JP5170078B2 - 電子機器用試験装置 - Google Patents

Description

本発明は、多数の携帯電話等の電子機器に対する動作試験を、精密かつ連続的に行うことを可能とする電子機器用試験装置に関する。

携帯電話等の電子機器の製造後や修理後に、正常に動作・機能するか否かについて、無線電波による無線接続試験（以下、試験という）を行う場合がある。従来、このような試験は、正確な受信能力の試験を行うために、外来電波が遮断された電波無響室（電波暗室）と称される大型の特殊な部屋や、シールドボックス（電波遮蔽箱）と称される箱の内部で行われていた。

例えば、特開平５−２４９１６３号公報（請求項１、段落０００８、図１）には、内面に電波吸収体が装着された金属製組立式シールド箱と、箱の一側面に設けられシールド効果の高い蓋を備えた窓部と、箱内において窓部と対面する位置に設けられた試験用空中線と、窓部を有する側面と垂直に配置された側面の一方に設けられた取り外し可能な扉とを備える電波暗室装置が記載されている。

また、特開２００６−１５３８４１号公報（請求項１、段落００４５、図１、図３）には、電波遮蔽性および電波吸収性を有する試験箱本体と、試験箱本体の正面側に固定され試験箱本体の外部と内部とを連通する二本の手挿入用導波管と、試験箱本体に設けられその内部を視認可能な電波遮蔽性の窓と、試験箱本体の内部に配置され電子機器との間で電波を授受するアンテナと、試験箱本体の内部に配置され電子機器と接続するケーブルとを主に備えた電子機器用試験箱が記載されている。

前記した従来技術によれば、電子機器の動作を１台ずつ簡易的に試験することが可能である。特に、特開２００６−１５３８４１号公報に記載の電子機器用試験箱は、試験員が直接電子機器をハンドリングしながら電子機器の試験を精密に行うことができるという利点を有している。しかしながら、これら従来技術は、組立式シールド箱や試験箱本体の内部に電子機器を入れて試験を行った後、外部に試験後の電子機器を取り出して、別の電子機器を入れるという作業を繰り返す必要があるので、電子機器の動作を１台ずつ試験する場合には適しているが、多数の電子機器の動作を試験する場合には不向きであった。

そこで、本発明は、このような問題を解決すべく、多数の携帯電話等の電子機器の動作の試験を、精密かつ連続的に行うことを可能とする電子機器用試験装置を提供することを課題とする。

前記課題を解決するための手段として、請求項１に係る発明は、電子機器に対する試験を行う試験箱と、試験箱の外部と内部とを連通すると共に、少なくとも試験を行う際に外部からの電波を遮蔽する電波遮蔽手段を有する通路と、電子機器を搬送する搬送部を有する搬送手段と、を備える電子機器用試験装置であって、前記電波遮蔽手段は、導電布からなるカーテンを含み、搬送部が通路の内部を通過可能に構成され、電子機器を試験箱に搬入すると共に、試験箱から搬出することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、試験対象である電子機器が、通路の内部を通って、連続的に試験箱に搬入されると共に、試験後の電子機器が連続的に試験箱から搬出されるので、多数の電子機器の動作の試験を連続的に行うことができる。さらに、少なくとも試験を行う際に外部からの電波を遮蔽する電波遮蔽手段を有する通路を備えているので、試験箱の電波の遮蔽性を維持した状態で電子機器の動作の試験を精密に行うことができる。
なお、本発明における「試験箱」には、例えば、電波暗室のように、試験員がその内部に出入りすることができる大型の部屋も含まれる。
また、本発明に係る電子機器用試験装置によれば、試験箱の外部と内部とを連通する通路の中空部（内部）を伝搬しようとする電波の、試験箱の内部から外部への伝搬度および試験箱の外部から内部への伝搬度を、カーテンを備えない場合と比較して、さらに低下させることができる。すなわち、通路の中空部（内部）を通過しようとする電波の一部が、カーテンを構成する導電布の金属成分によって回折損失を起こすので、電波の伝搬度を低下させることができる。導電布とは、金属成分を含む布のことであり、具体的には、金属繊維と高分子繊維との複合繊維からなる布、ＮｉやＣｕ等の金属をメッキした高分子繊維からなる布などが挙げられる。
なお、回折損失とは、電波が金属繊維や金属メッキ等の金属成分によって反射することで、電波の進行方向側（この場合、カーテンの裏側）に伝搬しにくいことをいう。

請求項２に係る発明は、請求項１に記載の電子機器用試験装置であって、前記通路は、内側に電波吸収性を有することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、通路の内側の電波吸収性により、通路の中空部（内部）を伝搬しようとする電波を吸収し、試験箱の電波の遮蔽性を良好に維持することができる。

請求項３に係る発明は、請求項１に記載の電子機器用試験装置であって、前記通路は、入口側通路と出口側通路の対で構成され、前記入口側通路と前記出口側通路は直線上に配置されたことを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、直線形状の搬送手段を、試験箱の外部と内部とを連通するように配置することができ、試験前の電子機器を連続的に試験箱の内部に搬入すると同時に、試験後の電子機器を連続的に試験箱の外部に搬出することができる。

請求項４に係る発明は、請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置であって、前記電波遮蔽手段は、高分子繊維に金属薄膜を蒸着してなる導電性ブラシをさらに含むことを特徴とする。

また、カーテンは、比較的柔らかい布であるため、電子機器に傷をつけることなく、試験箱への搬入出を行うことができる。

請求項５に係る発明は、電子機器に対する試験を行う試験箱と、前記試験箱の外部と内部とを連通すると共に、少なくとも試験を行う際に外部からの電波を遮蔽する電波遮蔽手段を有する通路と、前記電子機器を搬送する搬送部を有する搬送手段と、を備える電子機器用試験装置であって、前記電波遮蔽手段は、前記搬送部の動きに連動して前記通路を開閉する扉部材を含み、前記搬送部が前記通路の内部を通過可能に構成され、前記電子機器を前記試験箱に搬入すると共に、前記試験箱から搬出することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、試験箱の外部と内部とを連通する通路の中空部（内部）を伝搬しようとする電波の、試験箱の内部から外部への伝搬度および試験箱の外部から内部への伝搬度を、扉部材を備えない場合と比較して、さらに低下させることができる。

請求項６に係る発明は、請求項５に記載の電子機器用試験装置であって、前記扉部材は、アルミニウム板またはアルミニウム合金板からなる扉本体と、当該扉本体に貼着されたゴム系電波吸収体とからなることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、通路の中空部（内部）を通過しようとする電波の一部が、アルミニウム板またはアルミニウム合金板からなる扉本体によって反射されると共に、扉本体に貼着されたゴム系電波吸収体によって吸収されることで、電波の伝搬度を低下させることができる。

請求項７に係る発明は、請求項１または請求項５に記載の電子機器用試験装置であって、前記通路は、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管であることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、通路として、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管を備えているので、前記したカーテンや扉部材を備えない場合であっても、導波管（通路）の中空部（内部）を伝搬しようとする所定波長より長い波長の電波を確実に吸収し、試験箱の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。また、前記したカーテンや扉部材を併用することで、試験箱の電波の遮蔽性をさらに良好に維持することができる。
なお、「所定波長より長い波長の電波を伝搬しない」とは、「所定波長以下の波長の電波が減衰せずに、その内部を良好に伝搬可能とする仕様で設計される」ことを意味する。

請求項８に係る発明は、請求項１または請求項５に記載の電子機器用試験装置であって、前記試験箱は、電波の遮蔽性を有する金属製の筐体からなることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、導電性を有する金属製の筐体により、電波を確実に遮蔽することができる。また、金属製であることにより、筐体の剛性が高められ、結果として、試験箱の耐久性を高めることができる。

請求項９に係る発明は、請求項８に記載の電子機器用試験装置であって、前記金属製の筐体は、複数の金属部材を組み付けて構成されており、当該複数の金属部材同士は溶接によって接合されていることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、複数の金属部材を適宜に組み付けて、所望形状の筐体を容易に構成することができる。また、複数の金属部材同士を溶接によって接合することで、接合部分を通過しようとする電波を確実に遮蔽し、試験箱の内部と外部との間で電波が漏洩することを確実に防止することができる。

請求項１０に係る発明は、請求項８または請求項９に記載の電子機器用試験装置であって、前記金属製の筐体および前記通路の少なくとも一方は、アルミニウムまたはアルミニウム合金から形成されたことを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、金属製の筐体および通路の少なくとも一方を、軽量化することができる。

請求項１１に係る発明は、請求項１または請求項５に記載の電子機器用試験装置であって、前記試験箱は、その内部を視認可能な窓を有することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、電子機器の試験を行いながら、例えば、試験箱の内部の電子機器の動作状況等を、窓を介して、試験箱の外部から視認することができる。

