KR101230202B1 - 슬라이드 오정렬 검출 시스템 - Google Patents

슬라이드 오정렬 검출 시스템 Download PDF

Info

Publication number
KR101230202B1
KR101230202B1 KR1020077016750A KR20077016750A KR101230202B1 KR 101230202 B1 KR101230202 B1 KR 101230202B1 KR 1020077016750 A KR1020077016750 A KR 1020077016750A KR 20077016750 A KR20077016750 A KR 20077016750A KR 101230202 B1 KR101230202 B1 KR 101230202B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
slides
slide
transparent
opaque
light
Prior art date
Application number
KR1020077016750A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20070103388A (ko
Inventor
에이 스캄피니 스티븐
Original Assignee
사이틱 코포레이션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 사이틱 코포레이션 filed Critical 사이틱 코포레이션
Publication of KR20070103388A publication Critical patent/KR20070103388A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101230202B1 publication Critical patent/KR101230202B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00029—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/34—Microscope slides, e.g. mounting specimens on microscope slides
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00029—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
    • G01N2035/00089—Magazines
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N35/00—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor
    • G01N35/00029—Automatic analysis not limited to methods or materials provided for in any single one of groups G01N1/00 - G01N33/00; Handling materials therefor provided with flat sample substrates, e.g. slides
    • G01N2035/00099—Characterised by type of test elements
    • G01N2035/00138—Slides

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
  • Controlling Sheets Or Webs (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

슬라이드들이 카세트 내에 적절하게 적재되었는 지를 결정하기 위한 시스템이 제공된다. 각 슬라이드는 하나 이상의 투명 영역들 및 하나 이상의 불투명 영역들을 포함한다. 상기 슬라이드들은 광원 및 센서 사이에 배치된다. 센서가 광원에서의 광을 검출할 수 있는 경우, 슬라이드들이 카세트 내에 적절하게 적재된 것으로 한다. 상기 센서 또는 분리형 컨트롤러는 슬라이드들이 적절하게 적재되었는지 아닌지에 대해 사용자 또는 처리 장비에 표시를 제공하기 위한 신호 또는 데이터를 생성할 수 있다.

