KR101483024B1 - Liquid crystal display device and method of fabricating the same - Google Patents

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Abstract

본 발명의 액정표시장치 및 그 제조방법은 데이터라인 및/또는 게이트라인의 하부에 불투명한 차광패턴을 형성하여 상부 컬러필터 기판의 블랙매트릭스(black matrix) 역할을 하도록 함으로써 어레이 기판과 상기 컬러필터 기판의 합착시 오정렬(misalign)에 의한 빛샘을 방지하는 한편 상부 블랙매트릭스의 마진(margin)을 최소화시켜 개구율을 향상시키기 위한 것으로, 제 1 기판을 제공하는 단계; 제 1 마스크공정을 통해 상기 제 1 기판에 불투명한 도전물질로 제 1 차광패턴과 제 2 차광패턴 및 제 3 차광패턴을 형성하는 단계; 상기 제 1 마스크공정을 이용하여 제 1 절연막이 개재되어 있는 상기 제 1 차광패턴 상부에 액티브패턴과 소오스/드레인전극을 형성하는 단계; 상기 제 1 마스크공정을 이용하여 상기 제 1 절연막과 비정질 실리콘 박막패턴 및 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 개재되어 있는 상기 제 2 차광패턴 상부에 데이터라인을 형성하는 단계; 제 2 마스크공정을 통해 제 2 절연막이 개재되어 있는 상기 제 1 기판의 액티브패턴 상부에 게이트전극을 형성하는 단계; 상기 제 2 마스크공정을 이용하여 상기 제 1 절연막, 상기 제 2 절연막, 상기 비정질 실리콘 박막패턴 및 상기 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 개재되어 있는 상기 제 3 차광패턴 상부에 상기 데이터라인과 교차하여 화소영역을 정의하는 게이트라인을 형성하는 단계; 상기 게이트전극과 게이트라인이 형성된 제 1 기판 위에 제 3 절연막을 형성하는 단계; 제 3 마스크공정을 통해 상기 제 3 절연막의 일부영역을 제거하여 상기 드레인전극의 일부를 노출시키는 콘택홀을 형성하는 단계; 제 4 마스크공정을 이용하여 상기 콘택홀을 통해 상기 드레인전극과 전기적으로 접속하는 화소전극을 형성하는 단계; 및 상기 제 1 기판과 제 2 기판을 합착하는 단계를 포함한다.The liquid crystal display device and the method of manufacturing the same of the present invention can form an opaque light shielding pattern in the lower part of the data line and / or the gate line to serve as a black matrix of the upper color filter substrate, The method comprising: providing a first substrate to prevent leakage of light due to misalignment during bonding, and to improve the aperture ratio by minimizing a margin of an upper black matrix; Forming a first light-shielding pattern, a second light-shielding pattern, and a third light-shielding pattern with an opaque conductive material on the first substrate through a first mask process; Forming an active pattern and a source / drain electrode on the first light-shielding pattern including the first insulating layer using the first mask process; Forming a data line on the second light-shielding pattern including the first insulating layer, the amorphous silicon thin-film pattern, and the n + amorphous silicon thin-film pattern using the first mask process; Forming a gate electrode on the active pattern of the first substrate in which the second insulating film is interposed through a second mask process; The second insulating film, the amorphous silicon thin film pattern, and the n < + > amorphous silicon thin film pattern are interposed between the data line and the third light- Forming a gate line defining a gate line; Forming a third insulating film on the first substrate on which the gate electrode and the gate line are formed; Removing a part of the third insulating film through a third mask process to form a contact hole exposing a part of the drain electrode; Forming a pixel electrode electrically connected to the drain electrode through the contact hole using a fourth mask process; And bonding the first substrate and the second substrate together.

이와 같이 구성된 본 발명의 액정표시장치 및 그 제조방법은 하프-톤 마스크를 이용하여 소오스/드레인전극과 액티브패턴 및 상기 차광패턴을 동시에 형성함으로써 4마스크공정으로 탑 게이트(top gate) 방식의 어레이 기판을 제작하는 것을 특징으로 한다.In the liquid crystal display device and the method of manufacturing the same, the active matrix pattern and the light-shielding pattern are simultaneously formed by using the half-tone mask, the top gate type array substrate Is produced.

데이터라인, 게이트라인, 차광패턴, 4마스크, 액티브패턴 Data line, gate line, shielding pattern, 4 mask, active pattern

Description

액정표시장치 및 그 제조방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same,

본 발명은 액정표시장치 및 그 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 마스크수를 감소시켜 제조공정을 단순화하고 수율을 향상시키는 동시에 상부 컬러필터 기판의 블랙매트릭스의 마진을 최소화시킴으로써 개구율을 향상시킬 수 있는 액정표시장치 및 그 제조방법에 관한 것이다.More specifically, the present invention relates to a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same, and more particularly, to a method of manufacturing a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same, which can improve the aperture ratio by reducing the number of masks, simplifying the manufacturing process and improving the yield and minimizing the margin of the black matrix of the upper color filter substrate And a method of manufacturing the liquid crystal display device.

최근 정보 디스플레이에 관한 관심이 고조되고 휴대가 가능한 정보매체를 이용하려는 요구가 높아지면서 기존의 표시장치인 브라운관(Cathode Ray Tube; CRT)을 대체하는 경량 박막형 평판표시장치(Flat Panel Display; FPD)에 대한 연구 및 상업화가 중점적으로 이루어지고 있다. 특히, 이러한 평판표시장치 중 액정표시장치(Liquid Crystal Display; LCD)는 액정의 광학적 이방성을 이용하여 이미지를 표현하는 장치로서, 해상도와 컬러표시 및 화질 등에서 우수하여 노트북이나 데스크탑 모니터 등에 활발하게 적용되고 있다.Recently, interest in information display has increased, and a demand for using portable information media has increased, and a light-weight flat panel display (FPD) that replaces a cathode ray tube (CRT) And research and commercialization are being carried out. Particularly, among such flat panel display devices, a liquid crystal display (LCD) is an apparatus for displaying an image using the optical anisotropy of a liquid crystal, and is excellent in resolution, color display and picture quality and is actively applied to a notebook or a desktop monitor have.

상기 액정표시장치는 크게 컬러필터(color filter) 기판과 어레이(array) 기판 및 상기 컬러필터 기판과 어레이 기판 사이에 형성된 액정층(liquid crystal layer)으로 구성된다.The liquid crystal display comprises a color filter substrate, an array substrate, and a liquid crystal layer formed between the color filter substrate and the array substrate.

상기 액정표시장치에 주로 사용되는 구동 방식인 능동 매트릭스(Active Matrix; AM) 방식은 비정질 실리콘 박막 트랜지스터(Amorphous Silicon Thin Film Transistor; a-Si TFT)를 스위칭소자로 사용하여 화소부의 액정을 구동하는 방식이다.An active matrix (AM) method, which is a driving method mainly used in the liquid crystal display, is a method of driving a liquid crystal of a pixel portion by using an amorphous silicon thin film transistor (a-Si TFT) to be.

상기 액정표시장치의 제조공정은 기본적으로 박막 트랜지스터를 포함하는 어레이 기판의 제작에 다수의 마스크공정(즉, 포토리소그래피(photolithography)공정)을 필요로 하므로 생산성 면에서 상기 마스크수를 줄이는 방법이 요구되어지고 있다.Since the manufacturing process of the liquid crystal display device basically requires a plurality of mask processes (that is, a photolithography process) to fabricate an array substrate including thin film transistors, a method of reducing the number of masks in terms of productivity is required ought.

이하, 도 1을 참조하여 일반적인 액정표시장치의 구조에 대해서 상세히 설명한다.Hereinafter, the structure of a typical liquid crystal display device will be described in detail with reference to FIG.

도 1은 일반적인 액정표시장치를 개략적으로 나타내는 분해사시도이다.1 is an exploded perspective view schematically showing a general liquid crystal display device.

도면에 도시된 바와 같이, 상기 액정표시장치는 크게 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10) 및 상기 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10) 사이에 형성된 액정층(liquid crystal layer)(30)으로 구성된다.As shown in the figure, the liquid crystal display comprises a color filter substrate 5, an array substrate 10, and a liquid crystal layer (not shown) formed between the color filter substrate 5 and the array substrate 10 30).

상기 컬러필터 기판(5)은 적(Red; R), 녹(Green; G) 및 청(Blue; B)의 색상을 구현하는 다수의 서브-컬러필터(7)로 구성된 컬러필터(C)와 상기 서브-컬러필터(7) 사이를 구분하고 액정층(30)을 투과하는 광을 차단하는 블랙매트릭스(black matrix)(6), 그리고 상기 액정층(30)에 전압을 인가하는 투명한 공통전극(8)으로 이루어져 있다.The color filter substrate 5 includes a color filter C composed of a plurality of sub-color filters 7 implementing colors of red (R), green (G) and blue (B) A black matrix 6 for separating the sub-color filters 7 from each other and shielding light transmitted through the liquid crystal layer 30 and a transparent common electrode for applying a voltage to the liquid crystal layer 30 8).

또한, 상기 어레이 기판(10)은 종횡으로 배열되어 복수개의 화소영역(P)을 정의하는 복수개의 게이트라인(16)과 데이터라인(17), 상기 게이트라인(16)과 데이터라인(17)의 교차영역에 형성된 스위칭소자인 박막 트랜지스터(T) 및 상기 화소영역(P) 위에 형성된 화소전극(18)으로 이루어져 있다.The array substrate 10 includes a plurality of gate lines 16 and data lines 17 arranged vertically and horizontally to define a plurality of pixel regions P and a plurality of gate lines 16 and data lines 17 A thin film transistor T which is a switching element formed in the intersection region and a pixel electrode 18 formed on the pixel region P. [

이와 같이 구성된 상기 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10)은 화상표시 영역의 외곽에 형성된 실런트(sealant)(미도시)에 의해 대향하도록 합착되어 액정표시패널을 구성하며, 상기 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10)의 합착은 상기 컬러필터 기판(5) 또는 어레이 기판(10)에 형성된 합착키(미도시)를 통해 이루어진다.The color filter substrate 5 and the array substrate 10 constituted as described above are adhered to each other by a sealant (not shown) formed on the periphery of the image display area to constitute a liquid crystal display panel, 5 and the array substrate 10 are bonded together through a cemented key (not shown) formed on the color filter substrate 5 or the array substrate 10.

상기 액정표시장치의 제조공정은 기본적으로 박막 트랜지스터를 포함하는 어레이 기판의 제작에 다수의 마스크공정(즉, 포토리소그래피(photolithography)공정)을 필요로 하므로 생산성 면에서 상기 마스크수를 줄이는 방법이 요구되어지고 있다.Since the manufacturing process of the liquid crystal display device basically requires a plurality of mask processes (that is, a photolithography process) to fabricate an array substrate including thin film transistors, a method of reducing the number of masks in terms of productivity is required ought.

도 2a 내지 도 2e는 도 1에 도시된 액정표시장치에 있어서, 어레이 기판의 제조공정을 순차적으로 나타내는 단면도이다.2A to 2E are cross-sectional views sequentially showing the steps of manufacturing an array substrate in the liquid crystal display device shown in Fig.

도 2a에 도시된 바와 같이, 어레이 기판(10) 위에 포토리소그래피공정(제 1 마스크공정)을 이용하여 도전성 금속물질로 이루어진 게이트전극(21)을 형성한다.2A, a gate electrode 21 made of a conductive metal material is formed on the array substrate 10 by using a photolithography process (first mask process).

다음으로, 도 2b에 도시된 바와 같이, 상기 게이트전극(21)이 형성된 어레이 기판(10) 전면(全面)에 차례대로 제 1 절연막(15a)과 비정질 실리콘 박막 및 n+ 비정질 실리콘 박막을 증착한 후, 포토리소그래피공정(제 2 마스크공정)을 이용하여 상기 비정질 실리콘 박막과 n+ 비정질 실리콘 박막을 선택적으로 패터닝함으로써 상기 게이트전극(21) 위에 상기 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 액티브패턴(24)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 2B, a first insulating film 15a, an amorphous silicon thin film and an n + amorphous silicon thin film are sequentially deposited on the entire surface of the array substrate 10 on which the gate electrode 21 is formed The amorphous silicon thin film and the n + amorphous silicon thin film are selectively patterned using a photolithography process (second mask process) to form an active pattern 24 made of the amorphous silicon thin film on the gate electrode 21.