請求項１２に係る発明は、請求項１１に記載の電子機器用試験装置であって、前記窓は、電波の遮蔽性を有することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、窓が電波の遮蔽性を有することにより、試験箱の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。

請求項１３に係る発明は、請求項１または請求項５に記載の電子機器用試験装置であって、前記試験箱は、開閉自在の扉を有することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、試験箱の扉を適宜に開閉させることで、電子機器等を自由に出し入れすることができる。

請求項１４に係る発明は、請求項１または請求項５に記載の電子機器用試験装置であって、前記試験箱の内部に、前記電子機器との間で電波を授受する測定用アンテナが設けられていることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、試験箱の内部において、測定用アンテナと電子機器との間で、電波を授受することができる。

請求項１５に係る発明は、請求項１４に記載の電子機器用試験装置であって、前記測定用アンテナから放射される電波の偏波面と、前記電子機器のアンテナから放射される電波の偏波面とが平行または垂直となるように前記測定用アンテナの軸を当該軸回りに回転可能としたことを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、測定用アンテナから放射される電波の偏波面と、電子機器のアンテナから放射される電波の偏波面とが平行または垂直となるように測定用アンテナの軸を回転調整することができる。これにより、測定用アンテナから放射される電波の電界変化を、電子機器のアンテナで受信しやすい環境と、電子機器のアンテナで受信しにくい環境のいずれにも簡単に設定することができる。
なお、偏波面とは、電磁波において電界の波の振動する面をいい、これが一定の平面状にある電磁波を直線偏波という。通常のアンテナから放射される電波は直線偏波である。

請求項１６に係る発明は、請求項１４または請求項１５に記載の電子機器用試験装置であって、前記測定用アンテナと前記電子機器のアンテナとの距離が、前記測定用アンテナから放射される電波の波長λ以上であることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、試験箱の内部において、遠方電磁界の領域に電子機器のアンテナを配置することが可能となり、電界強度が安定する位置で電子機器の試験を行うことができる。これにより、電子機器の試験を精密に行うことができる
なお、遠方電磁界の領域とは、波動インピーダンスが空間の波動インピーダンスＺ_０に等しくなる領域のことを意味する。測定用アンテナから放射される電波はこの領域において平面波に近い伝搬をする。

請求項１７に係る発明は、請求項１４に記載の電子機器用試験装置であって、前記試験箱の内面の前記測定用アンテナ付近には、磁性体シートを備えていることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、試験箱の内部に配設された測定用アンテナから放射された電波による電磁誘導を抑制することができ、試験箱の内部に渦電流が発生することを効果的に防止することができる。

請求項１８に係る発明は、電子機器に対する試験を行う試験箱と、前記試験箱の外部と内部とを連通すると共に、少なくとも試験を行う際に外部からの電波を遮蔽する電波遮蔽手段を有する通路と、前記電子機器を搬送する搬送部を有する搬送手段と、を備える電子機器用試験装置であって、前記搬送部は、前記電子機器を保持する複数の保持手段を備えており、前記保持手段は、ケーブルの一端が接続されると共に、前記ケーブルと前記電子機器とを電気的に接続するコネクタを備えており、前記搬送部が前記通路の内部を通過可能に構成され、前記電子機器を前記試験箱に搬入すると共に、前記試験箱から搬出することを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、搬送部が、電子機器を保持する複数の保持手段を備えているので、電子機器を保持手段に設置することで、電子機器をその設置順に、かつ、規則正しく試験箱の内部に連続的に搬入して、電子機器の動作の試験を行うことができる。

また、保持手段は、ケーブルの一端が接続されると共に、ケーブルと電子機器とを電気的に接続するコネクタを備えているので、電子機器を保持手段に設置することで、電子機器とコネクタとが接続され、このコネクタを介して電子機器とケーブルとを電気的に接続することができる。

請求項１９に係る発明は、請求項１８に記載の電子機器用試験装置であって、前記ケーブルは、ノイズを吸収するノイズ吸収体に被覆されていることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、ケーブルがノイズ吸収体に被覆されているため、試験中にケーブルから発生するノイズを効果的に吸収して、電子機器の試験を精密に行うことができる。

請求項２０に係る発明は、請求項１８または請求項１９に記載の電子機器用試験装置であって、前記ケーブルは、前記搬送部に設けられた前記保持手段に隣接して敷設され、前記一端と反対側の他端に端子を有し、前記端子は、前記電子機器の状態を判定する試験ユニットに接続された外部端子と、少なくとも試験を行う際に接続されることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、ケーブルは、保持手段と接続する一端と反対側の他端に端子を有し、この端子が電子機器の状態を判定する試験ユニットに接続された外部端子と、少なくとも試験を行う際に接続されることで、ケーブルを介して、電子機器が正常に動作しているか否かを確認することができると共に、電子機器に各種の指示を送信して動作させることができる。

請求項２１に係る発明は、請求項１８に記載の電子機器用試験装置であって、前記搬送部は、ゴム系電波吸収体からなるベルトであることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、搬送部がゴム系電波吸収体からなるベルトであるため、試験中にケーブルから発生するノイズを吸収することができ、電子機器の試験を精密に行うことができる。

請求項２２に係る発明は、請求項１、請求項５または請求項１８に記載の電子機器用試験装置であって、前記通路は、その内部を通過する前記搬送部の下方に、外部からの電波を遮蔽する金属製のフィルタを備えていることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、通路の内部を通過する搬送部の下方に、外部からの電波を遮蔽する金属製のフィルタを備えているため、試験箱の外部と内部とを連通する通路の内部を伝搬しようとする電波の、試験箱の外部から内部への伝搬度を、さらに低下させることができる。

請求項２３に係る発明は、請求項１、請求項５または請求項１８に記載の電子機器用試験装置であって、前記試験箱および前記通路の少なくとも一方は、内部にλ／４型電波吸収体を備えていることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、λ／４型電波吸収体を備えていることで、試験中に測定用アンテナから放射される電波を効果的に吸収することができる。これにより、電波の共振現象を防止して、電子機器の試験を精密に行うことができる。
なお、電波の共振現象とは、電波の遮蔽性を有する試験箱の内部で測定用アンテナから電波が放射されたとき、試験箱の内部の壁面で電波が反射を繰り返して干渉を起こす現象をいう。

請求項２４に係る発明は、請求項１、請求項５または請求項１８に記載の電子機器用試験装置であって、前記試験箱は、その内部に照明を備えていることを特徴とする。

このような電子機器用試験装置によれば、試験箱の内部を明るくすることができる。なお、照明としてはＬＥＤランプ（Light Emitting Diode Lump）が好ましい。ＬＥＤランプは蛍光灯と異なり、点滅時にノイズをほとんど発生しないからである。

本発明によれば、多数の携帯電話等の電子機器の動作の試験を、精密かつ連続的に行うことを可能とする電子機器用試験装置を提供することができる。

本発明の電子機器用試験装置の一実施形態を示す斜視図である。 第１図に示す電子機器用試験装置のＸ−Ｘ断面図である。 第１図に示す電子機器用試験装置のＹ−Ｙ断面図である。 一実施形態に係る電子機器用試験装置を構成する試験箱の内面に形成された電波吸収体を示す断面図である。 第１図に示す電子機器用試験装置のＺ−Ｚ断面図である。 一実施形態に係る電子機器用試験装置を構成する導波管の外部側の開口部を示す正面図である。 （ａ）および（ｂ）は一実施形態に係る電子機器用試験装置を構成するスライド扉を示す断面図である。 一実施形態に係る電子機器用試験装置を構成するベルトコンベアを示す斜視図である。 一実施形態に係る電子機器用試験装置の動作を説明するための図であり、（ａ）は試験箱および導波管の断面図、（ｂ）はベルトコンベアの端部の側面図、（ｃ）はベルトコンベアの端部の平面図である。 一実施形態に係る電子機器用試験装置の動作を説明するための図であり、（ａ）は試験箱および導波管の断面図、（ｂ）はベルトコンベアの端部の側面図、（ｃ）はベルトコンベアの端部の平面図である。 一実施形態に係る電子機器用試験装置の動作を説明するための図であり、（ａ）は試験箱および導波管の断面図、（ｂ）はベルトコンベアの端部の側面図、（ｃ）はベルトコンベアの端部の平面図である。 一実施形態に係る電子機器用試験装置の動作を説明するための図であり、（ａ）は試験箱および導波管の断面図、（ｂ）はベルトコンベアの端部の側面図、（ｃ）はベルトコンベアの端部の平面図である。 （ａ）は変形例に係る電子機器用試験装置を構成する開閉扉を示す断面図であり、（ｂ）は変形例に係る電子機器用試験装置を構成する開閉扉を示す斜視図である。 （ａ）は他の変形例に係る電子機器用試験装置を構成する開閉扉を示す斜視図であり、（ｂ）は変形例に係る電子機器用試験装置を構成するスライド扉を示す斜視図である。

