KR101646451B1 - 다광축 광전 센서 시스템, 다광축 광전 센서 시스템의 제어 방법, 프로그램 및 기록 매체 - Google Patents

Abstract

[과제]
뮤팅 에러의 발생을 억제함과 함께, 생산 설비의 운전시작 시간을 단축함에 의해, 생산성의 향상을 실현한다.
[해결 수단]
다광축 광전 센서 시스템은, 투광기와, 수광기와, 투광기와 수광기와의 사이에 형성되는 광축이 차광 상태에 있는지의 여부의 차광 판정을 행하는 차광 판정부와, 외부의 뮤팅용 기기로부터 입력되는 검지 신호가 미리 정하여진 시퀀스에 따라 변화하고 있는 것을 조건으로, 차광 판정을 일시적으로 무효로 하기 위한 뮤팅 처리부를 구비한다. 뮤팅 처리부는, 뮤팅 중, 뮤팅용 기기의 검지 신호의 시퀀스의 순서를 복수의 스테이지로 나누어서 판별한다. 뮤팅 처리부는, 스테이지마다 취득되는 계측 정보를 축적 및 분석함과 함께, 분석 결과에 의거하여 뮤팅 동작 조건에 최적의 설정치를 결정한다.

Description

다광축 광전 센서 시스템, 다광축 광전 센서 시스템의 제어 방법, 프로그램 및 기록 매체{MULTI-OPTICAL AXIS PHOTOELECTRIC SENSOR SYSTEM, CONTROLLING METHOD FOR MULTI-OPTICAL AXIS PHOTOELECTRIC SENSOR SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM}

본 발명은, 다광축 광전 센서 시스템, 다광축 광전 센서 시스템의 제어 방법, 프로그램 및, 그 프로그램을 기록한 기록 매체에 관한 것이다. 본 발명은, 특히, 다광축 광전 센서의 뮤팅 기능을 구비한 다광축 광전 센서 시스템에 관한 것이다.

일반적인 다광축 광전 센서는, 복수의 투광 소자가 일렬로 배치된 투광부와, 투광 소자와 동수의 수광 소자가 일렬로 배치된 수광부를 구비한다. 투광 소자와 수광 소자가 1대1의 관계로 마주 대하도록 배치되고, 복수의 광축에 의한 검출 에어리어가 설정된다.

투광부는, 각 투광 소자를 순차적으로 발광시킨다. 수광부는, 투광 소자의 발광 동작에 동기한 타이밍에서, 각 투광 소자에 대응하는 수광 소자로부터, 그 수광 소자의 수광량을 취출한다. 이에 의해, 다광축 광전 센서의 광축마다의 차광 상태가 차례로 검지된다. 수광부는, 광축마다의 검지 결과를 이용하여, 검출 에어리어에 물체가 있는지의 여부를 판별하여, 그 판별 결과를 나타내는 신호를 출력한다. 투광부와 수광부를 동기시키기 위해, 투광부와 수광부가 통신선을 통하여 접속된다. 또는 투광부와 수광부 사이의 광통신에 의해, 투광부와 수광부를 동기시킨다.

다광축 광전 센서는, 예를 들면 생산 현장에서 작업자의 안전을 위한 장치로서 설치된다. 예를 들면 다광축 광전 센서의 검출 에어리어의 어느 하나의 광축에서 차광 상태가 검출되면, 생산 설비의 동작이 정지된다. 제조 장치에 따라서는, 가공 전 또는 가공 후의 워크가 반송되는 통로에, 다광축 광전 센서의 검출 에어리어를 마련하여야 하는 경우가 있다. 그러나, 그 워크가 광축을 차단함에 의해 생산 설비가 정지한 경우, 생산성이 저하된다.

생산 현장에서의 안전성과 생산성을 양립시키는 기능으로서, 다광축 광전 센서의 안전 기능을 일시적으로 무효화하는 뮤팅 기능이 있다. 뮤팅 기능은, 기본적으로는, 센서 또는 스위치로부터 출력되는, 독립한 2개의 뮤팅 신호에 의거하여, 전 검출 에어리어를 무효화한다. 올바른 시퀀스에 따라, 뮤팅 신호가 센서 또는 스위치로부터 출력되는, 또는 유지되고 있는 동안만, 전 검출 에어리어가 무효화된다(예를 들면 특허 제5229310호 공보(특허 문헌 1) 참조).

이와 같이, 뮤팅 신호는 다광축 광전 센서의 안전 기능을 무효화하기 위한 트리거로서 이용되기 때문에, 그 시퀀스(구체적으로는, 2개의 뮤팅 신호가 출력되는 순서 및 출력 시간 등)가 엄밀하게 체크되어 있다. 그리고, 시퀀스가 미리 규정되어 있는 조건으로부터 일탈한 때에는, 위험 상태라고 판정하여 생산 설비에의 전원 공급을 차단하도록 구성되는 것이 일반적이다.

특허 문헌 1 : 일본국 특허 제5229310호 공보

상술한 뮤팅 기능에서, 뮤팅 신호를 출력하는 센서 또는 스위치로는, 예를 들면 근접 스위치나 리밋 스위치 등이 이용된다. 센서 또는 스위치는, 워크가 반송되는 통로상에 설치되어 있고, 워크를 검출하여 뮤팅 신호를 출력한다. 상술한 뮤팅 기능에서의 시퀀스는, 센서 또는 스위치가 설치되는 위치, 워크의 형상, 워크를 반송하는 속도 등에 의거하여 정하여진다. 이 때문에, 센서 또는 스위치가 설치된 위치에 어긋남이 생기고 있는 경우에는, 뮤팅 신호가 미리 정하여진 시퀀스에 따라 출력되지 않게 된다. 이 결과, 생산 설비가 정지되어 버리기 때문에, 생산성을 저해하는 요인이 된다. 이와 같이, 뮤팅의 대상의 워크가 통과하고 있음에도 뮤팅 기능이 정상적으로 작동하지 않아 생산 설비가 정지하는 현상은 「뮤팅 에러」라고 칭하여진다. 뮤팅 에러는, 상술한 센서의 설치 상태 외에, 워크의 형상이나 워크의 반송시에 통로에 생기는 진동의 영향 등에 의해서도 일어날 수 있다.

뮤팅 에러를 억제하기 위한 대책으로서, 종래의 다광축 광전 센서에서는, 다광축 광전 센서 및 뮤팅용 센서를 설치한 후, 워크의 반송을 시험적으로 행하는 테스트런을 반복함에 의해, 뮤팅 기능을 정상적으로 작동시키기 위한 시퀀스 및 뮤팅용 센서의 설치 상태의 조임이 행하여지고 있다. 이 때문에, 생산 설비의 운전시작(立上げ)할 때에 막대한 작업 공수가 필요하게 되어 있다. 또한, 생산 설비에서 워크의 교체(절차 바꿈)가 이루어질 때마다, 교체 후의 워크의 형상 및 반송 속도 등에 대응시키기 위한 조임이 필요해지기 때문에, 작업 공수가 방대하게 된다는 문제가 있다.

이 과제에 대해, 특허 문헌 1에서는, 뮤팅 에러로부터 복구하기 위해, 시퀀스를 복수의 스테이지로 분할하여 감시하고, 어느 스테이지에서 뮤팅 에러가 발생하였는지를 통지하는 기능을 갖는 다광축 광전 센서를 개시하고 있다. 그러나, 이 수법은, 뮤팅 에러가 발생한 후의 복구 시간의 단축에 공헌하지만, 뮤팅 에러의 발생의 억제, 및 생산 설비의 운전시작 시간의 단축에는 충분히 효과를 발휘할 수가 없다.

본 발명은, 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 이루어진 것으로, 그 목적은, 다광축 광전 센서 시스템에 있어서, 뮤팅 에러의 발생을 억제함과 함께, 생산 설비의 운전시작 시간을 단축함에 의해, 생산성의 향상을 실현하는 것이다.

본 발명의 어느 국면에 따르면, 반송장치에 의해 반송되는 검출 대상물을 검출하는 다광축 광전 센서 시스템이 제공된다. 다광축 광전 센서 시스템은, 직선형상으로 정렬 배치된 복수의 투광부를 갖는 투광기와, 복수의 투광부에 각각 대향 배치된 복수의 수광부를 갖는 수광기와, 복수의 투광부와 복수의 수광부와의 사이에 각각 형성되는 복수의 광축의 각각이 차광 상태에 있는지의 여부의 차광 판정을 행하는 차광 판정부와, 외부의 뮤팅용 기기로부터 입력되는 검지 신호가 미리 정하여진 시퀀스에 따라 변화하고 있는 것을 조건으로, 차광 판정을 일시적으로 무효로 하기 위한 뮤팅 처리부를 구비한다. 뮤팅 처리부는, 뮤팅용 기기로부터의 출력에 의거하여, 뮤팅을 시작시키는 뮤팅 시작 판별부와, 뮤팅의 실행 중에, 뮤팅용 기기로부터의 검지 신호의 시퀀스의 순서를 복수의 스테이지로 나누어서 판별하는 뮤팅 판정부를 포함한다. 뮤팅 판정부는, 스테이지마다 취득되는 계측 정보를 축적함과 함께, 축적된 계측 정보를 분석한다. 뮤팅 처리부는, 뮤팅 판정부에 의한 분석 결과에 의거하여, 뮤팅 동작 조건에 최적의 설정치를 결정한다.

바람직하게는, 뮤팅 판정부는, 계측 정보와 함께 분석 결과를 축적 가능하게 구성되고, 축적되는 계측 정보 및 분석 결과를 미리 정하여진 타이밍에서 갱신한다.

바람직하게는, 뮤팅 판정부는, 계측 정보 및 분석 결과와 함께 최적의 설정치를 축적 가능하게 구성되고, 분석 결과 및 최적의 설정치를, 검출 대상물 단위로 백업한다.

바람직하게는, 다광축 광전 센서 시스템은, 유저로부터의 설정 입력을 접수하기 위한 입력부를 또한 구비한다. 입력부는, 뮤팅 판정부에 축적되는 계측 정보에 관한 설정을 접수한다.

바람직하게는, 입력부는, 뮤팅 판정부에서의 분석 수법 또는 분석 조건에 관한 설정을 접수한다.

바람직하게는, 입력부는, 뮤팅 처리부가 최적의 설정치를 결정하기 위해 이용하는 조건에 관한 설정을 접수한다.

바람직하게는, 투광기는, 광축에 수직한 방향으로 복수 연결되고, 수광기는, 복수의 투광기와 각각 대향하도록, 광축에 수직한 방향으로 복수 연결된다. 입력부는, 뮤팅 판정부의 대상이 되는 적어도 하나의 투광기 및 수광기의 선택을 접수한다.

바람직하게는, 다광축 광전 센서 시스템은, 분석 결과 또는 최적의 설정치를 유저에게 제시하기 위한 제시부를 또한 구비한다.

바람직하게는, 뮤팅 처리부는, 최적의 설정치를 시퀀스에 자동적으로 반영시킨다.

바람직하게는, 뮤팅 처리부는, 검출 대상물의 형상에 응하여 복수의 시퀀스를 전환하여 사용 가능하게 구성된다. 뮤팅 판정부는, 계측 정보의 축적 및 분석을, 검출 대상물마다 실행한다.

