KR101679066B1 - Organic Light Emitting Display Device and Fabricating Method thereof - Google Patents

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Abstract

본 발명의 실시예는, 제1기판; 제1기판 상에 위치하는 트랜지스터; 트랜지스터 상에 위치하며 트랜지스터의 소오스 또는 드레인에 연결된 캐소드; 캐소드 상에 위치하며 캐소드의 일부를 노출하는 뱅크층; 뱅크층 상에 위치하는 유기 발광층; 유기 발광층 상에 위치하는 애노드; 및 애노드를 덮도록 형성되며 투명 금속산화물로 이루어진 제1보호막을 포함하는 유기전계발광표시장치를 제공한다.An embodiment of the present invention is a liquid crystal display comprising: a first substrate; A transistor located on a first substrate; A cathode located on the transistor and connected to the source or drain of the transistor; A bank layer located on the cathode and exposing a portion of the cathode; An organic light emitting layer positioned on the bank layer; An anode located on the organic light emitting layer; And a first passivation layer formed to cover the anode and made of a transparent metal oxide.

유기전계발광표시장치, 투명 금속산화물, 보호막 Organic electroluminescence display device, transparent metal oxide, protective film

Description

유기전계발광표시장치와 이의 제조방법{Organic Light Emitting Display Device and Fabricating Method thereof}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an organic light emitting display,

본 발명의 실시예는 유기전계발광표시장치와 이의 제조방법에 관한 것이다.An embodiment of the present invention relates to an organic light emitting display and a method of manufacturing the same.

유기전계발광표시장치에 사용되는 유기전계발광소자는 기판 상에 위치하는 두 개의 전극 사이에 발광층이 형성된 자발광소자였다.An organic electroluminescent device used in an organic electroluminescent display device is a self-luminous device in which a light emitting layer is formed between two electrodes located on a substrate.

유기전계발광표시장치는 빛이 방출되는 방향에 따라 전면발광(Top-Emission) 방식, 배면발광(Bottom-Emission) 방식 또는 양면발광(Dual-Emission) 방식 등이 있다. 그리고, 구동방식에 따라 수동매트릭스형(Passive Matrix)과 능동매트릭스형(Active Matrix) 등으로 나누어져 있다.The organic light emitting display device may be a top emission type, a bottom emission type or a dual emission type depending on a direction in which light is emitted. It is divided into a passive matrix and an active matrix depending on the driving method.

이러한 유기전계발광표시장치는 매트릭스 형태로 배치된 서브 픽셀들에 스캔 신호, 데이터 신호 및 전원 등이 공급되면, 선택된 서브 픽셀이 발광을 하게 됨으로써 영상을 표시할 수 있다.In such an organic light emitting display, when a scan signal, a data signal, a power supply, and the like are supplied to sub-pixels arranged in a matrix form, a selected sub-pixel emits light, thereby displaying an image.

유기전계발광표시장치의 서브 픽셀은 기판 상에 위치하는 트랜지스터와, 트랜지스터 상에 위치하는 유기 발광다이오드가 포함된다. 유기전계발광표시장치의 경우 기판 상에 형성된 소자들이 수분이나 산소에 취약하다는 단점이 있다.A subpixel of an organic light emitting display includes a transistor located on a substrate and an organic light emitting diode located on the transistor. In the case of organic electroluminescent display devices, the devices formed on the substrate are vulnerable to moisture or oxygen.

따라서, 종래에는 플라즈마 화학증착(PECVD) 방법이나 스퍼터링(Sputtering) 방법으로 기판 상에 형성된 서브 픽셀들을 덮도록 보호막을 형성하였다. 그런데, 유기 발광다이오드가 캐소드, 유기 발광층 및 애노드로 형성된 인버티드(Inverted) 형의 경우 위와 같은 방법으로 보호막을 형성하게 되면 하부에 형성된 유기박막이 손상되는 문제가 있어 이의 개선이 요구된다.Accordingly, conventionally, a protective film is formed to cover subpixels formed on a substrate by a plasma chemical vapor deposition (PECVD) method or a sputtering method. However, in the case of an inverted type in which the organic light emitting diode is formed of the cathode, the organic light emitting layer and the anode, if the protective film is formed by the above method, the organic thin film formed on the lower layer is damaged.

상술한 배경기술의 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 실시예는, 열 증착 방법으로 보호막을 형성하여 애노드의 하부에 위치하는 유기박막이 손상되는 문제를 방지할 수 있는 인버티드(Inverted)형 유기전계발광표시장치와 이의 제조방법을 제공하는 것이다. 또한, 본 발명의 실시예는 두 개의 기판을 밀봉합착할 때, 각 기판에 형성된 보호막과 전극 간의 전기적인 접촉으로 소자의 저항을 낮출 수 있는 유기전계발광표시장치와 이의 제조방법을 제공하는 것이다.An embodiment of the present invention for solving the problems of the background art described above is an organic electroluminescent device in which a protective film is formed by a thermal deposition method to prevent the organic thin film located at the lower portion of the anode from being damaged, Emitting display device and a method of manufacturing the same. In addition, embodiments of the present invention provide an organic light emitting display device and a method of manufacturing the same that can lower the resistance of a device by electrical contact between a protective film formed on each substrate and an electrode when sealing two substrates together.

상술한 과제 해결 수단으로 본 발명의 실시예는, 제1기판; 제1기판 상에 위치하는 트랜지스터; 트랜지스터 상에 위치하며 트랜지스터의 소오스 또는 드레인에 연결된 캐소드; 캐소드 상에 위치하며 캐소드의 일부를 노출하는 뱅크층; 뱅크층 상에 위치하는 유기 발광층; 유기 발광층 상에 위치하는 애노드; 및 애노드를 덮도록 형성되며 투명 금속산화물로 이루어진 제1보호막을 포함하는 유기전계발광표시장치를 제공한다.According to an embodiment of the present invention, there is provided a semiconductor device comprising: a first substrate; A transistor located on a first substrate; A cathode located on the transistor and connected to the source or drain of the transistor; A bank layer located on the cathode and exposing a portion of the cathode; An organic light emitting layer positioned on the bank layer; An anode located on the organic light emitting layer; And a first passivation layer formed to cover the anode and made of a transparent metal oxide.

투명 금속산화물 보호막 상에 위치하며 산화물계 또는 질화물계 중 하나 이상이 단층 또는 복층으로 이루어진 제2보호막을 더 포함할 수 있다.And a second protective film which is located on the transparent metal oxide protective film and in which at least one of an oxide system or a nitride system is a single layer or a multilayer.

투명 금속산화물은, 산화 텅스텐 또는 산화 몰리브덴으로 이루어질 수 있다.The transparent metal oxide may be composed of tungsten oxide or molybdenum oxide.

애노드의 두께는, 캐소드의 두께보다 얇게 형성될 수 있다.The thickness of the anode can be made thinner than the thickness of the cathode.

제1기판과 합착 밀봉된 제2기판을 더 포함하며, 제2기판은 서브 픽셀들의 영역을 정의하는 뱅크층과 대응하는 영역에 형성된 버스전극을 포함할 수 있다.The second substrate may further include a bus electrode formed in a region corresponding to a bank layer defining an area of the subpixels.