符号の説明

１ 電子機器用試験装置
１０ 試験箱
１１ 筐体
１１ａ パネル（金属部材）
１２ 扉
１２ｂ 窓
１３ 電波吸収体
１４ アンテナ
１４ｃ 磁性体シート
１５ ＬＥＤランプ（照明）
２０Ａ，２０Ｂ 導波管（通路）
２２ 電波吸収体
２３ スライド扉（扉部材・電波遮蔽手段）
２３ａ 扉本体
２３ｂ ゴム系電波吸収体
２４ カーテン（電波遮蔽手段）
２５ フィルタ
３０ ベルトコンベア（搬送手段）
３１ ベルト（搬送部）
３３ 保持手段
３３ａ コネクタ
３４ ケーブル
４０ 試験ユニット
Ｐ 電子機器
ＲＴ 外部端子
Ｔ 端子

以下、本発明の一実施形態について、適宜図面を参照しながら説明する。
第１図は電子機器用試験装置の一実施形態を示す斜視図である。第２図は第１図に示す電子機器用試験装置のＸ−Ｘ断面図であり、第３図は第１図に示す電子機器用試験装置のＹ−Ｙ断面図である。第４図は試験箱の内面に形成された電波吸収体を示す断面図である。第５図は第１図に示す電子機器用試験装置のＺ−Ｚ断面図である。第６図は導波管の外部側の開口部を示す正面図である。第７図の（ａ）および（ｂ）はスライド扉を示す断面図である。第８図はベルトコンベアを示す斜視図である。

［電子機器用試験装置］
第１図に示すように、電子機器用試験装置１は、電子機器Ｐに対する試験を行う試験箱１０と、試験箱１０の外部と内部とを連通すると共に電子機器Ｐの通路となる導波管２０Ａ，２０Ｂと、電子機器Ｐを搬送するベルト３１（搬送部）を有する搬送手段であるベルトコンベア３０と、を主に備えている。

＜試験箱＞
第１図乃至第３図に示すように、試験箱１０は、金属製の筐体１１と、筐体１１の側壁に設けられた扉１２と、筐体１１と扉１２の内面に設けられた電波吸収体１３と、筐体１１の上壁に設けられたアンテナ１４と、ＬＥＤランプ１５（第５図参照）とを備えている。

筐体１１は、複数の金属製のパネル１１ａを、骨格となるフレーム（図示せず）に溶接して、略直方体の箱状に形成されている。筐体１１は、導電性を有する金属製のパネル１１ａおよびフレーム（図示せず）から形成されているので、外部からの電波の遮蔽性を有すると共に、所定の剛性を有し、その耐久性が高められている。また、複数のパネル１１ａとフレーム（図示せず）とが、溶接によって接合されているので、筐体１１の密閉性、すなわち、電波の遮蔽性が高められている。

パネル１１ａおよびフレーム（図示せず）を形成する金属は、本発明では特に限定されず、例えば、純金属だけでなく合金であってもよい。なお、パネル１１ａやフレーム（図示せず）を、特に、アルミニウムまたはアルミニウム合金で形成した場合、所望の剛性を維持しつつ、筐体１１の軽量化を図ることができる。また、アルミニウムやアルミニウム合金は独特の光沢を有するため、筐体１１（試験箱１０）は美観に優れたものとなる。

扉１２は、第３図に示すように、金属製のパネル１２ａから形成され、このパネル１２ａの正面視上方（第１図参照）には窓１２ｂが設けられている。
パネル１２ａは、筐体１１の側面にヒンジ１１ｂを介して回動自在に取り付けられており、扉１２が適宜開閉可能な構成となっている。なお、扉１２の閉扉時における筐体１１（パネル１１ａ）と扉１２（パネル１２ａ）との当接部分には、電波の遮蔽性を有する枠状のパッキン１１ｃ、例えば、導電性ゴムパッキン等を設けることが望ましい。これにより、扉１２の閉扉時における試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。

窓１２ｂには、透明性を有する矩形状のガラス板が、フレーム１２ｃによって取り付けられている。これにより、電子機器Ｐの試験を行いながら、窓１２ｂを介して、外部から試験箱１０の内部を視認することができ、例えば、電波を受信したことによる着信ランプの点灯の有無等を視認することができる。
また、ガラス板は、この窓１２ｂを介しての電波の往来を防止するための電波の反射性（遮蔽性）を有しているので、試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。このような窓１２ｂとしては、例えば、ガラス板の片面にＩＴＯ（Indium Tin Oxide：酸化インジウムスズ）膜を形成したものを使用することができる。

なお、電子機器Ｐやアンテナ１４から放射される電波が窓１２ｂ（ガラス板）に直接照射されると、電波が窓１２ｂ（ガラス板）の表面で反射されて、試験箱１０の内部で電波の共振現象を発生させる原因となるので、窓１２ｂは、電子機器Ｐやアンテナ１４から放射される電波ができるだけ照射しない位置に設けることが望ましい。

フレーム１２ｃは、金属製の枠部材であり、窓１２ｂの周縁部を覆うように、パネル１２ａに溶接されている。このフレーム１２ｃと窓１２ｂ（ガラス板）との当接部分には、電波の遮蔽性を有するパッキン（図示せず）を設けることが望ましい。これにより、窓１２ｂ（ガラス板）の周縁部における電波の遮蔽性を確保することができ、試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
なお、パネル１２ａおよびフレーム１２ｃも筐体１１と同様に、アルミニウムまたはアルミニウム合金で形成することが望ましい。前記した筐体１１（パネル１１ａ）および扉１２（パネル１２ａ）は、後記する電波吸収体１３の一部としても機能している。

電波吸収体１３は、電波を吸収する公知の一方式（λ／４型）に基づく構造で、第２図，第３図に示すように、試験箱１０（筐体１１と扉１２）の内面を覆うように形成されており、電子機器Ｐやアンテナ１４から放射された電波を試験箱１０の内面で反射させずに擬似的に吸収するものである。すなわち、電波吸収体１３は、電子機器Ｐやアンテナ１４から放射された電波が、試験箱１０の内面で反射した電波と共振することを防止するものである。

電波吸収体１３は、第４図に示すように、パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）と、その内面側に配置されたスペーサ１３ａと、さらにその内面側に配置され、電波の１／２を透過させる機能を有する抵抗膜シート１３ｂと、さらにその内面側に配置され抵抗膜シート１３ｂを保護する保護膜１３ｃとを備えて構成されている。

スペーサ１３ａは、電子機器Ｐやアンテナ１４から放射された電波の波長をλとした場合、抵抗膜シート１３ｂとパネル１１ａ（またはパネル１２ａ）との間隔をλ／４に設定するためのものであり、λ／４の厚みＤを有している。スペーサ１３ａは、電波の透過性を有していればどのような材料から形成してもよく、例えば、発泡スチロール等から形成することができる。なお、スペーサ１３ａを発泡スチロールから形成した場合、その厚みＤを容易に調整することができる。

抵抗膜シート１３ｂは、その表面抵抗値が自由空間のインピーダンス（３７６．７Ω）に略等しくなるように調整された薄いシートである。このような抵抗膜シート１３ｂとしては、例えば、炭素導電性塗料を適宜なベースシートに塗布したものや、ＩＴＯ膜の抵抗値を調整して成膜したもの等を使用することができる。

保護膜１３ｃは、抵抗膜シート１３ｂの内面側に積層されており、抵抗膜シート１３ｂの表面を保護している。このような保護膜１３ｃは、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリカーボネート（ＰＣ）、ポリアセタール（ＰＯＭ）、ポリ塩化ビニル（ＰＶＣ）、ポリエチレン（ＰＥ）等から形成することができる。

ここで、第４図を参照して、電波吸収体１３による電波吸収のメカニズムについて説明する。なお、ここでは、説明を簡単にするため、電子機器Ｐまたはアンテナ１４から放射された電波Ｗ１が、保護膜１３ｃの垂直方向から入射した場合について説明する。

保護膜１３ｃに入射して透過した電波Ｗ１のうち、抵抗膜シート１３ｂを透過するものを電波Ｗ２とし、抵抗膜シート１３ｂで反射するものを電波Ｗ３とする。抵抗膜シート１３ｂを透過した電波Ｗ２は、スペーサ１３ａの内部を進んだ後、パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）で反射する（これを電波Ｗ４とする）。なお、抵抗膜シート１３ｂまたはパネル１１ａでの反射の際に電波の位相はそれぞれ反転する。

パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）で反射し、抵抗膜シート１３ｂに到達した電波Ｗ４は、抵抗膜シート１３ｂで反射した電波Ｗ３に対して、スペーサ１３ａの厚みＤの２倍、すなわち、「λ／４×２＝λ／２」進んでおり、電波Ｗ３の位相と電波Ｗ４の位相とが反転することになる。これにより、電波Ｗ３と電波Ｗ４とは相互に打ち消し合い、その結果として、抵抗膜シート１３ｂに入射した電波Ｗ１は擬似的に吸収されるようになっている。

