CN104914480A - 多光轴光电传感器系统及其控制方法、程序以及记录介质 - Google Patents

Abstract

本发明在多光轴光电传感器系统中避免噪声抑制错误的发生，并且通过缩短生产设备的启动时间，实现生产性的改善。多光轴光电传感器系统具有：投光器；受光器将；遮光判断部，进行判断形成于投光器与受光器之间的光轴是否为遮光状态的遮光判断；噪声抑制处理部，用于以从外部的噪声抑制用设备输入的检测信号根据预先设定的序列而变化为条件，暂时地使遮光判断无效。噪声抑制处理部在噪声抑制中，将噪声抑制用设备的检测信号的序列的顺序划分为多个阶段再进行判断。噪声抑制处理部积累以及分析在每一个阶段取得的测量信息，并且基于分析结果来决定对于噪声抑制工作条件的最优的设定值。

Description

多光轴光电传感器系统及其控制方法、程序以及记录介质

技术领域

本发明涉及一种多光轴光电传感器系统、多光轴光电传感器系统的控制方法、程序以及记录该程序的记录介质。本发明特别地涉及一种具有多光轴光电传感器的噪声抑制功能的多光轴光电传感器系统。

背景技术

一般的多光轴光电传感器具有：多个投光元件配置成一列的投光部、与投光元件相同数量的受光元件配置成一列的受光部。投光元件与受光元件以一对一的关系配置为彼此面对，并设定使用多个光轴进行检测的检测区域。

投光部依次使各投光元件发光。受光部在与投光元件的发光动作同步的时机(时刻)，从与各投光元件相对应的受光元件，提取该受光元件的受光量。通过这样，依次检测多光轴光电传感器的每一条光轴的遮光状态。受光部使用每一条光轴的检测结果，来判断检测区域中是否存在物体，并输出表示该判断结果的信号。为了使投光部与受光部同步，投光部与受光部经由通信线连接。或者通过投光部与受光部之间的光通信，使投光部与受光部同步。

多光轴光电传感器作为在例如生产现场中为了工作者的安全而设置的装置。当在例如多光轴光电传感器的检测区域的任一条光轴上检测出遮光状态时，停止生产设备的动作。根据制造装置的不同，在有些情况下必需要在搬运加工前或者加工后的工件的通道上，设置多光轴光电传感器的检测区域。但是，在因该工件遮断光轴而引起生产设备停止的情况下，生产性下降。

有一种暂时将多光轴光电传感器的安全功能无效化的噪声抑制功能，使在生产现场兼具安全性和生产性。噪声抑制功能基本上基于从传感器或者开关输出的独立的2个噪声抑制信号，使全检测区域无效化。仅在噪声抑制信号按照正确的序列从传感器或者开关输出或者保持的期间，才使全检测区域无效化(例如参照JP专利第5229310号公报(专利文献1))。

如这样地，为了将噪声抑制信号作为用于使多光轴光电传感器的安全功能无效化的触发信号来使用，而严格地检查该序列(具体地，输出2个噪声抑制信号的顺序以及输出时间等)。而且，一般地，当序列脱离预先规定的条件时，判断为危险状态并切断向生产设备的电源供给。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：JP专利第5229310号公报

在上述的噪声抑制功能中，在输出噪声抑制信号的传感器或者开关上，使用例如非接触式开关、限位开关等。传感器或者开关设置于搬运工件的通道上，检测工件并输出噪声抑制信号。上述的噪声抑制功能的序列，是基于设置有传感器或者开关的位置、工件的形状、搬运工件的速度等来决定的。因此，在设置传感器或者开关的位置上产生偏移的情况下，噪声抑制信号无法根据预先设定的序列输出。因此，由于会使生产设备停止，所以成为损害生产性的主要原因。这样，将如下现象称为“噪声抑制错误”，即，尽管作为噪声抑制的对象的工件正在通过，但是噪声抑制功能却没有正常地工作而使生产设备停止。除了上述的传感器的设置状态以外，噪声抑制错误也可能是因工件的形状、当工件搬运时在通道上产生的振动的影响等引起的。

作为用于避免噪声抑制错误的对策，在现有技术的多光轴光电传感器中，在设置了多光轴光电传感器以及噪声抑制用传感器之后，通过重复试验性地进行工件的搬运的试运行，进行用于使噪声抑制功能正常工作的序列以及噪声抑制用传感器的设置状态的完善工作。因此，当生产设备启动时需要很多的工时。进一步地，由于每一次在生产设备中进行工件的替换(段替换)，都必需要进行用于使与替换后的工件的形状以及搬运速度等相对应的完善工作，所以产生了工时延长的问题。

针对该问题，在专利文献1中披露了一种多光轴光电传感器，该多光轴光电传感器为了从噪声抑制错误中恢复原状，具有以下功能：将序列划分为多个阶段再进行监视，并通知在哪一个阶段发生了噪声抑制错误。但是，虽然该方法对缩短在噪声抑制错误发生后的恢复时间有贡献，不过无法在避免噪声抑制错误的发生以及缩短生产设备的启动时间方面充分地发挥效果。

发明内容

本发明为了解决如这样的问题点，其目的在于，在多光轴光电传感器系统中，避免噪声抑制错误的发生，并且通过缩短生产设备的启动时间，来实现生产性的改善。

若根据本发明的某个方面，则提供一种多光轴光电传感器系统，检测由搬运装置搬运的检测对象。所述多光轴光电传感器系统具有：投光器，具有排列配置为直线状的多个投光部；受光器，具有与多个所述投光部分别相向配置的多个受光部；遮光判断部，进行遮光判断，用于判断分别形成于多个所述投光部与多个所述受光部之间的多个光轴中的每个光轴是否为遮光状态；噪声抑制处理部，在满足特定条件时，暂时地使所述遮光判断无效，所述特定条件是指，从外部的噪声抑制用设备输入的检测信号根据预先设定的序列而变化。所述噪声抑制处理部具有：噪声抑制开始判断部，基于来自所述噪声抑制用设备的输出，开始进行噪声抑制；噪声抑制判断部，在进行噪声抑制的过程中，将来自所述噪声抑制用设备的所述检测信号的序列(sequence)的顺序划分为多个阶段再进行判断。所述噪声抑制判断部，积累针对每一个阶段取得的测量信息，并且分析所积累的所述测量信息。所述噪声抑制处理部，基于来自所述噪声抑制判断部的分析结果，决定对于噪声抑制工作条件最优的设定值。

优选地，所述噪声抑制判断部构成为能够将所述分析结果与所述测量信息一起积累，并在预先设定的时机更新积累的所述测量信息以及所述分析结果。

优选地，所述噪声抑制判断部构成为能够将所述最优的设定值与所述测量信息以及所述分析结果一起积累，并以检测对象单位来备份所述分析结果以及所述最优的设定值。

优选地，还具有用于接受来自用户的设定输入的输入部。所述输入部接受与所述噪声抑制判断部所积累的所述测量信息相关的设定。

优选地，所述输入部接受与所述噪声抑制判断部中的分析方法或者分析条件相关的设定。

优选地，所述输入部接受与所述噪声抑制处理部为了决定所述最优的设定值而使用的条件相关的设定。

优选地，所述投光器，在与所述光轴垂直的方向上被连结有多个；所述受光器，在与所述光轴垂直的方向上被连结有多个，并且分别与多个所述投光器相向；所述输入部，接受成为所述噪声抑制判断部的对象的至少1个所述投光器以及所述受光器的选择。

优选地，多光轴光电传感器系统还具有用于将所述分析结果或者所述最优的设定值向用户提示的提示部。

优选地，所述噪声抑制处理部自动地使所述序列反映所述最优的设定值。

优选地，所述噪声抑制处理部构成为，能够根据检测对象的形状切换并使用多个所述序列使用。所述噪声抑制判断部对每一个检测对象执行所述测量信息的积累以及分析。

优选地，多光轴光电传感器系统还具有：输入部，用于接受来自用户的设定的输入；提示部，用于将所述分析结果或者所述最优的设定值向用户提示。所述输入部接受，与使所述提示部进行提示的检测对象的分类相关的设定。

