KR101175871B1 - 기판의 인쇄 오차 보정방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 기판의 인쇄 오차 보정방법에 관한 것이다.
본 발명에 따른 기판의 인쇄 오차 보정방법은, 기판의 설계 사양 정보를 통해 얼라인 마크 좌표와 각 시트의 외곽에 형성된 인식 마크 좌표를 취득하는 단계; 상기 기판의 실제 측정 정보를 통해 왜곡된 얼라인 마크 좌표와 각 시트의 인식 마크 좌표를 취득하는 단계; 상기 기판의 설계 사양 정보에서 취득된 좌표 정보와 상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득된 좌표 정보를 연산하여 보정 계수값을 산출하는 단계; 상기 보정 계수값을 이용하여 상기 기판의 실제 변형값을 산출하고, 상기 실제 변형값을 상기 설계 사양 정보에 적용하여 보정된 이진수 이미지의 변형 데이터로 변환하는 단계; 상기 변형 데이터를 기준으로 상기 기판에 인쇄를 수행하는 단계;를 포함한다.

Description

기판의 인쇄 오차 보정방법{METHOD FOR REVISION OF PRINTING ERROR IN PCB}

본 발명은 기판의 인쇄 오차 보정방법에 관한 것으로서, 보다 자세하게는 기판의 변형 정도를 측정하여 보정 계수값을 산출한 후, 보정 계수값에 근거한 이진수 이미지를 통해 신축 변형이 발생된 기판의 국부적인 보정값을 산출하고, 국부적인 보정값에 의해 정확한 인쇄가 가능하도록 한 기판의 인쇄 오차 보정방법에 관한 것이다.

일반적으로, 판상의 제품으로 생산되는 기판(PCB)은 멀티층의 회로 디자인을 이미지화하여 다수의 회로 패턴을 형성함에 의해 전기적 신호가 인가될 수 있도록 디자인되는 데, 여러 종류로 구성된 회로와 홀(hole) 및 솔더 마스크 등을 원재료인 기판 패널에 형성할 수 있도록 레이아웃(layout)이 구성되고, 레이아웃의 디자인은 기판 패널에 통상적으로 레이져를 통해 전사된다.

또한, 기판은 원재료인 기판 패널에 포토그래픽 공정을 통해 회로 패턴이나 비아 또는 홀 등의 구성이 형성될 수 있는 바, 다수의 공정을 거치는 생산 과정 중에 기판 원재료의 수치 변화가 발생되면 기판의 각 구성요소(feature)의 설계 위치와 실제 위치의 차이가 발생하게 된다. 특히 기판의 제조 공정 중에 다수의 홀 및 회로 패턴 등의 구성요소간의 간격 유지가 중요 설계 사항인 바, 제조 공정 중에서 기판 패널의 신축이 발생될 경우 인접 회로들간의 간섭이나 쇼트가 발생될 가능성이 높다.

또한, 다수의 홀이 다층 기판에 형성된 층간 연결 홀일 경우에는 기판에 형성된 홀들을 정확히 정렬함과 아울러 홀들 간의 간격을 설계치와 동일하게 정확히 일치시켜야 수율이 높은 기판을 제작할 수 있다.

만약, 기판의 원재료인 기판 패털들간의 기판 정렬이 기판 제조 공정중에 틀어지거나 기판 패널의 신축이 발생될 경우에는 스크린 또는 잉크젯 인쇄시 인쇄될 영역에 페이스트의 인쇄가 제대로 되지 않고 신축 정도에 따라 허용오차 범위 밖에서 인쇄될 수 있음에 따라 최종 제품의 인쇄 불량이 발생되는 문제점이 있다.

이와 같이 기판에 인쇄 공정을 정확하게 진행하기 위하여 원재료인 각 기판 패널에는 3점 또는 4점의 얼라인 마크가 형성되고 상기 얼라인 마크가 기판 변형에 대한 보정이 필요할 경우 기준으로 삼고 있으나, 대부분의 기판 패널의 경우 얼라인 마크가 기판 패널의 모서리에 형성되어 기판 패널의 인쇄 공정시 인쇄 오차의 보정이 기판 패널의 전체적인 변형에만 적용될 수 있었다.