Description

슬라이드 오정렬 검출 시스템{SLIDE MISLOAD DETECTION SYSTEM}
본 발명은 슬라이드 저장 용기에 관한 것으로, 슬라이드 저장 용기 내의 슬라이드들의 배향을 보정 또는 확인하기 위한 시스템에 관한 것이다.
현미경 및 환자 시험 슬라이드 등의, 유리 슬라이드를 저장하도록 여러 가지의 장치들이 사용되고 있다. 하나의 알려진 저장 용기는 슬라이드 카세트이다. 카세트는 통상 카세트에서 연장하며 슬롯 아래에 있는 한 쌍의 트레이들 또는 지지 부재들 또는 핑거들을 포함한다. 슬라이드는 슬롯으로 끼워져서 트레이 상에 위치한다. 각 슬롯은 하나의 슬라이드를 수용한다. 슬롯의 치수는 통상 슬라이드의 치수보다 커서 슬라이드가 용이하게 슬롯에 삽입 및 제거될 수 있게 된다.
자동화 또는 반자동화 이미지 시스템들은 슬라이드를 카세트에서 제거하고, 슬라이드 또는 견본을 처리하여, 슬라이드를 카세트 내로 복귀시키도록 로봇 작용기들 또는 다른 장치들을 이용한다. 예컨대, 하나의 장치는 카세트에서 하나의 슬라이드를 얻어서 현미경 또는 다른 장치 아래에 배치시킴으로써 세포 검사 기사가 암 및 다른 의료적 조건들에 대해 상기 샘플을 분석할 수 있게 된다. 더 구체적으로, 이미지 시스템은 슬라이드를 파지하여, 슬라이드를 트레이들의 보유 부재들 위에 올려놓고, 상기 슬라이드를 트레이들 및 슬롯에서 제거하며, 슬라이드를 현미경 아래에 위치시킨다. 상기 이미지 시스템은 분석이 완료된 후에 슬라이드를 카세트에 재삽입한다.
이미지 시스템 및 다른 장치들이 슬라이드 카세트 내의 슬라이드의 배향을 점검하는 방식이 개선될 수 있다. 이상적으로는, 모든 슬라이드들이 카세트 내측의 트레이들 상에 편평하게 또는 유사한 방식으로 적절하게 배열되는 것이다. 그러나, 인간 또는 기계의 에러의 결과로, 슬라이드들은 카세트 내에 부적절하게 적재될 수 있다. 예컨대, 하나의 슬라이드가 뒤집힌 채로 삽입되어 견본이 있는 표면이 아래로 향하게 되는 반면에, 다른 슬라이드들은 그들의 견본 샘플들이 위로 향하게 될 수 있다. 또한, 슬라이드들이 비틀릴 수 있다. 즉, 슬라이드가 우연히 180도 회전될 수 있다. 이는, 예컨대 바 코드 또는 다른 데이터가 슬라이드의 일 단부 상에 제공될 때 문제로 될 수 있다. 또한, 슬라이드들은 비틀려서 뒤집힐 수 있다. 부적절하게 적재된 슬라이드들은 처리 장비를 복잡하게 하여 처리 에러를 야기할 수 있고, 결과적으로 시스템에 고장 시간으로 되고 세포 검사 기사 또는 기술자가 카세트를 검사하여 슬라이드들을 재배열하도록 요구하게 된다.
일 실시예에 따르면, 슬라이드 수용기 내에 슬라이드가 적절하게 적재되었는 지를 결정하기 위한 시스템은 투명 영역 및 불투명 영역을 가진 슬라이드, 광원 및 센서를 포함한다. 슬라이드는 광원 및 센서 사이에 배치된다. 슬라이드는 광원에서의 광이 슬라이드의 투명 영역을 통과하였음을 센서가 검출했을 때 슬라이드 수용기내에 적절하게 적재된 것이다.
다른 실시예에 따르면, 다수의 슬라이드들이 슬라이드 수용기 내에 적절하게 적재되었는 지를 결정하기 위한 시스템은 각각 투명 영역 및 불투명 영역을 가진 다수의 슬라이드들, 광원 및 센서를 포함한다. 상기 슬라이드들은 광원 및 센서 사이에 배치되며 광원에서의 광이 슬라이드들의 정렬된 투명 영역을 통과했음을 센서가 검출했을 때 상기 슬라이드들이 슬라이드 수용기 내에 적절하게 적재된 것이다.
또 다른 실시예에서, 슬라이드들이 슬라이드 수용기 내에 적절하게 적재되었는 지를 결정하기 위한 시스템은 각각 투명한 코너 영역 및 3개의 불투명한 코너 영역을 가진 다수의 슬라이드들, 광원 및 센서를 포함한다. 상기 슬라이드들은 광원 및 센서 사이에 배치되며 광원에서의 광이 슬라이드들의 정렬된 투명한 코너 영역들을 통과했음을 센서가 검출했을 때 상기 슬라이드들이 슬라이드 수용기 내에 적절하게 적재된 것이다.
여러 가지의 실시예들에서, 슬라이드의 하나의 코너는 투명 영역을 가질 수 있고, 다른 3개의 코너들은, 흡수성 또는 반사성의 불투명 또는 윤택이 없는 영역 등의, 불투명 코너 영역들을 가질 수 있다. 투명 및 불투명 영역들의 다른 형태들, 형상들, 수들, 및 사이즈들이 사용될 수 있다. 예컨대, 슬라이들은, 광원 및 센서 사이에, 수직 스택 또는 수평으로 배열된다. 투명 영역은 슬라이드의 에지 및 불투명 영역으로 둘러싸이게 될 수 있다. 또한, 투명 영역은 삼각형, 장방형, 정방형, 원형 또는 반원형으로 될 수 있다. 예컨대, 각 슬라이드는 삼각형 또는 장방형 등의, 여러 가지 형상들로 될 수 있는, 3개의 불투명 영역들을 가질 수 있다. 상기 투명 및 불투명 영역들은 동일 형상 또는 다른 형상으로 될 수 있다.
또한, 여러 가지의 실시예들에서, 레이저 등의 광원이 가시광 및 비가시광 파장들을 포함하는, 여러 가지 파장들의 광을 생성할 수 있다. 상기 센서는 하나 이상의 슬라이드들이 슬라이드 수용기 내에 적절하게 적재되었음을 표시하는 신호 또는 데이터를 생성하여, 표시 스크린 상에 표시되거나 또는 광 또는 스피커를 작용시키는 메시지를 발생하도록 이용될 수 있다.
본 발명의 실시예들 및 장점들을 더욱 완전하게 이해하도록, 유사 참조 부호들이 유사한 특징을 나타내고 있는 첨부 도면들과 함께, 이하의 설명을 참조하기 바란다.
도1은 전면 또는 에지 보다 긴 측면들을 가진 알려진 슬라이드의 사시도
도2는 전면 또는 에지 보다 긴 측면들 및 윤택이 없는 단부들을 가진 알려진 슬라이드의 평면도,
도3은 동일 길이의 측면들 및 에지들을 가진 알려진 정방형 슬라이드의 사시도,
도4는 알려져 있는 정방형 슬라이드의 평면도,
도5는 여러 가지 실시예들에서 사용되는 투명 및 불투명 영역들을 가진 슬라이드를 나타낸 도면,
도6은 모든 슬라이드들이 적절하게 적재된 결과로서의 정렬된 투명부들을 가진 슬라이드들을 포함하는 시스템을 나타낸 도면,
도7은 슬라이드가 단부 대 단부로 회전됨으로써 오정렬된 투명부들을 가진 슬라이드들을 포함하는 시스템을 나타낸 도면,
도8은 상하로 뒤집힌 슬라이드로 인해 오정렬된 투명부들을 가진 슬라이드들을 포함하는 시스템을 나타내며; 도9는 슬라이드 또는 에지 상에 배열되며 정렬된 투명부들을 가진 슬라이드들을 포함하는 시스템을 나타낸 도면,
