KR101961691B1 - 디스플레이 패널의 테스트 장치 - Google Patents

디스플레이 패널의 테스트 장치 Download PDF

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KR101961691B1 KR1020180088503A KR20180088503A KR101961691B1 KR 101961691 B1 KR101961691 B1 KR 101961691B1 KR 1020180088503 A KR1020180088503 A KR 1020180088503A KR 20180088503 A KR20180088503 A KR 20180088503A KR 101961691 B1 KR101961691 B1 KR 101961691B1
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이기덕
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Abstract

본 발명은 베이스 플레이트; 상기 베이스 플레이트에 결합하는 헤드 플레이트; 상기 헤드 플레이트에 결합하며 제1 방향으로 정렬되어 배치되는 복수 개의 제1 블록; 복수 개의 상기 제1 블록에 각각 결합하는 제2 블록;및 상기 제2 블록에 결합하여 패널과 접촉하는 프로브를 포함하고, 상기 제1 블록은 체결홀을 포함하고, 상기 제2 블록은 관통홀을 포함하고, 상기 제1 블록과 상기 제2 블록은 상기 관통홀을 관통하여 상기 체결홀에 결합하는 체결부재를 통해 결합되고, 상기 관통홀의 크기는 상기 체결부재의 헤드부의 크기보다 작고, 상기 체결홀의 크기보다 큰 디스플레이 패널의 테스트 장치를 제공할 수 있다.

Description

디스플레이 패널의 테스트 장치{Apparatus for testing display panel}
실시예는 디스플레이 패널의 테스트 장치에 관한 것이다.
디스플레이 패널의 테스트 장치는 디스플레이의 패널의 에이징을 테스트하기를 위한 장치이다. 에이징은 디스플레이 패널의 제조 과정 중에 수행되는 공정으로, 디스플레이 패널이 제대로 구동되는지 확인하기 위한 신뢰성을 실험하는 공정이다.
이러한 에이징 공정에서는 에이징 챔버 내에 디스플레이 패널을 베이스 플레이트와 헤드 플레이트가 결합된 팔레트에 거치시킨 상태에서, 일정 시간 동안 전기적 신호를 인가하여 디스플레이가 정상적으로 작동하는지 검사한다.
헤드플레이트에는 복수의 블록이 결합된다. 각각의 블록에는 디스플레이 패널과 접촉하는 프로브가 장착된다.
프로브와 디스플레이 패널의 접촉 위치는 정렬되어야 한다. 프로브와 디스플레이 패널의 접촉 위치에 오차가 있다면, 작업자는 헤드 플레이트와 블록을 전부 재조립하여야 하는 문제점이 있다.
대한민국 등록특허 제10-1795615호(2017.11.02. 공고)
본 발명은 프로브와 디스플레이 패널의 접촉 위치에 오차를 용이하게 보정할 수 있는 디스플레이 패널의 테스트 장치를 제공하는 것을 그 해결하고자 하는 과제로 삼는다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급된 과제에 국한되지 않으며 여기서 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
실시예는, 베이스 플레이트와, 상기 베이스 플레이트에 결합하는 헤드 플레이트와, 상기 헤드 플레이트에 결합하며 제1 방향으로 정렬되어 배치되는 복수 개의 제1 블록과, 복수 개의 상기 제1 블록에 각각 결합하는 제2 블록 및 상기 제2 블록에 결합하여 패널과 접촉하는 프로브를 포함하고, 상기 제1 블록은 체결홀을 포함하고, 상기 제2 블록은 관통홀을 포함하고, 상기 제1 블록과 상기 제2 블록은 상기 관통홀을 관통하여 상기 체결홀에 결합하는 체결부재를 통해 결합되고, 상기 관통홀의 크기는 상기 체결부재의 헤드부의 크기보다 작고, 상기 체결홀의 크기보다 큰 디스플레이 패널의 테스트 장치를 제공할 수 있다.
바람직하게는, 상기 체결홀 및 상기 관통홀은 각각 복수 개가 배치되고, 복수 개의 상기 체결홀 및 상기 관통홀은 상기 제1 방향으로 정렬되어 배치될 수 있다.
바람직하게는, 상기 프로브는 상기 제1 블록의 전방에 배치될 수 있다.
바람직하게는, 상기 베이스 플레이트는 상기 제1 방향을 따라 배치되는 장공형의 홀을 포함하고, 상기 프로브는 상기 홀과 정렬되어 배치되며, 상기 제1 블록은 상기 홀의 후방에 배치될 수 있다.
