KR101726413B1 - 패널 얼룩 검사 장치 - Google Patents

패널 얼룩 검사 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR101726413B1
KR101726413B1 KR1020160132860A KR20160132860A KR101726413B1 KR 101726413 B1 KR101726413 B1 KR 101726413B1 KR 1020160132860 A KR1020160132860 A KR 1020160132860A KR 20160132860 A KR20160132860 A KR 20160132860A KR 101726413 B1 KR101726413 B1 KR 101726413B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
stage
unit
frame
panel
pair
Prior art date
Application number
KR1020160132860A
Other languages
English (en)
Inventor
한민규
유상원
Original Assignee
주식회사 디이엔티
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 디이엔티 filed Critical 주식회사 디이엔티
Priority to KR1020160132860A priority Critical patent/KR101726413B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101726413B1 publication Critical patent/KR101726413B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8803Visual inspection
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/956Inspecting patterns on the surface of objects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513Liquid crystal panels

Abstract

본 발명에 따른 일 실시 예는, 프레임, 상기 프레임의 일 방향으로 이동 가능한 스테이지를 포함하는 스테이지 유닛, 상기 프레임에 연결되며, 상기 스테이지를 향하여 스팀을 분사하는 스팀 분사 유닛, 상기 프레임에 회동 가능하게 연결되며, 상기 스테이지에 조명을 비추는 조명 유닛, 상기 프레임에 회동 가능하게 연결되며, 적어도 하나의 카메라를 포함하는 촬영 유닛을 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