优选地，多光轴光电传感器系统还具有报告部，用于检测在所述噪声抑制判断部所积累的所述测量信息中的异常并向用户报告。

若根据本发明的另一个方面，则提供一种多光轴光电传感器系统的控制方法，所述多光轴光电传感器系统检测由搬运装置搬运的检测对象。所述多光轴光电传感器系统具有：投光器，具有排列配置为直线状的多个投光部；受光器，具有分别与多个所述投光部相向配置的多个受光部。所述控制方法包括：进行遮光判断的步骤，判断分别形成于多个所述投光部与多个所述受光部之间的多个光轴中的每个光轴是否为遮光状态；执行噪声抑制的步骤，在满足特定条件时，暂时地使所述遮光判断无效，所述特定条件是指，从外部的噪声抑制用设备输入的检测信号根据预先设定的序列而变化。所述执行噪声抑制的步骤包括：基于来自所述噪声抑制用设备的输出，开始进行噪声抑制的步骤；在进行噪声抑制的过程中，将来自所述噪声抑制用设备的所述检测信号的序列的顺序划分为多个阶段再进行判断的步骤；积累针对每一个阶段取得的测量信息，并且分析积累的所述测量信息的步骤；基于所述测量信息的分析结果，决定对于噪声抑制工作条件的最优的设定值的步骤。

若根据本发明的再一个方面，则提供一种程序，控制多光轴光电传感器系统，所述多光轴光电传感器系统检测由搬运装置搬运的检测对象。所述多光轴光电传感器系统具有：投光器，具有排列配置为直线状的多个投光部；受光器，具有分别与多个所述投光部相向配置的多个受光部。所述程序使处理器执行如下步骤：进行遮光判断的步骤，判断分别形成于多个所述投光部与多个所述受光部之间的多个光轴中的每个光轴是否为遮光状态；执行噪声抑制的步骤，在满足特定条件时，暂时地使所述遮光判断无效，所述特定条件是指，从外部的噪声抑制用设备输入的检测信号根据预先设定的序列而变化。所述执行噪声抑制的步骤包括：基于来自所述噪声抑制用设备的输出，开始进行噪声抑制的步骤；在进行噪声抑制的过程中，将来自所述噪声抑制用设备的所述检测信号的序列的顺序划分为多个阶段再进行判断的步骤；积累针对每一个阶段取得的测量信息，并且分析积累的所述测量信息的步骤；基于所述测量信息的分析结果，决定对于噪声抑制工作条件的最优的设定值的步骤。

若根据本发明的再一个局面，则提供一种处理器可读取的记录介质，记录有控制多光轴光电传感器系统的程序，所述多光轴光电传感器系统检测由搬运装置搬运的检测对象。所述多光轴光电传感器系统具有：投光器，具有排列配置为直线状的多个投光部；受光器，具有分别与多个所述投光部相向配置的多个受光部。所述程序使处理器执行如下步骤：进行遮光判断的步骤，判断分别形成于多个所述投光部与多个所述受光部之间的多个光轴中的每个光轴是否为遮光状态；执行噪声抑制的步骤，在满足特定条件时，暂时地使所述遮光判断无效，所述特定条件是指，从外部的噪声抑制用设备输入的检测信号根据预先设定的序列而变化。所述执行噪声抑制的步骤包括：基于来自所述噪声抑制用设备的输出，开始进行噪声抑制的步骤；在进行噪声抑制的过程中，将来自所述噪声抑制用设备的所述检测信号的序列的顺序划分为多个阶段再进行判断的步骤；积累针对每一个阶段取得的测量信息，并且分析积累的所述测量信息的步骤；基于所述测量信息的分析结果，决定对于噪声抑制工作条件的最优的设定值的步骤。

若根据本发明，则由于将与噪声抑制功能相关的统计信息提示给用户，所以用户能够基于准确度较高的信息来设定噪声抑制序列。通过这样，能够避免因噪声抑制错误的发生而导致生产设备停止。另外，由于也不需要进行生产设备启动时的反复尝试，所以能够削减启动的工时。因此，能够改善生产性。

附图说明

图1为示意地示出本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统的结构例的图。

图2为示出在图1所示的结构中，工件的高度发生变化的例子的图。

图3为示出本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统的结构例的外观图。

图4为示出图3所示的多光轴光电传感器的结构的框图。

图5为示出噪声抑制传感器与噪声抑制用输入电路之间的连接的框图。

图6为示出图4的个人电脑的结构的图。

图7为用于说明利用本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统来执行的启动处理的基本流程的流程图。

图8为用于说明利用本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统来执行的噪声抑制处理的基本流程的流程图。

图9为说明图8所记载的噪声抑制序列执行处理(S14)的状态转变图。

图10为说明图9所记载的噪声抑制序列执行处理的一个例子的信号波形图。

图11为说明在图10所记载的噪声抑制序列执行处理中，积累的数据的一个例子的图。

图12为用于说明图11所记载的数据的图。

图13A、图13B为说明本发明的实施方式的数据分析处理的一个例子的图。

图14为说明本发明的实施方式的数据分析处理的另一个例子的图。

图15为示出画面显示的一个例子的图。

其中，附图标记说明如下：

1投光器，2受光器，3专用软线，4通信单元，5个人电脑，10、20显示灯，11发光元件，12驱动电路，13、25光轴顺序选择电路，14、29、39存储电路，15外部电源，16、26处理电路，17、27、37通信电路，18、28、38电源电路，19噪声抑制用输入电路，19A、19B或电路(OR电路)，21受光元件，22、24放大器，23开关，30监视器电路，31输出电路，32外部连接端子，34通信转换器，36控制电路，40噪声抑制判断部，51控制部，53存储部，55输入部，57显示部，59外部存储装置，61记录介质，100传感器系统，101通信用缆线，102分支连接器，A1、A2、B1、B2噪声抑制传感器，D箭头，LC检测区域，P、P1、P2托板，RD通道，SNS多光轴光电传感器，W工件，nA、nB输入端口。

具体实施方式

以下，参照附图，对本发明的实施方式详细地进行说明。此外，图中相同的附图标记表示的是相同的或者相当的部分。另外，在本说明书中，只要不是特别地需要，将表示光束的前进方向的虚线以及该光束表现为“光轴”。

图1为示意地示出本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统的结构例的图。参照图1，在本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统中，传感器装置实现为多光轴光电传感器SNS。工件W(检测对象)利用未图示的搬运装置在通道RD上搬运。多光轴光电传感器SNS具有隔着搬运工件W的通道RD而相向配备的投光器1和受光器2。在一个例子中，通道RD由带式传输机实现。

在图1中，使用箭头D示出搬运工件W的方向。此外，在图1所示的例子中，工件W以承载于托板P上的状态被搬运。

投光器1具有多个发光元件11(投光部)。受光器2具有多个受光元件21，该多个受光元件21为与发光元件11相向配置的受光部。受光器2具有与发光元件11相同数量的受光元件21(在图4中示出)。多个发光元件11与多个受光元件21以一对一的关系对准。因此，设定有由多个光轴构成的二维的检测区域LC。

在图1所示的例子中，在搬运工件W的方向上将检测区域LC的上游侧设定为“安全侧区域”，将检测区域LC的下游侧设定为“危险侧区域”。但是，“安全侧区域”以及“危险侧区域”的设定并不仅如这样地限定。例如，在有些情况下，在搬运工件W的方向上将检测区域LC的上游侧设定为“危险侧区域”，将检测区域LC的下游侧设定为“安全侧区域”。

