KR101775666B1 - 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치 - Google Patents

액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101775666B1
KR101775666B1 KR1020150134136A KR20150134136A KR101775666B1 KR 101775666 B1 KR101775666 B1 KR 101775666B1 KR 1020150134136 A KR1020150134136 A KR 1020150134136A KR 20150134136 A KR20150134136 A KR 20150134136A KR 101775666 B1 KR101775666 B1 KR 101775666B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
liquid crystal
pressing
unit
crystal cell
light leakage
Prior art date
Application number
KR1020150134136A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20170035419A (ko
Inventor
황영민
김재호
김태욱
이종훈
Original Assignee
에스엔유 프리시젼 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 에스엔유 프리시젼 주식회사 filed Critical 에스엔유 프리시젼 주식회사
Priority to KR1020150134136A priority Critical patent/KR101775666B1/ko
Priority to TW105129552A priority patent/TWI612596B/zh
Priority to CN201610821929.XA priority patent/CN106842638A/zh
Priority to JP2016183977A priority patent/JP2017062472A/ja
Publication of KR20170035419A publication Critical patent/KR20170035419A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101775666B1 publication Critical patent/KR101775666B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/15Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on an electrochromic effect
    • G02F1/153Constructional details
    • G02F1/161Gaskets; Spacers; Sealing of cells; Filling or closing of cells
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1303Apparatus specially adapted to the manufacture of LCDs
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1341Filling or closing of cells

Abstract

본 발명은 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에 빛을 조사하고, 액정셀에 빛이 조사되는 상태에서 액정셀을 국부적으로 가압함에 따라 발생되는 액정셀에서 발생되는 빛샘 현상을 이용하여 액정의 주입 상태를 검사할 수 있는 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에 관한 것이다.
이를 위해 액정 주입 상태 검사방법은 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에서 액정의 주입 상태를 검사하는 액정 주입 상태 검사방법이고, 액정셀의 가압위치를 기설정된 가압력으로 가압하는 가압단계와, 액정셀 전체 또는 가압위치에 빛을 조사하는 조명단계와, 가압단계와 조명단계를 거침에 따라 가압위치에서 액정셀을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정하는 빛샘측정단계 및 빛샘측정단계에서의 빛샘 상태와 기설정된 기준변화량을 비교하는 검사단계를 포함한다.

Description

액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치{METHOD AND DEVICE FOR INSPECTING INJECTION CONDITION OF LIQUID CRYSTAL}
본 발명은 액정 주입 상태 검사방법과 검사장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에 빛을 조사하고, 액정셀에 빛이 조사되는 상태에서 액정셀을 국부적으로 가압함에 따라 액정셀에서 발생되는 빛샘 현상을 이용하여 액정의 주입 상태를 검사할 수 있는 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로, 액정 디스플레이(LCD: Liquid Crystal Display) 장치들은 광원 및 액정셀을 포함하고, 액정의 복굴절 특성을 이용하여 광의 전달을 제어함으로써, 다양한 이미지들을 표시한다. 액정셀을 만드는 프로세스에서, 액정 물질이 기판 상에 산포되고, 다른 기판이 그 위에 덮히는 기술이 제공되고 있다. 이러한 기술은 액정셀을 형성하는 프로세스의 단계들을 매우 감소시키고 제조 효율을 개선한다.
특히, 원 드롭 필(ODF: One Drop Fill) 방법은 다음 단계들을 포함한다. 우선, 밀봉 부재를 형성하기 위하여 밀폐제가 한 쌍의 기판들 중 하나의 전체 주변에 발라진 후, 액정 물질이 기판쌍 중 하나에 산포된다. 산포 단계 이후에, 한 기판이 다른 기판 위에 겹쳐 놓아진 후, 밀봉 부재가 경화된다.
이러한 원 드롭 필(ODF) 방법은 종래의 진공 주입 방법에 비해 액정 물질의 사용량 및 액정 물질의 주입 시간을 감소시켜 액정셀의 제조 비용을 상당히 감소시킬 수 있고, 수율을 개선시킨다.
이때, 기판의 두께가 얇아지고, 기판의 면적이 대형화되며, 액정셀에서의 해상도가 높아짐에 따라 액정셀의 구동 불량을 방지하기 위해 액정의 주입 상태 검사는 더욱 중요한 요소로 작용하게 된다.
대한민국 등록특허공보 제10-0279260호(발명의 명칭 : 액정 셀의 액정 주입 및 액정주입구 봉입검사 시스템, 2000. 01. 15. 공고)
본 발명의 목적은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에 빛을 조사하고, 액정셀에 빛이 조사되는 상태에서 액정셀을 국부적으로 가압함에 따라 액정셀에서 발생되는 빛샘 현상을 이용하여 액정의 주입 상태를 검사할 수 있는 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치를 제공함에 있다.
상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 바람직한 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에서 상기 액정의 주입 상태를 검사하는 액정 주입 상태 검사방법이고, 상기 액정셀의 가압위치를 기설정된 가압력으로 가압하는 가압단계; 상기 액정셀 전체 또는 상기 가압위치에 빛을 조사하는 조명단계; 상기 가압단계와 상기 조명단계를 거침에 따라 상기 가압위치에서 상기 액정셀을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정하는 빛샘측정단계; 및 상기 빛샘측정단계에서의 빛샘 상태와 기설정된 기준변화량을 비교하는 검사단계;를 포함한다.
여기서, 상기 검사단계는, 상기 빛샘측정단계에서의 빛샘 상태가 기설정된 기준변화량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단하고, 상기 빛샘측정단계에서의 빛샘 상태가 기설정된 기준변화량의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.
여기서, 상기 빛샘측정단계에서의 빛샘 상태는, 상기 가압위치에서의 빛의 밝기와, 상기 가압위치에서의 빛샘 면적과, 상기 가압위치에서의 빛샘 직경 중 적어도 어느 하나를 포함한다.
본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에서 상기 액정의 주입 상태를 검사하는 액정 주입 상태 검사방법이고, 상기 액정셀의 가압위치를 기설정된 가압력으로 가압하는 가압단계; 상기 액정셀 전체 또는 상기 가압위치에 빛을 조사하는 조명단계; 상기 가압단계와 상기 조명단계를 거침에 따라 상기 액정셀을 통과하는 빛의 빛샘을 이용하여 상기 가압위치에서 상기 액정의 복원시간을 측정하는 복원시간측정단계; 및 상기 복원시간측정단계에서의 복원시간과 기설정된 기준복원시간을 비교하는 검사단계;를 포함한다.
여기서, 상기 검사단계는, 상기 복원시간측정단계에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단하고, 상기 복원시간측정단계에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.
여기서, 상기 복원시간측정단계에서의 복원시간은, 상기 가압단계에 의해 상기 가압위치에서 빛샘이 발생되는 제1시간과 상기 가압위치에서 빛샘이 사라지는 제2시간의 차이로 계산된다.
