KR20120003330A - Liquid crystal display device and method testing thereof - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A liquid crystal display device and liquid crystal display device are provided to easily inspect a liquid crystal display device about single test signal in a liquid crystal display device having an inversion driving mode. CONSTITUTION: A plurality of pixels is defined by a plurality of gate lines(133a, 133b) and data lines(135a, 135b, 135c). A liquid crystal panel(101) includes a thin film transistor(137) arranged in the pixel. A first test scanning signal(230a) is applied to an odd gate line. A single test image signal is applied to a data line. A second test scanning signal(230b) is applied to an even gate line. A thin film transistor which is arranged in an adjacent pixel is connected to the data line.

Description

액정표시소자 및 액정표시소자 검사방법{LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD TESTING THEREOF}Liquid crystal display device and liquid crystal display device inspection method {LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD TESTING THEREOF}

본 발명은 액정표시소자 및 액정표시소자 검사방법에 관한 것으로, 특히 인버젼구동하는 액정표시소자에서 단색의 검사를 용이하게 실행할 수 있는 액정표시소자 및 액정표시소자 검사방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device and a liquid crystal display device inspection method, and more particularly, to a liquid crystal display device and a liquid crystal display device inspection method capable of easily performing a single color inspection in an inversion driven liquid crystal display device.

근래, 핸드폰(Mobile Phone), PDA, 노트북컴퓨터와 같은 각종 휴대용 전자기기가 발전함에 따라 이에 적용할 수 있는 경박단소용의 평판표시장치(Flat Panel Display Device)에 대한 요구가 점차 증대되고 있다. 이러한 평판표시장치로는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), FED(Field Emission Display), VFD(Vacuum Fluorescent Display) 등이 활발히 연구되고 있지만, 양산화 기술, 구동수단의 용이성, 고화질의 구현이라는 이유로 인해 현재에는 액정표시소자(LCD)가 각광을 받고 있다.Recently, with the development of various portable electronic devices such as mobile phones, PDAs, and notebook computers, there is a growing demand for flat panel display devices for light and thin applications. Such flat panel displays are being actively researched, such as LCD (Liquid Crystal Display), PDP (Plasma Display Panel), FED (Field Emission Display), VFD (Vacuum Fluorescent Display), but mass production technology, ease of driving means, Liquid crystal display devices (LCDs) are in the spotlight for reasons of implementation.

액정표시소자는 액정의 굴절률 이방성을 이용하여 화면에 정보를 표시하는 장치이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 액정표시소자(1)는 제1기판(3)과 제2기판(5) 및 상기 제1기판(3)과 제2기판(5) 사이에 형성된 액정층(7)으로 구성되어 있다. 제1기판(3)은 구동소자 어레이(Array)기판이다. 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 제1기판(1)에는 복수의 화소가 형성되어 있으며, 각각의 화소에는 박막트랜지스터(Thin Film Transistor;이하, TFT라 한다)와 같은 구동소자가 형성되어 있다. 제2기판(5)은 컬러필터(Color Filter)기판으로서, 실제 컬러를 구현하기 위한 컬러필터층이 형성되어 있다. 또한, 상기 제1기판(3) 및 제2기판(5)에는 각각 화소전극 및 공통전극이 형성되어 있으며 액정층(7)의 액정분자를 배향하기 위한 배향막이 도포되어 있다.The liquid crystal display device is a device for displaying information on the screen by using the refractive index anisotropy of the liquid crystal. As shown in FIG. 1, the liquid crystal display device 1 includes a liquid crystal layer 7 formed between the first substrate 3 and the second substrate 5 and the first substrate 3 and the second substrate 5. ) The first substrate 3 is a drive element array substrate. Although not shown in the drawing, a plurality of pixels are formed on the first substrate 1, and a driving element such as a thin film transistor (hereinafter referred to as TFT) is formed in each pixel. The second substrate 5 is a color filter substrate, and a color filter layer for real color is formed. In addition, a pixel electrode and a common electrode are formed on the first substrate 3 and the second substrate 5, respectively, and an alignment film for aligning liquid crystal molecules of the liquid crystal layer 7 is coated.

상기 제1기판(3) 및 제2기판(5)은 실링재(Sealing Material)(9)에 의해 합착되어 있으며, 그 사이에 액정층(7)이 형성되어 상기 제1기판(3)에 형성된 구동소자에 의해 액정분자를 구동하여 액정층을 투과하는 광량을 제어함으로써 정보를 표시하게 된다.The first substrate 3 and the second substrate 5 are bonded by a sealing material 9, and a liquid crystal layer 7 is formed therebetween to drive the first substrate 3. The device displays the information by controlling the amount of light passing through the liquid crystal layer by driving the liquid crystal molecules.

액정표시소자의 제조공정은 크게 제1기판(3)에 구동소자를 형성하는 구동소자 어레이기판공정과 제2기판(5)에 컬러필터를 형성하는 컬러필터기판공정 및 셀(Cell)공정으로 구분될 수 있는데, 이러한 액정표시소자의 공정을 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.The manufacturing process of the liquid crystal display device is largely divided into a driving element array substrate process of forming a driving element on the first substrate 3, a color filter substrate process of forming a color filter on the second substrate 5, and a cell process. The process of the liquid crystal display device will be described with reference to FIG. 2 as follows.

도 2에 도시된 바와 같이, TFT어레이공정과 컬러필터공정을 통해 복수의 액정패널영역이 형성된 유리 모기판인 제1기판(3) 및 제2기판(5)에 각각 구동소자인 TFT와 컬러필터층을 형성한다(S101,S104). 이어서, 상기 TFT가 형성된 제1기판(3)과 컬러필터층이 형성된 제2기판(5)에 각각 배향막을 도포한 후 러빙을 실행한 후(S102,S105), 제1기판(3)의 액정패널 영역에는 액정(7)을 적하하고 제2기판(5)의 액정패널 외곽부 영역에는 실링재(9)를 도포한다(S103,S106).As shown in FIG. 2, a TFT and a color filter layer, which are driving elements, are respectively formed on the first substrate 3 and the second substrate 5, which are glass mother substrates, on which a plurality of liquid crystal panel regions are formed, through a TFT array process and a color filter process. (S101, S104). Subsequently, after the alignment film is applied to the first substrate 3 on which the TFT is formed and the second substrate 5 on which the color filter layer is formed, after rubbing is performed (S102 and S105), the liquid crystal panel of the first substrate 3 is applied. The liquid crystal 7 is dropped in the area, and the sealing material 9 is applied to the outer area of the liquid crystal panel of the second substrate 5 (S103, S106).