在安全侧区域中，设有噪声抑制传感器A1、B1。在危险侧区域中，设有噪声抑制传感器B2、A2。在图1所示的例子中，噪声抑制传感器A1配置于搬运工件W的方向上噪声抑制传感器B1的上游侧。另一方面，噪声抑制传感器A2配置于搬运工件W的方向上噪声抑制传感器B2的下游侧。通过这样，即使在物体等在箭头D所示的方向的反方向上进入的情况下，多光轴光电传感器SNS也能够正确地检测该物体的进入。

噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2在一个例子中为透过型的光电传感器。在该情况下，各个噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2由隔着通道RD而相向的投光装置以及受光装置构成。因此虽然图1未示出，但是各个噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2在隔着通道RD的相反侧具有投光装置或者受光装置。

噪声抑制传感器的种类不仅限定于透过型的光电传感器。根据工件W的材质，能够使用反射型的光电传感器或者非接触式传感器等。或者，也可以使用除了传感器以外的具有检测物体的功能的设备。

来自多光轴光电传感器SNS的检测信号输入至设置于危险侧区域内的机械(例如生产设备)的电源供给电路(未图示)。在检测区域LC完全没有被遮光的情况下，从多光轴光电传感器SNS输出表示“非检测出”的状态的信号。作为一个例子，从多光轴光电传感器SNS输出H(逻辑高)电平的信号。在检测区域LC至少局部被遮光的情况下，多光轴光电传感器SNS的输出停止。换言之，检测信号从“非检测出”的状态切换至“检测出”的状态。作为一个例子，检测信号的电平从H电平切换至L(逻辑低)电平。

在投光器1以及受光器2的机壳的上部，能够分别设置用于与噪声抑制相关的报告的显示灯10、20。显示灯10、20在噪声抑制中点亮。在产生异常的情况下，显示灯10、20通过光的闪烁，来报告异常的发生。与噪声抑制相关的异常，不仅发生在噪声抑制中，在有些情况下也会在开始进行噪声抑制之前发生。就“异常”而言，例如，除了包含因登记的工件W以外的物体(例如人体)而导致发生的异常以外，还包含因传感器的设定的不完备以及工件W的速度或者姿势的变化等而导致发生的异常(噪声抑制错误)。

在本发明的实施方式中，在工件W通过检测区域LC的期间，将多光轴光电传感器SNS设定为噪声抑制状态。通过这样，在工件W通过检测区域LC的期间，多光轴光电传感器SNS的输出不停止。

图1所示的例子，多个光轴排列的方向为工件W的高度方向。伴随着近年来生产设备的多样化，在有些情况下，各种各样的形状的工件混在一起在通道RD上搬运。图2为示出在图1所示的结构中，工件的高度变化的例子的图。参照图2，在托板P1上没有承载工件。另一方面，在托板P2上承载有工件W。当托板P1通过检测区域时，和当托板P2(以及工件W)通过检测区域LC时，工件的高度发生变化。

图3为示出本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统的结构例的外观图。参照图3，多光轴光电传感器SNS具有：投光器1、受光器2、通信单元4。多光轴光电传感器系统100具有多光轴光电传感器SNS和个人电脑5。

多光轴光电传感器SNS具有投光器1、受光器2、通信用缆线101。投光器1与受光器2通过通信用缆线101连接。在通信用缆线101上，经由分支连接器102以及专用软线3连接有通信单元4。通信单元4连接于分支连接器102以及个人电脑5。

图4为示出图3所示的多光轴光电传感器SNS的结构的框图。参照图4，投光器1具有多个发光元件11。投光器1还具有：逐个驱动各发光元件11的驱动电路12、光轴顺序选择电路13、处理电路16、通信电路17、电源电路18、噪声抑制用输入电路19、存储电路14。

受光器2具有分别与多个发光元件11相对应设置的多个受光元件21。受光器2还具有：与各受光元件21相对应设置的放大器22以及开关23、光轴顺序选择电路25、处理电路26、向处理电路26输入用的放大器24、通信电路27、电源电路28、存储电路29、监视器电路30、输出电路31。

光轴顺序选择电路13按顺序将各发光元件11的驱动电路12连接到处理电路16。光轴顺序选择电路25按顺序将与各受光元件21相对应的放大器22以及开关23连接到处理电路26。

处理电路16、26由具备CPU以及存储器等的微型计算机等构成。处理电路16、26通过将每小时的受光量与预定的阈值相比较，判断各光轴为光入射/遮光中的哪一种状态。进一步地，每进行一轮(遍历)光轴的选择，处理电路16、26都综合每一条光轴的判断结果，来判断作为检测区域LC整体有无遮光。通信电路17、27为符合RS485(通信协议)的通信接口，控制投光器1与受光器2之间的信号的交换。

在存储电路14、29中，保存有同一个机壳内的处理电路16、26的动作所需要的程序、参数等。进一步地，在存储电路14、29中，设有用于积累在后述的数据积累以及分析处理中采集到的数据的区域。

输出电路31与组装在电源供给电路中的开关机构(未图示)连接，该电源供给电路经由外部连接端子32向危险区域内的机械供给电源。若来自输出电路31的输出信号为“非检测出”的状态(作为一个例子，为H电平)，则闭合开关机构以向危险区域内的机械供给电源。另一方面，若来自输出电路31的输出信号为“检测出”的状态(作为一个例子，为L电平)，则开关机构开放而机械停止。监视器电路30控制显示灯10、20的点亮。

电源电路18、28从公共的外部电源15(直流电源)接受电源的提供，并分别向投光器1和受光器2供给电源。

分支连接器102分支出投光器1与受光器2之间的通信线以及电源线。在专用软线3中收纳有分支出的通信线、电源线。在专用软线3上连接有通信单元4。通信单元4与个人电脑(在图4中表示为PC)5连接。

通信单元4具有：控制电路36、通信电路37、电源电路38、通信转换器35、存储电路39。通信电路37为RS485规格的接口。电源电路38经由分支连接器102接入来自外部电源15的电源，实现向通信单元4内的各部分供给的作用。通信转换器35将RS485规格的信号进行串行转换，以输出符合例如RS232C或者USB(Universal Serial Bus)等规格的信号。在存储电路39中，保存有控制电路36的动作所需要的程序、参数等。进一步地，在存储电路39中，设有用于积累在后述的数据积累以及分析处理中采集到的数据以及该数据的分析结果的区域。

光轴顺序选择电路13与光轴顺序选择电路25同步，多个发光元件11依次点亮，并且多个受光元件21依次输出受光信号。处理电路16、26通过通信电路17、27，使用于控制发光元件11和受光元件21的动作的信号同步。

如上述，投光器1与受光器2，利用通过通信用缆线101的通信相互同步。但是投光器1与受光器2也可以利用光通信相互同步。

噪声抑制用输入电路19接受来自噪声抑制传感器A1、B1、A2、B2(图1)的检测信号。图5为用于说明噪声抑制传感器与噪声抑制用输入电路的连接的电路图。如图5所示，噪声抑制用输入电路19具有输入端口nA、nB。

或电路19A接受来自噪声抑制传感器A1、A2的输出信号。当检查出工件W时，噪声抑制传感器A1、A2输出H电平的信号；另一方面，当没有检查出工件W时，噪声抑制传感器A1、A2输出L电平的信号。或电路19A生成2个信号的逻辑和，并向输入端口nA输出信号。

或电路19B接受来自噪声抑制传感器B1、B2的输出信号。当检查出工件W时，噪声抑制传感器B1、B2输出H电平的信号；另一方面，当没有检查出工件W时，噪声抑制传感器B1、B2输出L电平的信号。或电路19B生成2个信号的逻辑和，并向输入端口nB输出信号。

