to face the V contact 110 The control unit 140 for controlling the operation of the linear motor 130 and the linear motor to move the contactor unit 120 and the V contactor 110 provided in a state to contact the contactor unit 120. ).

또한, 상기 측정부(300)는 투입 된 소자가 거치되는 거치부(310)와 상기 거치부에 투입된 소자의 소자 특성 값을 측정하고, 소자의 크기를 판별하는 소자데이터 측정 유닛(320)으로 구성되며 상기 소자데이터 측정 유닛은 정상상태의 소자의 특성 값과 소자의 크기가 저장된 메모리부를 포함한다.In addition, the measuring unit 300 is composed of a mounting unit 310 to which the inserted device is mounted, and a device data measuring unit 320 for measuring the device characteristic value of the device inserted into the mounting unit and determining the size of the device. The device data measuring unit includes a memory unit in which characteristic values and device sizes of devices in a steady state are stored.

또한, 상기 소자의 데이터는 소자 특성 값과 소자의 크기 정보를 포함한다.In addition, the device data includes device characteristic values and device size information.

또한, 상기 거치부(310)는 상기 측정부의 상면에 V자 형상의 홈이 상기 측정부의 일측 끝단부와 타측 끝단부를 관통하도록 일직선으로 형성된 것을 특징으로 한다.In addition, the mounting portion 310 is characterized in that formed in a straight line so that the V-shaped groove penetrates the one end and the other end of the measurement unit on the upper surface of the measurement unit.

그리고 상기 거치부(310)는 내측 바닥면 중앙에 형성된 이중 계단식 홈 또는 다중 계단식 홈인 제1가이드 홈(311)과 상기 제1가이드 홈의 내측 바닥면 중앙에 형성 된 v자 형상의 제2가이드 홈(312)을 포함하되, 상기 제1가이드 홈에 있어서 서로 마주보고 있는 내측 벽 사이의 길이는 상기 소자의 가로길이(T1)또는 세로길이(T2)보다 크게 형성됨으로써 상기 제1가이드 홈에 상기 소자(10)가 안정적으로 안착될 수 있도록 하고, 상기 제2가이드 홈(312)은 상기 소자(10)가 회전된 상태로 유입될 경우 상기 V자 형상의 홈에 소자의 모서리부가 끼워져 안착 될 수 있도록 한다.In addition, the mounting portion 310 is a first guide groove 311 which is a double stepped groove or a multi-stepped groove formed in the center of the inner bottom surface and a v-shaped second guide groove formed in the center of the inner bottom surface of the first guide groove. 312, wherein a length between inner walls facing each other in the first guide groove is greater than a width T1 or a length T2 of the device, thereby forming the device in the first guide groove. 10 to be stably seated, and the second guide groove 312 is inserted into the V-shaped groove so that the edge portion of the device may be seated when the device 10 is introduced into the rotated state. do.

또한, 상기 제1가이드 홈(311)은 서로 마주보고 있는 내측 벽 사이의 길이가 각각 다른 다중 계단식 홈으로 형성됨에 따라 서로 마주보고 있는 내측 벽 사이의 길이가 각각 다른 다중 계단식 홈으로 형성되며 크기가 다른 소자(10)가 유입되더라도 상기 소자는 해당 소자의 크기에 대응되는 상기 제1가이드 홈(311);에 안착됨으로써, 상기 소자가 거치부에 보다 안정적으로 거치 될 수 있도록 한다.In addition, the first guide groove 311 is formed as a multi-stepped grooves having different lengths between the inner wall facing each other, as the length between the inner wall facing each other are formed as a multi-stepped grooves each having a different size Even if another element 10 is introduced, the element is seated in the first guide groove 311 corresponding to the size of the element, so that the element can be more stably mounted to the mounting portion.

또한, 상기 V컨텍터(110);는 상기 거치부(310)에 맞물려 안착되는 돌출부(111);와 상기 리니어 모터와 결합되는 몸체부(112);를 포함하되 상기 돌출부는 단면이 삼각형인 기둥형상이면서 v자 형상의 모서리부가 아래로 향하도록 구비되고, 상기 거치부(310)에 맞물린 상태에서 상기 컨텍터 유닛(120)과 맞닿도록 수평으로 이동한다.In addition, the V contactor 110; includes a protrusion 111 to be seated in engagement with the mounting portion 310; and the body portion 112 is coupled to the linear motor; the protrusion is a column having a triangular cross section The shape and the v-shaped corner portion is provided to face downward, and moves horizontally to abut on the contact unit 120 in the state engaged with the mounting portion (310).