그 후, 상기 제1기판(3)과 제2기판(5)을 정렬한 상태에서 압력을 가하여 실링재(9)에 의해 상기 제1기판(3)과 제2기판(5)을 합착함과 동시에 압력의 인가에 의해 적하된 액정(7)을 패널 전체에 걸쳐 균일하게 퍼지게 한다(S137). 이와 같은 공정에 의해 대면적의 유리기판(제1기판 및 제2기판)에는 액정층이 형성된 복수의 액정패널이 형성되며, 이 유리기판을 가공, 절단하여 복수의 액정패널로 분리하고 각각의 액정패널을 검사함으로써 액정표시소자를 제작하게 된다(S108,S139).Thereafter, pressure is applied while the first substrate 3 and the second substrate 5 are aligned, and the first substrate 3 and the second substrate 5 are bonded together by a sealing material 9 and at the same time. The liquid crystal 7 dropped by the application of pressure is spread evenly over the entire panel (S137). Through this process, a plurality of liquid crystal panels having a liquid crystal layer are formed on glass substrates (first substrate and second substrate) having a large area, and the glass substrates are processed and cut and separated into a plurality of liquid crystal panels. By inspecting the panel, a liquid crystal display device is fabricated (S108, S139).

상기한 바와 같이, 종래 액정표시소자 제조방법에서는 복수의 액정패널이 형성될 기판상에 액정을 적하하고 제1기판(3)과 제2기판(5)을 합착한 후 합착된 기판(3,5)을 단위 패널 단위로 분리함으로써 액정표시소자를 제작할 수 있게 된다.As described above, in the conventional liquid crystal display device manufacturing method, a liquid crystal is dropped on a substrate on which a plurality of liquid crystal panels are to be formed, the first substrate 3 and the second substrate 5 are bonded together, and then the bonded substrates 3 and 5 are bonded. ) Can be manufactured in unit panel units to form a liquid crystal display device.

액정패널은 다양한 방법으로 검사될 수 있지마, 이중에서 대표적인 검사방법이 오토프로브(Auto Probe) 검사방법이다. 상기 오토프로브 검사방법은 액정패널에 테스트패턴을 디스플레이하는 테스트신호를 인가한 후, 액정패널에 구현되는 테스트패턴을 검사함으로써 액정패널의 불량여부를 조사하는 것이다. 이때, 테스트신호는 백색 테스트패턴을 구현하는 신호와 R,G,B의 단색의 테스트패턴을 구현하는 신호로 이루어져, 백색 테스트패턴과 단색 테스트패턴을 검사하여 액정패널의 불량여부를 조사한다.The liquid crystal panel can be inspected in various ways, of which the typical inspection method is the Auto Probe inspection method. In the auto probe inspection method, a test signal for displaying a test pattern is applied to the liquid crystal panel and then the test pattern implemented in the liquid crystal panel is examined to examine whether the liquid crystal panel is defective. At this time, the test signal is composed of a signal implementing a white test pattern and a signal implementing a monochromatic test pattern of R, G, and B, and inspecting whether the liquid crystal panel is defective by inspecting the white test pattern and the monochromatic test pattern.

도 3은 종래 오토프로브 검사장치를 이용하여 액정패널을 검사하는 것을 나타내는 도면이다. 도 3에 도시된 바와 같이, 액정패널(1)은 실제 화상이 구현되는 표시부를 포함하고 있다. 이때, 도면에는 설명의 편의를 위해 박막트랜지스터가 형성된 박막트랜지스터 기판만을 도시하고 컬러필터가 형성된 컬러필터기판을 생략하였다.3 is a view showing the inspection of the liquid crystal panel using a conventional auto probe inspection apparatus. As shown in FIG. 3, the liquid crystal panel 1 includes a display unit where an actual image is implemented. In this case, for convenience of description, only the thin film transistor substrate on which the thin film transistor is formed is illustrated, and the color filter substrate on which the color filter is formed is omitted.

표시부에는 종횡으로 배열되어 복수의 화소를 정의하는 복수의 게이트라인(33)과 데이터라인(35)이 형성되어 있다. 각 화소 내에는 스위칭소자인 박막트랜지스터(Thin Film Transistor;37)가 배치되어 상기 게이트라인(33)을 통해 주사신호가 입력되는 경우 스위칭되어 데이터라인(35)을 통해 입력되는 화상신호를 화소전극(39)에 인가한다. 또한, 상기 게이트라인(33) 및 데이터라인(35)의 종단에는 각각 게이트패드와 데이터패드가 형성되어 있다.The display portion includes a plurality of gate lines 33 and data lines 35 arranged vertically and horizontally to define a plurality of pixels. A thin film transistor 37, which is a switching element, is disposed in each pixel. When a scan signal is input through the gate line 33, the pixel signal is switched and the image signal is input through the data line 35. 39). In addition, gate pads and data pads are formed at ends of the gate line 33 and the data line 35, respectively.

도면에는 도시하지 않았지만, 상기 액정패널(1)의 외부에는 게이트구동IC와 데이터구동IC가 장착되어 상기 게이트패드(22) 및 데이터패드(25)를 통해 게이트라인(33)과 데이터라인(35)에 신호를 공급한다.Although not shown in the drawing, a gate driver IC and a data driver IC are mounted outside the liquid crystal panel 1 to allow the gate line 33 and the data line 35 to pass through the gate pad 22 and the data pad 25. To feed the signal.

도면에는 자세히 도시하지 않았지만, 상기 박막트랜지스터(37)는 게이트라인(33)에 접속되어 게이트구동IC로부터 주사신호가 인가되는 게이트전극과, 게이트전극위에 형성된 게이트절연층과, 상기 게이트절연층 위에 형성되어 게이트전극에 주사신호가 인가됨에 따라 채널층을 형성하는 반도체층과, 상기 반도체층 위에 형성되어 채널층이 형성됨에 따라 데이터구동IC로부터 데이터라인(35)을 통해 입력되는 신호를 화소 전체에 형성된 화소전극(39)에 인가하는 소스/드레인전극으로 구성된다.Although not shown in detail, the thin film transistor 37 is connected to the gate line 33 and has a gate electrode to which a scan signal is applied from a gate driver IC, a gate insulating layer formed on the gate electrode, and formed on the gate insulating layer. And a scan layer is applied to the gate electrode to form a channel layer, and a signal input from the data driver IC through the data line 35 is formed on the entire pixel as the channel layer is formed on the semiconductor layer. It consists of a source / drain electrode applied to the pixel electrode 39.