한편, 기판의 제조 공정 중에 채용될 수 있는 인쇄 공정에는 앞서 언급한 바와 같이 스크린 인쇄법과 잉크젯 인쇄법이 적용될 수 있는 데, 스크린 인쇄법은 마스크를 이용하여 기판과 마스크를 매칭시켜 기판 패널의 필요한 부위에 스퀴즈를 통해 잉크를 기판측으로 밀어내어 인쇄하는 방식으로써, 인쇄작업이 진행됨에 따라 전이성이 저하되거나 인쇄 문자의 재현성이 떨어지는 단점이 있다.

이와 같은 스크린 인쇄법은 기판 패널에 구비된 얼라인 마크를 통해 3점 또는 4점 방식으로 얼라인을 수행한 후 기판 패널의 신축이 발생된 부위는 변형이 발생된 방향으로 테이프 등을 이용하여 수작업으로 텐션을 조절함으로써, 텐션 조절이 용이하지 않고, 작업자의 숙련 정도에 따라 불량률이 결정되는 문제점이 지적되고 있다.

또한, 잉크젯 인쇄법은 액상의 잉크를 프린트헤드를 통해 토출시킨 후 프린트헤드를 기판 상에 탄착시켜 원하는 형상으로 인쇄하는 방식으로써, 기판 제조 공정 중에 기판의 신축이 발생했을 때 기판의 외곽에 형성된 4점의 얼라인 마크를 기준으로 변형이 발생된 평균값을 반영하여 변형량에 대한 보정이 이루어지게 됨에 따라 국소적인 기판 신축이 발생되거나 대략 50㎛ 이상의 기판 변형이 발생되었을 경우에는 인쇄 오차의 수정이 불가능한 문제점이 발생되고 있다.

따라서, 본 발명은 종래 기판의 인쇄 오차 보정시 발생되는 상기 제반 단점과 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로서, 기판의 외곽에 형성된 얼라인 마크와 기판 상에 다수개로 구분된 각 시트(sheet)의 외곽에 개별적으로 형성된 인식 마크의 설계 정보와 실측 정보를 이용하여 보정 계수값을 산출하고, 산출된 보정 계수값을 이용하여 연산된 기판의 실제 변형값을 이진수 이미지로 변환시켜 이를 기판의 인쇄 설비에 적용함으로써, 국부적인 신축 변형이 발생된 기판의 설계 정보를 실측 정보에 맞게 보정하여 오차 없이 인쇄가 이루어지도록 한 기판의 인쇄 오차 보정방법에 관한 것이다.

본 발명의 상기 목적은, 기판의 설계 사양 정보를 통해 얼라인 마크 좌표와 각 시트의 외곽에 형성된 인식 마크 좌표를 취득하는 단계; 상기 기판의 실제 측정 정보를 통해 왜곡된 얼라인 마크 좌표와 각 시트의 인식 마크 좌표를 취득하는 단계; 상기 기판의 설계 사양 정보에서 취득된 좌표 정보와 상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득된 좌표 정보를 연산하여 보정 계수값을 산출하는 단계; 상기 보정 계수값을 이용하여 상기 기판의 실제 변형값을 산출하고, 실제 변형값을 상기 설계 사양 정보에 적용하여 보정된 이진수 이미지의 변형 데이터로 변환하는 단계; 상기 변형 데이터를 기준으로 상기 기판에 인쇄를 수행하는 단계;를 포함하는 기판의 인쇄 오차 보정방법이 제공됨에 의해서 달성된다.

상기 기판의 실제 측정 정보에서 상기 얼라인 마크 좌표와 인식 마크 좌표를 취득하는 단계에서, 상기 좌표 정보의 선정 위치는 기판에 인쇄를 시작하는 지점을 기준점으로 선정하고, 기준점을 중심으로 인접한 위치의 좌표를 순차적으로 선정할 수 있다.

이때, 상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득되는 좌표 정보는 인쇄를 시작하기 위한 지점의 좌표에서 인접한 좌표가 순차적으로 취득되는 바, 기판에 구비된 개별 시트의 외곽에 형성된 4개의 좌표가 선정될 수 있다.

또한, 상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득되는 좌표 정보는 상기 기판에 구비된 복수의 시트를 그룹화하여 그룹화된 시트의 외곽에 형성된 4개의 좌표가 선정될 수 있다.

그리고, 상기 기판의 실제 측정 정보에서 상기 얼라인 마크 좌표와 인식 마크 좌표를 취득하는 단계에서, 상기 얼라인 마크 좌표와 인식 마크 좌표는 CCD나 CMOS가 채용된 영상 장치를 통한 스캐닝을 통해 좌표 정보로 취득될 수 있다.

