KR101258267B1 - Inspection apparatus for liquid crystal panel and setting method and changing method for work table unit using the same - Google Patents

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Abstract

본 발명은 크기가 서로 다른 제1 및 제2 액정 패널 각각이 안착되는 제1 및 제2 워크 테이블 유닛; 제1 액정 패널을 검사할 때에는 제1 워크 테이블 유닛이 안착되고, 제2 액정 패널을 검사할 때에는 제2 워크 테이블 유닛이 안착되는 베이스 플레이트; 및 제1 액정 패널의 검사를 종료하고 제2 액정 패널의 검사를 시작하기 위해 제1 워크 테이블 유닛을 제2 워크 테이블 유닛으로 교체할 때, 제1 워크 테이블 유닛을 베이스 플레이트로부터 외부로 이송하며, 제2 워크 테이블 유닛을 외부로부터 베이스 플레이트로 이송하는 이송 유닛을 포함하는 액정 패널의 검사 장치, 이를 사용한 워크 테이블 유닛의 안착 방법 및 교체 방법을 제공한다.

Figure R1020060060454

워크 테이블 유닛, 베이스 플레이트, 이송 유닛, 크레인, 체결 부재

The present invention provides a display device comprising: first and second work table units on which first and second liquid crystal panels having different sizes are respectively seated; A base plate on which the first work table unit is seated when inspecting the first liquid crystal panel, and on which the second work table unit is seated when inspecting the second liquid crystal panel; And when replacing the first work table unit with the second work table unit to end the inspection of the first liquid crystal panel and start the inspection of the second liquid crystal panel, transferring the first work table unit from the base plate to the outside, An inspection apparatus for a liquid crystal panel including a transfer unit for transferring a second work table unit from the outside to a base plate, and a mounting method and a replacement method of the work table unit using the same.

Figure R1020060060454

Work table unit, base plate, transfer unit, crane, fastening member

Description

액정 패널의 검사 장치, 이를 사용한 워크 테이블 유닛의 안착 방법 및 교체 방법{INSPECTION APPARATUS FOR LIQUID CRYSTAL PANEL AND SETTING METHOD AND CHANGING METHOD FOR WORK TABLE UNIT USING THE SAME}Inspection device of liquid crystal panel, mounting method and replacement method of work table unit using the same {INSPECTION APPARATUS FOR LIQUID CRYSTAL PANEL AND SETTING METHOD AND CHANGING METHOD FOR WORK TABLE UNIT USING THE SAME}

도 1은 종래의 워크 테이블 유닛을 교체하기 위한 방법을 개략적으로 설명하기 위한 평면도이다.1 is a plan view schematically illustrating a method for replacing a conventional work table unit.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 검사 장치를 개략적으로 나타낸 블록도이다.2 is a block diagram schematically illustrating an apparatus for inspecting a liquid crystal panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 3은 도 2의 액정 패널의 검사 장치를 나타낸 사시도이다.3 is a perspective view illustrating an inspection device of the liquid crystal panel of FIG. 2.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 검사 장치를 사용하여 워크 테이블 유닛의 교체 방법을 나타낸 순서도이다.4 is a flowchart illustrating a method of replacing a work table unit by using an inspection apparatus for a liquid crystal panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

{도면의 주요부분에 대한 부호의 설명}DESCRIPTION OF THE REFERENCE NUMERALS OF THE DRAWINGS FIG.

100 : 검사 장치 102 : 제1 워크 테이블 유닛100: inspection device 102: first work table unit

104 : 제2 워크 테이블 유닛 106 : 베이스 플레이트104: second work table unit 106: base plate

108 : 이송 유닛 110 : 크레인108: transfer unit 110: crane

112 : 체결 부재 114 : 제1 프로브 유닛112: fastening member 114: first probe unit

116 : 제2 프로브 유닛 118 : 카메라116: second probe unit 118: camera

120 : 컴퓨터 시스템120: computer system

본 발명은 액정 표시장치의 제조에 관한 것으로, 보다 구체적으로 액정 패널의 검사 장치, 이를 사용한 워크 테이블 유닛의 안착 방법 및 교체 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to the manufacture of liquid crystal displays, and more particularly, to an inspection apparatus for a liquid crystal panel, a mounting method and a replacement method of a work table unit using the same.

최근, 정보 디스플레이 기술의 발전에 부응하여 음극선관(cathode ray tube; CRT)이 평판 표시장치(flat panel display; FPD)로 대체되고 있다. 이러한 평판 표시장치 중 액정 표시장치(liquid crystal display; LCD)는 해상도와 화질 등에서 우수하여 휴대폰, 노트북 및 데스크탑 모니터 뿐만 아니라 대형 TV 등에 활발하게 적용되고 있다.Recently, in response to the development of information display technology, cathode ray tubes (CRTs) have been replaced by flat panel displays (FPDs). Among such flat panel displays, liquid crystal displays (LCDs) are excellent in resolution and image quality, and are being actively applied to large TVs as well as mobile phones, laptops, and desktop monitors.

상기 액정 표시장치는 액정의 광학적 이방성을 이용하여 화상을 표시하는 장치로서, 구동회로 유닛, 백라이트 유닛 및 액정 패널을 포함한다.The liquid crystal display device displays an image by using optical anisotropy of a liquid crystal, and includes a driving circuit unit, a backlight unit, and a liquid crystal panel.

구동회로 유닛은 이방성 도전 필름을 통해 액정 패널의 패드부에 부착되며 액정 패널을 구동한다.The driving circuit unit is attached to the pad portion of the liquid crystal panel through the anisotropic conductive film and drives the liquid crystal panel.

백라이트 유닛은 액정 패널의 배면에 위치하여 액정 패널에 광을 제공한다.The backlight unit is located at the rear of the liquid crystal panel to provide light to the liquid crystal panel.