또한, 도면에는 도시하지 않았지만, 컬러필터기판에는 실제 컬러를 구현하는 R(Red), G(Green), B(Blue)의 컬러필터층과, 게이트라인 및 데이터라인과 박막트랜지스터 등으로 광이 투과하는 것을 차단하는 블랙매트릭스로 구성된다.In addition, although not shown in the drawings, the color filter substrate transmits light through a color filter layer of R (Red), G (Green), and B (Blue), a gate line, a data line, a thin film transistor, and the like, which implements actual colors. It consists of a black matrix that blocks

상기와 같은 구성으로 이루어진 액정패널(1)에서 게이트패드(22)를 통해 테스트주사신호가 액정패널(1)의 게이트라인(33)으로 인가되고, 데이터패드(25)를 통해 테스트 화상신호가 데이터라인(35) 및 박막트랜지스터(37)를 통해 화소영역의 화소전극(39)으로 인가된다.In the liquid crystal panel 1 having the above configuration, the test scan signal is applied to the gate line 33 of the liquid crystal panel 1 through the gate pad 22, and the test image signal is transmitted through the data pad 25. It is applied to the pixel electrode 39 of the pixel region through the line 35 and the thin film transistor 37.

이때, 상기 테스트 화상신호는 백색 테스트패턴을 구현하기 위한 R,G,B신호일 수도 있고, R,G,B의 단색 테스트패턴을 구현하기 위한 R,G,B 단일 신호일 수도 있다.In this case, the test image signal may be an R, G, B signal for implementing a white test pattern, or an R, G, B single signal for implementing a monochromatic test pattern of R, G, and B.

상기와 같이, 테스트 화상신호가 입력됨에 따라 화면상에는 백색 테스트패턴과 R,G,B 단일 테스트패턴이 구현되며, 이 구현된 테스트패턴을 사람이 직접 관찰하거나 카메라에 의해 촬영함으로써 불량여부를 판별하게 된다.As described above, as the test image signal is input, a white test pattern and a single test pattern of R, G, and B are implemented on the screen, and the test pattern is observed by a person directly or photographed by a camera to determine whether there is a defect. do.

그러나, 상기와 같은 검사방법에서는 다음과 같은 문제가 발생한다.However, the following problem occurs in the inspection method as described above.

도 3에 도시된 바와 같이, R,G,B화소는 게이트라인(33)을 따라 R,G,B,R,G,B의 순서로 배열되며, 데이터라인을 따라서는 동일한 화소가 배열된다. 따라서, 단색 테스트패턴을 구현하는 경우, 단색 테스트패턴이 데이터라인을 따라 위에서 아래로 연장되며, 인접하는 테스트패턴과는 일정 간격(즉, 2개의 화소에 대응하는 간격) 이격된 형태의 띠형상으로 구현되며, 이 구현된 테스트패턴에 의해 단색 테스트신호의 인가시의 불량여부를 판별한다.As shown in FIG. 3, the R, G, and B pixels are arranged in the order of R, G, B, R, G, and B along the gate line 33, and the same pixels are arranged along the data line. Therefore, when the monochrome test pattern is implemented, the monochrome test pattern extends from the top to the bottom along the data line, and has a band shape that is spaced apart from the adjacent test pattern at a predetermined interval (ie, an interval corresponding to two pixels). By implementing the test pattern, it is determined whether or not a failure occurs when the monochromatic test signal is applied.

그런데, 근래 도 4에 도시된 바와 같이 하나의 데이터라인을 통해 데이터라인과 서로 인접하는 복수의 화소에 화상신호를 인가하여 액정표시소자를 인버젼구동하는 구성이 제안되고 있다.However, as shown in FIG. 4, a configuration for inversion driving a liquid crystal display device by applying an image signal to a plurality of pixels adjacent to the data line through one data line has been proposed.

도 4에 도시된 바와 같이, 이러한 구조의 액정표시소자에서는 하나의 데이터라인(33)에 인접하는 화소의 박막트랜지스터(37)가 접속되어, 데이터라인(33)을 통해 화상신호가 인가되는 경우 서로 인접하는 화소에 화상신호가 인가되어, 지그재그형상으로 화상이 구현되게 된다.As shown in FIG. 4, in the liquid crystal display device having such a structure, thin film transistors 37 of pixels adjacent to one data line 33 are connected to each other when an image signal is applied through the data line 33. An image signal is applied to adjacent pixels, so that the image is realized in a zigzag shape.

즉, 도 5a에 도시된 바와 같이, 일반적인 구조의 액정표시소자에서는 적색의 테스트패턴을 구현하는 R-테스트신호를 인가했을 때, 띠형상의 적색 테스트패턴이 일정 간격을 두고 구현된다.That is, as illustrated in FIG. 5A, when the R-test signal implementing the red test pattern is applied to the liquid crystal display device having the general structure, the band-shaped red test patterns are implemented at regular intervals.

반면에, 도 5b에 도시된 바와 같이, 인버젼구동 방식에서는 적색의 테스트패턴을 구현하는 R-테스트신호를 인가했을 때 하나의 데이터라인에 인접하는 양측의 화소(즉, B-화소 및 R-화소)가 접속되므로, 테스트패턴이 데이터라인을 따라 지그재그형상으로 구현된다. 이때, 테스트패턴은 적색만이 구현되는 것이 아니라 적색 화소와 데이터라인을 공유하는 청색 화소로 인해 적색 테스트패턴과 청색 테스트패턴이 지그재그형상으로 교대로 구현된다.On the other hand, as shown in FIG. 5B, in the inversion driving method, when an R-test signal implementing a red test pattern is applied, pixels on both sides adjacent to one data line (that is, B-pixel and R- Pixels) are connected, so that the test pattern is implemented in a zigzag shape along the data line. In this case, the test pattern is not implemented only in red, but the red test pattern and the blue test pattern are alternately implemented in a zigzag shape due to the blue pixel sharing the data line with the red pixel.

이와 같이, 인버젼구동방식의 액정표시소자에서는 단색 테스트신호를 인가했을 때 해당 테스트신호에 대응하는 단색만이 구현되는 것이 아니라 다른 색의 테스트패턴도 구현되므로, 단색 신호에 대한 검사가 불가능하였다.As described above, in the inversion driving type liquid crystal display device, when a single color test signal is applied, not only a single color corresponding to the test signal is implemented, but also a test pattern of another color is implemented.

본 발명은 상기한 점을 감안하여 이루어진 것으로, 홀수번째 게이트라인과 짝수번째 게이트라인에 테스트 주사신호를 별도로 인가한 상태에서 단색 테스트패턴에 대한 검사를 실행함으로써 화소가 데이터라인에 지그재그로 연결되어 구동되는 인버젼구동방식의 액정표시소자에서도 단색 테스트신호에 대한 검사가 용이하게 이루어질 수 있는 액정표시소자 및 액정표시소자 검사방법에 관한 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above, and a pixel is zigzag-driven by performing a test on a monochromatic test pattern while a test scan signal is separately applied to odd and even gate lines. The present invention relates to a liquid crystal display device and a liquid crystal display device inspection method, which can be easily performed for a single color test signal.

