JP2003021607A - 互いに隣接する２つの部品の間のつなぎ目の高周波密閉性を検査する方法、機構、およびセンサ - Google Patents

互いに隣接する２つの部品の間のつなぎ目の高周波密閉性を検査する方法、機構、およびセンサ

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 高周波シールドされた筐体を非破壊のまま、
かつ内部に介入することなく、高周波密閉性に関して検
査する。 【解決手段】 隣接する第１および第２の部品２ａ、２
ｂの間のつなぎ目１の高周波密閉性を検査する機構は、
高周波発生器４と、つなぎ目１を越えて高周波信号を伝
える２本の第１および第２の導波管５ａ、５ｂと、測定
装置１０と、分析器とを有する。つなぎ目１で、第１お
よび第２の導波管５ａ、５ｂの、第１および第２の電極
８ａ、８ｂに接続されている外部導体７ａ、７ｂは途切
れているが、内部導体６ａ、６ｂは中継導体９によって
接続されている。つなぎ目１の一方の側での高周波信号
の容量性結合な入力と、他方の側での高周波信号の容量
性結合による出力とが行われる。測定された高周波信号
の伝送率および／または反射率は、つなぎ目１について
固有の透過率または反射率と比較される。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、互いに接する２つ
の導電性部品の間のつなぎ目、特に、電子機器を組み込
むための高周波シールドされた筐体の外装部品の間のつ
なぎ目の、高周波密閉性を検査する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】電子機器は、高周波の電磁交番磁界によ
って引き起こされる妨害に対して影響を受けやすい。し
かし、電子機器はしばしば自らも電磁波を放射する。し
たがって、電磁両立性（ＥＭＶ）を保証するためには、
電子機器を組み込む筐体が、電磁波の侵入と放射に対し
て遮蔽されていなくてはならない。
【０００３】高周波電磁振動に対する筐体の密閉性は、
金属壁のシールド作用に基づいている。その作用を担っ
ているのは、基本的に、２つの物理現象である。すなわ
ち一方では、入射波は、反対方向を向いた電磁波を生成
する高周波電流を各部品で誘導する。それによって入射
電磁波が反射される。また他方では、周波数が高い場合
に生じるスキン効果により、高周波によって引き起こさ
れる電流は、到来波の方を向いている部品表面でしか流
れない。高周波電流の浸透深さは周波数が増すにつれて
小さくなり、比較的低い周波数については、すでに通常
の筐体壁の厚みの明らかに下方に留まっている。その結
果、表面に当たる電磁波は、金属壁を通り抜けて筐体の
内部に到達することがない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】筐体の高周波密閉性に
関して問題となるのは、特に、金属またはその他の導電
性材料でできた隣接する２つの部品の間のつなぎ目、つ
まりたとえば扉と扉枠の間や、側壁と後壁の間のつなぎ
目である。すなわちこのようなつなぎ目では、高周波に
よって誘導された電流の流れが中断され、そのために、
つなぎ目は高周波電磁波に対して透過性になる。したが
って、高周波シールドされた筐体では、隣接する２つの
部品の間のつなぎ目が、導電性に優れた専用の高周波密
閉材によって、高周波放射の侵入や射出に対して封止さ
れる。特に、このような種類の高周波密閉材は、可動な
外装部品の間で用いられ、つまり、たとえば筐体の扉と
扉枠の間などで用いられる。後付けの高周波密閉材で封
止されたつなぎ目をもつ、このような筐体の高周波密閉
性の度合いは、隣接する２つの外装部品の間の高周波密
閉材の品質と、きちんとした取り付けとによって、ほぼ
全面的に決まる。
【０００５】複数の部品からなる筐体が十分な高周波密
閉性を有しているかどうかを検査するには、２つの方法
が通常用いられている。
【０００６】シールド減衰測定では、高周波発信機を筐
体の外部、受信アンテナを筐体の内部にそれぞれ配置
し、もしくはこの逆に配置する。高周波が、閉じた筐体
によって受ける減衰が測定される。この方法の大きな欠
点は、筐体全体のトータルとしての減衰しか常に測定さ
れず、密閉されていない個々の部位については検知でき
ない点にある。さらに別の欠点は、空の筐体でしか測定
ができないことと、測定のために、筐体に修復できない
ほどの加工を施さなくてはならないことにある。すなわ
ち、どうしても、送信アンテナか受信アンテナのいずれ
かを（空の）筐体内部空間に配置して、筐体の開口部に
通した少なくとも１本の回線によって、他の測定器具と
接続しなければならない。つまり、すでに電子部品を備
えている筐体を検査することは不可能であり、たとえ
ば、シールド接触部や高周波密閉材が扉の領域で破損し
ているのか、それとも、筐体が正確に組み立てられてい
ないために個々の高周波密閉材が接触していないのかを
検査することはできない。
【０００７】筐体の高周波密閉性を電流注入によって測
定する第２の方法では、筐体と注入導線の間で高周波電
磁波が生成される。放射された高周波を、筐体内部に配
置しなければならない別の導線または受信アンテナで受
信する。この方法でも、空の筐体しか検査することがで
きない。さらに、ケーブルシールドが、筐体と電気的に
接続されていなければならないという欠点があり、この