도10은 다른 실시예들에서 사용되는 정방형 투명 영역 및 불투명 영역들의 다른 배열을 나타낸 도면,
도11은 다른 실시예들에서 사용되는 장방형 투명 영역 및 불투명 영역들의 또 다른 배열을 나타낸 도면,
도12는 다른 실시예들에서 사용되는 부분적 원형의 투명 영역 및 불투명 영역들의 또 다른 배열을 나타낸 도면,
도13은 다른 실시예들에서 사용되는 불투명 영역에 의해 둘러싸이는 원형의 투명 영역의 또 다른 배열을 나타낸 도면,
도14는 다른 실시예들에서 사용되는 불투명 영역에 의해 둘러싸이며 도12에 대해 대향 측면에서의 부분적 원형의 투명 영역의 또 다른 배열을 나타낸 도면, 및
도15는 슬라이드의 측면들 사이로 연장하며 대향 단부에서의 투명 영역 및 불투명 영역의 또 다른 배열을 나타낸 도면이다.
매사츄세츠 01752, 말보로우, 250 캠퍼스 드라이브에 소재하는, 씨틱 코포레이션에서 입수 가능한, 부품 번호 70292-000 등의, 카세트와 같은, 슬라이드 수용기 내에 슬라이드들이 적절하게 적재되어 배열되었는 지를 결정하도록 이용될 수 있는 실시예들이 제공된다. 도1에 도시된 바와 같이, 하나의 예시적인 슬라이드(110)는 테스트 샘플 또는 견본(112)이 있는 상부면(111), 하부면(113), 제1 측면(114), 제2 또는 대향 측면(115), 슬롯(102) 내에 배치되는 제1 에지(116), 및 제2 또는 대향 에지(117)를 가진다. 도2를 참조하면, 일부 슬라이드들은 또한 슬라이드(110)에 넘버들을 인쇄하기에 편리하거나 또는 처리될 슬라이드(110) 부분들을 확인하도록 이용될 수 있는 유리의 윤택을 지운 부분들(118)을 가질 수 있다. 도3 및 4에 도시된 슬라이드들은 에지들(116,117)보다 긴 측면들(114,115)을 가진 장방형 슬라이드들이다. 당업자들은 다른 형태의 슬라이드들도 이용될 수 있음을 알 수 있을 것이다. 예컨대, 도3 및 4를 참조하면, 다른 예의 슬라이드(110)는 동일 길이의 측면들(114,115) 및 에지들(116,117)을 가진 정방형으로 되어 있다. 도시 및 설명의 목적을 위해, 비제한적으로, 본 명세서는 장방형 슬라이드들에 대해 설명된다.
통상의 이용 시에, 슬라이드(110)는 편평하고 적절하게 위치하여 견본 샘플들(112)이 슬라이드(110)의 상부면(111)에 있는 상태로 위로 향하게 되도록 카세트 내에 적재된다. 처리 장비는 일반적으로 특정한 방식으로 배향된 슬라이드들을 처리하는 형태로 되어 있으므로 모든 슬라이드들은 통상 유사한 방식으로 배열된다. 당업자들은 카세트 및 장비 형태에 따라 "통상의" 배향이 변경될 수 있음을 이해할 것이지만, 본 명세서에서는 견본 샘플(견본이 슬라이드에 부착된 경우)이 위로 향해 있고 슬라이드의 일 단부가 카세트 내로 먼저 삽입되는 편평하게 된 슬라이드들에 대해 설명한다. 그러나, 때로 슬라이드들(110)은 상하로 뒤집히거나 또는 180도 회전되어 카세트(100)에 부적절하게 배치됨으로써 카세트에 바르게 배열되지 않게 될 수 있다. 투명한 영역을 이용하여 슬라이드들이 카세트 내에 부적절하게 적재 또는 배열되었는 지를 결정하도록 실시예들이 이용될 수 있다.
더 구체적으로, 도5를 참조하면, 여러 가지 실시예들에 사용되는 슬라이드(500)는 그의 구석부들 중 하나의 투명 영역(520) 및 비투명 영역(510,512,514), 통상 비투명 영역(510)을 포함한다. 도시된 실시예에서, 비투명 영역(510,512)은 삼각형이고 투명 영역(520)과 대략 동일 크기이지만, 실시예들은 이것으로 제한되지 않는다. 도시된 실시예에서, 비투명 영역(514)은 슬라이드(500)의 측면들 사이로 연장한다. 투명 영역(520)은 슬라이드(500)의 에지 및 비 투명 영역(514)에 의해 경계를 이루고 있다.
도5에 도시된 바와 같이, 투명 영역(520)은 슬라이드(500) 자체의 일부이고, 불투명 영역(510)은, 예컨대, 유리의 윤택을 지운 부분들(518) 또는 불투명 재료로 코팅된 슬라이드(500)의 부분들로 될 수 있다. 이와 다르게, 불투명 영역(510)은, 슬라이드에 불투명 접착제를 부착하거나 또는 슬라이드를, 예컨대, 레이저 에칭, 연마, 또는 다른 적절한 기술들을 이용하여 일 부분이 다른 부분 보다 더 투명하게 되도록 슬라이드를 처리하는 등의, 다른 기술들을 이용하여 형성될 수 있다. 상기 불투명 영역(510)은 슬라이드의 재료 및 불투명 영역(510)의 재료 및 불투명 영역(510)을 형성하는 방법에 따라 흡수성 또는 반사성으로 될 수 있다. 설명의 목적으로, 그리고 비제한적으로, 본 명세서에서는 유리의 윤택을 지운 불투명 영역(510)에 대해 설명된다. 유리의 윤택을 지운 불투명 부분(518)을 형성하기 위한 프로스팅 재료 및 기술은 잘 알려져 있으며, 따라서 여기에서 상세하게 설명되지 않는다.
당업자들은 불투명 영역(510)이 입사광을 100% 흡수 또는 반사할 수 없고, 불투명 영역(510)은 소량의 광을 투과시킴을 알 수 있을 것이다. 따라서, 이 명세서에서 "불투명"이라는 부분은 진정으로 불투명한 영역, 및 센서가 투명 영역(520)을 통과하는 광 및 불투명 영역(510)을 통과하는 광을 검출하여 구별할 수 있을 정도로 투명 영역(520) 보다 충분히 덜 투명한 영역들을 포함하게 된다. 예컨대, 센서의 감도 및 다른 강도의 광을 구별하는 센서의 능력에 따라 다른 투과 능력들을 가진 불투명 영역들(510)이 사용될 수 있다.
도6을 참조하면, 시스템(600)은 하나 이상의 슬라이드들(500), 광 또는 전자기 에너지(612)를 방출하는 광원(610) 및 광원(610)에서의 광(612)을 검출하는 센서(620)를 포함한다. 도면들에는 5개의 슬라이드를 도시하고 있지만, 당업자들은 상기 시스템이, 예컨대 하나의 슬라이드, 10개의 슬라이드, 50개의 슬라이드 등의, 다른 수의 슬라이드를 포함할 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