패널 얼룩 검사 장치{THE APPARATUS FOR INSPECTING STAIN OF PANEL}
본 발명은 패널 얼룩 검사 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게 패널의 얼룩을 신속하고 정확하게 검사할 수 있는 패널 얼룩 검사 장치에 관한 것이다.
평판 디스플레이는 화상 디스플레이 장치로서, 액정표시장치(LCD), 유기발광표시장치(OLED), 플라즈마 디스플레이(PDP) 및 전기영동표시장치(EPD) 등으로 분류될 수 있다. 평판 디스플레이 장치는 그 구동을 위해, COG(Chip on Glass), COF(Chip on Film), TCP(Tape Carrier Package), PCB(Printed Circuit Board) 및 FPCB(Flexible Printed Circuit Board) 등을 포함할 수 있다.
일반적으로, 패널(글라스) 등에 형성된 얼룩을 검사하기 위해 스팀 분사가 이용될 수 있다. 한국 공개실용신안공보 제 2008-0000487 호(이하, 종래 문헌이라 함)를 참조하면, 종래 문헌은 스팀 저장 탱크와 에어 나이프 타입의 노즐을 이용하여 스팀을 분사하는 기술적 특징을 개시하고 있다.
스팀이 패널에 분사되면, 패널의 얼룩을 용이하게 검사할 수 있다. 그러나, 종래 문헌은 스팀 분사에 대한 기술 구성만이 개시되고 있다. 즉, 종래 문헌에 따르면 패널의 얼룩을 확인하는 동안 스팀이 응축될 수 있다. 스팀의 응축은 패널의 얼룩 검사를 방해하는 문제점이 있다.
상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 스팀의 응축 전에 패널 얼룩 검사를 할 수 있는 스테이지 유닛, 스팀 분사 유닛, 조명 유닛 및 촬영 유닛을 포함하는 패널 얼룩 검사 장치를 제공한다.
특히, 조도에 영향을 최소화하고, 얼룩 검사 성능을 개선시킬 수 있는 조명 유닛과 촬영 유닛을 제공한다.
상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시 예에 따른 패널 얼룩 검사 장치는 프레임, 상기 프레임의 일 방향으로 이동 가능한 스테이지를 포함하는 스테이지 유닛, 상기 프레임에 연결되며, 상기 스테이지를 향하여 스팀을 분사하는 스팀 분사 유닛, 상기 프레임에 회동 가능하게 연결되며, 상기 스테이지에 조명을 비추는 조명 유닛, 상기 프레임에 회동 가능하게 연결되며, 적어도 하나의 카메라를 포함하는 촬영 유닛을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 조명 유닛은, 상기 프레임에 배치되며, 상기 스테이지 유닛을 사이에 두고 이격된 한 쌍의 힌지부에 연결되어 힌지축을 기준으로 회동하는 한 쌍의 제 1 회동암, 상기 한 쌍의 제 1 회동암을 연결하며, 상기 스테이지 유닛의 상부에 배치된 제 1 회동바, 및 상기 제 1 회동바에 배치된 발광부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 촬영 유닛은, 상기 한 쌍의 힌지부에 연결되어 상기 힌지축을 기준으로 회동하는 한 쌍의 제 2 회동암, 및 상기 한 쌍의 제 2 회동암을 연결하며, 상기 스테이지 유닛의 상부에 배치된 제 2 회동바를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 촬영 유닛은 4개의 상기 카메라를 포함하며, 상기 카메라는 상기 제 2 회동바의 길이 방향을 따라 이격된 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 조명 유닛은, 상기 스테이지의 상면과 평행하며, 상기 한 쌍의 힌지부를 지나는 평면을 기준으로 10도와 170도의 사이를 회동하며, 상기 촬영 유닛은 상기 평면을 기준으로 20도와 90도의 사이를 회동하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 제 2 회동바를 따라 이격된 상기 4개의 카메라는 상기 스테이지 상에 배치된 패널을 상기 제 2 회동바를 따라 4 분할한 4개의 분할 영상을 촬영하며, 상기 4개의 분할 영상 중 어느 하나와 다른 하나는 적어도 일부 중첩되는 것을 특징으로 한다.