본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 상기 가압단계와 상기 조명단계에 따라 상기 가압위치에서 상기 액정셀을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정하는 빛샘측정단계;를 더 포함한다.
본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 상기 액정셀에서 상기 가압위치를 변경시키는 위치조정단계;를 더 포함한다.
본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에서 상기 액정의 주입 상태를 검사하는 액정 주입 상태 검사장치이고, 상기 액정셀의 가압위치를 기설정된 가압력으로 가압하는 가압유닛; 상기 액정셀 전체 또는 상기 가압위치에 빛을 조사하는 조명유닛; 상기 가압유닛과 상기 조명유닛의 동작에 따라 상기 가압위치에서 상기 액정셀을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정하는 빛샘측정유닛; 및 상기 빛샘측정유닛에서의 빛샘 상태와 기설정된 기준변화량을 비교하는 검사유닛;을 포함한다.
여기서, 상기 검사유닛은, 상기 빛샘측정유닛에서의 빛샘 상태가 기설정된 기준변화량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단하고, 상기 빛샘측정유닛에서의 빛샘 상태가 기설정된 기준변화량의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.
여기서, 상기 빛샘측정유닛에서의 빛샘 상태는, 상기 가압위치에서의 빛의 밝기와, 상기 가압위치에서의 빛샘 면적과, 상기 가압위치에서의 빛샘 직경 중 적어도 어느 하나를 포함한다.
본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에서 상기 액정의 주입 상태를 검사하는 액정 주입 상태 검사장치이고, 상기 액정셀의 가압위치를 기설정된 가압력으로 가압하는 가압유닛; 상기 액정셀 전체 또는 상기 가압위치에 빛을 조사하는 조명유닛; 상기 가압유닛과 상기 조명유닛의 동작에 따라 상기 액정셀을 통과하는 빛의 빛샘을 이용하여 상기 가압위치에서의 상기 액정의 복원시간을 측정하는 복원시간측정유닛; 및 상기 복원시간측정유닛에서의 복원시간과 기설정된 기준복원시간을 비교하는 검사유닛;을 포함한다.
여기서, 상기 검사유닛은, 상기 복원시간측정유닛에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단하고, 상기 복원시간측정유닛에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.
여기서, 상기 복원시간측정유닛에서의 복원시간은, 상기 가압유닛에 의해 상기 가압위치에서 빛샘이 발생되는 제1시간과 상기 가압위치에서 빛샘이 사라지는 제2시간의 차이로 계산된다.
본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상기 가압유닛과 상기 조명유닛에 따라 상기 가압위치에서 상기 액정셀을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정하는 빛샘측정유닛;을 더 포함한다.
본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정셀에서 상기 가압위치를 변경시키는 측정제어부;를 더 포함한다.
본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에 따르면, 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에 빛을 조사하고, 액정셀에 빛이 조사되는 상태에서 액정셀을 국부적으로 가압함에 따라 액정셀에서 발생되는 빛샘 현상을 이용하여 액정의 주입 상태를 검사할 수 있다.
또한, 본 발명은 액정셀의 가압위치를 변경하면서 가압위치(P)에서의 빛샘 상태 또는 액정의 복원시간을 측정할 수 있고, 액정셀의 전체 표면에 대하여 액정의 균일한 주입 상태를 확인할 수 있다.
또한, 본 발명은 액정셀의 가압 전후에 대한 빛샘 상태 또는 액정의 복원시간을 측정함으로써, 액정셀의 표면이 평면 형태가 될 때는 물론 곡면 형태가 되어도 액정의 균일한 주입 상태를 확인할 수 있다.
특히, 본 발명은 평면 형태의 액정셀에 대하여 빛샘 상태 또는 액정의 복원시간 측정을 간소화하고, 액정의 주입 상태를 신속하게 검사할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따라 액정셀에 액정이 주입된 상태를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에서 가압위치에서의 빛샘 상태 변화를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치를 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치의 변형예를 도시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법을 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에서 가압위치에서 액정의 복원시간을 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치를 도시한 도면이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치의 변형예를 도시한 도면이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법을 도시한 도면이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치의 일 실시예를 설명한다. 이때, 본 발명은 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 공지된 기능 혹은 구성에 대해 구체적인 설명은 본 발명의 요지를 명확하게 하기 위해 생략될 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따라 액정셀에 액정이 주입된 상태를 나타내는 도면이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에서 가압위치에서의 빛샘 상태 변화를 나타내는 도면이다.
도 1과 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에서 액정셀(SG)은 상부기판(GT)과 하부기판(GB)이 다수의 메인스페이서(MC)에 의해 일정 간격으로 이격되고, 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에 액정(LC)을 주입하여 완성된다. 이때, 상기 메인스페이서(MC) 사이에는 서브스페이서(SC)가 구비되어 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이의 이격 상태를 보완할 수 있다.
도시되지 않았지만, 상기 액정셀(SG)의 양면에는 편광필름이 구비될 수 있다. 여기서, 상기 액정셀(SG)의 일면에 구비된 편광필름의 편광 방향은 상기 액정셀(SG)의 타면에 구비된 편광필름의 편광 방향과 교차될 수 있다. 실질적으로는 직각으로 교차될 수 있다.
일예로, 상기 액정셀(SG)의 양면에 각각 상기 편광필름이 구비되는 경우, 후술하는 카메라유닛(30)의 카메라부(31)와 조명유닛(36)에는 상기 편광필름이 구비되지 않는 것이 바람직하다.
다른 예로, 상기 액정셀(SG)의 양면에 상기 편광필름이 구비되지 않는 경우, 후술하는 카메라유닛(30)의 카메라부(31)와 조명유닛(36)에는 서로 직각으로 교차되도록 상기 편광필름이 각각 구비되는 것이 바람직하다.
정상적인 상기 액정(LC)의 주입 상태를 살펴보면, 도 1의 (a)에 도시된 바와 같이 상기 메인스페이서(MC)의 양단이 각각 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB)에 지지된다. 또한, 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에는 별도의 빈공간이 없이 상기 액정(LC)이 충진된다.
정상을 초과하는 상기 액정(LC)의 주입 상태를 살펴보면, 도 1의 (b)에 도시된 바와 같이 상기 메인스페이서(MC)의 일단은 상기 하부기판(GB)에 지지되지만, 상기 메인스페이서(MC)의 타단은 상기 액정(LC)의 과다 주입으로 인해 상기 상부기판(GT)에서 이격된다. 이때, 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에는 별도의 빈공간이 없으나, 상기 메인스페이서(MC)의 타단과 상기 상부기판(GT) 사이에도 상기 액정(LC)이 충진될 수 있다.
정상보다 적은 상기 액정(LC)의 주입 상태를 살펴보면, 도 1의 (c)에 도시된 바와 같이 상기 메인스페이서(MC)의 양단이 각각 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB)에 지지된다. 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에 상기 액정(LC)이 충진되지만, 상기 액정(LC)의 주입량 부족으로 인해 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에는 빈공간이 형성될 수 있다.