바람직하게는, 다광축 광전 센서 시스템은, 유저로부터의 설정을 입력을 접수하기 위한 입력부와, 분석 결과 또는 최적의 설정치를 유저에게 제시하기 위한 제시부를 또한 구비한다. 입력부는, 제시부에 제시시키는 검출 대상물의 종류별에 관한 설정을 접수한다.

바람직하게는, 다광축 광전 센서 시스템은, 뮤팅 판정부에 축적되는 계측 정보에서의 이상을 검출하여 유저에게 통보하기 위한 통보부를 또한 구비한다.

본 발명의 다른 국면에 따르면, 반송장치에 의해 반송되는 검출 대상물을 검출하는 다광축 광전 센서 시스템의 제어 방법이 제공된다. 다광축 광전 센서 시스템은, 직선형상으로 정렬 배치된 복수의 투광부를 갖는 투광기와, 복수의 투광부에 각각 대향 배치된 복수의 수광부를 갖는 수광기를 포함한다. 다광축 광전 센서 시스템의 제어 방법은, 복수의 투광부와 복수의 수광부와의 사이에 각각 형성되는 복수의 광축의 각각이 차광 상태에 있는지의 여부의 차광 판정을 행하는 스탭과, 외부의 뮤팅용 기기로부터 입력되는 검지 신호가 미리 정하여진 시퀀스에 따라 변화하고 있는 것을 조건으로, 차광 판정을 일시적으로 무효로 하기 위한 뮤팅을 실행하는 스탭을 구비한다. 뮤팅을 실행하는 스탭은, 뮤팅용 기기로부터의 출력에 의거하여, 뮤팅을 시작시키는 스탭과, 뮤팅의 실행 중에, 뮤팅용 기기로부터의 검지 신호의 시퀀스의 순서를 복수의 스테이지로 나누어서 판별하는 스탭과, 스테이지마다 취득되는 계측 정보를 축적함과 함께, 축적된 계측 정보를 분석하는 스탭과, 계측 정보의 분석 결과에 의거하여, 뮤팅 동작 조건에 최적의 설정치를 결정하는 스탭을 포함한다.

본 발명의 또 다른 국면에 따르면, 반송장치에 의해 반송되는 검출 대상물을 검출하는 다광축 광전 센서 시스템을 제어하는 프로그램이 제공된다. 다광축 광전 센서 시스템은, 직선형상으로 정렬 배치된 복수의 투광부를 갖는 투광기와, 복수의 투광부에 각각 대향 배치된 복수의 수광부를 갖는 수광기를 포함한다. 프로그램은, 복수의 투광부와 복수의 수광부와의 사이에 각각 형성되는 복수의 광축의 각각이 차광 상태에 있는지의 여부의 차광 판정을 행하는 스탭과, 외부의 뮤팅용 기기로부터 입력되는 검지 신호가 미리 정하여진 시퀀스에 따라 변화하고 있는 것을 조건으로, 차광 판정을 일시적으로 무효로 하기 위한 뮤팅을 실행하는 스탭을 프로세서에 실행시킨다. 뮤팅을 실행하는 스탭에서는, 뮤팅용 기기로부터의 출력에 의거하여, 뮤팅을 시작시키는 스탭과, 뮤팅의 실행 중에, 뮤팅용 기기로부터의 검지 신호의 시퀀스의 순서를 복수의 스테이지로 나누어서 판별하는 스탭과, 스테이지마다 취득되는 계측 정보를 축적함과 함께, 축적된 계측 정보를 분석하는 스탭과, 계측 정보의 분석 결과에 의거하여, 뮤팅 동작 조건에 최적의 설정치를 결정하는 스탭을 프로세서에 실행시킨다.

본 발명의 또 다른 국면에 따르면, 반송장치에 의해 반송되는 검출 대상물을 검출하는 다광축 광전 센서 시스템을 제어하는 프로그램을 기록한, 프로세서 판독 가능한 기록 매체가 제공된다. 다광축 광전 센서 시스템은, 직선형상으로 정렬 배치된 복수의 투광부를 갖는 투광기와, 복수의 투광부에 각각 대향 배치된 복수의 수광부를 갖는 수광기를 포함한다. 프로그램은, 복수의 투광부와 복수의 수광부와의 사이에 각각 형성되는 복수의 광축의 각각이 차광 상태에 있는지의 여부의 차광 판정을 행하는 스탭과, 외부의 뮤팅용 기기로부터 입력되는 검지 신호가 미리 정하여진 시퀀스에 따라 변화하고 있는 것을 조건으로, 차광 판정을 일시적으로 무효로 하기 위한 뮤팅을 실행하는 스탭을 프로세서에 실행시킨다. 뮤팅을 실행하는 스탭에서는, 뮤팅용 기기로부터의 출력에 의거하여, 뮤팅을 시작시키는 스탭과, 뮤팅의 실행 중에, 뮤팅용 기기로부터의 검지 신호의 시퀀스의 순서를 복수의 스테이지로 나누어서 판별하는 스탭과, 스테이지마다 취득되는 계측 정보를 축적함과 함께, 축적된 계측 정보를 분석하는 스탭과, 계측 정보의 분석 결과에 의거하여, 뮤팅 동작 조건에 최적의 설정치를 결정하는 스탭을 프로세서에 실행시킨다.

본 발명에 의하면, 뮤팅 기능에 관한 통계적인 정보가 유저에게 제시되기 때문에, 유저는 확도(確度)가 높은 정보에 의거하여 뮤팅 시퀀스를 설정할 수 있다. 이에 의해, 뮤팅 에러의 발생에 의한 생산 설비의 정지를 억제할 수 있다. 또한, 생산 설비의 작동시의 시행착오도 불필요해지기 때문에 운전시작의 작업 공수를 삭감할 수 있다. 이 결과, 생산성을 향상시킬 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시의 형태에 관한 다광축 광전 센서 시스템의 구성례를 모식적으로 도시한 도면.
도 2는 도 1에 도시된 구성에서, 워크의 높이가 변화하는 예를 도시하는 도면.
도 3은 본 발명의 실시의 형태에 관한 다광축 광전 센서 시스템의 구성례를 도시하는 외관도.
도 4는 도 3에 도시하는 다광축 광전 센서의 구성을 도시하는 블록도.
도 5는 뮤팅 센서와 뮤팅용 입력 회로의 접속을 설명하기 위한 회로도.
도 6은 도 4의 퍼스널 컴퓨터의 구성을 도시하는 도면.
도 7은 본 발명의 실시의 형태에 관한 다광축 광전 센서 시스템에 의해 실행되는 기동 처리의 기본적인 흐름을 설명하기 위한 플로 차트.
도 8은 본 발명의 실시의 형태에 관한 다광축 광전 센서 시스템에 의해 실행되는 뮤팅 처리의 기본적인 흐름을 설명하기 위한 플로 차트.
도 9는 도 8에 기재된 뮤팅 시퀀스 실행 처리(S14)를 설명하는 상태 천이도.
도 10은 도 9에 기재된 뮤팅 시퀀스 실행 처리의 한 예를 설명하는 신호 파형도.
도 11은 도 10에 기재된 뮤팅 시퀀스 실행 처리에서 축적되는 데이터의 한 예를 설명하는 도면.
도 12는 도 11에 기재된 데이터를 설명하기 위한 도면.
도 13은 본 발명의 실시의 형태에 관한 데이터 분석 처리의 한 예를 설명하는 도면.
도 14는 본 발명의 실시의 형태에 관한 데이터 분석 처리의 다른 예를 설명하는 도면.
도 15는 화면 표시의 한 예를 도시하는 도면.

이하에서, 본 발명의 실시의 형태에 관해 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 또한, 도면 중 동일 부호는 동일 또는 상당 부분을 나타낸다. 또한, 본 명세서에서는, 특히 필요가 없는 한, 광빔의 진행 방향을 나타내는 점선, 및, 그 광빔을 「광축」으로 표현한다.

도 1은, 본 발명의 실시의 형태에 관한 다광축 광전 센서 시스템의 구성례를 모식적으로 도시한 도면이다. 도 1을 참조하면, 본 발명의 실시의 형태에 관한 다광축 광전 센서 시스템에서, 센서 장치는, 다광축 광전 센서(SNS)로서 실현된다. 워크(W)(검출 대상물)는, 도시하지 않은 반송장치에 의해 통로(RD)를 반송된다. 다광축 광전 센서(SNS)는, 워크(W)가 반송되는 통로(RD)를 끼우고 대향 배비된 투광기(1)와, 수광기(2)를 갖는다. 한 예로는, 통로(RD)는 벨트컨베이어에 의해 실현된다.

도 1에는, 워크(W)가 반송되는 방향을 화살표(D)에 의해 나타낸다. 또한, 도 1에 도시된 예에서는, 워크(W)는, 팔레트(P)에 실린 상태로 반송된다.

투광기(1)는, 복수의 발광 소자(11)(투광부)를 갖는다. 수광기(2)는, 발광 소자(11)와 대향 배치된 수광부인, 수광 소자(21)를 복수 갖는다. 수광기(2)는, 발광 소자(11)와 동수의 수광 소자(21)(도 4에 도시한다)를 갖는다. 복수의 발광 소자(11)와 복수의 수광 소자(21)가 1대1의 관계로 위치맞춤된다. 따라서 복수의 광축으로 구성되는 2차원의 검출 에어리어(LC)가 설정된다.

도 1에 도시하는 예에서는, 워크(W)가 반송되는 방향에서 검출 에어리어(LC)보다도 상류측이 「안전측 에어리어」로 설정되고, 검출 에어리어(LC)보다도 하류측이 「위험측 에어리어」로 설정된다. 단, 「안전측 에어리어」 및 「위험측 에어리어」의 설정은 이와 같이 한정되는 것이 아니다. 예를 들면 워크(W)가 반송되는 방향에서 검출 에어리어(LC)보다도 상류측이 「위험측 에어리어」로 설정되고, 검출 에어리어(LC)보다도 하류측이 「안전측 에어리어」로 설정되는 경우도 있다.

안전측 에어리어에는, 뮤팅 센서(A1, B1)가 마련된다. 위험측 에어리어에는, 뮤팅 센서(B2, A2)가 마련된다. 도 1에 도시하는 예에서는, 뮤팅 센서(A1)는, 뮤팅 센서(B1)보다도, 워크(W)가 반송되는 방향에서 상류측에 배치된다. 한편, 뮤팅 센서(A2)는, 뮤팅 센서(B2)보다도, 워크(W)가 반송되는 방향에서 하류측에 배치된다. 이에 의해, 화살표(D)가 나타내는 방향과는 반대의 방향으로 물체 등이 침입하는 경우에도, 다광축 광전 센서(SNS)가 그 물체의 침입을 올바르게 검출할 수 있다.

뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2)는, 한 예로는, 투과형의 광전 센서이다. 이 경우, 뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2)의 각각은, 통로(RD)를 끼우고 대향하는 투광 장치 및 수광 장치에 의해 구성된다. 따라서 도 1에 도시되지는 않은 것이지만, 뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2)의 각각은, 통로(RD)를 끼우는 반대측에 투광 장치 또는 수광 장치를 구비한다.

뮤팅 센서의 종류는, 투과형의 광전 센서로 한정되지 않는다. 워크(W)의 재질에 응하여, 반사형의 광전 센서, 또는 근접 센서 등을 이용할 수 있다. 또는, 물체를 검출한 기능을 갖는 센서 이외의 기기를 사용하여도 좋다.

