KR101987826B1 - Cog 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템에 관한 것으로,COG(Chip On Glass) 공정에서 제조된 검사대상물이 언로딩되어 플리커(Flicker) 검사와 점등 검사 등의 자동 검사를 통해 상기 검사대상물의 양부가 판정되도록 하는 자동 검사부; 상기 자동 검사부에서 불량 판정된 검사대상물의 양부를 검사자의 육안을 통해 재판정하는 육안 검사부; 및 상기 COG 공정에서 제조된 검사대상물이 상기 복수의 검사부에 일정 수량 및 일정 배열로 공급되도록, 상기 일정 수량 만큼의 슬롯이 형성된 플레이트가 마련되어, 상기 슬롯이 상기 검사대상물에 의해 만재된 상태로 이송되어 제공될 때, 상기 자동 검사부에 만재 수량의 COG 공정에서 제조된 검사대상물을 언로딩하고, 상기 자동 검사부에서 양부가 판정된 검사대상물 중, 양품 판정된 검사대상물만을 로딩하며, 상기 육안 검사부에서 재판정된 양품 검사대상물을 상기 자동 검사부에서 불량 판정되어 로딩되지 않은 빈 슬롯에 로딩하여, 상기 자동 검사부와 상기 육안 검사부에서 양품 판정된 검사대상물이 취합되도록 함으로써, 상기 플레이트의 슬롯이 만재된 상태로 후단 제조 공정으로 이송되도록 하는 메인 이송부;를 포함하여, 검사 공정이 복수회 수행되어 이송되는 검사대상물을 재정렬하여 이송하게하는 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템을 제공할 수 있다.
본 발명에 의하면, 각 검사 공정에서 양품 판정을 받은 검사대상물들이 취합되어 다음 검사 공정에 제공될 수 있어, 검사 공정이 복수회에 걸쳐 시행더라도 검사 공정의 효율이 보장될 수 있고, 검사 공정이 모두 끝난 후에 시행하는 육안 검사와 같이 별도의 추가적인 검사 공정이 부가되어도 검사 공정의 효율을 유지할 수 있는 효과를 포함한다.
본 발명에 의하면, 각 검사 공정에서 양품 판정을 받은 검사대상물들이 취합되어 다음 검사 공정에 제공될 수 있어, 검사 공정이 복수회에 걸쳐 시행더라도 검사 공정의 효율이 보장될 수 있고, 검사 공정이 모두 끝난 후에 시행하는 육안 검사와 같이 별도의 추가적인 검사 공정이 부가되어도 검사 공정의 효율을 유지할 수 있는 효과를 포함한다.
Description
본 발명은 COG(Chip On Glass) 공정에서 디스플레이 패널의 양부를 판정하는 검사 시스템에 관한 것이다.
최근 본격적인 정보화시대로 접어들면서 각종 전기적 신호정보를 시각적으로 표시하는 디스플레이(display) 산업이 급속도로 발전하고 있다. 그 중, 휴대폰, 노트북, PDA, 네비게이션 등과 같은 휴대용 전자제품에는 고밀도의 반도체 패키지를 실장하여 저전압 구동, 저소비 전력, 풀 칼라 구현 등의 특징을 실현할 수 있도록 다양한 형태의 액정표시장치를 설치하여 사용한다.
일반적인 디스플레이용 액정표시장치에는 LDC(Liquid Crystal Display), OLED(Organic Light Emitting Diode) 디스플레이, PDP(Plasma Display Panel), ELD(Electro Luminescent Dispaly), VFD(Vaccuum Fluorescent Display) 등이 있다. 나아가 디스플레이용 패널 중 디스플레이 안에 터치 패널을 내장한 방식인 옥타(OCTA : On Cell Touch Amoled) 방식을 적용한 패널의 경우 터치 스크린(Touchscreen)의 구동을 위하여 터치 연성회로기판(FPCB : Flexible Printed Circuit Board)을 실장하는 방식을 사용한다.
이러한 디스플레이 액정표시장치를 제조함에는 그 실장방식에 따라 COG(chip on glass), FOG(film on glass), COF(chip on flex), OLB(outer lead bonding), FOF(fpcb on flex) 등과 같은 제조공정이 이루어지는 실장설비를 사용하게 되고, 디스플레이용 액정표시장치 중에서 터치 스크린의 패널에 터치 연성회로기판이 사용되는 TFOG(touch film on glass) 제조공정이 이루어지는 실장설비를 사용하게 된다.
이중 COG 실장공정은 패널의 유리 기판에 구동 IC칩을 직접 실장하는 공정으로, COG 실장공정에서 IC칩의 점유 면적을 최소화시킴으로써 평판 디스플레이의 소형화와 박판화가 가능하고, IC칩과 평판 디스플레이 패널간의 거리 감소에 따른 신호 전달 속도의 증가로 해상도를 향상시킬 수 있는 공정이다.
액정표시장치의 제조 공정은 셀을 필요한 크기로 자르는 셀(cell) 공정과 LCD 패널, 구동회로, 백라이트 유닛 등을 하나의 모듈로 조립하는 모듈(module) 공정으로 구분되며, 생산 단가의 절감 및 생산 제품의 신뢰도를 보장하기 위해, 셀 공정 뿐만 아니라 모듈 공정의 각 제조 공정에서도 제품 성능의 양부 판정을 위한 검사 과정이 마련되어 공정 별 부품의 이상 유무를 판정하는 것이 바람직하다.
『대한민국 등록특허공보 제10-0726995호, (공고일: 2007년06월14일, 세광테크 주식회사), 발명의 명칭: LCD 패널의 자동 압흔검사장치』에는 LCD 패널을 전공정으로부터 로딩하는 로딩부, 상기 로딩부에 의하여 로딩된 LCD 패널을 촬영하여 얻어진 영상정보에 의하여 LCD 패널을 검사하는 검사수단, 검사를 통과한 LCD패널을 후공정으로 배출하는 언로딩부, 검사결과 불량 판정된 LCD 패널을 픽업하여 제거하는 불량 패널 제거부, 그리고 상기 로딩부, 검사수단, 언로딩부 및 불량패널 제거부를 제어하는 제어부를 포함하는 LCD 패널의 자동 압흔검사장치가 개시되어 있다.
그러나, 상술한 종래기술은 불량 패널 제거부에 의해 불량 판정된 LCD 패널이 제거될 때 빈 슬롯 또는 빈 스테이지가 필연적으로 발생하게 되나, 발생된 빈 자리를 활용하기 위한 LCD 패널을 재정렬 하는 기술적 구성을 개시하지 않고 있다.
이에, 검사 공정이 복수회 설정되어 여러차례에 걸쳐 불량 판정된 검사대상물이 선별되는 경우와 같이, 정렬되어 있던 검사대상물의 배열이 달라지는 경우, 이송되는 검사대상물의 수량이 일정하게 공급되지 않아, 검사 시간 지연으로 인한 검사 효율이 낮아지는 문제가 있었다.
또한, 육안 검사와 같이 기존 검사 과정이 모두 끝난 후, 불량품만을 선별하여 다시 재검사를 하는 공정이 추가될 시 검사대상물의 위치를 재정렬하여야할 필요가 있다.
본 발명은 상술한 문제를 해결하기 위한 것으로, 검사 공정이 복수회 수행되어 이송되는 검사대상물을 재정렬하여 이송하게하는 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 검사 공정이 정체 또는 지체되더라도 검사대상물이 전 공정에 걸쳐 일정하게 이송되도록 하는 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템을 제공하는데 또 다른 목적이 있다.
본 발명이 해결하려는 과제는 전술한 과제로 제한되지 아니하며, 언급되지 아니한 또 다른 기술적 과제들은 후술할 내용으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 태양으로 COG(Chip On Glass) 공정에서 제조된 검사대상물이 언로딩되어 플리커(Flicker) 검사와 점등 검사 등의 자동 검사를 통해 상기 검사대상물의 양부가 판정되도록 하는 자동 검사부; 상기 자동 검사부에서 불량 판정된 검사대상물의 양부를 검사자의 육안을 통해 재판정하는 육안 검사부; 및 상기 COG 공정에서 제조된 검사대상물이 상기 복수의 검사부에 일정 수량 및 일정 배열로 공급되도록, 상기 일정 수량 만큼의 슬롯이 형성된 플레이트가 마련되어, 상기 슬롯이 상기 검사대상물에 의해 만재된 상태로 이송되어 제공될 때, 상기 자동 검사부에 만재 수량의 COG 공정에서 제조된 검사대상물을 언로딩하고, 상기 자동 검사부에서 양부가 판정된 검사대상물 중, 양품 판정된 검사대상물만을 로딩하며, 상기 육안 검사부에서 재판정된 양품 검사대상물을 상기 자동 검사부에서 불량 판정되어 로딩되지 않은 빈 슬롯에 로딩하여, 상기 자동 검사부와 상기 육안 검사부에서 양품 판정된 검사대상물이 취합되도록 함으로써, 상기 플레이트의 슬롯이 만재된 상태로 후단 제조 공정으로 이송되도록 하는 메인 이송부;를 포함한다.