以下，将从噪声抑制传感器A1、A2经由或电路19A以及输入端口nA输入至噪声抑制用输入电路19的信号称为“MUTE A(噪声抑制输入A)”。另一方面，将从噪声抑制传感器B1、B2经由或电路19B以及输入端口nB向噪声抑制用输入电路19输入的信号称为“MUTE B(噪声抑制输入B)”。

噪声抑制用输入电路19将MUTE A以及MUTE B向噪声抑制判断部40传输。噪声抑制判断部40基于从噪声抑制用输入电路19输入的信号MUTEA以及MUTE B，生成用于开始进行噪声抑制处理的触发信号。噪声抑制判断部40将生成的触发信号赋予噪声抑制处理部。如后述，噪声抑制处理部基于触发信号，执行使得利用多光轴光电传感器SNS的检测信号(遮光判断)无效化的噪声抑制处理。进一步地，噪声抑制判断部40将来自噪声抑制用输入电路19的信号MUTE A以及MUTE B的序列的顺序划分为多个阶段再进行监视，判断在每一个阶段信号MUTE A以及MUTE B是否根据预先设定的序列而变化。

返回图4，个人电脑5显示例如经由通信单元4而接受到的数据。个人电脑5也可以显示设定于多光轴光电传感器SNS的各种参数等。也可以是除了个人电脑5以外，或者取代个人电脑5，将显示上述的各种信息的其他显示装置(例如专用控制台)与通信单元4连接。

图6为示出图4的个人电脑5的结构的图。参照图6，个人电脑5具有：用于控制整体的控制部51、用于输入数据的输入部55、用于暂时地存储数据的存储部53、用于输出数据的显示部57、用于非易失地存储用于通过控制部51执行的程序等的外部存储装置59。

控制部51具有：CPU、用于存储用于通过该CPU执行的程序的读出专用存储器(ROM)、用于存储通过CPU执行程序时所必需的变量等的随机访问存储器(RAM)。

输入部55为键盘或者鼠标等，能够进行文字或者数字的输入或者预定的指示命令的输入。另外，输入部55接受从通信单元4传输来的数据。

存储部53暂时存放在多光轴光电传感器SNS的设定中所必需的各种数据等。

显示部57为液晶显示装置等显示器，根据控制部51的指示来显示各种信息。在显示部57所显示的信息中包含：例如多光轴光电传感器SNS的动作结果、在后述的噪声抑制序列执行处理的执行中积累的数据以及该数据的分析结果等。

外部存储装置59读入在处理器可读取的记录介质61中记录的程序、数据，并发送至控制部51。作为处理器可读取的记录介质61，有磁带、盒式磁带等带式，磁盘(软盘、硬盘装置等)、光盘(CD－ROM/DVD等)等盘式，IC卡(包含存储器卡)或者光卡等卡式，或者掩膜ROM，EPROM、快速存储器等半导体存储器等，均为固定保持程序的介质。此外，程序也可以从网络(未图示)下载。控制部51通过利用外部存储装置59读取在记录介质61中记录的程序，能够执行读取到的程序。

使PC5(处理器)执行本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统的控制方法所包括的各步骤的程序，包含于例如记录介质61所记录的程序中。但是，存储使PC5(处理器)执行多光轴光电传感器系统的控制方法所包括的各步骤的程序的装置不是特定的。例如，可以记录于投光器1的存储电路14、受光器2的存储电路29以及通信单元4的存储电路39的任一者中。另外，执行多光轴光电传感器系统的控制方法所包括的各步骤的处理器，并不特定为如PC5那样的计算机。例如，也可以由具有连接到网络(未图示)的功能的移动终端装置来执行。

在本发明的实施方式中，通过来自显示部57的画面显示能够将数据输出至多光轴光电传感器系统100的外部。数据可以输出至外部存储装置59或者记录介质61，也可以通过印刷装置打印输出。

另外，在本发明的实施方式中，基于来自受光元件21的受光信号来判断在各光轴上有无遮光的遮光判断部，能够通过例如光轴顺序选择电路25、处理电路26或者该两者实现。

进一步地，多光轴光电传感器系统100具有噪声抑制处理部，该噪声抑制处理部进行如下处理：以与多光轴光电传感器SNS的多个光轴中的全部或者一部分相关的，从外部的噪声抑制用设备输入的检测信号按照预先设定的序列而变化作为条件，使遮光判断无效化。噪声抑制处理部具有：噪声抑制开始判断部，其基于来自外部的噪声抑制用设备的输出，使噪声抑制开始进行；噪声抑制判断部40，在噪声抑制的执行过程中，将来自该噪声抑制用设备的检测信号的序列的顺序分为多个阶段并进行判断(图5)。

多光轴光电传感器系统100具有的遮光判断部以及噪声抑制处理部，能够利用例如受光器2侧的处理电路26、投光器1侧的处理电路16实现。例如噪声抑制处理部能够利用个人电脑5实现。但是，噪声抑制处理部即使配置于多光轴光电传感器SNS的内部，也能够达到本发明的结构以及作用效果。另外，在1个处理电路(控制电路)中也可以综合遮光判断部以及噪声抑制处理部。进一步地，可以将遮光判断部以及噪声抑制处理部综合于1个处理电路(控制电路)中。

图7为用于说明利用本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统100执行的启动处理的基本流程的流程图。此外，在图7以及其他的附图中记载的处理通过与多光轴光电传感器系统100的控制相关的功能模块来执行。因此，并不限定于只有特定的功能模块才执行在以下进行说明的处理。即，流程图的各步骤的处理能够利用例如通信单元4的控制电路36、处理电路16、26以及个人电脑5中的任一者执行。

参照图7，通过例如向多光轴光电传感器SNS接通电源来开始进行启动处理。首先，判断噪声抑制功能是否有效(步骤S1)。此外，由于各种功能的有效或者无效的判断能够通过公知的各种方法来实现，所以不重复进行详细的说明。例如，通过参照开关的设定、在装置内部存储的参数的值，能够判断各种功能的有效或者无效。

在噪声抑制功能有效的情况下(在步骤S1中为是)，设定多光轴光电传感器SNS以使得其执行噪声抑制处理(步骤S2)。在噪声抑制功能无效的情况下(在步骤S1中为否)，设定多光轴光电传感器SNS以使得其不执行噪声抑制处理(步骤S4)。通过这样，启动处理结束，以后执行非噪声抑制处理(步骤S5)。

在通过步骤S2将多光轴光电传感器SNS设定为使得其执行噪声抑制处理的情况下，执行噪声抑制初始化处理(步骤S3)。伴随着例如噪声抑制的初始化，执行各种检查。当噪声抑制初始化处理结束时，启动处理结束。以后，执行通常的噪声抑制处理。

[噪声抑制处理]

图8为用于说明利用本发明的实施方式的传感器系统100执行的噪声抑制处理的基本流程的流程图。参照图8，执行噪声抑制初始检查(步骤S11)。

接着，判断噪声抑制功能是否有效(步骤S12)。在噪声抑制功能无效的情况下(在步骤S12中为否)，结束噪声抑制处理。在噪声抑制功能有效的情况下(在步骤S12中为是)，更新噪声抑制输入状态(步骤S13)。例如确认噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2的状态。

接下来，执行噪声抑制序列执行处理(步骤S14)。例如执行划分出的各个噪声抑制序列处理。进一步地，在该噪声抑制序列处理的执行中，采集并积累与多光轴光电传感器SNS的检测信号以及噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2的检测信号相关的数据(测量信息)，并且对积累的数据进行分析。对噪声抑制序列处理以及数据的积累以及分析处理在后文进行说明。

接下来，设立噪声抑制序列错误日志(步骤S15)。具体地，在发生了噪声抑制序列的错误的情况下，根据该错误，进行利用显示灯的显示以及/或者错误内容的记录等。

[噪声抑制序列执行处理]

