KR101141456B1 - 전압 레벨 시프터 - Google Patents

전압 레벨 시프터 Download PDF

Info

Publication number
KR101141456B1
KR101141456B1 KR1020100124467A KR20100124467A KR101141456B1 KR 101141456 B1 KR101141456 B1 KR 101141456B1 KR 1020100124467 A KR1020100124467 A KR 1020100124467A KR 20100124467 A KR20100124467 A KR 20100124467A KR 101141456 B1 KR101141456 B1 KR 101141456B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
voltage
mosfet
output
input
operational amplifier
Prior art date
Application number
KR1020100124467A
Other languages
English (en)
Inventor
신이치 이이쯔까
나준경
하상훈
김윤석
Original Assignee
삼성전기주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전기주식회사 filed Critical 삼성전기주식회사
Priority to KR1020100124467A priority Critical patent/KR101141456B1/ko
Priority to US13/309,155 priority patent/US8476957B2/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101141456B1 publication Critical patent/KR101141456B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/50Amplifiers in which input is applied to, or output is derived from, an impedance common to input and output circuits of the amplifying element, e.g. cathode follower
    • H03F3/505Amplifiers in which input is applied to, or output is derived from, an impedance common to input and output circuits of the amplifying element, e.g. cathode follower with field-effect devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)

Abstract

입력되는 전압의 레벨을 변경하는 출력하는 전압 레벨 시프터가 개시된다. 상기 전압 레벨 시프터는, 입력 전압이 제공되는 제1 입력을 갖는 연산 증폭기; 상기 제1 연산 증폭기의 출력에 연결된 게이트와, 전원이 인가되는 소스와, 출력 전압이 출력되는 드레인을 갖는 제1 MOSFET; 상기 제1 MOSFET의 드레인에 순차적으로 직렬 연결된 복수의 분압 저항을 포함하며, 상기 복수의 분압 저항 사이의 일 연결노드가 상기 연산 증폭기의 제2 입력에 연결된, 분압 저항부; 및 상기 분압 저항 중 적어도 하나의 양단에 각각 연결된 소스와 드레인을 가지며, 상기 제1 MOSFET의 게이트에 연결된 게이트를 갖는 제2 MOSFET를 포함할 수 있다.