또한, 서로 중첩되는 상기 4개의 분할 영상을 처리하여 상기 패널에 대한 하나의 영상을 추출하는 영상 처리 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 스테이지 유닛은, 상기 프레임 상에 배치되며, 상기 스테이지의 일 방향 이동을 안내하는 가이드부, 상기 스테이지의 가장자리에 배치된 정렬 실린더, 및 상기 스테이지를 관통하는 승하강핀을 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 패널 얼룩 검사 장치에 의하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 패널 얼룩 검사 장치는 스팀의 분사와 동시에 촬영 유닛으로 패널의 영상을 촬영할 수 있다. 따라서, 스팀의 응축으로 패널 얼룩의 검사가 불가능해지는 것을 방지할 수 있다.
또한, 조명 유닛과 촬영 유닛은 프레임에 회동 가능하게 연결될 수 있다. 즉, 조명 유닛의 회동으로, 시간 및 장소에 따라 변화하는 조도의 영향을 최소화할 수 있다. 또한, 촬영 유닛의 회동으로 얼룩의 검출 성능을 향상시킬 수 있다.
도 1 및 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 패널 얼룩 검사 장치를 도시한 사시도이다.
도 3은 도 2에 도시된 스테이지 유닛의 일부를 도시한 평면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 스테이지 유닛의 측면도이다.
도 5는 도 2에 도시된 조명 유닛 및 촬영 유닛을 도시한 사시도이다.
도 6은 도 5에 도시된 조명 유닛 및 촬영 유닛의 회동을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 도 2에 도시된 카메라의 일 실시 예를 도시한 도면이다.
도 8은 도 2에 도시된 영상 처리 유닛의 일 실시 예를 도시한 도면이다.
이하 본 발명의 바람직한 일 실시 예에 따른 패널 얼룩 검사 장치(10)를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
도 1 및 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 패널 얼룩 검사 장치(10)를 도시한 사시도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 패널 얼룩 검사 장치(10)는 프레임(100), 스팀 분사 유닛(600), 스테이지 유닛(200), 조명 유닛(300) 및 촬영 유닛(400)을 포함할 수 있다.
프레임(100)은 적어도 하나의 판 형상 프레임과 적어도 하나의 바(bar) 형상 프레임을 포함할 수 있다. 예컨대, 판 형상 프레임은 지면과 수평하게 배치될 수 있다. 후술하는 스팀 분사 유닛(600), 스테이지 유닛(200) 등이 판 형상 프레임 상에 배치될 수 있다. 바 형상 프레임은 판 형상 프레임에 수평 또는 수직하게 배치될 수 있다. 프레임(100)은 후술할 한 쌍의 힌지부(110)를 가질 수 있다.
스팀 분사 유닛(600)은 프레임(100)에 배치될 수 있다. 스팀 분사 유닛(600)은 프레임(100)의 가장자리를 따라 연장되게 배치될 수 있다. 후술하는 스테이지 유닛(200)의 연장 방향과 스팀 분사 유닛(600)의 연장 방향은 교차할 수 있다. 스팀 분사 유닛(600)은 스팀 공급부(미도시)로부터 스팀을 공급 받아 스테이지 유닛(200)에 안착된 패널을 향하여 분사할 수 있다.
도 3은 도 2에 도시된 스테이지 유닛(200)의 일부를 도시한 평면도이고, 도 4는 도 3에 도시된 스테이지 유닛(200)의 측면도이다.
도 3 및 4를 참조하면, 스테이지 유닛(200)은 프레임(100) 상에 배치될 수 있다. 스테이지 유닛(200)은 일 방향을 향하여 연장될 수 있다. 스팀 분사 유닛(600)은 스테이지 유닛(200)의 상부에 배치될 수 있다. 예컨대, 스테이지 유닛(200)은 스테이지(210), 가이드부(230), 정렬 실린더(250), 승하강핀(270)을 포함할 수 있다.
스테이지(210)는 그 상면에 패널 등이 안착될 수 있다. 따라서, 스테이지(210)는 패널에 대응하는 평판 형상을 가질 수 있다. 가이드부(230)는 프레임(100) 상에서 일 방향으로 연장될 수 있다. 스테이지(210)는 가이드부(230)에 이동 가능하게 연결되어 가이드부(230)를 따라 일 방향으로 이동할 수 있다. 가이드부(230)는 가이드 레일(231), 가이드 프레임(233) 및 댐퍼(235)를 포함할 수 있다.