사용되는 광원(601)의 타입은 슬라이드들의 타입 또는 슬라이드(500) 재료, 슬라이드(500)의 수, 광원(610)의 강도 및 센서(620)의 감도에 따라 정해질 수 있다. 예시적인 광원(610)은 백색 광원, 발광 다이오드(LED) 및 레이저를 포함한다. 광원(610)에서의 광(612)은 평행광으로 될 수 있고, 약 400나노미터(nm) 내지 700nm 사이의 가시 파장, 및 약 700nm 내지 1000nm 사이의 적외선 파장, 및 약 100nm 내지 400nm 사이의 자외선 파장 등의, 불가시(不可視) 파장을 포함하는 여러 가지 파장들로 될 수 있다. 하나의 예시적인 광원(610) 및 센서(620)의 조합은 호주, SA 5950, 엑스포트 파크, 5a 코베트 코트에 소재하는, 레이저렉스 테크놀러지 피티와이 리미팃드에서 입수 가능하며, 약 635, 650, 670, 780, 808, 830 및 850nm의 파장의 광을 방출하는 모델 LDM-5 저 분산 레이저 모듈, 및 역시 레이저렉스에서 입수 가능하고, 약 350-1100nm 범위의 밴드폭을 가진 모델 LR-4 아날로그 리시버이다. 당업자들이라면 다른 광원 및 센서들도 사용될 수 있음을 알 수 있을 것이다.
도시된 실시예에서, 슬라이드(500)는 슬라이드 카세트에 수직 스택으로 배열되어 있는 상태로 되어 있다. 이 실시예에서, 광원(610) 및 센서(620)는 상기 슬라이드들(500)의 대향 단부, 즉 상기 수직 스택의 상하에 배치된다. 또한, 광원(610) 및 센서(620)는 센서(620)가 슬라이드들(500)의 스택 위에 있고 광원(610)이 슬라이드들(500) 아래에 있도록 바뀔 수 있다. 따라서, 다른 슬라이드 배열을 가진 실시예들이 이용될 수 있다.
시스템 또는 사용자는, 도6에 도시된 바와 같이, 광원(610)에서의 광(612)이 슬라이드들(500) 모두의 투명 영역(520)을 통과하여 센서(620)에 의해 검출되는 지에 따라 슬라이드들(500)이 카세트 내에 적절하게 적재되었는 지를 결정할 수 있다. 이는 불투명 영역들(510) 중 어느 것도 광(612)의 경로 내에 배치되지 않고, 따라서 광(612)이 투명 영역(520)을 통과하여 센서(620)에 도달될 수 있는 경우에 가능하다.
센서(620)가 광원(610)에서의 광(612)을 검출하였는지, 즉 슬라이드들이 카 세트에 적절하게 적재되었는 지의 표시를 제공하도록 이용될 수 있는 데이터 또는 신호(622)를 상기 센서(620)가 발생하게 된다. 상기 센서 신호(622) 또는 추가 부품들이 표시 기능을 제공하도록 이용될 수 있다. 예컨대, 도6에 도시된 바와 같이, 센서 출력(622)이 직접 인디케이터를 구동하거나, 또는 통과/실패 표시를 제공하도록 하나 이상의 인디케이터를 작용시키기 위해 필요한 데이터 또는 신호(632)를 제공하는, 마이크로 프로세서, 마이크로 컨트롤러, 또는 논리 회로 또는 게이트 등의, 컨트롤러(630)에 센서 출력(622)이 제공될 수 있다. 또한, 상기 컨트롤러(630)는 다른 작용 또는 디스플레이를 개시하도록 이용될 수 있다. 예컨대, 상기 컨트롤러(630)는 제어 시스템 또는 컴퓨터에 의해 사용되는 신호 또는 데이터를 발생하고 그 신호 또는 데이터에 응답하여, 스크린에 표시되는 에러 메시지를 발생하게 된다. 이와 다르게, 상기 시스템이 그렇게 설정된 경우, 컴퓨터가 보정 작용을 개시할 수도 있다.
사용될 수 있는 인디케이터는 가시적 인디케이터, 가청 인디케이터, 또는 그의 조합을 포함한다. 예컨대, 가시적 인디케이터는 표시등 또는 LED 640 및 642 등의, 발광 다이오드(LED)로 될 수 있다. 가청 인디케이터는 스피커(644)로 될 수 있다. 도시된 실시예에서, 인디케이터는 두 개의 LED(640,642) 및 하나의 스피커(644)를 포함한다. LED(640)는 슬라이드들이 카세트 내에 적절하게 적재되어 배열되었으며 처리를 계속할 수 있음을 표시하는 그린(G) LED이다. LED(642)는 하나 이상의 슬라이드들이 카세트 내에 적절하게 적재되지 않았고 카세트는 슬라이드 정렬을 보정하도록 정비를 요한다는 것을 표시하는 레드(R) LED이다. 당업자는 다른 표시 색상의 계획 또는 정보도 이용될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
도6에 도시된 바와 같이, 슬라이드들(500)이 카세트 내에 적절하게 적재되면, 모든 투명 영역들(520)은 서로 정렬된다. 이 배열에서, 센서(620)에 의해 광(612)이 검출되고, 센서(620) 또는 컨트롤러(630)는, 슬라이드들이 적절하게 배치되어 세포 검사자가 검사를 진행할 수 있음을 나타내도록, 그린 LED(640) 또는 스피커(644) 등의, 인디케이터를 구동하기 위한 적절한 신호를 제공한다.
한편, 슬라이드들(500)이 적절하게 적재되지 않은 경우, 센서(620) 또는 컨트롤러(630)는 광(612)을 검출하지 못하고 하나 이상의 슬라이드들이 부적절하게 적재되었음을 표시하도록, 레드 LED(642) 및/또는 스피커(644)를 작용시키기 위한 신호들을 발생함으로써, 세포 검사자의 주의를 요하게 한다. 신호(632)는, 예컨대 슬라이드들이 적재된 후 또는 카세트 내의 슬라이드들의 배열을 점검하라는 사용자의 요청 후 소정 시간 내에 광(612)의 부재가 검출됨에, 기초하여 발생될 수 있다.
도7 및 8은 하나 이상의 슬라이드들이 잘못 적재되는 가능한 배열들을 나타내고 있다. 특히, 도7은 슬라이드가 180도 회전되어 잘못된 단부가 카세트 내에 적재된 상태를 나타내고 있다. 이 배열에서, 상부 두 개 및 하부 두 개의 슬라이드들(500)은 적절하게 적재되었지만, 중간의 슬라이드(500)는 부적절하게 회전되어 있다. 그 결과, 불투명 영역들(510,512)이 회전되고, 투명 영역(520)은 슬라이드가 적절하게 배치되는 경우의 광(612)의 경로 내에 배치되는 대신 카세트 내에 배치되어 있다. 결과적으로, 광원(610)에서의 광(612)은 불투명 영역(512)에 의해 흡수 또는 반사되고 센서(620)에 도달되지 않는다. 센서(620) 또는 컨트롤러(630)는 하 나 이상의 슬라이드들이 부적절하게 적재되었다는 표시를 발생함으로써, 세포 검사자의 주의를 요하게 한다.