상기에서 몸체부에는 볼트 또는 그 밖의 결합수단이 끼워질 수 있는 하나이상의 결합공(113);이 관통형성 될 수 있으며, 상기 몸체부의 하부에는 하방으로 돌출된 소정의 결합돌출부(114);가 형성됨에 따라 상기 V컨텍터와 리니어모터를 보다 견고하고 정밀하게 고정할 수 있다.One or more coupling holes 113 into which the bolt or other coupling means may be inserted into the body portion may be formed through the body portion, and a predetermined coupling protrusion portion 114 protruding downward from the lower portion of the body portion is formed. Accordingly, the V contactor and the linear motor can be fixed more firmly and precisely.

또한, 상기 리니어 모터(130)는 상기 V컨텍터(110)의 하단에 위치되도록 상기 프레임(100)의 내측에 구비되고, 상기 V컨텍터(110)을 수평 이동시켜 컨텍터 유닛(120)에 접촉시키는 제1 모터부(131);와 상기 컨텍터 유닛(120)에 접촉된 V컨텍터(110)을 수평 이동시켜 원위치로 복귀시키는 제2 모터부(132);를 포함한다.In addition, the linear motor 130 is provided inside the frame 100 so as to be positioned at the lower end of the V contactor 110, and horizontally moves the V contactor 110 to the contactor unit 120. And a first motor unit 131 for contacting; and a second motor unit 132 for horizontally moving the V contactor 110 in contact with the contactor unit 120 to return to the original position.

그리고 상기 제1 모터부(131)는 상기 V컨텍터(110);의 몸체부(112);와 결합되고 상기 제2 모터부(132)는 상기 측정부(300)와 연결되며 상기 거치부(310)에 상기 소자(10)가 거치되었을 때 상기 제어장치(140);는 상기 제1 모터부에 동작명령을 전달하고 상기 제1 모터부는 상기 V컨텍터(100);를 상기 컨텍터 유닛(120);과 접촉하도록 수평으로 이동시킴으로써 상기 거치부에 수납된 소자가 상기 V컨텍터(100)에 의해 밀려 상기 컨텍터 유닛(120)에 밀착되고 상기 밀착된 상태에서 상기 V 컨텍터 혹은 상기 컨텍터 유닛에 전류를 인가하여 상기 소자 특성 값을 측정하는 것을 특징으로 한다.The first motor unit 131 is coupled to the body portion 112 of the V contactor 110, and the second motor unit 132 is connected to the measurement unit 300, and the mounting unit ( When the device 10 is mounted on the 310, the control device 140 transmits an operation command to the first motor unit, and the first motor unit is the V contactor 100; 120); the element accommodated in the mounting portion by being moved horizontally in contact with the contactor unit 120 is pushed by the V contactor 100 and the contactor 120 in the close contact state or the contactor The device characteristic value is measured by applying a current to the rotor unit.

또한 상기 소자데이터 측정 유닛(320)은 상기 거치부에 수납된 소자가 상기 컨텍터 유닛(120)에 밀착된 것으로 판단되면, 상기 V컨텍터가 처음위치로부터 이동 된 위치 값을 측정하여 상기 거치부에 구비된 소자(10)의 크기를 판별한다.In addition, if it is determined that the device accommodated in the mounting portion is in close contact with the contact unit 120, the device data measuring unit 320 measures the position value of the V contactor moved from the initial position and the mounting portion The size of the device 10 included in the device is determined.

상기 제1 모터부에 일정전류이상이 소요되면 거치부에 수납된 소자가 상기 컨텍터 유닛(120)에 밀착된 것으로 판단하며, When a predetermined current or more is required in the first motor unit, it is determined that the element accommodated in the mounting unit is in close contact with the contactor unit 120.

상기 이동 된 위치값의 측정은 상기 제1 모터부에 구비된 엔코더를 통해 측정 한다.The moved position value is measured through an encoder provided in the first motor unit.

상기 소자데이터 측정 유닛(320)은 상기 소자의 크기가 측정되면, 상기 메모리부에 저장된 정상상태의 소자의 크기와, 상기 측정된 소자의 크기를 비교하여 측정된 소자가 정상적인 소자인지를 판별한다.When the size of the device is measured, the device data measuring unit 320 compares the size of the device in the normal state with the size of the measured device to determine whether the measured device is a normal device.

상기 소자데이터 측정 유닛(320)은 상기 측정된 소자 특성 값과 상기 메모리부에 저장 된 정상상태 소자(10)의 특성 값을 비교하여 불량여부를 판별한다.The device data measuring unit 320 compares the measured device property value with the property value of the steady state device 10 stored in the memory to determine whether there is a defect.

