KR101071510B1 - 전자 기기용 시험 장치 및 전자 기기 시험 방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 다수의 휴대 전화 등의 전자 기기의 동작 시험을, 정밀하면서 연속적으로 행하는 것을 가능하게 하는 전자 기기용 시험 장치를 제공하는 것을 과제로 한다. 이를 위해, 전자 기기(P)에 대한 시험을 행하는 시험 상자(10)와, 시험 상자(10)의 외부와 내부를 연통하는 동시에, 적어도 시험을 행할 때에 그 개구부를 폐색하여 외부로부터의 전파를 차폐하는 슬라이드 도어(23)를 갖는 도파관(20A, 20B)과, 전자 기기(P)를 반송하는 벨트(31)를 갖는 벨트 컨베이어(30)를 구비하는 전자 기기용 시험 장치(1)이며, 벨트(31)가 도파관(20A, 20B)의 내부를 통과 가능하게 구성되어 전자 기기(P)를 시험 상자(10)로 반입하는 동시에, 시험 상자(10)로부터 반출하는 것을 특징으로 한다.

휴대 전화, 시험 상자, 벨트, 슬라이드 도어, 도파관

Description

전자 기기용 시험 장치 및 전자 기기 시험 방법 {TESTING APPARATUS AND METHOD FOR ELECTRONIC DEVICE}

본 발명은, 다수의 휴대 전화 등의 전자 기기에 대한 동작 시험을, 정밀하면서도 연속적으로 행하는 것을 가능하게 하는 전자 기기용 시험 장치 및 전자 기기 시험 방법에 관한 것이다.

휴대 전화 등의 전자 기기의 제조 후나 수리 후에, 정상적으로 동작·기능할 지의 여부에 관하여 무선 전파에 의한 무선 접속 시험(이하, 시험이라고 한다)을 행하는 경우가 있다. 종래, 이러한 시험은, 정확한 수신 능력의 시험을 행하기 위해, 외래 전파가 차단된 전파 무향실(전파 암실)이라고 불리는 대형의 특수한 방이나, 실드 박스(전파 차폐 상자)라고 불리는 상자의 내부에서 행해지고 있었다.

예를 들어, 일본 특허 출원 공개 평5-249163호 공보(청구항 1, 단락 0008, 도 1)에는, 내면에 전파 흡수체가 장착된 금속제 조립식 실드 상자와, 상자의 일측면에 설치되어 실드 효과가 높은 덮개를 구비한 창부와, 상자 내에 있어서 창부와 대면하는 위치에 설치된 시험용 공중선과, 창부를 갖는 측면과 수직으로 배치된 측면의 한 쪽에 설치된 제거 가능한 도어를 구비하는 전파 암실 장치가 기재되어 있다.

또한, 일본 특허 출원 공개 제2006-153841호 공보(청구항 1, 단락0045, 도 1, 도 3)에는 전파 차폐성 및 전파 흡수성을 갖는 시험 상자 본체와, 시험 상자 본체의 정면측에 고정되어 시험 상자 본체의 외부와 내부를 연통하는 2개의 손 삽입용 도파관과, 시험 상자 본체에 설치되어 그 내부를 시인할 수 있는 전파 차폐성의 창과, 시험 상자 본체의 내부에 배치되어 전자 기기와의 사이에서 전파를 수수하는 안테나와, 시험 상자 본체의 내부에 배치되어 전자 기기와 접속하는 케이블을 주로 구비한 전자 기기용 시험 상자가 기재되어 있다.

상기한 종래 기술에 따르면, 전자 기기의 동작을 1대씩 간이적으로 시험하는 것이 가능하다. 특히, 일본 특허 출원 공개 제2006-153841호 공보에 기재된 전자 기기용 시험 상자는, 시험원이 직접 전자 기기를 핸들링하면서 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있다고 하는 이점을 갖고 있다. 그러나, 이들 종래 기술은 조립식 실드 상자나 시험 상자 본체의 내부에 전자 기기를 넣어 시험을 행한 후, 외부로 시험 후의 전자 기기를 취출하고 다른 전자 기기를 넣는다고 하는 작업을 반복할 필요가 있으므로, 전자 기기의 동작을 1대씩 시험할 경우에는 적합하나, 다수의 전자 기기의 동작을 시험하는 경우에는 부적합하였다.

따라서, 본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위해 다수의 휴대 전화 등의 전자 기기의 동작 시험을, 정밀하면서도 연속적으로 행하는 것을 가능하게 하는 전자 기기용 시험 장치 및 전자 기기 시험 방법을 제공하는 것을 과제로 한다.

상기 과제를 해결하기 위한 수단으로서, 청구 범위 제1항에 따른 발명은, 전자 기기에 대한 시험을 행하는 시험 상자와, 시험 상자의 외부와 내부를 연통하는 동시에, 적어도 시험을 행할 때에 외부로부터의 전파를 차폐하는 전파 차폐 수단을 갖는 통로와, 전자 기기를 반송하는 반송부를 갖는 반송 수단을 구비하는 전자 기기용 시험 장치이며, 반송부가 통로의 내부를 통과 가능하게 구성되어, 전자 기기를 시험 상자로 반입하는 동시에, 시험 상자로부터 반출하고, 상기 통로는 내측에 전파 흡수성을 갖고, 상기 전파 차폐 수단은, 도전포로 이루어지는 커튼을 포함하고, 상기 커튼을 상기 통로의 개구부를 포함하는 내부에 설치한 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 시험 대상인 전자 기기가, 통로의 내부를 통과하여 연속적으로 시험 상자로 반입되는 동시에, 시험 후의 전자 기기가 연속적으로 시험 상자로부터 반출되므로, 다수의 전자 기기의 동작 시험을 연속적으로 행할 수 있다. 또한, 적어도 시험을 행할 때에 외부로부터의 전파를 차폐하는 전파 차폐 수단을 갖는 통로를 구비하고 있으므로, 시험 상자의 전파의 차폐성을 유지한 상태에서 전자 기기의 동작 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

또한, 본 발명에 있어서의 「시험 상자」에는, 예를 들어 전파 암실과 같이 시험원이 그 내부로 출입할 수 있는 대형의 방도 포함된다.

또한, 이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 통로의 내측의 전파 흡수성에 의해, 통로의 중공부(내부)를 전반하려고 하는 전파를 흡수하여 시험 상자의 전파의 차폐성을 양호하게 유지할 수 있다.

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청구 범위 제2항에 따른 발명은, 청구 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 통로는 입구측 통로와 출구측 통로의 쌍으로 구성되며, 상기 입구측 통로와 상기 출구측 통로는 직선 상에 배치된 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 직선 형상의 반송 수단을, 시험 상자의 외부와 내부를 연통하도록 배치할 수 있어 시험 전의 전자 기기를 연속적으로 시험 상자의 내부로 반입함과 동시에, 시험 후의 전자 기기를 연속적으로 시험 상자의 외부로 반출할 수 있다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 시험 상자의 외부와 내부를 연통하는 통로의 중공부(내부)를 전반하려고 하는 전파의, 시험 상자의 내부로부터 외부로의 전파도 및 시험 상자의 외부로부터 내부로의 전파도를, 커튼을 구비하지 않는 경우와 비교하여 더 저하시킬 수 있다. 즉, 통로의 중공부(내부)를 통과하려고 하는 전파의 일부가, 커튼을 구성하는 도전포의 금속 성분에 의해 회절 손실을 일으키므로, 전파의 전반도를 저하시킬 수 있다. 도전포란, 금속 성분을 포함하는 천이며, 구체적으로는 금속 섬유와 고분자 섬유의 복합 섬유로 이루어지는 천, Ni나 Cu 등의 금속을 도금한 고분자 섬유로 이루어지는 천 등을 들 수 있다.

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또한, 회절 손실이란, 전파가 금속 섬유나 금속 도금 등의 금속 성분에 의해 반사됨으로써, 전파의 진행 방향측(이 경우, 커튼의 이측)으로 전반되기 어려운 것을 의미한다.

또한, 커튼은 비교적 부드러운 천이기 때문에, 전자 기기에 흠집을 내는 일 없이 시험 상자로의 반출입을 행할 수 있다.

청구 범위 제3항에 따른 발명은, 청구 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 전파 차폐 수단은, 상기 반송부의 움직임에 연동하여 상기 통로를 개폐하는 도어 부재를 포함하는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 의하면 시험 상자의 외부와 내부를 연통하는 통로의 중공부(내부)를 전반하려고 하는 전파의, 시험 상자의 내부로부터 외부로의 전파도 및 시험관의 외부로부터 내부로의 전파도를, 도어 부재를 구비하지 않는 경우와 비교하여 더 저하시킬 수 있다.

청구 범위 제4항에 따른 발명은, 청구 범위 제3항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 도어 부재는, 알루미늄판 또는 알루미늄 합금판으로 이루어지는 도어 본체와, 당해 도어 본체에 부착된 고무계 전파 흡수체로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 의하면 통로의 중공부(내부)를 통과하려고 하는 전파의 일부가, 알루미늄판 또는 알루미늄 합금판으로 이루어지는 도어 본체에 의해 반사되는 동시에, 도어 본체에 부착된 고무계 전파 흡수체에 의해 흡수됨으로써, 전파의 전반도를 저하시킬 수 있다.

청구 범위 제5항에 따른 발명은, 청구 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 통로는 소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전반하지 않는 도파관인 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 의하면 통로로서, 소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전반하지 않는 도파관을 구비하고 있으므로, 상기한 커튼이나 도어 부재를 구비하지 않은 경우에도 도파관(통로)의 중공부(내부)를 전반하려고 하는 소정 파장보다 긴 파장의 전파를 확실하게 흡수하여 시험 상자의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 또한, 상기한 커튼이나 도어 부재를 병용함으로써 시험 상자의 전파의 차폐성을 더 양호하게 유지할 수 있다.

또한, 「소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전반하지 않는다」란, 「소정 파장 이하의 파장의 전파가 감쇠되지 않고, 그 내부를 양호하게 전반 가능하게 하는 사양으로 설계된다」는 것을 의미한다.

청구 범위 제6항에 따른 발명은, 청구 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 시험 상자는, 전파의 차폐성을 갖는 금속제의 하우징으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 도전성을 갖는 금속제의 하우징에 의해, 전파를 확실하게 차폐할 수 있다. 또한, 금속제인 것에 의해, 하우징의 강성을 높여, 결과적으로 시험 상자의 내구성을 높일 수 있다.