图9为说明图8所记载的噪声抑制序列执行处理(S14)的状态转变图。参照图9，首先，最初的状态为在噪声抑制的禁止状态中，MUTE A的开启(ON)的等待状态(状态SA)。

当在噪声抑制传感器A1、A2中的任一者(例如噪声抑制传感器A1)中检查出工件W检测时，MUTE A开启。通过这样，从状态SA转变至状态SB。状态SB为在MUTE A开启后的MUTE B的等待开启的状态。

接着，当在噪声抑制传感器B1、B2中的任一者(例如噪声抑制传感器B1)中检查出工件W时，通过MUTE B开启，变为噪声抑制许可状态。通过这样，从状态SB转变为状态SC。状态SC为在MUTE B开启后的多光轴光电传感器SNS的等待遮光的状态。

接下来，当在多光轴光电传感器SNS上检查出遮光时，从状态SC转变为状态SD。状态SD为噪声抑制状态的等待禁止的状态。

当噪声抑制传感器B1、B2中的任一者上都没有检查出工件W时，通过MUTE B关闭，解除噪声抑制状态而变为噪声抑制禁止状态。通过这样，从状态SD转变为状态SE。状态SE为噪声抑制状态解除后的等待初始状态的状态。然后，向等待初始条件成立的状态(状态SF)转变。

在上述的状态SA～SE中的任一者中发生序列错误的情况下，将当前的状态转变到状态SG。状态SG为在发生序列错误后，等待初始状态的状态。然后，向等待初始条件成立的状态转变。

[数据的积累以及分析处理]

在本发明的实施方式的多光轴光电传感器系统100中，噪声抑制判断部40(图5)执行在图9中记载的噪声抑制序列执行处理的过程中，采集并积累基于来自多光轴光电传感器SNS的检测信号以及噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2的检测信号的数据(测量信息)。

在本发明的实施方式中，用于积累采集到的数据的存储装置不是特定的。例如，投光器1的存储电路14、受光器2的存储电路29以及通信单元4的存储电路39中的任一者都可以积累数据。或者，在PC5的外部存储装置59或者记录介质61中也可以积累数据。

进一步地，噪声抑制判断部40分析在存储装置中积累的数据，并向用户提示该分析结果。另外，也能够将该分析结果与数据一起积累于存储装置中。

在本发明的实施方式中，噪声抑制判断部40能够利用例如受光器2侧的处理电路26实现。但是，噪声抑制判断部40也可以利用例如投光器1侧的处理电路16、通信单元4的控制电路36或者个人电脑5实现。如这样地，即使噪声抑制判断部40没有配置于多光轴光电传感器SNS内部，也能够达到本发明的结构以及效果。

在本发明的实施方式中，提示分析结果的提示部能够利用例如来自个人电脑5的显示部57的画面显示来实现。此外，只要提示部构成为能够将分析结果输出至多光轴光电传感器系统100的外部，则不限定于该手段。例如，分析结果可以利用印刷装置打印输出，也可以输出至外部存储装置59或者记录介质61。或者，也能够将分析结果输出至作为移动设备、生产设备的控制装置的控制器，或者输出至管理生产设备的网络。

以下，参照图10以及图11，说明在执行噪声抑制序列执行处理的过程中所积累的数据。

图10为说明在图9中记载的噪声抑制序列执行处理的一个例子的信号波形图。参照图10，在时刻t1以前，工件W没有到达噪声抑制传感器A1的位置。因此，噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2中的任一者都没有检查出工件W。噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2中的任一者都输出L电平的信号。因此，MUTE A以及MUTEB的信号电平均为L电平。换言之，MUTE A以及MUTEB均为关闭状态(图9所示的状态SA)。

在时刻t1，噪声抑制传感器A1检查出工件W。通过这样，从噪声抑制传感器A1输出的信号从L电平变化为H电平。因此，MUTE A的信号电平从L电平变化为H电平。换言之，在时刻t1，MUTE A开启(图9所示的状态SB)。

在时刻t2，噪声抑制传感器B1检查出工件W。通过这样，从噪声抑制传感器B1输出的信号从L电平变化为H电平。因此，MUTE B的信号电平从L电平变化为H电平。换言之，在时刻t2MUTE B开启(图9所示的状态SC)。

在时刻t2，MUTE A以及MUTE B都为开启状态，因此多光轴光电传感器系统100变为噪声抑制许可状态。因此，从时刻t2开始进行噪声抑制(图9所示的状态SC)。

在时刻t3，工件W遮断检测区域LC的光轴。多光轴光电传感器SNS的检测部检查出检测区域LC的至少1个光轴被遮断。通过这样，从多光轴光电传感器SNS的检测部输出的信号从“非检测出”的状态变化为“检测出”的状态。从时刻t3开始，变为等待解除噪声抑制许可状态(噪声抑制状态的等待禁止)的状态(图9所示的状态SD)。

在时刻t4，噪声抑制传感器B2检查出工件W。通过这样，从噪声抑制传感器B2输出的信号从L电平变化为H电平。因此，MUTE B的信号电平维持在H电平。

接下来在时刻t5，噪声抑制传感器A2检查出工件W。通过这样，从噪声抑制传感器A2输出的信号从L电平变化为H电平。因此，MUTE A的信号电平维持在H电平。

当工件W通过噪声抑制传感器A1的位置时，利用噪声抑制传感器A1进行的工件W的检测结束，从噪声抑制传感器A1输出的信号从H电平变化为L电平。对于噪声抑制传感器B1也是同样。

在时刻t6，工件W已经通过完了检测区域LC。从多光轴光电传感器SNS输出的信号从“检测出”的状态变化为“非检测出”的状态。

当在时刻t7，工件W通过噪声抑制传感器B2的位置时，利用噪声抑制传感器B2进行的工件W的检测结束，从噪声抑制传感器B2输出的信号从H电平变化为L电平。通过这样，MUTE B的信号电平从H电平变化为L电平。换言之，在时刻t7，MUTE B关闭。在时刻t7以后，解除噪声抑制许可状态，变为噪声抑制禁止状态(图9所示的状态SE)。

在时刻t8，工件W通过噪声抑制传感器A2的位置时，利用噪声抑制传感器A2进行的工件W的检测结束，从噪声抑制传感器A2输出的信号从H电平变化为L电平。通过这样，MUTE A的信号电平从H电平变化为L电平。换言之，在时刻t8，MUTE A关闭。

图11为说明在图10中记载的噪声抑制序列执行处理中积累的数据的一个例子的图。参照图11，在噪声抑制序列执行处理中，基于噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2的检测信号以及多光轴光电传感器SNS的检测信号，采集并积累与噪声抑制序列有关的各种各样的数据。

例如在图11中，作为数据No.1，采集并积累表示以下时间的数据：从MUTE A开启的时刻(即，当噪声抑制传感器A1检查出工件W的时刻)到MUTE开启的时刻(即，当噪声抑制传感器B1检查出工件W的时刻)为止的时间。作为数据No.1而积累的时间，相当于图10中的从时刻t1到时刻t2的时间。

作为数据No.2，采集并积累表示以下时间的数据：从MUTE B开启的时刻直到多光轴光电传感器SNS的检测信号从“非检测出”变化为“检测出”的时刻(即，多光轴光电传感器SNS检查出工件W的时刻)为止的时间。作为数据No.2而积累的时间，相当于图10中的从时刻t2到时刻t3的时间。

作为数据No.3，采集并积累表示以下时间的数据：从多光轴光电传感器SNS的检测信号从“检测出”变化为“非检测出”的时刻(即，工件W通过完检测区域LC的时刻＝多光轴光电传感器SNS检测不到工件W的时刻)直到MUTE B关闭的时刻(即，完成利用噪声抑制传感器B2进行的工件W的检测的时刻)为止的时间。作为数据No.3而积累的时间相当于图10中的从时刻t6到时刻t7的时间。