다광축 광전 센서(SNS)로부터의 검출 신호는, 위험측 에어리어 내에 설치된 기계(예를 들면 생산 설비)의 전원 공급 회로(도시 생략)에 출력된다. 검출 에어리어(LC)가 전혀 차광되지 않은 경우, 다광축 광전 센서(SNS)로부터 「비검출」의 상태를 나타내는 신호가 출력된다. 한 예로서, 다광축 광전 센서(SNS)로부터 H(논리 하이)레벨의 신호가 출력된다. 검출 에어리어(LC)의 적어도 일부가 차광된 경우, 다광축 광전 센서(SNS)의 출력이 정지한다. 환언하면, 검출 신호가 「비검출」의 상태로부터 「검출」의 상태로 전환된다. 한 예로서, 검출 신호의 레벨이 H레벨로부터 L(논리 로우)레벨로 전환된다.

투광기(1) 및 수광기(2)의 몸체의 상부에는, 뮤팅에 관한 통보를 위한 표시등(10, 20)을 각각 마련할 수 있다. 표시등(10, 20)은, 뮤팅 중에 점등한다. 이상이 생긴 경우, 표시등(10, 20)은, 광의 점멸에 의해, 이상의 발생을 통보한다. 뮤팅에 관한 이상은, 뮤팅 중뿐만 아니라, 뮤팅이 시작되기 전에 생기는 경우도 있다. 「이상」은, 예를 들면, 등록된 워크(W) 이외의 물체(예를 들면 인체)에 의해 생긴 이상 외에, 센서의 설정의 불비, 및 워크(W)의 속도 또는 자세의 변화 등에 의해 발생한 이상(뮤팅 에러)을 포함한다.

본 발명의 실시의 형태에서는, 워크(W)가 검출 에어리어(LC)를 통과하는 동안은, 다광축 광전 센서(SNS)가 뮤팅 상태로 설정된다. 이에 의해, 워크(W) 검출 에어리어(LC)를 통과하는 동안은, 다광축 광전 센서(SNS)의 출력은 정지하지 않는다.

도 1에 도시하는 예에서는, 복수의 광축이 나열하는 방향은, 워크(W)의 높이 방향이다. 근래의 생산 설비의 다양화에 수반하여, 다양한 형상의 워크가 혼재하여 통로(RD)를 반송되는 경우가 있다. 도 2는, 도 1에 도시된 구성에서, 워크의 높이가 변화하는 예를 도시하는 도면이다. 도 2를 참조하면, 팔레트(P1)에는 워크가 실려있지 않다. 한편, 팔레트(P2)에는 워크(W)가 실려 있다. 팔레트(P1)가 검출 에어리어를 통과할 때와, 팔레트(P2)(및 워크(W))가 검출 에어리어(LC)를 통과할 때에서는, 워크의 높이가 변화한다.

도 3은, 본 발명의 실시의 형태에 관한 다광축 광전 센서 시스템의 구성례를 도시하는 외관도이다. 도 3을 참조하면, 다광축 광전 센서(SNS)는, 투광기(1)와, 수광기(2)와, 통신 유닛(4)을 포함한다. 다광축 광전 센서 시스템(100)은, 다광축 광전 센서(SNS)와, 퍼스널 컴퓨터(5)를 구비한다.

다광축 광전 센서(SNS)는, 투광기(1)와, 수광기(2)와, 통신용 케이블(101)을 갖는다. 투광기(1)와, 수광기(2)는 통신용 케이블(101)에 의해 접속된다. 통신용 케이블(101)에는, 분기 커넥터(102) 및 전용 코드(3)를 통하여 통신 유닛(4)이 연결된다. 통신 유닛(4)은, 분기 커넥터(102) 및 퍼스널 컴퓨터(5)에 접속된다.

도 4는, 도 3에 도시하는 다광축 광전 센서(SNS)의 구성을 도시하는 블록도이다. 도 4를 참조하면, 투광기(1)는, 복수의 발광 소자(11)를 구비한다. 투광기(1)는, 또한, 각 발광 소자(11)를 개별적으로 구동하는 구동 회로(12)와, 광축 순차 선택 회로(13)와, 처리 회로(16)와, 통신 회로(17)와, 전원 회로(18)와, 뮤팅용 입력 회로(19)와, 기억 회로(14)를 포함한다.

수광기(2)는, 복수의 발광 소자(11)에 대응하여 각각 마련된 복수의 수광 소자(21)를 구비한다. 수광기(2)는, 또한, 각 수광 소자(21)에 대응하여 마련된 앰프(22) 및 스위치(23)와, 광축 순차 선택 회로(25)와, 처리 회로(26)와, 처리 회로(26)에의 입력용의 앰프(24)와, 통신 회로(27)와, 전원 회로(28)와, 기억 회로(29)와, 모니터 회로(30)와, 출력 회로(31)를 포함한다.

광축 순차 선택 회로(13)는, 각 발광 소자(11)의 구동 회로(12)를 차례로 처리 회로(16)에 접속한다. 광축 순차 선택 회로(25)는, 각 수광 소자(21)에 대응하는 앰프(22) 및 스위치(23)를 차례로 처리 회로(26)에 접속한다.

처리 회로(16, 26)는, CPU 및 메모리 등을 구비하는 마이크로 컴퓨터 등에 의해 구성된다. 처리 회로(16, 26)는, 매시(每時)의 수광량을 소정의 임계치와 비교함에 의해, 각 광축이 입광/차광의 어느 상태인지를 판정한다. 또한, 처리 회로(16, 26)는, 광축의 선택이 일순(一巡)할 때마다, 광축마다의 판정 결과를 통합하여, 검출 에어리어(LC) 전체로서의 차광의 유무를 판정한다. 통신 회로(17, 27)는, RS485에 준거하는 통신 인터페이스이고, 투광기(1)와 수광기(2)와의 사이에서의 신호의 교환을 제어한다.

기억 회로(14, 29)에는, 같은 몸체 내의 처리 회로(16, 26)의 동작에 필요한 프로그램이나 파라미터 등이 보존된다. 또한, 기억 회로(14, 29)에는, 후술하는 데이터 축적 및 분석 처리에서 수집되는 데이터를 축적하기 위한 영역이 마련된다.

출력 회로(31)는, 외부 접속 단자(32)를 통하여 위험 영역 내의 기계에의 전원 공급 회로에 조립된 스위치 기구(도시 생략)에 접속된다. 출력 회로(31)로부터의 출력 신호가 「비검출」의 상태(한 예로서 H레벨)라면, 스위치 기구가 닫혀 위험 영역 내의 기계에 전원이 공급된다. 한편, 출력 회로(31)로부터의 출력 신호가 「검출」의 상태(한 예로서 L레벨)라면, 스위치 기구가 열려서 기계가 정지한다. 모니터 회로(30)는, 표시등(10, 20)의 점등을 제어한다.

전원 회로(18, 28)는, 공통의 외부 전원(15)(직류 전원)으로부터 전원의 제공을 받아, 투광기(1)와 수광기(2)에 각각 전원을 공급한다.

분기 커넥터(102)는, 투광기(1)와 수광기(2) 사이의 통신선 및 전원 라인을 분기한다. 전용 코드(3)에는 분기한 통신선이나 전원 라인이 수납된다. 전용 코드(3)에는 통신 유닛(4)이 접속된다. 통신 유닛(4)은 퍼스널 컴퓨터(도 4에서 PC로 나타낸다)(5)에 접속된다.

통신 유닛(4)은, 제어 회로(36)와, 통신 회로(37)와, 전원 회로(38)와, 통신 변환기(35)와, 기억 회로(39)를 포함한다. 통신 회로(37)는 RS485 규격의 인터페이스이다. 전원 회로(38)는 분기 커넥터(102)를 통하여 외부 전원(15)으로부터의 전원을 받아들이고, 통신 유닛(4) 내의 각 부분에 공급하는 역할을 다한다. 통신 변환기(35)는, RS485 규격의 신호를 시리얼 변환하여, 예를 들면 RS232C 또는 USB(Universal Serial Bus) 등의 규격에 준거한 신호를 출력한다. 기억 회로(39)에는, 제어 회로(36)의 동작에 필요한 프로그램이나 파라미터 등이 보존된다. 또한, 기억 회로(39)에는, 후술하는 데이터 축적 및 분석 처리에서 수집되는 데이터 및 당해 데이터의 분석 결과를 축적하기 위한 영역이 마련된다.

광축 순차 선택 회로(13)와 광축 순차 선택 회로(25)가 동기하여, 복수의 발광 소자(11)가 순차적으로 점등함과 함께, 복수의 수광 소자(21)가 수광 신호를 순차적으로 출력한다. 처리 회로(16, 26)는, 통신 회로(17, 27)에 의해, 발광 소자(11)와 수광 소자(21)의 동작을 제어하기 위한 신호를 동기시킨다.

상기한 바와 같이, 투광기(1)와 수광기(2)는, 통신용 케이블(101)에 의한 통신을 이용하여 서로 동기하고 있다. 그렇지만 투광기(1)와 수광기(2)는, 광통신을 이용하여 서로 동기하여도 좋다.

뮤팅용 입력 회로(19)는, 뮤팅 센서(A1, B1, A2, B2)(도 1)로부터의 검지 신호를 접수한다. 도 5는, 뮤팅 센서와 뮤팅용 입력 회로의 접속을 설명하기 위한 회로도이다. 도 5에 도시하는 바와 같이, 뮤팅용 입력 회로(19)는, 입력 포트(nA, nB)를 포함한다.

OR 회로(19A)는, 뮤팅 센서(A1, A2)로부터의 출력 신호를 받는다. 뮤팅 센서(A1, A2)는, 워크(W)를 검지한 때에 H레벨의 신호를 출력하는 한편으로, 워크(W)를 검지하지 않은 때에 L레벨의 신호를 출력한다. OR 회로(19A)는, 2개의 신호의 논리합을 생성하여, 입력 포트(nA)에 신호를 출력한다.

OR 회로(19B)는, 뮤팅 센서(B1, B2)로부터의 출력 신호를 받는다. 뮤팅 센서(B1, B2)는, 워크(W)를 검지한 때에 H레벨의 신호를 출력하는 한편으로, 워크(W)를 검지하지 않은 때에 L레벨의 신호를 출력한다. OR 회로(19B)는, 2개의 신호의 논리합을 생성하여, 입력 포트(nB)에 신호를 출력한다.

이하, 뮤팅 센서(A1, A2)로부터 OR 회로(19A) 및 입력 포트(nA)를 통하여 뮤팅용 입력 회로(19)에 입력되는 신호를 「MUTE(A)(뮤팅 입력(A))」라고 부른다. 한편, 뮤팅 센서(B1, B2)로부터 OR 회로(19B) 및 입력 포트(nB)를 통하여 뮤팅용 입력 회로(19)에 입력되는 신호를 「MUTE(B)(뮤팅 입력(B))」라고 부른다.