여기서, 상기 액정셀(SG)에 빛을 조사하는 상태에서 후술하는 가압유닛(20)이 기설정된 가압력(Pp)으로 상기 액정셀(SG)을 가압하는 경우, 상기 액정셀(SG)에서는 가압력(Pp)에 의해 상기 액정(LC)이 구동한 것과 같은 원리가 작용하여 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)에서 빛샘 현상이 나타난다.
일예로, 정상적인 상기 액정(LC)의 주입 상태에서는 상기 가압위치(P)에 따라 미차가 있을 수 있으나, 상기 가압위치(P)에서의 빛의 밝기(Pa)는 기설정된 기준변화량의 오차범위 내에 존재한다.
여기서, Pa는 후술하는 가압유닛(20)이 기설정된 가압력(Pp)으로 상기 액정셀(SG)을 가압할 때, 상기 가압위치(P)에서의 빛의 밝기이다. 이때, 상기 액정셀(SG)을 가압하지 않을 때, 상기 가압위치(P)에서의 빛의 밝기는 "0"으로 한다.
다시 말해, 상기 액정(LC)이 정상적으로 주입된 상태라면, 도 2의 (a)에 도시된 바와 같이 상기 가압위치(P)에서의 빛의 밝기(Pa)는 기설정된 기준변화량의 최대값(Ph)과 같거나 작고, 기설정된 기준변화량의 최소값(Ps)과 같거나 큰 값을 나타낸다.
하지만, 상기 액정(LC)이 정상을 초과하는 주입 상태이거나, 상기 액정(LC)이 정상보다 적은 주입 상태라면, 도 2의 (b)에 도시된 바와 같이 상기 가압위치(P)에서의 빛의 밝기(Pa)는 기설정된 기준변화량의 최소값(Ps)보다 작은 값을 나타낸다. 또한, 상기 액정(LC)이 정상을 초과하는 주입 상태이거나, 상기 액정(LC)이 정상보다 적은 주입 상태라면, 도 2의 (c)에 도시된 바와 같이 상기 가압위치(P)에서의 빛의 밝기(Pa)는 기설정된 기준변화량의 최대값(Ph)보다 큰 값을 나타낸다.
다른 예로, 정상적인 상기 액정(LC)의 주입 상태에서는 상기 가압위치(P)에 따라 미차가 있을 수 있으나, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 직경(Da)은 기설정된 기준변화량의 오차범위 내에 존재한다.
여기서, Da는 후술하는 가압유닛(20)이 기설정된 가압력(Pp)으로 상기 액정셀(SG)을 가압할 때, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 직경이다. 이때, 상기 액정셀(SG)을 가압하지 않을 때, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 직경은 "0"으로 한다.
다시 말해, 상기 액정(LC)이 정상적으로 주입된 상태라면, 도 2의 (a)에 도시된 바와 같이 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 직경(Da)은 기설정된 기준변화량의 최대값(Dh)과 같거나 작고, 기설정된 기준변화량의 최소값(Ds)과 같거나 큰 값을 나타낸다
하지만, 상기 액정(LC)이 정상을 초과하는 주입 상태이거나, 상기 액정(LC)이 정상보다 적은 주입 상태라면, 도 2의 (b)에 도시된 바와 같이 상기 가압위치(P)에서 빛샘 직경(Da)은 기설정된 기준변화량의 최소값(Ps)보다 작은 값을 나타낸다. 또한, 상기 액정(LC)이 정상을 초과하는 주입 상태이거나, 상기 액정(LC)이 정상보다 적은 주입 상태라면, 도 2의 (b) 또는 도 2의 (c)에 도시된 바와 같이 상기 가압위치(P)에서 빛샘 직경(Da)은 기설정된 기준변화량의 최대값(Ph)보다 큰 값을 나타낸다.
상술한 설명에서 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 상태는 상기 가압위치(P)에서의 빛의 밝기와, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 면적과, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 직경 중 적어도 어느 하나로 나타낼 수 있다.
이와 같이 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정(LC)의 주입 상태에 따라 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 상태에 차이가 발생하는 것을 이용한다. 본 발명의 일 실시예에서는 액정 주입 상태 검사장치를 먼저 설명하고, 이것을 이용하여 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법을 설명하기로 한다.
지금부터는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치에 대하여 설명한다. 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치를 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치의 변형예를 도시한 도면이다.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정셀(SG)을 국부적으로 가압함에 따라 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)에서 발생되는 빛샘 상태를 측정하여 상기 액정(LC)의 주입 상태를 검사할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 가압유닛(20)과, 조명유닛(36)과, 빛샘측정유닛(30)과, 검사유닛(40)을 포함한다.
상기 가압유닛(20)은 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)를 기설정된 가압력(Pp)으로 가압한다. 일예로, 상기 가압유닛(20)은 간접 가압 방식으로써, 상기 가압위치(P)에 유체를 분사하는 다양한 형태의 분사장치를 포함할 수 있다. 다른 예로, 상기 가압유닛(20)은 직접 가압 방식으로써, 기설정된 가압력(Pp)으로 상기 가압위치(P)를 가압하는 팁이 구비된 다양한 형태의 압력장치를 포함할 수 있다. 상기 가압유닛(20)은 상기 가압위치(P)를 계속 가압하는 것이 아니고, 기설정된 가압력(Pp)으로 상기 가압위치(P)를 일정 시간만 가압하는 것이 바람직하다.
상기 가압유닛(20)은 후술하는 가압단계(S2)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
상기 조명유닛(36)은 상기 액정셀(SG) 전체 또는 상기 가압위치(P)에 빛을 조사한다. 여기서, 상기 조명유닛(36)을 한정하는 것은 아니고, 다양한 형태를 통해 상기 가압위치(P)에 상기 액정셀(SG)에 빛을 조사할 수 있다. 또한, 상기 조명유닛(36)을 한정하는 것은 아니고, 다양한 형태를 통해 상기 액정셀(SG) 전체에 빛을 조사할 수 있다.
이때, 상기 가압유닛(20)은 상기 액정셀(SG)의 상측에 구비되고, 상기 조명유닛(36)은 상기 액정셀(SG)의 하측에 구비되어 상기 가압유닛(20)의 동작에 상기 조명유닛(36)이 간섭되지 않도록 한다.
상기 조명유닛(36)은 후술하는 조명단계(S3)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
상기 빛샘측정유닛(30)은 상기 가압유닛(20)과 상기 조명유닛(36)의 동작에 따라 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정한다.
여기서, 상기 빛샘측정유닛(30)을 한정하는 것은 아니고, 조도계, 간섭계, 카메라 등과 같은 다양한 형태를 통해 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정할 수 있다. 상기 빛샘측정유닛(30)은 상기 조명유닛(36)이 상기 가압위치(P) 또는 상기 액정셀(SG) 전체에 빛을 조사하는 상태에서 상기 가압유닛(20)이 상기 가압위치(P)를 가압하여 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정하는 것이 바람직하다.