상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명에 따른 액정표시소 검사방법은 복수의 게이트라인 및 데이터라인에 의해 정의되는 복수의 화소와 상기 화소에 배치되는 박막트랜지스터를 포함하는 액정패널을 제공하는 단계; 홀수번째 게이트라인에 제1테스트주사신호를 인가하는 단계; 데이터라인에 단색 테스트 화상신호를 인가하는 단계; 짝수번째 게이트라인에 제2테스트주사신호를 인가하는 단계; 및 데이터라인에 단색 테스트 화상신호를 인가하여 단색 테스트패턴을 표시하는 단계로 구성되며, 상기 데이터라인에는 서로 인접하는 화소에 배치된 박막트랜지스터가 연결되며, 제1테스트주사신호의 인가 및 제2테스트주사신호의 인가는 한 프레임 내에서 순차적으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a liquid crystal display inspection method according to the present invention comprises the steps of providing a liquid crystal panel comprising a plurality of pixels defined by a plurality of gate lines and data lines and a thin film transistor disposed on the pixels; Applying a first test scan signal to an odd-numbered gate line; Applying a monochrome test image signal to a data line; Applying a second test scan signal to an even gate line; And displaying a monochromatic test pattern by applying a monochromatic test image signal to the data line, wherein the thin film transistors disposed in adjacent pixels are connected to the data line, and a first test scan signal is applied and a second test is performed. The application of the scan signal is characterized in that it is sequentially performed in one frame.

상기 단색 테스트 화상신호를 인가하는 단계는 데이터라인에 연결된 제1트랜지스터중 하나의 트랜지스터를 턴온시키는 단계 및 턴온된 제1-3트랜지스터에 연결된 데이터라인을 통해 단색 테스트 화상신호를 인가하는 단계로 이루어지며, 상기 단색 테스트 화상신호는 Red, Green, Blue 테스트 화상신호를 포함한다.The applying of the monochrome test image signal may include turning on one transistor of the first transistor connected to the data line and applying the monochrome test image signal through the data line connected to the turned on 1-3 transistor. The monochrome test picture signal includes red, green and blue test picture signals.

본 발명에서는 홀수번째 게이트라인과 짝수번째 게이트라인 별도로 테스트 주사신호를 인가한 상태에서 단색 테스트패턴에 대한 검사를 실행함으로써 화소가 데이터라인에 지그재그로 연결되어 구동되는 인버젼구동방식의 액정표시소자에서도 한 프레임 내에서 단색 테스트패턴이 모두 표시되므로 단색신호에 대한 검사가 용이하게 이루어질 수 있게 된다.According to the present invention, an inversion driving type liquid crystal display device in which a pixel is zigzag-driven by performing a test on a monochromatic test pattern while a test scan signal is applied separately from an odd-numbered gate line and an even-numbered gate line is applied. Since all monochrome test patterns are displayed in one frame, the monochrome signal can be easily inspected.

도 1은 일반적인 액정표시소자의 구조를 나타내는 단면도.
도 2는 종래 액정표시소자 제조방법을 나타내는 플로우챠트.
도 3은 종래 액정표시소자의 검사방법을 나타내는 도면.
도 4는 종래 다른 구조의 액정표시소자에서의 검사방법을 나타내는 도면.
도 5a 및 도 5b는 도 3 및 도 4에 도시된 액정표시소자의 검사시 화면에 표시되는 단색 테스트 패턴을 나타내는 도면.
도 6은 본 발명에 따른 액정표시소자의 검사장치를 개략적으로 나타내는 도면.
도 7은 본 발명에 따른 액정표시소자의 검사방법을 나타내는 도면.
도 8a-도 8c는 본 발명에 따른 액정표시소자의 검사시 화면상에 표시되는 단색 테스트 패턴을 나타내는 도면.1 is a cross-sectional view showing the structure of a general liquid crystal display device.
2 is a flow chart showing a conventional liquid crystal display device manufacturing method.
3 is a view showing a test method of a conventional liquid crystal display device.
4 is a view showing a test method in a conventional liquid crystal display device of another structure.
5A and 5B are diagrams illustrating a monochrome test pattern displayed on a screen when the liquid crystal display of FIGS. 3 and 4 is inspected.
6 is a schematic view showing an inspection apparatus for a liquid crystal display device according to the present invention;
7 is a view showing a test method of a liquid crystal display device according to the present invention.
8A to 8C are diagrams illustrating a monochromatic test pattern displayed on a screen during the inspection of the liquid crystal display according to the present invention.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the present invention.

도 6은 본 발명에 따른 액정표시소자의 검사장치를 개략적으로 나타내는 것으로, 이 검사장치를 이용하여 액정표시소자의 검사방법을 개략적으로 설명하면 다음과 같다.6 schematically illustrates an inspection apparatus for a liquid crystal display device according to the present invention. The inspection method of the liquid crystal display device using the inspection device will be described as follows.

도 6에 도시된 바와 같이, 검사장치(100)는 이전의 박막트랜지스터 어레이공정, 컬러필터형성공정, 합착공정, 절단공정 등의 여러 공정을 거친 액정패널(101)이 로딩되는 로더부와, 컨베이어 등과 같은 이동수단에 의해 이동되어 실제 액정패널(101)의 검사가 진행되는 검사부와, 상기 검사부에서 검사가 종료된 액정패널(101)이 컨베이어 등과 같은 이동수단에 의해 이동되어 언로딩되는 언로더부로 구성된다.As shown in FIG. 6, the inspection apparatus 100 includes a loader and a conveyor on which the liquid crystal panel 101 which has undergone various processes, such as a thin film transistor array process, a color filter forming process, a bonding process, and a cutting process, is loaded. The inspection unit which is moved by a moving means such as the inspection of the actual liquid crystal panel 101, and the unloader which is unloaded by the moving means such as a conveyor is moved to the liquid crystal panel 101 where the inspection is completed. It is composed.

상기 로더부에는 액정패널(101)이 안착되는 팔레트(110)가 구비되어, 액정패널(101)은 상기 팔레트(110)에 안착된 상태로 이동수단에 의해 이동된다. 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 팔레트(110)는 검사를 수행하기 위해 상기 액정패널(101)이 안착되는 테이블과, 상기 테이블에 안착된 액정패널(101)에 에 부착되어 상기 액정패널(101)에 테스트신호를 인가하는 프로브유닛과, 상기 액정패널(101)의 게이트 및 데이터라인 별로 프로브 유닛이 장착된 베이스 플레이트로 구성된다.The loader unit is provided with a pallet 110 on which the liquid crystal panel 101 is seated, and the liquid crystal panel 101 is moved by the moving means while seated on the pallet 110. Although not shown in the drawing, the pallet 110 is attached to a table on which the liquid crystal panel 101 is seated and to a liquid crystal panel 101 mounted on the table to perform the inspection. The probe unit is configured to apply a test signal, and a base plate on which the probe unit is mounted for each gate and data line of the liquid crystal panel 101.