ことは、普通は絶縁性の塗装膜が形成されている筐体表
面をどうしても損傷させてしまうこととなる。
【０００８】上述した双方の試験方法に共通する欠点
は、空洞共振によって測定結果の精度が低下してしまう
ことであり、その結果として測定の再現性が悪くなる。
しかし実際、特に問題となるのは、いずれの場合でも、
試験体が修復できないほどの加工が施されるので、たと
えば苦情を受けた場合などに、電子機器を備える筐体の
高周波密閉性を、後から高周波密閉性があるかどうかに
関して再検査できないことである。高周波が通過する個
々の部位を発見することも、公知の方法では不可能であ
る。
【０００９】米国特許明細書第５４７７１５７号より、
金属筐体のつなぎ目を通って低減される電圧を測定する
試験方法が公知である。そのために、信号源を、内部導
体と外部導体を有する同軸ケーブルで成端抵抗と接続す
る。外部導体を除去し、両方の開放端部で、検査される
べき筐体と接触させ、それによって筐体のつなぎ目が両
方の端部の間に位置するようにして、電流が信号源から
筐体のつなぎ目を通って流れるようにする。この供給電
流回路に加えて、これとは分離されている、測定装置
と、２つの接続された電極とからなる第２の測定回路が
設けられている。それぞれ一方の電極が、つなぎ目の各
々の側で筐体と接触している。つなぎ目を通じての電圧
降下を測定装置で測定する。
【００１０】この公知の試験装置にはいくつかの欠点が
ある。接続された同軸ケーブルの内部導体は、設計や幾
何学配置の面から検討したうえで、予め規定された形態
で敷設されなくてはならない。測定結果を狂わせる、供
給された信号の反射を防ぐために、試験装置と成端抵抗
が電気的に整合されていなくてはならない。構造上、試
験装置の小型化が非常にわずかな範囲内でしか行えな
い。
【００１１】供給回路と測定回路が分かれているため
に、試験装置で求めた測定値が、筐体部品の間のつなぎ
目が良好である場合、すなわちつなぎ目が低抵抗である
場合だけでなく、電極を誤って配置した場合や、装置内
部に故障がある場合にも、好ましい結果を出してしまう
という重大な欠点がある。そのために、低抵抗のつなぎ
目と測定誤差とを区別することができない。
【００１２】したがって、本発明の目的は、隣接する２
つの部品の間のつなぎ目、特に筐体の２つの壁部分の間
のつなぎ目を、確実かつ誤差がないように、高周波密閉
性に関して選択的に検査し、しかも、試験体の構造には
いかなる機械的な加工も行わないような、高周波密閉性
を検査する方法、機構、およびセンサを提供することに
ある。
【００１３】
【課題を解決するための手段】上記の目的の解決法は、
隣接する２つの部品のつなぎ目が高周波電磁振動に対し
て透過性であるかどうかを判定するには、伝送率および
／または反射率の絶対値の測定は必ずしも必要ではな
く、また、内部から外部へであれ、逆に外部から内部へ
であれ、各部品を通過するように電磁波を送信すること
が不可欠なわけでもないという考察に基づいている。
【００１４】上述の目的は、まず第１に、互いに接する
２つの導電性部品の間のつなぎ目、特に、電子機器を組
み込むための高周波シールドされた筐体の外装部品の間
のつなぎ目の高周波密閉性を検査する方法において、電
磁振動の高周波信号を生成するステップと、検査される
べきつなぎ目を越えて高周波信号を送るステップと、つ
なぎ目を通る経路上で高周波信号の伝送率および／また
は反射率を測定し、測定された伝送率および／または反
射率を、所定の、つなぎ目の固有の伝送率および／また
は反射率と比較するステップとを有することを特徴とす
る、２つの部品の間のつなぎ目の高周波密閉性を検査す
る方法によって達成される。
【００１５】本発明によれば、検査されるべきつなぎ目
を越えて高周波信号を送り、つなぎ目を通る経路上で信
号の伝送率および／または反射率を測定する。測定した
伝送率および／または反射率を、つなぎ目の幾何学配置
によって予め規定されている固有の伝送率および／また
は反射率と比較することによって、つなぎ目が必要な高
周波密閉性を有しているかどうかを判定することができ
る。この判定をするには、伝送率または反射率について
の測定値が、固有の値とかなり違っているかどうかを判
断するだけで足り、絶対値を測定する必要はない。
【００１６】本発明による方法の大きな利点は、高周波
信号が導電性部品を貫通しなくてよいことにある。それ
により、電子機器を備えている筐体を、通常使用される
ような閉じた状態で、高周波密閉性に関して検査するこ
とが初めて可能となる。この場合、高周波発信機と高周
波受信機は、両方とも筐体の外に配置される。本発明で
提案される方法のさらに別の大きな利点は、つなぎ目の
さまざまな部位で比較測定をすることで、密閉されてい
ない個所をつきとめることができることである。
【００１７】高周波信号は、連続した、異なる周波数の
電磁振動からなっているのが好ましく、伝送率および／
または反射率の推移が、周波数に依存して測定される。
典型的な高周波信号は、同調された正弦波信号からなっ
ている。あるいは、これに代えてステップ信号またはイ
ンパルス信号も利用することができる。なぜなら、この
ような信号には広い周波数スペクトルが含まれているの
で、一定の時間の範囲内での分析が、一定の周波数の範
囲内での検査に相当するからである。
【００１８】それぞれのつなぎ目は、その幾何学配置に
基づいて、高周波信号の周波数に依存して、伝送率およ