뮤팅용 입력 회로(19)는, MUTE(A) 및 MUTE(B)를 뮤팅 판정부(40)에 전달한다. 뮤팅 판정부(40)는, 뮤팅용 입력 회로(19)로부터 입력되는 신호 MUTE(A) 및 MUTE(B)에 의거하여, 뮤팅 처리를 시작하기 위한 트리거 신호를 생성한다. 뮤팅 판정부(40)는, 생성한 트리거 신호를, 뮤팅 처리부에 준다. 뮤팅 처리부는, 후술하는 바와 같이, 트리거 신호에 의거하여, 다광축 광전 센서(SNS)에 의한 검출 신호(차광 판정)를 무효화하는 뮤팅 처리를 실행한다. 뮤팅 판정부(40)는 또한, 뮤팅용 입력 회로(19)로부터의 신호 MUTE(A) 및 MUTE(B)의 시퀀스의 순서를 복수의 스테이지로 분할하여 감시하고, 스테이지마다 신호 MUTE(A) 및 MUTE(B)가 미리 정하여진 시퀀스에 따라 변화하고 있는지의 여부를 판별한다.

도 4로 되돌아와, 퍼스널 컴퓨터(5)는, 예를 들면 통신 유닛(4)을 통하여 받은 데이터를 표시한다. 퍼스널 컴퓨터(5)는, 다광축 광전 센서(SNS)에 설정하는 각종의 파라미터 등을 표시하여도 좋다. 퍼스널 컴퓨터(5)에 더하여, 또는 퍼스널 컴퓨터(5)에 대신하여, 상기한 각종의 정보를 표시하는 다른 표시장치(예를 들면 전용 콘솔)가 통신 유닛(4)에 접속되어도 좋다.

도 6은, 도 4의 퍼스널 컴퓨터(5)의 구성을 도시하는 도면이다. 도 6을 참조하면, 퍼스널 컴퓨터(5)는, 전체를 제어하기 위한 제어부(51)와, 데이터를 입력하기 위한 입력부(55)와, 데이터를 일시적으로 기억하기 위한 기억부(53)와, 데이터를 출력하기 위한 표시부(57)와, 제어부(51)에서 실행하기 위한 프로그램 등을 불휘발적으로 기억하기 위한 외부 기억 장치(59)를 포함한다.

제어부(51)는, CPU와, 이 CPU에서 실행하기 위한 프로그램을 기억하기 위한 판독 전용 메모리(ROM)나 CPU에서 프로그램을 실행할 때에 필요하게 되는 변수 등을 기억하기 위한 랜덤 액세스 메모리(RAM)를 포함한다.

입력부(55)는, 키보드 또는 마우스 등이고, 문자 또는 숫자의 입력, 또는, 소정의 지시 커맨드의 입력이 가능하게 되어 있다. 또한, 입력부(55)는 통신 유닛(4)으로부터 전송되는 데이터를 받는다.

기억부(53)는, 다광축 광전 센서(SNS)의 설정에 필요한 각종 데이터 등을 일시적으로 격납한다.

표시부(57)는, 액정 표시장치 등의 디스플레이이고, 제어부(51)의 지시에 따라 각종의 정보를 표시한다. 표시부(57)가 표시하는 정보에는, 예를 들면 다광축 광전 센서(SNS)의 동작 결과나, 후술하는 뮤팅 시퀀스 실행 처리의 실행 중에 축적된 데이터, 및 당해 데이터의 분석 결과 등이 포함된다.

외부 기억 장치(59)는, 프로세서 판독 가능한 기록 매체(61)에 기록된 프로그램이나 데이터를 판독하고, 제어부(51)에 송신한다. 프로세서 판독 가능한 기록 매체(61)로서는, 자기 테이프나 카세트 테이프 등의 테이프계, 자기 디스크(플렉시블 디스크, 하드디스크 장치 등)나 광디스크(CD-ROM/DVD 등) 등의 디스크계, IC 카드(메모리 카드를 포함한다) 또는 광카드 등의 카드계, 또는 마스크 ROM, EPROM, 플래시 메모리 등의 반도체 메모리 등, 고정적으로 프로그램을 담지하는 매체이다. 또한, 프로그램은 네트워크(도시 생략)로부터 다운로드 되어도 좋다. 제어부(51)는, 기록 매체(61)에 기록된 프로그램을 외부 기억 장치(59)에서 판독함에 의해, 판독한 프로그램을 실행할 수 있다.

본 발명의 실시의 형태에 관한 다광축 광전 센서 시스템의 제어 방법에 포함되는 각 스탭을 PC(5)(프로세서)에 실행시키는 프로그램은, 예를 들면 기록 매체(61)에 기록된 프로그램에 포함된다. 단, 다광축 광전 센서 시스템의 제어 방법에 포함되는 각 스탭을 PC(5)(프로세서)에 실행시키는 프로그램을 기억하는 장치는 특정되지 않는다. 예를 들면, 투광기(1)의 기억 회로(14), 수광기(2)의 기억 회로(29) 및, 통신 유닛(4)의 기억 회로(39)의 어느 하나에 기록되어 있어도 좋다. 또한, 다광축 광전 센서 시스템의 제어 방법에 포함되는 각 스탭을 실행하는 프로세서는, PC(5)와 같은 컴퓨터로 특정되지 않는다. 예를 들면, 네트워크(도시 생략)에의 접속 기능을 갖는 휴대 단말 장치가 실행하여도 좋다.

본 발명의 실시의 형태에서는, 표시부(57)에 의한 화면 표시에 의해 데이터가 다광축 광전 센서 시스템(100)의 외부에 출력 가능하다. 데이터는 외부 기억 장치(59) 또는 기록 매체(61)에 출력되어도 좋고, 인쇄 장치에 의해 프린트 아웃되어도 좋다.

또한, 본 발명의 실시의 형태에서는, 수광 소자(21)로부터의 수광 신호에 의거하여, 각 광축에서의 차광의 유무를 판정하는 차광 판정부는, 예를 들면 광축 순차 선택 회로(25), 처리 회로(26) 또는 그 양쪽에 의해 실현 가능하다.

또한, 다광축 광전 센서 시스템(100)은, 다광축 광전 센서(SNS)에서의 복수의 광축 중의 전부 또는 일부에 관해, 외부의 뮤팅용 기기로부터 입력되는 검지 신호가 미리 정하여진 시퀀스에 따라 변화하고 있는 것을 조건으로, 차광 판정을 무효화하는 뮤팅 처리부를 구비한다. 뮤팅 처리부는, 외부의 뮤팅용 기기로부터의 출력에 의거하여, 뮤팅을 시작시키는 뮤팅 시작 판별부와, 뮤팅의 실행 중에, 당해 뮤팅용 기기로부터의 검지 신호의 시퀀스의 순서를 복수의 스테이지로 나누어서 판별하는 뮤팅 판정부(40)(도 5)를 포함한다.

다광축 광전 센서 시스템(100)이 구비하는 차광 판정부 및 뮤팅 처리부는, 예를 들면 수광기(2)측의 처리 회로(26), 투광기(1)측의 처리 회로(16)에 의해 실현 가능하다. 예를 들면 뮤팅 처리부는, 퍼스널 컴퓨터(5)에 의해 실현 가능하다. 그러나, 뮤팅 처리부가, 다광축 광전 센서(SNS)의 내부에 배치되어 있어도, 본 발명의 구성 및 작용 효과를 달성할 수 있다. 또한, 하나의 처리 회로(제어 회로)에 차광 판정부 및 뮤팅 처리부가 통합되어 있어도 좋다. 또한, 차광 판정부 및 뮤팅 처리부를 하나의 처리 회로(제어 회로)에 통합하여도 좋다.

도 7은, 본 발명의 실시의 형태에 관한 다광축 광전 센서 시스템(100)에 의해 실행되는 기동 처리의 기본적인 흐름을 설명하기 위한 플로 차트이다. 또한, 도 7 및 다른 도면에 기재된 처리는, 다광축 광전 센서 시스템(100)의 제어에 관계되는 기능 블록에 의해 실행된다. 따라서 특정한 기능 블록만이 이하에 설명하는 처리를 실행하는 것으로 한정되지 않는다. 즉, 플로 차트의 각 스탭의 처리는, 예를 들면 통신 유닛(4)의 제어 회로(36), 처리 회로(16, 26), 및 퍼스널 컴퓨터(5)의 어느 하나에 의해 실행 가능하다.

도 7을 참조하면, 예를 들면 다광축 광전 센서(SNS)에의 전원 투입에 의해 기동 처리가 시작된다. 우선 뮤팅 기능이 유효한지의 여부가 판정된다(스탭 S1). 또한, 각종 기능의 유효 또는 무효의 판정은, 공지의 각종의 방법에 의해 실현 가능하기 때문에 상세한 설명은 반복하지 않는다. 예를 들면 스위치의 설정, 장치 내부에 기억되는 파라미터의 값을 참조함에 의해, 각종 기능의 유효 또는 무효를 판정할 수 있다.

뮤팅 기능이 유효한 경우(스탭 S1에서 YES), 뮤팅 처리를 실행하도록 다광축 광전 센서(SNS)가 설정된다(스탭 S2). 뮤팅 기능이 무효인 경우(스탭 S1에서 NO), 뮤팅 처리를 실행하지 않도록 다광축 광전 센서(SNS)가 설정된다(스탭 S4). 이에 의해 기동 처리는 종료하고, 이후, 비뮤팅 처리가 실행된다(스탭 S5).

스탭 S2에 의해 뮤팅 처리를 실행하도록 다광축 광전 센서(SNS)가 설정된 경우, 뮤팅 초기화 처리가 실행된다(스탭 S3). 예를 들면 뮤팅의 초기화에 수반하는, 각종의 체크가 실행된다. 뮤팅 초기화 처리가 종료되면, 기동 처리는 종료한다. 이후, 통상의 뮤팅 처리가 실행된다.

[뮤팅 처리]

도 8은, 본 발명의 실시의 형태에 관한 다광축 광전 센서 시스템(100)에 의해 실행되는 뮤팅 처리의 기본적인 흐름을 설명하기 위한 플로 차트이다. 도 8을 참조하면, 우선 뮤팅 초기 체크가 실행된다(스탭 S11).

다음에, 뮤팅 기능이 유효한지의 여부가 판정된다(스탭 S12). 뮤팅 기능이 무효인 경우(스탭 S12에서 NO), 뮤팅 처리는 종료한다. 뮤팅 기능이 유효한 경우(스탭 S12에서 YES), 뮤팅 입력 상태가 갱신된다(스탭 S13). 예를 들면 뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2)의 상태가 확인된다.

계속해서, 뮤팅 시퀀스 실행 처리가 실행된다(스탭 S14). 예를 들면 분할한 각각의 뮤팅 시퀀스 처리가 실행된다. 또한, 이 뮤팅 시퀀스 처리의 실행 중에 있어서, 다광축 광전 센서(SNS)의 검출 신호 및 뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2)의 검지 신호에 관한 데이터(계측 정보)를 수집하여 축적함과 함께, 축적한 데이터의 분석이 실행된다. 뮤팅 시퀀스 처리 및 데이터의 축적 및 분석 처리에 관해서는 후에 설명한다.

계속해서, 뮤팅 시퀀스 에러 로그가 세트된다(스탭 S15). 구체적으로는, 뮤팅 시퀀스의 에러가 발생한 경우에, 그 에러에 응하여, 표시등에 의한 표시, 및/또는 에러 내용의 기록 등이 행하여진다.

[뮤팅 시퀀스 실행 처리]

도 9는, 도 8에 기재된 뮤팅 시퀀스 실행 처리(S14)를 설명하는 상태 천이도이다. 도 9를 참조하면, 우선, 최초의 상태는, 뮤팅의 금지 상태에서, MUTE(A)의 온(ON)의 대기 상태이다(상태 SA).