이때, 상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득되는 좌표 정보는 상기 기판의 설계 사양 정보에서 취득된 좌표 정보와 동일한 좌표 정보가 취득됨이 바람직하다.

한편, 상기 보정 계수값을 산출하는 단계에서, 상기 보정 계수값은 상기 기판의 설계 사양 정보에서 취득된 좌표 정보와 상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득된 좌표 정보에 의한 다음과 같은 bi-linear 함수의 수학식을 이용하여 산출될 수 있다.

수학식

여기서, x, y : 기판의 설계 사양 정보의 좌표값

x', y' : 기판의 실제 측정 정보의 좌표값

a0 ~ a3 : 보정 계수값

이때, 상기 보정 계수값을 산출하는 단계 이후에는, 상기 기판의 설계 사양 정보에서 각 시트에 대한 벡터 데이터를 더 취득하는 단계를 더 포함할 수 있다.

상기 벡터 데이터는 문자 인쇄 또는 실크 스크린용 좌표 정보이며, 상기 보정 계수값을 벡터 데이터에 적용하여 기판의 실제 측정 정보에서 설계 사양 정보의 좌표차에 의한 실제 변형값을 산출할 수 있다.

이때, 상기 기판에 적용될 수 있는 실제 변형값에 의해 상기 기판의 각 시트의 대각선 방향 좌표 정보와, X-Y축 좌표 정보로 각 시트의 시프트와 로테이션 및 X, Y 방향 신축 및 대각 방향 신축에 대한 변형 정도가 연산되며, 추출된 실제 변형값은 인쇄 설비에 적용 가능한 변형 데이터로 변환된다.

한편, 상기 이진수 이미지의 변형 데이터로 변환하는 단계에서, 상기 이진수 이미지는 비트맵 이미지로 저장될 수 있으며, 상기 이진수 이미지는 인쇄 설비에 적용되어 상기 실제 변형값을 근거로 상기 벡터 베이터가 보정된 변형 데이터를 기준으로 인쇄가 이루어지도록 할 수 있다.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 기판의 인쇄 오차 보정방법은 기판의 제조 공정 중에 불가피하게 발생될 수 있는 기판의 변형시 개별 시트 또는 그룹화된 시트들에서 추출된 실제 측정 정보와 기판의 설계 사양 정보를 통해 국부적으로 발생되는 기판의 변형 좌표를 보정함으로써, 인쇄 오차 없이 인쇄가 가능하도록 할 수 있는 장점이 있으며, 시트별로 국부적인 변형이 발생하거나 기판의 50㎛ 이상의 변형 발생시 각 시트별로 추출된 좌표 정보에 의해 국부적인 변형 보정이 수행될 수 있어 기판 상에 정확한 인쇄가 수행될 수 있는 작용효과가 발휘될 수 있다.

도 1은 본 발명에 적용되는 기판의 모식도.
도 2는 도 1의 기판에 형성된 개별 시트의 변형 모식도.
도 3은 본 발명에 따른 기판의 인쇄 오차 보정방법이 도시된 순서도.
도 4는 본 발명의 인쇄 오차 보정방법에 채용되는 기판의 좌표 설정도.
도 5는 본 발명을 통해 보정될 수 있는 기판의 변형 유형이 도시된 모식도.

본 발명에 따른 기판의 인쇄 오차 보정방법의 상기 목적에 대한 기술적 구성을 비롯한 작용효과에 관한 사항은 본 발명의 바람직한 실시예가 도시된 도면을 참조한 아래의 상세한 설명에 의해서 명확하게 이해될 것이다.

먼저, 도 1은 본 발명에 적용되는 기판의 모식도이고, 도 2는 도 1의 기판에 형성된 개별 시트의 변형 모식도이다.

도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 기판의 인쇄 오차 보정법법을 적용하기 위한 기판(100)은 판 상의 패널로 구성되며, 판 상의 패널에 다수개의 시트(110)가 일정한 간격으로 형성될 수 있다.

또한, 상기 기판(110)의 외곽, 즉 네 모서리 부위에는 얼라인 마크(101)가 형성되어 있고, 상기 기판(100)에 형성된 다수의 시트(110)는 개별적으로 각 모서리 외곽에 인식 마크(111)가 형성되어 있다. 이때, 상기 다수의 시트(110) 외곽에 형성된 인식 마크(111)는 개별 시트(110)의 절취선(112)을 기준으로 형성됨이 바람직하다.