액정 패널은 화상을 표시하며 액정층을 사이에 두고 합착된 박막 트랜지스터 기판 및 컬러 필터 기판을 포함한다.The liquid crystal panel displays an image and includes a thin film transistor substrate and a color filter substrate bonded together with a liquid crystal layer interposed therebetween.

상기의 구성을 가지는 액정 표시장치는 액정 패널의 제조 공정 및 이에 후속되는 모듈 공정을 통해 제조된다. 여기서, 모듈 공정이란 액정 패널의 패드부에 구동회로 유닛을 부착한 후, 이 구동회로 유닛이 부착된 액정 패널을 백라이트 유닛과 조립하는 공정을 말한다.The liquid crystal display device having the above configuration is manufactured through the manufacturing process of the liquid crystal panel and the subsequent module process. Here, a module process means the process of attaching a drive circuit unit to the pad part of a liquid crystal panel, and then assembling the liquid crystal panel with this drive circuit unit with a backlight unit.

한편, 액정 표시장치의 성능에 이상이 있게 되면, 액정 표시장치의 상품 가치는 떨어지므로 액정 표시장치는 여러 단계의 검사를 거치게 된다. 이러한 여러 단계의 검사 중 액정 패널을 제조한 후, 제조된 액정 패널을 모듈 공정으로 인계하기 전에 수행되는 액정 패널의 최종 검사가 있다.On the other hand, if there is an abnormality in the performance of the liquid crystal display device, since the merchandise value of the liquid crystal display device is lowered, the liquid crystal display device goes through several stages of inspection. There is a final inspection of the liquid crystal panel which is performed after the liquid crystal panel is manufactured during these various stages of inspection, and before the produced liquid crystal panel is turned over to the module process.

액정 패널의 최종 검사는 이를 위한 검사 장치를 사용하여 액정 패널의 외관 및 전기적 불량 검사를 하기 위한 검사로서, 이 최종 검사를 통해, 예를 들면, 컬러 필터 돌기, 사선 얼룩, 러빙 줄무늬, 핀 홀, 각 배선들의 단선 등을 검사할 수 있다.The final inspection of the liquid crystal panel is an inspection for inspecting the appearance and electrical defects of the liquid crystal panel using an inspection device for this purpose, and through this final inspection, for example, color filter protrusions, diagonal stains, rubbing streaks, pinholes, The disconnection of each wiring can be inspected.

상기 액정 패널의 최종 검사 시에 사용되는 종래의 액정 패널의 검사 장치는 검사하고자 하는 액정 패널이 안착되는 워크 테이블 유닛, 워크 테이블 유닛을 안착시키는 베이스 플레이트, 액정 패널에 구동 전압을 인가하는 프로브 유닛, 액정 패널의 화상을 촬영하는 카메라 및 카메라가 촬영한 화상을 분석 및 판단하는 컴퓨터 시스템을 포함한다. 여기서, 베이스 플레이트의 크기는 워크 테이블 유닛의 크기보다 크다.Conventional liquid crystal panel inspection apparatus used in the final inspection of the liquid crystal panel includes a work table unit on which the liquid crystal panel to be inspected is seated, a base plate on which the work table unit is seated, a probe unit applying a driving voltage to the liquid crystal panel; A camera for taking an image of the liquid crystal panel and a computer system for analyzing and determining the image taken by the camera. Here, the size of the base plate is larger than the size of the work table unit.

상기의 구성을 갖는 종래의 액정 패널의 검사 장치를 사용하여 특정 크기를 갖는 액정 패널을 검사하고자 하는 경우에는 먼저, 베이스 플레이트를 검사 장치의 외부로 슬라이딩시킨 다음, 이 베이스 플레이트 상에 워크 테이블 유닛을 안착시킨다. 이어, 워크 테이블 유닛이 안착된 베이스 플레이트를 검사 장치의 내부로 슬라이딩 시킨 다음, 워크 테이블 유닛 상에 액정 패널을 안착시킨 후, 액정 패널의 검사를 수행한다.When a liquid crystal panel having a specific size is to be inspected using a conventional liquid crystal panel inspection apparatus having the above configuration, first, the base plate is slid out of the inspection apparatus, and then the work table unit is placed on the base plate. Settle down. Subsequently, the base plate on which the work table unit is mounted is slid into the inspection apparatus, and then the liquid crystal panel is seated on the work table unit, and then the liquid crystal panel is inspected.

이후, 상기 액정 패널의 검사를 종료한 후, 상기 액정 패널과 다른 크기를 갖는 액정 패널을 검사하고자 할 때에는 먼저의 워크 테이블 유닛을 다른 워크 테이블 유닛으로 교체하여야 한다. 이는 워크 테이블 유닛이 각각의 액정 패널의 크기에 대응하여 제작되기 때문이다.Subsequently, after the inspection of the liquid crystal panel is finished, when the liquid crystal panel having a different size from the liquid crystal panel is to be inspected, the first work table unit should be replaced with another work table unit. This is because the work table unit is manufactured corresponding to the size of each liquid crystal panel.

도 1은 종래의 워크 테이블 유닛을 교체하기 위한 방법을 개략적으로 설명하기 위한 평면도이다.1 is a plan view schematically illustrating a method for replacing a conventional work table unit.