가이드 레일(231)은 프레임(100)의 일 방향으로 연장될 수 있다. 가이드 레일(231)은 가이드 프레임(233) 상에 배치될 수 있다. 가이드 프레임(233)은 프레임(100) 상에 배치될 수 있다. 댐퍼(235)는 가이드 프레임(233)과 플레임(100)의 사이에 적어도 하나 배치될 수 있다. 댐퍼(235)는 스테이지 유닛(200)에 의해 발생되는 진동 및 충격을 흡수하여 완화할 수 있다.
일 실시 예로, 스테이지(210)는 평면상 사각 형상을 가질 수 있다. 정렬 실린더(250)는 스테이지(210)의 가장자리에 배치될 수 있다. 정렬 실린더(250)는 스테이지(210)의 각 변에 2개씩 배치될 수 있다. 정렬 실린더(250)는 스테이지(210)의 중심을 지나는 직선을 기준으로 대칭되게 배치될 수 있다. 정렬 실린더(250)는 스테이지(210)의 가장자리에서 패널을 가압하여 패널의 위치를 정렬할 수 있다.
승하강핀(270)은 스테이지(210)의 상면211)과 수직하게 배치될 수 있다. 승하강핀(270)은 스테이지(210)를 관통할 수 있다. 승하강핀(270)은 승하강 구동부(271)에 연결될 수 있다. 승하강 구동부(271)는 승하강핀(270)을 상승 또는 하강 시킬 수 있다. 승하강핀(270)은 패널을 안착시킬 수 있다. 예컨대, 승하강핀(270)이 스테이지(210)를 관통하여 상승되면, 패널이 승하강핀(270)에 안착될 수 있다. 승하강핀(270)이 하강하면, 패널은 스테이지(210) 상에 안착될 수 있다. 정렬 실린더(250)는 스테이지(210) 상의 패널 위치를 정렬할 수 있다.
도 5는 도 2에 도시된 조명 유닛(300) 및 촬영 유닛(400)을 도시한 사시도이다.
도 2 및 5를 참조하면, 조명 유닛(300)은 프레임(100)에 회동 가능하게 연결될 수 있다. 조명 유닛(300)은 스테이지(210) 상에 안착된 패널에 조명을 비출 수 있다. 조명 유닛(300)은 스팀 분사 유닛(600)의 연장 방향과 동일한 방향으로 연장될 수 있다. 또한, 조명 유닛(300)은 스테이지 유닛(200)의 상부에 배치될 수 있다.
일 실시 예로, 조명 유닛(300)은 한 쌍의 제 1 회동암(310), 제 1 회동바(330) 및 발광부(350)를 포함할 수 있다. 한 쌍의 제 1 회동암(310)은 한 쌍의 힌지부(110)에 연결되어 힌지축(111)을 중심으로 회동할 수 있다. 제 1 회동바(330)는 한 쌍의 제 1 회동암(310)을 연결할 수 있다. 제 1 회동바(330)는 스팀 분사 유닛(600)과 동일한 방향으로 연장될 수 있다. 발광부(350)는 제 1 회동바(330)에 연결될 수 있다. 발광부(350)는 제 1 회동바(330)의 길이 방향을 따라 연장되게 배치될 수 있다.
촬영 유닛(400)은 프레임(100)에 회동 가능하게 연결될 수 있다. 촬영 유닛(400)은 스테이지(210) 상에 안착된 패널의 영상을 촬영할 수 있다. 구체적으로, 스팀이 분사된 패널의 영상을 촬영할 수 있다. 촬영 유닛(400)은 스팀 분사 유닛(600) 및 조명 유닛(300)의 연장 방향과 동일한 방향으로 연장될 수 있다. 또한, 촬영 유닛(400)은 스테이지 유닛(200)의 상부에 배치될 수 있다.
일 실시 예로, 촬영 유닛(400)은 한 쌍의 제 2 회동암(410), 제 2 회동바(430) 및 카메라(450)를 포함할 수 있다. 한 쌍의 제 2 회동암(410)은 힌지부(110)에 연결되어 힌지축(111)을 중심으로 회동할 수 있다. 제 2 회동바(430)는 한 쌍의 제 2 회동암(410)을 연결할 수 있다. 제 2 회동바(430)는 스팀 분사 유닛(600)과 동일한 방향으로 연장될 수 있다. 카메라(450)는 제 1 카메라(451), 제 2 카메라(453), 제 3 카메라(455) 및 제 4 카메라(457)를 포함할 수 있다. 카메라(450)는 제 2 회동바(430)의 길이 방향을 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다.
도 6은 도 5에 도시된 조명 유닛(300) 및 촬영 유닛(400)의 회동을 설명하기 위한 도면이다.