여기서, 상기 빛샘측정유닛(30)은 도 3에 도시된 바와 같이 빛샘측정부(31)와, 위치조정부(32)를 포함할 수 있다.
상기 빛샘측정부(31)는 상기 액정셀(SG)의 상측에 이격된 상태로 배치된다. 상기 빛샘측정부(31)는 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정한다. 여기서, 상기 가압유닛(20)은 상기 빛샘측정부(31)와 상기 액정셀(SG) 사이에서 상기 가압위치(P)를 가압할 수 있다. 그리고, 상기 빛샘측정부(31)는 조도계, 간섭계, 카메라 등과 같은 다양한 형태를 통해 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정할 수 있다.
상기 빛샘측정부(31)는 후술하는 빛샘측정단계(S31)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
상기 위치조정부(32)는 상기 액정셀(SG)의 상측에서 상기 가압위치(P)에 대응하여 상기 빛샘측정부(31)를 이동시킨다. 상기 위치조정부(32)는 상기 액정셀(SG)의 상측에서 상기 가압위치(P)에 대응하여 상기 가압유닛(20)을 이동시킬 수 있다. 상기 위치조정부(32)는 여기에 한정하는 것은 아니고, 다양한 형태를 통해 상기 액정셀(SG)의 상측에서 상기 가압위치(P)에 대응하여 상기 빛샘측정부(31)와 상기 가압유닛(20)을 이동시킬 수 있다.
이때, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시키는 측정제어부(35)를 더 포함할 수 있다. 상기 측정제어부(35)는 상기 위치조정부(32)를 동작시켜 상기 빛샘측정부(31)와 상기 가압유닛(20)을 해당 가압위치(P)로 이동시킴으로써, 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시시킬 수 있다.
상기 측정제어부(35)는 상기 위치조정부(32)와 연계하여 후술하는 위치조정단계(S5)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
다른 예로, 상기 빛샘측정유닛(30)은 도 4에 도시된 바와 같이 측정지지부(34)와, 빛샘측정부(31)를 포함할 수 있다.
상기 측정지지부(34)는 상기 액정셀(SG)에서 이격 배치된다.
상기 빛샘측정부(31)는 상기 가압위치에 대응하여 다수 개가 상기 측정지지부(34)에 구비된다. 상기 빛샘측정부(31)는 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정한다. 그리고, 상기 빛샘측정부(31)는 조도계, 간섭계, 카메라 등과 같은 다양한 형태를 통해 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정할 수 있다.
상기 빛샘측정부(31)는 후술하는 빛샘측정단계(S31)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
일예로, 상기 측정지지부(34)에는 상기 가압위치(P)에 대응하여 다수의 상기 빛샘측정부(31)와 다수의 가압유닛(20)이 지지될 수 있다.
다른 예로, 상기 측정지지부(34)에는 상기 가압위치(P)에 대응하여 상기 빛샘측정부(31)와 상기 가압유닛(20) 중 어느 하나가 다수 지지되고, 상기 위치조정부(32)에는 상기 빛샘측정부(31)와 상기 가압유닛(20) 중 다른 하나가 구비될 수 있다.
이때, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시키는 측정제어부(35)를 더 포함할 수 있다.
일예로, 상기 측정제어부(35)는 상기 가압위치(P)에 대응하여 상기 측정지지부(34)에 지지된 상기 빛샘측정부(31)와 상기 가압유닛(20)을 동작시킴으로써, 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시시킬 수 있다.
다른 예로, 상기 측정제어부(35)는 상기 가압위치(P)에 대응하여 상기 측정지지부(34)에 지지된 상기 빛샘측정부(31)와 상기 가압유닛(20) 중 어느 하나를 동작시키고, 상기 위치조정부(32)를 동작시켜 상기 빛샘측정부(31)와 상기 가압유닛(20) 중 다른 하나를 해당 가압위치(P)로 이동시킴으로써, 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시시킬 수 있다.
상기 측정제어부(35)는 상기 위치조정부(32)와 연계하여 후술하는 위치조정단계(S5)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
이때, 상기 빛샘측정유닛(30)이 측정하는 빛샘 상태는 상기 가압위치(P)에서의 빛의 밝기와, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 면적과, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 직경 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.
상기 빛샘측정유닛(30)은 후술하는 빛샘측정단계(S31)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
상기 검사유닛(40)은 상기 빛샘측정부(31)에서의 빛샘 상태와 기설정된 기준변화량을 비교한다.
상기 검사유닛(40)은 후술하는 검사단계(S4)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
그러면, 상기 검사유닛(40)은 상기 빛샘측정부(31)에서의 빛샘 상태가 기설정된 기준변화량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정(LC)이 정상적으로 주입되었다고 판단한다. 또한, 상기 검사유닛(40)은 상기 빛샘측정부(31)에서의 빛샘 상태가 기설정된 기준변화량의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정(LC)의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.
미설명부호 10은 상기 액정셀(SG)이 안착되는 스테이지이다. 이때, 상기 스테이지(10)에는 상기 액정셀(SG)에 빛을 조사하기 위한 상기 조명유닛(36)이 구비될 수 있다. 상기 스테이지(10)는 후술하는 배치단계(S1)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
지금부터는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법에 대하여 설명한다. 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법을 도시한 도면이다.
도 1 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 상기 액정셀(SG)을 국부적으로 가압함에 따라 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)에서 발생되는 빛샘 상태를 측정하여 상기 액정(LC)의 주입 상태를 검사할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 가압단계(S2)와, 조명단계(S3)와, 빛샘측정단계(S31)와, 검사단계(S4)를 포함한다.
상기 가압단계(S2)는 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)를 기설정된 가압력(Pp)으로 가압한다. 상기 가압단계(S2)는 상기 가압유닛(20)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)를 기설정된 가압력(Pp)으로 가압할 수 있다.
상기 조명단계(S3)는 상기 액정셀(SG) 전체 또는 상기 가압위치(P)에 빛을 조사한다. 상기 조명단계(S3)는 상기 조명유닛(36)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG) 전체 또는 상기 가압위치(P)에 빛을 조사한다.
상기 빛샘측정단계(S31)는 상기 가압단계(S2)과 상기 조명단계(S3)를 거침에 따라 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정한다. 상기 빛샘측정단계(S31)는 상기 조명유닛(36)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG)에 빛이 조사된 상태에서 상기 가압유닛(20)의 동작에 따라 상기 가압위치(P)를 가압하며, 상기 빛샘측정유닛(30)의 동작에 따라 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정할 수 있다.
이때, 상기 빛샘측정단계(S31)를 거쳐 측정되는 빛샘 상태는 상기 가압위치(P)에서의 빛의 밝기와, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 면적과, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 직경 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.