이때, 상기 액티브패턴(24) 위에는 상기 액티브패턴(24)과 동일한 형태로 패터닝된 n+ 비정질 실리콘 박막 패턴(25)이 형성되게 된다.At this time, an n + amorphous silicon thin film pattern 25 patterned in the same manner as the active pattern 24 is formed on the active pattern 24.

이후, 도 2c에 도시된 바와 같이, 상기 어레이 기판(10) 전면에 도전성 금속물질을 증착한 후 포토리소그래피공정(제 3 마스크공정)을 이용하여 선택적으로 패터닝함으로써 상기 액티브패턴(24) 상부에 소오스전극(22)과 드레인전극(23)을 형성한다. 이때, 상기 액티브패턴(24) 위에 형성되어 있는 n+ 비정질 실리콘 박막 패턴은 상기 제 3 마스크공정을 통해 소정영역이 제거되어 상기 액티브패턴(24)과 소오스/드레인전극(22, 23) 사이에서 오믹-콘택(ohmic contact)층(25')을 형성하게 된다.2C, a conductive metal material is deposited on the entire surface of the array substrate 10, and then selectively patterned using a photolithography process (a third mask process) The electrode 22 and the drain electrode 23 are formed. At this time, the n + amorphous silicon thin film pattern formed on the active pattern 24 is removed by the third mask process, and the ohmic-and-amorphous silicon thin film pattern is formed between the active pattern 24 and the source / drain electrodes 22, Thereby forming an ohmic contact layer 25 '.

다음으로, 도 2d에 도시된 바와 같이, 상기 소오스전극(22)과 드레인전극(23)이 형성된 어레이 기판(10) 전면에 제 2 절연막(15b)을 증착한 후, 포토리소그래피공정(제 4 마스크공정)을 통해 상기 제 2 절연막(15b)의 일부 영역을 제거하여 상기 드레인전극(23)의 일부를 노출시키는 콘택홀(40)을 형성한다.2d, a second insulating layer 15b is deposited on the entire surface of the array substrate 10 on which the source electrode 22 and the drain electrode 23 are formed, and then a photolithography process A part of the second insulating film 15b is removed through the contact hole 40 to expose a part of the drain electrode 23.

마지막으로, 도 2e에 도시된 바와 같이, 투명한 도전성 금속물질을 어레이 기판(10) 전면에 증착한 후 포토리소그래피공정(제 5 마스크공정)을 이용하여 선택적으로 패터닝함으로써 상기 콘택홀(40)을 통해 드레인전극(23)과 전기적으로 접속하는 화소전극(18)을 형성한다.Finally, as shown in FIG. 2E, a transparent conductive metal material is deposited on the entire surface of the array substrate 10, and then selectively patterned using a photolithography process (fifth mask process) The pixel electrode 18 electrically connected to the drain electrode 23 is formed.

상기에 설명된 바와 같이 박막 트랜지스터를 포함하는 어레이 기판의 제조에 는 게이트전극, 액티브패턴, 소오스/드레인전극, 콘택홀 및 화소전극 등을 패터닝하는데 총 5번의 포토리소그래피공정을 필요로 한다.As described above, the fabrication of the array substrate including the thin film transistor requires five photolithography processes in total for patterning the gate electrode, the active pattern, the source / drain electrode, the contact hole, and the pixel electrode.

상기 포토리소그래피공정은 마스크에 그려진 패턴을 박막이 증착된 기판 위에 전사시켜 원하는 패턴을 형성하는 일련의 공정으로 감광액 도포, 노광, 현상공정 등 다수의 공정으로 이루어지며, 다수의 포토리소그래피공정은 생산 수율을 떨어뜨리는 단점이 있다.The photolithography process is a series of processes for transferring a pattern drawn on a mask onto a substrate on which a thin film is deposited to form a desired pattern. The photolithography process includes a plurality of processes such as a photoresist application, an exposure, and a development process. There is a drawback that it drops.

특히, 패턴을 형성하기 위하여 설계된 마스크는 매우 고가이어서, 공정에 적용되는 마스크수가 증가하면 액정표시장치의 제조비용이 이에 비례하여 상승하게 된다.In particular, the mask designed to form the pattern is very expensive, so that the manufacturing cost of the liquid crystal display device increases proportionally as the number of masks applied to the process increases.

이와 같이 제작된 상기 어레이 기판은 컬러필터 도 3에 도시된 바와 같이 컬러필터 기판(5)에 형성된 컬럼 스페이서(미도시)에 의해 일정한 셀갭이 유지되는 상태에서 상기 컬러필터 기판(5)과 합착하여 액정표시장치를 구성하게 된다.The array substrate fabricated in this manner is adhered to the color filter substrate 5 in a state where a certain cell gap is maintained by a column spacer (not shown) formed on the color filter substrate 5 as shown in FIG. 3 Thereby constituting a liquid crystal display device.

이때, 전술한 바와 같이 상기 컬러필터 기판(5)은 투명한 컬러필터 기판(5) 위에 적, 녹 및 청색의 색상을 구현하는 다수의 서브-컬러필터(7)로 구성된 컬러필터와 상기 서브-컬러필터(7) 사이를 구분하고 액정층(90)을 투과하는 광을 차단하는 블랙매트릭스(6), 그리고 상기 액정층(90)에 전압을 인가하는 투명한 공통전극(8)으로 이루어져 있다.At this time, as described above, the color filter substrate 5 is provided with a color filter composed of a plurality of sub-color filters 7 implementing red, green and blue hues on the transparent color filter substrate 5, And a transparent common electrode 8 for applying a voltage to the liquid crystal layer 90. The black matrix 6 separates the light emitted from the liquid crystal layer 90 and filters out the light passing through the liquid crystal layer 90.

상기 블랙매트릭스(6)는 화소들의 경계영역에 패터닝되어 액정표시장치 하부의 백라이트로부터 발생된 빛의 누설을 차단하고, 인접하는 화소들의 혼색을 방지하는 역할을 하며, 상기 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10)의 합착시 발생하는 오정렬에 의해 빛샘 현상을 개선하기 위해 소정의 마진(d)을 가지게 된다.The black matrix 6 is patterned in the boundary region of the pixels to prevent leakage of light generated from the backlight in the lower portion of the liquid crystal display device and to prevent color mixture of adjacent pixels. And has a predetermined margin d in order to improve the light leakage phenomenon due to misalignment occurring when the array substrate 10 is attached.

특히, 상기 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판(10)의 합착시 오정렬에 의해 데이터라인(17) 주위에서 빛샘 현상이 발생하기도 하는데, 이를 방지하기 위해 상기 블랙매트릭스의 마진(d)을 상기 데이터라인(17)의 폭보다 넓은 폭을 가지도록 형성하게 된다. 이와 같은 블랙매트릭스의 마진(d)은 액정표시장치의 개구율을 저하시키는 요인으로 이의 개선이 요구되고 있다.In particular, light leakage phenomenon may occur around the data line 17 due to misalignment when the color filter substrate 5 and the array substrate 10 are attached together. In order to prevent this, the margin d of the black matrix Is formed to have a width wider than the width of the line (17). Such a margin (d) of the black matrix is a factor that lowers the aperture ratio of the liquid crystal display device and is required to be improved.

본 발명은 상기한 문제를 해결하기 위한 것으로, 개구영역을 확대하여 고휘도를 구현하는 동시에 합착 오정렬에 의해 발생하는 빛샘 불량을 개선할 수 있는 액정표시장치 및 그 제조방법을 제공하는데 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a liquid crystal display device capable of enlarging an aperture area to realize a high brightness and at the same time to improve a light leakage caused by misalignment and a manufacturing method thereof.

본 발명의 다른 목적은 상기의 고개구율 액정표시장치를 4번의 마스크공정으로 제작하도록 한 액정표시장치의 제조방법을 제공하는데 있다.It is another object of the present invention to provide a method of manufacturing a liquid crystal display device in which the high aperture ratio liquid crystal display device is manufactured by four mask processes.

본 발명의 다른 목적 및 특징들은 후술되는 발명의 구성 및 특허청구범위에서 설명될 것이다.Other objects and features of the present invention will be described in the following description of the invention and claims.

상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 액정표시장치는 제 1 기판의 박막 트랜지스터영역과 데이터라인영역 및 게이트라인영역에 불투명한 도전물질로 형성된 제 1 차광패턴과 제 2 차광패턴 및 제 3 차광패턴; 제 1 절연막이 개재되어 있는 상기 제 1 차광패턴 상부에 형성된 액티브패턴; 상기 액티브패턴 상부에 형성되어 상기 액티브패턴의 소오스영역 및 드레인영역과 전기적으로 접속하는 소오스전극 및 드레인전극; 상기 제 1 절연막과 비정질 실리콘 박막패턴 및 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 개재되어 있는 상기 제 2 차광패턴 상부에 형성된 데이터라인; 제 2 절연막이 개재되어 있는 상기 액티브패턴 상부에 형성된 게이트전극; 상기 제 1 절연막, 상기 제 2 절연막, 상기 비정질 실리콘 박막패턴 및 상기 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 개재되어 있는 상기 제 3 차광패턴 상부에 형성되어 상기 데이터라인과 교차하여 화소영역을 정의하는 게이트라인; 상기 게이트전극과 게이트라인이 형성된 제 1 기판 위에 형성된 제 3 절연막; 상기 화소영역에 형성되며, 상기 제 3 절연막에 형성된 콘택홀을 통해 상기 드레인전극과 전기적으로 접속하는 화소전극; 및 상기 제 1 기판과 대향하여 합착하는 제 2 기판을 포함한다.In order to achieve the above object, a liquid crystal display device of the present invention includes a first light-shielding pattern formed of a conductive material opaque to a thin-film transistor region, a data line region, and a gate line region of a first substrate, pattern; An active pattern formed on the first light-shielding pattern on which the first insulating film is disposed; A source electrode and a drain electrode formed on the active pattern and electrically connected to the source region and the drain region of the active pattern; A data line formed on the second light-shielding pattern including the first insulating film, the amorphous silicon thin film pattern, and the n + amorphous silicon thin film pattern; A gate electrode formed on the active pattern with a second insulating film interposed therebetween; A gate line formed on the third light-shielding pattern interposed between the first insulating layer, the second insulating layer, the amorphous silicon thin-film pattern, and the n + amorphous silicon thin-film pattern and intersecting the data line to define a pixel region; A third insulating film formed on the first substrate on which the gate electrode and the gate line are formed; A pixel electrode formed in the pixel region and electrically connected to the drain electrode through a contact hole formed in the third insulating film; And a second substrate which is adhered to and opposed to the first substrate.