なお、このような電波吸収体１３において、抵抗膜シート１３ｂとパネル１１ａ（またはパネル１２ａ）との間隔をλ／４に設定することができるのであれば、λ／４の厚みＤを有するスペーサ１３ａは備えなくてもよい。ただし、抵抗膜シート１３ｂとパネル１１ａ（またはパネル１２ａ）との間は電波が透過可能である必要がある。

アンテナ１４は、電子機器Ｐとの間で電波を授受するためのものであり、第２図に示すように、筐体１１の上壁に形成された貫通孔に、アンテナ用導波管１４ａを介して設けられている。アンテナ１４にはケーブル（図示せず）の一端が接続されており、このケーブル（図示せず）はアンテナ用導波管１４ａの外部に引き出され、その他端が電波送受信ユニット（図示せず）に接続されている。電波送受信ユニット（図示せず）は、アンテナ１４に電波を放射させたり、その電波の周波数帯域や出力等を制御したり、アンテナ１４が受信した電子機器Ｐからの電波を測定したりする機能を有する公知のものを使用することができる。

なお、電子機器Ｐのアンテナ（図示せず）とアンテナ１４との距離は、電子機器Ｐやアンテナ１４から放射される電波の波長λ以上となるように設定することが望ましく、２λ以上となるように設定するとさらに望ましい。これにより、遠方電磁界の領域に電子機器Ｐのアンテナ（図示せず）を配置することが可能となり、電界強度が安定する位置で電子機器Ｐの試験を行うことができるので、電子機器Ｐの試験を精密に行うことができる。

アンテナ用導波管１４ａは、断面が円形を呈し、一端（試験箱１０の内部側）がＬ字状に屈曲した、例えば、アルミニウムまたはアルミニウム合金から形成された金属製の筒体であり、電波の遮蔽性を有している。このアンテナ用導波管１４ａは、試験箱１０の外部と内部とを連通しており、その中空部（内部）には、アンテナ１４に接続されたケーブル（図示せず）が配線されている。また、アンテナ用導波管１４ａの先端部（試験箱１０の内部側）には、矩形状のグランドプレート１４ｂが固定されている。

アンテナ用導波管１４ａの仕様は、その内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定されている。具体的には、アンテナ用導波管１４ａの内径および長さは、所定波長よりも長い波長の電波が、その内部を伝搬しないように設定されている。これにより、試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。なお、一般に導波管は、その開口部の形状と寸法が同一であれば、導波管が長くなる程電波の遮蔽性能が高くなる。また、導波管の開口部の形状にも依存するが、開口部の面積が小さくなる程導波管が遮蔽できる電波の限界周波数が（所定の周波数）が高くなる。
アンテナ用導波管１４ａの断面は、円形に限定されず、例えば、多角形であってもよい。

アンテナ用導波管１４ａは、筐体１１の上壁に形成された貫通孔に、垂直方向の軸回りに回転可能（第５図参照）に貫設されている。そして、アンテナ用導波管１４ａの外部側の端部付近には、動力源（例えばモータ等）と、動力伝達機構（例えばギアやベルト等）と、制御機構（アンテナの回転方向や回転速度等を制御する）とを主に備える公知の駆動ユニット（図示せず）が接続されている。これにより、アンテナ１４から放射される電波の偏波面と、電子機器Ｐのアンテナ（図示せず）から放射される電波の偏波面とが平行または垂直となるようにアンテナ１４の軸を回転調整することができる。
なお、アンテナ１４の軸の回転調整は、これに限定されず、例えば、手動で行ってもよい。

また、筐体１１の上壁におけるアンテナ１４の近傍には、第５図に示すように、磁性体シート１４ｃを設けることが望ましい。一般にアンテナを金属物体に近接して設置すると金属物体に渦電流が流れて電波の再放射等が起こり、供試体に対して適切に放射された電波に干渉して影響を与えることがある。そこで、アンテナを設置した壁面（供試体と反対側の壁面。すなわち、当該壁面と供試体との間にアンテナが配置される）に磁性体シートを設けることで、この影響を低減することができるからである。

ＬＥＤランプ１５は、試験箱１０の内部を照らすための照明であり、第５図に示すように、筐体１１の上壁に設けられている。これにより、例えば、電子機器Ｐを試験する間、試験箱１０の内部を照らすことで、電子機器Ｐを視認しやすいようになっている。ＬＥＤランプ１５は、蛍光灯と異なり、点滅時におけるノイズがほとんど発生しないので、試験箱１０の内部を照らす照明として好適に用いることができる。
なお、ＬＥＤランプ１５の設置位置やその配置、個数等は適宜設定することができ、第５図に示す構成に限定されるものではない。また、試験箱１０の内部を照らす照明は、ＬＥＤランプ１５に限定されず、例えば、ハロゲンランプや白熱灯等であってもよい。

以上のような試験箱１０によれば、外部からの電波の遮蔽性および内部で放射された電波を吸収する電波吸収性（電波吸収体１３）を有するので、外部で発生した電波が試験箱１０の内部に到達することを防止することができると共に、内部で発生した電波（電子機器Ｐやアンテナ１４から放射された電波）を吸収することで電波の反射による共振を防止することができる。

＜導波管＞
第２図，第３図に示すように、導波管２０Ａ，２０Ｂは、試験箱１０の外部と内部とを連通する通路であり、電子機器Ｐは、導波管２０Ａ，２０Ｂの内部を通って、試験箱１０に搬入されると共に試験箱１０から搬出される。導波管２０Ａ，２０Ｂは、所定波長より長い波長の電波を伝搬しないという特性を有している。
導波管２０Ａと導波管２０Ｂとは直線上に配置され、導波管２０Ａ，２０Ｂのそれぞれの一端が試験箱１０の内部に突出するように、試験箱１０の対向する側壁の一方に導波管２０Ａが、他方に導波管２０Ｂがそれぞれ固定されている。
なお、本実施形態では、電子機器Ｐが試験箱１０に搬入される入口側通路を導波管２０Ａとし、電子機器Ｐが試験箱１０から搬出される出口側通路を導波管２０Ｂとする。

導波管２０Ａ，２０Ｂは、それぞれ、導波管本体２１と、導波管本体２１の内面に設けられた電波吸収体２２と、導波管本体２１の開口部２１ａに設けられたスライド扉２３と、導波管本体２１の内部に設けられた複数のカーテン２４と、導波管本体２１の開口部２１ａ，２１ｂに設けられたフィルタ２５とを備えている。

導波管本体２１は、第６図に示すように、断面が矩形を呈し、例えば、アルミニウムまたはアルミニウム合金から形成された金属製の筒体であり、電波の遮蔽性を有している。導波管本体２１は、試験箱１０の外部と内部とを連通しているので、その中空部（内部）を経由して、試験箱１０に電子機器Ｐを搬入出することができるようになっている。
なお、本実施形態では、筒体である導波管本体２１の両端の開口部のうち、試験箱１０の外部に位置するものを開口部２１ａとし、試験箱１０の内部に位置するものを開口部２１ｂとする。

導波管本体２１の矩形の断面を構成する辺Ｓ１と辺Ｓ２は、導波管本体２１の内部を伝搬させない電波の波長に基づいて設定されている。具体的には、導波管本体２１の辺Ｓ１と辺Ｓ２は、所定波長より長い波長の電波が、導波管本体２１の内部を伝搬しないように設定されている。これにより、導波管本体２１の中空部を介して、設定された波長より長い波長の電波の伝搬を防止することができるので、試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。
なお、開口部の形状と寸法が同一であれば、導波管が長くなる程電波の遮蔽性能が高くなり、開口部の面積が小さくなる程導波管が遮蔽できる電波の限界周波数が高くなることは前記したアンテナ用導波管１４ａと同様である。
導波管本体２１の断面は、矩形に限定されず、例えば、円形や多角形（矩形を除く）であってもよい。

電波吸収体２２は、導波管本体２１の内面を覆うように形成されており、導波管本体２１の内部を伝搬しようとする電波を吸収することで、導波管本体２１の電波の非伝搬性を高めるものである。この電波吸収体２２を備えることで、電子機器Ｐの通路である導波管２０Ａ，２０Ｂは、その内側に電波を吸収する電波吸収性を有する。

このような電波吸収体２２としては、例えば、双極子型と称される電波吸収シートを使用することができる。双極子型の電波吸収シートとしては、例えば、（１）カーボン粉末、酸化チタン等の化合物から形成され、これらの化合物が有する電界を利用して電波を吸収するシートや、（２）フェライト、カルボニル鉄等の化合物から形成され、これらの化合物が有する磁界を利用して電波を吸収するシートや、（３）樹脂（例えばポリウレタン等）と磁性体との複合体から形成される電波を吸収するシート等が挙げられる。具体的には、例えば、東洋サービス社製のルミディオン（登録商標）や、日立金属社製のＨＴＤ−１０１等を使用することができる。また、前記した電波吸収体１３と同様に、λ／４型の電波吸収体を使用することもできる。なお、λ／４型の電波吸収体については前記したので、ここでは説明を省略する。