또한, 상기 제2모터부는 상기 측정부(300)를 상기 v컨텍터가 구비된 방향으로 이동시킴으로써 상기 측정부(300)가 있던 위치에 소정의 공간이 형성되되, 상기 거치부(310)에 거치 된 소자(10)는 상기 v컨텍터에 의해 밀려 상기 측정부가 있던 위치에 형성 된 공간으로 낙하한다.In addition, the second motor unit is a predetermined space is formed at the position where the measuring unit 300 was located by moving the measuring unit 300 in the direction in which the v-contact is provided, mounted on the mounting unit 310 The element 10 is pushed by the v-contactor and falls into the space formed at the position where the measurement part was located.

또한, 상기 측정부(300)의 상부를 덮는 커버(400);가 더 구비되되 상기 커버에는 원형의 유입공(410);이 형성되어 상기 칩이 유입공을 통과하여 측정부(300)로 유입되도록 함으로써 상기 칩이 상기 거치부로부터 이탈되는 것을 방지한다.In addition, a cover 400 covering the upper portion of the measuring unit 300; is further provided, the cover has a circular inlet hole 410; is formed so that the chip passes through the inlet hole into the measuring unit 300 By preventing the chip from being detached from the holder.

또한, 상기 커버는 아크릴 및 비 전도성재질로 제조되는 것을 특징으로 한다. In addition, the cover is characterized in that it is made of acrylic and non-conductive material.

본 발명의 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다.The features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description based on the accompanying drawings.

이에 앞서 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이고 사전적인 의미로 해석되어서는 아니 되며, 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.Prior to this, the terms or words used in this specification and claims are not to be interpreted in a conventional and dictionary sense, and the inventors may appropriately define the concept of terms in order to best explain their invention in the best way possible. Based on the principle that the present invention should be interpreted as meaning and concept corresponding to the technical idea of the present invention.

이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명에 따르면, 소자 측정 장치에 소자가 안정적으로 거치 될 수 있는 효과가 있으며 상기 소자 측정 장치 내에 소자의 존재 유무 및 소자가 회전된 상태로 구비되었는지를 알 수 있고, 또한 소자의 크기(형상) 및 소자 특성 값을 보다 정확하게 획득할 수 있는 효과가 있다.As described above, according to the present invention, it is possible to stably mount the device in the device measuring device, and it is possible to know whether the device exists in the device measuring device and whether the device is provided in a rotated state. There is an effect that it is possible to more accurately obtain the size (shape) and device characteristic values of.

도 1은 본 발명의 측정 장치가 구비된 실장장치의 개략적인 형상을 도시한 것이다.
도 2는 본 발명의 측정부를 상세히 도시한 것이다.
도 3은 본 발명의 V컨텍터를 상세히 도시한 것이다.
도 4는 본 발명의 측정부에 V컨텍터가 맞물려 안착되는 상태를 도시한 것이다.
도 5는 본 발명의 소자 측정 장치의 동작 상태를 개략적으로 도시한 것이다.1 shows a schematic shape of a mounting apparatus equipped with a measuring apparatus of the present invention.
Figure 2 shows in detail the measuring unit of the present invention.
3 shows the V contactor of the present invention in detail.
4 is a view illustrating a state in which the V contactor is engaged with the measuring unit of the present invention.
5 schematically shows an operating state of the device measuring apparatus of the present invention.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다. 이 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In this process, the thickness of the lines or the size of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of description.

또한, 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 하여 내려져야 할 것이다.In addition, terms to be described below are terms defined in consideration of functions in the present invention, which may vary according to the intention or convention of a user or an operator. Therefore, the definitions of these terms should be made based on the contents throughout the specification.

아울러, 아래의 실시예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것이 아니라 본 발명의 청구범위에 제시된 구성요소의 예시적인 사항에 불과하며, 본 발명의 명세서 전반에 걸친 기술사상에 포함되고 청구범위의 구성요소에서 균등물로서 치환 가능한 구성요소를 포함하는 실시예는 본 발명의 권리범위에 포함될 수 있다.In addition, the following examples are not intended to limit the scope of the present invention but merely illustrative of the components set forth in the claims of the present invention, which are included in the technical spirit throughout the specification of the present invention and constitute the claims Embodiments that include a substitutable component as an equivalent in the element may be included in the scope of the present invention.

첨부된 도 1은 본 발명의 측정 장치가 구비된 실장장치의 개략적인 형상을 도시한 것이다.1 is a schematic view showing a mounting apparatus equipped with a measuring apparatus of the present invention.