Description

전압 레벨 시프터{VOLTAGE LEVEL SHIFTER}
본 발명은 전자회로 분야에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 입력되는 전압의 레벨을 변경하는 출력하는 전압 레벨 시프터에 관한 것이다.
현재 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 기술을 이용한 아날로그 회로와 이를 제어하는 아날로그 제어 블록의 집적화에 대한 연구가 활발하게 진행되고 있다. 이러한 CMOS 기술을 이용하여 구현되는 아날로그 회로와 그 제어 블록에 대한 연구는 회로 설계의 단순화를 통해 사이즈를 감소시킴과 동시에, 소모하는 전력을 감소시키는 방향으로 이루어지고 있다.
CMOS 기술을 이용하여 아날로그 회로에서 널리 사용되는 회로 중 하나로서 전압 레벨 시프터(level shifter)가 알려져 있다. 전압 레벨 시프터는 입력 전압을 소정 비율로 증가 또는 감소시켜 그 레벨을 변경하여 출력 전압을 생성하는 회로이다.
종래의 전압 레벨 시프터는, 주로 입력 전압이 일 입력으로 하는 연산 증폭기와, 연산 증폭기의 출력에 게이트가 연결되고 전원 전압을 소스로 인가받는 MOSFET과, 상기 MOSFET의 드레인에 직렬 연결된 복수의 저항으로 구현되었다.
종래의 전압 레벨 시프터는, MOSFET의 드레인으로 출력 전압을 출력하고, 복수의 저항에 의해 분압된 출력 전압의 분압 전압을 연산 증폭기의 다른 하나의 출력으로 피드백하는 회로 연결구조를 갖는다. 종래의 전압 레벨 시프터는, 복수의 저항에 의해 전압 레벨의 변동폭이 결정될 수 있다.
그러나 종래의 전압 레벨 시프터는, 입력 전압의 크기가 변경됨에 따라 전압 레벨의 변동폭을 조정하여야 하는 경우, 복수의 연산 증폭기를 사용하여 다른 크기의 레벨 변동폭을 갖는 전압 레벨 시프터를 추가하여야 한다.
이와 같이, 종래의 전압 레벨 시프터는, 전압 레벨 변동폭을 조정하기 위해 추가의 연산 증폭기가 요구되므로 회로의 사이즈가 커지고 전력 소모가 증가하는 문제가 있다.
본 발명은 회로 사이즈나 소모 전력을 증가시키지 않고서 전압 레벨의 변동 폭을 조정할 수 있는 전압 레벨 시프터를 제공하는 것을 해결하고자 하는 기술적 과제로 한다.
전술한 기술적 과제를 해결하기 위한 수단으로서, 본 발명은,
입력 전압이 제공되는 제1 입력을 갖는 연산 증폭기;
상기 제1 연산 증폭기의 출력에 연결된 게이트와, 전원이 인가되는 소스와, 출력 전압이 출력되는 드레인을 갖는 제1 MOSFET;
상기 제1 MOSFET의 드레인에 순차적으로 직렬 연결된 복수의 분압 저항을 포함하며, 상기 복수의 분압 저항 사이의 일 연결노드가 상기 연산 증폭기의 제2 입력에 연결된, 분압 저항부; 및
상기 분압 저항 중 적어도 하나의 양단에 각각 연결된 소스와 드레인을 가지며, 상기 제1 MOSFET의 게이트에 연결된 게이트를 갖는 제2 MOSFET
을 포함하는 전압 레벨 시프터를 제공한다.
본 발명의 일실시형태에서, 상기 분압 저항부는 상기 제1 MOSFET의 드레인에 순차적으로 직렬 연결된 셋 이상의 분압 저항을 포함할 수 있다.
이 실시형태는, 상기 제2 MOSFET의 소스와 드레인이 연결되는 분압 저항의 위치에 따라, 상기 입력 전압과 출력 전압의 관계가 형성하는 그래프의 기울기 변화 위치가 변경될 수 있다.
또한, 이 실시형태는, 상기 제2 MOSFET의 소스와 드레인이 연결되는 분압 저항의 크기에 따라, 상기 입력 전압과 출력 전압의 관계가 형성하는 그래프의 기울기 변화의 크기가 변경될 수 있다.
상기 실시형태들에서, 상기 제1 MOSFET 및 제2 MOSFET은 P채널 MOSFET일 수 있다.
본 발명에 따르면, 단순히 MOSFET을 추가함으로써 전압 레벨 시프터의 전압 레벨 변동폭과 전압 레벨이 변동되는 시점을 조절할 수 있다.
본 발명에 따르면 전압 레벨 시프터의 전압 레벨 변동폭을 조정하기 위해 회로의 사이즈가 증가하거나 소모 전력이 증가하는 것을 방지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일실시형태에 따른 전압 레벨 시프터의 회로도이다.
도 2는 본 발명의 일실시형태에 따른 전압 레벨 시프터의 입력 전압과 출력 전압의 관계를 도시한 그래프이다.
도 3 및 도 4는 본 발명의 다양한 실시형태에 따른 전압 레벨 시프터의 회로도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 다양한 실시형태를 보다 상세하게 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명되는 실시형태로 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 실시형태는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에 도시된 구성요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있다는 점을 유념해야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일실시형태에 따른 전압 레벨 시프터의 회로도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시형태에 따른 전압 레벨 시프터는, 연산 증폭기(OP)와, 두 개의 MOSFET(M1, M2) 및 분압 저항부(R1, R2)을 포함하여 구성될 수 있다.