또한, 본 발명의 액정표시장치의 제조방법은 제 1 기판을 제공하는 단계; 제 1 마스크공정을 통해 상기 제 1 기판에 불투명한 도전물질로 제 1 차광패턴과 제 2 차광패턴 및 제 3 차광패턴을 형성하는 단계; 상기 제 1 마스크공정을 이용하여 제 1 절연막이 개재되어 있는 상기 제 1 차광패턴 상부에 액티브패턴과 소오스/드레인전극을 형성하는 단계; 상기 제 1 마스크공정을 이용하여 상기 제 1 절연막과 비정질 실리콘 박막패턴 및 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 개재되어 있는 상기 제 2 차광패턴 상부에 데이터라인을 형성하는 단계; 제 2 마스크공정을 통해 제 2 절연막이 개재되어 있는 상기 제 1 기판의 액티브패턴 상부에 게이트전극을 형성하는 단계; 상기 제 2 마스크공정을 이용하여 상기 제 1 절연막, 상기 제 2 절연막, 상기 비정질 실리콘 박막패턴 및 상기 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 개재되어 있는 상기 제 3 차광패턴 상부에 상기 데이터라인과 교차하여 화소영역을 정의하는 게이트라인을 형성하는 단계; 상기 게이트전극과 게이트라인이 형성된 제 1 기판 위에 제 3 절연막을 형성하는 단계; 제 3 마스크공정을 통해 상기 제 3 절연막의 일부영역을 제거하여 상기 드레인전극의 일부를 노출시키는 콘택홀을 형성하는 단계; 제 4 마스크공정을 이용하여 상기 콘택홀을 통해 상기 드레인전극과 전기적으로 접속하는 화소전극을 형성하는 단계; 및 상기 제 1 기판과 제 2 기판을 합착하는 단계를 포함한다.In addition, a method of manufacturing a liquid crystal display of the present invention includes: providing a first substrate; Forming a first light-shielding pattern, a second light-shielding pattern, and a third light-shielding pattern with an opaque conductive material on the first substrate through a first mask process; Forming an active pattern and a source / drain electrode on the first light-shielding pattern including the first insulating layer using the first mask process; Forming a data line on the second light-shielding pattern including the first insulating layer, the amorphous silicon thin-film pattern, and the n + amorphous silicon thin-film pattern using the first mask process; Forming a gate electrode on the active pattern of the first substrate in which the second insulating film is interposed through a second mask process; The second insulating film, the amorphous silicon thin film pattern, and the n < + > amorphous silicon thin film pattern are interposed between the data line and the third light- Forming a gate line defining a gate line; Forming a third insulating film on the first substrate on which the gate electrode and the gate line are formed; Removing a part of the third insulating film through a third mask process to form a contact hole exposing a part of the drain electrode; Forming a pixel electrode electrically connected to the drain electrode through the contact hole using a fourth mask process; And bonding the first substrate and the second substrate together.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치 및 그 제조방법은 박막 트랜지스터 제조에 사용되는 마스크수를 줄여 제조공정 및 비용을 절감시키는 효과를 제공한다.As described above, the liquid crystal display device and the method of manufacturing the same according to the present invention reduce the number of masks used in the manufacture of thin film transistors, thereby reducing the manufacturing process and cost.

또한, 본 발명에 따른 액정표시장치 및 그 제조방법은 블랙매트릭스의 마진을 최소로 함에 따라 개구율이 향상되는 효과를 제공한다.Further, the liquid crystal display device and the manufacturing method thereof according to the present invention provide an effect of increasing the aperture ratio as the margin of the black matrix is minimized.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정표시장치 및 그 제조방법 의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of a liquid crystal display device and a manufacturing method thereof according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치의 어레이 기판 일부를 개략적으로 나타내는 평면도로써, 도면에는 설명의 편의를 위해 게이트패드부와 데이터패드부 및 화소부의 박막 트랜지스터를 포함하는 하나의 화소를 나타내고 있다.FIG. 4 is a plan view schematically showing a part of an array substrate of a liquid crystal display according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 4, for convenience of explanation, one gate pad portion, a data pad portion, Pixel.

즉, 실제의 액정표시장치에서는 N개의 게이트라인과 M개의 데이터라인이 교차하여 MxN개의 화소가 존재하지만 설명을 간단하게 하기 위해 도면에는 하나의 화소를 나타내고 있다.That is, in an actual liquid crystal display device, N number of gate lines and M number of data lines intersect to form MxN pixels, but one pixel is shown in the drawing for simplicity of explanation.

도면에 도시된 바와 같이, 상기 제 1 실시예의 어레이 기판(110)에는 상기 어레이 기판(110) 위에 종횡으로 배열되어 화소영역을 정의하는 게이트라인(116)과 데이터라인(117)이 형성되어 있다. 또한, 상기 게이트라인(116)과 데이터라인(117)의 교차영역에는 스위칭소자인 박막 트랜지스터가 형성되어 있으며, 상기 화소영역 내에는 상기 박막 트랜지스터에 연결되어 컬러필터 기판(미도시)의 공통전극과 함께 액정(미도시)을 구동시키는 화소전극(118)이 형성되어 있다.As shown in the drawing, a gate line 116 and a data line 117 are vertically and horizontally arranged on the array substrate 110 on the array substrate 110 of the first embodiment to define pixel regions. A thin film transistor, which is a switching element, is formed in the intersection region of the gate line 116 and the data line 117. A common electrode of the color filter substrate (not shown) is connected to the thin film transistor And a pixel electrode 118 for driving a liquid crystal (not shown) is formed.

상기 박막 트랜지스터는 상기 게이트라인(116)에 연결된 게이트전극(121), 상기 데이터라인(117)에 연결된 소오스전극(122) 및 제 1 콘택홀(140a)을 통해 상기 화소전극(118)에 전기적으로 접속한 드레인전극(123)으로 구성되어 있다. 또한, 상기 박막 트랜지스터는 상기 게이트전극(121)에 공급되는 게이트 전압에 의해 상기 소오스전극(122)과 드레인전극(123) 간에 전도채널(conductive channel)을 형성하는 액티브패턴(124)을 포함한다.The thin film transistor is electrically connected to the pixel electrode 118 through a gate electrode 121 connected to the gate line 116, a source electrode 122 connected to the data line 117, and a first contact hole 140a. And a drain electrode 123 connected thereto. The thin film transistor includes an active pattern 124 which forms a conductive channel between the source electrode 122 and the drain electrode 123 by a gate voltage supplied to the gate electrode 121.

이때, 상기 본 발명의 제 1 실시예에 따른 박막 트랜지스터는 상기 게이트전극(121)이 상기 소오스전극(122)과 드레인전극(123) 및 액티브패턴(124) 상부에 위치하는 탑 게이트 방식인 것을 특징으로 한다.The thin film transistor according to the first embodiment of the present invention is characterized in that the gate electrode 121 is a top gate type in which the source electrode 122 and the drain electrode 123 are located above the active pattern 124 .

또한, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 어레이 기판(110)은 상기 액티브패턴(124)과 데이터라인(117) 및 데이터패드라인(117p) 하부에 크롬과 같은 불투명한 도전물질로 이루어진 차광패턴(130', 130", 130'")이 형성되어 있는 것을 특징으로 하며, 상기 차광패턴(130', 130", 130'")은 상기 박막 트랜지스터영역과 데이터라인(117)영역 및 데이터패드라인(117p)영역으로 빛이 투과되는 것을 차단하는 역할을 하게된다. 참고로, 도면부호 124'과 124"은 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 제 1 비정질 실리콘 박막패턴과 제 2 비정질 실리콘 박막패턴을 나타낸다.The array substrate 110 according to the first embodiment of the present invention includes a light shielding pattern made of an opaque conductive material such as chromium at a lower portion of the active pattern 124, the data line 117 and the data pad line 117p 130 ', 130', 130 '') are formed on the substrate 110. The light shielding patterns 130 ', 130 ", and 130' 'are formed in the thin film transistor region, the data line 117, 117p of the light shielding layer. For reference, reference numerals 124 'and 124' denote a first amorphous silicon thin film pattern and a second amorphous silicon thin film pattern made of an amorphous silicon thin film.

이때, 상기 화소영역 내에는 상기 게이트라인(116)에 대해 실질적으로 평행한 방향으로 공통라인(108l)이 배열되어 있으며, 상기 공통라인(108l)의 일부는 제 3 절연막(미도시)을 사이에 두고 그 상부의 화소전극(118)의 일부와 중첩하여 스토리지 커패시터(storage capacitor)(Cst)를 형성하게 된다. 상기 스토리지 커패시터(Cst)는 액정 커패시터에 인가된 전압을 다음 신호가 들어올 때까지 일정하게 유지시키는 역할을 한다. 즉, 상기 어레이 기판(110)의 화소전극(118)은 컬러필터 기판의 공통전극과 함께 액정 커패시터를 이루는데, 일반적으로 상기 액정 커패시터에 인가된 전압은 다음 신호가 들어올 때까지 유지되지 못하고 누설되어 사라진다. 따라서, 인가된 전압을 유지하기 위해서는 스토리지 커패시터(Cst)를 액정 커패시터에 연결해서 사용해야 한다.In this case, common lines 1081 are arranged in the pixel region in a direction substantially parallel to the gate lines 116, and a part of the common lines 1081 are arranged in a direction in which a third insulating film (not shown) And a storage capacitor Cst is formed by overlapping a part of the pixel electrode 118 on the upper portion. The storage capacitor Cst serves to keep the voltage applied to the liquid crystal capacitor constant until the next signal is received. That is, the pixel electrode 118 of the array substrate 110 forms a liquid crystal capacitor together with the common electrode of the color filter substrate. Generally, the voltage applied to the liquid crystal capacitor is not maintained until the next signal is received, Disappear. Therefore, in order to maintain the applied voltage, the storage capacitor Cst must be connected to the liquid crystal capacitor.

이러한 스토리지 커패시터(Cst)는 신호 유지 이외에도 계조(gray scale) 표시의 안정과 플리커(flicker) 및 잔상(afterimage) 감소 등의 효과를 가진다.The storage capacitor Cst has effects such as stabilization of gray scale display and reduction of flicker and afterimage in addition to signal retention.

이와 같이 구성된 상기 어레이 기판(110)의 가장자리 영역에는 상기 게이트라인(116)과 데이터라인(117)에 각각 전기적으로 접속하는 게이트패드전극(126p)과 데이터패드전극(127p)이 형성되어 있으며, 외부의 구동회로부(미도시)로부터 인가 받은 주사신호와 데이터신호를 각각 상기 게이트라인(116)과 데이터라인(117)에 전달하게 된다.A gate pad electrode 126p and a data pad electrode 127p electrically connected to the gate line 116 and the data line 117 are formed in the edge region of the array substrate 110, The scan signal and the data signal received from the driver circuit portion (not shown) of the scan driver 116 and the data line 117, respectively.

즉, 상기 게이트라인(116)과 데이터라인(117)은 구동회로부 쪽으로 연장되어 각각 해당하는 게이트패드라인(116p)과 데이터패드라인(117p)에 연결되며, 상기 게이트패드라인(116p)과 데이터패드라인(117p)은 상기 게이트패드라인(116p)과 데이터패드라인(117p)에 각각 전기적으로 접속된 게이트패드전극(126p)과 데이터패드전극(127p)을 통해 구동회로부로부터 각각 주사신호와 데이터신호를 인가 받게 된다.That is, the gate line 116 and the data line 117 extend to the driving circuit portion and are connected to the corresponding gate pad line 116p and the data pad line 117p, respectively. The line 117p connects the scanning signal and the data signal from the driving circuit through the gate pad electrode 126p and the data pad electrode 127p electrically connected to the gate pad line 116p and the data pad line 117p, .

참고로, 도면부호 140b 및 140c는 각각 제 2 콘택홀 및 제 3 콘택홀을 나타내며, 이때 상기 데이터패드전극(127p)은 상기 제 2 콘택홀(140b)을 통해 상기 데이터패드라인(117p)과 전기적으로 접속하고 상기 게이트패드전극(126p)은 상기 제 3 콘택홀(140c)을 통해 상기 게이트패드라인(116p)과 전기적으로 접속하게 된다For reference, reference numerals 140b and 140c denote a second contact hole and a third contact hole, respectively. Here, the data pad electrode 127p is electrically connected to the data pad line 117p through the second contact hole 140b And the gate pad electrode 126p is electrically connected to the gate pad line 116p through the third contact hole 140c

여기서, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치는 하프-톤 마스크 또는 회절마스크(이하, 하프-톤 마스크를 지칭하는 경우에는 회절마스크를 포함하는 것으로 한다)를 이용하여 액티브패턴과 소오스/드레인전극 및 데이터라인을 한번의 마스크공정으로 형성하는 한편 상기의 마스크공정을 이용하여 상기 액티브패턴과 데이터라인 하부에 본 발명의 차광패턴을 형성함으로써 총 4번의 마스크공정으로 어레이 기판을 제작할 수 있게 된다.Here, the liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention uses an active pattern and a source / drain mask using a half-tone mask or a diffraction mask (hereinafter, referred to as a half-tone mask) The drain electrode and the data line are formed by a single mask process, and the light-shielding pattern of the present invention is formed under the active pattern and the data line by using the mask process, thereby making it possible to fabricate the array substrate by a total of four mask processes .