그리고, 상기 자동 검사부는, 상기 언로딩된 COG 공정에서 제조된 검사대상물이 중심축을 기준으로 설정된 회전각 단위로 회전되어, 상기 회전각 단위 부분에 각각 마련된 복수의 자동 검사 과정에 상기 COG 공정에서 제조된 검사대상물을 이송시킴으로써, 상기 COG 검사대상물의 양부가 판정되도록 하는 인덱스(Index) 방식으로 구동되거나, 상기 언로딩된 COG 공정에서 제조된 검사대상물이 메인 이송라인을 따라 마련되는 복수의 자동 검사 과정에 각각 순차적으로 이송되어, 상기 COG 검사대상물의 양부가 판정되도록 하는 인라인(In-Line) 방식으로 구동될 수 있다.
또한, 상기 자동 검사부에서 양부를 판정받은 상기 검사대상물 중, 불량 판정을 받은 검사대상물을 선별하여 상기 육안 검사부로 이송하는 재검 이송부;를 더 포함할 수 있다.
그리고, 상기 재검 이송부는, 상기 육안 검사부의 육안 검사 과정이 정체될 경우, 상기 자동 검사부에서 불량 판정되어 이송되는 검사대상물을 재검 버퍼기에 적재시키고, 상기 육안 검사부의 육안 검사 과정이 원활하고 상기 자동 검사부에서 불량 판정되어 이송되는 검사대상물이 부족한 경우, 상기 재검 버퍼기에 적재된 검사대상물을 인출하여 상기 육안 검사부에 이송할 수 있다.
또한, 상기 자동 검사부에서 양품 판정된 검사대상물이 상기 메인 이송부에 의해 이송될 때, 상기 육안 검사부에서 양품 판정된 검사대상물을 로딩하여 상기 자동 검사부에서 양품 판정된 검사대상물과 취합되도록 하는 취합 이송부;를 더 포함할 수 있다.
그리고, 상기 취합 이송부는, 상기 자동 검사부에서 양품 판정되어 이송되는 검사대상물이 상기 플레이트에 형성된 일정 수량의 슬롯에 만재된 상태로 이송되는 경우, 상기 육안 검사부에서 양품 판정된 검사대상물을 취합 버퍼기에 적재시키며, 상기 육안 검사부의 검사 과정이 정체되고, 상기 자동 검사부에서 양품 판정되어 이송되는 검사대상물이 상기 플레이트에 형성된 일정 수량의 슬롯에 만재되지 않은 상태로 이송되는 경우, 상기 취합 버퍼기에 적재된 검사대상물을 인출하여 상기 자동 검사부에서 양품 판정된 검사대상물과 취합되도록 할 수 있다.
또한, 상기 메인 이송라인의 후단에 마련되어, 상기 자동 검사부와 상기 육안 검사부에서 양품 판정되어 취합된 검사대상물을 상기 후단 제조 공정으로 이송하며, 상기 후단 제조 공정이 정체될 경우, 상기 메인 이송부로부터 이송되는 검사대상물을 별도 적재하고, 상기 후단 제조 공정은 원활하나 상기 메인 이송부로부터 이송되는 검사대상물이 부족할 경우, 상기 적재된 검사대상물을 인출하여 상기 후단 제조 공정으로 이송하는 후단 이송부;를 더 포함할 수 있다.
상기 후단 이송부는 상기 플레이트에 양품 판정된 검사대상물이 만재된 상태인지 여부를 판별하고, 만재된 상태인 경우에는 만재된 검사대상물을 후단 제조 공정으로 안내하고, 만재되지 않은 경우에는 후단 버퍼기의 기적재된 검사대상물의 수량을 확인하여 상기 수량이 상기 플레이트를 만재시키기에 부족하지 않으면 상기 후단 버퍼기에서 양품 판정된 검사대상물을 인출하여 상기 플레이트를 만재시키고 그 다음 상기 후단 제조 공정으로 안내하나, 상기 수량이 상기 플레이트를 만재시키기에 부족하면 상기 플레이트의 양품 판정된 검사대상물을 상기 후단 버퍼기에 적재시킬 수 있다.
상기 후단 이송부는 상기 플레이트에 양품 판정된 검사대상물이 만재된 상태인지 여부를 판별하고, 만재된 상태인 경우에는 만재된 검사대상물을 후단 제조 공정으로 안내하고, 만재되지 않은 경우에는 후단 버퍼기의 기적재된 검사대상물의 수량을 확인하여 상기 수량이 상기 플레이트를 만재시키기에 부족하지 않으면 상기 후단 버퍼기에서 양품 판정된 검사대상물을 인출하여 상기 플레이트를 만재시키고 그 다음 상기 후단 제조 공정으로 안내하나, 상기 수량이 상기 플레이트를 만재시키기에 부족하면 상기 플레이트의 양품 판정된 검사대상물을 상기 후단 버퍼기에 적재시킬 수 있다.
상술한 과제의 해결 수단은 단지 예시적인 것으로서, 본 발명을 제한하려는 의도로 해석되지 않아야 한다. 상술한 예시적인 실시예 외에도, 도면 및 발명의 상세한 설명에 기재된 추가적인 실시예가 존재할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 각 검사 공정에서 양품 판정을 받은 검사대상물들이 취합되어 다음 검사 공정에 제공될 수 있어, 검사 공정이 복수회에 걸쳐 시행더라도 검사 공정의 효율이 보장될 수 있다.
둘째, 검사 공정이 모두 끝난 후에 시행하는 육안 검사와 같이 별도의 추가적인 검사 공정이 부가되어도 검사 공정의 효율을 유지할 수 있는 효과를 포함한다.
셋째, 검사 공정이 지체될 때, 검사대상물을 적재시킬 수 있는 버퍼기를 마련하여, 검사대상물의 물량 부족할 경우나 정체될 경우, 공정의 지체됨을 경감할 수 있어, 검사 공정 또는 제조 공정 상의 택트 타임을 일정하게 유지할 수 있는 효과를 포함한다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템의 주요 구성을 나타내는 시스템의 전체 사시도이다.
도 2 본 발명의 일 실시예에 따른 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템의 세부 구성을 나타내기 위한 시스템의 전체 평면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 다른 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템의 세부 구성 및 동작 기능을 나타내기 위한 개략도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 메인 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 재검 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 취합 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 후단 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)의 흡착 기능을 이용하여 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 검사대상물을 재정렬시켜 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 회전하여 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 버퍼기의 수납 구성을 나타내는 부분 확대도이다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 후단 제조 공정으로 이송되는 검사대상물을 만재시키는 제어 과정을 나타내는 흐름도이다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동 신호 공급장치의 전체 구성을 나타내는 측단면도이다.
도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 도 13의 `A` 부분의 확대도로 자동 신호 공급장치의 동작 원리를 나타내기 위한 도면이다.
도 2 본 발명의 일 실시예에 따른 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템의 세부 구성을 나타내기 위한 시스템의 전체 평면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 다른 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템의 세부 구성 및 동작 기능을 나타내기 위한 개략도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 메인 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 재검 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 취합 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 후단 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)의 흡착 기능을 이용하여 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 검사대상물을 재정렬시켜 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 회전하여 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 버퍼기의 수납 구성을 나타내는 부분 확대도이다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 후단 제조 공정으로 이송되는 검사대상물을 만재시키는 제어 과정을 나타내는 흐름도이다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동 신호 공급장치의 전체 구성을 나타내는 측단면도이다.
도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 도 13의 `A` 부분의 확대도로 자동 신호 공급장치의 동작 원리를 나타내기 위한 도면이다.
본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 더 구체적으로 설명하되, 이미 주지되어진 기술적 부분에 대해서는 설명의 간결함을 위해 생략하거나 압축하기로 한다.