버스전극을 덮도록 제2기판 상에 형성된 투명 보조전극을 더 포함하며, 투명 보조전극은 제1보호막과 접촉할 수 있다.And a transparent auxiliary electrode formed on the second substrate so as to cover the bus electrode, wherein the transparent auxiliary electrode is in contact with the first protective film.

한편, 본 발명의 다른 실시예는, 제1기판 상에 매트릭스 형태로 서브 픽셀들을 형성하는 단계; 및 열 증착 방법으로 서브 픽셀들을 덮도록 투명 금속산화물로 이루어진 제1보호막을 형성하는 단계를 포함하는 유기전계발광표시장치의 제조방법을 제공한다.According to another embodiment of the present invention, there is provided a method of manufacturing a liquid crystal display, comprising: forming subpixels in a matrix form on a first substrate; And forming a first protective layer made of a transparent metal oxide to cover the subpixels by a thermal evaporation method. The present invention also provides a method of manufacturing an organic light emitting display.

투명 금속산화물 보호막 상에 위치하며 산화물계 또는 질화물계 중 하나 이상이 단층 또는 복층으로 이루어진 제2보호막을 형성하는 단계를 더 포함할 수 있다.Forming a second protective film, which is located on the transparent metal oxide protective film and in which at least one of an oxide system or a nitride system is a single layer or a multilayer.

제1기판과 이격 대향하는 제2기판을 구비하고 제1기판과 제2기판을 합착 밀봉하는 단계를 더 포함하며, 제2기판은 서브 픽셀들의 영역을 정의하는 뱅크층과 대응하는 영역에 형성된 버스전극을 포함할 수 있다.And a second substrate having a second substrate facing away from the first substrate and sealing the first substrate and the second substrate in a sealed manner, wherein the second substrate includes a bus formed in a region corresponding to a bank layer defining an area of sub- Electrode.

제2기판은, 버스전극을 덮도록 형성된 투명 보조전극을 더 포함하며, 투명 보조전극은 제2보호막과 접촉할 수 있다.The second substrate may further include a transparent auxiliary electrode formed to cover the bus electrode, and the transparent auxiliary electrode may contact the second protective film.

본 발명의 실시예는, 열 증착 방법으로 보호막을 형성하여 애노드의 하부에 위치하는 유기박막이 손상되는 문제를 방지할 수 있는 인버티드(Inverted)형 유기 전계발광표시장치와 이의 제조방법을 제공하는 효과가 있다. 또한, 본 발명의 실시예는 두 개의 기판을 밀봉합착할 때, 각 기판에 형성된 보호막과 전극 간의 전기적인 접촉으로 소자의 저항을 낮출 수 있는 유기전계발광표시장치와 이의 제조방법을 제공하는 효과가 있다.An embodiment of the present invention provides an inverted organic light emitting display device and a method of manufacturing the same, which can prevent a problem of damaging an organic thin film located under the anode by forming a protective film by a thermal evaporation method It is effective. In addition, an embodiment of the present invention provides an organic electroluminescent display device capable of lowering the resistance of a device by electrical contact between a protective film formed on each substrate and an electrode when sealing two substrates together, and a manufacturing method thereof have.

이하, 본 발명의 실시를 위한 구체적인 내용을 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

<제1실시예>&Lt; Embodiment 1 >

도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 개략적인 평면도 이다.1 is a schematic plan view of an organic light emitting display according to a first embodiment of the present invention.

도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 유기전계발광표시장치는 서브 픽셀들(SP)이 배치된 표시부(AA)를 갖는 제1기판(110)을 포함한다. 또한, 표시부(AA)에 배치된 서브 픽셀들(SP)을 덮도록 제1기판(110) 상에 형성되며 투명 금속산화물로 이루어진 제1보호막(130)을 포함한다. 또한, 제1기판(110) 상에 위치하는 소자들에 구동신호를 공급하는 구동부(160)를 포함한다. 또한, 외부로부터 공급되는 각종 신호를 전달하도록 외부회로기판과 연결되는 패드부(170)를 포함한다.As shown in FIG. 1, the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention includes a first substrate 110 having a display portion AA on which subpixels SP are disposed. And a first protective layer 130 formed on the first substrate 110 to cover the subpixels SP disposed on the display portion AA and made of a transparent metal oxide. And a driving unit 160 for supplying a driving signal to the elements located on the first substrate 110. And a pad unit 170 connected to the external circuit board to transmit various signals supplied from the outside.

제1기판(110)의 경우 투광성 또는 비투광성 재료로 형성될 수 있다. 제1기판(110)의 재료로는 유리, 금속, 세라믹 또는 플라스틱(폴리카보네이트 수지, 아크 릴 수지, 염화비닐 수지, 폴리에틸렌테레프탈레이트 수지, 폴리이미드 수지, 폴리에스테르 수지, 에폭시 수지, 실리콘 수지, 불소수지 등) 등을 예로 들 수 있다.In the case of the first substrate 110, it may be formed of a transparent or non-transparent material. As the material of the first substrate 110, glass, metal, ceramic or plastic (polycarbonate resin, acryl resin, vinyl chloride resin, polyethylene terephthalate resin, polyimide resin, polyester resin, epoxy resin, Resin, etc.) and the like.

서브 픽셀들(SP)은 제1기판(110) 상에 정의된 표시부(AA)에 매트릭스 형태로 위치할 수 있다. 서브 픽셀들(SP)은 구동방식에 따라 능동매트릭스형과 수동매트릭스형으로 형성될 수 있다. 서브 픽셀들(SP)이 능동매트릭스형인 경우 제1기판(110) 상에 형성된 트랜지스터와, 트랜지스터 상에 위치하는 유기 발광다이오드를 포함할 수 있다. 이와 달리, 수동매트릭스형인 경우 트랜지스터를 제외한 유기 발광다이오드를 포함할 수 있다.The subpixels SP may be disposed in a matrix form on the display unit AA defined on the first substrate 110. [ The subpixels SP may be formed into an active matrix type and a passive matrix type according to a driving method. A transistor formed on the first substrate 110 when the subpixels SP are active matrix type, and an organic light emitting diode located on the transistor. Alternatively, the passive matrix type may include an organic light emitting diode other than a transistor.

구동부(160)는 표시부(AA)에 포함된 서브 픽셀들(SP)에 데이터신호와 스캔신호를 공급하는 데이터구동부와 스캔구동부를 포함할 수 있다. 데이터구동부는 외부로부터 수평 동기 신호 및 영상 데이터신호를 공급받고 수평 동기 신호를 참조하여 데이터신호 등을 생성할 수 있다. 그리고 스캔구동부는 외부로부터 수직 동기 신호를 공급받고 수직 동기 신호를 참조하여 서브 픽셀들(SP)에 공급할 스캔신호 및 제어신호 등을 생성할 수 있다. 여기서, 구동부(160)에 포함된 데이터구동부와 스캔구동부는 제1기판(110) 상에 각각 구분되어 위치할 수도 있다.The driving unit 160 may include a data driver and a scan driver for supplying a data signal and a scan signal to the sub-pixels SP included in the display unit AA. The data driver may supply a horizontal synchronizing signal and an image data signal from the outside and generate a data signal or the like with reference to the horizontal synchronizing signal. The scan driver receives a vertical synchronization signal from the outside, and generates a scan signal and a control signal to be supplied to the sub-pixels SP by referring to the vertical synchronization signal. Here, the data driver and the scan driver included in the driver 160 may be separately disposed on the first substrate 110.