상기 검사단계(S4)는 상기 빛샘측정단계(S31)에서의 빛샘 상태와 기설정된 기준변화량을 비교한다. 상기 검사단계(S4)는 상기 검사유닛(40)의 동작에 따라 상기 빛샘측정단계(S31)에서의 빛샘 상태와 기설정된 기준변화량을 비교할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 위치조정단계(S5)를 더 포함할 수 있다.
상기 위치조정단계(S5)는 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시킨다. 상기 위치조정단계(S5)는 상기 측정제어부(35)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시킬 수 있다. 상기 위치조정단계(S5)를 거침에 따라 다수의 상기 가압위치(P) 중 다른 가압위치(P)에서 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
이때, 상기 검사단계(S4)는, 상기 빛샘측정단계(S31)에서의 빛샘 상태가 기설정된 기준변화량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단할 수 있다. 또한, 상기 검사단계(S4)는, 상기 빛샘측정단계(S31)에서의 빛샘 상태가 기설정된 기준변화량의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단할 수 있다.
이에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 정상단계(S41) 또는 불량단계(S42)를 더 포함할 수 있다.
상기 정상단계(S41)는 상기 검사단계(S4)에서 상기 빛샘측정단계(S31)에서의 빛샘 상태가 기설정된 기준변화량의 오차범위 내에 존재하는 경우, 실시한다. 상기 정상단계(S41)는 상기 액정(LC)의 주입 상태가 정상이다라고 판단한다.
여기서, 상기 정상단계(S41)를 거친 다음에는, 상기 위치조정단계(S5)를 거치고, 다수의 상기 가압위치(P) 중 다른 가압위치(P)에서 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
또한, 다수의 상기 가압위치(P)를 모두 검사하여 상기 정상단계(S41)를 거친 다음에는, 교체단계(S43)를 더 포함하고, 배치단계(S1)를 더 포함할 수 있다.
상기 교체단계(S43)는 상기 정상단계(S41)에 따른 상기 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에서 배출시키고, 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)로 이동시킨다. 상기 교체단계(S43)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
상기 배치단계(S1)는 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에 정위치시킨다. 상기 배치단계(S1)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
상기 불량단계(S42)는 상기 검사단계(S4)에서 상기 빛샘측정단계(S31)에서의 빛샘 상태가 기설정된 기준변화량의 오차범위를 벗어나는 경우, 실시한다. 상기 불량단계(S42)는 상기 액정(LC)의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.
여기서, 상기 불량단계(S42)를 거친 다음에는, 상기 위치조정단계(S5)를 거치고, 다수의 상기 가압위치(P) 중 다른 가압위치(P)에서 액정 주입 상태를 검사할 수 있다. 또한, 상기 불량단계(S42)를 거친 다음에는, 교체단계(S43)를 더 포함하고, 배치단계(S1)를 더 포함할 수 있다.
상기 교체단계(S43)는 상기 불량단계(S42)에 따른 상기 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에서 배출시키고, 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)로 이동시킨다. 상기 교체단계(S43)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
상기 배치단계(S1)는 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에 정위치시킨다. 상기 배치단계(S1)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
지금부터는 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에 대하여 설명한다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에서 가압위치에서 액정의 복원시간을 나타내는 도면이다.
도 1과 도 6을 참조하면, 상기 액정셀(SG)에 빛을 조사하는 상태에서 후술하는 가압유닛(10)이 기설정된 가압력(Pp)으로 상기 액정셀(SG)을 가압하는 경우, 상기 액정셀(SG)에서는 가압력(Pp)에 의해 상기 액정(LC)이 구동한 것과 같은 원리가 작용하여 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)에서 빛샘 현상이 나타난다.
상기 액정셀(SG)을 가압하지 않으면, 상기 액정(LC)은 주입된 상태를 유지하고 있지만, 상기 액정셀(SG)을 가압하면, 상기 액정(LC)은 기설정된 가압력(Pp)에 의해 움직였다가 원상태로 복원하려는 특성 때문에 상기 가압위치(P)에서는 빛샘이 변화된다. 그리고, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘의 변화는 상기 액정(LC)의 복원시간으로 나타낼 수 있다. 여기서, 상기 액정(LC)의 복원시간은 상기 가압유닛(20)에 의해 상기 가압위치(P)에서 빛샘이 발생되는 제1시간과 상기 가압위치(P)에서 빛샘이 사라지는 제2시간의 차이로 계산될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 제1시간을 "0"으로 하는 경우, 상기 제1시간으로부터 상기 제2시간을 카운트 함에 따라 계산을 간소화할 수 있다.
이때, 정상적인 상기 액정(LC)의 주입 상태에서는 상기 가압위치(P)에 따라 미차가 있을 수 있으나, 상기 가압위치(P)에서의 상기 액정(LC)의 복원시간은 기설정된 기준복원시간의 오차범위 내에 존재한다.
다시 말해, 상기 액정(LC)이 정상적으로 주입된 상태라면, 도 6에 도시된 그래프에서 실선으로 나타나는 바와 같이 상기 제1시간(t0)에 빛샘이 발생되어 상기 제2시간(ta)에 빛샘이 사라진다. 그러므로, 상기 가압위치(P)에서의 상기 액정(LC)의 복원시간(ta-t0)은 기설정된 기준복원시간의 최대값과 같거나 작고, 기설정된 기준복원시간의 최소값과 같거나 큰 값을 나타낸다.
하지만, 상기 액정(LC)이 정상을 초과하는 주입 상태이거나, 상기 액정(LC)이 정상보다 적은 주입 상태라면, 도 6에 도시된 그래프에서 점선으로 나타나는 바와 같이 상기 제1시간(t0)에 빛샘이 발생되어 상기 제2시간(tb)에 빛샘이 사라질 수 있다. 그러므로, 상기 가압위치(P)에서의 상기 액정(LC)의 복원시간(tb-t0)은 기설정된 기준복원시간의 최대값보다 커지거나 기설정된 기준복원시간의 최소값보다 작아지게 된다. 또한, 도 6에 도시된 그래프에서 점선으로 나타나는 바와 같이 바와 같이 상기 제1시간(t0)에 빛샘이 발생되어 상기 제2시간(tc)에 빛샘이 사라질 수 있다. 이때에도 마찬가지로, 상기 가압위치(P)에서의 상기 액정(LC)의 복원시간(tc-t0)은 기설정된 기준복원시간의 최대값보다 커지거나 기설정된 기준복원시간의 최소값보다 작아지게 된다.
이와 같이 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정(LC)의 주입 상태에 따라 상기 가압위치(P)에서 상기 액정(LC)의 복원시간에 차이가 발생하는 것을 이용한다. 본 발명의 다른 실시예에서는 액정 주입 상태 검사장치를 먼저 설명하고, 이것을 이용하여 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법을 설명하기로 한다.
지금부터는 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치에 대하여 설명한다. 도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치를 도시한 도면이고, 도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치의 변형예를 도시한 도면이다.