본 발명의 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템을 구현하기 위한 기술 구성은, 자동 검사와 육안 검사 등의 복수의 검사 공정을 제어하여 양부 판정된 검사대상물을 선별하고, 다시 취합하는 검사공정 제어 기술, 검사대상물이 불량 판정에 의해 불규칙하게 제거되어 검사대상물의 배열이 달라질 때, 달라진 배열의 검사대상물을 재정렬시키는 기술, 검사공정이 정체 또는 지체될 때 이송되는 검사대상물을 적재 및 대기시켜 전후단 공정의 정체를 경감하는 기술, 및 자동 검사부에 언로딩된 검사대상물에 자동 컨택하여 검사 신호를 공급하는 검사신호 공급 기술로 구성된다.
우선, 자동 검사와 육안 검사 등의 복수의 검사 공정을 제어하여 양부 판정된 검사대상물을 선별하고, 다시 취합하는 검사공정 제어 기술에 대해 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템의 주요 구성을 나타내는 시스템의 전체 사시도이고, 도 2 본 발명의 일 실시예에 따른 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템의 세부 구성을 나타내기 위한 시스템의 전체 평면도이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 다른 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템의 세부 구성 및 동작 기능을 나타내기 위한 개략도이다.
도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템(IS)은 COG 제조 공정의 디스플레이 패널의 양부를 판정하기 위한 것으로, 검사 과정을 위한 자동 검사부(100) 및 육안 검사부(200)의 구성을 비롯하여, 전후단 공정 간 및 각 검사 과정 간의 검사대상물의 이송을 담당하는 메인 이송부(300), 재검 이송부(400), 취합 이송부(500) 및 후단 이송부(600)의 구성을 포함한다.
자동 검사부(100)는 COG 제조 공정에서 제조된 검사대상물의 영상의 휘도, 떨림, 균일성 등의 디스플레이 성능을 자동 검사를 통해 양부를 판정하는 것으로, 인덱스 테이블(110), 자동 플레이트(120), 플리커 검사기(130) 및 점등 검사기(140)의 구성을 포함한다.
이때, 검사대상물의 불량 판정은 불량 기능의 종류 및 정도가 각각 구체적으로 판정되어 후술될 육안 검사부(200)에 제공될 수 있으며, 불량 기능의 종류 및 정도는 목적에 따라 각기 달리 설정될 수 있음은 물론이다.
인덱스 테이블(110)은 원판 형상으로 마련되어 중심축을 기준으로 기 설정된 각도만큼 회전함으로써, 테이블에 실린 검사대상물이 테이블의 반경을 따라 마련된 복수의 검사기에 이송되도록 한다. 인덱스 테이블(110)이 원판 형상의 구조로 마련되어 검사대상물의 이송 거리가 일정 반경 상에 설정됨으로써, 검사 공간이 감축되도록 할 수 있다.
자동 플레이트(120)는 검사대상물의 일정 배열로 안착되어 이송되는 공간을 의미하며, 인덱스 테이블(110)의 외주연부를 따라 90°각도로 4개의 지점에 각각 위치된다. 여기서, 자동 플레이트(120)는 4개의 검사대상물이 안착될 수 있는 구조로 도시하고 설명하였으나, 이는 하나의 실시예에 불과하며, 자동 플레이트(120)의 위치나 간격, 폭은 검사 공정의 목적에 따라 각기 달리 형성될 수 있음은 물론이다.
플리커 검사기(130) 및 점등 검사기(140)는 인덱스 테이블(110)의 반경을 따라 복수로 설치되어 감사대상물의 양부를 자동 검사를 통해 판정한다. 플리커 검사와 점등 검사는 익히 공지된 기술이 사용될 수 있음은 물론이며, 이에 그 상세한 설명은 생략한다.
여기서, 자동 플레이트(120)가 90°간격으로 4 군데에 마련되고, 플리커 검사기(130)와 점등 검사기(140)가 각각 시계방향을 따라 270°및 360°위치에 형성됨으로써, 나머지 두 군데에 노출되는 자동 플레이트(120)는 검사대상물의 로딩과 언로딩을 위한 공간으로 사용될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서는 90°에 노출된 자동 플레이트(120)에서 불량 판정을 받은 검사대상물은 다음 검사 과정으로 로딩되고, 180°에 노출되는 자동 플레이트(120)에서는 검사대상물의 언로딩 과정과 양품 판정을 받은 검사대상물의 로딩 과정이 이루어지도록 상정하여 설명하였으나, 본 발명의 기술적 사상은 이에 한정되는 것이 아님을 밝혀둔다.
또한, 자동 검사부(100) 내에서 검사대상물이 원판 형상의 인덱스 테이블(110)에 의해서 이송되는 인덱스(Index) 방식을 상정하여 도시하고 설명하였으나, 메인 이송라인을 따라 복수개의 자동 검사기가 마련되고, 검사대상물이 순차적으로 이송되어 양부가 판정되는 인라인(In-Line) 방식으로 검사대상물이 이송되어 검사될 수 있음은 물론이다.
육안 검사부(200)는 자동 검사부(100)를 통해 성능의 불량 판정은 물론, 그 불량 판정의 종류 및 정도에 따른 불량 여부를 검사자의 육안을 통해 재판정하는 것으로, 자동 검사부(100)의 후단에 마련되며, 육안 검사부(200)는 목적에 따라 육안 검사기(210)가 복수개로 마련되어 다수의 검사자에 의해 육안 검사가 수행될 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 메인 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이고, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 재검 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이며, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 양품 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이고, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 후단 이송부의 구성을 상세히 보이기 위한 부분확대도이다.
도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 메인 이송부(300)는 COG 공정 상의 검사 공정의 전후단을 따라 형성되는 메인 이송라인의 이송 장치를 의미하며, 전단 공정으로부터 일정 수량 및 일정 배열로 만재되어 공급되는 검사대상물을 자동 검사부(100)에 언로딩하고, 다시 양품 판정된 검사대상물만을 로딩하여 후단 공정으로 이송한다.
이때, 육안 검사부(200)를 통해 양품 판정된 검사대상물을 상기 자동 검사부(100)에서 로딩된 검사대상물과 취합하여 이송되도록 함으로써, 다시 만재된 상태의 검사대상물을 후단 공정으로 제공할 수 있다.
메인 이송부(300)는 상술한 기능을 수행하기 위해, 공급 플레이트(310), 언로딩기(320), 이동 플레이트(330), 로딩기(340), 및 메인 이송레일(350)의 구성을 포함한다.
공급 플레이트(310) 및 언로딩기(320)는 인덱스 테이블(110)에 전단 공정에서 이송된 검사대상물을 위치시키는 이송 수단으로, 공급 플레이트(310)는 COG 제조 공정으로부터 이송되는 4열의 만재된 검사대상물을 거치하여 검사 대기되도록 하며, 언로딩기(320)는 공급 플레이트(310)에 거치된 4열의 검사대상물을 피킹하여 자동 플레이트(120)에 언로딩함으로써, 4열의 검사대상물의 자동 검사가 수행되도록 한다.
이동 플레이트(330) 및 로딩기(340)는 자동 검사부(100)에서 양품 판정을 받은 검사대상물을 메인 이송라인을 따라 이송시키는 것으로, 4열의 검사대상물이 인덱스 테이블(110)의 회전을 따라 검사되어 90°부분에서 불량 판정된 검사대상물이 로딩되어 제거되고, 양품 판정된 검사대상물만이 남아 180°부분인 초기 언로드 위치에 도달하면, 로딩기(340)가 양품 판정된 검사대상물들을 이동 플레이트(330)에 로딩시킨다.
여기서, 이동 플레이트(330)는 4열 미만의 양품 판정된 검사대상물만이 로딩되는 거치대를 의미하나, 공급 플레이트(310)와 다르게 메인 이송라인을 따라 연장형성되는 메인 이송레일(350)을 슬라이딩 왕복이동하여 거치된 검사대상물을 메인 이송라인을 따라 이송되도록 한다. 아울러, 본 발명의 일 실시예에서는 설명의 편의를 위해, 검사대상물이 안착된 플레이트가 레일을 따라 직접 슬라이딩 왕복 이동하는 것으로 상정하여 도시하고 설명하였으나, 플레이트는 고정된 구조물로 마련되고, 그 하부에서 검사대상물이 안착된 승강식 이동지그(미도시)가 마련되어 레일을 따라 이동하여 승하강함으로써, 동일한 기능을 수행할 수 있음은 물론이다.
이때, 로딩기(340)는 제1 위치(301)에서 자동 검사부(100)에서 양품 판정된 검사대상물들을 이동 플레이트(330)로 로딩하며, 양품 판정된 검사대상물이 로딩된 이동 플레이트(330)는 제2 위치(302)로 이동하여, 제2 위치(302)에서 육안 검사부(200)에서 양품 판정된 검사대상물을 공급받아 취합시킴으로써, 불량 판정되어 제거된 검사대상물의 빈 슬롯을 채울 수 있다.