도 1을 참조하면, 종래의 워크 테이블 유닛(2)의 교체 방법으로는 베이스 플레이트(6)에 먼저의 워크 테이블 유닛(2)을 안착시키는 방법과 동일하게 베이스 플레이트(6)를 검사 장치(1)의 외부로 슬라이딩시키는 방법이 사용되고 있다. 즉, 특정 크기를 갖는 액정 패널의 검사 시에 사용된 워크 테이블 유닛(2)을 베이스 플레이트(6)에 안착시킨 채 베이스 플레이트(6)를 검사 장치(1)의 외부로 슬라이딩 시킨 다음, 검사자가 베이스 플레이트(6)로부터 워크 테이블 유닛(2)을 탈착시킨다. 이어, 다른 워크 테이블 유닛을 베이스 플레이트(6)에 안착시킨 후, 이 베이스 플레이트(6)를 검사 장치(1) 내부로 슬라이딩시켜 워크 테이블 유닛(2)의 교체 작업을 종료한다.Referring to FIG. 1, in the replacement method of the conventional work table unit 2, the base plate 6 is inspected in the same manner as the method of mounting the first work table unit 2 on the base plate 6. The sliding to the outside of the) is used. That is, while sliding the base plate 6 to the outside of the inspection apparatus 1 while seating the work table unit 2 used in the inspection of the liquid crystal panel having a specific size to the base plate 6, the inspector The work table unit 2 is detached from the base plate 6. Subsequently, the other work table unit is seated on the base plate 6, and then the base plate 6 is slid into the inspection apparatus 1 to finish the replacement work of the work table unit 2.

그러나, 이와 같은 종래의 워크 테이블 유닛(2)의 안착 방법 및 교체 방법은 베이스 플레이트(6)가 외부로 슬라이딩 해야 하므로 많은 공간이 필요하다라는 문제점이 있다.However, the conventional mounting method and replacement method of the work table unit 2 has a problem that a lot of space is required because the base plate 6 must slide to the outside.

따라서, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 좁은 공간에서 워크 테이블 유닛을 안착시킴과 아울러 교체할 수 있는 액정 패널의 검사 장치, 이를 사용한 워크 테이블 유닛의 안착 방법 및 교체 방법을 제공하고자 하는 것이다.Accordingly, an aspect of the present invention is to provide an inspection apparatus for a liquid crystal panel that can be seated and replaced in a narrow space, a mounting method and a replacement method for a work table unit using the same.

본 발명이 이루고자 하는 또 다른 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.Further technical problems to be achieved by the present invention are not limited to the above-mentioned technical problems, and other technical problems not mentioned above are clearly understood by those skilled in the art from the following description. It can be understood.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정 패널의 검사 장치는 크기가 서로 다른 제1 및 제2 액정 패널 각각이 안착되는 제1 및 제2 워크 테이블 유닛; 상기 제1 액정 패널을 검사할 때에는 상기 제1 워크 테이블 유닛이 안착되고, 상기 제2 액정 패널을 검사할 때에는 상기 제2 워크 테이블 유닛이 안착되는 베이스 플레이트; 및 상기 제1 액정 패널의 검사를 종료하고 상기 제2 액정 패널의 검사를 시작하기 위해 상기 제1 워크 테이블 유닛을 상기 제2 워크 테이블 유닛으 로 교체할 때, 상기 제1 워크 테이블 유닛을 상기 베이스 플레이트로부터 외부로 이송하며, 상기 제2 워크 테이블 유닛을 상기 외부로부터 상기 베이스 플레이트로 이송하는 이송 유닛을 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for inspecting a liquid crystal panel, including: first and second work table units on which first and second liquid crystal panels having different sizes are mounted; A base plate on which the first work table unit is seated when inspecting the first liquid crystal panel, and on which the second work table unit is seated when inspecting the second liquid crystal panel; And replacing the first work table unit with the second work table unit when the first work table unit is replaced with the second work table unit to end the inspection of the first liquid crystal panel and start the inspection of the second liquid crystal panel. And a transfer unit for transferring the plate from the outside to the base plate.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정 패널의 검사 장치를 사용한 워크 테이블 유닛의 안착 방법은 (a-1) 이송 유닛의 크레인과 연결된 상기 이송 유닛의 체결 부재를 외부에 위치한 워크 테이블 유닛의 외곽부에 체결하는 단계; (a-2) 상기 이송 유닛의 크레인의 일측을 베이스 플레이트의 상부로 이동시키는 단계; 및 (a-3) 모터를 사용하여 상기 이송 유닛의 크레인의 일측을 하강시켜 상기 워크 테이블 유닛을 상기 베이스 플레이트에 안착시키는 단계를 포함한다.In order to achieve the above technical problem, a mounting method of a work table unit using an inspection apparatus of a liquid crystal panel according to the present invention includes (a-1) a work table unit of which a fastening member of the transfer unit connected to a crane of the transfer unit is located outside. Fastening to the outer part; (a-2) moving one side of the crane of the transfer unit to an upper portion of the base plate; And (a-3) mounting the work table unit on the base plate by lowering one side of the crane of the transfer unit using a motor.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정 패널의 검사 장치를 사용한 워크 테이블 유닛의 교체 방법은 (a) 이송 유닛을 사용하여 제1 워크 테이블 유닛을 베이스 플레이트로부터 외부로 이송하는 단계; 및 (b) 이송 유닛을 사용하여 제2 워크 테이블 유닛을 상기 외부로부터 상기 베이스 플레이트로 이송하는 단계를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of replacing a work table unit using an inspection apparatus for a liquid crystal panel, the method including: (a) transferring a first work table unit from a base plate to an outside using a transfer unit; And (b) transferring a second work table unit from the outside to the base plate using a transfer unit.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.Specific details of other embodiments are included in the detailed description and the drawings. Advantages and features of the present invention and methods for achieving them will be apparent with reference to the embodiments described below in detail with the accompanying drawings. Like reference numerals refer to like elements throughout.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 검사 장치, 이를 사용한 워크 테이블 유닛의 안착 방법 및 교체 방법에 관한 것이다.Hereinafter, an inspection apparatus for a liquid crystal panel according to an exemplary embodiment of the present invention, and a mounting method and a replacement method of a work table unit using the same according to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 검사 장치를 개략적으로 나타낸 블록도이고, 도 3은 도 2의 액정 패널의 검사 장치를 나타낸 사시도이다. 도 3에서는 도 2 에 도시된 제1 및 제2 액정 패널, 제2 워크 테이블 유닛, 제1 및 제2 프로브 유닛, 카메라 및 컴퓨터 시스템은 도시하지 않았다.2 is a block diagram schematically illustrating an inspection apparatus for a liquid crystal panel according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a perspective view illustrating an inspection apparatus for a liquid crystal panel of FIG. 2. In FIG. 3, the first and second liquid crystal panels, the second work table unit, the first and second probe units, the camera, and the computer system shown in FIG. 2 are not shown.