도 1을 참조하면 본 발명은 기판에 결합되는 소자(10)를 투입하여 상기 소자의 데이터를 측정할 수 있는 측정 장치에 있어서, 투입된 소자의 데이터를 측정할 수 있는 측정부(300)가 내측에 구비되는 프레임(100);과 상기 측정부(300)의 일측 인근에 구비되는 V컨텍터(110);와 상기 측정부의 타측 인근에 구비되되, V컨텍터(110)와 마주보도록 프레임에 고정된 상태로 구비되는 컨텍터 유닛(120);과 상기 V컨텍터(110)을 이동시켜 상기 컨텍터 유닛(120)과 접촉되도록 하는 리니어 모터(130);와 상기 리니어 모터의 동작을 제어하는 제어장치(140);를 포함한다.Referring to FIG. 1, according to the present invention, in the measuring device capable of measuring the data of the device by inserting the device 10 coupled to the substrate, the measurement unit 300 capable of measuring the data of the device is placed inside. The frame 100 is provided; and the V contactor 110 provided near one side of the measuring unit 300; and the other side of the measuring unit are provided and fixed to the frame so as to face the V contactor 110. A contactor unit 120 provided in a state; a linear motor 130 for moving the V contactor 110 to be in contact with the contactor unit 120; and a control device for controlling the operation of the linear motor. 140; includes.

첨부된 도 2는 본 발명의 측정부를 상세히 도시한 것이다.2 is a view illustrating the measuring unit of the present invention in detail.

도 2를 참조하면 상기 측정부(300)는 투입 된 소자가 거치되는 거치부(310);와 상기 거치부에 투입된 소자의 소자 특성 값을 측정하고, 소자의 크기를 판별하는 소자데이터 측정 유닛(320);으로 구성되며 상기 소자데이터 측정 유닛은 정상상태의 소자의 특성 값과 소자의 크기가 저장된 메모리부;를 포함한다.Referring to FIG. 2, the measuring unit 300 includes a mounting unit 310 on which an inserted device is mounted; and an element data measuring unit measuring a device characteristic value of the device inserted into the mounting unit and determining the size of the device ( The device data measuring unit includes a memory unit configured to store characteristic values and device sizes of devices in a normal state.

상기에서 상기 소자의 데이터는 소자 특성 값과 소자의 크기 정보를 포함한다.The data of the device includes device characteristic values and device size information.

또한, 상기 거치부(310)는 상기 측정부의 상면에 V자 형상의 홈이 상기 측정부의 일측 끝단부와 타측 끝단부를 관통하도록 일직선으로 형성된 것을 특징으로 한다.In addition, the mounting portion 310 is characterized in that formed in a straight line so that the V-shaped groove penetrates the one end and the other end of the measurement unit on the upper surface of the measurement unit.

그리고 상기 거치부(310)는 내측 바닥면 중앙에 형성된 이중 계단식 홈 또는 다중 계단식 홈인 제1가이드 홈(311);과 상기 제1가이드 홈의 내측 바닥면 중앙에 형성 된 v자 형상의 제2가이드 홈(312);을 포함하되, 상기 제1가이드 홈에 있어서 서로 마주보고 있는 내측 벽 사이의 길이는 상기 소자의 가로길이(T1)또는 세로길이(T2)보다 크게 형성됨으로써 상기 제1가이드 홈에 상기 소자(10)가 안정적으로 안착될 수 있도록 하고, 상기 제2가이드 홈(312)은 상기 소자(10)가 회전된 상태로 유입될 경우 상기 V자 형상의 홈에 소자의 모서리부가 끼워져 안착될 수 있도록 한다.The mounting portion 310 may include a first guide groove 311 which is a double stepped groove or a multi-stepped groove formed at the center of the inner bottom surface; and a second V-shaped guide formed at the center of the inner bottom surface of the first guide groove. Including the groove 312, the length between the inner wall facing each other in the first guide groove is formed larger than the transverse length (T1) or longitudinal length (T2) of the device to the first guide groove The device 10 may be stably seated, and the second guide groove 312 may be seated by inserting an edge portion of the device into the V-shaped groove when the device 10 is introduced into the rotated state. To be able.

또한, 상기 제1가이드 홈(311)은 서로 마주보고 있는 내측 벽 사이의 길이가 각각 다른 다중 계단식 홈으로 형성됨에 따라 서로 마주보고 있는 내측 벽 사이의 길이가 각각 다른 다중 계단식 홈으로 형성되며 크기가 다른 소자(10)가 유입되더라도 상기 소자는 해당 소자의 크기에 대응되는 상기 제1가이드 홈(311);에 안착됨으로써, 상기 소자가 거치부에 보다 안정적으로 거치 될 수 있도록 한다.In addition, the first guide groove 311 is formed as a multi-stepped grooves having different lengths between the inner wall facing each other, as the length between the inner wall facing each other are formed as a multi-stepped grooves each having a different size Even if another element 10 is introduced, the element is seated in the first guide groove 311 corresponding to the size of the element, so that the element can be more stably mounted to the mounting portion.