도 2, 5 및 6을 참조하면, 조명 유닛(300)과 촬영 유닛(400)은 프레임(100)에 회동 가능하게 연결될 수 있다. 조명 유닛(300)은 스테이지(210)의 상면(211)과 평행하며, 한 쌍의 힌지부(110)를 지나는 평면(213)을 기준으로 10도와 170도 사이를 회동할 수 있다. 또한, 촬영 유닛(400)은 상기 평면(213)을 기준으로 20도와 90도의 사이를 회동할 수 있다. 조명 유닛(300)의 회동은 시간과 장소에 따라 달라지는 조도의 영향을 최소화시킬 수 있다.
특히, 자연광은 시간에 따라 빛의 조사 각도와 방향이 달라진다. 이에 의해 발생되는 조도의 변화를 제거하기 위해, 조명 유닛(300)은 촬영 유닛(400)과 함께 힌지축(111)을 향하거나, 힌지축(111)을 사이에 두고 촬영 유닛(400)과 마주보게 배치될 수 있다. 한편, 촬영 유닛(400)은 조명 유닛(300)의 위치를 고려하여 힌지축(111)을 기준으로 회동할 수 있다. 이에 의해, 촬영 유닛(400)은 스테이지(210)에 안착된 패널(11)의 영상을 정밀하고 측정할 수 있다. 즉, 패널(11)의 얼룩 검사 성능을 향상시킬 수 있다.
도 7은 도 2에 도시된 카메라(450)의 일 실시 예를 도시한 도면이고, 도 8은 도 2에 도시된 영상 처리 유닛(500)의 일 실시 예를 도시한 도면이다.
도 2, 7 및 8을 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 패널 얼룩 검사 장치(10)는 영상 처리 유닛(500)을 더 포함할 수 있다. 영상 처리 유닛(500)은 4개의 카메라(450)에 의해 촬영된 4개의 분할 영상을 처리하여 하나의 영상을 추출할 수 있다.
다수의 카메라(450)는 제 2 회동바(430)의 길이 방향을 따라 서로 이격되어 배치될 수 있다. 따라서, 다수의 카메라(450)는 각각 분할된 영상을 촬영할 수 있다. 예컨대, 제 1 카메라(451)는 제 1 분할 영상(452)을 촬영할 수 있고, 제 2 카메라(453)는 제 2 분할 영상(454)을 촬영할 수 있다. 또한, 제 3 카메라(455)는 제 3 분할 영상(456)을 촬영할 수 있고, 제 4 카메라(457)는 제 4 분할 영상(458)을 촬영할 수 있다.
여기서, 4개의 분할 영상 중 어느 하나와 다른 하나는 적어도 일부 중첩된다. 예컨대, 제 1 분할 영상(452)은 제 2 분할 영상(454)과 중첩된다. 제 2 분할 영상(454)은 제 3 분할 영상(456)과 중첩된다. 제 3 분할 영상(456)은 제 4 분할 영상(458)과 중첩된다. 영상 처리 유닛(500)은 서로 적어도 일부 중첩되는 제 1 내지 제 4 분할 영상(452, 454, 456 및 458)을 처리하여 패널(11)에 대한 하나의 영상(459)을 추출할 수 있다. 영상 처리 유닛(500)은 다수의 분할 영상으로부터 하나의 영상을 추출하므로, 패널(11)의 크기에 상관없이 얼룩 검사를 할 수 있는 효과가 있다.
이하에서, 본 발명의 일 실시 예에 따른 패널 얼룩 검사 장치(10)의 동작을 설명한다.
도 2 내지 8을 참조하면, 패널(11)은 스테이지(210)에 안착될 수 있다. 스테이지 유닛(200)은 패널(11)을 가이드부(230)를 따라 일 방향으로 이송할 수 있다. 스팀 분사 유닛(600)은 패널(11)을 향하여 스팀을 분사할 수 있다. 스팀 분사 유닛(600)은 스테이지 유닛(200)의 일 방향과 수직한 방향으로 연장되게 배치되므로, 스팀이 패널(11)의 전면에 고르게 분사될 수 있다.
스테이지 유닛(200)은 계속적으로 패널(11)을 이송할 수 있다. 따라서, 스팀이 분사된 패널(11)은 촬영 유닛(400)을 향하여 이송될 수 있다. 조명 유닛(300)은 촬영 유닛(400)과 일정한 각도를 갖게 배치될 수 있다. 조명 유닛(300)은 패널(11)에 조명을 비춘다. 촬영 유닛(400)은 조명 유닛(300)에 의한 조명 상황에서 패널(11)을 촬영한다. 즉, 본 발명의 일 실시 예에 따른 패널 얼룩 검사 장치는 스팀의 분사와 동시에 촬영 유닛(400)으로 패널의 영상을 촬영할 수 있다. 따라서, 스팀의 응축으로 패널 얼룩의 검사가 불가능해지는 것을 방지할 수 있다.
이상 본 발명자에 의해서 이루어진 발명을 상기 실시 예에 따라 구체적으로 설명하였지만, 본 발명은 상기 실시 예에 한정되는 것은 아니고, 그 요지를 이탈하지 않는 범위에서 여러 가지로 변경 가능한 것은 물론이다.
10 : 패널 얼룩 검사 장치
11 : 패널
100 : 프레임
200 : 스테이지 유닛
300 : 조명 유닛
400 : 촬영 유닛
500 : 영상 처리 유닛
600 : 스팀 분사 유닛