제2 위치(302)에서 만재된 이동 플레이트(330)는 양품 판정된 검사대상물을 후단 공정으로 이송하기 위해 제3 위치(303)로 이동한다.
도 3 및 도 5에 도시된 바와 같이, 재검 이송부(400)는 인덱스 테이블(110)의 90°부분에서 선별되어 로딩되는 불량 판정된 검사대상물을 육안 검사부(200)로 이송시켜 다시 검사자의 육안을 통해 재검사되도록 하는 것으로, 재검 플레이트(410), 재검 이송기(420), 재검 이송레일(430), 재검 버퍼기(440), 재검 버퍼이송기(450)로 구성된다.
재검 플레이트(410) 및 재검 이송기(420)는 자동 검사부(100)에서 불량 판정을 받은 검사대상물을 육안 검사부(200)로 안내하는 것으로, 앞서 설명한 바와 같이, 4열의 검사대상물이 인덱스 테이블(110)의 회전을 따라 검사되어 90°부분에 도달하면 재검 이송기(420)가 불량 판정된 검사대상물을 피킹하여 재검 플레이트(410)에 로딩시킨다. 이때, 재검 이송기(420)의 픽커는 2개로 상정하여 도시하고 설명하였으나, 하나 이상의 복수개로 마련될 수 있음은 물론이다.
다만, 4열의 검사대상물 중 불량 판정을 받는 검사대상물을 확률적으로 2개 미만이 보통이므로, 픽커는 2개로 설정하여 이송하는 것이 바람직하며, 만일 4열의 검사대상물 중 불량 판정받은 검사대상물이 3개 이상일 경우, 재검 이송기(420)는 우선 2열의 검사대상물을 재검 플레이트(410)에 로딩하고, 나머지 2열의 검사대상물을 피킹하여 재검 플레이트(410) 주변의 대기 위치(SP)에서 재검 플레이트(410)가 언로딩된 상태로 원래의 위치로 되돌아올 때까지 대기한다.
여기서, 재검 플레이트(410)는 2열 미만의 불량 판정된 검사대상물만이 로딩되는 거치대이나, 앞서 설명한 이동 플레이트(330)와 마찬가지로 재검 이송레일(430)을 따라 슬라이딩 왕복하여 거치된 불량 판정된 검사대상물을 육안 검사기(210)로 이송시키는 역할을 한다.
이때, 재검 플레이트(410)는 제1 위치(401)에 위치하여 자동 검사부(100)에서 불량 판정된 검사대상물들이 로딩되도록 하며, 재검 이송레일(430)을 따라 슬라이딩 이동되어 제2 위치(402)에서 육안 검사기(210)로 불량 판정된 검사대상물이 검사자에게 인계되도록 하며, 육안 검사부(200)가 정체 또는 지연될 때에는 제3 위치(403)에서 재검 버퍼기(440)로 불량 판정된 검사대상물을 안내되도록 한다.
재검 버퍼기(440)와 재검 버퍼이송기(450)는 육안 검사부(200)가 정체 또는 지체될 때에 제3 위치(403)에 머무는 재검 플레이트(410)에서 불량 판정된 검사대상물을 재검 버퍼이송기(450)가 피킹하여 재검 버퍼기(440)에 적재하며, 육안 검사 공정이 원활하여 불량 판정된 검사대상물의 공급량이 감소하면, 재검 버퍼이송기(450)는 재검 버퍼기(440)에 기적재된 불량 판정된 검사대상물을 인출하여 재검 플레이트(410)를 통해 육안 검사기(210)로 공급되도록 한다.
육안 검사부(200)에 불량 판정된 검사대상물을 이송하는 과정을 보다 상세하게 설명하면, 제1 위치(401)에서 불량 판정된 검사대상물이 로딩된 재검 플레이트(410)는 제2 위치(402)로 이동하여 검사자의 수동 동작, 또는 별도의 이송기를 통한 언로딩 동작에 의해 불량 판정된 검사대상물을 재검 플레이트(410)에서 육안 검사기(210)의 거치대로 언로딩되도록 하며, 언로딩된 재검 플레이트(410)는 다음 불량 판정된 검사대상물을 로딩하기 위해 제1 위치(401)로 복귀한다.
그러나, 육안 검사부(200)가 정체 또는 지체되어 제2 위치(402)에서 재검 플레이트(410)가 언로딩된 상태가 되지 않는 시간이 일정 시간 이상이 되면, 재검 플레이트(410)는 제3 위치(403)로 이동하여 불량 판정된 검사대상물을 재검 버퍼기(440)에 언로딩하여 적재하고, 제1 위치(401)로 복귀한다.
한편, 제1 위치(401)에서 재검 플레이트(410)에 불량 판정된 검사대상물이 로딩되지 않고, 육안 검사부(200)가 정체 또는 지체되지 않으면, 재검 플레이트(410)는 제3 위치(403)에서 적재되어 있던 불량 판정된 검사대상물을 로딩하여 제2 위치(402)에서 육안 검사기(210)로 언로딩되도록 한다.
또한, 제1 위치(401)에서 재검 플레이트(410)에 로딩되는 불량 판정된 검사대상물이 부족할 경우, 예를 들어, 2열의 검사대상물 중 1열이 로딩되고, 나머지 1열은 로딩되지 않을 경우, 육안 검사부(200)의 정체 또는 지연됨을 판별하여 제3 위치(403)에서 재검버퍼기로부터 나머지 부족한 1열의 불량 판정된 검사대상물을 공급받아 제2 위치(402)에서 육안 검사기(210)에 언로딩되도록 할 수 있다.
도 3 및 도 6에 도시된 바와 같이, 취합 이송부(500)는 육안 검사부(200)에서 양품 판정을 받은 검사대상물을 후단 제조 공정으로 이송시키기 위해, 메인 이송라인에 양품 판정을 받은 검사대상물을 공급하는 것으로, 자동 검사부(100)에서 양품 판정되어 이동 플레이트(330)를 통해 후단 제조 공정으로 이송되는 검사대상물들에 육안 검사부(200)에서 양품 판정된 검사대상물을 취합시켜 만재된 상태의 검사대상물이 후단 제조 공정으로 이송되도록 할 수 있다.
취합 이송부(500)는 이와 같은 기능을 수행하기 위해, 취합 플레이트(510), 취합 이송레일(520), 취합 이송기(530), 대기 플레이트(540), 취합 버퍼기(550), 및 취합 버퍼이송기(560)의 구성을 포함한다.
취합 플레이트(510)는 검사자가 육안 검사기(210)를 통해 양품 판정된 검사대상물을 거치시키는 거치대로, 취합 이송레일(520)을 따라 슬라이딩 왕복이동하여 제1 위치(501)에서 제2 위치(502)로 이동함으로써, 육안 검사부(200)에서 양품 판정된 검사대상물을 메인 이송라인에 공급할 수 있다.
이때, 취합 플레이트(510)는 육안 검사자가 검사대상물을 하나씩 검사하여 양부 판정을 내리는 것을 감안하여 1열만을 갖는 크기로 마련되는 것이 바람직하나, 이에 한정되는 것은 아니다.
취합 플레이트(510)가 제2 위치(502)에 도달하면, 취합 이송기(530)는 취합 플레이트(510)의 양품 판정된 검사대상물을 피킹하여 메인 이송레일(350) 상의 제2 위치(502)에 도달한 이동 플레이트(330)에 상기 양품 판정된 검사대상물을 로딩한다. 이때, 이동 플레이트(330)의 여유 슬롯의 수량에 따라 1개 이상의 양품 판정된 검사대상물이 언로딩되어 취합될 수 있으므로, 취합 이송부(500)는 취합 플레이트(510)의 제2 위치(502) 부근에 대기 플레이트(540)의 구성이 마련될 수 있다.
대기 플레이트(540)는 기본 2열 크기의 거치대로 구성되어, 제2 위치(502)에 도달하는 취합 플레이트(510)와 함께 3열의 슬롯을 구성함으로써, 이동 플레이트(330)의 여유 슬롯 여부에 따라 1 ~ 3 개의 양품 판정된 검사대상물을 로딩하여 취합되도록 할 수 있다.
한편, 이동 플레이트(330)가 만재되거나, 육안 검사기(210)에서 양품 판정된 검사대상물의 이송이 정체 또는 지연될 때의 취합 플레이트(510)는 양품 판정된 검사대상물을 거치한 상태로 제2 위치(502)에서 제3 위치(503)로 이동한다.