첨부된 도 3은 본 발명의 V컨텍터를 상세히 도시한 것이고, 첨부된 도 4는 본 발명의 측정부에 V컨텍터가 맞물려 안착되는 상태를 도시한 것이다.3 is a view illustrating the V contactor of the present invention in detail, and FIG. 4 is a view illustrating a state in which the V contactor is engaged with the measuring unit of the present invention.

도 3을 참조하면 상기 V컨텍터(110);는 상기 거치부(310)에 맞물려 안착되는 돌출부(111);와 상기 리니어 모터와 결합되는 몸체부(112);를 포함하되 상기 돌출부는 단면이 삼각형인 기둥형상인 것을 특징으로 한다.Referring to FIG. 3, the V contactor 110 includes a protrusion 111 seated in engagement with the mounting portion 310 and a body portion 112 coupled with the linear motor, but the protrusion has a cross section. It is characterized by a triangular columnar shape.

이때 상기 돌출부(111)의 두께는 상기 몸체부(112)의 두께보다 작게 형성되며, 이때 상기 돌출부(111)의 상면은 상기 몸체부(112)의 상면과 평행하게 구비됨에 따라 상기 몸체부의 일단 하부가 걸림턱을 형성한다.At this time, the thickness of the protrusion 111 is formed smaller than the thickness of the body portion 112, wherein the upper surface of the protrusion 111 is provided in parallel with the upper surface of the body portion 112, the lower end of the body portion Form a locking jaw.

도 4를 참조하면 상기 V컨텍터(110);는 v자 형상의 모서리부가 아래로 향하도록 구비된 상태에서 상기 리니어 모터에 고정된다.Referring to FIG. 4, the V contactor 110 is fixed to the linear motor in a state in which a v-shaped corner portion is provided downward.

또한 상기 V컨텍터(110)는 상기 측정부(300)의 거치부에 맞물리도록 수평 이동함으로써 상기 거치부(310)에 거치된 소자(10)를 밀어 이동시킨다.In addition, the V contactor 110 moves horizontally to be engaged with the mounting portion of the measuring unit 300 to push and move the device 10 mounted on the mounting portion 310.

또한 상기에서 몸체부에는 볼트 또는 그 밖의 결합수단이 끼워질 수 있는 하나이상의 결합공(113);이 관통형성 될 수 있으며, 상기 몸체부의 하부에는 하방으로 돌출된 소정의 결합돌출부(114);가 형성됨에 따라 상기 V컨텍터와 리니어모터를 보다 견고하고 정밀하게 고정함으로써 상기 V컨텍터(110);의 이동값을 측정했을 때, 상기 측정결과의 오차를 줄일 수 있도록 한다.In addition, the body portion has one or more coupling holes 113 that can be fitted with bolts or other coupling means; can be formed through, the lower portion of the body portion predetermined projecting projections 114 projecting downward; As it is formed, the V contactor and the linear motor are more firmly and precisely fixed to reduce the error of the measurement result when the moving value of the V contactor 110 is measured.

도 5는 본 발명의 소자 측정 장치의 동작 상태를 개략적으로 도시한 것이다.5 schematically shows an operating state of the device measuring apparatus of the present invention.

도 5를 참조하면 상기 리니어 모터(130)는 상기 V컨텍터(110)의 하단에 위치되도록 상기 프레임(100)의 내측에 구비되고, 상기 V컨텍터(110)을 수평 이동시켜 컨텍터 유닛(120)에 접촉시키는 제1 모터부(131);와 상기 컨텍터 유닛(120)에 접촉된 V컨텍터(110)을 수평 이동시켜 원위치로 복귀시키는 제2 모터부(132);를 포함한다.Referring to FIG. 5, the linear motor 130 is provided inside the frame 100 so as to be positioned at the lower end of the V contactor 110, and moves the V contactor 110 horizontally so that the contactor unit ( And a first motor unit 131 for contacting the 120, and a second motor unit 132 for horizontally moving the V contactor 110 in contact with the contactor unit 120 and returning it to its original position.

그리고 상기 제1 모터부(131)는 상기 V컨텍터(110);의 몸체부(112);와 결합되고 상기 제2 모터부(132)는 상기 측정부(300)와 연결되며 상기 거치부(310)에 상기 소자(10)가 거치되었을 때 상기 제어장치(140);는 상기 제1 모터부에 동작명령을 전달하고 상기 제1 모터부는 상기 V컨텍터(100);를 상기 컨텍터 유닛(120);과 접촉하도록 수평으로 이동시킴으로써 상기 거치부에 수납된 소자가 상기 V컨텍터(100)에 의해 밀려 상기 컨텍터 유닛(120)에 밀착되고, 상기 밀착된 상태에서 상기 V 컨텍터 혹은 상기 컨텍터 유닛에 전류를 인가하여 상기 소자 특성 값을 측정하는 것을 특징으로 한다.The first motor unit 131 is coupled to the body portion 112 of the V contactor 110, and the second motor unit 132 is connected to the measurement unit 300, and the mounting unit ( When the device 10 is mounted on the 310, the control device 140 transmits an operation command to the first motor unit, and the first motor unit is the V contactor 100; 120); the element accommodated in the mounting portion by being moved horizontally in contact with the contactor unit 120 is pushed by the V-contactor 100, the V-contactor or the The device characteristic value is measured by applying a current to the contactor unit.