도 2 및 도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 검사 장치(100)는 제1 및 제2 워크 테이블 유닛(102, 104), 베이스 플레이트(106), 이송 유닛(108), 제1 및 제2 프로브 유닛(114, 116), 카메라(118) 및 컴퓨터 시스템(120)을 포함한다.2 and 3, the inspection apparatus 100 of the liquid crystal panel according to the exemplary embodiment of the present invention may include first and second work table units 102 and 104, a base plate 106, and a transfer unit 108. , First and second probe units 114, 116, camera 118, and computer system 120.

제1 및 제2 워크 테이블 유닛(102, 104) 각각 상에는 검사하고자 하는 제1 및 제2 액정 패널(103, 105) 각각이 안착된다. 여기서, 제1 및 제2 액정 패널(103, 105)의 크기는 서로 다르며, 이에 대응하여 제1 및 제2 워크 테이블 유닛(102, 104)의 크기도 다르다.Each of the first and second liquid crystal panels 103 and 105 to be inspected is mounted on each of the first and second work table units 102 and 104. Here, the sizes of the first and second liquid crystal panels 103 and 105 are different, and correspondingly, the sizes of the first and second work table units 102 and 104 are also different.

베이스 플레이트(106) 상에는 제1 액정 패널(103)을 검사할 때에는 제1 워크 테이블 유닛(102)이 안착되고, 제2 액정 패널(105)을 검사할 때에는 제2 워크 테이블 유닛(104)이 안착된다. 즉, 베이스 플레이트(106)는 제1 액정 패널(103)을 검사할 때에는 제1 워크 테이블 유닛(102)의 하부에서 제1 워크 테이블 유닛(102)을 지지하며, 제2 액정 패널(105)을 검사할 때에는 제2 워크 테이블 유닛(104)의 하부에서 제2 워크 테이블 유닛(104)을 지지한다. 이를 위해, 베이스 플레이트(106)의 크기는 제1 및 제2 워크 테이블 유닛(102, 104) 각각의 크기보다 크다. 여기서, 베이스 플레이트(106)는 고정 부재를 통해 메인 프레임(122)에 고정된다.The first work table unit 102 is seated on the base plate 106 when the first liquid crystal panel 103 is inspected, and the second work table unit 104 is seated when the second liquid crystal panel 105 is inspected. do. That is, when the base plate 106 inspects the first liquid crystal panel 103, the base plate 106 supports the first work table unit 102 under the first work table unit 102 and supports the second liquid crystal panel 105. When inspecting, the second work table unit 104 is supported under the second work table unit 104. For this purpose, the size of the base plate 106 is larger than the size of each of the first and second work table units 102 and 104. Here, the base plate 106 is fixed to the main frame 122 through the fixing member.

이송 유닛(108)은 제1 액정 패널(103)의 검사를 종료하고 제2 액정 패널(105)의 검사를 시작하기 위해 제1 워크 테이블 유닛(102)을 외부에 보관된 제2 워크 테이블 유닛(104)으로 교체할 때, 제1 워크 테이블 유닛(102)을 베이스 플레이트(106)로부터 외부로 이송함과 아울러 제2 워크 테이블 유닛(104)을 외부로부터 베이스 플레이트(106)로 이송한다. 즉, 이송 유닛(108)은 제1 워크 테이블 유닛(102)을 제2 워크 테이블 유닛(104)으로 교체한다.The transfer unit 108 includes a second work table unit which is externally stored in the first work table unit 102 to end the inspection of the first liquid crystal panel 103 and to start the inspection of the second liquid crystal panel 105. When replacing to 104, the first work table unit 102 is transferred from the base plate 106 to the outside, and the second work table unit 104 is transferred from the outside to the base plate 106. That is, the transfer unit 108 replaces the first work table unit 102 with the second work table unit 104.

상기 이송 유닛(108)은 크레인(110) 및 체결 부재(112)를 포함한다.The transfer unit 108 includes a crane 110 and a fastening member 112.

크레인(110)은 제1 액정 패널(103)의 검사를 종료하고 제2 액정 패널(105)의 검사를 시작하기 위해 제1 워크 테이블 유닛(102)을 외부에 보관된 제2 워크 테이블 유닛(104)으로 교체할 때, 제1 워크 테이블 유닛(102)을 베이스 플레이트(106)로부터 들어낸 후 외부로 이송하며, 제2 워크 테이블 유닛(104)을 외부로부터 베이스 플레이트(106)의 상부로 이송한 후 베이스 플레이트(106)에 안착시킨다.The crane 110 stores the second work table unit 104 stored outside of the first work table unit 102 to end the inspection of the first liquid crystal panel 103 and to start the inspection of the second liquid crystal panel 105. ), The first work table unit 102 is lifted out of the base plate 106 and then transported to the outside, and the second work table unit 104 is transported from the outside to the top of the base plate 106. It is then mounted on the base plate 106.

이 때문에, 제1 워크 테이블 유닛(102)을 제2 워크 테이블 유닛(104)으로 교체할 때, 베이스 플레이트(106)를 외부로 슬라이딩시킬 필요가 없으므로 좁은 공간 내에서도 제1 워크 테이블 유닛(102)을 제2 워크 테이블 유닛(104)으로 교체할 수 있다.For this reason, when replacing the 1st work table unit 102 with the 2nd work table unit 104, since it is not necessary to slide the base plate 106 outside, the 1st work table unit 102 is changed even in a narrow space. The second work table unit 104 can be replaced.