び／または反射率の固有の推移を見せる。したがって、
きちんとしたつなぎ目は、伝送率および／または反射率
の固有の推移によって見分けることができ、これは指紋
にたとえることができる。測定された伝送率および／ま
たは反射率の推移が、伝送率および／または反射率の予
想される固有の推移から外れていれば、それはつなぎ目
に不具合があり、高周波に対して透過性であることを物
語っている。
【００１９】高周波シールドされた筐体に見られる特徴
的な問題の１つは、たとえば扉と扉枠の間などで、高周
波密閉材が部分的に密閉されなくなることである。つな
ぎ目の密閉されていない個所をつきとめるには、複数回
の測定を実施して、最初にまず、伝送率および／または
反射率の固有の推移を基準として得る。伝送率および／
または反射率のこのような固有の推移を記憶させてお
く。そして、つなぎ目の特定の個所で測定した伝送率お
よび／または反射率または反射の推移が、記憶されてい
る伝送率および／または反射率の固有の推移と明らかに
違っていれば、その原因は、つなぎ目の領域が密閉され
ていないことにあるはずである。異なる部位で一連の測
定をすることで、申し分なく密閉されているつなぎ目の
領域を、高周波に対して透過性である個所から区別する
ことができる。
【００２０】実際問題としては、伝送率および／または
反射率の測定された推移と、伝送率および／または反射
率の記憶されている固有の推移とを一緒に表示させる画
面を使用すると良いことがわかっている。このようにし
て、伝送率および／または反射率の固有の推移からのず
れを一目で見つけることができる。あるいは、伝送率お
よび／または反射率の測定された推移を、たとえばマイ
クロコンピュータによって数値評価することもできる。
そして、その結果が良い／悪いの表示として出力され
る。これは視覚的に行うことも聴覚的に行うこともでき
る。
【００２１】本発明の方法の有利な他の実施態様では、
高周波信号が、検査されるべきつなぎ目の一方の側で入
力されて、これと向き合うつなぎ目の他の側で再び出力
され、この場合、導電性部品への高周波信号の入力と出
力は容量性結合により行うのが目的に適っている。それ
により、たとえば塗装などの絶縁保護膜を傷つけず、し
たがって完全に非破壊のやり方で、電子装置で内部が満
たされている筐体であっても、その高周波密閉性に関し
て検査することが初めて可能となる。
【００２２】本発明の方法を実施するために、互いに接
する２つの導電性部品の間のつなぎ目、特に、電子機器
を組み込むための高周波シールドされた筐体の外装部品
の間のつなぎ目の高周波密閉性を検査する機構であっ
て、電磁振動の高周波信号を生成する高周波発生器を備
えている機構は、高周波信号を、高周波発生器から、検
査されるべきつなぎ目を越えて伝送する高周波回線と、
つなぎ目を通る高周波信号の伝送率および／または反射
率を測定する測定装置と、測定された伝送率および／ま
たは反射率を、所定の、つなぎ目の固有の伝送率および
／または反射率と比較する分析器とを備えていることを
特徴とする、２つの部品の間のつなぎ目の高周波密閉性
を検査する機構が役立つ。この機構は、それ自体公知の
仕方で、高周波測定信号を生成する高周波発生器を含ん
でいる。この試験機構の主要な構成要素は、高周波信号
を、高周波発生器から検査されるべきつなぎ目を越えて
導く高周波回線であり、それによって高周波信号は部分
的に減衰および／または反射される。このような影響の
様子が、測定装置によって検出される。分析器は、伝送
率および／または反射率の測定値と、所定の固有値とを
比較する。大きな差があれば、それはつなぎ目に不具合
があることを示している。
【００２３】高周波発生器としては、同調可能な周波数
発生器を用いるのが好ましい。高周波信号は、特に、遮
蔽されるべき高周波放射の周波数領域にほぼ相当する、
たとえば３０ＭＨｚから１０００ＭＨｚの周波数領域を
有している。
【００２４】測定された最新の実推移と、予測される目
標推移とを比較できるようにするために、分析器は、伝
送率および／または反射率の固有の推移を保存するため
の記憶装置を含んでいるのが好ましい。この比較の結果
を、たとえば測定曲線として画面に表示することができ
る。その代わりに、測定結果を数値評価し、「良い」と
「悪い」の結果を光信号または音響信号として出力する
こともできる。
【００２５】検査されるべきつなぎ目を越えて高周波信
号を流せるようにするには、内部導体と外部導体をもつ
導波管を利用するのがもっとも良い。第１の導波管が高
周波信号をつなぎ目まで伝える。そこで高周波信号は、
つなぎ目の一方の側にある、隣接する両方の部品のうち
の一方に入力される。そのために、第１の導波管の外部
導体と導電接続された第１の電極が設けられている。同
様に構成された第２の導波管が、高周波信号を、つなぎ
目から離れるように測定装置へと伝える。つなぎ目の対
向する側にある他方の部品から、高周波信号を再び出力
させるために、第２の導波管の外部導体と導電接続され
た第２の電極が設けられている。両方の導波管の内部導
体は、中継導体で相互に導電接続されており、この中継
導体はつなぎ目のそばを通っている。
【００２６】内部導体がつなぎ目のそばを通り、外部導
体がつなぎ目の領域で途切れている同軸ケーブルを使う
のが好ましい。つなぎ目の領域には、外部導体がない代
わりに、両方の電極と両方の隣接する導電性部品を配置