도 1과 도 6 내지 도 8을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 상기 액정셀(SG)을 국부적으로 가압함에 따라 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)에서 발생되는 빛샘 상태에 따른 상기 액정(LC)의 복원시간을 측정하여 상기 액정(LC)의 주입 상태를 검사할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 가압유닛(20)과, 조명유닛(36)과, 복원시간측정유닛(33)과, 검사유닛(40)을 포함한다.
상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)를 기설정된 가압력(Pp)으로 가압한다. 일예로, 상기 가압유닛(20)은 간접 가압 방식으로써, 상기 가압위치(P)에 유체를 분사하는 다양한 형태의 분사장치를 포함할 수 있다. 다른 예로, 상기 가압유닛(20)은 직접 가압 방식으로써, 기설정된 가압력(Pp)으로 상기 가압위치(P)를 가압하는 팁이 구비된 다양한 형태의 압력장치를 포함할 수 있다. 상기 가압유닛(20)은 상기 가압위치(P)를 계속 가압하는 것이 아니고, 기설정된 가압력(Pp)으로 상기 가압위치(P)를 일정 시간만 가압하는 것이 바람직하다.
상기 가압유닛(20)은 후술하는 가압단계(S2)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
상기 조명유닛(36)은 상기 액정셀(SG) 전체 또는 상기 가압위치(P)에 빛을 조사한다. 여기서, 상기 조명유닛(36)을 한정하는 것은 아니고, 다양한 형태를 통해 상기 가압위치(P)에 상기 액정셀(SG)에 빛을 조사할 수 있다. 또한, 상기 조명유닛(36)을 한정하는 것은 아니고, 다양한 형태를 통해 상기 액정셀(SG) 전체에 빛을 조사할 수 있다.
이때, 상기 가압유닛(20)은 상기 액정셀(SG)의 상측에 구비되고, 상기 조명유닛(36)은 상기 액정셀(SG)의 하측에 구비되어 상기 가압유닛(20)의 동작에 상기 조명유닛(36)이 간섭되지 않도록 한다.
상기 조명유닛(36)은 후술하는 조명단계(S3)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
상기 복원시간측정유닛(33)은 상기 가압유닛(20)과 상기 조명유닛(36)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛의 빛샘을 이용하여 상기 가압위치(P)에서의 상기 액정(LC)의 복원시간을 측정한다.
상기 액정(LC)의 복원시간은 상기 가압유닛(20)에 의해 상기 가압위치(P)에서 빛샘이 발생되는 제1시간과 상기 가압위치(P)에서 빛샘이 사라지는 제2시간의 차이로 계산될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 제1시간을 "0"으로 하는 경우, 상기 제1시간으로부터 상기 제2시간을 카운트 함에 따라 계산을 간소화할 수 있다.
상기 복원시간측정유닛(33)은 후술하는 복원시간측정단계(S32)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
상기 검사유닛(40)은 상기 복원시간측정유닛(33)에서의 복원시간과 기설정된 기준복원시간을 비교한다.
상기 검사유닛(40)은 후술하는 검사단계(S4)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
그러면, 상기 검사유닛(40)은 상기 복원시간측정유닛(33)에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정(LC)이 정상적으로 주입되었다고 판단한다. 또한, 상기 검사유닛(40)은 상기 복원시간측정유닛(33)에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정(LC)의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.
미설명부호 10은 상기 액정셀(SG)이 안착되는 스테이지이다. 이때, 상기 스테이지(10)에는 상기 액정셀(SG)에 빛을 조사하기 위한 상기 조명유닛(36)이 구비될 수 있다. 상기 스테이지(10)는 후술하는 배치단계(S1)를 수행하는 데 이용될 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치는 빛샘측정유닛(30)을 더 포함하고, 측정제어부(35)를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치에서 상기 빛샘측정유닛(30)과 상기 측정제어부(35)는 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사장치의 그것과 동일한 구성으로 도 7과 도 8을 통해 동일한 도면부호를 부여하고, 이에 대한 설명은 생략한다.
지금부터는 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법에 대하여 설명한다. 도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법을 도시한 도면이다.
도 1과 도 6 내지 도 9를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 상기 액정셀(SG)을 국부적으로 가압함에 따라 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)에서 발생되는 빛샘 상태에 따른 상기 액정(LC)의 복원시간을 측정하여 상기 액정(LC)의 주입 상태를 검사할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 가압단계(S2)와, 조명단계(S3)와, 복원시간측정단계(S32)와, 검사단계(S4)를 포함한다.
상기 가압단계(S2)는 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)를 기설정된 가압력(Pp)으로 가압한다. 상기 가압단계(S2)는 상기 가압유닛(20)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)를 기설정된 가압력(Pp)으로 가압할 수 있다.
상기 조명단계(S3)는 상기 액정셀(SG) 전체 또는 상기 가압위치(P)에 빛을 조사한다. 상기 조명단계(S3)는 상기 조명유닛(36)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG) 전체 또는 상기 가압위치(P)에 빛을 조사한다.
상기 복원시간측정단계(S32)는 상기 가압단계(S2)와 상기 조명단계(S3)를 거침에 따라 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛의 빛샘을 이용하여 상기 가압위치(P)에서의 상기 액정(LC)의 복원시간을 측정한다. 상기 복원시간측정단계(S32)는 상기 복원시간측정유닛(33)의 동작에 따라 상기 가압위치(P)에서의 상기 액정(LC)의 복원시간을 측정할 수 있다.
상기 복원시간측정단계(S32))에서의 복원시간은 상기 가압유닛(20)에 의해 상기 가압위치(P)에서 빛샘이 발생되는 제1시간과 상기 가압위치(P)에서 빛샘이 사라지는 제2시간의 차이로 계산될 수 있다. 도시되지 않았지만, 상기 제1시간을 "0"으로 하는 경우, 상기 제1시간으로부터 상기 제2시간을 카운트 함에 따라 계산을 간소화할 수 있다.
상기 검사단계(S4)는 상기 복원시간측정단계(S32)에서의 복원시간과 기설정된 기준복원시간을 비교한다. 상기 검사단계(S4)는 상기 검사유닛(40)의 동작에 따라 상기 복원시간측정단계(S32)에서의 복원시간과 기설정된 기준복원시간을 비교할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 위치조정단계(S5)를 더 포함할 수 있다.
상기 위치조정단계(S5)는 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시킨다. 상기 위치조정단계(S5)는 상기 측정제어부(35)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG)에서 상기 가압위치(P)를 변경시킬 수 있다. 상기 위치조정단계(S5)를 거침에 따라 다수의 상기 가압위치(P) 중 다른 가압위치(P)에서 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
이때, 상기 검사단계(S4)는, 상기 복원시간측정단계(S32)에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정(LC)이 정상적으로 주입되었다고 판단할 수 있다. 또한, 상기 검사단계(S4)는, 상기 복원시간측정단계(S32)에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정(LC)의 주입 상태가 불량이다라고 판단할 수 있다.