상기 크레인(110)의 일측은 크레인(110)과 접속된 모터의 회전에 의해 상승 및 하강한다. 여기서, 모터의 회전에 의한 크레인(110)의 상승 동작은 제1 워크 테이블 유닛(102)을 베이스 플레이트(106)로부터 들어내기 위함이며, 모터의 회전에 의한 크레인(110)의 하강 동작은 제2 워크 테이블 유닛(104)을 베이스 플레이 트(106)에 안착시키기 위함이다. 반면, 크레인(110)의 타측은 메인 프레임(122)에 고정되어 있다.One side of the crane 110 is raised and lowered by the rotation of the motor connected to the crane 110. Here, the lifting operation of the crane 110 by the rotation of the motor is for lifting the first work table unit 102 from the base plate 106, and the lowering operation of the crane 110 by the rotation of the motor is the second. This is to rest the work table unit 104 on the base plate 106. On the other hand, the other side of the crane 110 is fixed to the main frame 122.

체결 부재(112)는 크레인(110)과 연결되어 있다. 이러한 체결 부재(112)는 제1 워크 테이블 유닛(102)을 베이스 플레이트(106)로부터 들어낸 후 외부로 이송할 때에는 제1 워크 테이블 유닛(102)의 외곽부와 체결되며, 제2 워크 테이블 유닛(104)을 외부로부터 베이스 플레이트(106)의 상부로 이송한 후 베이스 플레이트(106)에 안착시킬 때에는 제2 워크 테이블 유닛(104)의 외곽부와 체결된다.The fastening member 112 is connected to the crane 110. The fastening member 112 is engaged with an outer portion of the first work table unit 102 when the first work table unit 102 is lifted out of the base plate 106 and then transported to the outside. When the 104 is transferred from the outside to the upper portion of the base plate 106 and then seated on the base plate 106, it is engaged with the outer portion of the second work table unit 104.

제1 프로브 유닛(114)은 제1 액정 패널(103)을 검사할 때 제1 액정 패널(103)에 구동 전압을 인가한다. 이를 위해, 제1 프로브 유닛(114)은 게이트 니들(needle) 및 데이터 니들을 구비한다.When the first probe unit 114 inspects the first liquid crystal panel 103, the first probe unit 114 applies a driving voltage to the first liquid crystal panel 103. To this end, the first probe unit 114 has a gate needle and a data needle.

상기 제1 프로브 유닛(114)의 게이트 니들 및 데이터 니들 각각은 제1 액정 패널(103)의 게이트 패드부 및 데이터 패드부 각각에 접속된다. 이 때, 제1 프로브 유닛(114)의 게이트 니들 및 데이터 니들 각각에 임의적으로 구동 전압을 인가하면, 제1 액정 패널(103)의 게이트 패드부 및 데이터 패드부 각각에 구동 전압이 인가되며, 제1 액정 패널(103)의 게이트 패드부 및 데이터 패드부 각각과 접속된 제1 액정 패널(103)의 게이트선 및 데이터선 각각에 구동 전압이 인가되어, 제1 액정 패널(103)이 구동되게 된다.Each of the gate needle and the data needle of the first probe unit 114 is connected to each of the gate pad portion and the data pad portion of the first liquid crystal panel 103. In this case, when a driving voltage is arbitrarily applied to each of the gate needle and the data needle of the first probe unit 114, the driving voltage is applied to each of the gate pad part and the data pad part of the first liquid crystal panel 103. A driving voltage is applied to each of the gate line and the data line of the first liquid crystal panel 103 connected to each of the gate pad portion and the data pad portion of the first liquid crystal panel 103, thereby driving the first liquid crystal panel 103. .

제2 프로브 유닛(116)은 제2 액정 패널(105)을 검사할 때 제2 액정 패널(105)에 구동 전압을 인가한다. 이를 위해, 제2 프로브 유닛(116)은 게이트 니들(needle) 및 데이터 니들을 구비한다. 여기서, 제2 프로브 유닛(116)의 게이트 니들 및 데이터 니들 각각은 제1 프로브 유닛(114)의 게이트 니들 및 데이터 니들 각각과 같거나 다를 수 있다.The second probe unit 116 applies a driving voltage to the second liquid crystal panel 105 when inspecting the second liquid crystal panel 105. For this purpose, the second probe unit 116 has a gate needle and a data needle. Here, each of the gate needle and the data needle of the second probe unit 116 may be the same as or different from each of the gate needle and the data needle of the first probe unit 114.

상기 제2 프로브 유닛(116)의 게이트 니들 및 데이터 니들 각각은 제2 액정 패널(105)의 게이트 패드부 및 데이터 패드부 각각에 접속된다. 이 때, 제2 프로브 유닛(116)의 게이트 니들 및 데이터 니들 각각에 임의적으로 구동 전압을 인가하면, 제2 액정 패널(105)의 게이트 패드부 및 데이터 패드부 각각에 구동 전압이 인가되며, 제2 액정 패널(105)의 게이트 패드부 및 데이터 패드부 각각과 접속된 제2 액정 패널(105)의 게이트선 및 데이터선 각각에 구동 전압이 인가되어, 제2 액정 패널(105)이 구동되게 된다.Each of the gate needle and the data needle of the second probe unit 116 is connected to each of the gate pad part and the data pad part of the second liquid crystal panel 105. In this case, when a driving voltage is arbitrarily applied to each of the gate needle and the data needle of the second probe unit 116, the driving voltage is applied to each of the gate pad part and the data pad part of the second liquid crystal panel 105. The driving voltage is applied to each of the gate line and the data line of the second liquid crystal panel 105 connected to each of the gate pad portion and the data pad portion of the second liquid crystal panel 105 to drive the second liquid crystal panel 105. .