이때, 취합 버퍼이송기(560)는 제3 위치(503)에 도달한 취합 플레이트(510)의 양품 판정된 검사대상물을 피킹하여 취합 버퍼기(550)로 이송하여 적재함으로써, 취합 이송부(500)에서의 양품 판정된 검사대상물들의 정체 또는 지연됨을 수용할 수 있다.
도 3 및 도 7에 도시된 바와 같이, 후단 이송부(600)는 자동 검사부(100)와 육안 검사부(200)에서 양품 판정되어 제3 위치(303)에서 이동 플레이트(330)에 취합된 검사대상물을 후단 제조 공정으로 이송시키는 것으로, 후단 이송기(610) 및 후단 버퍼기(620)의 구성을 포함한다.
후단 이송기(610)는 제3 위치(303)에 도달한 이동 플레이트(330)의 양품 판정된 검사대상물을 피킹하여 후단 제조 공정으로 안내한다.
이때, 후단 이송기(610)는 후단 제조 공정이 원활한 경우, 이동 플레이트(330)의 검사대상물을 후단 제조 공정으로 이송시키며, 후단 제조 공정이 정체되는 경우, 이동 플레이트(330)의 검사대상물을 후단 버퍼기(620)에 적재시킴으로써, 메인 이송라인이 정체되거나 지연되지 않도록 한다.
또한, 후단 이송기(610)는 제3 위치(303)에 도달한 이동 플레이트(330)의 양품 판정된 검사대상물의 만재 상태를 판별하여 만재된 상태인 경우, 이동 플레이트(330) 상의 4열 만재된 검사대상물을 피킹하여 후단 제조 공정으로 안내하고, 만재되지 않은 경우, 후단 버퍼기(620)의 기적재된 검사대상물의 수량을 확인하여 이동 플레이트(330)를 만재시켜 후단 제조 공정으로 안내할 수 있다.
나아가, 후단 이송기(610)는 후단 버퍼기(620)에 양품 판정되어 기적재된 검사대상물이 부족할 경우, 이동 플레이트(330)의 양품 판정된 검사대상물을 후단 버퍼기(620)에 적재함으로써, 후단 제조 공정으로 이송되는 검사대상물을 만재시켜 이송시킬 수 있다.
다음으로, 검사대상물이 불량 판정에 의해 불규칙하게 제거되어 검사대상물의 배열이 달라질 때, 달라진 배열의 검사대상물을 재정렬시키는 기술 대해 설명하기로 한다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)의 흡착 기능을 이용하여 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이고, 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 검사대상물을 재정렬시켜 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이며, 도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 픽커(흡착 지그)가 회전하여 검사대상물의 로딩과 언로딩 기능을 수행하는 이송기의 동작을 설명하는 동작도이다.
도 8에 도시된 바와 같이, 본 발명이 각 이송기는 4열로 배치되는 검사대상물을 흡착파지하기 위해, 흡착 지그로 마련되는 픽커(P)가 기본 2열 최소 1열로 마련된다. 그러나, 본 발명의 기술적 사상이 이에 한정되는 것은 아니며, 검사대상물의 배열이 5열 이상일 수 있거나, 픽커(P)가 4열 또는 그 이상으로 마련되어 피킹 동작을 수행할 수 있음은 물론이다.
상술한 기능을 수행하기 위하여, 이송기는 검사대상물을 피킹하는 흡착기(P10), 흡착기(P10)를 상하방향으로 이동시키는 구동기(P20) 및 흡착기(P10)의 수평 및 수직 이동을 가능하게 하는 이동기(P30)의 구성을 포함한다.
상술한 피킹 동작은 2열의 픽커(P)가 4열로 배치되는 검사대상물을 각각 2열씩 피킹하거나, 4열의 픽커(P)가 4열의 검사대상물을 4열 모두 피킹하는 동작이 수행되어 로딩과 언로딩 과정을 수행하는 것을 기본으로 한다.
그러나, 자동 검사부(100)에서 양부 판정을 받은 검사대상물에서 불량 판정된 검사대상물만을 피킹한다거나, 플레이트 상에 불규칙한 배열로 배치되는 복수 검사대상물의 위치 변화에 따라 2열 또는 4열의 픽커(P)는 규칙적인 제어 동작을 통해 목적한 검사대상물만을 선별할 수 있고, 검사대상물을 부가하여 부족한 슬롯이 존재하는 플레이트를 만재시킬 수 있다.
우선, 바람직한 일 실시예의 구성은 픽커(P)에 한 쌍으로 마련되는 지그의 개별적인 동작을 통해 검사대상물을 선별하여 로딩 또는 언로딩할 수 있다.
예를 들면, 4열의 검사대상물 중, 1열 및 3열에 불량 판정된 검사대상물이 존재할 때, 좌우측 한 쌍의 흡착 지그를 갖는 픽커(P)는 1, 2열의 위치로 이동하여, 좌측의 지그만 하강한 상태로 진공 흡착 기능을 이용하여 1열의 검사대상물을 피킹하고, 2, 3열의 위치로 이동하여 우측의 지그가 하강한 상태로 진공 흡착 기능을 이용하여 3열의 검사대상물을 피킹하여 양부가 판정된 검사대상물 중에서 불량 판정된 검사대상물을 선별하여 로딩할 수 있다.
또한, 취합을 위해 언로딩할 때에는 부족한 슬롯으로 픽커(P)의 각 흡착 지그들을 이송시켜 진공 흡착력을 제거하여 검사대상물을 해당 슬롯에 언로딩함으로써, 각 검사 공정을 마치고 양품 판정된 검사대상물들을 하나의 플레이트에 각각 취합하여 만재된 상태의 검사대상물들을 후단 검사 공정 또는 후단 제조 공정에 이송시킬 수 있다.
다음으로, 도 9에 도시된 바와 같이, 좌우측 한 쌍의 지그를 갖는 픽커(P)가 불규칙한 배열을 갖는 검사대상물의 배열을 정렬시킨 후, 한 쌍의 지그에 양품 또는 불량 판정된 검사대상물을 선별하여 피킹할 수 있다.
예를 들어, 상술한 바와 같이, 4열의 검사대상물 중, 1열과 3열에 불량 판정된 검사대상물이 있는 경우, 한 쌍의 지그는 1, 2열 위치로 이동하여 1, 2열의 검사대상물을 흡착하고, 우측의 지그가 1열로 이동하여 2열에서 흡착된 검사대상물을 언로딩시킨 후, 다시 좌우측 지그가 2, 3열로 이동하여 불량 판정된 검사대상물만을 피킹함으로써, 양품 판정된 검사대상물 속에서 불량 판정된 검사대상물들을 선별할 수 있다.
또한, 4열의 검사대상물 중, 1열과 4열에 불량 판정된 검사대상물이 있는 경우, 한 쌍의 지그는 우측 지그가 1열 위치로 이동하여, 1열의 검사대상물을 피킹하고, 다시 좌측 지그가 4열 위치로 이동하여 4열의 검사대상물을 피킹함으로써, 피킹된 검사대상물의 좌우측의 순서는 뒤바뀔 수 있으나, 목적한 검사대상물을 선별할 수 있다.
마지막으로, 도 10에 도시된 바와 같이, 한 쌍의 지그가 구동기(P20)(중심축)을 기준으로 회전하는 기능을 통해 목적한 검사대상물을 선별하여 로딩 또는 언로딩되도록 할 수 있다.
예를 들어, 좌측의 지그가 우선 불량 판정된 검사대상물을 피킹하고, 한 쌍의 지그가 중심축을 기준으로 회전하여 나머지 우측의 지그가 불량 판정된 검사대상물을 피킹함으로써, 불량 판정된 검사대상물이나 양품 판정된 검사대상물의 부족한 슬롯을 채울 수 있다.
아래에서는, 검사공정이 정체 또는 지체될 때 이송되는 검사대상물을 적재 및 대기시켜 전후단 공정의 정체를 경감하는 기술에 대해 설명한다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 버퍼기의 수납 구성을 나타내는 부분 확대도이다.
도 11에 도시된 바와 같이, 본 발명의 버퍼기(B)는 COG 검사 공정 내 각각의 공정 또는 검사 공정 후단의 제조 공정이 정체 또는 지연될 때, 이송과정이 원활하지 못하는 구간은 구간 내의 검사대상물을 적재시키고, 이송과정이 원활한 구간은 구간 내에 기적재된 검사대상물을 인출하여 공급함으로써, 이송되는 검사대상물의 이송 흐름을 일정하게 유지시켜, 궁극적으로 검사 효율 및 제조 효율을 일정하게 유지하거나 상승시킬 수 있다.