이하, 도 2 및 도 3을 참조하여 본 발명의 제1실시예에 따른 유기전계발광표시장치에 대해 더욱 자세히 설명한다.Hereinafter, the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 2 and 3. FIG.

도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 단면도이고, 도 3은 다른 실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 단면도이다.FIG. 2 is a cross-sectional view of an organic light emitting display device according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a cross-sectional view of an organic light emitting display device according to another embodiment.

도 2를 참조하면, 본 발명의 제1실시예에 따른 유기전계발광표시장치는 제1기판(110) 상에 형성된 트랜지스터(T)와 트랜지스터(T)의 소오스 또는 드레인에 연결된 유기 발광다이오드(D)를 포함하는 서브 픽셀이 형성된다. 서브 픽셀 상에는 투명 금속산화물로 이루어진 제1보호막(130)이 형성된다.Referring to FIG. 2, the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention includes a transistor T formed on a first substrate 110, an organic light emitting diode D connected to a source or a drain of the transistor T, ) Are formed. A first protective layer 130 made of a transparent metal oxide is formed on the subpixels.

제1기판(110) 상에는 버퍼층(111)이 위치할 수 있다. 버퍼층(111)은 제1기판(110)에서 유출되는 알칼리 이온 등과 같은 불순물로부터 후속 공정에서 형성되는 박막 트랜지스터를 보호하기 위해 형성할 수 있으나 생략될 수도 있다.The buffer layer 111 may be positioned on the first substrate 110. The buffer layer 111 may be formed to protect a thin film transistor formed in a subsequent process from an impurity such as an alkali ion or the like flowing out from the first substrate 110, but may be omitted.

버퍼층(111) 상에는 게이트(112)가 위치할 수 있다. 게이트(112)는 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다.A gate 112 may be located on the buffer layer 111. The gate 112 may be formed as a single layer or multiple layers.

게이트(112) 상에는 제1절연막(113)이 위치할 수 있다. 제1절연막(113)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The first insulating layer 113 may be located on the gate 112. The first insulating layer 113 may be silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), or a multilayer thereof, but is not limited thereto.

제1절연막(113) 상에는 액티브층(114)이 위치할 수 있다. 액티브층(114)은 비정질 실리콘 또는 이를 결정화한 다결정 실리콘을 포함할 수 있다. 여기서 도시하지는 않았지만, 액티브층(114)은 채널 영역, 소오스 영역 및 드레인 영역을 포함할 수 있으며, 소오스 영역 및 드레인 영역에는 P형 또는 N형 불순물이 도핑될 수 있다. 또한, 액티브층(114)은 접촉 저항을 낮추기 위한 오믹 콘택층을 포함할 수도 있다.The active layer 114 may be located on the first insulating layer 113. The active layer 114 may comprise amorphous silicon or polycrystalline silicon crystallized therefrom. Although not shown here, the active layer 114 may include a channel region, a source region, and a drain region, and the source region and the drain region may be doped with P-type or N-type impurities. In addition, the active layer 114 may include an ohmic contact layer for lowering the contact resistance.

액티브층(114) 상에는 소오스 드레인(115a, 115b)이 위치할 수 있다. 소오스 드레인(115a, 115b)은 단일층 또는 다중층으로 이루어질 수 있다.On the active layer 114, source drains 115a and 115b may be located. The source drains 115a and 115b may be a single layer or a multilayer.

소오스 드레인(115a, 115b) 상에는 제2절연막(116a)이 위치할 수 있다. 제2절연막(116a)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The second insulating film 116a may be positioned on the source drains 115a and 115b. The second insulating layer 116a may be silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), or a multilayer thereof, but is not limited thereto.

소오스 드레인(115a, 115b) 중 하나는 제2절연막(116a) 상에 위치하며 소오스 드레인(115a, 115b) 간의 간섭을 방지하기 위한 실드(shield) 금속(118)에 연결될 수 있다.One of the source drains 115a and 115b is located on the second insulating layer 116a and may be connected to a shield metal 118 for preventing interference between the source drains 115a and 115b.

제2절연막(116a) 상에는 평탄도를 높이기 위한 제3절연막(116b)이 위치할 수 있다. 제3절연막(116b)은 폴리이미드 등의 유기물을 포함할 수 있다.A third insulating layer 116b may be formed on the second insulating layer 116a to increase the flatness. The third insulating film 116b may include an organic material such as polyimide.

이상은 제1기판(110) 상에 형성된 트랜지스터(T)가 바탐 게이트형인 것을 일례로 설명하였다. 그러나, 제1기판(110) 상에 형성되는 트랜지스터(T)는 바탐 게이트형뿐만 아니라 탑 게이트형으로도 형성될 수 있다.In the above description, the transistor T formed on the first substrate 110 is a Bam gate type transistor. However, the transistor T formed on the first substrate 110 may be formed not only as a totem gate type but also a top gate type.

트랜지스터(T)의 제3절연막(116b) 상에는 소오스(115a) 또는 드레인(115b)에 연결된 캐소드(117)가 위치할 수 있다.A cathode 117 connected to the source 115a or the drain 115b may be disposed on the third insulating film 116b of the transistor T. [

캐소드(117) 상에는 캐소드(117)의 일부를 노출하는 개구부를 갖는 뱅크층(119)이 위치할 수 있다.On the cathode 117, a bank layer 119 having an opening exposing a part of the cathode 117 may be located.

캐소드(117) 상에는 유기 발광층(121)이 위치할 수 있다. 유기 발광층(121)은 서브 픽셀에 따라 적색, 녹색 및 청색 중 어느 하나의 색을 발광하도록 형성될 수 있다.The organic light emitting layer 121 may be positioned on the cathode 117. The organic light emitting layer 121 may be formed to emit light of any one of red, green, and blue depending on subpixels.

유기 발광층(121) 상에는 애노드(122)가 위치할 수 있다. 애노드(122)는 캐소드(117)보다 얇게 형성될 수 있다.The anode 122 may be positioned on the organic light emitting layer 121. The anode 122 may be formed thinner than the cathode 117.

애노드(122) 상에는 투명 금속산화물로 이루어진 제1보호막(130)이 위치할 수 있다. 제1보호막(130)은 제1기판(110) 상에 형성된 서브 픽셀을 모두 덮도록 형성될 수 있다. 제1보호막(130)은 3산화 텅스텐(WO3), 3산화 몰리브덴(MoO3) 등과 같이 열 증착이 가능한 물질로 이루어질 수 있다. 제1보호막(130)을 열 증착 방법으로 형성하게 되면, 하부에 위치하는 유기박막이 손상되는 것을 방지할 수 있다.A first protective layer 130 made of a transparent metal oxide may be disposed on the anode 122. The first passivation layer 130 may be formed to cover all the subpixels formed on the first substrate 110. The first protective layer 130 may be formed of a material capable of thermal deposition such as tungsten trioxide (WO 3), molybdenum trioxide (MoO 3), or the like. If the first protective film 130 is formed by a thermal deposition method, the organic thin film located at the bottom can be prevented from being damaged.