상기 검사부의 상부에는 카메라(115)가 설치되어 로딩되는 액정패널(101)을 촬영한다. 이때, 상기 카메라(115)로는 액정패널(101)을 라인별로 스캐닝하는 라인스캔 카메라(Line Scan Camera)일 수 있고 액정패널(101)을 영역별로 스캔하는 에어리어 카메라(Area Camera)일 수도 있다. 또한 도면에는 도시하지 않았지만, 상기 검사장치(100)는 상기 카메라(115)로부터 전달된 정보를 작업자가 확인할 수 있는 화상으로 처리하는 비전하드웨어와, 상기 비전하드웨어를 통해 처리된 화상이 표시되는 화상표시부 및 검사되는 검사 대상물의 결함을 표시하는 결함맵을 구비할 수 있다. The upper part of the inspection unit photographs the liquid crystal panel 101 in which the camera 115 is installed and loaded. In this case, the camera 115 may be a line scan camera scanning the liquid crystal panel 101 line by line, or may be an area camera scanning the liquid crystal panel 101 area by area. In addition, although not shown in the drawing, the inspection apparatus 100 includes vision hardware for processing information transmitted from the camera 115 into an image that can be checked by an operator, and an image display unit for displaying an image processed through the vision hardware. And a defect map indicating a defect of the inspection object to be inspected.

또한, 검사부의 팔레트(110)의 하부에는 백라이트(190)가 구비되어 셀단위의 액정패널(101)을 검사할 때 액정패널(101)에 광을 공급하여 테스트패턴이 표시되도록 한다.In addition, a backlight 190 is provided below the pallet 110 of the inspection unit to supply light to the liquid crystal panel 101 when the liquid crystal panel 101 is inspected in a cell unit so that a test pattern is displayed.

이러한 검사장치(100)에 의한 액정패널(101)의 검사공정은 다음과 같다.The inspection process of the liquid crystal panel 101 by the inspection device 100 is as follows.

박막트랜지스터 어레이공정, 컬러필터형성공정, 합착공정, 절단공정 등을 걸친 액정패널(101)이 상기 검사장치(100)로 투입되면, 상기 로더부는 상기 액정패널(101)을 로딩하고, 상기 로딩된 액정패널(101)은 팔레트(110) 상에 안착된 상태로 검사부로 이동하게 된다. When the liquid crystal panel 101 including the thin film transistor array process, the color filter forming process, the bonding process, the cutting process, and the like is introduced into the inspection apparatus 100, the loader unit loads the liquid crystal panel 101 and loads the loaded liquid crystal panel 101. The liquid crystal panel 101 is moved to the inspection unit while seated on the pallet 110.

상기 검사부로 이동된 액정패널(101)은 상기 팔레트(110)에 구비된 테이블에 안착되어 프로브유닛과 접속되어 상기 카메라(115)를 통해 불량 여부에 대한 검사가 이루어진다. 이때, 상기 카메라(115)에 의해 촬영된 검사시료의 이미지는 광정보처리부에 의해 처리됨으로써 자동으로 검사가 이루어진다. The liquid crystal panel 101 moved to the inspection unit is seated on a table provided in the pallet 110, connected to the probe unit, and inspected for defects through the camera 115. At this time, the image of the test sample photographed by the camera 115 is processed automatically by the optical information processing unit.

상기 검사부에서 검사가 이루어진 액정패널(101)은 상기 팔레트(110)에 안착되어 언로더부를 통해 언로딩된다. The liquid crystal panel 101 inspected by the inspection unit is mounted on the pallet 110 and unloaded through the unloader unit.

도 7에 도시된 바와 같이, 상기 검사장치(100)에 의해 검사가 이루어지는 액정패널(101)에는 종횡으로 배열되어 복수의 화소를 정의하는 복수의 게이트라인(133)과 데이터라인(135a,135b,135c)이 형성되어 있으며 각 화소 내에는 스위칭소자인 박막트랜지스터(137)가 배치되어 상기 게이트라인(133)을 통해 주사신호가 입력되는 경우 스위칭되어 데이터라인(135a,135b,135c)을 통해 입력되는 화상신호를 화소전극(139)에 인가한다. 또한, 상기 게이트라인(133) 및 데이터라인(135a,135b,135c)의 종단에는 각각 게이트패드(122)와 데이터패드(125a,125b,125c)가 형성되어 있다.As illustrated in FIG. 7, a plurality of gate lines 133 and data lines 135a and 135b arranged in a vertical direction and horizontally in the liquid crystal panel 101 to be inspected by the inspection apparatus 100 to define a plurality of pixels. And a thin film transistor 137, which is a switching element, is disposed in each pixel, and is switched when the scan signal is input through the gate line 133 and input through the data lines 135a, 135b, and 135c. An image signal is applied to the pixel electrode 139. In addition, gate pads 122 and data pads 125a, 125b, and 125c are formed at ends of the gate line 133 and the data lines 135a, 135b, and 135c, respectively.

이때, 상기 데이터라인(135a,135b,135c)에는 인접하는 좌우 화소의 박막트랜지스터(137)가 접속된다. 즉, 특정 데이터라인(135a,135b,135c)을 기준으로 홀수번째 게이트라인(133)에 연결된 박막트랜지스터(137)가 데이터라인(135a,135b,135c)의 우측에 배치되어 상기 데이터라인(135a,135b,135c)과 연결된다면, 짝수번째 게이트라인(133)에 연결된 박막트랜지스터(137)는 데이터라인(135a,135b,135c)의 좌측에 배치되어 데이터라인(135a,135b,135c)과 접속된다. 다시 말해서, 데이터라인(135a,135b,135c)을 중심으로 지그재그형상으로 박막트랜지스터(137)가 데이터라인(135a,135b,135c)에 연결되는 것이다.In this case, the thin film transistors 137 of adjacent left and right pixels are connected to the data lines 135a, 135b, and 135c. That is, the thin film transistor 137 connected to the odd-numbered gate line 133 based on the specific data lines 135a, 135b, and 135c is disposed on the right side of the data lines 135a, 135b, and 135c, so that the data lines 135a, When connected to the 135b and 135c, the thin film transistor 137 connected to the even-numbered gate line 133 is disposed on the left side of the data line 135a, 135b and 135c to be connected to the data lines 135a, 135b and 135c. In other words, the thin film transistor 137 is connected to the data lines 135a, 135b, and 135c in a zigzag shape around the data lines 135a, 135b and 135c.