상술한 기능을 수행하기 위하여, 육안 검사부(200)의 전후단에 마련되는 재검 이송부(400) 및 취합 이송부(500)와, 후단 제조 공정 전단에 마련되는 후단 이송부(600)에는 각각 버퍼기(B)가 설치되어 검사대상물의 적재 및 인출 기능을 수행할 수 있도록 하며, 이러한 버퍼기(B)는 본체(B10) 및 수납슬롯(B20)을 구성을 포함한다.
본체(B10) 내주면에는 검사대상물의 너비, 길이, 두께 형상에 대응되는 크기의 수납슬롯(B20)이 본체(B10)의 높이 방향을 따라 층층이 형성되어 각 층별로 정체되어 누적되는 검사대상물을 적재할 수 있다.
여기서, 버퍼이송기(450, 560) 또는 후단 이송기(610)는 구동기(P20)가 하강하여, 해당 수납슬롯(B20)에 검사대상물을 인입 또는 인출시킬 수 있다. 이때, 수납슬롯(B20)에 검사대상물을 인입 또는 인출시키기 위해, 흡착기(P10)가 수납슬롯(B20) 방향으로 돌출 또는 이격될 수 있는 구성이 마련될 수 있음은 물론이다.
또한, 적재 및 인출 시에는 수납되는 순서, 또는 높이 등의 데이터를 생성하여 본체(B10)의 저면에 형성되는 수납슬롯(B20)부터 적재 또는 인출되도록 하는 것이 바람직하다.
이하에서는, 각 검사 공정별로 마련되는 이송기와 버퍼기를 이용하여 후단 제조 공정으로 이송되는 검사대상물을 만재시키는 제어 과정에 대해 설명한다.
도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 후단 제조 공정으로 이송되는 검사대상물을 만재시키는 제어 과정을 나타내는 흐름도이다.
도 12에 도시된 바와 같이, 메인 이송부(300)는 메인 이송라인에서 자동 검사부(100)로 전단 제조 공정에서 공급되는 만재된 검사대상물을 언로딩시킨다.(S1100)
이후, 자동 검사부(100)는 인덱스 테이블(110)을 회전시켜 복수의 자동 검사 장치를 통해 검사대상물의 양부를 판정한다.(S1200)
재검 이송부(400)는 자동 검사부(100)에서 양부가 판정된 검사대상물 중 불량 판정된 검사대상물을 선별하여 육안 검사부(200)로 이송한다.(S1300)
재검 이송부(400)는 육안 검사 과정이 정체되는지 여부를 판정하여,(S1310) 육안 검사 과정이 정체되는 경우,(S1310, Yes) 재검 버퍼이송기(450)는 불량 판정된 검사대상물을 재검 버퍼기(440)에 적재하고,(S1311) 육안 검사 과정이 원활한 경우,(S1310, No) 재검 플레이트(410)는 불량 판정된 검사대상물을 육안 검사기(210)로 이송한다.(S1312)
육안 검사기(210)에 의해 다시 양품 판정된 검사대상물은 취합 이송부(500)에 의해 메인 이송라인으로 공급되도록, 이동 플레이트(330)의 만재 여부를 판정하여 양품 판정된 검사대상물을 이동 플레이트(330)에 로딩시킨다.(S1320)
제3 위치(303)에 도달한 이동 플레이트(330)가 만재된 상태인 경우,(S1320, Yes) 취합 버퍼이송기(560)는 취합 플레이트(510)에 놓여진 검사대상물을 취합 버퍼기(550)에 적재한다.(S1321)
제3 위치(303)에 도달한 이동 플레이트(330)가 만재되지 않은 상태인 경우,(1320, No) 취합 이송기(530)는 취합 플레이트(510)에 놓여진 양품 판정된 검사대상물을 이동 플레이트(330)에 로딩하여 취합한다.(S1322)
한편, 자동 검사부(100)에서 불량 판정된 검사대상물을 제외한 나머지 양품 판정된 검사대상물은 메인 이송부(300)에 의해 제1 위치(301)에 도달한 이동 플레이트(330)에 로딩된다.(S1400)
메인 이송부(300)는 제1 위치(301)에 있는 이동 플레이트(330)의 만재 상태를 판정한다.(S1500)
제1 위치(301)의 이동 플레이트(330)가 자동 검사부(100)에서 양품 판정되어 로딩된 검사대상물로 만재된 상태인 경우,(S1500, Yes) 이동 플레이트(330)는 제3 위치(303)로 이동한다(S1510)
제1 위치(301)의 이동 플레이트(330)가 자동 검사부(100)에서 양품 판정되어 로딩된 검사대상물로 만재되지 않은 상태인 경우,(S1500, No) 이동 플레이트(330)는 제2 위치(302)로 이동한다(S1520)
취합 이송부(500)는 제2 위치(302)로 이동한 이동 플레이트(330)에 육안 검사부(200)에서 양품 판정된 검사대상물을 로딩 및 취합하며, 메인 이송부(300)는 검사대상물들이 취합된 이동 플레이트(330)를 제3 위치(303)로 이동시킨다.(S1600)
이동 플레이트(330)가 제3 위치(303)에 도달하게 되면, 메인 이송부(300)는 이동 플레이트(330)의 만재 여부를 판정한다.(S1700)
이동 플레이트(330)가 만재되어 있는 경우, (S1700, Yes) 후단 제조 공정의 정체 여부를 판정한다.(S1900)
이동 플레이트(330)가 만재되지 않은 상태인 경우,(S1700, No) 후단 이송부(600)는 후단 버퍼기(620)에 양품 판정된 검사대상물의 적재 여부를 판별한다.(S1800)
후단 버퍼기(620)에 양품 판정된 검사대상물이 적재되어 있는 경우,(1800, Yes) 후단 이송기(610)는 후단 버퍼기(620)에서 검사대상물을 인출하여 이동 플레이트(330)에 로딩되어 있는 검사대상물과 취합하여 만재시킨다.(S1810)
후단 버퍼기(620)에 양품 판정된 검사대상물이 적재되어 있지 않은 경우,(S1800, No) 후단 이송기(610)는 이동 플레이트(330)에 로딩되어 있는 검사대상물을 후단 버퍼기(620)에 적재시킨다.(S1820)
후단 제조 공정이 원활한 경우,(S1900, Yes) 후단 이송기(610)는 이동 플레이트(330)의 양품 판정된 검사대상물을 후단 제조 공정으로 이송한다.(S2000)
후단 제조 공정이 원활하지 않고 정체되어 있는 경우,(S1900, No) 후단 이송기(610)는 이동 플레이트(330)의 양품 판정된 검사대상물을 후단 버퍼기(620)에 적재한다.(S1910)
이하에서는, 자동 검사부에 언로딩된 검사대상물에 자동 컨택하여 검사 신호를 공급하는 검사신호공급 기술에 대해 설명한다.
도 13은 본 발명의 일 실시예에 따른 자동 신호 공급장치(700)의 전체 구성을 나타내는 측단면도이고, 도 14는 본 발명의 일 실시예에 따른 `A` 부분의 확대도로 자동 신호 공급장치의 동작 원리를 나타내기 위한 도면이다.
도 13은 도시된 바와 같이, 본 발명의 자동 신호 공급장치(700)는 자동 검사부(100)에 언로딩된 검사대상물에 소켓 타입 또는 핀 타입 형태로 마련되는 신호공급부(M)에 자동으로 컨택하여 검사 신호를 공급하는 것으로, 시계방향을 기준으로 180°부근에 구비된다.
종래에는 각 FOG 검사대상물의 종류에 따라 소켓 또는 핀 타입의 신호공급부(M)의 위치 및 형상이 다양하게 마련됨으로써, 작업자의 수작업을 통해 검사대상물에 검사 신호를 인가할 수밖에 없었으나, 본 발명의 일 실시예에서는 자동 신호 공급장치(700)를 이용하여 자동화된 신호 공급 시스템을 구현할 수 있다.
본 발명의 자동 신호 공급장치(700)는 상술한 기능을 수행하기 위하여, 본체 프레임(710), 구동유닛(720), 이동헤드(730), 및 신호공급유닛(740)의 구성을 포함한다.