뮤팅 센서(A1, A2)의 어느 하나(예를 들면 뮤팅 센서(A1))에서 워크(W)가 검지되면, MUTE(A)가 온 한다. 이에 의해, 상태 SA로부터 상태 SB로 천이한다. 상태 SB는, MUTE(A)의 온 후에 있어서의, MUTE(B)의 온 대기 상태이다.

다음에, 뮤팅 센서(B1, B2)의 어느 하나(예를 들면 뮤팅 센서(B1))에서 워크(W)가 검지되면, MUTE(B)가 온 함에 의해, 뮤팅 허가 상태가 된다. 이에 의해, 상태 SB로부터 상태 SC로 천이한다. 상태 SC는, MUTE(B)의 온 후에 있어서의, 다광축 광전 센서(SNS)에서의 차광 대기 상태이다.

계속해서, 다광축 광전 센서(SNS)에서 차광이 검출되면, 상태 SC로부터 상태 SD로 천이한다. 상태 SD는, 뮤팅 상태의 금지 대기 상태이다.

뮤팅 센서(B1, B2)의 어느것에서도 워크(W)가 검지되지 않게 되면, MUTE(B)가 오프 함에 의해, 뮤팅 상태가 해제되고 뮤팅 금지 상태가 된다. 이에 의해, 상태 SD로부터 상태 SE로 천이한다. 상태 SE는, 뮤팅 상태 해제 후의 초기 상태 대기 상태이다. 그 후, 초기 조건 성립 대기 상태(상태 SF)로 천이한다.

상기한 상태 SA 내지 SE의 어느 하나에서 시퀀스 에러가 발생한 경우에는, 현재의 상태가 상태 SG로 천이된다. 상태 SG는, 시퀀스 에러의 발생 후, 초기 상태 대기 상태이다. 그 후, 초기 조건 성립 대기 상태로 천이한다.

[데이터의 축적 및 분석 처리]

본 발명의 실시의 형태에 관한 다광축 광전 센서 시스템(100)에서, 뮤팅 판정부(40)(도 5)는, 도 9에 기재된 뮤팅 시퀀스 실행 처리의 실행 중에 있어서, 다광축 광전 센서(SNS)의 검출 신호 및 뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2)로부터의 검지 신호에 의거한 데이터(계측 정보)를 수집하여 축적한다.

본 발명의 실시의 형태에서는, 수집한 데이터를 축적하기 위한 기억 장치는 특정되지 않는다. 예를 들면, 투광기(1)의 기억 회로(14), 수광기(2)의 기억 회로(29) 및, 통신 유닛(4)의 기억 회로(39)의 어느 하나에 데이터가 축적되어도 좋다. 또는, PC(5)의 외부 기억 장치(59) 또는 기록 매체(61)에 데이터가 축적되어도 좋다.

뮤팅 판정부(40)는 또한, 기억 장치에 축적한 데이터를 분석하고, 그 분석 결과를 유저에게 제시한다. 또한, 이 분석 결과를 데이터와 함께 기억 장치에 축적하는 것도 가능하다.

본 발명의 실시의 형태에서, 뮤팅 판정부(40)는, 예를 들면 수광기(2)측의 처리 회로(26)에 의해 실현 가능하다. 그러나, 뮤팅 판정부(40)는, 예를 들면 투광기(1)측의 처리 회로(16), 통신 유닛(4)의 제어 회로(36), 또는 퍼스널 컴퓨터(5)에 의해 실현되어도 좋다. 이와 같이, 뮤팅 판정부(40)가 다광축 광전 센서(SNS) 내부에 배치되어 있지 않아도, 본 발명의 구성 및 효과를 달성할 수 있다.

본 발명의 실시의 형태에서, 분석 결과를 제시하는 제시부는, 예를 들면 퍼스널 컴퓨터(5)의 표시부(57)에 의한 화면 표시에 의해 실현 가능하다. 또한, 제시부는, 분석 결과를 다광축 광전 센서 시스템(100)의 외부에 출력 가능하게 구성되어 있는 것이면, 그 수단은 한정되지 않는다. 예를 들면, 분석 결과는, 인쇄 장치에 의해 프린트 아웃되어도 좋고, 외부 기억 장치(59) 또는 기록 매체(61)에 출력되어도 좋다. 또는, 분석 결과를 휴대 기기, 생산 설비의 제어 장치인 컨트롤러, 또는 생산 설비를 관리하는 네트워크에 출력하는 것도 가능하다.

이하, 도 10 및 도 11을 참조하여, 뮤팅 시퀀스 실행 처리의 실행 중에 축적되는 데이터를 설명한다.

도 10은, 도 9에 기재된 뮤팅 시퀀스 실행 처리의 한 예를 설명하는 신호 파형도이다. 도 10을 참조하면, 시각 t1 이전은, 워크(W)가 뮤팅 센서(A1)의 위치에 달하지 않는다. 따라서 뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2)의 어느것에서도 워크(W)가 검지되지 않는다. 뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2)는 모두, L레벨의 신호를 출력한다. 따라서, MUTE(A) 및 MUTE(B)의 신호 레벨은, 모두 L레벨이다. 환언하면, MUTE(A) 및 MUTE(B)는 모두 오프 상태이다(도 9에 도시하는 상태 SA).

시각 t1에서, 뮤팅 센서(A1)가 워크(W)를 검지한다. 이에 의해, 뮤팅 센서(A1)로부터 출력되는 신호는 L레벨로부터 H레벨로 변화한다. 따라서 MUTE(A)의 신호 레벨은 L레벨로부터 H레벨로 변화한다. 환언하면, 시각 t1에서 MUTE(A)가 온 한다(도 9에 도시하는 상태 SB).

시각 t2에서, 뮤팅 센서(B1)가 워크(W)를 검지한다. 이에 의해, 뮤팅 센서(B1)로부터 출력되는 신호는 L레벨로부터 H레벨로 변화한다. 따라서 MUTE(B)의 신호 레벨은 L레벨로부터 H레벨로 변화한다. 환언하면, 시각 t2에서 MUTE(B)가 온 한다(도 9에 도시하는 상태 SC).

시각 t2에서 MUTE(A) 및 MUTE(B)가 모두 온 상태가 됨에 의해, 다광축 광전 센서 시스템(100)은 뮤팅 허가 상태가 된다. 따라서, 시각 t2부터, 뮤팅이 시작된다(도 9에 도시하는 상태 SC).

시각 t3에서, 워크(W)가 검출 에어리어(LC)의 광축을 차단한다. 다광축 광전 센서(SNS)의 검출부는, 검출 에어리어(LC)의 적어도 하나의 광축이 차광된 것을 검출한다. 이에 의해, 다광축 광전 센서(SNS)의 검출부로부터 출력되는 신호는 「비검출」의 상태로부터 「검출」의 상태로 변화한다. 시각 t3부터, 뮤팅 허가 상태의 해제 대기(뮤팅 상태의 금지 대기)의 상태가 된다(도 9에 도시하는 상태 SD).

시각 t4에서, 뮤팅 센서(B2)가 워크(W)를 검지한다. 이에 의해, 뮤팅 센서(B2)로부터 출력되는 신호는 L레벨로부터 H레벨로 변화한다. 따라서, MUTE(B)의 신호 레벨은 H레벨로 유지된다.

계속해서 시각 t5에서, 뮤팅 센서(A2)가 워크(W)를 검지한다. 이에 의해, 뮤팅 센서(A2)로부터 출력되는 신호는 L레벨로부터 H레벨로 변화한다. 따라서, MUTE(A)의 신호 레벨은 H레벨로 유지된다.

워크(W)가 뮤팅 센서(A1)의 위치를 통과하면, 뮤팅 센서(A1)에 의한 워크(W)의 검지가 종료되고, 뮤팅 센서(A1)로부터 출력되는 신호는 H레벨로부터 L레벨로 변화한다. 뮤팅 센서(B1)에 대해서도 마찬가지이다.

시각 t6에서, 워크(W)의 검출 에어리어(LC)의 통과가 완료된다. 다광축 광전 센서(SNS)로부터 출력되는 신호는 「검출」의 상태로부터 「비검출」의 상태로 변화한다.

시각 t7에서, 워크(W)가 뮤팅 센서(B2)의 위치를 통과하면, 뮤팅 센서(B2)에 의한 워크(W)의 검지가 종료되고, 뮤팅 센서(B2)로부터 출력되는 신호는 H레벨로부터 L레벨로 변화한다. 이에 의해, MUTE(B)의 신호 레벨은 H레벨로부터 L레벨로 변화한다. 환언하면, 시각 t7에서 MUTE(B)가 오프 한다. 시각 t7 이후, 뮤팅 허가 상태가 해제되고, 뮤팅 금지 상태가 된다(도 9에 도시하는 상태 SE).

시각 t8에서, 워크(W)가 뮤팅 센서(A2)의 위치를 통과하면, 뮤팅 센서(A2)에 의한 워크(W)의 검지가 종료되고, 뮤팅 센서(A2)로부터 출력되는 신호는 H레벨로부터 L레벨로 변화한다. 이에 의해, MUTE(A)의 신호 레벨은 H레벨로부터 L레벨로 변화한다. 환언하면, 시각 t8에서 MUTE(A)가 오프 한다.

도 11은, 도 10에 기재된 뮤팅 시퀀스 실행 처리에서 축적되는 데이터의 한 예를 설명하는 도면이다. 도 11을 참조하면, 뮤팅 시퀀스 실행 처리에서는, 뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2)의 검지 신호, 및 다광축 광전 센서(SNS)의 검출 신호에 의거하여, 뮤팅 시퀀스에 관한 다양한 데이터가 수집되어 축적된다.

예를 들면 도 11에서, 데이터 No. 1로서, MUTE(A)가 온 한 시각(즉, 뮤팅 센서(A1)가 워크(W)를 검지한 시각)부터 MUTE가 온 한 시각(즉, 뮤팅 센서(B1)가 워크(W)를 검지한 시각)까지의 시간을 나타내는 데이터를 수집하여 축적한다. 데이터 No. 1로서 축적되는 시간은, 도 10에서의 시각 t1부터 시각 t2까지의 시간에 상당한다.

데이터 No. 2로서, MUTE(B)가 온 한 시각부터 다광축 광전 센서(SNS)의 검출 신호가 「비검출」로부터 「검출」로 변화한 시각(즉, 다광축 광전 센서(SNS)가 워크(W)를 검출한 시각)까지의 시간을 나타내는 데이터를 수집하여 축적한다. 데이터 No. 2로서 축적되는 시간은, 도 10에서의 시각 t2부터 시각 t3까지의 시간에 상당한다.

데이터 No. 3으로서, 다광축 광전 센서(SNS)의 검출 신호가 「검출」로부터 「비검출」로 변화한 시각(즉, 워크(W)의 검출 에어리어(LC)의 통과가 완료된 시각=다광축 광전 센서(SNS)가 워크(W)를 검출하지 않은 시각)부터 MUTE(B)가 오프 한 시각(즉, 뮤팅 센서(B2)에 의한 워크(W)의 검지가 완료된 시각)까지의 시간을 나타내는 데이터를 수집하여 축적한다. 데이터 No. 3으로서 축적되는 시간은, 도 10에서의 시각 t6부터 시각 t7까지의 시간에 상당한다.