Claims (8)

  1. 프레임;
    상기 프레임의 일 방향으로 이동 가능한 스테이지를 포함하는 스테이지 유닛;
    상기 프레임에 연결되며, 상기 스테이지를 향하여 스팀을 분사하는 스팀 분사 유닛;
    상기 프레임에 회동 가능하게 연결되며, 상기 스테이지에 조명을 비추는 조명 유닛;
    상기 프레임에 회동 가능하게 연결되며, 적어도 하나의 카메라를 포함하는 촬영 유닛을 포함하고,
    상기 조명 유닛은,
    상기 프레임에 배치되며, 상기 스테이지 유닛을 사이에 두고 이격된 한 쌍의 힌지부에 연결되어 힌지축을 기준으로 회동하는 한 쌍의 제 1 회동암;
    상기 한 쌍의 제 1 회동암을 연결하며, 상기 스테이지 유닛의 상부에 배치된 제 1 회동바; 및
    상기 제 1 회동바에 배치된 발광부를 포함하며,
    상기 촬영 유닛은,
    상기 한 쌍의 힌지부에 연결되어 상기 힌지축을 기준으로 회동하는 한 쌍의 제 2 회동암; 및
    상기 한 쌍의 제 2 회동암을 연결하며, 상기 스테이지 유닛의 상부에 배치된 제 2 회동바를 포함하는 패널 얼룩 검사 장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 촬영 유닛은 4개의 상기 카메라를 포함하며,
    상기 카메라는 상기 제 2 회동바의 길이 방향을 따라 이격된 패널 얼룩 검사 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 조명 유닛은, 상기 스테이지의 상면과 평행하며, 상기 한 쌍의 힌지부를 지나는 평면을 기준으로 10도와 170도의 사이를 회동하며,
    상기 촬영 유닛은 상기 평면을 기준으로 20도와 90도의 사이를 회동하는 패널 얼룩 검사 장치.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 2 회동바를 따라 이격된 상기 4개의 카메라는 상기 스테이지 상에 배치된 패널을 상기 제 2 회동바를 따라 4 분할한 4개의 분할 영상을 촬영하며,
    상기 4개의 분할 영상 중 어느 하나와 다른 하나는 적어도 일부 중첩되는 패널 얼룩 검사 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    서로 중첩되는 상기 4개의 분할 영상을 처리하여 상기 패널에 대한 하나의 영상을 추출하는 영상 처리 유닛을 더 포함하는 패널 얼룩 검사 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 스테이지 유닛은,
    상기 프레임 상에 배치되며, 상기 스테이지의 일 방향 이동을 안내하는 가이드부;
    상기 스테이지의 가장자리에 배치된 정렬 실린더; 및
    상기 스테이지를 관통하는 승하강핀을 포함하는 패널 얼룩 검사 장치.
KR1020160132860A 2016-10-13 2016-10-13 패널 얼룩 검사 장치 KR101726413B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160132860A KR101726413B1 (ko) 2016-10-13 2016-10-13 패널 얼룩 검사 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160132860A KR101726413B1 (ko) 2016-10-13 2016-10-13 패널 얼룩 검사 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101726413B1 true KR101726413B1 (ko) 2017-04-13