데이터라인(135)의 단부에는 데이터패드(125a,125b,125c)가 형성되며, 상기 데이터패드(125a,125b,125c)에는 외부의 연결라인(210)을 통해 테스트신호 인가라인(220)과 연결되어 외부로부터 테스트신호가 상기 데이터패드(125a,125b,125c)를 통해 데이터라인(135a,135b,135c)으로 입력된다. 이때, 상기 연결라인(210)에는 각각 R,G,B 온신호용 트랜지스터(211a,211b,211c)가 배치되어, 각각의 데이터라인(135a,135b,135c)에 R,G,B 단색 테스트신호를 인가한다.Data pads 125a, 125b and 125c are formed at the end of the data line 135, and the data pads 125a, 125b and 125c are connected to the test signal applying line 220 through an external connection line 210. The test signal is input from the outside to the data lines 135a, 135b, and 135c through the data pads 125a, 125b, and 125c. In this case, R, G, and B on-signal transistors 211a, 211b, and 211c are disposed on the connection line 210, respectively, and R, G, and B single color test signals are applied to each of the data lines 135a, 135b, and 135c. Is authorized.

즉, 적색 테스트패턴에 대한 검사를 진행하는 경우, Red On신호를 제1트랜지스터(211a)의 게이트단자에 인가하여 상기 제1트랜지스터(211a)를 턴온시키면, 테스트신호 인가라인(220)을 통해 R-테스트신호가 제1트랜지스터(211a)를 통해 해당 데이터라인(135a)으로 인가되어 상기 데이터라인(135a)과 연결된 화소에 적색 테스트패턴을 구현하게 된다.That is, when the red test pattern is inspected, if the red on signal is applied to the gate terminal of the first transistor 211a and the first transistor 211a is turned on, the test signal applying line 220 causes R to be turned on. The test signal is applied to the corresponding data line 135a through the first transistor 211a to implement a red test pattern on the pixel connected to the data line 135a.

또한, 녹색 테스트패턴에 대한 검사를 진행하는 경우, GREEN On신호를 제2트랜지스터(211b)의 게이트단자에 인가하여 상기 제2트랜지스터(211b)를 턴온시키면, 테스트신호 인가라인(220)을 통해 G-테스트신호가 제2트랜지스터(211b)를 통해 해당 데이터라인(135b)으로 인가되어 상기 데이터라인(135b)과 연결된 화소에 녹색 테스트패턴을 구현하게 된다.In addition, when the green test pattern is inspected, a GREEN On signal is applied to the gate terminal of the second transistor 211b to turn on the second transistor 211b, and then the G signal is applied through the test signal applying line 220. The test signal is applied to the corresponding data line 135b through the second transistor 211b to implement a green test pattern on the pixel connected to the data line 135b.

그리고, 청색 테스트패턴에 대한 검사를 진행하는 경우, BLUE On신호를 제3트랜지스터(211c)의 게이트단자에 인가하여 상기 제3트랜지스터(211c)를 턴온시키면, 테스트신호 인가라인(220)을 통해 B-테스트신호가 제3트랜지스터(211c)를 통해 해당 데이터라인(135c)으로 인가되어 상기 데이터라인(135c)과 연결된 화소에 청색 테스트패턴을 구현하게 된다.When the blue test pattern is inspected, when the BLUE On signal is applied to the gate terminal of the third transistor 211c and the third transistor 211c is turned on, the test signal applying line 220 causes B to turn on. The test signal is applied to the corresponding data line 135c through the third transistor 211c to implement a blue test pattern on the pixel connected to the data line 135c.

백색 테스트패턴에 대한 검사를 진행하는 경우에는, Red On신호, Red On신호 및 BLUE On신호를 각각 제1트랜지스터(211a), 제2트랜지스터(211b) 및 제3트랜지스터(211c)에 인가하여 제1트랜지스터(211a), 제2트랜지스터(211b) 및 제3트랜지스터(211c)를 모두 턴온시키면, 테스트신호 인가라인(220)을 통해 R,G,B-테스트신호가 각각 제1트랜지스터(211a), 제2트랜지스터(211b) 및 제3트랜지스터(211c)를 통해 해당 데이터라인(135a,135b,135c)으로 인가되어 각각의 데이터라인(135a,135b,135c)과 연결된 화소에 적,녹,청색 테스트패턴이 구현되어 결국 백색 테스트패턴이 구현되는 것이다.When the white test pattern is inspected, the red on signal, the red on signal, and the blue on signal are applied to the first transistor 211a, the second transistor 211b, and the third transistor 211c, respectively. When the transistor 211a, the second transistor 211b, and the third transistor 211c are all turned on, the R, G, and B-test signals are respectively transmitted through the test signal applying line 220 to the first transistor 211a and the first transistor. The red, green, and blue test patterns are applied to the pixels connected to the data lines 135a, 135b, and 135c through the second transistor 211b and the third transistor 211c, respectively. The white test pattern is implemented.

홀수번째 게이트라인(133a) 및 짝수번째 게이트라인(133b)은 각각 제1테스트주사신호가 인가되는 제1테스트 주사신호라인(230a) 및 제2테스트 주사신호라인(230b)에 연결된다.The odd-numbered gate lines 133a and the even-numbered gate lines 133b are respectively connected to the first test scan signal line 230a and the second test scan signal line 230b to which the first test scan signal is applied.

도면에 도시하지 않았지만, 상기 제1테스트 주사신호라인(230a) 및 제2테스트 주사신호라인(230b)은 외부의 테스트신호 발생부와 연결되어 게이트라인(133a,133b)에 테스트 주사신호를 인가한다.Although not shown, the first test scan signal line 230a and the second test scan signal line 230b are connected to an external test signal generator to apply test scan signals to the gate lines 133a and 133b. .

이때, 상기 제1테스트 주사신호라인(230a) 및 제2테스트 주사신호라인(230b)에는 각각 한 프레임내에서 연속적인 테스트 주사신호가 인가된다. 즉, 제1테스트 주사신호라인(230a)을 통해 홀수번째의 게이트라인(133a)에 테스트 주사신호가 인가된 후, 이어서 제2테스트 주사신호라인(230b)을 통해 짝수번째의 게이트라인(133b)에 테스트 주사신호가 순차적으로 인가된다. In this case, successive test scan signals are applied to each of the first test scan signal line 230a and the second test scan signal line 230b in one frame. That is, after the test scan signal is applied to the odd-numbered gate line 133a through the first test scan signal line 230a, the even-numbered gate line 133b is subsequently applied through the second test scan signal line 230b. The test scan signals are sequentially applied.

이와 같이, 한 프레임내에서 홀수번째 게이트라인(133a)과 짝수번째 게이트라인(133b)에 테스트 주사신호를 순차적으로 인가함으로써, 데이터라인을 따라 띠형상으로 표시되는 단색을 구현할 수 있는데, 이러한 방법을 도 7 및 도 8을 참조하여 설명하면 다음과 같다.As described above, the test scan signal is sequentially applied to the odd-numbered gate lines 133a and the even-numbered gate lines 133b in one frame, thereby realizing a monochromatic color represented by a band along the data line. A description with reference to FIGS. 7 and 8 is as follows.