スライド扉２３は、導波管本体２１の開口部２１ａに開閉自在に設けられ、少なくとも試験を行う際に、導波管本体２１の開口部２１ａを閉塞して外部からの電波を遮蔽する扉部材である。スライド扉２３は、第７図に示すように、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる扉本体２３ａと、扉本体２３ａの外面に貼着されたゴム系電波吸収体２３ｂとを備えて構成されている。ゴム系電波吸収体は、例えば、エチレンプロピレンゴムやクロロプレンゴムにカーボンブラック、磁性体粉末等を配合した後、混練し、ロールで加圧してシート状に成形したもので、広帯域電波吸収体であることが望ましい。

スライド扉２３の開閉手段は、本発明では特に限定されず、公知の開閉手段を使用することができる。例えば、第７図の（ａ）に示すように、扉本体２３ａの上部に取り付けたワイヤ２３ｃを、巻き取り機構２３ｄで巻き取ることで開扉（開閉）するようにしてもよいし、第７図の（ｂ）に示すように、扉本体２３ａに形成したラック部２３ｅを、モータ（図示せず）等に接続されたピニオン２３ｆにかみ合わせて開閉するようにしてもよい。

このようなスライド扉２３によれば、導波管本体２１の中空部（内部）を通過しようとする電波の一部が、アルミニウム板またはアルミニウム合金板からなる扉本体２３ａによって反射されると共に、扉本体２３ａの外面に貼着されたゴム系電波吸収体２３ｂによって吸収されるので、電波の伝搬度を低下させることができる。また、スライド扉２３は、少なくとも試験を行う際に導波管本体２１の開口部２１ａを閉塞するので、試験を行う際の試験箱１０の電波の遮蔽性を良好に維持することができる。なお、スライド扉２３の開閉動作は、後記するベルトコンベア３０（ベルト３１）の動きに連動して行われるように設定されているが、これについては後記する。なお、本実施形態では、導波管本体２１の開口部２１ａにスライド扉２３を設けているが、導波管本体２１の中央部にスリット（図示せず）を設けて、そのスリットにスライド扉を差し込むようにしてもよい。この場合、スリットとスライド扉の隙間に導電性ゴムやアルミニウム箔などを挟むような構造とすれば、電波の遮蔽性が良好に保たれる。

カーテン２４は、導電布からなる比較的柔らかい布状のものであり、第２図に示すように、導波管本体２１の内部に複数設けられている。導電布とは、金属成分を含む布のことであり、具体的には、金属繊維と高分子繊維との複合繊維からなる布のほか、ＮｉやＣｕ等の金属をメッキした高分子繊維からなる布などが挙げられる。このようなカーテン２４によれば、導波管本体２１の中空部（内部）を通過しようとする電波の一部が、カーテン２４に含まれる金属成分によって回折損失を起こすので、電波の伝搬度を低下させることができる。具体的には、電波の伝搬度を３０〜４０ｄＢ程度に低下させることができる。
また、カーテン２４は比較的柔らかい布であるため、電子機器Ｐの試験箱１０への搬入出の際に、電子機器Ｐとカーテン２４が接触しても、電子機器Ｐに傷をつけることがないという利点を有する。

なお、本実施形態においては、第２図に示すように、１枚のカーテン２４を導波管本体２１の内部（開口部２１ｂを含む）の３箇所に設けた構成としているが、これに限定されるものではない。例えば、カーテン２４を設ける場所を２箇所以下または４箇所以上としてもよいし、１箇所に設けるカーテン２４の枚数を複数枚としてもよい。

フィルタ２５は、例えば、アルミニウムやアルミニウム合金等からなる金属製のメッシュが複数重ねられたメッシュ積層体であり、第２図，第６図に示すように、導波管本体２１の開口部２１ａ，２１ｂの、後記するベルト３１（ベルトコンベア３０）の下方に設けられている。導波管本体２１の開口部２１ａおよび内部には、ベルト３１（ベルトコンベア３０）の上方に電波遮蔽手段（スライド扉２３およびカーテン２４）が設けられているが、電波の伝搬度をさらに確実に低下させるために、ベルト３１の下方にも、このようなフィルタ２５を備えることが望ましい。フィルタ２５の内部では、金属製のメッシュ積層体によって回折損失が起こり、電波の伝搬度を確実に低下させることができる。
なお、フィルタ２５とベルト３１との隙間には、ゴム系電波吸収体等で形成されたシール部材２６を備えることが望ましい。また、前記したシール部材２６の代わりに、柔軟性のある高分子繊維に金属薄膜を蒸着した導電性ブラシを備えてもよい。

以上のような導波管２０Ａ，２０Ｂによれば、外部からの電波を遮蔽する電波遮蔽手段（スライド扉２３、カーテン２４）や電波吸収体２２、フィルタ２５を有する電子機器Ｐの通路となる導波管本体２１を備えているので、試験箱１０の外部と内部とが連通していても、試験箱１０の電波の遮蔽性を良好に維持することができる。

＜ベルトコンベア＞
第１図乃至第３図に示すように、ベルトコンベア３０は、電子機器Ｐを搬送する搬送手段であり、導波管２０Ａ、試験箱１０および導波管２０Ｂの内部を通過するように配置されている。ベルトコンベア３０は、電子機器Ｐを搬送する搬送部となるベルト３１と、ベルト３１を駆動するローラ付テーブル３２と、ベルト３１の搬送面に設けられた複数の保持手段３３と、保持手段３３に接続するケーブル３４（第８図参照）とを備えている。

ベルト３１は、ベルトコンベア３０の搬送部となる無端状のベルトであり、ゴム系電波吸収体から形成されている。ベルト３１は、ローラ付テーブル３２の複数のローラ３２ａに張設されており、このローラ３２ａが回転することによって動力が伝達され、ベルト３１が駆動する、すなわち、電子機器Ｐを搬送する構成になっている。
なお、ローラ付テーブル３２は、本発明では特に限定されず、公知のものを使用することができる。また、ローラ付テーブル３２は、全てのローラ３２ａが回転してベルト３１に動力を伝達する構成であってもよいし、ローラ３２ａの一部の駆動ローラが回転してベルト３１に動力を伝達する構成であってもよい。

保持手段３３は、第８図に示すように、ベルト３１の搬送面において電子機器Ｐを保持するためのものであり、ベルト３１の搬送面に一定の間隔をおいて複数設けられている。この保持手段３３には、コネクタ３３ａが、保持手段３３に設置された電子機器Ｐの接続端子（例えば、携帯電話の通信用外部接続端子等。図示せず）と対応する位置に設けられている。これにより、電子機器Ｐを保持手段３３に設置することで、電子機器Ｐの接続端子（図示せず）とコネクタ３３ａとを電気的に接続させることができる。

ケーブル３４は、ベルト３１の搬送面に設けられた複数の保持手段３３に隣接して敷設され、その一端が保持手段３３に設けられたコネクタ３３ａに、その他端がベルト３１に固定された金属板からなる端子Ｔにそれぞれ接続されている。これにより、電子機器Ｐと後記する試験ユニット４０とを、コネクタ３３ａ、ケーブル３４、端子Ｔおよび後記する外部端子ＲＴを介して電気的に接続することができるようになっている。なお、端子Ｔの材質は、本発明では特に限定されず、純金属だけでなく合金であってもよく、これらにめっき処理を行ったものであってもよい。

ケーブル３４は、その内部を導通するノイズを吸収するノイズ吸収体に被覆されている。これにより、試験中に発生するノイズを効果的に吸収することができるので、電子機器Ｐの試験を精密に行うことができる。なお、このようなノイズ吸収体としては、例えば、東洋サービス社製のルミディオン（登録商標）ＥＴ等を使用することができる。

ケーブル３４の長さは、その一端（保持手段３３）が試験箱１０の内部の所定位置（試験位置）に位置するとき、その他端（端子Ｔ）がベルトコンベア３０の端部（試験箱１０の入口方向側）付近に位置するような長さとなっている。なお、このようなケーブル３４を複数の保持手段３３がそれぞれ備えているので、ベルト３１の搬送面には、複数のケーブル３４が集合したケーブル束３４Ｃが保持手段３３に隣接して敷設される。

以上のようなベルトコンベア３０によれば、ベルト３１が一定の間隔をおいて設けられた複数の保持手段３３を備えているので、電子機器Ｐを保持手段３３に設置することで、電子機器Ｐを設置順に、かつ、規則正しく試験箱１０の内部に連続的に搬入して、電子機器Ｐの動作の試験を行うことができる。