청구 범위 제7항에 따른 발명은, 청구 범위 제6항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 금속제의 하우징은 복수의 금속 부재를 결합하여 구성되어 있고, 당해 복수의 금속 부재끼리는 용접에 의해 접합되어 있는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 의하면 복수의 금속 부재를 적당하게 결합하여 원하는 형상의 하우징을 용이하게 구성할 수 있다. 또한, 복수의 금속 부재끼리를 용접에 의해 접합함으로써 접합 부분을 통과하려고 하는 전파를 확실하게 차폐하고, 시험 상자의 내부와 외부 사이에서 전파가 누설되는 것을 확실하게 방지할 수 있다.

청구의 범위 제8항에 따른 발명은, 청구 범위 제6항 또는 제7항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 금속제의 하우징 및 상기 통로 중 적어도 한 쪽은 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형성된 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 의하면 금속제의 하우징 및 통로 중 적어도 한 쪽을 경량화할 수 있다.

청구의 범위 제9항에 따른 발명은, 청구의 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 시험 상자는, 그 내부를 시인할 수 있는 창을 갖는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 전자 기기의 시험을 행하면서, 예를 들어 시험 상자의 내부의 전자 기기의 동작 상황 등을 창을 통하여 시험 상자의 외부로부터 시인할 수 있다.

청구 범위 제10항에 따른 발명은, 청구 범위 제9항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 창은, 전파의 차폐성을 갖는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 창이 전파의 차폐성을 가짐으로써, 시험 상자의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

청구 범위 제11항에 따른 발명은, 청구 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 시험 상자는 개폐 가능한 도어를 갖는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 시험 상자의 도어를 적당하게 개폐시킴으로써 전자 기기 등을 자유롭게 출입할 수 있다.

청구 범위 제12항에 따른 발명은, 청구의 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 시험 상자의 내부에, 상기 전자 기기와의 사이에서 전파를 송수신하는 측정용 안테나가 설치되어 있는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 시험 상자의 내부에 있어서, 측정용 안테나와 전자 기기 사이에서 전파를 수수할 수 있다.

청구 범위 제13항에 따른 발명은 청구 범위 제12항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 측정용 안테나로부터 방사되는 전파의 편파면과, 상기 전자 기기의 안테나로부터 방사되는 전파의 편파면이 평행 또는 수직으로 되도록 상기 측정용 안테나의 축을 당해 축 주위로 회전 가능하게 한 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 의하면 측정용 안테나로부터 방사되는 전파의 편파면과, 전자 기기의 안테나로부터 방사되는 전파의 편파면이 평행 또는 수직으로 되도록 측정용 안테나의 축을 회전 조정할 수 있다. 이에 의해, 측정용 안테나로부터 방사되는 전파의 전계 변화를, 전자 기기의 안테나에 의해 수신하기 쉬운 환경과, 전자 기기의 안테나에 의해 수신하기 어려운 환경 모두 간단하게 설정할 수 있다.

또한, 편파면이란, 전자파에 있어서 전계의 파동이 진동하는 면을 말하며, 이것이 일정한 평면 형상으로 있는 전자파를 직선편파라고 한다. 통상의 안테나로부터 방사되는 전파는 직선편파이다.

청구 범위 제14항에 따른 발명은, 청구 범위 제12항 또는 제13항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 측정용 안테나와 상기 전자 기기의 안테나 거리가, 상기 측정용 안테나로부터 방사되는 전파의 파장(λ) 이상인 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 시험 상자의 내부에 있어서, 먼 곳 전자계의 영역에 전자 기기의 안테나를 배치하는 것이 가능해져, 전계 강도가 안정된 위치에서 전자 기기의 시험을 행할 수 있다. 이에 의해, 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

또한, 먼 곳 전자기계의 영역이란, 파동 임피던스가 공간의 파동 임피던스(Z₀)와 동일해지는 영역을 의미한다. 측정용 안테나로부터 방사되는 전파는 이 영역에 있어서 평면파에 가까운 전반을 한다.

청구의 범위 제15항에 따른 발명은, 청구 범위 제12항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 시험 상자의 내면의 상기 측정용 안테나 부근에는 자성체 시트를 구비하고 있는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 시험 상자의 내부에 배치된 측정용 안테나로부터 방사된 전파에 의한 전자 유도를 억제할 수 있어, 시험 상자의 내부에 와전류가 발생하는 것을 효과적으로 방지할 수 있다.

청구 범위 제16항에 따른 발명은, 청구 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 반송부는, 상기 전자 기기를 유지하는 복수의 유지 수단을 구비하고 있으며, 상기 유지 수단은, 케이블의 일단부가 접속되는 동시에, 상기 케이블과 상기 전자 기기를 전기적으로 접속하는 커넥터를 구비하고 있는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 반송부가, 전자 기기를 유지하는 복수의 유지 수단을 구비하고 있으므로, 전자 기기를 유지 수단에 설치함으로써, 전자 기기를 그 설치순으로, 또한 규칙적으로 시험 상자의 내부에 연속적으로 반입하여 전자 기기의 동작 시험을 행할 수 있다.

또한, 유지 수단은, 케이블의 일단부가 접속되는 동시에 케이블과 전자 기기를 전기적으로 접속하는 커넥터를 구비하고 있으므로, 전자 기기를 유지 수단에 설치함으로써 전자 기기와 커넥터가 접속되어, 이 커넥터를 통하여 전자 기기와 케이블을 전기적으로 접속할 수 있다.

청구의 범위 제17항에 따른 발명은, 청구 범위 제16항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 케이블은 노이즈를 흡수하는 노이즈 흡수체에 피복되어 있는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 케이블이 노이즈 흡수체에 피복되어 있기 때문에, 시험 중에 케이블로부터 발생하는 노이즈를 효과적으로 흡수하여 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

청구 범위 제18항에 따른 발명은, 청구 범위 제16항 또는 제17항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 케이블은 상기 반송부에 설치된 상기 유지 수단에 인접하여 부설되고, 상기 일단부와 반대측의 타단부에 단자를 갖고, 상기 단자는 상기 전자 기기의 상태를 판정하는 시험 유닛에 접속된 외부 단자와, 적어도 시험을 행할 때에 접속되는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 의하면 케이블은, 유지 수단과 접속하는 일단부와 반대측의 타단부에 단자를 갖고, 이 단자가 전자 기기의 상태를 판정하는 시험 유닛에 접속된 외부 단자와, 적어도 시험을 행할 때에 접속됨으로써, 케이블을 통하여 전자 기기가 정상적으로 동작하고 있는지의 여부를 확인할 수 있는 동시에, 전자 기기에 각종 지시를 송신하여 동작시킬 수 있다.

청구의 범위 제19항에 따른 발명은, 청구 범위 제16항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 반송부는 고무계 전파 흡수체로 이루어지는 벨트인 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 반송부가 고무계 전파 흡수체로 이루어지는 벨트이기 때문에, 시험 중에 케이블로부터 발생하는 노이즈를 흡수할 수 있어 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

청구 범위 제20항에 따른 발명은, 청구 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 통로는 그 내부를 통과하는 상기 반송부의 하방에, 외부로부터의 전파를 차폐하는 금속제의 필터를 구비하고 있는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 통로의 내부를 통과하는 반송부의 하방에, 외부로부터의 전파를 차폐하는 금속제의 필터를 구비하고 있기 때문에, 시험 상자의 외부와 내부를 연통하는 통로의 내부를 전반하려고 하는 전파의, 시험 상자의 외부로부터 내부로의 전파도를 더 저하시킬 수 있다.

청구 범위 제21항에 따른 발명은, 청구 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 시험 상자 및 상기 통로 중 적어도 한 쪽은, 내부에 λ/4형 전파 흡수체를 구비하고 있는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, λ/4형 전파 흡수체를 구비하고 있음으로써, 시험 중에 측정용 안테나로부터 방사되는 전파를 효과적으로 흡수할 수 있다. 이에 의해, 전파의 공진 현상을 방지하여 전자 기기의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

또한, 전파의 공진 현상이란, 전파의 차폐성을 갖는 시험 상자의 내부에서 측정용 안테나로부터 전파가 방사되었을 때, 시험 상자의 내부의 벽면에서 전파가 반사를 반복하여 간섭을 일으키는 현상을 의미한다.

청구 범위 제22항에 따른 발명은, 청구의 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치이며, 상기 시험 상자는, 그 내부에 조명을 구비하고 있는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기용 시험 장치에 따르면, 시험 상자의 내부를 밝게 할 수 있다. 또한, 조명으로서는 LED 램프(Light Emitting Diode Lump)가 바람직하다. LED 램프는 형광등과 달리 점멸 시에 노이즈를 거의 발생하지 않기 때문이다.

청구 범위 제23항에 따른 발명은, 청구의 범위 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치를 사용한 전자 기기 시험 방법이며, 복수의 전자 기기를 순서대로, 상기 반송 수단의 상기 반송부에 적재하여 상기 시험 상자의 내부의 소정 위치로 반입하여 상기 전자 기기의 시험을 행한 후, 상기 반송 수단에 의해 상기 시험 상자의 외부로 반출하는 것을 특징으로 한다.

이와 같은 전자 기기 시험 방법에 따르면, 상기한 전자 기기용 시험 장치를 사용하여, 복수의 전자 기기를 순서대로, 반송 수단의 반송부에 적재하여 시험 상자의 내부의 소정 위치로 반입하여 전자 기기의 시험을 행한 후, 반송 수단에 의해 시험 상자의 외부로 반출함으로써, 다수의 전자 기기의 동작 시험을 연속적으로 행할 수 있다.

또한, 이와 같은 전자 기기 시험 방법에 따르면, 상기한 전자 기기용 시험 장치가, 적어도 시험을 행할 때에 외부로부터의 전파를 차폐하는 전파 차폐 수단을 갖는 통로를 구비하고 있으므로, 시험 상자의 전파의 차폐성을 유지한 상태에서 전자 기기의 동작 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

본 발명에 의하면 다수의 휴대 전화 등의 전자 기기의 동작 시험을, 정밀하면서도 연속적으로 행하는 것을 가능하게 하는 전자 기기용 시험 장치 및 전자 기기 시험 방법을 제공할 수 있다.

도 1은 본 발명의 전자 기기용 시험 장치의 일 실시 형태를 도시하는 사시도이다.

도 2는 도 1에 도시하는 전자 기기용 시험 장치의 X-X 단면도이다.

도 3은 도 1에 도시하는 전자 기기용 시험 장치의 Y-Y 단면도이다.

도 4는 일 실시 형태에 따른 전자 기기용 시험 장치를 구성하는 시험 상자의 내면에 형성된 전파 흡수체를 도시하는 단면도이다.

도 5는 도 1에 도시하는 전자 기기용 시험 장치의 Z-Z 단면도이다.

도 6은 일 실시 형태에 따른 전자 기기용 시험 장치를 구성하는 도파관의 외부측의 개구부를 도시하는 정면도이다.