도8은 슬라이드가 부적절하게 적재된 다른 배열을 나타내고 있다. 이 예에서, 상기 스택의 하부 슬라이드는 상하가 뒤집혀 있다. 그 결과, 불투명 영역들(510,512)은 뒤집혀져 있고 여전히 카세트 내에 배치되어 있다. 이제, 불투명 영역(514)이 광(612)의 경로 내에 있게 되고, 투명 영역(520)은 광(612)의 경로 외측에 있게 된다. 그 결과, 광원(610)에서의 광(612)은 불투명 영역(514)에 의해 흡수 또는 반사되고 센서(620)에 도달되지 않는다. 센서(620) 또는 컨트롤러(630)는 하나 이상의 슬라이드들이 부적절하게 적재되었다는 표시를 발생함으로써, 세포 검사자의 주의를 요하게 한다. 또한, 도7 및 8에 도시된 배열들의 조합으로서, 슬라이드가 뒤집혀서 회전될 수 있다. 또한, 이 배열도 결과적으로 불투명 부분이 광을 차단하고 하나 이상의 슬라이드들이 카세트 내에 부적절하게 적재되어 있음을 나타내도록 표시를 하게 된다.
당업자들이라면 이와 다른 실시예들은 다른 투명 및 불투명 패턴들, 광원들, 센서들, 슬라이드 재료들 및 슬라이드 배열들을 포함함을 이해할 수 있을 것이다. 예컨대, 도6-8에 도시된 실시예들에서, 슬라이드들(500)은 카세트 내의 그들의 대표적 배열, 즉 수직으로 스택되어 서로 떨어져 있는 배열로 도시되어 있다. 이와 다른 실시예에서, 슬라이드들(500)은 서로 적층되어 각 슬라이드가 다른 슬라이드와 접촉할 수 있다. 또한, 도9에 도시된 바와 같이, 시스템(600)은 수평으로 또는 측면 또는 에지에 배열된 슬라이드들(500)과 동일 기능들을 실행하는 형태로 될 수 있다.
또한, 투명 또는 불투명 영역들의 다른 패턴들도 사용될 수 있다. 예컨대, 도5-8은 슬라이드의 코너에 배치된 삼각형 투명 영역(520)을 가진 슬라이드들(500)을 나타내고 있지만, 투명 영역(520)은 다른 형상 및 사이즈로 될 수 있다. 예컨대, 도10은 불투명 영역(1014)에 의해 부분적으로 둘러싸인 정방형 투명 영역(1020)을 가진 슬라이드(1000)를 나타내고 있다. 불투명 영역들(1010,1012)은 투명 영역(1020)과 대략 동일한 형상 및 사이즈로 될 수 있다. 도11은 불투명 영역(1114)에 의해 부분적으로 둘러싸인 장방형 투명 영역(1120)을 가진 슬라이드(1100)를 나타내고 있다. 불투명 영역들(1110,1112)은 투명 영역(1120)과 대략 동일한 형상 및 사이즈로 될 수 있다. 도12는 불투명 영역(1214)에 의해 부분적으로 둘러싸인 반원형 투명 영역(1220)을 가진 슬라이드(1200)를 나타내고 있다. 불투명 영역들(1210,1212)은 투명 영역(1220)과 대략 동일한 형상 및 사이즈로 되거나, 또는 도12에 도시된 바와 같이, 불투명 영역들(1210,1212)이 광원(610)에서의 광(612)을 차단하도록 다른 형상 및/또는 사이즈로 될 수 있다.
도13-15는 투명 및 불투명 영역들이 다른 응용들에 적합하게 되도록 다른 형상 및/또는 사이즈로 될 수 있는 방법을 나타내고 있다. 예컨대, 도13에 도시된 바와 같이, 투명 영역(1320)은 이제 슬라이드의 에지 및 불투명 영역에 의해 경계를 이루고 있지 않다. 대신에, 도시된 실시예의 투명 영역(1320)이 원형(또는 다른 형상)으로 되어 불투명 영역(1314)에 의해 둘러싸인다. 또한, 슬라이드가 카세트 내에 적절하게 적재되지 않은 경우 통상 투명 영역(1320)을 통과한 광(612)이 불투명 영역(1310)에 의해 차단되도록 슬라이드(1300)는 원형(또는 다른 형상)으로 된 불투명 영역(1310)을 포함한다.
다른 예로서, 도14에 도시된 바와 같이, 투명 영역(1420)은 슬라이드의 다른 에지를 따라 배치될 수 있다. 이 실시예에서, 불투명 영역(1414)은 투명 영역(1420)을 부분적으로 둘러싸고 있으며, 불투명 영역들(1410,1412)은 투명 영역(1420)과 대략 형상 및 사이즈가 동일하다. 또 다른 예로서, 도15에 도시된 바와 같이, 투명 영역(1520)은, 도15에 도시된 형태와 유사한, 불투명 영역(1514)에 의해 둘러싸인 삼각형 투명 영역으로 될 수 있다. 그러나, 슬라이드의 대향 단부에서, 다른 도면들에 도시된 바와 같이 분리된 불투명 영역들을 이용하지 않고 슬라이드의 전체 단부가 불투명부(1510)로 될 수 있는데, 그 이유는 양쪽 형태들은 모두 슬라이드가 카세트 내에 적절하게 적재되지 않은 경우 광원(610)에서의 광(612)을 차단하기 때문이다.
당업자들이라면 투명 및 불투명 영역들의 장방형, 정방형, 원형, 및 다른 형상들의 여러 가지 조합들이 슬라이드의 일 배열에서 투명 영역을 통과한 광이 슬라이드의 다른 배열에서 불투명 영역에 의해 차단되게 할 수 있도록 이용될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 투명 영역 및 불투명 영역들의 형상들은 매칭되거나 또는 매칭되지 않을 수 있다. 또한, 불투명 영역들의 사이즈들은 필요하다면 변경될 수 있다. 다른 예로서, 슬라이드들이 여전히 통상의 투명 영역을 포함하기 때문에 슬라이드의 전체 단부가 불투명 영역들로 될 수 있다. 또한, 투명 영역들은 다른 사이즈들로 될 수 있다. 투명 영역들의 형상 및 사이즈는, 예컨대, 슬라이드의 사 이즈, 및 사용되는 광원, 예컨대 광원이 평행 광원인지 또는 발산 광원 인지에 따라 정해지는데, 그 이유는 평행 광원들이 더 크거나 작은 양쪽 사이즈의 투명 영역들과 함께 사용될 수 있기 때문이다. 또한, 투명 영역 및 대응하는 불투명 영역(들)은 슬라이드 상의 다른 위치들을 점유할 수 있다. 또한, 투명 영역은 슬라이드의 에지 및 불투명 영역에 의해 경계를 이루거나 또는 불투명 영역에 의해 둘러싸일 수 있다. 따라서, 도10-15에 도시된 형태들이 예시적인 실시예들로서 제공되지만, 그들로 제한되는 것은 아니다.
따라서, 당업자들은 투명 영역들의 독특한 배열의 표시를 제공하는 투명 및 불투명 영역들의 여러 가지 수들, 형상들, 사이즈들, 및 위치들이 제공되어 광원에서의 광이 정렬된 투명 영역들을 통해 센서로 통과함으로써, 슬라이드들이 카세트에 적절하게 적재된 경우에, 이를 표시하게 됨을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (15)