［電子機器試験方法］
次に、以上のように構成される電子機器用試験装置１の動作を説明しつつ、本発明の一実施形態に係る電子機器試験方法について、適宜図面を参照しながら説明する。
第９図乃至第１２図は電子機器用試験装置の動作を説明するための図であり、（ａ）は試験箱および導波管の断面図、（ｂ）はベルトコンベアの端部の側面図、（ｃ）はベルトコンベアの端部の平面図である。なお、ベルト３１には複数の保持手段３３が設けられているが、説明上必要がないので、第９図乃至第１２図の（ｂ）および（ｃ）について保持手段３３の図示を省略した。

（１）複数の電子機器Ｐ（Ｐ_Ａ，Ｐ_Ｂ，Ｐ_Ｃ，Ｐ_Ｄ，Ｐ_Ｅ・・・）を順に、それぞれ、ベルト３１に設けられた保持手段３３に設置して（第２図参照）、保持手段３３に設けられたコネクタ３３ａ（第８図参照）と電子機器Ｐの接続端子（図示せず）とを電気的に接続する。なお、電子機器Ｐの保持手段３３への設置は、ベルト３１の停止時に行ってもよいし、駆動時に行ってもよい。

（２）保持手段３３に設置された電子機器Ｐは、第２図に示すように、ベルト３１の駆動に伴って、試験箱１０の方向へと搬送され、導波管２０Ａの内部を通過して試験箱１０の内部へと搬送（搬入）される。そして、第９図の（ａ）に示すように、電子機器Ｐ_Ｂの試験終了後、電子機器Ｐ_Ｃが試験箱１０の内部の所定位置（試験位置）へと搬送される。
ここで、スライド扉２３は、ベルト３１の駆動時には開扉状態となり、ベルト３１の停止時には閉扉状態となるように制御ユニット（例えばコンピュータ等。図示せず）によって制御されている。したがって、ベルト３１が駆動して電子機器Ｐ_Ｃが搬送されているときには、スライド扉２３は開扉状態にあるので、電子機器Ｐ_Ｃを試験箱１０の内部へ搬入することが可能となる。

なお、導波管２０Ａの内部を通過する電子機器Ｐ_Ｃは、導波管２０Ａの内部に設けられた複数のカーテン２４と接触することになるが、前記したようにカーテン２４は比較的柔らかい布であるため、電子機器Ｐ_Ｃに傷をつけることはない。

（３）電子機器Ｐ_Ｃが試験箱１０の内部の試験位置に到達すると、第１０図の（ａ）に示すように、制御ユニット（図示せず）は、ベルト３１を停止させる制御を実行すると共に、スライド扉２３を閉扉させる制御を実行する。
なお、制御ユニット（図示せず）が、ベルト３１を停止させる制御を実行するタイミングは、例えば、ベルト３１を駆動させる駆動源（例えばモータ等）の駆動軸が所定回数回転した場合、すなわち、ベルト３１（保持手段３３）が所定距離または所定時間移動した場合や、試験箱１０の内部および／またはベルトコンベア３０に設けられたセンサ（図示せず）が保持手段３３の試験位置到達を検知した場合とすることができる。

電子機器Ｐ_Ｃを設置した保持手段３３が試験位置にあるとき、その一端が保持手段３３に接続されたケーブル３４（第８図参照）の他端側の端子Ｔ_Ｃは、第１０図の（ｂ）に示すように、ベルトコンベア３０の端部３０Ｅに位置する。なお、端部３０Ｅは、試験箱１０の入口方向側の端部である。
端部３０Ｅの付近には、第１０図の（ｂ）および（ｃ）に示すように、試験ユニット４０と、試験ユニット４０に接続する外部端子ＲＴが設けられている。試験ユニット４０は、電子機器Ｐの電波の受信状態を検出して電子機器Ｐが正常に動作しているか否かを判定すると共に、電子機器Ｐに各種の指示を送信して動作をさせることができる装置である。

なお、この時、第１０図の（ａ）に示すように、導波管２０Ａの内部には次に試験が行われる電子機器Ｐ_Ｄが搬入され、導波管２０Ｂの内部には電子機器Ｐ_Ｃの前に試験が終了した電子機器Ｐ_Ｂが位置している。また、導波管２０Ａの外部には試験前の電子機器Ｐ_Ｅ（図示せず）が位置し、導波管２０Ｂの外部には電子機器Ｐ_Ｂの前に試験が終了した電子機器Ｐ_Ａ（図示せず）が搬出されている。

（４）ベルト３１が停止したら制御ユニット（図示せず）は、第１１図の（ｂ）および（ｃ）に示すように、外部端子ＲＴを回転させる制御を実行する。外部端子ＲＴが回転するとその先端部分と端子Ｔ_Ｃとが電気的に接続して、電子機器Ｐ_Ｃと試験ユニット４０との間で電気信号の授受ができるようになる。その後、第１１図の（ａ）に示すように、アンテナ１４から電子機器Ｐ_Ｃに電波を放射する。

（５）電子機器Ｐ_Ｃの動作の試験は、アンテナ１４から電波を放射しながら、電子機器Ｐ_Ｃの電波の受信状態を試験ユニット４０で検出することで行われる。試験ユニット４０では、電子機器Ｐ_Ｃの電波の受信状態を検出して電子機器Ｐが正常に動作しているか否かを判定する。この時、アンテナ１４を回転駆動させることで、水平波および垂直波について試験を行うことができる。また、前記した電波送受信ユニット（図示せず）によって、アンテナ１４から放射される電波の強度や周波数帯域等を変化させて試験を行うこともできる。

（６）電子機器Ｐ_Ｃの動作の試験が終了したら制御ユニット（図示せず）は、外部端子ＲＴを逆方向に回転させる制御を実行し、外部端子ＲＴと端子Ｔ_Ｃとの電気的な接続を解除する（第１０図の（ｂ）および（ｃ）参照）。そして、再びベルト３１を駆動させる制御を実行して、第１２図の（ａ）に示すように、電子機器Ｐ_Ｃの搬送を開始すると共に、スライド扉２３を開扉させる制御を実行する。これにより、電子機器Ｐ_Ｃが、導波管２０Ｂの内部を通過して試験箱１０の外部方向へと搬送（搬出）されると共に、試験箱１０の内部の試験位置へと次に試験が行われる電子機器Ｐ_Ｄが搬送される。
以上が電子機器用試験装置１の一連の動作および電子機器試験方法である。

このような電子機器試験方法によれば、複数の電子機器Ｐ（Ｐ_Ａ，Ｐ_Ｂ，Ｐ_Ｃ，Ｐ_Ｄ，Ｐ_Ｅ・・・）を順に、ベルトコンベア３０のベルト３１に設けられた保持手段３３に設置して試験箱１０の内部の試験位置に搬入し、試験を行った後、試験箱１０の外部に搬出することで、多数の電子機器Ｐの動作の試験を連続的に行うことができる。

また、このような電子機器試験方法によれば、試験を行う際に、外部からの電波を遮蔽するスライド扉２３が導波管２０Ａ，２０Ｂ（導波管本体２１）の開口部２１ａを完全に閉塞するので、試験箱１０の電波の遮蔽性を維持した状態で電子機器Ｐの動作の試験を精密に行うことができる。

以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明の実施形態はこれに限定されるものではない。具体的な構成については、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能であり、例えば、以下のような変更が可能である。

前記した実施形態では、電子機器Ｐとして携帯電話を図示して説明したが、本発明の試験対象となる電子機器Ｐは、携帯電話に限定されるものではない。例えば、携帯電話と同様に電波の授受を行うＰＤＡ（Personal Digital Assistance）や無線ＬＡＮ（Local Area Network）機能を備えるノート型のパーソナルコンピュータ等であってもよい。また、外部電波の影響を受けることが好ましくない精密測定機器や医療機器等であってもよい。さらに、外部に所定値以上の電波を放射することが好ましくない家電機器や医療機器等であってもよい。

また、試験箱１０は、前記した実施形態に限定されず、例えば、電波暗室のような、試験員がその内部に出入りすることができる大型の部屋（試験室）であってもよい。このような試験室は、試験箱１０と同様に金属製の筐体で形成してもよいし、例えば、電波の遮蔽性や電波吸収性を有するコンクリート構造としてもよい。

前記した実施形態では、複数の金属製のパネル１１ａを、骨格となるフレーム（図示せず）に溶接して筐体１１を形成しているが、これに限定されず、例えば、複数の金属製のパネルをボルト等によって組み付けて形成する組立・分解可能な構成としてもよい。なお、このような構成の場合、複数の金属製のパネルの隙間に電波の遮蔽性を有する充填材を介在させることが望ましい。これにより、筐体（試験箱）の電波の遮蔽性を良好に維持することができる。電波の遮蔽性を有する充填材としては、例えば、上下面の少なくとも一方が絶縁層（例えば、紙や接着層を兼ねる粘着テープ等）で絶縁された抵抗損失体（例えば、カーボン抵抗シート、金属薄膜抵抗シート、熱線遮断フィルム等）を有する電磁遮蔽接合用シート体を使用することができる。具体的には、例えば、東洋サービス社製のルミディオン（登録商標）ＩＲ等を使用することができる。