이때, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치는 한번의 마스크공정으로 상기 차광패턴과 액티브패턴 및 소오스/드레인전극을 형성하기 위해 하부층에 차광패턴이 위치하고 그 상부에 차례대로 액티브패턴과 소오스/드레인전극 및 제 1 절연막이 형성되고 그 상부에 게이트전극이 형성되는 탑 게이트 방식을 적용하게 되는데, 이를 다음의 액정표시장치의 제조방법을 통해 상세히 설명한다.In this case, in order to form the light-shielding pattern, the active pattern, and the source / drain electrodes by a single mask process, the liquid crystal display according to the first embodiment of the present invention includes a light- / Drain electrode and a first insulating film are formed on the first insulating film and a gate electrode is formed on the first insulating film. This will be described in detail with reference to the following method of manufacturing a liquid crystal display device.

도 5a 내지 도 5d는 도 4에 도시된 어레이 기판의 IVa-IVa'선과 IVb-IVb선 및 IVc-IVc선에 따른 제조공정을 순차적으로 나타내는 단면도로써, 좌측에는 화소부의 어레이 기판을 제조하는 공정을 나타내며 우측에는 차례대로 데이터패드부와 게이트패드부의 어레이 기판을 제조하는 공정을 나타내고 있다.5A to 5D are cross-sectional views sequentially showing a manufacturing process according to line IVa-IVa ', line IVb-IVb and line IVc-IVc of the array substrate shown in FIG. 4. In the left side, And the array substrate of the data pad portion and the gate pad portion is sequentially formed on the right side.

또한, 도 6a 내지 도 6d는 도 4에 도시된 어레이 기판의 제조공정을 순차적으로 나타내는 평면도이다.6A to 6D are plan views sequentially showing the manufacturing steps of the array substrate shown in FIG.

도 5a 및 도 6a에 도시된 바와 같이, 유리와 같은 투명한 절연물질로 이루어진 어레이 기판(110)에 제 1 도전막, 제 1 절연막(115), 비정질 실리콘 박막, n+ 비정질 실리콘 박막 및 제 2 도전막을 증착한다.As shown in FIGS. 5A and 6A, a first conductive film, a first insulating film 115, an amorphous silicon thin film, an n + amorphous silicon thin film, and a second conductive film are formed on an array substrate 110 made of a transparent insulating material such as glass Lt; / RTI >

이후, 포토리소그래피공정(제 1 마스크공정)을 통해 상기 제 1 도전막, 제 1 절연막(115), 비정질 실리콘 박막, n+ 비정질 실리콘 박막 및 제 2 도전막을 선택적으로 제거함으로써 상기 어레이 기판(110)의 화소부에 상기 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 액티브패턴(124)을 형성하며, 상기 액티브패턴(124) 상부에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 소오스전극(122)과 드레인전극(123)을 형성한다.Thereafter, the first conductive film, the first insulating film 115, the amorphous silicon thin film, the n + amorphous silicon thin film, and the second conductive film are selectively removed through a photolithography process (first mask process) An active pattern 124 made of the amorphous silicon thin film is formed on the pixel portion and a source electrode 122 and a drain electrode 123 made of the second conductive film are formed on the active pattern 124.

이때, 상기 제 1 마스크공정을 통해 상기 어레이 기판(110)의 데이터라인 영역에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 데이터라인(117)을 형성하는 동시에 상기 어레이 기판(110)의 데이터패드부에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 데이터패드라인(117p)을 형성하게 된다.At this time, a data line 117 made of the second conductive film is formed in the data line region of the array substrate 110 through the first mask process, and a data line 117 made of the second conductive film is formed in the data pad portion of the array substrate 110, Thereby forming a data pad line 117p made of a conductive film.

이때, 상기 액티브패턴(124) 상부에는 상기 n+ 비정질 실리콘 박막으로 이루어지며 상기 액티브패턴(124)의 소오스/드레인영역과 상기 소오스/드레인전극(122, 123) 사이를 오믹-콘택시키는 오믹-콘택층(125n)이 형성되게 된다.At this time, on the active pattern 124, an ohmic contact layer (not shown) is formed of the n + amorphous silicon thin film and ohmic-contacted between the source / drain region of the active pattern 124 and the source / drain electrodes 122, (125n) is formed.

또한, 상기 액티브패턴(124) 하부에는 상기 제 1 절연막(115)이 개재된 상태에서 상기 제 1 도전막으로 이루어지며 실질적으로 상기 액티브패턴(124)과 동일한 형태로 패터닝된 제 1 차광패턴(130')이 형성되게 된다.The first light-shielding pattern 130 (hereinafter, referred to as " first light-shielding pattern ") 130 formed of the first conductive layer and patterned substantially in the same pattern as the active pattern 124 is formed under the active pattern 124 with the first insulating layer 115 interposed therebetween. ') Is formed.

또한, 상기 데이터라인(117) 및 데이터패드라인(117p) 하부에는 상기 n+ 비정질 실리콘 박막으로 이루어지며 실질적으로 상기 데이터라인(117) 및 데이터패드라인(117p)과 동일한 형태로 패터닝된 제 4 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125"") 및 제 5 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125'"")이 형성된다. 그리고, 상기 제 4 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125"") 및 제 5 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125'"") 하부에는 각각 상기 제 1 도전막과 제 1 절연막(115) 및 비정질 실리콘 박막으로 이루어지며 각각 상기 제 4 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125"") 및 제 5 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125'"")과 실질적으로 같거나 보다 넓은 폭을 가지도록 패터닝된 제 2 차광패턴(130")과 제 1 비정질 실리콘 박막패턴(124') 및 제 3 차광패턴(130'")과 제 2 비정질 실리콘 박막패턴(124")이 형성되게 된다.The fourth n + amorphous silicon layer, which is formed of the n + amorphous silicon thin film and is patterned substantially in the same pattern as the data line 117 and the data pad line 117p, is formed under the data line 117 and the data pad line 117p. A silicon thin film pattern 125 "and a fifth n + amorphous silicon thin film pattern 125" "are formed. The first conductive layer, the first insulating layer 115, and the amorphous silicon thin film are formed under the fourth n + amorphous silicon thin film pattern 125 "'and the fifth n + amorphous silicon thin film pattern 125' '' Shielding pattern 130 "which is patterned so as to have a width substantially equal to or wider than the fourth n + amorphous silicon thin film pattern 125" 'and the fifth n + amorphous silicon thin film pattern 125' ", The first amorphous silicon thin film pattern 124 ', the third light shielding pattern 130' ', and the second amorphous silicon thin film pattern 124' are formed.

여기서, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 상기 액티브패턴(124)과 소오스/드레인전극(122, 123)과 데이터라인(117) 및 제 1 내지 제 3 차광패턴(130'~130'")은 하프-톤 마스크를 이용함으로써 한번의 마스크공정(제 1 마스크공정)을 통해 동시에 형성할 수 있게 되는데, 이하 도면을 참조하여 상기 제 1 마스크공정을 상세히 설명한다. 다만, 본 발명이 이에 한정되지는 않으며 상기 액티브패턴(124) 및 소오스/드레인전극(122, 123)과 데이터라인(117)은 두 번의 마스크공정으로 형성할 수도 있다.Here, the active pattern 124, the source / drain electrodes 122 and 123, the data line 117, and the first to third light-shielding patterns 130 'to 130' '' according to the first embodiment of the present invention The first mask process will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited thereto. And the active pattern 124 and the source / drain electrodes 122 and 123 and the data line 117 may be formed by two mask processes.

도 7a 내지 도 7g는 도 5a 및 도 6a에 도시된 어레이 기판에 있어서, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 제 1 마스크공정을 구체적으로 나타내는 단면도이다.7A to 7G are cross-sectional views showing the first mask process according to the first embodiment of the present invention in the array substrate shown in Figs. 5A and 6A.

도 7a에 도시된 바와 같이, 상기 어레이 기판(110) 전면에 차례대로 제 1 도전막(130), 제 1 절연막(115), 비정질 실리콘 박막(120), n+ 비정질 실리콘 박막(125) 및 제 2 도전막(150)을 형성한다.7A, the first conductive layer 130, the first insulating layer 115, the amorphous silicon thin film 120, the n + amorphous silicon thin film 125, and the second insulating layer 125 are sequentially formed on the array substrate 110, A conductive film 150 is formed.

이때, 상기 제 1 도전막(130)은 제 1 내지 제 3 차광패턴을 구성하기 위해 크롬(chromium; Cr)과 같은 불투명한 도전물질로 이루어질 수 있으며, 상기 제 2 도전막(150)은 소오스전극과 드레인전극 및 데이터라인을 구성하기 위해 알루미늄(aluminium; Al), 알루미늄 합금(Al alloy), 텅스텐(tungsten; W), 구리(copper; Cu), 크롬, 몰리브덴(molybdenum; Mo) 및 몰리브덴 합금(Mo ally) 등과 같은 저저항 불투명 도전물질로 이루어질 수 있다.Here, the first conductive layer 130 may be made of an opaque conductive material such as chromium (Cr) to form first to third light-shielding patterns, and the second conductive layer 150 may be formed of a conductive material, Aluminum alloy, tungsten (W), copper (Cu), chromium, molybdenum (Mo), and molybdenum alloy (Al) Mo ally, and the like.

그리고, 도 7b에 도시된 바와 같이, 상기 어레이 기판(110) 전면에 포토레지 스트와 같은 감광성물질로 이루어진 감광막(170)을 형성한 후, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 하프-톤 마스크(180)를 통해 상기 감광막(170)에 선택적으로 광을 조사한다.7B, a photosensitive film 170 made of a photosensitive material such as a photoresist is formed on the entire surface of the array substrate 110, and then a half-tone mask (not shown) according to the first embodiment of the present invention And selectively irradiates the photoresist layer 170 with light.

이때, 상기 하프-톤 마스크(180)에는 조사된 광을 모두 투과시키는 제 1 투과영역(I)과 광의 일부만 투과시키고 일부는 차단하는 제 2 투과영역(II) 및 조사된 모든 광을 차단하는 차단영역(III)이 마련되어 있으며, 상기 제 1 하프-톤 마스크(180)를 투과한 광만이 상기 감광막(170)에 조사되게 된다.At this time, the half-tone mask 180 is provided with a first transmission region I through which all the irradiated light is transmitted, a second transmission region II through which only a part of light is transmitted and a portion is blocked, And only the light transmitted through the first half-tone mask 180 is irradiated onto the photoresist layer 170.

이어서, 상기 하프-톤 마스크(180)를 통해 노광된 상기 감광막(170)을 현상하고 나면, 도 7c에 도시된 바와 같이, 상기 차단영역(III)과 제 2 투과영역(II)을 통해 광이 모두 차단되거나 일부만 차단된 영역에는 소정 두께의 제 1 감광막패턴(170a) 내지 제 5 감광막패턴(170e)이 남아있게 되고, 모든 광이 투과된 제 1 투과영역(I)에는 상기 감광막이 완전히 제거되어 상기 제 2 도전막(150) 표면이 노출되게 된다.Then, after the photoresist layer 170 exposed through the half-tone mask 180 is developed, light is irradiated through the blocking region III and the second transmissive region II, as shown in FIG. 7C. A first photoresist pattern 170a to a fifth photoresist pattern 170e having a predetermined thickness are left in an area where all the light is blocked or partially blocked and the photoresist film is completely removed in the first light transmission area I The surface of the second conductive layer 150 is exposed.

이때, 상기 차단영역(III)에 형성된 제 1 감광막패턴(170a) 내지 제 4 감광막패턴(170d)은 제 2 투과영역(II)을 통해 형성된 제 5 감광막패턴(170e)보다 두껍게 형성된다. 또한, 상기 제 1 투과영역(I)을 통해 광이 모두 투과된 영역에는 상기 감광막이 완전히 제거되는데, 이것은 포지티브 타입의 포토레지스트를 사용했기 때문이며, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며 네거티브 타입의 포토레지스트를 사용하여도 무방하다.The first photoresist pattern 170a to the fourth photoresist pattern 170d formed in the blocking region III are thicker than the fifth photoresist pattern 170e formed through the second transmissive region II. In addition, the photoresist layer is completely removed from the region through which the light is completely transmitted through the first transmissive region I because the positive type photoresist is used. The present invention is not limited to this, May be used.