바람직하게는, 상기 제1 블록은 수평블록과 상기 수평블록 위에 수직하게 배치되는 수직블록을 포함하고, 상기 수직블록은 상기 헤드 플레이트에 상기 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 슬라이드 가능하게 배치되고, 상기 수평블록과 상기 헤드 플레이트 사이에 배치되어, 상기 제2 방향으로 복원력을 제공하는 탄성부재를 더 포함할 수 있다.
바람직하게는, 상기 수평블록에는 상기 체결홀이 배치되고, 상기 탄성부재가 배치되는 수용홈이 배치될 수 있다.
바람직하게는, 상기 제2 블록은, 상기 관통홀 배치되며, 하측에 상기 프로브가 부착되는 메인블록과, 조절볼트를 포함하고, 상기 메인블록은 제1 파트와 제2 파트를 포함하고, 상기 조절볼트는 길이가 변경 가능하게 형성되며, 상기 제1 파트와 상기 제2 파트에 걸쳐 배치되어, 상기 제1 파트와 상기 제2 파트 사이의 거리를 가변시킬 수 있다.
실시예에 따르면, 프로브와 디스플레이 패널의 접촉 위치에 대한 오차를 용이하게 보정할 수 있는 유리한 효과를 제공한다.
도 1은 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 장치를 도시한 도면,
도 2는 도 1에서 도시한 디스플레이 패널의 테스트 장치의 분해도,
도 3 및 도 4는 도 1에서 도시한 디스플레이 패널의 테스트 장치에 패널이 거치되는 상태를 도시한 도면,
도 5는 베이스 플레이트의 하부 플레이트를 도시한 도면,
도 6은 패널 테스트 장치의 측단면도,
도 7은 제1 블록과 제2 블록을 나타낸 것으로, 도 1의 A확대도,
도 8은 제1 블록을 도시한 도면이다.
도 9는 제2 블록을 도시한 도면이다.
도 10은 제2 블록의 메인블록의 제1 파트를 도시한 도면,
도 11은 제1 블록과 정렬된 제2 블록을 도시한 도면,
도 12는 제1 블록의 위치를 조절하는 상태를 도시한 도면,
도 13은 높이방향으로 움직이는 제1 블록과 제2 블록을 도시한 도면,
도 14는 높이방향으로 프로브의 위치를 조절하는 상태를 도시한 도면이다.
본 발명의 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 연관되는 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예들로부터 더욱 명백해질 것이다. 그리고 본 명세서 및 특허청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정하여 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해서 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 그리고 본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 관련된 공지기술에 대한 상세한 설명은 생략한다.
도 1은 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 장치를 도시한 도면이고, 도 2는 도 1에서 도시한 디스플레이 패널의 테스트 장치의 분해도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 장치는, 베이스 플레이트(100)와 헤드 플레이트(200)와 제1 블록(300)과 제2 블록(400)을 포함할 수 있다. 이하, 도면에서, x축 방향은 디스플레이 패널의 테스트 장치의 폭방향이며, y축 방향은 디스플레이 패널의 테스트 장치의 길이방향이며, z축 방향은 디스플레이 패널의 테스트 장치의 높이방향을 나타낸다. 이하, 제1 방향은 폭방향 일 수 있으며, 제2 방향은 높이방향일 수 있다.
높이방향을 기준으로, 베이스 플레이트(100)의 상측에 헤드 플레이트(200)가 배치된다. 길이방향으로 기준으로, 베이스 플레이트(100)는 전방영역에는 패널이 거치되며, 후방영역에는 헤드 플레이트(200)가 장착된다. 패널의 진입방향은 도 1의 P와 같이, 길이방향으로서, 헤드 플레이트(200)를 향하는 방향이다. 하나의 베이스 플레이트(100)에 복수 개의 헤드 플레이트(200)가 배치될 수 있다. 예를 들어, 2개의 헤드 플레이트(200)가 배치될 수 있으며, 2개의 헤드 플레이트(200)는 폭방향을 따라 배열될 수 있다. 각각의 헤드 플레이트(200)에는 복수 개의 제1 블록(300)이 결합된다. 각각의 제1 블록(300)에는 제2 블록(400)이 결합된다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 베이스 플레이트(100)는 상부 플레이트(110)와 하부 플레이트(120)가 결합된 형태일 수 있다. 상부 플레이트(110)는 패널이 거치되는 곳으로, 베이스 플레이트(100)의 전방영역에 배치된다. 헤드 플레이트(200)에는 제1 블록(300)이 결합하고, 길이방향으로 제1 블록(300)의 전방에 제2 블록(400)이 배치된다.