도 7의 (a) 및 (b)는 일 실시 형태에 따른 전자 기기용 시험 장치를 구성하는 슬라이드 도어를 도시하는 단면도이다.

도 8은 일 실시 형태에 따른 전자 기기용 시험 장치를 구성하는 벨트 컨베이어를 도시하는 사시도이다.

도 9는 일 실시 형태에 따른 전자 기기용 시험 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이며 (a)는 시험 상자 및 도파관의 단면도, (b)는 벨트 컨베이어의 단부의 측면도, (c)는 벨트 컨베이어의 단부의 평면도이다.

도 10은 일 실시 형태에 따른 전자 기기용 시험 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이며, (a)는 시험 상자 및 도파관의 단면도, (b)는 벨트 컨베이어의 단부의 측면도, (c)는 벨트 컨베이어의 단부의 평면도이다.

도 11은 일 실시 형태에 따른 전자 기기용 시험 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이며 (a)는 시험 상자 및 도파관의 단면도, (b)는 벨트 컨베이어의 단부의 측면도, (c)는 벨트 컨베이어의 단부의 평면도이다.

도 12는 일 실시 형태에 따른 전자 기기용 시험 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이며, (a)는 시험 상자 및 도파관의 단면도, (b)는 벨트 컨베이어의 단부의 측면도, (c)는 벨트 컨베이어의 단부의 평면도이다.

도 13의 (a)는 변형예에 따른 전자 기기용 시험 장치를 구성하는 개폐문을 도시하는 단면도이며, (b)는 변형예에 따른 전자 기기용 시험 장치를 구성하는 개 폐문을 도시하는 사시도이다.

도 14의 (a)는 다른 변형예에 따른 전자 기기용 시험 장치를 구성하는 개폐문을 도시하는 사시도이며, (b)는 변형예에 따른 전자 기기용 시험 장치를 구성하는 슬라이드 도어를 도시하는 경사도이다.

<부호의 설명>

1 : 전자 기기용 시험 장치

10 : 시험 상자

11 : 하우징

11a : 패널(금속 부재)

12 : 도어

12b : 창

13 : 전파 흡수체

14 : 안테나

14c : 자성체 시트

15 : LED 램프(조명)

20A, 20B : 도파관(통로)

22 : 전파 흡수체

23 : 슬라이드 도어(도어 부재·전파 차폐 수단)

23a : 도어 본체

23b : 고무계 전파 흡수체

24 : 커튼(전파 차폐 수단)

25 : 필터

30 : 벨트 컨베이어(반송 수단)

31 : 벨트(반송부)

33 : 유지 수단

33a : 커넥터

34 : 케이블

40 : 시험 유닛

P : 전자 기기

RT : 외부 단자

T : 단자

이하, 본 발명의 일 실시 형태에 대해서, 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다.

도 1은 전자 기기용 시험 장치의 일 실시 형태를 도시하는 사시도이다. 도 2는 도 1에 도시하는 전자 기기용 시험 장치의 X-X 단면도이며, 도 3은 도 1에 도시하는 전자 기기용 시험 장치의 Y-Y 단면도이다. 도 4는 시험 상자의 내면에 형성된 전파 흡수체를 도시하는 단면도이다. 도 5는 도 1에 도시하는 전자 기기용 시험 장치의 Z-Z 단면도이다. 도 6은 도파관의 외부측의 개구부를 도시하는 정면도이다. 도 7의 (a) 및 (b)는 슬라이드 도어를 도시하는 단면도이다. 도 8은 벨 트 컨베이어를 도시하는 사시도이다.

[전자 기기용 시험 장치]

도 1에 도시한 바와 같이, 전자 기기용 시험 장치(1)는 전자 기기(P)에 대한 시험을 행하는 시험 상자(10)와, 시험 상자(10)의 외부와 내부를 연통하는 동시에 전자 기기(P)의 통로가 되는 도파관(20A, 20B)과, 전자 기기(P)를 반송하는 벨트(31)(반송부)를 갖는 반송 수단인 벨트 컨베이어(30)를 주로 구비하고 있다.

<시험 상자>

도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이, 시험 상자(10)는 금속제의 하우징(11)과, 하우징(11)의 측벽에 설치된 도어(12)와, 하우징(11)과 도어(12)의 내면에 설치된 전파 흡수체(13)와, 하우징(11)의 상벽에 설치된 안테나(14)와, LED 램프(15)(도 5 참조)를 구비하고 있다.

하우징(11)은, 복수의 금속제의 패널(11a)을 골격이 되는 프레임(도시하지 않음)에 용접하여 대략 직육면체의 상자 형상으로 형성되어 있다. 하우징(11)은, 도전성을 갖는 금속제의 패널(11a) 및 프레임(도시하지 않음)으로 형성되어 있으므로, 외부로부터의 전파의 차폐성을 갖는 동시에, 소정의 강성을 갖고, 그 내구성이 높아져 있다. 또한, 복수의 패널(11a)과 프레임(도시하지 않음)이 용접에 의해 접합되어 있으므로, 하우징(11)의 밀폐성, 즉 전파의 차폐성이 높아져 있다.

패널(11a) 및 프레임(도시하지 않음)을 형성하는 금속은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 예를 들어 순금속뿐만 아니라 합금이어도 좋다. 또한, 패널(11a)이나 프레임(도시하지 않음)을, 특히 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형 성한 경우, 원하는 강성을 유지하면서, 하우징(11)의 경량화를 도모할 수 있다. 또한, 알루미늄이나 알루미늄 합금은 독특한 광택을 갖기 때문에, 하우징(11)[시험 상자(10)]은 미관이 우수한 것이 된다.

도어(12)는, 도 3에 도시한 바와 같이 금속제의 패널(12a)로 형성되고, 이 패널(12a)의 정면에서 보아 상방(도 1 참조)에는 창(12b)이 설치되어 있다.

패널(12a)은 하우징(11)의 측면에 힌지(11b)를 통하여 회전 가능하게 설치되어 있어, 도어(12)가 적절하게 개폐 가능한 구성으로 되어 있다. 또한, 도어(12)의 폐문 시에 있어서의 하우징(11)[패널(11a)]과 도어(12)[패널(12a)]의 접촉 부분에는, 전파의 차폐성을 갖는 프레임 형상의 패킹(11c), 예를 들어 도전성 고무 패킹 등을 설치하는 것이 바람직하다. 이에 의해, 도어(12)의 폐문 시에 있어서의 시험 상자(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

창(12b)에는 투명성을 갖는 직사각형 형상의 글래스판이 프레임(12c)에 의해 설치되어 있다. 이에 의해, 전자 기기(P)의 시험을 행하면서, 창(12b)을 통하여 외부로부터 시험 상자(10)의 내부를 시인할 수 있어, 예를 들어 전파를 수신한 것에 의한 착신 램프의 점등의 유무 등을 시인할 수 있다.

또한, 글래스판은 이 창(12b)을 통한 전파의 왕래를 방지하기 위한 전파의 반사성(차폐성)을 갖고 있으므로, 시험 상자(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 이러한 창(12b)으로서는, 예를 들어 글래스판의 편면에 ITO(Indium Tin 0xide: 산화 인듐 주석)막을 형성한 것을 사용할 수 있다.

또한, 전자 기기(P)나 안테나(14)로부터 방사되는 전파가 창(12b)(글래스판) 에 직접 조사되면, 전파가 창(12b)(글래스판)의 표면에서 반사되어, 시험 상자(10)의 내부에서 전파의 공진 현상을 발생시키는 원인이 되므로, 창(12b)은 전자 기기(P)나 안테나(14)로부터 방사되는 전파가 가능한 한 조사하지 않는 위치에 설치하는 것이 바람직하다.

프레임(12c)은 금속제의 틀 부재이며, 창(12b)의 주연부를 덮도록 패널(12a)에 용접되어 있다. 이 프레임(12c)과 창(12b)(글래스판)의 접촉 부분에는 전파의 차폐성을 갖는 패킹(도시하지 않음)을 설치하는 것이 바람직하다. 이에 의해, 창(12b)(글래스판)의 주연부에 있어서의 전파의 차폐성을 확보할 수 있어 시험 상자(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

또한, 패널(12a) 및 프레임(12c)도 하우징(11)과 마찬가지로, 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형성하는 것이 바람직하다. 상기한 하우징(11)[패널(11a)] 및 도어(12)[패널(12a)]는 후기하는 전파 흡수체(13)의 일부로서도 기능하고 있다.

전파 흡수체(13)는 전파를 흡수하는 공지의 일방식(λ/4형)에 근거하는 구조이며, 도 2, 도 3에 도시한 바와 같이 시험 상자(10)[하우징(11)과 도어(12)]의 내면을 덮도록 형성되어 있어, 전자 기기(P)나 안테나(14)로부터 방사된 전파를 시험 상자(10)의 내면에서 반사시키지 않고 유사적으로 흡수하는 것이다. 즉, 전파 흡수체(13)는 전자 기기(P)나 안테나(14)로부터 방사된 전파가 시험 상자(10)의 내면에서 반사된 전파와 공진하는 것을 방지하는 것이다.

전파 흡수체(13)는, 도 4에 도시한 바와 같이 패널(11a)[또는 패널(12a)]과, 그 내면측에 배치된 스페이서(13a)와, 상기 스페이서(13a)의 내면측에 배치되고, 전파의 1/2을 투과시키는 기능을 갖는 저항막 시트(13b)와, 상기 저항막 시트(13b)의 내면측에 배치되어 저항막 시트(13b)를 보호하는 보호막(13c)을 구비하여 구성되어 있다.

스페이서(13a)는, 전자 기기(P)나 안테나(14)로부터 방사된 전파의 파장을(λ)라고 한 경우, 저항막 시트(13b)와 패널(11a)[또는 패널(12a)]의 간격을 λ/4로 설정하기 위한 것으로, λ/4의 두께(D)를 갖고 있다. 스페이서(13a)는 전파의 투과성을 갖고 있으면 어떠한 재료로 형성해도 되고, 예를 들어 발포 스티롤 등으로 형성할 수 있다. 또한, 스페이서(13a)를 발포 스티롤로 형성한 경우, 그 두께(D)를 용이하게 조정할 수 있다.

저항막 시트(13b)는, 그 표면 저항값이 자유 공간의 임피던스(376.7Ω)와 대략 동등해지도록 조정된 얇은 시트이다. 이러한 저항막 시트(13b)로서는, 예를 들어 탄소 도전성 도료를 적당한 베이스 시트에 도포한 것이나, ITO막의 저항값을 조정하여 성막한 것 등을 사용할 수 있다.

보호막(13c)은 저항막 시트(13b)의 내면측에 적층되어 있어, 저항막 시트(13b)의 표면을 보호하고 있다. 이러한 보호막(13c)은, 예를 들어 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리카보네이트(PC), 폴리아세탈(POM), 폴리염화비닐(PVC), 폴리에틸렌(PE) 등으로 형성할 수 있다.