다음으로, 도 7d에 도시된 바와 같이, 상기와 같이 형성된 제 1 감광막패 턴(170a) 내지 제 5 감광막패턴(170e)을 마스크로 하여, 그 하부에 형성된 제 1 도전막, 제 1 절연막(115), 비정질 실리콘 박막, n+ 비정질 실리콘 박막 및 제 2 도전막을 선택적으로 제거하게 되면, 상기 어레이 기판(110)의 화소부에 상기 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 액티브패턴(124)이 형성되게 된다.Next, as shown in FIG. 7D, using the first photoresist pattern 170a to the fifth photoresist pattern 170e formed as described above as a mask, a first conductive film, a first insulating film 115 ), The amorphous silicon thin film, the n + amorphous silicon thin film, and the second conductive film are selectively removed, the active pattern 124 of the amorphous silicon thin film is formed on the pixel portion of the array substrate 110.

또한, 상기 액티브패턴(124)의 하부와 데이터라인영역 및 데이터패드라인영역에는 상기 제 1 절연막(115)이 개재된 상태에서 상기 제 1 도전막으로 이루어진 제 1 차광패턴(130')과 제 2 차광패턴(130") 및 제 3 차광패턴(130'")이 형성되게 된다.The first light-shielding pattern 130 'and the second light-shielding pattern 130', which are the first conductive layer, are formed in the lower part of the active pattern 124, the data line area, and the data pad line area with the first insulating layer 115 interposed therebetween. The light shielding pattern 130 "and the third light shielding pattern 130" " are formed.

이때, 상기 액티브패턴(124) 상부에는 각각 상기 n+ 비정질 실리콘 박막과 제 2 도전막으로 이루어지며 실질적으로 상기 액티브패턴(124)과 동일한 형태로 패터닝된 제 1 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125')과 제 2 도전막패턴(150')이 형성되게 된다.At this time, a first n + amorphous silicon thin film pattern 125 'formed of the n + amorphous silicon thin film and the second conductive film and patterned substantially in the same pattern as the active pattern 124 is formed on the active pattern 124, The second conductive film pattern 150 'is formed.

또한, 상기 제 2 차광패턴(130") 및 제 3 차광패턴(130'") 상부에는 각각 상기 비정질 실리콘 박막과 n+ 비정질 실리콘 박막 및 제 2 도전막으로 이루어지며 실질적으로 상기 제 2 차광패턴(130") 및 제 3 차광패턴(130'")과 동일한 형태로 패터닝된 제 1 비정질 실리콘 박막패턴(124')과 제 2 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125")과 데이터라인패턴(150") 및 제 2 비정질 실리콘 박막패턴(124")과 제 3 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125'")과 데이터패드라인패턴(150'")이 각각 형성되게 된다.The amorphous silicon thin film, the n + amorphous silicon thin film, and the second conductive film are formed on the second light-shielding pattern 130 "and the third light-shielding pattern 130" The first n + amorphous silicon thin film pattern 125 '' and the data line pattern 150 '' and the third n + amorphous silicon thin film pattern 125 '', which are patterned in the same pattern as the third light- 2 amorphous silicon thin film pattern 124 '' and the third n + amorphous silicon thin film pattern 125 '' and the data pad line pattern 150 '', respectively.

이후, 도 7e에 도시된 바와 같이, 상기 제 1 감광막패턴 내지 제 5 감광막패 턴의 일부를 제거하는 애싱(ahing)공정을 진행하여 상기 제 2 투과영역(II)의 제 5 감광막패턴을 완전히 제거한다.Thereafter, as shown in FIG. 7E, an ahing process for removing a portion of the first to fifth photosensitive film patterns is performed to completely remove the fifth photosensitive film pattern of the second transmission region II do.

이때, 상기 제 1 감광막패턴 내지 제 4 감광막패턴은 상기 제 5 감광막패턴의 두께만큼이 제거된 제 6 감광막패턴(170a') 내지 제 9 감광막패턴(170d')으로 상기 차단영역(III)에 대응하는 소오스/드레인전극영역과 데이터라인영역 및 데이터패드라인영역에만 남아있게 된다.At this time, the first to fourth photosensitive film patterns correspond to the blocking region III with the sixth photosensitive film pattern 170a 'to the ninth photosensitive film pattern 170d' removed by the thickness of the fifth photosensitive film pattern Only the source / drain electrode region, the data line region, and the data pad line region remain.

여기서, 본 발명의 제 1 실시예의 경우에는 상기 애싱공정을 통해 상기 제 6 감광막패턴(170a') 내지 제 9 감광막패턴(170d')이 상기 제 1 감광막패턴 내지 제 4 감광막패턴에 비해 두께뿐만 아니라 그 폭이 줄어든 경우를 예를 들어 나타내고 있으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며, 상기 제 6 감광막패턴(170a') 내지 제 9 감광막패턴(170d')은 상기 제 1 감광막패턴 내지 제 4 감광막패턴과 실질적으로 동일한 폭을 가지도록 패터닝 될 수도 있다.Here, in the case of the first embodiment of the present invention, the sixth photoresist pattern 170a 'to the ninth photoresist pattern 170d' are not only thicker than the first photoresist pattern to the fourth photoresist pattern, The sixth photoresist pattern 170a 'to the ninth photoresist pattern 170d' are formed on the first photoresist pattern to the fourth photoresist pattern 170d ', respectively, And may be patterned to have substantially the same width.

이후, 도 7f 및 도 7g에 도시된 바와 같이, 상기 남아있는 제 6 감광막패턴(170a') 내지 제 9 감광막패턴(170d')을 마스크로 하여 상기 제 2 도전막패턴의 일부를 제거함으로써 상기 어레이 기판(110)의 화소부에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 소오스전극(122)과 드레인전극(123)을 형성한다.7F and 7G, a part of the second conductive film pattern is removed using the remaining sixth photosensitive film pattern 170a 'to the ninth photosensitive film pattern 170d' as a mask, A source electrode 122 and a drain electrode 123, which are the second conductive film, are formed in a pixel portion of the substrate 110.

또한, 상기 남아있는 제 6 감광막패턴(170a') 내지 제 9 감광막패턴(170d')을 마스크로 하여 상기 데이터라인패턴 및 데이터패드라인패턴의 일부를 제거함으로써 상기 어레이 기판(110)의 데이터라인영역 및 데이터패드라인영역에 상기 제 2 도전막으로 이루어진 데이터라인(117) 및 데이터패드라인(117p)을 각각 형성한다.In addition, by partially removing the data line pattern and the data pad line pattern using the remaining sixth photoresist pattern 170a 'to the ninth photoresist pattern 170d' as masks, the data line area of the array substrate 110 And a data line 117 and a data pad line 117p made of the second conductive film are formed in the data pad line region, respectively.

이때, 상기 액티브패턴(124) 상부에는 상기 n+ 비정질 실리콘 박막으로 이루어지며 상기 액티브패턴(124)의 소오스/드레인영역과 상기 소오스/드레인전극(122, 123) 사이를 오믹-콘택시키는 오믹-콘택층(125n)이 형성되게 된다.At this time, on the active pattern 124, an ohmic contact layer (not shown) is formed of the n + amorphous silicon thin film and ohmic-contacted between the source / drain region of the active pattern 124 and the source / drain electrodes 122, (125n) is formed.

또한, 상기 데이터라인(117) 및 데이터패드라인(117p) 하부에는 상기 n+ 비정질 실리콘 박막으로 이루어지며 실질적으로 상기 데이터라인(117) 및 데이터패드라인(117p)과 동일한 형태로 패터닝된 제 4 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125"") 및 제 5 n+ 비정질 실리콘 박막패턴(125'"")이 형성되게 된다.The fourth n + amorphous silicon layer, which is formed of the n + amorphous silicon thin film and is patterned substantially in the same pattern as the data line 117 and the data pad line 117p, is formed under the data line 117 and the data pad line 117p. A silicon thin film pattern 125 "and a fifth n + amorphous silicon thin film pattern 125" "are formed.

이와 같이 본 발명의 제 1 실시예는 하프-톤 마스크를 이용함으로써 상기 액티브패턴(124), 소오스/드레인전극(122, 123), 데이터라인(117) 및 제 1 내지 제 3 차광패턴(130'~130'")을 한번의 마스크공정을 통해 형성할 수 있게 된다.As described above, the first embodiment of the present invention uses the half-tone mask to form the active pattern 124, the source / drain electrodes 122 and 123, the data line 117, and the first to third light-shielding patterns 130 ' To 130 "") can be formed through a single mask process.

이때, 상기 본 발명의 제 1 실시예의 제 1 내지 제 3 차광패턴(130'~130'")은 상기 액티브패턴(124)과 데이터라인(117) 및 데이터패드라인(117p) 하부에 형성된 경우를 예를 들어 설명하고 있으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 차광패턴은 상기 액티브패턴(124)과 데이터라인(117) 및 데이터패드라인(117p) 하부뿐만 아니라 게이트라인과 게이트패드라인 하부에도 형성될 수 있다.In this case, the first to third light-shielding patterns 130 'to 130' '' of the first embodiment of the present invention are formed under the active pattern 124, the data line 117, and the data pad line 117p The present invention is not limited thereto. The light-shielding pattern of the present invention can be applied to the gate line and the gate pad line as well as the active pattern 124, the data line 117 and the data pad line 117p, Can also be formed on the bottom.

다음으로, 도 5b 및 도 6b에 도시된 바와 같이, 상기 액티브패턴(124), 소오스/드레인전극(122, 123), 데이터라인(117) 및 제 1 내지 제 3 차광패턴(130'~130'")이 형성된 어레이 기판(110)의 화소부에 제 2 절연막(115a)이 개재된 상태에서 게이트전극(121)과 게이트라인(116) 및 공통라인(108l)을 형성하며, 상기 어레이 기판(110)의 게이트패드부에 상기 제 2 절연막(115a)이 개재된 상태에 서 게이트패드라인(116p)을 형성한다.Next, as shown in FIGS. 5B and 6B, the active pattern 124, the source / drain electrodes 122 and 123, the data line 117, and the first to third light-shielding patterns 130 'to 130' The gate line 121 and the gate line 116 and the common line 1081 are formed in the pixel portion of the array substrate 110 on which the second insulating film 115a is formed and the array substrate 110 The gate pad line 116p is formed with the second insulating layer 115a interposed therebetween.

이때, 상기 게이트전극(121), 게이트라인(116), 공통라인(108l) 및 게이트패드라인(116p)은 제 3 도전막을 상기 액티브패턴(124), 소오스/드레인전극(122, 123), 데이터라인(117) 및 제 1 내지 제 3 차광패턴(130'~130'")이 형성된 어레이 기판(110) 전면에 증착한 후 포토리소그래피공정(제 2 마스크공정)을 통해 선택적으로 패터닝하여 형성하게 된다.At this time, the gate electrode 121, the gate line 116, the common line 1081 and the gate pad line 116p form a third conductive film on the active pattern 124, the source / drain electrodes 122 and 123, Is deposited on the entire surface of the array substrate 110 on which the line 117 and the first to third light shielding patterns 130 'to 130' '' are formed, and is selectively patterned through a photolithography process (second mask process) .

여기서, 상기 제 3 도전막으로 알루미늄, 알루미늄 합금, 텅스텐, 구리, 크롬, 몰리브덴 및 몰리브덴 합금 등과 같은 저저항 불투명 도전물질을 사용할 수 있다. 또한, 상기 제 3 도전막은 상기 저저항 도전물질이 두 가지 이상 적층된 다층구조로 형성할 수 있다.Here, as the third conductive film, a low resistance opaque conductive material such as aluminum, aluminum alloy, tungsten, copper, chromium, molybdenum, or molybdenum alloy may be used. The third conductive layer may be formed in a multi-layer structure in which two or more low resistance conductive materials are stacked.

이때, 본 발명의 액정표시장치는 상기와 같이 액티브패턴(124)과 소오스/드레인전극(122, 123)이 형성된 어레이 기판(110) 상부에 게이트전극(121)이 위치하는 탑 게이트 방식을 가지는 것을 특징으로 한다.The liquid crystal display of the present invention has a top gate structure in which the gate electrode 121 is positioned above the array substrate 110 on which the active pattern 124 and the source and drain electrodes 122 and 123 are formed .