우선, 도 7에 도시된 구조의 액정표시소자에서 제1테스트 주사신호라인(230a)을 통해 홀수번째 게이트라인(133a)에 제1테스트 주사신호를 인가함과 동시에 Red On신호를 제1트랜지스터(211a)의 게이트단자에 인가하면, 상기 제1트랜지스터(211a)가 턴온되어 데이터라인(135a)을 통해 R-테스트신호가 입력된다. 이때, 홀수번째 게이트라인(133a)에 연결된 박막트랜지스터(137)만이 턴온되고 짝수번째 게이트라인(133b)에 연결된 박막트랜지스터(137)는 턴오프된 상태를 유지하므로, R-테스트신호가 입력되는 데이터라인(135a) 및 홀수번째 게이트라인(133a)에 의해 정의되는 화소, 즉 도 6에서 R-테스트신호가 입력되는 데이터라인(135a)의 우측에만 배치된 R-화소에만 R-테스트신호가 입력되어 적색 테스트패턴을 구현하게 되어 도 8a에 도시된 바와 같이 적색 테스트패턴이 한 화소가 이격된 띠형상으로 구현된다.First, in the liquid crystal display device having the structure shown in FIG. 7, the first test scan signal is applied to the odd-numbered gate line 133a through the first test scan signal line 230a and the red on signal is transmitted to the first transistor. When applied to the gate terminal of 211a, the first transistor 211a is turned on and an R-test signal is input through the data line 135a. At this time, since only the thin film transistor 137 connected to the odd-numbered gate line 133a is turned on and the thin film transistor 137 connected to the even-numbered gate line 133b remains turned off, the R-test signal is inputted. The R-test signal is input only to the pixel defined by the line 135a and the odd-numbered gate line 133a, that is, the R-pixel disposed only on the right side of the data line 135a to which the R-test signal is input in FIG. As a result of implementing the red test pattern, as illustrated in FIG. 8A, the red test pattern has a band shape in which one pixel is spaced apart.

이때, 도 7에서 R-테스트신호가 입력되는 데이터라인(135a)의 좌측에 배치된 B-화소는 테스트 주사신호가 인가되지 않는 짝수번째 게이트라인(133b)과 연결되어 내부에 배치되는 박막트랜지스터(137)가 턴오프된 상태를 유지하므로 상기 B화소에는 R-테스트신호가 입력되지 않는다. 따라서, 도 5b에 도시된 종래에는 B-화소에 청색 테스트패턴이 표시되는데 비해서, 본 발명에서는 이러한 청색 테스트패턴이 표시되지 않게 된다.In this case, in FIG. 7, the B-pixel disposed on the left side of the data line 135a to which the R-test signal is input is connected to the even-numbered gate line 133b to which the test scan signal is not applied. Since 137 remains turned off, the R-test signal is not input to the B pixel. Accordingly, while the blue test pattern is displayed on the B-pixel in the related art, the blue test pattern is not displayed in the present invention.

이어서, 제2테스트 주사신호라인(230b)을 통해 짝수번째 게이트라인(133b)에 제2테스트 주사신호를 인가함과 동시에 GREEN On신호를 제2트랜지스터(112b)의 게이트단자에 인가하면, 상기 제2트랜지스터(211b)가 턴온되어 데이터라인(135b)을 통해 G-테스트신호가 입력된다. 이때, 홀수번째 게이트라인(133a)에 연결된 박막트랜지스터(137)만이 턴온되고 짝수번째 게이트라인(133b)에 연결된 박막트랜지스터(137)는 턴오프된 상태를 유지하므로, G-테스트신호가 입력되는 데이터라인(135b) 및 홀수번째 게이트라인(133b)에 의해 정의되는 화소, 즉 도 7에서 G-테스트신호가 입력되는 데이터라인(135b)의 좌측에만 배치된 R-화소에만 G-테스트신호가 입력되어 적색 테스트패턴을 표시하게 되어 도 8b에 도시된 바와 같이 적색 테스트패턴이 한 화소가 이격된 띠형상으로 구현된다.Subsequently, when the second test scan signal is applied to the even-numbered gate line 133b through the second test scan signal line 230b and the GREEN On signal is applied to the gate terminal of the second transistor 112b, the second test scan signal line 230b is applied. The two transistors 211b are turned on to input the G-test signal through the data line 135b. In this case, since only the thin film transistor 137 connected to the odd-numbered gate line 133a is turned on and the thin film transistor 137 connected to the even-numbered gate line 133b remains turned off, the data to which the G-test signal is input is input. The G-test signal is input only to the pixel defined by the line 135b and the odd-numbered gate line 133b, that is, the R-pixel disposed only on the left side of the data line 135b to which the G-test signal is input in FIG. The red test pattern is displayed, and as illustrated in FIG. 8B, the red test pattern is implemented in a band shape in which one pixel is spaced apart.

이때, 도 7에서 G-테스트신호가 입력되는 데이터라인(135b)의 우측에 배치된 G-화소는 테스트 주사신호가 인가되지 않는 홀수번째 게이트라인(133a)과 연결되어 내부의 박막트랜지스터(137)가 턴오프상태를 유지하게 되어 G-테스트신호가 입력되지 않기 때문에, G-화소에는 녹색 테스트패턴이 표시되지 않는다.In this case, in FIG. 7, the G-pixel disposed on the right side of the data line 135b to which the G-test signal is input is connected to the odd-numbered gate line 133a to which the test scan signal is not applied to the thin film transistor 137. Does not display the green test pattern because the G-test signal is not inputted so that the G-test signal is maintained.

상기와 같은 홀수번째 게이트라인(133a) 및 짝수번째 게이트라인(133b)으로 주사신호를 인가한 상태에서 테스트신호를 인가하는 동작은 한프레임에서 이루어진다. 따라서, 실질적으로 화면상에는 도 8a에 도시된 테스트패턴과 도 8b에 도시된 테스트패턴이 한 프레임상에서 구현되어 실제로는 이들 테스트패턴이 합성된 영상이 화면상에 표시된다. 즉, 도 8c에 도시된 바와 같이, 실제 화면에는 띠형상의 적색 테스트패턴이 구현되어 적색에 대한 검사가 원활하게 이루어진다.The test signal is applied to the odd-numbered gate lines 133a and even-numbered gate lines 133b in one frame. Therefore, the test pattern shown in FIG. 8A and the test pattern shown in FIG. 8B are substantially implemented on one frame on the screen so that an image obtained by actually combining these test patterns is displayed on the screen. That is, as illustrated in FIG. 8C, a band-shaped red test pattern is implemented on the actual screen to smoothly inspect the red color.