이에 따라, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 정상단계(S41) 또는 불량단계(S42)를 더 포함할 수 있다.
상기 정상단계(S41)는 상기 검사단계(S4)에서 상기 복원시간측정단계(S32)에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위 내에 존재하는 경우, 실시한다. 상기 정상단계(S41)는 상기 액정(LC)의 주입 상태가 정상이다라고 판단한다.
여기서, 상기 정상단계(S41)를 거친 다음에는, 상기 위치조정단계(S5)를 거치고, 다수의 상기 가압위치(P) 중 다른 가압위치(P)에서 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
또한, 다수의 상기 가압위치(P)를 모두 검사하여 상기 정상단계(S41)를 거친 다음에는, 교체단계(S43)를 더 포함하고, 배치단계(S1)를 더 포함할 수 있다.
상기 교체단계(S43)는 상기 정상단계(S41)에 따른 상기 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에서 배출시키고, 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)로 이동시킨다. 상기 교체단계(S43)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
상기 배치단계(S1)는 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에 정위치시킨다. 상기 배치단계(S1)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
상기 불량단계(S42)는 상기 검사단계(S4)에서 상기 복원시간측정단계(S32)에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위를 벗어나는 경우, 실시한다. 상기 불량단계(S42)는 상기 액정(LC)의 주입 상태가 불량이다라고 판단한다.
여기서, 상기 불량단계(S42)를 거친 다음에는, 상기 위치조정단계(S5)를 거치고, 다수의 상기 가압위치(P) 중 다른 가압위치(P)에서 액정 주입 상태를 검사할 수 있다. 또한, 상기 불량단계(S42)를 거친 다음에는, 교체단계(S43)를 더 포함하고, 배치단계(S1)를 더 포함할 수 있다.
상기 교체단계(S43)는 상기 불량단계(S42)에 따른 상기 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에서 배출시키고, 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)로 이동시킨다. 상기 교체단계(S43)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
상기 배치단계(S1)는 새로운 액정셀(SG)을 상기 스테이지(10)에 정위치시킨다. 상기 배치단계(S1)를 거친 다음, 새로운 액정셀(SG)에 대하여 액정 주입 상태를 검사할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 주입 상태 검사방법은 빛샘측정단계(S31)를 더 포함할 수 있다.
상기 빛샘측정단계(S31)는 상기 가압단계(S2)과 상기 조명단계(S3)를 거침에 따라 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정한다. 상기 빛샘측정단계(S31)는 상기 조명유닛(36)의 동작에 따라 상기 액정셀(SG)에 빛이 조사된 상태에서 상기 가압유닛(20)의 동작에 따라 상기 가압위치(P)를 가압하며, 상기 빛샘측정유닛(30)의 동작에 따라 상기 가압위치(P)에서 상기 액정셀(SG)을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정할 수 있다.
이때, 상기 빛샘측정단계(S31)를 거쳐 측정되는 빛샘 상태는 상기 가압위치(P)에서의 빛의 밝기와, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 면적과, 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 직경 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다.
상술한 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치에 따르면, 상기 상부기판(GT)과 상기 하부기판(GB) 사이에 상기 액정(LC)이 주입된 상기 액정셀(SG)에 빛을 조사하고, 상기 액정셀(SG)에 빛이 조사되는 상태에서 상기 액정셀(SG)을 국부적으로 가압함에 따라 상기 액정셀(SG)의 가압위치(P)에서 발생되는 빛샘 현상을 이용하여 상기 액정(LC)의 주입 상태를 검사할 수 있다. 또한, 상기 액정셀(SG)의 상기 가압위치(P)를 변경하면서 상기 가압위치(P)에서의 빛샘 상태 또는 상기 액정(LC)의 복원시간을 측정할 수 있고, 상기 액정셀(SG)의 전체 표면에 대하여 상기 액정(LC)의 균일한 주입 상태를 확인할 수 있다.
또한, 상기 액정셀(SG)의 가압 전후에 대한 빛샘 상태 또는 상기 액정(LC)의 복원시간을 측정함으로써, 상기 액정셀(SG)의 표면이 평면 형태가 될 때는 물론 곡면 형태가 되어도 상기 액정(LC)의 균일한 주입 상태를 확인할 수 있다. 특히, 평면 형태의 상기 액정셀(SG)에 대하여 빛샘 상태 또는 상기 액정(LC)의 복원시간 측정을 간소화하고, 상기 액정(LC)의 주입 상태를 신속하게 검사할 수 있다.
상술한 바와 같이 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면, 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 또는 변경시킬 수 있다.
GT: 상부기판 GB: 하부기판 LC:액정
MC: 메인스페이서 SC: 서브스페이서 SG: 액정셀
S1: 배치단계 S2: 가압단계 S21: 가압해제단계
S3: 조명단계 S31: 빛샘측정단계 S32: 복원시간측정단계
S4: 검사단계 S41: 정상단계 S42: 불량단계
S43: 교체단계 S5: 위치조정단계
10: 스테이지 20:가압유닛 30: 빛샘측정유닛
31: 빛샘측정부 32: 위치조정부 33: 복원시간측정유닛
34: 측정지지부 35: 측정제어부 36: 조명유닛
40: 검사유닛

Claims (16)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에서 상기 액정의 주입 상태를 검사하는 액정 주입 상태 검사방법이고,
    상기 액정셀의 가압위치를 기설정된 가압력으로 가압하는 가압단계;
    상기 액정셀 전체 또는 상기 가압위치에 빛을 조사하는 조명단계;
    상기 가압단계와 상기 조명단계를 거침에 따라 상기 액정셀을 통과하는 빛의 빛샘을 이용하여 상기 가압위치에서 상기 액정의 복원시간을 측정하는 복원시간측정단계; 및
    상기 복원시간측정단계에서의 복원시간과 기설정된 기준복원시간을 비교하는 검사단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 검사단계는,
    상기 복원시간측정단계에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단하고,
    상기 복원시간측정단계에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사방법.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 복원시간측정단계에서의 복원시간은,
    상기 가압단계에 의해 상기 가압위치에서 빛샘이 발생되는 제1시간과 상기 가압위치에서 빛샘이 사라지는 제2시간의 차이로 계산되는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사방법.
  7. 제4항에 있어서,
    상기 가압단계와 상기 조명단계에 따라 상기 가압위치에서 상기 액정셀을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정하는 빛샘측정단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사방법.
  8. 제4항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 액정셀에서 상기 가압위치를 변경시키는 위치조정단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사방법.