이와 같이 구성된 기판(100)은 다수의 공정을 거치면서 표면 처리가 이루어지게 되고, 다수개가 적층되어 정합됨에 의해서 다층 기판으로 형성될 수 있다. 또한, 기판(100)의 표면층과 회로 패턴 등의 보호와 실크 스크린 등을 이용한 문자를 형성하기 위하여 기판(100)의 표면에 인쇄 공정을 통해 페이스트 또는 잉크 등을 인쇄할 수 있다.

상기 기판(100)은 다수의 공정을 거치면서 도 2과 같은 형태로 X-Y축 또는 대각 방향으로 신축, 시프트 및 로테이션 등의 변형이 발생되는 바, 도 2에서 기판의 설계 사양 정보에서 취득된 정보에 의한 개별 시트와 그 인식 마크의 정보는 실선으로 표시되고, 기판의 실제 측정 정보를 통해 변형이 발생된 상태의 개별 시트와 그 인식 마크의 정보는 점선으로 표시될 수 있다. 그리고, 기판의 적층 층수가 증가할수록 변형 정도가 심해지게 되고, 변형된 기판의 설계 정보에 따라 인쇄가 이루어질 경우 실제 기판의 인쇄 위치가 변경됨에 따라 인쇄 오차가 발생할 수 있다.

따라서, 본 발명은 실제 변형이 발생된 기판의 표면에 인쇄 공정시의 정합성을 개선하기 위한 것으로, 상기 기판(100)의 외곽에 형성된 얼라인 마크(101)와 개별 시트(110)의 외곽에 형성된 인식 마크(111)를 포함하는 좌표 정보에서 국부적으로 4개의 좌표 정보를 설정하고, 이에 대한 보정 계수값을 산출한 후 보정 계수값을 기판의 설계 사양 정보에 적용함으로써, 기판의 국부적인 변형 발생시 인쇄 오차를 최소로 하기 위한 것이다.

아래에서 기판의 좌표 정보 설정과 설정된 좌표 정보를 가지고 인쇄 오차가 보정될 수 있는 방법에 대하여 도 3 내지 도 4를 참조하여 좀 더 구체적으로 구체적으로 설명한다.

도 3은 본 발명에 따른 기판의 인쇄 오차 보정방법이 도시된 순서도이이고, 도 4는 본 발명의 인쇄 오차 보정방법에 채용되는 기판의 좌표 설정도이다.

도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 기판의 인쇄 오차 보정방법은 먼저, 기판(100)의 설계 사양 정보를 통해 기판(100)의 외곽에 형성된 얼라인 마크(101) 좌표와 인식 마크(111)의 좌표를 취득한다.(S101 단계)

상기 기판(100)의 설계 사양 정보는 다수 적층되는 기판의 층(layer)별로 시트(110)의 위치 정보가 저장된 ODB++ 파일을 통해 추출 가능하다.

다음, 기판(100)의 실제 측정 정보를 통해 변형이 발생된 기판의 얼라인 마크 좌표와 인식 마크 좌표를 취득한다.(S102 단계) 이때, 기판의 실질적인 실제 측정 정보는 기판 상에서 움직이는 CCD나 CMOS가 탑재된 영상 장치의 촬영 정보에 의해서 추출될 수 있으며, 상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득되는 좌표 정보의 기준점은 인쇄를 시작하는 지점을 기준으로 선택될 수 있으며, 인쇄 시작점을 기준으로 얼라인 마크(101)와 인식 마크(111)를 포함하여 4개의 좌표 정보를 선정할 수 있다.

이때, 4개의 좌표 정보는 앞서 기재된 도 2에 도시된 바와 같이, 기판(100)에 형성된 개별 시트(110)의 외곽에 형성된 4개의 인식 마크(111)가 형성될 수 있다.

한편, 본 실시예에서는 복수의 시트를 그룹화함에 의해서 그룹화된 시트들의 외곽에 형성된 4개의 인식 마크(111)를 순차적으로 선정하여 기판의 국부적인 변형에 대응 가능하도록 함과 아울러 영상 장치를 통해 기판을 스캐닝할 때 영상 장치에서 인식되는 인식 마크(111)의 수를 줄여 양산시 기판의 스캐닝 시간을 감소시킬 수 있다.