더욱 구체적으로, 상기 연산 증폭기(OP)는 제1 입력(반전입력), 제2 입력(비반전입력) 및 출력을 가질 수 있다. 상기 제1 입력으로, 전압 레벨이 변경되는 입력 전압(Vin)이 제공된다. 상기 제2 입력으로, 전압 레벨이 변경된 상태의 출력 전압(Vout)에 대응되는 전압이 인가된다. 상기 제2 입력으로 인가되는 전압은 출력 전압(Vout)을 분압 저항(R1, R2)으로 분압한 전압일 수 있다.
상기 연산 증폭기(OP)는 두 입력으로 인가되는 입력 전압과 피드백된 출력 전압에 대응되는 전압을 상호 비교하여 두 입력 전압의 크기가 동일해지는 제어가 가능하도록 출력을 생성한다. 즉, 상기 연산 증폭기(OP)는 실질적으로 오차 증폭기로 동작할 수 있다.
상기 제1 MOSFET(M1)은 연산 증폭기(OP)의 출력에 연결된 게이트와 전원전압(Vbat)이 인가되는 소스와, 전압 레벨 시프터의 출력 전압(Vout)을 형성하는 드레인을 갖는다.
상기 제1 MOSFET(M1)은 게이트로 인가되는 연산 증폭기(OP)의 출력에 따라 게이트로 인가된 전원전압(Vbat)을 소정 레벨 하강시켜 드레인으로 출력 전압(Vout)을 출력한다.
상기 연산 증폭기(OP)의 두 입력이 실질적으로 동일한 경우, 연산 증폭기(OP)의 출력은 로우(low) 상태가 된다. 이 때, 제1 MOSFET(M1)의 게이트 전압은 접지 레벨과 같은 낮은 상태이고 소스 전압은 전원 전압(Vbat)에 연결되어 매우 높은 상태가 되므로, 제1 MOSFET(M1)의 소스-게이트 전압은 자신의 임계전압(Vth)보다 큰 상태가 될 수 있다. 이로 인해, 제1 MOSFET(M1)은 온(ON) 상태가 된다. 제1 MOSFET(M1)은 소스와 드레인 사이에 연결된 소정 저항으로 작용한다.
전술한 것과 같은 동작을 위해, 상기 제1 MOSFET(M1)은 P 채널 MOSFET이 채용될 수 있다.
상기 분압 저항부(R1, R2)는, 분압 저항(R1, R2)을 이용하여 출력 전압(Vout)을 분압하고, 분압된 전압을 연산 증폭기(OP)의 일 입력에 제공한다.
예를 들어, 제2 MOSFET(M2)이 오프인 상태에서, 상기 분압 저항부(R1, R2)는, 제1 저항(R1) 및 제2 저항(R2)의 두 저항으로 이루어질 수 있다. 상기 제1 및 제2 분압 저항(R1, R2)는 제1 MOSFET(M1)의 드레인과 접지 사이에 직렬 연결될 수 있다. 상기 제1 및 제2 분압 저항(R1, R2)의 연결 노드는 연산 증폭기(OP)의 제2 입력과 연결된다.
이러한 연결구조를 통해 제1 및 제2 분압 저항(R1, R2)는 출력 전압(Vout)을 그 저항값에 따라 분압하여 제공한다.
연산 증폭기(OP)가 갖는 가상 접지의 특성으로 인해 두 입력의 전압차는 0 이므로 제1 및 제2 분압 저항(R1, R2)에 의해 분압된 전압은 입력 전압과 동일한 값을 갖는다.
즉, 입력 전압(Vin)은 하기의 식 1과 같이 표현될 수 있으며, 하기 식 1에 의해 출력 전압(Vout)은 식 2와 같이 결정될 수 있다.
[식 1]
Figure 112010080636413-pat00001
[식 2]
Figure 112010080636413-pat00002
즉, 도 1에 도시된 본 발명의 일실시형태에 따른 전압 레벨 시프터는, 제2 MOSFET(M2)이 오프 상태일 때, 입력 전압(Vin)을 (R1+R2)/R2 배 시프트한 출력 전압(Vout)을 출력할 수 있다.
제2 MOSFET(M2)은 분압 저항 중 적어도 하나의 저항(R1)의 양단에 각각 연결된 소스와 드레인을 가지며, 제1 MOSFET(M1)의 게이트에 연결된 게이트를 갖는다.
입력 전압(Vin)의 레벨이 낮은 상태에서 제2 MOSFET(M2)은 오프 상태이다. 입력 전압(Vin)이 증가함에 따라 상기 식 2에 의해 출력 전압(Vout)도 증가한다.
출력 전압(Vout)이 증가하면 제1 MOSFET(M1)의 드레인 전압이 상승하면서 제1 MOSFET(M1)의 소스 전압과 드레인 전압 차가 감소한다. 즉, 제1 MOSFET(M1)의 소스-드레인 저항이 감소하게 되므로, 제1 MOSFET(M1)의 게이트 전압이 하강하게 된다.
이러한, 제1 MOSFET(M1)의 게이트 전압이 하강함에 따라 동일 노드에 연결된 제2 MOSFET(M2)의 게이트 전압도 하강하게 된다. 제2 MOSFET(M2)의 게이트 전압이 하강하여 제2 MOSFET(M2)의 소스-게이트 전압이 제2 MOSFET(M2)의 임계전압보다 커지면 제2 MOSFET(M2)는 턴온되어 제1 분압 저항(R1)에 병렬 연결된 저항으로 작용하게 된다.
전술한 제2 MOSFET(M2)의 동작을 구현하기 위해, 상기 제2 MOSFET(M2)은 P 채널 MOSFET을 적용할 수 있다.