  9. 삭제
  10. 삭제
  11. 삭제
  12. 상부기판과 하부기판 사이에 액정이 주입된 액정셀에서 상기 액정의 주입 상태를 검사하는 액정 주입 상태 검사장치이고,
    상기 액정셀의 가압위치를 기설정된 가압력으로 가압하는 가압유닛;
    상기 액정셀 전체 또는 상기 가압위치에 빛을 조사하는 조명유닛;
    상기 가압유닛과 상기 조명유닛의 동작에 따라 상기 액정셀을 통과하는 빛의 빛샘을 이용하여 상기 가압위치에서의 상기 액정의 복원시간을 측정하는 복원시간측정유닛; 및
    상기 복원시간측정유닛에서의 복원시간과 기설정된 기준복원시간을 비교하는 검사유닛;을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사장치.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 검사유닛은,
    상기 복원시간측정유닛에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위 내에 존재하는 경우, 상기 액정이 정상적으로 주입되었다고 판단하고,
    상기 복원시간측정유닛에서의 복원시간이 기설정된 기준복원시간의 오차범위를 벗어나는 경우, 상기 액정의 주입 상태가 불량이다라고 판단하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사장치.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 복원시간측정유닛에서의 복원시간은,
    상기 가압유닛에 의해 상기 가압위치에서 빛샘이 발생되는 제1시간과 상기 가압위치에서 빛샘이 사라지는 제2시간의 차이로 계산되는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사장치.
  15. 제12항에 있어서,
    상기 가압유닛과 상기 조명유닛에 따라 상기 가압위치에서 상기 액정셀을 통과하는 빛에 의한 빛샘 상태를 측정하는 빛샘측정유닛;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사장치.
  16. 제12항 내지 제15항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 액정셀에서 상기 가압위치를 변경시키는 측정제어부;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 주입 상태 검사장치.
KR1020150134136A 2015-09-22 2015-09-22 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치 KR101775666B1 (ko)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150134136A KR101775666B1 (ko) 2015-09-22 2015-09-22 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치
TW105129552A TWI612596B (zh) 2015-09-22 2016-09-12 用於檢測液晶之注射狀態的方法及裝置(二)
CN201610821929.XA CN106842638A (zh) 2015-09-22 2016-09-13 用于检查液晶的注射情况的方法和装置
JP2016183977A JP2017062472A (ja) 2015-09-22 2016-09-21 液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150134136A KR101775666B1 (ko) 2015-09-22 2015-09-22 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20170035419A KR20170035419A (ko) 2017-03-31
KR101775666B1 true KR101775666B1 (ko) 2017-09-07

Family

ID=58429692

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150134136A KR101775666B1 (ko) 2015-09-22 2015-09-22 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP2017062472A (ko)
KR (1) KR101775666B1 (ko)
CN (1) CN106842638A (ko)
TW (1) TWI612596B (ko)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007171701A (ja) 2005-12-23 2007-07-05 Sharp Corp 液晶表示パネルの製造方法および液晶表示パネル

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100279260B1 (ko) 1998-06-18 2001-01-15 김영환 액정 셀의 액정 주입 및 액정 주입구 봉입검사 시스템
JP2002196341A (ja) * 2000-12-27 2002-07-12 Nec Eng Ltd 液晶表示セルの封孔装置
KR20070004882A (ko) * 2004-05-18 2007-01-09 샤프 가부시키가이샤 액정 표시 장치 및 그것을 구비한 전자 기기
TWI240835B (en) * 2004-05-21 2005-10-01 Chi Mei Optoelectronics Corp Liquid crystal panel assembling process and liquid crystal panel
JP2006098872A (ja) * 2004-09-30 2006-04-13 Shimadzu Corp 液晶注入方法および液晶注入装置
KR100949504B1 (ko) * 2006-05-15 2010-03-24 엘지디스플레이 주식회사 액정표시소자 및 그 제조방법
KR101318075B1 (ko) * 2006-06-22 2013-10-14 엘지디스플레이 주식회사 포토레지스터 펌프 및 그의 구동 방법
KR101279238B1 (ko) * 2006-06-26 2013-06-26 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 내의 액정량 조절 방법
KR101330348B1 (ko) * 2006-12-15 2013-11-15 엘지디스플레이 주식회사 터치 불량상태 검사장치
CN101650485B (zh) * 2008-08-15 2013-08-07 群创光电股份有限公司 母玻璃液晶模块及液晶注入量的检测方法
JP2010145558A (ja) * 2008-12-17 2010-07-01 Mitsubishi Electric Corp 液晶表示装置の検査方法及び検査装置
KR101695333B1 (ko) * 2009-11-13 2017-01-12 주식회사 탑 엔지니어링 액정 공급장치 및 액정 공급 및 회수방법
KR101789144B1 (ko) * 2011-06-30 2017-11-16 엘지디스플레이 주식회사 표시장치용 자동 검사시스템
CN103091881B (zh) * 2013-02-05 2015-11-25 深圳市华星光电技术有限公司 用于液晶模组的测试装置及测试方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007171701A (ja) 2005-12-23 2007-07-05 Sharp Corp 液晶表示パネルの製造方法および液晶表示パネル

Also Published As

Publication number Publication date
JP2017062472A (ja) 2017-03-30
CN106842638A (zh) 2017-06-13
TWI612596B (zh) 2018-01-21
KR20170035419A (ko) 2017-03-31
TW201714233A (zh) 2017-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103561944B (zh) 用于确定用于结合的压力分布的方法和装置
KR20110027979A (ko) 마스크 불량 검사 장치
US20130299082A1 (en) Three dimensional display device and manufacturing method thereof
KR102524604B1 (ko) 임프린트 장치 및 이를 이용한 임프린트 방법
US20180059479A1 (en) Liquid crystal backlight device
KR101231184B1 (ko) 기판 성막 검사장치
KR20080070318A (ko) 액정 표시 패널 절단 장치 및 이를 이용한 절단 방법
KR101775666B1 (ko) 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치
TWI320859B (en) Liquid crystal display panel, method of inspecting the same, and inspection apparatus used for the same
TWI392919B (zh) 液晶顯示面板
KR20160031142A (ko) 무라 검출 장치
CN101542359A (zh) 玻璃衬底的质量测试机及其方法
KR101775125B1 (ko) 액정 주입 상태 검사방법과 액정 주입 상태 검사장치
KR20020088219A (ko) 액정 주입 장치 및 이를 사용한 액정 표시 장치의 제조 방법
CN108519726B (zh) 一种曝光图案的补正方法和装置、曝光设备
US20060017877A1 (en) ODF type method for manufacturing an LCD
JP2017062471A (ja) 液晶注入状態検査方法と液晶注入状態検査装置
CN108008579A (zh) 液晶显示面板的光配向方法
JP2013254056A (ja) 表示基板貼り合わせ装置、表示基板貼り合わせ方法および表示基板の製造方法
US6859251B2 (en) Liquid crystal display having a concave substrate and manufacturing method thereof
JP2003005197A (ja) 液晶表示素子の製造方法及び液晶表示素子の製造装置
KR101347162B1 (ko) 액정패널용 광학특성 측정장비
JP4290612B2 (ja) ピンホール試験装置
KR20200058656A (ko) 에이징 시스템 및 표시 장치의 에이징 방법
KR102081215B1 (ko) 셀 갭을 측정할 수 있는 패널합착장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right