作为数据No.4，采集并积累表示以下时间的数据：从MUTE B关闭的时刻(即，完成利用噪声抑制传感器B2进行的工件W的检测的时刻)直到MUTE A关闭的时刻(即，完成利用噪声抑制传感器A2进行的工件W的检测的时刻)为止的时间。作为数据No.4而积累的时间相当于图10中的从时刻t7到时刻t8的时间。

作为数据No.5，采集并积累表示以下时间的数据：从多光轴光电传感器SNS的检测信号从“非检测出”变化为“检测出”的时刻直到该检测信号从“检测出”变化为“非检测出”的时刻。作为数据No.3而积累的时间相当于图10中的从时刻t3到时刻t6的时间。该时间为工件W通过检测区域LC的时间，也是多光轴光电传感器SNS检测工件W的时间。

如图12所示，数据No.6面向连结多个多光轴光电传感器SNS的投光器1之间并且连结受光器2之间的结构。在图12中，虽然连结3台多光轴光电传感器SNS，但是并不限于此。在该情况下，将多个多光轴光电传感器SNS看作是1个多光轴光电传感器。在该1个多光轴光电传感器正在检测工件W时，在正在实际检测工件W的至少1个多光轴光电传感器SNS中，将用于识别位于最下方的多光轴光电传感器SNS(图12的情况，从上数第3个多光轴光电传感器SNS)的号码作为数据No.6积累。

数据No.7为当1台多光轴光电传感器SNS正在检测工件W时，在因工件W的通过而导致遮断的至少1条光轴中，表示位于最下方的光轴的号码的数据。

数据No.8为表示用于识别以下多光轴光电传感器SNS的号码的数据，该多光轴光电传感器SNS是指，在多个多光轴光电传感器SNS相连结而作为1个多光轴光电传感器来使用的结构中，在正在实际检测工件W的至少1个多光轴光电传感器SNS中，位于最上方的多光轴光电传感器SNS(在图12的情况下，从上数第1个多光轴光电传感器SNS)。

数据No.9是指，当1台多光轴光电传感器SNS正在检测工件W时，在因工件W的通过而导致遮断的至少1个光轴中，表示位于最上方的光轴的号码的数据。参照图12，对从上数第1个的多光轴光电传感器SNS来讲，因工件W的通过而导致的从下数第1个到第5个光轴被遮断。作为数据No.9，积累其中表示位于最上方的第5个光轴的数据。上述的数据No.6以及No.7表示被工件W遮光的区域的上端的位置，数据No.8以及No.9为表示被工件W遮光的区域的下端的位置的数据。基于数据No.6～No.9能够求解工件W的高度。

如以上所述，噪声抑制判断部40在执行噪声抑制序列处理的过程中，采集基于多光轴光电传感器SNS的检测信号以及噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2的检测信号来表示噪声抑制序列的动作的多个数据，并将采集的数据积累于存储装置中。在该存储装置中积累的数据在预先设定的时刻进行更新。例如，可以以如几个小时的周期的规定周期来定期进行更新。或者，也可以在从多光轴光电传感器系统100的外部输入更新的指令的时机进行更新。

而且，噪声抑制判断部40分析在存储装置中积累的数据，利用提示部向用户提示该分析结果。在分析中，通过例如对积累的预定量的数据实施统计处理，求出数据的偏差状态。用户基于提示的分析结果，能够比较预先设定的噪声抑制序列与实际的噪声抑制序列的动作。通过这样，由于用户使噪声抑制功能适当地工作，所以能够使噪声抑制序列最优化。

以下，参照图13A、图13B以及图14，说明本发明的实施方式的数据分析处理的一个例子。图13A为示出在生产设备中执行实验性地进行工件W的搬运的试运行时的噪声抑制时间的分布的图。该“噪声抑制时间”相当于，从MUTE B开启的时刻(图10的时刻t2)直到多光轴光电传感器SNS检查出工件W的时刻(图10的时刻t3)为止的时间，是作为图11所示的数据No.2而积累的时间。

参照图13A，噪声抑制时间的偏差服从正态分布。该偏差因例如在工件W的搬运中发生搬运速度的偏差或者工件W的振动而产生。因此，在噪声抑制序列中，考虑搬运速度的偏差或者振动的程度以使得允许搬运速度的偏差或者工件W的振动，来设定噪声抑制时间的上限值。在超过该上限值而噪声抑制状态还在延续的情况下，判断为除工件W以外的物体进入检测区域LC，并停止生产设备的动作。

图13A中记载的数值T2，在开始进行试运行之前就预先设定，并表示噪声抑制时间的上限值的初始值。如图13A所示，初始值T2设定为具有余量，以使得考虑到噪声抑制时间的偏差，在工件W的搬运中确实地变为噪声抑制状态。但是，当相对于实际噪声抑制时间的偏差的余量过大时，噪声抑制时间会不必要地变长。因此，有可能即使在噪声抑制状态持续过程中除工件W以外的物体进入检测区域LC的情况下，光轴光电传感器SNS也会多无法正确检测出该物体的进入。

在本发明的实施方式中，噪声抑制判断部40分析实际的噪声抑制时间的偏差，并将分析结果与噪声抑制时间的初始设定值T2一起提示。通过这样，用户能够判断初始设定值T2基于实际的偏差是否适当。进一步地，用户能够基于该提示，将噪声抑制时间调整为适当的值。

进一步地，噪声抑制判断部40能够基于分析结果，决定对于噪声抑制工作条件的最优的设定值。具体地，噪声抑制判断部40基于分析结果，执行噪声抑制序列的最优化以使得满足预先设定的条件。基于例如图13A所示的分析结果，噪声抑制判断部40计算适当的噪声抑制时间。而且，如图13B所示，噪声抑制判断部40能够将计算结果作为噪声抑制时间的适当值向用户提示。此外，当执行该最优化处理时，用户能够从生产设备的生产性以及安全性的观点出发，预先设定期望的条件(余量的程度等)。

此外，上述的数据的积累以及分析处理不仅是在试运行中，在生产设备的运转中也能够执行。通过这样，即使是在生产设备的运转中因发生噪声抑制错误而导致生产设备停止的情况下，用户也能够通过参照在存储装置中积累的数据以及分析结果，来验证噪声抑制错误的发生原因。因此，能够减轻用户的试行(试验)错误的负担，能够从噪声抑制错误的发生在短时间内恢复生产设备。

图14为示出在生产设备的运转中的噪声抑制传感器的检测动作的时间差(以下，也称为“检测时间差”)的分布的图。该检测时间差是指，MUTEA开启的时刻(图10的时刻t1)与MUTE B开启的时刻(图10的时刻t2)的时间差。即，检测时间差为当噪声抑制传感器A1检查出工件W的时刻与当噪声抑制传感器B1检查出工件W的时刻的时间差。检测时间差相当于从上述的噪声抑制传感器A1检查出工件W直到噪声抑制传感器B1检查出工件W为止的工件W的通过时间。检测时间差主要是取决于噪声抑制传感器A1以及噪声抑制传感器B1间的距离以及工件W的搬运速度。

参照图14，检测时间差的偏差服从正态分布。该偏差例如因噪声抑制传感器的设置状态、工件W的搬运速度的偏差、工件W的振动等而产生。在噪声抑制序列中，对检测时间差设置允许范围，以允许噪声抑制传感器的设置状态、搬运速度的偏差以及工件W的振动。

在图14中记载的数值T1min表示检测时间差的允许范围的下限值的初始值，数值T1max表示检测时间差的允许范围的上限值的初始值。允许范围必需设定为使得弥补检测时间差的偏差。但是，实际的检测时间差超出允许范围的上限值的初始值T1max而分布。因此，即使工件W正在通过检测区域LC，也会因判断为除工件W以外的物体进入检测区域LC，而停止生产设备。