본체 프레임(710)은 구동유닛(720), 이동헤드(730) 등을 내부에 수용하여, 구동유닛(720)과 이동헤드(730)의 결합 구조를 제공함과 동시에 이동 경로를 제공할 수 있으며, 폭방향의 좌우 양측에는 본체 프레임(710)의 길이방향을 따라 연장형성되되, 끝단에서 상하방향으로 굴절된 구조의 관통된 형태의 안내홈이 형성된다.
구동유닛(720)은 본체 프레임(710)의 내부에 수용되어, 본체 프레임(710)의 내부 구조를 따라 왕복 이동함으로써, 후술될 이동헤드(730)의 이동을 위한 구동력을 생성 및 제공하는 것으로, 실린더(722), 지지블럭(721) 및 승강레일(723)의 구성을 포함한다.
실린더(722)는 공압 또는 유압으로 구동되어 본체 프레임(710)의 길이방향의 구동력을 생성하며, 지지블럭(721)은 일측이 실린더(722)와 결합되어 실린더(722)의 구동력에 따라 왕복 이동하며, 타측이 후술될 이동헤드(730)와 접함으로써, 실린더(722)의 구동력을 이동헤드(730)에 전달한다.
이때, 지지블럭(721)의 이동헤드(730)와 결합되는 면에는 승강레일(723)이 돌출된 구조로 마련되어 이동헤드(730)와 슬라이딩 결합됨으로써, 이동헤드(730)와의 결합 구조를 형성하여 결합력을 부가함은 물론, 이동헤드(730)의 상하방향 이동을 안내한다.
이동헤드(730)는 일측에 슬라이딩 결합된 지지블럭(721)을 따라 이동하여 타측에 결합된 신호공급유닛(740)의 이동 경로를 제어하는 것으로, 레일홈(미도시) 및 안내돌기(731)의 구성을 포함한다.
레일홈은 지지블럭(721)과 접하는 면에, 승강레일(723)의 구조와 대응되게 인입된 형상으로 마련되어 승강레일(723)과 슬라이딩 결합됨으로써, 지지블럭(721)을 기준으로 이동헤드(730)의 상하 방향의 이동을 안내하며, 안내돌기(731)는 이동헤드(730)의 폭방향의 대칭된 양측에 원통형으로 돌출 형성되어 안내홈에 끼워진 상태로 안내홈을 따라 이동함으로써, 지지블럭(721)을 기준으로 이동헤드(730)의 수평 방향의 이동을 안내한다.
안내돌기(731)는 이동헤드(730)의 폭방향의 양측에 대치된 형상으로 돌출된 원통형상의 돌기로, 상술한 안내홈에 끼워져 안내홈의 형상에 의해 이동 경로가 안내되어진다.
신호공급유닛(740)은 이동헤드(730)의 하면에 결합되어 이동헤드(730)의 이동 경로를 따라 이동함으로써, 검사 플레이트(120)에 언로딩된 검사대상물의 신호공급부(M)에 접촉하여 신호발생장치(미도시)에서 제공되는 검사 신호를 검사대상물에 제공한다.
이때, 신호공급유닛(740)은 검사대상물의 소켓 또는 핀 타입의 신호공급부(M)에 대응되는 형상 및 구조의 커넥터(741)가 마련되어 신호공급부(M)에 접촉 또는 삽입됨으로써, 인가되는 검사 신호를 통해 검사대상물의 영상이 송출되도록 할 수 있다.
아울러, 검사 과정이 끝난 후, 커넥터(741)가 신호공급부(M)에서 이격될 때, 신호공급부(M)를 고정시키는 고정부재(G)가 더 마련되어 원활한 검사 신호 공급 과정이 구현될 수 있음은 물론이다.
도 14를 참조하여 신호공급유닛(740)의 승하강 동작을 설명하면 다음과 같다.
본 발명의 신호공급유닛(740)은 실린더(722)의 왕복 이동에 따른 구동력이 안내홈의 안내 경로와 승강레일(723)의 안내 경로에 의해 방향이 변환되어 이동헤드(730)에 전달됨으로써, 이동헤드(730)의 승하강 동작에 따라 이동헤드(730)에 결합된 신호공급유닛(740) 역시 승하강하게 된다. 이에 따라, 신호공급유닛(740)은 검사대상물의 신호공급부(M)에 접촉 또는 삽입되어 검사 신호를 공급할 수 있다.
실린더(722)의 구동력이 안내홈과 승강레일(723)에 따라 변환되는 과정을 설명하기 위해, 실린더(722)의 길이방향의 이동 방향을 제1 방향이라 하고, 승하강되는 신호공급유닛(740)의 이동 방향을 제2 방향이라 하며, 이동헤드(730)가 지지블럭(721)의 승강레일(723)을 기준으로 이동되는 방향을 제3 방향이라 가정하면, 제3 방향은 제1 방향과 제2 방향 사이에서 제1 방향 또는 제2 방향과 근접하게 형성된다.
제3 방향이 제1 방향과 근접하게 형성되면, 이동헤드(730)의 승하강 이동거리에 비해 실린더(722)의 왕복 이동거리가 비약적으로 상승하게 되어, 실린더(722)의 왕복 이동거리를 이용하여 이동헤드(730)의 승하강 높이를 조절할 때, 그 높이를 보다 세밀하게 조절할 수 있다.
한편, 제3 방향이 제2 방향과 근접하게 형성되면, 실린더(722)의 왕복 이동거리에 비해 이동헤드(730)의 승하강 이동거리가 비약적으로 상승하게 되어, 실린더(722)의 왕복 이동거리를 이용하여 이동헤드(730)의 승하강 높이를 조절할 때, 작은 구동력 또는 실린더(722)의 작은 왕복 이동거리로, 이동헤드(730)의 승하강 높이를 큰 폭으로 조정할 수 있다.
다만, 제3 방향이 실린더(722)의 하중 전달 방향인 제1 방향 또는 이동헤드(730)의 승강동작에 의한 하중 전달 방향인 제2 방향에 근접하면 할수록, 제1 방향과 제2 방향의 하중의 합력의 방향과 멀어지게 되어, 이동헤드(730)에 의한 승강레일(723)에 가해지는 부하가 크게 증가할 수밖에 없다.
따라서, 제3 방향은 제1 방향의 하중과 제2 방향의 하중의 합력 방향과 직교하는 방향으로 형성되는 것이 바람직하다.
제3 방향을 결정하기 위해, 실린더(722)로부터 전달되는 하중의 합력 방향을 예측하면, 제1 방향으로 전달되는 실린더(722)의 구동력은 이동헤드(730)가 안내홈의 슬라이딩 구간(d1)을 이동시키는 힘과 이동헤드(730)가 안내홈의 승강 구간(d2)을 이동시키는 힘이라 가정할 수 있으며, 이에, 그 힘의 크기는 슬라이딩 구간(d1)의 거리와 승강 구간(d2)의 거리에 비례한다 할 수 있다.
도면에서는 제작의 편의를 고려하여, 제3 방향이 제2 방향과 직교하는 방향으로 설정하여 도시하였으나, 바람직한 제3 방향은 상술한 바와 같이 힘의 합력 방향과 직교하는 방향이다. 다만, 안내홈의 승강 구간(d2)이 슬라이딩 구간(d1)에 비해 비교적 작은 거리로 형성됨으로써, 바람직한 제3 방향은 도면에 도시된 제2 방향에 직교하는 방향과 큰 차이를 보이지 않아 제작의 편의를 고려하여, 제3 방향은 제2 방향에 직교하는 방향으로 설정되어도 무방하며, 이를 통해, 이동헤드(730) 동작의 불연속적인 문제, 굴절부분의 마모 문제 및 안내돌기(731)와 안내홈이 변형되거나 파손되는 문제 등을 경감할 수 있다.
위에서 설명한 바와 같이 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등개념으로 이해되어져야 할 것이다.