제2 MOSFET(M2)가 온 상태가 되어 형성하는 저항을 RM이라고 하면, 제2 MOSFET(M2)가 온 상태인 경우 출력 전압의 값은 하기 식 3과 같다.
[식 3]
Figure 112010080636413-pat00003
제2 MOSFET(M2)과 이에 병렬연결된 제1 분압 저항(R1)이 형성하는 합성 저항값은 제1 분압 저항(R1)의 저항값보다 작아진다. 따라서, 상기 식 3을 참조하면, 제2 MOSFET(M2)가 온 상태가 된 이 후에는, 그 이전보다 입력 전압(Vin)을 변화시키는 정도가 감소한다. 이러한 특성은 도 2에 도시된다.
도 2는 본 발명의 일실시형태에 따른 전압 레벨 시프터의 입력 전압과 출력 전압의 관계를 도시한 그래프이다.
도 2에 도시한 바와 같이, 제2 MOSFET(M2)이 턴온 되기 이전에는, 상기 식 2에 나타나는 기울기(S1=(R1+R2)/R2)에 따라 출력 전압(Vout)이 증가하게 된다.
제2 MOSFET(M2)이 턴온 되면, 제1 분압 저항(R1) 대신 제1 분압 저항(R1)과 이에 병렬 연결된 제2 MOSFET(M2)에 의한 저항(RM)의 합성 저항이 형성하는 기울기(S2=((R1//RM)+R2)/R2)에 따라 출력 전압(Vout)이 증가하게 된다.
제1 분압 저항(R1)과 이에 병렬 연결된 제2 MOSFET(M2)에 의한 저항(RM)의 합성 저항의 저항값이 제1 분압 저항(R1)보다 작으므로, 제2 MOSFET(M2)이 턴온 된 후의 기울기(S2)는 턴온 이전의 기울기(S1)보다 작게 나타난다.
이와 같이, 본 발명은 MOSFET만 추가하여 전압 레벨 시프터의 입출력 전압 관계를 조정할 수 있다.
한편, 본 발명은, 분압저항의 개수나 제2 MOSFET의 소스/드레인의 연결 위치를 조정함으로써, 입출력 전압의 관계가 변경되는 시점이나 변경되는 기울기를 조정할 수 있다.
도 3 및 도 4는 본 발명의 다양한 실시형태에 따른 전압 레벨 시프터의 회로도이다. 도 3 및 도 4는 서로 동일한 세 개의 분압 저항을 사용한 회로에서 제2 MOSFET(M2)의 소스/드레인의 연결 위치를 변경한 회로를 도시한다.
도 3은 출력 전압(Vout)이 출력되는 제1 MOSFET(M1)의 드레인에 직접 연결된 제1 분압 저항(R1)에 제2 MOSFET(M2)이 연결된 예이고, 도 4는 제1 분압 저항(R1)과 제3 분압 저항(R3) 사이에 연결된 제2 분압 저항(R2)에 제2 MOSFET(M2)이 연결된 예를 도시한다.
도 3 및 도 4에 도시된 회로 모두 제2 분압 저항(R2)와 제3 분압 저항(R3)의 연결 노드가 연산 증폭기(OP)의 입력 중 하나와 연결된다.
도 3에 도시된 회로에서 제2 MOSFET(M2)의 소스는 출력 전압에 연결되고, 도 4에 도시된 회로에서 제2 MOSFET(M2)의 소스는 제1 분압 저항(R1)과 제2 분압 저항(R2)의 연결 노드에 연결된다. 이러한 연결관계에 의해, 도 4의 회로에서 제2 MOSFET(M2)의 소스가 연결된 노드는 출력 전압(Vout) 보다 낮은 전압이 형성된다.
따라서, 제2 MOSFET(M2)의 게이트 전압이 하강함에 따라, 도 3에 도시된 회로의 제2 MOSFET(M2)의 소스-게이트 전압이 도 4에 도시된 회로의 제2 MOSFET(M2)의 소스-게이트 전압보다 먼저 MOSFET의 임계 전압보다 커진다.
즉, 입출력 전압 관계의 그래프에서 기울기가 변화하는 시점이, 도 2의 회로가 도 3의 회로보다 먼저 형성된다.
이와 같이, 본 발명은 제2 MOSFET을 연결하는 분압 저항의 위치를 조정함으로써, 입출력 전압 관계의 그래프에서 기울기가 변화하는 시점을 조정할 수 있다.
한편, 도 3 및 도 4와 같이 세 개의 분압저항을 사용한 예에서, 제1 분압 저항(R1) 및 제2 분압 저항(R2)의 합성 저항값을 일정하게 유지하면, 제3 분압 저항(R3)과의 관계를 통해 분압되는 출력 전압(Vout)의 비율은 일정하게 유지될 수 있다.
따라서, 또한, 도 3 및 도 4에 도시된 회로에서, 두 저항의 합성 저항값이 일정하게 유지되는 상태로, 제1 분압 저항(R1) 및 제2 분압 저항(R2)의 값을 조정함으로써 입출력 전압 관계의 그래프에서 기울기 변화의 크기를 조정할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 분압저항의 개수와 제2 MOSFET의 소스/드레인이 연결되는 분압저항 위치를 조정함으로써, 다양한 입출력 관계를 갖는 전압 레벨 시프터를 구현할 수 있다.
본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관하여 설명하였으나 본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되지 않으며, 후술되는 특허청구의 범위 및 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
OP : 연산증폭기 M1 : 제1 MOSFET
M2 : 제2 MOSFET R1, R2, R3: 분압저항