카메라(118)는 제1 및 제2 액정 패널(103, 105) 각각의 화상을 촬영한다. 구체적으로, 카메라(118)는 제1 액정 패널(103)을 검사할 때 제1 액정 패널(103)의 화상을 촬영하고, 제2 액정 패널(105)을 검사할 때 제2 액정 패널(105)의 화상을 촬영한다.The camera 118 captures an image of each of the first and second liquid crystal panels 103 and 105. Specifically, the camera 118 captures an image of the first liquid crystal panel 103 when inspecting the first liquid crystal panel 103 and the second liquid crystal panel 105 when inspecting the second liquid crystal panel 105. To shoot the image.

카메라(118)는 제1 및 제2 액정 패널(103, 105) 각각의 화상을 스캔하는 방식으로 촬영할 수 있다. 이를 위해, 카메라(118)는 수평 방향을 따라 형성된 레일 블록과 연결될 수 있다. 여기서, 레일 블록은 카메라(118)가 이동할 수 있는 경로를 제공하며, 메인 프레임(122) 상에 형성될 수 있다.The camera 118 may photograph by scanning an image of each of the first and second liquid crystal panels 103 and 105. To this end, the camera 118 may be connected to the rail block formed along the horizontal direction. Here, the rail block provides a path through which the camera 118 can move and may be formed on the main frame 122.

카메라(118)는 자신이 촬영한 제1 및 제2 액정 패널(103, 105) 각각의 화상을 컴퓨터 시스템(120)에 전달한다.The camera 118 transmits an image of each of the first and second liquid crystal panels 103 and 105 taken by the camera 118 to the computer system 120.

컴퓨터 시스템(120)은 카메라(118)와 접속되며, 카메라(118)가 촬영한 제1 및 제2 액정 패널(103, 105) 각각의 화상을 분석 및 판단한다.The computer system 120 is connected to the camera 118 and analyzes and determines images of each of the first and second liquid crystal panels 103 and 105 taken by the camera 118.

상기의 구성을 갖는 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 검사 장치(100)를 사용하여 제1 워크 테이블 유닛(102)을 베이스 플레이트(106)에 안착시키기 위해 먼저, 이송 유닛(108)의 체결 부재(112)를 외부에 위치한 제1 워크 테이블 유닛(102)의 외곽부에 체결한 후, 이송 유닛(108)의 크레인(110)의 일측을 베이스 플레이트(106)의 상부로 이동시킨 다음, 모터를 사용하여 이송 유닛(108)의 크레인(110)의 일측을 하강시켜 제1 워크 테이블 유닛(102)을 베이스 플레이트(106)에 안착시킨다. 이어 제1 액정 패널(103)의 검사를 수행한다.In order to mount the first work table unit 102 on the base plate 106 using the inspection apparatus 100 of the liquid crystal panel according to the embodiment of the present invention having the above configuration, first, the transfer unit 108 is fastened. After fastening the member 112 to the outer portion of the first work table unit 102 located outside, one side of the crane 110 of the transfer unit 108 is moved to the upper portion of the base plate 106, and then the motor Lowering one side of the crane 110 of the transfer unit 108 to seat the first work table unit 102 on the base plate 106. Subsequently, the first liquid crystal panel 103 is inspected.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 검사 장치를 사용하여 워크 테이블 유닛의 교체 방법을 나타낸 순서도이다.4 is a flowchart illustrating a method of replacing a work table unit by using an inspection apparatus for a liquid crystal panel according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정 패널의 검사 장치(100)를 사용하여 제1 액정 패널(103)의 검사를 종료하고 제2 액정 패널(105)의 검사를 시작하기 위해 제1 워크 테이블 유닛(102)을 외부에 보관된 제2 워크 테이블 유닛(104)으로 교체하기 위해 먼저, 이송 유닛(108)을 사용하여 제1 워크 테이블 유닛(102)을 베이스 플레이트(106)로부터 외부로 이송한다.(S1)Referring to FIG. 4, the inspection apparatus 100 of the liquid crystal panel according to the exemplary embodiment of the present invention is used to terminate the inspection of the first liquid crystal panel 103 and to start the inspection of the second liquid crystal panel 105. In order to replace the first work table unit 102 with the second work table unit 104 stored externally, the first work table unit 102 is externally removed from the base plate 106 using the transfer unit 108. (S1)

보다 구체적으로, 제1 프로브 유닛(114)을 제1 액정 패널(103)로부터 탈착시킨 후, 제1 액정 패널(103)을 박스 등에 보관한다. 이어, 수동으로 크레인(110)의 일측을 제1 워크 테이블 유닛(102)의 중앙부로 이동시킨다. 이어, 수동으로 체결 부재(112)를 제1 워크 테이블 유닛(102)의 외곽부에 체결한다. 이어, 모터를 회전시켜 크레인(110)의 일측을 소정 높이만큼 상승시킨다. 그러면, 제1 워크 테이블 유닛(102)이 베이스 플레이트(106)로부터 탈착된다. 이어, 수동으로 크레인(110)의 일측을 외부로 이동시킨 다음, 제1 워크 테이블 유닛(102)을 검사자가 잡은 상태에서 다른 검사자가 체결 부재(112)를 제1 워크 테이블 유닛(102)의 외곽부로부터 탈착시킨다.More specifically, after the first probe unit 114 is detached from the first liquid crystal panel 103, the first liquid crystal panel 103 is stored in a box or the like. Subsequently, one side of the crane 110 is manually moved to the center portion of the first work table unit 102. Subsequently, the fastening member 112 is manually fastened to the outer portion of the first work table unit 102. Then, by rotating the motor to raise one side of the crane 110 by a predetermined height. Then, the first work table unit 102 is detached from the base plate 106. Subsequently, one side of the crane 110 is manually moved to the outside, and then another inspector moves the fastening member 112 to the outside of the first work table unit 102 while the inspector holds the first work table unit 102. Desorption from the part.