する。電磁波は、隣接する部品の表面と、同軸ケーブル
の内部導体との間で、検査されるべきつなぎ目を越えて
進行する。
【００２７】本発明による方法を実施するために、提案
される測定機構の枠内において、互いに接する２つの導
電性部品の間のつなぎ目、特に、電子機器を組み込むた
めの高周波シールドされた筐体の外装部品の間のつなぎ
目の高周波密閉性を検査するセンサは、高周波信号を内
部導体と外部導体の間で伝える第１の導波管と、第１の
導波管の外部導体と導電接続され、つなぎ目の一方の側
にある、互いに隣接する両方の部品のうちの一方に高周
波信号を入力する役目をする第１の電極と、測定装置に
接続するための、内部導体と外部導体とを備える第２の
導波管と、第２の導波管の外部導体と導電接続され、つ
なぎ目の他方の側にある他方の部品から高周波信号を出
力する役目をする第２の電極と、第１の導波管の内部導
体を、第２の導波管の内部導体と導電接続する中継導体
とを備えていることを特徴とする、２つの部品の間のつ
なぎ目の高周波密閉性を検査するセンサが用いられる。
本発明によるセンサは、第１の導波管と、第２の導波管
と、つなぎ目の一方の側で高周波信号を入力するための
第１の電極と、つなぎ目の他方の側で高周波信号を出力
するための第２の電極とを含んでいる。
【００２８】センサのそれぞれの電極は平形に構成され
るのが好ましく、たとえば１つの平面上に位置していて
よい。このようなセンサは、外端が互いに突き合わされ
た２つの平らな部品の間のつなぎ目を検査するのに非常
に好適である。
【００２９】上記に代えて、センサが、互いに直角に配
置された電極を備えていてもよい。このように構成され
たセンサを使えば、角となる配置のつなぎ目、つまり、
たとえば筐体の角と角の継目などを検査することができ
る。
【００３０】最後に、それぞれの電極は、互いに間隔を
おいて平行に配置されていてもよい。それにより、間隙
の中にあるつなぎ目や高周波密閉部をうまく検査するこ
とができる。
【００３１】目的に適った有利な他の実施態様では、セ
ンサが、測定をしようとする筐体の輪郭に合った支持体
を有しており、このとき電極は、この支持体の、筐体の
方を向いている内側に設けられる。このような設計は、
電極が常に所定の相互間隔で、かつ、検査されるべきつ
なぎ目と所定の間隔で配置されることを保証するので、
一連の比較測定を常に変わらない幾何学条件のもとで行
うことができる。
【００３２】さらに、センサが、支持体と連結されたグ
リップを有していると、さまざまな部位で測定を実施す
るために、つなぎ目に沿ってセンサを容易に移動させる
ことができる。両方の導波管は、手作業でのセンサの運
動を妨げないように、グリップに挿通されていてよい。
【００３３】本発明によるセンサの有利な他の実施態様
では、高周波発生器と測定装置がセンサに内蔵されてお
り、高周波発生器は第１の導波管に接続され、測定装置
は第２の導波管に接続される。このようにして、持ち運
びが楽で現場で用いることのできる、コンパクトで扱い
やすい試験装置ができあがる。センサは、測定装置で受
信された信号を評価する分析器も同時に含んでいるのが
好都合であり、この場合、試験の結果は視覚的に、たと
えば赤／緑の発光ダイオードによって出力したり、もし
くは音響的に、たとえば圧電音響変換器によって出力す
ることができる。
【００３４】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
【００３５】図面の中では、同じ部材にはそれぞれ同じ
符号が付けられている。
【００３６】図１に概略的に示している機構は、電子機
器を組み込むための筐体の、隣接する２つの平らな部品
２ａおよび２ｂのつなぎ目１の高周波密閉性を検査する
ためのものである。両部品２ａおよび２ｂの間には、電
気をよく通す材料でできた高周波密閉部３が挿入されて
いる。部品２ａおよび２ｂは、ここでは一例として、金
属でできた平らな外装部品である。高周波発生器が、３
０から１０００ＭＨｚまでの連続した電磁正弦波を発生
する。第１の導波管５ａが、この高周波信号を高周波発
生器４からつなぎ目１まで伝える。この導波管５ａは同
軸ケーブルとして構成されており、高周波信号を伝送す
る内部導体６ａと外部導体７ａを有している。
【００３７】第１の電極８ａが、第１の導波管５ａの外
部導体７ａと導電接続されている。第１の電極８ａは平
らに形成されており、部品２ａの上面に載っている。こ
のようにして、高周波発生器４で発生した高周波信号
は、つなぎ目１の左側にある、両方の隣接する部品のう
ちの第１の部品２ａに容量性結合により入力される。
【００３８】つなぎ目１の他の側では、高周波信号が第
２の部品２ｂから再び出力される。そのために、同じく
同軸ケーブルとして構成され、内部導体６ｂと外部導体
７ｂとを有する第２の導波管５ｂが設けられている。第
２の導波管５ｂの外部導体７ｂは、第２の電極８ｂと導
電接続されている。第２の電極８ｂは、つなぎ目１の右
側にある第２の部品２ｂから高周波信号を容量性結合に
より出力する。
【００３９】導波管５ａ、５ｂの外部導体７ａ、７ｂ
は、この構成では、つなぎ目１の前後で数センチだけ途
切れている。しかし内部導体６ａ、６ｂは中継導体９に
よって相互に導電接続されており、この中継導体９は、
数ミリの間隔をあけてつなぎ目１の上を通っている。
【００４０】つまり両導波管５ａおよび５ｂは、外部導