  1. 슬라이드의 일부분이 투명한 투명 영역 및 불투명 영역을 가지는 다수의 슬라이드들;
    광원; 및
    센서를 포함하고,
    상기 슬라이드들은 광원 및 센서 사이에 배치되고, 상기 센서가 슬라이드들의 정렬된 투명 영역들을 통과한 광원에서의 광을 검출할 때 상기 슬라이드들이 슬라이드 수용기 내에 정렬되어 적재된 것으로 판단하는, 슬라이드들이 슬라이드 수용기 내에 정렬되어 적재되었는 지를 결정하기 위한 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 투명 영역은 광이 투과되는 투명한 코너 영역인 시스템.
  3. 제1항에 있어서, 상기 투명 영역은 슬라이드의 에지 및 불투명 영역에 의해 경계를 이루고 있는 시스템.
  4. 제1항에 있어서, 상기 투명 영역은 삼각형, 장방형, 정방형, 원형 또는 반원형으로 되어 있는 시스템.
  5. 제1항에 있어서, 상기 불투명 영역은 광이 투과하지 못하는 불투명으로 되어 있는 시스템.
  6. 제1항에 있어서, 상기 불투명 영역은 윤택을 지운 상태로 되어 있는 시스템.
  7. 제1항에 있어서, 상기 불투명 영역은 광 흡수성인 시스템.
  8. 제1항에 있어서, 상기 불투명 영역은 광 반사성인 시스템.
  9. 제1항에 있어서, 상기 투명 영역 및 불투명 영역은 동일한 형상을 가지는 시스템.
  10. 제1항에 있어서, 상기 광원은 레이저인 시스템.
  11. 제1항에 있어서, 상기 센서가 광원에서의 광이 정렬된 투명 영역들을 통과하였음을 검출함에 기초하여 다수의 슬라이드들이 슬라이드 수용기 내에 정렬되어 적재되었음을 표시하는 신호 또는 데이터를 상기 센서가 발생하게 되는 시스템.
  12. 제1항에 있어서, 상기 광원 및 센서는 다수의 슬라이드들의 상하부 표면들에 대해 직각으로 배열되어 있는 시스템.
  13. 제1항에 있어서, 상기 슬라이드들은 수직 스택으로 배열되는 시스템.
  14. 제1항에 있어서, 상기 슬라이드들은 수평으로 배열되는 시스템.
  15. 제1항에 있어서, 상기 광원에서의 광이 불투명 영역에 의해 차단될 때 다수의 슬라이드들이 슬라이드 수용기 내에 오정렬하여 적재되어 있는 것으로 판단하는 시스템.
KR1020077016750A 2005-01-21 2005-12-20 슬라이드 오정렬 검출 시스템 KR101230202B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US11/040,958 2005-01-21
US11/040,958 US7300163B2 (en) 2005-01-21 2005-01-21 Slide misload detection system and method
PCT/US2005/046290 WO2006078402A1 (en) 2005-01-21 2005-12-20 Slide misload detection system