다음으로, 이송 유닛(108)을 사용하여 제2 워크 테이블 유닛(104)을 외부로부터 베이스 플레이트(106)로 이송한다.(S2)Next, the second work table unit 104 is transferred from the outside to the base plate 106 using the transfer unit 108. (S2)

보다 구체적으로, 검사자가 제2 워크 테이블 유닛(104)을 잡은 상태에서 다른 검사자가 체결 부재(112)를 제2 워크 테이블 유닛(104)의 외곽부에 체결한다. 이어, 수동으로 크레인(110)의 일측을 베이스 플레이트(106)의 상부로 이동시킨다. 이 때에는 제2 워크 테이블 유닛(104)이 베이스 플레이트(106)와 소정 간격만큼 이격되어 있다. 이어, 모터를 회전시켜 크레인(110)의 일측을 하강시킴으로써 제2 워크 테이블 유닛(104)을 베이스 플레이트(106)에 안착시킨다. 이어, 작업자가 체결 부재(112)를 제2 워크 테이블 유닛(104)의 외곽부로부터 탈착시키면, 제1 및 제2 워크 테이블 유닛(102, 104)의 교체 작업은 완료된다.More specifically, another inspector fastens the fastening member 112 to the outer portion of the second work table unit 104 while the inspector holds the second work table unit 104. Subsequently, one side of the crane 110 is manually moved to the upper portion of the base plate 106. At this time, the second work table unit 104 is spaced apart from the base plate 106 by a predetermined interval. Next, the second work table unit 104 is seated on the base plate 106 by rotating the motor and lowering one side of the crane 110. Subsequently, when the worker detaches the fastening member 112 from the outer portion of the second work table unit 104, the replacement work of the first and second work table units 102 and 104 is completed.

이상 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.Although the embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, those skilled in the art to which the present invention pertains can realize that the present invention can be implemented in other specific forms without changing the technical spirit or essential features. I can understand that.

따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이므로, 모 든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Therefore, the embodiments described above are provided to fully inform the scope of the invention to those skilled in the art, and should be understood as illustrative and not limiting in all aspects. The invention is only defined by the scope of the claims.

상기한 바와 같이 이루어진 본 발명에 따른 액정 패널의 검사 장치, 이를 사용한 워크 테이블 유닛의 안착 방법 및 교체 방법은 좁은 공간에서 워크 테이블 유닛을 안착시킬 수 있을 뿐만 아니라 좁은 공간에서 워크 테이블 유닛을 교체할 수 있다라는 효과가 있다.The inspection apparatus of the liquid crystal panel according to the present invention made as described above, the mounting method and the replacement method of the work table unit using the same can not only seat the work table unit in a narrow space but also replace the work table unit in a narrow space. There is an effect.

Claims (11)