前記した実施形態では、第１図に示すように、扉１２に窓１２ｂが設けられている構成としたが、これに限定されず、扉と窓とをそれぞれ別に設けてもよい。また、扉や窓をそれぞれ複数設けてもよい。

前記した実施形態では、電波吸収体１３をλ／４型電波吸収体としたが、これに限定されるものではない。例えば、パネル１１ａ（またはパネル１２ａ）の側から順に、抵抗膜シート（インピーダンス１０８８Ω）、スペーサ（３８ｍｍ）、抵抗膜シート（インピーダンス２８０Ω）、スペーサ（３８ｍｍ）、保護膜（アルミニウム板またはアルミニウム箔）を配置する構成としてもよい。このような構成によれば、８８０ＭＨｚ周辺および２０５０ＭＨｚ周辺の二種の電波を吸収することができる。また、前記した電波吸収体２２と同様に、双極子型の電波吸収シートを使用することもできる。
なお、前記したような電波吸収体や電波吸収シートは、アンテナ用導波管１４ａの内面側にも設けることができる。

前記した実施形態では、第１図乃至第３図に示すように、電子機器Ｐの通路となる導波管２０Ａ，２０Ｂを直線上に配置した構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、試験箱１０の一側面に導波管２０Ａを、当該一側面に対して垂直位置に配置された側面の一方に導波管２０Ｂを取り付けて、導波管２０Ａ，２０Ｂを平面視Ｌ字状に配置した構成としてもよい（図示せず）。また、試験箱１０の同一側面に導波管２０Ａ，２０Ｂを配置した構成としてもよい（図示せず）。なお、導波管２０Ａ，２０Ｂの配置によってベルトコンベア３０（搬送手段）の形状は適宜変更される。

前記した実施形態では、第１図乃至第３図に示すように、二本の導波管２０Ａ，２０Ｂを備えた構成としたが、これに限定されず、例えば、一本の導波管で搬入出を行う構成としてもよいし、必要に応じて三本以上の導波管を備えてもよい。

前記した実施形態では、電子機器Ｐの通路を導波管２０Ａ，２０Ｂとしたが、これに限定されるものではない。例えば、第１３図に示すような金属製（例えば、アルミニウムやアルミニウム合金等）の筒体２７に電波遮蔽手段（扉部材等）を設けた構成としてもよい。このような構成であっても、筒体２７を形成する導電性を有する金属や、電波遮蔽手段（扉部材やカーテン等）によって、外部からの電波を遮蔽することができるので、試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができる。なお、第１３図の（ａ）に示すように、筒体２７の内面側にも前記した電波吸収体２２やシール部材２６（または、柔軟性のある高分子繊維に金属薄膜を蒸着した導電性ブラシ）を設けることができる。

前記した実施形態では、扉部材をスライド扉２３としたが、これに限定されるものではない。例えば、第１３図に示すような、開閉扉２８であってもよい。
開閉扉２８は、ヒンジ（図示せず）を介して筒体２７に回動自在に取り付けられており、適宜開閉可能な構成となっている。開閉扉２８は、前記したスライド扉２３と同様に、アルミニウムまたはアルミニウム合金からなる扉本体２８ａと、扉本体２８ａの外面に貼着されたゴム系電波吸収体２８ｂとを備えて構成されている。開閉扉２８の開閉手段は、本発明では特に限定されず、公知の開閉手段を使用することができる。具体的には、例えば、扉本体２８ａの下部に取り付けたワイヤやチェーン等を、巻き取り機構で巻き取ることで開扉（開閉）することができる（図示せず）。

また、第１４図の（ａ）に示すように、一対の開閉扉２８１，２８２を備える構成としてもよい（いわゆる観音開き型）。さらに、第１４図の（ｂ）に示すように、一対のスライド扉２３１，２３２を備える構成としてもよい（いわゆる引分け戸型）。
以上のような扉部材も、前記したスライド扉２３と同様に、制御ユニット（図示せず）によって、少なくとも試験を行う際に、通路（導波管２０Ａ，２０Ｂや筒体２７等）の開口部を閉塞して外部からの電波を遮蔽するように扉の開閉が制御される。なお、第１４図の（ａ）に示す開閉扉２８１，２８２の場合、電子機器Ｐが通過する際に、電子機器Ｐ（保持手段３３）自身によって扉が直接押し開けられ、電子機器Ｐが通過した後、ヒンジ（図示せず）に設けられたバネ等の付勢手段によって閉扉するような構成としてもよい。
前記したような扉部材（スライド扉２３を含む）の開閉方向は、図示した方向に限定されるものではなく、適宜設定することができる。また、扉部材の開閉方向は入口側通路と出口側通路とで異なる方向であってもよい。

前記した実施形態および変形例では、第２図，第１３図に示すように、扉部材（スライド扉２３、開閉扉２８等）を通路（導波管２０Ａ，２０Ｂ、筒体２７）の外部側の開口部（例えば２１ａ）に設け、通路の内部側の開口部や、通路の内部にはカーテン２４を設けた構成としたが、これに限定されるものではない。すなわち、通路の内部側の開口部（例えば２１ｂ）や、通路の内部にも扉部材を設けた構成としてもよい。また、このような構成に、さらにカーテン２４を併用する構成としてもよい。なお、扉部材を一つの通路に複数設ける場合、同じ種類の扉部材だけであってもよいし、異なる種類の扉部材を組み合せてもよい。

前記した実施形態では、第２図，第１３図に示すように、通路（導波管２０Ａ，２０Ｂや筒体２７等）の内部側の開口部や、通路の内部にカーテン２４を設けた構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、カーテン２４の代わりに比較的薄厚のゴム系電波吸収体を設けた構成としてもよい。

前記した実施形態では、金属製のフィルタ（フィルタ２５）をアルミニウムまたはアルミニウム合金からなるメッシュが複数重ねられてなるメッシュ積層体としたが、これに限定されるものではない。例えば、アルミニウムまたはアルミニウム合金の小片（金属片）が集合して構成されたアルミニウム片フィルタであってもよいし、スチールやステンレスからなるメッシュを複数重ねたメッシュ積層体であってもよい。

前記した実施形態および変形例では、筐体１１、扉１２、導波管本体２１、筒体２７、扉本体２３ａ，２８ａ等をアルミニウムまたはアルミニウム合金で形成しているが、これに限定されるものではない。例えば、スチール、ステンレス、銅等を使用することもできる。また、筐体１１等を金属製とすることで、外部からの電波の遮蔽性や、剛性等を高める構成としたが、これに限定されず、例えば、電波の遮蔽性を有する板材で形成してもよい。

前記した実施形態では、搬送手段を、ローラ付テーブル３２の複数のローラ３２ａに張設されたベルト３１を搬送部とするベルトコンベア３０としたが、これに限定されるものではない。例えば、ネットコンベア、メッシュコンベア、エアコンベア等であってもよい。なお、電子機器Ｐを試験箱１０の内部に搬入し、試験箱１０の内部から搬出するためには、少なくとも搬送部（例えばベルト３１等）の搬送面が、試験箱１０および通路（導波管２０Ａ，２０Ｂ、筒体２７）の内部を通過する構成であれば足りる。また、これら搬送手段は、電波を透過し易い非導電性の材質、具体的には、樹脂、ゴム、セラミックス、木材等から構成されていることが望ましい。

前記した実施形態では、保持手段３３が、電子機器Ｐとしての携帯電話をその送話口側から試験箱１０の内部に搬入するようにベルト３１に設けられているが、これに限定されるものではない。例えば、携帯電話のアンテナ側から試験箱１０の内部に搬入するようにベルト３１に設けてもよいし、携帯電話が開口部２１ａに対して横方向となるようにベルト３１に設けてもよい。なお、保持手段（およびコネクタ）の形状や大きさ等が、電子機器Ｐの種類に合わせて適宜変更されることは当然の事項である。

前記した実施形態では、保持手段３３に電子機器Ｐを設置して搬送する構成としているが、これに限定されず、保持手段３３を設けないベルト３１の搬送面に電子機器Ｐを直接載置して搬送する構成としてもよい。なお、このような構成の場合、ケーブル３４の一端に設けたコネクタ（図示せず）を電子機器Ｐの接続端子に接続することで、少なくとも試験を行う際に、電子機器Ｐと試験ユニット４０とを電気的に接続することが可能となる。