体がつなぎ目１の領域で途切れているのに対して内部導
体は連続してつながったままの、同軸ケーブルの２つの
部分である。つなぎ目１の領域にない外部導体は、平ら
な電極８ａおよび８ｂと、隣接する部品２ａおよび２ｂ
の表面と、その間に介在する高周波密閉部３とによって
置き換えられている。
【００４１】このようにして、高周波信号はつなぎ目１
を越えて送られるが、このとき高周波信号は、つなぎ目
１の個所で生じる反射によって伝送率の明らかな変化を
起こす。伝送率および／または反射率の大きさは、つな
ぎ目１の幾何学構成によって決まり、特に、両部品２
ａ、２ｂの両方の間隙にある高周波密閉部３の導電性
と、これが正しく装着されているかどうかで決まる。
【００４２】第２の導波管５ｂは、つなぎ目１の後で右
側の部品２ｂから出力された高周波信号を測定装置１０
に送る。測定装置１０は、高周波信号の伝送率の測定値
の数値評価をする分析器と接続されている。伝送率の周
波数特性が画面１１に表示される。
【００４３】図２の電気等価回路図は、測定原理をわか
りやすく示している。
【００４４】高周波発生器４で発生した高周波信号ａ1
は、導波管５ａを通じて、検査されるべきつなぎ目１へ
と送られる。導波管５ａは、既知の特性インピーダンス
ＺL1を有している。高周波信号は、第１の電極８ａを介
して、第１の部品２ａに容量性結合により入力される。
この場合、電極８ａは、キャパシタンスＣ1を有する高
域通過フィルタを形成している。つなぎ目１の対向する
側では、第２の電極８ｂによって高周波信号が他方の部
品２ｂから再び容量性結合により出力される。第２の電
極８ｂは、部品２ｂとともに、キャパシタンスＣ2を有
する高域通過フィルタを形成する。高周波信号をつなぎ
目１から導き出す導波管５ｂは、接続された測定装置Ｃ
とともに、特性インピーダンスＺL2とオーム抵抗ＲAを
有する成端を形成している。
【００４５】中継導体９（図１参照）と、隣接する部品
２ａおよび２ｂと、その間に介在する、高周波密閉部３
を備えるつなぎ目１とによって構成される導波路は、第
１の部品２ａの特性インピーダンスＺM1と、つなぎ目１
の特性インピーダンスＺUと、第２の部品２ｂの特性イ
ンピーダンスＺM2とで構成される特性インピーダンスを
有している。このとき、特性インピーダンスＺM1および
ＺM2は、つなぎ目１に左右されない。つなぎ目１の特性
インピーダンスＺUは、特性インピーダンスＺM 1および
ＺM2と違っており、そのために高周波信号は部分的に反
射される。
【００４６】測定区間の末端に伝送された、高周波信号
の一部ｂ2が、測定装置１０で受信される。反射された
信号の一部ｂ1、ならびに伝送された信号の一部ｂ2は、
つなぎ目１の幾何学的な構成には関係なく、特有の周波
数依存性を示している。つなぎ目１に不具合があると、
すなわち高周波に対して透過性であると、この周波数依
存性が大きく変化し、それによって不良個所を検知する
ことができる。周波数（Ｈｚ）に対する伝送率Ｔ（ｄ
Ｂ）が図示されることとなる。
【００４７】図３は、つなぎ目１について、高周波信号
の伝送の割合の２通りの推移を示している。実線は、つ
なぎ目１の幾何学構成によって決まる、伝送率の固有の
推移である。この推移は、周波数が高くなるに伴っての
低下、および共振に起因する小さな山と谷を示してい
る。破線は、不具合のあるつなぎ目を測定したときに得
られる、伝送率の典型的な推移である。周波数Ｆuのと
ころで信号レベルが著しく低下しているのが明らかにわ
かる。
【００４８】測定のための構成は、つなぎ目の幾何学構
成に合わせて調節されていなくてはならない。つなぎ目
１を形成する隣接する部品２ａおよび２ｂが、１つの平
面上にあるか、コーナーを形成しているか、それとも互
いに平行に配置されているかに応じて、異なる構成のセ
ンサを使用する。
【００４９】図４（ａ）は、共通の平面上にある、隣接
する２つの平らな部品２ａおよび２ｂの間のつなぎ目を
検査するための平形センサを示している。両電極８ａ、
８ｂは平板状に構成されており、同じく１つの平面上に
あり、それぞれの端部が向き合っている。
【００５０】互いに直角に配置されて筐体の角を形成し
ている２つの部品２ａ、２ｂの間のつなぎ目を検査しな
ければならない場合がしばしばある。この角の領域で、
外側から測定をするか、それとも内側から測定をするか
に応じて、図４（ｂ）に示すコーナー型センサか、図４
（ｃ）に示すコーナー型センサかのいずれかを使用す
る。この場合、電極８ａ、８ｂは互いに直角に配置され
ている。
【００５１】図４（ｄ）に示すように、検査されるべき
つなぎ目１が、間隔をおいて互いに平行に配置された部
品２ａ、２ｂの継目で構成されている場合もしばしばあ
る。このように構成されたつなぎ目１は、電極８ａおよ
び８ｂが平行に、かつ互いに間隔をおいて配置されたス
リット型センサで検査するのがいちばん良い。
【００５２】図５（ａ）は、電子機器の筐体１３の高周
波密閉性を、閉じた状態で外部から検査するにはどうす
ればよいかを示している。筐体１３は、図１の測定機構
の部品２ａおよび２ｂに対応する、２つの扉１４ａおよ
び１４ｂを有している。両扉１４ａ、１４ｂの隙間が、
高周波密閉性を検査されるべきつなぎ目３を形成してい
る。これには平形センサ１５が用いられる。
【００５３】図５（ｂ）では、平形センサ１５が、筐体
１３の輪郭に合った支持体１６を有しており、この支持