이를 더욱 상세하게 설명하면 소자 특성 값은 저항값, 컨덴서 용량 등 소자의 종류에 따라 필요한 특성 값을 측정하되, 그 특성 값이 소정값 범위를 벗어나는 경우 불량으로 판정한다.In more detail, the device characteristic value is measured according to the type of the device, such as resistance value, capacitor capacity, etc., but if the characteristic value is out of the predetermined value range is determined as bad.

또한 상기 소자데이터 측정 유닛(320)은 상기 거치부에 수납된 소자가 상기 컨텍터 유닛(120)에 밀착된 것으로 판단되면, 상기 V컨텍터가 처음위치로부터 이동 된 위치 값을 측정하여 상기 거치부에 구비된 소자(10)의 크기를 판별한다.In addition, if it is determined that the device accommodated in the mounting portion is in close contact with the contact unit 120, the device data measuring unit 320 measures the position value of the V contactor moved from the initial position and the mounting portion The size of the device 10 included in the device is determined.

상기 제1 모터부에 일정전류이상이 소요되면 거치부에 수납된 소자가 상기 컨텍터 유닛(120)에 밀착된 것으로 판단하며, 상기 이동 된 위치값의 측정은 상기 제1 모터부에 구비된 엔코더를 통해 측정 한다.When a predetermined current or more is applied to the first motor unit, it is determined that the device accommodated in the mounting unit is in close contact with the contactor unit 120. The measurement of the moved position value is performed by the encoder provided in the first motor unit. Measure through.

상기 소자데이터 측정 유닛(320)은 상기 소자의 크기가 측정되면, 상기 메모리부에 저장된 정상상태의 소자의 크기와, 상기 측정된 소자의 크기를 비교하여 측정된 소자가 정상적인 소자인지를 판별한다.When the size of the device is measured, the device data measuring unit 320 compares the size of the device in the normal state with the size of the measured device to determine whether the measured device is a normal device.

또한 상기 소자데이터 측정 유닛은 소자의 크기를 확인하여 소자가 잘못투입되었는지를 확인한다. In addition, the device data measuring unit checks the size of the device to determine whether the device is inserted incorrectly.

또한 상기 소자데이터 측정 유닛(320)은 상기 측정된 소자 특성 값과 상기 메모리부에 저장 된 정상상태 소자(10)의 특성 값을 비교하여 소자의 불량여부를 판별한다.In addition, the device data measuring unit 320 compares the measured device property value with the property value of the steady state device 10 stored in the memory to determine whether the device is defective.

또한 상기 소자 데이터 측정 유닛은 소자크기와 소자 특성 값을 확인하여 측정하고자 하는 소자가 투입되었는지를 판단 할 수 있다.In addition, the device data measuring unit may determine whether the device to be measured is input by checking the device size and the device characteristic value.

또한 이때 상기 V컨텍터(110) 이동 시 소자의 존재 유무는 상기 컨텍터 유닛(120)에 걸리는 전류의 변화량을 감지하여 판별할 수 있는 것을 특징으로 한다.In addition, the presence or absence of an element when the V contactor 110 moves may be determined by detecting a change amount of the current applied to the contactor unit 120.

또한, 상기 제2모터부는 상기 측정부(300)를 상기 v컨텍터가 구비된 방향으로 이동시킴으로써 상기 측정부(300)가 있던 위치에 소정의 공간이 형성되되, 상기 거치부(310)에 거치 된 소자(10)는 상기 v컨텍터에 의해 밀려 상기 측정부가 있던 위치에 형성 된 공간으로 낙하한다.In addition, the second motor unit is a predetermined space is formed at the position where the measuring unit 300 was located by moving the measuring unit 300 in the direction in which the v-contact is provided, mounted on the mounting unit 310 The element 10 is pushed by the v-contactor and falls into the space formed at the position where the measurement part was located.