도 3 및 도 4는 도 1에서 도시한 디스플레이 패널의 테스트 장치에 패널이 거치되는 상태를 도시한 도면이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 디스플레이 패널의 테스트 장치에서 상대적으로 큰 패널(1)과 작은 패널(2)이 모두 호환되어 거치될 수 있다. 도 3에서 도시한 바와 같이, 상대적으로 큰 패널(1)이 베이스 플레이트(100)에 거치될 수 있다. 예를 들어, 헤드 플레이트(200A,200B)마다 1개의 패널(1)이 거치될 수 있다. 도 4에서 도시한 바와 같이, 상대적으로 작은 패널(2)이 베이스 플레이트(100)에 거치될 수 있다. 이 경우, 헤드 플레이트(200A,200B)마다 복수 개의 패널(2)이 거치될 수 있다.
도 5는 베이스 플레이트(100)의 하부 플레이트(120)를 도시한 도면이고, 도 6은 패널 테스트 장치의 측단면도이다.
도 5 및 도 6을 참조하면, 베이스 플레이트(100)의 하부 플레이트(120)는 장공형의 홀(121)을 포함한다. 홀(121)은 폭방향으로 길게 형성된다. 이러한 홀(121)은 복수 개가 배치될 수 있다. 복수 개의 홀(121)은 폭방향으로 배열된다. 홀(121)은 패널과 프로브(500)의 접촉 위치(L)와 정렬된다. 프로브(500)의 위치도 홀(121)의 위치와 정렬된다. 홀(121)의 하측에는 카메라가 배치된다. 작업자는 카메라에서 획득한 영상에 기초하여 접촉 위치(L)를 기준으로 패널과 프로브(500)가 정렬되었는지 확인할 수 있다.
도 7은 제1 블록(300)과 제2 블록(400)을 나타낸 것으로, 도 1의 A확대도이다.
도 7을 참조하면, 제1 블록(300)은 헤드 플레이트(200)에 결합한다. 제2 블록(400)은 제1 블록(300)에 결합한다. 길이방향으로 제2 블록(400)은 제1 블록(300)의 전방에 배치된다. 프로브(500)는 높이방향을 기준으로 제 2 블록(400)의 하측에 배치된다.
도 8은 제1 블록(300)을 도시한 도면이다.
도 7 및 도 8을 참조하면, 제1 블록(300)은 수직블록(310)과 수평블록(320)과 탄성부재를 포함할 수 있다. 수직블록(310)은 헤드 플레이트(200)에 높이방향으로 슬라이드 가능하게 결합한다. 헤드 플레이트(200)에는 높이방향을 따라 슬롯(210)이 배치된다. 슬롯(210)에 수직블록(310)이 배치된다. 슬롯(210)에는 가이드(220)가 배치된다. 가이드(220)에는 수직블록(310)이 슬라이드 가능하게 결합된다.
수평블록(320)의 상면에 수직블록(310)이 수직하게 배치된다. 수평블록(320)에는 복수의 체결홀(321)이 배치된다. 체결홀(321)에는 제1 블록(300)과 제2 블록(400)을 결합시키는 체결부재(도 10의 440)가 체결된다. 복수의 체결홀(321)은 폭방향으로 나열된다. 수평블록(320)의 상면에는 오목하게 수용홈(322)이 배치될 수 있다. 수용홈(322)에는 탄성부재의 단부가 삽입된다. 푹방향으로, 수용홈(322)은 수평블록(320)을 기준으로 수평블록(320)의 양 측에 배치된다.
도 9는 제2 블록(400)을 도시한 도면이다.
도 7 및 도 9를 참조하면, 제2 블록(400)은 제1 블록(300)과 결합한다. 그리고 제2 블록(400)의 하측에는 프로브(500)가 장착된다. 제2 블록(400)은 메인블록(410)과 커버(420)와 조절볼트(430)를 포함할 수 있다. 메인블록(410)은 제1 파트(411)와 제2 파트(412)를 포함할 수 있다. 제1 파트(411)는 제1 블록(300)의 수평블록(320)과 별도의 체결부재(440)를 통해 결합된다. 제2 파트(412)는 제1 파트(411)와 결합한다. 제2 파트(412)는 제1 파트(411)에 높이 방향으로 슬라이드 가능하게 배치된다. 조절볼트(430)는 제1 파트(411)와 제2 파트(412)를 걸쳐 배치된다. 조절볼트(430)는 상부(431)와 하부(432)로 구분된다. 하부(432)는 제2 파트(412)에 배치된다. 상부(431)는 하부(432)에 회전 체결된다. 상부(431)가 회전됨에 따라, 조절볼트(430)의 길이가 길어지거나 짧아진다. 이러한 조절볼트(430)는 높이방향으로, 제1 파트(411)와 제2 파트(412)의 간격을 변경하여, 높이방향으로 프로브(500)의 위치를 조절하는 역할을 한다.