한편, 도 3에 도시된 바와 같이 다른 실시예에 의하면, 제1보호막(130) 상에는 산화물계 또는 질화물계 중 하나 이상이 단층 또는 복층으로 이루어진 제2보호막(135)이 더 위치할 수도 있다. 제2보호막(135)은 3산화 텅스텐(WO3), 3산화 몰리브덴(MoO3) 등과 같은 산화물계나 실리콘 질화물(SiNx)과 같은 질화물계로 단층 또는 복층으로 이루어질 수 있으며 이들 가운데 리튬플로라이드(LiF) 등과 같은 화합물이 더 개재될 수도 있다.Meanwhile, according to another embodiment, as shown in FIG. 3, a second protective layer 135 may be further formed on the first protective layer 130, in which at least one oxide or nitride layer is a single layer or a multilayer. The second protective film 135 may be formed of a single layer or a multi-layer of an oxide type such as tungsten trioxide (WO3), molybdenum trioxide (MoO3) or the like and a nitride type such as silicon nitride (SiNx) The compound may be further intervened.

<제2실시예>&Lt; Embodiment 2 >

도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 단면도이고, 도 5는 버스전극의 배치도이다.FIG. 4 is a cross-sectional view of an organic light emitting display according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a layout diagram of a bus electrode.

도 4를 참조하면, 본 발명의 제2실시예에 따른 유기전계발광표시장치는 제1기판(210) 상에 형성된 트랜지스터(T)와 트랜지스터(T)의 소오스 또는 드레인에 연결된 유기 발광다이오드(D)를 포함하는 서브 픽셀이 형성된다. 서브 픽셀 상에는 투명 금속산화물로 이루어진 제1보호막(230)이 형성된다. 제1보호막(230) 상에는 제2보호막(235)이 형성된다. 제1기판(210)은 제2기판(280)과 밀봉 합착된다. 제2기 판(280) 상에는 버스전극(240)이 형성된다. 제2기판(280) 상에는 버스전극(240)을 덮도록 투명 보조전극(250)이 형성된다.4, the organic light emitting display according to the second embodiment of the present invention includes a transistor T formed on a first substrate 210 and an organic light emitting diode D connected to a source or a drain of the transistor T ) Are formed. A first protective film 230 made of a transparent metal oxide is formed on the subpixel. A second protective film 235 is formed on the first protective film 230. The first substrate 210 is sealed and attached to the second substrate 280. A bus electrode 240 is formed on the second substrate 280. A transparent auxiliary electrode 250 is formed on the second substrate 280 so as to cover the bus electrode 240.

제1기판(210) 상에는 버퍼층(211)이 위치할 수 있다. 버퍼층(211)은 제1기판(210)에서 유출되는 알칼리 이온 등과 같은 불순물로부터 후속 공정에서 형성되는 박막 트랜지스터를 보호하기 위해 형성할 수 있으나 생략될 수도 있다.A buffer layer 211 may be disposed on the first substrate 210. The buffer layer 211 may be formed to protect a thin film transistor formed in a subsequent process from an impurity such as an alkali ion or the like flowing out from the first substrate 210, but may be omitted.

버퍼층(211) 상에는 게이트(212)가 위치할 수 있다. 게이트(212)는 단층 또는 복층으로 형성될 수 있다.A gate 212 may be located on the buffer layer 211. The gate 212 may be formed as a single layer or a multi-layer.

게이트(212) 상에는 제1절연막(213)이 위치할 수 있다. 제1절연막(213)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The first insulating layer 213 may be located on the gate 212. The first insulating layer 213 may be silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), or a multilayer thereof, but is not limited thereto.

제1절연막(213) 상에는 액티브층(214)이 위치할 수 있다. 액티브층(214)은 비정질 실리콘 또는 이를 결정화한 다결정 실리콘을 포함할 수 있다. 여기서 도시하지는 않았지만, 액티브층(214)은 채널 영역, 소오스 영역 및 드레인 영역을 포함할 수 있으며, 소오스 영역 및 드레인 영역에는 P형 또는 N형 불순물이 도핑될 수 있다. 또한, 액티브층(214)은 접촉 저항을 낮추기 위한 오믹 콘택층을 포함할 수도 있다.The active layer 214 may be located on the first insulating layer 213. The active layer 214 may comprise amorphous silicon or polycrystalline silicon crystallized therefrom. Although not shown here, the active layer 214 may include a channel region, a source region, and a drain region, and the source region and the drain region may be doped with P-type or N-type impurities. In addition, the active layer 214 may include an ohmic contact layer for lowering the contact resistance.

액티브층(214) 상에는 소오스 드레인(215a, 215b)이 위치할 수 있다. 소오스 드레인(215a, 215b)은 단일층 또는 다중층으로 이루어질 수 있다.On the active layer 214, source drains 215a and 215b may be located. The source drains 215a and 215b may be a single layer or a multilayer.

소오스 드레인(215a, 215b) 상에는 제2절연막(216a)이 위치할 수 있다. 제2절연막(216a)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The second insulating film 216a may be positioned on the source drains 215a and 215b. The second insulating layer 216a may be silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), or a multilayer thereof, but is not limited thereto.

소오스 드레인(215a, 215b) 중 하나는 제2절연막(216a) 상에 위치하며 소오스 드레인(215a, 215b) 간의 간섭을 방지하기 위한 실드(shield) 금속(218)에 연결될 수 있다.One of the source drains 215a and 215b is located on the second insulating layer 216a and may be connected to a shield metal 218 for preventing interference between the source drains 215a and 215b.

제2절연막(216a) 상에는 평탄도를 높이기 위한 제3절연막(216b)이 위치할 수 있다. 제3절연막(216b)은 폴리이미드 등의 유기물을 포함할 수 있다.A third insulating layer 216b may be formed on the second insulating layer 216a to increase the flatness. The third insulating film 216b may include an organic material such as polyimide.

이상은 제1기판(210) 상에 형성된 트랜지스터(T)가 바탐 게이트형인 것을 일례로 설명하였다. 그러나, 제1기판(210) 상에 형성되는 트랜지스터(T)는 바탐 게이트형뿐만 아니라 탑 게이트형으로도 형성될 수 있다.In the above description, the transistor T formed on the first substrate 210 is of the Batam gate type. However, the transistor T formed on the first substrate 210 can be formed not only as a totem gate type but also as a top gate type.

트랜지스터(T)의 제3절연막(216b) 상에는 소오스(215a) 또는 드레인(215b)에 연결된 캐소드(217)가 위치할 수 있다.A cathode 217 connected to the source 215a or the drain 215b may be disposed on the third insulating film 216b of the transistor T. [

캐소드(217) 상에는 캐소드(217)의 일부를 노출하는 개구부를 갖는 뱅크층(219)이 위치할 수 있다. 뱅크층(219)은 벤조사이클로부텐(benzocyclobutene,BCB)계 수지, 아크릴계 수지 또는 폴리이미드 수지 등의 유기물을 포함할 수 있다.On the cathode 217, a bank layer 219 having an opening exposing a part of the cathode 217 may be located. The bank layer 219 may include an organic material such as a benzocyclobutene (BCB) resin, an acrylic resin, or a polyimide resin.