다음으로, 도 5c 및 도 6c에 도시된 바와 같이, 상기 게이트전극(121), 게이트라인(116), 공통라인(108l) 및 게이트패드라인(116p)이 형성된 어레이 기판(110) 전면에 제 3 절연막(115b)을 형성한 후, 포토리소그래피공정(제 3 마스크공정)을 통해 선택적으로 제거함으로써 상기 어레이 기판(110)의 드레인전극(123)의 일부를 노출시키는 제 1 콘택홀(140a)을 형성한다.Next, as shown in FIGS. 5C and 6C, on the front surface of the array substrate 110 on which the gate electrode 121, the gate line 116, the common line 1081 and the gate pad line 116p are formed, A first contact hole 140a for exposing a part of the drain electrode 123 of the array substrate 110 is formed by selectively removing the insulating film 115b through a photolithography process (a third mask process) do.

또한, 상기 제 3 마스크공정을 통해 상기 제 3 절연막(115b)의 일부영역을 제거함으로써 상기 데이터패드부 및 게이트패드부 각각에 상기 데이터패드라 인(117p) 및 게이트패드라인(116p)의 일부를 노출시키는 제 2 콘택홀(140b)과 제 3 콘택홀(140c)을 형성한다.In addition, a part of the third insulating film 115b may be removed through the third masking process so that a part of the data pad line 117p and the gate pad line 116p are formed in the data pad portion and the gate pad portion, A second contact hole 140b and a third contact hole 140c are formed.

그리고, 도 5d 및 도 6d에 도시된 바와 같이, 상기 제 1 콘택홀(140a) 내지 제 3 콘택홀(140c)이 형성된 상기 제 3 절연막(115b) 전면에 투명한 도전물질로 이루어진 제 4 도전막을 형성한 후, 포토리소그래피공정(제 4 마스크공정)을 이용하여 선택적으로 패터닝함으로써 상기 화소영역 내에 상기 제 1 콘택홀(140a)을 통해 상기 드레인전극(123)과 전기적으로 접속하는 화소전극(118)을 형성한다.5D and 6D, a fourth conductive film made of a transparent conductive material is formed on the entire surface of the third insulating film 115b on which the first to third contact holes 140a to 140c are formed A pixel electrode 118 electrically connected to the drain electrode 123 through the first contact hole 140a is formed in the pixel region by patterning selectively using a photolithography process (fourth mask process) .

이때, 상기 제 4 마스크공정을 이용하여 상기 제 4 도전막을 선택적으로 패터닝함으로써 상기 데이터패드부 및 게이트패드부 각각에 상기 제 2 콘택홀(140b) 및 제 3 콘택홀(140c)을 통해 상기 데이터패드라인(117p) 및 게이트패드라인(116p)에 전기적으로 접속하는 데이터패드전극(127p) 및 게이트패드전극(126p)을 형성하게 된다.At this time, the fourth conductive layer is selectively patterned using the fourth mask process to form data pad portions and gate pad portions, respectively, through the second contact holes 140b and the third contact holes 140c, A data pad electrode 127p and a gate pad electrode 126p electrically connected to the line 117p and the gate pad line 116p are formed.

이때, 상기 제 4 도전막은 상기 화소전극(118)과 데이터패드전극(127p) 및 게이트패드전극(126p)을 형성하기 위해 인듐-틴-옥사이드(Indium Tin Oxide; ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(Indium Zinc Oxide; IZO) 와 같은 투과율이 뛰어난 투명한 도전물질을 포함한다.The fourth conductive layer may be formed of indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (ITO) to form the pixel electrode 118, the data pad electrode 127p, and the gate pad electrode 126p. And indium zinc oxide (IZO).

이와 같이 제작된 본 발명의 제 1 실시예에 따른 어레이 기판은 컬러필터 기판과 대향하여 합착함으로써 액정표시장치를 구성하게 되며, 이를 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.The array substrate according to the first embodiment of the present invention, which is fabricated as described above, is attached to the color filter substrate opposite to the color filter substrate, thereby forming a liquid crystal display device.

도 8은 도 5d에 도시된 어레이 기판과 컬러필터 기판이 합착하여 구성된 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치를 개략적으로 나타내는 단면도로써, 하부 어레이 기판의 차광패턴이 상부 컬러필터 기판의 블랙매트릭스의 역할을 하도록 한 액정표시장치를 나타내고 있다.FIG. 8 is a cross-sectional view schematically showing a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention in which the array substrate and the color filter substrate shown in FIG. 5D are cemented together, And a liquid crystal display device serving as a matrix.

도면에 도시된 바와 같이, 상기와 같이 제작된 어레이 기판(110)은 컬러필터 기판(105)에 형성된 컬럼 스페이서(미도시)에 의해 일정한 셀갭이 유지되는 상태에서 상기 컬러필터 기판(105)과 합착하여 액정표시장치를 구성하게 된다.As shown in the drawing, the array substrate 110 manufactured as described above is adhered to the color filter substrate 105 in a state where a certain cell gap is maintained by a column spacer (not shown) formed on the color filter substrate 105, Thereby constituting a liquid crystal display device.

이때, 상기 컬러필터 기판(105)은 투명한 컬러필터 기판(105) 위에 적, 녹 및 청색의 색상을 구현하는 다수의 서브-컬러필터(107)로 구성된 컬러필터와 상기 서브-컬러필터(107) 사이를 구분하고 액정층(190)을 투과하는 광을 차단하는 블랙매트릭스(106), 그리고 상기 액정층(190)에 전압을 인가하는 투명한 공통전극(108)으로 이루어져 있다.At this time, the color filter substrate 105 is provided with a color filter composed of a plurality of sub-color filters 107 implementing red, green and blue hues on the transparent color filter substrate 105, And a transparent common electrode 108 for applying a voltage to the liquid crystal layer 190. The liquid crystal layer 190 is formed of a transparent matrix material.

상기 블랙매트릭스(106)는 화소들의 경계영역에 패터닝되어 액정표시장치 하부의 백라이트로부터 발생된 빛의 누설을 차단하고, 인접하는 화소들의 혼색을 방지하는 역할을 할 수 있다.The black matrix 106 may be patterned in a boundary region of pixels to prevent leakage of light generated from the backlight in the lower portion of the liquid crystal display device and to prevent color mixing of neighboring pixels.

이때, 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 컬러필터 상부에는 오버코트층(over coat layer)이 추가로 형성될 수 있으며, 상기 오버코트층은 상기 서브-컬러필터(106)들의 일부가 상기 블랙매트릭스(106)와 오버랩 됨에 따라 발생하는 단차를 제거하여 컬러필터의 상부 표면을 평탄화시키는 역할을 한다.At this time, although not shown in the drawing, an over coat layer may be further formed on the color filter, and the overcoat layer may be formed by a part of the sub-color filters 106, The upper surface of the color filter is flattened by eliminating the step that occurs due to overlapping.

이때, 본 발명의 제 1 실시예의 경우에는 하부 어레이 기판(110)의 액티브패턴(124)과 데이터라인(117) 및 데이터패드라인(미도시) 하부에 불투명한 도전물질 로 이루어진 제 1 차광패턴(130')과 제 2 차광패턴(130") 및 제 3 차광패턴(미도시)이 형성되게 됨에 따라 전술한 액정표시장치 하부의 백라이트로부터 발생된 빛의 누설을 차단하는 블랙매트릭스(106)의 역할을 하게 된다. 그 결과 상기 컬러필터 기판(105)의 블랙매트릭스(106)는 그 마진(d')을 w폭만큼 줄일 수 있게 되어 실질적으로 개구율이 향상되는 효과를 제공하게 된다.At this time, in the case of the first embodiment of the present invention, a first light-shielding pattern (not shown) made of an opaque conductive material is formed under the active pattern 124 of the lower array substrate 110, the data line 117 and the data pad line Shielding pattern (not shown) is formed between the first light-shielding pattern 130 ', the second light-shielding pattern 130' and the third light-shielding pattern 130 ', the black matrix 106 functions to block leakage of light generated from the backlight below the liquid- As a result, the black matrix 106 of the color filter substrate 105 can reduce the margin d 'by the width w, thereby providing an effect of substantially improving the aperture ratio.

즉, 상기 컬러필터 기판(105)과 어레이 기판(110)의 합착시 오정렬이 발생하더라도 상기 블랙매트릭스(106)가 위치하는 어레이 기판(110)의 액티브패턴(124)과 데이터라인(117) 및 데이터패드라인 하부에 불투명한 도전물질로 이루어진 제 1 차광패턴(130')과 제 2 차광패턴(130") 및 제 3 차광패턴이 형성되어 있어 하부의 백라이트로부터 발생된 빛의 누설을 차단할 수 있게 된다.That is, even if misalignment occurs when the color filter substrate 105 and the array substrate 110 are attached together, the active pattern 124 of the array substrate 110 on which the black matrix 106 is located, the data line 117, The first light-shielding pattern 130 ', the second light-shielding pattern 130', and the third light-shielding pattern, which are made of opaque conductive material, are formed under the pad line, thereby blocking leakage of light generated from the lower backlight .

참고로, 도면부호 d는 전술한 기존의 액정표시장치에 있어서 블랙매트릭스의 마진을 나타낸다.For reference, reference numeral "d" denotes the margin of the black matrix in the conventional liquid crystal display device described above.

전술한 바와 같이 상기 제 1 실시예의 액정표시장치는 상기 액티브패턴(124)과 데이터라인(117) 및 데이터패드라인 하부에 제 1 차광패턴(130')과 제 2 차광패턴(130") 및 제 3 차광패턴이 형성된 경우를 예를 들어 설명하고 있으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 본 발명은 차광패턴이 액티브패턴과 데이터라인 및 데이터패드라인 하부뿐만 아니라 게이트라인과 게이트패드라인 하부에도 형성된 경우에도 적용 가능하며, 이를 다음의 본 발명의 제 2 실시예를 통해 상세히 설명한다.As described above, the liquid crystal display of the first embodiment has the first light-shielding pattern 130 'and the second light-shielding pattern 130 "and the second light-shielding pattern 130" below the active pattern 124, the data line 117, Shielding pattern is formed not only under the active pattern, the data line, and the data pad line but also under the gate line and the gate pad line. And will be described in detail through the following second embodiment of the present invention.

도 9는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정표시장치의 어레이 기판 일부를 개략적으로 나타내는 평면도로써, 게이트라인과 게이트패드라인 하부에도 차광패턴이 형성된 것을 제외하고는 상기 제 1 실시예에 따른 액정표시장치의 어레이 기판과 동일한 구성요소로 구성되어 있다.9 is a plan view schematically showing a part of an array substrate of a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention. In the liquid crystal display device according to the first embodiment, except that a shielding pattern is also formed under the gate lines and gate pad lines, And is composed of the same components as the array substrate of the display device.

도면에 도시된 바와 같이, 상기 제 2 실시예의 어레이 기판(210)에는 상기 어레이 기판(210) 위에 종횡으로 배열되어 화소영역을 정의하는 게이트라인(216)과 데이터라인(217)이 형성되어 있다. 또한, 상기 게이트라인(216)과 데이터라인(217)의 교차영역에는 스위칭소자인 박막 트랜지스터가 형성되어 있으며, 상기 화소영역 내에는 상기 박막 트랜지스터에 연결되어 컬러필터 기판(미도시)의 공통전극과 함께 액정(미도시)을 구동시키는 화소전극(218)이 형성되어 있다.As shown in the drawing, a gate line 216 and a data line 217 are formed on the array substrate 210 on the array substrate 210 in the second embodiment. In addition, a thin film transistor, which is a switching device, is formed in an intersection region of the gate line 216 and the data line 217, and a common electrode of a color filter substrate (not shown) is connected to the thin film transistor A pixel electrode 218 for driving a liquid crystal (not shown) is formed.

상기 박막 트랜지스터는 상기 게이트라인(216)에 연결된 게이트전극(221), 상기 데이터라인(217)에 연결된 소오스전극(222) 및 제 1 콘택홀(240a)을 통해 상기 화소전극(218)에 전기적으로 접속한 드레인전극(223)으로 구성되어 있다. 또한, 상기 박막 트랜지스터는 상기 게이트전극(221)에 공급되는 게이트 전압에 의해 상기 소오스전극(222)과 드레인전극(223) 간에 전도채널을 형성하는 액티브패턴(224)을 포함한다.The thin film transistor is electrically connected to the pixel electrode 218 through a gate electrode 221 connected to the gate line 216, a source electrode 222 connected to the data line 217, and a first contact hole 240a. And the drain electrode 223 connected thereto. The thin film transistor includes an active pattern 224 that forms a conduction channel between the source electrode 222 and the drain electrode 223 by a gate voltage supplied to the gate electrode 221.