Claims (5)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 입력 전압이 제공되는 제1 입력을 갖는 연산 증폭기;
    상기 제1 연산 증폭기의 출력에 연결된 게이트와, 전원이 인가되는 소스와, 출력 전압이 출력되는 드레인을 갖는 제1 MOSFET;
    상기 제1 MOSFET의 드레인에 순차적으로 직렬 연결된 복수의 분압 저항을 포함하며, 상기 복수의 분압 저항 사이의 일 연결노드가 상기 연산 증폭기의 제2 입력에 연결된 분압 저항부; 및
    상기 분압 저항 중 적어도 하나의 양단에 각각 연결된 소스와 드레인을 가지며, 상기 제1 MOSFET의 게이트에 연결된 게이트를 갖는 제2 MOSFET
    를 포함하고,
    상기 제2 MOSFET의 소스와 드레인이 연결되는 분압 저항의 위치에 따라, 상기 입력 전압과 출력 전압의 관계가 형성하는 그래프의 기울기 변화 위치가 변경되는 것을 특징으로 하는 전압 레벨 시프터.
  4. 입력 전압이 제공되는 제1 입력을 갖는 연산 증폭기;
    상기 제1 연산 증폭기의 출력에 연결된 게이트와, 전원이 인가되는 소스와, 출력 전압이 출력되는 드레인을 갖는 제1 MOSFET;
    상기 제1 MOSFET의 드레인에 순차적으로 직렬 연결된 복수의 분압 저항을 포함하며, 상기 복수의 분압 저항 사이의 일 연결노드가 상기 연산 증폭기의 제2 입력에 연결된 분압 저항부; 및
    상기 분압 저항 중 적어도 하나의 양단에 각각 연결된 소스와 드레인을 가지며, 상기 제1 MOSFET의 게이트에 연결된 게이트를 갖는 제2 MOSFET
    를 포함하고,
    상기 제2 MOSFET의 소스와 드레인이 연결되는 분압 저항의 크기에 따라, 상기 입력 전압과 출력 전압의 관계가 형성하는 그래프의 기울기 변화의 크기가 변경되는 것을 특징으로 하는 전압 레벨 시프터.
  5. 제3항 또는 제4항에 있어서,
    상기 제1 MOSFET 및 제2 MOSFET은 P채널 MOSFET인 것을 특징으로 하는 전압 레벨 시프터.
KR1020100124467A 2010-12-07 2010-12-07 전압 레벨 시프터 KR101141456B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100124467A KR101141456B1 (ko) 2010-12-07 2010-12-07 전압 레벨 시프터
US13/309,155 US8476957B2 (en) 2010-12-07 2011-12-01 Voltage level shifter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020100124467A KR101141456B1 (ko) 2010-12-07 2010-12-07 전압 레벨 시프터