여기서, 도 4를 참조하여 전파 흡수체(13)에 의한 전파 흡수의 메커니즘에 대하여 설명한다. 또한, 여기에서는, 설명을 간단하게 하기 위해 전자 기기(P) 또는 안테나(14)로부터 방사된 전파(W1)가 보호막(13c)의 수직 방향으로부터 입사한 경우에 대하여 설명한다.

보호막(13c)에 입사하여 투과한 전파(W1) 중 저항막 시트(13b)를 투과하는 것을 전파(W2)로 하고, 저항막 시트(13b)에서 반사되는 것을 전파(W3)로 한다. 저항막 시트(13b)를 투과한 전파(W2)는 스페이서(13a)의 내부를 진행한 후, 패널(11a)[또는 패널(12a)]에서 반사된다[이것을 전파(W4)로 한다]. 또한, 저항막 시트(13b) 또는 패널(11a)에서의 반사 시에 전파의 위상은 각각 반전한다.

패널(11a)[또는 패널(12a)]에서 반사되어 저항막 시트(13b)에 도달한 전파(W4)는 저항막 시트(13b)에서 반사된 전파(W3)에 대하여 스페이서(13a)의 두께(D)의 2배, 즉 「λ/4×2=λ/2」 진행되어 있어, 전파(W3)의 위상과 전파(W4)의 위상이 반전하게 된다. 이에 의해, 전파(W3)와 전파(W4)는 서로 상쇄되어, 그 결과 저항막 시트(13b)에 입사된 전파(W1)는 유사적으로 흡수되게 되어 있다.

또한, 이러한 전파 흡수체(13)에 있어서, 저항막 시트(13b)와 패널(11a)[또는 패널(12a)]의 간격을 λ/4로 설정할 수 있는 것이면 λ/4의 두께(D)를 갖는 스페이서(13a)는 구비하지 않아도 좋다. 단, 저항막 시트(13b)와 패널(11a)(또는 패널(12a)] 사이는 전파가 투과 가능할 필요가 있다.

안테나(14)는 전자 기기(P)와의 사이에서 전파를 수수하기 위한 것이고, 도 2에 도시한 바와 같이 하우징(11)의 상벽에 형성된 관통 구멍에, 안테나용 도파관(14a)을 통하여 설치되어 있다. 안테나(14)에는 케이블(도시하지 않음)의 일단부가 접속되어 있고, 이 케이블(도시하지 않음)은 안테나용 도파관(14a)의 외부로 인출되어, 그 타단부가 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에 접속되어 있다. 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)은, 안테나(14)로 전파를 방사시키거나, 그 전파의 주파수 대역이나 출력 등을 제어하거나, 안테나(14)가 수신한 전자 기기(P)로부터의 전파를 측정하거나 하는 기능을 갖는 공지의 것을 사용할 수 있다.

또한, 전자 기기(P)의 안테나(도시하지 않음)와 안테나(14)의 거리는, 전자 기기(P)나 안테나(14)로부터 방사되는 전파의 파장(λ) 이상이 되도록 설정하는 것이 바람직하고, 2λ 이상이 되도록 설정하면 더 바람직하다. 이에 의해, 먼 곳 전자기계의 영역에 전자 기기(P)의 안테나(도시하지 않음)를 배치하는 것이 가능해져, 전계 강도가 안정된 위치에서 전자 기기(P)의 시험을 행할 수 있으므로, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

안테나용 도파관(14a)은, 단면이 원형을 나타내고, 일단부[시험 상자(10)의 내부측]가 L자 형상으로 굴곡된, 예를 들어 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형성된 금속제의 통체이며, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 이 안테나용 도파관(14a)은 시험 상자(10)의 외부와 내부를 연통하고 있으며, 그 중공부(내부)에는 안테나(14)에 접속된 케이블(도시하지 않음)이 배선되어 있다. 또한, 안테나용 도파관(14a)의 선단부[시험 상자(10)의 내부측]에는 직사각형 형상의 그라운드 플레이트(14b)가 고정되어 있다.

안테나용 도파관(14a)의 사양은, 그 내부를 전반시키지 않는 전파의 파장을 기초로 하여 설정되어 있다. 구체적으로는, 안테나용 도파관(14a)의 내경 및 길이는, 소정 파장보다도 긴 파장의 전파가, 그 내부를 전반하지 않도록 설정되어 있다. 이에 의해, 시험 상자(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 또 한, 일반적으로 도파관은, 그 개구부의 형상과 치수가 동일하면 도파관이 길어질수록 전파의 차폐 성능이 높아진다. 또한, 도파관의 개구부의 형상에도 의존하나, 개구부의 면적이 작아질수록 도파관을 차폐할 수 있는 전파의 한계 주파수(소정의 주파수)가 높아진다.

안테나용 도파관(14a)의 단면은 원형에 한정되지 않고, 예를 들어 다각형이어도 좋다.

안테나용 도파관(14a)은 하우징(11)의 상벽에 형성된 관통 구멍에 수직 방향의 축 주위로 회전 가능(도 5 참조)하게 설치되어 있다. 그리고, 안테나용 도파관(14a)의 외부측의 단부 부근에는 동력원(예를 들어 모터 등)과, 동력 전달 기구(예를 들어 기어나 벨트 등)와, 제어 기구(안테나의 회전 방향이나 회전 속도 등을 제어한다)를 주로 구비하는 공지의 구동 유닛(도시하지 않음)이 접속되어 있다. 이에 의해, 안테나(14)로부터 방사되는 전파의 편파면과, 전자 기기(P)의 안테나(도시하지 않음)로부터 방사되는 전파의 편파면이 평행 또는 수직으로 되도록 안테나(14)의 축을 회전 조정할 수 있다.

또한, 안테나(14)의 축의 회전 조정은, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 수동으로 행해도 된다.

또한, 하우징(11)의 상벽에 있어서의 안테나(14)의 근방에는, 도 5에 도시한 바와 같이 자성체 시트(14c)를 설치하는 것이 바람직하다. 일반적으로 안테나를 금속 물체에 근접하여 설치하면 금속 물체에 와전류가 흘러 전파의 재방사 등이 일어나 공시체에 대하여 적절하게 방사된 전파에 간섭하여 영향을 부여하는 경우가 있다. 따라서, 안테나를 설치한 벽면(공시체와 반대측의 벽면. 즉, 당해 벽면과 공시체 사이에 안테나가 배치된다)에 자성체 시트를 설치함으로써, 이 영향을 저감할 수 있기 때문이다.

LED 램프(15)는 시험 상자(10)의 내부를 비추기 위한 조명이며, 도 5에 도시한 바와 같이 하우징(11)의 상벽에 설치되어 있다. 이에 의해, 예를 들어 전자 기기(P)를 시험하는 동안 시험 상자(10)의 내부를 비춤으로써 전자 기기(P)를 보기 쉽게 되어 있다. LED 램프(15)는 형광등과 달리 점멸 시에 있어서의 노이즈가 대부분 발생하지 않으므로, 시험 상자(10)의 내부를 비추는 조명으로서 적절하게 사용할 수 있다.

또한, LED 램프(15)의 설치 위치나 그 배치, 개수 등은 적절하게 설정할 수 있고, 도 5에 도시하는 구성에 한정되는 것이 아니다. 또한, 시험 상자(10)의 내부를 비추는 조명은 LED 램프(15)에 한정되지 않고, 예를 들어 할로겐 램프나 백열 등 등이어도 좋다.

이상과 같은 시험 상자(10)에 따르면, 외부로부터의 전파의 차폐성 및 내부에서 방사된 전파를 흡수하는 전파 흡수성[전파 흡수체(13)]을 가지므로, 외부에서 발생한 전파가 시험 상자(10)의 내부에 도달하는 것을 방지할 수 있는 동시에, 내부에서 발생한 전파[전자 기기(P)나 안테나(14)로부터 방사된 전파]를 흡수함으로써 전파의 반사에 의한 공진을 방지할 수 있다.

<도파관>

도 2, 도 3에 도시한 바와 같이, 도파관(20A, 20B)은, 시험 상자(10)의 외부 와 내부를 연통하는 통로이며, 전자 기기(P)는 도파관(20A, 20B)의 내부를 통해 시험 상자(10)로 반입되는 동시에 시험 상자(10)로부터 반출된다. 도파관(20A, 20B)은, 소정 파장보다 긴 파장의 전파를 전반하지 않는다고 하는 특성을 갖고 있다.

도파관(20A)과 도파관(20B)은 직선 상에 배치되고, 도파관(20A, 20B) 각각의 일단부가 시험 상자(10)의 내부로 돌출되도록 시험 상자(10)의 대향하는 측벽의 한 쪽에 도파관(20A)이, 다른 쪽에 도파관(20B)이 각각 고정되어 있다.

또한, 본 실시 형태에서는 전자 기기(P)가 시험 상자(10)로 반입되는 입구측 통로를 도파관(20A)으로 하고 전자 기기(P)가 시험 상자(10)로부터 반출되는 출구측 통로를 도파관(20B)으로 한다.

도파관(20A, 20B)은, 각각 도파관 본체(21)와, 도파관 본체(21)의 내면에 설치된 전파 흡수체(22)와, 도파관 본체(21)의 개구부(21a)에 설치된 슬라이드 도어(23)와, 도파관 본체(21)의 내부에 설치된 복수의 커튼(24)과, 도파관 본체(21)의 개구부(21a, 21b)에 설치된 필터(25)를 구비하고 있다.

도파관 본체(21)는 도 6에 도시한 바와 같이 단면이 직사각형을 나타내고, 예를 들어 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형성된 금속제의 통체이며, 전파의 차폐성을 갖고 있다. 도파관 본체(21)는 시험 상자(10)의 외부와 내부를 연통하고 있으므로, 그 중공부(내부)를 경유하여 시험 상자(10)로 전자 기기(P)를 반출입할 수 있게 되어 있다.

또한, 본 실시 형태에서는, 통체인 도파관 본체(21)의 양단부의 개구부 중, 시험 상자(10)의 외부에 위치하는 것을 개구부(21a)로 하고 시험 상자(10)의 내부 에 위치하는 것을 개구부(21b)로 한다.

도파관 본체(21)의 직사각형의 단면을 구성하는 변(S1)과 변(S2)은 도파관 본체(21)의 내부를 전반시키지 않는 전파의 파장을 기초로 하여 설정되어 있다. 구체적으로는, 도파관 본체(21)의 변(S1)과 변(S2)은 소정 파장보다 긴 파장의 전파가, 도파관 본체(21)의 내부를 전반하지 않도록 설정되어 있다. 이에 의해, 도파관 본체(21)의 중공부를 통하여 설정된 파장보다 긴 파장의 전파의 전반을 방지할 수 있으므로, 시험 상자(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다.