이때, 상기 본 발명의 제 2 실시예에 따른 박막 트랜지스터는 상기 게이트전극(221)이 상기 소오스전극(222)과 드레인전극(223) 및 액티브패턴(224) 상부에 위치하는 탑 게이트 방식인 것을 특징으로 한다.The thin film transistor according to the second embodiment of the present invention is a top gate type in which the gate electrode 221 is located above the source electrode 222, the drain electrode 223 and the active pattern 224 .

또한, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 어레이 기판(210)은 상기 액티브패 턴(224), 데이터라인(217), 게이트라인(216), 데이터패드라인(217p) 및 게이트패드라인(216p) 하부에 크롬과 같은 불투명한 도전물질로 이루어진 차광패턴(230)이 형성되어 있는 것을 특징으로 하며, 상기 차광패턴(230)은 상기 박막 트랜지스터영역, 데이터라인(117)영역, 게이트라인(116)영역, 데이터패드라인(117p)영역 및 게이트패드라인(216p)영역으로 빛이 투과되는 것을 차단하는 역할을 하게된다. 참고로, 도면부호 224'은 상기 차광패턴(230) 상부에 비정질 실리콘 박막으로 이루어진 비정질 실리콘 박막패턴을 나타낸다.The array substrate 210 according to the second embodiment of the present invention includes the active pattern 224, the data line 217, the gate line 216, the data pad line 217p, and the gate pad line 216p. And a light shielding pattern 230 made of an opaque conductive material such as chrome is formed on the lower portion of the gate line 116. The light shielding pattern 230 is formed on the thin film transistor region, The data pad line 117p region, and the gate pad line 216p region. Reference numeral 224 'denotes an amorphous silicon thin film pattern made of an amorphous silicon thin film on the light shielding pattern 230.

이때, 상기 화소영역 내에는 상기 게이트라인(216)에 대해 실질적으로 평행한 방향으로 공통라인(208l)이 배열되어 있으며, 상기 공통라인(208l)의 일부는 제 3 절연막(미도시)을 사이에 두고 그 상부의 화소전극(218)의 일부와 중첩하여 스토리지 커패시터(Cst)를 형성하게 된다.At this time, common lines 2081 are arranged in the pixel region in a direction substantially parallel to the gate lines 216, and a part of the common lines 2081 are arranged in a direction in which a third insulating film (not shown) And overlaps a part of the pixel electrode 218 on the upper part to form a storage capacitor Cst.

이와 같이 구성된 상기 어레이 기판(210)의 가장자리 영역에는 상기 게이트라인(216)과 데이터라인(217)에 각각 전기적으로 접속하는 게이트패드전극(226p)과 데이터패드전극(227p)이 형성되어 있으며, 외부의 구동회로부(미도시)로부터 인가 받은 주사신호와 데이터신호를 각각 상기 게이트라인(216)과 데이터라인(217)에 전달하게 된다.A gate pad electrode 226p and a data pad electrode 227p electrically connected to the gate line 216 and the data line 217 are formed in the edge region of the array substrate 210, The gate line 216 and the data line 217 transmit the scan signal and the data signal, respectively, to the gate line 216 and the data line 217, respectively.

즉, 상기 게이트라인(216)과 데이터라인(217)은 구동회로부 쪽으로 연장되어 각각 해당하는 게이트패드라인(216p)과 데이터패드라인(217p)에 연결되며, 상기 게이트패드라인(216p)과 데이터패드라인(217p)은 상기 게이트패드라인(216p)과 데이터패드라인(217p)에 각각 전기적으로 접속된 게이트패드전극(226p)과 데이터패드전 극(227p)을 통해 구동회로부로부터 각각 주사신호와 데이터신호를 인가 받게 된다.That is, the gate line 216 and the data line 217 extend to the driving circuit portion and are connected to the corresponding gate pad line 216p and the data pad line 217p, The line 217p is connected to the gate pad line 216p and the data pad line 217p through a gate pad electrode 226p and a data pad electrode 227p electrically connected to the gate pad line 216p and the data pad line 217p, .

참고로, 도면부호 240b 및 240c는 각각 제 2 콘택홀 및 제 3 콘택홀을 나타내며, 이때 상기 데이터패드전극(227p)은 상기 제 2 콘택홀(240b)을 통해 상기 데이터패드라인(217p)과 전기적으로 접속하고 상기 게이트패드전극(226p)은 상기 제 3 콘택홀(240c)을 통해 상기 게이트패드라인(216p)과 전기적으로 접속하게 된다The data pad electrode 227p is electrically connected to the data pad line 217p through the second contact hole 240b and the second contact hole 240b is electrically connected to the data pad line 217p through the second contact hole 240b. And the gate pad electrode 226p is electrically connected to the gate pad line 216p through the third contact hole 240c

여기서, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정표시장치는 액티브패턴(224)과 데이터라인(217) 및 데이터패드라인(217p) 하부뿐만 아니라 게이트라인(216)과 게이트패드라인(216p) 하부에도 불투명한 도전물질로 이루어진 차광패턴(230)이 존재함에 따라 상기 제 1 실시예의 액정표시장치에 비해 상부 컬러필터 기판의 블랙매트릭스 마진을 더욱 줄일 수 있게 되며, 그 결과 개구율을 더욱 향상시킬 수 있게 된다.Here, the liquid crystal display according to the second embodiment of the present invention is not limited to the active pattern 224, the data line 217 and the data pad line 217p as well as the lower part of the gate line 216 and the gate pad line 216p The black matrix margin of the upper color filter substrate can be further reduced as compared with the liquid crystal display of the first embodiment as a result of the presence of the light shielding pattern 230 made of the opaque conductive material, .

도 10a는 일반적인 액정표시장치에 있어서, 상부 컬러필터 기판의 블랙매트릭스 구조를 개략적으로 나타내는 평면도이며, 도 10b는 도 9에 도시된 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정표시장치에 있어서, 상부 컬러필터 기판의 블랙매트릭스 구조를 개략적으로 나타내는 평면도이다.10A is a plan view schematically showing a black matrix structure of an upper color filter substrate in a general liquid crystal display device, and FIG. 10B is a plan view of a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention shown in FIG. Fig. 6 is a plan view schematically showing a black matrix structure of a filter substrate. Fig.

도 10a에 도시된 바와 같이, 일반적인 액정표시장치는 상부 컬러필터 기판(5)에 하부 어레이 기판의 박막 트랜지스터영역과 게이트라인영역 및 데이터라인영역으로 하부의 백라이트 빛이 누설되는 것을 차단하기 위해 소정의 블랙매트릭스(6)가 형성되어 있다.As shown in FIG. 10A, a typical liquid crystal display device includes a thin film transistor region, a gate line region, and a data line region of a lower array substrate on an upper color filter substrate 5, A black matrix 6 is formed.

이때, 상기 블랙매트릭스(6)는 상기 컬러필터 기판(5)과 어레이 기판의 합착 시 발생하는 오정렬에 의한 빛샘 현상을 방지하기 위해 소정의 마진을 가지도록 형성되어 있다. 그 결과 일반적인 액정표시장치의 경우에는 상기 블랙매트릭스의 마진에 의해 개구율이 감소하게 된다.At this time, the black matrix 6 is formed to have a predetermined margin to prevent light leakage due to misalignment occurring when the color filter substrate 5 and the array substrate are attached together. As a result, in the case of a general liquid crystal display device, the aperture ratio is reduced by the margin of the black matrix.

도 10b에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정표시장치는 하부 어레이 기판의 박막 트랜지스터영역과 게이트라인영역 및 데이터라인영역에 불투명한 도전물질로 이루어진 차광패턴이 형성되어 있어 상부 컬러필터 기판(205)의 블랙매트릭스(206)가 적, 녹 및 청색의 서브-컬러필터를 구분하기 위한 최소한의 폭만을 가지도록 형성될 수 있다. 그 결과 상기 블랙매트릭스의 줄어든 마진폭만큼 개구율이 향상되게 된다.10B, in the liquid crystal display device according to the second embodiment of the present invention, the light shielding pattern made of the opaque conductive material is formed in the thin film transistor region, the gate line region, and the data line region of the lower array substrate, The black matrix 206 of the color filter substrate 205 may be formed to have only a minimum width for distinguishing red, green and blue sub-color filters. As a result, the aperture ratio is improved by the reduced margin of the black matrix.

상기 제 1 실시예 및 제 2 실시예는 액티브패턴으로 비정질 실리콘 박막을 이용한 비정질 실리콘 박막 트랜지스터를 예를 들어 설명하고 있으나, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니며 본 발명은 상기 액티브패턴으로 다결정 실리콘 박막을 이용한 다결정 실리콘 박막 트랜지스터에도 적용된다.Although the amorphous silicon thin film transistor using the amorphous silicon thin film as the active pattern has been described as an example of the first and second embodiments, the present invention is not limited thereto. The present invention can be applied to the case where the polycrystalline silicon thin film Is also applied to a polycrystalline silicon thin film transistor.

또한, 본 발명은 액정표시장치뿐만 아니라 박막 트랜지스터를 이용하여 제작하는 다른 표시장치, 예를 들면 구동 트랜지스터에 유기전계발광소자(Organic Light Emitting Diodes; OLED)가 연결된 유기전계발광 디스플레이장치에도 이용될 수 있다.In addition, the present invention can be applied not only to a liquid crystal display device but also to other display devices manufactured using thin film transistors, for example, organic electroluminescent display devices in which organic light emitting diodes (OLEDs) have.

상기한 설명에 많은 사항이 구체적으로 기재되어 있으나 이것은 발명의 범위를 한정하는 것이라기보다 바람직한 실시예의 예시로서 해석되어야 한다. 따라서 발명은 설명된 실시예에 의하여 정할 것이 아니고 특허청구범위와 특허청구범위에 균등한 것에 의하여 정하여져야 한다.While a great many are described in the foregoing description, it should be construed as an example of preferred embodiments rather than limiting the scope of the invention. Therefore, the invention should not be construed as limited to the embodiments described, but should be determined by equivalents to the appended claims and the claims.

도 1은 일반적인 액정표시장치를 개략적으로 나타내는 분해사시도.1 is an exploded perspective view schematically showing a general liquid crystal display device.

도 2a 내지 도 2e는 도 1에 도시된 액정표시장치에 있어서, 어레이 기판의 제조공정을 순차적으로 나타내는 단면도.2A to 2E are sectional views sequentially showing a manufacturing process of an array substrate in the liquid crystal display device shown in Fig.

도 3은 도 2e에 도시된 어레이 기판과 컬러필터 기판이 합착하여 구성된 일반적인 액정표시장치를 개략적으로 나타내는 단면도.FIG. 3 is a cross-sectional view schematically showing a general liquid crystal display device in which the array substrate and the color filter substrate shown in FIG.

도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치의 어레이 기판 일부를 개략적으로 나타내는 평면도.4 is a plan view schematically showing a part of an array substrate of a liquid crystal display device according to the first embodiment of the present invention.

도 5a 내지 도 5d는 도 4에 도시된 어레이 기판의 IVa-IVa'선과 IVb-IVb선 및 IVc-IVc선에 따른 제조공정을 순차적으로 나타내는 단면도.FIGS. 5A to 5D are cross-sectional views sequentially showing a manufacturing process according to lines IVa-IVa ', IVb-IVb and IVc-IVc of the array substrate shown in FIG.

도 6a 내지 도 6d는 도 4에 도시된 어레이 기판의 제조공정을 순차적으로 나타내는 평면도.6A to 6D are plan views sequentially showing the manufacturing steps of the array substrate shown in Fig.

도 7a 내지 도 7g는 도 5a 및 도 6a에 도시된 어레이 기판에 있어서, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 제 1 마스크공정을 구체적으로 나타내는 단면도.FIGS. 7A to 7G are cross-sectional views specifically showing a first mask process according to the first embodiment of the present invention in the array substrate shown in FIGS. 5A and 6A. FIG.