体１６の、筐体１３の方を向いている実質的に平たい内
面に平板状の両電極８ａ、８ｂが配置されている。さら
に、平形センサ１５は、支持体１６につながっているグ
リップ１７を有しており、このグリップ間に２本の同軸
ケーブル１８ａおよび１８ｂが挿通されている。支持体
１６の、グリップ１７と対向する側には、両方の扉１４
ａ、１４ｂの隙間に入り込むガイドウェブ１９が設けら
れている。
【００５４】図５（ａ）に２つの矢印で示しているよう
に、平形センサ１５を上下にスライドさせることで、扉
１４ａ、１４ｂの間のこのつなぎ目１について、高周波
信号の伝送率および／または反射率の推移をさまざまな
部位で測定することができる。得られた伝送率および／
または反射率の推移を比較することにより、扉１４ａ、
１４ｂの隙間が、その長さ全体にわたって高周波に対し
て密閉されているか、それとも、特定の個所で密閉され
ていないところがあるかを判定することができる。
【００５５】図６（ａ）には、筐体１３の裏側を見るこ
とができる。側面部品２０と裏面部品２１の間のつなぎ
目３の密閉性を検査するには、電極８ａ、８ｂが互いに
直角に配置されたコーナー型センサ２２が用いられる。
図６（ｂ）に示すように、グリップ１７に挿通された同
軸ケーブル１８ａ、１８ｂが、高周波信号を第１および
第２の電極８ａ、８ｂへ供給し、これから導き出す役目
を果たす。
【図面の簡単な説明】
【図１】２つの平らな部品の間のつなぎ目を検査するた
めの機構を模式的に示した原理図である。
【図２】図１の機構を示す電気等価回路図である。
【図３】透過性の異なる２通りの推移を示す比較図であ
る。
【図４】様々なつなぎ目を検査するために種々のセンサ
の模式図である。
【図５】扉と扉の隙間を検査するためのセンサを取り付
けた、キャビネットを示す図、および拡大外観図であ
る。
【図６】角の継目を検査するためのセンサを取り付けた
キャビネットを示す図、および拡大外観図である。
【符号の説明】
１ つなぎ目 ２ａ 第１の部品 ２ｂ 第２の部品 ３ 高周波密閉部 ４ 高周波発生器 ５ａ 第１の導波管 ５ｂ 第２の導波管 ６ａ、６ｂ 内部導体 ７ａ、７ｂ 外部導体 ８ａ 第１の電極 ８ｂ 第２の電極 ９ 中継導体 １０ 測定装置 １１ 画面 １３ 筐体 １４ａ、１４ｂ 扉 １５ 平形センサ １６ 支持体 １７ グリップ １８ａ、１８ｂ 電極 １９ ガイドウェブ ２０ 側面部品 ２１ 裏面部品 ２２ コーナー型センサ ａ1 高周波信号 ｂ1、ｂ2 信号 Ｃ 測定装置 Ｃ1、Ｃ2 キャパシタンス Ｆu 周波数 ＲA オーム抵抗 Ｔ 伝送率 ＺL1、ＺL2、ＺM1、ＺM2、ＺU 特性インピーダンス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ペーター ライセル ドイツ連邦共和国 デー−76337 バルト ブロン ダークヴェーク 15 (72)発明者 ロベルト ベンコ ドイツ連邦共和国 デー−75334 シュト ラウベンハルト−コンヴェイレル ゾンネ ンシュトラーセ ６ (72)発明者 ハンス マーティン シュヴェンク ドイツ連邦共和国 デー−75334 シュト ラウベンハルト ヴィーゼンヴェーク ９ ／１ Ｆターム(参考） 5E321 AA01 GG05

Claims (22)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 互いに接する２つの導電性部品の間のつ
    なぎ目、特に、電子機器を組み込むための高周波シール
    ドされた筐体の外装部品の間のつなぎ目の高周波密閉性
    を検査する方法において、 電磁振動の高周波信号を生成するステップと、 検査されるべき前記つなぎ目（１）を越えて高周波信号
    を送るステップと、 前記つなぎ目（１）を通る経路上で前記高周波信号の伝
    送率および／または反射率を測定するステップと、 測定された前記伝送率および／または反射率を、所定
    の、前記つなぎ目（１）の固有の伝送率および／または
    反射率と比較するステップとを有することを特徴とす
    る、２つの部品の間のつなぎ目の高周波密閉性を検査す
    る方法。
  2. 【請求項２】 前記高周波信号が、異なる周波数の連続
    した電磁振動からなっており、前記伝送率および／また
    は反射率の推移を周波数に対して測定する、請求項１に
    記載の方法。
  3. 【請求項３】 前記伝送率および／または反射率の測定
    された推移を、予め記憶されている、前記伝送率および
    ／または反射率の固有の推移と比較する、請求項２に記
    載の方法。
  4. 【請求項４】 前記伝送率および／または反射率の測定
    された推移と、前記伝送率および／または反射率の記憶
    された固有の推移とを一緒に画面に表示する、請求項３
    に記載の方法。
  5. 【請求項５】 前記高周波信号を、前記つなぎ目（１）
    の一方の側にある、両方の隣接する部品（２ａ）のうち
    の一方に入力し、前記高周波信号を、前記つなぎ目
    （１）の他方の側にある他方の部品（２ｂ）から出力す
    る、請求項１から４までのいずれか１項に記載の方法。
  6. 【請求項６】 前記高周波信号の入力と出力を容量性結
    合で行う、請求項５に記載の方法。
  7. 【請求項７】 互いに接する２つの導電性部品の間のつ