캐소드(217) 상에는 유기 발광층(221)이 위치할 수 있다. 유기 발광층(221)은 서브 픽셀에 따라 적색, 녹색 및 청색 중 어느 하나의 색을 발광하도록 형성될 수 있다.The organic light emitting layer 221 may be positioned on the cathode 217. The organic light emitting layer 221 may be formed to emit light of any one of red, green, and blue depending on subpixels.

유기 발광층(221) 상에는 애노드(222)가 위치할 수 있다. 애노드(222)는 캐소드(217)보다 얇게 형성될 수 있다.An anode 222 may be disposed on the organic light emitting layer 221. The anode 222 may be formed thinner than the cathode 217.

애노드(222) 상에는 투명 금속산화물로 이루어진 제1보호막(230)이 위치할 수 있다. 제1보호막(230)은 제1기판(210) 상에 형성된 서브 픽셀들을 모두 덮도록 형성될 수 있다. 제1보호막(230)은 3산화 텅스텐(WO3), 3산화 몰리브덴(MoO3) 등과 같이 열 증착이 가능한 물질로 이루어질 수 있다. 제1보호막(230)을 열 증착 방법으로 형성하게 되면, 하부에 위치하는 유기박막이 손상되는 것을 방지할 수 있다.A first protective layer 230 made of a transparent metal oxide may be disposed on the anode 222. The first passivation layer 230 may be formed to cover all the subpixels formed on the first substrate 210. The first protective layer 230 may be formed of a material capable of thermal deposition such as tungsten trioxide (WO3), molybdenum trioxide (MoO3), or the like. When the first protective film 230 is formed by the thermal evaporation method, the organic thin film located at the bottom can be prevented from being damaged.

제2기판(280) 상에는 서브 픽셀들의 영역을 정의하는 뱅크층(219)과 대응하는 영역에 형성된 버스전극(240)이 위치할 수 있다. 도 5를 참조하면, 버스전극(240)은 서브 픽셀들(SP)의 비발광영역(NEA)에 해당되는 뱅크층(219)을 따라 그물형태로 형성된다. 그러나, 버스전극(240)은 비발광영역(NEA)의 세로 방향 또는 가로 방향을 따라 바(bar) 형태로도 형성될 수 있다.On the second substrate 280, a bank layer 219 defining a subpixel region and a bus electrode 240 formed in a corresponding region may be located. Referring to FIG. 5, the bus electrode 240 is formed in a net shape along the bank layer 219 corresponding to the non-emission region NEA of the subpixels SP. However, the bus electrode 240 may also be formed in a bar shape along the longitudinal direction or the lateral direction of the non-light emitting region NEA.

제2기판(280) 상에는 버스전극(240)을 덮도록 형성된 투명 보조전극(250)이 위치할 수 있다. 투명 보조전극(250)은 제1기판(210)과 제2기판(280)이 합착 밀봉될 때, 제1기판(210) 상에 위치하는 보호막과 접촉하게 된다. 실시예는 투명 보조전극(250)이 제1기판(210) 상에 형성된 제1보호막(230)과 접촉하는 것을 일례로 하였다. 그러나, 제1기판(210) 상에 형성된 제1보호막(230) 상에 제2보호막(도 3 참조)이 더 형성된 경우 투명 보조전극(250)은 제2보호막과 접촉할 수도 있다. 이와 같이, 두 기판(210, 280)을 합착 밀봉할 때 각 기판(210, 280)에 형성된 보호막(230 또는 235)과 전극(240 또는 250) 간의 전기적인 접촉으로 소자의 저항을 낮출 수 있게 된다. A transparent auxiliary electrode 250 formed to cover the bus electrode 240 may be disposed on the second substrate 280. The transparent auxiliary electrode 250 is in contact with the protective film located on the first substrate 210 when the first substrate 210 and the second substrate 280 are integrally sealed. The embodiment is an example in which the transparent auxiliary electrode 250 is in contact with the first protective film 230 formed on the first substrate 210. However, when the second protective film (see FIG. 3) is further formed on the first protective film 230 formed on the first substrate 210, the transparent auxiliary electrode 250 may be in contact with the second protective film. As described above, when the two substrates 210 and 280 are jointly sealed, the resistance of the device can be lowered by the electrical contact between the protective film 230 or 235 formed on the substrate 210 or 280 and the electrode 240 or 250 .

이하, 본 발명의 실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 제조방법에 대해 설명한다.Hereinafter, a method of manufacturing an organic light emitting display device according to an embodiment of the present invention will be described.

도 6 내지 도 9는 본 발명의 실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 제조방법을 설명하기 위한 도면이고, 도 10은 유기 발광다이오드의 계층 구조 예시도 이다.FIGS. 6 to 9 are views for explaining a method of manufacturing an organic light emitting display according to an embodiment of the present invention, and FIG. 10 is an example of a hierarchical structure of an organic light emitting diode.

본 발명의 실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 제조방법은 제1기판 상에 매트릭스 형태로 서브 픽셀들을 형성하는 단계와 열 증착 방법으로 서브 픽셀들을 덮도록 투명 금속산화물로 이루어진 제1보호막을 형성하는 단계를 포함한다.A method of fabricating an organic light emitting display according to an exemplary embodiment of the present invention includes forming a sub-pixel in a matrix form on a first substrate, forming a first protective layer made of a transparent metal oxide .

도 6에 도시된 바와 같이, 제1기판(310) 상에 트랜지스터(T)를 형성한다.The transistor T is formed on the first substrate 310 as shown in FIG.

제1기판(310) 상에 버퍼층(311)을 형성한다. 버퍼층(311)은 제1기판(310)에서 유출되는 알칼리 이온 등과 같은 불순물로부터 후속 공정에서 형성되는 박막 트랜지스터를 보호하기 위해 형성할 수 있으나 생략될 수도 있다. 버퍼층(311)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 등을 사용할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.A buffer layer 311 is formed on the first substrate 310. The buffer layer 311 may be formed to protect a thin film transistor formed in a subsequent process from an impurity such as an alkali ion or the like flowing out from the first substrate 310, but may be omitted. The buffer layer 311 may be made of silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), or the like, but is not limited thereto.

버퍼층(311) 상에 게이트(312)를 형성한다. 게이트(312)는 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어질 수 있다. 또한, 게이트(112)는 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 다중층일 수 있다. 또한, 게이트(312)는 몰리브덴/알루미 늄-네오디뮴 또는 몰리브덴/알루미늄의 2중층일 수 있다.A gate 312 is formed on the buffer layer 311. The gate 312 may be formed of any one selected from the group consisting of Mo, Al, Cr, Au, Ti, Ni, Ne, Or an alloy thereof. The gate 112 may be formed of a material selected from the group consisting of Mo, Al, Cr, Au, Ti, Ni, And may be a multilayer composed of any one selected or an alloy thereof. Also, the gate 312 may be a double layer of molybdenum / aluminum-neodymium or molybdenum / aluminum.