또한, 상기 측정부(300)의 상부를 덮는 커버(400);가 더 구비되되 상기 커버에는 원형의 유입공(410);이 형성되어 상기 칩이 유입공을 통과하여 측정부(300)로 유입되도록 함으로써 상기 칩을 상기 거치부에 떨어트려 유입시켰을 때, 상기 칩이 상기 거치부 내측 벽에 부딪쳐 거치부로부터 이탈되는 것을 방지하는 효과를 가진다.In addition, a cover 400 covering the upper portion of the measuring unit 300; is further provided, the cover has a circular inlet hole 410; is formed so that the chip passes through the inlet hole into the measuring unit 300 When the chip is dropped into the mounting portion, the chip has an effect of preventing the chip from hitting the inner wall of the mounting portion to be separated from the mounting portion.

상기에서 커버는 아크릴 및 그밖의 비 전도성재질로 제조될 수 있는 것을 특징으로 한다.The cover is characterized in that it can be made of acrylic and other non-conductive material.

이상 본 발명을 구체적인 실시예를 통하여 상세히 설명하였으나, 이는 본 발명을 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 그 변형이나 개량이 가능함이 명백하다.Although the present invention has been described in detail through specific examples, it is intended to describe the present invention in detail, and the present invention is not limited thereto, and should be understood by those skilled in the art within the technical spirit of the present invention. It is obvious that modifications and improvements are possible.

본 발명의 단순한 변형 내지 변경은 모두 본 발명의 범주에 속하는 것으로 본 발명의 구체적인 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의해 명확해질 것이다.Simple modifications and variations of the present invention are all within the scope of the present invention, and the specific scope of protection of the present invention will be apparent from the appended claims.

100 프레임 110 V컨텍터
111 돌출부 112 몸체부
120 컨텍터 유닛 130 리니어 모터
131 제1모터부 132 제2모터부
140 제어장치 300 측정부
310 거치부 311 제1가이드 홈
312 제2가이드홈 320 소자데이터 측정 유닛
400 커버 410 유입공100 frame 110V contactor
111 Projection 112 Body
120 contactor unit 130 linear motor
131 First Motor Section 132 Second Motor Section
140 Control Unit 300 Measuring Unit
310 Mounting section 311 First guide groove
312 Second guide groove 320 Device data measurement unit
400 Cover 410 Inlet

Claims (9)