도 10은 제2 블록(400)의 메인블록(410)의 제1 파트(411)를 도시한 도면이다.
도 10을 참조하면, 제1 파트(411)에는 제1 파트(411)의 후측 에지 부근에 관통홀(121)이 배치된다. 관통홀(411a)은 체결부재(440)가 관통하는 부분이다. 관통홀(411a)은 폭방향을 따라 복수 개가 배치될 수 있다. 관통홀(411a) 주변에는 홈(411b)이 배치될 수 있다. 홈(411b)홈은 제1 파트(411)의 상면에서 오목하게 형성된다. 홈(411b)의 내측에는 체결부재(440)의 헤드(441)가 수용되는 공간이 마련된다. 체결부재(440)는 헤드(441)와 바디(442)를 포함한다. 헤드(441)의 직경(D2)은 바디의 직경(D3)보다 크다. 그리고, 관통홀(411a)의 직경(D1)은 체결부재(440)의 바디의 직경(D3)보다 크고, 체결부재(440)의 헤드(441)의 직경(D2)보다는 작다. 체결부재(440)의 바디(442)는 관통홀(411a)을 관통하여 제1 블록(300)의 체결홀(321)에 체결된다. 헤드(441)가 제1 파트(411)를 가압하여 고정할 때까지, 바디(442)는 체결홀(321)에 체결된다.
도 11은 제1 블록(300)과 정렬된 제2 블록(400)을 도시한 도면이다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 제1 블록(300)의 제1 파트(411)와 제2 블록(400)이 체결되는 과정에서 관통홀(411a)과 체결홀(321)이 정렬된다. 이때. 관통홀(411a)의 직경이 체결홀(321)의 직경보다 크기 때문에, 체결부재(440)의 바디(442)가 체결홀(321)에서 일부 풀려, 제1 파트(411)에 대한 헤드(421)의 가압이 해제된 경우, 관통홀(411a) 안에서 제1 파트(411)가 유동할 수 있다. 제1 파트(411)가 움직이는 경우, 이에 연동하여 제2 블록(400)이 움직이고, 이에 연동하여 프로브(500)의 위치도 변경된다,
도 12는 제1 블록의 위치를 조절하는 상태를 도시한 도면이다.
작업자는, 패널과 프로브(500)의 접촉 위치가 정렬되지 않은 경우, 도 12에서 도시한 바와 같이, 체결부재(440)를 일부 풀어, 제1 파트(411)의 유동성을 확보하고, 카메라를 통해 획득한 프로브(500)와 패널의 접촉위치에 대한 영상을 보면서 제1 파트(411)를 움직여 프로브(500)의 위치를 조절할 수 있다. 작업자는 폭방향 뿐만 아니라 관통홀(411a)의 범위내에서 x축-y축 평면 상의 다양한 방향으로 제1 파트(411)를 움직여 프로브(500)의 위치를 조절할 수 있다. 작업자는 프로브(500)와 패널의 접촉위치가 정렬된 경우, 체결부재(440)를 조여, 제1 파트(411)를 제1 블록(300)에 고정함으로써, 프로브(500)의 위치를 고정시킬 수 있다.
도 13은 높이방향으로 움직이는 제1 블록(300)과 제2 블록(400)을 도시한 도면이다.
도 13을 참조하면, 제1 블록(300)은 레버(600)와 힌지축(H)을 연결된다. 패널(1)이 진입하면, 레버(600)에 외력이 작용한다. 외력에 의해 레버(600)가 힌지축(H)을 중심으로 회동하면, 제1 블록(300) 및 제2 블록(400)이 상향 이동하고, 이에 연동하여 프로브(500)도 상향이동하면서, 패널(1)이 접촉위치(L)로 진입할수 있도록 공간을 확보한다. 패널(1)과 프로브(500)가 접촉한 상태에서는 탄성부재(330)를 통해 패널(330)에 대해 적절한 가압력이 제공되어, 패널(1)과 프로브(500)의 접촉 상태를 유지한다.
도 14는 높이방향으로 프로브(500)의 위치를 조절하는 상태를 도시한 도면이다.