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101141456B1 true KR101141456B1 (ko) 2012-05-04

Family

ID=46161659

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020100124467A KR101141456B1 (ko) 2010-12-07 2010-12-07 전압 레벨 시프터

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8476957B2 (ko)
KR (1) KR101141456B1 (ko)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10862484B2 (en) * 2019-03-29 2020-12-08 Texas Instruments Incorporated Bidirectional voltage level translator having output driver staggering controlled by voltage supply
US12021077B2 (en) 2022-03-01 2024-06-25 Nxp, B.V. Cross-domain electrostatic discharge protection

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06138961A (ja) * 1992-10-24 1994-05-20 Nec Ic Microcomput Syst Ltd ボルテージレギュレータ
JP2003076431A (ja) 2001-09-04 2003-03-14 Toshiba Corp 半導体集積回路
KR20060046045A (ko) * 2004-05-11 2006-05-17 세이코 인스트루 가부시키가이샤 정전압 출력 회로
JP2008311609A (ja) 2007-06-15 2008-12-25 Taejin Technology Co Ltd 電圧レギュレーター及びその製造方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3136593B2 (ja) 1998-08-17 2001-02-19 日本電気株式会社 レギュレータ内蔵半導体装置
US6414537B1 (en) * 2000-09-12 2002-07-02 National Semiconductor Corporation Voltage reference circuit with fast disable
ITTO20030533A1 (it) * 2003-07-10 2005-01-11 Atmel Corp Procedimento e circuito per la limitazione di corrente in
JP4263068B2 (ja) * 2003-08-29 2009-05-13 株式会社リコー 定電圧回路
US7392419B2 (en) * 2005-06-30 2008-06-24 International Business Machines Corporation System and method automatically selecting intermediate power supply voltages for intermediate level shifters
JP4836125B2 (ja) * 2006-04-20 2011-12-14 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06138961A (ja) * 1992-10-24 1994-05-20 Nec Ic Microcomput Syst Ltd ボルテージレギュレータ
JP2003076431A (ja) 2001-09-04 2003-03-14 Toshiba Corp 半導体集積回路
KR20060046045A (ko) * 2004-05-11 2006-05-17 세이코 인스트루 가부시키가이샤 정전압 출력 회로
JP2008311609A (ja) 2007-06-15 2008-12-25 Taejin Technology Co Ltd 電圧レギュレーター及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
US8476957B2 (en) 2013-07-02
US20120139607A1 (en) 2012-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9298200B2 (en) Constant voltage circuit with drooping and foldback overcurrent protection
US9525337B2 (en) Charge-recycling circuits
US7928708B2 (en) Constant-voltage power circuit
US20150108953A1 (en) Voltage regulator
JP2009098802A (ja) 基準電圧発生回路
CN107750351A (zh) 电压调节器
US20080290942A1 (en) Differential amplifier
TWI470394B (zh) 電壓產生器
US9117507B2 (en) Multistage voltage regulator circuit
US8134349B2 (en) Power supply circuit that outputs a voltage stepped down from a power supply voltage
US9369098B2 (en) Inverting amplifier
KR101141456B1 (ko) 전압 레벨 시프터
KR20160104567A (ko) 기준 전압 회로 및 전자 기기
KR101362474B1 (ko) Cmos 서브밴드갭 기준발생기
US9798346B2 (en) Voltage reference circuit with reduced current consumption
JP2013054535A (ja) 定電圧発生回路
JP2016015076A (ja) レギュレータ回路
KR101257459B1 (ko) 온도 보상 회로 및 이를 구비한 장치
US8138742B2 (en) Semiconductor circuits capable of mitigating unwanted effects caused by input signal variations
US9209755B2 (en) Operational amplifying device with auto-adjustment output impedance
KR20100124381A (ko) 직접 게이트 구동 기준 전류원 회로
CN108183704B (zh) 源极跟随器
KR101089849B1 (ko) 씨모스(cmos) 회로에 적합한 전압 레귤레이터
JP6837894B2 (ja) 降圧回路及び半導体集積回路
JP2012191358A (ja) 差動信号発生回路および電圧制御ゲイン可変増幅器

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170102

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180403

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190401

Year of fee payment: 8