게이트(312) 상에 제1절연막(313)을 형성한다. 제1절연막(313)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있으나 이에 한정되지 않는다.A first insulating film 313 is formed on the gate 312. The first insulating layer 313 may be silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), or a multilayer thereof, but is not limited thereto.

제1절연막(313) 상에 액티브층(314)을 형성한다. 액티브층(314)은 비정질 실리콘 또는 이를 결정화한 다결정 실리콘을 포함할 수 있다. 여기서 도시하지는 않았지만, 액티브층(314)은 채널 영역, 소오스 영역 및 드레인 영역을 포함할 수 있으며, 소오스 영역 및 드레인 영역에는 P형 또는 N형 불순물이 도핑될 수 있다. 또한, 액티브층(314)은 접촉 저항을 낮추기 위한 오믹 콘택층을 포함할 수도 있다.An active layer 314 is formed on the first insulating film 313. The active layer 314 may comprise amorphous silicon or polycrystalline silicon crystallized therefrom. Although not shown here, the active layer 314 may include a channel region, a source region, and a drain region, and the source region and the drain region may be doped with P-type or N-type impurities. In addition, the active layer 314 may comprise an ohmic contact layer for lowering the contact resistance.

액티브층(314) 상에 소오스 드레인(315a, 315b)을 형성한다. 소오스 드레인(315a, 315b)은 단일층 또는 다중층으로 이루어질 수 있으며, 소오스 드레인(315a, 315b)이 단일층일 경우에는 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어질 수 있다. 또한, 소오스 드레인(315a, 315b)이 다중층일 경우에는 몰리브덴/알루미늄-네오디뮴의 2중층, 몰리브덴/알루미늄/몰리브덴 또는 몰리브덴/알루미늄-네오디뮴/몰리브덴의 3중층으로 이루어질 수 있다.Source drains 315a and 315b are formed on the active layer 314. The source drains 315a and 315b may be a single layer or a multilayer and may be formed of a single layer of molybdenum (Mo), aluminum (Al), chromium (Cr), gold (Au) And may be made of any one selected from the group consisting of titanium (Ti), nickel (Ni), neodymium (Nd), and copper (Cu) When the source drains 315a and 315b are multilayered, they may be formed of a triple layer of molybdenum / aluminum-neodymium, molybdenum / aluminum / molybdenum, or molybdenum / aluminum-neodymium / molybdenum.

소오스 드레인(315a, 315b) 상에 제2절연막(316a)을 형성한다. 제2절연막(316a)은 실리콘 산화물(SiOx), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 이들의 다중층일 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 소오스 드레인(315a, 315b) 중 하나는 제2절연 막(316a) 상에 위치하며 소오스 드레인(115a, 115b) 간의 간섭을 방지하기 위한 실드(shield) 금속(318)에 연결될 수 있다.A second insulating film 316a is formed on the source drains 315a and 315b. The second insulating film 316a may be silicon oxide (SiOx), silicon nitride (SiNx), or a multilayer thereof, but is not limited thereto. One of the source drains 315a and 315b is located on the second insulating layer 316a and may be connected to a shield metal 318 for preventing interference between the source drains 115a and 115b.

다음, 도 7에 도시된 바와 같이, 제2절연막(316a) 상에 평탄도를 높이기 위한 제3절연막(316b)을 형성한다. 제3절연막(316b)은 폴리이미드 등의 유기물을 포함할 수 있다.Next, as shown in FIG. 7, a third insulating film 316b for increasing the flatness is formed on the second insulating film 316a. The third insulating film 316b may include an organic material such as polyimide.

제3절연막(316b) 상에 소오스(315a) 또는 드레인(315b)에 연결된 캐소드(317)를 형성한다. 캐소드(317)의 재료로는 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(Al alloy), 알미네리윰(AlNd) 중 어느 하나로 형성될 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 또한, 하부전극(317)이 캐소드로 선택된 경우, 캐소드의 재료로는 반사도가 높은 재료로 형성하는 것이 유리하다.A cathode 317 connected to the source 315a or the drain 315b is formed on the third insulating film 316b. The material of the cathode 317 may be any one of aluminum (Al), aluminum alloy (Al alloy), and aluminum nitride (AlNd), but is not limited thereto. When the lower electrode 317 is selected as the cathode, it is advantageous to form the material of the cathode from a material having high reflectivity.

캐소드(317) 상에 캐소드(317)의 일부를 노출하는 개구부를 갖는 뱅크층(319)을 형성한다. 뱅크층(319)은 벤조사이클로부텐(benzocyclobutene,BCB)계 수지, 아크릴계 수지 또는 폴리이미드 수지 등의 유기물을 포함할 수 있다.A bank layer 319 having an opening exposing a part of the cathode 317 is formed on the cathode 317. [ The bank layer 319 may include an organic material such as a benzocyclobutene (BCB) based resin, an acrylic based resin, or a polyimide resin.

캐소드(317) 상에 유기 발광층(321)을 형성한다. 유기 발광층(321)은 서브 픽셀에 따라 적색, 녹색 및 청색 중 어느 하나의 색을 발광하도록 형성될 수 있다.And an organic light emitting layer 321 is formed on the cathode 317. The organic light emitting layer 321 may be formed to emit red, green, or blue light depending on the subpixel.

유기 발광층(321) 상에 애노드(322)를 형성한다. 애노드(322)의 재료로는 ITO(Indium Tin Oxide), IZO(Indium Zinc Oxide), ITZO(Indium Tin Zinc Oxide), AZO(ZnO doped Al2O3) 중 어느 하나로 형성될 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 애노드(322)는 캐소드(317)보다 얇게 형성될 수 있다.And an anode 322 is formed on the organic light emitting layer 321. [ The anode 322 may be formed of any one of ITO (Indium Tin Oxide), IZO (Indium Tin Zinc Oxide), ITZO (Indium Tin Zinc Oxide), and AZO (ZnO doped Al2O3). The anode 322 may be formed thinner than the cathode 317.

다음, 도 9에 도시된 바와 같이, 열 증착 방법으로 애노드(322) 상에 투명 금속산화물로 이루어진 제1보호막(330)을 형성한다. 제1보호막(330)은 제1기판(310) 상에 형성된 서브 픽셀들을 모두 덮도록 형성될 수 있다. 제1보호막(330)은 3산화 텅스텐(WO3), 3산화 몰리브덴(MoO3) 등과 같이 열 증착이 가능한 물질로 이루어질 수 있다. 열 증착이 가능한 물질은 리튬플로라이드(LiF)와 같은 화합물로도 형성할 수 있다. 이와 같이, 제1보호막(330)을 열 증착 방법으로 형성하게 되면, 하부에 위치하는 유기박막이 손상되는 것을 방지할 수 있다.Next, as shown in FIG. 9, a first protective film 330 made of a transparent metal oxide is formed on the anode 322 by a thermal evaporation method. The first passivation layer 330 may be formed to cover all of the subpixels formed on the first substrate 310. The first passivation layer 330 may be formed of a material capable of thermal deposition such as tungsten trioxide (WO 3), molybdenum trioxide (MoO 3), or the like. The material capable of thermal evaporation may also be formed of a compound such as lithium fluoride (LiF). As described above, when the first protective film 330 is formed by the thermal evaporation method, damage to the underlying organic thin film can be prevented.