또한, 개구부의 형상과 치수가 동일하면, 도파관이 길어질수록 전파의 차폐 성능이 높아지고, 개구부의 면적이 작아질수록 도파관을 차폐할 수 있는 전파의 한계 주파수가 높아지는 것은 상기한 안테나용 도파관(14a)과 마찬가지이다.

도파관 본체(21)의 단면은, 직사각형에 한정되지 않고, 예를 들어 원형이나 다각형(직사각형을 제외한다)이어도 좋다.

전파 흡수체(22)는 도파관 본체(21)의 내면을 덮도록 형성되어 있어 도파관 본체(21)의 내부를 전반하려고 하는 전파를 흡수함으로써 도파관 본체(21)의 전파의 비전반성을 높이는 것이다.

이 전파 흡수체(22)를 구비함으로써, 전자 기기(P)의 통로인 도파관(20A, 20B)은, 그 내측에 전파를 흡수하는 전파 흡수성을 갖는다.

이와 같은 전파 흡수체(22)로서는, 예를 들어 쌍극자형이라고 불리는 전파 흡수 시트를 사용할 수 있다. 쌍극자형의 전파 흡수 시트로서는, 예를 들어 (1) 카본 분말, 산화티탄 등의 화합물로 형성되어, 이들 화합물이 갖는 전계를 이용하 여 전파를 흡수하는 시트나, (2) 페라이트, 카르보닐 철 등의 화합물로 형성되어, 이들 화합물이 갖는 자계를 이용하여 전파를 흡수하는 시트나, (3) 수지(예를 들어 폴리우레탄 등)와 자성체의 복합체로 형성되는 전파를 흡수하는 시트 등을 들 수 있다. 구체적으로는, 예를 들어 동양 서비스사 제품의 루미디온(등록상표)이나, 히타치 금속사 제품의 HTD-101 등을 사용할 수 있다. 또한, 상기한 전파 흡수체(13)와 마찬가지로 λ/4형의 전파 흡수체를 사용할 수도 있다. 또한, λ/4형의 전파 흡수체에 대해서는 상기했으므로, 여기에서는 설명을 생략한다.

슬라이드 도어(23)는 도파관 본체(21)의 개구부(21a)에 개폐 가능하게 설치되고, 적어도 시험을 행할 때에, 도파관 본체(21)의 개구부(21a)를 폐색하여 외부로부터의 전파를 차폐하는 도어 부재이다. 슬라이드 도어(23)는, 도 7에 도시한 바와 같이 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 이루어지는 도어 본체(23a)와, 도어 본체(23a)의 외면에 부착된 고무계 전파 흡수체(23b)를 구비하여 구성되어 있다. 고무계 전파 흡수체는, 예를 들어 에틸렌프로필렌 고무나 클로로프렌 고무에 카본블랙, 자성체 분말 등을 배합한 후, 혼련하여 롤로 가압하여 시트 형상으로 성형한 것이며, 광대역 전파 흡수체인 것이 바람직하다.

슬라이드 도어(23)의 개폐 수단은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 공지의 개폐 수단을 사용할 수 있다. 예를 들어, 도 7의 (a)에 도시한 바와 같이 도어 본체(23a)의 상부에 설치한 와이어(23c)를, 권취 기구(23d)에 의해 권취함으로써 개문(개폐)되도록 해도 되고, 도 7의 (b)에 도시한 바와 같이 도어 본체(23a)에 형성한 랙부(23e)를 모터(도시하지 않음) 등에 접속된 피니언(23f)에 맞물리게 하 여 개폐하도록 해도 된다.

이와 같은 슬라이드 도어(23)에 의하면 도파관 본체(21)의 중공부(내부)를 통과하려고 하는 전파의 일부가, 알루미늄판 또는 알루미늄 합금판으로 이루어지는 도어 본체(23a)에 의해 반사되는 동시에, 도어 본체(23a)의 외면에 부착된 고무계 전파 흡수체(23b)에 의해 흡수되므로, 전파의 전반도를 저하시킬 수 있다. 또한, 슬라이드 도어(23)는 적어도 시험을 행할 때에 도파관 본체(21)의 개구부(21a)를 폐색하므로, 시험을 행할 때의 시험 상자(10)의 전파의 차폐성을 양호하게 유지할 수 있다. 또한, 슬라이드 도어(23)의 개폐 동작은, 후기하는 벨트 컨베이어(30)[벨트(31)]의 움직임에 연동하여 행해지도록 설정되어 있으나, 이것에 대해서는 후기한다. 또한, 본 실시 형태에서는 도파관 본체(21)의 개구부(21a)에 슬라이드 도어(23)를 설치하고 있으나, 도파관 본체(21)의 중앙부에 슬릿(도시하지 않음)을 형성하여, 그 슬릿에 슬라이드 도어를 삽입하도록 해도 좋다. 이 경우, 슬릿과 슬라이드 도어의 간극에 도전성 고무나 알루미늄 박 등을 끼우는 구조로 하면, 전파의 차폐성이 양호하게 유지된다.

커튼(24)은, 도전포로 이루어지는 비교적 부드러운 천 형상의 것이고, 도 2에 도시한 바와 같이 도파관 본체(21)의 내부에 복수 설치되어 있다. 도전포란, 금속 성분을 포함하는 천이며, 구체적으로는 금속 섬유와 고분자 섬유의 복합 섬유로 이루어지는 천 외에, Ni나 Cu 등의 금속을 도금한 고분자 섬유로 이루어지는 천 등을 들 수 있다. 이러한 커튼(24)에 따르면, 도파관 본체(21)의 중공부(내부)를 통과하려고 하는 전파의 일부가, 커튼(24)에 포함되는 금속 성분에 의해 회절 손실 을 일으키므로, 전파의 전반도를 저하시킬 수 있다. 구체적으로는, 전파의 전반도를 30 내지 40㏈ 정도로 저하시킬 수 있다.

또한, 커튼(24)은 비교적 부드러운 천이기 때문에, 전자 기기(P)의 시험 상자(10)로의 반출입 시에 전자 기기(P)와 커튼(24)이 접촉해도 전자 기기(P)에 흠집을 생기게 하는 일이 없다고 하는 이점을 갖는다.

또한, 본 실시 형태에 있어서는, 도 2에 도시한 바와 같이 1매의 커튼(24)을 도파관 본체(21)의 내부[개구부(21b)를 포함한다]의 3개소에 설치한 구성하고 있으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 커튼(24)을 설치하는 장소를 2개소 이하 또는 4개소 이상으로 해도 좋고, 1개소에 설치하는 커튼(24)의 매수를 복수매로 해도 좋다.

필터(25)는, 예를 들어 알루미늄이나 알루미늄 합금 등으로 이루어지는 금속제의 메쉬가 복수 포개어진 메쉬 적층체이며, 도 2, 도 6에 도시한 바와 같이 도파관 본체(21)의 개구부(21a, 21b)의, 후기하는 벨트(31)[벨트 컨베이어(30)]의 하방에 설치되어 있다. 도파관 본체(21)의 개구부(21a) 및 내부에는, 벨트(31)[벨트 컨베이어(30)]의 상방에 전파 차폐 수단[슬라이드 도어(23) 및 커튼(24)]이 설치되어 있으나, 전파의 전반도를 더 확실하게 저하시키기 위해 벨트(31)의 하방에도 이러한 필터(25)를 구비하는 것이 바람직하다. 필터(25)의 내부에서는, 금속제의 메쉬 적층체에 의해 회절 손실이 일어나 전파의 전반도를 확실하게 저하시킬 수 있다.

또한, 필터(25)와 벨트(31)의 간극에는 고무계 전파 흡수체 등으로 형성된 시일 부재(26)를 구비하는 것이 바람직하다. 또한, 상기한 시일 부재(26) 대신에, 유연성이 있는 고분자 섬유에 금속 박막을 증착한 도전성 브러시를 구비해도 좋다.

이상과 같은 도파관(20A, 20B)에 따르면, 외부로부터의 전파를 차폐하는 전파 차폐 수단[슬라이드 도어(23), 커튼(24)]이나 전파 흡수체(22), 필터(25)를 갖는 전자 기기(P)의 통로가 되는 도파관 본체(21)를 구비하고 있으므로, 시험 상자(10)의 외부와 내부가 연통하고 있어도, 시험 상자(10)의 전파의 차폐성을 양호하게 유지할 수 있다.

<벨트 컨베이어>

도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이, 벨트 컨베이어(30)는 전자 기기(P)를 반송하는 반송 수단이며, 도파관(20A), 시험 상자(10) 및 도파관(20B)의 내부를 통과하도록 배치되어 있다. 벨트 컨베이어(30)는, 전자 기기(P)를 반송하는 반송부가 되는 벨트(31)와, 벨트(31)를 구동하는 롤러를 구비한 테이블(32)과, 벨트(31)의 반송면에 설치된 복수의 유지 수단(33)과, 유지 수단(33)에 접속하는 케이블(34)(도 8 참조)을 구비하고 있다.

벨트(31)는 벨트 컨베이어(30)의 반송부가 되는 무단 형상의 벨트이며, 고무계 전파 흡수체로 형성되어 있다. 벨트(31)는 롤러를 구비한 테이블(32)의 복수의 롤러(32a)에 길게 설치되어 있어, 이 롤러(32a)가 회전함으로써 동력이 전달되어, 벨트(31)가 구동되는, 즉 전자 기기(P)를 반송하는 구성으로 되어 있다.

또한, 롤러를 구비한 테이블(32)은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 공지의 것을 사용할 수 있다. 또한, 롤러를 구비한 테이블(32)은 모든 롤러(32a) 가 회전하여 벨트(31)로 동력을 전달하는 구성이어도 좋고, 롤러(32a)의 일부의 구동 롤러가 회전하여 벨트(31)로 동력을 전달하는 구성이어도 좋다.

유지 수단(33)은, 도 8에 도시한 바와 같이 벨트(31)의 반송면에 있어서 전자 기기(P)를 유지하기 위한 것이고, 벨트(31)의 반송면에 일정한 간격을 두고 복수 설치되어 있다. 이 유지 수단(33)에는, 커넥터(33a)가 유지 수단(33)에 설치된 전자 기기(P)의 접속 단자(예를 들어, 휴대 전화의 통신용 외부 접속 단자 등. 도시하지 않는다)와 대응하는 위치에 설치되어 있다. 이에 의해, 전자 기기(P)를 유지 수단(33)에 설치함으로써, 전자 기기(P)의 접속 단자(도시하지 않음)와 커넥터(33a)를 전기적으로 접속시킬 수 있다.