도 4를 참조하면, 인접한 두 개의 시트(110)를 그룹화하여 4개의 좌표 정보를 취득할 경우에는 기판(100)에 형성된 얼라인 마크(101)를 포함하여 두 개의 시트(110)에 형성된 인식 마크 중에서 인접한 위치에 형성된 인식 마크(111)가 순차적으로 선정되도록 한다.

이때, 인쇄 시작점이 되는 ①번의 얼라인 마크(101)를 기준점으로 하여 인접한 시트의 인식 마크(111)를 순차적으로 선정하게 되면 두 개의 시트(110)가 그룹화된 상태에서 지그재그(Z자형) 방향으로 ② ~ ④의 4개의 좌표로 설정하여 실제 측정 정보의 좌표 정보를 추출할 수 있다.

여기서, 상기 기판(100)의 실제 측정 정보에서 취득되는 좌표 정보는 상기 기판의 설계 사양 정보에서 취득된 좌표 정보와 동일한 좌표의 정보가 취득됨이 바람직하다.

다음으로, 상기 기판(100)의 설계 사양 정보에서 취득된 좌표 정보와 상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득된 좌표 정보를 bi-linear 함수의 아래 수학식을 통해 연산하여 보정 계수값을 산출한다.(S103 단계)

이때, bi-linear 함수의 수학식은 다음과 같다.

여기서, x, y : 기판의 설계 사양 정보의 좌표값

x', y' : 기판의 실제 측정 정보의 좌표값

a0 ~ a3 : 보정 계수값

상기 수학식 1을 이용하여 기판의 실제 측정 정보에서 추출된 기판의 변형 유형은 아래 도시된 도 5와 같이 표현될 수 있으며, 상기 수학식 1에 의해 보정 계수값을 산출하기 위한 변형 공식은 아래의 수학식 2와 같다.

여기서, a0와 b0는 시프트 계수이며, a0와 b0가 0의 값을 가지면 시프트가 발생되지 않은 것으로 정의될 수 있다. 또한 a1과 b1은 신축 변형에 대한 계수이고, a2와 b2는 로케이션 계수이며, a2와 b2가 0의 값을 가지면 로테이션이 발생되지 않은 것으로 정의될 수 있다. 그리고, a3와 b3는 대각 변형에 대한 계수이며, a3와 b3가 0의 값을 가지면 대각 변형이 없는 것으로 정의될 수 있다.

이때, 상기 수학식 2를 이용하여 기판의 설계 사양 정보에서 추출된 좌표 정보와 기판의 실제 측정 정보에서 추출된 좌표를 아래의 수학식 3을 통해 연산하여 a0 내지 a3와 b0 내지 b3의 보정 계수값을 각각 산출할 수 있다.

다음으로, 앞서 언급된 도 2에 도시된 바와 같이 상기 기판의 설계 사양 정보에서 각 시트(110)의 외곽에 형성된 인식 마크(111) 좌표 외에 선형의 벡터 데이터를 더 취득한다(S104 단계)

상기 벡터 데이터는 상기 시트(110)의 대각선 방향에 선형으로 형성될 수 있는 문자 인쇄 또는 실크 스크린용 좌표 정보이며, 상기 보정 계수값을 벡터 데이터에 적용하여 기판의 실제 측정 정보에서 설계 사양 정보 사이에서 추출된 보정 계수값을 적용하여 실제 변형값을 산출할 수 있다.

즉, 상기 a0 내지 a3와 b0 내지 b3의 보정 계수값을 이용하여 변형이 발생된 기판에서 산출된 실제 변형값이 상기 설계 사양 정보에서 추출된 선형의 벡터 데이터에 적용되어 변형 데이터로 변환한다.(S105 단계)

이때, 상기 기판의 설계 사양 정보에 의해 추출된 얼라인 마크와 인식 마크를 포함하는 좌표 정보에 실제 변형값에 의해 변환된 변형 데이터가 적용되어 개별 시트 또는 그룹화된 복수의 시트의 시프트와 로테이션 및 X, Y축 방향의 신축 및 대각 방향의 변형 정도가 연산된 변형 데이터로 변환될 수 있다.