도 10을 참조하면, 유기 발광다이오드(D)는 캐소드(317), 전자주입층(321a), 전자수송층(321b), 발광층(321c), 정공수송층(321d), 정공주입층(321e) 및 애노드(322)를 포함할 수 있다.10, the organic light emitting diode D includes a cathode 317, an electron injection layer 321a, an electron transport layer 321b, a light emission layer 321c, a hole transport layer 321d, a hole injection layer 321e, Lt; RTI ID = 0.0 &gt; 322 &lt; / RTI &gt;

전자주입층(321a)은 전자의 주입을 원활하게 하는 역할을 하며, Alq3(tris(8-hydroxyquinolino)aluminum), PBD, TAZ, spiro-PBD, BAlq 또는 SAlq를 사용할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The electron injection layer 321a serves to smooth the injection of electrons and may use Alq3 (tris (8-hydroxyquinolino) aluminum), PBD, TAZ, spiro-PBD, BAlq or SAlq.

전자수송층(321b)은 전자의 수송을 원활하게 하는 역할을 하며, Alq3(tris(8-hydroxyquinolino)aluminum), PBD, TAZ, spiro-PBD, BAlq 및 SAlq로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상으로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The electron transporting layer 321b serves to smooth the transport of electrons and may be made of any one or more selected from the group consisting of Alq3 (tris (8-hydroxyquinolino) aluminum), PBD, TAZ, spiro-PBD, BAlq and SAlq But are not limited thereto.

발광층(321c)은 적색, 녹색, 청색 및 백색을 발광하는 물질을 포함할 수 있으며, 인광 또는 형광물질을 이용하여 형성할 수 있다.The light emitting layer 321c may include materials that emit red, green, blue, and white light, and may be formed using phosphorescent or fluorescent materials.

발광층(321c)이 적색인 경우, CBP(carbazole biphenyl) 또는 mCP(1,3- bis(carbazol-9-yl)를 포함하는 호스트 물질을 포함하며, PIQIr(acac)(bis(1-phenylisoquinoline)acetylacetonate iridium), PQIr(acac)(bis(1-phenylquinoline)acetylacetonate iridium), PQIr(tris(1-phenylquinoline)iridium) 및 PtOEP(octaethylporphyrin platinum)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상을 포함하는 도펀트를 포함하는 인광물질로 이루어질 수 있고, 이와는 달리 PBD:Eu(DBM)3(Phen) 또는 Perylene을 포함하는 형광물질로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.When the light emitting layer 321c is red, it includes a host material containing CBP (carbazole biphenyl) or mCP (1,3-bis (carbazol-9-yl) wherein the dopant comprises at least one selected from the group consisting of iridium, iridium, PQIr (acac) (bis (1-phenylquinoline) acetylacetonate iridium), PQIr (tris (1-phenylquinoline) iridium) and PtOEP (octaethylporphyrin platinum) Or PBD: Eu (DBM) 3 (Phen) or Perylene. However, the present invention is not limited thereto.

발광층(321c)이 녹색인 경우, CBP 또는 mCP를 포함하는 호스트 물질을 포함하며, Ir(ppy)3(fac tris(2-phenylpyridine)iridium)을 포함하는 도펀트 물질을 포함하는 인광물질로 이루어질 수 있고, 이와는 달리, Alq3(tris(8-hydroxyquinolino)aluminum)을 포함하는 형광물질로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.When the light emitting layer 321c is green, it may be composed of a phosphorescent material including a dopant material including a host material including CBP or mCP and containing Ir (ppy) 3 (fac tris (2-phenylpyridine) iridium) Alternatively, it may be made of a fluorescent material including Alq3 (tris (8-hydroxyquinolino) aluminum), but is not limited thereto.

발광층(321c)이 청색인 경우, CBP 또는 mCP를 포함하는 호스트 물질을 포함하며, (4,6-F2ppy)2Irpic을 포함하는 도펀트 물질을 포함하는 인광물질로 이루어질 수 있다. 이와는 달리, spiro-DPVBi, spiro-6P, 디스틸벤젠(DSB), 디스트릴아릴렌(DSA), PFO계 고분자 및 PPV계 고분자로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나를 포함하는 형광물질로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.When the light emitting layer 321c is blue, it may include a phosphorescent material including a host material including CBP or mCP and a dopant material including (4,6-F2ppy) 2Irpic. Alternatively, the fluorescent material may include any one selected from the group consisting of spiro-DPVBi, spiro-6P, distyrylbenzene (DSB), distyrylarylene (DSA), PFO polymer, and PPV polymer. It is not limited.

정공수송층(321d)은 정공의 수송을 원활하게 하는 역할을 하며, NPD(N,N-dinaphthyl-N,N'-diphenyl benzidine), TPD(N,N'-bis-(3-methylphenyl)-N,N'-bis-(phenyl)-benzidine), s-TAD 및 MTDATA(4,4',4"-Tris(N-3-methylphenyl-N-phenyl- amino)-triphenylamine)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상으로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The hole transport layer 321d serves to smooth the transport of holes and includes a hole transport layer 321d made of NPD (N, N-dinaphthyl-N, N'-diphenyl benzidine), TPD (N, , N'-bis- (phenyl) -benzidine), s-TAD and MTDATA (4,4 ', 4 "-tris (N-3-methylphenyl-N-phenylamino) But is not limited thereto.

정공주입층(321e)은 정공의 주입을 원활하게 하는 역할을 할 수 있으며, CuPc(cupper phthalocyanine), PEDOT(poly(3,4)-ethylenedioxythiophene), PANI(polyaniline) 및 NPD(N,N-dinaphthyl-N,N'-diphenyl benzidine)로 이루어진 군에서 선택된 어느 하나 이상으로 이루어질 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The hole injection layer 321e may serve to smooth the injection of holes and may be formed of a material such as cupper phthalocyanine, PEDOT (poly (3,4) -ethylenedioxythiophene), PANI (polyaniline) and NPD (N, -N, N'-diphenyl benzidine), but the present invention is not limited thereto.

여기서, 본 발명의 실시예는 도 10에 한정되는 것은 아니며, 전자주입층(321a), 전자수송층(321b), 정공수송층(321d), 정공주입층(321e) 중 적어도 어느 하나가 생략될 수도 있다.Here, the embodiment of the present invention is not limited to FIG. 10, and at least one of the electron injection layer 321a, the electron transport layer 321b, the hole transport layer 321d, and the hole injection layer 321e may be omitted .