도 14를 참조하면, 패널과 프로브(500)의 접촉위치가 정렬된 상태에서도, 높이방향으로, 프로브(500)와 패널의 위치가 맞지 않은 경우, 조절볼트(430)를 통해서, 높이방향으로 프로브(500)의 위치를 조절할 수 있다. 작업자는 조절볼트(430)를 어느 한 방향으로 회전시키면, 조절볼트(430)의 길이가 확장되고, 이에 연동하면서 제1 파트(411)와 제2 파트(412)의 간격(D)이 커지면서, 프로브(500)의 위치를 하향이동시킬 수 있다. 반대로, 조절볼트(430)를 다른 방향으로 회전시키면, 조절볼트(430)의 길이가 축소되고, 이에 연동하면서 제1 파트(411)와 제2 파트(412)의 간격이 줄어들면서, 프로브(500)의 위치를 상향이동시킬 수 있다.
앞서 살펴봤듯이, 제1 블록(300)은 폭방향으로 복수개가 배치된다. 그리고, 각각의 제1 블록(300)에는 제2 블록(400)의 제2 파트(412)가 결합된다. 프로브(500)와 패널의 접촉위치에 오차가 발생한 경우, 오차가 발생한 해당 제2 블록(400)의 제1 파트(411)만을 상술한 바와 같이, x축-y축 평면 상의 다양한 방향으로 프로브(500)의 위치를 조절할 수 있기 때문에, 프로브(500)와 패널의 접촉위치에 대한 정렬이 매우 용이한 이점이 있다. 또한, 높이방향으로도 조절볼트(430)를 통해 패널(1,2)과 프로브(500)의 높이 편차를 조절할 수 있는 이점이 있다.
이상으로 본 발명의 바람직한 하나의 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 장치에 관하여 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 살펴보았다.
전술된 본 발명의 일 실시예는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 본 발명의 범위는 전술된 상세한 설명보다는 후술될 특허청구범위에 의해 나타내어질 것이다. 그리고 이 특허청구범위의 의미 및 범위는 물론 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형 가능한 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
100: 베이스 플레이트
200: 헤드 플레이트
300: 제1 블록
321: 체결홀
400: 제2 블록
410: 메인블록
411: 제1 파트
411a: 관통홀
412: 제2 파트
420: 커버
430: 조절볼트
500: 프로브
600: 레버

Claims (7)

  1. 베이스 플레이트;
    상기 베이스 플레이트에 결합하는 헤드 플레이트;
    상기 헤드 플레이트에 결합하며 제1 방향으로 정렬되어 배치되는 복수 개의 제1 블록;
    복수 개의 상기 제1 블록에 각각 결합하는 제2 블록;및
    상기 제2 블록에 결합하여 패널과 접촉하는 프로브를 포함하고,
    상기 제1 블록은 체결홀을 포함하고,
    상기 제2 블록은 관통홀을 포함하고,
    상기 제1 블록과 상기 제2 블록은 상기 관통홀을 관통하여 상기 체결홀에 결합하는 체결부재를 통해 결합되고,
    상기 관통홀의 크기는 상기 체결부재의 헤드부의 크기보다 작고, 상기 체결홀의 크기보다 크고,
    상기 제1 블록은 수평블록과 상기 수평블록 위에 수직하게 배치되는 수직블록을 포함하고,
    상기 수직블록은 상기 헤드 플레이트에 상기 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 슬라이드 가능하게 배치되고,
    상기 수평블록과 상기 헤드 플레이트 사이에 배치되어, 상기 제2 방향으로 복원력을 제공하는 탄성부재를 더 포함하고,
    상기 제2 블록은,
    상기 관통홀이 배치되며, 하측에 상기 프로브가 부착되는 메인블록; 및
    조절볼트를 포함하고,
    상기 메인블록은 제1 파트와 제2 파트를 포함하고,
    상기 조절볼트는 길이가 변경 가능하게 형성되며, 상기 제1 파트와 상기 제2 파트에 걸쳐 배치되어, 상기 제1 파트와 상기 제2 파트 사이의 거리를 가변시키는 디스플레이 패널의 테스트 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 체결홀 및 상기 관통홀은 각각 복수 개가 배치되고,
    복수 개의 상기 체결홀 및 상기 관통홀은 상기 제1 방향으로 정렬되어 배치되는 디스플레이 패널의 테스트 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 프로브는 상기 제1 블록의 전방에 배치되는 디스플레이 패널의 테스트 장치
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 베이스 플레이트는 상기 제1 방향을 따라 배치되는 장공형의 홀을 포함하고,
    상기 프로브는 상기 홀과 정렬되어 배치되며,
    상기 제1 블록은 상기 홀의 후방에 배치되는 디스플레이 패널의 테스트 장치.
  5. 삭제
  6. 제1 항에 있어서,
    상기 수평블록에는 상기 체결홀이 배치되고, 상기 탄성부재가 배치되는 수용홈이 배치되는 디스플레이 패널의 테스트 장치.
  7. 삭제
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