噪声抑制判断部40分析实际的噪声抑制传感器的检测时间差，并将分析结果与该检测时间差的允许范围的初始设定值T1min、T1max一起提示。通过这样，用户能够判断允许范围的初始设定值T1min、T1max基于实际的偏差是否适当。进一步地，用户基于该提示，能够将允许范围调整为适当的值。

此外，虽然图示省略，但是在图14中与图13B同样地，噪声抑制判断部40能够基于分析结果计算适当的检测时间差的允许范围，并将该计算结果向用户提示。在图14的例子中，将比检测时间差的最大值更大的值作为允许范围的上限值T1max的适当值向用户提示。该上限值T1max相当于，从噪声抑制传感器A1检查出工件W直到噪声抑制传感器B1检查出工件W为止的工件W的通过时间的上限值。

图13A、图13B以及图14所示的分析结果利用例如来自个人电脑5的显示部57的显示画面，来向用户提示。图15为示出显示画面的一个例子的图。

参照图15，在画面的左上部分，将工件W的搬运方向上的长度(Worklength)以及工件W的搬运速度(Speed)作为用户预先设定输入的参数表示出。在画面的左下部分示意地示出，噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2以及多光轴光电传感器SNS相对于工件W的搬运路径的位置关系。在该示意图中，用圆围住的数字“1”表示噪声抑制传感器A1、A2，用圆围住的数字“2”表示噪声抑制传感器B1、B2。另外，区间A表示从噪声抑制传感器A1到噪声抑制传感器B1的区间，区间B表示从噪声抑制传感器B1到多光轴光电传感器SNS的区间。用方形围住的文字“C”表示多光轴光电传感器SNS。

在图15的显示画面中显示，在噪声抑制序列处理的执行中，基于噪声抑制传感器A1、A2、B1、B2的检测信号以及多光轴光电传感器SNS的检测信号的实时的数据。作为一个例子，在画面的区域(1)中显示噪声抑制传感器的检测时间差以及噪声抑制时间的实时数据。在执行噪声抑制序列处理的过程中，将这些数据显示在画面上，并且积累在存储装置中。

另外，在显示画面中显示分析存储装置中积累的数据的结果。作为分析结果的一个例子，在画面的区域(2)中显示噪声抑制传感器的检测时间差的分布以及噪声抑制延续时间的分布。此外，在噪声抑制传感器的检测时间差的分布中，一起显示出在当前的噪声抑制序列处理中的检测时间差的允许范围(上限值T1max，下限值T1min)。在噪声抑制时间的分布中，一起显示出在当前的噪声抑制序列处理中的噪声抑制时间的上限值T2。

作为分析结果的另一个例子，在画面的区域(3)中显示工件W的高度(Work height)的分布。能够基于数据No.6～No.9(图11)所示的被工件W遮光的区域来求出工件W的高度。在该例子中，工件W的高度的偏差也服从正态分布。该偏差通过例如工件W的搬运速度的偏差、在工件W的搬运中发生工件W的振动而产生。

在图15的显示画面中还显示基于上述的分析结果通过执行噪声抑制序列的最优化而得到的最优值。作为最优值的一个例子，在画面的区域(4)中显示设定噪声抑制传感器的检测时间差的允许范围的上限值T1max以及下限值T1min的最优值。另外，显示了噪声抑制时间的上限值T2的最优值。进一步地，还显示了多光轴光电传感器SNS检测工件W的时间的上限值T3的最优值。该多光轴光电传感器SNS检测工件W的时间为工件W通过检测区域LC的时间，相当于从图10中的时刻t3到时刻t6的时间。

如这样地，在个人电脑5的显示部57中显示基于实时的数据、该数据的分析结果以及分析结果的最优值。通过这样，用户能够容易地将噪声抑制序列符合所期望的最优值。用户在通过试运行设定了噪声抑制序列之后，为了再度确认而使生产设备运转。然后，当确认了多光轴光电传感器系统100的噪声抑制功能根据设定的噪声抑制序列而进行工作时，用户就使生产设备正式运转。

[本实施方式的作用效果]

若根据本发明的实施方式，则由于将与噪声抑制功能相关的统计信息向用户提示，所用户能够基于确度较高的信息来设定噪声抑制序列。通过这样，能够避免因噪声抑制错误的发生而导致生产设备的停止。另外，由于不需要进行生产设备的启动时的试行错误，所以能够削减启动的工时。因此，能够改善生产性。

另外，在现有技术的多光轴光电传感器中，当设定噪声抑制序列时，由于从确保生产性的观点出发而在噪声抑制错误的判断条件上保持过度的余量，所以存在生产设备能够实现的安全性下降的问题。若根据本发明的实施方式，由于能够基于实际的噪声抑制序列的动作而设定适当的余量，能够构建可以兼具生产性和安全性的多光轴光电传感器系统。

[其他的实施方式]

本发明的多光轴光电传感器系统通过以下所示的实施方式也能够得到与上述的实施方式同样的作用效果。

(1)在本发明的噪声抑制判断部中，用户能够设定在执行噪声抑制序列执行处理的过程中所采集以及积累的数据。例如，也可以使用个人电脑5的输入部55(图6)，以使得用户能够设定输入想要积累的数据。另外，噪声抑制判断部能够将数据以及分析结果积累于存储装置中，并且在预先设定的时机更新在存储装置中积累的数据以及分析结果。例如，在存储器容量比较小的存储电路14、29、39(图4)中，以一定周期积累数据以及分析结果，当存储器容量变满时覆盖更新旧的数据以及分析结果。另一方面，在存储器容量比较大的外部存储装置59以及记录介质61(图6)中，则继续保存更新全部的数据以及分析结果。

(2)就本发明中的噪声抑制判断部执行的数据分析来讲，用户能够设定分析方法以及条件。在上述的实施方式中，作为分析方法，尽管例示了生成表示数据分布状态的直方图的结构，但是也能够为求出数据的正态分布、数据的最大值/最小值、平均值以及最常见的值等的结构。或者，也能够不分析积累的数据就保持原样地进行提示该数据。另外，用户能够可变地设定分析期间，以使得能够掌握噪声抑制功能的作动状态的趋势分析、长期倾向。

就分析的条件来讲，能够设定用于从积累的数据中去除表示明显的异常值的数据的过滤处理的条件。该过滤处理的条件可以在开始进行数据的积累之前预先设定，也可以为用户参照积累的数据手动地去除异常值。

(3)就本发明中的数据分析来讲，在上述的实施方式中，虽然对噪声抑制判断部基于分析结果而执行噪声抑制序列的最优化的结构进行了说明，但是，用于决定最优值的条件能够由用户设定。另外，在数据分析中，就当前设定的余量来讲，能够从生产性以及安全性的观点出发评估是否适当。提示部将评估结果与分析结果一起向用户提示。

(4)也可以使得本发明中的噪声抑制判断部能够自动地使实际的设定反映出最优化的噪声抑制序列。

(5)本发明中的噪声抑制判断部能够将在存储装置中积累的分析结果以及最优化的噪声抑制序列以工件单位(检测对象单位)进行备份。具体地，通过对所更换的每一种产品都保存分析结果以及最优化的噪声抑制序列，来在制造装置中搬运与以前搬运的工件形状相同的工件的情况下，能够读出并使用保存的分析结果以及噪声抑制序列。

(6)本发明的多光轴光电传感器系统也能够适用于工件的形状发生变化的应用。具体地，噪声抑制处理部在噪声抑制序列执行处理中，能够根据工件的形状来切换使用多个序列。在该情况下，噪声抑制判断部能够对每一个工件分类并积累数据以及分析结果。另外，提示部能够对每一个工件分类并提示数据以及分析结果。