    なぎ目、特に、電子機器を組み込むための高周波シール
    ドされた筐体の外装部品の間のつなぎ目の高周波密閉性
    を検査する機構であって、電磁振動の高周波信号を生成
    する高周波発生器（４）を備えている機構において、 前記高周波信号を、前記高周波発生器（４）から、検査
    されるべきつなぎ目（１）を越えて伝送する高周波回線
    と、 前記つなぎ目（１）を通る前記高周波信号の伝送率およ
    び／または反射率を測定する測定装置（１０）と、 測定された前記伝送率および／または反射率を、所定
    の、前記つなぎ目（１）の固有の伝送率および／または
    反射率と比較する分析器とを備えていることを特徴とす
    る、２つの部品の間のつなぎ目の高周波密閉性を検査す
    る機構。
  8. 【請求項８】 前記高周波発生器（４）が、異なる周波
    数の連続した電磁振動を生成し、 前記測定装置（１０）が、前記伝送率および／または反
    射率の推移を周波数に対して測定する、請求項７記載の
    機構。
  9. 【請求項９】 前記分析器が、前記伝送率および／また
    は反射率の測定された推移を、予め記憶されている、前
    記伝送率および／または反射率の固有の推移と比較す
    る、請求項８に記載の機構。
  10. 【請求項１０】 前記分析器が、前記伝送率および／ま
    たは反射率の測定された推移と、前記記憶されている伝
    送率および／または反射率の固有の推移とが一緒に表示
    される画面（１１）を有する、請求項９に記載の機構。
  11. 【請求項１１】 前記高周波信号を内部導体（６ａ）と
    外部導体（７ａ）の間で前記高周波発生器（４）から前
    記つなぎ目（１）へ伝える第１の導波管（５ａ）と、 前記つなぎ目（１）の一方の側にある、互いに隣接する
    両方の部品のうちの一方（２ａ）に前記高周波信号を入
    力する、前記第１の導波管（５ａ）の前記外部導体（７
    ａ）と導電接続された第１の電極（８ａ）と、 前記高周波信号を前記内部導体（６ａ）と前記外部導体
    （７ａ）の間で前記つなぎ目（１）から前記測定装置
    （１０）へと伝える第２の導波管（５ｂ）と、 前記つなぎ目（１）の対向する側にある他方の部品（２
    ｂ）から前記高周波信号を出力する、前記第２の導波管
    （５ｂ）の前記外部導体（７ｂ）と導電接続された第２
    の電極（８ｂ）と、 前記第１の導波管（５ａ）の前記内部導体（６ａ）を、
    前記第２の導波管（５ａ）の前記内部導体（６ｂ）と導
    電接続し、前記つなぎ目のそばを通過する前記中継導体
    （９）を備えている、請求項７から１０のいずれか１項
    に記載の機構。
  12. 【請求項１２】 前記高周波回線が、内部導体が前記中
    継導体（９）として前記つなぎ目（１）のそばを通過し
    ており、外部導体（７ａ、７ｂ）が前記つなぎ目（１）
    の領域で途切れている同軸ケーブルである、請求項１１
    に記載の機構。
  13. 【請求項１３】 互いに接する２つの導電性部品の間の
    つなぎ目、特に、電子機器を組み込むための高周波シー
    ルドされた筐体の外装部品の間のつなぎ目の高周波密閉
    性を検査するセンサにおいて、 高周波信号を内部導体（６ａ）と外部導体（７ａ）の間
    で伝える第１の導波管（５ａ）と、 前記第１の導波管（５ａ）の前記外部導体（７ａ）と導
    電接続され、前記つなぎ目（１）の一方の側にある、互
    いに隣接する両方の部品のうちの一方（２ａ）に前記高
    周波信号を入力する役目をする第１の電極（８ａ）と、 内部導体（６ｂ）と外部導体（７ｂ）とを備え、測定装
    置（１０）に接続するための第２の導波管（５ｂ）と、 前記第２の導波管（５ｂ）の前記外部導体（７ａ）と導
    電接続され、前記つなぎ目（１）の他方の側にある他方
    の部品（２ｂ）から高周波信号を出力する役目をする第
    ２の電極（８ｂ）と、 前記第１の導波管（５ａ）の前記内部導体（６ａ）を、
    前記第２の導波管（５ｂ）の前記内部導体（６ｂ）と導
    電接続する中継導体（９）とを備えていることを特徴と
    する、２つの部品の間のつなぎ目の高周波密閉性を検査
    するセンサ。
  14. 【請求項１４】 前記第１の導波管（５ａ）と前記第２
    の導波管（５ｂ）は、その外部導体（７ａ、７ｂ）が前
    記両電極（８ａ、８ｂ）の間の領域で途切れていて、内
    部導体（６ａ、６ｂ、９）が連続してつながっている同
    軸ケーブルの区域として構成されている、請求項１３に
    記載のセンサ。
  15. 【請求項１５】 前記両電極（８ａ、８ｂ）が平板状に
    形成されている、請求項１３または１４に記載のセン
    サ。
  16. 【請求項１６】 前記両電極（８ａ、８ｂ）が１つの平
    面上にあり、各々の端部が互いに向き合っている、請求
    項１５に記載のセンサ。
  17. 【請求項１７】 前記両電極（８ａ、８ｂ）が互いに直
    角に配置されている、請求項１５に記載のセンサ。
  18. 【請求項１８】 前記両電極（８ａ、８ｂ）が平行に、
    かつ互いに間隔をおいて配置されている、請求項１５に
    記載のセンサ。
  19. 【請求項１９】 前記筐体（１３）の方を向いている内