상기와 같은 과정의 검사가 녹색 및 청색의 단일 테스트패턴에 대하여 반복되어 단일 색상에 대한 검사가 진행된다.The inspection of the above process is repeated for a single test pattern of green and blue, and the inspection for a single color is performed.

또한, 백색 테스트패턴에 대한 검사는 제1-3트랜지스터(211a,211b,211c)를 모두 턴온시키고 대응하는 모든 테스트신호를 데이터라인(135a,135b,135c)에 인가함으로써 이루어진다. 즉, 모든 테스트신호를 인가함에 따라 화면상에는 적색, 녹색, 청색의 테스트패턴이 구현되어 결국 백색 테스트패턴이 표시되는 것이다.In addition, the test of the white test pattern is performed by turning on all of the first to third transistors 211a, 211b and 211c and applying all corresponding test signals to the data lines 135a, 135b and 135c. That is, as all test signals are applied, red, green, and blue test patterns are implemented on the screen, and thus white test patterns are displayed.

상술한 바와 같이, 본 발명에서는 홀수번째 게이트라인과 짝수번째 게이트라인에 한 프레임내에서 순차적으로 신호를 인가한 상태에서 오토프로브검사를 진행하므로 인버젼구동방식의 액정표시소자에서도 단일 색상에 대한 검사가 원할하게 이루어질 수 있게 된다.As described above, in the present invention, since the auto probe test is performed while the signals are sequentially applied to the odd-numbered gate lines and the even-numbered gate lines within one frame, a single color test is performed even in the inversion drive type liquid crystal display device. Can be made smoothly.

한편, 상술한 상세한 설명에서는 본 발명으로서 특정한 구조의 액정표시소자 및 검사방법이 설명되고 있지만, 본 발명이 이러한 특정 구조나 방법에 한정되는 것이 아니다. 본 발명의 기본적인 개념을 이용하여 창안할 수 있는 다른 예나 변형예를 본 발명의 범위에 포함되어야만 할 것이다.On the other hand, although the liquid crystal display element and the inspection method of a specific structure are demonstrated as this invention in the above-mentioned detailed description, this invention is not limited to this specific structure or method. Other examples or modifications that can be devised using the basic concepts of the invention should be included in the scope of the invention.

101 : 액정패널 133a,133b : 게이트라인
135a,135b,135c : 데이터라인 137 : 박막트랜지스터
139 : 화소전극 211a,211b,211c : 트랜지스터
230a,230b : 테스트 주사신호라인101: liquid crystal panel 133a, 133b: gate line
135a, 135b, 135c: data line 137: thin film transistor
139: pixel electrode 211a, 211b, 211c: transistor
230a, 230b: Test scan signal line

Claims (6)

복수의 게이트라인 및 데이터라인에 의해 정의되는 복수의 화소와 상기 화소에 배치되는 박막트랜지스터를 포함하는 액정패널을 제공하는 단계;
홀수번째 게이트라인에 제1테스트주사신호를 인가하는 단계;
데이터라인에 단색 테스트 화상신호를 인가하는 단계;
짝수번째 게이트라인에 제2테스트주사신호를 인가하는 단계; 및
데이터라인에 단색 테스트 화상신호를 인가하여 단색 테스트패턴을 표시하는 단계로 구성되며,
상기 데이터라인에는 서로 인접하는 화소에 배치된 박막트랜지스터가 연결되며, 제1테스트주사신호의 인가 및 제2테스트주사신호의 인가는 한 프레임 내에서 순차적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시소자 검사방법.Providing a liquid crystal panel comprising a plurality of pixels defined by a plurality of gate lines and data lines and a thin film transistor disposed on the pixels;
Applying a first test scan signal to an odd-numbered gate line;
Applying a monochrome test image signal to a data line;
Applying a second test scan signal to an even gate line; And
And displaying a monochrome test pattern by applying a monochrome test image signal to the data line.
And the thin film transistors disposed in adjacent pixels are connected to the data line, and the application of the first test scan signal and the application of the second test scan signal are sequentially performed within one frame. 제1항에 있어서, 상기 단색 테스트 화상신호를 인가하는 단계는,
데이터라인에 연결된 제1트랜지스터중 하나의 트랜지스터를 턴온시키는 단계; 및
턴온된 제1-3트랜지스터에 연결된 데이터라인을 통해 단색 테스트 화상신호를 인가하는 단계로 이루어진 것을 특징으로 하는 액정표시소자 검사방법.The method of claim 1, wherein the applying of the monochrome test image signal comprises:
Turning on one transistor of the first transistor coupled to the data line; And
And applying a monochromatic test image signal through a data line connected to the turned on 1-3 transistor. 제1항에 있어서, 단색 테스트 화상신호는 Red, Green, Blue 테스트 화상신호를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자 제조방법.The method of claim 1, wherein the monochromatic test image signal comprises red, green, and blue test image signals. 제1항에 있어서, 상기 데이터라인에 R,G,B 테스트화상 신호를 동시에 인가하여 백색 테스트패턴을 표시하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자 제조방법.The method of claim 1, further comprising displaying a white test pattern by simultaneously applying R, G, and B test image signals to the data line. 제1항에 있어서, 표시된 테스트패턴을 촬영하여 불량을 판별하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시소자 제조방법.The method of claim 1, further comprising photographing the displayed test pattern to determine a defect. 복수의 게이트라인 및 데이터라인에 의해 정의되는 복수의 화소와 상기 화소에 배치되는 박막트랜지스터를 포함하는 액정패널;
상기 액정패널의 각각의 데이터라인과 연결되어, 신호가 인가됨에 따라 턴온되는 복수의 제1-3트랜지스터;
상기 제1-3트랜지스터에 연결되어 제1-3트랜지스터가 턴온됨에 따라 상기 제1-3트랜지스터를 통해 데이터라인에 단색 테스트신호를 인가하는 테스트신호라인;
상기 액정패널 내에 형성된 홀수번째 게이트라인과 연결되어 홀수번째 게이트라인에 제1테스트 주사신호를 인가하는 제1테스트 주사신호라인; 및
상기 액정패널 내에 형성된 짝수번째 게이트라인과 연결되어 짝수번째 게이트라인에 제2테스트 주사신호를 인가하는 제2테스트 주사신호라인으로 구성된 액정표시소자.A liquid crystal panel including a plurality of pixels defined by a plurality of gate lines and data lines and a thin film transistor disposed on the pixels;
A plurality of first to third transistors connected to each data line of the liquid crystal panel and turned on as a signal is applied;
A test signal line connected to the 1-3 transistor to apply a monochromatic test signal to a data line through the 1-3 transistor as the 1-3 transistor is turned on;
A first test scan signal line connected to an odd gate line formed in the liquid crystal panel to apply a first test scan signal to an odd gate line; And
And a second test scan signal line connected to an even gate line formed in the liquid crystal panel to apply a second test scan signal to the even gate line.
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