상기 변형 데이터는 이진수 이미지의 변형 데이터로 변환될 수 있으며, 상기 이진수 이미지는 통상 비트맵 이미지로 저장되어 인쇄 설비에 적용됨에 따라 상기 변형 데이터를 기준으로 전체적 또는 국부적으로 변형이 발생된 기판에 인쇄를 수행하게 된다.(S106 단계)

이상에서 설명한 본 발명의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능할 것이나, 이러한 치환, 변경 등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

100. 기판 101. 얼라인 마크
110. 시트 111. 인식 마크

Claims (11)

1. 기판의 설계 사양 정보를 통해 얼라인 마크 좌표와 각 시트의 외곽에 형성된 인식 마크 좌표를 취득하는 단계;
   상기 기판의 실제 측정 정보를 통해 왜곡된 얼라인 마크 좌표와 각 시트의 인식 마크 좌표를 취득하는 단계;
   상기 기판의 설계 사양 정보에서 취득된 좌표 정보와 상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득된 좌표 정보를 연산하여 보정 계수값을 산출하는 단계;
   상기 보정 계수값을 이용하여 상기 기판의 실제 변형값을 산출하고, 상기 실제 변형값을 상기 설계 사양 정보에 적용하여 보정된 이진수 이미지의 변형 데이터로 변환하는 단계;
   상기 변형 데이터를 기준으로 상기 기판에 인쇄를 수행하는 단계;
   를 포함하며,
   상기 기판의 실제 측정 정보에서 상기 얼라인 마크 좌표와 인식 마크 좌표를 취득하는 단계에서, 상기 좌표 정보의 선정 위치는 기판에 인쇄를 시작하는 지점을 기준점으로 선정하고, 기준점을 중심으로 인접한 위치의 좌표를 순차적으로 선정하는 기판의 인쇄 오차 보정방법.
   
2. 삭제
3. 제1항에 있어서,
   상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득되는 좌표 정보는, 상기 기판에 구비된 개별 시트의 외곽에 형성된 4개의 좌표가 선정되는 기판의 인쇄 오차 보정방법.
   
4. 제1항에 있어서,
   상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득되는 좌표 정보는, 상기 기판에 구비된 복수의 시트를 그룹화하여 그룹화된 상기 시트들의 외곽에 형성된 4개의 좌표가 선정되는 기판의 인쇄 오차 보정방법.
   
5. 제4항에 있어서,
   상기 시트가 그룹화된 상태에서 지그재그(Z자형) 방향으로 4개의 좌표로 설정하여 상기 기판의 실제 측정 정보에서 좌표 정보를 추출하는 기판의 인쇄 오차 보정방법.
   
6. 제1항에 있어서,
   상기 기판의 실제 측정 정보에서 상기 얼라인 마크 좌표와 인식 마크 좌표를 취득하는 단계에서, 상기 얼라인 마크 좌표와 인식 마크 좌표는 CCD나 CMOS가 채용된 영상 장치를 통한 스캐닝을 통해 좌표 정보로 취득되는 기판의 인쇄 오차 보정방법.
   
7. 제6항에 있어서,
   상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득되는 좌표 정보는 상기 기판의 설계 사양 정보에서 취득된 좌표 정보와 대응되는 위치의 좌표 정보가 취득되는 기판의 인쇄 오차 보정방법.
   
8. 제1항에 있어서,
   상기 보정 계수값을 산출하는 단계에서, 상기 보정 계수값은 상기 기판의 설계 사양 정보에서 취득된 좌표 정보와 상기 기판의 실제 측정 정보에서 취득된 좌표 정보에 의한 다음과 같은 bi-linear 함수의 수학식을 이용하여 산출되는 기판의 인쇄 오차 보정방법.
   수학식
   

   

   
   여기서, x, y : 기판의 설계 사양 정보의 좌표값
   x', y' : 기판의 실제 측정 정보의 좌표값
   a0 ~ a3 : 보정 계수값
   
9. 제1항에 있어서,
   상기 보정 계수값을 산출하는 단계 이후에는,
   상기 기판의 설계 사양 정보에서 각 시트에 대한 벡터 데이터를 더 취득하는 단계를 더 포함하는 기판의 인쇄 오차 보정방법.
   
10. 제9항에 있어서,
    상기 벡터 데이터는 문자 인쇄 또는 실크 스크린용 좌표 정보이며, 상기 보정 계수값을 벡터 데이터에 적용하여 기판의 실제 측정 정보에서 설계 사양 정보 사이에서 추출된 상기 보정 계수값을 적용하여 실제 변형값을 산출하는 기판의 인쇄 오차 보정방법.
    
11. 제1항에 있어서,
    상기 이진수 이미지의 변형 데이터로 변환하는 단계에서, 상기 이진수 이미지는 비트맵 이미지로 저장되는 기판의 인쇄 오차 보정방법.

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