IS : COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템
100 : 자동 검사부
110 : 인덱스 테이블
120 : 자동 플레이트
130 : 플리커 검사기
140 : 점등 검사기
200 : 육안 검사부
210 : 육안 검사기
300 : 메인 이송부
310 : 공급 플레이트
320 : 언로딩기
330 : 이동 플레이트
340 : 로딩기
350 : 메인 이송레일
301 : 제1 위치 302 : 제2 위치 303 : 제3 위치
400 : 재검 이송부
410 : 재검 플레이트
420 : 재검 이송기
430 : 재검 이송레일
440 : 재검 버퍼기
450 : 재검 버퍼이송기
SP : 대기 위치
401 : 제1 위치 402 : 제2 위치 403 : 제3 위치
500 : 취합 이송부
510 : 취합 플레이트
520 : 취합 이송레일
530 : 취합 이송기
540 : 대기 플레이트
550 : 취합 버퍼기
560 : 취합 버퍼이송기
501 : 제1 위치 502 : 제2 위치 503 : 제3 위치
600 : 후단 이송부
610 : 후단 이송기
620 : 후단 버퍼기
P : 픽커
P10 : 흡착기
P20 : 구동기
P30 : 이동기
B : 버퍼기
B10 : 본체
B20 : 수납슬롯
700 : 신호 공급장치
710 : 본체 프레임
720 : 구동유닛
721 : 지지블럭
722 : 실린더
723 : 승강레일
730 : 이동헤드
731 : 안내돌기
740 : 신호공급유닛
741 : 커넥터
M : 신호공급부 G : 고정부재
d1 : 슬라이딩 구간 d2 : 승강 구간
100 : 자동 검사부
110 : 인덱스 테이블
120 : 자동 플레이트
130 : 플리커 검사기
140 : 점등 검사기
200 : 육안 검사부
210 : 육안 검사기
300 : 메인 이송부
310 : 공급 플레이트
320 : 언로딩기
330 : 이동 플레이트
340 : 로딩기
350 : 메인 이송레일
301 : 제1 위치 302 : 제2 위치 303 : 제3 위치
400 : 재검 이송부
410 : 재검 플레이트
420 : 재검 이송기
430 : 재검 이송레일
440 : 재검 버퍼기
450 : 재검 버퍼이송기
SP : 대기 위치
401 : 제1 위치 402 : 제2 위치 403 : 제3 위치
500 : 취합 이송부
510 : 취합 플레이트
520 : 취합 이송레일
530 : 취합 이송기
540 : 대기 플레이트
550 : 취합 버퍼기
560 : 취합 버퍼이송기
501 : 제1 위치 502 : 제2 위치 503 : 제3 위치
600 : 후단 이송부
610 : 후단 이송기
620 : 후단 버퍼기
P : 픽커
P10 : 흡착기
P20 : 구동기
P30 : 이동기
B : 버퍼기
B10 : 본체
B20 : 수납슬롯
700 : 신호 공급장치
710 : 본체 프레임
720 : 구동유닛
721 : 지지블럭
722 : 실린더
723 : 승강레일
730 : 이동헤드
731 : 안내돌기
740 : 신호공급유닛
741 : 커넥터
M : 신호공급부 G : 고정부재
d1 : 슬라이딩 구간 d2 : 승강 구간
Claims (7)
- COG(Chip On Glass) 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템으로서,
COG 공정에서 제조된 검사대상물이 언로딩되어 플리커(Flicker) 검사와 점등 검사 등의 자동 검사를 통해 상기 검사대상물의 양부가 판정되도록 하는 자동 검사부;
상기 자동 검사부에서 불량 판정된 검사대상물의 양부를 검사자의 육안을 통해 재판정하는 육안 검사부;
상기 COG 공정에서 제조된 검사대상물이 상기 복수의 검사부에 일정 수량 및 일정 배열로 공급되도록, 상기 일정 수량 만큼의 슬롯이 형성된 플레이트가 마련되어, 상기 슬롯이 상기 검사대상물에 의해 만재된 상태로 이송되어 제공될 때, 상기 자동 검사부에 만재 수량의 COG 공정에서 제조된 검사대상물을 언로딩하고, 상기 자동 검사부에서 양부가 판정된 검사대상물 중, 양품 판정된 검사대상물만을 로딩하며, 상기 육안 검사부에서 재판정된 양품 검사대상물을 상기 자동 검사부에서 불량 판정되어 로딩되지 않은 빈 슬롯에 로딩하여, 상기 자동 검사부와 상기 육안 검사부에서 양품 판정된 검사대상물이 취합되도록 함으로써, 상기 플레이트의 슬롯이 만재된 상태로 후단 제조 공정으로 이송되도록 하는 메인 이송부;
상기 자동 검사부에서 양부를 판정받은 상기 검사대상물 중, 불량 판정을 받은 검사대상물을 선별하여 상기 육안 검사부로 이송하는 재검 이송부;
상기 자동 검사부에서 양품 판정된 검사대상물이 상기 메인 이송부에 의해 이송될 때, 상기 육안 검사부에서 양품 판정된 검사대상물을 로딩하여 상기 자동 검사부에서 양품 판정된 검사대상물과 취합되도록 하는 취합 이송부; 및
상기 메인 이송라인의 후단에 마련되어, 상기 자동 검사부와 상기 육안 검사부에서 양품 판정되어 취합된 검사대상물을 상기 후단 제조 공정으로 이송하며, 상기 후단 제조 공정이 정체될 경우, 상기 메인 이송부로부터 이송되는 검사대상물을 별도 적재하고, 상기 후단 제조 공정은 원활하나 상기 메인 이송부로부터 이송되는 검사대상물이 부족할 경우, 상기 적재된 검사대상물을 인출하여 상기 후단 제조 공정으로 이송하는 후단 이송부;
를 포함하고,
상기 재검 이송부는,
재검 버퍼기를 포함하고,
상기 육안 검사부의 육안 검사 과정이 정체될 경우, 상기 자동 검사부에서 불량 판정되어 이송되는 검사대상물을 상기 재검 버퍼기에 적재시키고, 상기 육안 검사부의 육안 검사 과정이 원활하고 상기 자동 검사부에서 불량 판정되어 이송되는 검사대상물이 부족한 경우, 상기 재검 버퍼기에 적재된 검사대상물을 인출하여 상기 육안 검사부에 이송하며,
상기 취합 이송부는,
취합 버퍼기를 포함하고,
상기 자동 검사부에서 양품 판정되어 이송되는 검사대상물이 상기 플레이트에 형성된 일정 수량의 슬롯에 만재된 상태로 이송되는 경우, 상기 육안 검사부에서 양품 판정된 검사대상물을 상기 취합 버퍼기에 적재시키며, 상기 육안 검사부의 검사 과정이 정체되고, 상기 자동 검사부에서 양품 판정되어 이송되는 검사대상물이 상기 플레이트에 형성된 일정 수량의 슬롯에 만재되지 않은 상태로 이송되는 경우, 상기 취합 버퍼기에 적재된 검사대상물을 인출하여 상기 자동 검사부에서 양품 판정된 검사대상물과 취합되도록 하며,
상기 후단 이송부는,
후단 버퍼기를 포함하고,
상기 플레이트에 양품 판정된 검사대상물이 만재된 상태인지 여부를 판별하고, 만재된 상태인 경우에는 만재된 검사대상물을 후단 제조 공정으로 안내하고, 만재되지 않은 경우에는 상기 후단 버퍼기의 기적재된 검사대상물의 수량을 확인하여 상기 수량이 상기 플레이트를 만재시키기에 부족하지 않으면 상기 후단 버퍼기에서 양품 판정된 검사대상물을 인출하여 상기 플레이트를 만재시키고 그 다음 상기 후단 제조 공정으로 안내하나, 상기 수량이 상기 플레이트를 만재시키기에 부족하면 상기 플레이트의 양품 판정된 검사대상물을 상기 후단 버퍼기에 적재시키는
COG 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템. - 제 1항에 있어서,
상기 자동 검사부는,
상기 언로딩된 COG 공정에서 제조된 검사대상물이 중심축을 기준으로 설정된 회전각 단위로 회전되어, 상기 회전각 단위 부분에 각각 마련된 복수의 자동 검사 과정에 상기 COG 공정에서 제조된 검사대상물을 이송시킴으로써, 상기 COG 검사대상물의 양부가 판정되도록 하는 인덱스(Index) 방식으로 구동되거나,
상기 언로딩된 COG 공정에서 제조된 검사대상물이 메인 이송라인을 따라 마련되는 복수의 자동 검사 과정에 각각 순차적으로 이송되어, 상기 COG 검사대상물의 양부가 판정되도록 하는 인라인(In-Line) 방식으로 구동되는 것을 특징으로 하는
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| KR20120004249A (ko) * | 2010-07-06 | 2012-01-12 | 주식회사 영우디에스피 | 오엘이디 패널의 검사장치 |
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-
2017
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Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008098340A (ja) | 2006-10-11 | 2008-04-24 | Sharp Corp | 光半導体デバイスの検査方法および検査装置 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 박형근 외, TFT-LCD 패널검사 자동화를 위한 원격 모니터링 시스템 개발, 한국산학기술학회논문지 제8권제3호, 한국산학기술학회, 2007.6, pp483-487 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20190035197A (ko) | 2019-04-03 |
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