(7)在本发明的多光轴光电传感器系统中具有检测以下异常的结构：存储装置所积累的数据中包含明显的异常值的情况或者积累的数据量较少等异常。在检查出这些异常的情况下，能够使用例如多光轴光电传感器SNS的显示灯10、20(图1)等向用户报告异常。

(8)本发明的多光轴光电传感器系统也能够适用于，连结多个多光轴光电传感器SNS的投光器1之间并且连结受光器2之间的结构。在如这样的结构中，用户能够选择噪声抑制判断部是将每一个多光轴光电传感器SNS逐个作为进行数据的积累以及分析的对象，还是将多个多光轴光电传感器SNS整体作为进行数据的积累以及分析的对象。也可以是，例如，用户能够使用个人电脑5的输入部55(图6)，选择成为数据的积累以及分析的对象的多光轴光电传感器SNS。

本发明披露的实施方式为例示，并不仅限定于上述内容。本发明的范围由权利要求的范围来表示，并想要包含与权利要求的范围均等的意思以及范围内的全部的变更。

Claims (15)

1.一种多光轴光电传感器系统，检测由搬运装置搬运的检测对象，其特征在于，

所述多光轴光电传感器系统具有：

投光器，具有排列配置为直线状的多个投光部，

受光器，具有与多个所述投光部分别相向配置的多个受光部，

遮光判断部，进行遮光判断，用于判断分别形成于多个所述投光部与多个所述受光部之间的多个光轴中的每个光轴是否为遮光状态，

噪声抑制处理部，在满足特定条件时，暂时地使所述遮光判断无效，所述特定条件是指，从外部的噪声抑制用设备输入的检测信号根据预先设定的序列而变化；

所述噪声抑制处理部具有：

噪声抑制开始判断部，基于来自所述噪声抑制用设备的输出，开始进行噪声抑制，

噪声抑制判断部，在进行噪声抑制的过程中，将来自所述噪声抑制用设备的所述检测信号的序列的顺序划分为多个阶段再进行判断；

所述噪声抑制判断部，积累针对每一个阶段取得的测量信息，并且分析所积累的所述测量信息；

所述噪声抑制处理部，基于来自所述噪声抑制判断部的分析结果，决定对于噪声抑制工作条件最优的设定值。

2.如权利要求1所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述噪声抑制判断部，能够将所述分析结果与所述测量信息一起积累，并在预先设定的时机更新所积累的所述测量信息以及所述分析结果。

3.如权利要求2所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述噪声抑制判断部，能够将所述最优的设定值与所述测量信息以及所述分析结果一起积累，并以检测对象为单位来备份所述分析结果以及所述最优的设定值。

4.如权利要求1～3中的任一项所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

还具有用于接受来自用户的设定输入的输入部，

所述输入部，接受与所述噪声抑制判断部所积累的所述测量信息相关的设定。

5.如权利要求4所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述输入部，接受与所述噪声抑制判断部中的分析方法或者分析条件相关的设定。

6.如权利要求4所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述输入部，接受与所述噪声抑制处理部为了决定所述最优的设定值而使用的条件相关的设定。

7.如权利要求4～6中的任一项所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述投光器，在与所述光轴垂直的方向上被连结有多个，

所述受光器，在与所述光轴垂直的方向上被连结有多个，并且分别与多个所述投光器相向，

所述输入部，接受成为所述噪声抑制判断部的对象的至少1个所述投光器以及所述受光器的选择。

8.如权利要求1～7中的任一项所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

还具有提示部，

该提示部用于将所述分析结果或者所述最优的设定值提示给用户。

9.如权利要求1～8中的任一项所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述噪声抑制处理部，自动地使所述序列反映所述最优的设定值。

10.如权利要求1所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，

所述噪声抑制处理部，能够根据检测对象的形状切换使用多个所述序列，

所述噪声抑制判断部，对每一个检测对象执行所述测量信息的积累及分析。

11.如权利要求10所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，还具有：

输入部，用于接受来自用户的设定输入，

提示部，用于将所述分析结果或者所述最优的设定值提示给用户；

所述输入部，接受与使所述提示部进行提示的检测对象的分类相关的设定。

12.如权利要求1～11中的任一项所述的多光轴光电传感器系统，其特征在于，还具有

报告部，用于检测在所述噪声抑制判断部所积累的所述测量信息中的异常并向用户报告。

13.一种多光轴光电传感器系统的控制方法，所述多光轴光电传感器系统检测由搬运装置搬运的检测对象，其特征在于，

所述多光轴光电传感器系统具有：

投光器，具有排列配置为直线状的多个投光部，

受光器，具有分别与多个所述投光部相向配置的多个受光部；

所述控制方法包括：

进行遮光判断的步骤，判断分别形成于多个所述投光部与多个所述受光部之间的多个光轴中的每个光轴是否为遮光状态，

执行噪声抑制的步骤，在满足特定条件时，暂时地使所述遮光判断无效，所述特定条件是指，从外部的噪声抑制用设备输入的检测信号根据预先设定的序列而变化；

所述执行噪声抑制的步骤包括：

基于来自所述噪声抑制用设备的输出，开始进行噪声抑制的步骤，

在进行噪声抑制的过程中，将来自所述噪声抑制用设备的所述检测信号的序列的顺序划分为多个阶段再进行判断的步骤，

积累针对每一个阶段取得的测量信息，并且分析积累的所述测量信息的步骤，

基于所述测量信息的分析结果，决定对于噪声抑制工作条件的最优的设定值的步骤。

14.一种程序，控制多光轴光电传感器系统，所述多光轴光电传感器系统检测由搬运装置搬运的检测对象，其特征在于，

所述多光轴光电传感器系统具有：

投光器，具有排列配置为直线状的多个投光部，

受光器，具有分别与多个所述投光部相向配置的多个受光部；

所述程序使处理器执行如下步骤：

进行遮光判断的步骤，判断分别形成于多个所述投光部与多个所述受光部之间的多个光轴中的每个光轴是否为遮光状态，

执行噪声抑制的步骤，在满足特定条件时，暂时地使所述遮光判断无效，所述特定条件是指，从外部的噪声抑制用设备输入的检测信号根据预先设定的序列而变化；

所述执行噪声抑制的步骤包括：

基于来自所述噪声抑制用设备的输出，开始进行噪声抑制的步骤，

在进行噪声抑制的过程中，将来自所述噪声抑制用设备的所述检测信号的序列的顺序划分为多个阶段再进行判断的步骤，

积累针对每一个阶段取得的测量信息，并且分析积累的所述测量信息的步骤，

基于所述测量信息的分析结果，决定对于噪声抑制工作条件的最优的设定值的步骤。

15.一种处理器可读取的记录介质，记录有控制多光轴光电传感器系统的程序，所述多光轴光电传感器系统检测由搬运装置搬运的检测对象，其特征在于，

所述多光轴光电传感器系统具有：

投光器，具有排列配置为直线状的多个投光部，

受光器，具有分别与多个所述投光部相向配置的多个受光部；

所述程序使所述处理器执行如下步骤：

进行遮光判断的步骤，判断分别形成于多个所述投光部与多个所述受光部之间的多个光轴中的每个光轴是否为遮光状态，

执行噪声抑制的步骤，在满足特定条件时，暂时地使所述遮光判断无效，所述特定条件是指，从外部的噪声抑制用设备输入的检测信号根据预先设定的序列而变化；

所述执行噪声抑制的步骤包括：

基于来自所述噪声抑制用设备的输出，开始进行噪声抑制的步骤，

在进行噪声抑制的过程中，将来自所述噪声抑制用设备的所述检测信号的序列的顺序划分为多个阶段再进行判断的步骤，

积累针对每一个阶段取得的测量信息，并且分析积累的所述测量信息的步骤，

基于所述测量信息的分析结果，决定对于噪声抑制工作条件的最优的设定值的步骤。