데이터 No. 4로서, MUTE(B)가 오프 한 시각(즉, 뮤팅 센서(B2)에 의한 워크(W)의 검지가 완료된 시각)부터 MUTE(A)가 오프 한 시각(즉, 뮤팅 센서(A2)에 의한 워크(W)의 검지가 완료된 시각)까지의 시간을 나타내는 데이터를 수집하여 축적한다. 데이터 No. 4로서 축적되는 시간은, 도 10에서의 시각 t7부터 시각 t8까지의 시간에 상당한다.

데이터 No. 5로서, 다광축 광전 센서(SNS)의 검출 신호가 「비검출」로부터 「검출」로 변화한 시각부터 당해 검출 신호가 「검출」로부터 「비검출」로 변화한 시각까지의 시간을 나타내는 데이터를 수집하여 축적한다. 데이터 No. 3으로서 축적되는 시간은, 도 10에서의 시각 t3부터 시각 t6까지의 시간에 상당한다. 이 시간은, 워크(W)가 검출 에어리어(LC)를 통과하고 있는 시간이고, 다광축 광전 센서(SNS)가 워크(W)를 검출하고 있는 시간이다.

데이터 No. 6은, 도 12에 도시하는 바와 같이, 복수의 다광축 광전 센서(SNS)의 투광기(1)끼리와 연결시킴과 함께 수광기(2)끼리를 연결시키는 구성을 지향하고 있다. 도 12에서는, 3대의 다광축 광전 센서(SNS)를 연결시키고 있지만, 이것으로 한정되지 않는다. 이 경우, 복수의 다광축 광전 센서(SNS)를 하나의 다광축 광전 센서로 간주한다. 이 하나의 다광축 광전 센서가 워크(W)를 검출하고 있을 때에, 워크(W)를 실제로 검출하고 있는 적어도 하나의 다광축 광전 센서(SNS) 중, 가장 아래에 위치하는 다광축 광전 센서(SNS)(도 12의 경우, 위로부터 3번째의 다광축 광전 센서(SNS))를 식별하기 위한 번호를, 데이터 No. 6으로서 축적한다.

데이터 No. 7은, 1대의 다광축 광전 센서(SNS)가 워크(W)를 검출하고 있을 때에, 워크(W)의 통과에 의해 차광된 적어도 하나의 광축 중, 가장 아래에 위치하는 광축의 번호를 나타내는 데이터이다.

데이터 No. 8은, 복수의 다광축 광전 센서(SNS)를 연결시켜서 하나의 다광축 광전 센서로서 사용하는 구성에서, 워크(W)를 실제로 검출하고 있는 적어도 하나의 다광축 광전 센서(SNS) 중, 가장 위에 위치하는 다광축 광전 센서(SNS)(도 12의 경우, 위로부터 1번째의 다광축 광전 센서(SNS))를 식별하기 위한 번호를 나타내는 데이터이다.

데이터 No. 9는, 1대의 다광축 광전 센서(SNS)가 워크(W)를 검출하고 있을 때에, 워크(W)의 통과에 의해 차광되는 적어도 하나의 광축 중, 가장 위에 위치하는 광축의 번호를 나타내는 데이터이다. 도 12를 참조하면, 위로부터 1번째의 다광축 광전 센서(SNS)에 관해서는, 워크(W)의 통과에 의해 아래로부터 1번째로부터 5번째까지의 광축이 차광되어 있다. 데이터 No. 9로서, 이 중의 가장 위에 위치하는 5번째의 광축을 나타내는 데이터가 축적된다. 상기한 데이터 No. 6 및 No. 7은 워크(W)에 의해 차광된 에어리어의 상단의 위치를 나타내고, 데이터 No. 8 및 No. 9는 워크(W)에 의해 차광된 에어리어의 하단의 위치를 나타내는 데이터이다. 데이터 No. 6 내지 No. 9에 의거하여 워크(W)의 높이를 구할 수 있다.

이상과 같이 하여, 뮤팅 판정부(40)는, 뮤팅 시퀀스 처리의 실행 중, 다광축 광전 센서(SNS)의 검출 신호 및 뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2)의 검지 신호에 의거하여 뮤팅 시퀀스의 동작을 나타내는 복수의 데이터를 수집하고, 수집한 데이터를 기억 장치에 축적한다. 이 기억 장치에 축적된 데이터는, 미리 정하여진 타이밍에서 갱신된다. 예를 들면, 수시간의 주기와 같이 일정 주기로 정기적으로 갱신되도록 하여도 좋다. 또는, 다광축 광전 센서 시스템(100)의 외부로부터 갱신의 지령이 입력된 타이밍에서 갱신되도록 하여도 좋다.

그리고, 뮤팅 판정부(40)는, 기억 장치에 축적된 데이터를 분석하고, 그 분석 결과를 제시부에 의해 유저에게 제시한다. 분석에서는, 예를 들면 축적된 소정량의 데이터에 대해 통계적 처리가 시행됨에 의해, 데이터의 편차 상태가 구하여진다. 유저는, 제시된 분석 결과에 의거하여, 미리 설정되어 있는 뮤팅 시퀀스와 실제의 뮤팅 시퀀스의 동작을 비교할 수 있다. 이에 의해, 유저는, 뮤팅 기능을 적정하게 작동시키기 위해, 뮤팅 시퀀스를 최적화할 수 있다.

이하, 도 13 및 도 14를 참조하여, 본 발명의 실시의 형태에 관한 데이터 분석 처리의 한 예를 설명한다. 도 13(a)는, 생산 설비에서 워크(W)의 반송을 시험적으로 행한 테스트런을 실행한 때의 뮤팅 시간의 분포를 도시하는 도면이다. 이 「뮤팅 시간」이란, MUTE(B)가 온 한 시각(도 10의 시각 t2)부터 다광축 광전 센서(SNS)가 워크(W)를 검출한 시각(도 10의 시각 t3)까지의 시간에 상당하고, 도 11에 도시한 데이터 No. 2로서 축적되는 시간이다.

도 13(a)를 참조하면, 뮤팅 시간의 편차는 정규 분포에 따르고 있다. 이 편차는, 예를 들면 워크(W)의 반송 중에 반송 속도의 편차 또는 워크(W)의 진동이 발생함에 의해 생긴다. 따라서 뮤팅 시퀀스에서는, 반송 속도의 편차 또는 워크(W)의 진동을 허용하도록, 반송 속도의 편차 또는 진동의 정도를 고려하여, 뮤팅 시간의 상한치가 설정된다. 이 상한치를 초과하여 뮤팅 상태가 계속한 경우에는, 워크(W) 이외의 물체가 검출 에어리어(LC)에 침입하였다고 판단되어, 생산 설비의 동작이 정지된다.

도 13(a)에 기재된 수치(T2)는, 테스트런을 시작하기 전에 미리 설정된, 뮤팅 시간의 상한치의 초기치를 나타내고 있다. 도 13(a)에 도시하는 바와 같이, 초기치(T2)는, 뮤팅 시간의 편차를 고려하여, 워크(W)의 반송 중에 확실하게 뮤팅 상태가 되도록, 마진을 갖고서 설정된다. 그러나, 실제의 뮤팅 시간의 편차에 대한 마진이 너무 크면, 뮤팅 시간이 불필요하게 길어져 버린다. 그 때문에, 뮤팅 상태의 계속 중에 워크(W) 이외의 물체가 검출 에어리어(LC)에 침입하는 경우라도 다광축 광전 센서(SNS)가 그 물체의 침입을 올바르게 검출할 수 없을 가능성이 생긴다.

본 발명의 실시의 형태에서, 뮤팅 판정부(40)는, 실제의 뮤팅 시간의 편차를 분석하고, 분석 결과를 뮤팅 시간의 초기 설정치(T2)와 아울러서 제시한다. 이에 의해, 유저는, 초기 설정치(T2)가 실제의 편차에 의거하여 적정한 것인지의 여부를 판단할 수 있다. 또한 유저는, 이 제시에 의거하여, 뮤팅 시간을 적정한 값으로 조정하는 것이 가능해진다.

또한, 뮤팅 판정부(40)는, 분석 결과에 의거하여, 뮤팅 동작 조건에 최적의 설정치를 결정하는 것이 가능하다. 구체적으로는, 뮤팅 판정부(40)는, 분석 결과에 의거하여, 미리 정하여진 조건을 만족하도록 뮤팅 시퀀스의 최적화를 실행한다. 예를 들면 도 13(a)에 도시한 분석 결과에 의거하여, 뮤팅 판정부(40)는, 적정한 뮤팅 시간을 산출한다. 그리고, 뮤팅 판정부(40)는, 도 13(b)에 도시하는 바와 같이, 산출 결과를 뮤팅 시간의 적정치로서 유저에게 제시할 수 있다. 또한, 이 최적화 처리를 실행함에 있어서는, 유저는, 생산 설비의 생산성 및 안전성의 관점에서, 소망하는 조건(마진의 정도 등)을 미리 설정하여 둘 수 있다.

또한, 상술한 데이터의 축적 및 분석 처리는, 테스트런뿐만 아니라, 생산 설비의 가동 중에서도 실행하는 것이 가능하다. 이에 의해, 생산 설비의 가동 중에 뮤팅 에러가 발생함에 의해 생산 설비가 정지한 경우라도, 유저는, 기억 장치에 축적된 데이터 및 분석 결과를 참조함으로써, 뮤팅 에러의 발생 원인을 검증할 수 있다. 이 결과, 유저의 시행착오의 부담을 경감할 수 있고, 뮤팅 에러의 발생으로부터 단시간에 생산 설비를 복구하는 것이 가능해진다.

도 14는, 생산 설비의 가동 중에 있어서 뮤팅 센서의 검지 동작의 시간차(이하, 「검지 시간차」라고도 칭한다)의 분포를 도시하는 도면이다. 이 검지 시간차란, MUTE(A)가 온 한 시각(도 10의 시각 t1)과 MUTE(B)가 온 한 시각(도 10의 시각 t2)과의 시간차이다. 즉, 검지 시간차는, 뮤팅 센서(A1)가 워크(W)를 검지한 시각과 뮤팅 센서(B1)가 워크(W)를 검지한 시각과의 시간차이다. 검지 시간차는, 상술한 뮤팅 센서(A1)가 워크(W)를 검지하고 나서 뮤팅 센서(B1)가 워크(W)를 검지할 때까지의 워크(W)의 통과 시간에 상당한다. 검지 시간차는, 주로 뮤팅 센서(A1) 및 뮤팅 센서(B1) 사이의 거리 및 워크(W)의 반송 속도에 의존한다.

도 14를 참조하면, 검지 시간차의 편차는 정규 분포에 따르고 있다. 이 편차는, 예를 들면, 뮤팅 센서의 설치 상태, 워크(W)의 반송 속도의 편차, 워크(W)의 진동 등에 의해 생긴다. 뮤팅 시퀀스에서는, 뮤팅 센서의 설치 상태, 반송 속도의 편차, 및 워크(W)의 진동을 허용하도록, 검지 시간차에 허용 범위가 마련된다.

도 14에 기재된 수치(T1min)는 검지 시간차의 허용 범위의 하한치의 초기치를 나타내고, 수치(T1max)는 검지 시간차의 허용 범위의 상한치의 초기치를 나타낸다. 허용 범위는 검지 시간차의 편차를 커버하도록 설정될 필요가 있다. 그러나, 실제의 검지 시간차는, 허용 범위의 상한치의 초기치(T1max)를 초과하여 분포하고 있다. 이 때문에, 워크(W)가 검출 에어리어(LC)를 통과하고 있음에도 불구하고, 워크(W) 이외의 물체가 검출 에어리어(LC)에 침입하였다고 판단됨에 의해, 생산 설비가 정지된다.