도 8은 도 5d에 도시된 어레이 기판과 컬러필터 기판이 합착하여 구성된 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정표시장치를 개략적으로 나타내는 단면도.8 is a cross-sectional view schematically showing a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention in which the array substrate and the color filter substrate shown in FIG.

도 9는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정표시장치의 어레이 기판 일부를 개략적으로 나타내는 평면도.9 is a plan view schematically showing a part of an array substrate of a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention.

도 10a는 일반적인 액정표시장치에 있어서, 상부 컬러필터 기판의 블랙매트릭스 구조를 개략적으로 나타내는 평면도.10A is a plan view schematically showing a black matrix structure of an upper color filter substrate in a general liquid crystal display device.

도 10b는 도 9에 도시된 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정표시장치에 있어서, 상부 컬러필터 기판의 블랙매트릭스 구조를 개략적으로 나타내는 평면도.FIG. 10B is a plan view schematically showing a black matrix structure of an upper color filter substrate in a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention shown in FIG. 9; FIG.

** 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 **DESCRIPTION OF REFERENCE NUMERALS

110,210 : 어레이 기판 116,216 : 게이트라인110, 210: array substrate 116, 216: gate line

117,217 : 데이터라인 118,218 : 화소전극117, 217: Data lines 118, 218:

121,221 : 게이트전극 122,222 : 소오스전극121, 221: gate electrodes 122, 222: source electrode

123,223 : 드레인전극 124,224 : 액티브패턴123, 223: drain electrode 124, 224: active pattern

130'~130'",230 : 차광패턴130 'to 130' '', 230: Shading pattern

Claims (15)

제 1 기판을 제공하는 단계;Providing a first substrate; 제 1 마스크공정을 통해 상기 제 1 기판의 박막 트랜지스터영역과 데이터라인영역 및 게이트라인영역에 각각 불투명한 도전물질로 제 1 차광패턴과 제 2 차광패턴 및 제 3 차광패턴을 형성하는 단계;Forming a first light-shielding pattern, a second light-shielding pattern, and a third light-shielding pattern on the thin-film transistor region, the data line region and the gate line region of the first substrate through a first masking process with opaque conductive materials; 상기 제 1 마스크공정을 이용하여 제 1 절연막이 개재되어 있는 상기 제 1 차광패턴 상부에 액티브패턴과 소오스/드레인전극을 형성하는 단계;Forming an active pattern and a source / drain electrode on the first light-shielding pattern including the first insulating layer using the first mask process; 상기 제 1 마스크공정을 이용하여 상기 제 1 절연막과 비정질 실리콘 박막패턴 및 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 개재되어 있는 상기 제 2 차광패턴 상부에 데이터라인을 형성하는 단계;Forming a data line on the second light-shielding pattern including the first insulating layer, the amorphous silicon thin-film pattern, and the n + amorphous silicon thin-film pattern using the first mask process; 제 2 마스크공정을 통해 제 2 절연막이 개재되어 있는 상기 제 1 기판의 액티브패턴 상부에 게이트전극을 형성하는 단계;Forming a gate electrode on the active pattern of the first substrate in which the second insulating film is interposed through a second mask process; 상기 제 2 마스크공정을 이용하여 상기 제 1 절연막, 상기 비정질 실리콘 박막패턴, 상기 n+ 비정질 실리콘 박막패턴 및 상기 제 2 절연막이 순차적으로 개재되어 있는 상기 제 3 차광패턴 상부에 상기 데이터라인과 교차하여 화소영역을 정의하는 게이트라인을 형성하는 단계;The first insulating film, the amorphous silicon thin film pattern, the n < + > amorphous silicon thin film pattern, and the second insulating film are sequentially interposed between the third light-shielding pattern and the data line, Forming a gate line defining an area; 상기 제 2 마스크공정을 이용하여 상기 제 2 절연막만이 개재되어 있는 상기 제 1 기판 상부의 화소영역 내에 공통라인을 형성하는 단계;Forming a common line in the pixel region above the first substrate in which only the second insulating film is interposed using the second mask process; 상기 게이트전극과 게이트라인 및 공통라인이 형성된 제 1 기판 위에 제 3 절연막을 형성하는 단계;Forming a third insulating film on the first substrate on which the gate electrode, the gate line, and the common line are formed; 제 3 마스크공정을 통해 상기 제 3 절연막의 일부영역을 제거하여 상기 드레인전극의 일부를 노출시키는 콘택홀을 형성하는 단계;Removing a part of the third insulating film through a third mask process to form a contact hole exposing a part of the drain electrode; 제 4 마스크공정을 이용하여 상기 콘택홀을 통해 상기 드레인전극과 전기적으로 접속하는 화소전극을 형성하는 단계; 및Forming a pixel electrode electrically connected to the drain electrode through the contact hole using a fourth mask process; And 상기 제 1 기판과 제 2 기판을 합착하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 제조방법.And bonding the first substrate and the second substrate to each other. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 마스크공정을 이용하여 상기 액티브패턴 위에 n+ 비정질 실리콘 박막으로 형성하되, 상기 액티브패턴의 소오스/드레인영역과 상기 소오스/드레인전극을 오믹-콘택시키는 오믹-콘택층을 형성하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법.The method of claim 1, further comprising: forming an n + amorphous silicon thin film on the active pattern using the first mask process, wherein an ohmic contact layer is formed between the source / drain region of the active pattern and the source / And forming a second electrode on the second electrode. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 차광패턴은 상기 액티브패턴 하부에 상기 액티브패턴과 동일한 형태를 가지도록 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법.The method of manufacturing a liquid crystal display device according to claim 1, wherein the first light-shielding pattern is formed under the active pattern so as to have the same shape as the active pattern. 제 3 항에 있어서, 상기 제 2 차광패턴은 상기 데이터라인 하부에 상기 데이터라인보다 넓은 폭을 가지도록 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법.The method according to claim 3, wherein the second light-shielding pattern is formed under the data line so as to have a wider width than the data line. 제 4 항에 있어서, 상기 제 3 차광패턴은 상기 게이트라인 하부에 상기 게이트라인보다 넓은 폭을 가지도록 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법.5. The method of claim 4, wherein the third light-shielding pattern is formed under the gate line so as to have a width wider than the gate line. 삭제delete 제 1 항에 있어서, 상기 공통라인의 일부는 상기 제 3 절연막이 개재되어 있는 상기 화소전극의 일부와 오버랩하여 스토리지 커패시터를 형성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법.The manufacturing method of a liquid crystal display device according to claim 1, wherein a part of the common line overlaps with a part of the pixel electrode in which the third insulating film is interposed, thereby forming a storage capacitor. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1, 제 2, 제 3 차광패턴과 대응하는 상기 제 2 기판에 상기 제 1, 제 2, 제 3 차광패턴보다 좁은 폭을 가지도록 블랙매트릭스를 형성하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법.The method of claim 1, further comprising forming a black matrix on the second substrate corresponding to the first, second, and third light-shielding patterns so as to have a narrower width than the first, second, and third light- And forming a second electrode on the second electrode. 제 1 기판의 박막 트랜지스터영역과 데이터라인영역 및 게이트라인영역에 각각 불투명한 도전물질로 구비된 제 1 차광패턴과 제 2 차광패턴 및 제 3 차광패턴;A first light-shielding pattern, a second light-shielding pattern, and a third light-shielding pattern provided on the thin-film transistor region, the data line region, and the gate line region of the first substrate, respectively, as opaque conductive materials; 제 1 절연막이 개재되어 있는 상기 제 1 차광패턴 상부에 구비된 액티브패턴;An active pattern provided on the first light-shielding pattern on which the first insulating film is disposed; 상기 액티브패턴 상부에 구비되어 상기 액티브패턴의 소오스영역 및 드레인영역과 전기적으로 접속하는 소오스전극 및 드레인전극;A source electrode and a drain electrode provided on the active pattern and electrically connected to a source region and a drain region of the active pattern; 상기 제 1 절연막과 비정질 실리콘 박막패턴 및 n+ 비정질 실리콘 박막패턴이 개재되어 있는 상기 제 2 차광패턴 상부에 구비된 데이터라인;A data line provided on the second light-shielding pattern having the first insulating film, the amorphous silicon thin film pattern and the n + amorphous silicon thin film pattern interposed therebetween; 제 2 절연막이 개재되어 있는 상기 액티브패턴 상부에 구비된 게이트전극;A gate electrode provided on the active pattern with a second insulating film interposed therebetween; 상기 제 1 절연막, 상기 비정질 실리콘 박막패턴, 상기 n+ 비정질 실리콘 박막패턴 및 상기 제 2 절연막이 순차적으로 개재되어 있는 상기 제 3 차광패턴 상부에 구비되어 상기 데이터라인과 교차하여 화소영역을 정의하는 게이트라인;And a gate line which is provided on the third light-shielding pattern in which the first insulating film, the amorphous silicon thin film pattern, the n + amorphous silicon thin film pattern, and the second insulating film are sequentially interposed and crosses the data line, ; 상기 제 2 절연막만이 개재되어 있는 상기 제 1 기판 상부의 화소영역 내에 구비된 공통라인;A common line provided in a pixel region above the first substrate in which only the second insulating film exists; 상기 게이트전극과 게이트라인 및 공통라인이 구비된 제 1 기판 위에 구비된 제 3 절연막;A third insulating layer provided on the first substrate having the gate electrode, the gate line, and the common line; 상기 화소영역에 구비되며, 상기 제 3 절연막에 구비된 콘택홀을 통해 상기 드레인전극과 전기적으로 접속하는 화소전극; 및A pixel electrode provided in the pixel region and electrically connected to the drain electrode through a contact hole provided in the third insulating film; And 상기 제 1 기판과 대향하여 합착하는 제 2 기판을 포함하는 액정표시장치.And a second substrate which is adhered to and adhered to the first substrate. 제 9 항에 있어서, 상기 액티브패턴 위에 n+ 비정질 실리콘 박막으로 구비되며, 상기 액티브패턴의 소오스/드레인영역과 상기 소오스/드레인전극을 오믹-콘택시키는 오믹-콘택층을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.10. The semiconductor device according to claim 9, further comprising an ohmic contact layer provided on the active pattern as an n + amorphous silicon thin film and ohmic-contacting the source / drain region of the active pattern and the source / drain electrode. Liquid crystal display device. 제 9 항에 있어서, 상기 제 1 차광패턴은 상기 액티브패턴 하부에 상기 액티브패턴과 동일한 형태로 패터닝된 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The liquid crystal display of claim 9, wherein the first light-shielding pattern is patterned in the same pattern as the active pattern under the active pattern. 제 11 항에 있어서, 상기 제 2 차광패턴은 상기 데이터라인 하부에 상기 데이터라인보다 넓은 폭을 가지도록 패터닝된 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The liquid crystal display of claim 11, wherein the second light-shielding pattern is patterned to have a width wider than the data line below the data line. 제 12 항에 있어서, 상기 제 3 차광패턴은 상기 게이트라인 하부에 상기 게이트라인보다 넓은 폭을 가지도록 패터닝된 것을 특징으로 하는 액정표시장치.13. The liquid crystal display of claim 12, wherein the third light-shielding pattern is patterned to have a width wider than the gate line under the gate line. 제 9 항에 있어서, 상기 공통라인은 상기 제 3 절연막이 개재되어 있는 상기 화소전극의 일부와 오버랩하여 스토리지 커패시터를 구성하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.10. The liquid crystal display device according to claim 9, wherein the common line overlaps with a part of the pixel electrode in which the third insulating film is interposed, thereby constituting a storage capacitor. 제 9 항에 있어서, 상기 제 1, 제 2, 제 3 차광패턴과 대응하는 상기 제 2 기판에 구비되며, 상기 제 1, 제 2, 제 3 차광패턴보다 좁은 폭을 가지도록 패터닝된 블랙매트릭스를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.10. The light-emitting device according to claim 9, further comprising: a black matrix provided on the second substrate corresponding to the first, second, and third light-shielding patterns and patterned to have a narrower width than the first, second, Wherein the liquid crystal display device further includes a liquid crystal display panel.
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