크기가 서로 다른 제1 및 제2 액정 패널 각각이 안착되는 제1 및 제2 워크 테이블 유닛;First and second work table units on which first and second liquid crystal panels having different sizes are respectively seated; 상기 제1 액정 패널을 검사할 때에는 상기 제1 워크 테이블 유닛이 안착되고, 상기 제2 액정 패널을 검사할 때에는 상기 제2 워크 테이블 유닛이 안착되는 베이스 플레이트; 및A base plate on which the first work table unit is seated when inspecting the first liquid crystal panel, and on which the second work table unit is seated when inspecting the second liquid crystal panel; And 상기 제1 액정 패널의 검사를 종료하고 상기 제2 액정 패널의 검사를 시작하기 위해 상기 제1 워크 테이블 유닛을 상기 제2 워크 테이블 유닛으로 교체할 때, 상기 제1 워크 테이블 유닛을 상기 베이스 플레이트로부터 외부로 이송하며, 상기 제2 워크 테이블 유닛을 상기 외부로부터 상기 베이스 플레이트로 이송하는 이송 유닛When replacing the first work table unit with the second work table unit to end the inspection of the first liquid crystal panel and start the inspection of the second liquid crystal panel, the first work table unit is removed from the base plate. Transfer unit for transferring to the outside, the second work table unit from the outside to the base plate 을 포함하고,/ RTI > 상기 이송 유닛은The transfer unit 상기 제1 워크 테이블 유닛을 상기 베이스 플레이트로부터 들어낸 후 상기 외부로 이송하며, 상기 제2 워크 테이블 유닛을 상기 외부로부터 상기 베이스 플레이트의 상부로 이송한 후 상기 베이스 플레이트에 안착시키는 크레인; 및A crane which lifts the first work table unit from the base plate and transfers it to the outside; and transfers the second work table unit from the outside to the upper portion of the base plate and seats on the base plate; And 상기 크레인과 연결되며, 상기 제1 워크 테이블 유닛을 상기 베이스 플레이트로부터 들어낸 후 상기 외부로 이송할 때에는 상기 제1 워크 테이블 유닛의 외곽부와 체결되며, 상기 제2 워크 테이블 유닛을 상기 외부로부터 상기 베이스 플레이트의 상부로 이송한 후 상기 베이스 플레이트에 안착시킬 때에는 상기 제2 워크 테이블 유닛의 외곽부와 체결되는 체결 부재,It is connected to the crane, when the first work table unit is lifted from the base plate and transported to the outside is engaged with the outer portion of the first work table unit, the second work table unit from the outside A fastening member fastened to an outer portion of the second work table unit when the base plate is transferred to the base plate and then seated on the base plate; 를 포함하는 액정 패널의 검사 장치.Inspection device of the liquid crystal panel comprising a. 삭제delete 제1 항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 크레인은, 그 일측이 상기 크레인과 접속된 모터의 회전에 의해 상승 및 하강하는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 검사 장치.One side of the crane is raised and lowered by the rotation of the motor connected to the crane, characterized in that the liquid crystal panel inspection device. 제3 항에 있어서,The method of claim 3, 상기 크레인은, 그 타측이 메인 프레임에 고정되어 있는 것을 특징으로 하는 액정 패널의 검사 장치.The said crane is the other side fixed to the main frame, The inspection apparatus of the liquid crystal panel characterized by the above-mentioned. 제1 항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 제1 액정 패널을 검사할 때 상기 제1 액정 패널에 구동 전압을 인가하는 제1 프로브 유닛; 및A first probe unit configured to apply a driving voltage to the first liquid crystal panel when inspecting the first liquid crystal panel; And 상기 제2 액정 패널을 검사할 때 상기 제2 액정 패널에 구동 전압을 인가하는 제2 프로브 유닛;A second probe unit applying a driving voltage to the second liquid crystal panel when inspecting the second liquid crystal panel; 을 더 포함하는 액정 패널의 검사 장치.Inspection device of the liquid crystal panel further comprising. 제5 항에 있어서,6. The method of claim 5, 상기 제1 액정 패널을 검사할 때 상기 제1 액정 패널의 화상을 촬영하고, 상기 제2 액정 패널을 검사할 때 상기 제2 액정 패널의 화상을 촬영하는 카메라Camera for taking an image of the first liquid crystal panel when inspecting the first liquid crystal panel, and for taking an image of the second liquid crystal panel when inspecting the second liquid crystal panel. 를 더 포함하는 액정 패널의 검사 장치.Inspection device of the liquid crystal panel further comprising. 제6 항에 있어서,The method according to claim 6, 상기 카메라와 접속되어 상기 카메라가 촬영한 상기 제1 및 제2 액정 패널 각각의 화상을 분석 및 판단하는 컴퓨터 시스템A computer system connected to the camera for analyzing and determining images of each of the first and second liquid crystal panels taken by the camera 을 더 포함하는 액정 패널의 검사 장치.Inspection device of the liquid crystal panel further comprising. 삭제delete (a) 이송 유닛을 사용하여 제1 워크 테이블 유닛을 베이스 플레이트로부터 외부로 이송하는 단계; 및(a) transferring the first work table unit from the base plate to the outside using a transfer unit; And (b) 이송 유닛을 사용하여 제2 워크 테이블 유닛을 상기 외부로부터 상기 베이스 플레이트로 이송하는 단계를 포함하고,(b) transferring a second work table unit from the outside to the base plate using a transfer unit, 상기 (a) 단계는The step (a) (a-1) 상기 이송 유닛의 크레인의 일측을 상기 제1 워크 테이블 유닛의 중앙부로 이동시키는 단계;(a-1) moving one side of the crane of the transfer unit to a central portion of the first work table unit; (a-2) 상기 이송 유닛의 크레인과 연결된 상기 이송 유닛의 체결 부재를 상기 제1 워크 테이블 유닛의 외곽부에 체결하는 단계;(a-2) fastening a fastening member of the transfer unit connected to the crane of the transfer unit to an outer portion of the first work table unit; (a-3) 상기 크레인과 접속된 모터를 사용하여 상기 크레인의 일측을 상승시키는 단계; 및(a-3) raising one side of the crane by using a motor connected to the crane; And (a-4) 상기 크레인의 일측을 외부로 이동시키는 단계(a-4) moving one side of the crane to the outside 를 더 포함하는 액정 패널의 검사 장치를 사용한 워크 테이블 유닛의 교체 방법.How to replace the work table unit using the inspection device of the liquid crystal panel further comprising. 삭제delete 제9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 (b) 단계는Step (b) is (b-1) 체결 부재를 상기 제2 워크 테이블 유닛의 외곽부에 체결하는 단계;(b-1) fastening the fastening member to the outer portion of the second work table unit; (b-2) 크레인의 일측을 상기 베이스 플레이트의 상부로 이동시키는 단계; 및(b-2) moving one side of the crane to an upper portion of the base plate; And (b-3) 모터를 사용하여 상기 크레인의 일측을 하강시켜 상기 제2 워크 테이블 유닛을 상기 베이스 플레이트에 안착시키는 단계(b-3) lowering one side of the crane using a motor to seat the second work table unit on the base plate; 를 포함하는 액정 패널의 검사 장치를 사용한 워크 테이블 유닛의 교체 방법.The work table unit replacement method using the inspection device of the liquid crystal panel comprising a.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5432460B2 (en) * 2008-02-25 2014-03-05 株式会社日本マイクロニクス Inspection device
KR101666162B1 (en) * 2015-12-15 2016-10-13 (주) 루켄테크놀러지스 Auto probe inspection apparatus and inspection method of panel using the same
KR102146784B1 (en) * 2019-06-18 2020-08-21 제너셈(주) Object dispensing method
CN113971914A (en) * 2021-10-22 2022-01-25 苏州华兴源创科技股份有限公司 Detection method, device, equipment and medium for display module

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020066491A (en) * 2001-02-12 2002-08-19 주식회사 디이엔티 Handler for testing LCD
KR200375594Y1 (en) * 2004-11-15 2005-03-11 주식회사 유림하이테크산업 Test apparatus for Liquid Cristal Display
KR20060069085A (en) * 2004-12-17 2006-06-21 주식회사 디이엔티 Work table for flat display panel tester

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20020066491A (en) * 2001-02-12 2002-08-19 주식회사 디이엔티 Handler for testing LCD
KR200375594Y1 (en) * 2004-11-15 2005-03-11 주식회사 유림하이테크산업 Test apparatus for Liquid Cristal Display
KR20060069085A (en) * 2004-12-17 2006-06-21 주식회사 디이엔티 Work table for flat display panel tester

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