Family

ID=58579874

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160132860A KR101726413B1 (ko) 2016-10-13 2016-10-13 패널 얼룩 검사 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101726413B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101954089B1 (ko) * 2018-08-21 2019-03-06 (주)트라이시스 표시 패널 얼룩 검사 시스템

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030072542A (ko) * 2002-03-04 2003-09-15 엘지전자 주식회사 자기기록재생기 헤드드럼용 회전헤드구조
KR20060087813A (ko) * 2005-01-31 2006-08-03 주식회사 심우 모니터 패널용 글라스의 복합 표면검사 시스템
KR20070122339A (ko) * 2006-06-26 2007-12-31 엘지.필립스 엘시디 주식회사 배향막 러빙검사장치 및 러빙검사방법
WO2014050609A1 (ja) * 2012-09-28 2014-04-03 Jx日鉱日石エネルギー株式会社 不規則な凹凸表面を有する基板を検査する装置及びそれを用いた検査方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030072542A (ko) * 2002-03-04 2003-09-15 엘지전자 주식회사 자기기록재생기 헤드드럼용 회전헤드구조
KR20060087813A (ko) * 2005-01-31 2006-08-03 주식회사 심우 모니터 패널용 글라스의 복합 표면검사 시스템
KR20070122339A (ko) * 2006-06-26 2007-12-31 엘지.필립스 엘시디 주식회사 배향막 러빙검사장치 및 러빙검사방법
WO2014050609A1 (ja) * 2012-09-28 2014-04-03 Jx日鉱日石エネルギー株式会社 不規則な凹凸表面を有する基板を検査する装置及びそれを用いた検査方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101954089B1 (ko) * 2018-08-21 2019-03-06 (주)트라이시스 표시 패널 얼룩 검사 시스템

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107228861B (zh) 液晶面板的缺陷检测装置
CN105784724A (zh) 平板产品检测装置
CN104597634B (zh) 光学检测机
JP2009014617A5 (ko)
CN107238608A (zh) 基板检查装置
CN104102029A (zh) 液晶面板检查装置
WO2019090821A1 (zh) 基板检查设备及基板检查方法
KR100279260B1 (ko) 액정 셀의 액정 주입 및 액정 주입구 봉입검사 시스템
KR20110078958A (ko) 엘시디 패널 외관 검사장치
KR100840832B1 (ko) 엘시디패널의 외관 검사장치
KR101726413B1 (ko) 패널 얼룩 검사 장치
KR20160043233A (ko) 카메라용 렌즈모듈 외관 검사공법
CN105184795A (zh) 单摄像头aoi设备对于led背板线路板的扫描检测方法
KR100804978B1 (ko) 유리기판 면취면의 결함 검사장치
JP4592070B2 (ja) 液晶パネルの外観検査装置及び外観検査方法
KR20150113269A (ko) 박막 트랜지스터 기판 검사 장치
KR101543875B1 (ko) 기판 이송 장치 및 이를 포함하는 기판 검사 장치
KR101759470B1 (ko) 패널 점등 검사 장치
JP2009271058A (ja) 撮影検査装置
CN109804221A (zh) 边缘探测装置及对准装置
JP5943525B2 (ja) 実装用・検査用データ作成装置及び実装用・検査用データ作成方法
JP2684656B2 (ja) 電子部品の外観検査方法
KR20100084829A (ko) 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치
KR20130022126A (ko) 프로브 유닛 및 이를 포함하는 검사 장치
KR102136261B1 (ko) 폴더블 디스플레이 패널의 패터닝 가공된 패널 검사장치

Legal Events

Date Code Title Description
GRNT Written decision to grant