前記した実施形態では、端子Ｔと外部端子ＲＴの接続を、試験箱１０の入口方向側にあるベルトコンベア３０の端部３０Ｅで行う構成としたが、試験箱１０の出口方向側にある
端部で行う構成としてもよい。また、端子Ｔと外部端子ＲＴとの接続方法は前記した実施形態（第１１図参照）に限定されるものではない。

前記した実施形態では、試験ユニット４０と外部端子ＲＴとをベルトコンベア３０の端部３０Ｅの付近、すなわち、試験箱１０の外部に設けた構成としたが、これに限定されず、試験ユニット４０と外部端子ＲＴとを試験箱１０の内部に設けた構成としてもよい。このような構成の場合、例えば、ケーブル３４を設けずに、保持手段３３にコネクタ３３ａと電気的に接続する端子（図示せず）を露出して設け、少なくとも試験を行う際に、この端子（図示せず）と外部端子ＲＴとを電気的に接続する構成とすることができる。また、外部端子ＲＴだけを試験箱１０の内部に設ける構成としてもよい。

なお、ケーブル等を試験箱１０の内部から外部に出す場合（または、試験箱１０の外部から内部に入れる場合）は、ＥＭＩダクト（図示せず）を備えることが望ましい。ＥＭＩ（Electro Magnetic Interference）ダクトは、電磁妨害を防止しつつ、ケーブル等を試験箱１０の内外に挿通することができるダクトである。具体的には、例えば、ケーブルに磁性体テープ等のノイズ吸収体を巻きつけて、その一部を試験箱１０に設けたダクトに通したものである。これによると、試験箱１０の電波の遮蔽性を好適に維持することができると共に、ケーブルから発生するノイズを効果的に吸収することができる。

前記した実施形態では、扉部材（例えばスライド扉２３等）が、制御ユニット（図示せず）によって、ベルト３１の駆動時に開扉状態となり、停止時に閉扉状態となるように制御される構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、ベルトコンベア３０に公知のセンサ（図示せず）を設けて、電子機器Ｐ（保持手段３３）の通過を検知することで扉部材の開閉を制御する構成としてもよい。

前記した実施形態では、電子機器用試験装置１が、一つの試験箱１０と、一対の導波管２０Ａ，２０Ｂ（通路）と、一つのベルトコンベア３０（搬送手段）とを備える構成としたが、これに限定されるものではない。例えば、一対の通路を有する試験箱（または試験室）を複数直列に配置して、一つの搬送手段で連通する構成としてもよい。このような構成によれば、電子機器Ｐに対して、異なる二種以上の試験を連続的に行うことができる。また、一つの試験箱（または試験室）に、複数対の通路を並列に設けてそれぞれに搬送手段を備える構成としてもよい。

前記した実施形態では、アンテナ１４から電子機器Ｐに電波を放射して、電子機器Ｐが正常に電波を受信できるか否かを試験ユニット４０で判定する電子機器試験方法を説明したが、電子機器試験方法はこれに限定されるものではない。例えば、試験ユニット４０から電子機器Ｐに各種の指示を送信して電子機器Ｐからアンテナ１４に電波を送信し、アンテナ１４が受信した電波を電波送受信ユニット（図示せず）で測定する方法であってもよい。

Claims (24)

1. 電子機器に対する試験を行う試験箱と、
   前記試験箱の外部と内部とを連通すると共に、少なくとも試験を行う際に外部からの電波を遮蔽する電波遮蔽手段を有する通路と、
   前記電子機器を搬送する搬送部を有する搬送手段と、を備える電子機器用試験装置であって、
   前記電波遮蔽手段は、導電布からなるカーテンを含み、
   前記搬送部が前記通路の内部を通過可能に構成され、前記電子機器を前記試験箱に搬入すると共に、前記試験箱から搬出することを特徴とする電子機器用試験装置。
2. 前記通路は、内側に電波吸収性を有することを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験装置。
3. 前記通路は、入口側通路と出口側通路の対で構成され、前記入口側通路と前記出口側通路は直線上に配置されたことを特徴とする請求項１に記載の電子機器用試験装置。
4. 前記搬送部の下側に形成された隙間に、ゴム系電波吸収体からなるシール部材または高分子繊維に金属薄膜を蒸着してなる導電性ブラシが配置されていることを特徴とする請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の電子機器用試験装置。
5. 電子機器に対する試験を行う試験箱と、
   前記試験箱の外部と内部とを連通すると共に、少なくとも試験を行う際に外部からの電波を遮蔽する電波遮蔽手段を有する通路と、
   前記電子機器を搬送する搬送部を有する搬送手段と、を備える電子機器用試験装置であって、
   前記電波遮蔽手段は、前記搬送部の動きに連動して前記通路を開閉する扉部材を含み、
   前記搬送部が前記通路の内部を通過可能に構成され、前記電子機器を前記試験箱に搬入すると共に、前記試験箱から搬出することを特徴とする電子機器用試験装置。
6. 前記扉部材は、アルミニウム板またはアルミニウム合金板からなる扉本体と、当該扉本体に貼着されたゴム系電波吸収体とからなることを特徴とする請求項５に記載の電子機器用試験装置。
7. 前記通路は、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない導波管であることを特徴とする請求項１または請求項５に記載の電子機器用試験装置。
8. 前記試験箱は、電波の遮蔽性を有する金属製の筐体からなることを特徴とする請求項１または請求項５に記載の電子機器用試験装置。
9. 前記金属製の筐体は、複数の金属部材を組み付けて構成されており、当該複数の金属部材同士は溶接によって接合されていることを特徴とする請求項８に記載の電子機器用試験装置。
10. 前記金属製の筐体および前記通路の少なくとも一方は、アルミニウムまたはアルミニウム合金から形成されたことを特徴とする請求項８または請求項９に記載の電子機器用試験装置。
11. 前記試験箱は、その内部を視認可能な窓を有することを特徴とする請求項１または請求項５に記載の電子機器用試験装置。
12. 前記窓は、電波の遮蔽性を有することを特徴とする請求項１１に記載の電子機器用試験装置。
13. 前記試験箱は、開閉自在の扉を有することを特徴とする請求項１または請求項５に記載の電子機器用試験装置。
14. 前記試験箱の内部に、前記電子機器との間で電波を授受する測定用アンテナが設けられていることを特徴とする請求項１または請求項５に記載の電子機器用試験装置。
15. 前記測定用アンテナから放射される電波の偏波面と、前記電子機器のアンテナから放射される電波の偏波面とが平行または垂直となるように前記測定用アンテナの軸を当該軸回りに回転可能としたことを特徴とする請求項１４に記載の電子機器用試験装置。
16. 前記測定用アンテナと前記電子機器のアンテナとの距離が、前記測定用アンテナから放射される電波の波長λ以上であることを特徴とする請求項１４または請求項１５に記載の電子機器用試験装置。
17. 前記試験箱の内面の前記測定用アンテナ付近には、磁性体シートを備えていることを特徴とする請求項１４に記載の電子機器用試験装置。
18. 電子機器に対する試験を行う試験箱と、
    前記試験箱の外部と内部とを連通すると共に、少なくとも試験を行う際に外部からの電波を遮蔽する電波遮蔽手段を有する通路と、
    前記電子機器を搬送する搬送部を有する搬送手段と、を備える電子機器用試験装置であって、
    前記搬送部は、前記電子機器を保持する複数の保持手段を備えており、
    前記保持手段は、ケーブルの一端が接続されると共に、前記ケーブルと前記電子機器とを電気的に接続するコネクタを備えており、
    前記搬送部が前記通路の内部を通過可能に構成され、前記電子機器を前記試験箱に搬入すると共に、前記試験箱から搬出することを特徴とする電子機器用試験装置。
19. 前記ケーブルは、ノイズを吸収するノイズ吸収体に被覆されていることを特徴とする請求項１８に記載の電子機器用試験装置。
20. 前記ケーブルは、前記搬送部に設けられた前記保持手段に隣接して敷設され、前記一端と反対側の他端に端子を有し、前記端子は、前記電子機器の状態を判定する試験ユニットに接続された外部端子と、少なくとも試験を行う際に接続されることを特徴とする請求項１８または請求項１９に記載の電子機器用試験装置。
21. 前記搬送部は、ゴム系電波吸収体からなるベルトであることを特徴とする請求項１８に記載の電子機器用試験装置。
22. 前記通路は、その内部を通過する前記搬送部の下方に、外部からの電波を遮蔽する金属製のフィルタを備えていることを特徴とする請求項１、請求項５または請求項１８に記載の電子機器用試験装置。
23. 前記試験箱および前記通路の少なくとも一方は、内部にλ／４型電波吸収体を備えていることを特徴とする請求項１、請求項５または請求項１８に記載の電子機器用試験装置。
24. 前記試験箱は、その内部に照明を備えていることを特徴とする請求項１、請求項５または請求項１８に記載の電子機器用試験装置。

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