뮤팅 판정부(40)는, 실제의 뮤팅 센서의 검지 시간차를 분석하고, 분석 결과를 당해 검지 시간차의 허용 범위의 초기 설정치(T1min, T1max)와 아울러서 제시한다. 이에 의해, 유저는, 허용 범위의 초기 설정치(T1min, T1max)가 실제의 편차에 의거하여 적정한 것인지의 여부를 판단할 수 있다. 또한 유저는, 이 제시에 의거하여, 허용 범위를 적정한 값으로 조정하는 것이 가능해진다.

또한, 도시는 생략하지만, 도 14에서도, 도 13(b)와 마찬가지로, 뮤팅 판정부(40)는, 분석 결과에 의거하여 적정한 검지 시간차의 허용 범위를 산출하고, 그 산출 결과를 유저에게 제시하는 것이 가능하다. 도 14의 예에서는, 검지 시간차의 최대치보다도 큰 값이, 허용 범위의 상한치(T1max)의 적정치로서 유저에게 제시된다. 이 상한치(T1max)는, 뮤팅 센서(A1)가 워크(W)를 검지하고 나서 뮤팅 센서(B1)가 워크(W)를 검지할 때까지의 워크(W)의 통과 시간의 상한치에 상당한다.

도 13 및 도 14에 도시한 분석 결과는, 예를 들면 퍼스널 컴퓨터(5)의 표시부(57)에 의한 화면 표시에 의해 유저에게 제시된다. 도 15는, 화면 표시의 한 예를 도시하는 도면이다.

도 15를 참조하면, 화면의 좌상 부분에는, 유저가 미리 설정 입력한 파라미터로서, 워크(W)의 반송 방향에서의 길이(Work length), 및 워크(W)의 반송 속도(Speed)가 도시되어 있다. 화면의 좌하 부분에는, 워크(W)의 반송로에 대한 뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2) 및 다광축 광전 센서(SNS)의 위치 관계가 모식적으로 도시되어 있다. 이 모식도에서, 동그라미로 둘러싸여진 숫자「1」은 뮤팅 센서(A1, A2)를 나타내고, 동그라미로 둘러싸여진 숫자「2」는 뮤팅 센서(B1, B2)를 나타내고 있다. 또한, 구간(A)은 뮤팅 센서(A1)로부터 뮤팅 센서(B1)까지의 구간을 나타내고, 구간(B)은 뮤팅 센서(B1)로부터 다광축 광전 센서(SNS)까지의 구간을 나타내고 있다. 사각으로 둘러싸여진 문자「C」는 다광축 광전 센서(SNS)를 나타내고 있다.

도 15의 화면 표시에는, 뮤팅 시퀀스 처리의 실행 중에 있어서, 뮤팅 센서(A1, A2, B1, B2)의 검지 신호 및 다광축 광전 센서(SNS)의 검출 신호에 의거한 리얼타임의 데이터가 표시된다. 한 예로서, 화면의 영역(1)에는, 뮤팅 센서의 검지 시간차 및 뮤팅 시간의 리얼타임의 데이터가 표시된다. 이들의 데이터는, 뮤팅 시퀀스 처리의 실행 중, 화면에 표시됨과 함께, 기억 장치에 축적된다.

또한, 화면 표시에는, 기억 장치에 축적되는 데이터를 분석한 결과가 표시된다. 분석 결과의 한 예로서, 화면의 영역(2)에는, 뮤팅 센서의 검지 시간차의 분포, 및 뮤팅 계속 시간의 분포가 표시된다. 또한, 뮤팅 센서의 검지 시간차의 분포에는, 현재의 뮤팅 시퀀스 처리에서의 검지 시간차의 허용 범위(상한치(T1max), 하한치(T1min))가 아울러서 표시된다. 뮤팅 시간의 분포에는, 현재의 뮤팅 시퀀스 처리에서의 뮤팅 시간의 상한치(T2)가 아울러서 표시된다.

분석 결과의 다른 예로서, 화면의 영역(3)에는, 워크(W)의 높이(Work height)의 분포가 표시된다. 워크(W)의 높이는, 데이터 No. 6 내지 No. 9(도 11)가 나타내는 워크(W)에 의해 차광된 에어리어에 의거하여 구할 수 있다. 이 예에서는, 워크(W)의 높이의 편차도 정규 분포에 따르고 있다. 이 편차는, 예를 들면 워크(W)의 반송 속도의 편차나 워크(W)의 반송 중에 워크(W)의 진동이 발생함에 의해 생긴다.

도 15의 화면 표시에는 또한, 상기한 분석 결과에 의거하여 뮤팅 시퀀스의 최적화를 실행함에 의해 얻어진 최적치가 표시된다. 최적치의 한 예로서, 화면의 영역(4)에는, 뮤팅 센서의 검지 시간차의 허용 범위를 정하는 상한치(T1max) 및 하한치(T1min)의 최적치가 표시된다. 또한, 뮤팅 시간의 상한치(T2)의 최적치가 표시된다. 또한, 다광축 광전 센서(SNS)가 워크(W)를 검출하고 있는 시간의 상한치(T3)의 최적치가 표시된다. 이 다광축 광전 센서(SNS)가 워크(W)를 검출하고 있는 시간이란, 워크(W)가 검출 에어리어(LC)를 통과하고 있는 시간이고, 도 10에서의 시각 t3부터 시각 t6까지의 시간에 상당한다.

이와 같이, 퍼스널 컴퓨터(5)의 표시부(57)에는, 리얼타임의 데이터, 당해 데이터의 분석 결과, 및 분석 결과에 의거한 최적치가 표시된다. 이에 의해, 유저는, 용이하게 뮤팅 시퀀스를 소망하는 최적치에 맞추어 넣는 것이 가능해진다. 유저는, 테스트런에 의해 뮤팅 시퀀스를 설정한 후, 재차 확인을 위해 생산 설비를 가동시킨다. 그리고, 설정한 뮤팅 시퀀스에 따라 다광축 광전 센서 시스템(100)의 뮤팅 기능이 작동하고 있는 것이 확인되면, 유저는 생산 설비를 본 가동시킨다.

[본 실시의 형태의 작용 효과]

본 발명의 실시의 형태에 의하면, 뮤팅 기능에 관한 통계적인 정보가 유저에게 제시되기 때문에, 유저는 확도가 높은 정보에 의거하여 뮤팅 시퀀스를 설정할 수 있다. 이에 의해, 뮤팅 에러의 발생에 의한 생산 설비의 정지를 억제할 수 있다. 또한, 생산 설비의 작동시의 시행착오도 불필요해지기 때문에 운전시작의 작업 공수를 삭감할 수 있다. 이 결과, 생산성을 향상시킬 수 있다.

또한, 종래의 다광축 광전 센서에서는, 뮤팅 시퀀스를 설정할 때에, 생산성을 확보하는 관점에서 뮤팅 에러의 판정 조건에 과도한 마진을 갖게 하기 때문에, 생산 설비가 실현할 수 있는 안전성이 저하되어 버린다는 과제가 있다. 본 발명의 실시의 형태에 의하면, 실제의 뮤팅 시퀀스의 동작에 의거하여 적정한 마진을 설정할 수 있기 때문에, 생산성과 안전성을 양립 가능한 다광축 광전 센서 시스템을 구축할 수 있다.

[그 밖의 실시의 형태]

본원 발명에 관한 다광축 광전 센서 시스템은, 이하에 나타내는 실시의 형태에 의해서도, 상술한 실시의 형태와 같은 작용 효과를 얻을 수 있다.

(1) 본원 발명에서의 뮤팅 판정부에서는, 뮤팅 시퀀스 실행 처리의 실행 중에 수집 및 축적하는 데이터를 유저가 설정하는 것이 가능하다. 예를 들면, 퍼스널 컴퓨터(5)의 입력부(55)(도 6)를 이용하여, 유저가 축적하고 싶은 데이터를 설정 입력할 수 있도록 하여도 좋다. 또한, 뮤팅 판정부는, 데이터 및 분석 결과를 기억 장치에 축적함과 함께, 기억 장치에 축적되는 데이터 및 분석 결과를 미리 정하여진 타이밍에서 갱신할 수 있다. 예를 들면, 메모리 용량이 비교적 작은 기억 회로(14, 29, 39)(도 4)에서는, 일정 주기로 데이터 및 분석 결과를 축적하고, 메모리 용량이 가득하게 되었을 때에 오래된 데이터 및 분석 결과를 재기록 갱신한다. 한편, 메모리 용량이 비교적 큰 외부 기억 장치(59) 및 기록 매체(61)(도 6)에서는, 모든 데이터 및 분석 결과를 계속 보존 갱신한다.

(2) 본원 발명에서의 뮤팅 판정부가 실행하는 데이터 분석에 관해서는, 분석 수법 및 조건을 유저가 설정하는 것이 가능하다. 상술한 실시의 형태에서는, 분석 수법으로서, 데이터의 분포 상태를 나타내는 히스토그램을 생성하는 구성에 관해 예시하였지만, 데이터의 정규 분포나 데이터의 최대치/최소치, 평균치 및 최빈치 등을 구하는 구성으로 하는 것도 가능하다. 또는, 축적한 데이터를 분석하지 않고 그대로 제시시키는 것도 가능하다. 또한, 뮤팅 기능의 작동 상태의 트렌드 분석이나 장기 경향을 파악할 수 있도록, 분석 기간을 유저가 가변으로 설정할 수 있다.

분석의 조건에 관해서는, 축적된 데이터의 중으로부터 분명한 이상치(異常値)를 나타내는 데이터를 제거하기 위한 필터 처리의 조건을 설정하는 것이 가능하다. 이 필터 처리의 조건은, 데이터의 축적을 시작하기 전에 미리 설정하여 두도록 하여도 좋고, 축적된 데이터를 참조하여 유저가 이상치를 수동으로 제거하도록 하여도 좋다.

(3) 본원 발명에서의 데이터 분석에 관해, 상술한 실시의 형태에서는, 뮤팅 판정부가 분석 결과에 의거하여 뮤팅 시퀀스의 최적화를 실행하는 구성에 관해 설명하였지만, 최적치를 결정하기 위한 조건은 유저가 설정하는 것이 가능하다. 또한, 데이터 분석에서는, 현재 설정되어 있는 마진에 관해, 생산성 및 안전성의 관점에서 적정한지의 여부를 평가하는 것도 가능하다. 제시부는, 분석 결과와 함께 평가 결과를 유저에게 제시한다.

(4) 본원 발명에서의 뮤팅 판정부는, 최적화된 뮤팅 시퀀스를 실제의 설정에 자동적으로 반영시킬 수 있도록 하여도 좋다.

(5) 본원 발명에서의 뮤팅 판정부는, 기억 장치에 축적하는 분석 결과 및 최적화된 뮤팅 시퀀스를, 워크 단위(검출 대상물 단위)로 백업하는 것이 가능하다. 구체적으로는, 절차 바꿀 때마다 분석 결과 및 최적화된 뮤팅 시퀀스를 보존하여 둠에 의해, 제조 장치에서 과거에 반송한 워크와 같은 형상의 워크를 반송하게 된 경우, 보존한 분석 결과 및 뮤팅 시퀀스를 판독하여 이용할 수 있다.