케이블(34)은, 벨트(31)의 반송면에 설치된 복수의 유지 수단(33)에 인접하여 부설되고, 그 일단부가 유지 수단(33)에 설치된 커넥터(33a)에, 그 타단이 벨트(31)에 고정된 금속판으로 이루어지는 단자(T)에 각각 접속되어 있다. 이에 의해, 전자 기기(P)와 후기하는 시험 유닛(40)을 커넥터(33a), 케이블(34), 단자(T) 및 후술하는 외부 단자(RT)를 통하여 전기적으로 접속할 수 있게 되어 있다. 또한, 단자(T)의 재질은, 본 발명에서는 특별히 한정되지 않고, 순금속뿐만 아니라 합금이어도 좋고, 이들에 도금 처리를 행한 것이어도 좋다.

케이블(34)은, 그 내부를 도통하는 노이즈를 흡수하는 노이즈 흡수체로 피복되어 있다. 이에 의해, 시험 중에 발생하는 노이즈를 효과적으로 흡수할 수 있으므로, 전자 기기(P)의 시험을 정밀하게 행할 수 있다. 또한, 이러한 노이즈 흡수체로서는, 예를 들어 동양 서비스사 제품의 루미디온(등록상표)(ET) 등을 사용할 수 있다.

케이블(34)의 길이는, 그 일단부[유지 수단(33)]가 시험 상자(10)의 내부의 소정 위치(시험 위치)에 위치할 때, 그 타단부[단자(T)]가 벨트 컨베이어(30)의 단부[시험 상자(10)의 입구 방향측] 부근에 위치하는 길이로 되어 있다. 또한, 이러한 케이블(34)을 복수의 유지 수단(33)이 각각 구비하고 있으므로, 벨트(31)의 반송면에는 복수의 케이블(34)이 집합한 케이블 다발(34C)이 유지 수단(33)에 인접하여 부설된다.

이상과 같은 벨트 컨베이어(30)에 따르면, 벨트(31)가 일정한 간격을 두고 설치된 복수의 유지 수단(33)을 구비하고 있으므로, 전자 기기(P)를 유지 수단(33)에 설치함으로써 전자 기기(P)를 설치순으로, 또한 규칙적으로 시험 상자(10)의 내부로 연속적으로 반입하여 전자 기기(P)의 동작의 시험을 행할 수 있다.

[전자 기기 시험 방법]

다음에, 이상과 같이 구성되는 전자 기기용 시험 장치(1)의 동작을 설명하면서, 본 발명의 일 실시 형태에 따른 전자 기기 시험 방법에 대해 적절하게 도면을 참조하면서 설명한다.

도 9 내지 도 12는 전자 기기용 시험 장치의 동작을 설명하기 위한 도면이며, (a)는 시험관 및 도파관의 단면도, (b)는 벨트 컨베이어의 단부의 측면도, (c)는 벨트 컨베이어의 단부의 평면도이다. 또한 벨트(31)에는 복수의 유지 수단(33)이 설치되어 있으나, 설명상 필요가 없으므로, 도 9 내지 도 12의 (b) 및 (c)에 대하여 유지 수단(33)의 도시를 생략했다.

(1) 복수의 전자 기기(P)(P_A, P_B, P_C, P_D, P_E…)를 순서대로, 각각 벨트(31)에 설치된 유지 수단(33)에 설치하고(도 2 참조), 유지 수단(33)에 설치된 커넥터(33a)(도 8 참조)와 전자 기기(P)의 접속 단자(도시하지 않음)를 전기적으로 접속한다. 또한, 전자 기기(P)의 유지 수단(33)에 의한 설치는, 벨트(31)의 정지 시이어도 좋고, 구동 시에 행해도 된다.

(2) 유지 수단(33)에 설치된 전자 기기(P)는, 도 2에 도시한 바와 같이 벨트(31)의 구동에 수반하여, 시험 상자(10)의 방향으로 반송되어, 도파관(20A)의 내부를 통과하여 시험 상자(10)의 내부로 반송(반입)된다. 그리고, 도 9의 (a)에 도시한 바와 같이, 전자 기기(P_B)의 시험 종료후, 전자 기기(P_C)가 시험 상자(10)의 내부의 소정 위치(시험 위치)로 반송된다.

여기서, 슬라이드 도어(23)는 벨트(31)의 구동 시에는 개문 상태로 되고, 벨트(31)의 정지 시에는 폐문 상태로 되도록 제어 유닛(예를 들어 컴퓨터 등. 도시하지 않음)에 의해 제어되고 있다. 따라서, 벨트(31)가 구동하여 전자 기기(P_C)가 반송되고 있을 때에는, 슬라이드 도어(23)는 개문 상태에 있으므로, 전자 기기(P_C)를 시험 상자(10)의 내부로 반입하는 것이 가능해진다.

또한, 도파관(20A)의 내부를 통과하는 전자 기기(P_C)는 도파관(20A)의 내부에 설치된 복수의 커튼(24)과 접촉하게 되나, 상기한 바와 같이 커튼(24)은 비교적 부드러운 천이기 때문에, 전자 기기(P_C)에 흠집을 내는 일은 없다.

(3) 전자 기기(P_C)가 시험 상자(10)의 내부의 시험 위치에 도달하면, 도 10의 (a)에 도시한 바와 같이, 제어 유닛(도시하지 않음)은, 벨트(31)를 정지시키는 제어를 실행하는 동시에, 슬라이드 도어(23)를 폐문시키는 제어를 실행한다.

또한, 제어 유닛(도시하지 않음)이, 벨트(31)를 정지시키는 제어를 실행하는 타이밍은, 예를 들어 벨트(31)를 구동시키는 구동원(예를 들어 모터 등)의 구동축이 소정 횟수 회전한 경우, 즉 벨트(31)[유지 수단(33)]가 소정 거리 또는 소정 시간 이동한 경우나, 시험 상자(10)의 내부 및/또는 벨트 컨베이어(30)에 설치된 센서(도시하지 않음)가 유지 수단(33)의 시험 위치 도달을 검지한 경우로 할 수 있다.

전자 기기(P_C)를 설치한 유지 수단(33)이 시험 위치에 있을 때, 그 일단부가 유지 수단(33)에 접속된 케이블(34)(도 8 참조)의 타단부측의 단자(T_C)는, 도 10의 (b)에 도시한 바와 같이 벨트 컨베이어(30)의 단부(30E)에 위치한다. 또한, 단부(30E)는 시험 상자(10)의 입구 방향측의 단부이다.

단부(30E)의 부근에는 도 10의 (b) 및 (c)에 도시한 바와 같이 시험 유닛(40)과, 시험 유닛(40)에 접속하는 외부 단자(RT)가 설치되어 있다. 시험 유닛(40)은 전자 기기(P)의 전파의 수신 상태를 검출하여 전자 기기(P)가 정상적으로 동작하고 있는지의 여부를 판정하는 동시에, 전자 기기(P)에 각종 지시를 송신하여 동작시킬 수 있는 장치이다.

또한, 이때, 도 10의 (a)에 도시한 바와 같이 도파관(20A)의 내부에는 다음 에 시험이 행하여지는 전자 기기(P_D)가 반입되고, 도파관(20B)의 내부에는 전자 기기(P_C) 전에 시험이 종료된 전자 기기(P_B)가 위치하고 있다. 또한, 도파관(20A)의 외부에는 시험 전의 전자 기기(P_E)(도시하지 않음)가 위치하고, 도파관(20B)의 외부에는 전자 기기(P_B) 전에 시험이 종료된 전자 기기(P_A)(도시하지 않음)가 반출되어 있다.

(4) 벨트(31)가 정지하면 제어 유닛(도시하지 않음)은, 도 11의 (b) 및 (c)에 도시한 바와 같이 외부 단자(RT)를 회전시키는 제어를 실행한다. 외부 단자(RT)가 회전하면 그 선단부 부분과 단자(T_C)가 전기적으로 접속하여 전자 기기(P_C)와 시험 유닛(40) 사이에서 전기 신호의 수수를 할 수 있게 된다. 그 후, 도 11의 (a)에 도시한 바와 같이 안테나(14)로부터 전자 기기(P_C)로 전파를 방사한다.

(5) 전자 기기(P_C)의 동작의 시험은, 안테나(14)로부터 전파를 방사하면서, 전자 기기(P_C)의 전파의 수신 상태를 시험 유닛(40)에 의해 검출함으로써 행하여진다. 시험 유닛(40)에서는 전자 기기(P_C)의 전파의 수신 상태를 검출하여 전자 기기(P)가 정상적으로 동작하고 있는지의 여부를 판정한다. 이때, 안테나(14)를 회전 구동시킴으로써, 수평파 및 수직파에 관하여 시험을 행할 수 있다. 또한, 상기한 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에 의해, 안테나(14)로부터 방사되는 전파의 강도나 주파수 대역 등을 변화시켜 시험을 행할 수도 있다.

(6) 전자 기기(P_C)의 동작의 시험이 종료되면 제어 유닛(도시하지 않음)은 외부 단자(RT)를 역방향으로 회전시키는 제어를 실행하여 외부 단자(RT)와 단자(T_C)의 전기적인 접속을 해제한다[도 10의 (b) 및 (c) 참조]. 그리고, 다시 벨트(31)를 구동시키는 제어를 실행하여 도 12의 (a)에 도시한 바와 같이 전자 기기(P_C)의 반송을 개시하는 동시에, 슬라이드 도어(23)를 개문시키는 제어를 실행한다. 이에 의해, 전자 기기(P_C)가 도파관(20B)의 내부를 통과하여 시험 상자(10)의 외부 방향으로 반송(반출)되는 동시에, 시험 상자(10)의 내부의 시험 위치로 이어서 시험이 행하여지는 전자 기기(PD)가 반송된다.

이상이 전자 기기용 시험 장치(1)의 일련의 동작 및 전자 기기 시험 방법이다.

이와 같은 전자 기기 시험 방법에 따르면, 복수의 전자 기기(P)(P_A, P_B, P_C, P_D, P_E…)를 순서대로 벨트 컨베이어(30)의 벨트(31)에 설치된 유지 수단(33)에 설치하여 시험 상자(10)의 내부의 시험 위치로 반입하여, 시험을 행한 후, 시험 상자(10)의 외부로 반출함으로써, 다수의 전자 기기(P)의 동작의 시험을 연속적으로 행할 수 있다.

또한, 이와 같은 전자 기기 시험 방법에 따르면, 시험을 행할 때에 외부로부터의 전파를 차폐하는 슬라이드 도어(23)가 도파관(20A, 20B)[도파관 본체(21)]의 개구부(21a)를 완전하게 폐색하므로 시험 상자(10)의 전파의 차폐성을 유지한 상태 로 전자 기기(P)의 동작의 시험을 정밀하게 행할 수 있다.