이상 본 발명의 실시예는 유기 발광다이오드가 캐소드, 유기 발광층 및 애노드로 형성된 인버티드(Inverted)형 유기전계발광표시장치를 제작할 때, 열 증착 방법으로 보호막을 형성하여 애노드의 하부에 위치하는 유기박막이 손상되는 문제를 방지할 수 있는 효과가 있다. 또한, 본 발명의 실시예는 제1기판과 제2기판을 밀봉합착할 때, 제1기판 상에 형성된 보호막과 제2기판 상에 형성된 전극 간의 전기적인 접촉으로 소자의 저항을 낮출 수 있는 효과가 있다.As described above, in the case of manufacturing an inverted organic light emitting display device in which an organic light emitting diode is formed of a cathode, an organic light emitting layer and an anode, a protective film is formed by a thermal evaporation method to form an organic thin film There is an effect that the problem of damage can be prevented. In addition, the embodiment of the present invention has an effect of lowering the resistance of a device by electrical contact between a protective film formed on the first substrate and an electrode formed on the second substrate when the first substrate and the second substrate are sealingly bonded to each other have.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 상술한 본 발명의 기술적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자가 본 발명의 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에 서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 한다. 아울러, 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어진다. 또한, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It will be understood that the invention may be practiced. It is to be understood, therefore, that the embodiments described above are to be considered in all respects only as illustrative and not restrictive. In addition, the scope of the present invention is indicated by the following claims rather than the detailed description. Also, all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalents should be construed as being included within the scope of the present invention.

도 1은 본 발명의 제1실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 개략적인 평면도.FIG. 1 is a schematic plan view of an organic light emitting display according to a first embodiment of the present invention. FIG.

도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 단면도.2 is a cross-sectional view of an organic light emitting display device according to a first embodiment of the present invention.

도 3은 다른 실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 단면도.3 is a sectional view of an organic light emitting display device according to another embodiment.

도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 단면도.4 is a sectional view of an organic light emitting display according to a second embodiment of the present invention.

도 5는 버스전극의 배치도.5 is a layout diagram of a bus electrode.

도 6 내지 도 9는 본 발명의 실시예에 따른 유기전계발광표시장치의 제조방법을 설명하기 위한 도면.6 to 9 are views for explaining a method of manufacturing an organic light emitting display according to an embodiment of the present invention.

도 10은 유기 발광다이오드의 계층 구조 예시도.10 is an exemplary view illustrating a hierarchical structure of an organic light emitting diode;

<도면의 주요 부분에 관한 부호의 설명>DESCRIPTION OF THE REFERENCE NUMERALS

110, 210, 310: 제1기판 117, 217, 317: 캐소드110, 210, 310: first substrate 117, 217, 317: cathode

121, 221, 321: 유기 발광층 122, 222, 322: 애노드121, 221, 321: organic light emitting layers 122, 222, 322: anode

130, 230, 330: 제1보호막130, 230, 330: first protective film

Claims (12)

제1기판;A first substrate; 상기 제1기판 상에 위치하는 트랜지스터;A transistor located on the first substrate; 상기 트랜지스터 상에 위치하며 상기 트랜지스터의 소오스 또는 드레인에 연결된 캐소드;A cathode located on the transistor and connected to a source or a drain of the transistor; 상기 캐소드 상에 위치하며 상기 캐소드의 일부를 노출하는 뱅크층;A bank layer located on the cathode and exposing a portion of the cathode; 상기 뱅크층 상에 위치하는 유기 발광층;An organic light emitting layer disposed on the bank layer; 상기 유기 발광층 상에 위치하는 애노드;An anode disposed on the organic light emitting layer; 상기 애노드를 덮도록 형성되며 3산화 텅스텐(WO3) 또는 3산화 몰리브덴(MoO3)으로 이루어진 제1보호막;A first passivation layer formed to cover the anode and made of tungsten trioxide (WO3) or molybdenum trioxide (MoO3); 상기 제1기판과 합착되는 제2기판;A second substrate bonded to the first substrate; 상기 제2기판의 일면에 상기 뱅크층에 대응하여 위치하는 버스전극; 및A bus electrode disposed on one surface of the second substrate corresponding to the bank layer; And 상기 버스전극을 덮는 투명 보조전극을 포함하고,And a transparent auxiliary electrode covering the bus electrode, 상기 투명 보조전극은 상기 제1보호막과 접촉하는 유기전계발광표시장치.Wherein the transparent auxiliary electrode is in contact with the first protective film. 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 제1보호막 상에 위치하며Is located on the first protective film 단층 또는 복층으로 이루어진 제2보호막을 더 포함하는 유기전계발광표시장치.And a second protective film made of a single layer or a multilayer. 삭제delete 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 애노드의 두께는,The thickness of the anode, 상기 캐소드의 두께보다 얇게 형성된 유기전계발광표시장치.Wherein the thickness of the cathode is less than the thickness of the cathode. 삭제delete 삭제delete 제1기판 상에 매트릭스 형태로 서브 픽셀들을 형성하는 단계;Forming subpixels in a matrix form on a first substrate; 상기 서브 픽셀들을 덮도록 3산화 텅스텐(WO3) 또는 3산화 몰리브덴(MoO3)으로 이루어진 제1보호막을 열 증착 방법으로 형성하는 단계;Forming a first protective layer made of tungsten trioxide (WO3) or molybdenum trioxide (MoO3) to cover the subpixels by a thermal evaporation method; 제2기판을 구비하고 상기 제2기판의 일면에 상기 서브 픽셀들의 영역을 정의하는 뱅크층과 대응하여 버스전극을 형성하는 단계;Forming a bus electrode corresponding to a bank layer having a second substrate and defining a region of the subpixels on one surface of the second substrate; 상기 제2기판의 일면에 상기 버스전극을 덮는 투명 보조전극을 형성하는 단계; 및Forming a transparent auxiliary electrode covering the bus electrode on one surface of the second substrate; And 상기 제1기판과 상기 제2기판을 합착 밀봉하는 단계를 포함하고,And sealing the first substrate and the second substrate together, 상기 투명 보조전극은 상기 제1보호막과 접촉하는 유기전계발광표시장치의 제조방법.And the transparent auxiliary electrode is in contact with the first passivation layer. 제7항에 있어서,8. The method of claim 7, 상기 제1보호막 상에 위치하며Is located on the first protective film 단층 또는 복층으로 이루어진 제2보호막을 형성하는 단계를 더 포함하는 유기전계발광표시장치의 제조방법.And forming a second protective layer made of a single layer or a multi-layer. 삭제delete 제8항에 있어서,9. The method of claim 8, 상기 투명 보조전극은 상기 제2보호막과 접촉하는 유전계발광표시장치의 제조방법.And the transparent auxiliary electrode is in contact with the second protective film. 제2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 제2보호막은The second protective film 3산화 텅스텐(WO3), 3산화 몰리브덴(MoO3), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 리튬플로라이드(LiF) 중 하나 이상으로 선택되는 유기전계발광표시장치.Wherein the organic electroluminescence display device is selected from at least one of tungsten trioxide (WO3), molybdenum trioxide (MoO3), silicon nitride (SiNx), and lithium fluoride (LiF). 제8항에 있어서,9. The method of claim 8, 상기 제2보호막은The second protective film 3산화 텅스텐(WO3), 3산화 몰리브덴(MoO3), 실리콘 질화물(SiNx) 또는 리튬플로라이드(LiF) 중 하나 이상으로 선택되는 유기전계발광표시장치의 제조방법.Wherein at least one of tungsten trioxide (WO3), molybdenum trioxide (MoO3), silicon nitride (SiNx), and lithium fluoride (LiF) is selected.
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