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20070103388A KR20070103388A (ko) 2007-10-23
KR101230202B1 true KR101230202B1 (ko) 2013-02-05

Family

ID=36218124

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020077016750A KR101230202B1 (ko) 2005-01-21 2005-12-20 슬라이드 오정렬 검출 시스템

Country Status (11)

Country Link
US (2) US7300163B2 (ko)
EP (1) EP1839081B1 (ko)
JP (1) JP4778972B2 (ko)
KR (1) KR101230202B1 (ko)
CN (1) CN100495110C (ko)
AU (1) AU2005325109B2 (ko)
BR (1) BRPI0519952A2 (ko)
CA (1) CA2591227C (ko)
HK (1) HK1104616A1 (ko)
MX (1) MX2007008683A (ko)
WO (1) WO2006078402A1 (ko)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7300163B2 (en) * 2005-01-21 2007-11-27 Cytyc Corporation Slide misload detection system and method
US7562809B2 (en) * 2006-05-11 2009-07-21 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method for detecting component placement errors in product assembly and assemblies made therewith
US20090141278A1 (en) * 2007-11-29 2009-06-04 Cytyc Corporation Systems and methods for determing whether a biological specimen carrier is properly oriented
ES2662546T3 (es) * 2010-11-01 2018-04-06 3M Innovative Properties Company Método y sistema indicador de esterilización biológico
US10802260B2 (en) * 2014-05-29 2020-10-13 Rarecyte, Inc. Automated substrate loading
US11422352B2 (en) 2014-05-29 2022-08-23 Rarecyte, Inc. Automated substrate loading
US11300769B2 (en) 2014-05-29 2022-04-12 Rarecyte, Inc. Automated substrate loading
WO2015183691A1 (en) 2014-05-29 2015-12-03 Rarecyte, Inc. Apparatus for holding a substrate within a secondary device
US10890748B2 (en) 2014-05-29 2021-01-12 Rarecyte, Inc. Automated substrate loading
US9581800B2 (en) 2014-11-21 2017-02-28 General Electric Company Slide holder for detection of slide placement on microscope
KR102644544B1 (ko) 2016-09-21 2024-03-11 넥스트큐어 인코포레이티드 Siglec-15를 위한 항체 및 이의 사용 방법
WO2018140073A1 (en) * 2017-01-27 2018-08-02 Rarecyte, Inc. Automated substrate loading
JP1585744S (ko) * 2017-04-13 2017-09-11
JP7032053B2 (ja) * 2017-04-13 2022-03-08 浜松ホトニクス株式会社 画像取得装置及び画像取得方法
JP1585741S (ko) 2017-04-13 2017-09-11
JP1585742S (ko) 2017-04-13 2017-09-11
CA177629S (en) 2017-04-13 2019-02-06 Hamamatsu Photonics Kk Digital slide scanner
JP7003241B2 (ja) 2017-10-04 2022-01-20 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッド 貼り付けスライド判定システム
JP2020536279A (ja) 2017-10-04 2020-12-10 ライカ バイオシステムズ イメージング インコーポレイテッドＬｅｉｃａ Ｂｉｏｓｙｓｔｅｍｓ Ｉｍａｇｉｎｇ， Ｉｎｃ． スライド在庫調べおよび再挿入システム
WO2019109020A1 (en) 2017-11-30 2019-06-06 Leica Biosystems Imaging, Inc. Safety light curtain to disable carousel rotation
US10948506B2 (en) 2017-12-01 2021-03-16 Leica Biosystems Imaging, Inc. Slide rack carousel
CN110702932A (zh) * 2019-10-15 2020-01-17 湖南莱博赛医用机器人有限公司 一种带玻片感应装置的玻片盒及细胞分析设备
JPWO2023281949A1 (ko) * 2021-07-05 2023-01-12

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002037159A2 (en) * 2000-11-03 2002-05-10 Arcturus Engineering, Inc. Road map image for automated microdissection
WO2002037158A2 (en) * 2000-11-03 2002-05-10 Cytyc Corporation Cytological imaging systems and methods
JP2005506537A (ja) * 2001-10-19 2005-03-03 モノジェン インコーポレイテッド 汎用顕微鏡スライドカセット