이상, 본 발명의 일 실시 형태에 대하여 설명했으나, 본 발명의 실시 형태는 이것에 한정되는 것이 아니다. 구체적인 구성에 대해서는, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 적절하게 변경이 가능하여, 예를 들어 이하와 같은 변경이 가능하다.

상기한 실시 형태에서는, 전자 기기(P)로서 휴대 전화를 도시하여 설명했으나, 본 발명의 시험 대상이 되는 전자 기기(P)는 휴대 전화에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 휴대 전화와 마찬가지로 전파의 수수를 행하는 PDA(Personal Digital Assistance)나 무선 LAN(Local Area Network) 기능을 구비한 노트형의 퍼스널 컴퓨터 등이어도 좋다. 또한, 외부 전파의 영향을 받는 것이 바람직하지 않은 정밀 측정 기기나 의료 기기 등이어도 좋다. 또한, 외부에 소정값 이상의 전파를 방사하는 것이 바람직하지 않은 가전 기기나 의료 기기 등이어도 좋다.

또한, 시험 상자(10)는 상기한 실시 형태에 한정되지 않고, 예를 들어 전파 암실과 같은 시험원이 그 내부로 출입할 수 있는 대형의 방(시험실)이어도 좋다. 이러한 시험실은, 시험 상자(10)와 마찬가지로 금속제의 하우징에 의해 형성해도 좋고, 예를 들어 전파의 차폐성이나 전파 흡수성을 갖는 콘크리트 구조로 해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 복수의 금속제의 패널(11a)을, 골격이 되는 프레임(도시하지 않음)에 용접하여 하우징(11)을 형성하고 있으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 복수의 금속제의 패널을 볼트 등에 의해 결합하여 형성하는 조립· 분해 가능한 구성으로 해도 좋다. 또한 이와 같은 구성의 경우, 복수의 금속제의 패널의 간극에 전파의 차폐성을 갖는 충전재를 개재시키는 것이 바람직하다. 이에 의해, 하우징(시험 상자)의 전파의 차폐성을 양호하게 유지할 수 있다. 전파의 차폐성을 갖는 충전재로서는, 예를 들어 상하면 중 적어도 한 쪽이 절연층(예를 들어, 종이나 접착층을 겸하는 점착 테이프 등)에 의해 절연된 저항 손실체(예를 들어, 카본 저항 시트, 금속 박막 저항 시트, 열선 차단 필름 등)를 갖는 전자 차폐용 시트체를 사용할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들어 동양 서비스사 제품의 루미디온(등록상 동) IR 등을 사용할 수 있다.

상기한 실시 형태에서는, 도 1에 도시한 바와 같이 도어(12)에 창(12b)이 설치되어 있는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 도어와 창을 각각 따로 설치해도 좋다. 또한, 도어나 창을 각각 복수 설치해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 전파 흡수체(13)를 λ/4형 전파 흡수체로 했으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 패널(11a)[또는 패널(12a)]의 측부터 순서대로 저항막 시트(임피던스 1088Ω), 스페이서(38㎜), 저항막 시트(임피던스 280Ω), 스페이서(38㎜), 보호막(알루미늄판 또는 알루미늄 박)을 배치하는 구성으로 해도 좋다. 이와 같은 구성에 의하면 880㎒ 주변 및 2050㎒ 주변의 2종의 전파를 흡수할 수 있다. 또한, 상기한 전파 흡수체(22)와 마찬가지로 쌍극자형의 전파 흡수 시트를 사용할 수도 있다.

또한, 상기한 바와 같은 전파 흡수체나 전파 흡수 시트는, 안테나용 도파관(14a)의 내면측에도 설치할 수 있다.

상기한 실시 형태에서는, 도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이 전자 기기(P)의 통로가 되는 도파관(20A, 20B)을 직선 상에 배치한 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 시험 상자(10)의 일측면에 도파관(20A)을, 당해 일측면에 대하여 수직 위치에 배치된 측면의 한 쪽에 도파관(20B)을 설치하고, 도파관(20A, 20B)을 평면에서 보아 L자 형상으로 배치한 구성으로 해도 좋다(도시하지 않음). 또한, 시험 상자(10)의 동일 측면에 도파관(20A, 20B)을 배치한 구성으로 해도 좋다(도시하지 않음). 또한, 도파관(20A, 20B)의 배치에 의해 벨트 컨베이어(30)(반송 수단)의 형상은 적절하게 변경된다.

상기한 실시 형태에서는, 도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이, 2개의 도파관(20A, 20B)을 구비한 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 1개의 도파관으로 반출입을 행하는 구성으로 해도 좋고, 필요에 따라 3개 이상의 도파관을 구비해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 전자 기기(P)의 통로를 도파관(20A, 20B)으로 했으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 도 13에 도시한 바와 같은 금속제(예를 들어, 알루미늄이나 알루미늄 합금 등)의 통체(27)에 전파 차폐 수단(도어 부재 등)을 설치한 구성으로 해도 좋다. 이와 같은 구성이어도, 통체(27)를 형성하는 도전성을 갖는 금속이나, 전파 차폐 수단(도어 부재나 커튼 등)에 의해, 외부로부터의 전파를 차폐할 수 있으므로 시험 상자(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있다. 또한, 도 13의 (a)에 도시한 바와 같이 통체(27)의 내면측에도 상기한 전파 흡수체(22)나 시일 부재(26)(또는, 유연성이 있는 고분자 섬유에 금속 박막을 증착한 도전성 브러시)를 설치할 수 있다.

상기한 실시 형태에서는, 도어 부재를 슬라이드 도어(23)로 했으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 도 13에 도시한 바와 같은 개폐문(28)이어도 좋다.

개폐문(28)은, 힌지(도시하지 않음)를 통하여 통체(27)에 회전 가능하게 설치되어 있으며, 적절하게 개폐 가능한 구성으로 되어 있다. 개폐문(28)은, 상기한 슬라이드 도어(23)와 마찬가지로, 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 이루어지는 도어 본체(28a)와, 도어 본체(28a)의 외면에 부착된 고무계 전파 흡수체(28b)를 구비하여 구성되어 있다. 개폐문(28)의 개폐 수단은, 본 발명에서는 특별히 한정 되지 않고, 공지의 개폐 수단을 사용할 수 있다. 구체적으로는, 예를 들어 도어 본체(28a)의 하부에 설치한 와이어나 체인 등을, 권취 기구에 의해 권취함으로써 개문(개폐)할 수 있다(도시하지 않음).

또한, 도 14의 (a)에 도시한 바와 같이 한 쌍의 개폐문(281, 282)을 구비하는 구성으로 해도 된다(소위 좌우 여닫이문형). 또한, 도 14의 (b)에 도시한 바와 같이, 한 쌍의 슬라이드 도어(231, 232)를 구비하는 구성으로 해도 된다(소위 양 미닫이문형).

이상과 같은 도어 부재도, 상기한 슬라이드 도어(23)와 마찬가지로 제어 유닛(도시하지 않음)에 의해 적어도 시험을 행할 때에, 통로[도파관(20A, 20B)이나 통체(27) 등]의 개구부를 폐색하여 외부로부터의 전파를 차폐하도록 도어의 개폐가 제어된다. 또한, 도 14도의 (a)에 도시하는 개폐문(281, 282)의 경우, 전자 기 기(P)가 통과할 때에 전자 기기(P)[유지 수단(33)] 자신에 의해 도어가 직접 밀어 열려지고, 전자 기기(P)가 통과한 후, 힌지(도시하지 않음)에 설치된 스프링 등의 압박 수단에 의해 폐문되는 구성으로 된다.

상기한 바와 같은 도어 부재[슬라이드 도어(23)를 포함한다]의 개폐 방향은, 도시한 방향에 한정되는 것이 아니라, 적절하게 설정할 수 있다. 또한, 도어 부재의 개폐 방향은 입구측 통로와 출구측 통로에서 서로 다른 방향이어도 좋다.

상기한 실시 형태 및 변형예에서는, 도 2, 도 13에 도시한 바와 같이 도어 부재[슬라이드 도어(23), 개폐문(28) 등]를 통로[도파관(20A, 20B), 통체(27)]의 외부측의 개구부(예를 들어 참조 부호 21a)에 설치하고, 통로의 내부측의 개구부나, 통로의 내부에는 커튼(24)을 설치한 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 즉, 통로의 내부측의 개구부[예를 들어(21b)]나, 통로의 내부에도 도어 부재를 설치한 구성으로 해도 좋다. 또한, 이와 같은 구성에, 또한 커튼(24)을 병용하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 도어 부재를 하나의 통로에 복수 설치할 경우, 동일 종류의 도어 부재뿐이어도 좋고, 다른 종류의 도어 부재를 조합해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 도 2, 도 13에 도시한 바와 같이, 통로[도파관(20A, 20B)이나 통체(27) 등]의 내부측의 개구부나, 통로의 내부에 커튼(24)을 설치한 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 커튼(24) 대신에 비교적 얇은 고무계 전파 흡수체를 설치한 구성으로 해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 금속제의 필터[필터(25)]를 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 이루어지는 메쉬가 복수 포개어져 이루어지는 메쉬 적층체로 했으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 알루미늄 또는 알루미늄 합금의 작은 조각(금속편)이 집합하여 구성된 알루미늄편 필터이어도 좋고, 스틸이나 스테인리스로 이루어지는 메쉬를 복수 포갠 메쉬 적층체이어도 좋다.

상기한 실시 형태 및 변형예에서는 하우징(11), 도어(12), 도파관 본체(21), 통체(27), 도어 본체(23a, 28a) 등을 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형성하고 있으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 스틸, 스테인리스, 구리 등을 사용할 수도 있다. 또한, 하우징(11) 등을 금속제로 함으로써, 외부로부터의 전파의 차폐성이나, 강성 등을 높이는 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 예를 들어 전파의 차폐성을 갖는 판재로 형성해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 반송 수단을, 롤러를 구비한 테이블(32)의 복수의 롤러(32a)에 길게 설치된 벨트(31)를 반송부로 하는 벨트 컨베이어(30)로 했으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 넷 컨베이어, 메쉬 컨베이어, 에어 컨베이어 등이어도 좋다. 또한, 전자 기기(P)를 시험 상자(10)의 내부로 반입하고 시험 상자(10)의 내부로부터 반출하기 위해서는 적어도 반송부[예를 들어 벨트(31) 등]의 반송면이, 시험관(10) 및 통로[도파관(20A, 20B), 통체(27)]의 내부를 통과하는 구성이면 충분하다. 또한, 이들 반송 수단은 전파를 투과하기 쉬운 비도전성의 재질, 구체적으로는 수지, 고무, 세라믹, 목재 등으로 구성되어 있는 것이 바람직하다.