(6) 본원 발명에 관한 다광축 광전 센서 시스템은, 워크의 형상이 변화하는 어플리케이션에도 적용하는 것이 가능하다. 구체적으로는, 뮤팅 처리부는, 뮤팅 시퀀스 실행 처리에서, 워크의 형상에 응하여 복수의 시퀀스를 전환하여 사용하는 것이 가능하다. 이 경우, 뮤팅 판정부는, 데이터 및 분석 결과를 워크마다 분류하여 축적할 수 있다. 또한, 제시부는, 데이터 및 분석 결과를 워크마다 분류하여 제시할 수 있다.

(7) 본원 발명에 관한 다광축 광전 센서 시스템에서는, 기억 장치에 축적되는 데이터에 분명한 이상치가 포함되는 경우나, 축적된 데이터량이 적은 등의 이상을 검출한 구성을 구비하고 있다. 이들의 이상이 검출된 경우에는, 예를 들면 다광축 광전 센서(SNS)의 표시등(10, 20)(도 1) 등을 이용하여 유저에게 이상을 통보할 수 있다.

(8) 본원 발명에 관한 다광축 광전 센서 시스템은, 복수의 다광축 광전 센서(SNS)의 투광기(1)끼리를 연결시킴과 함께 수광기(2)끼리를 연결시키는 구성에도 적용 가능하다. 이와 같은 구성에서, 뮤팅 판정부가 데이터의 축적 및 분석을 행하는 대상을 다광축 광전 센서(SNS)마다로 하는지, 또는, 복수의 다광축 광전 센서(SNS) 전체로 하는지를, 유저가 선택하는 것이 가능하다. 예를 들면, 유저는, 퍼스널 컴퓨터(5)의 입력부(55)(도 6)를 이용하여, 데이터의 축적 및 분석의 대상이 되는 다광축 광전 센서(SNS)를 선택할 수 있도록 하여도 좋다.

금회 개시된 실시의 형태는 예시이고, 상기 내용만으로 한정되는 것이 아니다. 본 발명의 범위는 특허청구의 범위에 의해 나타나고, 특허청구의 범위와 균등한 의미 및 범위 내의 모든 변경이 포함되는 것이 의도된다.

1 : 투광기
2 : 수광기
3 : 전용 코드
4 : 통신 유닛
5 : 퍼스널 컴퓨터
10, 20 : 표시등
11 : 발광 소자
12 : 구동 회로
13, 25 : 광축 순차 선택 회로
14, 29, 39 : 기억 회로
15 : 외부 전원
16, 26 : 처리 회로
17, 27, 37 : 통신 회로
18, 28, 38 : 전원 회로
19 : 뮤팅용 입력 회로
19A, 19B : OR 회로
21 : 수광 소자
22, 24 : 앰프
23 : 스위치
30 : 모니터 회로
31 : 출력 회로
32 : 외부 접속 단자
34 : 통신 변환기
36 : 제어 회로
40 : 뮤팅 판정부
51 : 제어부
53 : 기억부
55 : 입력부
57 : 표시부
59 : 외부 기억 장치
61 : 기록 매체
100 : 센서 시스템
101 : 통신용 케이블
102 : 분기 커넥터
A1, A2, B1, B2 : 뮤팅 센서
D : 화살표
LC : 검출 에어리어
P, P1, P2 : 팔레트
RD : 통로
SNS : 다광축 광전 센서
W : 워크
nA, nB : 입력 포트

Claims (14)

1. 반송장치에 의해 반송되는 검출 대상물을 검출하는 다광축 광전 센서 시스템으로서,
   상기 다광축 광전 센서 시스템은,
   직선형상으로 정렬 배치된 복수의 투광부를 갖는 투광기와,
   상기 복수의 투광부에 각각 대향 배치된 복수의 수광부를 갖는 수광기와,
   상기 복수의 투광부와 상기 복수의 수광부와의 사이에 각각 형성되는 복수의 광축의 각각이 차광 상태에 있는지의 여부의 차광 판정을 행하는 차광 판정부와,
   외부의 뮤팅용 기기로부터 입력되는 검지 신호가 미리 정하여진 시퀀스에 따라 변화하고 있는 것을 조건으로, 상기 차광 판정을 일시적으로 무효로 하기 위한 뮤팅 처리부와,
   각종의 정보를 표시하기 위한 표시부를 구비하고,
   상기 뮤팅 처리부는,
   상기 뮤팅용 기기로부터의 출력에 의거하여, 뮤팅을 시작시키는 뮤팅 시작 판별부와,
   뮤팅의 실행 중에, 상기 뮤팅용 기기로부터의 상기 검지 신호의 시퀀스의 순서를 복수의 스테이지로 나누어서 판별하는 뮤팅 판정부를 포함하고,
   상기 뮤팅 판정부는, 스테이지마다 취득되는 상기 검출 대상물에 관한 계측 정보를 축적함과 함께, 축적된 소정량의 상기 계측 정보의 편차를 통계적 처리에 의해 분석하고,
   상기 뮤팅 처리부는, 상기 뮤팅 판정부에 의한 통계적인 분석 결과와, 뮤팅 동작 조건의 설정치를, 상기 표시부에 제시하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템.
2. 제1항에 있어서,
   상기 뮤팅 판정부는, 상기 계측 정보와 함께 상기 분석 결과를 축적 가능하게 구성되고, 축적되는 상기 계측 정보 및 상기 분석 결과를 미리 정하여진 타이밍에서 갱신하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템.
3. 제2항에 있어서,
   상기 뮤팅 판정부는, 상기 계측 정보 및 상기 분석 결과와 함께 상기 설정치를 축적 가능하게 구성되고, 상기 분석 결과 및 상기 설정치를, 검출 대상물 단위로 백업하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템.
4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
   유저로부터의 설정 입력을 접수하기 위한 입력부를 또한 구비하고,
   상기 입력부는, 상기 뮤팅 판정부에 축적되는 상기 계측 정보에 관한 설정을 접수하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템.
5. 제4항에 있어서,
   상기 입력부는, 상기 뮤팅 판정부에서의 분석 수법 또는 분석 조건에 관한 설정을 접수하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템.
6. 제4항에 있어서,
   상기 입력부는, 상기 뮤팅 처리부가 상기 설정치를 결정하기 위해 이용하는 조건에 관한 설정을 접수하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템.
7. 제4항에 있어서,
   상기 투광기는, 상기 광축에 수직한 방향으로 복수 연결되고,
   상기 수광기는, 복수의 상기 투광기와 각각 대향하도록, 상기 광축에 수직한 방향으로 복수 연결되고,
   상기 입력부는, 상기 뮤팅 판정부의 대상이 되는 적어도 하나의 상기 투광기 및 상기 수광기의 선택을 접수하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템.
8. 삭제
9. 제1항에 있어서,
   상기 뮤팅 처리부는, 상기 설정치를 상기 시퀀스에 자동적으로 반영시키는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템.
10. 제1항에 있어서,
    상기 뮤팅 처리부는, 검출 대상물의 형상에 응하여 복수의 상기 시퀀스를 전환하여 사용 가능하게 구성되고,
    상기 뮤팅 판정부는, 상기 계측 정보의 축적 및 분석을, 검출 대상물마다 실행하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템.
11. 제10항에 있어서,
    유저로부터의 설정을 입력을 접수하기 위한 입력부와,
    상기 분석 결과 또는 상기 설정치를 유저에게 제시하기 위한 제시부를 또한 구비하고,
    상기 입력부는, 상기 제시부에 제시시키는 검출 대상물의 종류별에 관한 설정을 접수하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템.
12. 제1항에 있어서,
    상기 뮤팅 판정부에 축적되는 상기 계측 정보에서의 이상을 검출하여 유저에게 통보하기 위한 통보부를 또한 구비하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템.
13. 반송장치에 의해 반송되는 검출 대상물을 검출하는 다광축 광전 센서 시스템의 제어 방법으로서,
    상기 다광축 광전 센서 시스템은,
    직선형상으로 정렬 배치된 복수의 투광부를 갖는 투광기와,
    상기 복수의 투광부에 각각 대향 배치된 복수의 수광부를 갖는 수광기를 포함하고,
    상기 제어 방법은,
    상기 복수의 투광부와 상기 복수의 수광부와의 사이에 각각 형성되는 복수의 광축의 각각이 차광 상태에 있는지의 여부의 차광 판정을 행하는 스탭과,
    외부의 뮤팅용 기기로부터 입력되는 검지 신호가 미리 정하여진 시퀀스에 따라 변화하고 있는 것을 조건으로, 상기 차광 판정을 일시적으로 무효로 하기 위한 뮤팅을 실행하는 스탭과
    각종의 정보를 표시부에 표시하는 스탭을 구비하고,
    상기 뮤팅을 실행하는 스탭은,
    상기 뮤팅용 기기로부터의 출력에 의거하여, 뮤팅을 시작시키는 스탭과,
    뮤팅의 실행 중에, 상기 뮤팅용 기기로부터의 상기 검지 신호의 시퀀스의 순서를 복수의 스테이지로 나누어서 판별하는 스탭과,
    스테이지마다 취득되는 상기 검출 대상물에 관한 계측 정보를 축적함과 함께, 축적된 소정량의 상기 계측 정보의 편차를 통계적 처리에 의해 분석하는 스탭과,
    상기 계측 정보의 통계적인 분석 결과와, 뮤팅 동작 조건의 설정치를, 상기 표시부에 제시하는 스탭을 포함하는 것을 특징으로 하는 다광축 광전 센서 시스템의 제어 방법.
14. 반송장치에 의해 반송되는 검출 대상물을 검출하는 다광축 광전 센서 시스템을 제어하는 프로그램을 기록한, 프로세서 판독 가능한 기록 매체로서,
    상기 다광축 광전 센서 시스템은,
    직선형상으로 정렬 배치된 복수의 투광부를 갖는 투광기와,
    상기 복수의 투광부에 각각 대향 배치된 복수의 수광부를 갖는 수광기를 포함하고,
    상기 프로그램은,
    상기 복수의 투광부와 상기 복수의 수광부와의 사이에 각각 형성되는 복수의 광축의 각각이 차광 상태에 있는지의 여부의 차광 판정을 행하는 스탭과,
    외부의 뮤팅용 기기로부터 입력되는 검출 신호가 미리 정하여진 시퀀스에 따라 변화하고 있는 것을 조건으로, 상기 차광 판정을 일시적으로 무효로 하기 위한 뮤팅을 실행하는 스탭과,
    각종의 정보를 표시부에 표시하는 스탭을 상기 프로세서에 실행시키고,
    상기 뮤팅을 실행하는 스탭에서는,
    상기 뮤팅용 기기로부터의 출력에 의거하여, 뮤팅을 시작시키는 스탭과,
    뮤팅의 실행 중에, 상기 뮤팅용 기기로부터의 상기 검출 신호의 시퀀스의 순서를 복수의 스테이지로 나누어서 판별하는 스탭과,
    스테이지마다 취득되는 상기 검출 대상물에 관한 계측 정보를 축적함과 함께, 축적된 소정량의 상기 계측 정보의 편차를 통계적 처리에 의해 분석하는 스탭과,
    상기 계측 정보의 통계적인 분석 결과와, 뮤팅 동작 조건의 설정치를, 상기 표시부에 제시하는 스탭을 상기 프로세서에 실행시키는 것을 특징으로 하는 프로세서 판독 가능한 기록 매체.

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