    面に前記両電極（８ａ、８ｂ）が配置されている、前記
    筐体（１３）の輪郭に合った支持体（１６）を備えてい
    る、請求項１３から１８までのいずれか１項に記載のセ
    ンサ。
  20. 【請求項２０】 前記両導波管（５ａ、５ｂ；１８ａ、
    １８ｂ）が挿通され、前記支持体（１６）とつながった
    グリップ（１７）を備えている、請求項１９に記載のセ
    ンサ。
  21. 【請求項２１】 前記第１の導波管（５ａ）に高周波発
    生器（４）が接続されており、 前記第２の導波管（５ｂ）に測定装置（１０）が接続さ
    れており、 前記高周波発生器（４）と前記測定装置（１０）は前記
    センサに内蔵されている、請求項１３から１９までのい
    ずれか１項に記載のセンサ。
  22. 【請求項２２】 前記測定装置（１０）で受信された信
    号を評価する分析器を有する、請求項２１に記載のセン
    サ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007071590A (ja) * 2005-09-05 2007-03-22 Canon Inc 導波路、それを用いた装置及び検出方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0428560D0 (en) * 2004-12-31 2005-02-09 Nokia Corp Method for determining the rf shielding effectiveness of a shielding structure
DE102005011505B4 (de) * 2005-03-12 2011-06-09 Peter Reiser Sensor für HF-Strahlung
DE102007013558B4 (de) * 2007-03-19 2009-06-10 Diehl Bgt Defence Gmbh & Co. Kg Abschirmmessung
CN103592317B (zh) * 2013-11-07 2016-04-27 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种基于校准球体的吸波材料反射率测试方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4647844A (en) * 1984-08-03 1987-03-03 Cooper Industries, Inc. Method and apparatus for testing shielded cable assemblies
US4789829A (en) * 1986-07-18 1988-12-06 Science Application International Corporation Method and apparatus for determining RE gasket shielding effectiveness
US4797621A (en) * 1987-07-08 1989-01-10 Midwesco, Inc. Leak detector and locator utilizing time domain reflectometry and sampling techniques
US5334941A (en) * 1992-09-14 1994-08-02 Kdc Technology Corp. Microwave reflection resonator sensors
US5477157A (en) * 1994-08-01 1995-12-19 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Method and apparatus for detecting flaws of a seam in a shielded enclosure
US5594351A (en) * 1995-05-23 1997-01-14 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Apparatus for use in determining surface conductivity at microwave frequencies
FR2735581B1 (fr) * 1995-06-19 1997-08-08 Aerospatiale Procede et dispositif pour estimer l'efficacite de blindage d'une jonction
DE19621401C2 (de) * 1996-05-28 2001-03-01 Siemens Ag Verfahren zur Bestimmung der Schirmwirkung einer abgeschirmten Verkabelungsstrecke

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007071590A (ja) * 2005-09-05 2007-03-22 Canon Inc 導波路、それを用いた装置及び検出方法

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