상기한 실시 형태에서는, 유지 수단(33)이 전자 기기(P)로서의 휴대 전화를 그 송화구측으로부터 시험 상자(10)의 내부로 반입하도록 벨트(31)에 설치되어 있 으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 휴대 전화의 안테나측에 의해 시험 상자(10)의 내부로 반입하도록 벨트(31)에 설치해도 좋고, 휴대 전화가 개구부(21a)에 대하여 횡방향이 되도록 벨트(31)에 설치해도 좋다. 또한, 유지 수단(및 커넥터)의 형상이나 크기 등이 전자 기기(P)의 종류에 맞게 적절하게 변경되는 것은 당연한 사항이다.

상기한 실시 형태에서는, 유지 수단(33)에 전자 기기(P)를 설치하여 반송하는 구성하고 있으나, 이것에 한정되지 않고, 유지 수단(33)을 설치하지 않는 벨트(31)의 반송면에 전자 기기(P)를 직접 적재하여 반송하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 이와 같은 구성의 경우, 케이블(34)의 일단부에 설치한 커넥터(도시하지 않음)를 전자 기기(P)의 접속 단자에 접속함으로써, 적어도 시험을 행할 때에 전자 기기(P)와 시험 유닛(40)을 전기적으로 접속하는 것이 가능해진다.

상기한 실시 형태에서는, 단자(T)와 외부 단자(RT)의 접속을, 시험 상자(10)의 입구 방향측에 있는 벨트 컨베이어(30)의 단부(30E)에서 행하는 구성으로 했으나, 시험 상자(10)의 출구 방향측에 있는 단부에서 행하는 구성으로 해도 좋다. 또한, 단자(T)와 외부 단자(RT)의 접속 방법은 상기한 실시 형태(도 11 참조)에 한정되는 것이 아니다.

상기한 실시 형태에서는, 시험 유닛(40)과 외부 단자(RT)를 벨트 컨베이어(30)의 단부(30E)의 부근, 즉 시험 상자(10)의 외부에 설치한 구성으로 했으나, 이것에 한정되지 않고, 시험 유닛(40)과 외부 단자(RT)를 시험 상자(10)의 내부에 설치한 구성으로 해도 좋다. 이와 같은 구성의 경우, 예를 들어 케이블(34)을 설 치하지 않고, 유지 수단(33)에 커넥터(33a)와 전기적으로 접속하는 단자(도시하지 않음)를 노출시켜 설치하고, 적어도 시험을 행할 때에 이 단자(도시하지 않음)와 외부 단자(RT)를 전기적으로 접속하는 구성으로 할 수 있다. 또한, 외부 단자(RT)만을 시험 상자(10)의 내부에 설치하는 구성으로 해도 좋다.

또한, 케이블 등을 시험 상자(10)의 내부로부터 외부로 꺼낼 경우[또는, 시험 상자(10)의 외부로부터 내부로 넣을 경우]에는 EMI 덕트(도시하지 않음)를 구비하는 것이 바람직하다. EMI(Electro Magnetic Interference) 덕트는, 전자 방해를 방지하면서, 케이블 등을 시험 상자(10)의 내외에 삽입 관통할 수 있는 덕트이다. 구체적으로는, 예를 들어 케이블에 자성체 테이프 등의 노이즈 흡수체를 둘러 감아, 그 일부를 시험 상자(10)에 설치한 덕트에 통과시킨 것이다. 이것에 따르면, 시험 상자(10)의 전파의 차폐성을 적절하게 유지할 수 있는 동시에, 케이블로부터 발생하는 노이즈를 효과적으로 흡수할 수 있다.

상기한 실시 형태에서는, 도어 부재[예를 들어 슬라이드 도어(23) 등]가 제어 유닛(도시하지 않음)에 의해, 벨트(31)의 구동 시에 개문 상태로 되고, 정지 시에 폐문 상태로 되도록 제어되는 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 벨트 컨베이어(30)에 공지의 센서(도시하지 않음)를 설치하고, 전자 기기(P)[유지 수단(33)]의 통과를 검지함으로써 도어 부재의 개폐를 제어하는 구성으로 해도 좋다.

상기한 실시 형태에서는, 전자 기기용 시험 장치(1)가 1개의 시험 상자(10)와, 한 쌍의 도파관(20A, 20B)(통로)과, 1개의 벨트 컨베이어(30)(반송 수단)를 구 비하는 구성으로 했으나, 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 한쌍의 통로를 갖는 시험 상자(또는 시험실)를 복수 직렬로 배치하고, 1개의 반송 수단에 의해 연통하는 구성으로 해도 좋다. 이와 같은 구성에 의하면 전자 기기(P)에 대하여, 서로 다른 2종 이상의 시험을 연속적으로 행할 수 있다. 또한, 1개의 시험 상자(또는 시험실)에, 복수 쌍의 통로를 병렬로 설치하여 각각에 반송 수단을 구비하는 구성으로 해도 된다.

상기한 실시 형태에서는, 안테나(14)로부터 전자 기기(P)로 전파를 방사하여 전자 기기(P)가 정상적으로 전파를 수신할 수 있는지의 여부를 시험 유닛(40)에 의해 판정하는 전자 기기 시험 방법을 설명했으나, 전자 기기 시험 방법은 이것에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 시험 유닛(40)으로부터 전자 기기(P)에 각종 지시를 송신하여 전자 기기(P)로부터 안테나(14)로 전파를 송신하여 안테나(14)가 수신한 전파를 전파 송수신 유닛(도시하지 않음)에 의해 측정하는 방법이어도 된다.

Claims (25)

1. 전자 기기에 대한 시험을 행하는 시험 상자와,

   상기 시험 상자의 외부와 내부를 연통하는 동시에, 적어도 시험을 행할 때에 외부로부터의 전파를 차폐하는 전파 차폐 수단을 갖는 통로와,

   상기 전자 기기를 반송하는 반송부를 갖는 반송 수단을 구비하는 전자 기기용 시험 장치이며,

   상기 반송부가 상기 통로의 내부를 통과 가능하게 구성되어, 상기 전자 기기를 상기 시험 상자로 반입하는 동시에, 상기 시험 상자로부터 반출하고,

   상기 통로는 내측에 전파 흡수성을 갖고,

   상기 전파 차폐 수단은 도전포로 이루어지는 커튼을 포함하고, 상기 커튼을 상기 통로의 개구부를 포함하는 내부에 설치한 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
2. 제1항에 있어서, 상기 통로는 입구측 통로와 출구측 통로의 쌍으로 구성되며, 상기 입구측 통로와 상기 출구측 통로는 직선 상에 배치된 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
3. 제1항에 있어서, 상기 전파 차폐 수단은, 상기 반송부의 움직임과 연동하여 상기 통로를 개폐하는 도어 부재를 포함하는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
4. 제3항에 있어서, 상기 도어 부재는, 알루미늄판 또는 알루미늄 합금판으로 이루어지는 도어 본체와, 상기 도어 본체에 부착된 고무계 전파 흡수체로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
5. 제1항에 있어서, 상기 통로는 소정 파장보다 긴 파장을 갖는 전파를 전반하지 않는 도파관인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
6. 제1항에 있어서, 상기 시험 상자는, 전파의 차폐성을 갖는 금속제의 하우징으로 이루어지는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
7. 제6항에 있어서, 상기 금속제의 하우징은 복수의 금속 부재를 포함하고, 상기 복수의 금속 부재는 용접에 의해 서로 접합되어 있는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
8. 제6항 또는 제7항에 있어서, 상기 금속제의 하우징 및 상기 통로 중 적어도 한 쪽은 알루미늄 또는 알루미늄 합금으로 형성된 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
9. 제1항에 있어서, 상기 시험 상자는, 그 내부를 시인할 수 있는 창을 갖는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
10. 제9항에 있어서, 상기 창은, 전파의 차폐성을 갖는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
11. 제1항에 있어서, 상기 시험 상자는 개폐 가능한 도어를 갖는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
12. 제1항에 있어서, 상기 시험 상자의 내부에, 상기 전자 기기와의 사이에서 전파를 송수신하는 측정용 안테나가 설치되어 있는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
13. 제12항에 있어서, 상기 측정용 안테나로부터 방사되는 전파의 편파면과, 상기 전자 기기의 안테나로부터 방사되는 전파의 편파면이 평행 또는 수직으로 되도록, 상기 측정용 안테나가 그 주위로 회전 가능한 축을 구비한 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
14. 제12항 또는 제13항에 있어서, 상기 측정용 안테나와 상기 전자 기기의 안테나 거리가, 상기 측정용 안테나로부터 방사되는 전파의 파장(λ) 이상인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
15. 제12항에 있어서, 상기 시험 상자의 내면의 상기 측정용 안테나 부근에는 자성체 시트를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
16. 제1항에 있어서, 상기 반송부는, 상기 전자 기기를 유지하는 복수의 유지 수단을 구비하고 있으며,

    상기 유지 수단은, 케이블의 일단부가 접속되고, 상기 케이블과 상기 전자 기기를 전기적으로 접속하는 커넥터를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
17. 제16항에 있어서, 상기 케이블은 노이즈를 흡수하는 노이즈 흡수체로 피복되어 있는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
18. 제16항 또는 제17항에 있어서, 상기 케이블은 상기 반송부에 설치된 상기 유지 수단에 인접하여 부설되고, 상기 일단부와 반대측의 또 다른 단부에 단자를 갖고, 상기 단자는 상기 전자 기기의 상태를 판정하는 시험 유닛에 접속된 외부 단자와, 적어도 시험을 행할 때에는 접속되는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
19. 제16항에 있어서, 상기 반송부는 고무계 전파 흡수체로 이루어지는 벨트인 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
20. 제1항에 있어서, 상기 통로는 그를 통과하는 상기 반송부의 아래에, 외부로부터의 전파를 차폐하는 금속제의 필터를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
21. 제1항에 있어서, 상기 시험 상자 및 상기 통로 중 적어도 한 쪽은, 내부에 λ/4형 전파 흡수체를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
22. 제1항에 있어서, 상기 시험 상자 내에 조명기를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 장치.
23. 제1항에 기재된 전자 기기용 시험 장치를 사용한 전자 기기 시험 방법이며, 복수의 전자 기기를 상기 반송 수단의 상기 반송부에 순서대로 적재하는 단계와, 상기 시험 상자의 소정 위치로 상기 복수의 전자 기기를 반입하여 상기 전자 기기의 각각에 시험을 행하는 단계와, 상기 반송 수단에 의해 상기 시험 상자의 밖으로 상기 복수의 전자 기기를 반출하는 단계를 구비하는 것을 특징으로 하는, 전자 기기용 시험 방법.
24. 삭제
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