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL251197A (ko) 1959-05-05
US3334540A (en) * 1964-05-25 1967-08-08 John S Wright Transparency registering device for the stage of a visual image projector
US3757944A (en) * 1971-01-15 1973-09-11 A Goodman Optical verification device
US3912360A (en) 1974-04-24 1975-10-14 Frank L Beckel Microscopic field marker
US4440478A (en) * 1981-12-31 1984-04-03 Bell & Howell Company Slide tray position sensing arrangement for slide projector apparatus utilizing two slide tray types
US4432618A (en) 1981-12-31 1984-02-21 Bell & Howell Company Tray drive and slide change control apparatus for slide projector
JPS628002A (ja) * 1985-07-05 1987-01-16 Hitachi Ltd 画像検査位置自動補正装置
US4948737A (en) 1989-01-05 1990-08-14 Eastman Kodak Company Cartridge for properly receiving test elements
US5209903A (en) 1989-09-06 1993-05-11 Toa Medical Electronics, Co., Ltd. Synthetic apparatus for inspection of blood
JP2724884B2 (ja) * 1989-09-06 1998-03-09 東亜医用電子株式会社 総合血液検査装置
FR2673478B1 (fr) * 1991-03-01 1994-02-04 Data Fit International Station de numerisation automatique de diapositives.
US5214460A (en) * 1991-11-04 1993-05-25 Chuan Raymond L Projector slide orientation rectification system
US5302982A (en) * 1993-02-23 1994-04-12 Woodlyn Inc. Projector slide apparatus
US5488494A (en) 1993-10-07 1996-01-30 Tamarack Storage Devices Packaging system for holographic storage media
US5690892A (en) 1995-09-15 1997-11-25 Accumed, Inc. Cassette for use with automated specimen handling system
US6362883B1 (en) * 1995-09-28 2002-03-26 Micron Technology, Inc. Method and device for aligning substrates in flat panel displays
US5944404A (en) * 1997-07-18 1999-08-31 Eastman Kodak Company Defined orientation slide projector and slides
EP1177523B1 (en) 1999-04-13 2013-08-21 Chromavision Medical Systems, Inc. Histological reconstruction and automated image analysis
US7140738B2 (en) * 2004-11-24 2006-11-28 Cytyc Corporation System and method for calibrating position of microscope slide within storage receptacle
US7300163B2 (en) * 2005-01-21 2007-11-27 Cytyc Corporation Slide misload detection system and method

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002037159A2 (en) * 2000-11-03 2002-05-10 Arcturus Engineering, Inc. Road map image for automated microdissection
WO2002037158A2 (en) * 2000-11-03 2002-05-10 Cytyc Corporation Cytological imaging systems and methods
JP2004517349A (ja) * 2000-11-03 2004-06-10 サイティック コーポレイション 細胞をイメージングするシステムおよび方法
JP2005506537A (ja) * 2001-10-19 2005-03-03 モノジェン インコーポレイテッド 汎用顕微鏡スライドカセット

Also Published As

Publication number Publication date
US7859667B2 (en) 2010-12-28
CN100495110C (zh) 2009-06-03
US7300163B2 (en) 2007-11-27
KR20070103388A (ko) 2007-10-23
CA2591227C (en) 2013-03-12
US20060164611A1 (en) 2006-07-27
BRPI0519952A2 (pt) 2009-04-07
HK1104616A1 (en) 2008-01-18
EP1839081A1 (en) 2007-10-03
AU2005325109A1 (en) 2006-07-27
WO2006078402A1 (en) 2006-07-27
MX2007008683A (es) 2007-09-04
AU2005325109B2 (en) 2011-02-03
JP4778972B2 (ja) 2011-09-21
CN101103294A (zh) 2008-01-09
EP1839081B1 (en) 2013-09-18
CA2591227A1 (en) 2006-07-27
US20080055572A1 (en) 2008-03-06
JP2008528967A (ja) 2008-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101230202B1 (ko) 슬라이드 오정렬 검출 시스템
US11715346B2 (en) Inspection system, inspecting device, and gaming chip
KR100292329B1 (ko) 반도체장치의외관검사장치와그검사방법
US20230196875A1 (en) Inspection system and inspection device
US9839583B2 (en) Apparatus for dispensing tablets and method for controlling the same
KR101857589B1 (ko) 탄착 위치를 비접촉식으로 광학 검출하기 위한 측정 프레임 및 측정 방법
KR20080001650A (ko) 비침습적 연속 레벨 감지 시스템 및 방법
US20090141278A1 (en) Systems and methods for determing whether a biological specimen carrier is properly oriented
US6341726B1 (en) Apparatus for inspecting elements on transport device
TW449785B (en) Semiconductor structures and manufacturing methods
CN213688246U (zh) 一种基于通用bga植球球板快速对位检测装置
JP7111705B2 (ja) 確実分注検証センサ
KR101748208B1 (ko) 편광판, 시트상 제품 검사 시스템 및 방법
JP2004077261A (ja) 液晶パネルの異物検査装置および異物検査方法
JPH04132960A (ja) マイクロプレートへの滴下確認装置
BRPI0519952B1 (pt) Maintenance of blades detection system
US5569909A (en) Format recognition device for a film cassette
JP2001004318A (ja) 光路長測定装置
EP3855175A1 (en) Detection and characterization of defects in pharmaceutical cylindrical containers
JP6261444B2 (ja) チップ回収装置
JPH1196866A (ja) 多光軸光電センサ
NZ737440A (en) Inspection system, inspecting device, and gaming chip
JPH1139532A (ja) 被検査体の識別方法
JP2005181194A (ja) 光学装置用ステージ、欠陥検査装置及び光学装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160113

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170123

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180111

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200114

Year of fee payment: 8