기판에 결합되는 소자(10)를 투입하여 상기 소자의 데이터를 측정할 수 있는 측정 장치에 있어서,
투입된 소자의 데이터를 측정할 수 있는 측정부(300)가 내측에 구비되는 프레임(100);과
상기 측정부(300)의 일측 인근에 구비되는 V컨텍터(110);와
상기 측정부의 타측 인근에 구비되되, V컨텍터(110)와 마주보도록 프레임에 고정된 상태로 구비되는 컨텍터 유닛(120);과
상기 V컨텍터(110)을 이동시켜 상기 컨텍터 유닛(120)과 접촉되도록 하는 리니어 모터(130);와
상기 리니어 모터의 동작을 제어하는 제어장치(140);를 포함하며,
상기 측정부(300)는
투입 된 소자가 거치되는 거치부(310);와
상기 거치부에 투입된 소자의 소자 특성 값을 측정하고, 소자의 크기를 판별하는 소자데이터 측정 유닛(320);으로 구성되며
상기 소자데이터 측정 유닛은 정상상태의 소자의 특성 값과 소자의 크기가 저장된 메모리부를 포함하며,
상기 소자의 데이터는 소자 특성 값과 소자의 크기 정보를 포함하며,
상기 거치부(310)는
상기 측정부의 상면에 V자 형상의 홈이 상기 측정부의 일측 끝단부와 타측 끝단부를 관통하도록 일직선으로 형성된 것을 특징으로 하는 소자 측정 장치..
In the measuring device capable of measuring the data of the device by inserting the device 10 coupled to the substrate,
Frame 100 having a measuring unit 300 that can measure the data of the device is provided inside; And
V contactor 110 provided near one side of the measuring unit 300; and
A contact unit 120 provided near the other side of the measuring unit and fixed to the frame to face the V contactor 110; and
A linear motor 130 which moves the V contactor 110 to be in contact with the contactor unit 120; and
And a control device 140 for controlling the operation of the linear motor.
The measuring unit 300
Mounting unit 310 is placed the device is injected; And
And a device data measuring unit 320 for measuring a device characteristic value of the device inserted into the mounting unit and determining the size of the device.
The device data measuring unit includes a memory unit in which characteristic values and device sizes of devices in a normal state are stored.
The data of the device includes device characteristic values and device size information.
The mounting portion 310 is
And a V-shaped groove is formed in a straight line on the upper surface of the measuring unit so as to pass through one end portion and the other end portion of the measuring unit.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서
상기 거치부(310)는
내측 바닥면 중앙에 형성된 이중 계단식 홈 또는 다중 계단식 홈인 제1가이드 홈(311);과
상기 제1가이드 홈의 내측 바닥면 중앙에 형성 된 v자 형상의 제2가이드 홈(312);을 포함하되,
상기 제1가이드 홈에 있어서 서로 마주보고 있는 내측 벽 사이의 길이는 상기 소자의 가로길이(T1)또는 세로길이(T2)보다 크게 형성됨으로써 상기 제1가이드 홈에 상기 소자(10)가 안정적으로 안착될 수 있도록 하고,
또한 상기 제2가이드 홈(312)은 상기 소자(10)가 회전된 상태로 유입될 경우 상기 V자 형상의 홈에 소자의 모서리부가 끼워져 안착될 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 소자 측정 장치.The method of claim 1
The mounting portion 310 is
A first guide groove 311 which is a double stepped groove or a multi-stepped groove formed in the center of the inner bottom surface; and
And a second V-shaped groove 312 formed at the center of the inner bottom surface of the first guide groove.
The length between the inner walls facing each other in the first guide groove is greater than the horizontal length T1 or the vertical length T2 of the device so that the device 10 is stably seated in the first guide groove. To be able to
In addition, the second guide groove 312 is a device measuring device, characterized in that the edge portion of the device is fitted into the V-shaped groove when the device (10) is introduced into the rotated state. 제5항에 있어서
상기 제1가이드 홈(311)은
서로 마주보고 있는 내측 벽 사이의 길이가 각각 다른 다중 계단식 홈으로 형성됨에따라 크기가 다른 소자(10)가 유입되더라도 상기 소자는 해당 소자의 크기에 대응되는 상기 제1가이드 홈(311);에 안착됨으로써, 상기 소자가 거치부에 보다 안정적으로 거치 될 수 있도록 하는 것을 특징으로 하는 소자 측정 장치.The method of claim 5
The first guide groove 311 is
As the lengths between the inner walls facing each other are formed as multi-stepped grooves having different lengths, even though elements 10 having different sizes are introduced, the elements are seated in the first guide grooves 311 corresponding to the sizes of the elements. As a result, the device measuring device characterized in that the device can be more stably mounted to the mounting portion. 제6항에 있어서
상기 V컨텍터(110);는
상기 거치부(310)에 맞물려 안착되는 돌출부(111);와
상기 리니어 모터와 결합되는 몸체부(112);를 포함하되
상기 돌출부는 단면이 삼각형인 기둥형상이면서 v자 형상의 모서리부가 아래로 향하도록 구비되고,
상기 거치부(310)에 맞물린 상태에서 상기 컨텍터 유닛(120)과 맞닿도록 수평으로 이동하는 것을 특징으로 하는 소자 측정 장치.The method of claim 6
The V contactor 110;
Protruding portion 111 is engaged with the mounting portion 310 is seated; And
Including; body portion 112 is coupled to the linear motor
The protruding portion is provided with a triangular cross section and a v-shaped corner portion facing down,
The device measuring device, characterized in that to move horizontally in contact with the contact unit (120) in the engaged state (310). 제7항에 있어서
상기 몸체부에는 볼트 또는 그 밖의 결합수단이 끼워질 수 있는 하나이상의 결합공(113);이 관통형성 될 수 있으며,
또한 상기 몸체부의 하부에는 하방으로 돌출된 소정의 결합돌출부(114);가 형성됨에 따라
상기 V컨텍터와 리니어모터를 보다 견고하고 정밀하게 고정할 수 있는 것을 특징으로 하는 소자 측정 장치.The method of claim 7,
One or more coupling holes 113 into which the bolt or other coupling means may be fitted; may be formed in the body portion.
In addition, a predetermined coupling protrusion 114 protruding downward from the lower portion of the body portion;
Device measuring apparatus, characterized in that the V-contact and the linear motor can be fixed more firmly and precisely. 제8항에 있어서
상기 리니어 모터(130)는 상기 V컨텍터(110)의 하단에 위치되도록 상기 프레임(100)의 내측에 구비되고,
상기 V컨텍터(110)을 수평 이동시켜 컨텍터 유닛(120)에 접촉시키는 제1 모터부(131);와
상기 컨텍터 유닛(120)에 접촉된 V컨텍터(110)을 수평 이동시켜 원위치로 복귀시키는 제2 모터부(132);를 포함하는 것을 특징으로 하는 소자 측정 장치.




The method of claim 8
The linear motor 130 is provided inside the frame 100 to be located at the lower end of the V contactor 110,
A first motor unit 131 which horizontally moves the V-contactor 110 to contact the contactor unit 120; and
And a second motor unit (132) for horizontally moving the V contactor (110) in contact with the contactor unit (120) to return to the original position.




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